JP2000057591A - 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 - Google Patents
情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法Info
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- JP2000057591A JP2000057591A JP11219743A JP21974399A JP2000057591A JP 2000057591 A JP2000057591 A JP 2000057591A JP 11219743 A JP11219743 A JP 11219743A JP 21974399 A JP21974399 A JP 21974399A JP 2000057591 A JP2000057591 A JP 2000057591A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光電変換素子上に迷光があり、情報担体の反
射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき、光電変化
素子上の信号光ビームのみの強度が変化して、迷光のレ
ベルは変化しないため光電変換素子の出力にオフセット
が発生して結果としてサーボ動作に誤動作が生じるとい
う課題があった。 【解決手段】 迷光１９，２０が発生しても、光電変換
素子出力が一定のレベルとなるようにＡＧＣ２９で正規
化し、迷光に相当する量のオフセットのオフセット補正
回路３５により発生させ、加算器３４により正規化した
トラッキング誤差信号に加算してキャンセルする。
射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき、光電変化
素子上の信号光ビームのみの強度が変化して、迷光のレ
ベルは変化しないため光電変換素子の出力にオフセット
が発生して結果としてサーボ動作に誤動作が生じるとい
う課題があった。 【解決手段】 迷光１９，２０が発生しても、光電変換
素子出力が一定のレベルとなるようにＡＧＣ２９で正規
化し、迷光に相当する量のオフセットのオフセット補正
回路３５により発生させ、加算器３４により正規化した
トラッキング誤差信号に加算してキャンセルする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射光源を記録担
体上に照射して情報信号の記録再生を行う情報記録再生
装置で、特にサーボ信号の安定性を向上させる情報記録
再生装置及びその迷光成分補正方法に関する。
体上に照射して情報信号の記録再生を行う情報記録再生
装置で、特にサーボ信号の安定性を向上させる情報記録
再生装置及びその迷光成分補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】記録再生に放射光を用いる時には、放射
光が散乱、屈折、反射等により発生する迷光が必然的に
つきまとう。例えば光ディスクでは、光分岐手段として
ビームスプリッター等の光学素子を用いるが、このビー
ムスプリッターの端面反射により迷光が発生する。この
迷光が放射線検出のための光電変換手段に入射すると電
気出力にバイアスが生じて信号特性の劣化を招く。この
ため従来この光によるバイアス出力を光電変換素子等の
調整で補正して信号品質を保とうとの方法がとられてき
た。以下従来一般的に用いられてきた方法を図面に基づ
いて説明を行う。
光が散乱、屈折、反射等により発生する迷光が必然的に
つきまとう。例えば光ディスクでは、光分岐手段として
ビームスプリッター等の光学素子を用いるが、このビー
ムスプリッターの端面反射により迷光が発生する。この
迷光が放射線検出のための光電変換手段に入射すると電
気出力にバイアスが生じて信号特性の劣化を招く。この
ため従来この光によるバイアス出力を光電変換素子等の
調整で補正して信号品質を保とうとの方法がとられてき
た。以下従来一般的に用いられてきた方法を図面に基づ
いて説明を行う。
【０００３】図８は、従来用いられてきた迷光等のバイ
アス光の補正を行う為の方法を模式的に示したものであ
る。ここでは分かりやすくするために光ディスク装置の
例で説明を行う。半導体レーザ等の放射光源４１を出射
した光ビームは、ビームスプリッター４２を透過して対
物レンズ４３で光ディスク４０上に集光され、情報信号
で変調され反射される。光ディスク４０で反射された信
号光ビーム４６はビームスプリッター４２で反射され複
数の光電変換手段４４、４５に入射する。複数の光電変
換素子を用いて光ディスクの面振れによる焦点ずれや偏
芯によるオフトラックの補正に用いるサーボ動作及びサ
ーボ誤差信号を得る方式については多くの公知の方法が
ありここでは説明を省略する。複数の光電変換手段は基
本的に２個の光電変換素子Ｉ４４、光電変換素子II４５
で説明すればあと数が増えても動作は同じであるため以
下２個の光電変換素子４４、４５の場合について説明を
行う。ビームスプリッター４２の端面Ｉ４７、端面II４
８のそれぞれより反射される迷光Ｉ４９、迷光II５０
