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JP2000113571A - Failure analyzing method for magnetic disk device, failure reporting method for magnetic disk device and magnetic disk device utilizing these methods - Google Patents

Failure analyzing method for magnetic disk device, failure reporting method for magnetic disk device and magnetic disk device utilizing these methods

Info

Publication number
JP2000113571A
JP2000113571A JP10277695A JP27769598A JP2000113571A JP 2000113571 A JP2000113571 A JP 2000113571A JP 10277695 A JP10277695 A JP 10277695A JP 27769598 A JP27769598 A JP 27769598A JP 2000113571 A JP2000113571 A JP 2000113571A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
failure
measured
magnetic disk
cause
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10277695A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Araya
徹 荒谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP10277695A priority Critical patent/JP2000113571A/en
Publication of JP2000113571A publication Critical patent/JP2000113571A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify a circuit constitution without using a shock sensor even while specifying the cause of failure by judging whether or not the cause of failure is vibration, etc., by comparing respective run-out amt. between the time of the fault occurrence and the time of normal operation by means of the shock sensor, etc., and to suppress the rise of costs and the enlargement of the scale of a device by reducing the number of parts. SOLUTION: A failure analyzing method for a magnetic disk device, by which the cause of the failure is discriminated when the failure occurs in the magnetic disk, involves a vibration and shock judgment process, by which the reference run-out amt. preliminarily recorded in a memory at the time of normal operation is compared with the measured run-out amt. measured at the time of the failure occurrence (Step 107), and if the measured run-out amt. us beyond an appropriate range set in accordance with the reference run-out amt. (Step 108/No.), it is judged that the cause of the failure is vibration or shock (Step 114).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、コンピュータの
ハードディスク等に使用される磁気ディスク装置に関
し、特に、磁気ディスク装置に生じた障害の要因を判別
する障害解析方法と、判別された要因を磁気ディスク装
置の上位装置に報告する障害報告方法と、これらの方法
を利用する磁気ディスク装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic disk drive used for a hard disk or the like of a computer, and more particularly, to a failure analysis method for determining the cause of a failure that has occurred in a magnetic disk drive and a magnetic disk drive for determining the determined cause. The present invention relates to a method for reporting a failure to a higher-level device of the device, and a magnetic disk device using these methods.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気ディスク装置に生じた各種の障害の
要因を判別して上位装置に報告する機能を備えた磁気デ
ィスク装置が開発されている。
2. Description of the Related Art Magnetic disk devices having a function of determining the cause of various failures occurring in a magnetic disk device and reporting the cause to a host device have been developed.

【0003】例えば、吸気温度異常及びいわゆるハード
ウェア障害等の装置障害を検出し、この検出した障害内
容に基づいて所定の障害情報を作成して、この障害情報
を障害情報ごとに異なる障害対策処理を実行する上位装
置に通報する磁気ディスク装置がある。この磁気ディス
ク装置では、吸気温度異常に基づく障害情報をハードウ
ェア障害に基づく障害情報と別個に作成して上位装置に
通報するようにしている(特開平8−235757号公
報参照)。
For example, a device failure such as an intake air temperature abnormality and a so-called hardware failure is detected, predetermined failure information is created based on the detected failure content, and this failure information is processed for different failure countermeasures for each failure information. There is a magnetic disk device that notifies a higher-level device that executes. In this magnetic disk drive, fault information based on an intake air temperature abnormality is created separately from fault information based on a hardware fault, and reported to a host device (see Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-235575).

【0004】また、障害の検出後に障害内容に基づいて
障害情報を作成するために障害の要因を特定する必要が
ある。このため、障害の要因を特定する必要のある装置
には、例えば電圧を検出する電圧センサや、温度を検出
する温度センサや、振動及び衝撃を検出するショックセ
ンサが搭載されている(特開昭59−178556号公
報参照)。
In addition, it is necessary to specify the cause of a fault in order to create fault information based on the fault content after the fault is detected. For this reason, devices that need to identify the cause of the failure include, for example, a voltage sensor for detecting a voltage, a temperature sensor for detecting a temperature, and a shock sensor for detecting vibration and shock (Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 9-163,019). 59-178556).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た磁気ディスク装置では、障害の要因を特定するために
は各種センサを設けなければならず、回路構成が複雑に
なると共に部品点数が多くなってコストの上昇や装置の
大型化を招くおそれがある。
However, in the above-described magnetic disk drive, various sensors must be provided in order to identify the cause of the failure, which complicates the circuit configuration and increases the number of parts, resulting in cost reduction. And the size of the apparatus may be increased.

【0006】そこで、本発明は、障害の要因を特定可能
としながらも設置するセンサを減少できる磁気ディスク
装置の障害解析方法及び磁気ディスク装置の障害報告方
法とこれらの方法を利用した磁気ディスク装置を提供す
ることを目的としている。
Accordingly, the present invention provides a magnetic disk drive fault analysis method, a magnetic disk drive fault reporting method, and a magnetic disk drive using these methods that can reduce the number of sensors to be installed while enabling the cause of the fault to be identified. It is intended to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めの技術的手段として、この発明に係る磁気ディスク装
置の障害解析方法は、磁気ディスク装置に障害が発生し
たときに前記障害の要因を判別する磁気ディスク装置の
障害解析方法において、正常動作時に予めメモリに記録
した基準ランナウト量と障害発生時に測定した測定ラン
ナウト量とを比較して、前記測定ランナウト量が前記基
準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲外であれ
ば、前記障害の要因は振動や衝撃であると判断する振動
衝撃判断工程を有することを特徴としている。
As a technical means for achieving the above object, a failure analysis method for a magnetic disk drive according to the present invention comprises the steps of determining the cause of the failure when a failure occurs in the magnetic disk drive. In the failure analysis method for the magnetic disk device to be determined, the reference runout amount recorded in the memory in advance during normal operation is compared with the measurement runout amount measured at the time of occurrence of the failure, and the measurement runout amount is set based on the reference runout amount. If it is out of the appropriate range, a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact is provided.

【0008】すなわち、障害が発生したときには、振動
衝撃判断工程の実行により障害の要因は振動や衝撃であ
るか否かが判断される。この判断は回路上の内部処理の
みで行われるので、ショックセンサを用いることなく障
害の要因を特定することができる。
That is, when a failure occurs, it is determined whether or not the cause of the failure is vibration or impact by executing a vibration / impact determination step. Since this determination is made only by internal processing on the circuit, the cause of the failure can be specified without using a shock sensor.

【0009】また、請求項2の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法では、正常動作時に予めメモリに記
録した基準ランナウト量と障害発生時に測定した測定ラ
ンナウト量とを比較して、前記測定ランナウト量が前記
基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲外であれ
ば、前記磁気ディスク装置のランナウト量を前記適正範
囲内の適正値に補正して作動させ、この補正により前記
障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は振動や
衝撃であると判断する振動衝撃判断工程を有することを
特徴としている。
In the magnetic disk drive failure analysis method according to the present invention, the reference runout amount previously recorded in the memory during normal operation is compared with the measured runout amount measured at the time of occurrence of the failure, and the measured runout amount is measured. If the amount is out of the appropriate range set based on the reference runout amount, the magnetic disk drive is operated by correcting the runout amount to an appropriate value within the appropriate range, and the correction eliminates the failure. In this case, the method includes a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact.

【0010】したがって、ランナウト量を適正値に補正
して磁気ディスク装置が正常に作動することを確認して
から障害の要因を特定することになるので、障害要因の
特定の精度を向上させることができる。
Therefore, the run-out amount is corrected to an appropriate value, and after confirming that the magnetic disk device operates normally, the cause of the fault is specified. Therefore, the accuracy of specifying the cause of the fault can be improved. it can.

【0011】さらに、請求項3の発明に係る磁気ディス
ク装置の障害解析方法では、予めメモリに記録した基準
温度と障害発生時に測定した測定温度とを比較して、前
記測定温度が前記基準温度に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記障害の要因は温度上昇であると判断す
る温度上昇判断工程を有することを特徴としている。
Furthermore, in the failure analysis method for a magnetic disk drive according to the third aspect of the present invention, the measured temperature is compared with the reference temperature recorded in advance in the memory and the measured temperature measured at the time of occurrence of the failure. If the temperature is out of the proper range set based on the temperature, a temperature rise determining step of determining that the cause of the failure is a temperature rise is provided.

【0012】すなわち、障害が発生したときに、温度上
昇判断工程の実行により障害の要因は温度上昇であるか
否かが判断されることになる。
That is, when a fault occurs, it is determined whether or not the cause of the fault is a temperature rise by executing the temperature rise determining step.

【0013】また、請求項4の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法では、予めメモリに記録した基準温
度と障害発生時に測定した測定温度とを比較して、前記
測定温度が前記基準温度に基づいて設定した適正範囲外
であれば、前記磁気ディスク装置をファンにより冷却し
て温度を前記適正範囲内の適正値に補正して、この補正
により前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要
因は温度上昇であると判断する温度上昇判断工程を有す
ることを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the failure analysis method for a magnetic disk drive, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured when a failure occurs, and the measured temperature is set to the reference temperature. If the temperature is outside the appropriate range, the magnetic disk device is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. It is characterized by having a temperature rise determination step of determining that the factor is a temperature rise.

【0014】したがって、温度を適正値に補正して磁気
ディスク装置が正常に作動することを確認してから障害
の要因を特定することになり、障害要因の特定の精度を
向上させることができる。
Therefore, the cause of the failure is specified after the temperature is corrected to an appropriate value and the normal operation of the magnetic disk drive is confirmed, and the accuracy of specifying the cause of the failure can be improved.

【0015】さらに、請求項5の発明に係る磁気ディス
ク装置の障害解析方法では、予めメモリに記録した基準
電圧と障害発生時に測定した測定電圧とを比較して、前
記測定電圧が前記基準電圧に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記障害の要因は電圧異常であると判断す
る電圧異常判断工程を有することを特徴としている。
Further, in the magnetic disk drive failure analysis method according to the present invention, the reference voltage previously recorded in the memory is compared with a measured voltage measured at the time of occurrence of the failure, and the measured voltage is compared with the reference voltage. If it is out of the proper range set based on the voltage, a voltage abnormality determining step of determining that the cause of the failure is voltage abnormality is provided.

【0016】すなわち、障害が発生したときに、電圧異
常判断工程の実行により障害の要因は電圧異常であるか
否かが判断される。
That is, when a failure occurs, it is determined whether or not the cause of the failure is a voltage abnormality by executing a voltage abnormality determination step.

【0017】また、請求項6の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法は、予めメモリに記録した基準電圧
と障害発生時に測定した測定電圧とを比較して、前記測
定電圧が前記基準電圧に基づいて設定した適正範囲外で
あれば、磁気ディスク装置の電圧を前記適正範囲内の適
正値に補正して、この補正により前記障害が発生しなく
なった場合は前記障害の要因は電圧異常であると判断す
る電圧異常判断工程を有することを特徴としている。
Further, in the magnetic disk drive failure analysis method according to the present invention, the reference voltage pre-recorded in the memory is compared with a measured voltage measured at the time of occurrence of the failure, and the measured voltage is compared with the reference voltage. If the error is outside the appropriate range set based on the voltage, the voltage of the magnetic disk device is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction does not cause the failure, the cause of the failure is an abnormal voltage. It is characterized by having a voltage abnormality determining step of determining

【0018】したがって、電圧を適正値に補正して磁気
ディスク装置が正常に作動することを確認してから障害
の要因を特定することになり、障害要因の特定の精度を
向上させることができる。
Therefore, the cause of the failure is specified after correcting the voltage to an appropriate value and confirming that the magnetic disk device operates normally, and the accuracy of specifying the cause of the failure can be improved.

