JP2000150944A - Solar cell module - Google Patents
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発電活性部分と周辺部、ひいては、フレーム
との絶縁を、高い生産性で実現することを可能とした太
陽電池モジュールを提供すること。
【解決手段】 透光性基板上に形成された、透明電極
層、光半導体層および金属層の少なくとも一部を光ビー
ムによる加工によって複数のセルに分離し、相互に電気
的に集積化してなる薄膜太陽電池モジュールであって、
前記透光性基板の周辺部における、前記透明電極層、前
記光半導体層および前記金属層は、機械的に除去されて
いることを特徴とする。
(57) [Problem] To provide a solar cell module capable of realizing insulation between a power generation active portion and a peripheral portion, and furthermore, a frame with high productivity. SOLUTION: At least a part of a transparent electrode layer, an optical semiconductor layer, and a metal layer formed on a light transmitting substrate are separated into a plurality of cells by processing with a light beam, and are electrically integrated with each other. A thin-film solar cell module,
The transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer in a peripheral portion of the translucent substrate are mechanically removed.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、太陽電池モジュー
ルに係り、特に、太陽光発電に用いられる薄膜太陽電池
モジュールに関する。The present invention relates to a solar cell module, and more particularly to a thin-film solar cell module used for photovoltaic power generation.
【0002】[0002]
【従来の技術】太陽電池モジュールに求められる特性の
一つに絶縁耐圧特性がある。太陽電池モジュールの絶縁
耐圧特性は、一般には、太陽電池の端子とフレーム間の
耐電圧を測定することにより把握することが出来る。2. Description of the Related Art One of the characteristics required for a solar cell module is a dielectric strength characteristic. In general, the withstand voltage characteristics of a solar cell module can be grasped by measuring a withstand voltage between a terminal of the solar cell and a frame.
【0003】薄膜太陽電池は、透明電極層、光半導体
層、金属層などの薄膜を積層することにより形成される
が、これらの層の多くは気相反応によって形成すること
が多く、この気相反応による積層工程において、いわゆ
る太陽電池の活性部分とそれ以外の部分とを分離するこ
とは困難である。場合によっては、これらの層が基板の
裏側まで回り込んでいることがあり、このときはフレー
ムを取り付けたときに、活性部分とフレームとが同電位
になることが多い。そのため、従来の薄膜太陽電池にお
いては、絶縁耐圧特性が劣るという欠点があった。[0003] Thin-film solar cells are formed by laminating thin films such as a transparent electrode layer, an optical semiconductor layer, and a metal layer. Many of these layers are formed by a gas phase reaction. In the lamination step by reaction, it is difficult to separate the so-called active portion of the solar cell from other portions. In some cases, these layers may extend to the back side of the substrate. In this case, when the frame is attached, the active portion and the frame often have the same potential. Therefore, the conventional thin-film solar cell has a disadvantage that the withstand voltage characteristics are inferior.
【0004】このような問題をさけるために、集積化の
際にパターニングに用いるレーザー光を用いて、太陽電
池中央部の活性領域とフレームに電気的に接触する可能
性のある周辺部とを電気的に分離する手法が提案されて
いる。しかしながら、この方法は、レーザービームを集
光して用いるため、分離幅が狭く、モジュール全周に渡
って絶縁を維持することが困難になる。そのため、製造
歩留りなどの信頼性が低く、生産性も低いため、工業的
にこの技術を用いることにはできなかった。In order to avoid such a problem, a laser beam used for patterning at the time of integration is used to electrically connect an active region at the center of the solar cell and a peripheral portion which may be in electrical contact with the frame. There has been proposed a method of separating the data. However, in this method, since the laser beam is condensed and used, the separation width is narrow, and it is difficult to maintain insulation over the entire circumference of the module. Therefore, the reliability such as the production yield is low and the productivity is low, so that this technology cannot be used industrially.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事情の
下になされ、発電活性部分と周辺部、ひいては、フレー
ムとの絶縁を、高い生産性で実現することを可能とした
太陽電池モジュールを提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a solar cell module capable of realizing insulation between a power generation active portion and a peripheral portion, and furthermore, a frame with high productivity. The purpose is to provide.
