JP2000098440A - 撮像装置 - Google Patents
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- JP2000098440A JP2000098440A JP10273133A JP27313398A JP2000098440A JP 2000098440 A JP2000098440 A JP 2000098440A JP 10273133 A JP10273133 A JP 10273133A JP 27313398 A JP27313398 A JP 27313398A JP 2000098440 A JP2000098440 A JP 2000098440A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 専用の温度センサを備えることなく、精度の
高い、温度変化に対応した撮影動作の制御を行なう撮像
装置を提供することにある。 【解決手段】 撮影レンズと、該撮影レンズの撮影光量
を制御する絞り羽根と、該絞り羽根の開口径を検出する
ホール素子と、該絞り羽根の開口径を制御するCPUを
備えた撮像装置であって、前記CPUは、前記絞り羽根
の全開位置と全閉位置における前記ホール素子のホール
電圧の差分の温度による変化に関する情報を記憶したメ
モリを有し、前記複数の開口径において得た前記検出手
段の出力の差分と、前記メモリに記憶した情報とから、
周囲の温度を演算するように構成されている撮像装置。
高い、温度変化に対応した撮影動作の制御を行なう撮像
装置を提供することにある。 【解決手段】 撮影レンズと、該撮影レンズの撮影光量
を制御する絞り羽根と、該絞り羽根の開口径を検出する
ホール素子と、該絞り羽根の開口径を制御するCPUを
備えた撮像装置であって、前記CPUは、前記絞り羽根
の全開位置と全閉位置における前記ホール素子のホール
電圧の差分の温度による変化に関する情報を記憶したメ
モリを有し、前記複数の開口径において得た前記検出手
段の出力の差分と、前記メモリに記憶した情報とから、
周囲の温度を演算するように構成されている撮像装置。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は撮像装置に関するも
のである。
のである。
【0002】
【従来の技術】従来、ビデオカメラの絞り装置にはIG
メータが使用されている。まず図9を参照してIGメー
タの構成について説明する。図9に示した絞り駆動部材
5の中の51は駆動コイルであり、52は永久磁石と一
体に構成されたロータである。
メータが使用されている。まず図9を参照してIGメー
タの構成について説明する。図9に示した絞り駆動部材
5の中の51は駆動コイルであり、52は永久磁石と一
体に構成されたロータである。
【0003】52は不図示の軸受けに支持された軸52
aを中心に回転可能になっている。53はロータ52と
一体で回転する絞り羽根駆動板で、ピン53a,53b
が設けられており、絞り羽根駆動板53はストッパー5
6aと56bの間を回転可能になっている。
aを中心に回転可能になっている。53はロータ52と
一体で回転する絞り羽根駆動板で、ピン53a,53b
が設けられており、絞り羽根駆動板53はストッパー5
6aと56bの間を回転可能になっている。
【0004】54は絞り羽根駆動板53を図中反時計方
向に付勢するバネである。絞り羽根3a,3bはピン5
3a,53bに係止しており、絞り羽根駆動板53の回
転に伴って、互いに図中矢印の方向に平行移動するよう
に不図示の機構により保持されている。
向に付勢するバネである。絞り羽根3a,3bはピン5
3a,53bに係止しており、絞り羽根駆動板53の回
転に伴って、互いに図中矢印の方向に平行移動するよう
に不図示の機構により保持されている。
【0005】駆動コイル51に電流が流れていないとき
は、絞り羽根駆動板53はバネ54で図中反時計方向に
付勢され、ストッパー56aにより位置決めされてい
る。
は、絞り羽根駆動板53はバネ54で図中反時計方向に
付勢され、ストッパー56aにより位置決めされてい
る。
【0006】このとき、絞り羽根3a,3bは図9
(a)のようになり、点線の交点にある開口部は閉じら
れている。駆動コイル51に電流が流れると、その電流
とロータ52の永久磁石の相互作用により電磁力が生
じ、ロータ52は図中時計方向に回転する。
(a)のようになり、点線の交点にある開口部は閉じら
れている。駆動コイル51に電流が流れると、その電流
とロータ52の永久磁石の相互作用により電磁力が生
じ、ロータ52は図中時計方向に回転する。
【0007】ロータ52の回転に伴いバネ54による付
勢力も増し、両者の釣り合った位置でロータ52の回転
は停止する。このとき、絞り羽根3a,3bは図9
(b)のようになり、開口部は開いている。
勢力も増し、両者の釣り合った位置でロータ52の回転
は停止する。このとき、絞り羽根3a,3bは図9
(b)のようになり、開口部は開いている。
【0008】図9(a),(b)に示すように、絞り羽
根3a,3bによる絞り開口径はロータ52の回転角と
ともに変化するようになっている。このとき、ホール素
子55はロータ52に一体に設けられた永久磁石の回転
量を電圧として検出している(ホール電圧)。上記電磁
力はコイルの電流に比例するので、コイルに流れる電流
を制御することで釣合の位置、即ちロータ52の回転角
を、さらには絞り開口径を制御できる。
根3a,3bによる絞り開口径はロータ52の回転角と
ともに変化するようになっている。このとき、ホール素
子55はロータ52に一体に設けられた永久磁石の回転
量を電圧として検出している(ホール電圧)。上記電磁
力はコイルの電流に比例するので、コイルに流れる電流
を制御することで釣合の位置、即ちロータ52の回転角
を、さらには絞り開口径を制御できる。
【0009】次に図10を参照して駆動コイル51に流
す電流の制御方法について説明する。
す電流の制御方法について説明する。
