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JP2000061832A - ポリッシング装置のロードカセットチルト機構 - Google Patents

ポリッシング装置のロードカセットチルト機構

Info

Publication number
JP2000061832A
JP2000061832A JP10233006A JP23300698A JP2000061832A JP 2000061832 A JP2000061832 A JP 2000061832A JP 10233006 A JP10233006 A JP 10233006A JP 23300698 A JP23300698 A JP 23300698A JP 2000061832 A JP2000061832 A JP 2000061832A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
polishing
load
cassette
load cassette
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10233006A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunji Hakomori
駿二 箱守
Toshikuni Shimizu
俊邦 清水
Kazutomo Hatano
和智 波田野
Motoi Nezu
基 根津
Yasushi Sekoguchi
康 世古口
Takahiro Ueda
隆宏 上田
Masatomo Suzuki
昌智 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SpeedFam-IPEC Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam-IPEC Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SpeedFam-IPEC Co Ltd filed Critical SpeedFam-IPEC Co Ltd
Priority to JP10233006A priority Critical patent/JP2000061832A/ja
Publication of JP2000061832A publication Critical patent/JP2000061832A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の収納部を有するロードカセットの各収
納部内に収納したウエハを収納部の所定の位置にするポ
リッシング装置のロードカセットチルト機構を提供す
る。 【解決手段】 複数の収納部を有するロードカセット
を、その収納部の取り入れ、取り出し側を、シリンダに
よって上下動可能とし、上動時にウエハを収納部内で滑
動させて収納部内の一定の位置に位置させるようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、シリコンウエハ
等のメカノケミカルポリッシング(化学機械的研磨)を
行うポリッシング装置に用いられるロードカセットチル
ト機構に関し、特に、カセット内に積層した複数のウエ
ハをカセット内の一定の位置にすることができるポリッ
シング装置のロードカセットチルト機構に関するもので
ある。
【0002】
【従来技術およびその問題点】一般に、シリコンウエハ
上への集積回路の形成は、典型的には、導電層、半導体
層や絶縁層を、連続的にウエハ上へ、特に、シリコンウ
エハ上へ堆積することにより行われる。各層を堆積した
後は、この層をエッチングして回路の造作を形成する。
一連の層を連続して堆積しエッチングすれば、ウエハの
外側面ないし最上面、すなわち、ウエハの露出面は、徐
々に非平坦的になっていく。これは、外側面とその下の
ウエハとの距離が、エッチングが最も生じない領域で最
も大きく、エッチングが最も生じる領域で最も小さいた
めに生じるものである。
【0003】単一のパターニングを有する下層について
は、この非平坦の表面は一連の山(ピーク)と谷とを備
えており、この最高の山と最低の谷との高さの差は7,
000〜10,000オングストローム程度である。複
数のパターニングを有する下層では、山と谷との高さの
差は更に著しくなり数ミクロンにまで達することもあ
る。
【0004】この非平坦の外側面は、集積回路の製造に
おける問題を示している。外側面が平坦でなければ、フ
ォトリソグラフィーの技術によりフォトレジスタのパタ
ーニングを行う際、非平坦である表面ではフォトリソグ
ラフィー装置で正確なフォーカスができなくなるため、
適当でない場合がある。したがって、このウエハの表面
を定期的に平坦化(プラナイズ)して面を平坦にする必
要がある。平坦化によって、非平坦な外側面を研磨し
て、導電層、半導電層や絶縁層のいずれをも取り去っ
て、比較的平坦でスムーズな面を形成する。
【0005】ケミカルメカニカルポリッシング(CM
P)は平坦化のためのものとして認められている方法の
1つである。この平坦化の方法では典型的には、シリコ
ンウエハを、研磨する面が露出するようにプレッシャー
プレートに設置することが必要である。このプレッシャ
ープレートに支持されたウエハは、回転するポリッシン
グパッドに対して配置される。ウエハを保持するプレッ
シャープレートも回転させて、ウエハとポリッシングパ
ッド表面との間に更に運動を加えても良い。
【0006】更に、研磨剤と、少なくとも1つの化学反
応剤とを含有する研磨スラリーとをポリッシングパッド
に供給し、ポリッシングパッドとウエハとの境界面に研
磨性の化学品溶液を供給する。酸化物層の研磨に対して
は、スラリーは直径50nm程度のシリカグリッドで構
