JP2000168261A - 乱丁検出方法 - Google Patents
乱丁検出方法Info
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- JP2000168261A JP2000168261A JP10345485A JP34548598A JP2000168261A JP 2000168261 A JP2000168261 A JP 2000168261A JP 10345485 A JP10345485 A JP 10345485A JP 34548598 A JP34548598 A JP 34548598A JP 2000168261 A JP2000168261 A JP 2000168261A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 検査画像を取り込んだ印刷物と基準画像を取
り込んだ印刷物との間で印刷濃度や用紙の色が異なって
いる場合でも、確実に乱丁を検出する。 【解決手段】 予め正常な印刷物から画像入力した基準
画像Aと、丁合工程で印刷物から画像入力した検査画像
Fとに基づいて乱丁を検出する際、基準画像Aからエッ
ジを抽出した基準エッジ画像Bを作成し、検査画像Fか
らエッジを抽出した検査エッジ画像Hを作成し、これら
基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比較して乱丁発生
を検出する。具体的には基準2値エッジ画像Cから膨張
画像Dと収縮画像Eを作成し、検査2値エッジ画像Iを
基準2値エッジ膨脹画像Dによりマスク処理し、基準2
値エッジ収縮画像Eを検査2値エッジ画像Iによりマス
ク処理する。
り込んだ印刷物との間で印刷濃度や用紙の色が異なって
いる場合でも、確実に乱丁を検出する。 【解決手段】 予め正常な印刷物から画像入力した基準
画像Aと、丁合工程で印刷物から画像入力した検査画像
Fとに基づいて乱丁を検出する際、基準画像Aからエッ
ジを抽出した基準エッジ画像Bを作成し、検査画像Fか
らエッジを抽出した検査エッジ画像Hを作成し、これら
基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比較して乱丁発生
を検出する。具体的には基準2値エッジ画像Cから膨張
画像Dと収縮画像Eを作成し、検査2値エッジ画像Iを
基準2値エッジ膨脹画像Dによりマスク処理し、基準2
値エッジ収縮画像Eを検査2値エッジ画像Iによりマス
ク処理する。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、製本工程における
丁合工程で発生する乱丁を検知する際に適用して好適
な、乱丁検出方法に関する。
丁合工程で発生する乱丁を検知する際に適用して好適
な、乱丁検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、製本機で製本処理を行う場合、
予め印刷機によって個別に印刷された複数の折丁と呼ば
れる印刷物の束を、順番に重ね合わせて1冊分の印刷物
とした後、これを結束することにより1冊の本が製造さ
れている。
予め印刷機によって個別に印刷された複数の折丁と呼ば
れる印刷物の束を、順番に重ね合わせて1冊分の印刷物
とした後、これを結束することにより1冊の本が製造さ
れている。
【0003】この製本工程においては、各折丁を正しい
順番で重ね合わせることが極めて重要であることから、
その順番が乱れる乱丁が発生した場合には、それを確実
に検出して対処する必要がある。
順番で重ね合わせることが極めて重要であることから、
その順番が乱れる乱丁が発生した場合には、それを確実
に検出して対処する必要がある。
【0004】従来の乱丁検知技術としては、例えば特公
平3−44000号公報に、基準紙面及び検査紙面の複
数の測定点にそれぞれ光をあて、各測定点からの反射光
を各測定点に対応する複数の受光素子で受け、各測定点
毎に検査紙面からの反射光量と基準紙面からの反射光量
との差をとり、更に隣接した2つの測定点毎に検査紙面
の反射光量の算術平均と基準紙面の反射光量の算術平均
を計算して、この2つの算術平均の差をとり、2種類の