【0010】図10において、1は撮影レンズ、2はC
CD、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動
部材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、1
1は鏡筒駆動回路、13は鏡筒駆動部材である。
CD、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動
部材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、1
1は鏡筒駆動回路、13は鏡筒駆動部材である。
【0011】撮影レンズ1は撮影レンズ1a,1bより
成っており、鏡筒駆動回路11により駆動される。CC
D2は撮影レンズ1の結像面に位置し、被写体像を電気
信号に変換するものである。
成っており、鏡筒駆動回路11により駆動される。CC
D2は撮影レンズ1の結像面に位置し、被写体像を電気
信号に変換するものである。
【0012】絞り羽根3は撮影レンズ1の光路中に設け
てあり、絞り駆動部材5により絞り羽根3は駆動され
る。信号処理回路4はCCD2からの電気信号を画像信
号に処理し、その画像信号を記録部8により記録する。
てあり、絞り駆動部材5により絞り羽根3は駆動され
る。信号処理回路4はCCD2からの電気信号を画像信
号に処理し、その画像信号を記録部8により記録する。
【0013】そして、信号処理回路4は画像信号を積分
することにより、撮影画面の明るさを表わす信号(a)
を作っている。信号処理回路4により検出された撮影画
面の明るさを表わす信号(a)と適正露出時の画面の明
るさを示す基準信号(d)を比較し、その差分に所定の
係数をかけた値を現在の駆動電流に付加している。した
がって、撮影画面の明るさは常に適正露出に近付くよう
にフィードバックされる。
することにより、撮影画面の明るさを表わす信号(a)
を作っている。信号処理回路4により検出された撮影画
面の明るさを表わす信号(a)と適正露出時の画面の明
るさを示す基準信号(d)を比較し、その差分に所定の
係数をかけた値を現在の駆動電流に付加している。した
がって、撮影画面の明るさは常に適正露出に近付くよう
にフィードバックされる。
【0014】以上がビデオカメラに用いられるIGメー
タの構成と制御方法である。
タの構成と制御方法である。
【0015】一方、上記ホール電圧は、図8に示すよう
に周囲の温度によって変化することが知られている。し
たがって、周囲の温度によって、同一のホール電圧でも
絞り開口径は違うということが起きていた。
に周囲の温度によって変化することが知られている。し
たがって、周囲の温度によって、同一のホール電圧でも
絞り開口径は違うということが起きていた。
【0016】しかし、上記したようにビデオカメラにお
いて絞り開口径は、撮影画面の明るさを常に適正露出に
近付くようにフィードバック制御されていて、発生する
ホール電圧から直接絞り開口径を検出して制御していな
かったので問題は生じていなかった。
いて絞り開口径は、撮影画面の明るさを常に適正露出に
近付くようにフィードバック制御されていて、発生する
ホール電圧から直接絞り開口径を検出して制御していな
かったので問題は生じていなかった。
【0017】ところで、近年、IGメータをスチルカメ
ラやスチルとムービー兼用カメラの絞り兼用シャッター
に用いたものが提案されている。それらスチルカメラや
スチルとムービー兼用カメラのスチルモードにおいては
測光値に対して、最適な絞りとシャッター速度を決めて
撮影するのが普通である。
ラやスチルとムービー兼用カメラの絞り兼用シャッター
に用いたものが提案されている。それらスチルカメラや
スチルとムービー兼用カメラのスチルモードにおいては
測光値に対して、最適な絞りとシャッター速度を決めて
撮影するのが普通である。
【0018】したがって、絞りに関して正確な絞り開口
径に制御することが求められている。
径に制御することが求められている。
【0019】ここで、上記したように、ホール電圧は、
図8に示すように周囲の温度によって変化する。そこ
で、それらのカメラでは、別途温度センサなどを用いて
温度を測定して、ホール電圧と絞り開口径との関係を補
正することが考えられている。
図8に示すように周囲の温度によって変化する。そこ
で、それらのカメラでは、別途温度センサなどを用いて
温度を測定して、ホール電圧と絞り開口径との関係を補
正することが考えられている。
【0020】また、レンズの性能が温度で変化して、焦
点精度に温度の影響が出たり、さらに鏡筒回りのメカ駆
動特性が温度による負荷変動等の影響を受けるため温度
によって駆動方法、制御方法を切り替える必要があっ
た。そして、温度を計測するためには、別途温度センサ
などを用いていた。
点精度に温度の影響が出たり、さらに鏡筒回りのメカ駆
動特性が温度による負荷変動等の影響を受けるため温度
によって駆動方法、制御方法を切り替える必要があっ
た。そして、温度を計測するためには、別途温度センサ
などを用いていた。
【0021】その時のIGメータの駆動コイル51に流
す電流の制御方法を図11を参照して説明する。図11
に示す構成のうち、図10に示すビデオカメラで説明し
たものと同じ番号がついているものは同様のものであ
る。
す電流の制御方法を図11を参照して説明する。図11
に示す構成のうち、図10に示すビデオカメラで説明し
たものと同じ番号がついているものは同様のものであ
る。
【0022】図11において、1は撮影レンズ、2はC
CD、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動
部材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、1
0はスチルとムービーの切り換えスイッチ(SW)、1
1は鏡筒駆動回路、12は温度センサ、13は鏡筒駆動
部材、14はAF装置である。
CD、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動