成されている。このグリッドは、発煙により形成された
後、PH10.5程度の塩基溶液の中に入れられる。そ
して、この溶液は、コロイドサスペンション(コロイド
懸濁液)を長期に維持するようにブレンドして強いシェ
アをかけられる。メタルの研磨のためには、グリッドは
シリカ又はアルミナのいずれかにより形成される。
【0007】ケミカルメカニカルポリッシングプロセス
における重要な因子は、ウエハ表面の仕上げ(粗さ)
と、ウエハ表面の平坦性と、研磨速度とである。平坦性
と粗さとが適切でない場合には、ウエハの欠陥を引き起
こす。研磨速度によって、1つの層の研磨に要する時間
が決定される。したがって、必要な仕上げと平坦性とを
実現するために要する研磨時間が、ポリッシング装置の
最大のスループットを決定する。
【0008】続いて行われる製造工程の処理条件で研磨
済みの面の仕上げと平坦性とが要求されるため、しばし
ばスループットの研磨速度に関する部分が上記の兼ね合
いにより犠牲となる。それでも、ポリッシング装置のコ
ストは、処理するウエハの数により償還されるため、商
業市場ではスループットを高めることが必須である。勿
論、高いスループットは、コストと、用いる機械の複雑
さとに対してバランスさせなければならない。
【0009】さらに、従来のポリッシング装置では、研
磨面に対する基板の搬出、搬入によりスループットが制
限される。スループットを増加させるために従来技術に
より試みられているものの1つに、ウエハの研磨のため
に複数の研磨面を用い、2つの異なるポリッシングパッ
ドとスラリーとの組み合わせにより研磨速度および仕上
げの最適化を可能とするものがある。そのようなポリッ
シング装置にあっては、主研磨面と細密研磨面とを備え
ている。1つのポリッシングパッドが1つのポジショニ
ング装置によって制御され、装置の別々のポリッシング
ステーションの間で1つのウエハを移動させて研磨を行
っている。
【0010】上記のように構成されているポリッシング
装置においては、ロードカセットに収納されたウエハ
を、上面にロードバッファが設けられたインデックステ
ーブル装置に受け渡し、この受け渡されたロードバッフ
ァ上のウエハを研磨装置に伝達して研磨を行ない、研磨
後に再びインデックステーブル装置のアンロードバッフ
ァに載置するようになっている。しかしながら、従来の
ポリッシング装置にあっては、ロードカセットに収納さ
れたウエハを、伝達部材によってインデックステーブル
装置のロードバッファの上面に受け渡すようになってお
り、しかも各ウエハがロードカセット内の一定の位置と
なっていないので、伝達部材自体が複雑な構造となって
しまい、確実に受け渡すことができない場合が生じると
いう問題点を有していた。
【0011】この発明の目的は、ポリッシング装置の供
給部に位置するとともに、複数のウエハを収納したロー
ドカセットを、取り出し方向を上方に傾斜することによ
りウエハがロードカセットの奥側に滑動して一定の位置
とすることができるポリッシング装置のロードカセット
チルト機構を提供することにある。この発明の他の目的
は、ロードカセットからウエハを取り出す部材として上
下方向および水平方向に高い精度で制御可能なマニュピ
レータを使用し、ロードカセットの収納部内の一定の位
置にウエハが位置できることと相俟ってロードカセット
から確実にウエハを取り出すことができるようにしたポ
リッシング装置のロードカセットチルト機構を提供する
ことにある。
【0012】
【問題点を解決するための手段】上記の問題点を解決す
るためにこの発明は、上面にロードバッファとアンロー
ドバッファとが設けられているインデックステーブル装
置と、研磨前のウエハを収納可能な複数段の収納部を有
するロードカセットが配設された供給部とを具え、ロー
ドカセットのウエハをインデックステーブル装置に受け
渡したのちに研磨部で研磨するようにしたポリッシング
装置において、上面にロードカセットを載置可能であ
り、奥側を支点としてウエハの取り出し方向手前側を上
下動可能に支持された基板と、この基板の手前側を上方
に持ち上げる作動部材とを具えたことを特徴とするポリ
ッシング装置のロードカセットチルト機構を構成したも
のである。また、この発明は、上面にロードバッファと
アンロードバッファとが設けられているインデックステ
ーブル装置と、研磨前のウエハを収納可能な複数段の収
納部を有するロードカセットが配設された供給部とを具
え、ロードカセットのウエハをインデックステーブル装
置に受け渡したのちに研磨部で研磨するようにしたポリ
ッシング装置において、奥側を支点としてウエハの取り
出し方向手前側を上下動可能に支持された基板と、この
基板の手前側を上方に持ち上げる作動部材と、を複数組
具え、各基板上にウエハが収納されたロードカセットを
位置するとともに、作動部材によって各ウエハを収納部
内の一定の位置とすることを特徴とするポリッシング装
置のロードカセットチルト機構を構成したものである。
そして、ウエハの供給部には上下方向および水平方向に
移動可能なマニュピレータが設けられ、このマニュピレ
ータでロードカセットの各収納部内に一定の位置となっ
ているウエハを取り出すことができる構成を有してい
る。
【0013】
【作用】上記の手段を採用したことによりこの発明は、
供給部のロードカセットに収納した研磨前のウエハはロ
ードカセット自体が傾斜することによりウエハが収納部
内を滑動して一定の位置となる。したがってマニュピレ
ータを上下方向および水平方向に制御することによりウ
エハを確実に取り出すことができる。また、マニュピレ
ータの作動範囲内に複数のロードカセットチルト機構を
設けておけば、各ロードカセットチルト機構にはウエハ
を収納したロードカセットを位置するだけで確実にウエ
ハは位置決めされることになる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面に示すこの発明の実施