差のうち所定レベルを越えた差の個数を2種類の差の全
個数と比較することにより乱丁を検知する方法が開示さ
れている。
平3−44000号公報に、基準紙面及び検査紙面の複
数の測定点にそれぞれ光をあて、各測定点からの反射光
を各測定点に対応する複数の受光素子で受け、各測定点
毎に検査紙面からの反射光量と基準紙面からの反射光量
との差をとり、更に隣接した2つの測定点毎に検査紙面
の反射光量の算術平均と基準紙面の反射光量の算術平均
を計算して、この2つの算術平均の差をとり、2種類の
差のうち所定レベルを越えた差の個数を2種類の差の全
個数と比較することにより乱丁を検知する方法が開示さ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記特
公平3−44000号公報に開示されている技術には、
印刷された紙面の濃度変化を検出しているため、丁合は
正しいにも拘らず印刷濃度や用紙色の変化、又は折丁の
載せずれ等により所定の測定点にかかる絵柄がずれるこ
とに起因する反射光量の変化により誤検出が発生した
り、類似絵柄や文字のみの折丁の場合には乱丁を検知で
きなかったりするため、安定した検出ができなかった。
そのため、実際の運用では、連続した複数部数の乱丁が
検知された場合のみに、乱丁が発生したとみなす方法が
採用されており、従って1部、2部といった少部数の乱
丁を防止することができないという問題があった。
公平3−44000号公報に開示されている技術には、
印刷された紙面の濃度変化を検出しているため、丁合は
正しいにも拘らず印刷濃度や用紙色の変化、又は折丁の
載せずれ等により所定の測定点にかかる絵柄がずれるこ
とに起因する反射光量の変化により誤検出が発生した
り、類似絵柄や文字のみの折丁の場合には乱丁を検知で
きなかったりするため、安定した検出ができなかった。
そのため、実際の運用では、連続した複数部数の乱丁が
検知された場合のみに、乱丁が発生したとみなす方法が
採用されており、従って1部、2部といった少部数の乱
丁を防止することができないという問題があった。
【0006】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、基準画像と検査画像との間で、印刷
濃度や用紙の色が異なっている場合や、印刷物が類似絵
柄や文字のみの折丁である場合等でも、確実に乱丁を検
知することができ、結果として少数部数の乱丁をも確実
に検知することができる乱丁検出方法を提供することを
課題とする。
くなされたもので、基準画像と検査画像との間で、印刷
濃度や用紙の色が異なっている場合や、印刷物が類似絵
柄や文字のみの折丁である場合等でも、確実に乱丁を検
知することができ、結果として少数部数の乱丁をも確実
に検知することができる乱丁検出方法を提供することを
課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、予め正常な印
刷物から画像入力した基準画像と、丁合工程で印刷物か
ら画像入力した検査画像とに基づいて乱丁を検出する乱
丁検出方法において、前記基準画像からエッジを抽出し
た基準エッジ画像を作成すると共に、前記検査画像から
エッジを抽出した検査エッジ画像を作成し、前記基準エ
ッジ画像と前記検査エッジ画像を、それぞれ2値化して
基準2値エッジ画像と検査2値エッジ画像を作成し、前
記基準2値エッジ画像を膨脹処理して基準2値エッジ膨
脹画像を、該エッジ画像を収縮処理して基準2値エッジ
収縮画像をそれぞれ作成し、前記検査2値エッジ画像を
基準2値エッジ膨脹画像によりマスク処理し、基準2値
エッジ収縮画像を前記検査2値エッジ画像によりマスク
処理することにより、これら基準エッジ画像と検査エッ
ジ画像とを比較して乱丁を検出することにより、前記課
題を解決したものである。
刷物から画像入力した基準画像と、丁合工程で印刷物か
ら画像入力した検査画像とに基づいて乱丁を検出する乱
丁検出方法において、前記基準画像からエッジを抽出し
た基準エッジ画像を作成すると共に、前記検査画像から
エッジを抽出した検査エッジ画像を作成し、前記基準エ
ッジ画像と前記検査エッジ画像を、それぞれ2値化して
