JP2000278721A - 表示装置の画質確認方法およびそのための装置 - Google Patents
表示装置の画質確認方法およびそのための装置Info
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Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】表示装置の定量的かつ客観的な評価を行うに好
適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好適に
用い得る装置を提供すること。 【解決手段】表示装置の画面に所定のテストパターンを
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータを、当該表示装置
において過去に予め取得しておいた基準データと比較し
て、両者間のずれ量を出力するか、取り込んだデジタル
データから算出した特徴量を、当該表示装置の設置時に
同様の方法で予め取得しておいた基準値と比較して、両
者間のずれ量を出力するようにした。
適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好適に
用い得る装置を提供すること。 【解決手段】表示装置の画面に所定のテストパターンを
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータを、当該表示装置
において過去に予め取得しておいた基準データと比較し
て、両者間のずれ量を出力するか、取り込んだデジタル
データから算出した特徴量を、当該表示装置の設置時に
同様の方法で予め取得しておいた基準値と比較して、両
者間のずれ量を出力するようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は表示装置の画質確認
方法およびそのための装置に関し、より詳細にはＣＲ
Ｔ，ＬＣＤをはじめとするｓｏｆｔｃｏｐｙ表示デバイ
ス（以下、表示装置という）の画質確認方法およびその
ための装置に関する。
方法およびそのための装置に関し、より詳細にはＣＲ
Ｔ，ＬＣＤをはじめとするｓｏｆｔｃｏｐｙ表示デバイ
ス（以下、表示装置という）の画質確認方法およびその
ための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＲＴ，ＬＣＤをはじめとする表示装置
の画質、例えば輝度，解像度特性等は、使用中に経時的
に変化するものである。従って、この種の表示装置を、
医療分野における診断のような厳密な性能が要求される
用途に用いる場合には、使用者が表示装置の画質を逐次
確認し、その結果に応じて表示装置の画質調整（装置の
交換も含む）を行う必要があった。
の画質、例えば輝度，解像度特性等は、使用中に経時的
に変化するものである。従って、この種の表示装置を、
医療分野における診断のような厳密な性能が要求される
用途に用いる場合には、使用者が表示装置の画質を逐次
確認し、その結果に応じて表示装置の画質調整（装置の
交換も含む）を行う必要があった。
【０００３】しかしながら、従来は、上述のような表示
装置の画質に関しては、製造時にメーカーで検査や調整
を行って画質の確認がなされているだけで、出荷後の画
質に関しては、特にこれを確認する手段は提供されては
おらず、使用者による確認に委ねられていたのが実情で
ある。
装置の画質に関しては、製造時にメーカーで検査や調整
を行って画質の確認がなされているだけで、出荷後の画
質に関しては、特にこれを確認する手段は提供されては
おらず、使用者による確認に委ねられていたのが実情で
ある。
【０００４】使用者が表示装置の画質を確認する方法と
しては、一般には、視覚評価（すなわち、目視による評
価）が行われている。この目視による評価を行う際に
は、例えばよく知られているＳＭＰＴＥパターンのよう
な、種々の画質・特性が総合的に確認可能なテストパタ
ーンなどが利用されている。
しては、一般には、視覚評価（すなわち、目視による評
価）が行われている。この目視による評価を行う際に
は、例えばよく知られているＳＭＰＴＥパターンのよう
な、種々の画質・特性が総合的に確認可能なテストパタ
ーンなどが利用されている。
【０００５】使用者は、定期的に上述のＳＭＰＴＥパタ
ーンのようなテストパターンを表示装置の画面に表示さ
せ、これを観察して表示装置の表面的な、またごく基本
的な画質だけを確認することにより、継続的な使用の是
非を決定する必要があったわけである。
ーンのようなテストパターンを表示装置の画面に表示さ
せ、これを観察して表示装置の表面的な、またごく基本
的な画質だけを確認することにより、継続的な使用の是
非を決定する必要があったわけである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述のような使用者に
よる視覚評価では、実際には、例えば「この部分の見え
方が多少変化したようだ」というような、非常に主観
的、かつ、定性的な評価を行うことしかできず、定量的