の形態について説明する。図1にはこの発明によるロー
ドカセットチルト機構が設けられたポリッシング装置の
一部を取り除いた概略平面図が、図2には図1の概略右
側面図が、そして、図3には図1の概略正面図が示され
ている。
【0015】前記ポリッシング装置1は、収納部が複数
段となっている2つのロードカセットを有する供給部2
と、ウエハを載置するロードバッファおよびアンロード
バッファをそれぞれ2つずつ有するとともに、所定の角
度で水平方向に回動して位置決めするインデックステー
ブル装置3と、このインデックステーブル装置3を挟ん
で前記供給部2と対向するとともに、前記ロードカセッ
トと同様に収納部が複数段となっている2つのアンロー
ドカセットを有する排出部4とを具えている。
【0016】また、この発明によるロードカセットチル
ト機構は、図17および図18に示すように供給部2に
設けた2つのロードカセット90にそれぞれ示されてい
る。すなわち、ロードカセット90を載置する基板11
0は上板および下板を有し、チャンネル111を介して
基台112の上部に一体に取付けられ、この基板110
のうちの下板はマニュピレータ5に対して奥側のみが支
点113を中心にして回動可能に支持されているので、
基板110のマニュピレータ5側が上下動可能となって
いる。一方、前記基台112のマニュピレータ5側の中
央部には上方に突出可能な作動部115を有するシリン
ダ114が設けられ、したがって、シリンダ114によ
って基板110は支点113を中心に上下方向に揺動可
能となっている。
【0017】一方、前記ロードカセット90は、ウエハ
の収納部が複数段に形成され、すなわち、ウエハの取り
入れ、取り出し方向に沿って外側壁116の内面に一対
の保持部117が互いに間隔をおいて複数段で突設さ
れ、この両側の保持部117、117間であって、か
つ、上下方向の保持部間にマニュピレータ5の先端部が
位置可能となっている。したがって、各保持部117で
形成される収納部内に予めウエハを挿入して基板110
の上部に位置させ、この後シリンダ114を作動させる
ことでウエハは各収納部の奥側にそれぞれ位置すること
になる。
【0018】また、前記ロードカセットチルト機構はマ
ニュピレータ5の回動中心Oに対して等距離に2つ設け
られているので、2つのロードカセット90を供給部2
に配設可能である。
【0019】そして、前記供給部2に隣接して前記供給
部2のロードカセットから順次ウエハを取り出すマニュ
ピレータ5が配設されている。一方、後に詳細に述べる
が前記インデックステーブル装置3の上部を供給部2か
ら排出部4へと延びているレール部と、このレール部に
吊り下げられた状態でレールに沿って移動可能であるシ
ャトル部と、反転ハンド部とからなるハンドリング機構
6が設けられている。
【0020】さらに、前記インデックステーブル装置3
に隣接して一対の研磨装置7、7が設けられていて、こ
の一対の研磨装置7、7にはそれぞれドレッサー機構8
と、旋回揺動アーム部9と、研磨パッドによる主研磨面
と細密研磨面とを有する定盤部10とが設けられてい
る。
【0021】前記旋回揺動アーム部9は、その拡大した
状態が図4〜図7に示されていて、図4は上面からみた
概略図、図5は上部を取り除いた状態を示す概略図、図
6は図5のZ方向からの拡大概略図、図7は図6のX方
向からの拡大概略図である。
【0022】すなわち、旋回揺動アーム部9は、2等辺
三角形状をなすとともに、頂角の部分には上下方向に貫
通する孔12が設けられ、また、他の2つの角部にも孔
11、11が設けられている基台14を有している。そ
して、前記頂部の孔12にはポリッシング装置1の機台
13aを上下方向に貫通して延びている中心軸15が貫
通するようになっており、しかも、この中心軸15は中
空状になっていて下端が孔12の内部に位置している。
【0023】また、前記他の2つの角部の孔11、11
にはそれぞれ上下方向に延び、かつ、上下方向に移動可
能であるとともに、下端にはウエハを吸着するためのプ
レッシャープレート16、16が、また、上端にはプレ
ッシャープレート16、16が押圧された時の圧力を検
出するロードセンサー17、17が取付けられているプ
レッシャー軸18、18が設けられ、両ロードセンサー
17、17は前記基台14に設けられたシリンダ19の
作動部19aと連結部20を介してそれぞれ一体に取付
けられている。
【0024】また、前記基台14の下面の孔12を囲ん
だ部分には下方に延びる筒状部材23が一体に設けら
れ、この筒状部材23の下端はポリッシング装置の機台
13bに設けた中空モータ22の外周部に固定されてい
る(図2参照)。したがって、中空モータ22で基台1
4は揺動および旋回可能となっている。なお、中空モー
タ22を用いることなく駆動軸21を設けて、駆動軸2
1で揺動および旋回を行わせても良く、また、駆動軸2
1で揺動を、中空モータ22で旋回を行わせても良いも
のである。さらに、機台13a、13bの上下方向に延
びる中心軸15に筒状部材23を被嵌し、この筒状部材
23の下端を中空モータ22の内周部に固定しても良い
ものである。
【0025】前記主研磨面および細密研磨面を構成する
定盤部10は、主研磨面および細密研磨面となる2つの
定盤30、31をそれぞれ有し、各定盤30、31は前
記旋回揺動アーム部9の基台14が回動した時に2つの
プレッシャープレート16、16が上面に当接し、しか
も所定の範囲で揺動し得る大きさとなっている。両定盤
30、31は、機台13bの下面に位置する駆動源32
によってそれぞれ所定の方向に回動可能となっている。
さらに、両定盤30、31の外周縁部の下面には環状の
樋33が設けられ、この樋33の一部はポリッシング装
置1の外方に延びている導通部(図示せず)と連結して
いる。
【0026】さらに、前記基台には、図8に示すような
ドレッサー機構8が設けられ、このドレッサー機構8は
