JP2000284194A - Multi-beam optical scanning device - Google Patents
Multi-beam optical scanning deviceInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 走査開始タイミングの検知手段のスリット部
材を配置する角度及び位置を最適に設定して、高速かつ
高画質な画像を得る。
【解決手段】 複数光源11a、11bに対応するそれ
ぞれの同期検知光に光量差がある場合には、光源11a
に対応する同期検知信号と、光源11bに対応する同期
検知信号の出力タイミングにδt2だけのずれが発生
し、この結果両者の書出し位置がδt2に相当する量だ
けずれることになる。このずれ量δYを補正するため
に、スリット18aを同期検知光が走査する平面と直交
する面に対して所定角度傾けて配置する。 (57) Abstract: A high-speed and high-quality image is obtained by optimally setting an angle and a position at which a slit member of a scanning start timing detecting unit is arranged. SOLUTION: When there is a light amount difference between respective synchronization detection lights corresponding to a plurality of light sources 11a and 11b, the light source 11a
And the output timing of the synchronization detection signal corresponding to the light source 11b is shifted by δt2, and as a result, the writing positions of both are shifted by an amount corresponding to δt2. In order to correct the shift amount δY, the slit 18a is arranged at a predetermined angle with respect to a plane orthogonal to the plane scanned by the synchronization detection light.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザービームプ
リンタやデジタル複写機等に使用されるマルチビーム光
走査装置に関するものである。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a multi-beam optical scanning device used for a laser beam printer, a digital copying machine or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】図16は従来例のマルチビーム光走査装
置の平面図を示す。複数の発光点を有する半導体レーザ
ー光源1a、1bから射出した光束A、Bは、それぞれ
コリメータレンズ2で略平行光又は収束光とされ、その
光束が開口絞り3で整形され、シリンドリカルレンズ4
によって副走査方向にのみ収束して、光偏向器であるポ
リゴンミラー5の偏向反射面5aの近傍において、主走
査方向に長く伸びた焦線状に結像する。矢印R方向に一
定角速度で回転しているポリゴンミラー5によって反射
され偏向走査された光束は、それぞれfθレンズ6によ
って感光ドラム等から成る被走査面7上にスポット状に
集光し、矢印D方向に一定速度で走査される。このと
き、同期検知用のスリット8a、レンズ8b、センサ8
cから成る書出し位置検知手段によって、走査光の一部
が検出されて書出し位置が検知される。2. Description of the Related Art FIG. 16 is a plan view of a conventional multi-beam optical scanning device. Light beams A and B emitted from the semiconductor laser light sources 1a and 1b having a plurality of light-emitting points are converted into substantially parallel light or convergent light by a collimator lens 2, respectively, and the light beams are shaped by an aperture stop 3 to form a cylindrical lens 4.
As a result, the light converges only in the sub-scanning direction, and an image is formed in the vicinity of the deflecting reflection surface 5a of the polygon mirror 5, which is an optical deflector, in the form of a focal line elongated in the main scanning direction. The light beams reflected and deflected by the polygon mirror 5 rotating at a constant angular velocity in the direction of arrow R are condensed in a spot shape on the surface to be scanned 7 made of a photosensitive drum or the like by the fθ lens 6, and are directed in the direction of arrow D. At a constant speed. At this time, the slit 8a for synchronization detection, the lens 8b, the sensor 8
The write start position detecting means c detects a part of the scanning light to detect the write start position.
【0003】このようなマルチビーム光走査装置におい
ては、図17(a)に示すように複数の光源1a、1b
を副走査方向に縦に並べて配置すると、被走査面7上で
副走査方向のそれぞれの線の間隔が記録密度よりも大幅
に開いてしまう。このために、通常は図17(b)に示
すように複数の光源1a、1bを斜めに配置し、その傾
斜角度αを調整することによって、被走査面7上の副走
査方向の各線の間隔を記録密度に合わせて、正確な調整
を行っている。In such a multi-beam optical scanning device, as shown in FIG. 17A, a plurality of light sources 1a, 1b
Are arranged vertically in the sub-scanning direction, the distance between the lines in the sub-scanning direction on the surface to be scanned 7 is significantly larger than the recording density. For this purpose, usually, as shown in FIG. 17 (b), a plurality of light sources 1a and 1b are arranged obliquely, and by adjusting the inclination angle α, the distance between the respective lines in the sub-scanning direction on the surface 7 to be scanned. Is precisely adjusted according to the recording density.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来例のマルチビーム光走査装置においては、複数の光
源1a、1bを斜めに配置することによって、これらの
光源1a、1bから出射した光束が、図18に示すよう
にポリゴンミラー5の反射面5a上において、主走査方
向に離れた位置に到達し、かつポリゴンミラー5から反
射される光束の角度もそれぞれ異なるために、被走査面
7上において光束A、Bのように、互いに主走査方向に
離れた位置にスポット光が結像することになる。However, in the above-described conventional multi-beam optical scanning device, the plurality of light sources 1a and 1b are arranged obliquely, so that the light beams emitted from these light sources 1a and 1b are reduced. As shown in FIG. 18, on the reflection surface 5 a of the polygon mirror 5, the light beams reaching the positions separated in the main scanning direction and the angles of the light beams reflected from the polygon mirror 5 are different from each other. As in the case of the light beams A and B, the spot light forms an image at positions separated from each other in the main scanning direction.
【0005】このために、基準とする一方の光源1aが
被走査面7上に結像する位置に、他方の光源1bからの
光束の結像位置を合わせるように、所定時間δTだけタ
イミングをずらして画像データを送っている。この所定
時間δTだけずれたときのポリゴンミラー5の反射面5
aは角度βだけ回転しており、このとき反射される光束
Bは光束Aと同じ方向の光束B’の方向に反射されて、
スポット光の結像位置が一致する。For this reason, the timing is shifted by a predetermined time δT so that the position where one light source 1a as a reference forms an image on the surface 7 to be scanned is adjusted to the position where the light beam from the other light source 1b is formed. Image data. The reflection surface 5 of the polygon mirror 5 when it is shifted by the predetermined time δT
a is rotated by the angle β, the light beam B reflected at this time is reflected in the direction of the light beam B ′ in the same direction as the light beam A,
The imaging positions of the spot lights coincide.
【0006】各ビームそれぞれの被走査面7上での書出
し開始点は次のように決定する。即ち、被走査面7の走
査方向の上流に設けられた書出し位置検知手段8のセン
サ8cに走査光束が到達したタイミングを同期検知とし
て、この同期検知を各ビームそれぞれについて独立に行
い、その同期検知結果から所定の遅延時間後を書出し開
始としている。ここで、走査光束がセンサ8cに到達す
るときのタイミングをより正確に検知するために、スリ
ット8aはセンサ8cの前面の走査光束の集光点位置に
配置されており、走査光束がこのスリット8aを通過す
るときの光量の立上がりを検知して同期検知を行ってい
る。The writing start point of each beam on the scanned surface 7 is determined as follows. That is, the timing at which the scanning light beam arrives at the sensor 8c of the writing position detecting means 8 provided upstream in the scanning direction of the surface to be scanned 7 is used as synchronization detection, and this synchronization detection is performed independently for each beam. The writing is started after a predetermined delay time from the result. Here, in order to more accurately detect the timing when the scanning light beam reaches the sensor 8c, the slit 8a is disposed at the focal point of the scanning light beam on the front surface of the sensor 8c. The synchronous detection is performed by detecting the rise of the amount of light when passing through.