基準2値エッジ画像と検査2値エッジ画像を作成し、前
記基準2値エッジ画像を膨脹処理して基準2値エッジ膨
脹画像を、該エッジ画像を収縮処理して基準2値エッジ
収縮画像をそれぞれ作成し、前記検査2値エッジ画像を
基準2値エッジ膨脹画像によりマスク処理し、基準2値
エッジ収縮画像を前記検査2値エッジ画像によりマスク
処理することにより、これら基準エッジ画像と検査エッ
ジ画像とを比較して乱丁を検出することにより、前記課
題を解決したものである。
【0008】本発明においては、印刷された絵柄のエッ
ジ情報を基に乱丁か否かを判定する。即ち、基準画像及
び検査画像からそれぞれのエッジ画像を作成し、これら
両者のエッジ画像を2値化してそれぞれの2値画像を作
成する。そして、基準2値エッジ画像から膨張画像と収
縮画像とをそれぞれ作成し、検査2値エッジ画像を該膨
張画像によりマスク処理するとともに、該収縮画像を同
じ検査2値エッジ画像によりマスク処理し、その残差画
像より、同一の折丁か否かを判断するようにしたので、
基準画像を取り込んだ折丁と検査画像を取り込んだ折丁
とが印刷濃度や用紙の色が異なっている場合等でも、確
実に乱丁を検出することができ、結果として少数部数の
乱丁をも確実に検知することができる。
ジ情報を基に乱丁か否かを判定する。即ち、基準画像及
び検査画像からそれぞれのエッジ画像を作成し、これら
両者のエッジ画像を2値化してそれぞれの2値画像を作
成する。そして、基準2値エッジ画像から膨張画像と収
縮画像とをそれぞれ作成し、検査2値エッジ画像を該膨
張画像によりマスク処理するとともに、該収縮画像を同
じ検査2値エッジ画像によりマスク処理し、その残差画
像より、同一の折丁か否かを判断するようにしたので、
基準画像を取り込んだ折丁と検査画像を取り込んだ折丁
とが印刷濃度や用紙の色が異なっている場合等でも、確
実に乱丁を検出することができ、結果として少数部数の
乱丁をも確実に検知することができる。
【0009】又、予め処理を行なっておくことができる
基準画像側の2値エッジ画像に対してのみ膨張と収縮の
両処理を行なうようにし、検査画像側ではこのような処
理を行なわないようにしたため、検査画像の入力後の処
理演算量を少なくすることができることから、判定結果
出力までの所要時間、つまり検査所用時間を短くするこ
とができ、高速な丁合いラインにも対応することができ
る。
基準画像側の2値エッジ画像に対してのみ膨張と収縮の
両処理を行なうようにし、検査画像側ではこのような処
理を行なわないようにしたため、検査画像の入力後の処
理演算量を少なくすることができることから、判定結果
出力までの所要時間、つまり検査所用時間を短くするこ
とができ、高速な丁合いラインにも対応することができ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
実施の形態について詳細に説明する。
【0011】図1は、本発明に係る一実施形態の乱丁検
出方法に適用される乱丁検出装置の概略構成を示すブロ
ック図である。
出方法に適用される乱丁検出装置の概略構成を示すブロ
ック図である。
【0012】この乱丁検出装置は、図示しない折丁から
2次元画像を取り込むカメラ10と、該カメラ10によ
り取り込まれた画像に対して各種画像処理を実行する画
像処理部12とから構成され、該画像処理装置12は、
後述する各処理機能を有する画像メモリ14、位置ずれ
補正部16、エッジ抽出部18、2値化処理部20、膨
脹処理部22、収縮処理部24、マスク処理部26、判
定処理部28を備えている。
2次元画像を取り込むカメラ10と、該カメラ10によ
り取り込まれた画像に対して各種画像処理を実行する画
像処理部12とから構成され、該画像処理装置12は、
後述する各処理機能を有する画像メモリ14、位置ずれ
補正部16、エッジ抽出部18、2値化処理部20、膨
脹処理部22、収縮処理部24、マスク処理部26、判
定処理部28を備えている。
【0013】本実施形態では、上記カメラ10により、
予め正常な折丁(印刷物)から画像入力した基準画像
と、丁合工程で同種の折丁から画像入力した検査画像と
に基づいて乱丁を検出する際、前記基準画像からエッジ
を抽出した基準エッジ画像を作成すると共に、前記検査
