JP2000165044A - Manufacture of multilayer printed wiring board - Google Patents
Manufacture of multilayer printed wiring boardInfo
- Publication number
- JP2000165044A JP2000165044A JP33390298A JP33390298A JP2000165044A JP 2000165044 A JP2000165044 A JP 2000165044A JP 33390298 A JP33390298 A JP 33390298A JP 33390298 A JP33390298 A JP 33390298A JP 2000165044 A JP2000165044 A JP 2000165044A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal layer
- via hole
- thickness
- insulating layer
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 138
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 138
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 34
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 26
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 24
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 24
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 8
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 8
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 7
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 266
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 11
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 10
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 5
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol Natural products OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- JYLNVJYYQQXNEK-UHFFFAOYSA-N 3-amino-2-(4-chlorophenyl)-1-propanesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)CC(CN)C1=CC=C(Cl)C=C1 JYLNVJYYQQXNEK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229940028356 diethylene glycol monobutyl ether Drugs 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 2
- JCGNDDUYTRNOFT-UHFFFAOYSA-N oxolane-2,4-dione Chemical compound O=C1COC(=O)C1 JCGNDDUYTRNOFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZMLDXWLZKKZVSS-UHFFFAOYSA-N palladium tin Chemical compound [Pd].[Sn] ZMLDXWLZKKZVSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 2
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 2
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電子機器、
電気機器、コンピューター、通信機器等に用いられる多
層プリント配線板の製造方法に関するものである。TECHNICAL FIELD The present invention relates to, for example, electronic equipment,
The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board used for electric equipment, computers, communication equipment, and the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、半導体チップやチップ部品等の電
子部品は軽薄短小化が進んでおり、これに伴って電子部
品を実装する多層プリント配線板も、ビアホールと呼ば
れる導体間の接続スタイルを持つビルドアップ多層プリ
ント配線板が高密度薄型化が可能であるために用いられ
るようになっている。2. Description of the Related Art In recent years, electronic components such as semiconductor chips and chip components have become lighter, thinner and smaller, and accordingly, multilayer printed wiring boards on which electronic components are mounted have connection styles between conductors called via holes. 2. Description of the Related Art Build-up multilayer printed wiring boards have been used because they can be thinned at high density.
【0003】ビルドアップの形態や手法は様々である
が、一般的な手法の一つとして次のような手法がある。
すなわち、まず回路パターンとして形成される導体層の
上に絶縁層を形成し、この絶縁層にレーザービームの照
射や光反応等によって下の導体層に達するビアホールを
加工し、次にこの絶縁層の表面からビアホールの内壁面
にかけて無電解めっき及び電解めっきを施すことによっ
て金属層を全体に形成する。この後、絶縁層の表面の金
属層を回路パターンにプリント配線加工して導体層を形
成し、ビアホール内の金属層によって上下の導体層を導
通接続させる。そしてこの操作を繰り返すことによっ
て、ビアホールを介して導通接続される複数の導体層が
絶縁層を介して複数層に設けられた多層プリント配線板
を得ることができるものである。There are various forms and methods of build-up, but one of the general methods is as follows.
That is, first, an insulating layer is formed on a conductor layer formed as a circuit pattern, and a via hole reaching the lower conductor layer is formed on the insulating layer by laser beam irradiation, photoreaction, or the like. Electroless plating and electrolytic plating are applied from the surface to the inner wall surface of the via hole to form the entire metal layer. Thereafter, the metal layer on the surface of the insulating layer is printed and processed into a circuit pattern to form a conductor layer, and the upper and lower conductor layers are electrically connected by the metal layer in the via hole. By repeating this operation, it is possible to obtain a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive layers electrically connected via via holes are provided in a plurality of layers via an insulating layer.
【0004】このようなビアホールを介して導体層を導
通接続するようにした多層プリント配線板において問題
になるのは、ビアホールの内壁の金属層による導体層間
の接続信頼性である。例えば、銅で導体層やビアホール
の内壁の金属層を形成した場合、ビアホールの内壁の金
属層の厚みが15μm程度以上でないと、断線が発生
し、十分な接続信頼性を得ることが難しい。そこで、絶
縁層の表面からビアホールの内壁面にかけてめっきを施
すことによって金属層を形成するにあたって、金属層を
25〜30μm以上の厚みで形成し、ビアホールの内壁
の金属層の厚みを確保して接続信頼性を高く得るように
しているのが現状である。[0004] A problem in such a multilayer printed wiring board in which conductive layers are electrically connected via the via holes is the connection reliability between the conductive layers by the metal layer on the inner wall of the via holes. For example, when the conductor layer and the metal layer on the inner wall of the via hole are formed of copper, if the thickness of the metal layer on the inner wall of the via hole is not more than about 15 μm, disconnection occurs and it is difficult to obtain sufficient connection reliability. Therefore, when forming a metal layer by plating from the surface of the insulating layer to the inner wall surface of the via hole, the metal layer is formed with a thickness of 25 to 30 μm or more, and the thickness of the metal layer on the inner wall of the via hole is secured and connected. The current situation is to obtain high reliability.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のように
絶縁層の表面の金属層が25〜30μm以上の厚みで形
成されると、テンティング法などの回路形成手法を用い
て絶縁層の表面のこの金属層によって回路パターンを作
製して導体層を形成する場合、導体層の回路パターンを
ラインアンドスペースが30μm/30μmのような微
細回路に形成することが非常に困難になるという問題が
あった。However, when the metal layer on the surface of the insulating layer is formed with a thickness of 25 to 30 μm or more as described above, the surface of the insulating layer is formed using a circuit forming technique such as a tenting method. When a conductor layer is formed by forming a circuit pattern using this metal layer, there is a problem that it is extremely difficult to form a circuit pattern of the conductor layer into a fine circuit having a line and space of 30 μm / 30 μm. Was.
