[go: up one dir, main page]

JP2000068244A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

Info

Publication number
JP2000068244A
JP2000068244A JP23266098A JP23266098A JP2000068244A JP 2000068244 A JP2000068244 A JP 2000068244A JP 23266098 A JP23266098 A JP 23266098A JP 23266098 A JP23266098 A JP 23266098A JP 2000068244 A JP2000068244 A JP 2000068244A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
cleaned
hand
carry
wet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23266098A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Uragaki
誠 浦垣
Takeshi Aiba
武 相場
Toru Takamiya
徹 高宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP23266098A priority Critical patent/JP2000068244A/ja
Publication of JP2000068244A publication Critical patent/JP2000068244A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄装置全体を小型化し、その洗浄の条件出
しが簡素化できる洗浄装置を得ること。 【解決手段】 本発明の実施形態の洗浄装置1は、中央
部に被洗浄物を保持、移載する第1のハンド14と第2
のハンド15とを備えた搬送ロボット10が配設され、
この搬送ロボット10を中心にして、その周囲に時計方
向に、順次、被洗浄物搬入装置20、ハンド洗浄装置3
0、被洗浄物洗浄装置40、被洗浄物洗浄乾燥装置5
0、被洗浄物搬出装置60を配設して、第1のハンド1
4でウエットな半導体ウエハを被洗浄物搬入装置20か
ら被洗浄物洗浄装置40、被洗浄物洗浄乾燥装置50へ
移載し、被洗浄物洗浄乾燥装置50で洗浄、乾燥された
ドライな半導体ウエハを第2のハンド15で被洗浄物搬
出装置60に移載するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、洗浄装置に係わ
り、特に研磨、エッチングなどの加工が施された半導体
ウエハなどのウエットな被洗浄物を、放射状に、そして
最適な位置に配設された被洗浄物洗浄装置及び被洗浄物
洗浄乾燥装置に搬入して洗浄、乾燥した後、そのドライ
(乾燥)な被洗浄物を搬出する洗浄装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体装置の製造工程で一般的
に使用されている現用の洗浄装置は、高い生産性と、ケ
ミカル洗浄方式、ブラシング方式、ジェット流方式、超
音波振動方式などの洗浄方法の多様化を追求するあま
り、複数台の、一般的には3台以上のプロセス洗浄槽を
備え、半導体ウエハを半導体ウエハ搬入口から前記複数
台のプロセス洗浄槽を経て半導体ウエハ収納口まで移動
させるための搬送機構を複数個(通常、6〜8軸)組み
込まれている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このため、洗浄装置全
体が大型化し、広い設置床面積が必要になり、また、複
数台のプロセス洗浄槽、複数の搬送機構を備えているこ
とから、その洗浄装置の条件出しが複雑化する。これら
の事柄は半導体装置の製品コスト高に繋がるなどの課題
を抱えている。また、洗浄しようとする被洗浄物に適し
た薬液を予め評価するための洗浄槽毎の評価テストも容
易に行うことができないなどの課題を抱えている。
【0004】本発明は、このような課題を解決しようと
するものであって、洗浄装置全体を小型化し、その洗浄
の条件出しを簡素化できる洗浄装置を得ることを目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】このため、請求項1に記
載の本発明の実施形態は、ウエットな被洗浄物を搬入し
て薬液、その他で洗浄、乾燥し、その洗浄、乾燥された
ドライな被洗浄物を搬出する洗浄装置において、ウエッ
トな被洗浄物を保持する第1のハンドとドライな被洗浄
物を保持する第2のハンドとを備えた搬送ロボットと、
この搬送ロボットを中心にして、その周囲に配設され、
