JP2000076678A - Optical pickup device - Google Patents
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Landscapes
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、記録再生媒体への
情報記録または記録再生媒体から情報再生を行う光ピッ
クアップ装置に関し、特に、記録再生媒体の記録再生面
の傾きを検出することができる光ピックアップ装置に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup device for recording information on a recording / reproducing medium or reproducing information from the recording / reproducing medium, and more particularly, to an optical pickup device capable of detecting an inclination of a recording / reproducing surface of the recording / reproducing medium. It relates to a pickup device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、CD(コンパクトディスク)やD
VD(デジタルバーサタイルディスク)等に代表される
光ディスクに対して情報を記録又は再生する記録再生装
置では、光ディスクの透明基板に対して光ピックアップ
装置の光軸を垂直に保つようにチルトサーボを行い、こ
れにより、透明基板を通して記録再生面に集光されるス
ポット光に収差が発生するのを防止するようにしてい
る。2. Description of the Related Art Conventionally, CDs (Compact Discs) and D
2. Description of the Related Art In a recording / reproducing apparatus that records or reproduces information on an optical disk represented by a VD (digital versatile disk) or the like, tilt servo is performed so that the optical axis of the optical pickup device is perpendicular to a transparent substrate of the optical disk. This prevents the spot light focused on the recording / reproducing surface through the transparent substrate from causing aberration.
【0003】例えば、光ディスクの製造工程で記録再生
面を覆う透明基板に反りが発生し、この反りに起因して
記録再生面が光ピックアップ装置の光軸に対して傾くよ
うな事態が生じると、スポット光が透明基板に斜め入射
することで収差が発生して、光ピックアップ装置の伝達
関数(OTF)が劣化することとなる。このような事態
を回避するためにチルトサーボが行われている。For example, if a warp occurs in a transparent substrate covering a recording / reproducing surface in a manufacturing process of an optical disc and the warping causes the recording / reproducing surface to be inclined with respect to the optical axis of an optical pickup device, When the spot light is obliquely incident on the transparent substrate, aberration occurs, and the transfer function (OTF) of the optical pickup device is deteriorated. In order to avoid such a situation, a tilt servo is performed.
【0004】この従来のチルトサーボでは、光ディスク
に検出光を照射する発光ダイオード(LED)と、光デ
ィスクからの反射光を受光する受光素子とを光ピックア
ップ装置のマウントに設け、反射光のバランスのずれか
ら記録再生面の半径方向(ラジアル方向)における傾き
量を検出し、この検出結果に基づいて、光ピックアップ
装置全体をラジアル方向に角度調節することで、光ピッ
クアップ装置の光軸を光ディスクの記録再生面に対して
垂直に保つようにしている。In this conventional tilt servo, a light emitting diode (LED) for irradiating a detection light to an optical disk and a light receiving element for receiving a reflection light from the optical disk are provided on a mount of an optical pickup device, and a balance of the reflection light is adjusted. The amount of tilt of the recording / reproducing surface in the radial direction (radial direction) is detected, and based on the detection result, the angle of the entire optical pickup device is adjusted in the radial direction, so that the optical axis of the optical pickup device is adjusted to the recording / reproducing surface of the optical disk. To keep it vertical.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、情報量の増
大に伴い、光ディスクの記録密度の向上が求められてお
り、これを実現するために、光ピックアップ装置に設け
られている対物レンズの開口数を拡大して、より小径の
スポット光を光ディスクの記録再生面に集光させること
が考えられている。By the way, as the amount of information increases, the recording density of an optical disk is required to be improved. To realize this, the numerical aperture of an objective lens provided in an optical pickup device is required. It is considered that spot light having a smaller diameter is focused on the recording / reproducing surface of the optical disk.
【0006】このように対物レンズの開口数を拡大する
と、光ピックアップ装置の光軸と光ディスクの傾き(ス
キュー)に対する許容度が小さくなるため、極めて高精
度のチルトサーボが必要である。When the numerical aperture of the objective lens is increased in this way, the tolerance for the tilt (skew) between the optical axis of the optical pickup device and the optical disk is reduced, so that an extremely high-precision tilt servo is required.
【0007】しかし、上記従来のチルトサーボでは、光
ディスクのラジアル方向の傾きだけを検出しており、光
ディスクの時間軸方向(周方向)の傾きについては考慮
されていないため、スキューを確実に補償することが困
難であった。However, in the above-described conventional tilt servo, only the radial tilt of the optical disk is detected, and the time axis (circumferential) tilt of the optical disk is not taken into consideration. Was difficult.
【0008】更に、従来のチルトサーボでは、記録再生
面にスポット光を集光させるための光学系とは別個に、
上記の発光ダイオードと受光素子を設け、記録再生面に
対するスポット光の集光位置から離間した位置に検出光
を照射することによって、ラジアル方向の傾きを検出し
ている。したがって、実際に記録再生すべき位置におけ
るラジアル方向と時間軸方向の傾きを同時に検出してい
ないため、スキューを確実に補償することが困難であ
り、高密度記録を実現し且つ高密度記録された情報を高
精度で再生するためには、スキューに対する許容度を十
分確保することができないという問題があった。Further, in the conventional tilt servo, separately from an optical system for condensing a spot light on a recording / reproducing surface,
The light emitting diode and the light receiving element described above are provided, and the detection light is applied to a position distant from the condensing position of the spot light on the recording / reproducing surface, thereby detecting a radial inclination. Therefore, since the inclination in the radial direction and the time axis direction at the position where recording and reproduction are to be actually performed are not detected at the same time, it is difficult to reliably compensate for the skew, realizing high-density recording and achieving high-density recording. In order to reproduce information with high accuracy, there is a problem that the tolerance for skew cannot be sufficiently secured.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は上記従来の課題
を克服するためになされたものであり、透明基板と記録
再生面を有する記録再生媒体に、記録又は再生のための
光を照射する光ピックアップ装置であって、上記光を射
出する光源と、上記光源からの射出光を上記記録再生面
と上記透明基板に照射させる集光手段と、上記透明基板
の表面からの戻り光を受光する光検出手段と、上記透明
基板の表面からの戻り光により上記光検出器から出力さ
れる受光出力に基づいて上記記録再生媒体の傾き情報を
抽出する信号処理手段とを備える構成とした。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to overcome the above-mentioned conventional problems, and irradiates a recording / reproducing medium having a transparent substrate and a recording / reproducing surface with light for recording or reproduction. An optical pickup device, comprising: a light source that emits the light; a condensing unit that irradiates the light emitted from the light source to the recording / reproducing surface and the transparent substrate; and a return light from a surface of the transparent substrate. A light detecting means and a signal processing means for extracting inclination information of the recording / reproducing medium based on a light receiving output outputted from the light detector by return light from the surface of the transparent substrate.
【0010】かかる構成によれば、本光ピックアップ装
置の光軸に対して記録再生媒体が傾くと、集光手段から
透明基板の表面に照射される光が、この透明基板の表面
の傾きに応じて反射されて戻り光となる。この戻り光を
光検出手段で検出することにより、透明基板の表面の傾
きの情報を有する受光出力が生成される。そして、信号
処理手段が受光出力を信号処理することにより、記録再
生媒体の傾き情報を抽出する。According to this configuration, when the recording / reproducing medium is tilted with respect to the optical axis of the optical pickup device, the light emitted from the light condensing means to the surface of the transparent substrate responds to the inclination of the surface of the transparent substrate. Is reflected and becomes return light. By detecting the return light by the light detecting means, a light receiving output having information on the inclination of the surface of the transparent substrate is generated. Then, the signal processing means performs signal processing on the received light output to extract tilt information of the recording / reproducing medium.
【0011】また、透明基板と記録再生面を有する記録
再生媒体に、記録又は再生のための光を照射する光ピッ
クアップ装置であって、上記光を射出する光源と、上記
光源からの射出光を上記記録再生面と上記透明基板に照
射させる集光手段と、上記記録再生面と上記透明基板の
表面からの戻り光を受光する光検出手段と、上記記録再
生面からの戻り光により上記光検出器から出力される受
光出力に基づいて第1の信号を生成する第1の信号生成
手段と、上記透明基板の表面からの戻り光により上記光
検出器から出力される受光出力に基づいて第2の信号を
生成する第2の信号生成手段と、上記第1,第2の信号
を比較することにより、上記記録再生媒体の傾き情報を
抽出する信号処理手段とを備える構成とした。An optical pickup device for irradiating a recording / reproducing medium having a transparent substrate and a recording / reproducing surface with light for recording or reproduction, comprising: a light source for emitting the light; and a light emitted from the light source. Focusing means for irradiating the recording / reproducing surface and the transparent substrate; light detecting means for receiving return light from the recording / reproducing surface and the surface of the transparent substrate; and detecting the light by returning light from the recording / reproducing surface. First signal generation means for generating a first signal based on a light reception output output from the detector, and a second signal generation means based on a light reception output output from the photodetector by return light from the surface of the transparent substrate. And a signal processing means for extracting the inclination information of the recording / reproducing medium by comparing the first and second signals.