【0019】一方、請求項7の発明に係る磁気ディスク
装置の障害報告方法は、磁気ディスク装置に障害が発生
したときに前記障害の要因を判別して上位装置に報告す
る磁気ディスク装置の障害報告方法において、前記磁気
ディスク装置が前記上位装置からの少なくとも1回のア
クセス命令を受け付けないときに前記障害が発生したこ
とを検出する障害検出工程と、前記障害の発生が検出さ
れた後に、正常動作時に予めメモリに記録した基準ラン
ナウト量と障害発生時に測定した測定ランナウト量とを
比較して、前記測定ランナウト量が前記基準ランナウト
量に基づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害の
要因は振動や衝撃であると判断する振動衝撃判断工程
と、前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置
に報告する報告工程とを有することを特徴としている。
また、請求項8の発明に係る磁気ディスク装置の障害報
告方法は、前記磁気ディスク装置が前記上位装置からの
少なくとも1回のアクセス命令を受け付けないときに前
記障害が発生したことを検出する障害検出工程と、前記
障害の発生が検出された後に、正常動作時に予めメモリ
に記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定した測
定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト量が
前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲外で
あれば、前記磁気ディスク装置のランナウト量を前記適
正範囲内の適正値に補正して作動させ、この補正により
前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は振
動や衝撃であると判断する振動衝撃判断工程と、前記障
害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置に報告する
報告工程とを有することを特徴としている。
On the other hand, according to a seventh aspect of the present invention, there is provided a magnetic disk drive failure reporting method for determining a cause of the failure and reporting the failure to a higher-level device when a failure occurs in the magnetic disk drive. A failure detecting step of detecting that the failure has occurred when the magnetic disk device does not receive at least one access command from the higher-level device; and a normal operation after the occurrence of the failure is detected. When comparing the reference runout amount previously recorded in the memory with the measured runout amount measured at the time of the failure occurrence, if the measured runout amount is outside the appropriate range set based on the reference runout amount, the cause of the failure is A vibration / impact determination step of determining that the failure is vibration or impact, and a reporting step of reporting the cause to the host device after determining the cause of the failure It is characterized by having a.
Further, in the fault reporting method for a magnetic disk device according to the invention of claim 8, the fault detection detects that the fault has occurred when the magnetic disk device does not receive at least one access command from the host device. After the occurrence of the fault is detected, the reference runout amount recorded in the memory in advance during normal operation and the measured runout amount measured at the time of the fault occurrence are compared, and the measured runout amount is based on the reference runout amount. If it is out of the proper range set in the above, the run-out amount of the magnetic disk drive is corrected to a proper value within the proper range and the operation is performed. And a vibration / impact determination step of determining that the failure is a shock, and a reporting step of reporting the cause to the higher-level device after determining the cause of the failure. It is characterized in that.

【0020】したがって、障害が発生したときに、障害
検出工程の実行により障害の発生が検出される。そし
て、振動衝撃判断工程の実行により障害の要因は振動や
衝撃であるか否かが判断されて、報告工程の実行により
判断の結果が上位装置に報告される。
Therefore, when a failure occurs, the occurrence of the failure is detected by executing the failure detecting step. Then, by executing the vibration / impact determination step, it is determined whether or not the cause of the failure is vibration or impact, and the result of the determination is reported to the host device by executing the reporting step.

【0021】さらに、請求項9の発明に係る磁気ディス
ク装置の障害報告方法は、前記障害の発生が検出された
後に、予めメモリに記録した基準温度と障害発生時に測
定した測定温度とを比較して、前記測定温度が前記基準
温度に基づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害
の要因は温度上昇であると判断する温度上昇判断工程を
有することを特徴とし、請求項10の発明に係る磁気デ
ィスク装置の障害報告方法では、前記障害の発生が検出
された後に、予めメモリに記録した基準温度と障害発生
時に測定した測定温度とを比較して、前記測定温度が前
記基準温度に基づいて設定した適正範囲外であれば、前
記磁気ディスク装置をファンにより冷却して温度を前記
適正範囲内の適正値に補正して、この補正により前記障
害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は温度上昇
であると判断する温度上昇判断工程を有することを特徴
としている。
Further, in the fault reporting method for a magnetic disk drive according to the present invention, after the occurrence of the fault is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of the fault occurrence. The method according to claim 10, further comprising a temperature rise determining step of determining that the cause of the failure is a temperature rise if the measured temperature is outside the appropriate range set based on the reference temperature. In such a failure reporting method for a magnetic disk device, after the occurrence of the failure is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of the failure, and the measured temperature is determined based on the reference temperature. If the temperature is outside the proper range, the magnetic disk device is cooled by a fan to correct the temperature to a proper value within the proper range, and the correction prevents the failure from occurring. If factors of the disorder is characterized by having a temperature rise determination step of determining that the temperature rise.

【0022】したがって、障害検出工程により障害の発
生が検出されてから、温度上昇判断工程の実行により障
害の要因は温度上昇であるか否かが判断される。
Therefore, after the occurrence of a failure is detected by the failure detection step, it is determined whether or not the cause of the failure is temperature rise by executing the temperature rise determination step.

【0023】また、請求項11の発明に係る磁気ディス
ク装置の障害報告方法は、前記障害の発生が検出された
後に、予めメモリに記録した基準電圧と障害発生時に測
定した測定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記基準
電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害
の要因は電圧異常であると判断する電圧異常判断工程を
有することを特徴とし、請求項12の発明に係る磁気デ
ィスク装置の障害報告方法は、前記障害の発生が検出さ
れた後に、予めメモリに記録した基準電圧と障害発生時
に測定した測定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記
基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁気
ディスク装置の電圧を前記適正範囲内の適正値に補正し
て、この補正により前記障害が発生しなくなった場合は
前記障害の要因は電圧異常であると判断する電圧異常判
断工程を有することを特徴としている。
[0023] In the magnetic disk drive fault reporting method according to the eleventh aspect of the present invention, after the occurrence of the fault is detected, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of the fault occurrence. The method according to claim 12, further comprising a voltage abnormality determining step of determining that the cause of the failure is a voltage abnormality if the measured voltage is out of an appropriate range set based on the reference voltage. Such a failure reporting method for a magnetic disk device, after the occurrence of the failure is detected, compares a reference voltage previously recorded in a memory with a measured voltage measured at the time of the failure, and determines the measured voltage based on the reference voltage. If the error is outside the appropriate range, the voltage of the magnetic disk drive is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction does not cause the error, the cause of the error is It is characterized by having a voltage abnormality determination step of determining that the pressure abnormality.

【0024】したがって、障害検出工程により障害の発
生が検出されてから、電圧異常判断工程の実行により障
害の要因は電圧異常であるか否かが判断される。
Therefore, after the occurrence of a failure is detected in the failure detection step, it is determined whether or not the cause of the failure is a voltage abnormality by executing the voltage abnormality determination step.

【0025】他方、請求項13の発明に係る磁気ディス
ク装置は、障害が発生したときに、正常動作時に予めメ
モリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定し
た測定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト
量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記障害の要因は振動や衝撃であると判断
する振動衝撃判断部を有することを特徴としている。ま
た、請求項14の発明に係る磁気ディスク装置は、障害
が発生したときに、正常動作時に予めメモリに記録した
基準ランナウト量と障害発生時に測定した測定ランナウ
ト量とを比較して、前記測定ランナウト量が前記基準ラ
ンナウト量に基づいて設定した適正範囲外であれば、前
記磁気ディスク装置のランナウト量を前記適正範囲内の
適正値に補正して作動させ、この補正により前記障害が
発生しなくなった場合は前記障害の要因は振動や衝撃で
あると判断する振動衝撃判断部を有することを特徴とし
ている。
On the other hand, in the magnetic disk drive according to the present invention, when a fault occurs, the reference runout amount previously recorded in the memory during normal operation is compared with the measured runout amount measured at the time of the fault occurrence. If the measured run-out amount is outside the appropriate range set based on the reference run-out amount, a vibration impact judging unit for judging that the cause of the failure is vibration or impact is provided. In the magnetic disk drive according to the present invention, when a failure occurs, the measured runout amount is compared with a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation and the measured runout amount measured at the time of the failure occurrence. If the amount is out of the appropriate range set based on the reference runout amount, the magnetic disk drive is operated by correcting the runout amount to an appropriate value within the appropriate range, and the correction eliminates the failure. In this case, the apparatus has a vibration / impact determination unit that determines that the cause of the failure is vibration or impact.

【0026】すなわち、障害が発生したときに、振動衝
撃判断部により障害の要因は振動や衝撃であるか否かが
判断される。この判断は回路上の内部処理のみで行われ
るので、ショックセンサを用いることなく障害の要因を
特定することができる。
That is, when a failure occurs, the vibration / impact determination unit determines whether the cause of the failure is vibration or impact. Since this determination is made only by internal processing on the circuit, the cause of the failure can be specified without using a shock sensor.

【0027】また、請求項15の発明に係る磁気ディス
ク装置は、障害が発生したときに、予めメモリに記録し
た基準温度と障害発生時に測定した測定温度とを比較し
て、前記測定温度が前記基準温度に基づいて設定した適
正範囲外であれば、前記障害の要因は温度上昇であると
判断する温度上昇判断部を有することを特徴とし、さら
に、請求項16の発明に係る磁気ディスク装置は、障害
が発生したときに、予めメモリに記録した基準温度と障
害発生時に測定した測定温度とを比較して、前記測定温
度が前記基準温度に基づいて設定した適正範囲外であれ
ば、前記磁気ディスク装置をファンにより冷却して温度
を前記適正範囲内の適正値に補正して、この補正により
前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は温
度上昇であると判断する温度上昇判断部を有することを
特徴としている。
According to a fifteenth aspect of the present invention, when a fault occurs, the reference temperature previously recorded in the memory is compared with a measured temperature measured at the time of the fault, and the measured temperature 17. The magnetic disk drive according to claim 16, further comprising: a temperature rise determining unit that determines that the cause of the failure is a temperature rise if the temperature is outside the appropriate range set based on the reference temperature. When a failure occurs, a comparison is made between a reference temperature previously recorded in a memory and a measurement temperature measured at the time of the failure, and if the measured temperature is outside an appropriate range set based on the reference temperature, the magnetic The temperature of the disk device is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, it is determined that the cause of the failure is temperature rise. It is characterized by having a temperature rise determination unit for.

【0028】したがって、障害が発生したときに、温度
上昇判断部により障害の要因は温度上昇であるか否かが
判断される。
Therefore, when a failure occurs, the temperature rise determining unit determines whether the cause of the failure is a temperature rise.

【0029】さらに、請求項17の発明に係る磁気ディ
スク装置は、障害が発生したときに、予めメモリに記録
した基準電圧と障害発生時に測定した測定電圧とを比較
して、前記測定電圧が前記基準電圧に基づいて設定した
適正範囲外であれば、前記障害の要因は電圧異常である
と判断する電圧異常判断部を有することを特徴とし、ま
た、請求項18の発明に係る磁気ディスク装置は、障害
が発生したときに、予めメモリに記録した基準電圧と障
害発生時に測定した測定電圧とを比較して、前記測定電
圧が前記基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれ
ば、磁気ディスク装置の電圧を前記適正範囲内の適正値
に補正して、この補正により前記障害が発生しなくなっ
た場合は前記障害の要因は電圧異常であると判断する電
圧異常判断部を有することを特徴としている。
Further, in the magnetic disk drive according to the present invention, when a failure occurs, the reference voltage previously recorded in the memory is compared with a measured voltage measured at the time of the failure, and the measured voltage is 19. A magnetic disk drive according to claim 18, further comprising a voltage abnormality determination unit that determines that the cause of the failure is a voltage abnormality if the voltage is outside an appropriate range set based on a reference voltage. When a failure occurs, the reference voltage pre-recorded in the memory is compared with the measurement voltage measured at the time of the failure, and if the measured voltage is outside the proper range set based on the reference voltage, the magnetic disk A voltage abnormality determining unit that corrects the voltage of the device to an appropriate value within the appropriate range and determines that the cause of the failure is an abnormal voltage when the correction no longer causes the failure. It is characterized in Rukoto.

【0030】したがって、障害が発生したときに、電圧
異常判断部により障害の要因は電圧異常であるか否かが
判断される。
Therefore, when a failure occurs, the voltage abnormality determining unit determines whether the cause of the failure is a voltage abnormality.

