JP2000020955A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録パワーを精度良く設定する。 【解決手段】 振幅検出回路１２はへッドアンプ９で増
幅されたＰＤ７の出力信号の波高値を検出する。振幅検
出回路１２で検出された波高値はドライブコントローラ
１１に読み込まれ、例えば検出信号を２値化するのに適
切な目標値と比較され図示しない可変ゲインアンプのゲ
インを調整し、アナログ信号処理回路１０において安定
して２値化処理が行える。ドライブコントローラ１１の
制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディス
ク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライ
トパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気
ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算
とを実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置、更
に詳しくは記録パワーの設定部分に特徴のある光ディス
ク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、近年急速に発展するマル
チメディアの中核となる記億媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチの光磁気ディスクでは、旧来の
１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあっては、５４
０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の記録媒体も提
供されつつある。

【０００３】ところで、例えば３．５インチの光磁気デ
ィスクにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾー
ン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角
速度記録）を採用している。光磁気媒体のゾーン数は、
従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０ＭＢ媒体で
は１０ゾーンと限られていたが、近年実用化された５４
０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度の記録媒体にあって
は、記録密度の向上に伴って媒体のトラックピッチが狭
くなり、ゾーン数も大幅に増加している。

【０００４】即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンとゾー
ン数は比較的少ないが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーン
とゾーン数が従来の倍近くに増加している。通常、光磁
気ディスクの場合、媒体毎に最適な記録パワーに相違が
あることから、媒体をローディングした際に、ゾーン毎
に試し書きを行って最適な記録パワーに調整する発光調
整を行っている。

【０００５】なお、例えば特開平９−２９３２５９号公
報に示されるように、内周側のゾーンと外周側のゾーン
において試し書きを行ってその間のゾーンにおける記録
パワーを直線近似よって求めて発光調整を行うことがで
きる。

【０００６】また、従来の１２８ＭＢや２３０ＭＢ媒体
ではピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であ
り、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階
の変化でよいが、５４０ＭＢや６４０ＭＢ媒体では、記
録密度を高めるためにパルス輻変調（ＰＷＭ）による記
録を採用している。このＰＷＭ記録では、発光パワー
を、イレーズパワー、第ｌライトパワー及び第２ライト
パワーの３段階に変化させる必要がある。

【０００７】一例として、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で
規定される、５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクで
の記録を挙げる。５４０／６４０ＭＢ容量光磁気記録に
おいては、従来の光磁気記録と異なり、「０」と「１」
の２値記録のうち、記録値「１」を表すのに、記録信号
そのものではなく、記録信号の書き始め及び書き終わり
（以下エッジと記載する）を用いている。エッジ記録で
は、記録信号エッジ部の良好なジッタ特性が要求され
る。

【０００８】このため、５４０／６４０ＭＢ光磁気ディ
スクでは、図１３に示すように、信号記録以前に媒体温
度を上昇させるプレヒートパワー（以下Ｐ１と記載す
る）、前後エッジ部にそれぞれ独立した記録パワーであ
る前エッジ部記録パワー（以下Ｐ２と記載する）及び後
エッジ部記録パワー（以下Ｐ３と記載する）を設け、Ｐ
１を基底として、前後エッジの熱的干渉をさけるため、
Ｐ２及びＰ３を櫛歯状に配置した、いわゆる３値パワー
によるパルス列記録により信号の記録を行う。

【０００９】上述したように、光磁気ディスクの場合、
温度や媒体毎に最適な記録パワーに相違があることか
ら、ゾーン毎の記録パワーを試し書きにより決定する必
要がある。

【００１０】そこで、例えば特開昭６２−２８５２５８
号公報では、予め標準データをＲＯＭ等に格納し、まず
環境温度を測定し、その環境温度に対応した光磁気ディ
スクの半径毎の駆動電流値を前記標準データから読み出
し、この駆動電流値のデューティ比５０％の方形波で半
導体レーザを駆動し光磁気ディスクに試し書きを行う。
そして、受光素子及び２次歪検出回路等を用い、試し書
きにより記録されたデータの再生を行う。このとき再生
信号のデューティ比が５０％、つまり２次歪検出回路の
出力が零になるように、半導体レーザの駆動電流値を可
変させ、記録再生を繰り返すことで、ゾーン毎の記録パ
ワーを決定している。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特
開昭６２−２８５２５８号公報における再生信号のデュ
ーティ比は、光磁気ディスクの感度ムラや回転偏差等に
より変動するため、再生信号のデューティ比を用いた方
法では、精度良く記録パワーの決定を行うことができな
いといった問題がある。