は、一般的に反射端面の精度不足や光軸調整精度不足の
ため２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、極端な
場合例えば光電変換素子Ｉ４４に多く入射し光電変換素
子II４５に少なく入射する。この時光電変換素子Ｉ４４
及び光電変換素子II４５に入射する信号光ビーム４６が
等しくても光電変換素子Ｉ４４と光電変換素子II４５よ
り流れ出る光電流は異なるレベルとなる。光ディスクの
サーボでは、この光電流の差５１を等しくするようにサ
ーボ動作を行うのでサーボ動作にオフセットが生じ誤動
作の原因となる。この為従来かかる誤動作を補正するた
めに光電変換素子Ｉ４４と光電変換素子II４５の出力が
等しくなるように調整を行い迷光によるオフセットの発
生の補償を行っていた。これにより情報担体に反射率一
定の場合、光電流の差を補正して正常なサーボ動作を行
うことができる。記録再生のために放射光出力を変化さ
せる場合にはサーボループのループゲインを一定とする
ために、光電変換素子に入射する総合計の光量で光電流
の差５１を一定とするＡＧＣ（AUTO GAIN CONTOROL
E）を行い正常なサーボ動作をさせることができる。こ
れらのサーボ技術はほぼ確立されたものであり詳細な説
明は省略する。
アス光の補正を行う為の方法を模式的に示したものであ
る。ここでは分かりやすくするために光ディスク装置の
例で説明を行う。半導体レーザ等の放射光源４１を出射
した光ビームは、ビームスプリッター４２を透過して対
物レンズ４３で光ディスク４０上に集光され、情報信号
で変調され反射される。光ディスク４０で反射された信
号光ビーム４６はビームスプリッター４２で反射され複
数の光電変換手段４４、４５に入射する。複数の光電変
換素子を用いて光ディスクの面振れによる焦点ずれや偏
芯によるオフトラックの補正に用いるサーボ動作及びサ
ーボ誤差信号を得る方式については多くの公知の方法が
ありここでは説明を省略する。複数の光電変換手段は基
本的に２個の光電変換素子Ｉ４４、光電変換素子II４５
で説明すればあと数が増えても動作は同じであるため以
下２個の光電変換素子４４、４５の場合について説明を
行う。ビームスプリッター４２の端面Ｉ４７、端面II４
８のそれぞれより反射される迷光Ｉ４９、迷光II５０
は、一般的に反射端面の精度不足や光軸調整精度不足の
ため２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、極端な
場合例えば光電変換素子Ｉ４４に多く入射し光電変換素
子II４５に少なく入射する。この時光電変換素子Ｉ４４
及び光電変換素子II４５に入射する信号光ビーム４６が
等しくても光電変換素子Ｉ４４と光電変換素子II４５よ
り流れ出る光電流は異なるレベルとなる。光ディスクの
サーボでは、この光電流の差５１を等しくするようにサ
ーボ動作を行うのでサーボ動作にオフセットが生じ誤動
作の原因となる。この為従来かかる誤動作を補正するた
めに光電変換素子Ｉ４４と光電変換素子II４５の出力が
等しくなるように調整を行い迷光によるオフセットの発
生の補償を行っていた。これにより情報担体に反射率一
定の場合、光電流の差を補正して正常なサーボ動作を行
うことができる。記録再生のために放射光出力を変化さ
せる場合にはサーボループのループゲインを一定とする
ために、光電変換素子に入射する総合計の光量で光電流
の差５１を一定とするＡＧＣ（AUTO GAIN CONTOROL
E）を行い正常なサーボ動作をさせることができる。こ
れらのサーボ技術はほぼ確立されたものであり詳細な説
明は省略する。
【０００４】図９は図８の光電変換素子Ｉ、II上の光ビ
ームの状態を具体的に示したものである。光電変換素子
Ｉ４４、光電変換素子II４５の差動出力を零と調整する
ために信号ビーム４６は迷光のはいる光電変換素子の逆
方向にオフセットされている。この為例えば図９の差動
出力から得られるトラッキング誤差信号のレベルは減少
する。また信号光ビーム４６強度と迷光Ｉ４９、迷光II
５０強度の変化の割合が異なるとサーボ誤差が増大す
る。この原理は、焦点誤差を補正するフォーカシングサ
ーボの時も同様であるが、同一原理であるのでフォーカ
シングサーボについての詳細な説明は省略する。
ームの状態を具体的に示したものである。光電変換素子
Ｉ４４、光電変換素子II４５の差動出力を零と調整する
ために信号ビーム４６は迷光のはいる光電変換素子の逆
方向にオフセットされている。この為例えば図９の差動
出力から得られるトラッキング誤差信号のレベルは減少
する。また信号光ビーム４６強度と迷光Ｉ４９、迷光II
５０強度の変化の割合が異なるとサーボ誤差が増大す
る。この原理は、焦点誤差を補正するフォーカシングサ
ーボの時も同様であるが、同一原理であるのでフォーカ
シングサーボについての詳細な説明は省略する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、情報
担体の反射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき光
電変換素子上の信号光ビーム４６のみの強度が変化し
て、迷光Ｉ４９、迷光II５０のレベルは変化しないため
