JP2000097982A - Coil testing and evaluating device - Google Patents
Coil testing and evaluating deviceInfo
- Publication number
- JP2000097982A JP2000097982A JP10265614A JP26561498A JP2000097982A JP 2000097982 A JP2000097982 A JP 2000097982A JP 10265614 A JP10265614 A JP 10265614A JP 26561498 A JP26561498 A JP 26561498A JP 2000097982 A JP2000097982 A JP 2000097982A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- test
- voltage
- loss
- inductance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 65
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 8
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 abstract description 12
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 10
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 7
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 101100444142 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) dut-1 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサに蓄え
た電荷により被試験体に試験電圧を印加しコイルの特性
を試験評価するコイル試験評価装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coil test evaluation apparatus for applying a test voltage to a device under test by using a charge stored in a capacitor to test and evaluate the characteristics of a coil.
【０００２】[0002]
【従来の技術】チョークコイル、トランス、ソレノイ
ド、モータ等の巻線に係る部品では、巻線用電線の被覆
の欠陥又は組み立て上の欠陥から、コイル自体の耐電圧
が著しく低下したり、場合によっては、コイルの一部が
短絡したりする。このような部品を使用すると異常発
熱、発火等を引き起こし安全性をきわめて損ねる。その
ため、巻線に係る部品では品質評価を行う必要があり、
商用電源を使用する機器においては、層間耐電圧試験を
ＪＩＳ（Ｃ５３１１）で規定している。この試験は、定
格電圧の２倍以上の試験電圧を印加することを要求して
いる。2. Description of the Related Art In parts related to windings such as choke coils, transformers, solenoids, motors, etc., the withstand voltage of the coil itself is remarkably reduced due to defects in the coating of winding wires or defects in assembly. In this case, a part of the coil is short-circuited. The use of such components causes abnormal heat generation, ignition, etc., which greatly impairs safety. Therefore, it is necessary to perform quality evaluation on the components related to the winding,
For equipment using a commercial power supply, the inter-layer withstand voltage test is specified in JIS (C5311). This test requires application of a test voltage that is at least twice the rated voltage.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年のスイッ
チング電源等では、周波数を上げているので、コイルの
インピーダンスは小さいため、このような試験体に高電
圧を印加するには、一瞬のパルスを与える、所謂インパ
ルス試験器が一般に広く採用されている。このインパル
ス試験器では、通常、コイルに発生する電圧波形を観測
し良否を判定している。However, in recent switching power supplies and the like, the frequency is increased, and the impedance of the coil is small. Therefore, in order to apply a high voltage to such a test piece, an instantaneous pulse is applied. The so-called impulse tester provided is generally widely used. In this impulse tester, the quality of the coil is usually determined by observing a voltage waveform generated in the coil.
【０００４】例えば次のような試験器が市販されてい
る。その１つは、良品のコイルと被試験コイルに発生す
る電圧波形を同一画面上に描かせ、差が大きい時に不良
と判断する試験器がある。或いはまた、良品のコイルと
被試験コイルとを並列接続してパルス電圧を印加し、そ
れぞれのコイルに流れる電流差を求め比較する試験器が
ある。さらには、良品のコイルに発生する電圧波形を予
めＡ／Ｄ変換してメモリに記憶し、被試験コイルとの波
形差を比較する試験器がある。しかしながら、これらの
試験器には、いずれも良品のコイルの波形が必要であ
り、しかも良品のコイルと被試験体のコイルに発生する
波形とを比較することにより得られる情報である。つま
り、波形の形状や面積などによる感覚的な判断でありコ
イルの特性を示す物理量により定量化されたものではな
いため、良否の判定基準を明確化、一般化することがで
きないという問題がある。[0004] For example, the following testers are commercially available. One of them is a tester which draws voltage waveforms generated on a good coil and a coil under test on the same screen, and judges a failure when the difference is large. Alternatively, there is a tester in which a good-quality coil and a coil under test are connected in parallel, a pulse voltage is applied, and a difference in current flowing through each coil is determined and compared. Further, there is a tester which performs A / D conversion of a voltage waveform generated in a non-defective coil in advance, stores the converted voltage in a memory, and compares a waveform difference with a coil under test. However, each of these testers requires a waveform of a good coil, and the information is obtained by comparing a waveform of a good coil with a waveform of a coil of a device under test. That is, since the judgment is a sensory judgment based on the shape and area of the waveform and is not quantified by the physical quantity indicating the characteristics of the coil, there is a problem that the judgment criteria of the quality cannot be clarified or generalized.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであって、巻線の特性を表す物理量、定量的
な値により評価できるようにし、品質評価の信頼性を高
めるものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is intended to improve the reliability of quality evaluation by making it possible to evaluate by a physical quantity representing a characteristic of a winding and a quantitative value. is there.