【0012】かかる構成によれば、本光ピックアップ装
置の光軸に対して記録再生媒体が傾くと、集光手段から
透明基板の表面に照射される光が、この透明基板の表面
の傾きに応じて反射されて戻り光となる。更に、集光手
段から記録再生面に照射される光が、この記録再生面で
反射又は回折されて戻り光となる。更に、これらの戻り
光は、ほぼ同じ領域からの光となる。これら記録再生媒
体の傾きの情報を有する戻り光を光検出手段で検出する
ことにより、記録再生面からの戻り光に対応する受光出
力に基づいて第1の信号が生成されると共に、透明基板
の表面からの戻り光に対応する受光出力に基づいて第2
の信号が生成される。そして、信号処理手段がこれら第
1,第2の信号を比較することで、記録再生媒体の傾き
情報を抽出する。According to this configuration, when the recording / reproducing medium is tilted with respect to the optical axis of the optical pickup device, the light emitted from the light condensing means to the surface of the transparent substrate responds to the inclination of the surface of the transparent substrate. Is reflected and becomes return light. Further, the light emitted from the light condensing means to the recording / reproducing surface is reflected or diffracted by the recording / reproducing surface to become return light. Further, these return lights are light from substantially the same area. By detecting the return light having the information of the inclination of the recording / reproducing medium by the light detecting means, the first signal is generated based on the light receiving output corresponding to the return light from the recording / reproducing surface, The second based on the light receiving output corresponding to the returning light from the surface
Is generated. Then, the signal processing means compares the first and second signals to extract the inclination information of the recording / reproducing medium.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。 (第1の実施の形態)図1乃至図9を参照して第1の実
施形態の光ピックアップ装置を説明する。図1は、本光
ピックアップ装置1に備えられた光学系の構成を示す構
成図である。同図において、光ピックアップ装置1は、
光源である半導体レーザ2と、ビームスプリッタ3と、
ビームスプリッタ3の前方に配置されたコリメータレン
ズ4及び集光手段としての対物レンズ5と、ビームスプ
リッタ3の後方に配置されたホログラム素子6及び光検
出器7とを備えて構成され、これらの各光学要素2〜7
は光軸合わせが成されている。そして、硬質保護層8と
透明基板9間に記録再生面10を挟んだ構造を有する光
ディスク11が、透明基板9を対物レンズ5の前面に向
けて配設されるようになっている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) An optical pickup device according to a first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of an optical system provided in the present optical pickup device 1. In the figure, an optical pickup device 1 is
A semiconductor laser 2 as a light source, a beam splitter 3,
A collimator lens 4 disposed in front of the beam splitter 3 and an objective lens 5 as a condensing means, and a hologram element 6 and a photodetector 7 disposed behind the beam splitter 3 are provided. Optical elements 2 to 7
Are aligned with the optical axis. An optical disk 11 having a structure in which a recording / reproducing surface 10 is sandwiched between a hard protective layer 8 and a transparent substrate 9 is arranged with the transparent substrate 9 facing the front surface of the objective lens 5.
【0014】かかる構成において、半導体レーザ2から
所定波長の光が射出されると、この光をビームスプリッ
タ3がコリメータレンズ4側に反射する。この反射され
た光をコリメータレンズ4が平行光にして対物レンズ5
側に射出し、更に平行光を対物レンズ5が集光して光デ
ィスク11側に照射する。また、対物レンズ5で照射さ
れる光が記録再生面10で反射又は回折されることによ
って生じる光(以下、第1の戻り光という)と、光ディ
スク11の透明基板9の表面(以下、基板表面という)
9aで反射される光(以下、第2の戻り光という)とを
対物レンズ5が集光し、コリメータレンズ4を介してビ
ームスプリッタ3側に射出する。これらの戻り光をビー
ムスプリッタ3がホログラム素子6側へ透過し、更に、
ホログラム素子6がビームスプリッタ3からの戻り光を
回折することによって0次光h0と高次光h1に分割し、
0次光h0を光検出器7に設けられている第1の受光領
域12に、高次光h1を光検出器7に設けられている第
2の受光領域13にそれぞれ照射する。In this configuration, when light of a predetermined wavelength is emitted from the semiconductor laser 2, the light is reflected by the beam splitter 3 toward the collimator lens 4. The reflected light is converted into parallel light by the collimator lens 4 and the objective lens 5
Then, the objective lens 5 converges the parallel light and irradiates it to the optical disk 11 side. Further, light (hereinafter, referred to as first return light) generated by the light irradiated by the objective lens 5 being reflected or diffracted by the recording / reproducing surface 10 and the surface of the transparent substrate 9 of the optical disk 11 (hereinafter, referred to as substrate surface). That)
The light reflected by 9 a (hereinafter, referred to as second return light) is condensed by the objective lens 5, and emitted to the beam splitter 3 side via the collimator lens 4. The beam splitter 3 transmits these return lights to the hologram element 6 side.
The hologram element 6 diffracts the return light from the beam splitter 3 to split it into a zero-order light h 0 and a high-order light h 1 ,
The zero-order light h 0 is radiated to the first light receiving region 12 provided in the photodetector 7, and the high-order light h 1 is radiated to the second light receiving region 13 provided in the photodetector 7.
【0015】ここで、対物レンズ5は、図2に示すよう
な縦断面構造を有している。すなわち、対物レンズ5の
前面は、曲率の小さな輪帯状の周辺部(以下、第1の領
域という)AR1と、第1の領域に較べて曲率の大きな
中央部(以下、第2の領域という)AR2との2つの領
域を備えて成形されている。これにより、第1の領域A
R1の焦点距離に較べて第2の領域AR2の焦点距離が
短くなっている。Here, the objective lens 5 has a longitudinal sectional structure as shown in FIG. In other words, the front surface of the objective lens 5 has a ring-shaped peripheral portion (hereinafter, referred to as a first region) AR1 having a small curvature and a central portion (hereinafter, referred to as a second region) having a larger curvature than the first region. Molded with two regions with AR2. Thereby, the first area A
The focal length of the second area AR2 is shorter than the focal length of R1.
【0016】更に、第1の領域AR1の焦点位置に光デ
ィスク11の記録再生面10を一致させると、第2の領
域AR2の焦点位置が基板表面9aの外側となって基板
表面9aにその焦点位置から外れた拡散パターン光が照
射されるように、予め第1,第2の領域AR1,AR2
の各曲率が設定されている。Further, when the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 is made to coincide with the focal position of the first area AR1, the focal position of the second area AR2 is outside the substrate surface 9a, and the focal position is placed on the substrate surface 9a. The first and second regions AR1 and AR2 are set in advance so that diffusion pattern light deviating from
Are set.
【0017】かかる構造の対物レンズ5によると、コリ
メータレンズ4からの平行光のうち、第1の領域AR1
の輪帯開口によって集光される光は、光ディスク11の
透明基板9を通って記録再生面10に微小なスポットを
結び、更に、記録再生面10で反射又は回折される光
(第1の戻り光)が、再び第1の領域AR1で集光され
て光検出器7側へ射出される。According to the objective lens 5 having such a structure, of the parallel light from the collimator lens 4, the first area AR1
The light condensed by the orifice opening of the optical disk 11 passes through the transparent substrate 9 of the optical disk 11 to form a minute spot on the recording / reproducing surface 10, and is further reflected or diffracted by the recording / reproducing surface 10 (first return). (Light) is again condensed in the first area AR1 and emitted to the photodetector 7 side.
【0018】一方、上記平行光のうち、第2の領域AR
2で集光される光は、図中の点線で示すように、光ディ
スク11の基板表面9aに比較的大きなパターンとして
照射され、更に、基板表面9aで反射される光(第2の
戻り光)が、再び第2の領域AR2で集光されて光検出
器7側へ射出される。On the other hand, of the parallel light, the second area AR
The light condensed at 2 is applied to the substrate surface 9a of the optical disk 11 as a relatively large pattern as shown by a dotted line in the figure, and further reflected at the substrate surface 9a (second return light). Is condensed again in the second area AR2 and emitted to the photodetector 7 side.
【0019】尚、第2の領域AR2を通り基板表面9a
に照射される光の一部が、透明基板9を透過して記録再
生面10に到達することとなるが、この光はエネルギー
密度の低い拡散パターン光となるため、記録再生面10
での情報記録又は情報再生に悪影響を及ぼすことはな
い。The substrate surface 9a passes through the second area AR2.
A part of the light applied to the recording / reproducing surface 10 is transmitted through the transparent substrate 9 and reaches the recording / reproducing surface 10.
There is no adverse effect on the information recording or information reproduction in the computer.
【0020】更に、第1の領域AR1で集光される光に
は第2の領域AR2が寄与しないので、上記の輪帯開口
のみで集光される微小なスポット形状の光が記録再生面
10に入射する。したがって、このスポット形状の光が
記録再生面10で反射又は回折されることで生じる第1
の戻り光を、いわゆるプッシュプル法等で解析処理する
ことによりトラッキングサーボを行ったり、いわゆるフ
ーコー法や非点収差法等で解析処理することによりフォ
ーカスサーボを行うことが可能となっている。また、第
1の戻り光を光電気変換素子(図示略)で検出すること
により、記録再生面10に記録されている情報を再生す
ることができる。Further, since the second area AR2 does not contribute to the light condensed in the first area AR1, the minute spot-shaped light condensed only at the above-mentioned orifice opening is recorded and reproduced. Incident on. Therefore, the first light generated when the light having the spot shape is reflected or diffracted by the recording / reproducing surface 10 is used.
It is possible to perform tracking servo by analyzing the return light of the so-called push-pull method or the like, or perform focus servo by analyzing the return light by the so-called Foucault method or astigmatism method. Further, the information recorded on the recording / reproducing surface 10 can be reproduced by detecting the first return light with a photoelectric conversion element (not shown).
【0021】次に、ホログラム素子6の構造を図3に基
づいて説明する。ホログラム素子6は、同図に示すよう
な環状の回折パターンが形成されている。これにより、
ビームスプリッタ3を透過してくる上記第1,第2の戻
り光のうち、0次光h0を光検出器7に設けられている
第1の受光領域12にそのまま照射し、一方、高次光h
1については、あたかも凸レンズの光軸からずれた周辺
面で周辺光線を屈折させるのと同等な回折効果を与える
ことで、光検出器7に設けられている第2の受光領域1
3に照射する。Next, the structure of the hologram element 6 will be described with reference to FIG. The hologram element 6 has an annular diffraction pattern as shown in FIG. This allows
The first coming through the beam splitter 3, of the second returning light, as it is irradiated with 0 order light h 0 by the first light receiving region 12 provided on the optical detector 7, whereas, the higher-order beam h
Regarding 1 , the second light receiving area 1 provided in the photodetector 7 is provided by giving a diffraction effect equivalent to refracting a peripheral ray on a peripheral surface shifted from the optical axis of the convex lens.