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、ビアホール内の金属層の厚みを確保して導体層間
の接続信頼性を確保しながら、絶縁層の表面の金属層の
厚みを薄くして微細回路パターンで導体層を形成するこ
とができる多層プリント配線板の製造方法を提供するこ
とを目的とするものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and has been made to reduce the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while securing the thickness of the metal layer in the via hole and ensuring the connection reliability between the conductor layers. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a multilayer printed wiring board that can be thinned to form a conductor layer with a fine circuit pattern.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
多層プリント配線板の製造方法は、導体層1と絶縁層2
を交互に設け、絶縁層2に設けたビアホール3を介して
導体層1間の接続を行なうようにした多層プリント配線
板を製造するにあたって、ビアホール3を設けた絶縁層
2の表面及びビアホール3内に亘って金属層4を形成
し、ビアホール3内の金属層4の厚みは保ったまま、絶
縁層1の表面の金属層4の厚みを薄くする加工を行なっ
た後、絶縁層1の表面のこの金属層4で回路形成を行な
って導体層1を形成することを特徴とするものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, comprising: a conductor layer and an insulating layer;
Are alternately provided so that the connection between the conductor layers 1 is made via the via holes 3 provided in the insulating layer 2, the surface of the insulating layer 2 provided with the via holes 3 and the inside of the via holes 3 are manufactured. After the metal layer 4 is formed over the entire surface of the insulating layer 1 while the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is maintained, the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 is reduced. A circuit is formed on the metal layer 4 to form the conductor layer 1.
【0008】また請求項2の発明は、上記の請求項1に
おいて、ビアホール3内の金属層4の厚みは保ったま
ま、絶縁層1の表面の金属層4の厚みを薄くする加工
が、ビアホール3内に液体5を注入した後に、絶縁層1
の表面の金属層4を化学的にエッチングする加工である
ことを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 is reduced while the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is maintained. After injecting the liquid 5 into the insulating layer 1, the insulating layer 1
Is a process of chemically etching the metal layer 4 on the surface.
【0009】また請求項3の発明は、上記の請求項2に
おいて、ビアホール3に注入する液体5が水であり、エ
ッチングの工程が硫酸と過酸化水素を主成分とするエッ
チング液を用いた湿式のエッチングプロセスであること
を特徴とするものである。According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the liquid 5 to be injected into the via hole 3 is water, and the etching step is performed by a wet process using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components. Characterized in that it is an etching process.
【0010】また請求項4の発明は、上記の請求項2に
おいて、ビアホール3に注入する液体5がアルカリ性を
示す液体であり、エッチングの工程が硫酸と過酸化水素
を主成分とするエッチング液を用いた湿式のエッチング
プロセスであることを特徴とするものである。According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect, the liquid 5 to be injected into the via hole 3 is a liquid showing alkalinity, and the etching step is performed by using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components. It is characterized in that it is a wet etching process used.
【0011】また請求項5の発明は、ビアホール3内の
金属層4の厚みは保ったまま、絶縁層1の表面の金属層
4の厚みを薄くする加工が、ビアホール3内に樹脂6を
注入硬化させた後に、絶縁層1の表面の金属層4を機械
的に除去する加工であることを特徴とするものである。According to a fifth aspect of the present invention, the process of reducing the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 while maintaining the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is performed by injecting the resin 6 into the via hole 3. After curing, the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 is mechanically removed.
【0012】また請求項6の発明は、ビアホール3内に
注入硬化させる樹脂6がエポキシ樹脂であり、絶縁層1
の表面の金属層4を機械的に除去する加工が機械研磨で
あることを特徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, the resin 6 to be injected and cured into the via hole 3 is an epoxy resin.
The process for mechanically removing the metal layer 4 on the surface of the substrate is mechanical polishing.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。Embodiments of the present invention will be described below.
【0014】図1は本発明の実施の形態の一例を示すも
のであり、まず電気絶縁性のコア基板10の両面に導体
層1(1a,1b)が設けられた内層回路板11を作製
する。この内層回路板11としては、例えば両面に銅箔
などの金属箔を張った両面金属張り積層板を用い、各金
属箔を回路パターンにプリント配線加工することによっ
て導体層1a,1bを形成したものを用いることができ
る。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. First, an inner circuit board 11 in which conductor layers 1 (1a, 1b) are provided on both surfaces of an electrically insulating core substrate 10 is manufactured. . As the inner layer circuit board 11, for example, a double-sided metal-clad laminate having a metal foil such as a copper foil on both sides is used, and conductor layers 1a and 1b are formed by printing and wiring each metal foil into a circuit pattern. Can be used.
【0015】そしてこの内層回路板11の両面に絶縁層
2,2を設けて各導体層1a,1bを図1(a)のよう
に絶縁層2で被覆する。絶縁層2はエポキシ樹脂などの
熱硬化性樹脂を印刷や、塗工などの任意の塗布手段で設
けるようにすることができる。またこのような塗布によ
る他、金属箔の片面に半硬化状態の樹脂層を設けた樹脂
付き金属箔を用い、この樹脂付き金属箔の樹脂層を内層
回路板1の表面に積層成形することによって絶縁層2を
設けるようにすることもできる。Then, insulating layers 2 and 2 are provided on both sides of the inner circuit board 11, and the conductor layers 1a and 1b are covered with the insulating layer 2 as shown in FIG. The insulating layer 2 can be provided with a thermosetting resin such as an epoxy resin by any application means such as printing or coating. In addition to such application, a metal foil with a resin in which a semi-cured resin layer is provided on one side of the metal foil is used, and the resin layer of the metal foil with the resin is laminated and formed on the surface of the inner circuit board 1. An insulating layer 2 may be provided.
【0016】次に、各導体層1a,1bの導通接続する
箇所において、各絶縁層2に導体層1a,1bにまで達
するビアホール3を設ける。ビアホール3の加工は、絶
縁層2に炭酸ガスレーザーや紫外線レーザーなどのレー
ザービームを照射して、照射部分の絶縁層2の樹脂を除
去することによって行なうことができるが、絶縁層2が
感光性樹脂で形成されている場合には、露光・現像のプ
ロセスを経てビアホール3を形成することもできる。Next, a via hole 3 reaching the conductor layers 1a and 1b is provided in each insulating layer 2 at a place where the conductor layers 1a and 1b are electrically connected. The processing of the via hole 3 can be performed by irradiating the insulating layer 2 with a laser beam such as a carbon dioxide gas laser or an ultraviolet laser to remove the resin of the insulating layer 2 at the irradiated portion. In the case where the via hole 3 is formed of a resin, the via hole 3 can be formed through an exposure and development process.