【0007】スリット8aは複数光源1a、1bからの
光束が走査することによって形成する面に対して斜めに
配置されていると、各光束の結像位置が主走査方向にず
れを生ずる。このために、通常スリット8aは図19に
示すように、走査光束が走査することによって形成する
面に対して垂直に配置されている。しかしながら、スリ
ット8aが走査光束の走査面に対して垂直に配置されて
いても、各光束の光量の差や、各光束のスポット形状の
差や、各光源光束の立ち上がり特性や、各光束内部の光
強度分布の差等の要因によって、各光束の同期検知のタ
イミングにずれが発生し、その結果として複数光束の結
像位置にずれが生じ、印字精度の低下や画質の劣化を招
くという問題点が存在する。If the slits 8a are arranged obliquely with respect to the surface formed by scanning the light beams from the plurality of light sources 1a and 1b, the image forming position of each light beam is shifted in the main scanning direction. Therefore, as shown in FIG. 19, the slit 8a is normally arranged perpendicular to a surface formed by scanning with the scanning light beam. However, even if the slit 8a is arranged perpendicular to the scanning surface of the scanning light beam, the difference in the light amount of each light beam, the difference in the spot shape of each light beam, the rising characteristic of each light source light beam, the inside of each light beam, Due to factors such as a difference in light intensity distribution, a shift occurs in the timing of synchronous detection of each light beam, and as a result, a shift occurs in an imaging position of a plurality of light beams, resulting in a decrease in printing accuracy and image quality. Exists.
【0008】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
走査開始タイミングを検出する検知手段のスリット部材
を配置する角度及び位置を最適に設定して、高速かつ高
画質なマルチビーム光走査装置を提供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems,
It is an object of the present invention to provide a high-speed and high-quality multi-beam optical scanning device by optimally setting an angle and a position at which a slit member of a detection unit for detecting a scanning start timing is arranged.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係るマルチビーム光走査装置は、複数の光束
を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査
された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走
査された複数の光束それぞれに対して走査開始タイミン
グを検知する検知手段とを備えたマルチビーム光走査装
置において、前記検知手段の光束入射側に、該検知手段
に入射する光束が走査する平面と直交する面に対し所定
角度傾斜させてスリット部材を配置し、該スリット部材
を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによっ
て、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴と
する。A multi-beam optical scanning device according to the present invention for achieving the above object comprises a light source for emitting a plurality of light beams, a deflector, and a light beam deflected and scanned by the deflector. In a multi-beam optical scanning apparatus comprising: an imaging optical system for condensing light on a scanning surface; and detection means for detecting a scanning start timing for each of the plurality of scanned light beams, a light beam incident side of the detection means The scanning start timing is obtained by arranging a slit member at a predetermined angle with respect to a plane orthogonal to a plane scanned by the light beam incident on the detecting means, and detecting a rising of the light amount of the light beam crossing the slit member. Is detected.
【0010】また、本発明に係るマルチビーム光走査装
置は、複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器
によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結
像光学系と、該走査された複数の光束それぞれに対して
走査開始タイミングを検知する検知手段とを備えたマル
チビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射
側に、前記検知手段に入射する光束の集光点から所定距
離ずらした位置にスリット部材を配置して、前記スリッ
ト部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出すること
によって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを
特徴とする。A multi-beam optical scanning device according to the present invention is a light source for emitting a plurality of light beams, a deflector, and an imaging optical system for condensing a light beam deflected and scanned by the deflector onto a surface to be scanned. And a detecting means for detecting a scanning start timing for each of the plurality of scanned light beams, wherein a light beam incident on the detecting means is provided on a light beam incident side of the detecting means. The scanning start timing is detected by arranging a slit member at a position shifted from the light spot by a predetermined distance and detecting the rising of the light amount of the light beam crossing the slit member.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】本発明を図1〜図15に図示の実
施例に基づいて詳細に説明する。図1は第1の実施例の
マルチビーム光走査装置の平面図を示し、2つの半導体
光源11a、11bから成る半導体レーザー光源11の
前方の光路上には、第1の光学系であるコリメータレン
ズ12、第2の光学系であるシリンドリカルレンズ1
3、開口絞り14、矢印R方向に一定角速度で回転して
いる光偏向器であるポリゴンミラー15が順次に配列さ
れている。ポリゴンミラー15の反射方向には、第3の
光学系であるfθレンズ16、感光ドラム等の被走査面
17が配置されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in FIGS. FIG. 1 is a plan view of a multi-beam optical scanning device according to a first embodiment, and a collimator lens as a first optical system is provided on an optical path in front of a semiconductor laser light source 11 including two semiconductor light sources 11a and 11b. 12. Cylindrical lens 1 as second optical system
3, an aperture stop 14, and a polygon mirror 15, which is an optical deflector rotating at a constant angular velocity in the direction of arrow R, are sequentially arranged. In the reflection direction of the polygon mirror 15, an fθ lens 16, which is a third optical system, and a scanned surface 17 such as a photosensitive drum are arranged.
【0012】また、各ビームそれぞれの被走査面17上
での書出し開始点を決定するために、スリット18a、
レンズ18b、センサ18cから成る書出し位置検知手
段18が、被走査面17の走査方向上流位置に設けられ
ている。ここで、スリット18aは走査光束がセンサ1
8cに到達するタイミングをより正確に検知するため
に、センサ18c前方の走査光束の集光点位置に配置さ
れている。In order to determine the writing start point of each beam on the scanned surface 17, slits 18a,
A writing position detection unit 18 including a lens 18b and a sensor 18c is provided at a position upstream of the surface 17 to be scanned in the scanning direction. Here, the slit 18a is provided so that the scanning light beam is
In order to more accurately detect the timing at which the scanning light beam 8c is reached, the scanning light beam is arranged at the focal point of the scanning light beam in front of the sensor 18c.
