ITMI20080533A1 - Procedimento per testare una scheda ic includente un dispositivo zigbee - Google Patents
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Description
"Procedimento per testare una scheda IC includente un dispositivo ZigBee "
DESCRIZIONE
Campo di applicazione
La presente invenzione riguarda un procedimento per testare un dispositivo ZigBee incluso in una scheda IC, comprendente le seguenti fasi:
- associare al dispositivo ZigBee un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale);
predisporre un dispositivo di test per linizializzazione di una rete ZigBee;
- collegare il dispositivo ZigBee alla rete ZigBee e trasmettere il corrispondente identificatore PAN (3a) al dispositivo di test tale procedimento restituendo un segnale di errore, indicativo di un fallimento di detta fase di collegamento e trasmissione, se il dispositivo di test non riceve lidentificatore PAN (3a).
La presente invenzione riguarda anche un dispositivo di test per testare un dispositivo ZigBee del tipo incluso in una scheda IC ed associato ad un predeterminato identificatore PAN, comprendente mezzi per inizializzare una rete ZigBee, a cui un dispositivo ZigBee può essere connesso e lungo cui può trasmettere il corrispondente identificatore PAN, e mezzi per restituire un messaggio di errore, indicativo del fatto che tale dispositivo ZigBee non è in grado di connettersi e trasmettere, se l’indicatore PAN non è stato ricevuto.
Tecnica nota
Com’è ben noto, un procedimento per testare una scheda IC comprende una fase per controllare che le risorse hardware e software della scheda IC possano comunicare con un dispositivo di letturascrittura, secondo un predeterminato standard di comunicazione.
Più in particolare, la scheda IC comprende un sistema su circuito integrato (chip), che include una porzione di memoria ed un microcontrollore, ed un gruppo di terminali di contatto per un collegamento elettrico con il dispositivo di lettura- scrittura.
Come rappresentato schematicamente in figura 1, la scheda IC 1 può anche comprendere un dispositivo ZigBee 2a includente un’antenna 7, per una comunicazione senza fili (wireless) con un controllore ZigBee, secondo uno standard IEEE 802.15.4.
Il procedimento per testare tale scheda IC permette di testare tanto la comunicazione con il dispositivo di lettura- scrittura, attraverso la connessione elettrica basata sui terminali di contatto, quanto la comunicazione con il controllore ZigBee, tramite una rete ZigBee inizializzata dal controllore ZigBee.
Più in particolare, la scheda IC 1 può comprendere un primo sistema su circuito integrato, che include risorse hardware per la comunicazione senza fili con il dispositivo ZigBee, ed un secondo sistema su circuito integrato, che include risorse hardware per la comunicazione con il dispositivo di lettura-scrittura.
In un’altra configurazione hardware della scheda IC, le risorse hardware per l’implementazione della comunicazione con il dispositivo di lettura-scrittura e della comunicazione senza fili con il controllore ZigBee possono essere incluse in un singolo sistema su circuito integrato.
Nella descrizione che segue, indipendentemente dalla configurazione del sistema o dei sistemi su circuito integrato, l’espressione dispositivo ZigBee si usa per indicare le risorse hardware e software che supportano il sistema di comunicazione con il controllore ZigBee, mentre l’espressione dispositivo IC viene usata con riferimento alle risorse hardware e software per implementare la comunicazione con il dispositivo di lettura- scrittura.
Più in particolare, il procedimento per testare la scheda IC può far sì non solo che il dispositivo IC possa comunicare con il dispositivo di lettura- scrittura, ma anche che il dispositivo ZigBee possa comunicare con il controllore ZigBee, secondo i rispettivi standard.
Un problema di tale procedimento di test è che il controllo del dispositivo ZigBee richiede molto più tempo che il controllo del dispositivo IC.
Difatti, per testare il dispositivo ZigBee, tra il controllore ZigBee ed il dispositivo ZigBee occorre stabilire una comunicazione senza fili, che include una fase di inizializzazione della rete ZigBee tramite il controllore ZigBee, una fase di connessione del dispositivo ZigBee alla rete ZigBee, una fase di identificazione del dispositivo ZigBee tramite il controllore ZigBee ed una fase di trasmissione di uno o più messaggi senza fili per testare l’abilità di trasmissione del dispositivo ZigBee.
Più in particolare, è degno di nota il fatto che i costruttori di schede IC stanno seguendo la tendenza emergente di usare schede IC che includono un dispositivo ZigBee per un gran numero di applicazioni di controllo, cosicché il tempo di test delle schede IC risulta sempre più spesso penalizzato dal tempo di controllo del dispositivo ZigBee. Difatti, la richiesta di interoperabilità, assieme ai costi opportunità correlati al tempo di commercializzazione, richiede necessariamente una conformità di test, rendendo una soluzione di test efficiente in termini di tempo, affidabile ed economica una necessità.
Un altro problema di tale procedimento di test è che il controllore ZigBee non può identificare direttamente e restituire un codice di identificazione di un dispositivo ZigBee difettoso.
