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JP2000266690A - Method and apparatus for detecting position of flaw or foreign matter, and image reading device - Google Patents

Method and apparatus for detecting position of flaw or foreign matter, and image reading device

Info

Publication number
JP2000266690A
JP2000266690A JP11345850A JP34585099A JP2000266690A JP 2000266690 A JP2000266690 A JP 2000266690A JP 11345850 A JP11345850 A JP 11345850A JP 34585099 A JP34585099 A JP 34585099A JP 2000266690 A JP2000266690 A JP 2000266690A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
foreign matter
photoelectric conversion
scratch
conversion element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11345850A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomonobu Nishio
朋宣 西尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP11345850A priority Critical patent/JP2000266690A/en
Publication of JP2000266690A publication Critical patent/JP2000266690A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Image Processing (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make detectable the position of a flaw and foreign matter on a transmissible manuscript. SOLUTION: A light shading plate 70 moving in a sub-scanning direction and capable of being arranged on a light diffusing plate 26B and slightly shorten than the light diffusion plate 26B in its length dimension in the sub-scanning direction is provided on an image reading device and, at a time of irregular search scanning, the shading plate 7 is moved on the light diffusing plate 26B to cut off the illumination light ejected from the light diffusing plate 26B to be incident on a lens iris 59. By this constitution, only light obliquely incident from both end parts in the sub-scanning direction of the light diffusing plate 26B is changed over to dark field illumination allowed to irradiate the reading position of a photographic film F. When there is a flaw E or foreign matter D on the photographic film F supported at the reading position, the illumination lights emitted from both end parts of the light diffusion plate 26B are refracted or scattered by the damage E or foreign matter D to be incident on the lens iris 59 to be detected by a line CCD(charge coupled device). By this constitution, the position of a flaw E or foreign matter D is obtained as a brightly reflected image.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、傷又は異物位置検
出方法、傷又は異物位置検出装置、及び画像読取装置に
係り、特に、透過原稿に付いている傷および異物の位置
を検出する傷又は異物位置検出方法、傷又は異物位置検
出装置、及び画像読取装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting a position of a flaw or foreign matter, a device for detecting a position of a flaw or foreign substance, and an image reading apparatus. The present invention relates to a foreign matter position detecting method, a scratch or foreign matter position detecting device, and an image reading device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、写真フィルムを一定の読取速度で
副走査方向へ搬送しながら写真フィルムに記録されてい
るフィルム画像をラインCCD(charge coupled devic
e )スキャナにより読み取り、この読み取りによって得
られた画像データに対して各種の補正等の処理を行った
後に、印画紙等の記録材料への画像記録やディスプレイ
への画像表示等を行う画像読取装置が実用化されてい
る。このような画像読取装置では、フィルム画像を面露
光により印画紙に記録する従来の画像読取装置と比較し
て、写真フィルムに記録された画像の読み取りから、印
画紙等の記録材料への画像記録までの作業の自動化が容
易になるという利点を有している。
2. Description of the Related Art In recent years, a film image recorded on a photographic film is transferred to a line CCD (charge coupled device) while the photographic film is conveyed in a sub-scanning direction at a constant reading speed.
e) An image reading device that reads with a scanner, performs various corrections and the like on the image data obtained by the reading, and then records an image on a recording material such as photographic paper, displays an image on a display, and the like. Has been put to practical use. Such an image reading apparatus reads an image recorded on a photographic film and records an image on a recording material such as a photographic paper, as compared with a conventional image reading apparatus that records a film image on a photographic paper by surface exposure. There is an advantage that automation of the operation up to is facilitated.

【0003】ところで、上記のような画像読取装置で
は、一般に、光源からの出射光を光拡散板により光拡散
し、拡散光として写真フィルム(以下、「透過原稿」と
いう)へ照射している。これにより、結像光学系により
結像された画像では、透過原稿に付いた微細な傷や異物
が目立たなくなり、この傷や異物による画質の低下を抑
制できる。また、このとき、光拡散板による拡散率が大
きい程、傷や異物による画質の低下を抑制する効果が向
上する。なお、透過原稿に付着する異物としては、塵、
埃、汚れ、指紋等がある。
In the above-described image reading apparatus, generally, light emitted from a light source is diffused by a light diffusion plate, and the diffused light is radiated on a photographic film (hereinafter, referred to as a "transparent original"). As a result, in the image formed by the image forming optical system, fine scratches and foreign matter attached to the transparent original document become inconspicuous, and it is possible to suppress deterioration in image quality due to the scratches and foreign matter. Also, at this time, the effect of suppressing the deterioration of the image quality due to scratches or foreign matter improves as the diffusion rate of the light diffusion plate increases. In addition, foreign substances adhering to the transparent original include dust,
There are dust, dirt, fingerprints, etc.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、拡散率
が大きくなると、光量の損失が大きくなって光源から透
過原稿へ照射される光の光量が低下する。また、光源に
より出射される光の光量は、光源からの発熱量が制限さ
れることや、光源による消費電力の低減が要求されるこ
とから制約されている。このため、光拡散板の拡散率の
大きさも制約され、CCDスキャナによる画像読取時
に、透過原稿の傷や異物による画質低下を十分に抑制す
ることはできなかった。
However, when the diffusivity increases, the loss of light amount increases, and the light amount of light emitted from the light source to the transparent original decreases. In addition, the amount of light emitted by the light source is restricted because the amount of heat generated from the light source is limited and reduction in power consumption by the light source is required. For this reason, the magnitude of the diffusion rate of the light diffusion plate is also restricted, and it is not possible to sufficiently suppress image quality deterioration due to scratches or foreign matter on the transparent original during image reading by the CCD scanner.

【0005】上記のように、画像読取時の透過原稿に対
する画一的な処理では、画質低下の抑制効果に限界があ
り、より高画質の画像を得るためには、透過原稿の傷や
異物の位置の読取画像に対して、当該傷や異物の影響を
取り除く処理を行うことが求められる。
As described above, in the uniform processing for a transparent original at the time of reading an image, there is a limit to the effect of suppressing the deterioration of image quality. It is required to perform processing for removing the influence of the scratch or foreign matter on the read image at the position.

【0006】例えば、画像処理の分野においては、不良
画素(ライン、エリアを含む)のデータを補正して高画
質な画像を得る手法(例えば、不良画素データを周辺の
画素データから内挿する等)が考案されている。上記の
画像読取装置においても、CCDスキャナにより読み取
られた画像データ中の傷や異物による不良画素を特定し
て、当該不良画素のデータを補正する画像処理を行うこ
とにより、読取画像から透過原稿の傷や異物による影響
を取り除くことができる。
[0006] For example, in the field of image processing, a method of obtaining high-quality images by correcting data of defective pixels (including lines and areas) (for example, interpolation of defective pixel data from peripheral pixel data, etc.). ) Has been devised. In the above-described image reading apparatus, a defective pixel due to a scratch or foreign matter in the image data read by the CCD scanner is specified, and image processing for correcting the data of the defective pixel is performed. The effects of scratches and foreign matter can be eliminated.

【0007】また、透過原稿に付く傷や異物は微小であ
るので、傷や異物の部分だけであれば、光源の出力を上
げても、画像読取処理全体における光源の発熱量や消費
電力に与える影響は少ない。したがって、透過原稿上の
傷や異物の部分にのみ、光源からの光量を上げてより拡
散された光を照射し、傷や異物による画質の低下を抑制
することもできる。
Further, since the scratches and foreign matters attached to the transparent original are minute, even if the output of the light source is increased, the heat generation amount and the power consumption of the light source in the entire image reading process will be provided if only the scratches and foreign matters are increased. The effect is small. Therefore, it is possible to increase the amount of light from the light source and irradiate the diffused light only to the scratch or foreign matter portion on the transparent original, thereby suppressing the deterioration of the image quality due to the scratch or foreign matter.

【0008】しかしながら、従来の技術では、透過原稿
上の傷や異物の位置を検出(特定)する手段がなかった
ため、読取画像から傷や異物のよる影響を取り除く処理
を行うことができなかった。
However, in the prior art, there is no means for detecting (specifying) the position of a scratch or foreign matter on a transparent original, and therefore, it has not been possible to perform processing for removing the influence of a scratch or foreign matter from a read image.

【0009】本発明は、上記問題点を解消するためにな
されたもので、透過原稿上の傷又は異物の位置を検出す
ることができる傷又は異物位置検出方法、傷又は異物位
置検出装置、及び画像読取装置を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and a method for detecting the position of a scratch or foreign matter on a transparent original, a device for detecting the position of a scratch or foreign matter, and a device for detecting the position of a scratch or foreign matter It is an object to provide an image reading device.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、透過原稿に付いている傷
又は異物の位置を検出する傷又は異物位置検出方法であ
って、光電変換素子に対する暗視野光を前記透過原稿に
照射し、前記光電変換素子による透過光の検出結果に基
づいて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別す
る、ことを特徴としている。
According to one aspect of the present invention, there is provided a method for detecting the position of a scratch or foreign matter on a transparent original, comprising the steps of: The transmission original is irradiated with dark field light to a photoelectric conversion element, and the position of a scratch or a foreign substance on the transmission original is determined based on a result of detection of the transmitted light by the photoelectric conversion element.

【0011】請求項1に記載の発明によれば、光電変換
素子に対して暗視野光となるように、透過原稿に光が照
射されるので、透過原稿に照射されて透過した光(暗視
野光)は、通常(透過原稿に傷や異物がない場合)は、
光電変換素子に検出されない。これに対して、透過原稿
に傷や異物(塵、埃、汚れ、指紋等)が付いている場合
は、傷や異物によって暗視野光が屈折または散乱され、
通常(透過原稿に傷や異物がない場合)とは異なる方向
に透過するので、光電変換素子によって検出される。
According to the first aspect of the present invention, since the light is radiated to the transmissive document so that the photoelectric conversion element becomes dark field light, the light transmitted to the transmissive document (dark field light) is irradiated. Light) is normal (when there is no scratch or foreign matter on the transparent original)
Not detected by the photoelectric conversion element. On the other hand, if the transparent original has scratches or foreign matter (dust, dust, dirt, fingerprints, etc.), the dark field light is refracted or scattered by the scratches or foreign matter,
Since the light is transmitted in a direction different from the normal direction (when there is no scratch or foreign matter on the transparent original), it is detected by the photoelectric conversion element.

【0012】したがって、例えば、請求項2に記載され
ているように、光電変換素子によって所定光量以上の透
過光を検出した場合に、透過原稿上の傷や異物により屈
折または散乱された光を検出したと判断し、前記透過原
稿上に傷又は異物が存在していることを認識する等、光
電変換素子による透過光の検出結果に基づいて、透過原
稿上の傷又は異物の位置を判別することができる。
Therefore, for example, when transmitted light of a predetermined amount or more is detected by the photoelectric conversion element as described in claim 2, light refracted or scattered by a scratch or foreign matter on the transmitted original is detected. Determining the position of the scratch or foreign matter on the transparent original based on the result of detection of the transmitted light by the photoelectric conversion element, such as recognizing that a scratch or foreign matter is present on the transparent original. Can be.

