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JP2000169180A - Float glass for display substrate - Google Patents

Float glass for display substrate

Info

Publication number
JP2000169180A
JP2000169180A JP33933898A JP33933898A JP2000169180A JP 2000169180 A JP2000169180 A JP 2000169180A JP 33933898 A JP33933898 A JP 33933898A JP 33933898 A JP33933898 A JP 33933898A JP 2000169180 A JP2000169180 A JP 2000169180A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass
float glass
float
substrate
display substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP33933898A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Sakamoto
修 酒本
Takashi Mukai
隆司 向井
Osamu Yanagisawa
修 柳沢
Masako Kawamoto
昌子 川本
Ryoji Akiyama
良司 秋山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP33933898A priority Critical patent/JP2000169180A/en
Publication of JP2000169180A publication Critical patent/JP2000169180A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Glass Compositions (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】表面に形成された電極線の断線等の欠陥、画素
液晶の容量不足、酸化物層の密着性低下、等の液晶特性
低下が起りにくく、歪点が580℃以上であるディスプ
レイ基板用フロートガラスを得る。 【解決手段】歪点が580℃以上であるフロートガラス
であって、母ガラスに対するClの含有量が0.01〜
0.09重量%であるディスプレイ基板用フロートガラ
ス。
(57) [Summary] [0005] Deterioration of liquid crystal characteristics such as defects such as disconnection of electrode lines formed on the surface, insufficient capacity of pixel liquid crystal, and reduced adhesion of oxide layer is unlikely to occur, and the strain point is 580 ° C. The above-mentioned float glass for a display substrate is obtained. The present invention relates to a float glass having a strain point of 580 ° C. or more, wherein the content of Cl with respect to a base glass is from 0.01 to 0.01.
0.09% by weight of float glass for display substrates.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレイ
基板、プラズマディスプレイ基板、等のディスプレイ基
板に用いられるフロートガラスに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a float glass used for a display substrate such as a liquid crystal display substrate and a plasma display substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶ディスプレイ(以下LCDとい
う。)基板用ガラスとして、アルカリを含有せず、また
は含有してもその量が少なく、かつ歪点が高く熱膨張係
数の小さいガラスが求められており、従来、上記特性を
満足する無アルカリまたは低アルカリのガラスとしてア
ルミノシリケートガラスが使用されている。そのような
ガラスの溶融状態における粘度は、たとえば窓ガラス等
に広く使用されているソーダライムシリカガラスに比べ
て高く、脱泡すなわち清澄が困難である。清澄剤として
は一般に、亜ヒ酸、酸化アンチモン、ハロゲン元素
(F、Cl、Br、I)、硫酸塩、等が用いられるが、
亜ヒ酸や酸化アンチモンが最も効果的である。
2. Description of the Related Art As a glass for a liquid crystal display (hereinafter referred to as LCD) substrate, a glass which does not contain alkali or has a small amount of alkali even if containing alkali, and has a high strain point and a small thermal expansion coefficient is required. Conventionally, aluminosilicate glass has been used as an alkali-free or low-alkali glass satisfying the above characteristics. The viscosity of such a glass in a molten state is higher than that of soda-lime silica glass widely used for window glass, for example, and it is difficult to remove bubbles, that is, to clarify. As a fining agent, arsenous acid, antimony oxide, a halogen element (F, Cl, Br, I), a sulfate, or the like is generally used.
Arsenous acid and antimony oxide are most effective.

【0003】一方、窓ガラスに代表される板ガラスのほ
とんどは、低コストで平坦性および平滑性の高い板ガラ
スが得られるフロート法によって製造されている。フロ
ート法では、溶融したガラスをガラスよりも比重の大き
な溶融スズ上に流し込み、溶融スズ上で板状にのばしな
がら成形する。溶融スズを収容するフロートバスは、溶
融スズの酸化を防止するために還元雰囲気に保たれる。
そのため、ガラス中に亜ヒ酸または酸化アンチモンのよ
うな還元されやすい成分が存在すると、金属析出および
それにともなう着色が起るおそれがある。
[0003] On the other hand, most sheet glass represented by window glass is manufactured by a float method which can obtain a sheet glass having high flatness and smoothness at low cost. In the float method, molten glass is poured onto molten tin having a higher specific gravity than glass, and is formed while being spread on the molten tin in a plate shape. The float bath containing molten tin is kept in a reducing atmosphere to prevent oxidation of the molten tin.
Therefore, if a component that is easily reduced, such as arsenous acid or antimony oxide, is present in the glass, there is a possibility that metal deposition and accompanying coloring may occur.