Infatti, poiché un dispositivo ZigBee difettoso non è in grado di collegarsi e trasmettere sulla rete ZigBee, ad esempio a causa di un’antenna rotta 7, il controllore ZigBee non può identificarlo. In altre parole, il dispositivo ZigBee difettoso può essere rilevato solo indirettamente per il fatto che è trascorso un tempo predeterminato senza che da esso sia stata ricevuta una risposta. Tale procedimento di test restituisce un messaggio di errore, indicativo di un fallimento di una connessione e/o di una trasmissione del dispositivo ZigBee, senza identificarlo.
Questo procedimento non è vantaggioso, specialmente quando occorre testare una pluralità di dispositivi ZigBee, ad esempio localizzati su un nastro di una linea di produzione.
Più in particolare, è noto associare al dispositivo ZigBee un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale), in modo tale che un dispositivo di test possa rilevare tale identificatore ed identificare il corrispondente dispositivo ZigBee, quando tale dispositivo ZigBee si connette alla rete ZigBee. Comunque, non è possibile identificare il corrispondente dispositivo ZigBee quando esso è incapace di connettersi alla rete ZigBee, poiché non viene trasmesso l’identificatore PAN.
Il problema tecnico alla base della presente invenzione è quello di rendere disponibile un procedimento per testare una o più schede IC, includenti un rispettivo dispositivo ZigBee, evitando che il tempo impiegato per controllare il dispositivo ZigBee penalizzi pesantemente il tempo per controllare il dispositivo IC di tali schede IC e di fare in modo che sia possibile identificare un dispositivo ZigBee difettoso anche se non è possibile stabilire una comunicazione ZigBee con il controllore ZigBee, onde consentire ai costruttori delle schede IC di testare, convalidare e rilasciare le loro schede IC il più rapidamente possibile, superando i limiti che attualmente affliggono i procedimenti di test secondo la tecnica nota.
Sommario dell’invenzione
L’idea di soluzione alla base della presente invenzione è quella di associare un identificatore al dispositivo ZigBee incluso in una scheda IC da testare e di pre-memorizzare tale identificatore in un dispositivo di test che inizializza una rete ZigBee a cui il dispositivo ZigBee può connettersi. In questo modo, se il dispositivo ZigBee si connette alla rete ZigBee e trasmette l’identificatore corrispondente, il dispositivo di test rileva l’identificatore corrispondente e restituisce un valore positivo per il test. Al contrario, se il dispositivo ZigBee non è in grado di connettersi alla rete ZigBee, il dispositivo di test identifica tale dispositivo ZigBee sulla base dell’identificatore pre-memorizzato per il quale non ha ricevuto un corrispondente identificatore e restituisce un messaggio di errore, che identifica il dispositivo ZigBee difettoso.
Secondo tale idea di soluzione, il problema tecnico descritto sopra viene risolto attraverso un procedimento per testare un dispositivo ZigBee incluso in una scheda IC, comprendente le seguenti fasi:
- associare al dispositivo ZigBee un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale);
- predisporre un dispositivo di test, per l’inizializzazione di una rete ZigBee;
- collegare il dispositivo ZigBee alla rete ZigBee e trasmettere al dispositivo di test il corrispondente identificatore PAN,
il procedimento restituendo un messaggio di errore, indicativo di un fallimento della fase di connessione e trasmissione, se il dispositivo di test non riceve lidentifìcatore PAN,
caratterizzato da:
- pre-memorizzare il predeterminato identificatore PAN in una porzione di memoria del dispositivo di test;
- includere, nel messaggio di errore, ridentifìcatore PAN prememorizzato nella porzione di memoria, se il dispositivo di test non riceve l’identificatore PAN, al fine di identificare il dispositivo ZigBee come un dispositivo difettoso.
Il problema tecnico descritto sopra viene anche risolto da un dispositivo di test per testare un dispositivo ZigBee del tipo incluso in una scheda IC ed associato ad un predeterminato identificatore PAN, comprendente mezzi per inizializzare una rete ZigBee, a cui il dispositivo ZigBee può connettersi e lungo cui può trasmettere il corrispondente identificatore PAN, e mezzi per restituire un messaggio di errore indicativo del fatto che tale dispositivo ZigBee non è in grado di connettersi e trasmettere, se l’identificatore PAN non viene ricevuto, caratterizzato dal fatto che:
- una porzione di memoria di detto dispositivo di test prememorizza il predeterminato identificatore PAN e dal fatto che il messaggio di errore include detto identificatore PAN pre-memorizzato in detta porzione di memoria per identificare il dispositivo ZigBee quale un dispositivo difettoso.
Vantaggiosamente, secondo il procedimento ed il dispositivo di test della presente invenzione, i dispositivi ZigBee inclusi in una pluralità di schede IC possono essere facilmente e rapidamente controllati, senza rallentare il tempo per testare le risorse hardware e software complessive della scheda IC.
Vantaggiosamente, secondo il procedimento ed il dispositivo della presente invenzione, il controllo di una comunicazione tra il dispositivo ZigBee ed il coordinatore ZigBee assorbe un tempo non superiore al controllo di una comunicazione tra un dispositivo IC di tale scheda IC ed un dispositivo di lettura-scrittura.
Inoltre, il dispositivo di test secondo la presente invenzione identifica la scheda IC difettosa restituendo un elenco di identificatori associati alle schede IC difettose. Vantaggiosamente, le schede IC difettose possono essere facilmente selezionate poiché i loro identificatori, memorizzati allinterno di una porzione di memoria della scheda IC, possono essere letti tramite il dispositivo di lettura-scrittura, a mezzo di terminali di contatto, oppure possono essere scritti su un supporto della scheda IC in modo tale che un utilizzatore possa identificarla direttamente.