【0013】請求項3に記載の発明は、透過原稿に付い
ている傷又は異物の位置を検出する傷又は異物位置検出
装置であって、前記透過原稿に光を照射する照射手段
と、前記透過原稿の透過光を、暗視野光として検出する
光電変換素子と、前記光電変換素子による光の検出結果
に基づいて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別
する判別手段と、を有することを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a scratch or foreign matter position detecting device for detecting a position of a scratch or foreign matter attached to a transparent original, wherein the irradiating means for irradiating the transparent original with light; A photoelectric conversion element that detects transmitted light of the document as dark-field light; and a determination unit that determines a position of a scratch or a foreign matter on the transmission document based on a detection result of light by the photoelectric conversion element. It is characterized by.

【0014】請求項3に記載の発明によれば、照射手段
によって、透過原稿に対して光が照射され、この光は透
過原稿を透過して、光電変換素子に暗視野光として検出
される。すなわち、光電変換素子に対して暗視野光とな
るように、透過原稿に光が照射されるので、光電変換素
子では、透過原稿に傷や異物が付いている場合にのみ、
傷や異物によって屈折または散乱された光(暗視野光)
を検出する。
According to the third aspect of the present invention, the illuminating means irradiates the transparent original with light, which transmits through the transparent original and is detected by the photoelectric conversion element as dark field light. That is, since light is applied to the transmission original so that the photoelectric conversion element becomes dark-field light, the photoelectric conversion element is used only when the transmission original has a scratch or foreign matter.
Light refracted or scattered by a wound or foreign matter (dark field light)
Is detected.

【0015】したがって、判別手段によって、例えば、
請求項4に記載されているように、光電変換素子によっ
て所定光量以上の透過光を検出した場合に、透過原稿上
の当該暗視野光が透過した位置に傷又は異物が存在して
いることを認識する等、光電変換素子による透過光の検
出結果に基づいて、透過原稿上の傷又は異物の位置を判
別することができる。
Therefore, for example,
As described in claim 4, when the photoelectric conversion element detects transmitted light of a predetermined amount or more, it is determined that a scratch or a foreign substance exists at a position on the transparent original where the dark field light is transmitted. For example, it is possible to determine the position of a scratch or foreign matter on the transparent original based on the detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element, such as recognition.

【0016】請求項5に記載の発明は、請求項3又は請
求項4に記載の傷又は異物位置検出装置が用いられた画
像読取装置であって、前記判別手段による傷又は異物の
位置の判別結果に基づいて、透過画像の読取結果を補正
する補正手段を有する、ことを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an image reading apparatus using the flaw or foreign matter position detecting device according to the third or fourth aspect, wherein the determination means determines the position of the flaw or foreign matter. It is characterized by having a correction means for correcting the read result of the transmission image based on the result.

【0017】請求項5に記載の発明によれば、補正手段
によって、透過原稿上の傷又は異物位置の検出結果に基
づいて、透過画像の読取結果(透過原稿に記録された画
像の読取結果)が補正される。すなわち、透過原稿上の
傷又は異物の位置を検出して、透過原稿の傷や異物の位
置に対応する読取画像に対して、当該傷や異物による影
響を取り除く処理を施すことができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the result of reading the transparent image (the result of reading the image recorded on the transparent document) is based on the detection result of the position of the scratch or foreign matter on the transparent document by the correction means. Is corrected. That is, the position of a scratch or foreign matter on the transparent document can be detected, and the read image corresponding to the position of the scratch or foreign matter on the transparent document can be subjected to processing for removing the influence of the scratch or foreign matter.

【0018】請求項6の発明は、照射手段から透過原稿
に光を照射し、少なくともその透過画像を光電変換素子
により読み取る画像読取装置に用いられ、前記透過原稿
に付いている傷又は異物の位置を検出する傷又は異物位
置検出装置であって、前記照射手段からの光を前記光電
変換素子に対して暗視野光となるように切り替えて、前
記透過原稿に照射する切替手段と、前記切替手段によっ
て、前記照射手段から暗視野光を前記透過原稿に照射し
たときの、前記光電変換素子による透過光の検出結果に
基づいて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別す
る判別手段と、を有することを特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an image reading apparatus which irradiates light from a irradiating means to a transparent original and reads at least the transmitted image by a photoelectric conversion element. A switching unit for irradiating the transparent original by switching light from the irradiating unit to dark field light with respect to the photoelectric conversion element, and the switching unit. By, when irradiating the transparent original with dark field light from the irradiating means, based on the detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element, determining means for determining the position of a scratch or foreign matter on the transparent original, It is characterized by having.

【0019】請求項6に記載の発明によれば、傷又は異
物位置検出装置は、切替手段と、判別手段を有してい
る。切替手段では、照射手段からの光を光電変換素子に
対して暗視野光となるように切り替えて、透過原稿に照
射する。このとき、光電変換素子では、前述の請求項3
に記載の発明と同様に、透過原稿に傷や異物が付いてい
る場合にのみ、傷や異物によって屈折または散乱された
光(暗視野光)を検出する。判別手段では、このときの
光電変換素子による透過光の検出結果に基づいて、透過
原稿上の傷又は異物の位置を判別することができる。
According to the invention described in claim 6, the scratch or foreign matter position detecting device has the switching means and the determining means. The switching unit switches the light from the irradiating unit to the photoelectric conversion element so as to be dark-field light, and irradiates the transparent original. At this time, in the photoelectric conversion element, the aforementioned claim 3
As in the invention described in (1), light (dark field light) refracted or scattered by the scratch or foreign matter is detected only when the transparent original has a scratch or foreign matter. The determination means can determine the position of a scratch or foreign matter on the transparent original based on the detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element at this time.

【0020】また、切替手段によって暗視野光に切替え
ることができるので、透過原稿の画像を読み取るために
用いる照射手段と、傷又は異物の検出を行うために用い
る照射手段とを共通化することができる。また、光電変
換素子では、透過原稿からの透過画像と、透過原稿上の
傷又は異物によって屈折した暗視野光とを検出する。す
なわち、透過原稿の画像を読み取るために用いる光電変
換素子と、傷又は異物の検出を行うために用いる光電変
換素子も共通化することができる。
Further, since the switching means can switch to dark-field light, the irradiation means used for reading the image of the transparent original and the irradiation means used for detecting a scratch or foreign matter can be shared. it can. In addition, the photoelectric conversion element detects a transmitted image from a transparent original and dark field light refracted by a scratch or foreign matter on the transparent original. That is, the photoelectric conversion element used for reading the image of the transmission original and the photoelectric conversion element used for detecting a scratch or a foreign substance can be shared.

【0021】請求項7に記載の発明は、請求項6に記載
の発明において、前記切替手段が、前記照射手段と前記
透過原稿との間に配設され、前記光電変換素子に対する
明視野光と、前記光電変換素子に対する暗視野光とを含
む光を前記透過原稿近傍まで導く光導波手段と、前記光
導波手段と前記透過原稿との間に設けられ、前記明視野
光を遮光する遮光位置及び退避した位置とを選択的に取
り得る遮光手段と、を備え、前記判別手段が、前記遮光
手段が遮光位置のときに、前記光電変換素子による透過
光の検出結果に基づいて、前記透過原稿上の傷又は異物
の位置を判別する、ことを特徴としている。
According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect of the present invention, the switching means is disposed between the irradiating means and the transmissive original, and is provided with a bright field light for the photoelectric conversion element. Light guiding means for guiding light including dark-field light to the photoelectric conversion element to the vicinity of the transmissive document, and a light-shielding position provided between the light guiding means and the transmissive document to block the bright-field light; Light-shielding means capable of selectively taking the retracted position, wherein the determining means determines whether or not the light is transmitted over the transparent original based on a result of detection of transmitted light by the photoelectric conversion element when the light-shielding means is at the light-shielding position. The position of a flaw or foreign matter is determined.

【0022】請求項7に記載の発明によれば、切替手段
は、光導波手段と遮光手段を備えている。光導波手段に
よって、光電変換素子に対する明視野光が透過原稿近傍
まで案内されて、透過原稿に照射される。また、光導波
手段では、この明視野光とともに、光電変換素子に対す
る暗視野光も透過原稿近傍まで案内し、透過原稿に照射
するようになっている。
According to the seventh aspect of the present invention, the switching means includes an optical waveguide means and a light shielding means. The light guide means guides the bright field light to the photoelectric conversion element to the vicinity of the transmissive document and irradiates the transmissive document. In addition, the optical waveguide means guides the dark field light to the photoelectric conversion element together with the bright field light to the vicinity of the transparent original and irradiates the transparent original.

【0023】遮光手段は、光導波手段と透過原稿との間
に設けられており、明視野光を遮光する遮光位置と退避
位置を選択的に取ることができるようになっている。す
なわち、遮光手段の位置によって、透過原稿に明視野光
を照射するか(所謂、明視野照明)、暗視野光のみを照
射するか(所謂、暗視野照明)を切り替えることができ
る。
The light-shielding means is provided between the optical waveguide means and the transmissive document, and can selectively take a light-shielding position for shielding the bright-field light and a retreat position. That is, it is possible to switch between irradiating the transparent original with bright-field light (so-called bright-field illumination) and irradiating only dark-field light (so-called dark-field illumination) depending on the position of the light-shielding means.

【0024】詳しくは、遮光手段を退避位置にセットす
ることで、明視野照明にすることができ、透過原稿を透
過した明視野光を光電変換素子で検出することにより、
透過原稿に記録された画像を読み取ることができる。ま
た、遮光手段を遮光位置にセットすることで、暗視野照
明にすることができ、判別手段では、このときの光電変
換素子による透過光の検出結果に基づいて、透過原稿上
の傷又は異物の位置を判別することができる。
More specifically, by setting the light-shielding means at the retracted position, bright-field illumination can be achieved, and by detecting the bright-field light transmitted through the transmissive original with a photoelectric conversion element,
An image recorded on a transparent original can be read. In addition, by setting the light shielding unit to the light shielding position, dark field illumination can be achieved. The discriminating unit detects scratches or foreign matter on the transmission original based on the detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element at this time. The position can be determined.

【0025】請求項8に記載の発明は、照射手段から透
過原稿に光を照射し、少なくともその透過画像を光電変
換素子により読み取る画像読取装置に用いられ、前記透
過原稿に付いている傷又は異物の位置を検出する傷又は
異物位置検出装置であって、前記光電変換素子に対して
暗視野光となるように、前記透過原稿に光を照射する予
備照射手段と、前記予備照射手段によって前記透過原稿
に光を照射しているときの、前記光電変換素子による透
過光の検出結果に基づいて、前記透過原稿上の傷又は異
物の位置を判別する判別手段と、を有することを特徴と
している。
The invention according to claim 8 is used in an image reading apparatus for irradiating light to a transparent original from an irradiating means and reading at least the transmitted image by a photoelectric conversion element, wherein a scratch or a foreign matter attached to the transparent original is provided. And a pre-irradiation means for irradiating the transparent original with light so that dark-field light is emitted to the photoelectric conversion element; and A determination unit configured to determine a position of a scratch or a foreign matter on the transparent document based on a detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element when the document is irradiated with light.

【0026】請求項8に記載の発明によれば、傷又は異
物位置検出装置は、透過原稿の画像を読み取るための光
を照射する照射手段とは別に予備照射手段を備えてい
る。
According to the eighth aspect of the present invention, the scratch or foreign matter position detecting device is provided with a preliminary irradiating means separately from the irradiating means for irradiating light for reading the image of the transparent original.

