JP2000064042A - Rotary arm type sputtering equipment - Google Patents
Rotary arm type sputtering equipmentInfo
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 真空容器内の排気、掃除あるいはメンテナン
スが容易であり、搬送トラブルが少ない回転アーム方式
のスパッタ装置を提供する。
【解決手段】 放電空間を形成するスパッタ室11内に
磁界を印加するように、磁界発生装置がスパッタ室の上
方に配置され、このスパッタ室11内上部には磁界発生
装置による磁界が印加されるように、ターゲット15が
配置され、スパッタ室11には、ほぼ円筒状の気密容器
であるディスク搬送室12がその上壁17に形成された
スパッタ室開口部19を介して連設され、このディスク
搬送室12内にはディスク搬送機構30が設けられ、デ
ィスク搬送機構30は回転軸22を備え、この回転軸2
2の上端に固定されたアーム固定板24に、他端にリン
グが形成された第1および第2のアーム25、26の一
端が複数本の固定ネジ27により固定され、アーム2
5、26の端部には、サセプタ28、29が嵌合支持さ
れている。
(57) [Summary] (with correction) [PROBLEMS] To provide a rotating arm type sputtering apparatus which is easy to exhaust, clean or maintain in a vacuum vessel and has few transfer troubles. SOLUTION: A magnetic field generator is arranged above a sputter chamber so as to apply a magnetic field into a sputter chamber 11 forming a discharge space, and a magnetic field from the magnetic field generator is applied to an upper part inside the sputter chamber 11. As described above, the target 15 is arranged, and the disk transfer chamber 12 which is a substantially cylindrical airtight container is connected to the sputter chamber 11 through the sputter chamber opening 19 formed in the upper wall 17 thereof. A disk transfer mechanism 30 is provided in the transfer chamber 12, and the disk transfer mechanism 30 includes a rotating shaft 22.
One ends of first and second arms 25 and 26 each having a ring formed at the other end thereof are fixed to an arm fixing plate 24 fixed to the upper end of the arm 2 by a plurality of fixing screws 27.
Susceptors 28 and 29 are fitted and supported at the ends of 5 and 26, respectively.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はスパッタ装置に関
し、特に、回転アーム式搬送機構を備えた枚葉式マグネ
トロンスパッタ装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering apparatus, and more particularly to a single-wafer type magnetron sputtering apparatus having a rotary arm type transfer mechanism.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、CDあるいはDVDなどの情報記
録用のディスクの製造に用いる枚葉式マグネトロンスパ
ッタ装置においては、ディスク基板の搬送機構として回
転テーブルを用いる方式と、ダブルアームを用いる方式
とが知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a single-wafer type magnetron sputtering apparatus used for manufacturing a disc for recording information such as a CD or a DVD, a system using a rotary table as a mechanism for transporting a disc substrate and a system using a double arm are available. Are known.
【0003】回転テーブル方式のスパッタ装置は主とし
てCDあるいはCD−ROMの成膜に使用されるが、こ
の方式に基づくスパッタ装置は次のように構成されてい
る。すなわち、真空容器内に水平面内で間欠的に回転す
る円板状の回転テーブルがを設けられ、このテーブル面
にはディスク基板の受け皿となる、複数個、例えば4個
のサセプターが設けられている。回転テーブルの間欠回
転に対しては、上記サセプターの個数と同じ例えば4個
のディスクポジションが設けられており、上記サセプタ
ーがこれらのディスクポジションに到達した時、一時停
止して必要な成膜処理を行う。この回転テーブルはその
ディスクポジションの1つにおいて、真空容器の一部に
設けられたロードロック開口部から導入したディスク基
板をサセプタで受け、2ポジション離れた位置に配置さ
れた前記真空容器内のスパッタ室に搬送し、ここでディ
スク基板表面にスパッタ処理を施す。スパッタ処理が完
了したディスク基板は再び前記ディスクポジションの1
つにおいて、ロードロック開口部から真空容器の外部に
取り出される。The rotary table type sputtering apparatus is mainly used for film formation of CD or CD-ROM, and the sputtering apparatus based on this method is constructed as follows. That is, a disk-shaped rotary table that intermittently rotates in a horizontal plane is provided in the vacuum container, and a plurality of, for example, four susceptors serving as trays for disk substrates are provided on the table surface. . For the intermittent rotation of the rotary table, four disk positions, which are the same as the number of the above-mentioned susceptors, are provided, and when the above-mentioned susceptors reach these disk positions, they are temporarily stopped and the necessary film formation processing is performed. To do. In one of the disc positions of this rotary table, the susceptor receives the disc substrate introduced from the load lock opening provided in a part of the vacuum container, and the sputtering in the vacuum container placed at a position separated by two positions. The disk substrate is transported to a chamber where the disk substrate surface is sputtered. The disk substrate on which the sputtering process has been completed is again at the disk position 1
On the other hand, it is taken out of the vacuum container through the load lock opening.
【0004】次に、ダブルアーム方式スパッタ装置は回
転テーブルに変えてディスク搬送機構に2軸の搬送機構
をもっておりそれぞれの軸が独立に旋回して交互にデイ
スクをロードロック開口部からスパッタ室に搬送する構
造となっている。Next, the double arm type sputtering apparatus has a two-axis transfer mechanism in the disk transfer mechanism in place of the rotary table, and each axis independently turns to transfer disks alternately from the load lock opening to the sputtering chamber. It has a structure that
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記回
転テーブル方式のスパッタ装置においては、回転テーブ
ルが真空容器の上部と下部とを2分する構造となってい
るため、ディスク基板から放出されるガスが真空容器の
上部に滞留し、真空容器を効率よく排気することができ
ないという問題がある。すなわち、上述のように、ディ
スク基板はロードロック開口部を介して真空容器外部の
大気側から導入され、その際真空に排気される。しかし
その後のスパッタ処理工程においてディスク基板自体か
ら放出されるガスは非常に多く、この放出ガスが回転テ
ーブルで仕切られた真空容器の上部に滞留する。スパッ
タ処理工程においても真空容器の排気は、通常真空容器
下部に設けられた真空ポンプにより行われるが、上述の
ように回転テーブルが真空容器を2分しているために効
率よく排気出来ない。真空ポンプを真空容器下部に設け
る理由はスペースやメンテナンス上の要求によるもので
あり、真空容器上部や側面に設けることは実質上不可能
である。However, in the above-described rotary table type sputtering apparatus, since the rotary table has a structure that bisects the upper part and the lower part of the vacuum container, the gas emitted from the disk substrate is not generated. There is a problem that the vacuum container stays above the vacuum container and the vacuum container cannot be efficiently exhausted. That is, as described above, the disk substrate is introduced from the atmosphere side outside the vacuum container through the load lock opening, and is evacuated to vacuum at that time. However, a large amount of gas is released from the disk substrate itself in the subsequent sputtering process, and this released gas stays in the upper part of the vacuum container partitioned by the rotary table. Even in the sputtering process, the vacuum container is usually evacuated by the vacuum pump provided under the vacuum container. However, since the rotary table divides the vacuum container into two as described above, the vacuum container cannot be efficiently evacuated. The reason why the vacuum pump is provided in the lower part of the vacuum container is due to space and maintenance requirements, and it is practically impossible to provide it in the upper part and side surfaces of the vacuum container.