【００１２】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、記録パワーを精度良く設定することのできる光
ディスク装置を提供することを目的としている。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
は、記録媒体上のテストエリアでデータ記録時のレーザ
光の記録パワーを設定する光ディスク装置において、前
記レーザ光のパワーを任意に制御するレーザ制御手段
と、前記パワーで記録された前記記録媒体上の記録情報
を読み出し再生する情報再生手段と、前記情報再生手段
が再生した再生信号の振幅を測定する振幅測定手段と、
前記レーザ制御手段により前記記録媒体上の前記テスト
エリアで前記パワーを順次可変してデータの書き込みを
行い、前記振幅測定手段により前記テストエリアのデー
タの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予
め決められた所定の範囲に入ったときの前記パワーであ
るテストパワーに基づいて前記記録パワーを演算する記
録パワー演算手段とを備えて構成される。

【００１４】本発明の光ディスク装置では、前記レーザ
制御手段により前記記録媒体上の前記テストエリアで前
記パワーを順次可変してデータの書き込みを行い、前記
振幅測定手段により前記テストエリアのデータの前記再
生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められ
た所定の範囲に入ったときの前記パワーであるテストパ
ワーに基づいて前記記録パワー演算手段が前記記録パワ
ーを演算することで、記録パワーを精度良く設定するこ
とを可能とする。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について述べる。

【００１６】図１ないし図１２は本発明の一実施の形態
に係わり、図１は光磁気ディスク装置の構成を示す構成
図、図２は図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁
気ディスクの記録領域の構成を示す構成図、図３は図１
の光磁気ディスク装置の作用を説明する第１のフローチ
ャート、図４は図１の光磁気ディスク装置の作用を説明
する第２のフローチャート、図５は図４のフローチャー
トにより演算される記録パワーの一例を示す図、図６は
図４のフローチャートに用いられるテストライトパワー
に乗算される係数の第１の例を説明する第１の説明図、
図７は図４のフローチャートに用いられるテストライト
パワーに乗算される係数の第１の例を説明する第２の説
明図、図８は図４のフローチャートに用いられるテスト
ライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第
１の説明図、図９は図４のフローチャートに用いられる
テストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明
する第２の説明図、図１０は図４のフローチャートに用
いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の
例を説明する第３の説明図、図１１は図４のフローチャ
ートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数
の第２の例を説明する第４の説明図、図１２は図３のフ
ローチャートの変形例を示すフローチャートである。

【００１７】図１に示すように、本実施の形態の光磁気
ディスク装置１では、情報を光磁気記録する光磁気ディ
スク２が挿入され、図示しないローディング機構によっ
て光磁気ディスク２がスピンドルモータ３に装着され回
転駆動するようになっている。スピンドルモータ３の近
傍には光学へッドとしての光ピックアップ４が光磁気デ
ィスク２の半径方向に移動可能なように設置されてお
り、光磁気ディスク２に向かって記録再生用のレーザ光
５を照射するようになっている。

【００１８】光ピックアップ４にはレーザ光５を発光す
るレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）６と、光磁気
ディスク２からの反射光を受光するフォトディテクタ
（以下、ＰＤと記す）７とが設けられ、ＬＤ６からのレ
ーザ光５を微小なスポットに絞って出射すると共に光磁
気ディスク２からの反射光をＰＤ７へ照射する図示しな
い光学系が設置されている。

【００１９】また、ＬＤ６にはＬＤドライバ８が接続さ
れており、このＬＤドライバ８によりＬＤ６に駆動電流
が供給されるようになっている。一方、ＰＤ７にはへッ
ドアンプ９を介してアナログ信号処理回路１０が接続さ
れており、ＰＤ７の出力信号がヘッドアンプ９で増幅さ
れた後アナログ信号処理回路１０によって２値化される
ようになっている。

【００２０】アナログ信号処理回路１０で２値化された
２値化信号はドライブコントローラ１１に送られ、ドラ
イブコントローラ１１で復調及びエラー訂正処理が行わ
れ、光磁気ディスク２に記録されていたデータとして読
み出される。この読み出されたデータは、例えば図示し
ないホストコンピュータに送られ各種処理が行われる。