【０００６】そのために本発明は、コンデンサに蓄えた
電荷により被試験体に試験電圧を印加しコイルの特性を
試験評価するコイル試験評価装置において、試験電圧を
印加したときに被試験体の端子間に発生する電圧波形を
解析することにより少なくともコイルのインダクタン
ス、損失又は固有振動周波数のいずれかを求めて出力す
ることを特徴とし、また、被試験体と同等の良品との比
較に基づきコイルのインダクタンス、損失又は固有振動
周波数を求めて出力することを特徴とするものである。Therefore, the present invention relates to a coil test evaluation apparatus for applying a test voltage to a test object by using electric charges stored in a capacitor to test and evaluate the characteristics of a coil. At least one of the coil inductance, loss and natural vibration frequency is obtained and analyzed by analyzing the voltage waveform generated in the coil, and the inductance of the coil is determined based on a comparison with a non-defective product equivalent to the DUT. , Loss, or natural vibration frequency.
【０００７】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係るコイル試験
評価装置の実施の形態を示す図、図２は本発明に係るコ
イル試験評価装置の動作を説明するための図である。図
中、１は被試験体、２は端子電圧検出部、３はＡ／Ｄコ
ンバータ、４は評価処理部、６はオシロスコープ、Ｅは
電源、Ｃはコンデンサ、ＳＷはスイッチ、Ｌはインダク
タンス、Ｒは抵抗を示す。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a coil test evaluation device according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the coil test evaluation device according to the present invention. In the figure, 1 is a device under test, 2 is a terminal voltage detector, 3 is an A / D converter, 4 is an evaluation processor, 6 is an oscilloscope, E is a power supply, C is a capacitor, SW is a switch, L is an inductance, R is Indicates a resistance.
【０００８】図１において、被試験体１は、品質評価を
行うチョークコイル、トランス、ソレノイド、モータ等
の被試験コイルであり、コンデンサＣは、被試験体１の
品質評価を行うために印加する高電圧を発生するもので
ある。電源Ｅは、コンデンサＣを所定の試験電圧に充電
する直流電源であり、スイッチＳＷは、コンデンサＣを
電源Ｅにより充電する回路と充電したコンデンサＣの高
電圧を被試験体１に印加する回路との切り換えを行うも
のである。端子電圧検出部２は、コンデンサＣより被試
験体１に高電圧が印加されたときに被試験体１に発生す
る自由振動の減衰振動電圧波形を取り出す、例えば電圧
を分圧して取り出すアッテネータである。Ａ／Ｄコンバ
ータ３は、端子電圧検出部２により検出されたアナログ
信号の電圧波形をデジタル信号に変換するものである。
評価処理部４は、Ａ／Ｄコンバータ３により変換された
デジタル信号の波形データを取り込み、被試験体１の品
質評価の情報として、損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有
振動周波数ｆを求めるものであり、例えばＣＰＵ、さら
にはデータを格納するメモリ、表示出力や印刷出力する
出力装置からなる。In FIG. 1, a device under test 1 is a coil under test such as a choke coil, a transformer, a solenoid, and a motor for quality evaluation. A capacitor C is applied to evaluate the quality of the device under test 1. It generates a high voltage. The power supply E is a DC power supply for charging the capacitor C to a predetermined test voltage. The switch SW includes a circuit for charging the capacitor C by the power supply E and a circuit for applying a high voltage of the charged capacitor C to the device under test 1. Is switched. The terminal voltage detection unit 2 is an attenuator that extracts an attenuated oscillation voltage waveform of free oscillation generated in the DUT 1 when a high voltage is applied to the DUT 1 from the capacitor C, for example, a voltage divider that extracts a voltage. . The A / D converter 3 converts a voltage waveform of an analog signal detected by the terminal voltage detector 2 into a digital signal.
The evaluation processing unit 4 captures the waveform data of the digital signal converted by the A / D converter 3 and obtains a loss D, an inductance L, and a natural vibration frequency f as information on quality evaluation of the device under test 1. For example, it includes a CPU, a memory for storing data, and an output device for display output and print output.