Altre caratteristiche e vantaggi del procedimento di test e del corrispondente dispositivo di test secondo l’invenzione risulteranno evidenti dalla seguente descrizione di un loro esempio di realizzazione, fornito a titolo di esempio non limitativi con riferimento agli uniti disegni.
Breve descrizione dei disegni
La figura 1 rappresenta schematicamente una scheda IC includente un dispositivo ZigBee secondo la tecnica nota;
- la figura 2a rappresenta schematicamente un procedimento per testare la scheda IC di figura 1, secondo la presente invenzione;
a la figura 2b rappresenta schematicamente il procedimento per testare una scheda IC difettosa secondo la presente invenzione;
la figura 3 rappresenta schematicamente un procedimento per testare una pluralità di schede IC secondo la presente invenzione; la figura 4 rappresenta schematicamente una fase del procedimento di test di figura 3;
la figura 5 rappresenta schematicamente una coppia di dispositivi di test che operano in uno stesso ambiente con differenti frequenze per identificare rispettivi ID PAN, secondo la presente invenzione.
Descrizione dettagliata
Con riferimento agli uniti disegni, con il numero di riferimento 4 viene rappresentato schematicamente un dispositivo di test per testare una scheda IC la includente un dispositivo ZigBee 2a. Il dispositivo di test 4 inizializza una rete ZigBee a cui si può connettere il dispositivo 2a.
Più in particolare, il dispositivo ZigBee 2a è associato ad un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale) 3a, memorizzato in una porzione predeterminata della scheda IC la.
II dispositivo ZigBee 2a si connette alla rete ZigBee e trasmette il predeterminato identificatore PAN (rete di area personale) 3a al dispositivo di test 4. Tuttavia, se il dispositivo ZigBee 2a è difettoso, esso non può trasmettere il corrispondente identificatore PAN 3a sulla rete ZigBee, per cui il dispositivo di test 4 non riceve tale identificatore PAN 3a.
Secondo il procedimento della presente invenzione, il predeterminato identificatore PAN 3a della scheda IC la da testare viene pre-memorizzato in una porzione di memoria 6 del dispositivo di test 4. Più in particolare, il termine “pre-memorizzato” viene usato per specificare che tale identificatore PAN 3a viene memorizzato nella porzione di memoria 6 prima della connessione del dispositivo di test 4 e del dispositivo ZigBee 2.
Più in particolare, secondo il procedimento dell’invenzione, una volta pre-memeorizzato l’identificatore PAN 3a nella porzione di memoria 6 ed inizializzata la rete ZigBee, il dispositivo di test 4 rileva se il dispositivo ZigBee 2a trasmette l’identificatore PAN 3a.
Come già esposto sopra, se il dispositivo ZigBee 2a è un dispositivo ZigBee difettoso, esso non può trasmettere il corrispondente identificatore PAN 3a sulla rete ZigBee, per cui il dispositivo di test 4 non riceve tale identificatore PAN 3a.
Secondo il procedimento di test, se il dispositivo di test 4 non rileva l’identificatore PAN 3a corrispondente all’identificatore PAN 3a pre-memorizzato nella porzione di memoria 6, esso restituisce un messaggio di errore, comprendente l’identificatore PAN 3a prememorizzato. In altre parole, il dispositivo di test 4 produce in uscita l’identificatore PAN 3a pre-memorizzato corrispondente al dispositivo ZigBee difettoso, anche se non ha ricevuto l’identificatore PAN 3a dal dispositivo ZigBee.
Più in particolare, con riferimento alla figura 2a, viene rappresentato schematicamente lo svolgimento del procedimento della presente invenzione per il rilevamento di un dispositivo ZigBee 2a, incluso in una scheda IC la, risultante in un test positivo. Il dispositivo di test 4 inizializza la rete ZigBee 10, a cui il dispositivo ZigBee 2 a può connettersi per trasmettere l’identificatore PAN. Il dispositivo di test 4 pre-memorizza l’identificatore PAN 3a del dispositivo ZigBee 2a da testare all’interno di una porzione di memoria 6. Un blocco 9 riceve in ingresso l'dentificatore PAN 3a pre-memorizzato. Quando il dispositivo ZigBee 2a si connette alla rete ZigBee 10 e trasmette l’identificatore PAN 3a, il blocco 9 riceve in ingresso l’identificatore PAN 3a trasmesso e lo confronta con l’identificatore PAN 3a pre-memorizzato. Il dispositivo di test 4 restituisce infine un valore positivo, assieme all’identificatore PAN 3a del dispositivo 2a testato.