Irradiate 3
【0022】光検出器7は、第1,第2の受光領域1
2,13が一体化されたOEIC等で構成されている。
第1の受光領域12は、図4に示すように、互いに同一
形状の受光面から成る4個ずつの受光エレメントa〜d
で構成されており、更に、図2に示した記録再生面10
に対してフォーカシングされた状態のときに、第1の戻
り光の0次光成分h0が所定の大きさで入射するように
位置決めされている。The photodetector 7 includes the first and second light receiving areas 1
2 and 13 are configured by an integrated OEIC or the like.
As shown in FIG. 4, the first light receiving region 12 includes four light receiving elements a to d each having light receiving surfaces having the same shape.
And the recording / reproducing surface 10 shown in FIG.
When the focusing state, the zero-order light component h 0 of the first return beam is positioned to be incident at a predetermined size with respect.
【0023】第2の受光領域13も同様に、互いに同一
形状の受光面から成る4個ずつの受光エレメントe〜h
で形成されており、上記のフォーカシング状態のとき
に、第2の戻り光の高次光成分h1が所定の大きさで入
射するように位置決めされている。Similarly, the second light receiving area 13 has four light receiving elements e to h each having light receiving surfaces of the same shape.
In which is formed, when the focusing state, high-order light component h 1 of the second return beam is positioned to be incident at a predetermined size.
【0024】これらの受光エレメントa〜hには、差動
増幅器18〜23と増幅器24,25で構成された信号
処理回路が接続されている。差動増幅器18〜21は、
受光エレメントa〜hで光電変換された信号(以下、光
電変換信号という)Sa〜Shについて、次式(1)〜
(4)で表される演算処理をすることにより、図中に示
す各演算信号Rdc,Tba,Rhg,Tfeを生成する。A signal processing circuit composed of differential amplifiers 18 to 23 and amplifiers 24 and 25 is connected to these light receiving elements a to h. The differential amplifiers 18 to 21
For signals Sa to Sh photoelectrically converted by the light receiving elements a to h (hereinafter referred to as photoelectric conversion signals), the following equations (1) to (1) are used.
By performing the calculation process represented by (4), the respective calculation signals Rdc, Tba, Rhg, and Tfe shown in the figure are generated.
【0025】 Rdc=Sd−Sc …(1) Tba=Sb−Sa …(2) Rhg=Sh−Sg …(3) Tfe=Sf−Se …(4) 増幅器24,25は、それぞれ予め所定の増幅率α,β
に設定されており、次式(5),(6)で表される演算
処理をすることにより、演算信号αRdc,βTbaを生成
する。 αRdc=α×Rdc …(5) βTba=β×Tba …(6) 差動増幅器22,23は、演算信号αRdc,βTba,R
hg,Tfeについて、次式(7),(8)で表される演算
処理をすることにより、光ディスク11のラジアル方向
の傾き量を示す第1の信号(以下、第1の誤差検出信号
という)REと、光ディスク11の時間軸方向の傾き量
を示す第2の信号(以下、第2の誤差検出信号という)
TEを生成する。 RE=Rhg−αRdc …(7) TE=Tfe−βTba …(8) 次に、第1の誤差検出信号REと第2の誤差検出信号T
Eにより、光ディスク11のラジアル方向と時間軸方向
の傾き量が得られる原理について、図4〜図9を参照し
て説明する。Rdc = Sd-Sc (1) Tba = Sb-Sa (2) Rhg = Sh-Sg (3) Tfe = Sf-Se (4) The amplifiers 24 and 25 are each a predetermined amplifier. Rate α, β
The calculation signals αRdc and βTba are generated by performing calculation processing represented by the following equations (5) and (6). αRdc = α × Rdc (5) βTba = β × Tba (6) The differential amplifiers 22, 23 calculate the operation signals αRdc, βTba, R
The first signal indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the radial direction (hereinafter, referred to as a first error detection signal) is obtained by performing arithmetic processing represented by the following equations (7) and (8) on hg and Tfe. RE and a second signal indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the time axis direction (hereinafter, referred to as a second error detection signal)
Generate TE. RE = Rhg−αRdc (7) TE = Tfe−βTba (8) Next, the first error detection signal RE and the second error detection signal T
The principle of obtaining the amount of tilt of the optical disc 11 in the radial direction and the time axis direction by E will be described with reference to FIGS.
【0026】図5は、光ディスク11の記録再生面10
に対して光ピックアップ装置1の光軸がラジアル方向及
び時間軸方向の両方向において傾いていない状態で、ト
ラッキングアクチュエータの駆動により光ピックアップ
装置1をラジアル方向に移動させたときに、第1,第2
の受光領域12,13に照射される0次光成分h0と高
次光成分h1のパターン変化を示している。FIG. 5 shows the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11.
When the optical pickup device 1 is moved in the radial direction by driving the tracking actuator in a state where the optical axis of the optical pickup device 1 is not tilted in both the radial direction and the time axis direction,
Shows a pattern change in the zero-order light component h 0 irradiated to the light receiving regions 12 and 13 high-order light component h 1.
【0027】かかる状態で、対物レンズ5の第1の領域
AR1で生成されるスポット光が記録再生面10のトラ
ック上に照射され、且つ第2の領域AR2で生成される
パターン光が基板表面9aに照射された場合は、図5
(b)に示すように、前記第1の戻り光による第1のパ
ターンP1が第1の受光領域12の中央に入射し、且つ
前記第2の戻り光による第2のパターンP2が第2の受
光領域13の中央に入射する。In this state, the spot light generated in the first area AR1 of the objective lens 5 irradiates the track on the recording / reproducing surface 10 and the pattern light generated in the second area AR2 is applied to the substrate surface 9a. Fig. 5
As shown in (b), the first pattern P1 due to the first return light is incident on the center of the first light receiving area 12, and the second pattern P2 due to the second return light is the second pattern. The light enters the center of the light receiving area 13.
【0028】また、図5(b)の状態から対物レンズ5
を光ディスクの中心軸側(リードイン側)へ移動させる
と、図5(a)に示すように、第1,第2のパターンP
1,P2は共に第1,第2の受光領域12,13の左側
に変位する。Also, from the state of FIG.
Is moved to the center axis side (lead-in side) of the optical disk, as shown in FIG.
1 and P2 are both displaced to the left of the first and second light receiving regions 12 and 13.
【0029】また、図5(b)の状態から対物レンズ5
を光ディスクのラジアル方向外側(リードアウト側)へ
移動させると、図5(c)に示すように、第1,第2の
パターンP1,P2は共に第1,第2の受光領域12,
13の右側に変位する。Also, from the state of FIG.
Is moved radially outward (lead-out side) of the optical disk, as shown in FIG. 5C, the first and second patterns P1 and P2 are both the first and second light receiving regions 12,
13 to the right.
【0030】このような第1,第2のパターンP1,P
2の変位に伴って、図4の差動増幅器18,20から出
力される演算信号Rdc,Rhgの出力レベルの変化をプロ
ットすると、図6に示すように、図5(b)の状態を原
点“0”としてほぼ対称な特性曲線が得られる。The first and second patterns P1, P
When the changes in the output levels of the operation signals Rdc and Rhg output from the differential amplifiers 18 and 20 in FIG. 4 are plotted with the displacement of FIG. 2, the state shown in FIG. An almost symmetrical characteristic curve is obtained as "0".
【0031】ここで、増幅器24の増幅率αは、予め演
算信号Rdc,Rhgの出力レベルの比(Rhg/Rdc)と等
しくなるように設定されているため、差動増幅器22か
ら出力される第1の誤差検出信号REの出力レベルは常
にほぼ0になる。Here, the amplification factor α of the amplifier 24 is set in advance to be equal to the ratio (Rhg / Rdc) of the output levels of the operation signals Rdc and Rhg. The output level of the 1 error detection signal RE is almost always 0.
【0032】このように、光ディスク11の記録再生面
10に対して光ピックアップ装置1の光軸が傾いていな
い状態で得られる第1の誤差検出信号REが常にほぼ0
になるように、増幅器24の増幅率αを予め設定してお
き、第1の誤差検出信号REの出力レベルを所定のしき
い値(スキューを許容できる値)Vthと比較することに
より、スキューが発生していない場合を検出することが
できるようになっている。As described above, the first error detection signal RE obtained when the optical axis of the optical pickup device 1 is not inclined with respect to the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 is almost zero.
The amplification factor α of the amplifier 24 is set in advance so that the output level of the first error detection signal RE is compared with a predetermined threshold value (a value that allows skew) Vth. It is possible to detect the case where no error has occurred.
【0033】次に、図7は、図5(b)の状態から光デ
ィスク11をラジアル方向に傾けた場合に、第1,第2
のパターンP1,P2が変化する様子を示している。
尚、図7(b)は図5(b)と同じ状態、すなわち、ス
キューが発生していない場合を示している。FIG. 7 shows first and second optical disks 11 when the optical disk 11 is tilted in the radial direction from the state shown in FIG.
Shows how the patterns P1 and P2 change.
FIG. 7B shows the same state as FIG. 5B, that is, the case where no skew has occurred.
【0034】光ディスク11の記録再生面10が、図8
(a)に示すようにラジアル方向においてリードイン側
に傾くと、図7(a)に示すように、記録再生面9上の
スポット光が焦点を結んでいるため、第1のパターンP
1は殆ど変位しない。The recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 is
As shown in FIG. 7A, when the light is inclined toward the lead-in side in the radial direction, the spot light on the recording / reproducing surface 9 is focused as shown in FIG.
1 hardly displaces.
【0035】一方、第2のパターンP2は、基板表面9
a上に照射されるパターン光が焦点位置になく、且つ基
板表面9aの傾きによってその第2の戻り光の光路が光
軸から大きく偏移されることとなるため、受光エレメン
トh側に変位する。On the other hand, the second pattern P2 is
Since the pattern light irradiated on the light receiving element a is not at the focal position and the optical path of the second return light is largely shifted from the optical axis by the inclination of the substrate surface 9a, the light is displaced toward the light receiving element h. .
