[go: up one dir, main page]

DE879435C - Photocell - Google Patents

Photocell

Info

Publication number
DE879435C
DE879435C DEB9898D DEB0009898D DE879435C DE 879435 C DE879435 C DE 879435C DE B9898 D DEB9898 D DE B9898D DE B0009898 D DEB0009898 D DE B0009898D DE 879435 C DE879435 C DE 879435C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor
electrons
metal
vapor
photocell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEB9898D
Other languages
German (de)
Inventor
Georg Dr Maurer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DEB9898D priority Critical patent/DE879435C/en
Application granted granted Critical
Publication of DE879435C publication Critical patent/DE879435C/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J40/00Photoelectric discharge tubes not involving the ionisation of a gas
    • H01J40/02Details
    • H01J40/04Electrodes
    • H01J40/06Photo-emissive cathodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P3/00Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
    • G01P3/36Devices characterised by the use of optical means, e.g. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)

Description

Es" ist bekannt, daß die lichtelektrische Ausbeute von Fotoschichten, die auf einem Unterlagemetall einen Halbleiter tragen, an dessen Außenfläche noch elektropositive Atome adsorbiert sein können, gesteigert werden kann, wenn der wirksamen Außenfläche des Halbleiters Elektronen von außen unmittelbar durch Elektronenbeschuß zugeführt werden. Gemäß der Erfindung wird ohne Beschießung des Halbleiters mit Elektronen durch andersartige unmittelbare Zuführung von Elektronen, die nicht durch den Halbleiter hindurchgehen, die lichtelektrische Ausbeute der Schicht gesteigert und die Grenze der lichtelektrischen Wirkung weiter ins Langwellige, nach dem Ultrarot hin, vorgeschoben. Dies wird gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß der Halbleiteroberfläche Elektronen durch metallische Leitung, z. B. über eine genügend dünne, z. B. aufgedampfte, z. B. netz- oder kammförmige Metallschicht, zugeführt werden. Die Metallschicht bezieht die Elektronen ihrerseits durch metallische Leitung, z. B. aus der Metallunterlage des Halbleiters oder'aus einer sonstigen Elektronenquelle.It is known that the photoelectric yield of photolayers which carry a semiconductor on a base metal, on the outer surface of which it is still electropositive atoms can be adsorbed, can be increased if the effective External surface of the semiconductor Electrons from the outside directly through electron bombardment are fed. According to the invention, without bombarding the semiconductor with Electrons through other direct supply of electrons that are not through pass through the semiconductor, the photoelectric yield of the layer is increased and the limit of the photoelectric effect further into the long-wave, after the ultra-red there, advanced. This is achieved according to the invention in that the semiconductor surface Electrons through metallic conduction, e.g. B. over a sufficiently thin, z. B. vaporized, z. B. reticulated or comb-shaped metal layer are supplied. The metal layer draws the electrons in turn through metallic conduction, e.g. B. from the metal base of the semiconductor or from another electron source.

Bei der Bauart nach der Erfindung ist es möglich, an einer Reihe von Schichten, z. B. an solchen, deren Halbleiter aus mit Cäsium behandeltem Natriumchlorid besteht, und die sonst mit sichtbarem Licht praktisch keine oder nur eine schwache lichtelektrische Wirkung ergeben, höhere lichtelektrische Ausbeuten zu erzielen. Die Erfindung ist überall da mit Vorteil anwendbar, wo die Elektronen sonst aus nichtmetallischen Schichten oder aus in nichtmetallischem Zustand befindlichen Schichten, z. B. aus Selen, nachgeliefert werden müßten, gleichgültig, ob diese nichtmetallischen Schichten für sich allein oder als Zwischenschichten vorhanden sind.In the construction according to the invention, it is possible to use a number of Layers, e.g. B. on those whose semiconductors are made of sodium chloride treated with cesium exists, and which otherwise with visible light practically no or only a weak one result photoelectric effect to achieve higher photoelectric yields. The invention can be used to advantage wherever the electrons come from non-metallic layers or layers in a non-metallic state, z. B. from selenium, would have to be delivered, regardless of whether these are non-metallic Layers are present on their own or as intermediate layers.

Die Zeichnung erläutert einAusführungsbeispiel. Abb. i ist ein Schnitt durch eine gemäß der Erfindung aufgebaute Schicht; Abb. 2 ist eine Draufsicht auf die Außenfläche des Halbleiters.The drawing explains an embodiment. Fig. I is a section by a layer constructed according to the invention; Fig. 2 is a top plan view of the outer surface of the semiconductor.