【０００９】例えばコイルの一部が短絡していると、イ
ンダクタンスＬが低下し、損失が増大し、固有振動周波
数が高くなる。このようにコイル自体の耐電圧の著しい
低下、コイルの一部短絡、コイルの断線、コイルの巻数
の過不足など、巻線用電線の被覆の欠陥や組み立て上の
欠陥、その他コイルに種々の欠陥があると、損失Ｄ、イ
ンダクタンスＬ、固有振動周波数ｆに影響を与え変動す
る。本発明では、コイルの特性を表すこれらの物理量を
コイルの品質評価の情報として出力し、従来のような波
形の形状や波形の面積判断ではなく、客観的な物理量に
基づきコイルの品質評価を行えるようにしている。For example, if a part of the coil is short-circuited, the inductance L decreases, the loss increases, and the natural vibration frequency increases. In this way, there are various defects in the covering of the winding wire, defects in assembly, and other defects in the coil, such as remarkable decrease in withstand voltage of the coil itself, partial short circuit of the coil, disconnection of the coil, excessive or insufficient number of turns of the coil, etc. If there is, it affects and varies the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f. In the present invention, these physical quantities representing the characteristics of the coil are output as information on the quality evaluation of the coil, and the quality evaluation of the coil can be performed based on an objective physical quantity, instead of the conventional determination of the shape of the waveform and the area of the waveform. Like that.
【００１０】次に、本発明に係るコイル試験評価装置の
動作を説明する。まず、電源Ｅを所定の試験電圧に設定
する。しかる後、スイッチＳＷを電源Ｅ側に切り換えて
コンデンサＣを電源Ｅの電圧に充電する。次に、スイッ
チＳＷを被試験体１側に切り換え、被試験体１の端子間
に現れる減衰振動波形を電圧検出部２で検出してＡ／Ｄ
コンバータ３でデジタル値の波形データに変換し評価処
理部４に取り込む。そして、電圧波形を解析することに
より少なくともインダクタンス、損失又は周波数のいず
れかを求めて出力する。例えば図２（Ａ）に示すように
被試験体１の端子間にオシロスコープ６を接続すると、
このオシロスコープ６では、例えば図２（Ｂ）に示すよ
うな減衰振動波形が観測される。この減衰振動波形より
コイルの品質評価を行うために必要な損失Ｄ、インダク
タンスＬ、固有振動周波数ｆは次のようにして求められ
る。まず、固有振動周波数ｆは、次の〔数１〕となる。Next, the operation of the coil test evaluation apparatus according to the present invention will be described. First, the power supply E is set to a predetermined test voltage. Thereafter, the switch SW is switched to the power supply E side to charge the capacitor C to the voltage of the power supply E. Next, the switch SW is switched to the DUT 1 side, and the damping oscillation waveform appearing between the terminals of the DUT 1 is detected by the voltage detection unit 2 and the A / D is detected.
The data is converted into digital value waveform data by the converter 3 and taken into the evaluation processing unit 4. Then, by analyzing the voltage waveform, at least one of inductance, loss, and frequency is obtained and output. For example, when the oscilloscope 6 is connected between the terminals of the DUT 1 as shown in FIG.
In the oscilloscope 6, for example, a damped oscillation waveform as shown in FIG. 2B is observed. The loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f required to evaluate the quality of the coil from the damped vibration waveform are obtained as follows. First, the natural vibration frequency f is expressed by the following [Equation 1].
【００１１】[0011]
【数１】 また、図２（Ｂ）のＥとＥ1 との電圧比は、(Equation 1) Also, the voltage ratio between E and E 1 in FIG.
【００１２】[0012]
【数２】 となる。そして、コイルの損失Ｄは、(Equation 2) Becomes And the loss D of the coil is
【００１３】[0013]
【数３】 となる。このことから明らかなように、コイルの損失Ｄ
は、図２（Ｂ）に示す減衰振動波形において、印加され
た試験電圧Ｅ（既知の値）と減衰振動に入ってから最初
の正のピーク電圧Ｅ1 との比から求めることができる。
したがって、波形データのピーク検出により電圧Ｅ1 を
求めることができ、しかも、この電圧Ｅ1の位置を同時
に検出すると、この位置が固有振動の周期Ｔとなるの
で、固有振動の周期の逆数から固有振動周波数ｆも求め
ることができる。図２（Ｂ）のＥ2 は、負のピーク電圧
であり、この電圧Ｅ2 が検出される位置Ｔが２分の１周
期となる。また、〔数１〕をＤで表すと、(Equation 3) Becomes As is clear from this, the coil loss D
It can be determined from the ratio of the damped oscillation waveform shown in FIG. 2 (B), the applied test voltage E since the beginning of the (known value) and damped oscillation the first positive peak voltage E 1.