【0004】したがって、フロート成形するガラスに使
用できる清澄剤は限定され、一般に亜ヒ酸または酸化ア
ンチモンの使用は困難である。これに対し、硫酸塩やハ
ロゲン元素では上記のような問題は起らない。
[0004] Therefore, the fining agents that can be used for float-molded glass are limited, and it is generally difficult to use arsenous acid or antimony oxide. On the other hand, the above-mentioned problems do not occur with sulfates and halogen elements.

【0005】以上のことから、フロート成形されるLC
D基板用の無アルカリまたは低アルカリのアルミノシリ
ケートガラス(以下これらをLCD基板用フロートガラ
スという。)においてはハロゲン元素および/または硫
酸塩を清澄剤として使用することが多い。ハロゲン元素
であるF、Cl、Br、Iはいずれも清澄剤としての効
果を示すが、原料を入手しやすく、他のハロゲン元素に
比べ揮散が少なく、さらに清澄剤としての効果が大きい
Clが通常用いられる。また、硫酸塩としてはアルカリ
金属硫酸塩またはアルカリ土類金属硫酸塩が通常用いら
れる。
[0005] In view of the above, the LC to be float-molded
In alkali-free or low-alkali aluminosilicate glasses for D substrates (hereinafter referred to as float glass for LCD substrates), halogen elements and / or sulfates are often used as fining agents. All of the halogen elements F, Cl, Br, and I show the effect as a fining agent, but Cl is easily available as a raw material, has less volatilization than other halogen elements, and has a large effect as a fining agent. Used. As the sulfate, an alkali metal sulfate or an alkaline earth metal sulfate is usually used.

【0006】以上のようにして製造されたLCD基板用
フロートガラスを使用してTFT−LCDを製造する工
程は次のとおりである。すなわち、前記フロートガラス
を所定寸法に切断してガラス基板とし、このガラス基板
を洗浄後、TFT−LCD製造工程に投入する。ガラス
基板の一方の表面にゲート電極線(以下単に電極線とい
う。)およびゲート絶縁用酸化物層(以下単に酸化物層
という。)を形成し、さらに前記酸化物層表面に画素電
極等を形成してアレイ基板とする。また、別のガラス基
板の一方の表面にRGBのカラーフィルタおよび対向電
極を形成してカラーフィルタ基板とする。次にアレイ基
板とカラーフィルタ基板との間に液晶材料を挟み込んで
封じ、TFT−LCDを製造する。なお、一般のTFT
−LCD基板においては、電極線の線幅は5〜10μm
程度、画素ピッチに相当する電極線間隔は100〜20
0μm程度、液晶のセルギャップは5μm程度である。
The steps of manufacturing a TFT-LCD using the float glass for an LCD substrate manufactured as described above are as follows. That is, the float glass is cut into a predetermined size to form a glass substrate. After washing the glass substrate, the glass substrate is put into a TFT-LCD manufacturing process. A gate electrode line (hereinafter simply referred to as an electrode line) and an oxide layer for gate insulation (hereinafter simply referred to as an oxide layer) are formed on one surface of a glass substrate, and a pixel electrode and the like are formed on the surface of the oxide layer. To form an array substrate. An RGB color filter and a counter electrode are formed on one surface of another glass substrate to form a color filter substrate. Next, a liquid crystal material is sandwiched and sealed between the array substrate and the color filter substrate to manufacture a TFT-LCD. In addition, general TFT
-On the LCD substrate, the line width of the electrode line is 5 to 10 μm
And the electrode line interval corresponding to the pixel pitch is 100 to 20
The cell gap of the liquid crystal is about 5 μm.