【0013】このような構成により、半導体レーザー光
源11から射出した光束は、コリメータレンズ12で略
平行光又は収束光とされ、シリンドリカルレンズ13に
よって副走査方向にのみ収束し、開口絞り14を通って
光束幅が制限されて、ポリゴンミラー15の偏向反射面
15a上において、主走査方向に長く伸びる焦線状に結
像する。そして、ポリゴンミラー15によって反射され
偏向走査された光束は、fθレンズ16によって感光ド
ラムの被走査面17上にスポット状に集光して、矢印D
方向に一定速度で走査される。With such a configuration, the light beam emitted from the semiconductor laser light source 11 is converted into substantially parallel light or convergent light by the collimator lens 12, converged only in the sub-scanning direction by the cylindrical lens 13, and passes through the aperture stop 14. The light beam width is limited, and an image is formed on the deflecting / reflecting surface 15a of the polygon mirror 15 in a focal line shape extending in the main scanning direction. The light beam reflected and deflected by the polygon mirror 15 is condensed by the fθ lens 16 on the surface 17 to be scanned of the photosensitive drum in the form of a spot, and the arrow D
Scanning at a constant speed in the direction.
【0014】このとき、書出し位置検知手段18のセン
サ18cに走査光束が到達するタイミングを同期検知と
し、この同期検知を各ビームそれぞれについて独立に行
い、その同期検知から所定の遅延時間後を書出し開始と
する。即ち、図2に示すように、走査光束がスリット1
8aを通過するときのセンサ18cの出力が、或る一定
のスライスレベルS以上になったときに同期検知信号が
出力され、この時点から一定時間t1後に画像信号が送
られる。この動作をそれぞれの光束に対して行うことに
よって、各光束の書出し位置を一致させることができ
る。At this time, the timing at which the scanning light beam arrives at the sensor 18c of the writing position detecting means 18 is regarded as synchronous detection, and this synchronous detection is performed independently for each beam, and writing starts after a predetermined delay time from the synchronous detection. And That is, as shown in FIG.
A synchronization detection signal is output when the output of the sensor 18c at the time of passing through 8a becomes equal to or higher than a certain slice level S, and an image signal is sent after a certain time t1 from this point. By performing this operation for each light beam, the writing position of each light beam can be matched.
【0015】従来例の場合では、スリット18aは光束
が走査する面に対して垂直に配置されているが、各光束
においてその光量、スリット18a上でのスポット形
状、各光束に対応する光源の光量や立ち上がり特性、光
束内部の光強度分布などが完全に同じではないために、
これらの要因による相対的な差異があり、このためにそ
れぞれの光束の書出し位置に誤差が発生する。例えば、
印字品質の向上を目的としてスポット径を小さくした
り、或いは印字領域を広げた場合などでは、ポリゴンミ
ラー15の偏向反射面15aに余裕がなくなるので、例
えば書出し位置検知に使用する同期検知光束を意識的に
外して使用する必要が生ずる。In the case of the conventional example, the slit 18a is arranged perpendicular to the surface on which the light beam scans, but the light amount of each light beam, the spot shape on the slit 18a, and the light amount of the light source corresponding to each light beam And the rise characteristics and the light intensity distribution inside the light beam are not completely the same,
There is a relative difference due to these factors, which causes an error in the writing position of each light beam. For example,
When the spot diameter is reduced or the printing area is widened for the purpose of improving the printing quality, the deflection reflecting surface 15a of the polygon mirror 15 has no margin. It is necessary to use it after removing it.
【0016】その場合には、それぞれの光源11a、1
1bから出射した光束は、ポリゴンミラー15の偏向反
射面15a上で主走査方向に位置がずれているために、
光束のけられ量が同一とはならず、その結果として光量
に差が生ずる。例えば図1においては、光源11aに対
応する光束Aのけられ量の方が、光源11bに対応する
光束Bのけられ量よりも大きくなり、前者の同期検知光
の方が光量が小さくなる。In that case, each of the light sources 11a, 1
The light beam emitted from 1b is shifted in the main scanning direction on the deflecting / reflecting surface 15a of the polygon mirror 15, so that
The amount of light flux displacement is not the same, resulting in a difference in light quantity. For example, in FIG. 1, the amount of the light beam A corresponding to the light source 11a is greater than the amount of the light beam B corresponding to the light source 11b, and the former synchronization detection light has a smaller amount of light.
【0017】このように、光源11a、11bに対応す
るそれぞれの同期検知光A、Bに光量差がある場合に
は、図3に示すように光源11aに対応する同期検知信
号の出力と、光源11bに対応する同期検知信号の出力
のタイミングにδt2だけのずれが発生し、この結果と
して両者の書出し位置がδt2に相当する量だけずれる
ことになる。即ち、スリット18a上での各光束の主走
査方向の走査速度をVmm/秒とすると、δt2秒だけ
同期検知信号の出力タイミングにずれが生じた場合に
は、δY(mm)=V・δt2だけ光源11bに対応す
る光束の書出し位置が遅れることになる。As described above, when there is a light amount difference between the respective synchronization detection lights A and B corresponding to the light sources 11a and 11b, the output of the synchronization detection signal corresponding to the light source 11a as shown in FIG. A shift of δt2 occurs in the output timing of the synchronization detection signal corresponding to 11b, and as a result, the write-out positions of both shift by an amount corresponding to δt2. That is, assuming that the scanning speed of each light beam on the slit 18a in the main scanning direction is Vmm / sec, if a shift occurs in the output timing of the synchronization detection signal by δt2 seconds, δY (mm) = V · δt2 The writing position of the light beam corresponding to the light source 11b is delayed.
【0018】従って、本実施例においては、ずれ量δY
を補正するために、スリット18aが同期検知光が走査
する平面と直交する面に対して所定角度傾けて配置され
ている。具体的には、副走査の解像度が600DPIの
場合には、スリット18a上での2本の走査線の副走査
方向の離間距離は0.04233mmであるから、スリ
ット18aは図4に示す方向にθ=tan-1(δY/0.
04233)度だけ傾ければよい。Therefore, in this embodiment, the deviation amount δY
Is corrected, the slit 18a is arranged at a predetermined angle with respect to a plane orthogonal to the plane scanned by the synchronization detection light. Specifically, when the sub-scanning resolution is 600 DPI, the distance between the two scanning lines on the slit 18a in the sub-scanning direction is 0.042333 mm, so that the slit 18a moves in the direction shown in FIG. θ = tan −1 (δY / 0.
04233) It is only necessary to incline by degrees.
【0019】図5は第2の実施例のセンサ18cの出力
グラフ図を示し、第1の実施例において光束A、Bのけ
られ量に差がある場合には、光量に差が発生するだけで
なく、スリット18a上での主走査方向のスポット形状
にも差が生ずる。具体的には、光束Bの光束幅よりも光
束Aの光束幅の方が狭くなるために、射出時の光束Aの
Fナンバが光束Bに比べて暗くなり、スリット18a上
でのスポット形状は、光束Aの主走査方向のスポット径
が光束Bのスポット径に比べて大きくなる。FIG. 5 is a graph showing the output of the sensor 18c according to the second embodiment. In the first embodiment, when there is a difference between the amounts of light beams A and B, only a difference occurs in the amount of light. However, a difference also occurs in the spot shape in the main scanning direction on the slit 18a. Specifically, since the light beam width of the light beam A is smaller than the light beam width of the light beam B, the F number of the light beam A at the time of emission becomes darker than the light beam B, and the spot shape on the slit 18a is The spot diameter of the light beam A in the main scanning direction becomes larger than the spot diameter of the light beam B.