【0031】また、請求項19の発明に係る磁気ディス
ク装置は、磁気ディスク装置が上位装置からの少なくと
も1回のアクセス命令を受け付けないときに障害が発生
したことを検出する障害検出部と、前記障害の発生が検
出された後に、正常動作時に予めメモリに記録した基準
ランナウト量と障害発生時に測定した測定ランナウト量
とを比較して、前記測定ランナウト量が前記基準ランナ
ウト量に基づいて設定した適正範囲外であれば、前記障
害の要因は振動や衝撃であると判断する振動衝撃判断部
と、前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置
に報告する報告部とを有することを特徴としている。さ
らに、請求項20の発明に係る磁気ディスク装置は、磁
気ディスク装置が上位装置からの少なくとも1回のアク
セス命令を受け付けないときに障害が発生したことを検
出する障害検出部と、前記障害の発生が検出された後
に、正常動作時に予めメモリに記録した基準ランナウト
量と障害発生時に測定した測定ランナウト量とを比較し
て、前記測定ランナウト量が前記基準ランナウト量に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク
装置のランナウト量を前記適正範囲内の適正値に補正し
て作動させ、この補正により前記障害が発生しなくなっ
た場合は前記障害の要因は振動や衝撃であると判断する
振動衝撃判断部と、前記障害の要因の判断後に前記要因
を前記上位装置に報告する報告部とを有することを特徴
としている。
A magnetic disk drive according to a nineteenth aspect of the present invention is a magnetic disk drive, wherein the magnetic disk drive does not receive at least one access command from a higher-level device, and detects a fault that has occurred; After the occurrence of the failure is detected, the reference runout amount recorded in the memory in advance during normal operation is compared with the measurement runout amount measured at the time of the failure occurrence, and the measured runout amount is set based on the reference runout amount. If it is out of the range, a vibration / impact determination unit that determines that the cause of the failure is vibration or shock, and a report unit that reports the cause to the host device after determining the cause of the failure, I have. Further, the magnetic disk drive according to the twentieth aspect of the present invention is a magnetic disk drive, wherein the magnetic disk drive does not receive at least one access command from a higher-level device, a failure detection unit that detects that a failure has occurred, Is detected, the normal runout amount is compared with the reference runout amount previously recorded in the memory and the measured runout amount measured at the time of failure occurrence, and the measured runout amount is out of the proper range set based on the reference runout amount. If so, the run-out amount of the magnetic disk drive is corrected to an appropriate value within the appropriate range and the magnetic disk drive is operated. If the correction no longer causes the failure, it is determined that the cause of the failure is vibration or impact. It is characterized by having a vibration / shock determining unit and a reporting unit that reports the cause to the host device after determining the cause of the failure.

【0032】したがって、障害が発生したときに、障害
検出部により障害の発生が検出される。そして、振動衝
撃判断部により障害の要因は振動や衝撃であるか否かが
判断されて、報告部により判断の結果が上位装置に報告
される。
Therefore, when a failure occurs, the failure detection unit detects the failure. Then, the vibration / impact determination unit determines whether the cause of the failure is vibration or impact, and the report unit reports the result of the determination to the host device.

【0033】さらに、請求項21の発明に係る磁気ディ
スク装置は、前記障害の発生が検出された後に、予めメ
モリに記録した基準温度と障害発生時に測定した測定温
度とを比較して、前記測定温度が前記基準温度に基づい
て設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は温度
上昇であると判断する温度上昇判断部を有することを特
徴とし、また、請求項22の発明に係る磁気ディスク装
置は、前記障害の発生が検出された後に、予めメモリに
記録した基準温度と障害発生時に測定した測定温度とを
比較して、前記測定温度が前記基準温度に基づいて設定
した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク装置をファ
ンにより冷却して温度を前記適正範囲内の適正値に補正
して、この補正により前記障害が発生しなくなった場合
は前記障害の要因は温度上昇であると判断する温度上昇
判断部を有することを特徴としている。
Further, in the magnetic disk drive according to the present invention, after the occurrence of the fault is detected, the reference temperature previously recorded in the memory is compared with a measured temperature measured at the time of the occurrence of the fault, and 23. The magnetic storage device according to claim 22, further comprising a temperature rise determination unit that determines that the cause of the failure is a temperature rise if the temperature is outside an appropriate range set based on the reference temperature. After the occurrence of the failure is detected, the disk device compares the reference temperature recorded in advance in memory with the measurement temperature measured at the time of the failure, and determines that the measured temperature is out of the proper range set based on the reference temperature. Then, the magnetic disk device is cooled by a fan and the temperature is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, the cause of the failure is corrected. Is characterized by having a temperature rise determination unit determines that the temperature rise.

【0034】したがって、障害検出部により障害の発生
が検出されてから、温度上昇判断部により障害の要因は
温度上昇であるか否かが判断される。
Therefore, after the occurrence of a failure is detected by the failure detection unit, the temperature rise determination unit determines whether the cause of the failure is a temperature rise.

【0035】また、請求項23の発明に係る磁気ディス
ク装置は、前記障害の発生が検出された後に、予めメモ
リに記録した基準電圧と障害発生時に測定した測定電圧
とを比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基づいて
設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は電圧異
常であると判断する電圧異常判断部を有することを特徴
とし、さらに、請求項24の発明に係る磁気ディスク装
置は、前記障害の発生が検出された後に、予めメモリに
記録した基準電圧と障害発生時に測定した測定電圧とを
比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基づいて設定
した適正範囲外であれば、磁気ディスク装置の電圧を前
記適正範囲内の適正値に補正して、この補正により前記
障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は電圧異
常であると判断する電圧異常判断部を有することを特徴
としている。
Also, in the magnetic disk drive according to the present invention, after the occurrence of the fault is detected, the reference voltage previously recorded in the memory is compared with a measured voltage measured at the time of the fault, and 25. The magnetic recording apparatus according to claim 24, further comprising a voltage abnormality determining unit that determines that the cause of the failure is a voltage abnormality if the voltage is outside an appropriate range set based on the reference voltage. After the occurrence of the failure is detected, the disk device compares the reference voltage recorded in the memory in advance with the measurement voltage measured at the time of the failure, and determines that the measured voltage is out of the proper range set based on the reference voltage. In this case, the voltage of the magnetic disk drive is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, it is determined that the cause of the failure is abnormal voltage. It is characterized by having abnormal voltage determining portion.

【0036】したがって、障害検出部により障害の発生
が検出されてから、電圧異常判断部により障害の要因は
電圧異常であるか否かが判断される。
Therefore, after the occurrence of a failure is detected by the failure detection unit, the voltage abnormality determination unit determines whether the cause of the failure is a voltage abnormality.

【0037】[0037]

【発明の実施の形態】以下、この発明に係る磁気ディス
ク装置の障害解析方法及び磁気ディスク装置の障害報告
方法とこれらの方法を利用した磁気ディスク装置の構成
を、図示した実施の形態の一例に基づいて具体的に説明
する。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a magnetic disk drive failure analysis method and a magnetic disk drive failure report method according to the present invention; A specific description will be given based on this.

【0038】図3に本発明の磁気ディスク装置10の一実
施形態を示す。この磁気ディスク装置10は、障害が発生
したときに当該障害の要因は振動や衝撃であるか否かを
判断する振動衝撃判断部12を有している。また、この磁
気ディスク装置10は、磁気ディスク装置10に障害が発生
したことを検出する障害検出部と、当該障害の要因は温
度上昇であるか否かを判断する温度上昇判断部14と、障
害の要因を上位装置に報告する報告部とを有している。
これらのうち障害検出部と報告部とはコントローラ16に
より構成されており、振動衝撃判断部12と温度上昇判断
部14とに接続されている。
FIG. 3 shows an embodiment of the magnetic disk drive 10 of the present invention. The magnetic disk device 10 includes a vibration / impact determination unit 12 that determines whether a failure has occurred due to vibration or impact when a failure occurs. The magnetic disk device 10 includes a failure detection unit that detects that a failure has occurred in the magnetic disk device 10, a temperature rise determination unit 14 that determines whether the cause of the failure is a temperature rise, and a failure detection unit 14. And a report unit for reporting the cause of the above to the host device.
Among them, the failure detection unit and the report unit are configured by the controller 16 and are connected to the vibration / impact determination unit 12 and the temperature rise determination unit 14.

【0039】この磁気ディスク装置10には電源18が接続
されると共に、磁気ディスク装置10のコントローラ16に
は上位装置としてのホストシステム20が接続されてい
る。さらに、磁気ディスク装置10を空冷するためのファ
ン22が設置されており、ホストシステム20により制御さ
れている。ここで、ホストシステム20は、CPUと記録
装置であるRAMやROMと入出力装置であるI/O等
を備えたコンピュータから成るものとしている。但し、
ホストシステム20としてはコンピュータに限られず、シ
ーケンス回路等の電気回路であっても良い。
A power supply 18 is connected to the magnetic disk device 10, and a host system 20 as a higher-level device is connected to the controller 16 of the magnetic disk device 10. Further, a fan 22 for cooling the magnetic disk device 10 is installed, and is controlled by the host system 20. Here, it is assumed that the host system 20 is composed of a computer having a CPU, a RAM or a ROM serving as a recording device, and an I / O serving as an input / output device. However,
The host system 20 is not limited to a computer, but may be an electric circuit such as a sequence circuit.

【0040】磁気ディスク装置10の障害検出部は、磁気
ディスク装置10がホストシステム20からの少なくとも1
回のアクセス命令を受け付けないときに障害が発生した
ことを検出する。アクセス命令は、例えばWrite コマン
ド/Readコマンドである。ここで、アクセス命令を受け
付けないことを検知する回数は、例えば1回や複数回に
設定することができる。複数回に設定した場合は、ホス
トシステム20が磁気ディスク装置10のアクセス不能に対
して再度命令の送信を行うリトライを実行したときに、
そのリトライによってアクセス命令を受け付ければ障害
を検出しないので、磁気ディスク装置10の動作を中断す
ることなく続行させることができる。
The failure detection unit of the magnetic disk device 10 is configured to detect that the magnetic disk device 10
It detects that a failure has occurred when it does not accept the access command twice. The access command is, for example, a Write command / Read command. Here, the number of times of detecting that the access command is not accepted can be set to, for example, once or a plurality of times. If the setting is made a plurality of times, when the host system 20 executes a retry of transmitting an instruction again when the magnetic disk device 10 cannot be accessed,
If an access command is received by the retry, no failure is detected, so that the operation of the magnetic disk device 10 can be continued without interruption.

【0041】振動衝撃判断部12は、MPU24とメモリ26
とを備えており、障害の発生が検出された後に、検査時
等の正常動作時に予めメモリ26に記録しておいた基準ラ
ンナウト量と障害発生時に測定した測定ランナウト量と
を比較して、測定ランナウト量が基準ランナウト量に基
づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク装置
10のランナウト量を適正範囲内の適正値に補正して作動
させ、この補正により障害が発生しなくなった場合は障
害の要因は振動や衝撃であると判断する。
The vibration / impact judging section 12 comprises an MPU 24 and a memory 26
After the occurrence of a failure is detected, the reference runout amount recorded in the memory 26 in advance during normal operation such as inspection is compared with the measured runout amount measured at the time of the failure, and the measurement is performed. If the runout amount is out of the appropriate range set based on the reference runout amount, the magnetic disk drive
When the runout amount of 10 is corrected to an appropriate value within an appropriate range and the operation is performed, and the correction does not cause a failure, it is determined that the cause of the failure is vibration or impact.

【0042】また、温度上昇判断部14は、前記MPU24
と前記メモリ26と温度センサ28とを内蔵しており、障害
の発生が検出された後に、予めメモリ26に記録しておい
た基準温度と障害発生時に測定した測定温度とを比較し
て、測定温度が基準温度に基づいて設定した適正範囲外
であれば、磁気ディスク装置10をファン22により冷却し
て温度を適正範囲内の適正値に補正して、この補正によ
り障害が発生しなくなった場合は障害の要因は温度上昇
であると判断する。
The temperature rise judging section 14 is provided with the MPU 24
After the occurrence of a failure is detected, the reference temperature previously recorded in the memory 26 is compared with the measured temperature measured at the time of the failure, and the measurement is performed. If the temperature is outside the proper range set based on the reference temperature, the magnetic disk device 10 is cooled by the fan 22 and the temperature is corrected to a proper value within the proper range, and the correction does not cause a failure. Judge that the cause of the failure is temperature rise.

【0043】一方、この磁気ディスク装置10での障害解
析方法は、磁気ディスク装置10に障害が発生したときに
障害の要因を判別するものであり、正常動作時に予めメ
モリ26に記録しておいた基準ランナウト量と障害発生時
に測定した測定ランナウト量とを比較して、測定ランナ
ウト量が基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、磁気ディスク装置10のランナウト量を適正
範囲内の適正値に補正して作動させ、この補正により障
害が発生しなくなった場合は障害の要因は振動や衝撃で
あると判断する振動衝撃判断工程を有している。振動衝
撃判断工程は、振動衝撃判断部12により実行される。
On the other hand, this failure analysis method in the magnetic disk device 10 is to determine the cause of the failure when a failure occurs in the magnetic disk device 10, and is recorded in the memory 26 in advance during normal operation. The reference runout amount is compared with the measured runout amount measured at the time of the occurrence of the fault.If the measured runout amount is outside the appropriate range set based on the reference runout amount, the runout amount of the magnetic disk drive 10 is adjusted within the appropriate range. The method has a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is a vibration or a shock when the failure is no longer caused by this correction. The vibration impact determination step is executed by the vibration impact determination unit 12.