【0007】従来、前記洗浄の工程やTFT−LCD製
造工程のクリーン度にかかわらず、電極線の断線等の欠
陥、画素液晶の容量不足等の液晶特性低下、酸化物層の
密着性低下、等の品質不良が発生することがあり、これ
らがLCD製造歩留低下原因となっていた。
Conventionally, irrespective of the cleanliness of the above-mentioned washing process and TFT-LCD manufacturing process, defects such as disconnection of electrode lines, deterioration of liquid crystal characteristics such as insufficient capacity of pixel liquid crystal, deterioration of adhesion of oxide layer, etc. In some cases, these have been the causes of lower LCD manufacturing yields.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、歪点が58
0℃以上であるフロートガラスであって、上記品質不良
が起りにくいディスプレイ基板用フロートガラスの提供
を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a distortion point of 58.
An object of the present invention is to provide a float glass having a temperature of 0 ° C. or higher and which is unlikely to cause the above-described poor quality.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、歪点が580
℃以上であるフロートガラスであって、母ガラスに対す
るClの含有量が0.01〜0.09重量%であるディ
スプレイ基板用フロートガラスを提供する。
According to the present invention, a distortion point is 580.
The present invention provides a float glass for a display substrate, wherein the float glass has a Cl content of 0.01 to 0.09% by weight based on the mother glass.

【0010】本発明者は、 1)フロートガラスを用いてTFT−LCDを製造する
際に、洗浄工程またはTFT−LCD製造工程のクリー
ン度によらずに発生する電極線の断線等の欠陥、画素液
晶の容量不足等の液晶特性低下、酸化物層の密着性低
下、等の品質不良の原因は、フロートガラス表面に存在
する付着物またはくぼみであること、 2)溶融スズと接触しないフロートガラス表面、すなわ
ちトップ面に存在する付着物の発生、またはフロートガ
ラス表面におけるくぼみの発生と、フロートガラスのC
l含有量またはSO3含有量との間に相関が存在するこ
と、を見出し、本発明に至った。ここで、前記付着物は
実質的に金属スズまたはスズ化合物からなるものが主で
ある。
[0010] The present inventor: 1) When manufacturing a TFT-LCD using a float glass, defects such as disconnection of an electrode line and a pixel, which are generated regardless of the cleanliness of a cleaning process or a TFT-LCD manufacturing process. The causes of poor quality such as a decrease in liquid crystal characteristics such as insufficient capacity of the liquid crystal, a decrease in adhesion of the oxide layer, and the like are caused by deposits or dents present on the surface of the float glass. 2) The surface of the float glass not in contact with the molten tin That is, the generation of deposits present on the top surface, or the formation of depressions on the surface of the float glass, and the C of the float glass
It has been found that there is a correlation between the 1 content and the SO 3 content, and the present invention has been achieved. Here, the deposit is mainly composed of metallic tin or a tin compound.

【0011】すなわち、Cl、または、ClおよびSO
3、を含有するアルミノシリケートガラスをフロート法
で成形する場合にトップ面に金属スズまたはスズ化合物
が付着物するメカニズムは、以下に示すようなものであ
ることを見出した。ここで、SO3は清澄剤として使用
された硫酸塩等から供給される。
That is, Cl or Cl and SO
It has been found that the mechanism for depositing metallic tin or a tin compound on the top surface when the aluminosilicate glass containing 3 is formed by the float method is as follows. Here, SO 3 is supplied from sulfate or the like used as a fining agent.