【0006】本発明の他の目的は、優れた絶縁耐圧特性
を有するだけでなく、封止後の腐食などによる特性低下
を発生させず、ガラス強度を維持し、かつ工程が安定で
高い生産性で製造が可能な太陽電池モジュールを提供す
ることにある。Another object of the present invention is not only to have excellent dielectric strength characteristics, but also to prevent deterioration in characteristics due to corrosion after sealing, maintain glass strength, and maintain a stable process and high productivity. An object of the present invention is to provide a solar cell module that can be manufactured by using a solar cell module.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、透光性基板上に形成された、透明電極
層、光半導体層および金属層の少なくとも一部を光ビー
ムによる加工によって複数のセルに分離し、相互に電気
的に集積化してなる薄膜太陽電池モジュールであって、
前記透光性基板の周辺部における、前記透明電極層、前
記光半導体層および前記金属層は、機械的に除去されて
いることを特徴とする薄膜太陽電池モジュールを提供す
る。According to the present invention, at least a part of a transparent electrode layer, an optical semiconductor layer and a metal layer formed on a light transmitting substrate is processed by a light beam. A thin-film solar cell module separated into a plurality of cells and electrically integrated with each other,
The thin-film solar cell module is provided, wherein the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer in a peripheral portion of the translucent substrate are mechanically removed.
【0008】本発明の薄膜太陽電池モジュールにおい
て、前記透明電極層、前記光半導体層および前記金属層
の機械的な除去は、表面研磨法、または微粒子の吹き付
けによる機械的なエッチング法により行うことが出来
る。後者の方法において、使用される微粒子は、100
μm以下の粒径のものであることが好ましい。In the thin-film solar cell module of the present invention, the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer and the metal layer are mechanically removed by a surface polishing method or a mechanical etching method by spraying fine particles. I can do it. In the latter method, the microparticles used are 100
It is preferable that the particles have a particle size of not more than μm.
【0009】機械的な除去は前記透光性基板の表面に対
しても行われ、機械的に除去された前記透光性基板、前
記透明電極層、前記光半導体層および前記金属層の合計
の深さは、5μmないし100μmであることが好まし
く、10μmないし25μmであることがより好まし
い。The mechanical removal is also performed on the surface of the translucent substrate, and the total of the mechanically removed translucent substrate, the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer and the metal layer is removed. The depth is preferably 5 μm to 100 μm, more preferably 10 μm to 25 μm.
【0010】また、前記透光性基板の周辺の除去される
部分の幅は、絶縁耐圧と有効面積率とから決定される
が、0.5mm以上、好ましくは0.5mmないし1c
m、より好ましくは1ないし5mmである。The width of the portion to be removed around the light-transmitting substrate is determined by the withstand voltage and the effective area ratio, and is 0.5 mm or more, preferably 0.5 mm to 1 c.
m, more preferably 1 to 5 mm.
【0011】なお、本発明の薄膜太陽電池モジュールに
おいて、透明電極層としては、酸化錫、酸化亜鉛、IT
O等を用いることが出来る。また、光半導体層として
は、シリコンを主成分とする層、例えばp 型a−Si
C:H層、i型a−Si:H層、およびn型微結晶S
i:H層の積層構造を用いることが出来る。更に、金属
層としては、銀、Al、Cr、Tiおよびこれらと金属
酸化物との積層体等を用いることが出来る。In the thin-film solar cell module of the present invention, the transparent electrode layer may be made of tin oxide, zinc oxide, IT
O or the like can be used. As the optical semiconductor layer, a layer containing silicon as a main component, for example, p-type a-Si
C: H layer, i-type a-Si: H layer, and n-type microcrystal S
A stacked structure of i: H layers can be used. Further, as the metal layer, silver, Al, Cr, Ti, a laminate thereof and a metal oxide, or the like can be used.