【0027】この予備照射手段は、光電変換素子に対し
て暗視野光となるように、透過原稿に光を照射する。す
なわち、予備照射手段により、透過原稿上の傷又は異物
の位置を検出するための暗視野光が透過原稿に照射され
る。
This preliminary irradiating means irradiates light to the transmission original so that the photoelectric conversion element becomes dark field light. That is, the preliminary irradiation unit irradiates the transparent original with dark field light for detecting the position of a scratch or a foreign substance on the transparent original.

【0028】光電変換素子では、前述の請求項3に記載
の発明と同様に、透過原稿に傷や異物が付いている場合
にのみ、傷や異物によって屈折または散乱された光(暗
視野光)を検出するので、光電変換素子による透過光の
検出結果に基づいて、透過原稿上の傷又は異物の位置を
判別することができる。また、前述の請求項6に記載の
発明と同様に、透過原稿の画像を読み取るために用いる
光電変換素子と、傷又は異物の検出を行うために用いる
光電変換素子とを共通化することができる。
In the photoelectric conversion element, similarly to the above-described third aspect, only when the transparent original has a scratch or foreign matter, the light refracted or scattered by the scratch or foreign matter (dark field light). Is detected, it is possible to determine the position of a scratch or a foreign matter on the transparent original based on the detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element. Further, similarly to the above-described invention, the photoelectric conversion element used for reading the image of the transparent original and the photoelectric conversion element used for detecting the scratch or the foreign matter can be shared. .

【0029】請求項9に記載の発明は、照射手段から光
を照射し、その透過画像を光電変換素子によって読み取
る画像読取装置に用いられ、前記透過原稿に付いている
傷又は異物の位置を検出する傷又は異物位置検出装置で
あって、前記光電変換素子が、前記照射手段から前記透
過画像に照射された光を明視野光として受光する第1の
光電変換素子と、前記照射手段から前記透過画像に照射
された光を暗視野光として受光する第2の光電変換素子
と、を備え、前記第2の光電変換素子による透過光の検
出結果に基づいて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置
を判別する判別手段を有する、ことを特徴としている。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided an image reading apparatus which irradiates light from an irradiating unit and reads a transmitted image thereof by a photoelectric conversion element, and detects a position of a scratch or a foreign substance on the transparent original. A first photoelectric conversion element, wherein the photoelectric conversion element receives light emitted from the irradiating means on the transmitted image as bright-field light; and A second photoelectric conversion element that receives light irradiated on the image as dark-field light, and based on a detection result of transmitted light by the second photoelectric conversion element, It is characterized by having determining means for determining the position.

【0030】請求項9に記載の発明によれば、光電変換
素子は、第1の光電変換素子と第2の光電変換素子とを
備えている。第1の光電変換素子では、照射手段により
透過原稿へ照射され、透過原稿を透過した光を明視野光
として受光する。したがって、第1の光電変換素子で
は、透過原稿に記録された画像を読み取ることができ
る。
According to the ninth aspect, the photoelectric conversion element includes the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element. The first photoelectric conversion element irradiates the transmissive original with the irradiating means and receives light transmitted through the transmissive original as bright-field light. Therefore, the first photoelectric conversion element can read an image recorded on a transparent original.

【0031】一方、第2の光電変換素子では、照射手段
により透過原稿へ照射され、透過原稿を透過した光を暗
視野光として受光する。すなわち、第2の光電変換素子
では、照射手段により透過原稿へ照射された光のうち、
透過原稿上の傷又は異物によって屈折されて透過した光
を受光する。
On the other hand, the second photoelectric conversion element irradiates the transmissive original by the irradiating means and receives light transmitted through the transmissive original as dark field light. That is, in the second photoelectric conversion element, of the light radiated to the transmissive document by the irradiating means,
The transmitted light is refracted by a flaw or foreign matter on the transmission original, and receives the transmitted light.

【0032】また、傷又は異物位置検出手段には、判別
手段が設けられている。判別手段では、第2の光電変換
素子による透過光の検出結果に基づいて、例えば、第2
の光電変換素子によって、所定光量以上の透過光を検出
した場合に、透過原稿上に傷又は異物が存在しているこ
とを認識する等によって、透過原稿上の傷又は異物の位
置を判別する。
The scratch or foreign matter position detecting means is provided with a discriminating means. The determining means may determine, for example, the second signal based on the detection result of the transmitted light by the second photoelectric conversion element.
When the transmitted light of a predetermined amount or more is detected by the photoelectric conversion element, the position of the scratch or foreign matter on the transparent original is determined by recognizing the presence of a scratch or foreign matter on the transparent original.

【0033】このとき、前述のように、透過原稿に記録
された画像を読み取るために用いる第1の光電変換素子
と、傷又は異物の位置を判別するために用いる第2の光
電変換素子とが別に設けられているので、透過原稿に記
録された画像の読み取りと同時に、透過原稿上の傷又は
異物の位置の判別を行うことができる。
At this time, as described above, the first photoelectric conversion element used for reading an image recorded on the transparent original and the second photoelectric conversion element used for determining the position of a scratch or foreign matter are provided. Since it is provided separately, the position of a scratch or a foreign substance on the transparent document can be determined at the same time as reading the image recorded on the transparent document.

【0034】請求項10に記載の発明は、請求項6乃至
請求項9の何れか1項に記載の発明において、前記光電
変換素子がライン状に配列され、透過原稿を前記ライン
状に配列された光電変換素子と直交する方向に移動させ
ながら画像を記録する、ことを特徴としている。
According to a tenth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the photoelectric conversion elements are arranged in a line, and the transparent original is arranged in the line. Recording an image while moving the photoelectric conversion element in a direction orthogonal to the photoelectric conversion element.

【0035】請求項10に記載の発明によれば、透過原
稿上の傷および異物を検出するために用いられる光電変
換素子がライン状に配列されている。光電変換素子で
は、このライン状に配列された光電変換素子と直交する
方向に透過原稿を一定速度で移動させながら、傷や異物
によって屈折されて透過原稿を透過した光を検知する。
したがって、傷又は異物位置検出装置では、光電変換素
子により検知された光量に基づいて、画像透過原稿上の
傷および異物位置を示す画像を取得することができる。
According to the tenth aspect of the present invention, the photoelectric conversion elements used for detecting scratches and foreign matter on the transparent original are arranged in a line. The photoelectric conversion element detects light transmitted through the transparent original by being refracted by a scratch or a foreign substance while moving the transparent original at a constant speed in a direction orthogonal to the photoelectric conversion elements arranged in a line.
Therefore, the scratch or foreign matter position detecting device can acquire an image indicating the position of the scratch or foreign matter on the image transmitting document based on the amount of light detected by the photoelectric conversion element.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)次に、図面
を参照して本発明に係る実施の形態の一例を詳細に説明
する。なお、本実施の形態は、写真フィルムに記録され
たフィルム画像を読み取る画像読取装置に本発明を適用
したものである。この画像読取装置10の概略構成が図
1及び図2に示されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) Next, an example of an embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In this embodiment, the present invention is applied to an image reading apparatus that reads a film image recorded on a photographic film. The schematic configuration of the image reading apparatus 10 is shown in FIGS.

【0037】スキャナ部12は、写真フィルムFに記録
されているフィルム画像を読み取るためのものであり、
例えば135サイズの写真フィルム、110サイズの写
真フィルム及び透明な磁気層が形成された写真フィルム
(240サイズの写真フィルム:所謂APSフィル
ム)、120サイズ及び220サイズ(ブローニサイ
ズ)の写真フィルムのフィルム画像を読取対象とする。
The scanner section 12 is for reading a film image recorded on the photographic film F,
For example, film images of 135 size photographic film, 110 size photographic film, photographic film having a transparent magnetic layer formed thereon (240 size photographic film: so-called APS film), 120 size and 220 size (Broni size) photographic film To be read.

【0038】スキャナ部12は、読取対象とするフィル
ム画像を読み取って画像データを画像処理部14へ出力
する。画像処理部14は、スキャナ部12から出力され
た画像データが入力すると、この画像データに対して各
種の補正等の画像処理を行って記録用画像データとした
後、例えばレーザプリンタ部(図示省略)へ出力する。
The scanner section 12 reads a film image to be read and outputs image data to the image processing section 14. When the image data output from the scanner unit 12 is input, the image processing unit 14 performs image processing such as various corrections on the image data to obtain image data for recording, and then, for example, a laser printer unit (not shown). ).

【0039】画像読取装置10には、図2に示されるよ
うにスキャナ部12の下方に作業テーブル11を挟んで
光源部24が配置されている。また画像読取装置10に
は、光軸L1に沿ってスキャナ部12と光源部24との
間にミラーボックス26及びフィルムキャリア28が配
置されており、これらのミラーボックス26及びフィル
ムキャリア28は作業テーブル11へ着脱可能に装着さ
れている。
As shown in FIG. 2, in the image reading apparatus 10, a light source section 24 is disposed below the scanner section 12 with the work table 11 interposed therebetween. In the image reading apparatus 10, a mirror box 26 and a film carrier 28 are arranged between the scanner section 12 and the light source section 24 along the optical axis L1. 11 is detachably mounted.

【0040】光源部24は、ハロゲンランプやメタルハ
ライドランプ等からなるランプ30及びリフレクタ32
を備え、金属製のケーシング34内に収納されている。
リフレクタ32は、凹状曲面からなる光反射面を有して
おり、光反射面によりランプ30を囲んでいる。ランプ
30から射出された光の一部は直接光として光軸L1に
沿った方向へ出射され、また他の一部はリフレクタ32
によって反射されて反射光として光軸L1に沿った方向
へ出射される。
The light source unit 24 includes a lamp 30 such as a halogen lamp or a metal halide lamp, and a reflector 32.
And housed in a metal casing 34.
The reflector 32 has a light reflecting surface formed of a concave curved surface, and surrounds the lamp 30 by the light reflecting surface. Part of the light emitted from the lamp 30 is emitted as direct light in a direction along the optical axis L1, and another part is reflected by the reflector 32.
And emitted as reflected light in a direction along the optical axis L1.

【0041】ターレット40は、図3に示されるように
円板状に形成されており、光軸L1と平行な回転軸(図
示省略)により支持されている。ターレット40には、
写真フィルムFへ照射される光の色成分をフィルムの種
類(ネガフィルム/リバーサルフィルム)に応じて調整
するネガフィルム用バランスフィルタ42及びリバーサ
ルフィルム用バランスフィルタ44が嵌め込まれてい
る。ターレット40はバランスフィルタ42,44の何
れか一方(図3,4ではバランスフィルタ42)が光軸
L1上へ支持されるように回転方向への位置が調整され
る。
The turret 40 is formed in a disk shape as shown in FIG. 3, and is supported by a rotation axis (not shown) parallel to the optical axis L1. The turret 40
A negative film balance filter 42 and a reversal film balance filter 44 for adjusting the color component of the light applied to the photographic film F according to the type of the film (negative film / reversal film) are fitted. The position of the turret 40 in the rotation direction is adjusted so that one of the balance filters 42 and 44 (the balance filter 42 in FIGS. 3 and 4) is supported on the optical axis L1.