Therefore, the voltage E 1 can be obtained by detecting the peak of the waveform data. Further, when the position of the voltage E 1 is detected at the same time, the position becomes the period T of the natural vibration. The vibration frequency f can also be determined. E 2 in FIG. 2 (B) is a negative peak voltage, the position T where the voltage E 2 is detected is one period of 2 minutes. Also, when [Equation 1] is represented by D,
【００１４】[0014]
【数４】 となるので、固有振動周波数ｆは、コイルの損失Ｄとイ
ンダクタンスＬと試験電圧を印加するコンデンサの静電
容量Ｃの関数となる。したがって、〔数４〕をインダク
タンスＬに変形すると、(Equation 4) Therefore, the natural vibration frequency f is a function of the coil loss D, the inductance L, and the capacitance C of the capacitor for applying the test voltage. Therefore, when [Equation 4] is transformed into inductance L,
【００１５】[0015]
【数５】 となり、インダクタンスＬは、コイルの損失Ｄと固有振
動周波数ｆと試験電圧を印加するコンデンサの静電容量
Ｃから求めることができる。ここで、静電容量Ｃは既知
の値であり、コイルの損失Ｄと固有振動周波数ｆは、上
記のようにピーク電圧Ｅ1 を検出することによって求め
ることができる。(Equation 5) The inductance L can be obtained from the coil loss D, the natural vibration frequency f, and the capacitance C of the capacitor to which the test voltage is applied. Here, the capacitance C is a known value, loss D a natural oscillation frequency f of the coil can be determined by detecting the peak voltage E 1 as described above.
【００１６】図３は品質評価の情報を求める評価処理部
の構成例を示す図であり、１１は波形データ記憶部、１
２は演算部、１３は判定部、１４は基準値レジスタ、１
５は出力部、１６はＥ1 、Ｔ抽出部、１７はＤ演算部、
１８はＬ演算部、１９はｆ演算部を示す。FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of an evaluation processing unit for obtaining information on quality evaluation.
2 is an operation unit, 13 is a judgment unit, 14 is a reference value register, 1
5 is an output unit, 16 is an E 1 and T extraction unit, 17 is a D operation unit,
Reference numeral 18 denotes an L operation unit, and 19 denotes an f operation unit.
【００１７】上記評価処理部４は、例えば図３に示すよ
うに構成される。まず、波形データ記憶部１１は、Ａ／
Ｄコンバータ３より波形データを取り込み記憶するもの
であり、演算部１２は、波形データ記憶部１１に記憶し
た波形データに基づき損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有
振動周波数ｆを求めるものである。基準値レジスタ１４
は、損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波数ｆに対
する基準値、つまり良否の値、さらには良品との差の許
容幅などを保持するものであり、判定部１３は、演算部
１２で求めた損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波
数ｆについて基準値レジスタ１３の基準値と比較してそ
の差が許容幅の範囲にあるか否かにより品質の評価判定
を行うものである。出力部１５は、演算部１２で求めた
損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波数ｆの表示出
力、良品の損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波数
ｆの表示出力、判定部１５で判定した結果の表示出力な
どを指示に基づき適宜行い、さらには必要に応じて記
録、印刷出力を行うものである。The evaluation processing section 4 is configured, for example, as shown in FIG. First, the waveform data storage unit 11 stores A /
The arithmetic unit 12 obtains and stores the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f based on the waveform data stored in the waveform data storage unit 11. Reference value register 14
Holds a reference value for the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f, that is, a pass / fail value, and furthermore, an allowable width of a difference from a non-defective product, and the like. The D, the inductance L, and the natural vibration frequency f are compared with the reference value of the reference value register 13 to determine the quality based on whether or not the difference is within an allowable range. The output unit 15 is a display output of the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f obtained by the calculation unit 12, a display output of the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f of a good product, and a display of the result determined by the determination unit 15. Output and the like are appropriately performed based on an instruction, and further, recording and printing are performed as needed.
