[go: up one dir, main page]

JP2000090866A - 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置 - Google Patents

電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置

Info

Publication number
JP2000090866A
JP2000090866A JP10263151A JP26315198A JP2000090866A JP 2000090866 A JP2000090866 A JP 2000090866A JP 10263151 A JP10263151 A JP 10263151A JP 26315198 A JP26315198 A JP 26315198A JP 2000090866 A JP2000090866 A JP 2000090866A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
magnetic pole
electron gun
electrode
magnetic field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10263151A
Other languages
English (en)
Inventor
Masakazu Hayashi
正和 林
Hidetoshi Kinoshita
秀俊 木下
Koji Ando
厚司 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP10263151A priority Critical patent/JP2000090866A/ja
Publication of JP2000090866A publication Critical patent/JP2000090866A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アパーチャアを通過して使用できる電子ビー
ムの電流角密度の微調整ができるようにした電子銃とそ
れを用いた露光装置を提供すること。 【解決手段】 陰極3で発生した電子ビームに磁場を印
加する磁極ユニット14を、磁極ユニット14の閉空間
の中に永久磁石10と電磁コイル11とを配置した構造
にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、陰極から熱電子や
電界電子を放出する電子銃と、それを用いた半導体用の
微細パターンの露光装置(EB露光装置)や電子ビーム
描画装置等の電子ビーム応用の露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体の製造に用いられる微細パターン
露光装置では、微細パターンを得るために高輝度が要求
される。
【0003】そのため、ウエハを高い電流密度で照射す
る必要があるが、電子レンズ電極の収差のために照射角
は小さいことが望ましい。
【0004】輝度は単位面積当たりの電子流密度(電流
角密度)であるが、この輝度の値は電子銃以後の電子光
学系のレンズによって大きくすることはできないので、
電子銃が高い輝度を持つことが重要である。電子銃の輝
度を低下させる大きな要因は電子銃内の電子レンズ電極
の収差である。
【0005】電子レンズ電極の収差は、大別すると、
(イ)幾何収差(球面収差、軸非対称収差)、(ロ)回
折収差、(ハ)色収差である。これら収差のうち微細加
工になるに従って特に重要なのが色収差(色収差はエネ
ルギー幅に比例する)の低減である。
【0006】色収差は、電子銃の陽極の加速電圧と電子
レンズ電極のレンズ電流に変動が生じると発生する。従
って、色収差を小さくするには、加速電圧電源と電子レ
ンズ電極励磁電流電源は、いずれも高い安定度をもつ必
要がある。
【0007】EB露光装置等に用いられる電子銃は、性
能からはFEG(電界放出型電子銃)/TFEG(熱電
界放出型電子銃)が従来のLaB6(六ほう化ランタ
ン)を用いた熱電子放射銃に比較してエネルギー幅が1
/5程度であるので好ましい性能を有している。
【0008】しかし、電界放出型電子銃および熱電界放
出型電子銃のエミッタ(陰極)の先端は非常に小さな針
状(半径1μm以下)に形成されており、電子は陰極か
ら放射状に出射し発散する。このため、大電流を得るた
めには大きな開き角の電子ビームを集めることが必要と
なり、電子銃の持つ電子レンズ電極系の球面収差のため
に電子ビーム径が広がり、輝度が低下してしまう。
【0009】その対策として、磁界界浸電子銃が用いら
れることがある。磁界界浸電子銃は、エミッタ(電子放
出源)を含めた二極領域に磁界を重畳させ、ビームを収
束させ電子レンズ電極の収差の低減を図る方式である。
【0010】図5は特開平9−7538号公報に開示さ
れている電界放出型電子銃の構成をし示す構成図であ
る。電子銃31は、ビーム軸32に沿ってエミッタ3
3、サプレッサ電極34、イクストラクタ電極35、電
子レンズ電極36、アノード電極37が配置され、コイ
ル44によって発生した磁場を磁極によって導く。さら