【0036】また、光ディスク11の記録再生面10
が、図8(b)に示すように、ラジアル方向においてリ
ードアウト側に傾くと、図7(c)に示すように、記録
再生面9上のスポット光が焦点を結んでいるため、第1
のパターンP1は殆ど変位しない。一方、第2のパター
ンP2は、基板表面9aの傾きによってその第2の戻り
光の光路が光軸から大きく偏移されることとなるため、
受光エレメントg側に変位する。The recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11
However, as shown in FIG. 8 (b), when tilting toward the readout side in the radial direction, the spot light on the recording / reproducing surface 9 is focused as shown in FIG. 7 (c).
Pattern P1 hardly displaces. On the other hand, in the second pattern P2, the optical path of the second return light is largely shifted from the optical axis due to the inclination of the substrate surface 9a.
It is displaced to the light receiving element g side.
【0037】このように第1,第2のパターンP1,P
2が変位すると、それに伴って、差動増幅器18,20
から出力される演算信号Rdc,Rhgのそれぞれの出力レ
ベルが、図6と同様に変化することとなる。As described above, the first and second patterns P1, P
2, the differential amplifiers 18, 20
The output levels of the operation signals Rdc and Rhg output from are changed in the same manner as in FIG.
【0038】したがって、第1の誤差検出信号REの実
際の出力レベルを測定することにより、ラジアル方向に
おける記録再生面10の傾き量の他、リードイン側とリ
ードアウト側のいずれの向きに傾いているかの情報を抽
出することができる。Therefore, by measuring the actual output level of the first error detection signal RE, in addition to the amount of tilt of the recording / reproducing surface 10 in the radial direction, it can be tilted in either the lead-in side or the lead-out side. Information can be extracted.
【0039】次に、光ディスク11が時間軸方向に傾い
た場合の検出原理を説明する。光ディスク11の記録再
生面10に対して光ピックアップ装置1の光軸がラジア
ル方向及び時間軸方向の両方向において傾いていない状
態で、光ピックアップ装置1を時間軸方向に移動させる
と、図4中の差動増幅器19,21から出力される演算
信号Tba,Tfeの出力レベルは、図6に示した演算信号
Rdc,Rhgと同様に変化する。Next, the principle of detection when the optical disk 11 is tilted in the time axis direction will be described. When the optical pickup device 1 is moved in the time axis direction in a state where the optical axis of the optical pickup device 1 is not inclined in both the radial direction and the time axis direction with respect to the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11, The output levels of the operation signals Tba and Tfe output from the differential amplifiers 19 and 21 change similarly to the operation signals Rdc and Rhg shown in FIG.
【0040】そこで、増幅器25の増幅率βを、予め演
算信号Tba,Tfeの出力レベルの比(Tfe/Tba)と等
しくなるように設定することで、光ディスク11の記録
再生面10に対して光ピックアップ装置1の光軸が傾い
ていない状態で得られる第2の誤差検出信号TEが常に
ほぼ0になるようにしている。Therefore, by setting the gain β of the amplifier 25 to be equal to the ratio of the output levels of the operation signals Tba and Tfe (Tfe / Tba) in advance, the light from the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 is The second error detection signal TE obtained in a state where the optical axis of the pickup device 1 is not tilted is always substantially zero.
【0041】図9は、図5(b)の状態から光ディスク
11を時間軸方向に傾けた場合に、第1,第2のパター
ンP1,P2が変化する様子を示している。尚、図9
(b)は図5(b)と同じ状態、すなわち、スキューが
発生していない場合を示している。FIG. 9 shows how the first and second patterns P1 and P2 change when the optical disk 11 is tilted in the time axis direction from the state shown in FIG. 5B. Note that FIG.
FIG. 5B shows the same state as FIG. 5B, that is, the case where no skew has occurred.
【0042】光ディスク11が時間軸方向において反時
計回り方向に傾くと、記録再生面9上のスポット光が焦
点を結んでいるため、図9(a)に示すように、第1の
パターンP1は殆ど変位しない。一方、第2のパターン
P2は、基板表面9aの傾きによってその第2の戻り光
の光路が光軸から大きく偏位されることとなるため、受
光エレメントe側に変位する。When the optical disk 11 is tilted counterclockwise in the time axis direction, the spot light on the recording / reproducing surface 9 is focused, and as shown in FIG. Almost no displacement. On the other hand, the second pattern P2 is displaced toward the light receiving element e because the optical path of the second return light is largely deviated from the optical axis due to the inclination of the substrate surface 9a.
【0043】また、光ディスク11が時間軸方向におい
て時計回り方向に傾くと、記録再生面9上のスポット光
が焦点を結んでいるため、図9(c)に示すように、第
1のパターンP1は殆ど変位しない。一方、第2のパタ
ーンP2は、基板表面9aの傾きによってその第2の戻
り光の光路が光軸から大きく偏位されることとなるた
め、受光エレメントf側に変位する。When the optical disk 11 is tilted clockwise in the time axis direction, the spot light on the recording / reproducing surface 9 is focused, and as shown in FIG. Is hardly displaced. On the other hand, the second pattern P2 is displaced toward the light receiving element f because the optical path of the second return light is largely deviated from the optical axis due to the inclination of the substrate surface 9a.
【0044】このように第1,第2のパターンP1,P
2が変位すると、それに伴って、差動増幅器19,21
から出力される演算信号Tba,Tfeのそれぞれの出力レ
ベルが変化することとなる。As described above, the first and second patterns P1, P
2 is displaced, the differential amplifiers 19, 21
Respectively, the output levels of the operation signals Tba and Tfe output from the CPU change.
【0045】したがって、第2の誤差検出信号TEの実
際の出力レベルを測定することにより、時間軸方向にお
ける記録再生面10の傾き量の他、反時計回り方向と時
計回り方向のいずれの向きに傾いているかの情報を抽出
することができる。Therefore, by measuring the actual output level of the second error detection signal TE, in addition to the amount of tilt of the recording / reproducing surface 10 in the time axis direction, it can be set in either the counterclockwise direction or the clockwise direction. It is possible to extract information as to whether it is tilted.
【0046】このように、本実施形態によれば、第1,
第2の誤差検出信号RE,TEの出力レベルに基づい
て、光ディスク11のラジアル方向及び時間軸方向の傾
きを検出することができる。As described above, according to the present embodiment, the first,
Based on the output levels of the second error detection signals RE and TE, the inclination of the optical disk 11 in the radial direction and the time axis direction can be detected.
【0047】そして、第1の誤差検出信号REを用いて
ディスクチルト補正手段を駆動したり、光ディスク11
から情報再生を行う際のクロストークキャンセラ特性を
可変させる、記録時のパワー、ストラテジの制御等を行
うことができる。また、第2の誤差検出信号TEを用い
て記録信号に遅延を与えたり、時間軸チルト補正手段を
駆動することができる。これらの結果、高開口数の対物
レンズ5を用いても、光軸と光ディスク11との傾き
(スキュー)に対する許容度が向上し、高密度記録と、
高密度記録された情報を高精度で再生することが可能と
なる。Then, the disc tilt correcting means is driven by using the first error detection signal RE,
It is possible to control the power at the time of recording, the strategy, and the like to vary the crosstalk canceller characteristic when reproducing information from the writer. Further, it is possible to delay the recording signal by using the second error detection signal TE, or to drive the time axis tilt correction means. As a result, even when the objective lens 5 with a high numerical aperture is used, the tolerance for the inclination (skew) between the optical axis and the optical disk 11 is improved, and high-density recording and
It is possible to reproduce information recorded at high density with high accuracy.
【0048】また、1つの半導体レーザ2で、光量損失
を抑えて良好な記録再生を行うことができる。Further, good recording and reproduction can be performed with one semiconductor laser 2 while suppressing the loss of light quantity.
【0049】また、本実施形態の光ピックアップ装置
は、光ディスクに照射するスポット光やパターン光の照
射パワー、記録感度、透過基板の厚み、光ディスクの制
御範囲等に応じて、様々な設計態様を講じることができ
る構成及び機能を有しているため、様々な規格の光ディ
スクに適応可能である。The optical pickup device of the present embodiment employs various design modes in accordance with the irradiation power of spot light or pattern light irradiating the optical disk, the recording sensitivity, the thickness of the transmission substrate, the control range of the optical disk, and the like. Since it has a configuration and functions that can be used, it can be applied to optical discs of various standards.
【0050】尚、本実施の形態では、第1,第2の受光
領域12,13をそれぞれ4分割して、4個ずつの受光
エレメントa〜d,e〜hで構成する場合を説明した。
しかし、一般的な光ピックアップ装置のような場合、す
なわち、アクチュエータを時間軸方向に駆動しない場合
には、図4中の差動増幅器21で生成される演算信号T
feをそのまま時間軸方向の傾き検出信号として用いるこ
とができる。また、演算信号Tfeをそのまま時間軸方向
の傾き検出信号として用いる場合には、第1の受光領域
12をラジアル方向、すなわち、受光エレメントa,b
の配置方向に2分割して、2個の受光エレメントを設け
るだけでよい。In this embodiment, a case has been described in which the first and second light receiving regions 12 and 13 are each divided into four and constituted by four light receiving elements a to d and e to h.
However, in the case of a general optical pickup device, that is, when the actuator is not driven in the time axis direction, the operation signal T generated by the differential amplifier 21 in FIG.
fe can be used as it is as a tilt detection signal in the time axis direction. When the calculation signal Tfe is used as it is as the inclination detection signal in the time axis direction, the first light receiving region 12 is set in the radial direction, that is, the light receiving elements a and b.
It is only necessary to provide two light receiving elements by dividing into two in the arrangement direction.
【0051】(第2の実施の形態)次に、本発明の第2
の実施形態を図10を参照して説明する。尚、本実施形
態の光ピックアップ装置は、図1〜図9を参照して説明
した第1の実施形態と同様の構成を有している。但し、
図1及び図2に示した対物レンズ5に代えて、図10の
縦断面図にて示す対物レンズ5’が設けられている。(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described.