【００１８】演算部１２のさらに詳細な構成例を示した
のが図３（Ｂ）であり、Ｅ1 、Ｔ抽出部１６は、波形デ
ータ記憶部１１に記憶された波形データからピーク電圧
Ｅ1と周期Ｔとを抽出するものであり、Ｄ演算部１７
は、ピーク電圧Ｅ1 と試験電圧Ｅから上記〔数３〕の演
算を行い損失Ｄを求め、ｆ演算部１９は、周期Ｔの逆数
から固有振動周波数ｆを求め、Ｌ演算部１８は、Ｄ演算
部１７で求めた損失Ｄとｆ演算部１９で求めた固有振動
周波数ｆと試験電源コンデンサの静電容量Ｃから上記
〔数５〕の演算を行いインダクタンスＬを求めるもので
ある。FIG. 3B shows a more detailed configuration example of the operation unit 12. The E 1 and T extraction unit 16 calculates the peak voltage E 1 from the waveform data stored in the waveform data storage unit 11. And the period T are extracted.
Obtains a loss D performs calculation of the Formula 3 from the peak voltage E 1 and the test voltage E, f calculation unit 19 obtains the natural vibration frequency f from the reciprocal of the period T, L calculating section 18, D The inductance L is obtained by performing the calculation of the above [Equation 5] from the loss D obtained by the calculation unit 17, the natural vibration frequency f obtained by the calculation unit 19, and the capacitance C of the test power supply capacitor.
【００１９】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、コイルの特性を表すコイルの損失Ｄ
とインダクタンスＬと固有振動周波数ｆを求めて被試験
体の品質評価を行うようにしたが、少なくともそれらの
いずれかだけであってもよい。また、それらを波形デー
タから抽出されるピーク電圧Ｅ1 と振動周期Ｔに基づき
求めるようにしたが、その抽出は、ピーク検出、位置検
出を波形データ上で自動的に行い、あるいは波形を表示
した画面上から指示して行うようにしてもよいし、フー
リエ変化その他の計算手法を用いて電圧波形を解析する
ことによりコイルの損失ＤとインダクタンスＬと固有振
動周波数ｆを求めるようにしてもよい。さらに、品質評
価を行うための情報としては、被試験体について求めた
コイルの損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波数ｆ
或いはそれらのいずれかを出力するだけでなく、被試験
体と同等の良品との比較に基づきコイルのインダクタン
ス、損失又は固有振動周波数を求めて出力してもよい。
その場合、被試験体と対応させて良品とされるコイルの
コイルの損失Ｄ、インダクタンスＬ、固有振動周波数ｆ
を併せて出力し、また、損失Ｄ、インダクタンスＬ、固
有振動周波数ｆについて、被試験体の値と良品とされる
コイルの値とを比較し求めたそれらの差、あるいは良品
とされるコイルの値に対する差の程度（％値など）で出
力してもよいし、許容値と比較して良品との差が大きい
か否かにより良否の判定結果を出力してもよい。損失Ｄ
は、その逆数を求めることによりＱを求めることができ
るので、このＱを損失として出力するものであってもよ
い。また、固有振動の周期は、１周期、半周期で求めた
が、電圧の最初のゼロクロスポイントまでの４分の１周
期でもよいことはいうまでもない。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, in the above embodiment, the coil loss D representing the coil characteristics
Although the quality evaluation of the device under test is performed by obtaining the inductance, the inductance L and the natural vibration frequency f, at least one of them may be used. Although they were so as to obtain on the basis of the peak voltage E 1 and the vibration period T that is extracted from the waveform data, the extraction, peak detection, automatically performs the detection position on the waveform data, or displaying the waveform It may be performed by giving an instruction from the screen, or the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f of the coil may be obtained by analyzing a voltage waveform by using a Fourier change or other calculation method. Further, as information for performing the quality evaluation, the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f of the coil obtained for the DUT are obtained.
Alternatively, in addition to outputting any one of them, the inductance, loss, or natural vibration frequency of the coil may be obtained and output based on comparison with a non-defective product equivalent to the test object.
In this case, the coil loss D, inductance L, and natural frequency f
And the difference between the loss D, the inductance L, and the natural vibration frequency f obtained by comparing the value of the test object with the value of the non-defective coil, or the value of the non-defective coil. The value may be output based on the degree of the difference with respect to the value (% value or the like), or the result of the pass / fail judgment may be output based on whether or not the difference from the non-defective product is larger than the allowable value. Loss D
Can calculate Q by calculating its reciprocal, so that this Q may be output as a loss. In addition, the cycle of the natural vibration is obtained in one cycle and a half cycle, but it is needless to say that a quarter cycle up to the first zero cross point of the voltage may be used.