にイクストラクタ電極35を磁極の先端に組込むことに
よつて、エミツタ33の先端に強磁場を印加する構造で
ある。
【0011】また、電子銃を、エミッタ、イクストラク
タ電極(第一アノード電極)、第二および第三アノード
電極から構成し、コイルによって発生した磁場を、イク
ストラクタ電極(第一アノード電極)から、第三アノー
ド電極部分に印加している技術(Improvment
of Beam Characteristicsb
y Superimposing a Magneti
c Fieldon a Field Emissio
n Gun 「Elctron Microsc.」
Vol.38,No.2,83−94,1989)も開
示されている。
【0012】しかし、この技術ではコイルと磁極は先の
電極とは別の構成になっていて、一体化は行われていな
い。そのため、磁極の位置は電子ビーム軸から数mm乃
至数十mm離れることになり、印加できる磁場は数十m
T(ミリテスラ)程度である。
【0013】また、特開平6−139976号公報に開
示されている技術では、エミッタ、サプレッサ電極、イ
クストラクタ電極、アノード電極から構成され、レンズ
の効果はコイルを用いたコンデンサレンズによって行っ
ている。この場合は、電子銃の鏡筒の一部を磁極と一体
化している。これは磁極をできるだけビーム軸に接近さ
せようとする工夫である。
【0014】また、特開平6−162979号公報に開
示されている技術では、電子銃は、エミッタ、サプレッ
サ電極、イクストラクタ電極、電子レンズ電極、アノー
ド電極から構成され、コイルによって発生した磁場は、
イクストラクタ電極、電子レンズ電極、アノード電極部
に印加される。この時、コイルと磁極は、先の電極とは
別の構成になっており、鏡筒の外部におかれるため、上
述の場合と同様に、磁極位置は電子ビーム軸から数mm
乃至数十mm離れることになリ、印加できる磁場は数十
mT(ミリテスラ)程度である。なお、この場合、磁極
と電極の一体化は行われていない。
【0015】また、出願人は先に特願平10−1649
58号として、磁極ユニットを永久磁石又は電磁コイル
のいずれかで構成したものを出願している。永久磁石を
用いたものについては、図6に磁極とエキストラクタを
一体化した場合の構成(イ)と、その構成に対応するビ
ーム軸上に生成されるポテンシャル分布Φと磁界分布B
(ロ)を示す。
【0016】すなわち、電子銃41はビーム軸42に沿
って、例えば酸化ジルコニウム/タングステン(ZrO
/W)よりなるエミッタ43が配置され、その後方にサ
プレッサ電極44、前方にイクストラクタ電極45、電
子レンズ電極46、アノード電極47、ブランキングア
パーチャ48が順次配列され、また、永久磁石40を外
側磁極52内側磁極53との間に設けて磁極ユニット5
4を形成し、磁極ユニット54の磁極先端が、絶縁物5
6を介してイクストラクタ電極45に接続されている。
また、Bは永久磁石によって生成される磁界であり、Φ
は電子レンズ電極46の印加電圧Vl(曲線の始まリと
終わりは、それぞれエキストラクタ電圧とアノード電圧
によって決まる)によって、制御される曲線となってい
る。電子銃41においては、エミッタ43から放出され
た電子を、ブランキングアパチャ48に収束させて用い
るため、この収束の制御は、電子レンズ電極46の印加
電圧Vlによって行う構成になっている。つまり、電子
レンズ電極46のレンズ電圧Vlはブランキングアパチ
ャ48のビーム軸上の位置へ正確に収束させるための制
御であり、逆に言うと、電子レンズ電圧V1では、電子
のビーム軸42上の収束位置だけが制御できる構成にな
っている。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述に
開示された技術の電子銃では、磁場はコイルによって生
成されているものが多い。しかも、そのときに真空室内
のエミツタ部分の電界電子放出現象は、10−9Tor
rオーダの高真空状態である必要がある。
【0018】しかしながら、コイルを構成するリード線
は、銅などの線材にポリイミドなどの高分子絶縁物をコ
ーテイングした線材を使用せざるを得ないため、それら
の材料を高真空中で用いるとガスを放出するのでコイル
を真空室の外に設置するのが一般的である。
【0019】なお、特開平9−7538号公報では、発
明の詳細な説明の欄での説明は省略されているがコイル
はガスケット部材によって封止されている図が描かれて
いる。また、その他の開示した例でも、コイルは全て真
空室の外の大気中に配置されている。
【0020】つまり、それらの結果としてエミッタ部分
を真空室内の高真空下に置き、コイルを真空室の外の大
気中もしくは低真空領域に設置することになるので、コ
イル磁場をエミッタに引き込む役割をする磁極は当然、
エミッタから離して設置するか、ビーム鏡筒の一部を磁
極と一体化するなどの工夫が必要となる。それによりあ
る程度の効果は期待できるものの、当然エミッタ、サプ
レッサ電極、イクストラクタ電極などの電極と磁極は、
ある程度距離を隔たざるを得ないことになる。そのた
め、強磁場を印加することが極めて困難になるという問
題点が存在する。
【0021】また、第2の課題について説明すると、電
子銃によっては磁場を永久磁石によって印加される技術