【0044】また、この磁気ディスク装置10での障害解
析方法は、予めメモリ26に記録しておいた基準温度と障
害発生時に測定した測定温度とを比較して、測定温度が
基準温度に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁気
ディスク装置10をファン22により冷却して温度を適正範
囲内の適正値に補正して、この補正により障害が発生し
なくなった場合は障害の要因は温度上昇であると判断す
る温度上昇判断工程を有している。温度上昇判断工程
は、温度上昇判断部14により実行される。
The failure analysis method in the magnetic disk device 10 compares a reference temperature recorded in the memory 26 in advance with a measurement temperature measured at the time of occurrence of the failure, and determines the measured temperature based on the reference temperature. If the temperature is outside the set appropriate range, the magnetic disk device 10 is cooled by the fan 22 to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. Is included in the temperature rise determining step. The temperature rise determination step is executed by the temperature rise determination unit 14.

【0045】さらに、この磁気ディスク装置10の障害報
告方法は、磁気ディスク装置10に障害が発生したときに
障害の要因を判別して上位装置に報告するものであり、
磁気ディスク装置10が上位装置からの少なくとも1回の
アクセス命令を受け付けないときに障害が発生したこと
を検出する障害検出工程と、上述した振動衝撃判断工程
及び温度上昇判断工程と、障害の要因の判断後に要因を
上位装置に報告する報告工程とを有している。このう
ち、障害検出工程は障害検出部により実行されて、報告
工程は報告部により実行される。
Further, the fault reporting method for the magnetic disk device 10 is to determine the cause of the fault when the fault occurs in the magnetic disk device 10 and report it to the host device.
A failure detecting step of detecting that a failure has occurred when the magnetic disk device 10 does not receive at least one access command from a higher-level device; a vibration / impact determination step and a temperature rise determination step described above; And reporting the cause to the host device after the determination. Among them, the failure detection step is performed by the failure detection unit, and the reporting step is performed by the reporting unit.

【0046】上述した磁気ディスク装置10の動作を図1
及び図2に示すフローチャートに沿って説明する。
FIG. 1 shows the operation of the magnetic disk drive 10 described above.
And the flowchart shown in FIG.

【0047】最初に、障害検出工程が障害検出部によっ
て以下のように実行される(ステップ101〜106)。ホス
トシステム20が、磁気ディスク装置10にWrite コマンド
/Readコマンドのアクセス命令を送信する(ステップ10
1 )。磁気ディスク装置10は、受け取ったアクセス命令
にしたがって動作を実行する。そして、磁気ディスク装
置10は実行の結果を正常か異常かに拘わらずホストシス
テム20に随時報告している。例えば、終了が正常で有れ
ば実行結果としてCommand Completeと報告し、異常で有
れば実行結果としてCheck Condition と報告する。この
報告の結果、アクセス命令が正常に実行されていれば
(ステップ102/Yes)、磁気ディスク装置10は正常と判
断されて(ステップ103 )、次のアクセス命令が送出さ
れるまで待機する。
First, the fault detecting step is executed by the fault detecting unit as follows (steps 101 to 106). The host system 20 transmits a write command / read command access command to the magnetic disk device 10 (step 10).
1). The magnetic disk device 10 executes an operation according to the received access command. Then, the magnetic disk device 10 reports the execution result to the host system 20 at any time regardless of whether the result is normal or abnormal. For example, if the termination is normal, Command Complete is reported as an execution result, and if abnormal, Check Condition is reported as an execution result. As a result of this report, if the access command has been executed normally (step 102 / Yes), the magnetic disk device 10 is determined to be normal (step 103) and waits until the next access command is sent.

【0048】また、磁気ディスク装置10がアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ102 /N
o)、ホストシステム20は再度同様のアクセス命令を磁
気ディスク装置10に送信する(リトライ動作)(ステッ
プ104 )。このリトライ動作の結果、アクセス命令が正
常に実行されていれば(ステップ105/Yes)、障害の兆
候は見られるものの磁気ディスク装置10は正常と判断さ
れて(ステップ103 )、次のアクセス命令が送出される
まで待機する。
When the magnetic disk device 10 does not normally receive the access command (step 102 / N
o), the host system 20 transmits a similar access command to the magnetic disk device 10 again (retry operation) (step 104). As a result of the retry operation, if the access command has been executed normally (step 105 / Yes), the magnetic disk device 10 is determined to be normal although there are signs of failure (step 103), and the next access command is executed. Wait until sent.

【0049】一方、磁気ディスク装置10に予め設定され
ている回数(例えば32回)のリトライを行ってもホス
トシステム20からのアクセス命令を正常に受け付けなか
った場合は(ステップ105 /No)、磁気ディスク装置10
はホストシステム20に障害の報告(Check Condition )
を行う(ステップ106 )。
On the other hand, if the access command from the host system 20 is not normally received even after retrying the magnetic disk device 10 a preset number of times (for example, 32 times) (step 105 / No), Disk unit 10
Reports a failure to the host system 20 (Check Condition)
Is performed (step 106).

【0050】次に、振動衝撃判断工程が振動衝撃判断部
12により以下のように実行される(ステップ107〜11
7)。ホストシステム20は障害報告を受けて、磁気ディ
スク装置10のコントローラ16に制御信号を送信する。コ
ントローラ16はMPU24にランナウト測定信号を送信す
る。MPU24は、アクセス命令を受けなかった該当トラ
ックのランナウト量を測定して、その測定値とメモリ26
に記録してある磁気ディスク装置10の固有のランナウト
量とを比較する(ステップ107 )。
Next, the vibration / impact determination step is performed by a vibration / impact determination section.
12 is executed as follows (steps 107 to 11)
7). Upon receiving the failure report, the host system 20 transmits a control signal to the controller 16 of the magnetic disk device 10. The controller 16 transmits a runout measurement signal to the MPU 24. The MPU 24 measures the runout amount of the relevant track for which no access command has been received, and stores the measured value in the memory 26
Is compared with the run-out amount specific to the magnetic disk device 10 recorded in the step (step 107).

【0051】比較の結果、測定ランナウト量が許容範囲
(例えば基準ランナウト量の±5%)内で有れば(ステ
ップ108/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行
して「障害要因は衝撃や振動によるものでは無い」とホ
ストシステム20に報告する(ステップ109 )。また、測
定ランナウト量が許容範囲外で有れば(ステップ108/N
o)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行してホスト
システム20に位置決め障害(Seek Error)が発生してい
ることを報告する。そして、ホストシステム20は、磁気
ディスク装置10のコントローラ16に制御信号を送信す
る。コントローラ16はMPU24に制御信号を送信する。
MPU24は磁気ディスク装置10のランナウト量を補正す
る(ステップ110 )。ランナウト量が適正値(例えば基
準ランナウト量の±3%以内)に補正されなければ(ス
テップ111 /No)、再びランナウト量を補正する(ステ
ップ110 )。
As a result of the comparison, if the measured run-out amount is within the allowable range (for example, ± 5% of the reference run-out amount) (step 108 / Yes), the magnetic disk device 10 executes the reporting process and executes It is not due to shock or vibration "(step 109). If the measured run-out amount is out of the allowable range (step 108 / N
o), the magnetic disk device 10 executes a reporting process to report to the host system 20 that a positioning error (Seek Error) has occurred. Then, the host system 20 transmits a control signal to the controller 16 of the magnetic disk device 10. The controller 16 sends a control signal to the MPU 24.
The MPU 24 corrects the runout amount of the magnetic disk drive 10 (Step 110). If the runout amount is not corrected to an appropriate value (for example, within ± 3% of the reference runout amount) (step 111 / No), the runout amount is corrected again (step 110).

【0052】ランナウト量が適正値に補正されてから
(ステップ111/Yes)、ホストシステム20は、磁気ディ
スク装置10にアクセス命令を送信する(ステップ112
)。ランナウト量の補正後に磁気ディスク装置10がホ
ストシステム20からのアクセス命令を実施して正常に終
了した場合は(ステップ113/Yes)、磁気ディスク装置
10は報告工程を実行して「障害要因は衝撃や振動による
ものである」とホストシステム20に報告する(ステップ
114 )。この結果により、障害要因の調査は、磁気ディ
スク装置10の個別障害や、システム筐体からの振動や、
外部からの衝撃等に着目して行えば良いと判断できる。
After the runout amount is corrected to an appropriate value (step 111 / Yes), the host system 20 transmits an access command to the magnetic disk device 10 (step 112).
). If the magnetic disk device 10 executes the access command from the host system 20 and ends normally after the correction of the runout amount (step 113 / Yes), the magnetic disk device
10 executes the reporting process and reports to the host system 20 that "the failure factor is due to shock or vibration" (step
114). Based on this result, the investigation of the cause of the failure is based on the individual failure of the magnetic disk device 10, vibration from the system housing,
It can be determined that it suffices to focus on external impacts and the like.

【0053】また、磁気ディスク装置10がアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ113 /N
o)、ホストシステム20は磁気ディスク装置10に対して
リトライ動作を行う(ステップ115 )。このリトライ動
作の結果、アクセス命令が正常に実行されていれば(ス
テップ116/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実
行して「障害要因は衝撃や振動によるものである」とホ
ストシステム20に報告する(ステップ114 )。これに対
し、磁気ディスク装置10に予め設定されている回数のリ
トライを行ってもホストシステム20からのアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ116 /N
o)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行して「障害
要因は振動や衝撃によるものでは無い」とホストシステ
ム20に報告する(ステップ117 )。
When the magnetic disk device 10 does not normally receive the access command (step 113 / N
o), the host system 20 performs a retry operation on the magnetic disk device 10 (step 115). As a result of the retry operation, if the access command has been executed normally (step 116 / Yes), the magnetic disk device 10 executes a reporting process and states that "the failure factor is due to shock or vibration". (Step 114). On the other hand, when the access command from the host system 20 is not normally received even after the magnetic disk device 10 has retried the preset number of times (step 116 / N).
o), the magnetic disk device 10 executes a reporting process and reports to the host system 20 that "the failure factor is not due to vibration or impact" (step 117).

【0054】さらに、温度上昇判断工程が温度上昇判断
部14によって以下のように実行される(ステップ118〜2
09)。すなわち、ステップ117またはステップ109におい
て「障害要因は振動や衝撃によるものでは無い」と判断
された場合には、ホストシステム20は磁気ディスク装置
10のコントローラ16に制御信号を送信する。コントロー
ラ16は温度センサ28に制御信号を送信する。温度センサ
28は磁気ディスク装置10の温度を測定する。そして、M
PU24は、その測定値とメモリ26に記録してある磁気デ
ィスク装置10の固有の基準温度値(例えば62℃)とを
比較する(ステップ118 )。
Further, the temperature rise determining step is executed by the temperature rise determining unit 14 as follows (steps 118 to 2).
09). That is, if it is determined in step 117 or 109 that “the failure factor is not due to vibration or shock”, the host system 20
The control signal is transmitted to the controller 16 of 10. The controller 16 sends a control signal to the temperature sensor 28. Temperature sensor
28 measures the temperature of the magnetic disk drive 10. And M
The PU 24 compares the measured value with a unique reference temperature value (for example, 62 ° C.) of the magnetic disk device 10 recorded in the memory 26 (Step 118).

【0055】比較の結果、測定温度が基準温度より低け
れば(ステップ201/Yes)、磁気ディスク装置10は報告
工程を実行して「障害要因は温度上昇によるものでは無
い」とホストシステム20に報告する(ステップ202 )。
また、測定温度が基準温度より高ければ(ステップ201
/No)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行してホス
トシステム20に温度障害が発生していることを報告す
る。そして、ホストシステム20は、ファン22に制御信号
を送信する。ファン22は、磁気ディスク装置10の温度を
補正する(ステップ203 )。温度が適正値に補正されな
ければ(ステップ204 /No)、更に温度を補正する(ス
テップ203 )。
As a result of the comparison, if the measured temperature is lower than the reference temperature (step 201 / Yes), the magnetic disk device 10 executes a reporting process and reports to the host system 20 that "the failure is not due to a rise in temperature". (Step 202).
If the measured temperature is higher than the reference temperature (step 201)
/ No), the magnetic disk device 10 executes a reporting process to report that a temperature failure has occurred in the host system 20. Then, the host system 20 transmits a control signal to the fan 22. The fan 22 corrects the temperature of the magnetic disk device 10 (Step 203). If the temperature is not corrected to an appropriate value (step 204 / No), the temperature is further corrected (step 203).