【0012】ガラスに含有されているClまたはSO3
は、ガラスが溶融スズと接触している表面、すなわちボ
トム面から溶出して塩化スズまたは硫化スズとなる。塩
化スズまたは硫化スズは通常のフロートバスの温度・雰
囲気では気体状態で存在するものであって蒸気圧は高
く、溶融スズから直ちに逸出して気化する。気化した塩
化スズまたは硫化スズはフロートバス雰囲気中に拡散
し、速やかに雰囲気中の水素によって還元されて金属ス
ズ粒子となる。その粒子が成長して大きくなり、フロー
トバス中のリボン状のガラス(ガラスリボン)のトップ
面に落下すると、金属スズ付着物となる。また、スズ化
合物付着物は前記金属スズ付着物がフロートバスを出た
後に酸化されたものである。
Cl or SO 3 contained in glass
Is eluted from the surface where the glass is in contact with the molten tin, that is, the bottom surface, and becomes tin chloride or tin sulfide. Tin chloride or tin sulfide exists in a gaseous state at a normal float bath temperature and atmosphere, has a high vapor pressure, and immediately escapes from molten tin to vaporize. The vaporized tin chloride or tin sulfide diffuses into the float bath atmosphere and is promptly reduced by hydrogen in the atmosphere to form metal tin particles. When the particles grow and grow and fall on the top surface of the ribbon-shaped glass (glass ribbon) in the float bath, they become metal tin deposits. Further, the tin compound deposit is oxidized after the metal tin deposit has left the float bath.

【0013】トップ面に存在するくぼみは、前記金属ス
ズ付着物の抜け殻である。すなわち、ガラスリボンがフ
ロートバスから出た直後に、トップ面直上に流れている
気流によって金属スズ付着物がトップ面から吹き飛ばさ
れてできたものである。ボトム面に存在するくぼみは、
その生成機構は不明であるが、その発生頻度がガラス中
のCl含有量またはSO3含有量とともに増大すること
を見出した。
[0013] The depression present on the top surface is a shell of the metal tin deposit. That is, immediately after the glass ribbon exits the float bath, the metallic tin deposit is blown off from the top surface by the airflow flowing just above the top surface. The depression on the bottom surface is
Although the formation mechanism is unknown, it has been found that the frequency of occurrence increases with the Cl content or SO 3 content in the glass.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明におけるディスプレイ基板
用フロートガラスとは、フロート法により製造された板
ガラスであり、その表面に電極線形成または酸化物層形
成等の表面処理が行われる前の板ガラスを指し、たとえ
ば前記表面処理が行われる前に洗浄および/または研磨
が行われたものを含む。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The float glass for a display substrate in the present invention is a sheet glass produced by a float method, and is a sheet glass before a surface treatment such as formation of an electrode wire or an oxide layer is performed on the surface thereof. And includes, for example, those that have been cleaned and / or polished before the surface treatment is performed.

【0015】本発明におけるディスプレイ基板とは、所
定寸法に切断された板ガラス、すなわち基板ガラスの表
面に電極線または酸化物層等が形成されたものであり、
たとえば、LCD基板、プラズマディスプレイパネル
(以下PDPという。)基板、等である。
The display substrate in the present invention is a plate glass cut to a predetermined size, that is, a substrate glass having an electrode wire or an oxide layer formed on the surface thereof.
For example, an LCD substrate, a plasma display panel (hereinafter, referred to as PDP) substrate, and the like.

【0016】本発明のディスプレイ基板用フロートガラ
スの歪点は580℃以上である。580℃未満ではLC
D、PDP、等を製造する際の熱処理工程において、熱
変形の問題、またはLCD基板、PDP基板、等の寸法
変化が起るおそれがある。以下ではTFT−LCDの製
造に用いられる場合について述べる。
The strain point of the float glass for a display substrate of the present invention is 580 ° C. or higher. LC below 580 ° C
In the heat treatment process for manufacturing D, PDP, etc., there is a possibility that a problem of thermal deformation or a dimensional change of an LCD substrate, a PDP substrate, etc. may occur. In the following, a case used for manufacturing a TFT-LCD will be described.