な、いわば客観的な評価は行うことが不可能であるとい
う問題があった。
よる視覚評価では、実際には、例えば「この部分の見え
方が多少変化したようだ」というような、非常に主観
的、かつ、定性的な評価を行うことしかできず、定量的
な、いわば客観的な評価は行うことが不可能であるとい
う問題があった。
【０００７】上述の問題は、表示装置を診断用途など
の、厳密な表示性能が要求される用途に使用する場合に
は、極めて重大な問題となる。特に、医療用の診断で
は、この点が重要である。
の、厳密な表示性能が要求される用途に使用する場合に
は、極めて重大な問題となる。特に、医療用の診断で
は、この点が重要である。
【０００８】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、従来の技術における問題
点を解決し、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行う
に好適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好
適に用い得る装置を提供することにある。
で、その目的とするところは、従来の技術における問題
点を解決し、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行う
に好適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好
適に用い得る装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る表示装置の画質確認方法は、表示装置
の画面に所定のテストパターンを表示して、このテスト
パターンをデジタルデータとして取り込み、取り込んだ
デジタルデータを、当該表示装置において過去に同様の
方法で予め取得しておいた基準データと比較して両者間
のずれ量を出力することを特徴とする。
め、本発明に係る表示装置の画質確認方法は、表示装置
の画面に所定のテストパターンを表示して、このテスト
パターンをデジタルデータとして取り込み、取り込んだ
デジタルデータを、当該表示装置において過去に同様の
方法で予め取得しておいた基準データと比較して両者間
のずれ量を出力することを特徴とする。
【００１０】また、本発明に係る表示装置の画質確認方
法は、表示装置の画面に所定のテストパターンを表示し
て、このテストパターンをデジタルデータとして取り込
み、取り込んだデジタルデータから算出した特徴量を、
当該表示装置において過去に同様の方法で予め取得して
おいた基準値と比較して両者間のずれ量を出力すること
を特徴とする。
法は、表示装置の画面に所定のテストパターンを表示し
て、このテストパターンをデジタルデータとして取り込
み、取り込んだデジタルデータから算出した特徴量を、
当該表示装置において過去に同様の方法で予め取得して
おいた基準値と比較して両者間のずれ量を出力すること
を特徴とする。
【００１１】本発明に係る表示装置の画質確認方法にお
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。
【００１２】一方、本発明に係る表示装置の画質確認装
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得するデータ
取得手段と、当該表示装置において過去に同様の方法で
予め取得しておいた基準データと比較して両者間のずれ
量を算出するデータ処理手段とを有することを特徴とす
る。
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得するデータ
取得手段と、当該表示装置において過去に同様の方法で
予め取得しておいた基準データと比較して両者間のずれ
量を算出するデータ処理手段とを有することを特徴とす
る。
【００１３】また、本発明に係る表示装置の画質確認装
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得すると共に
該デジタルデータから所定の特徴量を算出する第１のデ
ータ処理手段と、当該表示装置において過去に同様の方
法で予め取得しておいた基準値と比較して両者間のずれ
量を算出する第２のデータ処理手段とを有することを特
徴とする。
置は、表示装置の画面に表示されている所定のテストパ
ターンを撮像し、そのデジタルデータを取得すると共に
該デジタルデータから所定の特徴量を算出する第１のデ
ータ処理手段と、当該表示装置において過去に同様の方
法で予め取得しておいた基準値と比較して両者間のずれ
量を算出する第２のデータ処理手段とを有することを特
徴とする。
【００１４】本発明に係る表示装置の画質確認装置にお
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。
いては、前記テストパターンとして、単一のテスト項目
が含まれているもの、または、複数のテスト項目が含ま
れているものを用いることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面に示す好適実施