図9に示すようにポリッシング装置1の機台13bを貫
通して回動可能となっている駆動軸40と、この駆動軸
40に設けた歯車41と噛合い係合する歯車42が設け
られた駆動源43が前記機台13bの下側に取付けられ
ている。さらに、前記機台13bの下側に設けられて前
記駆動軸40を上下動するシリンダ44と、前記機台1
3bの上側で、かつ、前記定盤30、31の上方に位置
した状態で前記駆動軸40に取付けられた揺動アーム4
5とを具え、さらに、揺動アーム45の先端に下向きで
取付けられているブラシ部46とこのブラシ部46を回
動する駆動源47とを有している。なお、図9には定盤
30、31およびこの定盤30、31の外周縁側下方に
位置する樋33が示されている。
【0027】そして、前記駆動軸40を中心に旋回する
ことで揺動アーム45の先端に設けたブラシ部46の中
心軌跡上に両定盤30、31の上面中心が位置している
のでシリンダ44で揺動アーム45を下降させてブラシ
部46を当接させることで旋回状態に応じて両定盤3
0、31を洗浄することが可能である。また、洗浄後に
はシリンダ44で揺動アーム45を上昇するとともに、
駆動源43で退避させておけば前記旋回揺動アーム部9
の邪魔になることはない。
【0028】図10、および図11には前記インデック
ステーブル装置3の拡大図が示されていて、インデック
スプレート50は軸51を中心として駆動源52によっ
て水平方向に所定の角度で回動可能に構成され、このイ
ンデックスプレート50の上面には2つのロードバッフ
ァ53、53および2つのアンロードバッファ54、5
4が隣接した状態で、かつ、中心を前記軸51の中心か
ら等距離で配設されている。
【0029】また、図1に示すように55はブラシ軸で
あって前記プレッシャープレート16、16の側面に当
接可能となっている。
【0030】図12には前記インデックステーブル装置
3の上方において、ウエハの供給部2から排出部4に渡
って設けられている前記ハンドリング機構6が示されて
いる。このハンドリング機構6は、前記インデックステ
ーブル装置3の上方において、ウエハの供給部2から排
出部4に至るレール部60、およびこのレール部60に
沿って移動可能なシャトル部61を有し、このシャトル
部61にはそこに設けた駆動源62によって昇降される
反転ハンド部63が垂設されている。
【0031】前記シャトル部61に取付けられている反
転ハンド部63は、基板64の下方に位置して駆動源6
5によって水平方向に出没し、先端が互いに接離可能と
なっているとともに、回動可能となっている反転ハンド
66を有している。すなわち、垂下板67に設けられた
駆動源65と、前記垂下板67を水平方向に貫通して延
びている軸部68との間は連結杆69によって連結さ
れ、この軸部68の先端には突出片70が取付けられて
いる。
【0032】また、前記基板64の上面には駆動源71
によって回動可能な駆動軸72が水平方向を向いた状態
で配設され、この駆動軸72に設けたプーリー73、7
3と前記軸部68の外側にクラッチ等を介して同心に取
付けられた中空軸74、74に設けたプーリー75、7
5との間はベルト76、76で連結されている。さら
に、前記基板64に設けた連結板77を介して前記反転
ハンド部63とシャトル部61とは連結されている。
【0033】図13および図14にはウエハの排出部4
が示されていて、研磨済みのウエハを収納する収納部8
0が複数段に設けられているアンロードカセット81が
2つ配設され、この両アンロードカセット81、81の
入口側にはシュータ82、82がそれぞれ設けられてい
る。
【0034】そして、前記アンロードカセット81は駆
動源83によってそれぞれ上下動可能であり、しかも、
ウエハの挿入方向先側、すなわち、奥側が下方に傾斜し
た状態で上下動するようになっており、また、前記シュ
ータ82もアンロードカセット81と平行、すなわち、
アンロードカセット81側が下方になった状態で傾斜し
て設けられている。
【0035】一方、研磨後のウエハはシュータ82に直
接落下するのではなく、まず、シュータ82の上部にま
で貯溜された水に落下し、こののちシュータ82を滑動
してアンロードカセット81内に収納されるようになっ
ており、アンロードカセット81は研磨済みのウエハが
収納されたのちは駆動源83で上方、あるいは下方に順
次移動して次のウエハを他の収納部80に収納するよう
になっている。
【0036】つぎに前記のものの作用について説明す
る。まず、複数の収納部に研磨前のウエハが収納された
ロードカセット90、90を供給部2に位置し、一方、
空のアンロードカセット81、81を排出部4に位置す
る。そして、作業を開始すると、ウエハが収納されてい
るロードカセット90には、前記したロードカセットチ
ルト機構が設けられており、このチルト機構によってロ
ードカセット90、90が奥側に傾斜して各ウエハを収
納部内で滑動させて、ロードカセット90、90の奥部
に各ウエハを位置させる。このロードカセットチルト機
構の起動後、マニュピレータ5が起動してロードカセッ
ト90に収納されているウエハを取り出す。この取り出
し時においては、ウエハはマニュピレータ5の上面の所
定の位置に確実に載置された状態で取り出されるように
なっている。
【0037】このマニュピレータ5がウエハを載置した
状態が図15(a)(b)に示されていて、マニュピレ
ータ5は、その二股の先端部101、および根元部10
2にそれぞれ突出部103が設けられ、この突出部10
3によってウエハの下面全面がマニュピレータ5に接触
しないように、すなわち、ウエハの下面が極力他の部材
と接触しないように構成してある。なお、このマニュピ
レータ5の先端部101の幅は前記ロードカセット90
の上下の保持部117の距離よりも薄く形成されてい
る。したがって、マニュピレータ5がウエハを取り出す
時に先端部101がロードカセット90と接触する恐れ
は無い。