【0012】以上のように構成される本発明の薄膜太陽
電池モジュールでは、相互に分離、かつ集積された複数
のセルからなる活性部分の周辺が、機械的に除去されて
いるため、モジュールの全周にわたって、高い絶縁を維
持することが出来、そのため、本発明によると、高い絶
縁耐圧特性のモジュールを高歩留まりで得ることが可能
である。In the thin-film solar cell module of the present invention configured as described above, the periphery of the active portion composed of a plurality of cells separated and integrated from each other is mechanically removed. High insulation can be maintained over the circumference, and therefore, according to the present invention, a module having high withstand voltage characteristics can be obtained at a high yield.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に係る
種々の実施例について説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Various embodiments according to the embodiments of the present invention will be described below.
【0014】実施例1 図1は、本発明の一実施例に係る太陽電池モジュールを
示す断面図である。図1に示す太陽電池モジュールは、
次のように製造される。まず、面積92cmx46c
m、厚さ4mmのソーダーライムガラスからなるガラス
基板1上に、熱CVD法により酸化錫膜(厚さ8000
オングストローム)2を形成し、複数のセルを集積化す
るため、この酸化錫膜2をレーザースクライバーでパタ
ーニングし、透明電極とした。なお、参照符号3は、透
明電極スクライブ線を示す。Embodiment 1 FIG. 1 is a sectional view showing a solar cell module according to one embodiment of the present invention. The solar cell module shown in FIG.
It is manufactured as follows. First, area 92cmx46c
m, a tin oxide film (thickness: 8000) on a glass substrate 1 made of soda lime glass having a thickness of 4 mm by a thermal CVD method.
In order to form Angstrom 2 and integrate a plurality of cells, the tin oxide film 2 was patterned with a laser scriber to form a transparent electrode. Reference numeral 3 indicates a transparent electrode scribe line.
【0015】パターニング方法としては、基板1をX−
Yテーブル上にセットし、QスイッチYAGレーザーを
用いて、分離加工を行った。レーザーの運転条件は、第
2高調波532nmを用い、パルス幅3kHz、平均出
力500nw、パルス幅10nsecであった。分離幅
は50μm、ストリング(個別太陽電池)の幅は約10
mmである。As a patterning method, the substrate 1 is
It was set on a Y table and separated using a Q-switched YAG laser. The operating conditions of the laser were such that the second harmonic was 532 nm, the pulse width was 3 kHz, the average output was 500 nw, and the pulse width was 10 nsec. The separation width is 50 μm, and the width of the string (individual solar cell) is about 10
mm.
【0016】なお、基板の周囲から5mmの位置に、全
周にわたり周辺部と太陽電池活性部を電気的に分離する
ために、図3に示すように、ストリング分離用の加工部
12の他に、レーザーによるパターニングを施した。参
照符号13は、それによって形成されたレーザー絶縁分
離線を示す。In order to electrically separate the peripheral part and the solar cell active part over the entire circumference at a position 5 mm from the periphery of the substrate, as shown in FIG. And patterning by laser. Reference numeral 13 indicates the laser isolation line formed thereby.
【0017】また、半田メッキ銅箔を用いて電極取り出
し用の配線を形成するための領域14を、両端にあるス
トリング11a,11bの外側に、3.5mmの幅で残
した。Further, a region 14 for forming a wiring for taking out an electrode using a solder-plated copper foil is left outside the strings 11a and 11b at both ends with a width of 3.5 mm.
【0018】このようにしてパターニングされた酸化錫
膜2の上に、分離形成型装置のプラズマCVD室内にお
いて、a―Si層4をプラズマCVD法により形成し
た。即ち、200℃で、p型a−SiC:H半導体層、
i型a−Si:H半導体層、およびn型微結晶Si:H
半導体層を順次堆積して、PIN接合を構成する積層a
―Si層4を形成した。各層を形成するためには、流量
がそれぞれ100sccm、500sccm、100s
ccmのSiH4 を用い、p 型半導体層とn 型半導体層
を形成する場合にはそれぞれ1000ppmの水素希釈
のB2 H6 とPH 3 を2000sccm混入させた。The tin oxide thus patterned
On the film 2, the plasma CVD chamber of the separation-type apparatus is placed.
And an a-Si layer 4 is formed by a plasma CVD method.