も存在するが、それらは、イクストラクタ電極と磁極を
一体化し、磁極の先端を電子ビーム軸に近付けることに
よつて、数百mTの強磁場をエミッタ先端に印加する構
成である。
【0022】そのように、イクストラクタ電極に磁場を
加える方式は、電子が強い発散を受けるエミッタ、イク
ストラクタ電極近傍では、その発散効果を弱め、ビーム
の収束性を向上させる効果があり、結果的にはイメージ
面(像面)で定義する球面収差係数が小さくできる。し
かし、この場合には印加した磁場の領域が狭く(軸上の
長さが狭く)なる。
【0023】従って、十分な収束性を得られず、ビーム
がビーム軸上のイクストラクタ電極近傍で発散から収束
に転化する位置を変えることはできないという課題が存
在する。
【0024】また、磁極ユニットを永久磁石のみで構成
したものは、通常の精度で用いる場合は良好であるが、
例えば、電子銃を露光装置に搭載して使用する場合で、
特に高精度の調整が要求される場合、つまり、高精度に
電流角密度(露光を行う電子コラムで、露光に用いるこ
とのできる電流量を決める量)、を調整・制御して露光
時にレジスト感度に最適な電子を注入することがある
が、磁極ユニットが永久磁石のみを用いて形成されてい
ると、電流角密度の微調整が困難で、その結果、露光時
の注入電子の最適化が電子銃単体だけでは行ない難いと
いう問題点が存在している。
【0025】また、磁極ユニットを電磁コイルのみで構
成したものは、電磁コイルのターン数が大きくなり、磁
極ユニットの小型化が要求される場合には難点がある。
【0026】本発明はこれらの事情に基づいてなされた
もので、アパーチャアを通過して使用できる電子ビーム
の電流角密度の微調整ができるようにした電子銃とそれ
を用いた露光装置を提供すること目的としている。
【0027】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明による手
段によれば、真空容器と、この真空容器内に配置され電
子ビームを発生する陰極と、この陰極で発生した電子ビ
ームに磁場を印加する磁極ユニットと、前記陰極で発生
した電子ビームをビーム軸方向に加速して電子ビームの
通路を形成する陽極と、この陽極と前記陰極との間に配
置されて前記陽極で加速された電子ビームを前記ビーム
軸上に収束させる電界を発生する電子レンズとを有する
電子銃において、前記磁極ユニットは、閉空間の中に永
久磁石と電磁コイルとを配置した構造を有することを特
徴とする電子銃である。
【0028】また請求項2の発明による手段によれば、
前記磁極ユニットの前記永久磁石は、表面処理が施され
ていることを特徴とする請求項1記載の電子銃である。
【0029】また請求項3の発明による手段によれば、
前記磁極ユニットの前記電磁コイルは、表面処理が施さ
れていることを特徴とする請求項1記載の電子銃であ
る。
【0030】また請求項4の発明による手段によれば、
前記磁極ユニットは、少なくとも一つの前記電極を一体
化したことを特徴としたこと特徴とする請求項1記載の
電子銃である。
【0031】また請求項5の発明による手段によれば、
請求項1から4のいずれかに記載の電子銃を搭載したこ
とを特徴とする露光装置である。
【0032】また請求項6の発明による手段によれば、
真空容器内に配置された陰極で電子ビームを発生させ、
この陰極で発生した電子ビームに磁極ユニットから磁場
を印加して電子レンズがビーム軸上に収束させる電界を
調整する電子銃による電子ビーム発生方法において、前
記磁極ユニットによる磁場の印加は、磁極ユニットに設
けられた永久磁石と電磁コイルとから発生した磁場によ
るものであることを特徴とする電子銃による電子ビーム
発生方法である。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の電子銃の一実施の
形態を図面を参照して説明する。図1に電子銃の構成を
示している。すなわち、図1に示すように、電子銃1は
ビーム軸2に沿って、例えば酸化ジルコニウム/タング
ステン(ZrO/W)よりなるエミッタ3が配置され、
その前方にサプレッサ電極4、イクストラクタ電極5、
電子レンズ電極6、アノード電極7、ブランキングアパ
ーチャ8が順次配列され、また、永久磁石10と電磁コ
イル11を内在させ外側磁極12、内側磁極13と非磁
性物15a、15bによつて閉空間を構成している磁極
ユニット14の磁極先端が、絶縁物16を介してイクス
トラクタ電極5に接続されている。
【0034】磁極ユニット14の構造をさらに詳述する
と、内側磁極13の磁極両端に設けられた非磁性物15
a、15bは非磁性のセラミック(もしくは銅やアル
ミ、もしくはコバールガラスなど)の部材で形成され磁
極両端にロー付け接合されている。さらに、非磁性物1
5a、15bと外側磁極12の接合面には双方ともメタ
ル製などのシール16a、16b(ガスケット)が設け
られ、外側磁極12と内側磁極13との間で構成される
閉空間を密閉封止している。なお、閉空間内に配置され
た電磁コイル11は図示しいないフィードスルー(真空
密閉処理が施されたコネクター)を介して、磁極ユニッ
ト14の外側より電流を流す構造に形成されている。
【0035】これら全ての各電極や磁性ユニット14は
図示していない鏡筒内部に配置され、イオンポンプなど