光電変換素子の調整による補正が補正過多もしくは補正
不足となり、結果としてサーボ動作に誤動作が生じる。
担体の反射率や光ビーム経路の透過率が変化したとき光
電変換素子上の信号光ビーム４６のみの強度が変化し
て、迷光Ｉ４９、迷光II５０のレベルは変化しないため
光電変換素子の調整による補正が補正過多もしくは補正
不足となり、結果としてサーボ動作に誤動作が生じる。
【０００６】本発明は上記問題点に鑑み、従来のように
迷光によるオフセットを光電変換素子の調整による補正
をするのではなく、光電変換素子出力が一定のレベルと
なるようにして電気的なオフセットの補正を行うこと
で、誤動作のない安定したサーボ動作を行える情報記録
再生装置及びその迷光成分補正方法を提供することを目
的とする。
迷光によるオフセットを光電変換素子の調整による補正
をするのではなく、光電変換素子出力が一定のレベルと
なるようにして電気的なオフセットの補正を行うこと
で、誤動作のない安定したサーボ動作を行える情報記録
再生装置及びその迷光成分補正方法を提供することを目
的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、情報担体上で反射され光ビーム分岐手段で
分岐された信号光ビームを受ける複数の光電変換手段
と、複数の光電変換手段の電気出力を演算する演算手段
と、演算手段の出力を複数の光電変換手段の総出力で除
して正規化する自動利得調整手段と、自動利得調整手段
の出力に一定の補正値を加えるオフセット補正手段とを
備えることを特徴とするものである。
に本発明は、情報担体上で反射され光ビーム分岐手段で
分岐された信号光ビームを受ける複数の光電変換手段
と、複数の光電変換手段の電気出力を演算する演算手段
と、演算手段の出力を複数の光電変換手段の総出力で除
して正規化する自動利得調整手段と、自動利得調整手段
の出力に一定の補正値を加えるオフセット補正手段とを
備えることを特徴とするものである。
【０００８】これにより、ビームスプリッターの端面加
工精度や光軸精度不足によって起きる迷光は光学系によ
り定まるので、たとえ情報担体の反射率変化や光ビーム
経路の透過率が変化して光電変換素子上の信号光ビーム
の強度が変化しても迷光は変わらず、また反射光量やレ
ーザの出射光量が変化しても正規化しているので自動利
得調整手段の出力は振幅も変化しないことから迷光によ
るオフセット量は変化せず、さらにその迷光に相当する
量のオフセットを一定の補正値を加えることで補正して
いるので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くな
る。
工精度や光軸精度不足によって起きる迷光は光学系によ
り定まるので、たとえ情報担体の反射率変化や光ビーム
経路の透過率が変化して光電変換素子上の信号光ビーム
の強度が変化しても迷光は変わらず、また反射光量やレ
ーザの出射光量が変化しても正規化しているので自動利
得調整手段の出力は振幅も変化しないことから迷光によ
るオフセット量は変化せず、さらにその迷光に相当する
量のオフセットを一定の補正値を加えることで補正して
いるので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くな
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、放射光源と、放射光源を出射した光ビームを透過又
は反射させる光ビーム分岐手段と、光ビーム分岐手段を
通過した第一の光ビームを受け情報担体上に集光させる
光ビーム集光手段と、情報担体上で反射され光ビーム分
岐手段で分岐された信号光ビームを受ける複数の光電変
換手段と、複数の光電変換手段の電気出力を演算する演
算手段と、演算手段の出力を複数の光電変換手段の総出
力で除して正規化する自動利得調整手段と、自動利得調
整手段の出力に一定の補正値を加えるオフセット補正手
段とを備えることを特徴とするもので、特に、オフセッ
ト補正手段は、初期調整で一定のオフセット補正値を設
定されそれを保持して出力するオフセット補正回路と、
オフセット補正回路の出力と自動利得調整手段の出力と
を加算する加算器とを備えることを特徴とするものであ
る。
は、放射光源と、放射光源を出射した光ビームを透過又
は反射させる光ビーム分岐手段と、光ビーム分岐手段を
通過した第一の光ビームを受け情報担体上に集光させる
光ビーム集光手段と、情報担体上で反射され光ビーム分
岐手段で分岐された信号光ビームを受ける複数の光電変
換手段と、複数の光電変換手段の電気出力を演算する演
算手段と、演算手段の出力を複数の光電変換手段の総出
力で除して正規化する自動利得調整手段と、自動利得調
整手段の出力に一定の補正値を加えるオフセット補正手
段とを備えることを特徴とするもので、特に、オフセッ
ト補正手段は、初期調整で一定のオフセット補正値を設
定されそれを保持して出力するオフセット補正回路と、
オフセット補正回路の出力と自動利得調整手段の出力と
を加算する加算器とを備えることを特徴とするものであ
る。
【００１０】また、請求項３に記載の発明は、放射光源
と、放射光源を出射した光ビームを透過又は反射させる