【００２０】[0020]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、試験電圧を印加したときに被試験体の端子間
に発生する電圧波形を解析することにより少なくともコ
イルのインダクタンス、損失又は固有振動周波数のいず
れかを求めて出力するので、コイるの特性を表す物理
量、定量的な値により客観的に評価できる。その結果、
良否の判定基準を明確化、一般化することができ、ま
た、装置自体の校正も確立することができ、品質評価の
信頼性を高めることができる。しかも、コイルのインダ
クタンス、損失又は固有振動周波数は、試験電圧を印加
したときに被試験体の端子間に発生する電圧波形を解析
することにより、ピーク電圧の値、振動の周期から簡単
に求めることができるので、ソフトウエア、ハードウエ
ア共に簡単な構成で実現できる。As is apparent from the above description, according to the present invention, at least the inductance, loss, or loss of the coil is analyzed by analyzing the voltage waveform generated between the terminals of the device under test when the test voltage is applied. Since any one of the natural vibration frequencies is obtained and output, it can be objectively evaluated by a physical quantity representing a characteristic of the coil and a quantitative value. as a result,
The criterion for quality can be clarified and generalized, the calibration of the apparatus itself can be established, and the reliability of quality evaluation can be improved. In addition, the inductance, loss, or natural vibration frequency of the coil can be easily obtained from the peak voltage value and vibration cycle by analyzing the voltage waveform generated between the terminals of the DUT when the test voltage is applied. Therefore, both software and hardware can be realized with a simple configuration.
【図１】 本発明に係るコイル試験評価装置の実施の形
態を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a coil test evaluation device according to the present invention.
【図２】 本発明に係るコイル試験評価装置の動作を説
明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the coil test evaluation device according to the present invention.
【図３】 品質評価の情報を求める評価処理部の構成例
を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration example of an evaluation processing unit that obtains information on quality evaluation.
１…被試験体、２…端子電圧検出部、３…Ａ／Ｄコンバ
ータ、４…評価処理部、６…オシロスコープ、Ｅ…電
源、Ｃ…コンデンサ、ＳＷ…スイッチ、Ｌ…インダクタ
ンス、Ｒ…抵抗DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Test object, 2 ... Terminal voltage detection part, 3 ... A / D converter, 4 ... Evaluation processing part, 6 ... Oscilloscope, E ... Power supply, C ... Capacitor, SW ... Switch, L ... Inductance, R ... Resistance
─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成１１年７月６日（１９９９．７．６）[Submission date] July 6, 1999 (1999.7.6)
【手続補正１】[Procedure amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【特許請求の範囲】[Claims]
【手続補正２】[Procedure amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】０００６[Correction target item name] 0006
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【０００６】そのために本発明は、コンデンサに蓄えた
電荷により被試験体に試験電圧を印加しコイルの特性を
試験評価するコイル試験評価装置において、前記試験電
圧を印加したときに被試験体の端子間に発生する減衰振
動波形から減衰率及び周期を検出する検出手段と、前記
検出手段により検出した減衰率及び周期から少なくとも
コイルのインダクタンス、損失又は固有振動周波数のい
ずれかを求めて出力する評価手段とを備えたことを特徴
とし、前記評価手段は、被試験体と同等の良品のコイル
のインダクタンス、損失又は固有振動周波数の限界値と
の比較結果を出力することを特徴とするものである。Accordingly, the present invention provides a coil test evaluation apparatus for applying a test voltage to a test object by using electric charges stored in a capacitor to test and evaluate the characteristics of a coil. Detecting means for detecting a damping rate and a period from a damping vibration waveform generated therebetween; and evaluating means for obtaining and outputting at least one of a coil inductance, a loss and a natural vibration frequency from the damping rate and the cycle detected by the detecting means. Wherein the evaluation means outputs a comparison result with a limit value of inductance, loss, or natural vibration frequency of a good coil equivalent to the test object.
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成１１年１１月８日（１９９９．１１．
８）[Submission date] November 8, 1999 (1999.11.