【0017】本発明でいうフロートガラス表面上に存在
する付着物は、実質的に金属スズまたはスズ化合物から
なるものが主である。その大きさが20μm未満であれ
ば前記付着物の厚さは無視できるほどであり、電極線の
断線が起こることは少なく、また、画素液晶の容量不足
もわずかである。しかし、大きさが20μm以上の付着
物の上に電極線が形成されると該電極線は断線する可能
性が高くなり、また、前記付着物の上に画素エリアが形
成されたときは画素液晶の容量不足による液晶特性低下
が起こる可能性が高くなり、いずれの場合もLCD製造
歩留を低下させる。大きさが300μm以上のものはガ
ラスとの付着力が小さく、一般的な洗浄工程で除去でき
問題になるおそれは少ない。以下では、フロートガラス
表面上に存在する付着物のうち、大きさが20〜300
μmのものを付着物欠点という。
The deposits present on the surface of the float glass referred to in the present invention mainly consist essentially of metallic tin or a tin compound. If the size is less than 20 μm, the thickness of the attached matter is negligible, the disconnection of the electrode wire is rare, and the capacity of the pixel liquid crystal is insufficient. However, when an electrode line is formed on an attachment having a size of 20 μm or more, the electrode line is more likely to be disconnected. In addition, when a pixel area is formed on the attachment, a pixel liquid crystal is formed. In this case, there is a high possibility that the liquid crystal characteristics may be deteriorated due to insufficient capacity of the liquid crystal, and in any case, the LCD manufacturing yield may be reduced. Those having a size of 300 μm or more have a small adhesive force to glass and can be removed by a general washing step, and there is little possibility of causing a problem. In the following, among the deposits present on the float glass surface, the size is 20 to 300.
μm is referred to as a deposit defect.

【0018】フロートガラス表面に存在する深さが1μ
m以上のくぼみ(以下くぼみ欠点という。)は、ガラス
基板表面に形成された電極線の断線、または同じくガラ
ス基板表面に形成された酸化物層のガラス基板に対する
密着性低下の原因となり、製造歩留を低下させる。
The depth existing on the float glass surface is 1 μm.
Depressions of m or more (hereinafter referred to as depression defects) cause disconnection of the electrode wires formed on the surface of the glass substrate or decrease in adhesion of the oxide layer formed on the surface of the glass substrate to the glass substrate. Lower the retention.

【0019】以上ではTFT−LCDの製造に用いられ
る場合について説明したが、本発明はこれに限定され
ず、STN−LCD基板用フロートガラス、PDP基板
用フロートガラス、等、その表面に電極線、酸化物層、
等の薄膜層が形成されるフロートガラスに適用される。
The case where the present invention is used in the manufacture of a TFT-LCD has been described above, but the present invention is not limited to this. Float glass for an STN-LCD substrate, float glass for a PDP substrate, etc. Oxide layer,
The present invention is applied to a float glass on which a thin film layer is formed.

【0020】本発明のディスプレイ基板用フロートガラ
スのCl含有量は、母ガラスに対して0.01〜0.0
9重量%である。0.09重量%超では付着物欠点およ
びくぼみ欠点の発生頻度が高くなり、ディスプレイ基板
用ガラスとして使用することが困難になる。0.01重
量%未満では清澄効果が少ない。好ましくは0.02重
量%以上、より好ましくは0.03重量%以上である。
ここで、「母ガラスに対して」とは、含有量が外数表示
であることを意味する。
The Cl content of the float glass for a display substrate of the present invention is 0.01 to 0.0 with respect to the base glass.
9% by weight. If it exceeds 0.09% by weight, the frequency of occurrence of deposit defects and pit defects increases, and it becomes difficult to use the glass as a display substrate glass. If it is less than 0.01% by weight, the refining effect is small. It is preferably at least 0.02% by weight, more preferably at least 0.03% by weight.
Here, “with respect to the base glass” means that the content is expressed in an external number.

【0021】本発明のディスプレイ基板用フロートガラ
スのSO3は必須成分ではないが、清澄等のために母ガ
ラスに対して200ppmまで含有してもよい。200
ppm超では付着物欠点およびくぼみ欠点の発生頻度が
高くなり、ディスプレイ基板用ガラスとして使用するこ
とが困難になるおそれがある。好ましくは120ppm
以下、より好ましくは90ppm以下、特に好ましくは
50ppm未満である。また、1ppm以上含有するこ
とが好ましい。
Although SO 3 of the float glass for a display substrate of the present invention is not an essential component, it may be contained up to 200 ppm with respect to the base glass for clarification or the like. 200
If it exceeds ppm, the frequency of occurrence of the deposit defect and the dent defect increases, and it may be difficult to use the glass as a display substrate glass. Preferably 120 ppm
Or less, more preferably 90 ppm or less, particularly preferably less than 50 ppm. Further, it is preferable to contain 1 ppm or more.