【0006】次に、一般にスパッタ装置においては、装
置のトラブルやディスク搬送時にディスクの破片や成膜
部材の破片が真空容器内に放出され、真空容器内を汚染
することがある。このような場合、テーブル方式のスパ
ッタ装置においては、回転テーブルが真空容器を2分す
る大きな面積を有するため、回転テーブルをスパッタ室
やロードロックの開口を経由して掃除作業をすること、
あるいは、回転テーブルをこれらの部分を経由して真空
容器外部に取り出すことは不可能である。したがって、
真空容器の清掃は、真空容器の上蓋を外して行わなけれ
ばならず、作業が大変であった。Next, in a sputtering apparatus, in general, when the apparatus is troubled or the disk is transported, the disk fragments or the film-forming member fragments may be discharged into the vacuum container and contaminate the inside of the vacuum container. In such a case, in the table type sputtering apparatus, since the rotary table has a large area that bisects the vacuum container, the rotary table should be cleaned through the sputter chamber and the load lock opening.
Alternatively, it is impossible to take out the rotary table to the outside of the vacuum container via these parts. Therefore,
Cleaning of the vacuum container had to be performed by removing the upper lid of the vacuum container, which was a difficult task.
【0007】次に、ダブルアーム式のスパッタ装置にお
いては、ディスク基板を回転搬送するアームはサセプタ
ーを支える部分を除いてその面積は小さいため、真空容
器の上部と下部とは区分されることはなく、一体の空間
を構成している。このためディスク基板の上面から放出
されるガスは真空容器下部に設けられる真空ポンプによ
り効率よく排気することができる。Next, in the double arm type sputtering apparatus, the arm for rotating and transporting the disk substrate has a small area except for the portion supporting the susceptor, so that the upper and lower portions of the vacuum container are not separated. , Constitutes an integral space. Therefore, the gas released from the upper surface of the disk substrate can be efficiently exhausted by the vacuum pump provided under the vacuum container.
【0008】また、アームの面積が非常に小さく作られ
ているために、ロードロック部分、スパッタ室の開口部
分から真空容器内の掃除やメンテナンスが容易に可能で
あり、アーム自体のメンテナンスも真空容器上蓋を外す
ことなく行うことができる。Further, since the area of the arm is made very small, it is possible to easily clean and maintain the inside of the vacuum container from the load lock portion and the opening portion of the sputter chamber, and the maintenance of the arm itself is also possible. It can be performed without removing the upper lid.
【0009】しかしながら、搬送機構が上下に離間配置
された2枚のアームで構成されているために、それぞれ
のアームから真空容器上蓋、スパッタ室内に配置される
センターマスクまでの昇降距離が異なるため、高速で搬
送するときは2枚のアーム間で搬送時間に多少のズレが
生じる。また下側を旋回するアームはディスクの落下距
離が長くなるために、上側のアームに比べて搬送トラブ
ルが多いという問題がある。However, since the transfer mechanism is composed of two arms which are vertically spaced apart from each other, the ascending / descending distance from each arm to the upper lid of the vacuum container and the center mask arranged in the sputtering chamber is different. When it is conveyed at a high speed, a slight deviation occurs in the conveyance time between the two arms. Further, since the arm that pivots on the lower side has a longer disc drop distance, there is a problem that there are more transport problems than the upper arm.
【0010】したがって本発明の目的は、上記従来のス
パッタ装置の欠点を除去し、真空容器内の排気、掃除あ
るいはメンテナンスが容易であり、搬送トラブルが少な
い回転アーム方式のスパッタ装置を提供することにあ
る。Therefore, an object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional sputtering apparatus, and to provide a rotating arm type sputtering apparatus which is easy to evacuate, clean, or maintain the inside of a vacuum container and has few transport troubles. is there.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の回転アーム式ス
パッタ装置は、内部に気密な放電空間を形成するスパッ
タ室と、このスパッタ室内に磁界を印加するように、前
記スパッタ室の上方に配置された磁界発生装置と、この
磁界発生装置による磁界が印加されるように、前記スパ
ッタ室内上部に配置されたターゲットと、前記スパッタ
室に開口部を介して連設されたディスク搬送室と、この
ディスク搬送室内に設けられ、垂直な回転軸にそれぞれ
固定された第1および第2の水平アームと、これらの第
1および第2の水平アームにそれぞれ支持されたサセプ
タと、これらのサセプタを垂直方向に往復運動させると
ともに、このサセプタに支持されるディスク基板を垂直
方向に往復運動させるように、前記ディスク搬送室に設
けられたプッシャ機構とを備え、前記第1および第2の
水平アームは前記垂直な回転軸に対してほぼ同一の水平
面内で反対方向に延長配置され、かつ、前記第1および
第2の水平アームの延長方向における前記サセプタ位置
がそれぞれ調整可能に前記垂直な回転軸に固定されてい
ることを特徴とするものである。A rotary arm type sputtering apparatus of the present invention is arranged above a sputtering chamber in which an airtight discharge space is formed, and a magnetic field is applied to the sputtering chamber. A magnetic field generator, a target arranged above the sputtering chamber so that a magnetic field is applied by the magnetic field generator, and a disk transfer chamber connected to the sputtering chamber through an opening. First and second horizontal arms provided in a disk transport chamber and fixed to vertical rotation shafts, susceptors supported by the first and second horizontal arms, and these susceptors in a vertical direction. And a pusher provided in the disc transfer chamber so as to reciprocate the disc substrate supported by the susceptor in the vertical direction. The first and second horizontal arms are arranged to extend in opposite directions in substantially the same horizontal plane with respect to the vertical axis of rotation, and the extending direction of the first and second horizontal arms. The position of the susceptor is fixed to the vertical rotation shaft so that it can be adjusted.