【0020】このように、主走査方向のスポット径が大
きくなると、スリット18aを通過する時間が長くなる
ために、光量及び主走査方向スポット径に差がある2つ
のスポット光束がスリット18a上を走査するときに、
センサ18cの出力が図5に示すようにδt3だけずれ
る。その結果、δY(mm)=V・δt3だけ光源11
bに対応する光束Bの書出し位置にずれが生ずることに
なる。As described above, when the spot diameter in the main scanning direction increases, the time required to pass through the slit 18a increases, so that two spot light beams having a difference in the light amount and the spot diameter in the main scanning direction scan the slit 18a. When you do
The output of the sensor 18c is shifted by δt3 as shown in FIG. As a result, the light source 11 only has δY (mm) = V · δt3.
The writing position of the light beam B corresponding to b is shifted.
【0021】このために、本実施例においても、光源1
1a、11bに対応する光束A、Bのスリット18a上
でのスポット形状及び光量の差により生ずる書出し位置
ずれδYを補正するために、同期検知光が走査する平面
と直交する面に対して、スリット18aが所定角度傾け
て配置されている。For this reason, also in this embodiment, the light source 1
In order to correct the writing position deviation δY caused by the difference between the spot shape and the light amount of the light beams A and B corresponding to the light beams 1a and 11b on the slit 18a, a slit is formed on a plane orthogonal to the plane scanned by the synchronization detection light. 18a are arranged at a predetermined angle.
【0022】図6は第3の実施例の発光光量制御のタイ
ミングの説明図を示す。レーザービームプリンタやデジ
タル複写機等に使用される光走査装置においては、通常
では印字品質を高品位にするために、光源11a、11
bの発光光量を制御している。例えばレーザー光源に
は、通常自己の発光光量をモニタするために、パッケー
ジ内部にフォトダイオードが設けられており、このフォ
トダイオードからの出力電流つまりモニタ電流の値をモ
ニタすることによって、所定の発光光量になるようにレ
ーザー駆動電流を調節して発光光量を制御することが可
能である。FIG. 6 is an explanatory diagram of the timing of the light emission amount control according to the third embodiment. In an optical scanning device used for a laser beam printer, a digital copying machine, or the like, usually, in order to improve the printing quality, the light sources 11a, 11a
b is controlled. For example, a laser light source is usually provided with a photodiode inside the package in order to monitor its own light emission amount. By monitoring the output current from this photodiode, that is, the value of the monitor current, a predetermined light emission amount is obtained. It is possible to control the amount of emitted light by adjusting the laser drive current so that
【0023】この発光光量の制御は、画像範囲内におい
て実時間で行うことが理想ではあるが、マルチビームレ
ーザー光を使用した光走査装置においては、複数の光源
11a、11bが同時に発光する場合があるので、実時
間で発光光量を制御することは不可能である。従って、
1走査毎に同期検知の直前にそれぞれの光源11a、1
1bを時間的に独立に発光し、そのときのモニタ電流か
らレーザー駆動電流を決定している。Ideally, the control of the amount of emitted light is performed in real time within the image range. However, in an optical scanning device using multi-beam laser light, there are cases where a plurality of light sources 11a and 11b emit light simultaneously. Therefore, it is impossible to control the amount of emitted light in real time. Therefore,
Immediately before synchronization detection, each light source 11a, 1
1b is emitted independently in time, and the laser drive current is determined from the monitor current at that time.
【0024】図6(a)は光源11a、11bそれぞれ
に対応するスポット光A、Bが、共にスリット18aま
で到達していないときの位置関係を表している。このと
きには、先ず光源11aだけを発光して、モニタ電流か
ら光源11aの駆動電流を決定する。また、図6(b)
は光源11aに対応するスポット光Aだけがスリット1
8aを通過して、光源11bに対応するスポット光Bは
スリット18aの手前にある状態を表している。このと
きには、スポット光Aはスリット18aを通過している
ので、光源11aに対しては同期検知は完了している。
従って、同期検知完了直後に光源11aを消灯し、直ち
に光源11bを発光する。その後に、光源11bもスリ
ット18aを通過した図6(c)に示すような状態にな
ったときに、光源11bに対しての同期検知を完了す
る。FIG. 6A shows a positional relationship when the spot lights A and B corresponding to the light sources 11a and 11b do not reach the slit 18a. At this time, first, only the light source 11a emits light, and the drive current of the light source 11a is determined from the monitor current. FIG. 6 (b)
Indicates that only the spot light A corresponding to the light source 11a has the slit 1
The spot light B corresponding to the light source 11b after passing through the light source 8b represents a state in front of the slit 18a. At this time, since the spot light A has passed through the slit 18a, the synchronization detection has been completed for the light source 11a.
Therefore, the light source 11a is turned off immediately after the completion of the synchronization detection, and the light source 11b emits light immediately. Thereafter, when the light source 11b also enters the state shown in FIG. 6C after passing through the slit 18a, the synchronization detection for the light source 11b is completed.
【0025】モニタ電流の立ち上がりを、受光光量の立
ち上がりと完全に一致させることは不可能であり、モニ
タ電流の立ち上がりの方が受光光量の立ち上がりよりも
遅れる場合が普通である。その場合には、レーザー駆動
電流はモニタ電流を基にフィードバックをかけているの
で、モニタ電流の立ち上がり特性が悪いと発光光量が低
いと見做して、図7に示すように光量のオーバシュート
が発生する。It is impossible to make the rise of the monitor current completely coincide with the rise of the amount of received light, and it is common that the rise of the monitor current is later than the rise of the amount of received light. In this case, since the laser drive current is fed back based on the monitor current, if the rise characteristic of the monitor current is poor, it is considered that the light emission amount is low, and as shown in FIG. appear.
【0026】ここで、図6(b)に示した状態から光源
11bのスポット光Bがスリット18aを通過する時間
が短い場合には、光源11bの光量がオーバシュートし
ている状態で同期検知を行ってしまうことがある。その
場合には、光源11aと11bの間に光量差のある状態
でセンサ18cの出力による同期検知を行うことにな
り、図8に示すように書出位置のずれδt4が発生し、
その結果δY(mm)=V・δt4だけ光源11bに対
応する光束Bの書出し位置が遅れることになる。If the time required for the spot light B of the light source 11b to pass through the slit 18a from the state shown in FIG. 6B is short, the synchronous detection is performed in a state where the light amount of the light source 11b is overshooting. I may go. In this case, the synchronization detection based on the output of the sensor 18c is performed in a state where there is a light amount difference between the light sources 11a and 11b, and a writing position shift δt4 occurs as shown in FIG.