【0022】本発明のディスプレイ基板用フロートガラ
スのアルカリ酸化物は必須成分ではないが、母ガラスに
対して2.0重量%まで含有してもよい。2.0重量%
超ではディスプレイ基板用ガラスとして、特にLCD基
板用ガラスとして、使用することが困難になるおそれが
ある。
The alkali oxide of the float glass for a display substrate of the present invention is not an essential component, but may be contained up to 2.0% by weight based on the mother glass. 2.0% by weight
If it is too large, it may be difficult to use it as a glass for a display substrate, particularly as a glass for an LCD substrate.

【0023】[0023]

【実施例】「例1〜2(いずれも実施例)、例3〜4
(いずれも比較例)」重量%表示の母ガラス(アルミノ
シリケートガラス)の組成が、SiO2:56.5、A
23:11、B23:6、MgO:2、CaO:3、
BaO:15、SrO:6.5、である厚さ0.7mm
の4種のLCD基板用フロートガラスについて、蛍光X
線法により測定したClの母ガラスに対する含有量(単
位:重量%)と、トップ面6.0m2当りの付着物欠点
の数およびくぼみ欠点の数の合計(単位:個)と、を表
1に示す。このフロートガラスは母ガラスに対してNa
2O、K2Oをそれぞれ0.05重量%、0.01重量%
含有し、その歪点は635℃である。また前記付着物欠
点の数およびくぼみ欠点の数の合計は40以下であるこ
とが好ましい。
EXAMPLES "Examples 1 and 2 (all examples), Examples 3 and 4"
(All comparative examples) "Mother glass (alumino
Silicate glass) having a composition of SiOTwo: 56.5, A
lTwoOThree: 11, BTwoOThree: 6, MgO: 2, CaO: 3,
BaO: 15, SrO: 6.5, thickness 0.7 mm
Of the four types of float glass for LCD substrates
Content of Cl in base glass measured by X-ray method (simple content)
Position: weight%) and the top surface is 6.0 m.TwoDeposit defects per hit
And the total number of hollow defects (unit: pieces)
It is shown in FIG. This float glass is Na
TwoO, KTwoO at 0.05% by weight and 0.01% by weight, respectively
Contained and its strain point is 635 ° C. In addition,
The sum of the number of points and the number of hollow defects must not exceed 40.
Is preferred.

【0024】付着物欠点およびくぼみ欠点については、
暗室の中でガラス板側面から光を照射したガラス板主表
面を検査するいわゆるエッジライト検査により、大きさ
が20〜300μmの付着物、およびくぼみ、を調べ
た。検査は300mm×400mmのガラス板50枚に
ついて行った。検査したガラス板表面の合計面積は6.
0m2である。なお、トップ面に存在するくぼみの深さ
はレーザー顕微鏡を用いて測定し、深さが1μm以上の
ものをくぼみ欠点とした。
Regarding the deposit defect and the hollow defect,
By a so-called edge light inspection for inspecting the main surface of the glass plate irradiated with light from the side surface of the glass plate in a dark room, deposits having a size of 20 to 300 μm and dents were examined. The inspection was performed on 50 300 mm × 400 mm glass plates. The total area of the inspected glass plate surface is 6.
0 m 2 . The depth of the dent present on the top surface was measured using a laser microscope, and a pit having a depth of 1 μm or more was regarded as a dent defect.

【0025】また、SO3含有量(単位:ppm)を以
下に述べる方法により測定した。その結果を同じく表1
に示す。まず、前処理としてガラス試料をフッ化水素酸
と塩酸で分解した。この際、硫黄の一部が還元または揮
散するのを防ぐため、酸化剤として過酸化水素を加え
た。
The SO 3 content (unit: ppm) was measured by the method described below. Table 1 also shows the results.
Shown in First, as a pretreatment, a glass sample was decomposed with hydrofluoric acid and hydrochloric acid. At this time, hydrogen peroxide was added as an oxidizing agent in order to prevent some of the sulfur from being reduced or volatilized.