【0017】次に各絶縁層2の表面を過マンガン酸等で
処理して粗面化した後、無電解銅めっきなどの無電解め
っきを施した後にさらに電解銅めっきなどの電解めっき
を行なうことによって、図1(c)のように絶縁層2の
表面からビアホール1a,1b内にかけて内層回路板1
1の全体に金属層4を形成する。ここで、導体層1間の
導通信頼性を確保するためにビアホール1a,1bの内
壁面に形成される金属層4の厚みは15μm以上である
ことが必要であり、ビアホール1a,1bの内壁面の金
属層4の厚みを15μm以上にすると、電解めっきの付
きまわりの関係から、絶縁層2の表面に形成される金属
層4の厚みは25〜30μm以上になる。Next, after the surface of each insulating layer 2 is roughened by treatment with permanganic acid or the like, electroless plating such as electroless copper plating is performed, and then electrolytic plating such as electrolytic copper plating is performed. 1C, the inner circuit board 1 extends from the surface of the insulating layer 2 to the inside of the via holes 1a and 1b as shown in FIG.
A metal layer 4 is formed on the entirety of the substrate 1. Here, the thickness of the metal layer 4 formed on the inner wall surfaces of the via holes 1a and 1b needs to be 15 μm or more in order to secure conduction reliability between the conductor layers 1, and the inner wall surfaces of the via holes 1a and 1b are required. When the thickness of the metal layer 4 is 15 μm or more, the thickness of the metal layer 4 formed on the surface of the insulating layer 2 becomes 25 to 30 μm or more due to the surroundings of the electrolytic plating.
【0018】このようにめっきを行なって金属層4を形
成した後、絶縁層2の表面の金属層4の厚みを薄くする
加工を行なう。このとき、図1の実施形態では、図1
(d)のようにビアホール3内に液体5を注入して充填
した後に、エッチング液を用いて絶縁層2の表面の金属
層4を湿式エッチングプロセスで処理することによっ
て、絶縁層2の表面の金属層4の厚みを薄くする加工を
行なうようにしてある。ビアホール3は通常、その内径
が100μm程度の細い穴として形成されているため
に、ビアホール3内に充填した液体5はその表面張力で
ビアホール3内に保持されるものであり、このビアホー
ル3内に充填された液体5によってエッチング液がビア
ホール3内に作用することを防ぐことができ、従って図
1(e)のように、ビアホール3内の金属層4の厚みを
確保したまま、絶縁層2の表面の金属層4の厚みを薄く
する加工を行なうことができるものである。絶縁層2の
表面の金属層4の厚みが10μm程度になるように薄く
するのが好ましい。After the metal layer 4 is formed by plating as described above, a process of reducing the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 is performed. At this time, in the embodiment of FIG.
After the liquid 5 is injected and filled into the via hole 3 as shown in (d), the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 is processed by a wet etching process using an etching solution, so that the surface of the insulating layer 2 is Processing for reducing the thickness of the metal layer 4 is performed. Since the via hole 3 is usually formed as a thin hole having an inner diameter of about 100 μm, the liquid 5 filled in the via hole 3 is held in the via hole 3 by its surface tension. The filled liquid 5 can prevent the etching liquid from acting on the via hole 3. Therefore, as shown in FIG. 1E, the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is maintained and the thickness of the insulating layer 2 is reduced. The processing for reducing the thickness of the metal layer 4 on the surface can be performed. It is preferable that the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 is reduced to about 10 μm.
【0019】上記の湿式エッチングプロセスによる処理
はハーフエッチングと呼ばれている技術であり、絶縁層
2の表面の金属層4を均一にエッチングして金属層4を
均一に薄くすることができるものである。ここで、金属
層4が銅で形成されている場合、エッチング量の小さ
い、硫酸と過酸化水素水からなるエッチング液を用い、
このエッチング液を金属層4の表面にスプレー噴射し、
金属層4の表面に対してエッチング液を均一に交換頻度
高く入れ替えて、表面にエッチング液を長時間滞留させ
ないようにすることによって、ビアホール3内の金属層
4に対するよりも、絶縁層2の表面の金属層4を遙かに
大きく均一にエッチングすることができるものであり、
ビアホール3内の金属層4の厚みを確保したまま、絶縁
層2の表面の金属層4の厚みを薄くする加工を行なうこ
とができるものである。The processing by the above wet etching process is a technique called half etching, and can uniformly thin the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 by uniformly etching the metal layer 4. is there. Here, when the metal layer 4 is formed of copper, an etching solution having a small etching amount and including sulfuric acid and hydrogen peroxide is used.
This etchant is sprayed onto the surface of the metal layer 4,
By exchanging the etching solution uniformly and frequently with respect to the surface of the metal layer 4 so that the etching solution does not stay on the surface for a long period of time, the surface of the insulating layer 2 is more likely than the metal layer 4 in the via hole 3. Metal layer 4 can be etched much more uniformly.
The process of reducing the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 can be performed while the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is maintained.
【0020】このような硫酸と過酸化水素水からなるエ
ッチング液を用いる場合、ビアホール3内に充填する液
体5としては水を用いることができるが、このエッチン
グ液は酸性であるため、ビアホール3内に充填する液体
5としてプリント配線板洗浄用の洗浄液などアルカリ性
の液体を用いるようにすれば、エッチング液がビアホー
ル3内に作用することを防止してビアホール3内の金属
層4の厚みを確保する効果を一層高く得ることができる
ものである。When such an etching solution comprising sulfuric acid and hydrogen peroxide is used, water can be used as the liquid 5 to be filled in the via hole 3. However, since this etching solution is acidic, the etching solution in the via hole 3 is used. If an alkaline liquid such as a cleaning liquid for cleaning a printed wiring board is used as the liquid 5 to be filled into the via hole 3, the etching liquid is prevented from acting on the via hole 3 and the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is secured. The effect can be further enhanced.
【0021】上記のようにしてビアホール3内の金属層
4の厚みを確保しつつ、絶縁層2の表面の金属層4の厚
みを薄くする加工を行なった後、各絶縁層2の表面の金
属層4に回路形成を行なって、図1(f)のような回路
パターンとして導体層1(1c,1d)を形成するもの
であり、多層プリント配線板を作製することができるも
のである。このように形成される外層の導体層1c,1
dと内層の導体層1a,1bはビアホール3の内壁の金
属層4によって導通接続されているものである。ここ
で、絶縁層2の表面の金属層4に回路形成を行なうにあ
たっては、例えば、金属層4の表面にドライフィルム等
のエッチングレジストを形成し、これを露光・現像した
後、金属箔4をエッチング処理するプリント配線加工に
よって行なうことができる。このように絶縁層2の表面
の金属層4に回路形成を行なうにあたって、この金属層
4は厚みを薄くする加工がされているので、微細な回路
パターンとして導体層1c,1dを形成することが容易
になるものである。またビアホール3内の金属層4の厚
みは確保されているので、外層の導体層1c,1dと内
層の導体層1a,1bの導通接続を高く得ることができ
るものである。After the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 is reduced while securing the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 as described above, the metal on the surface of each insulating layer 2 is formed. A circuit is formed on the layer 4 to form the conductor layers 1 (1c, 1d) as a circuit pattern as shown in FIG. 1 (f), and a multilayer printed wiring board can be manufactured. The outer conductor layers 1c, 1 thus formed
d and the inner conductor layers 1 a and 1 b are electrically connected by the metal layer 4 on the inner wall of the via hole 3. Here, in forming a circuit on the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2, for example, an etching resist such as a dry film is formed on the surface of the metal layer 4, and after exposing and developing the resist, the metal foil 4 is removed. The etching can be performed by printed wiring processing. When a circuit is formed on the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 as described above, since the metal layer 4 is processed to be thin, it is necessary to form the conductor layers 1c and 1d as a fine circuit pattern. It will be easier. Further, since the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is ensured, a high conductive connection between the outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b can be obtained.