【0012】また、上記本発明の回転アーム式スパッタ
装置においては、前記ほぼ同一の水平面内で反対方向に
延長配置され第1および第2の水平アームは、それらの
延長方向が互いにほぼ180度の角度を維持した状態で
前記垂直な回転軸の回りに回転することを特徴とするも
のである。In the rotating arm type sputtering apparatus of the present invention, the first and second horizontal arms extending in opposite directions in the substantially same horizontal plane have their extending directions substantially 180 degrees. It is characterized in that it rotates about the vertical axis of rotation while maintaining the angle.
【0013】さらに、本発明の回転アーム式スパッタ装
置は、内部に気密な放電空間を形成するスパッタ室と、
このスパッタ室内に磁界を印加するように、前記スパッ
タ室の上方に配置された磁界発生装置と、この磁界発生
装置による磁界が印加されるように、前記スパッタ室内
上部に配置されたターゲットと、前記スパッタ室に開口
部を介して連設されたディスク搬送室と、このディスク
搬送室内に設けられ、垂直な回転軸にそれぞれ異なる高
さの水平面内で独立に回転するように固定された第1お
よび第2の水平アームと、これらの第1および第2の水
平アームにそれぞれ支持されたサセプタと、これらのサ
セプタを垂直方向に往復運動させるとともに、このサセ
プタに支持されるディスク基板を垂直方向に往復運動さ
せるように、前記ディスク搬送室に設けられたプッシャ
機構とを備え、前記第1および第2の水平アームの少な
くも一方は前記サセプタに支持されるディスク基板がほ
ぼ同一の水平面内に配置されるように曲折されているこ
とを特徴とするものである。Further, the rotating arm type sputtering apparatus of the present invention comprises a sputtering chamber for forming an airtight discharge space therein,
A magnetic field generator disposed above the sputtering chamber so as to apply a magnetic field to the sputtering chamber; a target disposed above the sputtering chamber so that the magnetic field generated by the magnetic field generator is applied; A disc transfer chamber continuously provided to the sputtering chamber through an opening, and a first and second disc transfer chambers fixed in the disc transfer chamber so as to rotate independently in horizontal planes having different heights from each other. A second horizontal arm, a susceptor supported by each of the first and second horizontal arms, a reciprocating motion of these susceptors in a vertical direction, and a reciprocating motion of a disk substrate supported by the susceptor in a vertical direction. A pusher mechanism provided in the disc transfer chamber for moving the disc, and at least one of the first and second horizontal arms is provided with the supporter. Is characterized in that the disk substrate is supported by the descriptor is bent so as to be disposed substantially within the same horizontal plane.
【0014】さらに、上記本発明の回転アーム式スパッ
タ装置においては、前記垂直な回転軸は第1および第2
の水平アームのそれぞれが固定される二重回転軸により
構成されていることを特徴とするものである。Further, in the rotary arm type sputtering apparatus of the present invention, the vertical rotary shaft has the first and second vertical axes.
Each of the horizontal arms is composed of a double rotating shaft that is fixed.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0016】図1は本発明を枚葉式マグネトロンスパッ
タ装置に適用した実施形態を示すスパッタ装置の断面図
である。このスパッタ装置は、ほぼ円筒状の気密容器で
あるスパッタ室11と、このスパッタ室11の下側に、
このスパッタ室11に連通して設けられた内部がほぼ円
形の気密容器であるディスク搬送室12とを備えてい
る。ディスク搬送室12の内径はスパッタ室11の内径
より大きく、ディスク搬送室12に対して偏心した位置
にスパッタ室11が配置されている。また、このスパッ
タ室11の上壁外面には磁石装置13が回転モータ14
により回転可能に設けられている。FIG. 1 is a sectional view of a sputtering apparatus showing an embodiment in which the present invention is applied to a single-wafer type magnetron sputtering apparatus. This sputtering apparatus includes a sputtering chamber 11 which is a substantially cylindrical airtight container, and a lower side of the sputtering chamber 11.
The sputter chamber 11 is provided with a disk transfer chamber 12 which is an airtight container having a substantially circular interior and which communicates with the sputter chamber 11. The inner diameter of the disc transfer chamber 12 is larger than the inner diameter of the sputter chamber 11, and the sputter chamber 11 is arranged at a position eccentric to the disc transfer chamber 12. Further, a magnet device 13 is provided on the outer surface of the upper wall of the sputtering chamber 11 with a rotary motor 14
It is rotatably provided.
【0017】スパッタ室11の上壁内面には成膜物質か
らなるデスク状のターゲット15が固定されている。タ
ーゲット15の中心部からはセンターマスク16がスパ
ッタ室11内に垂直に懸下されている。スパッタ室11
とディスク搬送室12とを区切るディスク搬送室12の
上壁17には、ディスク基板18−1の上表面をスパッ
タ室11に露出するためのスパッタ室開口部19が設け
られている。このスパッタ室開口部19はスパッタ室1
1をヒンジ機構11−1によりディスク搬送室12の上
壁17に設置することにより、スパッタ室11全体を回
動して、スパッタ室開口部19をディスク搬送室12の
外部に開口させることができる。また、図示しないが、
スパッタ室11はディスク搬送室12の上壁17でその
位置をわずかに移動可能に設置されており、スパッタ室
11を移動することにより、スパッタ室11内部のセン
ターマスク16の位置を微調整できるように構成されて
いる。A desk-shaped target 15 made of a film-forming substance is fixed to the inner surface of the upper wall of the sputtering chamber 11. A center mask 16 is vertically suspended in the sputtering chamber 11 from the center of the target 15. Sputtering room 11
A sputter chamber opening 19 for exposing the upper surface of the disc substrate 18-1 to the sputter chamber 11 is provided on the upper wall 17 of the disc transport chamber 12 that separates the disc transport chamber 12 from the sputter chamber 11. The sputtering chamber opening 19 is used as the sputtering chamber 1.
By installing 1 on the upper wall 17 of the disc transfer chamber 12 by the hinge mechanism 11-1, the entire sputter chamber 11 can be rotated to open the sputter chamber opening 19 to the outside of the disc transfer chamber 12. . Also, although not shown,
The sputtering chamber 11 is installed on the upper wall 17 of the disc transfer chamber 12 so that its position can be slightly moved. By moving the sputtering chamber 11, the position of the center mask 16 inside the sputtering chamber 11 can be finely adjusted. Is configured.
【0018】ディスク搬送室12の上壁17にはロード
ロック部を構成する搬送室開口部20が設けられてい
る。搬送室開口部20はディスク搬送室12の中心に対
してスパッタ室開口部19の反対側の位置に形成されて
いる。The upper wall 17 of the disc transfer chamber 12 is provided with a transfer chamber opening 20 which constitutes a load lock portion. The transfer chamber opening 20 is formed at a position opposite to the sputter chamber opening 19 with respect to the center of the disk transfer chamber 12.