部材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、1
0はスチルとムービーの切り換えスイッチ(SW)、1
1は鏡筒駆動回路、12は温度センサ、13は鏡筒駆動
部材、14はAF装置である。
【0023】SW10が図11に示すようにムービーモ
ードに切り換えられた時は上記のビデオカメラと同様
に、信号処理回路4は画像信号を積分することにより、
撮影画面の明るさを表わす信号(a)と適正露出時の画
面の明るさを示す基準信号(d)を比較し、その差分に
所定の係数をかけた値を現在の駆動電流に付加してい
る。
ードに切り換えられた時は上記のビデオカメラと同様
に、信号処理回路4は画像信号を積分することにより、
撮影画面の明るさを表わす信号(a)と適正露出時の画
面の明るさを示す基準信号(d)を比較し、その差分に
所定の係数をかけた値を現在の駆動電流に付加してい
る。
【0024】そして、SW10によりスチルモードに切
り換えられた時は、上記ホール電圧(b)がCPU9に
読み取られ、予め測定、記録されている電圧−開口径の
関係表により絞り開口径に変換される(c)。その時、
周辺の温度を温度センサ12を用いて測定して、上記電
圧−開口径の関係を補正する。したがって、絞り開口径
は常に設定された絞り開口径になるように制御される。
り換えられた時は、上記ホール電圧(b)がCPU9に
読み取られ、予め測定、記録されている電圧−開口径の
関係表により絞り開口径に変換される(c)。その時、
周辺の温度を温度センサ12を用いて測定して、上記電
圧−開口径の関係を補正する。したがって、絞り開口径
は常に設定された絞り開口径になるように制御される。
【0025】上記のように、スチルカメラやスチルとム
ービー兼用カメラのスチルモードの絞りに関しては、正
確な絞り開口径に制御することが求められているが、ホ
ール電圧は、図8に示すように周囲の温度によって変化
する。また、レンズの性能が温度で変化して、焦点精度
に温度の影響が出たり、さらに鏡筒回りのメカ駆動特性
が温度による負荷変動等の影響を受けるため温度によっ
て駆動(制御)方法を切り替える必要がある。
ービー兼用カメラのスチルモードの絞りに関しては、正
確な絞り開口径に制御することが求められているが、ホ
ール電圧は、図8に示すように周囲の温度によって変化
する。また、レンズの性能が温度で変化して、焦点精度
に温度の影響が出たり、さらに鏡筒回りのメカ駆動特性
が温度による負荷変動等の影響を受けるため温度によっ
て駆動(制御)方法を切り替える必要がある。
【0026】温度変化を検出する方法として、IGメー
タの絞り径とホール電圧の温度による変化を予め測定し
ておき、各温度におけるホール電圧と絞り開口径との関
係をメモリに格納しておき、全閉状態のときの出力から
前記ホール電圧と絞り開口径との関係を利用して温度を
計測することで、IGメータを簡単な方法で一種の温度
センサとして使用する方法が提案されている。
タの絞り径とホール電圧の温度による変化を予め測定し
ておき、各温度におけるホール電圧と絞り開口径との関
係をメモリに格納しておき、全閉状態のときの出力から
前記ホール電圧と絞り開口径との関係を利用して温度を
計測することで、IGメータを簡単な方法で一種の温度
センサとして使用する方法が提案されている。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、絞り開
口径の温度変化に対するホール電圧の変化は微少なもの
であり、特定の絞り開口径と温度の関係を用いる方法で
は、ホール電圧の出力のノイズに対して弱いものとなっ
てしまう。
口径の温度変化に対するホール電圧の変化は微少なもの
であり、特定の絞り開口径と温度の関係を用いる方法で
は、ホール電圧の出力のノイズに対して弱いものとなっ
てしまう。
【0028】また温度変化に対するホール素子のホール
電圧の変化率、すなわちホール電圧と温度の関係を示す
特性の傾きが小さいと、ノイズによる影響を強く受け、
精度が低下する問題があった。
電圧の変化率、すなわちホール電圧と温度の関係を示す
特性の傾きが小さいと、ノイズによる影響を強く受け、
精度が低下する問題があった。
【0029】そこで、本発明は、上記従来の問題点を解
消するために成されたもので、その課題は、専用の温度
センサを備えることなく、精度の高い、温度変化に対応
した撮影動作の制御を行なう撮像装置を提供することに
ある。
消するために成されたもので、その課題は、専用の温度
センサを備えることなく、精度の高い、温度変化に対応
した撮影動作の制御を行なう撮像装置を提供することに
ある。
【0030】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本願の請求項1に記載の発明によれば、撮影レン
ズと、該撮影レンズの撮影光量を制御する絞り羽根と、
該絞り羽根の開口径を検出する検出手段と、該絞り羽根
の開口径を制御する制御手段を備えた撮像装置であっ
て、前記制御手段は、前記絞り羽根の複数の開口径にお
ける前記検出手段からの検出出力の差分の温度による変
化に関する情報を記憶した記憶手段を有し、前記複数の
開口径において得た前記検出手段の出力の差分と、前記
記憶手段に記憶した情報とから、周囲の温度を演算する
ように構成された撮像装置を特徴とする。
めに、本願の請求項1に記載の発明によれば、撮影レン
ズと、該撮影レンズの撮影光量を制御する絞り羽根と、
該絞り羽根の開口径を検出する検出手段と、該絞り羽根
の開口径を制御する制御手段を備えた撮像装置であっ
て、前記制御手段は、前記絞り羽根の複数の開口径にお
ける前記検出手段からの検出出力の差分の温度による変
化に関する情報を記憶した記憶手段を有し、前記複数の
開口径において得た前記検出手段の出力の差分と、前記
記憶手段に記憶した情報とから、周囲の温度を演算する
ように構成された撮像装置を特徴とする。
【0031】また本願の請求項2にk試合の発明によれ
ば、請求項1において、前記制御手段が、演算した温度