【００２１】また、振幅検出回路１２はへッドアンプ９
で増幅されたＰＤ７の出力信号の波高値を検出する。振
幅検出回路１２で検出された波高値はドライブコントロ
ーラ１１に読み込まれ、例えば検出信号を２値化するの
に適切な目標値と比較され図示しない可変ゲインアンプ
のゲインを調整し、アナログ信号処理回路１０において
安定して２値化処理が行えるようになっている。また、
ドライブコントローラ１１には記録パワー演算回路１３
が接続されており、ドライブコントローラ１１の制御に
より記録パワー演算回路１３では、後述する光磁気ディ
スク２のテストトラックにおける試し書き用のテストラ
イトパワーの決定と、このテストライトパワーに基づく
光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワー
の演算とを実行するようになっている。

【００２２】なお、光磁気ディスク装置１には図示しな
いフォーカシング手段及びトラッキング手段が設けられ
ている。

【００２３】光磁気ディスク２は、例えば５４０ＭＢ媒
体であって、図２に示すように、ゾーン０からゾーン１
７の１８のゾーンが設けられている（ＩＳＯ／ＩＥＣ１
５０４１参照）。また、各ゾーンにはデータを記録する
ためのユーザエリアの他に隣接するゾーンとの間にバッ
ファトラックが設けられ、さらに、ユーザエリアの最外
周部分とバッファトラックとの間にテストトラックが設
けられている。一般に、このテストトラックで試し書き
を行い光磁気ディスクの記録パワーを決定するが、本実
施の形態では、内周側ゾーンであるゾーン０のテストト
ラックでまず試し書きを行いゾーン０での記録パワーを
決定し、次に外周側ゾーンであるゾーン１６のテストト
ラックで試し書きを行いゾーン１６での記録パワーを決
定し、このゾーン０での記録パワー及びゾーン１６での
記録パワーを用い直線近似することにより他のゾーンの
記録パワーを決定するようになっている。

【００２４】なお、上述したように、本実施の形態で
は、ゾーン０及びゾーン１６で試し書きを行うとした
が、これに限らず、１つのゾーン例えばゾーン０のみで
試し書きを行い、決定した記録パワーに基づき直線近似
することにより他のゾーンの記録パワーを決定するよう
にしても良くこの場合は記録パワーの設定時間が短縮で
き、また、ゾーン０及びゾーン１６の２つのゾーン以外
の１つまたは複数のゾーンに対して試し書きを行っても
よくこの場合各ゾーンの記録パワーを精度良く決定する
ことができる。

【００２５】次にこのように構成された本実施の形態の
作用について説明する。すなわち、本実施の形態の光磁
気ディスク装置１での試し書きによる記録パワーの決定
方法について説明する。

【００２６】まず、光磁気ディスク２が光磁気ディスク
装置１にローディングされると、図３に示すように、ド
ライブコントローラ１１は、ステップＳ１で試し書きを
行うテストトラックヘ光ピックアップを移動する。この
場合のテストトラックはゾーン０のテストトラックであ
る（図２参照）。

【００２７】次に、ステップＳ２でテストライトパワー
Ｐｔに予め決定された初期値を設定し、ステップＳ３で
試し書きを行うテストトラックの所定のセクタにライト
する。

【００２８】ここで、ライトするデータパターンは後の
動作で振幅測定を行うため、単一パターンの繰り返しが
望ましい。

【００２９】そして、ドライブコントローラ１１はステ
ップＳ４において、ステップＳ３でライトしたデータの
振幅を振幅検出回路１２からの出力をモニタすることに
より測定し、ステップＳ５においてステップＳ４でモニ
タした振幅値が予め規定しておいた規定下限値よりも小
さいかどうか判断し、小さければステップＳ６でテスト
ライトパワーＰｔを増加させ、さらにステップＳ７で増
加させたテストライトパワーＰｔが実際の記録パワーの
上限値Ｐｍａｘに達したかどうか判断し、上限値Ｐｍａ
ｘに達した場合にはエラー処理を行い処理を終了し、上
限値Ｐｍａｘに達していない場合にはステップＳ３に戻
り再度ライトを行う。