As a result, the writing position of the light flux B corresponding to the light source 11b is delayed by δY (mm) = V · δt4.
【0027】本実施例においては、このような光源自身
の立ち上がり特性によって生ずるずれδt4に起因する
書出し位置ずれを補正するために、同期検知光が走査す
る平面と直交する面に対して、スリット18aが所定角
度傾けて配置されている。In this embodiment, in order to correct the writing position shift caused by the shift δt4 caused by the rising characteristic of the light source itself, a slit 18a is formed on a plane orthogonal to the plane scanned by the synchronization detection light. Are arranged at a predetermined angle.
【0028】図9は第4の実施例を示し、(a)に示す
ようにマルチビームレーザー光源11a、11bから出
射された光束が、コリメータレンズ12によって略平行
光或いは収束光に変換される場合に、(b)、(c)に
示すようにそれぞれの光束の主走査方向の内部光強度分
布に違いが生ずる。このように、光束内部の光強度分布
に違いのある光束がスポット状に結像する場合には、図
10に示すように光源11aのスポット光Aと光源11
bのスポット光Bとで、そのスポット断面の主走査方向
の強度分布に違いが発生する。FIG. 9 shows a fourth embodiment in which light beams emitted from the multi-beam laser light sources 11a and 11b are converted by the collimator lens 12 into substantially parallel light or convergent light as shown in FIG. In addition, as shown in (b) and (c), a difference occurs in the internal light intensity distribution of each light beam in the main scanning direction. As described above, when a light beam having a difference in light intensity distribution inside the light beam forms an image in the form of a spot, as shown in FIG.
A difference occurs between the spot light B of b and the intensity distribution in the main scanning direction of the spot cross section.
【0029】このように強度分布が異なるスポット光
A、Bがスリット18aを横切ると、図11に示すよう
に光源11aに対応する同期検知信号と光源11bに対
応する同期検知信号との出力のタイミングに、δt5だ
けのずれが発生する。その結果、δY(mm)=V・δ
t5だけ光源11bに対応する光束Aの書出し位置がず
れる。When the spot lights A and B having different intensity distributions traverse the slit 18a, the output timings of the synchronization detection signal corresponding to the light source 11a and the synchronization detection signal corresponding to the light source 11b as shown in FIG. , A shift of δt5 occurs. As a result, δY (mm) = V · δ
The writing position of the light beam A corresponding to the light source 11b is shifted by t5.
【0030】本実施例においては、このようなそれぞれ
の光束の主走査方向の内部光強度分布の相違によって生
ずるδt5に起因する書出し位置ずれを補正するため
に、同期検知光が走査する平面と直交する面に対して、
所定角度傾けてスリット18aが配置されている。In the present embodiment, in order to correct the writing position shift caused by δt5 caused by the difference in the internal light intensity distribution of the respective light beams in the main scanning direction, the plane perpendicular to the plane scanned by the synchronization detection light is corrected. To the surface
The slit 18a is arranged at a predetermined angle.
【0031】以上の第1〜第4の実施例においては、書
出し位置にずれが生ずる要因がそれぞれ単独に存在する
とは限らないので、その場合にはその主たる要因の複数
の組み合わせを考慮して所定角度を決定すればよい。更
に、全ての要因を考慮して所定角度を決定すれば、より
一層書出し位置ずれを正確に補正することが可能とな
る。In the above-described first to fourth embodiments, factors that cause a shift in the write start position do not always exist independently, and in that case, the predetermined factors are considered in consideration of a plurality of combinations of the main factors. The angle may be determined. Further, if the predetermined angle is determined in consideration of all the factors, it becomes possible to correct the writing start position deviation more accurately.
【0032】図12は第5の実施例の主走査断面の平面
図、図13は被走査面側から見た同期検知光の副走査断
面の側面図を示す。同期検知光のみを反射する折返しミ
ラー19が設けられ、折返しミラー19の反射方向にス
リット18a、レンズ18b、センサ18cが配置され
ている。このように、同期検知光を偏向主走査面内では
所定角度で折り曲げ、更に副走査方向にも所定角度で反
射することによって、光学ハウジングをできるだけ小さ
くしてスキャナユニットとしての小型化を達成してい
る。FIG. 12 is a plan view of a main scanning section of the fifth embodiment, and FIG. 13 is a side view of a sub-scanning section of the synchronization detection light viewed from the surface to be scanned. A folding mirror 19 that reflects only the synchronization detection light is provided, and a slit 18a, a lens 18b, and a sensor 18c are arranged in the reflection direction of the folding mirror 19. As described above, the synchronization detection light is bent at a predetermined angle in the deflection main scanning plane, and further reflected at a predetermined angle in the sub-scanning direction, so that the optical housing is made as small as possible and the scanner unit is downsized. I have.
【0033】折返しミラー19により同期検知光を副走
査方向に所定角度で折り返す配置の場合には、同期検知
光が走査する面は走査光が走査する偏向主走査面に対し
て傾いてしまうために、同期検知光はスリット18a上
を図14(a)に示すように斜めに走査することにな
る。このように、同期検知光がスリット18a上を斜め
に走査すると、tan(θbd)だけ光源11aの光束A
の書出しタイミングが進んでしまうために、従来例では
図14(b)に示すようにスリット18aをθbdだけ
傾けて同期検知光の走査する面と垂直になるように設定
している。In the case of an arrangement in which the synchronization detection light is folded at a predetermined angle in the sub-scanning direction by the folding mirror 19, the surface scanned by the synchronization detection light is inclined with respect to the deflection main scanning surface scanned by the scanning light. The synchronization detection light scans the slit 18a obliquely as shown in FIG. As described above, when the synchronization detection light scans the slit 18a obliquely, the light flux A of the light source 11a by tan (θbd).
In the prior art, as shown in FIG. 14B, the slit 18a is tilted by θbd so as to be perpendicular to the scanning surface of the synchronization detection light.
【0034】しかし、このように同期検知光の走査する
面と垂直になるようにスリット18aを配置しただけで
は、光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立
ち上がり特性、光束の内部光強度分布の差等が存在する
場合には、書出し位置にずれが発生する。例えば光量の
差がある場合には、δY(mm)=V・δt2だけ光源1
1bに対応する光束Bの書出し位置が遅れることにな
る。However, by merely arranging the slit 18a so as to be perpendicular to the surface on which the synchronization detection light is scanned, the difference in light amount, the difference in spot shape, the rising characteristic of the light amount of the light source itself, the internal light of the light beam, etc. If there is a difference in the intensity distribution or the like, the writing position shifts. For example, when there is a difference in the light amount, the light source 1 has only δY (mm) = V · δt2.
The writing position of the light beam B corresponding to 1b is delayed.