に対応して絞り羽根の開口径の制御を行うように構成さ
れた撮像装置を特徴とする。
ば、請求項1において、前記制御手段が、演算した温度
に対応して絞り羽根の開口径の制御を行うように構成さ
れた撮像装置を特徴とする。
【0032】また本願の請求項3に記載の発明によれ
ば、請求項2において、撮影レンズと、該撮影レンズの
焦点状態を自動的に被写体に合致させるAF手段と、前
記撮影レンズの撮影光量を制御する絞り羽根およびシャ
ッターとを有する撮像部と、絞り羽根の開口径を検出す
る検出手段と、前記絞り羽根の複数の開口径における前
記検出手段からの検出出力の差分の温度による変化に関
する情報を記憶した記憶手段を有し、前記複数の開口径
において得た前記検出手段の出力の差分と、前記記憶手
段に記憶した情報とから、周囲の温度を演算し、その演
算結果に基づいて前記撮像部を制御する制御手段とを備
えた撮像装置を特徴とする。
ば、請求項2において、撮影レンズと、該撮影レンズの
焦点状態を自動的に被写体に合致させるAF手段と、前
記撮影レンズの撮影光量を制御する絞り羽根およびシャ
ッターとを有する撮像部と、絞り羽根の開口径を検出す
る検出手段と、前記絞り羽根の複数の開口径における前
記検出手段からの検出出力の差分の温度による変化に関
する情報を記憶した記憶手段を有し、前記複数の開口径
において得た前記検出手段の出力の差分と、前記記憶手
段に記憶した情報とから、周囲の温度を演算し、その演
算結果に基づいて前記撮像部を制御する制御手段とを備
えた撮像装置を特徴とする。
【0033】本願の請求項4に記載の発明によれば、請
求項3において、前記制御手段が、前記演算した温度に
応じて前記絞り羽根の開口径の制御を行うように構成さ
れた撮像装置を特徴とする。
求項3において、前記制御手段が、前記演算した温度に
応じて前記絞り羽根の開口径の制御を行うように構成さ
れた撮像装置を特徴とする。
【0034】本願の請求項5に記載の発明によれば、請
求項3または4において、前記制御手段が、前記演算し
た温度に応じて前記シャッターの動作を制御するように
構成された撮像装置を特徴とする。
求項3または4において、前記制御手段が、前記演算し
た温度に応じて前記シャッターの動作を制御するように
構成された撮像装置を特徴とする。
【0035】本願の請求項6に記載の発明によれば、請
求項3乃至5において、前記制御手段が、前記演算した
温度に応じて前記AF手段の制御を行うように構成され
た撮像装置を特徴とする。
求項3乃至5において、前記制御手段が、前記演算した
温度に応じて前記AF手段の制御を行うように構成され
た撮像装置を特徴とする。
【0036】本願の請求項7に記載の発明によれば、請
求項1または3において、前記絞り羽根の複数の開口径
が、絞り羽根が全閉および全開である撮像装置を特徴と
する。
求項1または3において、前記絞り羽根の複数の開口径
が、絞り羽根が全閉および全開である撮像装置を特徴と
する。
【0037】本願の請求項8に記載の発明によれば、請
求項1または3において、前記検出手段が、前記絞り羽
根を駆動するIGメータの回転角を検出するホール素子
であり、前記検出出力は、前記ホール素子のホール電圧
である撮像装置を特徴とする。
求項1または3において、前記検出手段が、前記絞り羽
根を駆動するIGメータの回転角を検出するホール素子
であり、前記検出出力は、前記ホール素子のホール電圧
である撮像装置を特徴とする。
【0038】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。
施形態を詳細に説明する。
【0039】(第1の実施例)図1は本発明の第1の実
施例を示すブロック図である。図1に示す構成のうち、
図11に示し従来例で説明したものと同じ番号のついて
いるものは同様のものである。
施例を示すブロック図である。図1に示す構成のうち、
図11に示し従来例で説明したものと同じ番号のついて
いるものは同様のものである。
【0040】1は撮影レンズ、2はCCD等の撮像素
子、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動部
材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、10
はスチルとムービーの切り換えスイッチ(SW)、11
は鏡筒駆動回路、13は鏡筒駆動部材、14はAF装置
である。また絞り羽根の開口径とともに露出制御を行な
うシャッターは撮像素子の蓄積時間制御によって実現さ
れ、これらの構成によって撮像部が構成される。
子、3は絞り羽根、4は信号処理回路、5は絞り駆動部
材、6は絞り駆動回路、8は記録部、9はCPU、10
はスチルとムービーの切り換えスイッチ(SW)、11
は鏡筒駆動回路、13は鏡筒駆動部材、14はAF装置
である。また絞り羽根の開口径とともに露出制御を行な
うシャッターは撮像素子の蓄積時間制御によって実現さ
れ、これらの構成によって撮像部が構成される。
【0041】撮影レンズ1は撮影レンズ1a,1bより
成っており、11は撮影レンズを駆動する鏡筒駆動回路
である。CCD2は撮影レンズ1の結像面に位置し、被
写体像を電気信号に変換するものである。絞り羽根3は
撮像レンズ1の光路中に設けてあり、絞り駆動部材5は
絞り羽根3を駆動する部材である。信号処理回路4はC
CD2からの電気信号を画像信号に処理する。その画像
信号を記録部8で記録する。
成っており、11は撮影レンズを駆動する鏡筒駆動回路
である。CCD2は撮影レンズ1の結像面に位置し、被
写体像を電気信号に変換するものである。絞り羽根3は
撮像レンズ1の光路中に設けてあり、絞り駆動部材5は
絞り羽根3を駆動する部材である。信号処理回路4はC
CD2からの電気信号を画像信号に処理する。その画像
信号を記録部8で記録する。
【0042】本実施例では、予め、図2に示すような絞
り開口径が全開及び全閉でのホール電圧の差分と温度の
関係を計測しておいて、そのホール電圧の差分−温度の
関係表をCPU9に記録しておく。