【0056】温度が適正値に補正されてから(ステップ
204/Yes)、ホストシステム20は、磁気ディスク装置10
にアクセス命令を送信する(ステップ205 )。温度の補
正後に磁気ディスク装置10がホストシステム20からのア
クセス命令を実施して正常に終了した場合は(ステップ
206/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行して
「障害要因は温度上昇によるものである」とホストシス
テム20に報告する(ステップ207 )。この結果により、
障害要因の調査は、IC類の不良や、サーマルオフトラ
ック等に着目して行えば良いと判断できる。
After the temperature is corrected to an appropriate value (step
204 / Yes), the host system 20
(Step 205). If the magnetic disk device 10 executes an access command from the host system 20 and ends normally after the temperature correction (step
206 / Yes), the magnetic disk device 10 executes the reporting process and reports to the host system 20 that "the failure factor is due to a rise in temperature" (step 207). With this result,
It can be determined that the investigation of the failure factor should be performed by focusing on the failure of the ICs, the thermal off-track, and the like.

【0057】また、磁気ディスク装置10がアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ206 /N
o)、ホストシステム20は磁気ディスク装置10に対して
リトライ動作を行う(ステップ208 )。このリトライ動
作の結果、アクセス命令が正常に実行されていれば(ス
テップ209/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実
行して「障害要因は温度上昇によるものである」とホス
トシステム20に報告する(ステップ207 )。これに対
し、磁気ディスク装置10に予め設定されている回数のリ
トライを行ってもホストシステム20からのアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ209 /N
o)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行して「障害
要因は温度上昇によるものでは無い」とホストシステム
20に報告する。この結果により、障害要因の調査は、振
動や衝撃と温度上昇以外の要因に着目して行えば良いと
判断できる。
When the magnetic disk device 10 does not normally receive the access command (step 206 / N).
o), the host system 20 performs a retry operation on the magnetic disk device 10 (step 208). As a result of the retry operation, if the access command has been executed normally (step 209 / Yes), the magnetic disk device 10 executes the reporting process and informs the host system 20 that "the failure is due to a rise in temperature". A report is made (step 207). On the other hand, if the access command from the host system 20 is not normally received even after the magnetic disk device 10 has retried the preset number of times (step 209 / N).
o), the magnetic disk drive 10 executes the reporting process and states that the failure is not due to a rise in temperature.
Report to 20. From this result, it can be determined that the investigation of the failure factor should be performed by focusing on factors other than vibration, impact, and temperature rise.

【0058】上述したように本実施形態の磁気ディスク
装置10によれば、障害が発生したときに振動衝撃判断部
12により振動衝撃判断工程を実行して障害の要因は振動
や衝撃であるか否かを判断しており、この判断は回路上
の内部処理のみで行われるので、ショックセンサを用い
ることなく障害の要因を特定することができる。よっ
て、障害の要因を特定可能としながらもショックセンサ
を用いた従来の磁気ディスク装置よりも回路構成の簡易
化を図ると共に、部品点数を減少してコストの上昇や装
置の大型化を抑えることができる。
As described above, according to the magnetic disk drive 10 of this embodiment, when a failure occurs, the vibration / impact determination unit
A vibration / impact determination process is performed according to step 12 to determine whether the cause of the failure is vibration or impact.Since this determination is performed only by internal processing on the circuit, the failure can be determined without using a shock sensor. Factors can be identified. Therefore, the circuit configuration can be simplified compared to the conventional magnetic disk drive using a shock sensor while the cause of the failure can be specified, and the number of parts can be reduced to suppress an increase in cost and an increase in the size of the drive. it can.

【0059】また、本実施形態の磁気ディスク装置10に
よれば、振動衝撃判断部12と温度上昇判断部14とを備え
ているので、障害の要因が振動や衝撃によるものか、ま
たは温度上昇によるものかを判断することができる。こ
のため、障害要因の明確化を図ることができると共に障
害の早期改善を実現できる。
Further, according to the magnetic disk device 10 of the present embodiment, since the vibration / impact judging unit 12 and the temperature rise judging unit 14 are provided, the cause of the failure is vibration or impact or the temperature rise. Can be determined. For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0060】さらに、本実施形態の磁気ディスク装置10
によれば、報告部により報告工程を実行しているので、
障害の要因が上位装置に報告される。このため、上位装
置が障害の要因を早急に使用者等に知らせることがで
き、使用者等は障害に対して迅速な処置を採ることがで
きる。
Further, the magnetic disk drive 10 of the present embodiment
According to the report department is executing the reporting process,
The cause of the failure is reported to the host device. For this reason, the host device can promptly notify the user of the cause of the failure, and the user can take prompt measures for the failure.

【0061】なお、ここに説明した実施形態は本発明の
好ましい一形態であって、本発明はこれに限定されるも
のではなく、要旨を逸脱しない範囲において種々変形し
て実施できることは勿論である。例えば、上述した実施
形態では、磁気ディスク装置10の障害解析方法を実行す
るために振動衝撃判断部12と温度上昇判断部14とを設け
ているが、少なくとも振動衝撃判断部12が有れば良い。
すなわち、振動衝撃判断部12が振動衝撃判断工程を実行
すればショックセンサを用いることなく障害の要因が振
動や衝撃であるかを特定できるので、回路構成の簡易化
を図ると共に部品点数を減少してコストの上昇や装置の
大型化を抑えることができる。
The embodiment described here is a preferred embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to this, and it is needless to say that various modifications can be made without departing from the scope of the invention. . For example, in the above-described embodiment, the vibration impact determination unit 12 and the temperature rise determination unit 14 are provided to execute the failure analysis method of the magnetic disk device 10. However, at least the vibration impact determination unit 12 may be provided. .
That is, if the vibration / impact determination unit 12 performs the vibration / impact determination step, it is possible to specify whether the cause of the failure is vibration or impact without using a shock sensor, thereby simplifying the circuit configuration and reducing the number of parts. Therefore, it is possible to suppress an increase in cost and an increase in the size of the apparatus.

【0062】また、上述した実施形態では、磁気ディス
ク装置10の障害解析方法を実行するために振動衝撃判断
部12の他に温度上昇判断部14を設けているが、これには
限られず温度上昇判断部14の代わりに例えば電圧異常判
断部30を設けるようにしても良い。ここで、電圧異常判
断部30は、予めメモリ26に記録しておいた基準電圧と障
害発生時に測定した測定電圧とを比較した結果に基づい
て障害の要因は電圧異常であるか否かを判断するもので
ある。あるいは、振動衝撃判断部12以外に温度上昇判断
部14及び電圧異常判断部30を備えるようにしても良い。
この場合は、磁気ディスク装置10の障害の要因が振動や
衝撃か温度上昇か電圧異常かを判断することができるの
で、障害要因の更なる明確化を図ることができる。
In the above-described embodiment, the temperature rise judging unit 14 is provided in addition to the vibration / impact judging unit 12 in order to execute the failure analysis method for the magnetic disk device 10. However, the present invention is not limited to this. For example, a voltage abnormality determination unit 30 may be provided instead of the determination unit 14. Here, the voltage abnormality determination unit 30 determines whether the cause of the failure is a voltage abnormality based on a result of comparing the reference voltage recorded in the memory 26 in advance with the measured voltage measured at the time of occurrence of the failure. Is what you do. Alternatively, a temperature rise judging unit 14 and a voltage abnormality judging unit 30 may be provided in addition to the vibration impact judging unit 12.
In this case, it is possible to determine whether the cause of the failure of the magnetic disk device 10 is vibration, shock, temperature rise, or abnormal voltage, so that the cause of the failure can be further clarified.

【0063】ここで、図4に振動衝撃判断部12及び電圧
異常判断部30を備える磁気ディスク装置10の実施形態を
示す。この磁気ディスク装置10は、図3に示す磁気ディ
スク装置10の温度上昇判断部14を電圧異常判断部30に置
換すると共に、図3に示す磁気ディスク装置10で実行し
ている温度上昇判断工程を電圧異常判断工程に置換した
ものである。この電圧異常判断工程は、MPU24とメモ
リ26と電圧センサ32とを備えており、障害の発生が検出
された後に、予めメモリ26に記録しておいた基準電圧と
障害発生時に測定した測定電圧とを比較して、測定電圧
が基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁
気ディスク装置10の電圧を適正範囲内の適正値に補正し
て、この補正により障害が発生しなくなった場合は障害
の要因は電圧異常であると判断するものである。そし
て、この電圧異常判断工程は電圧異常判断部30により実
行される。なお、この磁気ディスク装置10の電圧異常判
断部30以外の構成は、図3に示す磁気ディスク装置10と
同様であるので説明を省略する。
FIG. 4 shows an embodiment of the magnetic disk drive 10 provided with the vibration / impact judging unit 12 and the voltage abnormality judging unit 30. The magnetic disk device 10 replaces the temperature rise determination unit 14 of the magnetic disk device 10 shown in FIG. 3 with a voltage abnormality determination unit 30 and performs a temperature rise determination process performed by the magnetic disk device 10 shown in FIG. This is replaced with a voltage abnormality determination step. This voltage abnormality determination step includes the MPU 24, the memory 26, and the voltage sensor 32. After the occurrence of the failure is detected, the reference voltage previously recorded in the memory 26 and the measured voltage measured at the time of the failure If the measured voltage is out of the proper range set based on the reference voltage, the voltage of the magnetic disk device 10 is corrected to a proper value within the proper range, and no fault is caused by this correction. Is to judge that the cause of the failure is an abnormal voltage. This voltage abnormality determination step is performed by the voltage abnormality determination unit 30. The configuration of the magnetic disk device 10 other than the voltage abnormality determination unit 30 is the same as that of the magnetic disk device 10 shown in FIG.

【0064】この磁気ディスク装置10の動作を図5及び
図6に示すフローチャートに沿って説明する。ここで、
このフローチャートのステップ501〜517は、上述した図
1及び図2に示すフローチャートのステップ101〜117と
同様であるので説明を省略する。
The operation of the magnetic disk device 10 will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS. here,
Steps 501 to 517 of this flowchart are the same as steps 101 to 117 of the flowcharts shown in FIGS.

【0065】振動衝撃判断工程が終了すると(ステップ
517 )、電圧異常判断工程が電圧異常判断部30によって
以下のように実行される(ステップ518〜609)。すなわ
ち、ステップ517またはステップ509において「障害要因
は振動や衝撃によるものでは無い」と判断された場合に
は、ホストシステム20は磁気ディスク装置10のコントロ
ーラ16に制御信号を送信する。コントローラ16は電圧セ
ンサ32に制御信号を送信する。電圧センサ32は磁気ディ
スク装置10の電圧を測定する。そして、MPU24は、そ
の測定値とメモリ26に記録してある磁気ディスク装置10
の基準電圧値とを比較する(ステップ518 )。
When the vibration / impact determination process is completed (step
517), a voltage abnormality determination step is performed by the voltage abnormality determination unit 30 as follows (steps 518 to 609). That is, when it is determined in step 517 or step 509 that “the failure factor is not due to vibration or impact”, the host system 20 transmits a control signal to the controller 16 of the magnetic disk device 10. The controller 16 sends a control signal to the voltage sensor 32. The voltage sensor 32 measures the voltage of the magnetic disk device 10. Then, the MPU 24 reads the measured value and the magnetic disk device 10 recorded in the memory 26.
Is compared with the reference voltage value (step 518).

【0066】比較の結果、測定電圧が基準電圧に基づい
て設定した適正範囲内であれば(ステップ601/Yes)、
磁気ディスク装置10は報告工程を実行して「障害要因は
電圧上昇によるものではない」とホストシステム20に報
告する(ステップ602 )。また、測定電圧が適正範囲外
であれば(ステップ601 /No)、磁気ディスク装置10は
報告工程を実行してホストシステム20に電圧障害が発生
していることを報告する。そして、ホストシステム20
は、電源18に制御信号を送信する。電源18は、磁気ディ
スク装置10の電圧を補正する(ステップ603 )。電圧が
適正値に補正されなければ(ステップ604 /No)、更に
電圧を補正する(ステップ603 )。
As a result of the comparison, if the measured voltage is within the proper range set based on the reference voltage (step 601 / Yes),
The magnetic disk device 10 executes a reporting process and reports to the host system 20 that "the cause of the failure is not due to an increase in voltage" (step 602). If the measured voltage is outside the proper range (No in step 601 /), the magnetic disk device 10 executes a reporting process to report to the host system 20 that a voltage failure has occurred. And the host system 20
Transmits a control signal to the power supply 18. The power supply 18 corrects the voltage of the magnetic disk device 10 (Step 603). If the voltage is not corrected to an appropriate value (step 604 / No), the voltage is further corrected (step 603).