【0022】図2は本発明の実施の形態の他の一例を示
すものであり、絶縁層2の表面からビアホール1a,1
b内にかけて内層回路板11の全体に金属層4を形成す
る図2(c)までの工程は、前記の図1(a)〜(c)
と同じである。そして図2(c)のようにめっきを行な
って金属層4を形成した後、図2(d)のようにビアホ
ール3内に熱硬化性の樹脂6を注入充填して硬化させた
後に、絶縁層1の表面の金属層4を機械的に除去し、こ
の金属層4の厚みを薄くする加工を行なう。このように
絶縁層1の表面の金属層4を機械的に除去する加工の際
に、ビアホール3内に充填した樹脂6の表層部も同時に
除去されるが、このビアホール3内に充填された樹脂6
によって機械的除去の作用がビアホール3内に作用する
ことを防ぐことができる。従って図2(e)のように、
ビアホール3内の金属層4の厚みを確保したまま、絶縁
層2の表面の金属層4の厚みを薄くする加工を行なうこ
とができるものであり、絶縁層2の表面の金属層4の厚
みが10μm程度になるように薄くするのが好ましい。
ここで、絶縁層1の表面の金属層4を機械的に除去する
加工の方法としては、研磨粒を吹き付けるサンドブラス
ト法、ホーニング盤を用いたホーニング法、フライス盤
を用いたミリング法、凹凸原板やエンボスロールを用い
た粗面転写法、その他スクラブ研磨やオシレーション機
能の付いたバフ研磨なのどの各種の研磨機を用いた研磨
法などを採用することができる。FIG. 2 shows another example of the embodiment of the present invention. In FIG.
The steps up to FIG. 2C for forming the metal layer 4 on the entire inner-layer circuit board 11 in the area b are the same as those shown in FIGS. 1A to 1C.
Is the same as Then, as shown in FIG. 2 (c), plating is performed to form a metal layer 4, and then, as shown in FIG. 2 (d), a thermosetting resin 6 is injected and filled into the via holes 3 to be cured. The metal layer 4 on the surface of the layer 1 is mechanically removed, and processing for reducing the thickness of the metal layer 4 is performed. When the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 is mechanically removed in this manner, the surface layer of the resin 6 filled in the via hole 3 is also removed at the same time, but the resin filled in the via hole 3 is removed. 6
Thus, the effect of mechanical removal can be prevented from acting on the inside of the via hole 3. Therefore, as shown in FIG.
The process of reducing the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 can be performed while the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is secured, and the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 can be reduced. It is preferable to reduce the thickness to about 10 μm.
Here, as a method of mechanically removing the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1, a sand blast method in which abrasive grains are sprayed, a honing method using a honing machine, a milling method using a milling machine, an original plate having irregularities and an emboss A rough surface transfer method using a roll, a polishing method using various polishing machines such as a scrub polishing and a buff polishing with an oscillation function, and the like can be adopted.
【0023】ここで、ビアホール3内に充填硬化させる
樹脂6としては特に制限はないが、絶縁層1の表面の金
属層4をバフ研磨機などで機械研磨して除去する際に、
ビアホール3内の金属層4を保護して損傷することを防
止するためには、樹脂6として強度が高いことが要求さ
れるので、プリント配線板の材料として汎用され、スル
ーホールの穴埋めにも多用されて入手の容易なエポキシ
樹脂を用いるのが好ましい。Here, the resin 6 to be filled and cured in the via hole 3 is not particularly limited. However, when the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 1 is mechanically polished with a buffing machine or the like, it is removed.
In order to protect the metal layer 4 in the via hole 3 and prevent the metal layer 4 from being damaged, the resin 6 is required to have a high strength. Therefore, the resin 6 is widely used as a material for a printed wiring board, and is often used for filling a through hole. It is preferable to use an epoxy resin which is easily obtained.
【0024】上記のようにしてビアホール3内の金属層
4の厚みを確保しつつ、絶縁層2の表面の金属層4の厚
みを薄くする加工を行なった後、各絶縁層2の表面の金
属層4に回路形成を行なって、図2(f)のような回路
パターンとして導体層1(1c,1d)を形成するもの
であり、多層プリント配線板を作製することができるも
のである。この外層の導体層1c,1dと内層の導体層
1a,1bはビアホール3の内壁の金属層4によって導
通接続されているものである。ここで、絶縁層2の表面
の金属層4に回路形成を行なうにあたっては、図1
(f)の場合と同様にして行なうことができる。そして
このように絶縁層2の表面の金属層4に回路形成を行な
うにあたって、この金属層4は厚みを薄くする加工がさ
れているので、微細な回路パターンとして導体層1c,
1dを形成することが容易になるものである。またビア
ホール3内の金属層4の厚みは確保されているので、外
層の導体層1c,1dと内層の導体層1a,1bの導通
接続を高く得ることができるものである。After the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 is reduced while securing the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 as described above, the metal on the surface of each insulating layer 2 is formed. A circuit is formed on the layer 4 to form the conductor layer 1 (1c, 1d) as a circuit pattern as shown in FIG. 2 (f), and a multilayer printed wiring board can be manufactured. The outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b are electrically connected by the metal layer 4 on the inner wall of the via hole 3. Here, when forming a circuit on the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2, FIG.
This can be performed in the same manner as in the case of (f). When a circuit is formed on the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 as described above, since the metal layer 4 is processed to be thin, the conductor layers 1c,
It is easy to form 1d. Further, since the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is ensured, a high conductive connection between the outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b can be obtained.