【0038】このマニュピレータ5に載置されて取り出
されたウエハは図12に示すハンドリング機構6の反転
ハンド66のうちの両突出片70、70間で掴持される
が、まず、駆動源65によって突出片70は水平方向に
出没されるものであり、この出没は図15(a)におい
てXで示す方向である。したがって、駆動源65によっ
て没入状態となっている突出片70が水平方向に突出す
る。そして、一対の突出片70による掴持が確実に行わ
れるように突出する位置は前記マニュピレータ5の先端
部の両側の幅狭の部分になっている。
【0039】このために、マニュピレータ5とハンドリ
ング機構6の突出片70とは互いに接触することが全く
無く、しかも、ウエハの掴持位置は中心を挟んで対向す
る位置ではなく、中心からδだけずれた位置になってい
る。これは、他の部材との位置関係から生じるものであ
り、中心を挟んで対向する位置であっても良いものであ
る。
【0040】そして、前記ハンドリング機構6の反転ハ
ンド66の突出片70間でウエハを掴持した後に反転ハ
ンド部63は駆動源62で上昇するとともに、駆動源7
1によってY方向に回動し、シャトル部61によってレ
ール部60を水平方向に移動して、ウエハをインデック
ステーブル装置3の上部に搬送する。
【0041】したがって、上記のようなマニュピレータ
5の上面に載置されたウエハをハンドリング機構6が受
け取る時には完全に非接触の状態で行われるので、たと
え、ハンドリング機構が水等で濡れていた場合であって
も、水等がマニュピレータ5に伝達することはなく、こ
れによって、供給部2が水に浸ることは全く無いもので
ある。
【0042】そして、インデックステーブル装置3のロ
ードバッファ53の上方に位置した後に下降するととも
に、突出片70がウエハを掴持した位置からZ方向に1
80°回動する。すなわち、図12のIの状態でウエハ
を掴持したのちに180°回動して図12のIIの状態と
し、駆動源62によって反転ハンド部63が下降したの
ちに両突出片70、70が離間してウエハをロードバッ
ファ53の上面に載置する。
【0043】このIの状態からIIの状態に回動すること
でウエハは、その上下面が反転され、すなわち、ロード
カセット90に収納された時点では下面だったものが上
面となってロードバッファ53に載置されることにな
る。このようなロードバッファ53への載置時に、イン
デックステーブル装置3は駆動源52によってインデッ
クスプレート50が予め回動し、ハンドリング機構6の
反転ハンド部63がウエハを離す位置に位置している。
【0044】したがって、ロードカセット90内のウエ
ハはマニュピレータ5で取り出されたのちに、空中でハ
ンドリング機構6の反転ハンド部63に受け渡すことに
なり、したがって、このように途中でマニュピレータ5
からハンドリング機構6の反転ハンド部63に受け渡す
ことで、ハンドリング機構6の反転ハンド部63に水分
が付着していた場合であってもマニュピレータ5が濡れ
る恐れは全く無いものである。
【0045】また、インデックスプレート50には2つ
のロードバッファ53、53が設けられているので、前
記マニュピレータ5およびハンドリング機構6によって
ロードカセット90内の2枚の研磨前のウエハを2つの
ロードバッファ53、53の上面にそれぞれ載置する。
【0046】次にインデックステーブル装置3、定盤部
10、旋回揺動アーム部9、およびドレッサー機構8の
動きを図16に基づいて説明する。まず、前記一方(A
側)の旋回揺動アーム部9が起動すると、A側の旋回揺
動アーム部9に設けられた2つのプレッシャープレート
16、16が中空の中心軸15を中心にして水平方向に
回動してインデックステーブル装置3のインデックスプ
レート50の上方になる。この時、予め駆動源52によ
ってインデックスプレート50が回動してロードバッフ
ァ53、53が実線で示す位置となっているとともに、
A側の両プレッシャープレート16、16の回動軌跡は
aとなる。しかも、中心軸15から両プレッシャープレ
ート16、16の中心に至る角度θ1は、中心軸15か
ら両ロードバッファ53、53の中心に至る角度θ1と
同一であるので、旋回揺動アーム部9が旋回して両プレ
ッシャープレート16、16が両ロードバッファ53、
53に載置された研磨前のウエハを同時に受け取るよう
になる。
【0047】そして、下面で研磨前のウエハをそれぞれ
吸着した両プレッシャープレート16、16は、旋回揺
動アーム部9の旋回によって、まず、A側のうちの一方
の定盤30の上面に両ウエハを押圧することになる。こ
の時の両ウエハの押圧力は、プレッシャープレート1
6、16の上端に設けたロードセンサー17、17によ
って常に検知されるとともに、異なった場合にはシリン
ダ19、19が作動して一定の押圧力に保持される。し
かも、旋回揺動アーム部9が中心軸15を中心にして定
盤30の上面の範囲内で揺動することで、定盤30の上
面を均一に使用して研磨を均一に行うようになってい
る。なお、押圧力の調整はロードセンサー17、17
と、このロードセンサー17、17によって検知された
信号を処理する制御装置(図示せず)によるシリンダ1
9、19の駆動によって調整されるようになっている。
【0048】さらに、一方の定盤30での研磨が終了し
たウエハは、次に他方の定盤31に移動され、先程と同
様に揺動されながら細密研磨されることになる。
【0049】このように一方(A)側で研磨を行ってい
る間に、前記マニュピレータ5およびハンドリング機構
6によるウエハ供給機構によってつぎの2つの研磨前の
ウエハが予め所定の位置に移動されて待機されているロ
ードバッファ53、53に載置される。
【0050】つぎに、他方(B)側の旋回揺動アーム部
9が起動して両プレッシャープレート16、16でウエ
ハを受け取るものであり、すなわち、他方(B)の旋回
揺動アーム部9に設けられた両プレッシャープレート1
6、16の旋回軌跡はbに示すようになる。これは、一