【0067】電圧が適正値に補正されてから(ステップ
604/Yes)、ホストシステム20は、磁気ディスク装置10
にアクセス命令を送信する(ステップ605 )。電圧の補
正後に磁気ディスク装置10がホストシステム20からのア
クセス命令を実施して正常に終了した場合は(ステップ
606/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行して
「障害要因は電圧上昇によるものである」とホストシス
テム20に報告する(ステップ607 )。この結果により、
障害要因の調査は、電源18と磁気ディスク装置10の間の
接触不良や、IC類の不良等に着目して行えば良いと判
断できる。
After the voltage is corrected to an appropriate value (step
604 / Yes), the host system 20
(Step 605). If the magnetic disk device 10 executes the access command from the host system 20 after the voltage correction and ends normally,
606 / Yes), the magnetic disk device 10 executes the reporting process and reports to the host system 20 that "the failure factor is due to an increase in voltage" (step 607). With this result,
It can be determined that the investigation of the cause of the failure should be performed by focusing on the contact failure between the power supply 18 and the magnetic disk device 10 and the failure of the ICs.

【0068】また、磁気ディスク装置10がアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ606 /N
o)、ホストシステム20は磁気ディスク装置10に対して
リトライ動作を行う(ステップ608 )。このリトライ動
作の結果、アクセス命令が正常に実行されていれば(ス
テップ609/Yes)、磁気ディスク装置10は報告工程を実
行して「障害要因は電圧上昇によるものである」とホス
トシステム20に報告する(ステップ607 )。これに対
し、磁気ディスク装置10に予め設定されている回数のリ
トライを行ってもホストシステム20からのアクセス命令
を正常に受け付けなかった場合は(ステップ609 /N
o)、磁気ディスク装置10は報告工程を実行して「障害
要因は電圧上昇によるものではない」とホストシステム
20に報告する。この結果により、障害要因の調査は、振
動や衝撃と電圧異常以外の要因に着目して行えば良いと
判断できる。
If the magnetic disk device 10 has not normally accepted the access command (step 606 / N).
o), the host system 20 performs a retry operation on the magnetic disk device 10 (step 608). As a result of the retry operation, if the access command has been executed normally (step 609 / Yes), the magnetic disk device 10 executes the reporting process and informs the host system 20 that "the failure is due to a voltage increase". Report (step 607). On the other hand, if the access command from the host system 20 is not normally received even after retrying the magnetic disk device 10 a preset number of times (step 609 / N).
o), the magnetic disk drive 10 executes the reporting process and states that the failure is not due to a voltage increase
Report to 20. From this result, it can be determined that the investigation of the failure factor should be performed by focusing on factors other than vibration, shock, and voltage abnormality.

【0069】この実施形態の磁気ディスク装置10によっ
ても、ショックセンサを用いることなく障害の要因を特
定することができるので、障害の要因を特定可能としな
がらもショックセンサを用いた従来の磁気ディスク装置
10よりも回路構成の簡易化を図ると共に、部品点数を減
少してコストの上昇や装置の大型化を抑えることができ
る。
According to the magnetic disk drive 10 of this embodiment, the cause of the failure can be specified without using a shock sensor. Therefore, the conventional magnetic disk drive using the shock sensor can be specified while the cause of the failure can be specified.
In addition to simplifying the circuit configuration as compared with 10, it is possible to reduce the number of parts and suppress an increase in cost and an increase in the size of the device.

【0070】一方、上述した各実施形態では振動衝撃判
断部12において、測定ランナウト量が基準ランナウト量
に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク
装置10のランナウト量を適正範囲内の適正値に補正して
作動させ、この補正により障害が発生しなくなった場合
は障害の要因は振動や衝撃であると判断しているが、こ
れには限られず測定ランナウト量が基準ランナウト量に
基づいて設定した適正範囲外であれば障害の要因は振動
や衝撃であると判断するようにしても良い。この場合、
ランナウト量を適正値に補正する作業が不要になるの
で、障害の要因の特定を更に迅速に行うことができる。
On the other hand, in each of the above-described embodiments, if the measured runout amount is out of the appropriate range set based on the reference runout amount, the runout amount of the magnetic disk drive 10 is adjusted to be within the appropriate range. When the fault is no longer caused by this correction, it is determined that the cause of the fault is vibration or impact.However, the measured runout amount is not limited to this, and the measured runout amount is determined based on the reference runout amount. If it is outside the set appropriate range, the cause of the failure may be determined to be vibration or impact. in this case,
Since the operation of correcting the runout amount to an appropriate value becomes unnecessary, the cause of the failure can be more quickly identified.

【0071】同様に、上述した図1〜図3に示す実施形
態では温度上昇判断部14において、測定温度が基準温度
に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク
装置10をファン22により冷却して温度を適正範囲内の適
正値に補正して、この補正により障害が発生しなくなっ
た場合は障害の要因は温度上昇であると判断している
が、これには限られず測定温度が基準温度に基づいて設
定した適正範囲外であれば障害の要因は温度上昇である
と判断するようにしても良い。この場合、ファン22を作
動させて温度を下げる必要が無いので、障害の要因の特
定を更に迅速に行うことができる。
Similarly, in the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 described above, if the measured temperature is outside the appropriate range set based on the reference temperature, the magnetic disk device 10 is After cooling, the temperature is corrected to an appropriate value within the appropriate range, and if this correction no longer causes a failure, it is determined that the cause of the failure is temperature rise.However, the measurement temperature is not limited to this. If the temperature is outside the appropriate range set based on the reference temperature, the cause of the failure may be determined to be a temperature rise. In this case, since there is no need to lower the temperature by operating the fan 22, it is possible to more quickly identify the cause of the failure.

【0072】さらに、上述した図4〜図6に示す実施形
態では電圧異常判断部30において、測定電圧が基準電圧
に基づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク
装置10の電圧を適正範囲内の適正値に補正して、この補
正により障害が発生しなくなった場合は障害の要因は電
圧異常であると判断しているが、これには限られず測定
電圧が基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば
障害の要因は電圧異常であると判断するようにしても良
い。この場合、電圧を調整する必要が無いので、障害の
要因の特定を更に迅速に行うことができる。
Further, in the embodiment shown in FIGS. 4 to 6 described above, if the measured voltage is out of the appropriate range set based on the reference voltage, the voltage of the magnetic disk device 10 is adjusted by the voltage abnormality judging unit 30 to the appropriate range. Is corrected to an appropriate value within, and if this correction no longer causes a failure, it is determined that the cause of the failure is abnormal voltage, but the measurement voltage is not limited to this and is set based on the reference voltage. If it is out of the appropriate range, the cause of the failure may be determined to be an abnormal voltage. In this case, since there is no need to adjust the voltage, the cause of the failure can be specified more quickly.

【0073】また、上述した各実施形態において基準値
や適正範囲等を予めメモリ26に設定しているが、これら
基準値や適正範囲等の具体的な数値は実際の装置等に応
じて適宜設定可能である。
In each of the above-described embodiments, the reference value, the appropriate range, and the like are set in the memory 26 in advance. However, specific numerical values, such as the reference value and the appropriate range, are set as appropriate according to the actual device. It is possible.

【0074】[0074]

【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る磁
気ディスク装置の障害解析方法によれば、振動衝撃判断
工程の実行により障害の要因は振動や衝撃であるかの判
断を回路上の内部処理のみで行うことができるので、シ
ョックセンサを用いることなく障害の要因を特定するこ
とができる。よって、障害の要因を特定可能としながら
もショックセンサを用いた従来の磁気ディスク装置より
も回路構成の簡易化を図ると共に、部品点数を減少して
コストの上昇や装置の大型化を抑えることができる。
As described above, according to the failure analysis method for a magnetic disk drive according to the present invention, the execution of the vibration / impact determination step determines whether the cause of the failure is vibration or impact. Since it can be performed only by processing, the cause of the failure can be specified without using a shock sensor. Therefore, the circuit configuration can be simplified compared to the conventional magnetic disk drive using a shock sensor while the cause of the failure can be specified, and the number of parts can be reduced to suppress an increase in cost and an increase in the size of the drive. it can.

【0075】また、請求項2の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法によれば、ランナウト量を適正値に
補正して磁気ディスク装置が正常に作動することを確認
してから障害の要因を特定しているので、特定の精度を
向上させることができる。
According to the magnetic disk drive failure analysis method according to the second aspect of the present invention, the runout amount is corrected to an appropriate value, and after confirming that the magnetic disk drive operates normally, the cause of the failure is determined. Since it is specified, specific accuracy can be improved.

【0076】また、請求項3の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法によれば、振動衝撃判断工程の他に
温度上昇判断工程を備えているので、障害の要因が振動
や衝撃によるものか、または温度上昇によるものかを判
断することができる。このため、障害要因の明確化を図
ることができると共に障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive failure analysis method of the third aspect of the present invention, since the temperature rise determination step is provided in addition to the vibration / impact determination step, whether the cause of the failure is vibration or impact. Or a temperature rise. For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0077】また、請求項4の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法によれば、温度を適正値に補正して
磁気ディスク装置が正常に作動することを確認してから
障害の要因を特定しているので、特定の精度を向上させ
ることができる。
According to the magnetic disk drive failure analysis method of the present invention, the cause of the failure is specified after correcting the temperature to an appropriate value and confirming that the magnetic disk drive operates normally. Therefore, specific accuracy can be improved.

【0078】また、請求項5の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法によれば、振動衝撃判断工程の他に
電圧異常判断工程を備えているので、障害の要因が振動
や衝撃によるものか、または電圧異常によるものか、さ
らには温度上昇によるものかを判断することができる。
このため、障害要因の明確化を図ることができると共に
障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive failure analysis method according to the fifth aspect of the present invention, since the voltage abnormality determination step is provided in addition to the vibration / impact determination step, whether the cause of the failure is vibration or impact. , Or a voltage abnormality, and furthermore, a temperature rise.
For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0079】また、請求項6の発明に係る磁気ディスク
装置の障害解析方法によれば、電圧を適正値に補正して
磁気ディスク装置が正常に作動することを確認してから
障害の要因を特定しているので、特定の精度を向上させ
ることができる。
According to the magnetic disk drive failure analysis method of the present invention, the cause of the failure is specified after correcting the voltage to an appropriate value and confirming that the magnetic disk drive operates normally. Therefore, specific accuracy can be improved.

【0080】一方、請求項7または請求項8の発明に係
る磁気ディスク装置の障害報告方法によれば、障害検出
工程の実行により障害の発生が検出され、振動衝撃判断
工程の実行により障害の要因は振動や衝撃であるか否か
が判断されて、報告工程の実行により判断の結果が上位
装置に報告される。このため、上位装置が障害の要因を
早急に使用者等に知らせることができるので、使用者等
は障害に対して迅速な処置を採ることができる。
On the other hand, according to the magnetic disk drive fault reporting method of the present invention, the occurrence of the fault is detected by executing the fault detecting step, and the cause of the fault is detected by executing the vibration / impact determination step. Is determined as to whether it is vibration or impact, and the result of the determination is reported to the host device by executing the reporting process. For this reason, the host device can immediately notify the user or the like of the cause of the failure, so that the user or the like can take prompt measures for the failure.

【0081】また、請求項9または請求項10の発明に
係る磁気ディスク装置の障害報告方法によれば、障害の
要因が振動や衝撃によるものか、または温度上昇による
ものかを判断することができる。このため、障害要因の
明確化を図ることができると共に障害の早期改善を実現
できる。
According to the magnetic disk drive fault reporting method according to the ninth or tenth aspect of the present invention, it is possible to determine whether the fault is caused by vibration or impact, or by a rise in temperature. . For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0082】また、請求項11または請求項12の発明
に係る磁気ディスク装置の障害報告方法によれば、障害
の要因が振動や衝撃によるものか、または電圧異常によ
るものか、さらには温度上昇によるものかを判断するこ
とができる。このため、障害要因の明確化を図ることが
できると共に障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive fault reporting method according to the eleventh or twelfth aspect of the present invention, whether the cause of the fault is vibration or shock, abnormal voltage, or temperature rise Can be determined. For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0083】他方、請求項13または請求項14の発明
に係る磁気ディスク装置によれば、振動衝撃判断部の実
行により障害の要因は振動や衝撃であるかの判断を回路
上の内部処理のみで行うことができるので、ショックセ
ンサを用いることなく障害の要因を特定することができ
る。よって、障害の要因を特定可能としながらもショッ
クセンサを用いた従来の磁気ディスク装置よりも回路構
成の簡易化を図ると共に、部品点数を減少してコストの
上昇や装置の大型化を抑えることができる。
On the other hand, according to the magnetic disk drive of the thirteenth or fourteenth aspect of the present invention, the execution of the vibration / impact determination unit makes it possible to determine whether the cause of the failure is vibration or impact only by internal processing on the circuit. Since it can be performed, the cause of the failure can be specified without using a shock sensor. Therefore, the circuit configuration can be simplified compared to the conventional magnetic disk drive using a shock sensor while the cause of the failure can be specified, and the number of parts can be reduced to suppress an increase in cost and an increase in the size of the drive. it can.