【００３０】また、ステップＳ５でモニタした振幅値が
予め規定しておいた規定下限値以上と判断した場合に
は、ステップＳ８において、モニタした振幅値が予め規
定しておいた規定上限値以内かどうか判断し、規定上限
値を越えていればステップＳ９でテストライトパワーＰ
ｔを減少させ、さらにステップＳ１０で減少させたテス
トライトパワーＰｔが実際の記録パワーの下限値Ｐｍｉ
ｎに達したかどうか判断し、下限値Ｐｍｉｎに達した場
合にはエラー処理を行い処理を終了し、下限値Ｐｍｉｎ
に達していない場合にはステップＳ３に戻り再度ライト
を行う。この動作を繰り返して、ライトしたデータの振
幅値が規定された範囲内になるテストライトパワーＰｔ
を決定する。

【００３１】なお、振幅の目標値（規定範囲の中心）が
小さすぎるとノイズによる振幅測定の誤差が大きくなり
好ましくない。逆に振幅の目標値が大きすぎるとライト
したデータの振幅が飽和してくるため、ライトパワー変
動に対する振幅の変動が小さくなりテストライトパワー
Ｐｔの誤差が大きくなるため好ましくない。

【００３２】そして、ステップＳ８でモニタした振幅値
が予め規定しておいた規定上限値以内と判断した場合に
は、図４に示すように、ステップＳ１１で決定したテス
トライトパワーでテストトラックの別のセクタでライト
を行い、ステップＳ１２でライトしたデータの振幅をモ
ニタする。そして、ステップＳ１３でこの別にセクタで
モニタした振幅値が規定上限値及び規定下限値で定めら
れる規定値の範囲内であるかどうか判断し、範囲外なら
ばステップＳ１４で更なる別のセクタに移動し、図３の
ステップＳ２に戻り処理を繰り返す。

【００３３】そして、ステップＳ１３において振幅値が
規定値の範囲内ならば、記録パワー演算回路１３により
ステップＳ１５で上記の処理で決定したテストライトパ
ワーＰｔに対して係数倍した値を実際にデータをライト
する際の記録パワーとする。ここで、図５に示すような
パルス列による多値記録の場合には、それぞれのピーク
パワー（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，…，Ｐｎ）について決定し
たテストライトパワーＰｔを係数倍（α１，α２，α
３，…，αｎ）することで求める。なお、この係数α
１，α２，α３，…，αｎは、予め記録パワー演算回路
１３に格納されている。

【００３４】続いて、図４に戻り、ステップＳ１６にお
いて、ステップＳ１５で決めた記録パワーで所定のセク
タにライトを行い、ステップＳ１７でライトが正常かど
うか判断し（ベリファイ時にエラーとならない）、でき
ていない場合にはエラー処理を行い処理を終了し、でき
ている場合にはステップＳ１８でテストトラックがゾー
ン１６かどうか判断し、ゾーン１６ならばゾーン０とゾ
ーン１６での記録パワーに基づいて直線近似を行い他の
ゾーンの記録パワーを決定して処理を終了する。

【００３５】上記の説明ではテストトラックはゾーン０
であるので、ステップＳ１８から図３のステップＳ１に
戻り、ステップＳ１でゾーン１６のテストトラックに移
動し、上記処理を繰り返しゾーン１６における記録パワ
ーを決定し、ステップＳ１８でゾーン０とゾーン１６で
の記録パワーに基づいて直線近似を行い他のゾーンの記
録パワーを決定して処理を終了する。なお、ゾーン１６
のときのステップＳ２におけるテストライトパワーＰｔ
の初期値は、ゾーン０で決定したテストライトパワーＰ
ｔに基づき算出され設定される。

【００３６】上記係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）は温度やディ
スクフォーマット、試し書きを行うバンド，ディスクの
種類（ダイレクトオーバライト（ＤＯＷ）のディスク
か、ダイレクトオーバライトではない（ＮＯＮ−ＤＯ
Ｗ）ディスク等）によって適正値を設定することが望ま
しい。

【００３７】ここで、係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）の設定の
第１の例を、３値パワー（Ｐ１，Ｐ，Ｐ３）によるパル
ス列記録により信号の記録を行う場合を例に説明する。

