JP2000009845A - 放射線イメージセンサ - Google Patents
放射線イメージセンサInfo
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Abstract
放射線イメージセンサを提供することである。 【解決手段】 シンチレータパネル4と撮像素子6とを
備える放射線イメージセンサ2において、前記シンチレ
ータパネル4は、放射線透過性の基板10と、この基板
10上に形成された潮解性を有するシンチレータ12
と、このシンチレータ12を覆う弾性を有する有機膜1
4とを備え、前記シンチレータパネル4と前記撮像素子
6との間にマッチングオイル20を介在させて前記シン
チレータパネル4と前記撮像素子6とを貼り合わせ、前
記シンチレータパネル4及び前記撮像素子6の側壁部を
樹脂24で固着している。
Description
影等に用いられる放射線イメージセンサに関するもので
ある。
線感光フィルムが用いられてきたが、利便性や撮影結果
の保存性の面から放射線検出素子を用いた放射線イメー
ジングシステムが普及してきている。このような放射線
イメージングシステムにおいては、放射線検出素子によ
り2次元の放射線による画素データを電気信号として取
得し、この信号を処理装置により処理してモニタ上に表
示している。
表平4−505810号公報に開示されている放射線検
出素子が知られている。この放射線検出素子は、基板上
に形成されたシンチレータと撮像素子とを接着剤で接合
し、基板側から入射した放射線をシンチレータで可視光
に変換して検出している。
成されたシンチレータの一つ一つの柱状結晶の高さは一
定ではなく凹凸を有するため、撮像素子と貼り合わせる
際にシンチレータの先端部が撮像素子の受光面にぶつか
りシンチレータの先端部を破損してしまう恐れがある。
また、撮像素子とシンチレータを接着剤により固着した
場合には、温度変化による歪みが基板に生じ、この歪み
によりシンチレータの柱状結晶に破損が生じることがあ
る。特に撮像素子に冷却型CCDを用いる場合には、急
激な温度変化により歪みが大きくなることからシンチレ
ータの破損が生じ易くなる。
防止することができる放射線イメージセンサを提供する
ことである。
メージセンサは、シンチレータパネルと撮像素子とを備
える放射線イメージセンサにおいて、前記シンチレータ
パネルは、放射線透過性の基板と、この基板上に形成さ
れたシンチレータと、このシンチレータを覆う弾性を有
する有機膜とを備え、前記シンチレータパネルと前記撮
像素子との間にマッチングオイルを介在させて前記シン
チレータパネルと前記撮像素子とを重ね合わせ、前記シ
ンチレータパネル及び前記撮像素子の側壁部を樹脂で固
着したことを特徴とする。
によれば、シンチレータを弾性を有する有機膜により覆
い、マッチングオイルを介在させて撮像素子とを重ね合
わせているため、弾性を有する有機膜を介してシンチレ
ータパネルを撮像素子に貼り合わせる場合にシンチレー
タに作用する衝撃を緩和することができシンチレータの
破損を防止することができる。また、温度変化により基
板に歪みが生じた場合であっても、シンチレータが弾性
を有する有機膜により覆われているため、この弾性を有
する有機膜により基板の歪みに基づきシンチレータに作
用する応力を緩和することができシンチレータの破損を
防止することができる。
サは、請求項1記載の放射線イメージセンサの前記シン
チレータが柱状構造を有することを特徴とする。
によれば、柱状構造を有するシンチレータの先端部が弾
性を有する有機膜により覆われているため、シンチレー
タパネルを撮像素子に重ね合わせる場合に柱状構造のシ
ンチレータの先端部に作用する衝撃及び温度変化による
歪みに基づきシンチレータに作用する応力を緩和するこ
とができ柱状構造のシンチレータの先端部の破損を防止
することができる。
の発明の実施の形態の説明を行う。図1は実施の形態に
かかる放射線イメージセンサ2の断面図である。図1に
示すように、放射線イメージセンサ2は、シンチレータ
パネル4と撮像素子6とを貼り合わせ、セラミックケー