Was. That is, at 200 ° C., a p-type a-SiC: H semiconductor layer,
i-type a-Si: H semiconductor layer and n-type microcrystalline Si: H
A) a semiconductor layer is sequentially deposited to form a PIN junction;
—Si layer 4 was formed. To form each layer, the flow rate
Are 100sccm, 500sccm, 100s respectively
ccm SiHFourUsing p-type and n-type semiconductor layers
To form 1000ppm hydrogen dilution
Of BTwoH6And PH ThreeWas mixed at 2000 sccm.
【0019】また、p型半導体層の形成には、30sc
cmのCH4 も混入させることにより、炭素合金化を行
った。各層を形成するための投入パワーは、それぞれ2
00W、500W、3kWであり、反応圧力はそれぞれ
1torr、0.5torr、1torrであった。形
成した層の膜厚は、製膜時間からそれぞれ150オング
ストローム、3200オングストローム、300オング
ストロームと推定される。Further, 30 sc is used for forming the p-type semiconductor layer.
cm 4 of CH 4 was mixed to form a carbon alloy. The input power for forming each layer is 2
The power was 00 W, 500 W, and 3 kW, and the reaction pressure was 1 torr, 0.5 torr, and 1 torr, respectively. The thicknesses of the formed layers are estimated to be 150 angstroms, 3200 angstroms, and 300 angstroms, respectively, from the film forming time.
【0020】このようにして各層の製膜を行った後、基
板1をX−Yテーブル上にセットして、QスイッチYA
Gレーザーを用いて、a―Si層4を、SnO2 層2の
パターニング位置から100μmづつ左にずらしてパタ
ーニングを行った。レーザーの運転条件は、第2高調波
532nmを用い、パルス幅3kHz、平均出力500
mw、パルス幅10nsecであった。なお、焦点位置
をずらすこととで、分離幅を100μmにした。参照符
号5は、半導体スクライブ線を示す。After each layer is formed in this manner, the substrate 1 is set on an XY table and the Q switch YA
Using the G laser, the a-Si layer 4 was patterned by being shifted to the left by 100 μm from the patterning position of the SnO 2 layer 2 by 100 μm. The operating conditions of the laser were such that the second harmonic was 532 nm, the pulse width was 3 kHz, and the average output was 500.
mw and a pulse width of 10 nsec. The separation width was set to 100 μm by shifting the focal position. Reference numeral 5 indicates a semiconductor scribe line.
【0021】その後、マグネトロンスパッタ法により、
RF放電でZnOターゲットを用いて、パターニングさ
れたa―Si層4上に、1000オングストロームの膜
厚のZnO層(図示せず)を形成した。スパッタ条件
は、アルゴンガス圧力2mtorr、放電パワー200
W、製膜温度200℃であった。Then, by magnetron sputtering,
A ZnO layer (not shown) having a thickness of 1000 angstroms was formed on the patterned a-Si layer 4 by RF discharge using a ZnO target. The sputtering conditions were as follows: argon gas pressure 2 mtorr, discharge power 200
W, the film formation temperature was 200 ° C.
【0022】次に、ZnO層上に、同じマグネトロンス
パッタ装置のAgターゲットを用いることにより、直流
放電および室温で、2000オングストロームの膜厚の
金属電極層6を形成した。スパッタ条件は、アルゴンガ
ス圧力2mtorr、放電パワー200Wであった。Next, a metal electrode layer 6 having a thickness of 2000 Å was formed on the ZnO layer by DC discharge and room temperature by using an Ag target of the same magnetron sputtering apparatus. The sputtering conditions were an argon gas pressure of 2 mtorr and a discharge power of 200 W.
【0023】最後に、マグネトロンスパッタ装置から基
板1を取り出して、X−Yテーブル上にセットして、Q
スイッチYAGレーザーを用いてAg層およびa―Si
層4をパターニングして、半導体スクライブ線5から1
00μm離れた位置に裏面電極スクライブ線7を形成し
た。レーザーの運転条件は、a―Si層4の加工条件と
全く同じであった。分離幅は70μm、ストリング幅は
約10mmである。Finally, the substrate 1 is taken out of the magnetron sputtering apparatus, set on an XY table, and
Ag layer and a-Si using switched YAG laser
By patterning the layer 4, the semiconductor scribe lines 5 to 1
Back electrode scribe lines 7 were formed at positions separated by 00 μm. The operating conditions of the laser were exactly the same as the processing conditions of the a-Si layer 4. The separation width is 70 μm, and the string width is about 10 mm.