Con riferimento alla figura 2b, viene rappresentato schematicamente uno svolgimento del procedimento della presente invenzione per il rilevamento di un dispositivo ZigBee 2a, incluso in una scheda IC la, risultante in un test negativo ed in un corrispondente messaggio di errore. Come descritto sopra, il dispositivo di test 4 inizializza la rete ZigBee 10 e pre-memorizza l’identificatore PAN 3a del dispositivo ZigBee 2 a da testare all’interno della porzione di memoria 6. II blocco 9 riceve in ingresso l’identificatore PAN 3a dalla porzione di memoria 6. Tuttavia, in questo caso, il dispositivo ZigBee 2a non si può connette alla rete ZigBee 10 e non può trasmette l’identificatore PAN 3a. Di conseguenza, il blocco 9 non riceve l’identificatore PAN 3a dal dispositivo ZigBee 2a e non lo può confrontare con l’identificatore PAN 3a pre-memorizzato. Il dispositivo di test 4 restituisce infine un valore negativo, assieme all’identificatore PAN 3a del dispositivo 2a difettoso.
Come si può apprezzare dalla descrizione che segue, il procedimento secondo la presente invenzione è particolarmente vantaggioso quando si testa una pluralità di schede IC, che includono rispettivi dispositivi ZigBee.
Con riferimento alla figura 3, viene rappresentata una pluralità di schede IC la, lb, le, Id, che includono corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d, i quali sono associati a rispettivi identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d.
Un dispositivo di test 4 include una porzione di memoria 6, che pre-memorizza gli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d associati alle schede IC da testare, ed un blocco 9 che riceve in ingresso gli identificatori PAN pre-memorizzati 3a, 3b, 3c, 3d. Il dispositivo di test 4 inizializza una rete ZigBee 10, in modo tale che i dispositivi 2a, 2b, 2c, 2d si colleghino e trasmettano i rispettivi identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d.
Secondo il procedimento dellinvenzione, il blocco 9 riceve in ingresso anche gli identificatori PAN trasmessi 3a, 3b, 3c, 3d e li confronta con gli identificatori PAN pre-memorizzati 3a, 3b, 3c, 3d. Come viene rappresentato schematicamente in figura 3, i dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2d si collegano e trasmettono i rispettivi identificatori PAN 3a, 3b, 3d, mentre il dispositivo ZigBee 2c, ad esempio a causa di un collegamento interrotto tra l’antenna e la circuiteria, è incapace di inviare l’identificatore PAN 3c.
In figura 4 è rappresentata schematicamente una fase del procedimento secondo l’invenzione, in cui il blocco 9 accoppia una pluralità di identificatori PAN trasmessi, che includono i codici 000001, 000002, 000003, 000004, 000005, 000006, 000007, 000008, a corrispondenti identificatori PAN pre-memorizzati, che includono gli stessi codici 000001, 000002, 000003, 000004, 000005, 000007, 000008.
Il blocco 9 non è in grado di accoppiare gli identificatori PAN pre-memorizzati includenti il codice 000006, poiché il corrispondente dispositivo ZigBee 2c non può trasmetterlo. Così viene generato un messaggio di errore “perso!!” e viene identificato il codice 000006 corrispondente al dispositivo ZigBee 2c difettoso.
Vantaggiosamente, lidentificatore PAN 2a associato al dispositivo ZigBee 2a può essere scritto su un supporto fisico della scheda IC, in modo tale che un utilizzatore possa identificare facilmente e direttamente i dispositivi ZigBee difettosi e rimuoverli dalla linea di produzione. Tuttavia, poiché l’identificatore PAN 2a viene anche memorizzato nella scheda IC la, esso può essere letto tramite un dispositivo di lettura- scrittura programmato per leggere la scheda IC, ad esempio tramite terminali di contatto.
Qui di seguito si riassumono le fasi principali previste dal procedimento dell’invenzione:
- associare al dispositivo ZigBee 2a un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale) 3a;
- predisporre un dispositivo di test 4 che inizializza una rete ZigBee;
- connettere il dispositivo ZigBee 2a alla rete ZigBee e trasmettere il corrispondente identificatore PAN 3a al dispositivo di test 4.
Il procedimento restituisce un messaggio di errore, indicativo di un fallimento della fase di connessione e trasmissione, se il dispositivo di test 4 non riceve l’identificatore PAN 3a.
Il procedimento comprende anche le fasi di:
- pre-memorizzare il predeterminato identificatore PAN 3a in una porzione di memoria 6 del dispositivo di test 4;
- includere nel messaggio di errore l’identificatore PAN 3a prememorizzato nella porzione di memoria 6 se il dispositivo di test 4 non riceve lidentifìcatore PAN 3a, al fine di identificare il dispositivo ZigBee 2a come un dispositivo difettoso.
Vantaggiosamente, il procedimento può essere usato per rilevare una pluralità di schede IC, secondo le seguenti fasi:
- collegare alla rete ZigBee la pluralità di schede 1C 1a, 1b, 1e, 1d, che includono rispettivi dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d associati a predeterminati identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d, e trasmettere i corrispondenti identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d al dispositivo di test 4;
- pre-memorizzare i predeterminati identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d nella porzione di memoria 6 del dispositivo di test 4;
- includere, nel messaggio di errore, gli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d pre-memorizzati nella porzione di memoria 6 corrispondenti agli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d non ricevuti dal dispositivo di test 4, al fine di identificare i corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d come dispositivi difettosi.
La fase di pre- memorizzazione dellidentifìcatore o degli identificatori PAN predeterminati 3a, 3, 3c, 3d viene eseguita prima della fase di trasmissione dell’identificatore o degli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d al dispositivo di test 4.