画像からエッジを抽出した検査エッジ画像を作成し、そ
れぞれ作成した基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比
較して乱丁発生を検出する。
予め正常な折丁(印刷物)から画像入力した基準画像
と、丁合工程で同種の折丁から画像入力した検査画像と
に基づいて乱丁を検出する際、前記基準画像からエッジ
を抽出した基準エッジ画像を作成すると共に、前記検査
画像からエッジを抽出した検査エッジ画像を作成し、そ
れぞれ作成した基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比
較して乱丁発生を検出する。
【0014】即ち、本実施形態では、基準画像と検査画
像の絵柄のエッジ(輪郭線)を抽出し、両者のエッジの
差異を検出することにより、乱丁の判定を行う。エッジ
の差異には、(1)基準画像のエッジに対して、検査画
像のエッジが増加している場合と、(2)基準画像のエ
ッジに対して、検査画像のエッジが欠落している場合が
考えられるため、それぞれに対し検出を行う。後者のエ
ッジ欠落は、検査画像に対する基準画像のエッジの増加
として捉えれば、前者の処理と同様になる。
像の絵柄のエッジ(輪郭線)を抽出し、両者のエッジの
差異を検出することにより、乱丁の判定を行う。エッジ
の差異には、(1)基準画像のエッジに対して、検査画
像のエッジが増加している場合と、(2)基準画像のエ
ッジに対して、検査画像のエッジが欠落している場合が
考えられるため、それぞれに対し検出を行う。後者のエ
ッジ欠落は、検査画像に対する基準画像のエッジの増加
として捉えれば、前者の処理と同様になる。
【0015】以下、本実施形態による乱丁検出方法を、
図2をも参照しながら具体的に説明する。この図2に
は、各処理工程に対応する画像のイメージをそれぞれ模
式的に示してある。
図2をも参照しながら具体的に説明する。この図2に
は、各処理工程に対応する画像のイメージをそれぞれ模
式的に示してある。
【0016】まず、前記カメラ10により製本機(図示
せず)上で正常な折丁の絵柄を2次元画像として取り込
み、基準画像Aとして前記画像メモリ14に格納する。
この画像メモリ14からエッジ抽出部18に上記基準画
像Aを読み出し、該基準画像Aに対してラプラシアンや
ソーベル等のエッジ抽出演算子を適用して、該基準画像
Aに含まれる絵柄のエッジを抽出し、基準エッジ画像B
を作成する。
せず)上で正常な折丁の絵柄を2次元画像として取り込
み、基準画像Aとして前記画像メモリ14に格納する。
この画像メモリ14からエッジ抽出部18に上記基準画
像Aを読み出し、該基準画像Aに対してラプラシアンや
ソーベル等のエッジ抽出演算子を適用して、該基準画像
Aに含まれる絵柄のエッジを抽出し、基準エッジ画像B
を作成する。
【0017】又、ここで抽出するエッジの方向は全方向
が望ましいが、入力系から決まる画質により水平のみ、
又は垂直のみのエッジを抽出するようにしてもよい。
又、エッジ抽出の前処理として、平滑化フィルタやメデ
ィアンフィルタ等によるノイズ除去処理を適用してもよ
い。
が望ましいが、入力系から決まる画質により水平のみ、
又は垂直のみのエッジを抽出するようにしてもよい。
又、エッジ抽出の前処理として、平滑化フィルタやメデ
ィアンフィルタ等によるノイズ除去処理を適用してもよ
い。
【0018】次いで、画像メモリ14から読み出した上
記基準エッジ画像Bに対して、前記2値化処理部20に
おいて、エッジを明確にするために、モード法や判別分
析法等の手段を用いて2値化を行い、基準2値エッジ画
像Cとし、これを前記画像メモリ14に格納する。更
に、前記膨脹処理部22において、同様に読み出した上
記基準2値エッジ画像Cに対して膨脹操作を行い、基準
2値エッジ膨脹画像(検査画マスク)Dとするととも
に、前記収縮処理部24において、同じく基準2値エッ
ジ画像Cに対して収縮操作を行ない、基準2値エッジ収
縮画像Eとし、これSを同じく画像メモリ14に格納す
る。以上の収縮画像Eを作成するまでの操作を、検査画
像を入力する前に予め行っておく。なお、ここで行なう
膨張処理は、エッジに対応する領域の画素数を内側と外