【0084】また、請求項15または請求項16の発明
に係る磁気ディスク装置によれば、振動衝撃判断部の他
に温度上昇判断部を備えているので、障害の要因が振動
や衝撃によるものか、または温度上昇によるものかを判
断することができる。このため、障害要因の明確化を図
ることができると共に障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive of the present invention, since the temperature rise judging unit is provided in addition to the vibration impact judging unit, whether the cause of the failure is vibration or impact. Or a temperature rise. For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0085】また、請求項17または請求項18の発明
に係る磁気ディスク装置によれば、振動衝撃判断部の他
に電圧異常判断部を備えているので、障害の要因が振動
や衝撃によるものか、または電圧異常によるものか、さ
らには温度上昇によるものかを判断することができる。
このため、障害要因の明確化を図ることができると共に
障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive of the seventeenth or eighteenth aspect of the present invention, since the voltage abnormality judging unit is provided in addition to the vibration / shock judging unit, whether the cause of the failure is vibration or shock. , Or a voltage abnormality, and furthermore, a temperature rise.
For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0086】また、請求項19または請求項20の発明
に係る磁気ディスク装置によれば、障害検出部の実行に
より障害の発生が検出され、振動衝撃判断部の実行によ
り障害の要因は振動や衝撃であるか否かが判断されて、
報告部の実行により判断の結果が上位装置に報告され
る。このため、上位装置が障害の要因を早急に使用者等
に知らせることができるので、使用者等は障害に対して
迅速な処置を採ることができる。
According to the magnetic disk drive of the present invention, the occurrence of a failure is detected by the execution of the failure detection unit, and the cause of the failure is vibration or impact by the execution of the vibration / shock determination unit. It is determined whether or not
The result of the determination is reported to the host device by the execution of the report unit. For this reason, the host device can immediately notify the user or the like of the cause of the failure, so that the user or the like can take prompt measures for the failure.

【0087】また、請求項21または請求項22の発明
に係る磁気ディスク装置によれば、障害の要因が振動や
衝撃によるものか、または温度上昇によるものかを判断
することができる。このため、障害要因の明確化を図る
ことができると共に障害の早期改善を実現できる。
Further, according to the magnetic disk drive of the present invention, it is possible to determine whether the cause of the failure is vibration or shock or a rise in temperature. For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【0088】そして、請求項23または請求項24の発
明に係る磁気ディスク装置によれば、障害の要因が振動
や衝撃によるものか、または電圧異常によるものか、さ
らには温度上昇によるものかを判断することができる。
このため、障害要因の明確化を図ることができると共に
障害の早期改善を実現できる。
According to the magnetic disk drive of the present invention, it is determined whether the failure is caused by vibration or shock, an abnormal voltage, or a temperature rise. can do.
For this reason, it is possible to clarify the cause of the failure and to realize early improvement of the failure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の磁気ディスク装置の障害報告方法を説
明するための一部のフローチャートである。
FIG. 1 is a partial flowchart illustrating a method for reporting a failure in a magnetic disk drive according to the present invention.

【図2】本発明の磁気ディスク装置の障害報告方法を説
明するためのフローチャートであって、図1のフローチ
ャートに続くものである。
FIG. 2 is a flowchart for explaining a method of reporting a failure of the magnetic disk device of the present invention, which is subsequent to the flowchart of FIG. 1;

【図3】本発明の磁気ディスク装置及びその周辺の概略
を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram schematically showing a magnetic disk drive according to the present invention and its periphery.

【図4】磁気ディスク装置及びその周辺の他の実施形態
を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the magnetic disk drive and its surroundings.

【図5】磁気ディスク装置の障害報告方法の他の実施形
態を説明するための一部のフローチャートである。
FIG. 5 is a partial flowchart for explaining another embodiment of a method for reporting a failure of a magnetic disk device.

【図6】磁気ディスク装置の障害報告方法の他の実施形
態を説明するためのフローチャートであって、図5のフ
ローチャートに続くものである。
FIG. 6 is a flowchart for explaining another embodiment of the failure reporting method of the magnetic disk device, and is a continuation of the flowchart of FIG. 5;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 磁気ディスク装置 12 振動衝撃判断部 14 温度上昇判断部 16 コントローラ(障害検出部、報告部) 20 ホストシステム(上位装置) 22 ファン 26 メモリ 30 電圧異常判断部 10 Magnetic disk unit 12 Vibration / shock judging unit 14 Temperature rise judging unit 16 Controller (fault detecting unit, reporting unit) 20 Host system (host device) 22 Fan 26 Memory 30 Voltage abnormal judging unit