の真空ポンプによって高真空に維持され高真空環境にお
かれている。
【0036】また、エミッタ3、サプレッサ電極4、イ
クストラクタ電極5、電子レンズ電極6、アノード電極
7は図示しないリード線によってそれぞれ高電圧が印加
されている。それらの印加電圧は、例えば、サプレッサ
電極4にはエミッタ基準で−500V、イクストラクタ
電極5には1〜5KV、アノード電極7には1〜30K
V、電子レンズ電極6には1〜30KV等の電圧が印可
され、電子レンズ電極6の電圧(V)はアノード電極7
の前方に存在する小さな孔を設けた金属板やシリコンで
構成されたブランキングアパーチャ8の中心にクロスオ
ーバ(収束点)を結ぶように調整された電圧が印加され
る。
【0037】また、外側磁極12と内側磁極13とは純
鉄などの透磁率の高い材料で形成されており、永久磁石
10はサマリュウムコバルト等で作られ、メッキ処理に
よる表面処理が施されている。
【0038】すなわち、通常、サマリュムコバルトなど
永久磁石10は焼結金属であるため、ガスを内部に保持
している。そのため、真空中では使用すると内部のガス
が放出され高真空が得られない。そこで、ここでは内部
ガスの放出を防止するために永久磁石10の表面を、銅
やニッケルなどでメッキ処理した部材を使用している。
【0039】なお、永久磁石10はサマリュムコバルト
系の磁石を用いたが、磁石としてはこれに限らずセリュ
ムコバルト系、ネオジューム鉄ボロン系、フェライトア
ルニコ系、プラスチックマグネット系、鉄クロムコバル
ト系、等を種類を問わず使用できる。
【0040】また、永久磁石10は、銅ニッケルなどの
金属によるめっき処理したものを用いたが、これに限ら
ず一般金属もしくはその合金を用いた処理、および一般
金属もしくはその合金の多層膜による処理、またはめっ
き処理に限らず種々のコーティング処理、またはガラス
などの非金属によるコーテイング処理、そのほか通常の
ステンレスやその他の金属や非金属を用いた薄板で作ら
れた容器による封止処理等によるガスを放出しないため
の処理であればそれを適時用いることができる。また、
気密封止部の封止が高精度であれば、通常の永久磁石で
ガス放出のあるものも使用できる。
【0041】一方、電磁コイル11は、例えばポリイミ
ドで被覆した導線(直径0.2mm)が多数回(例えば
500ターン)マグネットに捲回されて形成されてい
る。この場合、電磁コイル11には適当な絶縁部材によ
って絶縁封止を行うか、または、線材の線束を固る処理
等を施す。また、ポリイミド被覆の導線の限らず、比較
的ガス放出の少ない絶縁材料の被覆によるアルミやその
他の導電材料の線であれば用いることができる。
【0042】なお、図1において指定してない間隙部分
は銅などの非磁性体で充填した構造となっている。
【0043】また、図2(a)(b)(c)は、上述の
実施の形態の変形例である。いずれも、磁性ユニット1
4の部分のみが異なり、他の部分は上述の実施の形態と
同様であるので、同様部分についての説明は省略する。
【0044】図2(a)の磁性ユニット14aでは、永
久磁石10aは上述の実施の形態と同様の配置である
が、電磁コイル11aの体積を内側電極13aに沿って
大幅に増加させている。従って、この場合は3箇所のシ
ール16a、16b、16cを設けている。
【0045】図2(b)の磁性ユニット14bでは、上
述の実施の形態とは永久磁石10bと電磁コイル11b
の配置を逆にして配置している。この場合は、永久磁石
が10bが密閉壁の一部を兼ねるので、シール16bは
1箇所設ければよい。
【0046】図2(c)の磁性ユニット14cでは、永
久磁石10cを挟んで2つの電磁コイル11c、11d
に分割して設けている。
【0047】次にこれらの構成による磁場の印加方式に
ついて説明する。
【0048】図3は、その構成に対応する、ビーム軸上
の生成されるポテンシャル分布Φと磁界分布Bを示す。
【0049】すなわち、磁場を印加する手段としては、
銅やニッケルなどのめっきを行ったサマリュムコバルト
による永久磁石10と電磁コイル11を用いている。
【0050】図3(イ)、(ロ)において、横軸はZ軸
の位置で、縦軸は磁界の強さで任意単位である。図3
(イ)のBp は永久磁石10の磁界の強さを示すもの
で、永久磁石10であるため負の磁界(反転磁界)が存
在する点に特徴がある。一方、図3(イ)の±Bc は電
磁コイル11の磁界を示すものである。電磁コイル11
によって発生した磁界は全て正または負の一方向のみの
特性を有している。(コイルに流す電流の向きによっ
て、磁界の正負が決まる)。従って、両磁界の強さを合
算したものは、図3(イ)に示すように永久磁石10に
よるビーム軸上の磁界Bpにコイルの磁界±Bcが加算
されるものになる。
【0051】図3(ロ)は、図3(イ)の磁界を印加し
て、かつレンズ電極に最適な電圧を印加し、ビームをブ
ランキングアパチャアへ丁度収束させた場合の、ビーム
軌跡を示した図である(横軸はZ軸の位置で、縦軸はビ
ームの軸からの距離を任意単位で示してある)。
【0052】ここで、図3(ロ)のグラフでビーム軌跡
Nは、この電子銃に用いた永久磁石を無着磁(磁界ゼロ
もしくは永久磁石を取リ除いた場合)の時の、エミッタ
を放出したビームの軌跡である。この際は、永久磁石1