【0025】[0025]
【実施例】次に、本発明を実施例によって具体的に説明
する。Next, the present invention will be described specifically with reference to examples.
【0026】(実施例1)両面銅張り積層板の両面の銅
箔をプリント加工して導体層1a,1bを両面に設けた
内層回路板11を用い、銅の各導体層1a,1bの表面
を黒化処理した後、チバガイギー社製熱硬化性樹脂「プ
ロピマー52」5000重量部、チバガイギー社製硬化
剤「xj9001」1000重量部、チバガイギー社製
艶消し添加剤「DW91t」1600重量、エチレング
リコールモノメチルエーテル975重量部、シクロヘキ
サノン325重量部からなるエポキシ樹脂組成物を内層
回路板11の両面に厚み60μmになるように印刷して
塗布し、150℃で180分間乾燥することによって、
絶縁層2を設けた(図1(a)参照)。(Example 1) A copper foil on both sides of a double-sided copper-clad laminate is printed, and an inner circuit board 11 having conductor layers 1a and 1b on both sides is used. The surface of each copper conductor layer 1a and 1b is used. After the blackening treatment, 5000 parts by weight of a thermosetting resin “Propimer 52” manufactured by Ciba-Geigy, 1000 parts by weight of a curing agent “xj9001” manufactured by Ciba-Geigy, 1600 parts by weight of a matting additive “DW91t” manufactured by Ciba-Geigy, ethylene glycol monomethyl An epoxy resin composition consisting of 975 parts by weight of ether and 325 parts by weight of cyclohexanone was applied by printing on both surfaces of the inner circuit board 11 so as to have a thickness of 60 μm, and dried at 150 ° C. for 180 minutes.
An insulating layer 2 was provided (see FIG. 1A).
【0027】次に、炭酸ガスレーザービームを照射して
絶縁層2に直径100μmのビアホール3を加工した。
そして、ジエチレングリコールモノブチルエーテルを1
0重量%含有する75℃の膨潤液に内層回路板11を5
分間浸漬し、過マンガン酸ナトリウムを50g/L有す
る80℃のデスミア液に内層回路板11を10分間浸漬
した後、硫酸を10重量%含有する50℃の中和液に5
分間浸漬することによって、絶縁層2の表面を粗面化処
理した(図1(b)参照)。Next, a via hole 3 having a diameter of 100 μm was formed in the insulating layer 2 by irradiating a carbon dioxide laser beam.
And diethylene glycol monobutyl ether
5% of the inner circuit board 11 is placed in a swelling liquid at 75 ° C. containing 0% by weight.
After immersing the inner circuit board 11 in an 80 ° C. desmear solution having 50 g / L of sodium permanganate for 10 minutes, 5 minutes in a 50 ° C. neutralized solution containing 10% by weight of sulfuric acid.
The surface of the insulating layer 2 was subjected to a surface roughening treatment by immersing for 2 minutes (see FIG. 1B).
【0028】次に、内層回路板11の絶縁層2の表面に
パラジウム−スズを触媒とする無電解銅めっきを0.5
μmの厚みで施した後、電解銅めっきをすることによっ
て、絶縁層2の表面からビアホール3内にかけてパネル
めっきで金属層4を形成した。この金属層4の厚みは、
絶縁層2の表面で25μm、ビアホール3内で14μm
であった(図1(c)参照)。Next, electroless copper plating using palladium-tin as a catalyst is applied to the surface of the insulating layer 2 of the inner circuit board 11 by 0.5.
After applying a thickness of μm, electrolytic copper plating was performed to form a metal layer 4 by panel plating from the surface of the insulating layer 2 to the inside of the via hole 3. The thickness of the metal layer 4 is
25 μm on the surface of the insulating layer 2 and 14 μm in the via hole 3
(See FIG. 1 (c)).
【0029】この後、ビアホール3内に水を完全に充填
し(図1(d)参照)、この状態でハーフエッチング液
(三菱ガス社製「SE−7000」)をスプレー噴射
し、絶縁層2の表面の金属層4の厚みを薄くして15μ
m厚にした。このとき、ビアホール3内の金属層4の厚
みに変化はなかった(図1(e)参照)。After that, the via hole 3 is completely filled with water (see FIG. 1D), and in this state, a half etching solution (“SE-7000” manufactured by Mitsubishi Gas Corporation) is spray-sprayed to form the insulating layer 2. The thickness of the metal layer 4 on the surface of
m thickness. At this time, there was no change in the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 (see FIG. 1E).
【0030】そして絶縁層2の表面の金属層4を覆うよ
うにドライフィルム(旭化成社製「AQ−4093」)
をラミネートし、露光・現像・塩化銅エッチングを施す
ことによって、回路形成をし、導体層1c,1dを形成
した(図1(f)参照)。Then, a dry film ("AQ-4093" manufactured by Asahi Kasei Corporation) is formed so as to cover the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2.
Were laminated and subjected to exposure, development, and copper chloride etching to form a circuit, thereby forming conductor layers 1c and 1d (see FIG. 1 (f)).
【0031】このものでは、絶縁層2の表面の金属層4
の厚みは15μmであるので、ラインアンドスペースが
30μm/30μmの微細回路の作製が可能であった。
またビアホール3内の金属層4の厚みは14μmが確保
されているので、外層の導体層1c,1dと内層の導体
層1a,1bの導通信頼性は高いものであった。In this case, the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2
Was 15 μm, so that a fine circuit having a line and space of 30 μm / 30 μm could be manufactured.
In addition, since the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is 14 μm, the conduction reliability between the outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b is high.
【0032】(実施例2)図1(d)の工程でビアホー
ル3内にアルカリ性プリント配線板用クリーナー(アト
テック社製「902」)を50mL/L含むアルカリ液
を充填するようにした他は、実施例1と同様にした。(Example 2) Except that the via hole 3 was filled with an alkaline liquid containing 50 mL / L of an alkaline printed wiring board cleaner ("902" manufactured by Atotech) in the step of FIG. It was the same as in Example 1.
【0033】このものでも、絶縁層2の表面の金属層4
の厚みは15μmであるので、ラインアンドスペースが
30μm/30μmの微細回路の作製が可能であった。
またビアホール3内の金属層4の厚みは14μmが確保
されているので、外層の導体層1c,1dと内層の導体
層1a,1bの導通信頼性は高いものであった。Also in this case, the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2
Was 15 μm, so that a fine circuit having a line and space of 30 μm / 30 μm could be manufactured.
In addition, since the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is 14 μm, the conduction reliability between the outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b is high.