例に基づいて、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
例に基づいて、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００１６】図１は、本発明の一実施例に係る表示装置
の画質確認装置の概略を示すブロック図である。図中、
１１は画像データ取得手段であり、これは例えば、高精
細なＣＣＤカメラとかデジタルカメラのようなものであ
る。１２はキーボードなどの操作部である。１３はテス
トパターン保持部であり、前述のＳＭＰＴＥパターンの
ようなテストパターンを保持している。
の画質確認装置の概略を示すブロック図である。図中、
１１は画像データ取得手段であり、これは例えば、高精
細なＣＣＤカメラとかデジタルカメラのようなものであ
る。１２はキーボードなどの操作部である。１３はテス
トパターン保持部であり、前述のＳＭＰＴＥパターンの
ようなテストパターンを保持している。
【００１７】１４はデータ記憶部であり、当該表示装置
の設置時等、過去に当該表示装置に上記テストパターン
を同じ画像データ取得手段１１で撮像した画像データ
（基準データ）、およびその後、逐次取得する画像デー
タを記憶している。また、１５は画像処理部、１６は演
算部を示している。これらに関しては、後に、詳述す
る。１７は表示部である。
の設置時等、過去に当該表示装置に上記テストパターン
を同じ画像データ取得手段１１で撮像した画像データ
（基準データ）、およびその後、逐次取得する画像デー
タを記憶している。また、１５は画像処理部、１６は演
算部を示している。これらに関しては、後に、詳述す
る。１７は表示部である。
【００１８】以下、上述のように構成された本実施例の
動作の概要を説明する。なお、以下に説明する例では、
設置時に取得したデータを基準とする場合を説明する。
表示装置の画質評価（以下、検査という）を行うために
は、まず、当該表示装置の設置時に、表示部１７にテス
トパターン保持部１３が保持している所定のテストパタ
ーンを表示させ、このテストパターンを画像データ取得
手段１１により撮像して、画像データを取得する。この
データ（イニシャルデータ）を、データ記憶部１４に記
憶する。
動作の概要を説明する。なお、以下に説明する例では、
設置時に取得したデータを基準とする場合を説明する。
表示装置の画質評価（以下、検査という）を行うために
は、まず、当該表示装置の設置時に、表示部１７にテス
トパターン保持部１３が保持している所定のテストパタ
ーンを表示させ、このテストパターンを画像データ取得
手段１１により撮像して、画像データを取得する。この
データ（イニシャルデータ）を、データ記憶部１４に記
憶する。
【００１９】表示装置の設置後、ある程度の期間が経過
した時点で検査を行う際には、テストパターン保持部１
３が保持している上と同じテストパターンを、表示部１
７に表示させ、このテストパターンを上と同様に画像デ
ータ取得手段１１により撮像して、画像データ（以下、
単にデータという）を取得する。このデータを、データ
記憶部１４に記憶する。なお、ここで、撮像条件はでき
るだけイニシャルデータ取得時の撮像条件と同じにする
必要がある。
した時点で検査を行う際には、テストパターン保持部１
３が保持している上と同じテストパターンを、表示部１
７に表示させ、このテストパターンを上と同様に画像デ
ータ取得手段１１により撮像して、画像データ（以下、
単にデータという）を取得する。このデータを、データ
記憶部１４に記憶する。なお、ここで、撮像条件はでき
るだけイニシャルデータ取得時の撮像条件と同じにする
必要がある。
【００２０】次に、データ記憶部１４に記憶されている
イニシャルデータと検査時に取得したデータとを、画像
処理部１５において比較する。この場合、一般には、両
データのパターンマッチングによる位置合わせ，濃度・
コントラスト調整などの処理を必要とすることが多い。
上述の比較の内容としては、両データの差分をとる処理
が一般的であるが、これに限られるものではない。例え
ば、差分をとった画像を基に数値を算出し、予め定めた
基準値と比較してもよい。
イニシャルデータと検査時に取得したデータとを、画像
処理部１５において比較する。この場合、一般には、両
データのパターンマッチングによる位置合わせ，濃度・
コントラスト調整などの処理を必要とすることが多い。
上述の比較の内容としては、両データの差分をとる処理
が一般的であるが、これに限られるものではない。例え
ば、差分をとった画像を基に数値を算出し、予め定めた
基準値と比較してもよい。
【００２１】また、前述のテストパターンとしては、Ｓ
ＭＰＴＥパターンのように、多数の項目が１つのテスト
パターンで測定できるものを用いてもよく、また、それ
ぞれの項目を個別に測定するようなものを用いてもよ
い。上記実施例によれば、検査時に取り込んだデータ
を、当該表示装置の設置時に予め取得しておいたデータ
と比較して、両者間のずれ量を出力することにより、当