【0042】ミラーボックス26は、図4に示されるよ
うに軸方向両端部、すなわち下端部及び上端部がそれぞ
れ光拡散板26A,26Bにより閉止された筒状に形成
されており、図3に示されるように下端部から上端部へ
向かって写真フィルムFの搬送方向に沿った副走査方向
(矢印S方向)の幅が狭くなり、この副走査方向に直交
する主走査方向(矢印M方向)の幅が広くなるような形
状とされている。またミラーボックス26の内周面は、
光反射率が高い光反射面26Cとされている。
As shown in FIG. 4, the mirror box 26 is formed in a cylindrical shape whose both ends in the axial direction, that is, the lower end and the upper end are closed by light diffusion plates 26A and 26B, respectively. As shown in the figure, the width in the sub-scanning direction (arrow S direction) along the transport direction of the photographic film F decreases from the lower end to the upper end, and the width in the main scanning direction (arrow M direction) orthogonal to the sub-scanning direction is reduced. The shape is such that the width becomes wider. The inner peripheral surface of the mirror box 26
The light reflection surface 26C has a high light reflectance.

【0043】ここで、ミラーボックス26には、ミラー
ボックス26の内周面へ光反射率が高い材料をコーティ
ングし、又はミラーボックス26の内周面を光反射率が
高い材料により形成することにより、光反射面26Cが
形成されている。また光拡散板26A,26Bは、例え
ば乳白色板、オパールガラス、LSD(ライトシェービ
ングディフューザ)等により構成されており、それぞれ
光軸L1に直交すると共に光軸L1が光学的中心を通過
するように、すなわち光学的中心軸が光軸L1と一致す
るように配置されている。
Here, the mirror box 26 is formed by coating the inner peripheral surface of the mirror box 26 with a material having a high light reflectivity, or by forming the inner peripheral surface of the mirror box 26 with a material having a high light reflectivity. , A light reflection surface 26C. The light diffusion plates 26A and 26B are made of, for example, a milky white plate, an opal glass, an LSD (light shaving diffuser), or the like. Each of the light diffusion plates 26A and 26B is orthogonal to the optical axis L1 and passes through the optical center. That is, they are arranged so that the optical center axis coincides with the optical axis L1.

【0044】ミラーボックス26は、バランスフィルタ
42を通して光源部24から光拡散板26Aへ入射した
光を光拡散板26Bから写真フィルムFの幅方向(主走
査方向)を長手方向とするスリット状の光(照明光)と
して読取位置Rへ支持された写真フィルムFへ照射す
る。このとき、ミラーボックス26から出射される照明
光は、光拡散板26A,26Bにより拡散されることに
より、不規則な方向へ拡がる拡散光とされると共に、写
真フィルムFへの単位面積当たりの入射光量が均一化さ
れる。この照明光は、光拡散板26Bが光軸L1を光学
的中心軸とすることから、光軸L1を対称軸とする光線
束となる。
The mirror box 26 converts the light incident on the light diffusing plate 26A from the light source 24 through the balance filter 42 from the light diffusing plate 26B into a slit-like light whose longitudinal direction is the width direction (main scanning direction) of the photographic film F. The photographic film F supported on the reading position R is irradiated as (illumination light). At this time, the illumination light emitted from the mirror box 26 is diffused by the light diffusing plates 26A and 26B to be diffused light that spreads in an irregular direction, and is incident on the photographic film F per unit area. The amount of light is made uniform. The illumination light becomes a light beam having the optical axis L1 as a symmetric axis since the light diffusion plate 26B has the optical axis L1 as the optical central axis.

【0045】フィルムキャリア28には、上面及び下面
における光軸L1に対応する位置に主走査方向へ長いス
リット状の開口(図示省略)が設けられている。従っ
て、ミラーボックス26から出射された光は、フィルム
キャリア28の下面に設けられた開口を通して写真フィ
ルムFへ照射され、この写真フィルムFを透過した光
は、フィルムキャリア28の上面に設けられた開口を通
してスリット状に成形されてスキャナ部12へ達する。
The film carrier 28 is provided with a slit-like opening (not shown) that is long in the main scanning direction at positions corresponding to the optical axis L1 on the upper surface and the lower surface. Accordingly, the light emitted from the mirror box 26 is applied to the photographic film F through an opening provided on the lower surface of the film carrier 28, and the light transmitted through the photographic film F is transmitted to the opening provided on the upper surface of the film carrier 28. And is formed into a slit shape to reach the scanner unit 12.

【0046】なお、フィルムキャリア28内には、読取
位置Rに対して上流側及び下流側の位置へそれぞれ写真
フィルムFを挟持して搬送するローラ対(図示省略)が
設けられており、これらのローラ対により写真フィルム
Fは、所定の速度でフィルムキャリア28内を搬送され
る。またフィルムキャリア28内の写真フィルムFは、
図3に示されるようにガイド板等(図示省略)により上
方へ向かって凸状に湾曲した状態とされ、その頂部が読
取位置Rと一致するように支持される。
In the film carrier 28, there are provided a pair of rollers (not shown) for nipping and transporting the photographic film F to positions upstream and downstream with respect to the reading position R, respectively. The photographic film F is transported in the film carrier 28 at a predetermined speed by the roller pair. The photographic film F in the film carrier 28 is
As shown in FIG. 3, the guide plate or the like (not shown) curves upward in a convex shape, and the top is supported so as to coincide with the reading position R.

【0047】光拡散板26Bの上方には、図5に示すよ
うに、遮光板70が設けられている。遮光板70は、不
透明な合成樹脂製で、光を完全に遮断することができる
ようになっている。遮光板70は、主走査方向を長手方
向とし、光拡散板26Bの主走査方向の長さ寸法よりも
長く形成されている。遮光板70の副走査方向(短辺)
の長さ寸法は、光拡散板26Bの副走査方向の長さ寸法
よりも若干短く形成されている。
As shown in FIG. 5, a light shielding plate 70 is provided above the light diffusing plate 26B. The light shielding plate 70 is made of an opaque synthetic resin, and can completely block light. The light-shielding plate 70 has a longitudinal direction in the main scanning direction, and is formed longer than the length of the light diffusion plate 26B in the main scanning direction. Sub-scanning direction (short side) of light shielding plate 70
Is slightly shorter than the length of the light diffusion plate 26B in the sub-scanning direction.

【0048】遮光板70の主走査方向両端部には一対の
ガイドシャフト72が配置されている。遮光板70は、
このガイドシャフト72に案内されて、遮光板70の主
走査方向の中心線を光拡散板26Bの主走査方向の中心
線と一致させながら、副走査方向に移動できるようにな
っている。
A pair of guide shafts 72 are arranged at both ends of the light shielding plate 70 in the main scanning direction. The light shielding plate 70
Guided by the guide shaft 72, the light-shielding plate 70 can be moved in the sub-scanning direction while the center line of the light-diffusing plate 26B in the main scanning direction coincides with the center line of the light diffusion plate 26B.

【0049】この遮光板70は、画像読取時(後述する
プリスキャンやファインスキャン時)は、図5(A)に
示すように写真フィルムFの搬送方向下流側に配置され
ている。すなわち、光拡散板26Bから射出される光が
全て写真フィルムFに照射されるようになっている。
The light shielding plate 70 is arranged at the downstream side in the transport direction of the photographic film F as shown in FIG. 5A when reading images (during prescanning or fine scanning described later). That is, all the light emitted from the light diffusion plate 26B is applied to the photographic film F.

【0050】また、写真フィルムFに付いた傷や異物の
検出時(後述するイレギュラーサーチスキャン時)は、
副走査方向に移動し(図5(A)の矢印S参照)、図5
(B)に示すように光拡散板26B上に副走査方向の中
心線を互いに一致させて配置される。これにより、光拡
散板26Bの中央部から射出する光が遮光板70により
遮られる。このとき、前述のように遮光板70の副走査
方向(短辺)の長さ寸法が、光拡散板26Bの副走査方
向の長さよりも短くなっているため、光拡散板26Bの
副走査方向の両端部26B1、26B2からは、遮光板
70によって遮られずに光が射出されるようになってい
る。
When a scratch or a foreign matter on the photographic film F is detected (at the time of an irregular search scan described later),
It moves in the sub-scanning direction (see the arrow S in FIG. 5A).
As shown in (B), they are arranged on the light diffusion plate 26B so that the center lines in the sub-scanning direction coincide with each other. Accordingly, light emitted from the central portion of the light diffusion plate 26B is blocked by the light shielding plate 70. At this time, since the length dimension of the light-shielding plate 70 in the sub-scanning direction (short side) is shorter than the length of the light diffusing plate 26B in the sub-scanning direction, as described above, Light is emitted from both end portions 26B1 and 26B2 without being blocked by the light shielding plate 70.

【0051】スキャナ部12は、図2に示されるように
ケーシング48を備えている。ケーシング48内には、
上面にラインCCD50が取付けられた載置台52が設
けられており、この載置台52のの下面からは互いに平
行とされた複数本の支持レール54が下方へ延出してい
る。支持レール54には、結像光学系であるレンズユニ
ット56が配置されており、レンズユニット56は支持
レール54により軸方向へ移動可能に支持されている。
従って、レンズユニット56を軸方向へ移動させること
より、ラインCCD50上に結像するフィルム画像の変
倍が可能となる。
The scanner section 12 has a casing 48 as shown in FIG. In the casing 48,
A mounting table 52 on which a line CCD 50 is mounted is provided on the upper surface, and a plurality of parallel support rails 54 extend downward from the lower surface of the mounting table 52. A lens unit 56 as an imaging optical system is disposed on the support rail 54, and the lens unit 56 is supported by the support rail 54 so as to be movable in the axial direction.
Therefore, by moving the lens unit 56 in the axial direction, the magnification of the film image formed on the line CCD 50 can be changed.

【0052】作業テーブル11の作業面11Aには、図
2に示されるように支持フレーム58が立設されてい
る。支持フレーム58は載置台52の端部と係合してお
り、載置台52を軸方向へ移動可能に支持している。こ
れにより、変倍時及びオートフォーカス時における共役
長の確保が可能となる。またレンズユニット56は複数
枚のレンズから成り、レンズ間にはレンズ絞り59が設
けられている。このレンズ絞り59は光軸L1を中心と
する開口部の面積を変化させて、ラインCCD50への
入射光量を調整する。
On the work surface 11A of the work table 11, a support frame 58 is provided upright as shown in FIG. The support frame 58 is engaged with an end of the mounting table 52, and supports the mounting table 52 so as to be movable in the axial direction. This makes it possible to secure a conjugate length during zooming and during autofocus. The lens unit 56 includes a plurality of lenses, and a lens diaphragm 59 is provided between the lenses. The lens diaphragm 59 changes the area of an opening centered on the optical axis L1 to adjust the amount of light incident on the line CCD 50.