【0034】(実施例3)両面銅張り積層板の両面の銅
箔をプリント加工して導体層1a,1bを両面に設けた
内層回路板11を用い、銅の各導体層1a,1bの表面
を黒化処理した後、チバガイギー社製熱硬化性樹脂「プ
ロピマー52」5000重量部、チバガイギー社製硬化
剤「xj9001」1000重量部、チバガイギー社製
艶消し添加剤「DW91t」1600重量、エチレング
リコールモノメチルエーテル975重量部、シクロヘキ
サノン325重量部からなるエポキシ樹脂組成物を内層
回路板11の両面に厚み60μmになるように印刷して
塗布し、150℃で180分間乾燥することによって、
絶縁層2を設けた(図2(a)参照)。(Example 3) A copper foil on both sides of a double-sided copper-clad laminate is printed, and an inner layer circuit board 11 having conductor layers 1a and 1b on both sides is used. The surface of each copper conductor layer 1a and 1b is used. After the blackening treatment, 5000 parts by weight of a thermosetting resin “Propimer 52” manufactured by Ciba-Geigy, 1000 parts by weight of a curing agent “xj9001” manufactured by Ciba-Geigy, 1600 parts by weight of a matting additive “DW91t” manufactured by Ciba-Geigy, ethylene glycol monomethyl An epoxy resin composition consisting of 975 parts by weight of ether and 325 parts by weight of cyclohexanone was applied by printing on both surfaces of the inner circuit board 11 so as to have a thickness of 60 μm, and dried at 150 ° C. for 180 minutes.
An insulating layer 2 was provided (see FIG. 2A).
【0035】次に、炭酸ガスレーザービームを照射して
絶縁層2に直径100μmのビアホール3を加工した。
そして、ジエチレングリコールモノブチルエーテルを1
0重量%含有する75℃の膨潤液に内層回路板11を5
分間浸漬し、過マンガン酸ナトリウムを50g/L有す
る80℃のデスミア液に内層回路板11を10分間浸漬
した後、硫酸を10重量%含有する50℃の中和液に5
分間浸漬することによって、絶縁層2の表面を粗面化処
理した(図2(b)参照)。Next, a via hole 3 having a diameter of 100 μm was formed in the insulating layer 2 by irradiating a carbon dioxide laser beam.
And diethylene glycol monobutyl ether
5% of the inner circuit board 11 is placed in a swelling liquid at 75 ° C. containing 0% by weight.
After immersing the inner circuit board 11 in an 80 ° C. desmear solution having 50 g / L of sodium permanganate for 10 minutes, 5 minutes in a 50 ° C. neutralized solution containing 10% by weight of sulfuric acid.
The surface of the insulating layer 2 was subjected to a surface roughening treatment by immersing for 2 minutes (see FIG. 2B).
【0036】次に、内層回路板11の絶縁層2の表面に
パラジウム−スズを触媒とする無電解銅めっきを0.5
μmの厚みで施した後、電解銅めっきをすることによっ
て、絶縁層2の表面からビアホール3内にかけてパネル
めっきで金属層4を形成した。この金属層4の厚みは、
絶縁層2の表面で25μm、ビアホール3内で14μm
であった(図2(c)参照)。Next, electroless copper plating using palladium-tin as a catalyst is applied to the surface of the insulating layer 2 of the inner circuit board 11 by 0.5.
After applying a thickness of μm, electrolytic copper plating was performed to form a metal layer 4 by panel plating from the surface of the insulating layer 2 to the inside of the via hole 3. The thickness of the metal layer 4 is
25 μm on the surface of the insulating layer 2 and 14 μm in the via hole 3
(See FIG. 2C).
【0037】この後、チバガイギー社製熱硬化性樹脂
「プロピマー52」5000重量部、チバガイギー社製
硬化剤「xj9001」1000重量部、チバガイギー
社製艶消し添加剤「DW91t」1600重量、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル975重量部、シクロ
ヘキサノン325重量部からなるエポキシ樹脂組成物を
ビアホール3内にディスペンサーにて注入充填し、15
0℃で60分間加熱することによって硬化させた(図2
(d)参照)。Thereafter, 5000 parts by weight of a thermosetting resin “Propimer 52” manufactured by Ciba-Geigy, 1000 parts by weight of a curing agent “xj9001” manufactured by Ciba-Geigy, 1600 parts by weight of a matting additive “DW91t” manufactured by Ciba-Geigy, ethylene glycol monomethyl ether An epoxy resin composition comprising 975 parts by weight and 325 parts by weight of cyclohexanone was injected and filled into the via hole 3 with a dispenser.
It was cured by heating at 0 ° C. for 60 minutes (FIG. 2).
(D)).
【0038】この状態で内層回路板11の表面をバフ研
磨機(石井表記社製「slcレベリングライン」:バフ
#600)で研磨することによって、絶縁層2の表面の
金属層4の厚みを薄くして15μm厚にした。このと
き、ビアホール3内の金属層4の厚みに変化はなかった
(図2(e)参照)。In this state, the surface of the inner layer circuit board 11 is polished with a buffing machine (“Slc leveling line” manufactured by Ishii Notation Co., Ltd .: buff # 600) to reduce the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2. To a thickness of 15 μm. At this time, there was no change in the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 (see FIG. 2E).
【0039】そして絶縁層2の表面の金属層4を覆うよ
うにドライフィルム(旭化成社製「AQ−4093」)
をラミネートし、露光・現像・塩化銅エッチングを施す
ことによって、回路形成をし、導体層1c,1dを形成
した(図2(f)参照)。Then, a dry film ("AQ-4093" manufactured by Asahi Kasei Corporation) covers the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2.
Were laminated and subjected to exposure, development and copper chloride etching to form a circuit, thereby forming conductor layers 1c and 1d (see FIG. 2 (f)).
【0040】このものでは、絶縁層2の表面の金属層4
の厚みは15μmであるので、ラインアンドスペースが
30μm/30μmの微細回路の作製が可能であった。
またビアホール3内の金属層4の厚みは14μmが確保
されているので、外層の導体層1c,1dと内層の導体
層1a,1bの導通信頼性は高いものであった。In this case, the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2
Was 15 μm, so that a fine circuit having a line and space of 30 μm / 30 μm could be manufactured.
In addition, since the thickness of the metal layer 4 in the via hole 3 is 14 μm, the conduction reliability between the outer conductor layers 1c and 1d and the inner conductor layers 1a and 1b is high.