【0024】また、酸化錫膜2のときと同様に、基板の
周囲から5mmの位置に全周にわたり周辺部と太陽電池
活性部を電気的に分離するために、ストリング分離用の
加工部の他にレーザーによるパターニングを施した。分
割幅は150μmで酸化錫膜2の分離部13を包括する
ように加工した。As in the case of the tin oxide film 2, in order to electrically separate the peripheral portion and the solar cell active portion over the entire circumference at a position 5 mm from the periphery of the substrate, a processing portion for string separation is additionally provided. Was patterned by laser. The division width was 150 μm, and processing was performed so as to cover the separation portion 13 of the tin oxide film 2.
【0025】次に、このパターニングラインの外側0.
5mmのさらに外側の部分15を全周にわたって、X―
Yステージと、独自に開発したZ 軸方向の微小調整が可
能な平面回転歯を有する研磨機を用いて、約25μmの
深さで研磨を行った。即ち、金属電極層6、ZnO層、
a−Si層4および酸化錫膜2の膜厚全体を除去すると
ともに、ガラス基板1の表面部分を除去した。加工速度
は3.5μm/分であった。Next, the outside of the patterning line is set to 0.
The outer portion 15 of 5 mm is extended over the entire circumference by X-
Polishing was performed at a depth of about 25 μm using a Y stage and a uniquely-developed polishing machine having plane rotating teeth capable of fine adjustment in the Z-axis direction. That is, the metal electrode layer 6, the ZnO layer,
The entire thickness of the a-Si layer 4 and the tin oxide film 2 were removed, and the surface of the glass substrate 1 was removed. The processing speed was 3.5 μm / min.
【0026】その後、前述した配線用の位置14に半田
メッキ銅箔からなるバスバー電極16を形成して、電極
取り出しのための配線を行った。この電極16はストリ
ングに平行となっている。Thereafter, a bus bar electrode 16 made of a solder-plated copper foil was formed at the wiring position 14 described above, and wiring for taking out the electrode was performed. This electrode 16 is parallel to the string.
【0027】以上のように構成されるセルをモジュール
化するために、EVAシートとフッ素系フィルムからな
る保護フィルム8を真空ラミネータを用いて被覆して封
止し、シリコーン樹脂9を充填し、かつ端子の形成とフ
レーム付けを行った。In order to modularize the cell constructed as described above, a protective film 8 made of an EVA sheet and a fluorine-based film is covered and sealed with a vacuum laminator, filled with a silicone resin 9, and The terminals were formed and framed.
【0028】このようにして得た太陽電池モジュールに
ついて、100mW/cm2 のAM1.5ソーラーシミ
ュレーターを用いて、電流電圧特性を測定した。その結
果、測定された太陽電池の特性は、短絡電流1240m
A、開放電圧44.2V、曲線因子0.68、最大出力
37.3Wであった。The current-voltage characteristics of the solar cell module thus obtained were measured using an AM1.5 solar simulator of 100 mW / cm 2 . As a result, the measured characteristics of the solar cell were 1240 m short-circuit current.
A, the open-circuit voltage was 44.2 V, the fill factor was 0.68, and the maximum output was 37.3 W.
【0029】次に、取り出し端子のプラスマイナス両極
を電気的に短絡させ、端子とフレーム間に1500Vを
印加して抵抗値を測定し、100MΩ以上であることを
確認した。Next, both the plus and minus electrodes of the take-out terminal were electrically short-circuited, 1500 V was applied between the terminal and the frame, and the resistance value was measured. It was confirmed that the value was 100 MΩ or more.
【0030】最後に、このモジュールを水中に15分間
浸した後、上述した抵抗値を測定したが、やはり100
MΩ以上であることが確認された。Finally, after the module was immersed in water for 15 minutes, the above-mentioned resistance was measured.
It was confirmed that it was MΩ or more.
