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JP2000089098A - 多点測距装置 - Google Patents

多点測距装置

Info

Publication number
JP2000089098A
JP2000089098A JP26020098A JP26020098A JP2000089098A JP 2000089098 A JP2000089098 A JP 2000089098A JP 26020098 A JP26020098 A JP 26020098A JP 26020098 A JP26020098 A JP 26020098A JP 2000089098 A JP2000089098 A JP 2000089098A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
distance
distance measuring
range
subject
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP26020098A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Nakada
康一 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP26020098A priority Critical patent/JP2000089098A/ja
Publication of JP2000089098A publication Critical patent/JP2000089098A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Focusing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の測距装置は、撮影エリア中央のみに測距
エリアを設定して発生する中抜けを防止するために撮影
エリア内に複数の測距エリアを設定し測距を行なうと演
算量が多く、CPUへ負荷が増加しレリーズタイムラグ
が大きくなる。 【解決手段】本発明は、測距センサ3の撮影エリア内に
設定された複数の測距エリアにおける測距データを得る
ためのシフト演算をマイクロコンピュータ1により実行
する際に、撮影エリアの中央以外の測距エリアに対する
シフト演算のシフト数を撮影エリア中央に設定された測
距エリアに対するシフト演算のシフト数よりも少なくし
て、測距演算に必要な時間を短かくする多点測距装置で
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、三角測距の原理に
もとづき撮影エリア内の複数の測距エリアに対して焦点
調整が可能な位相差方式のカメラに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、TTL方式のカメラに用いる測距
装置においては、例えば、特開昭62−133409号
公報に記載されるような、撮影レンズによって決まるデ
フォーカス量の最大(MAX)値に応じて必要なシフト
演算を行なうことで演算時間の短縮化を実現した技術が
知られている。
【0003】しかし、測距装置の構成がTTL方式であ
っても非TTL方式であっても位相差方式においては、
一対のセパレータレンズが形成する2つの被写体像をイ
メージセンサで受光する方式である。
【0004】このイメージセンサ上に結像された2つの
像の間隔は、シフト演算を繰り返すことで求めて、デフ
ォーカス量あるいは被写体までの距離を算出している。
このシフト演算は、CPUへの負荷を大きくしているた
め、演算時間の短縮化を図るためには、少ない演算量に
軽減する必要がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、演算の短時間
化を図る方法として、単に測距ポイント(測距エリア)
を撮影エリア中央の1点にのみに設定した場合、撮影の
際にその中央位置に主要被写体が存在しない場合には、
所謂、中抜けが発生して、主要被写体にピントが合った
写真が撮れない。
【0006】その対策として撮影エリア内に複数の測距
エリアを設定して、測距動作を行ない、主要被写体がか
ならずしも中央に存在しなくてもピントの合った写真が
撮れるシステムが種々提案され、実現されている。
【0007】しかし、元々位相差方式は演算量が多く、
測距エリア1点での測距データを算出するとしてもCP
Uへの負荷は少なくない。そのため、他の方式に比べて
レリーズタイムラグが大きい。
【0008】さらに複数の測距エリアを設定して、それ