【0019】ディスク搬送室12内には、その底壁21
を貫通して垂直に延長された回転軸22が設けられ、こ
の回転軸22の下端にはディスク搬送室12の外部下面
に固定されたモータ23が連結されている。回転軸22
の上端にはアーム固定板24が固定されている。このア
ーム固定板24には、他端にリングが形成された第1お
よび第2のアーム25、26の一端が複数本の固定ネジ
27により固定されている。第1および第2のアーム2
5、26の端部に形成されたリング部には、同じくリン
グ状の第1および第2のサセプタ28、29が嵌合支持
されている。第1および第2のサセプタ28、29には
それぞれディスク基板18−1、18−2が載置され、
回転搬送される。すなわち、回転軸22、モータ23、
第1および第2のアーム25、26および第1および第
2のサセプタ28、29はディスク搬送機構30を構成
している。図2はディスク搬送機構30を構成する第1
および第2のアーム25、26の上面図である。図中、
図1に対応する部分には同一符号を付している。Inside the disk transfer chamber 12, a bottom wall 21 thereof is provided.
A rotary shaft 22 extending vertically through the disk is provided, and a lower end of the rotary shaft 22 is connected to a motor 23 fixed to the outer lower surface of the disk transfer chamber 12. Rotating shaft 22
An arm fixing plate 24 is fixed to the upper end of the. One end of each of first and second arms 25 and 26 having a ring formed at the other end is fixed to the arm fixing plate 24 by a plurality of fixing screws 27. First and second arm 2
Ring-shaped first and second susceptors 28 and 29, which are also ring-shaped, are fitted and supported on the ring portions formed at the ends of 5 and 26, respectively. Disk substrates 18-1 and 18-2 are mounted on the first and second susceptors 28 and 29, respectively.
It is rotated and conveyed. That is, the rotary shaft 22, the motor 23,
The first and second arms 25 and 26 and the first and second susceptors 28 and 29 form a disc transfer mechanism 30. FIG. 2 shows the first part of the disk transport mechanism 30.
3 is a top view of the second arms 25 and 26. FIG. In the figure,
The parts corresponding to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.
【0020】ディスク搬送室12の下方には第1および
第2の空気シリンダ31、32が配置されている。これ
らの第1および第2の空気シリンダ31、32はそれぞ
れディスク搬送室12の底壁21を貫通してディスク搬
送室12内で上下に往復運動するシリンダロッド31−
1、32−1を備えている。第1の空気シリンダ31は
スパッタ室11の下方に位置し、シリンダロッド31−
1が上昇するとき、その上端に設けられたディスクプッ
シャ31−2により、ディスク基板18−1をスパッタ
室開口部19に押し上げる。第2の空気シリンダ32は
搬送室開口部20下方のロードロック部に位置し、シリ
ンダロッド32−1が上昇するとき、その上端に設けら
れたサセプタプッシャ32−2により、第2のサセプタ
29およびこれに載置されたディスク基板18−2を搬
送室開口部20に押し上げ、これを気密に閉塞する。Below the disk transfer chamber 12, first and second air cylinders 31 and 32 are arranged. The first and second air cylinders 31 and 32 respectively penetrate the bottom wall 21 of the disc transfer chamber 12 and reciprocate vertically in the disc transfer chamber 12.
1, 32-1. The first air cylinder 31 is located below the sputter chamber 11, and has a cylinder rod 31-
When 1 moves up, the disk pusher 31-2 provided at the upper end pushes up the disk substrate 18-1 to the sputter chamber opening 19. The second air cylinder 32 is located in the load lock portion below the transfer chamber opening 20, and when the cylinder rod 32-1 rises, the second air cylinder 32 is provided with the susceptor pusher 32-2 provided at the upper end of the second air cylinder 32 and the second susceptor 29. The disk substrate 18-2 placed on this is pushed up to the transfer chamber opening 20 and is hermetically closed.
【0021】搬送室開口部20はディスク搬送室12の
外部に設置された外部搬送機構33の水平アーム33−
1の両端に固定された真空蓋33−2の一方により気密
に閉塞される。真空蓋33−2は搬送室開口部20が第
2のサセプタ29により気密に閉塞された状態におい
て、ディスク基板18−2をその下面に保持する。外部
搬送機構33を構成するモータ33−3は水平アーム3
3−1を回転し、これによってディスク基板18−2を
搬送室開口部20を介してディスク搬送室12から外部
に取り出す。The transfer chamber opening 20 is a horizontal arm 33-of an external transfer mechanism 33 installed outside the disk transfer chamber 12.
1 is airtightly closed by one of the vacuum lids 33-2 fixed to both ends. The vacuum lid 33-2 holds the disk substrate 18-2 on its lower surface in a state where the transfer chamber opening 20 is airtightly closed by the second susceptor 29. The motor 33-3 forming the external transfer mechanism 33 is a horizontal arm 3
3-1 is rotated, and thereby the disk substrate 18-2 is taken out from the disk transfer chamber 12 through the transfer chamber opening 20.
【0022】次に、このように構成されたスパッタ装置
の動作を説明する。Next, the operation of the sputtering apparatus thus constructed will be described.
【0023】先ず、ディスク基板18−2を外部からデ
ィスク搬送室12内部に搬入する、いわゆるロードロッ
クは、外部搬送機構33により、上記と反対の動作によ
り行われる。すなわち、水平アーム33−1の真空蓋3
3−2はその下面にディスク基板18−2を保持した状
態で搬送室開口部20を気密に閉塞する。このとき、デ
ィスク搬送室12内部においては第2の空気シリンダ3
2により、サセプタプッシャ32−2が上昇し、第2の
サセプタ29とともに搬送室開口部20を閉塞してい
る。この状態で真空蓋33−2に保持されたディスク基
板18−2が開放され、第2のサセプタ29上に移され
る。その後第2の空気シリンダ32は下降してディスク
基板18−2は第2のサセプタ29とともに第2のアー
ム26のリング部に載置支持される。First, the so-called load lock for loading the disk substrate 18-2 into the disk transport chamber 12 from the outside is performed by the external transport mechanism 33 in the opposite operation. That is, the vacuum lid 3 of the horizontal arm 33-1
3-2 hermetically closes the transfer chamber opening 20 while holding the disk substrate 18-2 on the lower surface thereof. At this time, in the inside of the disk transfer chamber 12, the second air cylinder 3
2 raises the susceptor pusher 32-2, and closes the transfer chamber opening 20 together with the second susceptor 29. In this state, the disk substrate 18-2 held by the vacuum lid 33-2 is opened and transferred onto the second susceptor 29. After that, the second air cylinder 32 descends and the disk substrate 18-2 is placed and supported on the ring portion of the second arm 26 together with the second susceptor 29.