8)
【手続補正１】[Procedure amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【特許請求の範囲】[Claims]
【手続補正２】[Procedure amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】０００６[Correction target item name] 0006
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction contents]
【０００６】そのために本発明は、コンデンサに蓄えた
電荷により被試験体に試験電圧を印加しコイルの特性を
試験評価するコイル試験評価装置において、前記試験電
圧を印加したときに被試験体の端子間に発生する減衰振
動波形から減衰率及び周期を検出する検出手段と、前記
検出手段により検出した減衰率及び周期から少なくとも
コイルのインダクタンス、損失又は固有振動周波数のい
ずれかの値を求めて出力する評価手段とを備え、前記評
価手段は、前記インダクタンスを前記損失と固有振動周
波数とコンデンサの容量に基づき求めることを特徴と
し、前記評価手段は、被試験体と同等の良品のコイルの
インダクタンス、損失又は固有振動周波数の限界値との
比較結果を出力することを特徴とするものである。Accordingly, the present invention provides a coil test evaluation apparatus for applying a test voltage to a test object by using electric charges stored in a capacitor to test and evaluate the characteristics of a coil. Detecting means for detecting a damping rate and a period from a damping vibration waveform generated therebetween; and calculating and outputting at least any of inductance, loss or natural vibration frequency of the coil from the damping rate and the cycle detected by the detecting means. Evaluation means, wherein the evaluation means obtains the inductance based on the loss, the natural oscillation frequency, and the capacitance of the capacitor, wherein the evaluation means includes an inductance and a loss of a good coil equivalent to that of the device under test. Alternatively, a result of comparison with the limit value of the natural vibration frequency is output.
Claims (2)
に試験電圧を印加しコイルの特性を試験評価するコイル
試験評価装置において、試験電圧を印加したときに被試
験体の端子間に発生する電圧波形を解析することにより
少なくともコイルのインダクタンス、損失又は固有振動
周波数のいずれかを求めて出力することを特徴とするコ
イル試験評価装置。A voltage generated between terminals of a test object when a test voltage is applied in a coil test evaluation apparatus for applying a test voltage to a test object by using electric charges stored in a capacitor to test and evaluate characteristics of a coil. A coil test / evaluation apparatus characterized in that at least one of an inductance, a loss, and a natural vibration frequency of a coil is obtained and analyzed by analyzing a waveform.
コイルのインダクタンス、損失又は固有振動周波数を求
めて出力することを特徴とする請求項１記載のコイル試
験評価装置。2. The coil test evaluation apparatus according to claim 1, wherein an inductance, a loss, or a natural vibration frequency of the coil is obtained and output based on a comparison with a non-defective product equivalent to the test object.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10265614A JP2000097982A (en) | 1998-09-21 | 1998-09-21 | Coil testing and evaluating device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10265614A JP2000097982A (en) | 1998-09-21 | 1998-09-21 | Coil testing and evaluating device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000097982A true JP2000097982A (en) | 2000-04-07 |
Family
ID=17419587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10265614A Pending JP2000097982A (en) | 1998-09-21 | 1998-09-21 | Coil testing and evaluating device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000097982A (en) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064515A (en) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Shibaura Institute Of Technology | Winding test equipment |
| KR20060116594A (en) * | 2005-05-10 | 2006-11-15 | 오현택 | Coil Inspection Apparatus and Method Configured for Electrical Equipment Using Electromagnetic Induction |
| CN103116111A (en) * | 2013-01-21 | 2013-05-22 | 上海市电力公司 | A diagnostic method for the working state of power transformer windings |
| JP2014186024A (en) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Chroma Ate Inc | Electric testing device and electric testing method |
| RU2538077C2 (en) * | 2013-02-11 | 2015-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Device for inductive winding diagnostics |
| WO2016052487A1 (en) * | 2014-10-02 | 2016-04-07 | Ntn株式会社 | Inductance measurement device and inductance measurement method |
| CN105717387A (en) * | 2015-11-27 | 2016-06-29 | 国网河南宜阳县供电公司 | Test apparatus and method for online measurement of transformer loss |
| CN107037267A (en) * | 2017-06-17 | 2017-08-11 | 丹凤县荣毅电子有限公司 | A kind of inductance detection device and detection method |
| JP2017530368A (en) * | 2014-10-09 | 2017-10-12 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | Sensor device for detecting a rotation angle of a rotating component member in a non-contact manner |
| JP2019132604A (en) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | Reactor loss measurement method, and reactor loss measurement apparatus |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS608760A (en) * | 1983-06-29 | 1985-01-17 | Yuniki Eng:Kk | Deciding device of various coils |
| JPS61162755A (en) * | 1985-01-14 | 1986-07-23 | Denshi Seigyo Group:Kk | Impulse coil tester |
| JPS63315968A (en) * | 1987-06-18 | 1988-12-23 | Nippon Steel Corp | Winding abnormality determination method for electrical equipment with windings |