り開口径が全開及び全閉でのホール電圧の差分と温度の
関係を計測しておいて、そのホール電圧の差分−温度の
関係表をCPU9に記録しておく。
【0043】このCPUは、本発明の制御手段に相当
し、ホール素子は検出手段に相当し、検出出力はホール
電圧である。
し、ホール素子は検出手段に相当し、検出出力はホール
電圧である。
【0044】そして、本体に電源が入った後、まず、絞
り羽根3の駆動回路6に電圧を掛けず絞り羽根3を全閉
の状態にしておき、ホール電圧の測定を行いホール電圧
をCPU9内のメモリに記憶する。このメモリはCPU
内のROM、RAMあるいは外付けのEEPROM等で
もよく、本発明の記憶手段に相当する。
り羽根3の駆動回路6に電圧を掛けず絞り羽根3を全閉
の状態にしておき、ホール電圧の測定を行いホール電圧
をCPU9内のメモリに記憶する。このメモリはCPU
内のROM、RAMあるいは外付けのEEPROM等で
もよく、本発明の記憶手段に相当する。
【0045】次に駆動回路6に最大の電圧を掛け、絞り
羽根3を全開の状態にしておき、ホール電圧の測定を行
い、絞り羽根3を全開時のホール電圧と全閉時のホール
電圧の差分を求める。この絞り羽根3の全開時のと全閉
時のホール電圧の差分と上記ホール電圧の差分−温度の
関係から温度を算出することができる。
羽根3を全開の状態にしておき、ホール電圧の測定を行
い、絞り羽根3を全開時のホール電圧と全閉時のホール
電圧の差分を求める。この絞り羽根3の全開時のと全閉
時のホール電圧の差分と上記ホール電圧の差分−温度の
関係から温度を算出することができる。
【0046】ここで、絞り全開のときのホール電圧と、
絞り全閉のときのホール電圧の差分を用いている理由
は、図8から明らかなように、絞り開口径とホール電圧
の関係を示す直線の傾きが温度によって変化し、絞り開
口径によってそのホール電圧の温度変化特性が異なって
いる。
絞り全閉のときのホール電圧の差分を用いている理由
は、図8から明らかなように、絞り開口径とホール電圧
の関係を示す直線の傾きが温度によって変化し、絞り開
口径によってそのホール電圧の温度変化特性が異なって
いる。
【0047】したがって、図2に示すように、絞り全開
時のホール電圧−温度特性と、絞り全閉時のホール電圧
−温度特性とは、傾きが異なっており、特に同図の場合
は、逆の傾きの関係にある。
時のホール電圧−温度特性と、絞り全閉時のホール電圧
−温度特性とは、傾きが異なっており、特に同図の場合
は、逆の傾きの関係にある。
【0048】よって、絞り全開あるいは全閉の特性を単
独で用いるよりも、両特性の差分を用いたほうが、温度
に対するホール電圧変化をより顕著に、且つ高精度に検
知することができる。
独で用いるよりも、両特性の差分を用いたほうが、温度
に対するホール電圧変化をより顕著に、且つ高精度に検
知することができる。
【0049】いずれかの特性のみでホール電圧の温度変
化を識別しようとすると、特性の傾きが小さい場合に、
温度が変化に対するホール電圧検出精度が低下するから
である。
化を識別しようとすると、特性の傾きが小さい場合に、
温度が変化に対するホール電圧検出精度が低下するから
である。
【0050】図2から明らかなように、絞り全開時の特
性、絞り全閉時の特性のいずれよりも、絞り全開時と絞
り全閉時の差分の特性の方が、傾きが大きくなってお
り、検出感度、精度とも向上していることがわかる。
性、絞り全閉時の特性のいずれよりも、絞り全開時と絞
り全閉時の差分の特性の方が、傾きが大きくなってお
り、検出感度、精度とも向上していることがわかる。
【0051】ここで上記絞り開口径が全開時及び全閉時
のホール電圧の差分と温度の関係は、任意の2点の絞り
開口径のときのホール電圧の差分と温度の関係であって
もよいが、使用するホール素子と絞り構造を考慮して、
2点の絞り開口径のホール電圧の差分の温度に対する変
化の傾きが大きいところの開口径を用いることが好まし
い。
のホール電圧の差分と温度の関係は、任意の2点の絞り
開口径のときのホール電圧の差分と温度の関係であって
もよいが、使用するホール素子と絞り構造を考慮して、
2点の絞り開口径のホール電圧の差分の温度に対する変
化の傾きが大きいところの開口径を用いることが好まし
い。
【0052】ホール電圧の温度変化そのホール電圧の差
分−温度の関係表をCPU9に記録しておいても温度の
算出が行える。
分−温度の関係表をCPU9に記録しておいても温度の
算出が行える。
【0053】以上のように、例えばIGメータの絞り開
口径とホール電圧の温度による変化を予め測定してお
き、各温度におけるホール電圧と絞り開口径との関係を
メモリに格納しておき、全閉状態のときの前記検出器の
出力から前記ホール電圧と絞り開口径との関係を利用し
て温度を計測することで、IGメータを簡単な方法で一
種の温度センサとして使用可能となる。
口径とホール電圧の温度による変化を予め測定してお
き、各温度におけるホール電圧と絞り開口径との関係を
メモリに格納しておき、全閉状態のときの前記検出器の
出力から前記ホール電圧と絞り開口径との関係を利用し
て温度を計測することで、IGメータを簡単な方法で一
種の温度センサとして使用可能となる。
【0054】(第2の実施例)本実施例は図1に示した
ブロック構成を備えており、図3,図4を参照してSW
10によりスチルモードに切り換えられたときの本実施
例の絞り開口径の制御方法について説明する。
ブロック構成を備えており、図3,図4を参照してSW
10によりスチルモードに切り換えられたときの本実施
例の絞り開口径の制御方法について説明する。
【0055】図4はプログラム線図である。まず、レリ
ーズスイッチを半押しすると絞りが開放になり、公知の
方法で外測AFと測光を行い、その後レリーズスイッチ
を押してシャッターを切る。
ーズスイッチを半押しすると絞りが開放になり、公知の
方法で外測AFと測光を行い、その後レリーズスイッチ
を押してシャッターを切る。
【0056】そのときたとえば、測光値がEv=13で
あるとすれば図4のプログラム線図から絞りはF5.