方(A)側と他方(B)側との中心がδ1だけずれてい
るためであり、旋回軌跡a、bは回動中心である中心軸
15から等距離である。また、中心軸15から両プレッ
シャープレート16、16の軸中心に至る角度θ1は、
中心軸15から両ロードバッファ53、53の中心に至
る角度θ1と同一であり、しかも、この角度は前記一方
(A)側と同一である。
【0051】そして、旋回揺動アーム部9が旋回して軌
跡bのように両プレッシャープレート16、16が両ロ
ードバッファ53、53側に旋回するとともに、インデ
ックステーブル装置3が起動してインデックスプレート
50を回動する。この時、予め駆動源52によって両プ
レッシャープレート16、16の下方である破線の状態
に両ロードバッファ53、53が位置するように制御し
てある。
【0052】したがって、前記一方(A)側と同様に他
方(B)側でも両定盤30、31を用いて研磨を行うも
のである。そして、一方の定盤30での研磨が終了した
のちに他方の定盤31での研磨を行うが、研磨によって
定盤30、31の上面に荒れが生じ、そのままでは次の
ウエハの研磨に使用できない場合がある。このために使
用していない定盤30、31に対しては、ドレッサー機
構8が作動して定盤30、31の上面のドレッシングを
行うようになっている。
【0053】すなわち、一方(A)側および他方(B)
側にはそれぞれドレッサー機構8が設けられており、こ
のドレッサー機構8は、図9に示すように揺動アーム4
5の先端に設けたブラシ部46が上下動可能であるとと
もに、水平方向に回動可能であり、したがって、水平方
向に回動して使用していない定盤30、31の上方に到
達した後に下降してブラシ部46を定盤30、31の上
面に当接させ、この状態で駆動源47によってブラシ部
46を回動しつつ揺動アーム45を定盤30、31の上
面の範囲内で旋回させることで確実にドレッシングを行
うことができる。
【0054】前記一方(A)側および他方(B)側は、
それぞれ1つのドレッサー機構8で2つの定盤30、3
1に共用しているので製造コストを下げることができ
る。なお、この実施の形態ではドレッサー機構8として
ブラシ部46を設けたものを示したが、ジェット流を用
いたり、スプリンクラーのように水流を噴出したりして
も定盤30、31の上面のドレッシングを行うことがで
きるものである。
【0055】そして、2つの定盤30、31を用いて研
磨を終了した両ウエハは、旋回揺動アーム部9の両プレ
ッシャープレート16、16によってそれぞれインデッ
クステーブル装置3のアンロードバッファ54、54に
搬送載置される。この搬送載置時にあっては、前記イン
デックステーブル装置3は起動してインデックスプレー
ト50を回動し、両アンロードバッファ54、54の上
面を両プレッシャープレート16、16の下方の位置と
しておく。
【0056】つぎに、両アンロードバッファ54、54
の上面に載置された研磨後のウエハは、ハンドリング機
構6が起動することで搬送される。すなわち、まず、シ
ャトル部61がレール部60に沿って移動して反転ハン
ド部63をアンロードバッファ54、54の上面に位置
するとともに、反転ハンド部63が下降し、また、両突
出片70、70が突出して両突出片70、70間で研磨
済みのウエハを掴持する。この時、研磨面は下面となっ
ている。なお、ウエハの外周面の上下端は面取りがされ
ているとともに、この面取りされている部分のみがアン
ロードバッファ54、54に当接して、ウエハがアンロ
ードバッファ54、54の上面に載置されるようになっ
ているので、研磨した研磨面はどこにも接触することが
ない。
【0057】つぎに駆動源62によって反転ハンド部6
3が上昇するとともに、駆動源71を起動して両突出片
70、70を垂直方向に回動してウエハの下面が上面に
なるように反転する。しかも、ウエハを水平面に対して
角度θで傾斜した状態に保持しておく。したがって、反
転ハンド部63によるウエハの反転、およびシャトル部
61によるウエハの搬送によって研磨済みのウエハは排
出部4のシュータ82の上方に水平面に対して角度θで
保持される。
【0058】そして、ハンドリング機構6の反転ハンド
部63の両突出片70、70が没入してウエハの掴持を
解除すると、シュータ82は予め水平に対して角度θで
アンロードカセット81側に傾斜し、しかも、アンロー
ドカセット81も水平に対して角度θで傾斜しているの
で、シュータ82を滑動したのちに複数段の収納部80
を有するアンロードカセット81に収納される。そし
て、ウエハを落下するとウエハは角度θで落下し、この
ように角度θを有することで水から大きな衝撃を得るこ
となく投入される。
【0059】一方、シュータ82を滑動するウエハ毎に
アンロードカセット81が上動あるいは下動してウエハ
が互いに接触することなく収納され、この収納状態にお
いてウエハは研磨済み面を上面にしている。そして、ウ
エハがシュータ82を滑動する際に、シュータ82の上
面には水が貯溜されているので、水がウエハの滑動に対
してブレーキとして作用する。
【0060】すなわち、シュータ82の上面に水が貯溜
されていない場合においては、ウエハの滑動にはウエハ
の面とシュータ82の上面との間の摩擦力しかブレーキ
として作用しない。しかしながら、このように構成する
と、水がブレーキとして作用し、所謂、ダンパー作用を
行う。しかも、水はアンロードカセットの収納部80に
も貯溜しているのでダンパー作用によってウエハがアン
ロードカセット81の奥面と大きな衝撃力で当接して損
傷したりする恐れは全くない。
【0061】このようにして、研磨済みのウエハはハン
ドリング機構6によってインデックスプレート50のア
ンロードバッファ54からシュータ82に搬送され、シ
ュータ82を滑動してアンロードカセット81に収納さ
れるものである。
【0062】したがって、一方(A)側の定盤部10と