【0041】(比較例1)図1(d)、図1(e)の処
理を行なうことなく、絶縁層2の表面の厚み25μmの
金属層4に実施例1と同様にして回路形成をし、導体層
1c,1dを形成した。このものでは、絶縁層2の表面
の金属層4の厚みが25μmであるので、ラインアンド
スペースが30μm/30μmの微細回路を作製する
と、断線が発生した。COMPARATIVE EXAMPLE 1 A circuit was formed in the same manner as in Example 1 on the metal layer 4 having a thickness of 25 μm on the surface of the insulating layer 2 without performing the processes shown in FIGS. 1 (d) and 1 (e). Then, the conductor layers 1c and 1d were formed. In this case, since the thickness of the metal layer 4 on the surface of the insulating layer 2 was 25 μm, disconnection occurred when a fine circuit having a line and space of 30 μm / 30 μm was produced.
【0042】[0042]
【発明の効果】上記のように請求項1に係る発明は、導
体層と絶縁層を交互に設け、絶縁層に設けたビアホール
を介して導体層間の接続を行なうようにした多層プリン
ト配線板を製造するにあたって、ビアホールを設けた絶
縁層の表面及びビアホール内に亘って金属層を形成し、
ビアホール内の金属層の厚みは保ったまま、絶縁層の表
面の金属層の厚みを薄くする加工を行なった後、絶縁層
の表面のこの金属層で回路形成を行なって導体層を形成
するようにしたので、ビアホール内の金属層の厚みを確
保して導体層間の接続信頼性を確保しながら、絶縁層の
表面の金属層の厚みを薄くして微細回路パターンで導体
層を形成することができるものである。As described above, according to the first aspect of the present invention, there is provided a multilayer printed wiring board in which conductive layers and insulating layers are alternately provided, and connection between the conductive layers is performed through via holes provided in the insulating layer. In manufacturing, a metal layer is formed over the surface of the insulating layer having the via hole and the inside of the via hole,
After processing to reduce the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole, a circuit is formed using this metal layer on the surface of the insulating layer to form a conductor layer. Therefore, it is possible to form a conductor layer with a fine circuit pattern by reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while securing the thickness of the metal layer in the via hole and ensuring the connection reliability between the conductor layers. You can do it.
【0043】また請求項2の発明は、ビアホール内の金
属層の厚みは保ったまま、絶縁層の表面の金属層の厚み
を薄くする加工が、ビアホール内に液体を注入した後
に、絶縁層の表面の金属層を化学的にエッチングする加
工であるので、ビアホール内の金属層の厚みを確保して
導体層間の接続信頼性を確保しながら、絶縁層の表面の
金属層の厚みを薄くして微細回路パターンで導体層を形
成することを、容易に行なうことができるものである。According to a second aspect of the present invention, the processing of reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole is performed by injecting a liquid into the via hole. Since the surface metal layer is chemically etched, the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer is reduced while securing the thickness of the metal layer in the via hole and ensuring the connection reliability between the conductor layers. It is possible to easily form a conductor layer with a fine circuit pattern.
【0044】また請求項3の発明は、ビアホールに注入
する液体が水であり、エッチングの工程が硫酸と過酸化
水素を主成分とするエッチング液を用いた湿式のエッチ
ングプロセスであるので、ビアホール内の金属層の厚み
を確保して導体層間の接続信頼性を確保しながら、絶縁
層の表面の金属層の厚みを薄くして微細回路パターンで
導体層を形成することを、容易に行なうことができるも
のである。According to a third aspect of the present invention, the liquid to be injected into the via hole is water, and the etching step is a wet etching process using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components. It is easy to form a conductor layer with a fine circuit pattern by reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while securing the thickness of the metal layer to secure the connection reliability between the conductor layers. You can do it.
【0045】また請求項4の発明は、ビアホールに注入
する液体がアルカリ性を示す液体であり、エッチングの
工程が硫酸と過酸化水素を主成分とするエッチング液を
用いた湿式のエッチングプロセスであるので、酸性のエ
ッチング液からビアホール内の金属層を保護する効果を
高く得ることができ、ビアホール内の金属層の厚みを確
保する効果を一層高く得ることができるものである。According to a fourth aspect of the present invention, the liquid injected into the via hole is a liquid exhibiting alkalinity, and the etching process is a wet etching process using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components. In addition, the effect of protecting the metal layer in the via hole from the acidic etching solution can be enhanced, and the effect of securing the thickness of the metal layer in the via hole can be further enhanced.
【0046】また請求項5の発明は、ビアホール内の金
属層の厚みは保ったまま、絶縁層の表面の金属層の厚み
を薄くする加工が、ビアホール内に樹脂を注入硬化させ
た後に、絶縁層の表面の金属層を機械的に除去する加工
であるので、ビアホール内の金属層の厚みを確保して導
体層間の接続信頼性を確保しながら、絶縁層の表面の金
属層の厚みを薄くして微細回路パターンで導体層を形成
することを、容易に行なうことができるものである。According to a fifth aspect of the present invention, the process of reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole is performed by injecting and hardening a resin in the via hole. Since the metal layer on the surface of the layer is mechanically removed, the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer is reduced while securing the thickness of the metal layer in the via hole and ensuring the connection reliability between conductor layers. Thus, it is possible to easily form a conductor layer with a fine circuit pattern.
【0047】また請求項6の発明は、ビアホール内に注
入硬化させる樹脂がエポキシ樹脂であり、絶縁層の表面
の金属層を機械的に除去する加工が機械研磨であるの
で、強度の高いエポキシ樹脂でビアホール内の金属層を
保護することができ、ビアホール内の金属層の厚みを確
保する効果を一層高く得ることができるものである。According to a sixth aspect of the present invention, the resin to be injected and cured into the via hole is an epoxy resin, and the process of mechanically removing the metal layer on the surface of the insulating layer is mechanical polishing. Thus, the metal layer in the via hole can be protected, and the effect of securing the thickness of the metal layer in the via hole can be further enhanced.
【図1】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a)乃至(f)はそれぞれ断面図である。FIG. 1 shows an example of an embodiment of the present invention,
(A) to (f) are cross-sectional views.
【図2】本発明の実施の形態の他の一例を示すものであ
り、(a)乃至(f)はそれぞれ断面図である。FIG. 2 shows another example of the embodiment of the present invention, and (a) to (f) are cross-sectional views.