光ビーム分岐手段と、光ビーム分岐手段を通過した第一
の光ビームを受け情報担体上に集光させる光ビーム集光
手段と、情報担体上で反射され光ビーム分岐手段で分岐
された信号光ビームを受ける複数の光電変換手段と、複
数の光電変換手段の電気出力を演算する演算手段と、演
算手段の出力を複数の光電変換手段の総出力で除して正
規化する自動利得調整手段と、自動利得調整手段の出力
にオフセット補正を与えるオフセット補正手段とを備え
る情報記録再生装置の迷光成分補正方法であって、初期
調整において、まず複数の光電変換手段の中央に信号光
ビームの中心が照射するよう光電変換手段の位置調整を
し、次に自動利得調整手段の出力のオフセット値を求
め、該オフセット値と異極性でかつ同じ量の補正値を設
定してオフセット補正手段で保持し、以降、オフセット
補正手段で自動利得調整手段の出力に該補正値を常に加
えることを特徴とする情報記録再生装置の迷光成分補正
方法である。
と、放射光源を出射した光ビームを透過又は反射させる
光ビーム分岐手段と、光ビーム分岐手段を通過した第一
の光ビームを受け情報担体上に集光させる光ビーム集光
手段と、情報担体上で反射され光ビーム分岐手段で分岐
された信号光ビームを受ける複数の光電変換手段と、複
数の光電変換手段の電気出力を演算する演算手段と、演
算手段の出力を複数の光電変換手段の総出力で除して正
規化する自動利得調整手段と、自動利得調整手段の出力
にオフセット補正を与えるオフセット補正手段とを備え
る情報記録再生装置の迷光成分補正方法であって、初期
調整において、まず複数の光電変換手段の中央に信号光
ビームの中心が照射するよう光電変換手段の位置調整を
し、次に自動利得調整手段の出力のオフセット値を求
め、該オフセット値と異極性でかつ同じ量の補正値を設
定してオフセット補正手段で保持し、以降、オフセット
補正手段で自動利得調整手段の出力に該補正値を常に加
えることを特徴とする情報記録再生装置の迷光成分補正
方法である。
【００１１】上記した構成及び方法により、ビームスプ
リッターの端面加工精度や光軸精度不足によって起きる
迷光は光学系により定まるので、たとえ情報担体の反射
率変化や光ビーム経路の透過率が変化して光電変換素子
上の信号光ビームの強度が変化しても迷光は変わらず、
また反射光量やレーザの出射光量が変化しても正規化し
ているので自動利得調整手段の出力は振幅も変化しない
ことから迷光によるオフセット量は変化せず、さらにそ
の迷光に相当する量のオフセットを初期調整によって補
正しているので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無
くなる。
リッターの端面加工精度や光軸精度不足によって起きる
迷光は光学系により定まるので、たとえ情報担体の反射
率変化や光ビーム経路の透過率が変化して光電変換素子
上の信号光ビームの強度が変化しても迷光は変わらず、
また反射光量やレーザの出射光量が変化しても正規化し
ているので自動利得調整手段の出力は振幅も変化しない
ことから迷光によるオフセット量は変化せず、さらにそ
の迷光に相当する量のオフセットを初期調整によって補
正しているので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無
くなる。
【００１２】（実施の形態１）以下本発明の実施の形態
を図面に基づき説明する。
を図面に基づき説明する。
【００１３】（参考例の説明）図１は、本発明の参考例
を示したものである。半導体レーザ１１を出射する光ビ
ームはビームスプリッター１２を透過して、対物レンズ
１３に入射する。対物レンズを出射する光ビームは光デ
ィスク１０上に集光され反射される。光ディスクで反射
された信号光ビーム１６はビームスプリッター１２で反
射され二分割の光電変換素子Ｉ１４、及び光電変換素子
II１５にそれぞれ入射する。光電変換素子Ｉ１４と光電
変換素子II１５の出力の差動出力を差動回路２７で取り
反射光量変化を正規化するための自動利得調整（ＡＧＣ
Automatic Gain Control）２９を通過した信号で対
物レンズ１３を駆動する事で、光ディスクの情報トラッ
クを追従するためのトラッキングサーボを行う事ができ
る。前記のＡＧＣは反射光量の和を取る加算回路２８に
よって割り算などの演算を行って実現することが出来
る。
を示したものである。半導体レーザ１１を出射する光ビ
ームはビームスプリッター１２を透過して、対物レンズ
１３に入射する。対物レンズを出射する光ビームは光デ
ィスク１０上に集光され反射される。光ディスクで反射
された信号光ビーム１６はビームスプリッター１２で反
射され二分割の光電変換素子Ｉ１４、及び光電変換素子
II１５にそれぞれ入射する。光電変換素子Ｉ１４と光電
変換素子II１５の出力の差動出力を差動回路２７で取り
反射光量変化を正規化するための自動利得調整（ＡＧＣ
Automatic Gain Control）２９を通過した信号で対
物レンズ１３を駆動する事で、光ディスクの情報トラッ
クを追従するためのトラッキングサーボを行う事ができ
る。前記のＡＧＣは反射光量の和を取る加算回路２８に
よって割り算などの演算を行って実現することが出来
る。
【００１４】ビームスプリッター１２の端面Ｉ１７、端