Il procedimento fornisce anche una fase di accoppiamento dell’identificatore o degli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d trasmessi dai corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d all’identificatore o identificatori PAN pre-memorizzati 3a, 3b, 3c, 3d e di restituzione di un messaggio di test positivo per i dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d per cui lidentifìcatore o gli identificatori PAN trasmessi 3a, 3b, 3c, 3d coincidono con l’identificatore o identificatori PAN pre-memorizzati 3a, 3b, 3c, 3d.
L’identificatore o identificatori PAN 3a, 3, 3c, 3d vengono memorizzati in una porzione di memoria della corrispondente scheda IC 1a, 1b, 1e, 1d.
Secondo il procedimento della presente invenzione, una pluralità di dispositivi di test 4, anche indicati in figura 5 come coordinatore A e coordinatore B, può essere usata contemporaneamente per testare una pluralità di schede IC, che includono rispettivi dispositivi ZigBee. Per amore di chiarezza, l’espressione dispositivo di test è da intendersi come un’apparecchiatura oppure una linea di test includente una testa di test per testare il ZigBee.
Si prevede un primo dispositivo di test o coordinatore A per testare un primo gruppo di schede IC la, lb, le, ld e si prevede un secondo dispositivo di test o coordinatore B per testare un secondo gruppo di schede IC 11a, 11b, 11e, 11d. Le schede IC 1a, 1b, 1e, 1d, 11a, 11b, 11e, 11d includono corrispondenti dispositivi ZigBee, rispettivamente 2a, 2b, 2c, 2d, 22a, 22b, 22c, 22d.
Poiché i dispositivi ZigBee possono comunicare su un raggio d’azione di 100m, anche con l’interposizione di alcuni pezzi di tessuto, ed i coordinatori A e B possono essere localizzati, ad esempio, ad una distanza di pochi metri, il procedimento della presente invenzione consente di proteggere i dispositivi di test A e B onde evitare collisioni durante il test.
In altre parole, come apparirà evidente dalla descrizione che segue, il procedimento fa sì che il coordinatore A testi i dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d del primo gruppo senza essere disturbato dai dispositivi ZigBee 22a, 22b, 22c, 22d del secondo gruppo, anche se tali dispositivi 22a, 22b, 22c, 22d sono posizionati in un raggio d’azione in cui è operativo il coordinatore A. Nello stesso tempo, il procedimento fa sì che il coordinatore B possa testare i dispositivi ZigBee 22a, 22b, 22c, 22d del secondo gruppo senza essere disturbato dai dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d del primo gruppo.
Più in particolare, secondo il procedimento, i dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d del primo gruppo sono associati al primo gruppo di identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d, mentre i dispositivi ZigBee 22b, 22c, 22d del secondo gruppo sono associati ad un secondo gruppo di identificatori PAN 33a, 33b, 33c, 33d, diversi dagli identificatori PAN del primo gruppo.
Vantaggiosamente, questa associazione viene fatta per separare le schede IC 1a, 1b, 1e, 1d, destinate ad essere testate dal coordinatore A, dalle schede IC 11a, 11b, 11e, 11d, destinate ad essere testate dal secondo coordinatore B. Ciò evita l’uso di una banca dati comune per memorizzare gli ID PAN di tutte le schede IC 1a, 1b, 1e, 1d, 11a, 11b, 11e, 11d ed una complessa gestione della banca dati per rilevare se un ID PAN ricevuto da un coordinatore A o B è associato al primo oppure al secondo gruppo di dispositivi ZigBee, risultando in un indesiderabile tempo di “Cerca e Carica”.
Vantaggiosamente, l’associazione di identificatori PAN separati ai corrispondenti coordinatori A e B può essere svolta solo una volta ed a fini di test. In questo modo, il tempo “Cerca e Carica” è vuoto poiché gli specifici identificatori PAN sono caricati nei dispositivi di test ed i corrispondenti ID PAN sono caricati nei dispositivi ZigBee prima del test, ad esempio durante una fase di assemblaggio o personalizzazione delle schede IC.
Vantaggiosamente, non è necessaria una banca dati comune, né una complessa gestione della banca dati, poiché ciascun dispositivo di test lavora localmente con identificatori PAN specifici e dedicati.
II procedimento secondo l’invenzione viene ora descritto brevemente con riferimento alla figura 5, in cui due gruppi di schede IC la, lb, le, ld e I la, l lb, I le, l ld vengono testate da dispositivi di test, rispettivamente A e B. Le schede IC includono corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d e 22a, 22b, 22c, 2d.
Più in particolare, il coordinatore A è programmato per testare i dispositivi ZigBee del primo gruppo di schede IC la, lb, le, ld, associate a corrispondenti ID PAN 000001, 000002, 000003, 000004, ed il secondo coordinatore B è programmato per testare i dispositivi ZigBee del secondo gruppo di schede IC 11a, 11b, 11e, 11d, associate agli ID PAN 000010, 000020, 000030, 000040.
Gli identificatori PAN vengono caricati sul rispettivo coordinatore A o B da una testa di programmazione di una linea di produzione/ test, in modo tale che ogni linea di produzione lavori sempre con riferimento agli ID PAN associati al predeterminato gruppo di schede IC.