側に向かってそれぞれ増加させる処理に、収縮処理は逆
に画素数を減少させる処理に当る。
記基準エッジ画像Bに対して、前記2値化処理部20に
おいて、エッジを明確にするために、モード法や判別分
析法等の手段を用いて2値化を行い、基準2値エッジ画
像Cとし、これを前記画像メモリ14に格納する。更
に、前記膨脹処理部22において、同様に読み出した上
記基準2値エッジ画像Cに対して膨脹操作を行い、基準
2値エッジ膨脹画像(検査画マスク)Dとするととも
に、前記収縮処理部24において、同じく基準2値エッ
ジ画像Cに対して収縮操作を行ない、基準2値エッジ収
縮画像Eとし、これSを同じく画像メモリ14に格納す
る。以上の収縮画像Eを作成するまでの操作を、検査画
像を入力する前に予め行っておく。なお、ここで行なう
膨張処理は、エッジに対応する領域の画素数を内側と外
側に向かってそれぞれ増加させる処理に、収縮処理は逆
に画素数を減少させる処理に当る。
【0019】基準2値エッジ膨脹画像Dと基準2値エッ
ジ収縮画像Eの作成完了と共に、前記カメラ10により
製本機上の折丁から画像入力して検査画像Fを取り込
み、前記画像メモリ14に格納する。通常は、折丁の載
せずれ等に起因して基準画像Aと検査画像Fには位置ず
れが生じているため、前記位置ずれ補正部16において
テンプレートパターンマッチング等の方法により位置ず
れ量を算出し、該ずれ量分の位置補正をした位置補正画
像Gにして、これを前記画像メモリ14に再格納する。
ジ収縮画像Eの作成完了と共に、前記カメラ10により
製本機上の折丁から画像入力して検査画像Fを取り込
み、前記画像メモリ14に格納する。通常は、折丁の載
せずれ等に起因して基準画像Aと検査画像Fには位置ず
れが生じているため、前記位置ずれ補正部16において
テンプレートパターンマッチング等の方法により位置ず
れ量を算出し、該ずれ量分の位置補正をした位置補正画
像Gにして、これを前記画像メモリ14に再格納する。
【0020】その後、上記位置補正画像Gに対して、前
記基準画像Aの場合と同様に、前記エッジ抽出部18及
び2値化処理部20で順次処理を実行することにより、
検査エッジ画像F及び検査2値エッジ画像(基準画マス
ク)Iをそれぞれ作成し、これらを前記画像メモリ14
にそれぞれ格納する。
記基準画像Aの場合と同様に、前記エッジ抽出部18及
び2値化処理部20で順次処理を実行することにより、
検査エッジ画像F及び検査2値エッジ画像(基準画マス
ク)Iをそれぞれ作成し、これらを前記画像メモリ14
にそれぞれ格納する。
【0021】次いで、前記マスク処理部24において、
基準エッジ画像Bと検査エッジ画像Gを比較することに
相当するマスク処理を行う。即ち、基準画像A側では、
基準2値エッジ収縮画像Eに対して検査2値エッジ画像
Iを用いてマスクすることにより、残差画像(欠落部)
Jとし、検査画像F側では、検査2値エッジ画像Hに対
して基準2値エッジ膨脹画像Dを用いてマスクすること
により、残差画像(増加部分)Kとする。ここでのマス
ク処理は、各マスク画像D(I)の反転画像と、2値エ
ッジ画像H(C)との対応する画素間でAND処理を行
っていることにあたる。従って、残差画像J(K)で
は、両画像で対応する画素が共に白の場合にのみ白とな
り、それ以外は全て黒になる。
基準エッジ画像Bと検査エッジ画像Gを比較することに
相当するマスク処理を行う。即ち、基準画像A側では、
基準2値エッジ収縮画像Eに対して検査2値エッジ画像
Iを用いてマスクすることにより、残差画像(欠落部)
Jとし、検査画像F側では、検査2値エッジ画像Hに対
して基準2値エッジ膨脹画像Dを用いてマスクすること
により、残差画像(増加部分)Kとする。ここでのマス
ク処理は、各マスク画像D(I)の反転画像と、2値エ
ッジ画像H(C)との対応する画素間でAND処理を行
っていることにあたる。従って、残差画像J(K)で
は、両画像で対応する画素が共に白の場合にのみ白とな
り、それ以外は全て黒になる。
【0022】以上のように、基準画像Aのエッジに対す
る検査画像Fのエッジの増加は、検査2値エッジ画像I
に対し、基準2値エッジ膨脹画像Dをマスク画像として