【0031】実施例2 裏面金属層をレーザーパターニングした後に、研磨機の
代わりにマスクとブラスト洗浄機を用いて、基板周辺の
透明導電膜層、半導体層、裏面金属層、および基板表面
を取り除いた以外は、実施例1と全く同様にして、太陽
電池モジュールを作製し、同様の試験を行った。Example 2 After laser patterning of the back metal layer, the transparent conductive film layer, the semiconductor layer, the back metal layer, and the substrate surface around the substrate were removed using a mask and a blast cleaning machine instead of a polishing machine. Except for the above, a solar cell module was manufactured and the same test was performed in the same manner as in Example 1.
【0032】マスクにはSUS板を用い、ブラストの平
均粒径は約40μmであり、手動で操作して周辺部の機
械的エッチングを行った。得られた特性は、実施例1と
ほぼ同じであり、短絡電流1240mA、開放電圧4
4.2V、曲線因子0.68、最大出力37.3Wであ
った。また、取り出し端子とフレーム間の抵抗値は、浸
水前後でいづれも100MΩ以上であった。A SUS plate was used as a mask, the average particle size of the blast was about 40 μm, and the peripheral portion was mechanically etched by manual operation. The obtained characteristics are almost the same as those in Example 1, except that the short-circuit current is 1240 mA and the open-circuit voltage is 4
4.2 V, fill factor 0.68, and maximum output 37.3 W. Further, the resistance value between the extraction terminal and the frame was 100 MΩ or more before and after immersion.
【0033】比較例 基板周辺の透明導電膜層、半導体層、裏面金属層、およ
び基板表面を取り除かなかった以外は、実施例1と全く
同様にして、図2に示すような太陽電池モジュールを作
製し、同様の試験を行った。Comparative Example A solar cell module as shown in FIG. 2 was fabricated in exactly the same manner as in Example 1 except that the transparent conductive film layer, the semiconductor layer, the back surface metal layer, and the substrate surface around the substrate were not removed. Then, a similar test was performed.
【0034】得られた太陽電池の特性は、短絡電流12
40mA、開放電圧43.1V、曲線因子0.68、最
大出力36.3Wであり、実施例1、2とそれほど変ら
なかった。しかし、取り出し端子とフレーム間の抵抗値
は、浸水前で800kΩ、浸水後で15kΩであり、実
施例1、2と比べてかなり低い値であった。The characteristics of the obtained solar cell are as follows:
It was 40 mA, the open circuit voltage was 43.1 V, the fill factor was 0.68, and the maximum output was 36.3 W, which was not much different from Examples 1 and 2. However, the resistance value between the take-out terminal and the frame was 800 kΩ before water immersion and 15 kΩ after water immersion, which was considerably lower than those in Examples 1 and 2.
【0035】本発明における実施例の結果では、フレー
ムと端子間の絶縁抵抗値はいずれも100MΩ以上であ
り、浸水試験によってもこの値をクリヤーしていること
がわかる。一方、本発明によらない比較例では太陽電池
としては十分な電流電圧特性が得られているにもかかわ
らず、絶縁抵抗という意味では、本実施例に大きく見劣
りがする結果となった。According to the results of the examples of the present invention, the insulation resistance value between the frame and the terminal is 100 MΩ or more, and it can be seen that this value is also cleared by the immersion test. On the other hand, in a comparative example not according to the present invention, although sufficient current-voltage characteristics were obtained for a solar cell, the result was greatly inferior to the present example in terms of insulation resistance.
【0036】[0036]
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よると、絶縁耐圧特性に優れた薄膜太陽電池モジュール
を、極めて簡易なプロセスで、高い歩留まりで得ること
が可能である。As described above in detail, according to the present invention, a thin-film solar cell module having excellent withstand voltage characteristics can be obtained with a very simple process at a high yield.
【図1】実施例1に係る薄膜太陽電池モジュールの断面
図。FIG. 1 is a cross-sectional view of a thin-film solar cell module according to a first embodiment.
【図2】比較例に係る薄膜太陽電池モジュールの断面
図。FIG. 2 is a cross-sectional view of a thin-film solar cell module according to a comparative example.