【0035】このために、本実施例では図14(c)に
示すように、同期検知ミラー19に同期検知光を副走査
方向に所定角度で反射させた場合の、スリット18a上
における光束の走査する角度θbdと、例えば600D
PIの場合のずれ量δYを補正する角度θ=tan-1
(δY/0.04233)とを合計した量だけ、スリット
18aを傾けて配置することによって、より正確に書出
し位置のずれを補正している。For this reason, in this embodiment, as shown in FIG. 14C, scanning of the light beam on the slit 18a when the synchronization detection mirror 19 reflects the synchronization detection light at a predetermined angle in the sub-scanning direction. Angle θbd and, for example, 600D
Angle θ = tan -1 for correcting deviation δY in case of PI
(δY / 0.04233) and by disposing the slit 18a at an angle by the amount, the deviation of the writing position is corrected more accurately.
【0036】このとき、書出し位置ずれが生ずる要因は
光源1a、1bにそれぞれに単独に存在するとは限らな
いために、その場合には折返しミラー19によって同期
検知光を副走査方向に所定角度で反射させた場合の、ス
リット18a上における光束の走査する角度θbdと、
その主たる要因の複数の組み合わせとを考慮して所定角
度を決定する。更に、全ての要因を考慮して所定角度を
決定すれば、より一層正確に書出し位置ずれを補正する
ことができる。At this time, the cause of the writing start position deviation does not always exist independently in the light sources 1a and 1b. In this case, the synchronization detection light is reflected by the folding mirror 19 at a predetermined angle in the sub-scanning direction. The angle θbd at which the light beam scans on the slit 18a,
The predetermined angle is determined in consideration of a plurality of combinations of the main factors. Furthermore, if the predetermined angle is determined in consideration of all the factors, the writing start position deviation can be more accurately corrected.
【0037】図15は第6の実施例を示し、第1〜第5
の実施例では、書出し位置ずれを補正するためにスリッ
ト18aを傾けて配置したが、スリット18aの角度は
垂直のままで、その位置をずらすことによって書出し位
置ずれを補正することもできる。図15(a)は矢印C
方向に走査されている光束A、Bがスリット18aに到
達する様子を示している。光束Aがスリット18aの端
面に到達してからδT後に、光束Bがスリット18aの
端面に到達する。FIG. 15 shows a sixth embodiment, in which the first to fifth embodiments are described.
In the embodiment of the present invention, the slit 18a is arranged to be inclined in order to correct the writing position deviation. However, the writing position deviation can be corrected by shifting the position of the slit 18a while keeping the angle of the slit 18a vertical. FIG. 15A shows an arrow C.
The light beams A and B scanned in the directions reach the slit 18a. The light beam B reaches the end surface of the slit 18a δT after the light beam A reaches the end surface of the slit 18a.
【0038】この状態で書出し位置ずれを発生させる誤
差要因が全くなければ、スリット18aの位置はこのま
までよいが、実際には各光束A、Bにおいて、その光
量、スリット18a上でのスポット形状、各光束に対応
する光源の光量立ち上がり特性、光束内部の光強度分布
などが完全に同じではないために、書出し位置にずれが
発生する。例えば、光量差があるとδY(mm)=V・
δt2だけ光源11bに対応する光束Bの書出し位置が
遅れることになる。In this state, the position of the slit 18a may be left as it is if there is no error factor causing the writing start position shift. However, in actuality, in each of the light beams A and B, the light amount, the spot shape on the slit 18a, Since the light quantity rising characteristics of the light sources corresponding to the respective light beams, the light intensity distribution inside the light beams, and the like are not completely the same, a shift occurs in the writing start position. For example, if there is a light amount difference, δY (mm) = V ·
The writing position of the light beam B corresponding to the light source 11b is delayed by δt2.
【0039】従って、本実施例においては、図15
(b)に示すようにずれδYを補正するために、スリッ
ト18aをL=2・tan(δY/2)だけ集光点の後
方に配置している。このように配置することによって、
同期検知光Aは規定の時間よりも遅くスリット18aの
端面に到達し、一方で同期検知光Bは規定の時間よりも
早くスリット18aの端面に到達する。この結果、光源
11bに対応する光束Bの書出し位置を光束Aと同じ位
置まで進めることができる。Therefore, in this embodiment, FIG.
As shown in (b), in order to correct the shift δY, the slit 18a is disposed behind the converging point by L = 2 · tan (δY / 2). By arranging in this way,
The synchronization detection light A reaches the end face of the slit 18a later than the specified time, while the synchronization detection light B reaches the end face of the slit 18a earlier than the specified time. As a result, the writing position of the light beam B corresponding to the light source 11b can be advanced to the same position as the light beam A.
【0040】このとき、書出し位置にずれが生ずる要因
が光源1a、1bそれぞれに単独に存在するとは限らな
いので、その主たる要因の複数の組み合わせを考慮して
所定のずらし量Lを決定する。更に、全部の要因を考慮
して所定角度を決定すれば、より一層正確に書出し位置
ずれを補正することができる。At this time, the cause of the shift in the writing position does not always exist in each of the light sources 1a and 1b, and the predetermined shift amount L is determined in consideration of a plurality of combinations of the main factors. Further, if the predetermined angle is determined in consideration of all factors, the writing position deviation can be corrected more accurately.
【0041】また、第5の実施例で述べたように、折返
しミラー19によって同期検知光を副走査方向に所定角
度で反射させた場合の、スリット18a上における光束
の走査する角度θbdによって、発生する書出し位置ず
れを補正するようにずらし量Lを決定してもよい。更
に、光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立
ち上がり特性、光束の内部光強度分布の差等の影響を考
慮してずらし量Lを決定すれば、より効果的である。As described in the fifth embodiment, when the synchronization detection light is reflected at a predetermined angle in the sub-scanning direction by the turning mirror 19, the light is generated by the scanning angle θbd of the light beam on the slit 18a. The shift amount L may be determined so as to correct the writing position shift. Further, it is more effective to determine the shift amount L in consideration of the influence of the difference in the light amount, the difference in the spot shape, the rising characteristic of the light amount of the light source itself, the difference in the internal light intensity distribution of the light beam, and the like.
【0042】以上の実施例において、スリット18aの
傾き角度・ずらし量Lを予め決定しておいてもよいが、
光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立ち上
がり特性、光束の内部光強度分布の差等の誤差要因にば
らつきがある場合には、傾き角度・ずらし量を調整可能
とする構成としてもよい。In the above embodiment, the inclination angle / shift amount L of the slit 18a may be determined in advance.
When there are variations in error factors such as a difference in light amount, a difference in spot shape, a rising characteristic of the light amount of the light source itself, and a difference in internal light intensity distribution of the light beam, a configuration in which the tilt angle and the shift amount can be adjusted. Good.