他方(B)側の定盤部10との2セットの定盤部に対し
て1つのインデックステーブル装置3を共用するように
構成したので、生産等に応じていずれか一方の定盤部1
0のみによる研磨を行わせることができる。そして、一
方のみの定盤部10の作動や、あるいは両定盤部10の
作動に対しても研磨前のウエハを収納したロードカセッ
ト90を供給部2に供給するだけで、排出部4のアンロ
ードカセット81内には研磨済みのウエハが収納された
状態となるものである。
【0063】なお、前記実施の形態に示すプレッシャー
プレート16にあっては種々の形態のものが採用できる
ものであり、その一例を図19に示す。この図19に示
すプレッシャープレート16にあっては、基部120の
円板状をなす部分の下面の外周側に環状のゴム等の弾性
部材121を配設し、この弾性部材121の下側に円板
状のPVCシート122を設けてある。また、このPV
Cシート122の下面には接着剤層123を介してウエ
ハと接するテンプレート124が設けられている。前記
テンプレート124は、円板状のPETフィルム125
およびバッキングパッド126と、バッキングパッド1
26の下面の外周側に位置する環状のEGカラー127
とから形成されている。そして、前記テンプレート12
4は、そのPETフィルム125が接着剤層123を介
して前記PVCシート122に貼着され、一方、前記バ
ッキングパッド126の下面にはウエハ(一点鎖線で示
す)が、その周端面を前記EGカラー127に接した状
態で当接するようになっている。
【0064】
【発明の効果】この発明は前記のように、上面にロード
バッファとアンロードバッファとが設けられているイン
デックステーブル装置と、研磨前のウエハを収納可能な
複数段の収納部を有するロードカセットが配設された供
給部とを具え、ロードカセットのウエハをインデックス
テーブル装置に受け渡したのちに研磨部で研磨するよう
にしたポリッシング装置において、奥側を支点としてウ
エハの取り出し方向手前側を上下動可能に支持された基
板と、この基板の手前側を上方に持ち上げる作動部材と
を具えた構成を有しているので、ロードカセット内の各
収納部に収納したウエハの水平方向の位置がずれていて
も、確実に一定の位置にすることができる。これによっ
て、上下方向および水平方向に移動可能なマニュピレー
タを使用して各収納部からウエハを取り出すことができ
る。したがって、ロードカセットへのウエハの収納作業
が非常に容易になる。また、マニュピレータの作動範囲
内に複数のロードカセットチルト機構を設けて、それぞ
れにロードカセットを位置することにより、作業の効率
を非常に高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるロードカセットチルト機構が設
けられたポリッシング装置の一部を取り除いた概略平面
図である。
【図2】図1に示すものの概略右側面図である。
【図3】図1に示すものの概略正面図である。
【図4】旋回揺動アーム部の拡大概略図である。
【図5】図4に示すものの上部を取り除いた状態を示す
拡大概略図である。
【図6】図5に示すものの拡大概略右側面図である。
【図7】図5に示すものの拡大概略正面図である。
【図8】(a)はドレッサー機構を示す概略平面図であ
る。(b)はドレッサー機構を示す概略正面図である。
【図9】ポリッシング装置の基台に取付けられたドレッ
サー機構を示す概略正面図である。
【図10】インデックステーブル装置のインデックスプ
レートを示す概略平面図である。
【図11】インデックステーブル装置の概略正面図であ
る。
【図12】ハンドリング機構を示す概略正面図である。
【図13】排出部のシュータおよびアンロードカセット
を示す概略平面図である。
【図14】図13に示すものの概略側面図である。
【図15】(a)はマニュピレータを示す概略平面図で
ある。(b)はマニュピレータを示す概略正面図であ
る。
【図16】インデックステーブル装置、定盤部、旋回揺
動アーム部、およびドレッサー機構の動きを示す概略説
明図である。
【図17】この発明によるロードカセットチルト機構を
示す概略側面図である。
【図18】この発明によるロードカセットチルト機構お
よびウエハを取り出すマニュピレータを示す概略平面図
である。
【図19】プレッシャープレートの一例を示す概略図で
ある。
【符号の説明】
1……ポリッシング装置 2……供給部 3……インデックステーブル装置 4……排出部 5……マニュピレータ 6……ハンドリング機構 7……研磨装置 8……ドレッサー機構 9……旋回揺動アーム部 10……定盤部 11……角部の孔 12……頂部の孔 13a、13b……機台 14……基台 15……中心軸 16……プレッシャープレート 17……ロードセンサー 18……プレッシャー軸 19、44……シリンダ 19a……作動部 20……連結部 21、40、72……駆動軸 22……中空モータ 23……筒状部材 30、31……定盤 32、43、47、52、62、65、71、83……
駆動源 33……樋 41、42……歯車 45……揺動アーム 46……ブラシ部 50……インデックスプレート 51……軸 53……ロードバッファ 54……アンロードバッファ 55……ブラシ軸 60……レール部 61……シャトル部 63……反転ハンド部 64……基板 66……反転ハンド 67……垂下板 68……軸部 69……連結杆 70……突出片 73、75……プーリー 74……中空軸 76……ベルト 77……連結板 80……収納部 81……アンロードカセット 82……シュータ 90……ロードカセット 101……先端部 102……根元部 103……突出部 110……基板 111……チャンネル 112……基台 113……支点 114……シリンダ 115……作動部 116……外側壁 117……保持部 120……基部 121……弾性部材 122……PVCシート 123……接着剤層 124……テンプレート 