【0053】ラインCCD50には3ラインのセンシン
グ部が設けられている。光受光部として構成された各セ
ンシング部は、それぞれ主走査方向に沿って一列に多数
配列されたCCDセル及びフォトダイオード等からなる
多数の光電変換素子及びシャッタ機構を備えており、各
センシング部の光入射側にはR、G、Bの色分解フィル
タの何れかが取付けられている(所謂、3ラインカラー
CCD)。また各センシング部付近には、多数のCCD
セルからなる転送部が各センシング部に対応して各々設
けられている。
The line CCD 50 is provided with a three-line sensing unit. Each sensing unit configured as a light receiving unit includes a large number of photoelectric conversion elements and a shutter mechanism including a large number of CCD cells and photodiodes arranged in a line in the main scanning direction. One of R, G, and B color separation filters is attached to the light incident side (a so-called three-line color CCD). Also, there are many CCDs near each sensing part.
A transfer unit including a cell is provided for each sensing unit.

【0054】ラインCCD50は、写真フィルムFの搬
送速度に対応する周期毎にCCDセルに蓄積された電荷
を主走査線に沿った写真フィルムFの画像濃度に対応す
るライン信号として画像処理換器(図示省略)へ転送す
る。画像処理部14は、ラインCCD50からのライン
信号をデジタル変換し、このデジタル信号をメモリへ蓄
積して画像信号を生成する。
The line CCD 50 converts the electric charge stored in the CCD cell into a line signal corresponding to the image density of the photographic film F along the main scanning line at every cycle corresponding to the transport speed of the photographic film F. (Not shown). The image processing unit 14 converts a line signal from the line CCD 50 into a digital signal, and stores the digital signal in a memory to generate an image signal.

【0055】ラインCCD50の光入射側には、図2に
示されるようにCCDシャッタ60が設けられている。
このCCDシャッタ60にはNDフィルタ(図示省略)
が嵌め込まれている。CCDシャッタ60は回転可能に
支持されており、NDフィルタが嵌め込まれていない遮
光部を光軸L1上へ支持してラインCCD50への入射
光を遮蔽する全閉状態、光軸L1上から退避してライン
CCD50への入射光を遮らない全開状態、NDフィル
タを光軸L1上へ支持してリニアリティ補正のためにラ
インCCD50への入射光をNDフィルタにより減光す
る減光状態の何れかの状態に切り替わる。
On the light incident side of the line CCD 50, a CCD shutter 60 is provided as shown in FIG.
The CCD shutter 60 has an ND filter (not shown).
Is fitted. The CCD shutter 60 is rotatably supported. The CCD shutter 60 supports a light-shielding portion, in which the ND filter is not fitted, on the optical axis L1 to block light incident on the line CCD 50, and is retracted from the optical axis L1. One of the fully opened state in which the incident light to the line CCD 50 is not blocked, and the ND filter supported on the optical axis L1 to reduce the incident light to the line CCD 50 by the ND filter for linearity correction. Switch to

【0056】上記のように構成された画像読取装置10
では、スキャナ部12により写真フィルムFを予備的に
読み取るプリスキャンを行った後、再生用画像データを
得るためのファインスキャンを行う。また、ファインス
キャン終了後は、写真フィルムF上の傷や異物の位置を
検出するためのイレギュラーサーチスキャンが行われ
る。
The image reading apparatus 10 configured as described above
Then, after performing a pre-scan for preliminarily reading the photographic film F by the scanner unit 12, a fine scan for obtaining image data for reproduction is performed. After the end of the fine scan, an irregular search scan for detecting the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F is performed.

【0057】プリスキャンは、光源絞り38、レンズ絞
り59、CCDシャッタ60等により設定される読取条
件が固定され、写真フィルムFの搬送速度を高速として
行われる。また、遮光板70は図6に示されるように、
光拡散板26Bよりも写真フィルムFの搬送方向外側に
配置される。これにより、光拡散板26Bから射出され
た照明光がレンズ絞り59に入射する、所謂、明視野照
明でスキャニングが行われる。
The pre-scanning is performed with the reading conditions set by the light source aperture 38, the lens aperture 59, the CCD shutter 60, etc. fixed, and the transport speed of the photographic film F being high. In addition, as shown in FIG.
It is arranged outside the light diffusion plate 26B in the transport direction of the photographic film F. Thus, scanning is performed by so-called bright-field illumination in which illumination light emitted from the light diffusion plate 26B enters the lens stop 59.

【0058】画像読取装置10は、プリスキャンにより
得られた画像データに基づいて写真フィルムFのフィル
ム画像の画像濃度、色バランス等をそれぞれ判定し、こ
の判定結果に基づいてフィルム画像に対するファインス
キャン時の読取条件を設定する。
The image reading device 10 determines the image density, color balance, etc. of the film image of the photographic film F based on the image data obtained by the pre-scan, and based on the determination result, performs a fine scan for the film image. Is set.

【0059】ファインスキャンは、写真フィルムFをプ
リスキャンとは反対方向に搬送し、且つプリスキャン時
より写真フィルムFの搬送速度を低下させながら行う。
なお、このとき、プリスキャン時の配置位置から遮光板
70を移動させずに、プリスキャンと同様に明視野照明
下でファインスキャンが行われる。このファインスキャ
ンで得られる写真フィルムFの画像濃度に対応するライ
ン信号から、画像処理部では再生用の画像信号を生成す
る。
The fine scan is carried out by transporting the photographic film F in the direction opposite to the prescan, and at a lower speed than the prescan.
At this time, fine scan is performed under bright-field illumination similarly to prescan without moving the light shielding plate 70 from the arrangement position at the time of prescan. The image processing unit generates an image signal for reproduction from a line signal corresponding to the image density of the photographic film F obtained by the fine scan.

【0060】イレギュラーサーチスキャンは、遮光板7
0を光拡散板26B上に移動させて(図6の矢印A参
照)行われる。これにより、光拡散板26Bから射出さ
れレンズ絞り59に直接入射する照明光が遮光板70に
より遮断され、光拡散板26Bの両端部26B1、26
B2からのみ照明光が射出される。したがって、写真フ
ィルムFの読取位置Rには、光軸L1に対して副走査方
向に傾いた(すなわち、斜め方向からの)照明光のみが
照射されるので、レンズ絞り59には直接照明光が入射
しない(所謂、暗視野照明)ようになる。
In the irregular search scan, the light shielding plate 7 is used.
0 is moved onto the light diffusion plate 26B (see the arrow A in FIG. 6). Thus, the illumination light emitted from the light diffusion plate 26B and directly incident on the lens diaphragm 59 is blocked by the light shielding plate 70, and both ends 26B1, 26 of the light diffusion plate 26B.
Illumination light is emitted only from B2. Therefore, only the illumination light inclined in the sub-scanning direction with respect to the optical axis L1 (that is, from the oblique direction) is irradiated to the reading position R of the photographic film F. It does not enter (so-called dark field illumination).

【0061】この暗視野照明下でのスキャニングを実施
し、ラインCCD50により得られたライン信号は、フ
ァインスキャン時と同様に画像処理変換器へ転送され
る。画像処理部14は、このラインCCD50からのラ
イン信号をデジタル変換し画像データを生成する。
The scanning under the dark field illumination is performed, and the line signal obtained by the line CCD 50 is transferred to the image processing converter in the same manner as in the fine scan. The image processor 14 converts the line signal from the line CCD 50 into a digital signal to generate image data.

【0062】ここで、イレギュラーサーチスキャンによ
り得られる画像データについて説明する。図7には、イ
レギュラーサーチスキャン時の照明光が辿る経路の概念
図が示されている。なお、図7では、光拡散板26Bの
一端部26B1から射出される照明光の経路を一点鎖線
の矢印Iで示し、他端部26B2から射出される照明光
の経路は省略している。
Here, the image data obtained by the irregular search scan will be described. FIG. 7 is a conceptual diagram of a path followed by illumination light during an irregular search scan. In FIG. 7, the path of the illumination light emitted from one end 26B1 of the light diffusion plate 26B is indicated by a dashed-dotted arrow I, and the path of the illumination light emitted from the other end 26B2 is omitted.

【0063】イレギュラーサーチスキャンでは、通常
(写真フィルムFに傷や異物が付いていないとき)は、
図7(A)に示されるように、光拡散板26Bの端部か
ら射出した光は、進行方向を変えずに読取位置Rに支持
された写真フィルムFを透過する。したがって、レンズ
絞り59に照明光が入射されない。
In the irregular search scan, usually (when the photographic film F has no scratches or foreign matter),
As shown in FIG. 7A, the light emitted from the end of the light diffusion plate 26B passes through the photographic film F supported at the reading position R without changing the traveling direction. Therefore, no illumination light is incident on the lens stop 59.

【0064】読取位置Rに支持された写真フィルムFに
傷Eがある場合は、図7(B)に示されるように、光拡
散板26Bの一端部26B1から射出された照明光は、
傷Eにより屈折されて、レンズ絞り59に入射する。レ
ンズ絞り59に入射した照明光は、ラインCCD50に
検知される。
When the photographic film F supported at the reading position R has a flaw E, as shown in FIG. 7B, the illumination light emitted from one end 26B1 of the light diffusing plate 26B is
The light is refracted by the flaw E and enters the lens stop 59. The illumination light incident on the lens diaphragm 59 is detected by the line CCD 50.

【0065】また、読取位置Rに支持された写真フィル
ムFに異物Dが付着している場合は、図7(C)に示さ
れるように、光拡散板26Bの一端部26B1から射出
された照明光は、異物Dにより散乱される。このうち、
レンズ絞り59の方向に散乱された照明光がラインCC
D50に検知される。
When the foreign matter D adheres to the photographic film F supported at the reading position R, as shown in FIG. 7C, the illumination emitted from one end 26B1 of the light diffusion plate 26B. Light is scattered by the foreign matter D. this house,
Illumination light scattered in the direction of the lens stop 59 is the line CC
D50 is detected.

【0066】すなわち、イレギュラーサーチスキャンで
は、ラインCCD50は、写真フィルムFの傷や異物が
付いている部分からのみ照明光を検知するので、傷や異
物の位置が明るく映り(画素値が大きい)、その他の部
分は暗く映った(画素値が小さい)画像データが得られ
る。
That is, in the irregular search scan, the line CCD 50 detects the illuminating light only from the portion of the photographic film F where the scratch or foreign matter is attached, so that the position of the scratch or foreign material is brightly reflected (the pixel value is large). , And other parts are obtained as dark image data (small pixel values).

【0067】画像処理部14では、この画像データか
ら、写真フィルムFについた傷や異物の位置を示す画像
データを生成する。また、画像処理部14では、この傷
や異物の位置を示す画像データとファインスキャンで得
られた画像データとを照らし合わせ、所定のアルゴリズ
ムに従って、傷や異物による影響が目立たないように、
ファインスキャンで得られた画像データを補正する。
The image processing unit 14 generates image data indicating the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F from the image data. Further, the image processing unit 14 compares the image data indicating the position of the flaw or foreign matter with the image data obtained by the fine scan, and according to a predetermined algorithm, the influence of the flaw or foreign matter is not noticeable.
The image data obtained by the fine scan is corrected.