Will be described with reference to FIG. Note that the optical pickup device of the present embodiment has a configuration similar to that of the first embodiment described with reference to FIGS. However,
Instead of the objective lens 5 shown in FIGS. 1 and 2, an objective lens 5 'shown in a longitudinal sectional view of FIG. 10 is provided.
【0052】図10において、対物レンズ5’の前面
は、曲率の小さな輪帯状の周辺部(第1の領域)AR
1’と、第1の領域に較べて曲率の大きな中央部(第2
の領域)AR2’との2つの領域を備えて成形されてい
る。In FIG. 10, the front surface of the objective lens 5 'is formed in an annular peripheral portion (first region) AR having a small curvature.
1 ′ and a central portion (second portion) having a larger curvature than the first region.
Area) AR2 '.
【0053】ここで、第1の領域AR1を通って光ディ
スク11に入射する光のうち、基板表面9aで反射され
る光(第2の戻り光)を、第2の領域AR2で集光して
光検出器7側へ射出させる構造となっている。更に、第
1の領域AR1を通って光ディスク11に入射する光の
うち、透明基板9を透過し記録再生面10で反射又は回
折される光(第1の戻り光)を、再び第1の領域AR1
で集光して光検出器7側へ射出させる構造となってい
る。第2の領域AR2’を通って光ディスク11側へ入
射する光は架空点上に集光し、この光が基板表面9aで
の反射によって生じる戻り光は、光検出器7側へ射出し
ないように設定されている。Here, of the light incident on the optical disk 11 through the first area AR1, the light reflected on the substrate surface 9a (second return light) is collected by the second area AR2. The light is emitted to the photodetector 7 side. Further, of the light incident on the optical disk 11 through the first area AR1, the light transmitted through the transparent substrate 9 and reflected or diffracted by the recording / reproducing surface 10 (first return light) is again transmitted to the first area AR. AR1
And is emitted to the photodetector 7 side. Light incident on the optical disk 11 side through the second area AR2 'is condensed on an imaginary point, and return light generated by the reflection on the substrate surface 9a is not emitted to the photodetector 7 side. Is set.
【0054】かかる構造の対物レンズ5’によると、第
1の領域AR1’で集光される光には第2の領域AR
2’が寄与しないため、上記の輪帯開口のみで集光され
る微小なスポット形状の光が記録再生面10に入射す
る。したがって、このスポット形状の光が記録再生面1
0で反射又は回折されることで生じる第1の戻り光を、
いわゆるプッシュプル法等で解析処理することによりト
ラッキングサーボを行ったり、いわゆるフーコー法や非
点収差法等で解析処理することによりフォーカスサーボ
を行うことが可能となっている。また、第1の戻り光を
光電気変換素子(図示略)で検出することにより、記録
再生面10に記録されている情報を再生することができ
る。According to the objective lens 5 'having such a structure, the light condensed in the first area AR1' is not reflected on the second area AR.
Since 2 ′ does not contribute, the light having a minute spot shape condensed only at the annular zone aperture enters the recording / reproducing surface 10. Therefore, this spot-shaped light is applied to the recording / reproducing surface 1
The first return light generated by being reflected or diffracted at 0 is
Tracking servo can be performed by performing analysis processing by a so-called push-pull method or the like, and focus servo can be performed by performing analysis processing by a so-called Foucault method or astigmatism method. Further, the information recorded on the recording / reproducing surface 10 can be reproduced by detecting the first return light with a photoelectric conversion element (not shown).
【0055】更に、第1の実施形態と同様に、図4に示
した第1,第2の受光領域12,13から出力される光
電変換信号Sa〜Shを信号処理回路で演算処理をする
ことにより、光ディスク11のラジアル方向の傾き量を
示す第1の誤差検出信号REと、光ディスク11の時間
軸方向の傾き量を示す第2の誤差検出信号TEが得られ
る。Further, similarly to the first embodiment, the photoelectric conversion signals Sa to Sh output from the first and second light receiving regions 12 and 13 shown in FIG. Thus, a first error detection signal RE indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the radial direction and a second error detection signal TE indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the time axis direction are obtained.
【0056】また、本実施形態の光ピックアップ装置
は、光ディスクに照射するスポット光やパターン光の照
射パワー、記録感度、透過基板の厚み、光ディスクの制
御範囲等に応じて、様々な設計態様を講じることができ
る構成及び機能を有しているため、様々な規格の光ディ
スクに適応可能である。The optical pickup device of the present embodiment employs various design modes according to the irradiation power of spot light or pattern light to be irradiated on the optical disk, the recording sensitivity, the thickness of the transmission substrate, the control range of the optical disk, and the like. Since it has a configuration and functions that can be used, it can be applied to optical discs of various standards.
【0057】尚、第1,第2の実施形態では、対物レン
ズ5,5’の前面の第1,第2の領域AR1,AR2,
AR1’,AR2’を球面形状にした場合を述べたが、
非球面形状にしてもよい。かかる構造にすると、収差を
低減することができる。また、第2の領域AR2,AR
2’をトーリック面とすることによって、この領域を通
る光に対して非球面収差を与えることができ、位相検出
信号の生成に利用することが可能となる。また、第2の
領域AR2,AR2’は、対物レンズ5,5’の中心部
に形成される必要はなく、非対称な形状でもよい。ま
た、第1の実施形態において対物レンズ5の第2の領域
AR2を非対称な形状にする場合には、コリメータレン
ズ4からの平行光が入射する部分と、光ディスク11か
らの戻り光が入射する部分を一致させる必要はない。In the first and second embodiments, the first and second regions AR1, AR2, AR2 on the front surface of the objective lenses 5, 5 '.
The case where AR1 'and AR2' are spherical is described.
It may have an aspherical shape. With such a structure, aberration can be reduced. Also, the second areas AR2 and AR
By making 2 ′ a toric surface, aspherical aberration can be given to light passing through this region, and it can be used for generating a phase detection signal. Further, the second regions AR2 and AR2 'need not be formed at the center of the objective lenses 5 and 5', and may have an asymmetric shape. In the case where the second area AR2 of the objective lens 5 has an asymmetric shape in the first embodiment, a portion where parallel light from the collimator lens 4 is incident and a portion where return light from the optical disk 11 is incident. There is no need to match.
【0058】また、第1,第2の実施形態の対物レンズ
5,5’では、光ディスク11と対向する前面に第1,
第2の領域AR1,AR2,AR1’,AR2’を形成
する場合を述べたが、これに代えて、コリメータレンズ
4側に対向する後面に、第1,第2の領域AR1,AR
2,AR1’,AR2’を形成してもよい。また、単玉
構造の対物レンズ5,5’に限らず、複玉構造にした
り、複数枚の対物レンズの一面を利用することで、第
1,第2の領域AR1,AR2,AR1’,AR2’と
同様の機能を発揮させるようにしてもよい。In the objective lenses 5 and 5 ′ of the first and second embodiments, the first and second objective lenses 5 and 5 ′
Although the case where the second areas AR1, AR2, AR1 ', AR2' are formed has been described, instead of this, the first and second areas AR1, AR1, AR2 are formed on the rear surface facing the collimator lens 4 side.
2, AR1 'and AR2' may be formed. The first and second regions AR1, AR2, AR1 ', AR2 are not limited to the single-lens objective lenses 5 and 5', but may be made to have a double-ball structure or use one surface of a plurality of objective lenses. The same function as' may be exhibited.
【0059】また、第1,第2の実施形態では、第1,
第2の領域で曲率が異なる対物レンズ5,5’を適応す
る場合を説明したが、これらと同様のレンズ効果を有す
るホログラム素子を適用してもよい。この場合、非回折
光はホログラム素子をそのまま透過するので、ホログラ
ム素子の中央部(近軸側の部分)が完全に遮光されない
ように構成することができる。したがって、回折効率を
調整することで光ディスク11の記録再生面10に集光
するスポット光の形状を様々に調整することができ、ひ
いては設計の自由度を高くすることができる。In the first and second embodiments, the first and second embodiments
Although the case where the objective lenses 5 and 5 ′ having different curvatures are applied in the second region has been described, a hologram element having a lens effect similar to these may be applied. In this case, since the non-diffracted light passes through the hologram element as it is, it is possible to configure so that the central part (portion on the paraxial side) of the hologram element is not completely shielded. Therefore, by adjusting the diffraction efficiency, the shape of the spot light focused on the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 can be variously adjusted, and thus the degree of freedom in design can be increased.
【0060】(第3の実施の形態)次に、第3の実施形
態について図11を参照して説明する。図11は、本実
施形態の光ピックアップ装置26の光学系の構成を示す
構成図である。尚、図11中、図1と同一又は相当する
構成要素を同一符号で示している。(Third Embodiment) Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 11 is a configuration diagram showing a configuration of an optical system of the optical pickup device 26 of the present embodiment. In FIG. 11, the same or corresponding components as those in FIG. 1 are indicated by the same reference numerals.
【0061】図11において、光ピックアップ装置26
は、互いに波長の異なる光を射出する第1,第2の半導
体レーザ27,28と、ダイクロイックプリズム30
と、ビームスプリッタ3の前方に配設されたコリメータ
レンズ4及び対物レンズ31と、ビームスプリッタ3の
後方に配設されたダイクロイックプリズム32及び第
1,第2の光検出器33,34を備えて構成され、これ
らの各光学要素3,4,27〜34は光軸合わせが成さ
れている。In FIG. 11, the optical pickup device 26
A first and a second semiconductor lasers 27 and 28 for emitting lights having different wavelengths from each other; and a dichroic prism 30
And a collimator lens 4 and an objective lens 31 disposed in front of the beam splitter 3, and a dichroic prism 32 and first and second photodetectors 33 and 34 disposed behind the beam splitter 3. The optical axes of these optical elements 3, 4, 27 to 34 are aligned.