らから測距データを得ようとすれば、タイムラグはさら
に増大することとなる。そこで本発明は、複数の測距エ
リアに対して測距動作可能なパッシブ位相差方式のカメ
ラシステムにおいて、測距動作の時間短縮のために、シ
フト演算方式を改善した多点測距装置を提供することを
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、測距対象領域の中央部と周辺部とにそれぞ
れ配された複数の測距エリアを有し、対の結像レンズに
より結像された対の被写体像相互の間隔を検出して、上
記測距エリア内の被写体までの距離をそれぞれ求める多
点測距装置であって、上記対の被写体像相互の間隔を検
出するための相関演算におけるずらし演算範囲が、上記
中央部と周辺部とで異なる多点測距装置を提供する。ま
た、上記相関演算におけるずらし演算範囲は、上記周辺
部の方が中央部よりも狭く設定されている。
【0010】以上のような多点測距装置は、撮影エリア
内に設定された複数の測距エリアの測距データを得るた
めにシフト演算を実行する際に、撮影エリアの中央以外
に設定された測距エリアに対するシフト演算のシフト数
を撮影エリア中央に設定された測距エリアに対するシフ
ト演算のシフト数よりも少なくして、ずらし演算範囲が
狭くなり演算量が軽減され、測距演算に必要な時間が短
かくなる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について詳細に説明する。図1には本発明による
多点測距装置に係る実施形態の構成例を示し説明する。
本実施形態は 測距装置全体の制御を行なうマイクロコ
ンピュータ1と、被写体2までの距離測定を行う測距セ
ンサ3と、この測距センサ3を制御するインターフェイ
ス回路4と、距離算出に必要なパラメータを記憶するE
EPROM5と、撮影レンズ6を駆動するレンズモータ
7及びモータ駆動回路8と、撮影レンズ6の位置を検出
する位置エンコーダ9とで構成される。
【0012】前記測距センサ3は、一対のセパレータレ
ンズ11a,11bと、それに対向して配置される一対
のLセンサ12a及びRセンサ12bからなるラインセ
ンサ12とで構成される。ラインセンサ12は、例え
ば、CCD等の光電変換素子からなる。
【0013】セパレータレンズ11a,11bにより
L,Rセンサ12a,12bの検出面となる受光面上に
被写体の像がそれぞれ結像される。これらのLセンサ1
2aとRセンサ12bは、受光面に形成された2つの像
の間隔を示す検出信号を出力する。この検出信号を蓄積
したセンサデータに基づき、マイクロコンピュータ1
は、被写体2までの距離を算出する。
【0014】まず、マイクロコンピュータ1は、ライン
センサ12により検出された検出信号の積分開始をイン
ターフェイス回路4へ指示し、インターフェイス回路4
では、検出信号の積分が開始される。そしてインターフ
ェイス回路4は、その蓄積レベルが所定値に達すると、
マイクロコンピュータ1へ積分終了信号を出力する。
【0015】次にマイクロコンピュータ1からインター
フェイス回路4への出力指示により、ラインセンサ12
a,12bの蓄積された信号(センサデータ)がインタ
ーフェイス回路4を経て、マイクロコンピュータ1にそ
れぞれ出力される。
【0016】マイクロコンピュータ1に入力されたセン
サデータは、内部に設けられたA/D変換器13でデジ
タルデータに変換され、同様に内部に設けられたRAM
14に記憶される。
【0017】マイクロコンピュータ1は、測距センサ3
から得られたデータから後述する演算処理方法により被
写体距離を算出し、その被写体距離を撮影レンズ6の移
動量へ変換する。
【0018】この移動量に基づいて、撮影レンズ6は、
モータ駆動回路8に制御されたレンズモータ7によって
駆動される。撮影レンズ6の位置は、位置エンコーダ9
によって検出され、マイクロコンピュータ1へ出力され
る。マイクロコンピュータ1は、位置エンコーダ9の出
力に基づいて、モータ駆動回路をフィードバック制御
し、被写体像がフィルム上に合焦状態で結像される。
【0019】次に、本実施形態における測距センサ3に
よる測距方法について説明する。図2は、測距センサ3
における測距エリア21とラインセンサ上の結像位置の
関係を示している。本実施形態では、例えば、撮影エリ
ア21上に、Lエリア21L、Cエリア21C、Rエリ
ア21Rの3つの測距エリアが存在し、Lセンサ12b
上に基準エリアA、Rセンサ12a上に参照エリアBが
存在する。
【0020】Cエリア21Cは、撮影エリア21の中央
に位置し、Cエリア21Cの被写体は、セパレータレン
ズ11bによってLセンサ12bの基準エリアA1に結
像し、セパレータレンズ12bによりRセンサ12aの