0に併設した電磁コイル11の電流もゼロアンペアもし
くはコイル磁界がゼロである。次に着磁した永久磁石1
0を用いた場合(軸上の磁界は図3(イ)のBpであ
る)のビーム軌跡は、図3(ロ)のMとなる。この場合
のビーム軌跡Mのコイル電流はゼロアンペアである。
【0053】ここで、磁界が存在しない場合のビーム軌
跡Nと、磁界が存在する場合の軌跡Mを比較する。それ
ぞれの軌跡において、ビーム軌跡N、MがZ軸からもっ
とも離れる位置のZ軸上の座標を、Zc、Zmとする
と、このビーム軌跡の特徴は、Nの位置Zcよりも、M
ではエミッタよりの位置Zmでビームが発散から収束に
向かっていることである。これによつて、ビーム軌跡M
はビーム軌跡Nよリも小さい収束角β(<α)でブラン
ギングアパチャ8(位置Zba)に収束することにな
る。したがって、この磁石の磁界の効果は、球面収差係
数の変化に加えて、角電流密度J=I /(πβ2)の増
加として捕らえることができる。その結果、特に角電流
密度Jは収束角に対して二乗の関係にあるため、収束角
の縮小化は角電流密度の大きくなる効果として得られる
ことになる。
【0054】次に、電磁コイル11に、例えば500タ
ーンの巻線に対して、0.2Aの電流を流すと、全電流
は100AT(100アンペア・ターン)になる。この
励磁によつて、磁極を通して軸上に発生する磁界Bc
は、ピーク値が数mT(ミリテスラ)の全領域で正の磁
界になる。また、この励磁電流の方向を反転すれば、こ
の磁界は発生する磁界は、−Bcになる(全領域で負の
磁界)。また、この磁界は電流量に比例した磁界であ
り、全く比例的に軸上の全領域で制御できる。
【0055】また、この磁界Bcは図3(ロ)の磁界B
pに必ず加算され、かつ、このBcは永久磁石10の発
生する磁界Bpのおおむね1/k(1/10〜1/10
0)に相当する。さらに、この追加加算磁界は、図3
(ロ)の電子ビームのビーム軌跡Mを変化させるため、
ビームの収束角βは、β+・β−(+Bcの場合がβ+
で、結果としてβ+の方が収束がよく、0<β+<β−
となる)に変わり、電流角密度を変化させることができ
る。
【0056】なお、磁界Bcのピーク値は、例えば、4
mTで、この磁界の増加によって+1mA/Strの電
流角密度が増加する計算結果が得られる。これはコイル
による調整がない場合の電流角密度Jの1/5〜1/5
0の増加に相当する。すなわち、コイルによる励磁(±
Lアンペアターン)によって、もともとの電流角密度J
もしくは露光電流lを、J±(1/5〜1/50)J変
化させ調整できることになリ、レジスト感度や露光時
間、そのたの露光条件にマッチした有用な露光条件設定
ができるようになった。
【0057】また、上述の実施の形態では磁極と電極の
一体化に関しては、電極としてはイクストラクタ電極5
の例を示したがこれに限るものではない。図には示さな
いが、その他任意の電極と磁極とを一体化することも可
能である。なお、電極と磁極を1対1で一体化する場合
は、電極と磁極は絶縁物を介して一体化しているが、複
数の電極と磁極とを一体化する場合は、どれか一つの電
極との間の絶縁物を排除し、磁極それ自体に電位を与え
る方式も可能である。
【0058】以上の構成によって、従来、永久磁石によ
る磁界を用いている場合には、ブランキングアパーチャ
を通過して使用できる電子ビームの電流角密度は、微調
整が困難で、これを調整するためには、永久磁石の大き
さを変えたり、磁極の大きさや、磁極間ギヤツプを変え
たりして行っていた。これは、電子銃部を解体、再組み
立てして行う必要があり大変手間がかかり、また、電子
銃部を動作させたままで調整を行うことは不可能であっ
た。
【0059】上述の実施の形態では、、電子銃の外部
(大気中)からの電流制御によって、所定の電流角密度
を数分の一から数十分の一の精度で調整でき、露光条件
の設定を簡便にできるようになった。
【0060】また、従来では、ビーム軸上の磁界は、永
久磁石の性能のみによって決定されているため、一般
に、永久磁石は着磁によつて固定磁界を発生できるよう
になるが、磁石材料のばらつきや、着磁条件のばらつき
によつて、永久磁石によつて得られる固定磁界は、数%
程度のばらつきが存在しているものが反映して、ビーム
軸上の磁界もばらついていたが、上述の実施の形態で
は、電流制御によって磁界を補正できるため、永久磁石
の固定磁界の数%程度のばらつきをを簡便に補正するこ
とができる。
【0061】また、従来のようにビーム軸上の磁界は、
永久磁石の性能のみによって決定されていたので、永久
磁石の固定磁界が温度やその他の条件によって、経時的
に発生する減磁(徐々に固定磁界が小さくなる)に伴っ
て誤差が生じていたが、このような場合には、電磁コイ
ルを電流制御して磁界を補正して初期値を維持して、経
時的に減磁による電流角密度の変化がないようにするこ
とができる。なお、この操作は、電子銃を通常の使用状
態のままで、大気中に設け電流源の電流値を操作するだ
けできわめて簡便に行うことができる。
【0062】ここで、図6のようにレンズ電極として減
速型[ レンズ電圧(Ve )がイクストラ電圧(Vex)
とアノード電圧(Va)より低いタイプ] を示したが、
加速型(VeがVex、Vaより高いタイプ)でも全く