該表示装置の画質の変化を、定量的に把握することがで
きる。
ＭＰＴＥパターンのように、多数の項目が１つのテスト
パターンで測定できるものを用いてもよく、また、それ
ぞれの項目を個別に測定するようなものを用いてもよ
い。上記実施例によれば、検査時に取り込んだデータ
を、当該表示装置の設置時に予め取得しておいたデータ
と比較して、両者間のずれ量を出力することにより、当
該表示装置の画質の変化を、定量的に把握することがで
きる。
【００２２】表示装置の使用者は、このずれ量を、例え
ば予め定められている値（閾値）と比較して、閾値を越
えている場合には、表示装置の調整，交換などの所定の
処置を行う。このように、使用者が定期的に上記検査を
行うことにより、表示装置の画質を高レベルに維持する
ことが可能になる。なお、差分をとった画像を基に数値
を算出し、予め定めた基準値と比較してもよい。
ば予め定められている値（閾値）と比較して、閾値を越
えている場合には、表示装置の調整，交換などの所定の
処置を行う。このように、使用者が定期的に上記検査を
行うことにより、表示装置の画質を高レベルに維持する
ことが可能になる。なお、差分をとった画像を基に数値
を算出し、予め定めた基準値と比較してもよい。
【００２３】以下、上記実施例に基づく具体的な処理の
手順および比較方法を説明する。ここでは、ひずみ
（歪），寸法精度を例に挙げる。比較には、クロスハッ
チパターンのような、画面の真直性，寸法の確認が可能
なパターンを用いる。このパターンについてのイニシャ
ルデータ，検査時のデータの両画像の端部を位置合わせ
する。これには、前述のように、パターンマッチングに
よる平行、回転シフトなどを行うことが好ましい。
手順および比較方法を説明する。ここでは、ひずみ
（歪），寸法精度を例に挙げる。比較には、クロスハッ
チパターンのような、画面の真直性，寸法の確認が可能
なパターンを用いる。このパターンについてのイニシャ
ルデータ，検査時のデータの両画像の端部を位置合わせ
する。これには、前述のように、パターンマッチングに
よる平行、回転シフトなどを行うことが好ましい。
【００２４】その上で、上記両画像上の対応する点の位
置を、両画像上の位置を両軸に取った相関図にプロット
して、これらの画像間の相関係数を求める。この一例
を、図２に示す。図２上で、プロットされた点が傾き１
の直線に近いほど、相関の度合が高い、つまり両画像間
の変化が小さいと判断される。
置を、両画像上の位置を両軸に取った相関図にプロット
して、これらの画像間の相関係数を求める。この一例
を、図２に示す。図２上で、プロットされた点が傾き１
の直線に近いほど、相関の度合が高い、つまり両画像間
の変化が小さいと判断される。
【００２５】次に、他の実施例を説明する。本実施例に
おいては、先に示した実施例のように、イニシャルデー
タおよび検査時のデータを画像データのまま比較するの
ではなく、上記データから各種の画像特徴量を求めて、
これについて設置時と検査時との比較を行うものであ
る。ここで、画像特徴量としては、画像のひずみ
（歪），寸法精度，輝度均一性，階調（輝度を含む），
レスポンス，粒状性などを例示することができるが、本
発明はこれらに限られるものではない。
おいては、先に示した実施例のように、イニシャルデー
タおよび検査時のデータを画像データのまま比較するの
ではなく、上記データから各種の画像特徴量を求めて、
これについて設置時と検査時との比較を行うものであ
る。ここで、画像特徴量としては、画像のひずみ
（歪），寸法精度，輝度均一性，階調（輝度を含む），
レスポンス，粒状性などを例示することができるが、本
発明はこれらに限られるものではない。
【００２６】以下、例示した各画像特徴量について、具
体的な画像処理の手順および比較方法を説明する。
体的な画像処理の手順および比較方法を説明する。
【００２７】（ａ）ひずみ（歪），寸法精度：図３に示
すようなひずみを定量化するひずみ指標値（偏向ひず
み，ラスタひずみ）を下記の式（１），（２）により算
出して、この指標値を比較する。なお、図３（ａ）は偏
向ひずみ、同（ｂ）はラスタひずみの説明図である。
すようなひずみを定量化するひずみ指標値（偏向ひず
み，ラスタひずみ）を下記の式（１），（２）により算
出して、この指標値を比較する。なお、図３（ａ）は偏
向ひずみ、同（ｂ）はラスタひずみの説明図である。
【数１】
【００２８】このような、ひずみ指標値を算出して上記
２画像（当該表示装置の設置時と、検査時の画像をい
う。以下、同様に用いる）を比較する方法では、前述の
相関係数を求めてこれを比較する方法に比べて、データ
処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で使用者
の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断が行い
やすくなるという効果がある。
２画像（当該表示装置の設置時と、検査時の画像をい
う。以下、同様に用いる）を比較する方法では、前述の
相関係数を求めてこれを比較する方法に比べて、データ