参照エリアB1上に結像する。参照エリアBはシフト演
算によってラインセンサ上を移動可能である。
【0021】そして参照エリアBのシフト量(移動量)
させるごとに基準エリアAのLセンサ12bのデータと
参照エリアBのRセンサ12aのデータの相関度を算出
する。この相関度が高いシフト量を求めることで、Lセ
ンサ12bとRセンサ12a上に形成された2つの被写
体像の間隔が検出できる。
【0022】同様にRエリア21Rに対しては、基準エ
リアA2と参照エリアB2が、Lエリアに対しては、基
準エリアA3と参照エリアB3がそれぞれ対応してい
る。図3に示すフローチャートを参照して、被写体まで
の距離の算出について説明する。
【0023】まず、レリーズSWのオン・オフ状態の検
出を行ない(ステップS1)、レリーズSWがオンする
と(YES)、マイクロコンピュータ1は、インターフ
ェイス回路4に対して積分開始を命令する(ステップS
2)。
【0024】インターフェイス回路4は、ラインセンサ
12から出力される検出信号の積分動作を実行する。そ
して検出信号の蓄積レベルが所定値に達すると、積分動
作の終了を示す終了信号をマイクロコンピュータ1へ対
して送信する(ステップS3)。
【0025】マイクロコンピュータ1は、終了信号を受
信するまで待機し、終了信号を受信すると、インターフ
ェイス回路4が出力するラインセンサ12a,12bの
それぞれの出力レベルをA/D変換器13でデジタル変
換し、RAM14へ格納する(ステップS4)。
【0026】また本実施形態では、ラインセンサ12
が、例えば160エレメントであるものとすると、格納
したデータ数が160に達するまで、繰り返しラインセ
ンサ12a,12bに出力をRAM14に格納する(ス
テップS5)。
【0027】そして格納したデータ数に達した場合(Y
ES)、測距エリアの1つであるLエリア12bに対し
て距離算出を行なうに先だって必要な演算パラメータを
設定する(ステップS6)。これらのパラメータは、E
EPROM5に記憶されている。
【0028】従って、測距エリアの大きさや、撮影エリ
ア上の位置を変更したい時は、これらのパラメータを修
正するだけで容易に変更することができる。図4(a)
を参照して、各パラメータとラインセンサの位置関係に
ついて説明する。
【0029】パラメータelは、基準エリアAと参照エ
リアBに含まれるラインセンサ12a,12bの検出信
号をA/D変換したデータ数を示す。パラメータSmax
は、参照エリアBの移動量の最大値、すなわちシフト演
算の回数である。このパラメータSmax が大きな数値で
あるほど測距レンジが広がる。シフト数が”0”の時、
基準エリアAと参照エリアBの相関度が最大ならば、被
写体が∞(無限大)位置に存在することを示す。従っ
て、シフト数が増えるほど被写体が近距離側に存在する
ことを意味し、すなわちパラメータSmax を大きくする
ことは近距離側に測距レンジが広がることを意味する。
【0030】パラメータaddlは、基準エリアAの先
頭のデータの位置を示す。具体的には、RAM14に格
納されているA/D変換されたデータのアドレスの1つ
と対応している。
【0031】同様に、パラメータaddrは、参照エリ
アBの先頭データの位置を示す。つまり、図4(a)に
示すように、パラメータaddlは、ラインセンサ12
b上のL21に対応するデータの格納されたアドレスで
あり、パラメータaddrはラインセンサ12a上のR
11に対応するデータの格納されたアドレスである。
【0032】これらのパラメータの設定終了の後、サブ
ルーチン”距離算出”が実行される(ステップS7)。
ここで、図5に示すフローチャートを参照して、サブル
ーチン”距離算出”について説明する。まず、シフト数
(s)をクリア(=0)して初期化する(ステップS2
1)。次に基準エリアAと参照エリアBの相関度を算出
するため、次の公知な相関式
【0033】
【数1】 により相関度を計算する(ステップS22)。この相関
式は、2つの測距エリアの対応するラインセンサ12の
データを差分の絶対値の総和で示す。この総和が小さい
ほど相関度は高くなる。シフト数(s)=0における相
関式の算出が終了すると、シフト数(s)は、インクリ
メント(+1)される(ステップS23)。
【0034】そして演算を繰り返し行い、シフト数がパ
ラメータSmax の”10”に達したか否か判定する(ス
テップS24)。この判定で、シフト数(s)は、まだ
達していない、つまり10以下の場合(NO)、参照エ
リアBをシフトさせて、再度ステップS22に戻り、前
記相関式により相関度を算出する。しかし、シフト数
(s)が10に達したならば(YES)、その中から相
関度が最大となるシフト数、すなわち相関式が最小とな
るシフト数が選択される(ステップS25)。