同様の効果が得られる。
【0063】上述の電子銃から発射された電子線を用い
た露光技術は、直接描画や縮小投影とステップアンドリ
ピートや等倍一括投影等に用いることができる。以下に
電子ビーム描画装置に用いた一例を示す。
【0064】図4は、電子銃70を搭載した電子光学系
の構造を示す構成図である。筐体の内部には、上から電
子銃70、第一成形アパーチャ71、成形偏向器72、
第二成形アパーチャ73、振リ戻し偏向器74、ブラン
キング電極75、倍率補正レンズ76、偏向器および集
束レンズ77、加工室78が順に設けられている。
【0065】加工室78の内部には、図示しない試料の
移動ステージが設けられ、このステージは、やはリ図示
しないレーザ干渉計でXYの座標が正確に計測され、モ
ータ駆動によリ数十から数nmの精度で位置決めが行わ
れる。また、位置決めは移動台や試料に設けられたマー
クを、検出することで行われる。
【0066】ここで、電子銃70で電流を長時間安定に
取り出すために、試料であるウェハから発生するガスの
影響を少なくする必要があり、差動排気によって、電子
銃室を5×10-9Torr以上の高真空に保つように構
成している。
【0067】制御系は、図示しない計算機からデータを
インターフェィスを介して、描画制御系に転送する.描
画制御系は、ウェハに描画するパターンに応じたアパー
チャ図形を、先の第二成形アパーチャ73よリ選択し、
これを選択できる所要の電圧を成形偏向器72に入力
し、かつ振リ戻し偏向器74によって、ビームを軸上に
戻す。この選択された描画パターンは、倍率補正レンズ
76と集束レンズ77を用いて試料(ウェハ)面に結像
する。
【0068】このとき、集束レンズ77から試料までの
あらかじめ測られた正確な距離に基づいて、集束レンズ
のフォーカスを正確に調整した後、結像される。また、
集束レンズの中に構成した偏向器によって、軸以外の部
分についても描画パターンを結像する。描画できるパタ
ーンの最小寸法は、電子光学系の収差やぼけによって制
限されており、おおよそ0.1μm以下の寸法が可能で
ある。
【0069】このとき、試料上の単一の描画パターンは
たとえばLμm×Lμm(3μm×3μm)で露光し、
先の集束レンズ内偏向器によって、N・N´個分(たと
えば10×12個)偏向し、露光を行う。この結果、N
・Lμm×N´・Lμm(30μm×36μm)の領域
の露光が完了する。次に、試料を移動ステージで移動
し、軸上露光、偏向露光を繰リ返し、試料全体(たとえ
ば6〜12インチウェハ全面)の露光を完了するよう動
作する。
【0070】以上に述べたように、エミッタ(電子放出
源)を含めた二極領域に磁界を重畳させ、ビームを収束
させる方式である磁界界浸電子銃とその電子銃を搭載
し、電子銃の電子レンズ電極と磁極ユニットを一体構造
にしたので、通常、数mrad程度の放出角しか収束す
るこをができない電子を、数十mradから百mrad
の放出角電子でも収束させることが可能になり、アパー
チュアを通過して使用できる電子を、通常の数nAオー
ダから数百nAもしくは数μAに増加させ且精密に調整
することができるようになった。
【0071】また、磁界がない場合にアパーチャを通過
できるビームが数mA/strである電流角密度を、十
数mA/strから数十mA/strまで向上させ、か
つ、精密に調整することができるようになった。
【0072】また、絶縁シール材を用いた複雑な電子銃
室の構造が不要となり、部品点数の低減でコストダウン
できるようになった。
【0073】また、磁界の形成に永久磁石を用いること
によって、電磁式マグネットに比べて構成が小さくな
リ、磁界部分は直径数十mmから百mmオーダに収める
ことができるようになった。
【0074】また、永久磁石の形状寸法を精度を上げる
ことで、電子銃の組立て精度を向上させ、電極のアライ
メントもしくは調整機構を簡素化できるようになった。
【0075】
【発明の効果】本発明は、アパーチャアを通過して使用
できる電子ビームの電流角密度の微調整ができるように
した電子銃が得られ、また、その電子銃を搭載した電子
ビーム描画装置等の露光装置によれば、極めて高精度に
微細パターンを処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す電子銃の要部の横断
面図。
【図2】本発明の実施の形態の電子銃の要部の変形例を
示す横断面図。
【図3】本発明の実施の形態の構成と、それに対応する
ビーム軸上の生成されるポテンシャル分布Φと磁界分布
Bを示す図。
【図4】本発明の電子銃を搭載した電子ビーム描画装置
の電子光学系の構造を示す構成図。
【図5】従来の電界放出型電子銃の構成をし示す構成
図。
【図6】従来の磁極とエキストラクタ電極を一体化した
場合の構成と、その構成に対応するビーム軸上に生成さ
れるポテンシャル分布Φと磁界分布Bを示す図。
【符号の説明】
1、31、41…電子銃、2、32、42…ビーム軸、
3、33、43…エミッタ、4、34、44…サプレッ
サ電極、5、35、45…イクストラクタ電極、6、3
6、46…電子レンズ電極、7、37、47…アノード
電極、8…ブランキングアパーチャ、、10、10a、
10b…永久磁石、11a、11b、11c、11d…
電磁コイル、12、12a…外側電極、13、13a…