6、シャッター速度は1/250秒と決まる。そして、
上記ホール電圧(b)をCPU9が読み取り、予め測
定、記録されている電圧−開口径の関係表により絞り開
口径がF5.6を示す信号に変換する。
あるとすれば図4のプログラム線図から絞りはF5.
6、シャッター速度は1/250秒と決まる。そして、
上記ホール電圧(b)をCPU9が読み取り、予め測
定、記録されている電圧−開口径の関係表により絞り開
口径がF5.6を示す信号に変換する。
【0057】このとき、上記ホール電圧は周辺の温度に
より変化するので、第1の実施例の構成により得られる
周囲の温度から、予め測定、記録してあるホール電圧−
温度の関係より、温度の影響をキャンセルするよう上記
電圧−開口径の関係を補正する。
より変化するので、第1の実施例の構成により得られる
周囲の温度から、予め測定、記録してあるホール電圧−
温度の関係より、温度の影響をキャンセルするよう上記
電圧−開口径の関係を補正する。
【0058】したがって、絞り開口径は常に設定された
絞り開口径に制御される。
絞り開口径に制御される。
【0059】続いて、図3を参照して、シャッター駆動
制御について説明する。上記のように測光値Ev=1
3、絞り値F5.6、1/250秒のシャッター速度で
シャッターを切る場合、図3に示すように、先幕として
CCD9の電荷クリアから、一定時間T1後、後幕とし
てシャッターが閉じ始まる。
制御について説明する。上記のように測光値Ev=1
3、絞り値F5.6、1/250秒のシャッター速度で
シャッターを切る場合、図3に示すように、先幕として
CCD9の電荷クリアから、一定時間T1後、後幕とし
てシャッターが閉じ始まる。
【0060】この一定時間T1をCPU9が記録してい
て、シャッター駆動制御をしている。このとき、シャッ
ター駆動特性は温度による負荷変動等の影響を受ける。
即ちシャッター駆動は高温のときは負荷が軽くなり、低
温のときは負荷が重くなる。
て、シャッター駆動制御をしている。このとき、シャッ
ター駆動特性は温度による負荷変動等の影響を受ける。
即ちシャッター駆動は高温のときは負荷が軽くなり、低
温のときは負荷が重くなる。
【0061】このため、幕切れ時間T2は高温のとき短
く、低温のとき長くなる。よって、露光精度にばらつき
が生じてしまう。そこで、前記第1の実施例の構成によ
り得られる周囲の温度検出に応じて、予め測定、記録し
てある時間T1を変化させて露光精度を安定させる。た
とえば、25℃のときは10℃のときに比べて負荷が軽
いので、時間T1を長くする。したがって、正確なシャ
ッター駆動制御ができる。
く、低温のとき長くなる。よって、露光精度にばらつき
が生じてしまう。そこで、前記第1の実施例の構成によ
り得られる周囲の温度検出に応じて、予め測定、記録し
てある時間T1を変化させて露光精度を安定させる。た
とえば、25℃のときは10℃のときに比べて負荷が軽
いので、時間T1を長くする。したがって、正確なシャ
ッター駆動制御ができる。
【0062】図5は、外測タイプのオートフォーカス
(AF)装置14の説明図である。図5に示す141は
発光部、143は発光レンズ、142は受光部、144
は受光レンズ、17は被写体である。発光部141が赤
外線を発射し、発光レンズ143を通った光は、被写体
17で反射して、受光レンズ144を通って受光部14
2のラインセンサに入射する。入射した光がラインセン
サのどこに入ったかで、被写体で反射した角度θが分か
り、予め分かっている基線長dから被写体までの距離を
知ることができる。
(AF)装置14の説明図である。図5に示す141は
発光部、143は発光レンズ、142は受光部、144
は受光レンズ、17は被写体である。発光部141が赤
外線を発射し、発光レンズ143を通った光は、被写体
17で反射して、受光レンズ144を通って受光部14
2のラインセンサに入射する。入射した光がラインセン
サのどこに入ったかで、被写体で反射した角度θが分か
り、予め分かっている基線長dから被写体までの距離を
知ることができる。
【0063】ここで、図5に示す発光部141と受光部
142の間の基線長dが温度で変化して、焦点距離の測
定に温度の影響が出る。基線長dは高温のときは長くな
り、低温のときは短くなる。
142の間の基線長dが温度で変化して、焦点距離の測
定に温度の影響が出る。基線長dは高温のときは長くな
り、低温のときは短くなる。
【0064】そこで、前記第1の実施例の構成により得
られる周囲の温度から、予め測定してある基線長dに対
する温度の影響をキャンセルするように補正を行う。た
とえば、25℃のときは10℃のときに比べて基線長d
が長いので、測距結果よりも短い距離にピントを合わせ
る。したがって、常に高い精度でフォーカスが得られ
る。
られる周囲の温度から、予め測定してある基線長dに対
する温度の影響をキャンセルするように補正を行う。た
とえば、25℃のときは10℃のときに比べて基線長d
が長いので、測距結果よりも短い距離にピントを合わせ
る。したがって、常に高い精度でフォーカスが得られ
る。
【0065】図6は、鏡筒駆動部13の構造を示す斜視
図である。図中、1cはAF鏡筒、19はDCモータ、
20はパルスシート、21はフォトインタラプタであ
る。
図である。図中、1cはAF鏡筒、19はDCモータ、
20はパルスシート、21はフォトインタラプタであ
る。
【0066】上記測距結果より、予め測定、記録してあ
るAF鏡筒停止位置にAF鏡筒1cを移動させる。
るAF鏡筒停止位置にAF鏡筒1cを移動させる。
【0067】このときのAF駆動制御を図7を参照して
説明する。AF鏡筒停止位置からN1パルス前まではA
Fモータ印加電圧Vpで一気に移動させ、その後AF鏡
筒停止位置からN2パルス前になるまで、一定速度にな
るように制御し、AF鏡筒停止位置からN2パルス前に
なったらAFモータ印加電圧を0〔V〕にして残りを慣