【0043】[0043]
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るマルチ
ビーム光走査装置は、各同期検知光が通過するスリット
部材を、検知手段への入射光束の走査平面と直交する面
に対して所定角度傾けて配置することにより、スリット
部材を横切る光束の光量の立ち上がりから走査開始タイ
ミングの検知を正確に行って、高速かつ高画質の画像を
形成する。As described above, in the multi-beam optical scanning device according to the present invention, the slit member through which each synchronous detection light passes is set at a predetermined angle with respect to the plane orthogonal to the scanning plane of the light beam incident on the detection means. By tilting the arrangement, the scanning start timing is accurately detected from the rising of the light amount of the light beam crossing the slit member, and a high-speed and high-quality image is formed.
【0044】また、本発明に係るマルチビーム光走査装
置は、各同期検知光が通過するスリット部材を、検知手
段への入射光束の集光点から所定距離ずらした位置に配
置することによって、スリット部材を横切る光束の光量
の立ち上がりから走査開始タイミングの検知を正確に行
って、高速かつ高画質の画像を形成する。Further, in the multi-beam optical scanning device according to the present invention, the slit member through which each synchronous detection light passes is disposed at a position shifted by a predetermined distance from the converging point of the light beam incident on the detecting means. A scanning start timing is accurately detected from the rising of the light amount of the light beam crossing the member, and a high-speed and high-quality image is formed.
【図1】第1の実施例のマルチビーム光走査装置の平面
図である。FIG. 1 is a plan view of a multi-beam optical scanning device according to a first embodiment.
【図2】同期検知信号と画像信号のグラフ図である。FIG. 2 is a graph showing a synchronization detection signal and an image signal.
【図3】光量差による同期検知信号のずれの説明図であ
る。FIG. 3 is an explanatory diagram of a shift of a synchronization detection signal due to a light amount difference.
【図4】ずれ補正のためのスリットの傾け方の説明図で
ある。FIG. 4 is an explanatory diagram of how to incline a slit for correcting displacement.
【図5】第2の実施例の同期検知信号のずれのグラフ図
である。FIG. 5 is a graph showing a deviation of a synchronization detection signal according to the second embodiment.
【図6】第3の実施例の同期検知における発光光量制御
の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of light emission amount control in synchronization detection according to the third embodiment.
【図7】光量のオーバシュートのグラフ図である。FIG. 7 is a graph showing an overshoot of light quantity.
【図8】光源の立ち上がり特性による同期検知信号のず
れのグラフ図である。FIG. 8 is a graph showing a deviation of a synchronization detection signal due to a rising characteristic of a light source.
【図9】第4の実施例の複数光束の内部光強度分布の説
明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of an internal light intensity distribution of a plurality of light beams according to the fourth embodiment.
【図10】光強度分布に差がある場合のスポット光の強
度分布のグラフ図である。FIG. 10 is a graph of a spot light intensity distribution when there is a difference in light intensity distribution.
【図11】光強度分布に差がある場合の同期検知信号の
ずれのグラフ図である。FIG. 11 is a graph showing a shift of a synchronization detection signal when there is a difference in light intensity distribution.
【図12】第5の実施例のマルチビーム光走査光学装置
の平面図である。FIG. 12 is a plan view of a multi-beam optical scanning optical device according to a fifth embodiment.
【図13】側面図である。FIG. 13 is a side view.
【図14】光量差がある場合のスリットの傾け方の説明
図である。FIG. 14 is an explanatory diagram of how to tilt a slit when there is a light amount difference.
【図15】第6の実施例のずれ補正のためのスリットの
ずらし方の説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram of how to shift a slit for correcting a shift according to the sixth embodiment.
【図16】従来例のマルチビーム光走査装置の平面図で
ある。FIG. 16 is a plan view of a conventional multi-beam optical scanning device.
【図17】複数光源の配置の説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram of an arrangement of a plurality of light sources.
【図18】画像書込みタイミングの平面図である。FIG. 18 is a plan view of an image writing timing.
【図19】スリットの配置の説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram of an arrangement of slits.
11 半導体レーザー光源 13 シリンドリカルレンズ 14 絞り 15 ポリゴンミラー 16 fθレンズ 17 被走査面 18 位置検知手段 18a スリット 18c センサ 19 折返しミラー Reference Signs List 11 semiconductor laser light source 13 cylindrical lens 14 aperture 15 polygon mirror 16 fθ lens 17 scanned surface 18 position detecting means 18a slit 18c sensor 19 folding mirror
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Claims (27)
該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集
光する結像光学系と、該走査された複数の光束それぞれ
に対して走査開始タイミングを検知する検知手段とを備
えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の
光束入射側に、該検知手段に入射する光束が走査する平
面と直交する面に対し所定角度傾斜させてスリット部材
を配置し、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上
がりを検出することによって、前記走査開始タイミング
の検知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装
置。A light source that emits a plurality of light beams; a deflector;
A multi-beam light comprising: an imaging optical system for condensing a light beam deflected and scanned by the deflector on a surface to be scanned; and a detecting means for detecting a scanning start timing for each of the plurality of scanned light beams. In the scanning device, a slit member is disposed on the light beam incident side of the detecting means at a predetermined angle with respect to a plane orthogonal to a plane on which the light beam incident on the detecting means scans, and a light amount of the light beam traversing the slit member is provided. A multi-beam optical scanning device, wherein the scanning start timing is detected by detecting a rising edge.
数の光束それぞれの光量の差を基に決定する請求項1に
記載のマルチビーム光走査装置。2. The multi-beam optical scanning device according to claim 1, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a difference between light amounts of the plurality of light beams.
リット部材上での前記複数の光束それぞれのスポット形
状の差を基に決定する請求項1に記載のマルチビーム光
走査装置。3. The multi-beam optical scanning device according to claim 1, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member.
数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に決定する請
求項1に記載のマルチビーム光走査装置。4. The multi-beam optical scanning device according to claim 1, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a rising characteristic of light amounts of the plurality of light sources themselves.
数の光束の内部光強度分布の差を基に決定する請求項1
に記載のマルチビーム光走査装置。5. The predetermined angle of the slit member is determined based on a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
2. The multi-beam optical scanning device according to claim 1.
数の光束それぞれの光量の差と、前記スリット部材上で
の前記複数の光束それぞれのスポット形状の差と、前記
複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の
光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み
合わせを基に決定する請求項1に記載のマルチビーム光
走査装置。6. The predetermined angle of the slit member includes a difference between the light amounts of the plurality of light beams, a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member, and a light amount of the plurality of light sources themselves. The multi-beam optical scanning device according to claim 1, wherein the multi-beam optical scanning device is determined based on a combination of two or more factors of a rising characteristic and a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
に所定角度で反射して前記検知手段に導く反射手段を設
けた請求項1に記載のマルチビーム光走査装置。7. The multi-beam optical scanning apparatus according to claim 1, further comprising a reflection unit that reflects the plurality of light beams at a predetermined angle in at least a sub-scanning direction and guides the plurality of light beams to the detection unit.