【0062】第1の半導体レーザ27は、光ディスク1
1の記録再生面10に情報を記録するための光源であ
り、短波長λ1の光を射出する青色レーザ等が用いられ
ている。第2の半導体レーザ28は、光ディスク11の
基板表面9aの傾きを検出するための光源であり、長波
長λ2の光を射出する赤外レーザ等が用いられている。
対物レンズ31は、第1,第2の実施形態の対物レンズ
5,5’とは異なり、前面が2つの領域に分割されてい
ない構造となっている。また、短波長λ1のスポット光
が光ディスク11の透明基板9を通って記録再生面10
上に集光され、長波長λ2のパターン光が光ディスク1
1の基板表面9aに比較的大きなパターンを結ぶよう
に、対物レンズ31の形状が設定されている。The first semiconductor laser 27 is
The light source is a light source for recording information on the recording / reproducing surface 10, and a blue laser or the like that emits light having a short wavelength λ1 is used. The second semiconductor laser 28 is a light source for detecting the inclination of the substrate surface 9a of the optical disk 11, and an infrared laser or the like that emits light having a long wavelength λ2 is used.
The objective lens 31, unlike the objective lenses 5 and 5 'of the first and second embodiments, has a structure in which the front surface is not divided into two regions. Further, the spot light of the short wavelength λ1 passes through the transparent substrate 9 of the optical disk 11 and passes through the recording / reproducing surface 10.
The pattern light of long wavelength λ2 is focused on the optical disk 1
The shape of the objective lens 31 is set so as to connect a relatively large pattern to one substrate surface 9a.
【0063】第1の半導体レーザ27の光射出端からコ
リメータレンズ4までの光軸距離L1と、第2の半導体
レーザ28の光射出端からコリメータレンズ4までの光
軸距離L2が、L1<L2の関係となるように設定され
ている。より具体的には、第1,第2の半導体レーザ2
7,28のダイクロイックプリズム30までのそれぞれ
の間隔を調整することで、L1<L2の関係に設定して
いる。これにより、対物レンズ31の色収差を低減する
ことができると共に、基板表面9a上に照射される長波
長λ2のパターンの大きさを調節できるようになってい
る。The optical axis distance L1 from the light emitting end of the first semiconductor laser 27 to the collimator lens 4 and the optical axis distance L2 from the light emitting end of the second semiconductor laser 28 to the collimator lens 4 are L1 <L2. It is set so that it may become. More specifically, the first and second semiconductor lasers 2
The relationship of L1 <L2 is set by adjusting the distance between the dichroic prism 30 and the dichroic prism 30. Thereby, the chromatic aberration of the objective lens 31 can be reduced, and the size of the pattern of the long wavelength λ2 irradiated on the substrate surface 9a can be adjusted.
【0064】ダイクロイックプリズム30は、プリズム
面に波長選択性を有する誘電体多層膜が蒸着されてお
り、第1の半導体レーザから射出される短波長λ1の光
を透過し、第2の半導体レーザから射出される長波長λ
2の光を反射することにより、これらの光をビームスプ
リッタ3側へ射出する。The dichroic prism 30 has a wavelength-selective dielectric multilayer film deposited on the prism surface, transmits the short wavelength λ1 light emitted from the first semiconductor laser, and transmits the light from the second semiconductor laser. Emitted long wavelength λ
By reflecting the two lights, these lights are emitted to the beam splitter 3 side.
【0065】第1の光検出器33には、図4に示した第
1の受光領域12と同様に、4分割された受光エレメン
トa〜dが設けられ、第2の光検出器34には、図4に
示した第2の受光領域13と同様に、4分割された受光
エレメントe〜hが設けられている。更に、図4と同様
に、これらの受光エメントa〜hから出力される光電変
換信号Sa〜Shを演算処理することにより、光ディス
ク11のラジアル方向の傾き量を示す第1の誤差検出信
号REと、光ディスク11の時間軸方向の傾き量を示す
第2の誤差検出信号TEとを生成する信号処理回路が設
けられている。The first light detector 33 is provided with four divided light receiving elements a to d, like the first light receiving area 12 shown in FIG. Similarly to the second light receiving area 13 shown in FIG. 4, four light receiving elements e to h are provided. Further, similarly to FIG. 4, the first error detection signal RE indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the radial direction is calculated by calculating the photoelectric conversion signals Sa to Sh output from the light receiving elements a to h. And a signal processing circuit for generating a second error detection signal TE indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the time axis direction.
【0066】ダイクロイックプリズム32は、プリズム
面に波長選択性を有する誘電体多層膜が蒸着されてお
り、短波長λ1と長波長λ2の光がビームスプリッタ3
側から入射すると、短波長λ1の光を透過して第1の光
検出器33の上記受光エメントa〜dへ射出し、長波長
λ2の光を第2の光検出器34の上記受光エメントe〜
hへ反射する。In the dichroic prism 32, a dielectric multilayer film having wavelength selectivity is deposited on the prism surface, and the light having the short wavelength λ1 and the light having the long wavelength λ2 are
When light is incident from the side, the light having the short wavelength λ1 is transmitted and emitted to the light receiving elements a to d of the first photodetector 33, and the light having the long wavelength λ2 is transmitted to the light receiving element e of the second photodetector 34. ~
Reflects to h.
【0067】次に、かかる構成を有する本光ピックアッ
プ装置26の作動について説明する。第1,第2の半導
体レーザ27,28から同時に光が射出される。これら
の光はダイクロイックプリズム30で合波され、ビーム
スプリッタ3でコリメータレンズ4側に反射される。こ
の合波光をコリメータレンズ4が平行光にして対物レン
ズ31側に射出し、更に平行光を対物レンズ31が集光
して光ディスク11側に照射する。Next, the operation of the optical pickup device 26 having the above configuration will be described. Light is emitted from the first and second semiconductor lasers 27 and 28 simultaneously. These lights are combined by the dichroic prism 30 and reflected by the beam splitter 3 toward the collimator lens 4. The multiplexed light is collimated by the collimator lens 4 and emitted to the objective lens 31 side, and the collimated light is further condensed by the objective lens 31 and irradiated to the optical disk 11 side.
【0068】これにより、光ディスク11の記録再生面
9に短波長λ1のスポット光が集光されると共に、記録
再生面9で反射又は回折されることで生じる光(第1の
戻り光)が再び対物レンズ31で集光されてコリメータ
レンズ4側へ射出される。これと同時に、光ディスク1
1の導体表面9aに長波長λ2のパターン光が照射され
ると共に、導体表面9aで反射された光(第2の戻り
光)が再び対物レンズ31で集光されてコリメータレン
ズ4側へ射出される。As a result, the spot light having the short wavelength λ1 is condensed on the recording / reproducing surface 9 of the optical disk 11, and the light (first return light) generated by being reflected or diffracted on the recording / reproducing surface 9 is again emitted. The light is condensed by the objective lens 31 and emitted to the collimator lens 4 side. At the same time, the optical disk 1
The first conductor surface 9a is irradiated with the pattern light of the long wavelength λ2, and the light reflected on the conductor surface 9a (second return light) is again condensed by the objective lens 31 and emitted to the collimator lens 4 side. You.
【0069】これらの第1,第2の戻り光は、コリメー
タレンズ4及びビームスプリッタ3を通ってダイクロイ
ックプリズム32に到達し、更に、ダイクロイックプリ
ズム32の波長選択性によって、短波長λ1である第1
の戻り光が光検出器33に、長波長λ2である第2の戻
り光が光検出器34に入射する。The first and second return lights reach the dichroic prism 32 through the collimator lens 4 and the beam splitter 3, and further, due to the wavelength selectivity of the dichroic prism 32, the first light having the short wavelength λ1.
Returns to the photodetector 33, and the second return light having the long wavelength λ2 enters the photodetector.
【0070】第1,第2の光検出器33,34がこれら
の戻り光を光電変換することによって上記の光電変換信
号Sa〜Shを出力し、更に、上記の第1の実施形態で
説明した信号処理回路がこれらの光電変換信号Sa〜S
hについて演算処理をすることにより、光ディスク11
のラジアル方向の傾き量を示す第1の誤差検出信号RE
と、光ディスク11の時間軸方向の傾き量を示す第2の
誤差検出信号TEとを生成する。The first and second photodetectors 33 and 34 output the photoelectric conversion signals Sa to Sh by photoelectrically converting these return lights, and further described in the first embodiment. The signal processing circuit generates these photoelectric conversion signals Sa to S
h to calculate the optical disk 11
Error detection signal RE indicating the amount of tilt in the radial direction of
And a second error detection signal TE indicating the amount of tilt of the optical disk 11 in the time axis direction.
【0071】このように、本実施形態によれば、記録再
生のための短波長λ1のスポット光に加えて、傾き検出
のための長波長λ2のパターン光を光ディスク11に照
射し、これらの第1,第2の戻り光に基づいて第1,第
2の誤差検出信号RE,TEを生成するようにしたの
で、光ディスク11のラジアル方向及び時間軸方向の傾
きを正確に検出することができる。As described above, according to the present embodiment, in addition to the short wavelength λ1 spot light for recording and reproduction, the long wavelength λ2 pattern light for tilt detection is irradiated onto the optical disc 11, and Since the first and second error detection signals RE and TE are generated based on the first and second return lights, it is possible to accurately detect the inclination of the optical disk 11 in the radial direction and the time axis direction.
【0072】そして、第1の誤差検出信号REを用いて
ディスクチルト補正手段を駆動したり、光ディスク11
から情報再生を行う際のクロストークキャンセラ特性を
可変させる、記録時のパワー、ストラテジの制御等を行
うこともできる。また、第2の誤差検出信号TEを用い
て記録信号に遅延を与えたり、時間軸チルト補正手段を
駆動することができる。これらの結果、高開口数の対物
レンズ31を用いても、光軸と光ディスク11との傾き
(スキュー)に対する許容度が向上し、高密度記録と、
高密度記録された情報を高精度で再生することが可能と
なる。Then, the disc tilt correcting means is driven by using the first error detection signal RE,
It is also possible to control the power at the time of recording, the strategy, etc., to vary the crosstalk canceller characteristics when information is reproduced from the device. Further, it is possible to delay the recording signal by using the second error detection signal TE, or to drive the time axis tilt correction means. As a result, even when the objective lens 31 with a high numerical aperture is used, the tolerance for the inclination (skew) between the optical axis and the optical disc 11 is improved, and high-density recording and
It is possible to reproduce information recorded at high density with high accuracy.