洗浄を必要とするウエットな被洗浄物を搬入できる搬入
口とその被洗浄物を搬出できる搬出口とその被洗浄物を
載置できる載置装置を備えた被洗浄物搬入装置と、この
被洗浄物搬入装置の側方に配設され、前記ハンドを洗浄
するためのハンド洗浄装置と、このハンド洗浄装置の前
記被洗浄物搬入装置側とは異なる側方に配設され、前記
被洗浄物搬入装置に搬入されたウエットな被洗浄物を洗
浄するための被洗浄物洗浄装置と、この被洗浄物洗浄装
置の前記ハンド洗浄装置側とは異なる側方に配設され、
前記被洗浄物洗浄装置で洗浄されたウエットな被洗浄物
を洗浄、乾燥するための被洗浄物洗浄乾燥装置と、この
被洗浄物洗浄乾燥装置の前記被洗浄物洗浄装置側とは異
なる側方に配設され、前記被洗浄物洗浄乾燥装置で乾燥
されたドライな被洗浄物を搬入することができる搬入口
とその被洗浄物を搬出することができる搬出口とその被
洗浄物を載置することができる載置装置を備えた被洗浄
物搬出装置とから構成して、前記課題を解決している。
【0006】また、請求項2に記載の本発明の実施形態
は、請求項1に記載の実施形態の洗浄装置において、前
記被洗浄物洗浄装置及び被洗浄物洗浄乾燥装置内にダウ
ンフローの気体を流す構成を採って、前記課題を解決し
ている。
【0007】更に、請求項3に記載の本発明の実施形態
は、請求項1及び請求項2に記載の実施形態の洗浄装置
において、前記搬送ロボットの前記第1のハンドを前記
第2のハンドの下方に省投影面積になるように配設する
構造で構成して、前記課題を解決している。
【0008】そして更に、請求項4に記載の本発明の実
施形態は、請求項1乃至請求項3に記載の実施形態の洗
浄装置において、前記被洗浄物搬入装置の前記搬入口側
に他のプロセス装置が、そして前記被洗浄物搬出装置の
前記搬出口側に前記他のプロセス装置とは異なるその他
のプロセス装置を連結できるように構成し、前記課題を
解決している。
【0009】従って、前記請求項1に記載の本発明の実
施形態によれば、前記各種の装置を所謂クラスタ構造で
配設できるので、コンパクト化が計れる。しかも前記搬
送ロボットの前記第1のハンドで前記ウエットな被洗浄
物を前記被洗浄物搬入装置から前記被洗浄物洗浄装置
へ、前記被洗浄物洗浄装置から前記被洗浄物洗浄乾燥装
置へ移載でき、前記搬送ロボットの第2のハンドで前記
被洗浄物洗浄乾燥装置から前記ドライな被洗浄物を前記
被洗浄物搬出装置へ移載することができる。また、前記
搬送ロボットの第1のハンドでウエットな被洗浄物を前
記被洗浄物搬入装置から前記被洗浄物洗浄装置或いは前
記被洗浄物洗浄乾燥装置へ直接移載できる。更にまた、
薬液の評価をもし易くなる。
【0010】前記請求項2に記載の本発明の実施形態に
よれば、前記被洗浄物洗浄装置及び被洗浄物洗浄乾燥装
置内にダウンフローの気体を流し、かつ十分な排気をと
ることにより、洗浄に使用した汚れた薬液を下方へ落下
させることができ、汚れた薬液が飛散して洗浄中の被洗
浄物へ再付着することを防止できる。
【0011】前記請求項3に記載の本発明の実施形態に
よれば、ウエットな被洗浄物を取り扱う前記第1のハン
ドが前記第2のハンドの下方に配設されていることか
ら、前記第2のハンドがウエットになることがなく、し
かも両者を省投影面積になるように配設する構造を採っ
ているので、洗浄装置全体を一層コンパクトに構成する
ことができる。
【0012】前記請求項4に記載の本発明の実施形態に
よれば、本発明の洗浄装置を更に発展させ得る構造を採
っているので、洗浄を必要とするどの製造工程にも配設
することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図1及び図2を参照しなが
ら、本発明の実施形態の洗浄装置の構成を説明する。な
お、以下の説明では、被洗浄物として研磨装置で研磨さ
れた後の半導体ウエハを例に挙げて説明する。図1は本
発明の実施形態の洗浄装置の構成を示す概念的な平面図
であり、図2は図1に示した洗浄装置のA−A線上にお
ける断面透視図であり、そして図3は図1に示した洗浄
装置の拡張装置を示す概念的な平面図である。
【0014】図において、符号1は本発明の実施形態の
洗浄装置を指す。この洗浄装置1は、その中央部に配設
され、被洗浄物である半導体ウエハを保持、移載する搬
送ロボット10を備え、この搬送ロボット10を中心に
して、その周囲に反時計方向に、順次、被洗浄物搬入装
置20と、ハンド洗浄装置30と、被洗浄物洗浄装置4
0と、被洗浄物洗浄乾燥装置50と、被洗浄物搬出装置
60とを配設した、所謂、クラスタ構造で構成されてい
る。これらの装置は直方体の筐体2、3、4、5、6内
に収納されており、それぞれの筐体2、3、4、5、6
が互いに向き合う内壁2A、3A、4A、5A、6Aに
は、後記する搬送ロボット10の側方の高さ位置に、そ