【0024】ディスク搬送機構30のモータ23は、回
転軸22を回転して第1および第2のアーム25、26
を相互にその位置を交換する。これにともなって第1お
よび第2のサセプタ28、29も相互にその位置を交換
する。したがって、第2のサセプタ29およびこれに載
置されたディスク基板18−2は、図1の第1のサセプ
タ28およびディスク基板18−1として示す位置に移
動する。The motor 23 of the disk transfer mechanism 30 rotates the rotary shaft 22 to rotate the first and second arms 25 and 26.
Exchange their positions with each other. Accordingly, the positions of the first and second susceptors 28 and 29 are exchanged with each other. Therefore, the second susceptor 29 and the disk substrate 18-2 placed on it move to the positions shown as the first susceptor 28 and the disk substrate 18-1 in FIG.
【0025】次に、スパッタ室11の下方に位置する第
1の空気シリンダ31はそのシリンダロッド31−1を
上昇させ、上端のディスクプッシャ31−2により、デ
ィスク基板18−1を第1のサセプタ28から引き離し
てスパッタ室開口部19に押し上げる。この位置におい
ては、図示しないが、ディスクプッシャ31−2の上面
に形成された突起部がセンターマスク16の漏斗状の下
端部に嵌合する。Next, the cylinder rod 31-1 of the first air cylinder 31 located below the sputtering chamber 11 is raised, and the disk pusher 31-2 at the upper end moves the disk substrate 18-1 into the first susceptor. It is separated from 28 and pushed up to the sputtering chamber opening 19. At this position, although not shown, the protrusion formed on the upper surface of the disk pusher 31-2 fits into the funnel-shaped lower end of the center mask 16.
【0026】この状態において、スパッタ室11内にお
いて放電が開始し、ターゲット15から放出されたター
ゲット物質がディスク基板18−1の表面に堆積して膜
を生成し、スパッタ処理が行われる。スパッタ処理が終
了すると第1の空気シリンダ31はそのシリンダロッド
31−1を下降させ、ディスク基板18−1は再び第1
のサセプタ28上に戻される。In this state, discharge is started in the sputtering chamber 11, the target material emitted from the target 15 is deposited on the surface of the disk substrate 18-1 to form a film, and the sputtering process is performed. When the sputtering process is completed, the first air cylinder 31 lowers its cylinder rod 31-1 and the disk substrate 18-1 is again moved to the first air cylinder 31.
Is put back on the susceptor 28.
【0027】次いで、ディスク搬送機構30のモータ2
3は、回転軸22を回転し、第1および第2のアーム2
5、26を相互にその位置を交換する。これによって、
第1のサセプタ28およびこれに載置されたディスク基
板18−1は、図1の第2のサセプタ29およびディス
ク基板18−2として示す位置に戻される。その後スパ
ッタ処理が施されたディスク基板18−2は、前述した
ように、第2の空気シリンダ32により第2のサセプタ
29とともに搬送室開口部20に押し上げられ、この搬
送室開口部20を介して外部搬送機構33により、ディ
スク搬送室12の外部に搬出される。Next, the motor 2 of the disk transport mechanism 30.
3 rotates the rotary shaft 22, and the first and second arms 2
The positions of 5, 26 are exchanged with each other. by this,
The first susceptor 28 and the disk substrate 18-1 placed on it are returned to the positions shown as the second susceptor 29 and the disk substrate 18-2 in FIG. After that, the disk substrate 18-2 subjected to the sputtering process is pushed up by the second air cylinder 32 into the transfer chamber opening 20 together with the second susceptor 29, and is transferred through the transfer chamber opening 20 as described above. The external transfer mechanism 33 carries the disk out of the disk transfer chamber 12.
【0028】以上のように構成した上記実施形態のスパ
ッタ装置においては、ディスク搬送機構30を構成する
第1および第2のアーム25、26は回転軸22のアー
ム固定板24に固定ネジ27により個別に固定されてお
り、かつ、第1および第2のアーム25、26の形状も
小型で小さな面積を有するため、これらのアーム25、
26をメンテナンスのため、スパッタ室開口部19を介
して容易に外部に取り出すことができる。In the sputtering apparatus of the above embodiment configured as described above, the first and second arms 25 and 26 constituting the disk transport mechanism 30 are individually attached to the arm fixing plate 24 of the rotating shaft 22 by the fixing screws 27. Is fixed to the first and second arms 25 and 26, and the shapes of the first and second arms 25 and 26 are small and have a small area.
26 can be easily taken out through the sputter chamber opening 19 for maintenance.
【0029】また、このようなディスク搬送機構30の
構成により、第1および第2のサセプタ28、29とス
パッタ室開口部19との位置合わせである芯出しが容易
になった。すなわち、この芯出しは第1のサセプタ28
の中心をロードロック部の搬送室開口部20の中心に合
わせるように、第1のアーム25の位置を調整して回転
軸22のアーム固定板24に固定ネジ27により固定す
る。次に第1のアーム25を回転してスパッタ室11下
部に搬送し、第1のサセプタ28の中心とスパッタ室1
1内のセンターマスク16の中心とをスパッタ室11の
位置を調整することにより一致させる。第2のアーム2
6については第2のサセプタ29の中心をロードロック
部の搬送室開口部20の中心にが合わせるように、第2
のアーム26の位置を調整してアーム固定板24に固定
することにより、芯出しを行うことができる。Further, such a structure of the disk transport mechanism 30 facilitates the centering for aligning the first and second susceptors 28 and 29 with the sputter chamber opening 19. That is, this centering is performed by the first susceptor 28.
The position of the first arm 25 is adjusted and fixed to the arm fixing plate 24 of the rotary shaft 22 with the fixing screw 27 so that the center of the first arm 25 is aligned with the center of the transfer chamber opening 20 of the load lock part. Next, the first arm 25 is rotated and conveyed to the lower part of the sputtering chamber 11, and the center of the first susceptor 28 and the sputtering chamber 1 are
The center of the center mask 16 in 1 is made to match by adjusting the position of the sputtering chamber 11. Second arm 2
For No. 6, the second susceptor 29 is adjusted so that the center of the second susceptor 29 is aligned with the center of the transfer chamber opening 20 of the load lock unit.