【0068】なお、この画像処理部14で行われる処理
は、ここでは特に限定しない。例えば、画素値が所定値
以上の画素(すなわち傷Eや異物Dが付いている部分に
対応する画素)の画素値を1に置き換え、所定値以下の
画素(すなわち傷Eや異物Dが付いていない部分に対応
する画素)の画素値を0に置き換えて、傷や異物の位置
を示す2値画像データを生成する。この得られた2値画
像データのうち画素値が1である画素(すなわち、傷や
異物の位置の画素)に対応するファインスキャンで得ら
れた画像データの画素の値を、該画素の周辺画素の値か
ら内挿により求めて置き換えることにより、傷や異物に
よる影響を目立たなくするような方法でもよいし、その
他の方法でもよい。
The processing performed by the image processing section 14 is not particularly limited here. For example, the pixel value of a pixel having a pixel value equal to or greater than a predetermined value (that is, a pixel corresponding to a portion having a scratch E or foreign matter D) is replaced with 1, and a pixel having a pixel value equal to or less than a predetermined value (that is, having a scratch E or foreign matter D is attached). The pixel value of the pixel corresponding to the non-existent portion) is replaced with 0 to generate binary image data indicating the position of a flaw or foreign matter. In the obtained binary image data, the value of the pixel of the image data obtained by the fine scan corresponding to the pixel having the pixel value of 1 (that is, the pixel at the position of the scratch or the foreign matter) is defined as the peripheral pixel of the pixel. The method may be a method that makes the influence of a scratch or a foreign substance inconspicuous by replacing the value obtained by interpolation from the value of, or another method.

【0069】次に、上記のように構成された本実施形態
の画像読取装置10の作用を説明する。
Next, the operation of the image reading apparatus 10 according to the present embodiment configured as described above will be described.

【0070】写真フィルムFがセットされると、画像読
取装置10では、光源絞り38、レンズ絞り59、CC
Dシャッタ60等の読取条件がプリスキャン時用の所定
値に設定される。読取条件の設定が終了すると、写真フ
ィルムFが高速で搬送され、プリスキャンが開始され
る。
When the photographic film F is set, in the image reading apparatus 10, the light source aperture 38, the lens aperture 59, the CC
The reading conditions of the D shutter 60 and the like are set to predetermined values for pre-scanning. When the setting of the reading conditions is completed, the photographic film F is transported at a high speed, and the prescan is started.

【0071】ミラーボックス26の光拡散板26Bから
出射された照明光が、読取位置Rへ支持された写真フィ
ルムFへ照射される。このとき、ミラーボックス26か
ら出射される照明光は光軸L1を対称軸とする光線束と
なる。これにより、画像濃度に対応する光量の光が、読
取位置Rに支持された写真フィルムFの画像記録領域を
透過し、フィルム画像を担持した照明光も光軸L1を対
称軸とする光線束となってレンズユニット56のレンズ
絞り59へ入射し、ラインCCD50に検知される。ラ
インCCD50により得られた画像濃度に基づくライン
信号は、画像処理部14に転送され、画像データ(低解
像度)が生成される。
The illuminating light emitted from the light diffusion plate 26 B of the mirror box 26 is applied to the photographic film F supported at the reading position R. At this time, the illumination light emitted from the mirror box 26 becomes a light beam with the optical axis L1 as the axis of symmetry. As a result, light having an amount of light corresponding to the image density passes through the image recording area of the photographic film F supported at the reading position R, and the illumination light carrying the film image also forms a light beam having the optical axis L1 as a symmetric axis. As a result, the light enters the lens diaphragm 59 of the lens unit 56 and is detected by the line CCD 50. The line signal based on the image density obtained by the line CCD 50 is transferred to the image processing unit 14 to generate image data (low resolution).

【0072】画像処理部14では、プリスキャンにより
得られた画像データ(低解像度)に基づいて写真フィル
ムFのフィルム画像の画像濃度、色バランス等をそれぞ
れ判定する。また、この判定結果に基づいてフィルム画
像に対するファインスキャン時用の読取条件が求められ
る。
The image processing section 14 determines the image density, color balance, etc. of the film image of the photographic film F based on the image data (low resolution) obtained by the prescan. Further, a reading condition for a fine scan for a film image is obtained based on the determination result.

【0073】写真フィルムFの全てのフィルム画像のプ
リスキャンが終了すると、読取条件が、プリスキャンで
求められたファインスキャン時用の値に設定される。読
取条件の設定が終了すると、写真フィルムFがプリスキ
ャンの搬送方向とは反対方向に、且つ低速で搬送され
て、ファインスキャンが開始される。写真フィルムFに
は、プリスキャンと同様に照明光が照射され、画像濃度
に対応する光量の光がラインCCD50により検知され
る。
When the prescan of all the film images of the photographic film F is completed, the reading conditions are set to the values for the fine scan obtained by the prescan. When the setting of the reading conditions is completed, the photographic film F is transported at a low speed in a direction opposite to the transport direction of the prescan, and fine scan is started. The photographic film F is irradiated with illumination light in the same manner as in the pre-scan, and light having a light amount corresponding to the image density is detected by the line CCD 50.

【0074】ラインCCD50により得られた画像濃度
に基づくライン信号は、画像処理部14に転送され、画
像データ(高解像度)が生成される。生成された画像デ
ータはメモリに格納される。
The line signal based on the image density obtained by the line CCD 50 is transferred to the image processing section 14 to generate image data (high resolution). The generated image data is stored in the memory.

【0075】写真フィルムFの全てのフィルム画像のフ
ァインスキャンが終了すると、遮光板70が光拡散板2
6B上に移動される。これにより、光拡散板26Bから
射出されレンズ絞り59に入射する照明光が遮断され、
光拡散板26Bの両端部から若干の光が漏れ出る暗視野
照明に切り替えられる。これにより、写真フィルムFに
は、斜め方向から(光軸L1に対して傾いて)照明光が
照射される。
When the fine scan of all the film images of the photographic film F is completed, the light shielding plate 70 is
6B. Thereby, the illumination light emitted from the light diffusion plate 26B and incident on the lens stop 59 is blocked,
Switching is performed to dark field illumination in which some light leaks from both ends of the light diffusion plate 26B. As a result, the photographic film F is irradiated with illumination light from an oblique direction (tilted with respect to the optical axis L1).

【0076】遮光板70が光拡散板26B上にセットさ
れ暗視野照明に切り替わると、写真フィルムFの搬送方
向が反転され(プリスキャン時と同じ搬送方向にな
る)、且つ低速で搬送されて、イレギュラーサーチスキ
ャンが開始される。
When the light shielding plate 70 is set on the light diffusion plate 26B and switched to dark field illumination, the transport direction of the photographic film F is reversed (the transport direction is the same as the pre-scan direction) and transported at a low speed. The irregular search scan starts.

【0077】イレギュラースキャンでは、読取位置Rに
支持された写真フィルムFに傷Eや異物Dが付いている
と、光拡散板26Bの両端部から射出された照明光が傷
Eや異物Dに屈折または散乱されてラインCCD50に
入射する。イレギュラーサーチスキャンが終了すると、
写真フィルムFの傷Eや異物Dが付いている部分だけが
明るく映った画像データが得られる。
In the irregular scan, if the photographic film F supported at the reading position R has a flaw E or foreign matter D, the illumination light emitted from both ends of the light diffusing plate 26B is applied to the flaw E or foreign matter D. The light enters the line CCD 50 after being refracted or scattered. When the irregular search scan is completed,
Image data in which only the portion of the photographic film F where the scratch E or the foreign matter D is attached is brightly obtained is obtained.

【0078】画像処理部14では、この画像データか
ら、写真フィルムFについた傷や異物の位置を示す画像
データを生成する。また、この傷や異物の位置を示す画
像データとファインスキャンで得られた画像データとを
照らし合わせ、所定のアルゴリズムに従って、傷や異物
による影響が目立たないように、ファインスキャンで得
られた画像データを補正する。
The image processing section 14 generates image data indicating the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F from the image data. The image data obtained by the fine scan is compared with the image data indicating the position of the scratch or the foreign matter and the image data obtained by the fine scan, and according to a predetermined algorithm, the influence of the scratch or the foreign matter is not conspicuous. Is corrected.

【0079】上記のように、第1の実施の形態では、遮
光板70を光拡散板26B上に移動させることにより明
視野照明から暗視野照明に切り替え、暗視野照明下でイ
レギュラーサーチスキャンを行うことにより写真フィル
ムFについた傷や異物の位置を検出することができる。
As described above, in the first embodiment, the light shielding plate 70 is moved over the light diffusing plate 26B to switch from bright field illumination to dark field illumination, and the irregular search scan is performed under dark field illumination. By doing so, the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F can be detected.

【0080】(第2の実施の形態)第1実施の形態で
は、明視野照明から暗視野照明に切り替えるために、遮
光板70を用いたが、本発明はこれに限定されるもので
はない。例えば、図8に示されるように、暗視野照明用
にサブミラーボックスと光源部とを新たに設けてもよ
い。なお、図8では、第1の実施の形態と同様の部材に
ついては、同一の符号を付与し、ここでは詳細な説明を
省略する。
(Second Embodiment) In the first embodiment, the light shielding plate 70 is used to switch from bright field illumination to dark field illumination. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 8, a sub-mirror box and a light source unit may be newly provided for dark field illumination. In FIG. 8, the same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0081】図8に示されるように、ミラーボックス2
6の副走査方向外側に一対のサブミラーボックス80が
配置されている。サブミラーボックス80は、ミラーボ
ックス26の副走査方向両端部にそれぞれ隣接するよう
に配置されている。これら一対のサブミラーボックス8
0は、ミラーボックス26と同様な構造を有しており、
下端部及び上端部がそれぞれ光拡散板80A,80Bに
より閉止された筒状に形成され、内周面が光反射面80
Cとされている。
As shown in FIG. 8, the mirror box 2
6, a pair of sub-mirror boxes 80 are arranged outside in the sub-scanning direction. The sub-mirror boxes 80 are arranged adjacent to both ends of the mirror box 26 in the sub-scanning direction. These pair of sub mirror boxes 8
0 has the same structure as the mirror box 26,
The lower end and the upper end are formed in a cylindrical shape closed by light diffusion plates 80A and 80B, respectively, and the inner peripheral surface is formed as a light reflecting surface 80.
C.

【0082】光拡散板80Aの下方には、光源部24と
同様の構成の光源部82が配置されている。サブミラー
ボックス80は、光源部82から光拡散板80Aへ入射
した光を光拡散板80Bから写真フィルムFの幅方向
(主走査方向)を長手方向とする矩形状の光(暗視野照
明用の照明光)として読取位置Rへ支持された写真フィ
ルムFへ照射する。
A light source section 82 having the same configuration as the light source section 24 is disposed below the light diffusion plate 80A. The sub-mirror box 80 converts the light incident on the light diffusion plate 80A from the light source unit 82 from the light diffusion plate 80B into a rectangular light having a longitudinal direction in the width direction (main scanning direction) of the photographic film F (illumination for dark field illumination). The photographic film F supported on the reading position R is irradiated as light).

【0083】また、サブミラーボックス80は、その光
軸L2が光軸L1に対して副走査方向に沿って傾くよう
に配置されており、通常は、サブミラーボックス80か
ら出射された光は、レンズ絞り59に入射しないように
なっている。
The sub-mirror box 80 is arranged so that its optical axis L2 is inclined with respect to the optical axis L1 in the sub-scanning direction. It does not enter the light source 59.

【0084】次に、第2の実施の形態の作用について説
明する。
Next, the operation of the second embodiment will be described.