ス8に収容した構成を有している。
板10の一方の表面には、入射した放射線を可視光に変
換する柱状構造のシンチレータ12が形成されている。
このシンチレータ12には、TlドープのCsIが用い
られている。この基板10に形成されたシンチレータ1
2は、基板10と共に全面が弾性を有する第1のポリパ
ラキシリレン膜(第1の有機膜)14で覆われており、
シンチレータ12側の第1のポリパラキシリレン膜14
の表面にSiO2(透明無機膜)膜16が形成されてい
る。更に、SiO2膜16の表面及び基板10側のSi
O2膜16が形成されていない部分の第1のポリパラキ
シリレン膜14の表面に第2のポリパラキシリレン膜
(第2の有機膜)18が形成されており全面が第2のポ
リパラキシリレン膜18で覆われている。
してのシリコン樹脂層を20を介してシンチレータパネ
ル4のシンチレータ12側に貼り付けられており、撮像
素子6の底部がセラミックケース8の収容部8aに収容
されている。更に、シンチレータパネル4及び撮像素子
6の側壁部がボンディングワイヤ22を保護しシンチレ
ータプレート4をセラミックケース8に固定するための
樹脂24により固められている。
タパネル4の製造工程について説明する。図2(a)に
示されるようなAl製の基板10(厚さ0.5t)の一
方の表面に、TlをドープしたCsIの柱状結晶を蒸着
法によって成長させてシンチレータ12を200μmの
厚さで形成する(図2(b)参照)。
湿性が高く露出したままにしておくと空気中の水蒸気を
吸湿して潮解してしまうため、これを防止するためにC
VD法により第1のポリパラキシリレン膜14を形成す
る。即ち、シンチレータ12が形成された基板10をC
VD装置に入れ、第1のポリパラキシリレン膜14を1
0μmの厚さで成膜する。これによりシンチレータ12
及び基板10の表面全体に第1のポリパラキシリレン膜
14が形成される(図2(c)参照)。シンチレータ1
2の先端部は凹凸であることから、この第1のポリパラ
キシリレン膜14は、シンチレータ12の先端部を平坦
化する役目も有する。
ラキシリレン膜14の表面にSiO2膜16をスパッタ
リングにより200nmの厚さで成膜する(図3(a)
参照)。
湿性の向上を目的とするものであるため、シンチレータ
12を覆う範囲で形成される。上述のようにシンチレー
タ12の先端部は、第1のポリパラキシリレン膜14に
より平坦化されているため、出力光量が減少しないよう
にSiO2膜16を薄く(100nm〜300nm)形
成することができる。
側のSiO2膜16が形成されていない第1のポリパラ
キシリレン膜14の表面に、CVD法によりSiO2膜
16の剥がれ防止のための第2のポリパラキシリレン膜
18を10μm厚さで成膜する(図3(b)参照)。こ
の工程を終了することによりシンチレータパネル4の製
造が終了する。
を介してシンチレータパネル4のシンチレータ12側に
貼り付ける。また、シンチレータパネル4に貼り付けら
れた撮像素子6の底部をセラミックケース8の収容部8
aに収容して、ボンディングワイヤ22により撮像素子
6のパッド部とセラミックケース8に固定されたリード
ピンとを電気的に接続する。そして、ボンディングワイ
ヤ22を保護するため及びシンチレータプレート4をセ
ラミックケース8に固定するために、シンチレータパネ
ル4及び撮像素子6の側壁部を樹脂24により固める。
この工程を終了することにより、図1に示す放射線イメ
ージセンサ2の製造が終了する。
ンサ2によれば、シンチレータ12を第1のポリパラキ
シリレン膜14により覆い、シリコン樹脂20を介在さ
せて撮像素子6とを貼り合わせているため、第1のポリ
パラキシリレン膜14によりシンチレータパネル4を撮
像素子6に貼り合わせる場合にシンチレータ12の先端
部に作用する衝撃を緩和することができシンチレータ1
2の先端部の破損を防止することができる。また、温度
変化により基板10に歪みが生じた場合であっても、シ
ンチレータ12が第1のポリパラキシリレン膜14によ
り覆われているため、この第1のポリパラキシリレン膜