【0026】次に、4%水酸化ナトリウム水溶液0.5
ml、過酸化水素水5ml、イオン交換水5mlを入れ
た酸化トラップを用意する。前処理した試料を入れた三
口フラスコと酸化トラップを測定容器内にセットし、測
定容器内部を窒素パージ後、約8mlの還元剤を三口フ
ラスコに添加する。前記還元剤は、次亜リン酸5ml、
ヨウ化水素酸20ml、ヨウ化ナトリウム3.5gをは
かりとり、窒素バブリングしながら200℃で3〜4時
間加熱して作製した。
Next, a 4% aqueous solution of sodium hydroxide 0.5
An oxidation trap containing 5 ml of hydrogen peroxide, 5 ml of hydrogen peroxide and 5 ml of ion-exchanged water is prepared. The three-necked flask containing the pretreated sample and the oxidation trap are set in a measuring vessel, and after purging the inside of the measuring vessel with nitrogen, about 8 ml of a reducing agent is added to the three-necked flask. The reducing agent is hypophosphorous acid 5 ml,
20 ml of hydroiodic acid and 3.5 g of sodium iodide were weighed out and heated at 200 ° C. for 3 to 4 hours while bubbling with nitrogen.

【0027】窒素ガスをゆるやかに流しながら砂浴中で
三口フラスコを180〜200℃に加熱し、おだやかに
沸騰させる。この操作により、試料中の硫黄は全てS2-
に還元され、H2Sガスとして遊離する。このH2Sガス
を窒素気流とともに酸化トラップへ導入し、SO4 2-
形で捕集する。この酸化トラップ中の硫黄をICP発光
分析装置(セイコー電子工業株式会社製、SPS400
0)を用いて定量し、SO3含有量を得た。なお、SO3
含有量については例2の方が例1より小であるにもかか
わらず、例2の付着物欠点の数およびくぼみ欠点の数の
合計が例1より大であるのは、例2のCl含有量が例1
より小であるためと考えられる。
The three-necked flask is heated to 180 to 200 ° C. in a sand bath while gently flowing nitrogen gas, and gently boiled. By this operation, all the sulfur in the sample is S 2-
And released as H 2 S gas. This H 2 S gas is introduced into the oxidation trap together with the nitrogen stream, and is collected in the form of SO 4 2− . The sulfur in the oxidation trap was analyzed by an ICP emission spectrometer (SPS400, manufactured by Seiko Instruments Inc.).
Quantification using 0) gave the SO 3 content. Note that SO 3
Although the content of Example 2 is smaller than that of Example 1, the total number of deposit defects and the number of hollow defects of Example 2 is larger than that of Example 1. Example 1
Probably because it is smaller.

【0028】[0028]

【表1】 [Table 1]

【0029】「例5〜6(いずれも実施例)、例7〜8
(いずれも比較例)」重量%表示の母ガラス(アルミノ
シリケートガラス)の組成が、SiO2:60、Al2
3:17、B23:7、MgO:4、CaO:5、Sr
O:7、である厚さ0.7mmの4種のLCD基板用フ
ロートガラスについて、母ガラスに対するCl含有量
(単位:重量%)およびSO3含有量(単位:ppm)
と、トップ面6.0m2当りの付着物欠点の数およびく
ぼみ欠点の数の合計(単位:個)と、を表2に示す。こ
のフロートガラスは母ガラスに対してNa2O、K2O、
BaOをそれぞれ0.05重量%、0.01重量%、
0.2重量%含有し、その歪点は665℃である。
Examples 5-6 (Each Example), Examples 7-8
(All Comparative Examples) The composition of the mother glass (aluminosilicate glass) expressed by weight% is SiO 2 : 60, Al 2 O
3: 17, B 2 O 3 : 7, MgO: 4, CaO: 5, Sr
O: 7, it is about four LCD substrate thick float glass 0.7mm a, Cl content in mother glass (unit: wt%) and SO 3 content (unit: ppm)
Table 2 shows the total (unit: number) of the number of adherent defects and the number of hollow defects per 6.0 m 2 of the top surface. This float glass is made of Na 2 O, K 2 O,
BaO is 0.05% by weight, 0.01% by weight, respectively.
0.2% by weight, and its strain point is 665 ° C.