Abb. i veranschaulicht, daß auf eine z. B. aus Silber bestehende Metallunterlage i eine z. B. aus Cäsiumoxyd bestehende Halbleiterschicht 2 aufgebracht ist. Auf der Außenfläche der Halbleiterschicht 2, an der elektropositive Atome adsorbiert sein können, ist gemäß der Erfindung ein Metallgitter 3 aufgebracht, das mit der Metallunterlage i durch den metallischen Leiter .4 verbunden ist und die unmittelbare Nachlieferung von Elektronen in die Halbleiteraußenfläche ermöglicht. Abb. 2 zeigt die Ausbildung des Metallgitters 3, das z. B. aufgedampft sein kann. Die zwischen den einzelnen Gitterbalken liegenden Flächenteile 5 der Halbleiteraußenfläche können während des Aufdampfens des Gitters 3 z. B. durch ein kammartiges Werkzeug abgedeckt oder in sonstiger bekannter Weise gegen das Aufdampfen von Metallschichten geschützt werden.Fig. I illustrates that on a z. B. made of silver metal base i a z. B. consisting of cesium oxide semiconductor layer 2 is applied. on the outer surface of the semiconductor layer 2 on which electropositive atoms are adsorbed can be, a metal grid 3 is applied according to the invention, which with the Metal pad i is connected by the metallic conductor .4 and the immediate Subsequent delivery of electrons to the outer surface of the semiconductor made possible. Fig. 2 shows the formation of the metal grid 3, the z. B. can be vapor-deposited. The between surface parts 5 of the semiconductor outer surface lying on the individual grid bars during the vapor deposition of the grid 3 z. B. covered by a comb-like tool or protected in any other known manner against the vapor deposition of metal layers will.

Wenn die aufgedampfte Metallschicht genügend dünn ist, kann auf ihre besondere gitterartige Ausbildung verzichtet werden. Die Halbleiteraußenfläche kann dann Elektronen emittieren, auch wenn die aufgedampfte Metallschicht die Halbleiteraußenfläche anscheinend zusammenhängend bedeckt.If the vapor-deposited metal layer is sufficiently thin, you can apply it special grid-like training can be dispensed with. The semiconductor outer surface can then emit electrons, even if the vapor-deposited metal layer touches the semiconductor outer surface apparently coherently covered.

Claims (1)

PATEN TANSPRUCH: Fotozelle mit einer Fotoschicht, die aus einem auf einemUnterlagemetall aufgebrachten Halbleiter besteht, an dessen Außenfläche gegebenenfalls noch elektropositive Atome adsorbiert sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Außenfläche des Halbleiters ohne Benutzung des Weges durch den Halbleiter Elektronen zusätzlich durch metallische Leitung zugeführt werden, z. B. durch eine auf die Außenfläche des Halbleiters aufgedampfte, genügend dünne oder aber netzförmige Metallschicht, die die von ihr an die wirksame Halbleiteroberfläche abgegebenen Elektronen z. B. durch metallische Leitung aus der Metallunterlage des Halbleiters oder aus einer anderen Elektronenquelle beziehen kann. CLAIM OF THE PATENT: Photocell with a photo layer consisting of a semiconductor applied to a base metal, on the outer surface of which electropositive atoms may also be adsorbed, characterized in that electrons are additionally fed to the outer surface of the semiconductor without using the path through the semiconductor, z. B. by a vapor-deposited on the outer surface of the semiconductor, sufficiently thin or reticulated metal layer that the electrons emitted from it to the effective semiconductor surface z. B. by metallic line from the metal substrate of the semiconductor or from another electron source.
DEB9898D 1941-12-19 1941-12-19 Photocell Expired DE879435C (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEB9898D DE879435C (en) 1941-12-19 1941-12-19 Photocell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEB9898D DE879435C (en) 1941-12-19 1941-12-19 Photocell

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE879435C true DE879435C (en) 1953-06-11

Family

ID=6956596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEB9898D Expired DE879435C (en) 1941-12-19 1941-12-19 Photocell

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE879435C (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3486032A (en) * 1966-07-19 1969-12-23 Marconi Co Ltd Apparatus for measuring speed comprising a light-electric translating device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3486032A (en) * 1966-07-19 1969-12-23 Marconi Co Ltd Apparatus for measuring speed comprising a light-electric translating device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2319883C3 (en) Method for producing conductor patterns on a semiconductor device
DE1544183A1 (en) Breeding of thin semiconductor layers
DE2048915A1 (en) Process for changing the properties of a metallic film
DE1965799B2 (en) PROCESS FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR COMPONENT
DE879435C (en) Photocell
DE1646193A1 (en) Coating process
DE1614306B2 (en) Process for producing electrical connections on a surface of an electronic component and component produced by using this process
DE2139656A1 (en) Device for displaying characters
DE1614233A1 (en) A method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor device manufactured by this method
DE1219130B (en) Secondary electron multiplier and method of manufacturing the multiplier
DE1546014A1 (en) Process for etching metal layers with different compositions along the length of the layer thickness
DE6802214U (en) ELECTRICAL COMPONENT.
DE1273698B (en) Semiconductor device
DE1207513C2 (en) Method for producing a field-controlled unipolar transistor with an isolated control electrode
CH222638A (en) Electric discharge tube and processes for their manufacture
DE833228C (en) Method of manufacturing a selenium rectifier
DE732039C (en) Photosensitive or secondary emitting electrode
DE756219C (en) Electric discharge tubes with an electrode with a secondary emitting layer on the surface
DE932812C (en) Process for the production of dry rectifiers, in particular selenium rectifiers
DE1130619B (en) Ionization manometer system
DE1514668A1 (en) Method for producing metal contacts on semiconductor components
DE2128488C3 (en) Boundary layer detector and process for its manufacture
AT151600B (en) Photoelectric cell.
DE735707C (en) Secondary emission layer
Miczaika Über die beobachtbare Anzahl der Balmerlinien in B-, A-und F-Sternen. Mit 2 Textabbildungen