処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で使用者
の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断が行い
やすくなるという効果がある。
【００２９】（ｂ）輝度の均一性：フラットな輝度を有
するパターンであり、画面における位置が特定できるも
の（例えば、前述のクロスハッチパターンのようなも
の）を表示して行う。すなわち、上記２画像について、
画像中で、クロスハッチにより分割された各領域の平均
データ値を計測し、その最大値（ｍａｘ），最小値（ｍ
ｉｎ），平均値，分散などを算出する。
するパターンであり、画面における位置が特定できるも
の（例えば、前述のクロスハッチパターンのようなも
の）を表示して行う。すなわち、上記２画像について、
画像中で、クロスハッチにより分割された各領域の平均
データ値を計測し、その最大値（ｍａｘ），最小値（ｍ
ｉｎ），平均値，分散などを算出する。
【００３０】図４に、クロスハッチパターンを用いた場
合の、経時的な変化の例を示す。図４中、（ａ）は設置
時、（ｂ）は経時後の画面を示している。このような画
像について、上記最大値，最小値などの特性値を算出し
てこれらを比較し、変化の有無の判断を行う。
合の、経時的な変化の例を示す。図４中、（ａ）は設置
時、（ｂ）は経時後の画面を示している。このような画
像について、上記最大値，最小値などの特性値を算出し
てこれらを比較し、変化の有無の判断を行う。
【００３１】（ｃ）階調（輝度を含む）：グレイスケー
ルを含むパターンを表示して行う。すなわち、上記２画
像について、画像中で、グレイスケールの各ステップご
とのデータ値を計算し、それぞれのステップについて画
像間の差分値をとる。図５に、グレイスケールを含むパ
ターンを用いた場合の、経時的な変化の例を示す。図５
中、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の画面を示してい
る。
ルを含むパターンを表示して行う。すなわち、上記２画
像について、画像中で、グレイスケールの各ステップご
とのデータ値を計算し、それぞれのステップについて画
像間の差分値をとる。図５に、グレイスケールを含むパ
ターンを用いた場合の、経時的な変化の例を示す。図５
中、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の画面を示してい
る。
【００３２】（ｄ）レスポンス：よく知られている、矩
形波，サイン波のようなレスポンスが測定できるパター
ンが含まれる画面（前述のＳＭＰＴＥパターンでもよ
い）を表示して行う。例えば、図６（ａ）に示すような
矩形波パターンを表示する。これを読み取ったデータ
（図６（ｂ）参照）から、下記の式によりＣＴＦ（Ｃon
trast Ｔransfer Ｆunction ）を求める。
形波，サイン波のようなレスポンスが測定できるパター
ンが含まれる画面（前述のＳＭＰＴＥパターンでもよ
い）を表示して行う。例えば、図６（ａ）に示すような
矩形波パターンを表示する。これを読み取ったデータ
（図６（ｂ）参照）から、下記の式によりＣＴＦ（Ｃon
trast Ｔransfer Ｆunction ）を求める。
【００３３】
【数２】 次に、このＣＴＦデータを、これもよく知られているコ
ルトマンの変換式を用いて、ＭＴＦ（Ｍodulation Ｔra
nsfer Ｆunction ）データに変換する。得られたＭＴＦ
データを、前記２画像について比較し、経時変化の有無
を判断する。
ルトマンの変換式を用いて、ＭＴＦ（Ｍodulation Ｔra
nsfer Ｆunction ）データに変換する。得られたＭＴＦ
データを、前記２画像について比較し、経時変化の有無
を判断する。
【００３４】（ｅ）粒状性：フラットな領域を有するパ
ターンを用いて行う。画像データを取り込み、このデー
タからＲＭＳ（Ｒoot Ｍean Ｓuquare）値，ＷＳ（Ｗie
ner Ｓpectral ）値を算出する。得られたデータを、前
記２画像について比較し、経時変化の有無を判断する。
この特徴量は、画像の粗さ，ノイズの多少などを評価す
る指標である。
ターンを用いて行う。画像データを取り込み、このデー
タからＲＭＳ（Ｒoot Ｍean Ｓuquare）値，ＷＳ（Ｗie
ner Ｓpectral ）値を算出する。得られたデータを、前
記２画像について比較し、経時変化の有無を判断する。
この特徴量は、画像の粗さ，ノイズの多少などを評価す
る指標である。
【００３５】以上説明したように、本実施例において
は、イニシャルデータおよび検査時のデータを画像デー
タのまま比較するのではなく、上記データから上述のよ
うな各種の画像特徴量を求めて、これについて設置時と
検査時との比較を行うようにしたので、前述のように、
データ処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で