Centering can be performed by adjusting the position of the arm 26 and fixing it to the arm fixing plate 24.
【0030】さらに、上記実施形態のスパッタ装置にお
いては、第1および第2のサセプタ28、29は、ディ
スク基板を支持するリング状部の径に対してそれ以外の
アーム部分の幅を狭く形成しているため、スパッタ処理
中にディスク基板から放出されるガスを、ディスク搬送
室12下部に設置された真空ポンプ(図示せず)により
容易に排気することができる。Further, in the sputtering apparatus of the above embodiment, the first and second susceptors 28 and 29 are formed such that the width of the other arm portion is narrower than the diameter of the ring-shaped portion supporting the disk substrate. Therefore, the gas released from the disk substrate during the sputtering process can be easily exhausted by the vacuum pump (not shown) installed in the lower part of the disk transfer chamber 12.
【0031】図3は本発明の他の実施形態を示すスパッ
タ装置の断面図であり、図4はその要部を示す水平断面
図である。この実施形態においてはスパッタ室が2個設
置されていること、ディスク搬送機構の構成が図1の実
施形態と異なる点を除いてほぼ同じ構成となっている。
したがって、図3においては図1と同一の構成部分には
同一符号を付して詳細な説明は省略し、以下では主とし
て異なる部分について説明する。FIG. 3 is a sectional view of a sputtering apparatus showing another embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a horizontal sectional view showing the main part thereof. This embodiment has almost the same configuration except that two sputtering chambers are installed and the configuration of the disk transport mechanism is different from that of the embodiment of FIG.
Therefore, in FIG. 3, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted, and hereinafter, different portions will be mainly described.
【0032】図4に示されるように、ディスク搬送室1
2はその内面の水平断面がほぼ半円形を成しており、そ
の半円形の平坦な辺部の両側には第1および第2のスパ
ッタ室11、11´が設置され、半円形の円周部頂点付
近にはロードロック部の搬送室開口部20が配置されて
いる。なお、図3には第2のスパッタ室11´は表れて
いない。As shown in FIG. 4, the disk transfer chamber 1
2 has a substantially semi-circular horizontal cross section on its inner surface, and the first and second sputtering chambers 11 and 11 'are installed on both sides of the flat side of the semi-circle, and the semi-circular circumference is defined. A transfer chamber opening 20 of the load lock unit is arranged near the top of the section. The second sputtering chamber 11 'is not shown in FIG.
【0033】図3において、ディスク搬送室12内に設
けられたディスク搬送機構40は、ディスク搬送室12
の外部下方に設置された第1および第2のモータ41、
42により、二重回転軸43、44がそれぞれ独立に回
転駆動される。これらの二重回転軸43、44の頂部に
はそれぞれ他端にリングが形成された第1および第2の
アーム45、46の一端が複数本の固定ネジ47(図
4)により固定されている。第1および第2のアーム4
5、46の端部に形成されたリング部には、同じくリン
グ状の第1および第2のサセプタ28、29が嵌合支持
されている。第1および第2のサセプタ28、29には
それぞれディスク基板18−1、18−2が載置され、
回転搬送される。In FIG. 3, the disk transfer mechanism 40 provided in the disk transfer chamber 12 is
A first and a second motor 41 installed below the outside of the
By 42, the double rotation shafts 43 and 44 are independently driven to rotate. One ends of first and second arms 45 and 46 each having a ring formed at the other end are fixed to the tops of these double rotation shafts 43 and 44 by a plurality of fixing screws 47 (FIG. 4). . First and second arm 4
Ring-shaped first and second susceptors 28 and 29, which are also ring-shaped, are fitted and supported on the ring portions formed at the ends of 5, and 46, respectively. Disk substrates 18-1 and 18-2 are mounted on the first and second susceptors 28 and 29, respectively.
It is rotated and conveyed.
【0034】図4はディスク搬送機構40を構成する第
1および第2のアーム45、46の上面図であるが、第
1および第2のアーム45、46はそれぞれ二重回転軸
43、44の頂部に固定されているが、第1のアーム4
5は二重回転軸43の頂部から第1のサセプタ28が嵌
合されるリング部に至る間に段状に曲折され、第1およ
び第2のアーム45、46の端部のリング部は同じ高さ
の水平面内に位置するように揃えられている。そして第
1および第2のアーム45、46の回転角度は図に示す
ように90度の範囲で二重回転軸43、44により独立
に回転される。この回転角度範囲は必ずしも90度以内
に限ることはなく、120度以内であればよい。FIG. 4 is a top view of the first and second arms 45 and 46 which constitute the disk transport mechanism 40. The first and second arms 45 and 46 are respectively the double rotation shafts 43 and 44. First arm 4 fixed on top
5 is stepwise bent from the top of the double rotary shaft 43 to the ring portion to which the first susceptor 28 is fitted, and the ring portions at the ends of the first and second arms 45 and 46 are the same. Aligned to lie in a horizontal plane of height. The rotation angles of the first and second arms 45 and 46 are independently rotated by the double rotation shafts 43 and 44 within a range of 90 degrees as shown in the figure. This rotation angle range is not necessarily limited to within 90 degrees, but may be within 120 degrees.
【0035】このように構成されたスパッタ装置の動作
を次に説明する。この装置においては、第1および第2
のスパッタ室11、11´が設置されているため、それ
ぞれのパッタ室に異なる材料のターゲットを用いて異な
る種類の膜を形成することができる。例えばこの装置
は、CD用とDVD用の両方のディスク成膜に共用する
ことができる。また、この装置を例えば、CD用のディ
スクの成膜のみに用いる場合には、第1および第2のス
パッタ室11、11´に同じ材料のターゲットを用いる
ことにより、その生産効率を大幅に向上することができ
る。いずれの場合においても、搬送機構40により第1
および第2のアーム45、46はそれぞれ独立にディス
ク基板18−1、18−2を回転搬送できるため、ロー
ドロック部の搬送室開口部20を経由してディスク搬送
室12内に搬入されたディスク基板18−1、18−2
を第1および第2のスパッタ室11、11´下方に交互
に搬送してスパッタ処理による成膜を行うことができ
る。The operation of the sputtering apparatus having the above structure will be described below. In this device, the first and second
Since the sputtering chambers 11 and 11 'are installed, different kinds of films can be formed in the respective sputtering chambers by using targets made of different materials. For example, this apparatus can be used for both CD and DVD disk deposition. Further, when this apparatus is used only for film formation of a disk for CD, for example, by using targets made of the same material for the first and second sputtering chambers 11 and 11 ', the production efficiency is significantly improved. can do. In any case, the transport mechanism 40 causes the first
Since the second arms 45 and 46 can independently rotate and transfer the disk substrates 18-1 and 18-2, the disks loaded into the disk transfer chamber 12 via the transfer chamber opening 20 of the load lock unit. Substrates 18-1, 18-2
Can be alternately transported below the first and second sputtering chambers 11 and 11 'to form a film by sputtering.