| JPS6444868A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-17 | Hiromitsu Okumura | Coil testing method and apparatus used therein |
| JPH0396872A (en) * | 1989-09-08 | 1991-04-22 | Hiromitsu Okumura | Method and device for testing coil |
-
1998
- 1998-09-21 JP JP10265614A patent/JP2000097982A/en active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS608760A (en) * | 1983-06-29 | 1985-01-17 | Yuniki Eng:Kk | Deciding device of various coils |
| JPS61162755A (en) * | 1985-01-14 | 1986-07-23 | Denshi Seigyo Group:Kk | Impulse coil tester |
| JPS63315968A (en) * | 1987-06-18 | 1988-12-23 | Nippon Steel Corp | Winding abnormality determination method for electrical equipment with windings |
| JPS6444868A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-17 | Hiromitsu Okumura | Coil testing method and apparatus used therein |
| JPH0396872A (en) * | 1989-09-08 | 1991-04-22 | Hiromitsu Okumura | Method and device for testing coil |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064515A (en) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Shibaura Institute Of Technology | Winding test equipment |
| KR20060116594A (en) * | 2005-05-10 | 2006-11-15 | 오현택 | Coil Inspection Apparatus and Method Configured for Electrical Equipment Using Electromagnetic Induction |
| CN103116111A (en) * | 2013-01-21 | 2013-05-22 | 上海市电力公司 | A diagnostic method for the working state of power transformer windings |
| CN103116111B (en) * | 2013-01-21 | 2014-12-24 | 上海市电力公司 | Method for diagnosing power transformer winding working condition |
| RU2538077C2 (en) * | 2013-02-11 | 2015-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Device for inductive winding diagnostics |
| JP2014186024A (en) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Chroma Ate Inc | Electric testing device and electric testing method |
| WO2016052487A1 (en) * | 2014-10-02 | 2016-04-07 | Ntn株式会社 | Inductance measurement device and inductance measurement method |
| JP2017530368A (en) * | 2014-10-09 | 2017-10-12 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | Sensor device for detecting a rotation angle of a rotating component member in a non-contact manner |
| US10458815B2 (en) | 2014-10-09 | 2019-10-29 | Robert Bosch Gmbh | Sensor arrangement for the contactless sensing of angles of rotation on a rotating part |
| CN105717387A (en) * | 2015-11-27 | 2016-06-29 | 国网河南宜阳县供电公司 | Test apparatus and method for online measurement of transformer loss |
| CN107037267A (en) * | 2017-06-17 | 2017-08-11 | 丹凤县荣毅电子有限公司 | A kind of inductance detection device and detection method |
| CN107037267B (en) * | 2017-06-17 | 2019-03-22 | 丹凤县荣毅电子有限公司 | A kind of inductance detection method |
| JP2019132604A (en) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | Reactor loss measurement method, and reactor loss measurement apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5256977A (en) | High frequency surge tester methods and apparatus | |
| US6456097B1 (en) | Fault current detection method | |
| JP2000097982A (en) | Coil testing and evaluating device | |
| US12416658B2 (en) | State analysis of an electrical operating resource | |
| JP6876382B2 (en) | Coil test equipment | |
| US12066505B2 (en) | Testing instrument and test method | |
| RU2240571C1 (en) | Device for controlling technical condition of transformer windings | |
| JP2525983B2 (en) | Interlayer withstand voltage tester | |
| JP3869283B2 (en) | Method for removing inductive noise in power cable deterioration diagnosis and power cable test apparatus | |
| JPH09257862A (en) | Winding insulation diagnostic device | |
| US5694044A (en) | Simultaneous surge test of two coils of an assembly of series connected coils | |
| RU2250474C1 (en) | Method of testing insulation of transformers | |
| JPH0688849A (en) | Method and device for testing coil | |
| JPH0921842A (en) | Device and method for detecting internal partial-discharge of capacitive instrument transformer | |
| JP3964654B2 (en) | Electrical circuit diagnostic equipment | |
| US20050231188A1 (en) | Method and circuit for conducting AC offset current compensation and testing device using the same | |
| CN112731084A (en) | Transformer testing device and testing method | |
| JP2003222651A (en) | Judgment method for insulation deterioration of electrical equipment | |
| JPH11211772A (en) | Impulse test method for power equipment | |
| JP2007108058A (en) | Device and program for determining winding quality | |
| JPS6016697B2 (en) | Relay testing equipment | |
| JP2002202329A (en) | High frequency noise elimination method in power quality diagnosis | |
| JPH0640120B2 (en) | Partial discharge measurement method | |
| US20250389794A1 (en) | Meter and method performed by a meter for measuring conduction paths of an electrical machine | |
| JPH08101253A (en) | Semiconductor test equipment |