【図3】図1及び図2に示す薄膜太陽電池モジュールの
平面図。FIG. 3 is a plan view of the thin-film solar cell module shown in FIGS. 1 and 2;
1…ガラス基板 2…酸化錫膜 3…透明電極スクライブ線 4…a―Si層 5…半導体スクライブ線 6…金属電極層 7…裏面電極スクライブ線 8…保護フィルム 9…シリコーン樹脂 11a,11b…両端のストリング 12…ストリング分離用加工部 13…レーザー絶縁分離線 14…配線部 15…研磨部 16…バスバー電極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate 2 ... Tin oxide film 3 ... Transparent electrode scribe line 4 ... a-Si layer 5 ... Semiconductor scribe line 6 ... Metal electrode layer 7 ... Backside electrode scribe line 8 ... Protective film 9 ... Silicone resin 11a, 11b ... Both ends String 12: String separation processing part 13: Laser insulation separation line 14: Wiring part 15: Polishing part 16: Busbar electrode
Claims (6)
光半導体層および金属層の少なくとも一部を光ビームに
よる加工によって複数のセルに分離し、相互に電気的に
集積化してなる薄膜太陽電池モジュールであって、前記
透光性基板の周辺部における、前記透明電極層、前記光
半導体層および前記金属層は、機械的に除去されている
ことを特徴とする薄膜太陽電池モジュール。A transparent electrode layer formed on a light-transmitting substrate;
A thin film solar cell module in which at least a part of the optical semiconductor layer and the metal layer is separated into a plurality of cells by processing with a light beam and electrically integrated with each other, in a peripheral portion of the translucent substrate, The thin-film solar cell module, wherein the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer are mechanically removed.
記金属層の機械的な除去が、表面研磨法により行われた
ことを特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池モジュ
ール。2. The thin-film solar cell module according to claim 1, wherein the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer are mechanically removed by a surface polishing method.
記金属層の機械的な除去が、100μm以下の微粒子の
吹き付けによる機械的なエッチング法により行われたこ
とを特徴とする請求項1に記載の薄膜太陽電池モジュー
ル。3. The method according to claim 1, wherein the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer and the metal layer are mechanically removed by a mechanical etching method by spraying fine particles of 100 μm or less. The thin-film solar cell module according to the above.
しても行われ、機械的に除去された前記透光性基板、前
記透明電極層、前記光半導体層および前記金属層の合計
の深さが、5μmないし100μmであることを特徴と
する請求項2または3に記載の薄膜太陽電池モジュー
ル。4. The mechanical removal of the light-transmitting substrate, the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer, which are also performed on the surface of the light-transmitting substrate. The thin-film solar cell module according to claim 2, wherein the total depth is 5 μm to 100 μm.
透明電極層、前記光半導体層および前記金属層の合計の
深さが、10μmないし25μmであることを特徴とす
る請求項2または3に記載の薄膜太陽電池モジュール。5. The total depth of the light-transmitting substrate, the transparent electrode layer, the optical semiconductor layer, and the metal layer mechanically removed is 10 μm to 25 μm. Or the thin-film solar cell module according to 3.
ことを特徴とする請求項1ないし5のいずれかの項に記
載の薄膜太陽電池モジュール。6. The thin-film solar cell module according to claim 1, wherein said optical semiconductor layer contains silicon as a main component.