内側電極、14、14a、14b、14c…磁極ユニッ
ト、15、15a…非磁性物
フロントページの続き (72)発明者 安藤 厚司 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 Fターム(参考) 5C030 BB17 BC06 CC07 5F056 AA04 AA19 CB03 EA02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空容器と、この真空容器内に配置され
    電子ビームを発生する陰極と、この陰極で発生した電子
    ビームに磁場を印加する磁極ユニットと、前記陰極で発
    生した電子ビームをビーム軸方向に加速して電子ビーム
    の通路を形成する陽極と、この陽極と前記陰極との間に
    配置されて前記陽極で加速された電子ビームを前記ビー
    ム軸上に収束させる電界を発生する電子レンズとを有す
    る電子銃において、前記磁極ユニットは、閉空間の中に
    永久磁石と電磁コイルとを配置した構造を有することを
    特徴とする電子銃。
  2. 【請求項2】 前記磁極ユニットの前記永久磁石は、表
    面処理が施されていることを特徴とする請求項1記載の
    電子銃。
  3. 【請求項3】 前記磁極ユニットの前記電磁コイルは、
    表面処理が施されていることを特徴とする請求項1記載
    の電子銃。
  4. 【請求項4】 前記磁極ユニットは、少なくとも一つの
    前記電極と一体化したことを特徴としたこと特徴とする
    請求項1記載の電子銃。
  5. 【請求項5】 請求項1から4のいずれかに記載の電子
    銃を搭載したことを特徴とする露光装置。
  6. 【請求項6】 真空容器内に配置された陰極で電子ビー
    ムを発生させ、この陰極で発生した電子ビームに磁極ユ
    ニットから磁場を印加して電子レンズがビーム軸上に収
    束させる電界を調整する電子銃による電子ビーム発生方
    法において、 前記磁極ユニットによる磁場の印加は、磁極ユニットに
    設けられた永久磁石と電磁コイルとから発生した磁場に
    よるものであることを特徴とする電子銃による電子ビー
    ム発生方法。
JP10263151A 1998-09-17 1998-09-17 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置 Pending JP2000090866A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10263151A JP2000090866A (ja) 1998-09-17 1998-09-17 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10263151A JP2000090866A (ja) 1998-09-17 1998-09-17 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000090866A true JP2000090866A (ja) 2000-03-31

Family

ID=17385521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10263151A Pending JP2000090866A (ja) 1998-09-17 1998-09-17 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000090866A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218422A (ja) * 2003-09-05 2008-09-18 Carl Zeiss Smt Ag 粒子光学装置及び荷電粒子ビーム操作方法
JP2010520581A (ja) * 2007-03-01 2010-06-10 セルマイヤー、ヨーゼフ 粒子を電界放出する装置および製作方法
JP2011192732A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Hitachi High-Technologies Corp 磁場界浸型電子銃及び電子線装置
RU2446504C1 (ru) * 2010-08-03 2012-03-27 Учреждение Российской Академии Наук Институт Сильноточной Электроники Сибирского Отделения Ран (Исэ Со Ран) Сильноточная электронная пушка
DE112010002063T5 (de) 2009-05-22 2012-07-19 Hitachi High-Technologies Corp. Elektronenkanone
NL2010433A (en) * 2008-12-23 2013-05-16 Zeiss Carl Nts Gmbh Particle optical device with magnet assembly.