【0035】図6には、その一例として、シフト数
(s)が”5”の時に相関式が最小となった時の様子を
示す。シフト数(s)のみでは、分解能がたりないた
め、F(4)、F(5)、F(6)、F(7)の相関式
の算出結果より補間演算して、相関が最大となるシフト
数Sxを求める(ステップS25)。
【0036】求められたシフト数Sxと図2に示したセ
パレータレンズ11a,11bの焦点距離(f)、セパ
レータレンズ11a,11bの間隔である基線長(b)
に基づいて、被写体距離(L)を求める(ステップS2
6)。ここで、メインルーチンのステップS8に戻り、
求めた距離データは、Lエリア21Lの測距データとし
てRAM14に格納される(ステップS8)。
【0037】次に、Cエリア21Cに対して距離算出を
行なう前に演算パラメータの設定を行なう(ステップS
9)。このCエリア21Cの測距エリアの大きさは、前
述したLエリア21Lと同等である。従って、パラメー
タelの値も同じとなる。この測距エリアは撮影エリア
21の中央部に位置するため、基準エリアAと参照エリ
アBの位置は、移動しなければならない。
【0038】そこで、パラメータaddl、addrが
変更される。まずCエリア21Cは、周辺の測距エリア
(Lエリア21L、Rエリア21R)に対して測距レン
ジを広げる必要がある。撮影エリア21の中央部は、ユ
ーザが撮影を意図する被写体が存在する確率が高い。従
って、測距レンジも周辺部の測距エリアに対して広いこ
とが望ましい。
【0039】そこで、パラメータSmax は、設定した値
の2倍が設定される。これは、図4(b)を参照するこ
とで設定されたパラメータとラインセンサの位置の関係
が明確となる。
【0040】このようなパラメータ設定が終了したなら
ば、サブルーチン”距離算出”に移行する(ステップS
10)。このサブルーチンは、図5に示した距離算出と
同様であり、ここでの説明は省略する。
【0041】そして算出された距離データをCエリア2
1Cの距離データとしてRAM14に格納される(ステ
ップS11)。次に、Rエリア21Rに対する距離算出
の前に演算に必要なパラメータの設定を行なう(ステッ
プS12)。Rエリア21Rのパラメータは、ステップ
S6で設定されたLエリア21Lのパラメータとほぼ同
等である。Rエリア21Rの位置に対応して、パラメー
タaddlとパラメータaddrが、Lエリア21Lと
は異なる値が設定される。図4(c)を参照することで
設定されたパラメータとラインセンサの位置の関係が明
確となる。
【0042】このようなパラメータ設定が終了したなら
ば、サブルーチン”距離算出”に移行する(ステップS
13)。このサブルーチンは、図5に示した距離算出と
同様であり、ここでの説明は省略する。
【0043】そして算出された距離データは、Rエリア
21Rの距離データとしてRAM14に格納される(ス
テップS14)。次に、RAM14に記憶された3つの
測距エリアの距離データより最適なものを選び出す(ス
テップS15)。
【0044】この選択の方法としては、様々なものがす
でに提案されており、これらの公知なもののうちいずれ
かを利用すればよく、本発明の要旨とは異なるためここ
での具体的な説明は省略する。
【0045】そして選択された距離データに基づき、撮
影レンズ6の移動量を算出し、レンズモータを駆動し
(ステップS16)、以降の通常動作、例えば、測光動
作を経て露光動作に移行する。
【0046】以上説明したように本実施形態は、ライン
センサ上で測距エリアのサンプリング範囲をずらしなが
ら相関演算を行い、それぞれの測距エリアに対する被写
体距離を求める。その際、通常の撮影では、被写体が撮
影エリアの中心に位置する場合が多い。従って、撮影エ
リアの中央以外(周辺部)に設定された測距エリアのサ
ンプリング範囲のシフト量は、撮影エリア中央に設定さ
れた測距エリアのシフト量よりも少なく設定する。
【0047】これにより、撮影エリアの中央以外の測距
エリアにおける演算回数を減らすことができ、演算時間
の短縮化を図ることができる。本実施形態では、3つの
測距エリアを設定し、いずれかの測距エリアに存在する
被写体がフィルム上にピントが合って結像される。尚、
本実施形態では、撮影エリア上に3つの測距エリアを設
定した説明したが、これに限定されず、測距エリアが増
加した場合でも対応することができる。
【0048】通常、設定する測距エリアが多いほど各測
距エリアの相関式の演算回数は増えることになる。従っ
て、撮影エリアの中央以外の測距エリアにおける演算回
数を減らすために、シフト数を減らすことは、演算時間
の短縮のために有効な対策である。
【0049】以上の実施形態について説明したが、本明