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気ディスク装置に障害が発生したとき
に前記障害の要因を判別する磁気ディスク装置の障害解
析方法において、 正常動作時に予めメモリに記録した基準ランナウト量と
障害発生時に測定した測定ランナウト量とを比較して、
前記測定ランナウト量が前記基準ランナウト量に基づい
て設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は振動
や衝撃であると判断する振動衝撃判断工程を有すること
を特徴とする磁気ディスク装置の障害解析方法。
1. A failure analysis method for a magnetic disk drive, which determines the cause of the failure when a failure occurs in the magnetic disk drive, comprising: a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation; Compare with the amount,
If the measured run-out amount is out of an appropriate range set based on the reference run-out amount, the method further comprises a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact. analysis method.
【請求項2】 磁気ディスク装置に障害が発生したとき
に前記障害の要因を判別する磁気ディスク装置の障害解
析方法において、 正常動作時に予めメモリに記録した基準ランナウト量と
障害発生時に測定した測定ランナウト量とを比較して、
前記測定ランナウト量が前記基準ランナウト量に基づい
て設定した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク装置
のランナウト量を前記適正範囲内の適正値に補正して作
動させ、この補正により前記障害が発生しなくなった場
合は前記障害の要因は振動や衝撃であると判断する振動
衝撃判断工程を有することを特徴とする磁気ディスク装
置の障害解析方法。
2. A failure analysis method for a magnetic disk drive, which determines the cause of the failure when a failure occurs in the magnetic disk drive, comprising: a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation; Compare with the amount,
If the measured runout amount is out of the proper range set based on the reference runout amount, the magnetic disk drive is operated by correcting the runout amount to a proper value within the proper range, and the correction causes the failure. A failure analysis method for a magnetic disk drive, characterized by comprising a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact when the failure has occurred.
【請求項3】 予めメモリに記録した基準温度と障害発
生時に測定した測定温度とを比較して、前記測定温度が
前記基準温度に基づいて設定した適正範囲外であれば、
前記障害の要因は温度上昇であると判断する温度上昇判
断工程を有することを特徴とする請求項1または請求項
2に記載の磁気ディスク装置の障害解析方法。
3. A comparison between a reference temperature recorded in advance in a memory and a measured temperature measured at the time of occurrence of a fault, and if the measured temperature is out of an appropriate range set based on the reference temperature,
3. The failure analysis method for a magnetic disk drive according to claim 1, further comprising a temperature rise determination step of determining that the cause of the failure is a temperature rise.
【請求項4】 予めメモリに記録した基準温度と障害発
生時に測定した測定温度とを比較して、前記測定温度が
前記基準温度に基づいて設定した適正範囲外であれば、
前記磁気ディスク装置をファンにより冷却して温度を前
記適正範囲内の適正値に補正して、この補正により前記
障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は温度上
昇であると判断する温度上昇判断工程を有することを特
徴とする請求項1または請求項2に記載の磁気ディスク
装置の障害解析方法。
4. A comparison between a reference temperature recorded in a memory in advance and a measurement temperature measured at the time of occurrence of a failure, and if the measured temperature is out of an appropriate range set based on the reference temperature,
The magnetic disk drive is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, the failure is determined to be caused by a temperature increase. 3. The method according to claim 1, further comprising a determining step.
【請求項5】 予めメモリに記録した基準電圧と障害発
生時に測定した測定電圧とを比較して、前記測定電圧が
前記基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば、
前記障害の要因は電圧異常であると判断する電圧異常判
断工程を有することを特徴とする請求項1ないし請求項
4のいずれかに記載の磁気ディスク装置の障害解析方
法。
5. A method for comparing a reference voltage previously recorded in a memory with a measured voltage measured at the time of occurrence of a fault, and determining that the measured voltage is out of an appropriate range set based on the reference voltage.
5. The failure analysis method for a magnetic disk drive according to claim 1, further comprising a voltage abnormality determination step of determining that the cause of the failure is a voltage abnormality.
【請求項6】 予めメモリに記録した基準電圧と障害発
生時に測定した測定電圧とを比較して、前記測定電圧が
前記基準電圧に基づいて設定した適正範囲外であれば、
磁気ディスク装置の電圧を前記適正範囲内の適正値に補
正して、この補正により前記障害が発生しなくなった場
合は前記障害の要因は電圧異常であると判断する電圧異
常判断工程を有することを特徴とする請求項1ないし請
求項4のいずれかに記載の磁気ディスク装置の障害解析
方法。
6. A comparison between a reference voltage recorded in a memory in advance and a measured voltage measured at the time of occurrence of a failure, and if the measured voltage is out of an appropriate range set based on the reference voltage,
A voltage abnormality determining step of correcting the voltage of the magnetic disk device to a proper value within the proper range, and determining that the cause of the trouble is a voltage abnormality when the correction does not cause the trouble. 5. The failure analysis method for a magnetic disk drive according to claim 1, wherein:
【請求項7】 磁気ディスク装置に障害が発生したとき
に前記障害の要因を判別して上位装置に報告する磁気デ
ィスク装置の障害報告方法において、 前記磁気ディスク装置が前記上位装置からの少なくとも
1回のアクセス命令を受け付けないときに前記障害が発
生したことを検出する障害検出工程と、 前記障害の発生が検出された後に、正常動作時に予めメ
モリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定し
た測定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト
量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記障害の要因は振動や衝撃であると判断
する振動衝撃判断工程と、 前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置に報
告する報告工程とを有することを特徴とする磁気ディス
ク装置の障害報告方法。
7. A method for reporting a failure of a magnetic disk device when a failure occurs in the magnetic disk device and reporting the cause of the failure to a higher-level device, wherein the magnetic disk device is provided at least once from the higher-level device. A failure detection step of detecting that the failure has occurred when the access command is not received, and a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation after the failure has been detected and a measurement measured at the time of the failure occurrence. Comparing the runout amount with the runout amount, if the measured runout amount is out of the appropriate range set based on the reference runout amount, a vibration impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact; And reporting the cause to the higher-level device after determining the cause of the problem.
【請求項8】 磁気ディスク装置に障害が発生したとき
に前記障害の要因を判別して上位装置に報告する磁気デ
ィスク装置の障害報告方法において、 前記磁気ディスク装置が前記上位装置からの少なくとも
1回のアクセス命令を受け付けないときに前記障害が発
生したことを検出する障害検出工程と、 前記障害の発生が検出された後に、正常動作時に予めメ
モリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定し
た測定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト
量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記磁気ディスク装置のランナウト量を前
記適正範囲内の適正値に補正して作動させ、この補正に
より前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因
は振動や衝撃であると判断する振動衝撃判断工程と、 前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置に報
告する報告工程とを有することを特徴とする磁気ディス
ク装置の障害報告方法。
8. A method of reporting a failure of a magnetic disk device when a failure occurs in the magnetic disk device and reporting the cause of the failure to a higher-level device, wherein the magnetic disk device is provided at least once from the higher-level device. A failure detection step of detecting that the failure has occurred when the access command is not received, and a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation after the failure has been detected and a measurement measured at the time of the failure occurrence. By comparing the runout amount with the runout amount, if the measured runout amount is outside the appropriate range set based on the reference runout amount, the magnetic disk device is operated by correcting the runout amount to an appropriate value within the appropriate range. And a vibration / impact determination step of determining that the cause of the failure is vibration or impact when the failure is no longer caused by this correction. Failure report method for a magnetic disk apparatus characterized by having a reporting step for reporting the cause to the upper apparatus after the determination of factors of the disorder.
【請求項9】 前記障害の発生が検出された後に、予め
メモリに記録した基準温度と障害発生時に測定した測定
温度とを比較して、前記測定温度が前記基準温度に基づ
いて設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は温
度上昇であると判断する温度上昇判断工程を有すること
を特徴とする請求項7または請求項8に記載の磁気ディ
スク装置の障害報告方法。
9. After the occurrence of the failure is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measurement temperature measured at the time of the failure, and the measured temperature is set to an appropriate range based on the reference temperature. 9. The method according to claim 7, further comprising a temperature rise determining step of determining that the cause of the failure is a temperature rise if the failure is outside.
【請求項10】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準温度と障害発生時に測定した測
定温度とを比較して、前記測定温度が前記基準温度に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク
装置をファンにより冷却して温度を前記適正範囲内の適
正値に補正して、この補正により前記障害が発生しなく
なった場合は前記障害の要因は温度上昇であると判断す
る温度上昇判断工程を有することを特徴とする請求項7
または請求項8に記載の磁気ディスク装置の障害報告方
法。
10. After the occurrence of the fault is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of occurrence of the fault, and the measured temperature is set in an appropriate range set based on the reference temperature. Otherwise, the magnetic disk device is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, the cause of the failure is a rise in temperature. 8. A temperature rise judging step of judging that the temperature rises.
9. The method for reporting a failure of a magnetic disk drive according to claim 8.
【請求項11】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準電圧と障害発生時に測定した測
定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は
電圧異常であると判断する電圧異常判断工程を有するこ
とを特徴とする請求項7ないし請求項10のいずれかに
記載の磁気ディスク装置の障害報告方法。
11. After the occurrence of the fault is detected, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of the occurrence of the fault, and the measured voltage is set to an appropriate range set based on the reference voltage. 11. The method according to claim 7, further comprising a voltage abnormality determining step of determining that the cause of the failure is a voltage abnormality if it is outside.
【請求項12】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準電圧と障害発生時に測定した測
定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基
づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク装置
の電圧を前記適正範囲内の適正値に補正して、この補正
により前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要
因は電圧異常であると判断する電圧異常判断工程を有す
ることを特徴とする請求項7ないし請求項10のいずれ
かに記載の磁気ディスク装置の障害報告方法。
12. After the occurrence of the fault is detected, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of the fault, and the measured voltage is set to an appropriate range set based on the reference voltage. Otherwise, the voltage of the magnetic disk drive is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction does not cause the failure, the cause of the failure is determined to be a voltage abnormality. 11. The method for reporting a failure of a magnetic disk drive according to claim 7, further comprising a step.
【請求項13】 障害が発生したときに、正常動作時に
予めメモリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に
測定した測定ランナウト量とを比較して、前記測定ラン
ナウト量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適
正範囲外であれば、前記障害の要因は振動や衝撃である
と判断する振動衝撃判断部を有することを特徴とする磁
気ディスク装置。
13. When a fault occurs, a reference runout amount previously recorded in a memory during normal operation is compared with a measured runout amount measured at the time of the fault occurrence, and the measured runout amount is determined based on the reference runout amount. A magnetic disk drive, comprising: a vibration / impact determination unit that determines that the cause of the failure is vibration or impact if the failure is outside the set appropriate range.
【請求項14】 障害が発生したときに、正常動作時に
予めメモリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に
測定した測定ランナウト量とを比較して、前記測定ラン
ナウト量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適
正範囲外であれば、前記磁気ディスク装置のランナウト
量を前記適正範囲内の適正値に補正して作動させ、この
補正により前記障害が発生しなくなった場合は前記障害
の要因は振動や衝撃であると判断する振動衝撃判断部を
有することを特徴とする磁気ディスク装置。
14. When a fault occurs, a reference runout amount recorded in a memory in advance during normal operation is compared with a measured runout amount measured at the time of the fault occurrence, and the measured runout amount is determined based on the reference runout amount. If it is out of the set proper range, the runout amount of the magnetic disk drive is corrected to a proper value within the proper range and the magnetic disk drive is operated.If the correction stops the fault, the cause of the fault is vibration or A magnetic disk drive comprising a vibration / impact determination unit for determining an impact.
【請求項15】 障害が発生したときに、予めメモリに
記録した基準温度と障害発生時に測定した測定温度とを
比較して、前記測定温度が前記基準温度に基づいて設定
した適正範囲外であれば、前記障害の要因は温度上昇で
あると判断する温度上昇判断部を有することを特徴とす
る請求項13または請求項14に記載の磁気ディスク装
置。
15. When a fault occurs, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of the fault, and the measured temperature is out of an appropriate range set based on the reference temperature. 15. The magnetic disk drive according to claim 13, further comprising a temperature rise determination unit that determines that the cause of the failure is a temperature rise.
【請求項16】 障害が発生したときに、予めメモリに
記録した基準温度と障害発生時に測定した測定温度とを
比較して、前記測定温度が前記基準温度に基づいて設定
した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク装置をファ
ンにより冷却して温度を前記適正範囲内の適正値に補正
して、この補正により前記障害が発生しなくなった場合
は前記障害の要因は温度上昇であると判断する温度上昇
判断部を有することを特徴とする請求項13または請求
項14に記載の磁気ディスク装置。
16. When a fault occurs, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of the fault, and if the measured temperature is out of an appropriate range set based on the reference temperature. For example, the magnetic disk device is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. If the correction does not cause the failure, it is determined that the cause of the failure is an increase in temperature. 15. The magnetic disk drive according to claim 13, further comprising a temperature rise determining unit.
【請求項17】 障害が発生したときに、予めメモリに
記録した基準電圧と障害発生時に測定した測定電圧とを
比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基づいて設定
した適正範囲外であれば、前記障害の要因は電圧異常で
あると判断する電圧異常判断部を有することを特徴とす
る請求項13ないし請求項16のいずれかに記載の磁気
ディスク装置。
17. When a fault occurs, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of the fault, and if the measured voltage is out of an appropriate range set based on the reference voltage. 17. The magnetic disk drive according to claim 13, further comprising a voltage abnormality determining unit that determines that the cause of the failure is a voltage abnormality.
【請求項18】 障害が発生したときに、予めメモリに
記録した基準電圧と障害発生時に測定した測定電圧とを
比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基づいて設定
した適正範囲外であれば、磁気ディスク装置の電圧を前
記適正範囲内の適正値に補正して、この補正により前記
障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因は電圧異
常であると判断する電圧異常判断部を有することを特徴
とする請求項13ないし請求項16のいずれかに記載の
磁気ディスク装置。
18. When a fault occurs, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of the fault, and if the measured voltage is out of an appropriate range set based on the reference voltage. For example, a voltage abnormality determining unit that corrects the voltage of the magnetic disk device to an appropriate value within the appropriate range and determines that the cause of the error is an abnormal voltage if the error no longer occurs due to the correction. 17. The magnetic disk drive according to claim 13, wherein:
【請求項19】 磁気ディスク装置が上位装置からの少
なくとも1回のアクセス命令を受け付けないときに障害
が発生したことを検出する障害検出部と、 前記障害の発生が検出された後に、正常動作時に予めメ
モリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定し
た測定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト
量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記障害の要因は振動や衝撃であると判断
する振動衝撃判断部と、 前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置に報
告する報告部とを有することを特徴とする磁気ディスク
装置。
19. A failure detection unit for detecting that a failure has occurred when the magnetic disk device does not receive at least one access command from a higher-level device; The reference runout amount previously recorded in the memory is compared with the measured runout amount measured at the time of the occurrence of the fault, and if the measured runout amount is outside the proper range set based on the reference runout amount, the cause of the fault is vibration. A magnetic disk drive, comprising: a vibration / impact determination unit that determines that the failure is a shock; and a report unit that reports the cause to the host device after determining the cause of the failure.
【請求項20】 磁気ディスク装置が上位装置からの少
なくとも1回のアクセス命令を受け付けないときに障害
が発生したことを検出する障害検出部と、 前記障害の発生が検出された後に、正常動作時に予めメ
モリに記録した基準ランナウト量と障害発生時に測定し
た測定ランナウト量とを比較して、前記測定ランナウト
量が前記基準ランナウト量に基づいて設定した適正範囲
外であれば、前記磁気ディスク装置のランナウト量を前
記適正範囲内の適正値に補正して作動させ、この補正に
より前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要因
は振動や衝撃であると判断する振動衝撃判断部と、 前記障害の要因の判断後に前記要因を前記上位装置に報
告する報告部とを有することを特徴とする磁気ディスク
装置。
20. A failure detecting unit for detecting that a failure has occurred when the magnetic disk device does not receive at least one access command from a higher-level device; The runout of the magnetic disk device is compared with a reference runout amount recorded in advance in memory and a measured runout amount measured at the time of occurrence of a fault, and if the measured runout amount is outside an appropriate range set based on the reference runout amount. The operation is performed by correcting the amount to a proper value within the proper range, and when the trouble does not occur due to the correction, a vibration / shock determining unit that determines that the cause of the trouble is vibration or shock; And a reporting unit for reporting the factor to the host device after determining the factor.
【請求項21】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準温度と障害発生時に測定した測
定温度とを比較して、前記測定温度が前記基準温度に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は
温度上昇であると判断する温度上昇判断部を有すること
を特徴とする請求項19または請求項20に記載の磁気
ディスク装置。
21. After the occurrence of the fault is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of occurrence of the fault, and the measured temperature is set in an appropriate range based on the reference temperature. 21. The magnetic disk drive according to claim 19, further comprising a temperature rise determination unit that determines that the cause of the failure is a temperature rise if it is outside.
【請求項22】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準温度と障害発生時に測定した測
定温度とを比較して、前記測定温度が前記基準温度に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記磁気ディスク
装置をファンにより冷却して温度を前記適正範囲内の適
正値に補正して、この補正により前記障害が発生しなく
なった場合は前記障害の要因は温度上昇であると判断す
る温度上昇判断部を有することを特徴とする請求項19
または請求項20に記載の磁気ディスク装置。
22. After the occurrence of the fault is detected, a reference temperature previously recorded in a memory is compared with a measured temperature measured at the time of the occurrence of the fault, and the measured temperature is set to an appropriate range set based on the reference temperature. Otherwise, the magnetic disk device is cooled by a fan to correct the temperature to an appropriate value within the appropriate range. If the correction no longer causes the failure, the cause of the failure is a rise in temperature. 20. A temperature rise judging unit for judging that the temperature rises.
21. The magnetic disk drive according to claim 20.
【請求項23】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準電圧と障害発生時に測定した測
定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基
づいて設定した適正範囲外であれば、前記障害の要因は
電圧異常であると判断する電圧異常判断部を有すること
を特徴とする請求項19ないし請求項22のいずれかに
記載の磁気ディスク装置。
23. After the occurrence of the fault is detected, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of occurrence of the fault, and the measured voltage is set in an appropriate range set based on the reference voltage. 23. The magnetic disk drive according to claim 19, further comprising a voltage abnormality determination unit that determines that the cause of the failure is a voltage abnormality if it is outside.
【請求項24】 前記障害の発生が検出された後に、予
めメモリに記録した基準電圧と障害発生時に測定した測
定電圧とを比較して、前記測定電圧が前記基準電圧に基
づいて設定した適正範囲外であれば、磁気ディスク装置
の電圧を前記適正範囲内の適正値に補正して、この補正
により前記障害が発生しなくなった場合は前記障害の要
因は電圧異常であると判断する電圧異常判断部を有する
ことを特徴とする請求項19ないし請求項22のいずれ
かに記載の磁気ディスク装置。
24. After the occurrence of the fault is detected, a reference voltage previously recorded in a memory is compared with a measured voltage measured at the time of occurrence of the fault, and the measured voltage is set to an appropriate range set based on the reference voltage. Otherwise, the voltage of the magnetic disk drive is corrected to an appropriate value within the appropriate range. If the correction does not cause the failure, the cause of the failure is determined to be a voltage abnormality. 23. The magnetic disk drive according to claim 19, further comprising a unit.
JP10277695A 1998-09-30 1998-09-30 Failure analyzing method for magnetic disk device, failure reporting method for magnetic disk device and magnetic disk device utilizing these methods Withdrawn JP2000113571A (en)

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