の搬送ロボット10の第1のハンド14、第2のハンド
15及び半導体ウエハが出入りできる大きさの開口が開
けられており、そしてそれぞれの開口は上下方向に昇降
するゲート2B、3B、4B、5B、6Bが設けられて
いる。それぞれの開口が開けられる時は、ぞれぞれのゲ
ート4B、5Bが下降する。
【0015】前記搬送ロボット10は、ロボット本体1
1の上面中央で垂直に突出した回転軸に水平状態で基部
が固定された第1のアーム12と、この第1のアーム1
2の先端部に水平状態で基部が回動自在に軸支された第
2のアーム13と、この第2のアーム13の先端部に上
下及び回動自在に軸支された第1のハンド14とを備
え、そして同様に第1のアーム(不図示)と、その第1
のアームの先端部に水平状態で基部が回動自在に軸支さ
れた第2のアームと(不図示)、前記第1のハンド14
の上方に配設され、前記第2のアームの先端部に上下及
び回動自在に軸支された第2のハンド15とを備えてい
て、前記第1のハンド14と第2のハンド15とは同時
に回動、上下動し、そしてそれぞれ独立して伸縮する。
そして両者は省投影面積になるように配設されている。
【0016】前記被洗浄物搬入装置20は、洗浄を必要
とするウエットな半導体ウエハを搬入できる搬入口21
と、その半導体ウエハを搬出できる搬出口22と、その
半導体ウエハを載置できる載置装置23から構成されて
いる。図示していないが、搬入されてきたウエットな半
導体ウエハが乾燥しないように純水を注ぐリンスノズ
ル、半導体ウエハガイド部、センサー部も備えている。
前記搬出口22は前記開口に相当するところである。
【0017】前記ハンド洗浄装置30は、被洗浄物搬入
装置20の側方に配設されていて、純水を吐出するリン
スノズル(不図示)を備え、後記する被洗浄物洗浄装置
40と被洗浄物洗浄乾燥装置50とでウエットな半導体
ウエハを洗浄中に、前記開口から内部に入り込んでく
る、洗浄途上のその半導体ウエハを保持、移載する第1
のハンド14をリンスノズルから純水を吐出して洗浄す
る。図示していないが、無論、洗浄用の純水を供給する
ための供給管が配管されている。
【0018】前記被洗浄物洗浄装置40は、薬液洗浄の
第1槽であり、前記ハンド洗浄装置30の前記被洗浄物
搬入装置20側とは異なる側方に配設され、前記被洗浄
物搬入装置20に搬入されたウエットな半導体ウエハを
洗浄するものであって、ウエットな半導体ウエハを水平
状態で載置する載置装置41と、その載置装置41に載
置された半導体ウエハを上下から挟み込んで回転するロ
ールブラシ42と、その半導体ウエハの外周縁からその
半導体ウエハに触れ、平面内でその半導体ウエハを自転
させるローラ43とから構成されている。図示していな
いが、この被洗浄物洗浄装置40にも、無論、洗浄薬液
と洗浄用純水とを供給するための供給管と排水するため
の排水管とが配管されている。この他、前記の開口とこ
れを開閉するゲート4Bを備えている。
【0019】前記被洗浄物洗浄乾燥装置50は、薬液洗
浄の第2槽であり、前記被洗浄物洗浄装置40の前記ハ
ンド洗浄装置30側とは異なる側方に配設され、前記被
洗浄物洗浄装置40で洗浄されたウエットな半導体ウエ
ハを洗浄、乾燥するためのものであって、ウエットな半
導体ウエハを載置、保持し、モータ51(図2)で回転
駆動されるスピンテーブル52と、前記ゲート5Bにゲ
ートリンク53で連結され、スピンテーブル52の外周
部から上方部分を囲む形状の、ゲート5Bの開閉に従っ
て上下するスピンカップ54と、前記スピンテーブル5
2の横に配設された揺動アームに取り付けられているブ
ラシ(不図示)と、筐体5の上方に配設され、その筐体
5内にダウンフローのエアを発生させ、洗浄中に発生す
るミストを下方へ押さえ込むためのフィルター内蔵のブ
ロア55(図2)と、洗浄用薬液及び洗浄用純水の排水
管56(図2)と、前記ブロア55で発生したダウンフ
ローのエアを排気する複数本の排気管57(図2)から
構成されている。図示していないが、この被洗浄物洗浄
乾燥装置50にも、無論、洗浄薬液と洗浄純水とを供給
するための供給管が配管されている。
【0020】前記被洗浄物搬出装置60は、前記被洗浄
物洗浄乾燥装置50の前記被洗浄物洗浄装置40側とは
異なる側方に配設され、そして図示の実施形態では前記
被洗浄物搬入装置20に隣接した状態で配設されてい
て、前記被洗浄物洗浄乾燥装置50で乾燥されたドライ
な半導体ウエハを搬入することができる搬入口61と、
そのドライな半導体ウエハを搬出することができる搬出
口62と、そのドライな半導体ウエハを載置することが
できる載置装置63とから構成されている。また、図示
していないが、半導体ウエハガイド部、センサー部も備
えている。
【0021】次に、前記のように構成された本発明の実
施形態の洗浄装置1の動作を説明する。例えば、研磨装