【0073】また、本実施形態の光ピックアップ装置
は、光ディスクに照射するスポット光やパターン光の照
射パワー、記録感度、透過基板の厚み、光ディスクの制
御範囲等に応じて、様々な設計態様を講じることができ
る構成及び機能を有しているため、様々な規格の光ディ
スクに適応可能である。The optical pickup device of the present embodiment employs various design modes according to the irradiation power of spot light or pattern light to be irradiated on the optical disk, the recording sensitivity, the thickness of the transmission substrate, the control range of the optical disk, and the like. Since it has a configuration and functions that can be used, it can be applied to optical discs of various standards.
【0074】尚、本実施の形態では、第1,第2の光検
出器33,34から出力される光電変換信号Sa〜Sh
に基づいて、ラジアル方向と時間軸方向の傾きを検出す
る場合を説明したが、第2の光検出器34から出力され
る光電変換信号に基づいて、ラジアル方向と時間軸方向
の傾きを検出することもできる。In this embodiment, the photoelectric conversion signals Sa to Sh output from the first and second photodetectors 33 and 34 are provided.
Has been described, the tilt in the radial direction and the tilt in the time axis direction have been described. However, the tilt in the radial direction and the tilt in the time axis direction is detected based on the photoelectric conversion signal output from the second photodetector 34. You can also.
【0075】また、本実施形態では、第1,第2の光検
出器33,34に、4個ずつの受光エレメントa〜d,
e〜hをそれぞれ備える構成について説明したが、第1
の実施形態と同様に、2個ずつの受光エレメントで構成
してもよい。In this embodiment, four light receiving elements a to d, four light receiving elements a to d,
The configuration including each of e to h has been described.
Similarly to the above embodiment, two light receiving elements may be used.
【0076】また、本実施形態では、波長の異なる2つ
の光を用いて光ディスク11に対する記録再生と傾き検
出を同時に行う場合を説明したが、波長は同一で光パワ
ーが異なる2つの光を用いてもよい。この場合の一例と
しては、図11中のダイクロイックプリズム30,32
をハーフプリズム等に置き換え、第1,第2の半導体レ
ーザ27,28を同一波長の半導体レーザにして、第1
の半導体レーザ27の射出強度に対して、第2の半導体
レーザ28の射出強度を低くするような構成にすること
により、第1,第2の光検出器33,34の検出出力に
基づいてラジアル方向と時間軸方向の傾きを検出するこ
とができる。Further, in the present embodiment, the case where the recording / reproducing on the optical disk 11 and the inclination detection are performed at the same time using two lights having different wavelengths has been described, but two lights having the same wavelength and different light powers are used. Is also good. As an example of this case, the dichroic prisms 30 and 32 in FIG.
Is replaced with a half prism or the like, and the first and second semiconductor lasers 27 and 28 are semiconductor lasers having the same wavelength.
By making the emission intensity of the second semiconductor laser 28 lower than the emission intensity of the semiconductor laser 27, the radial intensity based on the detection outputs of the first and second photodetectors 33 and 34 can be obtained. The inclination in the direction and the time axis direction can be detected.
【0077】(第4の実施の形態)次に、第4の実施形
態について図12を参照して説明する。図12は、本実
施形態の光ピックアップ装置35の光学系の構成を示す
構成図である。尚、図12中、図11と同一又は相当す
る構成要素を同一符号で示している。(Fourth Embodiment) Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a configuration diagram showing a configuration of an optical system of the optical pickup device 35 of the present embodiment. In FIG. 12, the same or corresponding components as those in FIG. 11 are denoted by the same reference numerals.
【0078】図12において、光源となる半導体レーザ
36とビームスプリッタ3の間に第1のホログラム素子
37が配設され、ビームスプリッタ3の後方に、第2の
ホログラム素子38と光検出器39が配設されている。In FIG. 12, a first hologram element 37 is disposed between a semiconductor laser 36 serving as a light source and the beam splitter 3, and a second hologram element 38 and a photodetector 39 are provided behind the beam splitter 3. It is arranged.
【0079】第1のホログラム素子37は、あたかも凸
レンズの光軸からずれた周辺面で周辺光線を屈折させる
のと同等な回折効果を与える回折パターンが形成されて
いる。第2のホログラム素子38は、凹レンズと同等の
回折効果を発揮する回折パターンが形成されている。光
検出器39は、2次元イメージが検出可能な受光面を有
する第1,第2の受光領域40,41を備えて構成され
ている。The first hologram element 37 has a diffraction pattern that gives a diffraction effect equivalent to refracting a marginal ray on a peripheral surface shifted from the optical axis of the convex lens. The second hologram element 38 has a diffraction pattern that exhibits a diffraction effect equivalent to that of a concave lens. The light detector 39 includes first and second light receiving regions 40 and 41 having light receiving surfaces capable of detecting a two-dimensional image.
【0080】かかる構成によると、半導体レーザ36の
射出光が第1のホロブラム素子37を透過することによ
り、半導体レーザ36の実像光が光ディスク11の記録
再生面10に、半導体レーザ36の虚像光が光ディスク
11の基板表面9aに照射さる。更に、実像光が記録再
生面10で反射又は回折され、且つ虚像光が基板表面9
aで反射さることで生じる戻り光が、再び対物レンズ3
1で集光され、コリメータレンズ4とビームスプリッタ
3を介して、第2のホロブラム素子38に入射する。第
2のホログラム素子38では、戻り光を拡大して、光検
出器39の第1,第2の受光領域40,41に射出す
る。According to this configuration, the emitted light of the semiconductor laser 36 passes through the first holobram element 37, so that the real image light of the semiconductor laser 36 is transmitted to the recording / reproducing surface 10 of the optical disk 11 and the virtual image light of the semiconductor laser 36 is transmitted. Irradiates the substrate surface 9a of the optical disk 11. Further, the real image light is reflected or diffracted on the recording / reproducing surface 10 and the virtual image light is reflected on the substrate surface 9.
The return light generated by the reflection at a
The light is condensed by 1 and enters the second holobram element 38 via the collimator lens 4 and the beam splitter 3. In the second hologram element 38, the return light is enlarged and emitted to the first and second light receiving regions 40 and 41 of the photodetector 39.
【0081】第1,第2の受光領域40,41では、第
1の受光領域40が戻り光のうちの実像光を第1のイメ
ージ信号に光電変換し、第2の受光領域41が戻り光の
うちの虚像光を第2のイメージ信号に光電変換して出力
する。そして、これら第1,第2のイメージ信号を比較
することにより、光ディスク11のラジアル方向と時間
軸方向の傾きを検出する。In the first and second light receiving areas 40 and 41, the first light receiving area 40 photoelectrically converts the real image light of the return light into a first image signal, and the second light receiving area 41 receives the return light. Is converted into a second image signal by photoelectric conversion and output. Then, by comparing the first and second image signals, the inclination of the optical disk 11 in the radial direction and the time axis direction is detected.
【0082】このように、本実施形態によれば、単一の
光源を適用して光ディスクのラジアル方向と時間軸方向
の傾きを検出することができ、また、構成の簡素化等を
実現することができる。更に、一般的な高開口数の対物
レンズ31を適用することができる。As described above, according to the present embodiment, it is possible to detect the inclination of the optical disk in the radial direction and the time axis direction by applying a single light source, and to realize a simplified configuration and the like. Can be. Further, a general high numerical aperture objective lens 31 can be applied.
【0083】尚、以上に説明した第1,第2の実施形態
では、2分割された曲率の異なる領域を有する対物レン
ズ5,5’等の集光手段と単一波長の半導体レーザ2等
の光源手段を備えて、光ディスクの傾きを検出し、第
3,第4の実施形態では、一般的な対物レンズ31等の
集光手段と、複数波長の半導体レーザ27,28等の光
源手段又は単一波長の半導体レーザ36等の光源手段を
備えて、光ディスクの傾きを検出する場合を説明した。
しかし、本発明は、これらの構成に限定されるものでは
なく、各実施形態の集光手段と光源手段を個々独立に組
み合わせた構成にしてもよい。In the first and second embodiments described above, the light condensing means such as the objective lenses 5 and 5 'having two divided regions having different curvatures and the semiconductor laser 2 having a single wavelength are used. The light source means is provided to detect the inclination of the optical disk. In the third and fourth embodiments, a light condensing means such as a general objective lens 31 and a light source means such as semiconductor lasers 27 and 28 having a plurality of wavelengths or a single light source means are provided. The case where the light source means such as the one-wavelength semiconductor laser 36 is provided to detect the inclination of the optical disk has been described.
However, the present invention is not limited to these configurations, and a configuration in which the light collecting unit and the light source unit of each embodiment are individually combined may be employed.
【0084】また、第1〜第4の実施形態は、CD(コ
ンパクトディスク)、DVD(デジタルバーサタイルデ
ィスク)、LD(レーザディスク)等に代表される光デ
ィスク等の記録再生媒体の傾き検出が可能である。ま
た、CD−ROM等の読み取り専用の記録再生媒体や、
書き込みが可能なCD−R等の記録再生媒体を対象とす
ることができるものである。In the first to fourth embodiments, the inclination of a recording / reproducing medium such as an optical disk represented by a CD (compact disk), a DVD (digital versatile disk), and an LD (laser disk) can be detected. is there. Also, a read-only recording / reproducing medium such as a CD-ROM,
The present invention can be applied to a writable recording / reproducing medium such as a CD-R.