【００３８】一般に、光ディスク記録の信号判定には、
エラーレートによる判定が用いられている。上記３値を
それぞれ可変にした際、エラーレートはそれぞれ変動す
るが、光ディスクドライブの信号読み取りにおいてはエ
ラー訂正（以下、ＥＣＣと記載する）が行われ、あるレ
ベルまでのエラーレート特性を持つ記録信号であれば正
常に信号読み取りが可能になる。Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の比
率を一定にして、Ｐ３についてパワーを可変にした際の
エラーレート特性の変動を図６のグラフに記裁する。こ
のとき、黒線にて記載したエラーレートを、ＥＣＣによ
る補正可能なエラーレート限界とすると、図６での良好
な記録領域は、 Ｐｍｉｎ≦Ｐ３≦Ｐｍａｘ で規定される（以下、この記録領域Ｐｍａｘ−Ｐｍｉｎ
をパワーマージンと記載する）。

【００３９】Ｐ１：Ｐ２：Ｐ３の比をそれぞれ変更し
て、Ｐ３を可変にしたときのエラーレート測定を行う
と、各々の比に対するパワーマージンを測定することが
できる。これを用いて、ｘ軸にＰ１とＰ３の比、ｙ軸に
Ｐ２とＰ３の比、ｚ軸にパワーマージン値をプロットし
たグラフを作成すると、図７に示すようなｚ軸方向に対
してパワーマージンの等高線を描いたグラフを作成でき
る。このグラフのうち、山頂部位、最もパワーマージン
が確保できる領域をＰ３に対する各々Ｐ１、Ｐ２のパワ
ー比率とする。

【００４０】すなわち Ｐ１＝ａ１×Ｐ３，Ｐ２＝ａ２×Ｐ３ （ａ１，ａ
２は定数） さらに、上記パワーマージン山頂部でのＰ２に対するエ
ラーレート特性グラフのうち、書き始めパワーＰｍｉｎ
に、ドライブで記録を行う際に予測されうるパワー変
動、例えばテストライトパワーＰｔの測定での検出誤
差、ドライブ電気系での誤差をマージンとして見積も
り、Ｐ３の目標値とする。

【００４１】つまり、 Ｐ３＝Ｐｍｉｎ／ｂ （ｂは光ディスクドライブ記録時
に考えられる誤差） ここで、ドライブで考慮される最大誤差を見積もること
で、ｂを定数として規定できる。また、テストライトパ
ワーＰｔに対してのＰｍｉｎの比率をｃとすると、 Ｐｍｉｎ＝ｃ×Ｐｔ Ｐｍｉｎ、Ｐｔは共に媒体の記録感度により変動する値
なので、その比は一意の定数ｃで表される。

【００４２】従って、テストライトパワーＰｔを求める
ことで、 Ｐ１＝ａ１×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α１×Ｐｔ Ｐ２＝ａ２×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α２×Ｐｔ Ｐ３＝ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α３×Ｐｔ となり、テストライトパワーＰｔに対して、各最適な３
値パワーＰ１，Ｐ２，Ｐ３は一意の定数比率、α１，α
２，α３にて規定される。

【００４３】つまり、このα１，α２，α３を記録パワ
ー演算回路１３に格納すればよい。

【００４４】次に係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）の設定の第２
の例を説明する。ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で規定され
る５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクの中には、光
変調ダイレクトオーバーライト記録（以下、ＬＩＭ一Ｄ
ＯＷと記載する）ディスクも規定されている。ＬＩＭ一
Ｄ０Ｗディスクにおいては、上記３値のパルス列記録の
うち、Ｐ１のパワーにて消去動作、Ｐ２及びＰ３のパワ
ーにて記録を行うことにて消去動作を行うことなく、上
書き記録を可能としている。

【００４５】このときパワーＰ１には、記録信号のジッ
タ特性の最適化の他に、消去動作も同時に行うため、消
去に十分なマージンを持って設定されることが望まれ
る。ＬＩＭ−ＤＯＷディスクの消去及び記録特性を図８
に記載する。Ｐ１をテストライトパワーＰｔから一定比
α１で設定する場合、テストライトパワーＰｔのディス
ク、ドライブの生産ばらつきによる変動分を±ｄとする
と、 ±ｄ１＝±ｄ×α１ で、消去動作、及び十分な記録パワーマージンがあるこ
とを確認する必要がある。