置で研磨され、付着しているスラリーなどが乾燥しない
ようにウエットな状態にある半導体ウエハが被洗浄物搬
入装置20の搬入口21から載置装置23に移載され、
搬送ロボット10の下側の第1のハンド14が搬出口2
2から前記移載されたウエットな半導体ウエハを保持
し、その搬出口22から引き出して時計方向に回動し、
ゲート4Bが開いている被洗浄物洗浄装置40の内壁4
Aの開口から、その内部の載置装置41に移載される。
そのウエットな半導体ウエハの移載が終了すると、第1
のハンド14は後退し、ゲート4Bが閉じて、ロールブ
ラシ42が上下から挟み、複数個のローラ43で回転さ
せながら洗浄薬液と純水とで第1段階の洗浄を行う。
【0022】この洗浄中、図示していないが、筐体4の
上方に配設されているブロアから筐体4内にダウンフロ
ーのエアが発生し、洗浄中に発生するミストを下方へ押
さえ込む。そのブロアからのダウンフローのエアは複数
本の排気管(不図示)から排気され、そして洗浄用薬液
及び洗浄用純水は排水管(不図示)から排水される。
【0023】このウエットな半導体ウエハの洗浄中、被
洗浄物洗浄装置40のゲート4Bから後退した第1のハ
ンド14は反時計方向に回動して、ハンド洗浄装置30
の内壁3Aの開口から内部に入り、ここで前記ウエット
な半導体ウエハを保持して汚染された前記第1のハンド
14を純水で洗浄し、この洗浄終了後、第1のハンド1
4は内壁3Aの開口から搬送ロボット10の元位置に復
帰する。
【0024】前記被洗浄物洗浄装置40でウエットな半
導体ウエハの第1段階の洗浄が終了すると、ゲート4B
が開き、再度、第1のハンド14が被洗浄物洗浄装置4
0内に入って、洗浄されたウエットな半導体ウエハを保
持し、その第1のハンド14がゲート4Bからロボット
本体11側に後退し、そして時計方向に回動して被洗浄
物洗浄乾燥装置50の内壁5Aのゲート5Bが下がり、
開いた開口から内部に入って、スピンテーブル52に移
載される。ゲート5Bの下降と連動してスピンカップ5
4も降下し、搬送されてきたウエットな半導体ウエハが
スピンテーブル52に移載できる状態になる。
【0025】ウエットな半導体ウエハの移載が終了する
と、前記第1のハンド14は後退し、前記とほぼ同様の
動作で反時計方向に回動してハンド洗浄装置30内で洗
浄され、そして洗浄後、搬送ロボット10の元位置を経
て、前記と同様に、次のウエットな半導体ウエハを被洗
浄物搬入装置20へ取りに行き、保持して前記被洗浄物
洗浄装置40内の載置装置41に移載し、移載終了後、
元位置復帰する。
【0026】被洗浄物洗浄乾燥装置50から第1のハン
ド14が後退すると、ゲート5Bが閉じ、スピンカップ
54が上昇してウエットな半導体ウエハの回りを囲み、
スピンテーブル52が回転し出して、そのウエットな半
導体ウエハを回転させながら洗浄薬液及び純水で第2段
階の洗浄が開始され出す。の洗浄中、ブロア55から筐
体5内にダウンフローのエアが発生し、洗浄中に発生す
るミストを下方へ押さえ込む。ブロア55からのダウン
フローのエアは複数本の排気管57から排気される。そ
して洗浄用薬液及び洗浄用純水は排水管56から排水さ
れる。この洗浄が終了すると、モータ51は高速で回転
し出し、スピンテーブル52を高速で回転し、洗浄後の
純水によりウエットな状態になっている半導体ウエハを
乾燥させる。
【0027】ウエットな半導体ウエハが乾燥し終わる
と、スピンテーブル52は回転を止め、ゲート5Bとス
ピンカップ54とが下降する。搬送ロボット10の第2
のハンド15が被洗浄物洗浄乾燥装置50内に入り、ス
ピンテーブル52から洗浄されたドライな半導体ウエハ
を保持、後退し、時計方向に回動して被洗浄物搬出装置
60の内壁6Aに開けられた開口の搬入口61から、そ
の内部にある載置装置63に移載される。この間、前記
ゲート5Bは上昇し、開口を閉鎖する。載置装置63に
移載されたドライな半導体ウエハは搬出口62から次の
プロセス処理工程へ搬送される。
【0028】ドライな半導体ウエハの被洗浄物搬出装置
60への搬送、移載が終了すると、第2のハンド15は
後退し、元位置に復帰して、次のドライな半導体ウエハ
を保持できるように待機する。
【0029】以上のような各部装置の動作の繰り返し
で、本発明の実施形態の洗浄装置1は、順次、被洗浄物
搬入装置20に投入されるウエットな半導体ウエハの洗
浄を行い、クリーンでドライな半導体ウエハを次工程へ
送出することができる。
【0030】本発明の実施形態の洗浄装置1のクラスタ
構造の特徴を生かし、図3に示したように、前記被洗浄
物搬入装置20の搬入口21側に他のプロセス装置7
0、例えば、エッチング装置を連結し、そして前記被洗
浄物搬出装置60の前記搬出口62側には前記の他のプ
ロセス装置70とは異なるその他のプロセス装置80、
例えば、成膜装置を連結することができ、その搬入口2