用いてマスク処理することで検出でき、又基準画像Aの
エッジに対する検査画像Fのエッジの減少(欠落)は、
基準2値エッジ収縮画像Eに対し、検査2値エッジ画像
Iをマスク画像として用いてマスク処理することにより
検出できる。
る検査画像Fのエッジの増加は、検査2値エッジ画像I
に対し、基準2値エッジ膨脹画像Dをマスク画像として
用いてマスク処理することで検出でき、又基準画像Aの
エッジに対する検査画像Fのエッジの減少(欠落)は、
基準2値エッジ収縮画像Eに対し、検査2値エッジ画像
Iをマスク画像として用いてマスク処理することにより
検出できる。
【0023】以上詳述した本実施形態によれば、前記判
定処理部28において、残差画像Jのように、基準画像
Aからの欠落部分がある場合でも、逆に残差画像Kのよ
うに基準画像Aの対して増加部分がある場合でも、いず
れも乱丁として確実に検出することができる。因みに、
正丁の場合は、両残差画像J、K共に全体が実質上黒の
画像になる。
定処理部28において、残差画像Jのように、基準画像
Aからの欠落部分がある場合でも、逆に残差画像Kのよ
うに基準画像Aの対して増加部分がある場合でも、いず
れも乱丁として確実に検出することができる。因みに、
正丁の場合は、両残差画像J、K共に全体が実質上黒の
画像になる。
【0024】又、本実施形態によれば、基準画像と検査
画像のエッジを比較していることから、印刷濃度や用紙
色の変化、及び絵柄に影響されることなく、乱丁を検出
することができる。
画像のエッジを比較していることから、印刷濃度や用紙
色の変化、及び絵柄に影響されることなく、乱丁を検出
することができる。
【0025】又、基準画像側でエッジ膨張画像とエッジ
収縮画像を予め作成しておくことができることから、検
査画像を入力した後、判定処理までの処理演算量が少な
くなるため、検査所要時間を短くすることができ、高速
な丁合いラインにも対応できる。
収縮画像を予め作成しておくことができることから、検
査画像を入力した後、判定処理までの処理演算量が少な
くなるため、検査所要時間を短くすることができ、高速
な丁合いラインにも対応できる。
【0026】又、本実施形態では、基準画像に対して検
査画像の位置ずれ補正を行っているので、折丁の載せず
れ等により検査対象の絵柄にずれが生じている場合でも
正確に乱丁を検出することができる。
査画像の位置ずれ補正を行っているので、折丁の載せず
れ等により検査対象の絵柄にずれが生じている場合でも
正確に乱丁を検出することができる。
【0027】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
【0028】例えば、前記実施形態では、2次元画像を
入力するための画像入力手段としてカメラ10を用いる
場合を示したが、これに限らず、密着ラインセンサ等を
使用するようにしてもよい。
入力するための画像入力手段としてカメラ10を用いる
場合を示したが、これに限らず、密着ラインセンサ等を
使用するようにしてもよい。
【0029】又、折丁を実質的に同一位置に載せること
ができれば、マスクとしてマスク対象より幅の広い画像
を使っていることからある程度のずれに対応できるの
で、必ずしも位置補正(位置合せ)は行なわなくともよ
い。
ができれば、マスクとしてマスク対象より幅の広い画像
を使っていることからある程度のずれに対応できるの
で、必ずしも位置補正(位置合せ)は行なわなくともよ
い。
【0030】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
検査画像を取り込んだ印刷物と基準画像を取り込んだ印
刷物との間で、印刷濃度や用紙の色が異なっている場合
等でも、確実に乱丁を検出することができる。又、基準
画像側でマスク処理に必要な膨張処理や収縮処理を予め
行なうので、検査画像入力後の処理演算量を少なくする
ことができ、検査所要時間を短縮することができる。
検査画像を取り込んだ印刷物と基準画像を取り込んだ印
刷物との間で、印刷濃度や用紙の色が異なっている場合
等でも、確実に乱丁を検出することができる。又、基準
画像側でマスク処理に必要な膨張処理や収縮処理を予め
行なうので、検査画像入力後の処理演算量を少なくする