【0036】この実施形態のスパッタ装置によれば、第
1および第2のアーム45、46はそれぞれ90度乃至
は120度の角度範囲しか回転しないため、ディスク搬
送室12はその内面の水平断面が円形でなく半円形でよ
いため、ディスク搬送室12の容積を小さくでき、ディ
スク搬送室12を構成する上下の壁の厚さを薄くし、装
置全体の軽量化を図ることができる。According to the sputtering apparatus of this embodiment, since the first and second arms 45 and 46 rotate only within an angle range of 90 degrees to 120 degrees, the disk transfer chamber 12 has a horizontal cross section of its inner surface. Since it may be a semicircular shape instead of a circular shape, the volume of the disk transfer chamber 12 can be reduced, the upper and lower walls forming the disk transfer chamber 12 can be made thin, and the weight of the entire apparatus can be reduced.
【0037】また、ディスク搬送室12内に設置される
搬送機構40も、図1の実施形態と同じく、2本の幅の
狭い第1および第2のアーム45、46を用いているた
め、回転テーブルのようにディスク搬送室12内を上下
に区分することがないため、スパッタ処理中にディスク
基板から放出されるガスを、ディスク搬送室12下部に
設置された真空ポンプにより容易に排気することができ
る。The transfer mechanism 40 installed in the disk transfer chamber 12 also uses two narrow first and second arms 45 and 46 as in the embodiment of FIG. Since the inside of the disk transfer chamber 12 is not divided into upper and lower parts like a table, the gas released from the disk substrate during the sputtering process can be easily exhausted by a vacuum pump installed below the disk transfer chamber 12. it can.
【0038】また、これらのアーム45、46のメンテ
ナンスのための取り外しもスパッタ室開口部19を介し
て容易に行うことができる。Further, the arms 45 and 46 can be easily removed for maintenance through the sputter chamber opening 19.
【0039】さらに、上記第1および第2のアーム4
5、46のリング部は同じ高さの水平面内に位置するよ
うに揃えられているため、スパッタ処理の終了後のディ
スク基板18−1の第1のサセプタ28上への自由落下
距離と、ディスク基板18−2の第2のサセプタ29上
への自由落下距離とが等しくなり、自由落下距離が異な
ることに起因する搬送トラブルを防止することができ
る。Further, the first and second arms 4 described above
Since the ring portions 5 and 46 are aligned so as to be located in the horizontal plane of the same height, the free fall distance of the disk substrate 18-1 onto the first susceptor 28 after the completion of the sputtering process and the disk The free fall distance of the substrate 18-2 onto the second susceptor 29 becomes equal, and it is possible to prevent a transport trouble caused by a difference in the free fall distance.
【0040】[0040]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
真空容器内の排気、掃除あるいはメンテナンスが容易で
あり、搬送トラブルが少ない回転アーム方式のスパッタ
装置を提供することができる。As described above, according to the present invention,
It is possible to provide a rotary arm type sputtering apparatus in which the vacuum container can be easily evacuated, cleaned, or maintained, and there are few transport problems.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】本発明の一実施形態を示す回転アーム方式のス
パッタ装置の断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of a rotary arm type sputtering apparatus showing an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示すスパッタ装置の要部水平断面図であ
る。FIG. 2 is a horizontal sectional view of a main part of the sputtering apparatus shown in FIG.
【図3】本発明の他の実施形態を示す回転アーム方式の
スパッタ装置の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a rotary arm type sputtering apparatus showing another embodiment of the present invention.
【図4】図3に示すスパッタ装置の要部水平断面図であ
る。4 is a horizontal sectional view of a main part of the sputtering apparatus shown in FIG.
11 スパッタ室 12 ディスク搬送室 13 磁石装置 15 ターゲット 16 センターマスク 17 上壁 18 ディスク基板 19 スパッタ室開口部 20 搬送室開口部 21 底壁 22 回転軸 23 モータ 24 アーム固定板 25 第1のアーム 26 第2のアーム 27 固定ネジ 28 第1のサセプタ 29 第2のサセプタ 30 ディスク搬送機構 31 第1の空気シリンダ 32 第2の空気シリンダ 33 外部搬送機構 11 Sputtering room 12 Disc transfer chamber 13 Magnet device 15 Target 16 center mask 17 Upper wall 18 disk substrate 19 Sputtering chamber opening 20 Transport chamber opening 21 bottom wall 22 rotation axis 23 motor 24 Arm fixing plate 25 First Arm 26 Second Arm 27 fixing screw 28 First susceptor 29 Second susceptor 30 disk transport mechanism 31 first air cylinder 32 Second air cylinder 33 External transport mechanism
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池田 治朗 東京都新宿区市谷田町1丁目4番地 株式 会社ソニー・ミュージックエンタテインメ ント内 (72)発明者 小田 喜文 神奈川県横浜市栄区笠間町1000番地1 株 式会社芝浦製作所横浜事業所内 Fターム(参考) 4K029 CA05 DC39 KA01 5D121 EE03 EE19 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Jiro Ikeda 1-4 Yata-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Stock Sony Music Entertainment Inc. Inside (72) Inventor Yoshifumi Oda 1 share, 1000 Kasama-cho, Sakae-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Shibaura Works Yokohama Office F-term (reference) 4K029 CA05 DC39 KA01 5D121 EE03 EE19
Claims (4)
タ室と、このスパッタ室内に磁界を印加するように、前
記スパッタ室の上方に配置された磁界発生装置と、この
磁界発生装置による磁界が印加されるように、前記スパ
ッタ室内上部に配置されたターゲットと、前記スパッタ
室に開口部を介して連設されたディスク搬送室と、この
ディスク搬送室内に設けられ、垂直な回転軸にそれぞれ
固定された第1および第2の水平アームと、これらの第
1および第2の水平アームにそれぞれ支持されたサセプ
タと、これらのサセプタを垂直方向に往復運動させると
ともに、このサセプタに支持されるディスク基板を垂直
方向に往復運動させるように、前記ディスク搬送室に設
けられたプッシャ機構とを備え、前記第1および第2の
水平アームは前記垂直な回転軸に対してほぼ同一の水平
面内で反対方向に延長配置され、かつ、前記第1および
第2の水平アームの延長方向における前記サセプタ位置
がそれぞれ調整可能に前記垂直な回転軸に固定されてい
ることを特徴とする回転アーム式スパッタ装置。1. A sputtering chamber for forming an airtight discharge space therein, a magnetic field generator disposed above the sputtering chamber so as to apply a magnetic field to the sputtering chamber, and a magnetic field generated by the magnetic field generator. To be applied, a target placed above the sputtering chamber, a disc transfer chamber connected to the sputtering chamber through an opening, and provided in the disc transfer chamber, each of which is fixed to a vertical rotating shaft. First and second horizontal arms, susceptors supported by the first and second horizontal arms, and a reciprocating motion of these susceptors in the vertical direction, and a disk substrate supported by the susceptor. And a pusher mechanism provided in the disc transfer chamber so as to reciprocate vertically. Extending in opposite directions in substantially the same horizontal plane with respect to the straight rotation axis, and the susceptor position in the extension direction of the first and second horizontal arms is fixed to the vertical rotation axis so as to be adjustable. A rotating arm type sputtering device characterized in that
長配置され第1および第2の水平アームは、それらの延
長方向が互いにほぼ180度の角度を維持した状態で前
記垂直な回転軸の回りに回転することを特徴とする請求
項1記載の回転アーム式スパッタ装置。2. The first and second horizontal arms extending in opposite directions in the substantially same horizontal plane are arranged such that their extending directions maintain an angle of about 180 degrees with respect to each other of the vertical rotation axis. The rotating arm type sputtering apparatus according to claim 1, wherein the rotating arm type sputtering apparatus rotates.