1にエッチングされてウエットな状態の半導体ウエハを
投入し、前記搬出口62側から洗浄、乾燥されたドライ
な半導体ウエハを得ることができる。
【0031】以上説明したように、本発明の実施形態の
洗浄装置1は、研磨装置やエッチング装置等で研磨やエ
ッチング等が施され、スラリーなどが付着していてウエ
ットな状態にある半導体ウエハのような被洗浄物を洗浄
するために使用することができるものであるが、この
他、使用しようとする薬液の評価機としても用いること
ができる。即ち、洗浄に使用する薬液の使用量やその後
のリンスのために使用する純水の使用量は半導体装置の
製造のランニングコストとして無視できない額になる。
このため、或る薬液を使って、或る被洗浄物の洗浄にこ
れまで使用していた薬液を減らすことができないかをテ
ストしたい場合がある。また、その従来技術の薬液の使
用量を減らすことができるということは、その後の純水
の使用量も減らすことができるということにつながる。
このようなことで、ロールブラシとスピンナーという洗
浄槽を持たせた本洗浄装置は薬液の評価機として使用す
ることができ、最適のものである。
【0032】また、本洗浄装置は薬液の評価機として使
用する場合には、前記被洗浄物搬入装置20の搬入口2
1に投入されるウエットな被洗浄物は作業者がピンセッ
トを用いて、その載置装置23に移載し、前記被洗浄物
搬出装置60の載置装置63に移載されているドライな
被洗浄物は真空ピンセットで前記搬出口62から取り出
してもよい。しかし、製造ラインに設置するような場合
には、自動搬送装置を用いて、前記被洗浄物搬入装置2
0の搬入口21にウエットな被洗浄物を或るプログラム
制御の下に自動的に投入し、そしてドライな前記したよ
うな他のプロセス装置70、例えば、エッチング装置を
連結し、そして前記被洗浄物搬出装置60の前記搬出口
62から洗浄され、ドライに仕上げられた被洗浄物を搬
出すように構成することもできる。
【0033】以上の説明では、被洗浄物として半導体ウ
エハを採り上げて説明したが、本発明では、半導体ウエ
ハにのみ限定されるものではなく、液晶表示素子の基
板、情報記録媒体の基板などの洗浄に広く使用できるこ
とを付言しておく。
【0034】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の実施形態の洗浄装置は、被洗浄物の搬送装置を中央部
に1台配設して、その周囲に配設されている複数台の洗
浄装置間に搬入、移載、搬出を行わせているクラスタ構
造で構成を採っているため、1.装置全体を小型化でき
る2.洗浄のための薬液及びその量やリンスのための純
水量などの条件出しを容易に行うことができる3.洗浄
を必要とするプロセス工程に簡単に設置できるなど数々
の優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態の洗浄装置の構成を示す概
念的な平面図である。
【図2】 図1に示した洗浄装置のA−A線上における
断面透視図である。
【図3】 図1に示した洗浄装置の拡張装置を示す概念
的な平面図である。
【符号の説明】
1…本発明の実施形態の洗浄装置、2,3,4,5,6
…筐体、2A,3A,4A,5A,6A…内壁、2B,
3B,4B,5B,6B…ゲート、10…搬送ロボッ
ト、11…ロボット本体、12…第1のアーム、13…
第2のアーム、14…第1のハンド、15…第2のハン
ド、20…被洗浄物搬入装置、21…搬入口、22…搬
出口、23…載置装置、30…ハンド洗浄装置、40…
被洗浄物洗浄装置、41…載置装置、42…ロールブラ
シ、43…ローラ、50…被洗浄物洗浄乾燥装置、51
…モータ、52…スピンテーブル、53…ゲートリン
ク、54…スピンカップ、55…ブロア、56…排水
管、57…排気管、60…被洗浄物搬出装置、61…搬
入口、62…搬出口、63…載置装置
フロントページの続き (72)発明者 高宮 徹 東京都品川区北品川6丁目7番35号ソニー 株式会社内 Fターム(参考) 5F031 CC12 KK02 LL05

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエットな被洗浄物を搬入して薬液、そ
    の他で洗浄、乾燥し、その洗浄、乾燥されたドライな被
    洗浄物を搬出する洗浄装置において、 ウエットな被洗浄物を保持する第1のハンドとドライな
    被洗浄物を保持する第2のハンドとを備えた搬送ロボッ
    トと、 該搬送ロボットを中心にして、その周囲に配設され、 洗浄を必要とするウエットな被洗浄物を搬入できる搬入
    口とその被洗浄物を搬出できる搬出口とその被洗浄物を
    載置できる載置装置を備えた被洗浄物搬入装置と、 該被洗浄物搬入装置の側方に配設され、前記ハンドを洗