面II１８より反射された迷光Ｉ１９、及び迷光II２０
は、反射端面の加工精度不足や光軸調整精度不足のため
極端な場合２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、
例えば光電変換素子Ｉ１４に多く入射し光電変換素子II
１５に少なく入射する。一方ビームスプリッター１２で
最初に反射される光ビーム２３は少なくとも１次元で可
動な反射手段２４で反射されビームスプリッター１２を
透過して、光電変換素子II１５の側に多く照射されるよ
うに調整をして、光電変換素子Ｉ１４と光電変換素子II
１５との差動出力が情報担体のない状態で零となるよう
にする。このように迷光の補正を光で行うことで、記録
と再生時の光量変化に対しても光電変換素子の差動出力
のオフセットレベルは変化しない。
面II１８より反射された迷光Ｉ１９、及び迷光II２０
は、反射端面の加工精度不足や光軸調整精度不足のため
極端な場合２個の光電変換素子の一方に偏って入射し、
例えば光電変換素子Ｉ１４に多く入射し光電変換素子II
１５に少なく入射する。一方ビームスプリッター１２で
最初に反射される光ビーム２３は少なくとも１次元で可
動な反射手段２４で反射されビームスプリッター１２を
透過して、光電変換素子II１５の側に多く照射されるよ
うに調整をして、光電変換素子Ｉ１４と光電変換素子II
１５との差動出力が情報担体のない状態で零となるよう
にする。このように迷光の補正を光で行うことで、記録
と再生時の光量変化に対しても光電変換素子の差動出力
のオフセットレベルは変化しない。
【００１５】次に図２を用いて反射手段の有効な利用方
法について第二の参考例の説明を行う。ビームスプリッ
ター１２で最初に反射する光ビーム２３は半導体レーザ
１１の前端面から出射する光ビームに比例した光出力で
あるから、第二の光電変換素子２５の出力を半導体レー
ザにフィードバックする事により半導体レーザ出力光を
一定とする制御に用いる事ができる。この第二の光電変
換素子２５の反射率及び光電変換素子を保護するための
樹脂表面２６及び第二の光電変換素子２５の反射率はプ
リズム端面の反射率に比べて同等もしくはそれ以上あり
迷光の大きな要因となるので、従来は、反射光が信号検
出の光電変換素子に混入しないように通常光軸に対し一
定の角度をつけて固定し反射光が光電変換素子Ｉ、IIに
混入しないように設置してある。本参考例ではこの角度
を可変として、角度調整する事で迷光の補正を行なわせ
る。図１及び図２では光線の中心のみを表示している。
実際には信号光や迷光、光ビームには拡がりがあり、光
線の中心がいずれか一方の光電変換素子に入射してい
て、もう一方の光電変換素子にも一部入射しており、光
線の中心位置を変化させると両光電素子の差動出力のオ
フセットは連続的に変化し得る。従って第二の光電変換
素子２５を光電変換素子Ｉ１４、II１５の分割線に垂直
な方向に光ビーム２３が移動可能なように回転できる構
造とする事で光電変換素子Ｉ１４、と光電変換素子II１
５の差動出力に迷光の影響によるオフセット出力を除去
でき、サーボの誤動作を防ぐことができる。
法について第二の参考例の説明を行う。ビームスプリッ
ター１２で最初に反射する光ビーム２３は半導体レーザ
１１の前端面から出射する光ビームに比例した光出力で
あるから、第二の光電変換素子２５の出力を半導体レー
ザにフィードバックする事により半導体レーザ出力光を
一定とする制御に用いる事ができる。この第二の光電変
換素子２５の反射率及び光電変換素子を保護するための
樹脂表面２６及び第二の光電変換素子２５の反射率はプ
リズム端面の反射率に比べて同等もしくはそれ以上あり
迷光の大きな要因となるので、従来は、反射光が信号検
出の光電変換素子に混入しないように通常光軸に対し一
定の角度をつけて固定し反射光が光電変換素子Ｉ、IIに
混入しないように設置してある。本参考例ではこの角度
を可変として、角度調整する事で迷光の補正を行なわせ
る。図１及び図２では光線の中心のみを表示している。
実際には信号光や迷光、光ビームには拡がりがあり、光
線の中心がいずれか一方の光電変換素子に入射してい
て、もう一方の光電変換素子にも一部入射しており、光
線の中心位置を変化させると両光電素子の差動出力のオ
フセットは連続的に変化し得る。従って第二の光電変換
素子２５を光電変換素子Ｉ１４、II１５の分割線に垂直
な方向に光ビーム２３が移動可能なように回転できる構
造とする事で光電変換素子Ｉ１４、と光電変換素子II１
５の差動出力に迷光の影響によるオフセット出力を除去
でき、サーボの誤動作を防ぐことができる。
【００１６】図３は本参考例による迷光の影響を除去す
る方法を、トラッキング誤差信号の検出に適用した場合
の図である。従来の方法である図９と比較すると、迷光
Ｉ１９、及び迷光II２０の影響を光ビーム２３でキャン
セルしてあるため信号光ビーム１６は正確に両光電変換
素子の中央に位置させる事ができるようになり、信号光
ビーム１６の変化でサーボ誤差が増大する事はない。
る方法を、トラッキング誤差信号の検出に適用した場合
の図である。従来の方法である図９と比較すると、迷光
Ｉ１９、及び迷光II２０の影響を光ビーム２３でキャン