使用者の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断
が行いやすくなるという効果がある。
は、イニシャルデータおよび検査時のデータを画像デー
タのまま比較するのではなく、上記データから上述のよ
うな各種の画像特徴量を求めて、これについて設置時と
検査時との比較を行うようにしたので、前述のように、
データ処理が多少複雑になるものの、判断を行う過程で
使用者の主観が入る余地がなくなるので、客観的な判断
が行いやすくなるという効果がある。
【００３６】ところで、本発明に係る表示装置の画質確
認装置は、検査対象となる表示装置において過去（例え
ば設置時）と、それ以後の（できれば定期的な）検査時
において、検査対象となる表示装置の画面上に上述のよ
うな種々の方法による比較のためのパターンを表示させ
て、これを撮像しデータ処理を行うので、持ち運びが容
易なコンパクトな構造とすることが望ましい。
認装置は、検査対象となる表示装置において過去（例え
ば設置時）と、それ以後の（できれば定期的な）検査時
において、検査対象となる表示装置の画面上に上述のよ
うな種々の方法による比較のためのパターンを表示させ
て、これを撮像しデータ処理を行うので、持ち運びが容
易なコンパクトな構造とすることが望ましい。
【００３７】このためには、検査対象となる表示装置の
画面を撮像する撮像部と、ここで得られたデータを処理
するデータ処理部（操作部，データ記憶部等を含む）と
を分割して、これらをケーブルで接続するようにしても
よい。なお、この表示装置の画質確認装置は、表示装置
のユーザに品質チェック用の商品として提供してもよ
く、また、表示装置のサービスマンに携帯させる検査用
具としてもよい。
画面を撮像する撮像部と、ここで得られたデータを処理
するデータ処理部（操作部，データ記憶部等を含む）と
を分割して、これらをケーブルで接続するようにしても
よい。なお、この表示装置の画質確認装置は、表示装置
のユーザに品質チェック用の商品として提供してもよ
く、また、表示装置のサービスマンに携帯させる検査用
具としてもよい。
【００３８】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行うに好
適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好適に
用い得る装置を提供することが可能である。
よれば、表示装置の定量的かつ客観的な評価を行うに好
適な、表示装置の画質確認方法およびそのために好適に
用い得る装置を提供することが可能である。
【図１】 本発明の一実施例に係る表示装置の画質確認
装置の概略を示すブロック図である。
装置の概略を示すブロック図である。
【図２】 画像間の相関関係の一例を示す図である。
【図３】 （ａ）は偏向ひずみ、（ｂ）はラスタひずみ
の説明図である。
の説明図である。
【図４】 輝度の均一性の経時変化の一例を示す図であ
り、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図で
ある。
り、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図で
ある。
【図５】 輝度を含む階調の経時変化の一例を示す図で
あり、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図
である。
あり、（ａ）は設置時、（ｂ）は経時後の状況を示す図
である。
【図６】 （ａ）はレスポンスの測定に用いる矩形波パ
ターンを示す模式図、（ｂ）はこれを読み取ったデータ
を示す模式図である。
ターンを示す模式図、（ｂ）はこれを読み取ったデータ
を示す模式図である。
１１ 画像データ取得手段 １２ 操作部 １３ テストパターン保持部 １４ データ記憶部 １５ 画像処理部 １６ 演算部 １７ 表示部
Claims (8)
- 【請求項１】表示装置の画面に所定のテストパターンを
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータを、当該表示装置
において過去に同様の方法で予め取得しておいた基準デ
ータと比較して両者間のずれ量を出力することを特徴と
する表示装置の画質確認方法。 - 【請求項２】表示装置の画面に所定のテストパターンを
表示して、このテストパターンをデジタルデータとして
取り込み、取り込んだデジタルデータから算出した特徴
量を、当該表示装置において過去に同様の方法で予め取
得しておいた基準値と比較して両者間のずれ量を出力す
ることを特徴とする表示装置の画質確認方法。 - 【請求項３】前記テストパターンとして、単一のテスト
項目が含まれているものを用いる請求項１または２に記
載の表示装置の画質確認方法。 - 【請求項４】前記テストパターンとして、複数のテスト
項目が含まれているものを用いる請求項１または２に記
載の表示装置の画質確認方法。 - 【請求項５】表示装置の画面に表示されている所定のテ
ストパターンを撮像し、そのデジタルデータを取得する
データ取得手段と、当該表示装置において過去に同様の