Il procedimento dell’invenzione permette anche di gestire la frequenza di trasmissione di differenti dispositivi di test, al fine di evitare che la RF (radio frequenza) trasmessa dal primo coordinatore A interferisca con la RF trasmessa dal secondo coordinatore B e vice versa.
Difatti, poiché ciascun dispositivo ZigBee e ciascun dispositivo di test possono comunicare in un raggio d’azione di 100m, il procedimento dell’invenzione consente di schermare differenti linee di test una rispetto all’altra, evitando interferenze nella trasmissione di segnali ed erronei “Messaggi di Errore”.
A tale scopo, vale la pena notare che uno standard ZigBee, che soddisfa lo standard IEEE 802.15.4, specifica di operare sulla banda di 2,45 GHz. Secondo tale specifica, per la trasmissione sono disponibili 16 canali RF, 0B, OC, OD, 0E, 0F, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 1A.
Il procedimento dell’invenzione prevede che due o più dispositivi di test usino contemporaneamente un differente canale RF, secondo lo standard IEEE 802.15.4.
Ad esempio, due o più linee di produzione /test che lavorano insieme in un piccolo ambiente e posizionate ad una reciproca distanza d minore di 100m, trasmettono su un differente canale RF, come rappresentato schematicamente in figura 5, in cui sono mostrati schematicamente il coordinatore A associato al canale RF OB, ed il coordinatore B, associato al canale RF OC. In altre parole, ciascun dispositivo di test trasmette su un predeterminato canale RF, in modo da evitare interferenze di radiofrequenza.
Secondo un altro esempio di realizzazione della presente invenzione, le interferenze di radiofrequenza si evitano anche quando due o più dispositivi di test non sono associati ad un predeterminato canale RF, ma trasmettono su tutti i canali RF disponibili.
Più in particolare, i due o più dispositivi di test vengono sincronizzati per trasmettere su diversi canali RF nella stessa finestra temporale T.
Ad esempio, il coordinatore A ed il coordinatore B possono usare tutti i canali RF, evitando interferenze secondo la tabella di cui sotto:
Le sequenze di test, inviate dai dispositivi di test ai dispositivi ZigBee, vengono trasmesse nelle finestre temporali; un dispositivo di test invia la sequenza di test su un canale RF disponibile in una corrente finestra temporale, in modo sequenziale. In altre parole, per ciascuna finestra temporale, il dispositivo di test trasmette su un singolo e diverso canale RF.
In un esempio di realizzazione preferito, il procedimento prevede che il coordinatore A ed il coordinatore B non usino nella stessa finestra temporale canali RF successivi o limitrofi.
Ad esempio, con riferimento alla tabella di cui sopra, il procedimento evita che, in una finestra temporale T0, il coordinatore A trasmetta sul canale RF 11 ed il coordinatore B sul canale RF adiacente 12, ma prevede che, se il coordinatore A trasmette sul canale RF OB, il coordinatore B trasmetta sul canale RF 10. Ciò consente una più semplice sincronizzazione della trasmissione.
Vantaggiosamente, secondo il procedimento è possibile usare in un medesimo ambiente diversi dispositivi di test indipendentemente dai vincoli di spazio e schermatura e senza modifiche ai dispositivi di test.
La presente invenzione riguarda anche un dispositivo di test 4 per testare un dispositivo ZigBee 2a del tipo associato ad un predeterminato identificatore PAN 3a, incluso in una scheda IC la.
Più in particolare, il dispositivo di test 4 comprende mezzi per inizializzare una rete ZigBee, a cui il dispositivo ZigBee 2a può connettersi per trasmettere il corrispondente identificatore PAN 3a.
Secondo la presente invenzione, il dispositivo di test 4 include una porzione di memoria 6 per pre-memorizzare il predeterminato identificatore PAN 3a e mezzi di rilevamento per rilevare l’identificatore PAN 3a trasmesso dal dispositivo ZigBee 2a.
Più in particolare, il dispositivo di test include mezzi di uscita per restituire l’identificatore PAN 3a memorizzato nella porzione di memoria 6 se la fase di rilevamento non rileva un identificatore PAN 3a trasmesso dal dispositivo ZigBee 2a corrispondente all’identificatore PAN 3a memorizzato nella porzione di memoria 6.
Vantaggiosamente, il dispositivo di test 4 può essere usato per testare una pluralità di schede IC 1, lb, le, ld, che includono corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d da testare.
I dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d da testare sono associati a predeterminati identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d, che sono prememorizzati nella porzione di memoria 6 del dispositivo di test 4 ed in una porzione di memoria delle rispettive schede IC 1, lb, le, ld.
II dispositivo di test prevede che i mezzi di rilevamento rilevino gli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d trasmessi dai rispettivi dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d.
I mezzi di uscita restituiscono un elenco di identificatori PAN 3c memorizzati in detta porzione di memoria 6, se la fase di rilevamento non rileva che identificatori PAN 3c, corrispondenti ad identificatori PAN 3c pre-memorizzati, non sono stati trasmessi dai rispettivi dispositivi ZigBee 2c al dispositivo di test.
Qui di seguito si riassumono gli elementi principali del dispositivo di test 4 secondo l’invenzione:
- mezzi per inizializzare una rete ZigBee a cui il dispositivo ZigBee 2a può connettersi e su cui può trasmettere il corrispondente identificatore PAN 3 a;
- mezzi per restituire un messaggio di errore, indicativo del fatto che tale dispositivo ZigBee 2a è incapace di connettersi e trasmettere (se l’identificatore PAN 3 non viene ricevuto);
- una porzione di memoria 6 di pre-memorizzazione del predeterminato identificatore PAN 3a.