【0085】写真フィルムFがセットされると、画像読
取装置10では、光源部24はON、光源部82はOF
Fされて、第1の実施の形態と同様にプリスキャンが行
われ、続いてファインスキャンが行われる。
When the photographic film F is set, in the image reading apparatus 10, the light source 24 is turned on, and the light source 82 is turned off.
F, a pre-scan is performed as in the first embodiment, and then a fine scan is performed.

【0086】このとき、写真フィルムFには、図9
(A)に示されるように、光拡散板80Bからは照明光
は射出せず、光拡散板26Bからのみ照明光が照射され
る。すなわち、プリスキャン及びファインスキャンは、
光拡散板26Bから射出された照明光がレンズ絞り59
に入射される明視野照明下で行われる。
At this time, the photographic film F is
As shown in (A), illumination light is not emitted from the light diffusion plate 80B, and illumination light is emitted only from the light diffusion plate 26B. That is, pre-scan and fine scan are
The illumination light emitted from the light diffusing plate 26B is
Is performed under bright field illumination incident on

【0087】ファインスキャンが終了すると、反対に、
光源部24がOFF、光源部82がONされて、第1の
実施の形態と同様にイレギュラーサーチスキャンが行わ
れる。
When the fine scan is completed, on the contrary,
The light source unit 24 is turned off and the light source unit 82 is turned on, and an irregular search scan is performed as in the first embodiment.

【0088】このとき、写真フィルムFには、図9
(B)に示されるように、光拡散板26Bからは照明光
が射出せず、光拡散板80Bからのみ照明光が照射され
る。
At this time, the photographic film F is
As shown in (B), illumination light is not emitted from the light diffusion plate 26B, and illumination light is emitted only from the light diffusion plate 80B.

【0089】光拡散板80Bから射出された照明光は、
通常(写真フィルムFに傷や異物が付いていないと
き)、光軸L1に対して傾いて写真フィルムFに照射さ
れてそのまま透過するので、レンズ絞り59には照明光
は入射しない(図9(B)参照)。
The illumination light emitted from the light diffusion plate 80B is
Normally (when there is no scratch or foreign matter on the photographic film F), the illuminating light is irradiated on the photographic film F while being inclined with respect to the optical axis L1 and transmitted as it is, so that no illumination light enters the lens diaphragm 59 (FIG. B)).

【0090】写真フィルムFに傷や異物が付いている
と、光拡散板80Bから射出された照明光は、傷Eで屈
折されたり、異物で散乱される。屈折あるいは散乱され
た照明光は、レンズ絞り59に入射し、ラインCCD5
0に検知される(図9(C)参照)。これにより第1の
実施の形態と同様に、写真フィルムFについた傷や異物
の位置を示す画像データが得られる。
If the photographic film F has a flaw or foreign matter, the illumination light emitted from the light diffusion plate 80B is refracted by the flaw E or scattered by the foreign matter. The refracted or scattered illumination light is incident on a lens stop 59, and the line CCD 5
0 (see FIG. 9C). As a result, similarly to the first embodiment, image data indicating the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F can be obtained.

【0091】上記のように、第2の実施の形態では、光
軸L1に対して副走査方向に傾いて写真フィルムFに照
明光を照射する暗視野照明用のサブミラーボックス80
及び光源部82を設け、暗視野照明下でイレギュラーサ
ーチスキャンを行うことにより写真フィルムFについた
傷や異物の位置を検出することができる。
As described above, in the second embodiment, the sub-mirror box 80 for dark field illumination that irradiates the photographic film F with illumination light while tilting in the sub-scanning direction with respect to the optical axis L1.
And a light source unit 82, and by performing an irregular search scan under dark-field illumination, the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F can be detected.

【0092】なお、第2の実施の形態では、プリスキャ
ン時及びファインスキャン時には光源部82をOFFし
てサブミラーボックス80から照明光が射出されないよ
うにしたが、これに限定されない。プリスキャン時及び
ファインスキャン時に、ミラーボックス26からの照明
光とともに、サブミラーボックス80から写真フィルム
Fに照明光を照射するようにしてもよい。この場合、写
真フィルムFには、光拡散板26A、Bの拡散率を変え
なくても、よりよく拡散された照明光が結果的に照射さ
れ、写真フィルムFに傷がある場合でも、レンズユニッ
ト56により結像されたフィルム画像における傷と対応
する部位の画像欠陥を目立たなくすることができる。す
なわち、ラインCCD50により読み取られた画像デー
タに基づいて再生された画像の画質低下を抑制すること
ができる。
In the second embodiment, the light source 82 is turned off during pre-scanning and fine scanning so that illumination light is not emitted from the sub-mirror box 80. However, the present invention is not limited to this. The illumination light from the mirror box 26 and the illumination light from the sub-mirror box 80 may be applied to the photographic film F together with the illumination light from the mirror box 26 during the pre-scan and the fine scan. In this case, the photographic film F is illuminated with the illumination light diffused better without changing the diffusivity of the light diffusing plates 26A and 26B. 56 makes it possible to make inconspicuous image defects at portions corresponding to scratches in the film image formed. That is, it is possible to suppress a decrease in image quality of an image reproduced based on the image data read by the line CCD 50.

【0093】また、第1及び第2の実施の形態で示した
暗視野照明を実現する機構(遮光板70やサブミラーボ
ックス80等)は一例として示したものであり、本発明
はこれに限定されるものではない。暗視野照明にて写真
フィルムFについた傷や異物の位置を検出する機構であ
れば、如何なる形態でもよい。
The mechanism (light shield plate 70, sub-mirror box 80, etc.) for realizing dark field illumination shown in the first and second embodiments is shown as an example, and the present invention is not limited to this. Not something. Any structure may be used as long as the mechanism detects the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F by dark field illumination.

【0094】例えば、図10に示されるように、写真フ
ィルムFについた傷や異物の位置を検出するためのレン
ズユニット100、ラインCCD102を新たに設けて
もよい。この場合、レンズユニット56およびラインC
CD50では、光拡散板26Bを射出して通常(傷や異
物が付いていない)の写真フィルムFを透過した光(一
点鎖線I)を受けて、フィルム画像を読み取る(図10
(A)参照)。
For example, as shown in FIG. 10, a lens unit 100 and a line CCD 102 for detecting the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F may be newly provided. In this case, the lens unit 56 and the line C
The CD 50 receives the light (dashed-dotted line I) emitted from the light diffusion plate 26B and transmitted through the normal (no scratch or foreign matter) photographic film F, and reads the film image (FIG. 10).
(A)).

【0095】また、レンズユニット100、ラインCC
D102は、写真フィルムFに付いた傷や異物により偏
向された光一点鎖線I)を受けて、写真フィルムFの傷
や異物の位置を検出する(図10(B)参照)。この場
合、写真フィルムFのフィルム画像の読取時に、同時に
写真フィルムFについた傷や異物の位置を検出すること
もできる。
The lens unit 100 and the line CC
D102 receives the light dashed line I) deflected by the scratch or foreign matter attached to the photographic film F, and detects the position of the scratch or foreign matter on the photographic film F (see FIG. 10B). In this case, at the time of reading the film image of the photographic film F, it is also possible to simultaneously detect the position of a scratch or foreign matter on the photographic film F.

【0096】また、傷や異物の位置を検出する機構(光
源、ミラーボックス、レンズユニット、ラインCCD
は、写真フィルムFのフィルム画像を読み取る機構と完
全に独立させて装置内に設けてもよい。
A mechanism for detecting the position of a scratch or foreign matter (light source, mirror box, lens unit, line CCD, etc.)
May be provided in the apparatus completely independently of the mechanism for reading the film image of the photographic film F.

【0097】また、ミラーボックス26又はサブミラー
ボックス80により暗視野照明の照明光を写真フィルム
F近傍まで案内したが、本発明はこれに限定されるもの
ではない。例えば、光ファイバーを利用して、写真フィ
ルムF近傍まで暗視野照明の照明光を案内するようにし
てもよい。
Although the illumination light of the dark field illumination is guided to the vicinity of the photographic film F by the mirror box 26 or the sub mirror box 80, the present invention is not limited to this. For example, the illumination light of dark field illumination may be guided to the vicinity of the photographic film F using an optical fiber.

【0098】また、写真フィルムFのフィルム画像を読
み取る画像読取装置において、写真フィルムFに付いた
傷又は異物の位置を検出する場合を例に説明したが、当
然ながら、本発明はこれに限定されるものではない。光
が透過可能であれば、写真フィルム以外の如何なる透過
原稿に対しても、該透過原稿に付いている傷又は異物の
位置検出するために適用することができる。
Further, in the image reading apparatus for reading the film image of the photographic film F, the case where the position of a scratch or a foreign matter on the photographic film F is detected has been described as an example, but the present invention is naturally not limited to this. Not something. As long as light can be transmitted, the present invention can be applied to any transparent original other than photographic film in order to detect the position of a scratch or foreign matter on the transparent original.

【0099】[0099]

【発明の効果】上記に示したように、本発明は、透過原
稿上の傷又は異物の位置を検出することができるという
優れた効果を有する。
As described above, the present invention has an excellent effect that the position of a scratch or foreign matter on a transparent original can be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態に関わる画像読取装置全体の外観
を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an external appearance of an entire image reading apparatus according to the present embodiment.

【図2】本実施の形態に関わる画像読取装置全体の内部
構成を示す概略構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram illustrating an internal configuration of the entire image reading apparatus according to the embodiment;

【図3】本実施の形態に関わる画像読取装置の光学系の
概略構成図である。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an optical system of the image reading apparatus according to the embodiment.

【図4】第1の実施の形態に関わる画像読取装置の光学
系構成部品と写真フィルムを示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an optical system component and a photographic film of the image reading apparatus according to the first embodiment.

【図5】第1の実施の形態における明視野照明から暗視
野照明への切換えを示す概念図であり、(A)は明視野
照明時の遮光板の位置を示し、(B)は暗視野照明時の
遮光板の位置を示している。
FIGS. 5A and 5B are conceptual diagrams showing switching from bright-field illumination to dark-field illumination in the first embodiment, where FIG. 5A shows the position of a light-shielding plate during bright-field illumination, and FIG. The position of the light shielding plate at the time of illumination is shown.

【図6】第1の実施の形態における画像読取時(プリス
キャンおよびファインスキャン時)の明視野照明下での
照明光の光路を示す概念図である。
FIG. 6 is a conceptual diagram showing an optical path of illumination light under bright field illumination during image reading (pre-scan and fine scan) according to the first embodiment.

【図7】第1の実施の形態における傷および異物の検出
時(イレギュラーサーチスキャン時)の暗視野照明下で
の照明光の光路を示す概念図であり、(A)は通常の照
明光の光路を示しており、(B)は写真フィルムに傷が
ある場合、(C)は写真フィルムに異物が付着している
場合の照明光の光路を示している。
FIG. 7 is a conceptual diagram showing an optical path of illumination light under dark-field illumination when a flaw and a foreign substance are detected (at the time of an irregular search scan) according to the first embodiment. (B) shows the optical path of the illumination light when there is a flaw in the photographic film, and (C) shows the optical path of the illumination light when a foreign substance is attached to the photographic film.