1 導体層 2 絶縁層 3 ビアホール 4 金属層 5 液体 6 樹脂 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductive layer 2 Insulating layer 3 Via hole 4 Metal layer 5 Liquid 6 Resin
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高木 光司 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 盛岡 一信 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 平田 勲夫 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 井原 清暁 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 5E346 AA32 AA43 CC09 CC55 GG22 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Koji Takagi 1048 Kazumasa Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Works, Ltd. (72) Inventor Kazunori Mori 1048 Kadoma Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Works, Ltd. (72) Inventor Isao Hirata 1048 Kadoma Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Pref. Matsushita Electric Works, Ltd. (72) Inventor Kiyoaki Ihara 1048 Kadoma, Kadoma, Kadoma-shi, Osaka F-term (reference) 5E346 AA32 AA43 CC09 CC55 GG22
Claims (6)
設けたビアホールを介して導体層間の接続を行なうよう
にした多層プリント配線板を製造するにあたって、ビア
ホールを設けた絶縁層の表面及びビアホール内に亘って
金属層を形成し、ビアホール内の金属層の厚みは保った
まま、絶縁層の表面の金属層の厚みを薄くする加工を行
なった後、絶縁層の表面のこの金属層で回路形成を行な
って導体層を形成することを特徴とする多層プリント配
線板の製造方法。1. A method of manufacturing a multilayer printed wiring board in which conductive layers and insulating layers are provided alternately and connection between conductive layers is made via via holes provided in the insulating layer, the surface of the insulating layer provided with via holes. And forming a metal layer over the inside of the via hole, reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole, and then forming the metal layer on the surface of the insulating layer. Forming a conductor layer by forming a circuit by using the method described above.
ま、絶縁層の表面の金属層の厚みを薄くする加工が、ビ
アホール内に液体を注入した後に、絶縁層の表面の金属
層を化学的にエッチングする加工であることを特徴とす
る請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。2. A process for reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole, the method comprising: injecting a liquid into the via hole; 2. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the etching is a process of etching.
エッチングの工程が硫酸と過酸化水素を主成分とするエ
ッチング液を用いた湿式のエッチングプロセスであるこ
とを特徴とする請求項2に記載の多層プリント配線板の
製造方法。3. The liquid injected into the via hole is water,
3. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 2, wherein the etching step is a wet etching process using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components.
を示す液体であり、エッチングの工程が硫酸と過酸化水
素を主成分とするエッチング液を用いた湿式のエッチン
グプロセスであることを特徴とする請求項2に記載の多
層プリント配線板の製造方法。4. The method according to claim 1, wherein the liquid injected into the via hole is a liquid exhibiting alkalinity, and the etching step is a wet etching process using an etching liquid containing sulfuric acid and hydrogen peroxide as main components. 3. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to 2.
ま、絶縁層の表面の金属層の厚みを薄くする加工が、ビ
アホール内に樹脂を注入硬化させた後に、絶縁層の表面
の金属層を機械的に除去する加工であることを特徴とす
る請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。5. A process for reducing the thickness of the metal layer on the surface of the insulating layer while maintaining the thickness of the metal layer in the via hole, by injecting and hardening a resin in the via hole, and then forming the metal layer on the surface of the insulating layer. The method for producing a multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the method is a process of mechanically removing the resin.
ポキシ樹脂であり、絶縁層の表面の金属層を機械的に除
去する加工が機械研磨であることを特徴とする請求項5
に記載の多層プリント配線板の製造方法。6. A method according to claim 5, wherein the resin to be injected and hardened into the via hole is an epoxy resin, and the processing for mechanically removing the metal layer on the surface of the insulating layer is mechanical polishing.
3. The method for producing a multilayer printed wiring board according to item 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33390298A JP2000165044A (en) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | Manufacture of multilayer printed wiring board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33390298A JP2000165044A (en) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | Manufacture of multilayer printed wiring board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000165044A true JP2000165044A (en) | 2000-06-16 |
Family
ID=18271238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33390298A Withdrawn JP2000165044A (en) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | Manufacture of multilayer printed wiring board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000165044A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010067897A (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-25 | Hitachi Chem Co Ltd | Method of manufacturing printed circuit board |
| CN113260163A (en) * | 2021-05-07 | 2021-08-13 | 深圳市迅捷兴科技股份有限公司 | Method for manufacturing circuit board fine line |
-
1998
- 1998-11-25 JP JP33390298A patent/JP2000165044A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010067897A (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-25 | Hitachi Chem Co Ltd | Method of manufacturing printed circuit board |
| CN113260163A (en) * | 2021-05-07 | 2021-08-13 | 深圳市迅捷兴科技股份有限公司 | Method for manufacturing circuit board fine line |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5322531B2 (en) | Wiring board manufacturing method | |
| JP3229286B2 (en) | Manufacturing method of printed circuit board | |
| US20020164836A1 (en) | Method of manufacturing printed circuit board | |
| JP4212006B2 (en) | Manufacturing method of multilayer printed wiring board | |
| EP3146809A1 (en) | Embedded traces | |
| US20070059917A1 (en) | Printed circuit board having fine pattern and manufacturing method thereof | |
| US7169313B2 (en) | Plating method for circuitized substrates | |
| US6767445B2 (en) | Method for the manufacture of printed circuit boards with integral plated resistors | |
| JPH10322024A (en) | Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the same | |
| JP4470499B2 (en) | Multilayer wiring board manufacturing method and multilayer wiring board | |
| JP2002043753A (en) | Manufacturing method of multilayer printed circuit board | |
| JP2000165044A (en) | Manufacture of multilayer printed wiring board | |
| JP2699920B2 (en) | Method for manufacturing multilayer printed wiring board | |
| JP5298740B2 (en) | Multilayer circuit board manufacturing method | |
| JP2003115662A (en) | Method of manufacturing substrate for semiconductor device | |
| JPH06260763A (en) | Manufacture of multilayer wiring board | |
| JP2017041475A (en) | Wiring board, multilayer wiring board, and method of manufacturing wiring board | |
| KR100619349B1 (en) | Circuit Pattern Formation Method of Printed Circuit Board | |
| JPH1051151A (en) | Manufacture of printed wiring board | |
| JP3217563B2 (en) | Manufacturing method of printed wiring board | |
| JP2984625B2 (en) | Multilayer printed wiring board manufacturing method | |
| JPH0541576A (en) | Manufacture of printed circuit board | |
| JP3071733B2 (en) | Method for manufacturing multilayer printed wiring board | |
| JP2001007513A (en) | Printed wiring board | |
| JP2000323807A (en) | Printed wiring board and manufacture thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060207 |