方法で予め取得しておいた基準データと比較して両者間
のずれ量を算出するデータ処理手段とを有することを特
徴とする表示装置の画質確認装置。 - 【請求項６】表示装置の画面に表示されている所定のテ
ストパターンを撮像し、そのデジタルデータを取得する
と共に該デジタルデータから所定の特徴量を算出する第
１のデータ処理手段と、当該表示装置において過去に同
様の方法で予め取得しておいた基準値と比較して両者間
のずれ量を算出する第２のデータ処理手段とを有するこ
とを特徴とする表示装置の画質確認装置。 - 【請求項７】前記テストパターンとして、単一のテスト
項目が含まれているものを用いる請求項５または６に記
載の表示装置の画質確認装置。 - 【請求項８】前記テストパターンとして、複数のテスト
項目が含まれているものを用いる請求項５または６に記
載の表示装置の画質確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083911A JP2000278721A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 表示装置の画質確認方法およびそのための装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083911A JP2000278721A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 表示装置の画質確認方法およびそのための装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000278721A true JP2000278721A (ja) | 2000-10-06 |
Family
ID=13815802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11083911A Withdrawn JP2000278721A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 表示装置の画質確認方法およびそのための装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000278721A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003085570A1 (en) * | 2002-04-04 | 2003-10-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cooperative diagnosis system |
| JP2004021168A (ja) * | 2002-06-20 | 2004-01-22 | Seiko Epson Corp | 画像表示装置および画像処理装置 |
| US6883362B2 (en) | 2001-03-21 | 2005-04-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Ultrasonic diagnostic apparatus and method of checking its performance |
| WO2023002278A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の補正方法、及び表示装置の補正システム |
-
1999
- 1999-03-26 JP JP11083911A patent/JP2000278721A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6883362B2 (en) | 2001-03-21 | 2005-04-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Ultrasonic diagnostic apparatus and method of checking its performance |
| WO2003085570A1 (en) * | 2002-04-04 | 2003-10-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Cooperative diagnosis system |
| JP2004021168A (ja) * | 2002-06-20 | 2004-01-22 | Seiko Epson Corp | 画像表示装置および画像処理装置 |
| WO2023002278A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の補正方法、及び表示装置の補正システム |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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