セルしてあるため信号光ビーム１６は正確に両光電変換
素子の中央に位置させる事ができるようになり、信号光
ビーム１６の変化でサーボ誤差が増大する事はない。
【００１７】図４はこの参考例によるトラッキング誤差
信号検出の様子を示すものである。電気系のグランド３
０に対してプラスマイナスのレベルが対称になるように
調整されたトラッキング誤差信号３１に対してサーボ動
作をさせると、トラック中心３２にサーボは引き込む。
光ディスクなどの反射率が変化して信号光ビーム１６の
光量が低下したときトラッキング誤差信号３３は小さく
なる。しかしトラック中心３２の位置は変化しないので
サーボ誤差が生じる事はない。
信号検出の様子を示すものである。電気系のグランド３
０に対してプラスマイナスのレベルが対称になるように
調整されたトラッキング誤差信号３１に対してサーボ動
作をさせると、トラック中心３２にサーボは引き込む。
光ディスクなどの反射率が変化して信号光ビーム１６の
光量が低下したときトラッキング誤差信号３３は小さく
なる。しかしトラック中心３２の位置は変化しないので
サーボ誤差が生じる事はない。
【００１８】本発明の参考例では、信号光ビーム２３を
光電変換素子IIに入射させる変わりに第二の光電変換素
子２５の出力を適切な利得を与えて光電変換素子IIの出
力に加算または減算させる方法がある。実際の構成とし
ては、図１の差動回路２７の光電変換素子IIの出力が接
続される端子に適当な利得で抵抗加算する構成や、その
反対の端子に逆極性で加算する構成、または差動回路の
後段に加算用の回路を別途設けるなどの方法がある。こ
の場合は第二の光電変換素子２５及びその樹脂表面２６
の反射は第一の実施例と異なり光電変換素子Ｉ１４、光
電変換素子II１５に反射ビームが入射しないように角度
を設定する。本実施例の場合も、迷光の影響があらかじ
め除去できるので光ディスクなどの反射率が変化して信
号光ビーム１６の光量が低下したときトラッキング誤差
信号３３は小さくなるが、トラック中心３２の位置は変
化しないのでサーボ誤差が生じる事はない。
光電変換素子IIに入射させる変わりに第二の光電変換素
子２５の出力を適切な利得を与えて光電変換素子IIの出
力に加算または減算させる方法がある。実際の構成とし
ては、図１の差動回路２７の光電変換素子IIの出力が接
続される端子に適当な利得で抵抗加算する構成や、その
反対の端子に逆極性で加算する構成、または差動回路の
後段に加算用の回路を別途設けるなどの方法がある。こ
の場合は第二の光電変換素子２５及びその樹脂表面２６
の反射は第一の実施例と異なり光電変換素子Ｉ１４、光
電変換素子II１５に反射ビームが入射しないように角度
を設定する。本実施例の場合も、迷光の影響があらかじ
め除去できるので光ディスクなどの反射率が変化して信
号光ビーム１６の光量が低下したときトラッキング誤差
信号３３は小さくなるが、トラック中心３２の位置は変
化しないのでサーボ誤差が生じる事はない。
【００１９】（実施例の説明）本発明の実施例として、
前述の反射手段２４などを用いずに電気的に補正する方
法を示す。
前述の反射手段２４などを用いずに電気的に補正する方
法を示す。
【００２０】図５は本発明の実施例のブロック図を示
す。同図において半導体レーザ１１からＡＧＣ２９まで
は図１と同じ構成であり、３５は加算器、３６はオフセ
ット補正回路である。この様に正規化したトラッキング
誤差信号であるＡＧＣ２９の出力に、迷光に相当する量
のオフセットをオフセット補正回路によって発生し、加
算器３４でキャンセルするように構成することにより、
前述の反射手段２４による光学的オフセット補正を行な
わなくても、反射光量や半導体レーザの出射光量が変化
した場合も、迷光Ｉ、IIによるオフセットも正規化され
ているため、加算器３４の出力のトラッキング誤差信号
の動作中心を常に電気グランド３０において動作させる
ことができるため、実質上迷光の影響を考慮する必要が
無くなるものである。
す。同図において半導体レーザ１１からＡＧＣ２９まで
は図１と同じ構成であり、３５は加算器、３６はオフセ
ット補正回路である。この様に正規化したトラッキング
誤差信号であるＡＧＣ２９の出力に、迷光に相当する量
のオフセットをオフセット補正回路によって発生し、加
算器３４でキャンセルするように構成することにより、
前述の反射手段２４による光学的オフセット補正を行な
わなくても、反射光量や半導体レーザの出射光量が変化
した場合も、迷光Ｉ、IIによるオフセットも正規化され
ているため、加算器３４の出力のトラッキング誤差信号
の動作中心を常に電気グランド３０において動作させる
ことができるため、実質上迷光の影響を考慮する必要が
無くなるものである。
【００２１】前記した信号の様子を図６、図７を用いて
説明する。図６は図３と同じくトラッキング誤差信号の
検出に適用した場合の図である。従来の方法である図９
と比較すると、迷光Ｉ１９、及び迷光II２０の影響は同
じであるが、矢印Ａ−Ａの方向に以下の方法を用いて信
号ビーム１６の中心が正確に両光電変換素子の中央に位
置させる事ができるように調整されている。図７におい
て１６ｅ、１５ｅに光電変換素子Ｉ、IIの出力を示す。
上記１６ｅ、１５ｅのＡＣ成分のリサージュ波形をオシ