14により基板10の歪みに基づきシンチレータ12に
作用する応力を緩和することができシンチレータ12の
破損を防止することができる。
6の側壁部が樹脂24により固められているためシンチ
レータパネル4と撮像素子6との接続を強固なものとす
ることができる。
チングオイルとしてシリコン樹脂20を用いているが、
これに限らずエポキシ樹脂、シリコンオイル等を用いて
も良い。
ディングワイヤ22を保護するため及びシンチレータプ
レート4をセラミックケース8に固定するために、シン
チレータパネル4及び撮像素子6の側壁部を一つの樹脂
24により固めるているが、ボンディングワイヤ22を
保護するための樹脂とシンチレータプレート4をセラミ
ックケース8に固定するための樹脂とを別々の樹脂とし
ても良い。
用いているが、これに限らずAl2O3,TiO2,In2
O3,SnO2,MgO,SiNO及びSiN等を材料と
する無機膜を使用しても良い。
チレータ12としてCsI(Tl)が用いられている
が、これに限らずCsI(Na)、NaI(Tl)、L
iI(Eu)、KI(Tl)等を用いてもよい。
10としてAl製の基板が用いられているが、X線透過
率の良い基板であればよいことから、C(グラファイ
ト)製の基板、Be製の基板等を用いてもよい。
チレータ12が第1のポリパラキシリレン膜14、Si
O2膜16及び第2のポリパラキシリレン膜18により
覆われているが、第1のポリパラキシリレン膜14のみ
で覆うようにしても良く、また、第1のポリパラキシリ
レン膜14及びSiO2膜16で覆うようにしても良
い。この場合においてもシンチレータ12と接する第1
のポリパラキシリレン膜14が弾性を有するため、上述
の実施の形態にかかる放射線イメージセンサ2の場合と
同様にシンチレータ12の破損の防止を図ることができ
る。
素子6を用いているが、冷却型撮像素子(C−CCD)
を用いても良い。この場合には、急激な温度変化により
シンチレータに作用する応力が大きくなるため、弾性を
有する有機膜によるシンチレータ破損防止の効果が増大
する。
ラキシリレンには、ポリパラキシリレンの他、ポリモノ
クロロパラキシリレン、ポリジクロロパラキシリレン、
ポリテトラクロロパラキシリレン、ポリフルオロパラキ
シリレン、ポリジメチルパラキシリレン、ポリジエチル
パラキシリレン等を含む。
ば、シンチレータを弾性を有する有機膜により覆い、マ
ッチングオイルを介在させて撮像素子とを重ね合わせて
いるため、弾性を有する有機膜を介してシンチレータパ
ネルを撮像素子に重ね合わせる場合にシンチレータに作
用する衝撃を緩和することができシンチレータの先端部
の破損を防止することができる。また、温度変化により
基板に歪みが生じた場合であっても、シンチレータが弾
性を有する有機膜により覆われているため、この弾性を
有する有機膜により基板の歪みに基づきシンチレータに
作用する応力を緩和することができシンチレータの破損
を防止することができる。
センサの断面図である。
ネルの製造工程を示す図である。
ネルの製造工程を示す図である。
6…撮像素子、8…セラミックケース、10…基板、1
2…シンチレータ、14…第1のポリパラキシリレン
膜、16…SiO2膜、18…第2のポリパラキシリレ
ン膜、20…シリコン樹脂層、22…ボンディングワイ
ヤ、24…樹脂。
Claims (2)
- 【請求項1】 シンチレータパネルと撮像素子とを備え
る放射線イメージセンサにおいて、 前記シンチレータパネルは、放射線透過性の基板と、こ
の基板上に形成されたシンチレータと、このシンチレー
タを覆う弾性を有する有機膜とを備え、 前記シンチレータパネルと前記撮像素子との間にマッチ
ングオイルを介在させて前記シンチレータパネルと前記
撮像素子とを重ね合わせ、前記シンチレータパネル及び
前記撮像素子の側壁部を樹脂で固着したことを特徴とす
る放射線イメージセンサ。 - 【請求項2】 前記シンチレータは、柱状構造を有する
ことを特徴とする請求項1記載の放射線イメージセン
サ。
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