WO2017180441A1 (en) * 2016-04-11 2017-10-19 Kla-Tencor Corporation Permanent-magnet particle beam apparatus and method incorporating a non-magnetic metal portion for tunability

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9224576B2 (en) 2003-09-05 2015-12-29 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Particle-optical systems and arrangements and particle-optical components for such systems and arrangements
US10504681B2 (en) 2003-09-05 2019-12-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Particle-optical systems and arrangements and particle-optical components for such systems and arrangements
US8097847B2 (en) 2003-09-05 2012-01-17 Carl Ziess Smt Ag Particle-optical systems and arrangements and particle-optical components for such systems and arrangements
JP2008218422A (ja) * 2003-09-05 2008-09-18 Carl Zeiss Smt Ag 粒子光学装置及び荷電粒子ビーム操作方法
US9673024B2 (en) 2003-09-05 2017-06-06 Applied Materials Israel, Ltd. Particle-optical systems and arrangements and particle-optical components for such systems and arrangements
US8637834B2 (en) 2003-09-05 2014-01-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Particle-optical systems and arrangements and particle-optical components for such systems and arrangements
JP2010520581A (ja) * 2007-03-01 2010-06-10 セルマイヤー、ヨーゼフ 粒子を電界放出する装置および製作方法
NL2010433A (en) * 2008-12-23 2013-05-16 Zeiss Carl Nts Gmbh Particle optical device with magnet assembly.
DE112010002063B4 (de) 2009-05-22 2018-10-04 Hitachi High-Technologies Corporation Feldemissions-Elektronenkanone und Elektronenstrahlvorrichtung mit einer solchen Feldemissions-Elektronenkanone
US8669535B2 (en) 2009-05-22 2014-03-11 Hitachi High-Technologies Corporation Electron gun
DE112010002063T5 (de) 2009-05-22 2012-07-19 Hitachi High-Technologies Corp. Elektronenkanone
JP2011192732A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Hitachi High-Technologies Corp 磁場界浸型電子銃及び電子線装置
RU2446504C1 (ru) * 2010-08-03 2012-03-27 Учреждение Российской Академии Наук Институт Сильноточной Электроники Сибирского Отделения Ран (Исэ Со Ран) Сильноточная электронная пушка
WO2017180441A1 (en) * 2016-04-11 2017-10-19 Kla-Tencor Corporation Permanent-magnet particle beam apparatus and method incorporating a non-magnetic metal portion for tunability
CN109076689A (zh) * 2016-04-11 2018-12-21 科磊股份有限公司 永久磁铁粒子束设备及并入可调性非磁性金属部分的方法
US10211021B2 (en) 2016-04-11 2019-02-19 Kla-Tencor Corporation Permanent-magnet particle beam apparatus and method incorporating a non-magnetic metal portion for tunability

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0585840B1 (en) Magnetic immersion field emission electron gun systems capable of reducing aberration of electrostatic lens
US7872240B2 (en) Corrector for charged-particle beam aberration and charged-particle beam apparatus
JP4685115B2 (ja) 電子ビーム露光方法
US7619218B2 (en) Charged particle optical apparatus with aberration corrector
JP5478808B2 (ja) 気体イオン源を備えた粒子光学装置
JP2004134379A (ja) 電子顕微鏡システム用対物レンズおよび電子顕微鏡システム
JP2007109675A (ja) 単色分光計用の固定ダイヤフラムからなる粒子光学装置
US4214162A (en) Corpuscular beam microscope for ring segment focusing
US5369279A (en) Chromatically compensated particle-beam column
US8049180B2 (en) Achromatic mass separator
JP6095338B2 (ja) 電子銃および荷電粒子線装置
WO2005124815A1 (ja) 電子線源および電子線応用装置
JP4601923B2 (ja) 電子銃とそれを用いた電子ビーム照射装置
JP2000090866A (ja) 電子銃、電子銃による電子ビーム発生方法及び電子銃を用いた露光装置
JP2006324119A (ja) 電子銃
JP2000285839A (ja) 電子銃とそれを用いた露光装置および露光方法
JP2000003689A (ja) 電子銃とそれを用いた露光装置
JP2007522622A (ja) 焦点制御付き陰極ヘッド
JPH07233473A (ja) マグネトロンスパッタ装置
JP2012044191A (ja) 電子銃及び電子ビーム露光装置
CA2188997C (en) Chromatically compensated particle-beam column
JP7751929B1 (ja) 荷電粒子銃
JP2004247321A (ja) 走査形電子顕微鏡
JP4975095B2 (ja) 電子銃及び電子ビーム露光装置
CN1084041C (zh) 粒子光学柱

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050620

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050624

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080415

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080513