ロスコープ等を用いて描かせると同図Ｒｅの様になる。
ここで図６の矢印Ａ−Ａの方向に光電変換素子を動か
し、ＡＣ成分が振幅が等しく極性が逆になるように合わ
せることによりＲｅの波形は−４５度の方向にほぼ直線
になる。この時図６に示すように、信号ビーム１６の中
心位置が正確に両光電変換素子の中央に位置している。
この時のＡＧＣの出力を図７のＴｅに示す。ここでトラ
ッキング出力３７は正規化されているために反射光量や
半導体レーザの出射光量が変化した場合も振幅は変化せ
ず、迷光によるオフセットもまた３６で示すように変化
しない。そのため電気的に一定量のオフセット補正を初
期に置いて行なえば、常に加算器３４の出力のトラッキ
ング誤差信号の動作中心を電気グランド３０において動
作させることができるため、実質上迷光によるトラッキ
ングサーボ系への影響は無視することができるものであ
る。
説明する。図６は図３と同じくトラッキング誤差信号の
検出に適用した場合の図である。従来の方法である図９
と比較すると、迷光Ｉ１９、及び迷光II２０の影響は同
じであるが、矢印Ａ−Ａの方向に以下の方法を用いて信
号ビーム１６の中心が正確に両光電変換素子の中央に位
置させる事ができるように調整されている。図７におい
て１６ｅ、１５ｅに光電変換素子Ｉ、IIの出力を示す。
上記１６ｅ、１５ｅのＡＣ成分のリサージュ波形をオシ
ロスコープ等を用いて描かせると同図Ｒｅの様になる。
ここで図６の矢印Ａ−Ａの方向に光電変換素子を動か
し、ＡＣ成分が振幅が等しく極性が逆になるように合わ
せることによりＲｅの波形は−４５度の方向にほぼ直線
になる。この時図６に示すように、信号ビーム１６の中
心位置が正確に両光電変換素子の中央に位置している。
この時のＡＧＣの出力を図７のＴｅに示す。ここでトラ
ッキング出力３７は正規化されているために反射光量や
半導体レーザの出射光量が変化した場合も振幅は変化せ
ず、迷光によるオフセットもまた３６で示すように変化
しない。そのため電気的に一定量のオフセット補正を初
期に置いて行なえば、常に加算器３４の出力のトラッキ
ング誤差信号の動作中心を電気グランド３０において動
作させることができるため、実質上迷光によるトラッキ
ングサーボ系への影響は無視することができるものであ
る。
【００２２】なお、上述した実施の形態では光ディスク
装置を用いて説明したが、同様の迷光の影響が考えられ
る光カードや光テープなどの記録再生装置への応用は本
発明の範囲内である。
装置を用いて説明したが、同様の迷光の影響が考えられ
る光カードや光テープなどの記録再生装置への応用は本
発明の範囲内である。
【００２３】また、上述した実施の形態では、トラッキ
ングサーボ系について説明したが、この原理はフォーカ
シングサーボ系動作の場合も同様であり本発明の方法を
適用することができる。
ングサーボ系について説明したが、この原理はフォーカ
シングサーボ系動作の場合も同様であり本発明の方法を
適用することができる。
【００２４】
【発明の効果】このように本発明によると、ビームスプ
リッターの端面加工精度や光軸精度不足によって起きる
迷光によるオフセット量は変化せず、さらにその迷光に
相当する量のオフセットを初期調整によって補正してい
るので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くなると
いう優れた効果を有する。
リッターの端面加工精度や光軸精度不足によって起きる
迷光によるオフセット量は変化せず、さらにその迷光に
相当する量のオフセットを初期調整によって補正してい
るので、実質上迷光の影響を考慮する必要が無くなると
いう優れた効果を有する。
【図１】本発明の参考例の構成を示す構成図
【図２】本発明の第２の参考例を示す構成図
【図３】同、光電変換素子上の光ビームの配置図
【図４】同、トラッキング誤差信号の例を示す図
【図５】本発明の実施例の構成図
【図６】本発明による光電変換素子上の光ビームの配置
図
図
【図７】本発明によるトラッキング誤差信号の例を示す
図
図
【図８】従来の方式によるサーボ信号検出法を説明する
ための図
ための図
【図９】従来の方法による光電変換素子上の光ビームの
配置図
配置図
１１ 半導体レーザ １２ ビームスプリッター １４、１５ 光電変換素子 １６ 信号光ビーム １９、２０ 迷光 ２３ 光ビーム ２５ 第二の光電変換素子 ２６ 第二の光電変換素子の樹脂表面 ２７ 差動回路 ２８ 加算回路 ２９ ＡＧＣ ３４ 加算器 ３５ オフセット補正回路 ４２ ビームスプリッタ ４７、４８ ビームスプリッター端面 ５１ 光電流
Claims (3)
- 【請求項１】 放射光源と、前記放射光源を出射した光
ビームを透過又は反射させる光ビーム分岐手段と、前記
光ビーム分岐手段を通過した第一の光ビームを受け情報
担体上に集光させる光ビーム集光手段と、前記情報担体
上で反射され前記光ビーム分岐手段で分岐された信号光
ビームを受ける複数の光電変換手段と、前記複数の光電
変換手段の電気出力を演算する演算手段と、前記演算手
段の出力を前記複数の光電変換手段の総出力で除して正
規化する自動利得調整手段と、前記自動利得調整手段の
出力に一定の補正値を加えるオフセット補正手段とを備