II messaggio di errore include lidentificatore PAN 3a prememorizzato nella porzione di memoria 6 per identificare il dispositivo ZigBee 2a come un dispositivo difettoso.
Il dispositivo di test può essere usato per testare una pluralità di schede IC a condizione che:
- la porzione di memoria 6 pre-memorizzi una pluralità di predeterminati identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d associati a corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d inclusi in rispettive schede IC 1, lb, le, ld;
- il messaggio di errore includa gli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d pre-memorizzati nella porzione di memoria 6 corrispondenti agli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d non ricevuti, al fine di identificare i corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d come dispositivi difettosi.
Il dispositivo di test 4 comprende anche mezzi per accoppiare l’identificatore o gli identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d trasmessi dai corrispondenti dispositivi ZigBee 2a, 2b, 2c, 2d allidentifìcatore o identificatori PAN 3a, 3b, 3c, 3d pre-memorizzati nella porzione di memoria 6. È inclusa una porzione di rilevamento per ricevere lidentificatore PAN 3a, 3b, 3c, 3d quando le schede IC sono posizionate in un predeterminato raggio d’azione.
Vantaggiosamente, secondo il procedimento ed il dispositivo di test della presente invenzione, i dispositivi ZigBee inclusi in una pluralità di schede IC possono essere controllati rapidamente e senza ritardare il tempo per testare le risorse hardware e software complessive della scheda IC.
Vantaggiosamente, il controllo di una comunicazione tra il dispositivo ZigBee ed il coordinatore ZigBee non assorbe più tempo del controllo di una comunicazione tra la scheda IC ed un dispositivo di lettura- scrittura, collegato tramite terminali di contatto.
Vantaggiosamente, il dispositivo di test secondo la presente invenzione identifica la scheda IC difettosa restituendo un elenco di identificatori associati alle schede IC difettose.
Vantaggiosamente, le schede IC difettose possono essere selezionate in qualsiasi momento poiché i loro identificatori, memorizzati all’interno di una porzione di memoria della scheda IC, possono essere letti tramite un dispositivo di lettura- scrittura, a mezzo di terminali di contatto, oppure possono essere scritti su un supporto della scheda IC in modo tale a poter essere identificati da un utilizzatore.
Claims (16)
- RIVENDICAZIONI 1. Procedimento per testare un dispositivo ZigBee (2a) incluso in una scheda IC (la), comprendente le seguenti fasi: - associare al dispositivo ZigBee (2a) un predeterminato identificatore PAN (rete di area personale) (3a); - predisporre un dispositivo di test (4) per l’inizializzazione una rete ZigBee; - connettere il dispositivo ZigBee (2a) alla rete ZigBee e trasmettere il corrispondente identificatore PAN (3a) al dispositivo di test (4), detto procedimento restituendo un messaggio di errore, indicativo di un fallimento di detta fase di connessione e trasmissione, se il dispositivo di test (4) non riceve l’identificatore PAN (3a), caratterizzato da: - pre-memorizzare il predeterminato identificatore PAN (3a) in una porzione di memoria (6) del dispositivo di test (4); - includere, in detto messaggio di errore, l’identificatore PAN (3a) pre-memorìzzato in detta porzione di memoria (6), se il dispositivo di test (4) non riceve detto identificatore PAN (3a), al fine di identificare il dispositivo ZigBee (2a) come un dispositivo difettoso.
- 2. Procedimento secondo la rivendicazione 1, caratterizzato da: - collegare a detta rete ZigBee una pluralità di schede IC (la, lb, le, ld), comprendenti rispettivi dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) associati a predeterminati identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d), e trasmettere i corrispondenti identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) al dispositivo di test (4); - pre-memorizzare i predeterminati identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) in detta porzione di memoria (6) del dispositivo di test (4); - includere, in detto messaggio di errore, gli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) pre- memorizzati in detta porzione di memoria (6) corrispondenti agli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d} non ricevuti da detto dispositivo di test (4), al fine di identificare i corrispondenti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) come dispositivi difettosi.
- 3. Procedimento secondo la rivendicazione 1 o 2, caratterizzato dal fatto che detta fase di pre-memorizzazione dell’identificatore o identificatori PAN predeterminati (3a, 3b, 3c, 3d) è eseguita prima di detta fase di trasmissione dell’identificatore o identificatori PAN {3a, 3b, 3c, 3d) al dispositivo di test (4).