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Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007165531A (en) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Solar cell and manufacturing method thereof |
| JP2008053303A (en) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Solar cell panel |
| WO2008038553A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Solar cell module |
| WO2008050556A1 (en) | 2006-10-27 | 2008-05-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film solar cell and method for manufacturing thin film solar cell |
| JP2008300732A (en) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Kaneka Corp | Manufacturing method of thin film solar battery |
| WO2009107517A1 (en) * | 2008-02-27 | 2009-09-03 | シャープ株式会社 | Thin film solar battery and method for manufacturing the same |
| WO2009139389A1 (en) * | 2008-05-15 | 2009-11-19 | 株式会社アルバック | Thin film solar battery module manufacturing method and thin film solar battery module |
| JP2010232692A (en) * | 2010-07-12 | 2010-10-14 | Sharp Corp | Thin film solar cell module and manufacturing method thereof |
| WO2011152073A1 (en) | 2010-06-04 | 2011-12-08 | Sintokogio, Ltd. | Apparatus for treating a plate-like member and method of treating the same |
| JP2012009531A (en) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method for manufacturing amorphous silicon solar battery |
| JP2012501530A (en) * | 2008-09-01 | 2012-01-19 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Edge removal of thin-layer solar modules by etching |
| KR101176131B1 (en) * | 2006-07-14 | 2012-08-22 | 엘지전자 주식회사 | Thin-Film Type Solar Cell having improving insulation property |
| JP2012209335A (en) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Dainippon Printing Co Ltd | Sealing material sheet for thin film type solar cell module, and thin film type solar cell module |
| JP2012532442A (en) * | 2009-06-30 | 2012-12-13 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | Solar cell and manufacturing method thereof |
| JP2014239086A (en) * | 2013-06-05 | 2014-12-18 | 三菱化学株式会社 | Process of manufacturing organic thin-film solar cell |
| JP2022003661A (en) * | 2020-06-23 | 2022-01-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Solar cell and method of the same |
-
1998
- 1998-11-12 JP JP10322201A patent/JP2000150944A/en active Pending
Cited By (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007165531A (en) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Solar cell and manufacturing method thereof |
| KR101176131B1 (en) * | 2006-07-14 | 2012-08-22 | 엘지전자 주식회사 | Thin-Film Type Solar Cell having improving insulation property |
| JP2008053303A (en) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Solar cell panel |
| WO2008038553A1 (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-03 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Solar cell module |
| JP2008085224A (en) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Sanyo Electric Co Ltd | Solar cell module |
| WO2008050556A1 (en) | 2006-10-27 | 2008-05-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film solar cell and method for manufacturing thin film solar cell |
| JP2008300732A (en) * | 2007-06-01 | 2008-12-11 | Kaneka Corp | Manufacturing method of thin film solar battery |
| WO2009107517A1 (en) * | 2008-02-27 | 2009-09-03 | シャープ株式会社 | Thin film solar battery and method for manufacturing the same |
| JP2009206279A (en) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Sharp Corp | Thin film solar battery and method for manufacturing the same |
| WO2009139389A1 (en) * | 2008-05-15 | 2009-11-19 | 株式会社アルバック | Thin film solar battery module manufacturing method and thin film solar battery module |
| JP5207493B2 (en) * | 2008-05-15 | 2013-06-12 | 株式会社アルバック | Method for manufacturing thin film solar cell module |
| US8445315B2 (en) | 2008-05-15 | 2013-05-21 | Ulvac, Inc. | Thin-film solar battery module manufacturing method |
| JP2012501530A (en) * | 2008-09-01 | 2012-01-19 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Edge removal of thin-layer solar modules by etching |
| JP2012532442A (en) * | 2009-06-30 | 2012-12-13 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | Solar cell and manufacturing method thereof |
| EP2450963A4 (en) * | 2009-06-30 | 2013-10-09 | Lg Innotek Co Ltd | SOLAR CELL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME |
| WO2011152073A1 (en) | 2010-06-04 | 2011-12-08 | Sintokogio, Ltd. | Apparatus for treating a plate-like member and method of treating the same |
| US9308624B2 (en) | 2010-06-04 | 2016-04-12 | Sintokogio, Ltd. | Apparatus for treating a plate-like member and method of treating the same |
| JP2012009531A (en) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method for manufacturing amorphous silicon solar battery |
| JP2010232692A (en) * | 2010-07-12 | 2010-10-14 | Sharp Corp | Thin film solar cell module and manufacturing method thereof |
| JP2012209335A (en) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Dainippon Printing Co Ltd | Sealing material sheet for thin film type solar cell module, and thin film type solar cell module |
| JP2014239086A (en) * | 2013-06-05 | 2014-12-18 | 三菱化学株式会社 | Process of manufacturing organic thin-film solar cell |
| JP2022003661A (en) * | 2020-06-23 | 2022-01-11 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Solar cell and method of the same |
| JP7546213B2 (en) | 2020-06-23 | 2024-09-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Solar cell and method for manufacturing solar cell |
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