【0085】[0085]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録再生媒体を構成している少なくとも透明基板の表面に
光を照射し、その表面で反射されることで生じる戻り
光、すなわち、記録再生媒体の傾き情報を有する戻り光
を検出するので、記録再生媒体の傾き情報を正確に抽出
することができる。更に、戻り光に内在する傾き情報
は、その記録媒体の傾き態様に応じて、全方位の傾き情
報を有している。このため、従来の問題点であったラジ
アル方向の傾きと時間軸方向の傾きを検出することが可
能となる。As described above, according to the present invention, at least the surface of the transparent substrate constituting the recording / reproducing medium is irradiated with light and returned light generated by reflection on the surface, that is, the recording light is recorded. Since the return light having the tilt information of the reproducing medium is detected, the tilt information of the recording / reproducing medium can be accurately extracted. Further, the tilt information inherent in the return light has omnidirectional tilt information according to the tilt mode of the recording medium. For this reason, it is possible to detect the inclination in the radial direction and the inclination in the time axis direction, which are the conventional problems.
【0086】したがって、この抽出される傾き情報に基
づいて、記録再生媒体のチルト補正や、記録光の照射パ
ワー、ストラテジ、再生イコライザ特性等を可変制御す
ることができ、高開口数の対物レンズ等の集光手段を適
用しても、記録媒体の傾き(スキュー)に対して強い光
ピックアップ装置を実現することができる。更に、この
ように、高開口数の対物レンズ等の適用が可能となるた
め、高密度記録が可能になると共に、高密度記録された
記録再生媒体から高精度で情報再生することが可能とな
る。Therefore, based on the extracted tilt information, tilt correction of the recording / reproducing medium and variably control of recording light irradiation power, strategy, reproduction equalizer characteristics, etc. can be performed. Even if the light condensing means is applied, it is possible to realize an optical pickup device which is strong against the inclination (skew) of the recording medium. Further, since an objective lens or the like having a high numerical aperture can be applied as described above, high-density recording can be performed, and information can be reproduced with high accuracy from a recording / reproducing medium on which high-density recording has been performed. .
【図1】第1の実施形態の光ピックアップ装置の構成を
示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram illustrating a configuration of an optical pickup device according to a first embodiment.
【図2】対物レンズの構造を示す縦断面図である。FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a structure of an objective lens.
【図3】ホログラム素子の回折パターン形状を模式的に
示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram schematically showing a diffraction pattern shape of a hologram element.
【図4】第1,第2の受光領域の形状と信号処理回路の
構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing shapes of first and second light receiving areas and a configuration of a signal processing circuit.
【図5】傾き検出の作動原理を説明するための説明図で
ある。FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining the operation principle of tilt detection.
【図6】傾き検出の作動原理を更に説明するための特性
図である。FIG. 6 is a characteristic diagram for further explaining the operation principle of tilt detection.
【図7】傾き検出の作動原理を更に説明するための説明
図である。FIG. 7 is an explanatory diagram for further explaining the operation principle of tilt detection.
【図8】傾き検出の作動原理を更に説明するため、対物
レンズに対し光ディスクが傾いた状態を示す縦断面図で
ある。FIG. 8 is a longitudinal sectional view showing a state in which the optical disc is inclined with respect to the objective lens in order to further explain the operation principle of the inclination detection.
【図9】傾き検出の作動原理を更に説明するための説明
図である。FIG. 9 is an explanatory diagram for further explaining the operation principle of tilt detection.
【図10】第2の実施形態の光ピックアップ装置の構成
を説明するための、対物レンズの構造を示す縦断面図で
ある。FIG. 10 is a longitudinal sectional view illustrating a structure of an objective lens for describing a configuration of an optical pickup device according to a second embodiment.
【図11】第3の実施形態の光ピックアップ装置の構成
を示す構成図である。FIG. 11 is a configuration diagram illustrating a configuration of an optical pickup device according to a third embodiment.
【図12】第4の実施形態の光ピックアップ装置の構成
を示す構成図である。FIG. 12 is a configuration diagram illustrating a configuration of an optical pickup device according to a fourth embodiment.
2,27,28,36…半導体レーザ 3…ビームスプリッタ 4…コリメータレンズ 5,5’,31…対物レンズ 6,37,38…ホログラム素子 7,33,34,39…光検出器 9…透明基板 9a…基板表面 10…記録再生面 11…光ディスク 12,13…受光領域 18〜21,22,23…差動増幅器 24,25…増幅器 AR1…第1の領域 AR2…第2の領域 2, 27, 28, 36 semiconductor laser 3 beam splitter 4 collimator lens 5, 5 ', 31 objective lens 6, 37, 38 hologram element 7, 33, 34, 39 photodetector 9 transparent substrate 9a: substrate surface 10: recording / reproducing surface 11: optical disk 12, 13: light receiving area 18 to 21, 22, 23: differential amplifier 24, 25: amplifier AR1: first area AR2: second area
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D118 AA04 AA13 BA01 BF02 BF03 CA02 CC12 CD02 CD03 CD04 CD08 CF06 DA20 DC03 5D119 AA12 AA22 BA01 DA01 DA05 JA14 JA24 JA44 KA24 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page F term (reference) 5D118 AA04 AA13 BA01 BF02 BF03 CA02 CC12 CD02 CD03 CD04 CD08 CF06 DA20 DC03 5D119 AA12 AA22 BA01 DA01 DA05 JA14 JA24 JA44 KA24
Claims (8)
媒体に、記録又は再生のための光を照射する光ピックア
ップ装置であって、 前記光を射出する光源と、 前記光源からの射出光を前記記録再生面と前記透明基板
に照射させる集光手段と、 前記透明基板の表面からの戻り光を受光する光検出手段
と、 前記透明基板の表面からの戻り光により前記光検出器か
ら出力される受光出力に基づいて、前記記録再生媒体の
傾き情報を抽出する信号処理手段と、を備えることを特
徴とする光ピックアップ装置。1. An optical pickup device for irradiating a recording / reproducing medium having a transparent substrate and a recording / reproducing surface with light for recording or reproduction, comprising: a light source for emitting the light; and a light emitted from the light source. Light collecting means for irradiating the recording / reproducing surface and the transparent substrate; light detecting means for receiving return light from the surface of the transparent substrate; output from the photodetector by return light from the surface of the transparent substrate. A signal processing means for extracting tilt information of the recording / reproducing medium based on the received light output.
媒体に、記録又は再生のための光を照射する光ピックア
ップ装置であって、 前記光を射出する光源と、 前記光源からの射出光を前記記録再生面と前記透明基板
に照射させる集光手段と、 前記記録再生面と前記透明基板の表面からの戻り光を受
光する光検出手段と、 前記記録再生面からの戻り光により前記光検出器から出
力される受光出力に基づいて第1の信号を生成する第1
の信号生成手段と、 前記透明基板の表面からの戻り光により前記光検出器か
ら出力される受光出力に基づいて第2の信号を生成する
第2の信号生成手段と、 前記第1,第2の信号を比較することにより、前記記録
再生媒体の傾き情報を抽出する信号処理手段と、を備え
ることを特徴とする光ピックアップ装置。2. An optical pickup device for irradiating a recording / reproducing medium having a transparent substrate and a recording / reproducing surface with light for recording or reproduction, comprising: a light source for emitting the light; and a light emitted from the light source. Light collecting means for irradiating the recording / reproducing surface and the transparent substrate; light detecting means for receiving return light from the recording / reproducing surface and the surface of the transparent substrate; and detecting the light by returning light from the recording / reproducing surface. Generating a first signal based on a light receiving output output from the detector.
Signal generating means for generating a second signal based on a light receiving output output from the photodetector by return light from the surface of the transparent substrate; and a first signal generating means and a second signal generating means. And a signal processing unit for extracting the tilt information of the recording / reproducing medium by comparing the signals.
戻り光を透過させる第1の領域と、前記透明基板の表面
からの戻り光を透過させる第2の領域とを有することを
特徴とする請求項2に記載の光ピックアップ装置。3. The light condensing means has a first region through which return light from the recording / reproducing surface is transmitted and a second region through which return light from the surface of the transparent substrate is transmitted. The optical pickup device according to claim 2, wherein
過させる第1の領域と、前記光源からの光を透過させる
第2の領域とを有することを特徴とする請求項2又は3
に記載の光ピックアップ装置。4. The light condensing means has a first area for transmitting light from the light source and a second area for transmitting light from the light source.
An optical pickup device according to item 1.
記透明基板の表面でデフォーカス状態であることを特徴
とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の光ピックア
ップ装置。5. The optical pickup device according to claim 1, wherein the return light from the surface of the transparent substrate is in a defocused state on the surface of the transparent substrate.
を前記第1の領域を通して前記透明基板側に照射し、前
記透明基板の表面からの戻り光を前記第2の領域を通し
て射出させることを特徴とする請求項2〜5のいずれか
1項に記載の光ピックアップ装置。6. The light collector irradiates the transparent substrate side with light emitted from the light source through the first region, and emits return light from the surface of the transparent substrate through the second region. The optical pickup device according to claim 2, wherein:
る複数の光束を前記集光手段から前記記録再生媒体に照
射すると共に、前記複数の光束のうちの1つを前記記録
再生面に照射し、前記複数の光束のうちの他の1つを前
記透明基板の表面に照射することを特徴とする請求項2
〜6のいずれか1項に記載の光ピックアップ装置。7. The optical pickup device irradiates the recording / reproducing medium with a plurality of light beams having different wavefronts from the focusing means, and irradiates one of the plurality of light beams to the recording / reproducing surface. 3. The method according to claim 2, further comprising irradiating another surface of the plurality of light beams to a surface of the transparent substrate.
The optical pickup device according to any one of claims 1 to 6.
らの射出光を波面の異なる複数の光束の光に変換して出
力するホログラム素子を備えることを特徴とする請求項
1〜7のいずれか1項に記載の光ピックアップ装置。8. The optical pickup device according to claim 1, further comprising a hologram element that converts the light emitted from the light source into a plurality of light beams having different wavefronts and outputs the light. An optical pickup device according to the item.
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