タ室と、このスパッタ室内に磁界を印加するように、前
記スパッタ室の上方に配置された磁界発生装置と、この
磁界発生装置による磁界が印加されるように、前記スパ
ッタ室内上部に配置されたターゲットと、前記スパッタ
室に開口部を介して連設されたディスク搬送室と、この
ディスク搬送室内に設けられ、垂直な回転軸にそれぞれ
異なる高さの水平面内で独立に回転するように固定され
た第1および第2の水平アームと、これらの第1および
第2の水平アームにそれぞれ支持されたサセプタと、こ
れらのサセプタを垂直方向に往復運動させるとともに、
このサセプタに支持されるディスク基板を垂直方向に往
復運動させるように、前記ディスク搬送室に設けられた
プッシャ機構とを備え、前記第1および第2の水平アー
ムの少なくも一方は前記サセプタに支持されるディスク
基板がほぼ同一の水平面内に配置されるように曲折され
ていることを特徴とする回転アーム式スパッタ装置。3. A sputtering chamber that forms an airtight discharge space inside, a magnetic field generator disposed above the sputtering chamber so as to apply a magnetic field to the sputtering chamber, and a magnetic field generated by the magnetic field generator. To be applied, a target placed in the upper part of the sputtering chamber, a disc transfer chamber connected to the sputter chamber through an opening, and provided in the disc transfer chamber, each having a different vertical rotation axis. First and second horizontal arms fixed to rotate independently in a horizontal plane of height, susceptors supported by these first and second horizontal arms, respectively, and these susceptors in a vertical direction. While reciprocating,
A pusher mechanism provided in the disc transfer chamber so as to vertically reciprocate the disc substrate supported by the susceptor, and at least one of the first and second horizontal arms is supported by the susceptor. A rotating arm type sputtering apparatus, wherein the disk substrates to be formed are bent so as to be arranged in substantially the same horizontal plane.
平アームのそれぞれが固定される二重回転軸により構成
されていることを特徴とする請求項3記載の回転アーム
式スパッタ装置。4. The rotary arm type sputtering apparatus according to claim 3, wherein the vertical rotary shaft is constituted by a double rotary shaft to which each of the first and second horizontal arms is fixed.
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|---|---|
| JP (1) | JP2000064042A (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002198413A (en) * | 2000-10-04 | 2002-07-12 | Boc Group Inc:The | Vacuum chamber load lock structure and article transport mechanism |
| JP2002285332A (en) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Shibaura Mechatronics Corp | Vacuum processing equipment |
| JP2009032312A (en) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Sony Disc & Digital Solutions Inc | Vacuum transfer apparatus and vacuum transferring method |
| JP2009129625A (en) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Tdk Corp | Milling device |
| JP2013171941A (en) * | 2012-02-20 | 2013-09-02 | Stanley Electric Co Ltd | Vacuum processing apparatus, and method of manufacturing article using vacuum processing apparatus |
| JP2018076566A (en) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | 株式会社メープル | Thin film forming equipment |
| KR20200032006A (en) * | 2018-09-17 | 2020-03-25 | 에이에스엠 넥스 인코포레이티드 | Batch processing system with vacuum isolation |
| CN120967312A (en) * | 2025-10-22 | 2025-11-18 | 无锡尚积半导体科技股份有限公司 | Multi-degree-of-freedom composite motion magnetron control device for magnetron sputtering equipment |
-
1998
- 1998-08-19 JP JP10232476A patent/JP2000064042A/en active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002198413A (en) * | 2000-10-04 | 2002-07-12 | Boc Group Inc:The | Vacuum chamber load lock structure and article transport mechanism |
| JP2002285332A (en) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Shibaura Mechatronics Corp | Vacuum processing equipment |
| JP2009032312A (en) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Sony Disc & Digital Solutions Inc | Vacuum transfer apparatus and vacuum transferring method |
| US8029706B2 (en) | 2007-07-25 | 2011-10-04 | Sony Disc & Digital Solutions, Inc. | Vacuum transfer apparatus and method |
| JP2009129625A (en) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Tdk Corp | Milling device |
| JP2013171941A (en) * | 2012-02-20 | 2013-09-02 | Stanley Electric Co Ltd | Vacuum processing apparatus, and method of manufacturing article using vacuum processing apparatus |
| JP2018076566A (en) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | 株式会社メープル | Thin film forming equipment |
| KR20200032006A (en) * | 2018-09-17 | 2020-03-25 | 에이에스엠 넥스 인코포레이티드 | Batch processing system with vacuum isolation |
| KR102335300B1 (en) | 2018-09-17 | 2021-12-06 | 에이에스엠 넥스 인코포레이티드 | Batch processing system with vacuum isolation |
| CN120967312A (en) * | 2025-10-22 | 2025-11-18 | 无锡尚积半导体科技股份有限公司 | Multi-degree-of-freedom composite motion magnetron control device for magnetron sputtering equipment |
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