【００４６】そこで、Ｐ１及びＰ１±ｄ１にてＰ１値を
固定し、さらにＰ２：Ｐ３の比を変えてＰ３についてパ
ワーマージン測定を行った結果を図９ないし図１１に記
載する。図９ないし図１１でＰ２：Ｐ３の比で最もパワ
ーマージンが確保でき、かつ、Ｐ１±ｄ１でパワーマー
ジンの取れるＰ１を選択し、前記Ｐ１とＰｔとの比を Ｐ１＝α１×Ｐｔ とする。さらに、前記Ｐ２：Ｐ３の最適比より、 Ｐ２＝ａ２×Ｐ３ とし、さらに、Ｐ３の書き始めに対してドライブで考慮
される最大誤差ｂを見積もり、 Ｐ３＝Ｐｍｉｎ／ｂ さらに、Ｐ３及びＰｔの比は感度に依存するので、 Ｐｍｉｎ＝ｃ×Ｐｔ となる。

【００４７】従って、ＬＩＭ一ＤＯＷディスクにおいて
も、通常のディスクと同様に、 Ｐ１＝α１×Ｐｔ Ｐ２＝ａ２×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α２×Ｐｔ Ｐ３＝ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α３×Ｐｔ となり、テストライトパワーＰｔに対して、各最適な３
値パワーＰ１，Ｐ２，Ｐ３は一意の定数比率、α１，α
２，α３にて規定される。

【００４８】つまり、ＬＩＭ一ＤＯＷディスクの場合
も、このα１，α２，α３を記録パワー演算回路１３に
格納すればよい。

【００４９】以上のように、本実施の形態では、ライト
した情報の再生信号の振幅を測定し、その測定値に基づ
きテストライトパワーＰｔを決定し、決定したテストラ
イトパワーＰｔに所定の係数を乗算することで記録パワ
ーを設定しており、振幅測定が光磁気ディスクの感度ム
ラや回転偏差等の影響を受けることがないので、精度良
く各ゾーンの記録パワーを設定することができる。

【００５０】なお、テストライトパワーＰｔの決定を、
図３におけるステップＳ１〜Ｓ１０で行うとしたが、こ
れに限らず、図１２に示すようにしても良い。

【００５１】すなわち、図１２に示すように、ステップ
Ｓ１〜Ｓ４の処理を終えた後、ステップＳ３１にて、ス
テップＳ４でモニタした振幅値が予め規定しておいた第
１目標下限値よりも小さいかどうか判断し、小さければ
ステップＳ３２でテストライトパワーＰｔを例えば０．
３ｍＷ増加させ、ステップＳ３に戻り再度ライトを行
う。

【００５２】また、ステップＳ３１にてステップＳ４で
モニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標下限値
以上と判断した場合には、ステップＳ３３において、モ
ニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値以
内かどうか判断し、第１目標上限値を越えていればステ
ップＳ３４でテストライトパワーＰｔを例えば０．３ｍ
Ｗ減少させ、ステップＳ３に戻り再度ライトを行う。

【００５３】そして、ステップＳ３３においてモニタし
た振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値以内と判
断した場合には、ステップＳ３５で第１目標下限値から
第１目標上限値の範囲のテストライトパワーＰｔで所定
のセクタにライトする。ステップＳ３６にて、ステップ
Ｓ３５でライトしたデータの振幅を振幅検出回路１２か
らの出力をモニタすることにより測定し、ステップＳ３
７でモニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標下
限値より大きい第２目標下限値よりも小さいかどうか判
断し、小さければステップＳ３８でテストライトパワー
Ｐｔを例えば０．１ｍＷ増加させ、ステップＳ３５に戻
り再度ライトを行う。

【００５４】また、ステップＳ３７にてステップＳ３６
でモニタした振幅値が予め規定しておいた第２目標下限
値以上と判断した場合には、ステップＳ３９において、
モニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値
より小さい第２目標上限値以内かどうか判断し、第２目
標上限値を越えていればステップＳ４０でテストライト
パワーＰｔを例えば０．１ｍＷ減少させ、ステップＳ３
５に戻り再度ライトを行う。この動作を繰り返して、ラ
イトしたデータの振幅値が規定された範囲内になるテス
トライトパワーＰｔを決定し、その後の処理を図４で説
明したステップＳ１１に移行するようにしてもよい。