ことができ、検査所要時間を短縮することができる。
【図1】本発明に係る一実施形態に適用される乱丁検出
装置の概略構成を示すブロック図
装置の概略構成を示すブロック図
【図2】本実施形態の作用を示す流れ図
10…カメラ 12…画像処理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加来 昌典 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 Fターム(参考) 2G051 AA90 AB07 AC21 CA04 EA08 EA11 EA12 EA14 EB01 ED01 ED11
Claims (2)
- 【請求項1】予め正常な印刷物から画像入力した基準画
像と、丁合工程で印刷物から画像入力した検査画像とに
基づいて乱丁を検出する乱丁検出方法において、 前記基準画像からエッジを抽出した基準エッジ画像を作
成すると共に、前記検査画像からエッジを抽出した検査
エッジ画像を作成し、 前記基準エッジ画像と前記検査エッジ画像を、それぞれ
2値化して基準2値エッジ画像と検査2値エッジ画像を
作成し、 前記基準2値エッジ画像を膨脹処理して基準2値エッジ
膨脹画像を、該エッジ画像を収縮処理して基準2値エッ
ジ収縮画像をそれぞれ作成し、 前記検査2値エッジ画像を基準2値エッジ膨脹画像によ
りマスク処理し、基準2値エッジ収縮画像を前記検査2
値エッジ画像によりマスク処理することにより、これら
基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比較して乱丁を検
出することを特徴とする乱丁検出方法。 - 【請求項2】請求項1において、前記基準エッジ画像と
前記検査エッジ画像との位置合せを行なうことを特徴と
する乱丁検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10345485A JP2000168261A (ja) | 1998-12-04 | 1998-12-04 | 乱丁検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10345485A JP2000168261A (ja) | 1998-12-04 | 1998-12-04 | 乱丁検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000168261A true JP2000168261A (ja) | 2000-06-20 |
Family
ID=18376908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10345485A Withdrawn JP2000168261A (ja) | 1998-12-04 | 1998-12-04 | 乱丁検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000168261A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111242896A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-06-05 | 电子科技大学 | 一种彩色印刷标签缺陷检测与质量评级方法 |
-
1998
- 1998-12-04 JP JP10345485A patent/JP2000168261A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111242896A (zh) * | 2019-12-31 | 2020-06-05 | 电子科技大学 | 一种彩色印刷标签缺陷检测与质量评级方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051125 |
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| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20080620 |