【0030】Cl含有量、SO3含有量、トップ面に存
在する付着物欠点・くぼみ欠点の数およびトップ面に存
在するくぼみの深さについては、例1〜4と同様の方法
で測定した。
The Cl content, the SO 3 content, the number of deposit defects and dent defects present on the top surface, and the depth of the dents present on the top surface were measured in the same manner as in Examples 1-4.

【0031】[0031]

【表2】 [Table 2]

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明によれば、歪点が580℃以上で
あるフロートガラスであって、その表面に形成された電
極線の断線等の欠陥、画素液晶の容量不足等の液晶特性
低下、酸化物層の密着性低下、等が起りにくいディスプ
レイ基板用フロートガラスが得られ、LCD、PDP等
の製造歩留が向上する。
According to the present invention, there is provided a float glass having a strain point of 580 ° C. or more, a defect such as a disconnection of an electrode wire formed on the surface thereof, a decrease in liquid crystal characteristics such as a lack of capacity of a pixel liquid crystal, A float glass for a display substrate, in which the adhesiveness of the oxide layer is unlikely to be reduced and the like, is obtained, and the production yield of LCDs, PDPs and the like is improved.

フロントページの続き (72)発明者 川本 昌子 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内 (72)発明者 秋山 良司 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内 Fターム(参考) 2H090 JB02 JD15 JD17 4G062 AA18 BB06 DA06 DB04 DC03 DD01 DE01 DF01 EA01 EB02 EC02 ED03 EE03 EF03 EG04 FA01 FA10 FB01 FC01 FD01 FE01 FF01 FG01 FH01 FJ01 FK01 FL01 GA01 GA10 GB01 GB02 GC01 GD01 GE01 HH01 HH03 HH05 HH07 HH09 HH11 HH13 HH15 HH17 HH20 JJ01 JJ03 JJ06 JJ07 KK01 KK03 KK05 KK07 MM12 MM27 NN29 5C040 GA09 KA07 KB11 KB28 5C094 AA03 AA32 AA42 AA53 AA54 BA31 BA43 EB02 FB02 FB03 FB15 JA01 JA20 Continued on the front page (72) Inventor Masako Kawamoto 1150 Hazawa-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside Asahi Glass Co., Ltd. (72) Inventor Ryoji Akiyama 1150 Hazawa-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Asahi Glass Co., Ltd. 2H090 JB02 JD15 JD17 4G062 AA18 BB06 DA06 DB04 DC03 DD01 DE01 DF01 EA01 EB02 EC02 ED03 EE03 EF03 EG04 FA01 FA10 FB01 FC01 FD01 FE01 FF01 FG01 FH01 FJ01 FK01 FL01 H01 H01 H01 H01 H01 H01 H JJ01 JJ03 JJ06 JJ07 KK01 KK03 KK05 KK07 MM12 MM27 NN29 5C040 GA09 KA07 KB11 KB28 5C094 AA03 AA32 AA42 AA53 AA54 BA31 BA43 EB02 FB02 FB03 FB15 JA01 JA20

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】歪点が580℃以上であるフロートガラス
であって、母ガラスに対するClの含有量が0.01〜
0.09重量%であるディスプレイ基板用フロートガラ
ス。
1. A float glass having a strain point of 580 ° C. or higher, wherein the content of Cl with respect to the mother glass is 0.01 to 0.01.
0.09% by weight of float glass for display substrates.
【請求項2】母ガラスに対するSO3の含有量が200
ppm以下である請求項1に記載のディスプレイ基板用
フロートガラス。
2. The SO 3 content in the mother glass is 200
The float glass for a display substrate according to claim 1, wherein the content is at most ppm.
【請求項3】母ガラスに対するアルカリ酸化物の含有量
が2.0重量%以下である請求項1または2に記載のデ
ィスプレイ基板用フロートガラス。
3. The float glass for a display substrate according to claim 1, wherein the content of the alkali oxide with respect to the mother glass is 2.0% by weight or less.
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