    浄するためのハンド洗浄装置と、 該ハンド洗浄装置の前記被洗浄物搬入装置側とは異なる
    側方に配設され、前記被洗浄物搬入装置に搬入されたウ
    エットな被洗浄物を洗浄するための被洗浄物洗浄装置
    と、 該被洗浄物洗浄装置の前記ハンド洗浄装置側とは異なる
    側方に配設され、前記被洗浄物洗浄装置で洗浄されたウ
    エットな被洗浄物を洗浄、乾燥するための被洗浄物洗浄
    乾燥装置と、 該被洗浄物洗浄乾燥装置の前記被洗浄物洗浄装置側とは
    異なる側方に配設され、前記被洗浄物洗浄乾燥装置で乾
    燥されたドライな被洗浄物を搬入することができる搬入
    口とその被洗浄物を搬出することができる搬出口とその
    被洗浄物を載置することができる載置装置を備えた被洗
    浄物搬出装置とから構成されていることを特徴とする洗
    浄乾燥装置。
  2. 【請求項2】 前記被洗浄物洗浄装置及び被洗浄物洗浄
    乾燥装置内はダウンフローの気体が流されていることを
    特徴とする請求項1に記載の洗浄装置。
  3. 【請求項3】 前記搬送ロボットの前記第1のハンドは
    前記第2のハンドの下方に省投影面積になるように配設
    されていることを特徴とする請求項1及び請求項2に記
    載の洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記被洗浄物搬入装置の前記搬入口側に
    は他のプロセス装置が、そして前記被洗浄物搬出装置の
    前記搬出口側には前記他のプロセス装置とは異なるその
    他のプロセス装置が連結できることを特徴とする請求項
    1乃至請求項3に記載の洗浄装置。
JP23266098A 1998-08-19 1998-08-19 洗浄装置 Pending JP2000068244A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23266098A JP2000068244A (ja) 1998-08-19 1998-08-19 洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23266098A JP2000068244A (ja) 1998-08-19 1998-08-19 洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000068244A true JP2000068244A (ja) 2000-03-03

Family

ID=16942802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23266098A Pending JP2000068244A (ja) 1998-08-19 1998-08-19 洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000068244A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002367947A (ja) * 2001-06-08 2002-12-20 Rix Corp ウエーハのフラックスおよび異物洗浄方法および装置
JP2002367945A (ja) * 2001-06-08 2002-12-20 Rix Corp ウエーハ移載ロボットを備えたウエーハ洗浄システム
CN100416755C (zh) * 2005-12-08 2008-09-03 上海华虹Nec电子有限公司 利用湿法腐蚀设备处理硅片的方法
KR100916004B1 (ko) * 2007-06-22 2009-09-10 한서에이치케이(주) 2개의 암을 이용한 웨이퍼 이송 장치
JP2012245477A (ja) * 2011-05-30 2012-12-13 Tanico Corp ロボットを用いた容器洗浄システム
US9059226B2 (en) 2011-03-18 2015-06-16 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment apparatus
US11173523B2 (en) 2018-05-18 2021-11-16 Ebara Corporation Substrate processing apparatus
JP2023515757A (ja) * 2020-11-11 2023-04-14 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 単一基板洗浄チャンバを有するモジュール式研磨システムにおける基板ハンドリング
US20240030047A1 (en) * 2022-07-20 2024-01-25 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treating apparatus