性力で移動させ合焦位置にAF鏡筒を駆動させる。
説明する。AF鏡筒停止位置からN1パルス前まではA
Fモータ印加電圧Vpで一気に移動させ、その後AF鏡
筒停止位置からN2パルス前になるまで、一定速度にな
るように制御し、AF鏡筒停止位置からN2パルス前に
なったらAFモータ印加電圧を0〔V〕にして残りを慣
性力で移動させ合焦位置にAF鏡筒を駆動させる。
【0068】ここで、鏡筒回りのメカ駆動特性が温度に
よる負荷変動等の影響を受ける。即ち、鏡筒回りのメカ
駆動は高温のときは負荷が軽くなり、低温のときは負荷
が重くなる。したがって、AF駆動は高温のときは負荷
が軽くなり、低温のときは負荷が重くなる。
よる負荷変動等の影響を受ける。即ち、鏡筒回りのメカ
駆動は高温のときは負荷が軽くなり、低温のときは負荷
が重くなる。したがって、AF駆動は高温のときは負荷
が軽くなり、低温のときは負荷が重くなる。
【0069】このため、AF鏡筒1cの慣性力影響が変
化して、AF鏡筒の停止位置に差分が出る。そこで、前
記第1の実施例の構成により得られる周囲の温度に応じ
て、予め測定、記録されているN2パルスの値を変化さ
せる。たとえば、25℃のときは10℃のときに比べて
負荷が軽いので、N2パルスを少なくする。したがっ
て、正確なAF鏡筒駆動制御ができる。
化して、AF鏡筒の停止位置に差分が出る。そこで、前
記第1の実施例の構成により得られる周囲の温度に応じ
て、予め測定、記録されているN2パルスの値を変化さ
せる。たとえば、25℃のときは10℃のときに比べて
負荷が軽いので、N2パルスを少なくする。したがっ
て、正確なAF鏡筒駆動制御ができる。
【0070】上記実施例において、ホール電圧による温
度測定は電源投入後のみ行なうと電源投入後の温度変化
に対応できないので、画像を撮影後に上記ホール電圧に
よる温度測定を行ない、電源投入後の温度変化にも対応
する。
度測定は電源投入後のみ行なうと電源投入後の温度変化
に対応できないので、画像を撮影後に上記ホール電圧に
よる温度測定を行ない、電源投入後の温度変化にも対応
する。
【0071】上記の実施例は、CCDなどの撮像素子を
もつ電子スチルカメラまたはビデオカメラの場合である
が、銀塩カメラの場合でも同様に構成できることは明ら
かである。
もつ電子スチルカメラまたはビデオカメラの場合である
が、銀塩カメラの場合でも同様に構成できることは明ら
かである。
【0072】また、ホール電圧と絞り開口径との関係に
補正をかけて正確に絞り開口径を制御したり、レンズの
性能が温度で変化して、AF焦点精度に温度の影響が出
たり、さらに鏡筒回りのメカ駆動特性が温度による負荷
変動等の影響を受けるため温度によって駆動(制御)方
法を切り替えることを、IGメータを温度センサとして
使用することで温度を測定して、それに応じて制御を補
正したり、切り換えるようにして、正確な動作をさせる
ことができる。
補正をかけて正確に絞り開口径を制御したり、レンズの
性能が温度で変化して、AF焦点精度に温度の影響が出
たり、さらに鏡筒回りのメカ駆動特性が温度による負荷
変動等の影響を受けるため温度によって駆動(制御)方
法を切り替えることを、IGメータを温度センサとして
使用することで温度を測定して、それに応じて制御を補
正したり、切り換えるようにして、正確な動作をさせる
ことができる。
【0073】またホール電圧と絞り開口径との関係や、
レンズの性能が温度で変化して焦点精度に温度の影響が
出るので、IGメータを温度センサとして使用し温度を
算出して、それに応じて制御を変化させることで、高い
精度で制御できる。
レンズの性能が温度で変化して焦点精度に温度の影響が
出るので、IGメータを温度センサとして使用し温度を
算出して、それに応じて制御を変化させることで、高い
精度で制御できる。
【0074】これは、IGメータと鏡筒は近い距離にあ
るので、ホール素子の温度と鏡筒の周辺の温度は同じで
あると見なせ、正確な鏡筒駆動回りの温度を算出するこ
とができるという事実に基づくものである。
るので、ホール素子の温度と鏡筒の周辺の温度は同じで
あると見なせ、正確な鏡筒駆動回りの温度を算出するこ
とができるという事実に基づくものである。
【0075】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
IGメータの任意の2つの絞り開口径におけるホール電
圧の差分の温度による変化を予め測定して、温度とホー
ル電圧の差分との関係を記録しておき、任意の2つの絞
り開口径におけるホール電圧の差分と温度との関係を利
用して温度を算出することで、IGメータを簡単な方法
で一種の温度センサとして使用可能である。
IGメータの任意の2つの絞り開口径におけるホール電
圧の差分の温度による変化を予め測定して、温度とホー
ル電圧の差分との関係を記録しておき、任意の2つの絞
り開口径におけるホール電圧の差分と温度との関係を利
用して温度を算出することで、IGメータを簡単な方法
で一種の温度センサとして使用可能である。
【0076】また、任意の2つの絞り開口径におけるホ
ール電圧の差分と温度との関係を用いることにより、温
度変化による変化量が大きくなるため、特定の絞り開口
径におけるホール電圧と温度との関係だけを用いるよ
り、精度の高い温度検出を行なうことができる。
ール電圧の差分と温度との関係を用いることにより、温
度変化による変化量が大きくなるため、特定の絞り開口
径におけるホール電圧と温度との関係だけを用いるよ
り、精度の高い温度検出を行なうことができる。
【図1】本発明の実施形態の撮像装置全体のブロック図
である。
である。
【図2】第1の実施例の絞りが全開時及び全閉時のホー
ル電圧の差分と温度の関係を示す図である。
ル電圧の差分と温度の関係を示す図である。
【図3】第2の実施例の撮像装置の動作説明図である。
【図4】第2の実施例のプログラム線図である。
【図5】第2の実施例の外測のオートフォーカス装置の
説明図である。