【００５５】図１２のように処理することで、テストラ
イトパワーＰｔの決定を振幅範囲レベルに応じて２段階
で行っているため、高速にテストライトパワーＰｔを決
定することができるという効果がある。

【００５６】

【発明の効果】以上説明したように本発明の光ディスク
装置によれば、レーザ制御手段により記録媒体上のテス
トエリアでパワーを順次可変してデータの書き込みを行
い、振幅測定手段によりテストエリアのデータの再生信
号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた所
定の範囲に入ったときのパワーであるテストパワーに基
づいて記録パワー演算手段が記録パワーを演算するの
で、記録パワーを精度良く設定することができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態に係る図１は光磁気ディ
スク装置の構成を示す構成図

【図２】図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気
ディスクの記録領域の構成を示す構成図

【図３】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第
１のフローチャート

【図４】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第
２のフローチャート

【図５】図４のフローチャートにより演算される記録パ
ワーの一例を示す図

【図６】図４のフローチャートに用いられるテストライ
トパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第１の
説明図

【図７】図４のフローチャートに用いられるテストライ
トパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第２の
説明図

【図８】図４のフローチャートに用いられるテストライ
トパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第１の
説明図

【図９】図４のフローチャートに用いられるテストライ
トパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第２の
説明図

【図１０】図４のフローチャートに用いられるテストラ
イトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第３
の説明図

【図１１】図４のフローチャートに用いられるテストラ
イトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第４
の説明図

【図１２】図３のフローチャートの変形例を示すフロー
チャート

【図１３】従来のパルス列記録における記録パワーの波
形を示す図

【符号の説明】

１…光磁気ディスク装置 ２…光磁気ディスク ３…スピンドルモータ ４…光ピックアップ ６…ＬＤ ７…ＰＤ ８…ＬＤドライバ ９…へッドアンプ １０…アナログ信号処理回路 １１…ドライブコントローラ １２…振幅検出回路 １３…記録パワー演算回路

【手続補正書】

【提出日】平成１１年１月２９日（１９９９．１．２
９）

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図８

【補正方法】変更

【補正内容】

【図８】

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D075 AA03 BB04 CC01 CD02 CD03 CD11 5D090 AA01 BB04 CC01 CC05 CC18 DD03 DD05 EE01 GG01 HH01 JJ12 KK03 5D119 AA23 BA01 BB03 DA01 DA09 FA02 HA36

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録媒体上のテストエリアでデータ記録
   時のレーザ光の記録パワーを設定する光ディスク装置に
   おいて、 前記レーザ光のパワーを任意に制御するレーザ制御手段
   と、 前記パワーで記録された前記記録媒体上の記録情報を読
   み出し再生する情報再生手段と、 前記情報再生手段が再生した再生信号の振幅を測定する
   振幅測定手段と、 前記レーザ制御手段により前記記録媒体上の前記テスト
   エリアで前記パワーを順次可変してデータの書き込みを
   行い、前記振幅測定手段により前記テストエリアのデー
   タの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予
   め決められた所定の範囲に入ったときの前記パワーであ
   るテストパワーに基づいて前記記録パワーを演算する記
   録パワー演算手段とを備えたことを特徴とする光ディス
   ク装置。
2. 【請求項２】 前記記録パワー演算手段は、前記テスト
   パワーに所定の係数を乗算して前記記録パワーを演算す
   ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記所定の係数は複数の異なる係数であ
   り、 記録パワー演算手段は、該異なる係数を前記テストパワ
   ーに乗算し、パルス列による多値記録の場合の前記記録
   パワーを演算することを特徴とする請求項２に記載の光
   ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記レーザ制御手段により前記テストエ
   リアで前記パワーを第１の可変量で順次可変してデータ
   の書き込みを行い、前記振幅測定手段により前記テスト
   エリアのデータの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅
   測定結果が予め決められた第１の範囲に入ったときの前
   記パワーを第１のテストパワーとし、 前記レーザ制御手段により前記テストエリアで前記第１
   のテストパワーを前記第１の可変量より小さい第２の可
   変量で順次可変してデータの書き込みを行い、前記振幅
   測定手段により前記テストエリアのデータの前記再生信
   号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた前
   記第１の範囲より狭い第２の範囲に入ったときの前記パ
   ワーを第２のテストパワーとし、 前記第２のテストパワーを前記テストパワーとしたこと
   を特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。