えることを特徴とする情報記録再生装置。 - 【請求項２】 オフセット補正手段は、初期調整で一定
のオフセット補正値を設定されそれを保持して出力する
オフセット補正回路と、前記オフセット補正回路の出力
と自動利得調整手段の出力とを加算する加算器とを備え
ることを特徴とする請求項１記載の情報記録再生装置。 - 【請求項３】 放射光源と、前記放射光源を出射した光
ビームを透過又は反射させる光ビーム分岐手段と、前記
光ビーム分岐手段を通過した第一の光ビームを受け情報
担体上に集光させる光ビーム集光手段と、前記情報担体
上で反射され前記光ビーム分岐手段で分岐された信号光
ビームを受ける複数の光電変換手段と、前記複数の光電
変換手段の電気出力を演算する演算手段と、前記演算手
段の出力を前記複数の光電変換手段の総出力で除して正
規化する自動利得調整手段と、前記自動利得調整手段の
出力にオフセット補正を与えるオフセット補正手段とを
備える情報記録再生装置の迷光成分補正方法であって、
初期調整において、まず前記複数の光電変換手段の中央
に前記信号光ビームの中心が照射するよう光電変換手段
の位置調整をし、次に前記自動利得調整手段の出力のオ
フセット値を求め、該オフセット値と異極性でかつ同じ
量の補正値を設定して前記オフセット補正手段で保持
し、以降、前記オフセット補正手段で前記自動利得調整
手段の出力に該補正値を常に加えることを特徴とする情
報記録再生装置の迷光成分補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11219743A JP2000057591A (ja) | 1999-08-03 | 1999-08-03 | 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11219743A JP2000057591A (ja) | 1999-08-03 | 1999-08-03 | 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3179494A Division JP3010801B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000057591A true JP2000057591A (ja) | 2000-02-25 |
Family
ID=16740303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11219743A Pending JP2000057591A (ja) | 1999-08-03 | 1999-08-03 | 情報記録再生装置及びその迷光成分補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000057591A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002075766A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Jae-Hong Park | A seal glass which is adhesive in vacuum, its manufacturing method, and a flat panel display device manufactured by using it |
| WO2006101077A1 (ja) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ディスク装置 |
| CN100342431C (zh) * | 2003-12-17 | 2007-10-10 | 索尼株式会社 | 激光噪声消除电路和光盘设备 |
-
1999
- 1999-08-03 JP JP11219743A patent/JP2000057591A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002075766A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Jae-Hong Park | A seal glass which is adhesive in vacuum, its manufacturing method, and a flat panel display device manufactured by using it |
| CN100342431C (zh) * | 2003-12-17 | 2007-10-10 | 索尼株式会社 | 激光噪声消除电路和光盘设备 |
| WO2006101077A1 (ja) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光ディスク装置 |
| US7830761B2 (en) | 2005-03-22 | 2010-11-09 | Panasonic Corporation | Optical disk apparatus |
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