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002367947A (ja) * 2001-06-08 2002-12-20 Rix Corp ウエーハのフラックスおよび異物洗浄方法および装置
JP2002367945A (ja) * 2001-06-08 2002-12-20 Rix Corp ウエーハ移載ロボットを備えたウエーハ洗浄システム
CN100416755C (zh) * 2005-12-08 2008-09-03 上海华虹Nec电子有限公司 利用湿法腐蚀设备处理硅片的方法
KR100916004B1 (ko) * 2007-06-22 2009-09-10 한서에이치케이(주) 2개의 암을 이용한 웨이퍼 이송 장치
US9059226B2 (en) 2011-03-18 2015-06-16 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment apparatus
JP2012245477A (ja) * 2011-05-30 2012-12-13 Tanico Corp ロボットを用いた容器洗浄システム
US11173523B2 (en) 2018-05-18 2021-11-16 Ebara Corporation Substrate processing apparatus
JP2023515757A (ja) * 2020-11-11 2023-04-14 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 単一基板洗浄チャンバを有するモジュール式研磨システムにおける基板ハンドリング
US20240030047A1 (en) * 2022-07-20 2024-01-25 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treating apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5136103B2 (ja) 洗浄装置及びその方法、塗布、現像装置及びその方法、並びに記憶媒体
JP4597478B2 (ja) 浸漬・スクラブ・乾燥システムにおける基板処理
JP5617012B2 (ja) 基板処理装置及び該基板処理装置の運転方法
US6273802B1 (en) Method and apparatus for dry-in, dry-out polishing and washing of a semiconductor device
US5960225A (en) Substrate treatment apparatus
TWI569309B (zh) 液體處理裝置
CN101207007A (zh) 基板清洗装置、基板清洗方法及存储介质
TWI674153B (zh) 基板洗淨裝置及具備其之基板處理裝置
JP2000068244A (ja) 洗浄装置
JP2002164281A (ja) 液処理装置
JP2002299213A (ja) 基板処理装置
JPH1126547A (ja) ウエット処理装置
JP2002166217A (ja) 基板処理装置
JP3811359B2 (ja) 液処理装置
JP3999540B2 (ja) スクラブ洗浄装置におけるブラシクリーニング方法及び処理システム
JP2000340632A (ja) 基板の化学的処理装置および基板の化学的処理方法
JP3641707B2 (ja) 現像処理装置および現像処理方法
JP3752136B2 (ja) 現像処理装置および現像処理方法
JP2002361186A (ja) 処理装置
JP2000156341A (ja) 液処理システム及び液処理方法
JP7756795B2 (ja) 基板処理装置、および基板処理方法
JP2000153209A (ja) 被処理体の液処理装置及び液処理方法
JP3962490B2 (ja) 現像処理装置及び現像処理方法
JP2005109513A (ja) 現像方法及び現像装置及び液処理方法及び液処理装置
JPH0155573B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20050311

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Effective date: 20070509

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20070703

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071120