- 4. Procedimento secondo la rivendicazione 3, caratterizzato da: predisporre almeno un secondo dispositivo di test (4), che inizializza una seconda rete ZigBee; collegare a detta seconda rete ZigBee un secondo gruppo di schede IC (11a, 11b, 11e, 11d) comprendenti un rispettivo gruppo di dispositivi ZigBee (22a, 22b, 22c, 22d) associati a predeterminati identificatori PAN (33a, 33b, 33c, 33d) e trasmettere i corrispondenti identificatori PAN (33a, 33b, 33c, 33d) al secondo dispositivo di test (4); pre-memorizzare i predeterminati identificatori PAN (33a, 33b, 33c, 33d) in una porzione di memoria del secondo dispositivo di test (4); restituire un secondo messaggio di errore, comprendente detti identificatori PAN {33a, 33b, 33c, 33d) ed indicativo di un fallimento di detta fase di ulteriore connessione e trasmissione, se il secondo dispositivo di test (4) non riceve gli identificatori PAN (33a, 33b, 33c, 33d) del secondo gruppo di dispositivi ZigBee (22a, 22b, 22c, 22d); il procedimento prevedendo che gli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) associati a detti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) siano differenti dagli identificatori PAN (33a, 33b, 33c, 33d) associati a detto secondo gruppo di dispositivi ZigBee (22a, 22b, 22c, 22d).
- 5. Procedimento secondo la rivendicazione 4, caratterizzato dal fatto che detto dispositivo di test e detto secondo dispositivo di test trasmettono su frequenze RF che soddisfano un predeterminato standard IEEE 802.15.4.
- 6. Procedimento secondo la rivendicazione 5, caratterizzato dal fatto che detto dispositivo di test e detto secondo dispositivo di test trasmettono su una prima ed una seconda predeterminata frequenza di dette frequenze RF, detta prima predeterminata frequenza essendo diversa da detta seconda predeterminata frequenza.
- 7. Procedimento secondo la rivendicazione 5, caratterizzato dal fatto che detto dispositivo di test e detto secondo dispositivo di test trasmettono su tutte le frequenze RF a condizione che, quando il dispositivo di test trasmette su una prima frequenza, il secondo dispositivo di test trasmetta su una seconda frequenza diversa dalla prima frequenza.
- 8. Procedimento secondo la rivendicazione 7, caratterizzato dal fatto di selezionare detta prima e detta seconda frequenza in modo tale che esse non siano limitrofe in dette frequenze RF.
- 9. Procedimento secondo la rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto che detto dispositivo di test e detto secondo dispositivo di test trasmettono durate predeterminate finestre temporali.
- 10. Procedimento secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto di comprendere una fase di accoppiamento dell’identificatore o degli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d; 33a, 33b, 33c, 33d) trasmessi dai corrispondenti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d; 22a, 22b, 22c, 22d) al rispettivo identificatore o identificatori PAN pre-memorizzati (3a, 3b, 3c, 3d; 33a, 33b, 33c, 33d).
- 11. Procedimento secondo la rivendicazione 10, caratterizzato dal fatto di restituire un messaggio di test positivo per i dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d; 22a, 22b, 22c, 22d) per cui l'identificatore o gl identificatori PAN trasmessi (3a, 3b, 3c, 3d; 33a, 33b, 33c, 33d) corrispondono all’identificatore o identificatori PAN pre-memorizzati (3a, 3b, 3c, 3d; 33a, 33b, 33c, 33d).
- 12. Procedimento secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detto identificatore o identificatori PAN {3a, 3b, 3c, 3d; 33a, 33b, 33c, 33d) vengono memorizzati in una porzione di memoria della corrispondente scheda IC (1a, 1b, 1e, 1d; 11a, 11b, 11e, 11d).
- 13. Dispositivo di test (4) per testare un dispositivo ZigBee (2a) del tipo incluso in una scheda IC (la) ed associato ad un predeterminato identificatore PAN (3a), comprendente mezzi per inizializzare una rete ZigBee a cui il dispositivo ZigBee (2a) può connettersi e su cui può trasmettere il corrispondente identificatore PAN (3a) e mezzi per restituire un messaggio di errore, indicativo del fatto che tale dispositivo ZigBee (2a) non è in grado di connettersi e trasmettere, se l’identificatore PAN (3a) non viene ricevuto, caratterizzato dal fatto che: - una porzione di memoria (6) di detto dispositivo di test (4) pre-memorizza il predeterminato identificatore PAN (3a) e dal fatto che il messaggio di errore include detto identificatore PAN (3a) prememorizzato in detta porzione di memoria (6) per identificare il dispositivo ZigBee (2a) come un dispositivo difettoso.
- 14. Dispositivo di test (4) secondo la rivendicazione 13, caratterizzato dal fatto che: - detta porzione di memoria (6) pre-memorizza una pluralità di predeterminati identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) associati a corrispondenti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) inclusi in rispettive schede IC (1, lb, le, ld); - detto messaggio di errore include gli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) pre-memorizzati in detta porzione di memoria (6) corrisponderti agli identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) non ricevuti, onde identificare i corrispondenti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) come dispositivi difettosi.
- 15, Dispositivo di test (4) secondo la rivendicazione 13, caratterizzato dal comprendere mezzi di accoppiamento dell'identificatore o identificatori PAN (3a, 3b, 3c, 3d) trasmessi dai corrispondenti dispositivi ZigBee (2a, 2b, 2c, 2d) all’identificatore o identificatori PAN {3a, 3b, 3c, 3d) pre-memorizzati in detta porzione di memoria (6).
- 16. Dispositivo di test (4) secondo la rivendicazione 13, caratterizzato dal comprendere una porzione di rilevamento per ricevere l’identificatore PAN (3a, 3b, 3c, 3d) quando dette schede IC sono posizionate in un predeterminato raggio d’azione.
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