細書には以下のような発明も含まれている。 (1) 中央部と周辺部とを含む複数の測距エリアにつ
いて測距動作が可能な多点測距装置において、一対の受
光レンズを介して形成される一対の被写体像をそれぞれ
受光し、この一対の被写体像に相当する被写体像信号を
出力する一つの光電変換手段と、それぞれの測距エリア
に対応する上記光電変換手段からの被写体像信号を相対
的に移動させながら相関値を求める演算を行い、その結
果に基いて被写体距離を算出する演算手段と、周辺部の
測距エリアに対する上記演算上の移動量を、中央部の測
距エリアのそれよりも少なくするように上記演算手段を
制御する制御手段とを具備することを特徴とする多点測
距装置。 (2) 測距対象領域の中央部と周辺部とにそれぞれ配
された複数の測距エリアを有する位相差検出方式の多点
測距装置において、特定の測距エリアに対するシフト演
算範囲を、他の測距エリアに対するシフト演算範囲より
も大きく設定したことを特徴とする多点測距装置。 (3) 測距対象領域の中央部と周辺部とにそれぞれ配
された複数の測距エリアを有する位相差検出方式の多点
測距装置において、特定の測距エリアに対するデフォー
カス検出範囲を、他の測距エリアに対するデフォーカス
検出範囲よりも大きく設定したことを特徴とする多点測
距装置。
【0050】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、複
数の測距エリアに対して測距動作可能なパッシブ位相差
方式のカメラシステムにおいて、測距動作の時間短縮の
ために、シフト演算方式を改善した多点測距装置を提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による多点測距装置に係る実施形態の構
成例を示す図である。
【図2】測距センサにおける測距エリアとラインセンサ
上の結像位置の関係を示す図である。
【図3】被写体までの距離の算出について説明するため
のメインルーチンのフローチャートである。
【図4】各パラメータによるラインセンサ上の測距エリ
アの位置関係について説明するための図である。
【図5】図3において、距離算出について説明するため
のサブルーチンのフローチャートである。
【図6】相関式におけるシフト数とシフト量の関係の一
例を示す図である。
【符号の説明】
1…マイクロコンピュータ 2…被写体 3…測距センサ 4…インターフェイス回路 5…EEPROM 6…撮影レンズ 7…レンズモータ 8…モータ駆動回路 9…位置エンコーダ 11a,11b…セパレータレンズ 12…ラインセンサ 12a…Lセンサ 12b…Rセンサ 13…A/D変換器 14…RAM

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測距対象領域の中央部と周辺部とにそれ
    ぞれ配された複数の測距エリアを有し、対の結像レンズ
    により結像された対の被写体像相互の間隔を検出して、
    上記測距エリア内の被写体までの距離をそれぞれ求める
    多点測距装置であって、 上記対の被写体像相互の間隔を検出するための相関演算
    におけるずらし演算範囲が、上記中央部と周辺部とで異
    なることを特徴とする多点測距装置。
  2. 【請求項2】 上記相関演算におけるずらし演算範囲
    が、上記周辺部の方が中央部よりも狭く設定されている
    ことを特徴とする請求項1記載の多点測距装置。
  3. 【請求項3】 測距対象領域の中央部と周辺部とにそれ
    ぞれ配された複数の測距エリアを有し、少なくとも一対
    の受光レンズを介して形成される複数の被写体像の入射
    位置に基いて、それぞれの測距エリアに対する被写体距
    離を求める多点測距装置であって、 上記形成される複数の被写体像をそれぞれ受光してそれ
    ぞれの被写体像信号を出力する光電変換手段と、 上記複数の被写体像信号のうち、上記複数の測距エリア
    に対応する対の信号について、相互のサンプリング範囲
    をずらしながら相関演算を行い、それぞれの測距エリア
    に対する被写体距離を求める演算手段と、を備え、 上記周辺部の測距エリアに対する上記演算手段における
    相互のサンプリング範囲のずらし量が、上記中央部の測
    距エリアに対するずらし量よりも少なく設定されている
    ことを特徴とする多点測距装置。
JP26020098A 1998-09-14 1998-09-14 多点測距装置 Withdrawn JP2000089098A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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