説明図である。
【図6】第2の実施例の鏡筒駆動装置の説明図である。
【図7】第2の実施例の鏡筒動作の説明図である。
【図8】各温度におけるホール電圧と絞り開口径の関係
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図9】従来のIGメータ装置の構造説明図である。
【図10】従来のビデオカメラにおける撮像装置全体の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図11】従来の撮像装置全体のブロック図である。
1 撮影レンズ 2 CCD 3 絞り羽根 4 信号処理回路 5 絞り駆動部材 6 絞り駆動回路 8 記録部 9 CPU 10 切り換えスイッチ 11 鏡筒駆動回路 12 温度センサ 13 鏡筒駆動部材 14 AF装置 17 被写体 19 DCモータ 20 パルスシート 21 フォトインタラプタ
Claims (8)
- 【請求項1】 撮影レンズと、該撮影レンズの撮影光量
を制御する絞り羽根と、該絞り羽根の開口径を検出する
検出手段と、該絞り羽根の開口径を制御する制御手段を
備えた撮像装置であって、 前記制御手段は、前記絞り羽根の複数の開口径における
前記検出手段からの検出出力の差分の温度による変化に
関する情報を記憶した記憶手段を有し、前記複数の開口
径において得た前記検出手段の出力の差分と、前記記憶
手段に記憶した情報とから、周囲の温度を演算するよう
に構成されていることを特徴とする撮像装置。 - 【請求項2】 請求項1において、 前記制御手段は、演算した温度に対応して絞り羽根の開
口径の制御を行うことを特徴とする撮像装置。 - 【請求項3】 請求項2において、 撮影レンズと、該撮影レンズの焦点状態を自動的に被写
体に合致させるAF手段と、前記撮影レンズの撮影光量
を制御する絞り羽根およびシャッターとを有する撮像部
と、 絞り羽根の開口径を検出する検出手段と、 前記絞り羽根の複数の開口径における前記検出手段から
の検出出力の差分の温度による変化に関する情報を記憶
した記憶手段を有し、前記複数の開口径において得た前
記検出手段の出力の差分と、前記記憶手段に記憶した情
報とから、周囲の温度を演算し、その演算結果に基づい
て前記撮像部を制御する制御手段と、を備えたことを特
徴とする撮像装置。 - 【請求項4】 請求項3において、 前記制御手段は、前記演算した温度に応じて前記絞り羽
根の開口径の制御を行うことを特徴とする撮像装置。 - 【請求項5】 請求項3または4において、 前記制御手段は、前記演算した温度に応じて前記シャッ
ターの動作を制御することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項6】 請求項3乃至5において、 前記制御手段は、前記演算した温度に応じて前記AF手
段の制御を行うことを特徴とする撮像装置。 - 【請求項7】 請求項1または3において、 前記の絞り羽根の複数の開口径は、絞り羽根が全閉およ
び全開であることを特徴とする撮像装置。 - 【請求項8】 請求項1または3において、 前記検出手段は、前記絞り羽根を駆動するIGメータの
回転角を検出するホール素子であり、前記検出出力は、
前記ホール素子のホール電圧であることを特徴とする撮
像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10273133A JP2000098440A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10273133A JP2000098440A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000098440A true JP2000098440A (ja) | 2000-04-07 |
Family
ID=17523589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10273133A Withdrawn JP2000098440A (ja) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000098440A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100587014B1 (ko) | 2004-11-26 | 2006-06-08 | 삼성전기주식회사 | 다이나믹 어퍼처 구동 장치 및 그 제어 방법 |
| KR100983284B1 (ko) | 2008-09-29 | 2010-09-24 | 엘지전자 주식회사 | 입체 영상 투사 표시 장치 |
| JP2011075601A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | 温度補正量修正システムおよびその動作制御方法 |
-
1998
- 1998-09-28 JP JP10273133A patent/JP2000098440A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100587014B1 (ko) | 2004-11-26 | 2006-06-08 | 삼성전기주식회사 | 다이나믹 어퍼처 구동 장치 및 그 제어 방법 |
| KR100983284B1 (ko) | 2008-09-29 | 2010-09-24 | 엘지전자 주식회사 | 입체 영상 투사 표시 장치 |
| JP2011075601A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | 温度補正量修正システムおよびその動作制御方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060110 |