125……PETフィルム 126……バッキングパッド 127……EGカラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 波田野 和智 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファム 株式会社内 (72)発明者 根津 基 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファム 株式会社内 (72)発明者 世古口 康 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファム 株式会社内 (72)発明者 上田 隆宏 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファム 株式会社内 (72)発明者 鈴木 昌智 神奈川県綾瀬市早川2647 スピードファム 株式会社内 Fターム(参考) 3C058 AA07 AB03 CB03 DA17 5F031 BB01 BB05 CC12 CC13 CC20 EE01 EE02 EE12 HH10 KK01 KK06

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面にロードバッファとアンロードバッ
    ファとが設けられているインデックステーブル装置と、
    研磨前のウエハを収納可能な複数段の収納部を有するロ
    ードカセットが配設された供給部とを具え、ロードカセ
    ットのウエハをインデックステーブル装置に受け渡した
    のちに研磨部で研磨するようにしたポリッシング装置に
    おいて、上面にロードカセットを載置可能であり、奥側
    を支点としてウエハの取り出し方向手前側を上下動可能
    に支持された基板と、この基板の手前側を上方に持ち上
    げる作動部材とを具えたことを特徴とするポリッシング
    装置のロードカセットチルト機構。
  2. 【請求項2】 上面にロードバッファとアンロードバッ
    ファとが設けられているインデックステーブル装置と、
    研磨前のウエハを収納可能な複数段の収納部を有するロ
    ードカセットが配設された供給部とを具え、ロードカセ
    ットのウエハをインデックステーブル装置に受け渡した
    のちに研磨部で研磨するようにしたポリッシング装置に
    おいて、奥側を支点としてウエハの取り出し方向手前側
    を上下動可能に支持された基板と、この基板の手前側を
    上方に持ち上げる作動部材とを複数組具え、各基板上に
    ウエハが収納されたロードカセットを位置するととも
    に、作動部材によって各ウエハを収納部内の一定の位置
    とすることを特徴とするポリッシング装置のロードカセ
    ットチルト機構。
  3. 【請求項3】 前記供給部には上下方向および水平方向
    に移動可能なマニュピレータが設けられ、このマニュピ
    レータでロードカセットの各収納部内に一定の位置とな
    っているウエハを取り出す請求項1または2のうちのい
    ずれか1項に記載のポリッシング装置のロードカセット
    チルト機構。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100812082B1 (ko) 2003-12-26 2008-03-07 동부일렉트로닉스 주식회사 씨엠피 장비의 언로드 스테이션
JP2008085025A (ja) * 2006-09-27 2008-04-10 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板の取り扱い装置及び基板の取り扱い方法
KR100989241B1 (ko) 2008-09-19 2010-10-20 로체 시스템즈(주) 포스비 고정 장치
JP2017502520A (ja) * 2013-12-27 2017-01-19 北京北方微▲電▼子基地▲設▼▲備▼工▲芸▼研究中心有限▲責▼任公司 カセット位置決め装置および半導体処理機器
KR20170072200A (ko) * 2014-10-22 2017-06-26 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 정반 운반대차

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100812082B1 (ko) 2003-12-26 2008-03-07 동부일렉트로닉스 주식회사 씨엠피 장비의 언로드 스테이션
JP2008085025A (ja) * 2006-09-27 2008-04-10 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板の取り扱い装置及び基板の取り扱い方法
KR100989241B1 (ko) 2008-09-19 2010-10-20 로체 시스템즈(주) 포스비 고정 장치
JP2017502520A (ja) * 2013-12-27 2017-01-19 北京北方微▲電▼子基地▲設▼▲備▼工▲芸▼研究中心有限▲責▼任公司 カセット位置決め装置および半導体処理機器
KR20170072200A (ko) * 2014-10-22 2017-06-26 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 정반 운반대차
KR102441700B1 (ko) * 2014-10-22 2022-09-08 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 정반 운반대차

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