【図8】第2の実施の形態に関わる画像読取装置の光学
系構成部品と写真フィルムを示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating optical system components and a photographic film of an image reading apparatus according to a second embodiment.

【図9】第2の実施の形態における照明光の光路を示す
概念図であり、(A)は明視野照明下(画像読取時)に
おける照明光の光路を示しており、(B)は暗視野照明
下(傷および異物の検出時)における写真フィルムに傷
および異物がない場合の照明光の光路を、(C)は写真
フィルムに傷がある場合の照明光の光路を示している。
FIGS. 9A and 9B are conceptual diagrams illustrating an optical path of illumination light according to the second embodiment, in which FIG. 9A illustrates an optical path of illumination light under bright-field illumination (during image reading), and FIG. The light path of the illumination light when there is no flaw or foreign matter in the photographic film under the visual field illumination (at the time of detection of the flaw or foreign matter), and (C) shows the optical path of the illumination light when the photographic film has a flaw.

【図10】その他の実施の形態における画像読取装置の
光学系の概略構成と照明光の光路を示す図であり、
(A)は写真フィルムに傷および異物がない場合の照明
光の光路を示し、(B)は写真フィルムに傷がある場合
の照明光の光路を示している。
FIG. 10 is a diagram illustrating a schematic configuration of an optical system of an image reading device and an optical path of illumination light according to another embodiment;
(A) shows the optical path of the illumination light when the photographic film has no scratches or foreign matter, and (B) shows the optical path of the illumination light when the photographic film has a scratch.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 画像読取装置 12 スキャナ部 14 画像処理部(判別手段、補正手段) 24 光源部(照射手段) 26 ミラーボックス(光導波手段) 26A 光拡散板 26B 光拡散板 50 ラインCCD(光電変換素子、第1の光電変換
素子) 70 遮光板(遮光手段) 80 サブミラーボックス 80A 光拡散板 80B 光拡散板 82 光源部(予備照射手段) 102 ラインCCD(第2の光電変換素子) D 異物 E 傷 F 写真フィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Image reading apparatus 12 Scanner part 14 Image processing part (discrimination means, correction means) 24 Light source part (irradiation means) 26 Mirror box (optical waveguide means) 26A Light diffusion plate 26B Light diffusion plate 50 line CCD (photoelectric conversion element, 1 photoelectric conversion element) 70 light shielding plate (light shielding means) 80 sub-mirror box 80A light diffusion plate 80B light diffusion plate 82 light source section (preliminary irradiation means) 102 line CCD (second photoelectric conversion element) D foreign matter E scratch F photographic film

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透過原稿に付いている傷又は異物の位置
を検出する傷又は異物位置検出方法であって、 光電変換素子に対する暗視野光を前記透過原稿に照射
し、 前記光電変換素子による透過光の検出結果に基づいて、
前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別する、 ことを特徴とする傷又は異物位置検出方法。
1. A method for detecting the position of a scratch or foreign matter on a transparent original, the method comprising: irradiating dark-field light to a photoelectric conversion element to the transparent original; Based on the light detection result,
Determining the position of a scratch or foreign matter on the transparent document.
【請求項2】 前記光電変換素子が、所定光量以上の透
過光を検出した場合に、前記透過原稿上に傷又は異物が
存在していることを認識する、 ことを特徴とする請求項1に記載の傷又は異物位置検出
方法。
2. The method according to claim 1, wherein when the photoelectric conversion element detects transmitted light of a predetermined light amount or more, the photoelectric conversion element recognizes that a scratch or a foreign substance exists on the transparent original. The method for detecting the position of a scratch or foreign matter described in the above.
【請求項3】 透過原稿に付いている傷又は異物の位置
を検出する傷又は異物位置検出装置であって、 前記透過原稿に光を照射する照射手段と、 前記透過原稿の透過光を、暗視野光として検出する光電
変換素子と、 前記光電変換素子による透過光の検出結果に基づいて、
前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別する判別手段
と、 を有することを特徴とする傷又は異物位置検出装置。
3. A flaw or foreign matter position detecting device for detecting a position of a flaw or foreign matter attached to a transmissive document, comprising: an irradiating means for irradiating the transmissive document with light; Based on a photoelectric conversion element that detects as field light, based on a detection result of transmitted light by the photoelectric conversion element,
Determining means for determining the position of a scratch or foreign matter on the transparent document.
【請求項4】 前記判別手段が、前記光電変換素子によ
って、所定光量以上の透過光を検出した場合に、前記透
過原稿上の当該暗視野光が透過した位置に傷又は異物が
存在していることを認識する、 ことを特徴とする請求項3に記載の傷又は異物位置検出
装置。
4. When the discriminating means detects a transmitted light of a predetermined amount or more by the photoelectric conversion element, a scratch or a foreign substance exists at a position where the dark field light is transmitted on the transmissive document. The scratch or foreign matter position detecting device according to claim 3, wherein the position is detected.
【請求項5】 請求項3又は請求項4に記載の傷又は異
物位置検出装置が用いられた画像読取装置であって、 前記判別手段による傷又は異物の位置の判別結果に基づ
いて、透過原稿の読取結果を補正する補正手段を有す
る、 ことを特徴とする画像読取装置。
5. An image reading apparatus using the scratch or foreign matter position detecting device according to claim 3 or 4, wherein the transparent original is determined based on a result of the determination of the position of the scratch or foreign matter by the determining means. An image reading apparatus, comprising: a correction unit configured to correct a reading result of the image reading apparatus.
【請求項6】 照射手段から透過原稿に光を照射し、少
なくともその透過画像を光電変換素子により読み取る画
像読取装置に用いられ、前記透過原稿に付いている傷又
は異物の位置を検出する傷又は異物位置検出装置であっ
て、 前記照射手段からの光を前記光電変換素子に対して暗視
野光となるように切り替えて、前記透過原稿に照射する
切替手段と、 前記切替手段によって、前記照射手段から暗視野光を前
記透過原稿に照射したときの、前記光電変換素子による
透過光の検出結果に基づいて、前記透過原稿上の傷又は
異物の位置を判別する判別手段と、 を有することを特徴とする傷又は異物位置検出装置。
6. An image reading apparatus which irradiates light from an irradiating means to a transparent original and reads at least the transmitted image by a photoelectric conversion element, and detects a position of a scratch or a foreign substance on the transparent original. A foreign matter position detecting device, wherein the light from the irradiating means is switched to the photoelectric conversion element so as to be dark field light, and the switching means irradiates the transparent original; and the irradiating means is provided by the switching means. And determining means for determining the position of a scratch or foreign matter on the transparent document based on a result of detection of the transmitted light by the photoelectric conversion element when irradiating the transparent document with dark field light. Or a foreign matter position detecting device.
【請求項7】 前記切替手段が、 照射手段と前記透過原稿との間に配設され、前記光電変
換素子に対する明視野光と、前記光電変換素子に対する
暗視野光とを含む光を前記透過原稿近傍まで導く光導波
手段と、 前記光導波手段と前記透過原稿との間に設けられ、前記
明視野光を遮光する遮光位置及び退避した位置とを選択
的に取り得る遮光手段と、を備え、 前記判別手段が、前記遮光手段が遮光位置のときに、前
記光電変換素子による透過光の検出結果に基づいて、前
記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別する、ことを特
徴とする請求項6に記載の傷又は異物位置検出装置。
7. The transmission document according to claim 1, wherein the switching unit is disposed between the irradiation unit and the transmission original, and transmits light including bright-field light to the photoelectric conversion element and dark-field light to the photoelectric conversion element. Light guiding means for guiding to the vicinity, light shielding means provided between the light guiding means and the transparent document, and a light shielding means for selectively taking a light shielding position for shielding the bright field light and a retracted position, 2. The method according to claim 1, wherein the determining unit determines a position of a scratch or a foreign matter on the transparent original based on a result of detection of transmitted light by the photoelectric conversion element when the light shielding unit is at a light shielding position. 7. The scratch or foreign matter position detecting device according to 6.
【請求項8】 照射手段から透過原稿に光を照射し、少
なくともその透過画像を光電変換素子により読み取る画
像読取装置に用いられ、前記透過原稿に付いている傷又
は異物の位置を検出する傷又は異物位置検出装置であっ
て、 前記光電変換素子に対して暗視野光となるように、前記
透過原稿に光を照射する予備照射手段と、 前記予備照射手段によって前記透過原稿に光を照射して
いるときの、前記光電変換素子による透過光の検出結果
に基づいて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別
する判別手段と、 を有することを特徴とする傷又は異物位置検出装置。
8. An image reading apparatus which irradiates light from a irradiating means to a transparent original and reads at least the transmitted image by a photoelectric conversion element, and detects a position of a scratch or a foreign substance on the transparent original. A foreign matter position detecting device, wherein a preliminary irradiating unit that irradiates the transparent original with light so that the photoelectric conversion element becomes dark-field light, irradiating the transparent original with light by the preliminary irradiating unit. And a determination unit configured to determine a position of a scratch or a foreign matter on the transparent document based on a detection result of the transmitted light by the photoelectric conversion element when the detection is performed.
【請求項9】 照射手段から透過原稿に光を照射し、そ
の透過画像を光電変換素子によって読み取る画像読取装
置に用いられ、前記透過原稿に付いている傷又は異物の
位置を検出する傷又は異物位置検出装置であって、 前記光電変換素子が、 前記照射手段から前記透過画像に照射された光を明視野
光として受光する第1の光電変換素子と、 前記照射手段から前記透過画像に照射された光を暗視野
光として受光する第2の光電変換素子と、を備え、 前記第2の光電変換素子による透過光の検出結果に基づ
いて、前記透過原稿上の傷又は異物の位置を判別する判
別手段を有する、 ことを特徴とする傷又は異物位置検出装置。
9. A scratch or foreign matter used in an image reading apparatus that irradiates light to a transparent original from an irradiating unit and reads a transmitted image by a photoelectric conversion element, and detects a position of a scratch or foreign matter on the transparent original. A position detecting device, wherein the photoelectric conversion element receives a light emitted from the irradiation unit to the transmission image as bright-field light, and a first photoelectric conversion element that irradiates the transmission image from the irradiation unit. A second photoelectric conversion element that receives the transmitted light as dark-field light, and determines a position of a scratch or a foreign matter on the transmission original based on a detection result of transmitted light by the second photoelectric conversion element. An apparatus for detecting a position of a flaw or foreign matter, comprising a determination unit.
【請求項10】 前記光電変換素子がライン状に配列さ
れ、透過原稿を前記ライン状に配列された光電変換素子
と直交する方向に移動させながら画像を記録する、 ことを特徴とする請求項6乃至請求項9の何れか1項に
記載の傷又は異物位置検出装置。
10. The image forming apparatus according to claim 6, wherein the photoelectric conversion elements are arranged in a line, and an image is recorded while moving the transparent original in a direction orthogonal to the photoelectric conversion elements arranged in the line. The wound or foreign matter position detecting device according to any one of claims 9 to 9.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6460765B1 (en) * 1998-02-14 2002-10-08 Leuze Electronic Gmbh & Co. Label sensor for sensing edges of light conductive labels

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6460765B1 (en) * 1998-02-14 2002-10-08 Leuze Electronic Gmbh & Co. Label sensor for sensing edges of light conductive labels

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