射手段の反射角度と前記複数の光束それぞれの光量の差
とを基に決定する請求項7に記載のマルチビーム光走査
装置。8. The multi-beam optical scanning device according to claim 7, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection unit and a difference between light amounts of the plurality of light beams.
射手段の反射角度と前記スリット部材上での前記複数の
光束それぞれのスポット形状の差とを基に決定する請求
項7に記載のマルチビーム光走査装置。9. The multi-beam according to claim 7, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection means and a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member. Optical scanning device.
反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光量の立ち
上がり特性とを基に決定する請求項7に記載のマルチビ
ーム光走査装置。10. The multi-beam optical scanning device according to claim 7, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection means and a rising characteristic of light amounts of the plurality of light sources themselves.
反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光強度分布
の差とを基に決定する請求項7に記載のマルチビーム光
走査装置。11. The multi-beam optical scanning device according to claim 7, wherein the predetermined angle of the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection unit and a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
複数の光束それぞれの光量の差と、前記スリット部材上
での前記複数の光束それぞれのスポット形状の差と、前
記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数
の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組
み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に決定する
請求項7に記載のマルチビーム光走査装置。12. The predetermined angle of the slit member includes a difference between the light amounts of the plurality of light beams, a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member, and a light amount of the plurality of light sources themselves. The multi-beam optical scanning device according to claim 7, wherein the multi-beam optical scanning device is determined based on a combination of two or more factors of a rising characteristic, a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams, and a reflection angle of the reflection unit. .
能とした請求項1〜12の何れか1つの請求項に記載の
マルチビーム光走査装置。13. The multi-beam optical scanning device according to claim 1, wherein a predetermined angle of the slit member can be adjusted.
と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上
に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束それ
ぞれに対して走査開始タイミングを検知する検知手段と
を備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手
段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束の集光
点から所定距離ずらした位置にスリット部材を配置し
て、前記スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がり
を検出することによって、前記走査開始タイミングの検
知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装置。14. A light source for emitting a plurality of light beams, a deflector, an image forming optical system for condensing a light beam deflected and scanned by the deflector on a surface to be scanned, and a light source for each of the plurality of scanned light beams. And a detecting means for detecting a scanning start timing, wherein a slit member is provided on a light beam incident side of the detecting means at a position shifted by a predetermined distance from a focal point of a light beam incident on the detecting means. A multi-beam optical scanning apparatus, wherein the scanning start timing is detected by detecting rising of a light amount of a light beam crossing the slit member.
は、前記複数の光束それぞれの光量の差を基に決定する
請求項14に記載のマルチビーム光走査装置。15. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein the predetermined distance at which the slit member is shifted is determined based on a difference between the light amounts of the plurality of light beams.
は、前記スリット部材上での前記複数の光束それぞれの
スポット形状の差を基に決定する請求項14に記載のマ
ルチビーム光走査装置。16. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein the predetermined distance for displacing the slit member is determined based on a difference in a spot shape of each of the plurality of light beams on the slit member.
は、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に
決定する請求項14に記載のマルチビーム光走査装置。17. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein the predetermined distance at which the slit member is shifted is determined based on a rising characteristic of light amounts of the plurality of light sources themselves.
は、前記複数の光束の内部光強度分布の差を基に決定す
る請求項14に記載のマルチビーム光走査装置。18. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein the predetermined distance for displacing the slit member is determined based on a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
は、前記複数の光束それぞれの光量の差と、前記スリッ
ト部材上での前記複数の光束それぞれのスポット形状の
差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、
前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の
要因の組み合わせを基に決定する請求項14に記載のマ
ルチビーム光走査装置。19. The predetermined distance for shifting the slit member includes a difference between the light amounts of the plurality of light beams, a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member, and a light amount of the plurality of light sources themselves. And the rising characteristics of
The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein the determination is performed based on a combination of two or more factors among the differences in the internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
向に所定角度で反射して前記検知手段へ導く反射手段を
設けた請求項14に記載のマルチビーム光走査装置。20. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, further comprising a reflection unit that reflects the plurality of light beams at a predetermined angle in at least a sub-scanning direction and guides the plurality of light beams to the detection unit.
は、前記反射手段の反射角度と前記複数の光束それぞれ
の光量の差とを基に決定する請求項20に記載のマルチ
ビーム光走査装置。21. The multi-beam optical scanning device according to claim 20, wherein the predetermined distance for shifting the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection means and a difference between the light amounts of the plurality of light beams.
は、前記反射手段の反射角度と前記スリット部材上の前
記複数の光束それぞれのスポット形状の差とを基に決定
する請求項20に記載のマルチビーム光走査装置。22. The multi-beam according to claim 20, wherein the predetermined distance for shifting the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection means and a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member. Optical scanning device.
は、前記反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光
量の立ち上がり特性とを基に決定する請求項20に記載
のマルチビーム光走査装置。23. The multi-beam optical scanning device according to claim 20, wherein the predetermined distance at which the slit member is shifted is determined based on a reflection angle of the reflection unit and a rising characteristic of light amounts of the plurality of light sources.
は、前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光
強度分布の差とを基に決定する請求項20に記載のマル
チビーム光走査装置。24. The multi-beam optical scanning device according to claim 20, wherein the predetermined distance for shifting the slit member is determined based on a reflection angle of the reflection means and a difference between internal light intensity distributions of the plurality of light beams.
は、前記複数の光束それぞれの光量の差と、前記スリッ
ト部材上での前記複数の光束それぞれのスポット形状の
差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、
前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の
要因の組み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に
決定する請求項20に記載のマルチビーム光走査装置。25. A predetermined distance by which the slit member is displaced is a difference between light amounts of the plurality of light beams, a difference between spot shapes of the plurality of light beams on the slit member, and a light amount of the plurality of light sources themselves. And the rising characteristics of
21. The multi-beam optical scanning device according to claim 20, wherein the determination is performed based on a combination of two or more factors among the differences in the internal light intensity distributions of the plurality of light beams and a reflection angle of the reflection unit.
調整可能とした請求項14〜請求項25の何れか1つの
請求項に記載のマルチビーム光走査装置。26. The multi-beam optical scanning device according to claim 14, wherein a predetermined distance for shifting the slit member is adjustable.
れか1つの請求項に記載のマルチビーム光走査装置を搭
載する画像形成装置。27. An image forming apparatus equipped with the multi-beam optical scanning device according to at least one of claims 1 to 26.
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| JP1746399 | 1999-01-26 | ||
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7154640B2 (en) | 2001-10-01 | 2006-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-beam scanning apparatus and image forming apparatus using the same |
| JP2012118214A (en) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Kyocera Document Solutions Inc | Optical scanner and image forming apparatus |
-
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- 1999-10-08 JP JP28846799A patent/JP3576891B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
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| US8823761B2 (en) | 2010-11-30 | 2014-09-02 | Kyocera Mita Corporation | Optical scanning device and image forming apparatus |
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