DE866402C - Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers - Google Patents
Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des MessstreckenfehlersInfo
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- DE866402C DE866402C DEL840D DEL0000840D DE866402C DE 866402 C DE866402 C DE 866402C DE L840 D DEL840 D DE L840D DE L0000840 D DEL0000840 D DE L0000840D DE 866402 C DE866402 C DE 866402C
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Description
- Meßeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Meßstreckenfehlers Es ist bekannt, an Meßeinrichtungen von Präzisionsbearbeitungsmaschinen die Meßstreckenfehler, d. h. in diesem Fall der Steigungsfehler der Meßspindel, dadurch zu korrigieren, daß man diese Fehler durch ein Kurvenlineal berichtigt, von dem aus die Ableshemarke mechanisch in eine dem jeweiligen Meßstreckenfehler entsprechende Stellung gegenüber der Streckenmarke gesteuert wird. Da sich die Spindel mit der Zeit abnutzt, ist es erforderlich, die Kurve in gewissen Zeitabständen nachzuarbeiten. Es ist auch nicht möglich, jeden Bruchteil einer Meßsttrecke zu korrigieren.
- Man erhält nun nach vorliegender Erfindung eine fehlerfreie und beständige Meßeinrichtung, wenn man jeder Streckenmarke eine die zugehörige Meßstrecke berichtigende Ablesemarke zuordnet, die mit der entsprechenden Streckenmarke durch optische Mittel in Beziehung gebracht wird. Eine zweckmäßige Ausführungsform dieses Erfindungsgedankens ergibt sich dadurch, daß die Ablesemarke auf einer mit den Streckenmarken bewegten Platte in mindestens der Länge der zugehörigen Streckeneinheit und parallel zu dieser aufgebracht und dem jeweiligen Meßstreckenfehler entsprechend gegeneinander seitlich versetzt sind. Durch optische Mittel werden diese Ablesemarken in eine parallele Lage zu den Teilungsstrichen einer Unterteilung gebracht, die eine größere Bewegung ausführt als die Streckeneinheit lang ist. Die Ablesemarken können dabei auf der die Streckenmarken tragenden Platte aufgebracht sein. Die senkrecht zu den Streckenmarken verlaufenden Ablesemarken werden vorteilhaft durch ein Wendeprisma in die erforderliche parallele Lage zu den Marken der Unterteilung gebracht.
- Bei Meßeinrichtungen, bei denen die Ablesung der Streckenmarke durch ein Mikroskop mit einem Meßokular erfolgt, läßt sich der Erfindungsgedanke besonders vorteilhaft anwenden. Da die Länge der Unterteilung des Meßokulares ein Vielfaches der zu messenden Streckeneinheit beträgt, läßt sich durch die entsprechend größere seitlicheVersetzung der Ablesemarke eine hohe Genauigkeit in der Korrektion erzielen. Die Ablesemarken können durch besondere optische Mittel zu der in der Okularbildebene liegendenUnterteilung abgebildet werden.
- In Fällen, in denen bei der Ablesung die Möglichkeit einer Verwechselung der Ablesemarken besteht, wird man dieselben entweder mit den Zahlen der entsprechenden Streckenmarken versehen oder verschieden einfärben.
- In der Zeichnung ist die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel schematisch dargestellt.
- Abb. I zeigt ein über einer Markenplatte angeordnetes Mikroskop mit Meßokular in Verbindung mit einer eine Korrektionsmarkenplatte in die Okularbildebene abbildende optische Einrichtung; Abb. 2 zeigt neben einem Teil der Streckenmarkenplatte den zugehörigen Teil der Ablese- oder Korrektionsmarkenplatte; Abb. 3 und 4 zeigen das in dem Meßokular sichtbare Bild der Markenreihen vor und nach der Ansmessung.
- Über der Platte I, die die Streckenmarken 2 trägt, ist das Mikroskop, bestehend aus dem Objektiv 3 und dem Prismenkeilmeßokular 4 angeordnet.
- Neben der Streckenmarkenplatte I und mit derselben geführt liegt die Ablese- oder Korrektionsmarkenpiatte 5. Letztere trägt die Marken 6, die durch die Linsen 7 und 8, das Prismag und von dem Doveprisma 10 um wo'01 gedreht in die Bildebene in des Prismenkeilmeßokulares 4 abgebildet werden.
- Die durch das Objektiv 3 vergrößerten Streckenmarken 2 werden beim Bewegen der Unterteilung I2 durch die damit verbundene Lageveränderung der Prismenkeile des Meßokulares 4 von der in der Okularbildebene fest angeordnete Zmrischenteilung I3 eingefangen. Werden nun die beiden Markenplatten I und 5 gegenüber der optischen Einrichtung 3, 4 und 7 bis II verschoben, so wandert mit jeder Streckenmarke 2 die zugehörige Ablesemarke 6 in die Gebrauchsstellung. Die Ablesemarke 6, welche verschwindet, gilt bis zur letzten ablesbaren Dezimalstelle. Mit der vollen nächstgrößeren Zahl fängt der Ablesebereich der neueintretenden Marke 6 an. Bei entsprechender Bezifferung trägt Ablesemarke 6 die Zahl der Hauptteilung und gilt dann nur für den Bereich des entsprechenden Hauptteilungsstriches. Also Ablesemarke 54 von 54,0000 bis 54,9999'. Um beim Übergang von der einen Ablesemarke 6 auf die andere noch einwandfrei ablesen zu können, sind dieselben entsprechend lang geh alten. Die seitlichen Versetzungen der Ablesemarken 6 entsprechen, da dieselben der Unterteilung 12 zugeordnet sind, den jeweiligen Streckeneinheitsfehlern der Streckenmarkeuplatte 1. Bei einem Plusfehler ist die Ablesemarke 6 entsprechend mehr rechts, bei einem Minusfehler mehr links angeordnet.
Claims (4)
- PATENTANSPRÜCHE: I. Meßeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Meßstreckenfehlers durch entsprechend unterschiedliche Lage der Ablesemarke, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Streckenmarke eine die zugehörige Meßstrecke berichtigende Ablesemarke zugeordnet ist, die mit der entsprechenden Streckenmarke durch optische Mittel in Beziehung gebracht wird.
- 2. Meßeinrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablesemarken auf einer mit den Streckenmarken bewegten Platte in mindestens der Länge der zugehörigen Streckeneinheit und parallel zu dieser aufgebracht und dem jeweiligen Meßstreckenfehler entsprechend gegeneinander seitlich versetzt sind und durch optische Mittel in eine parallele Lage zu den Marken einer Unterteilung gebracht werden, die ei'ne größere Bewegung ausführt, als die Streckeneinheit lang ist.
- 3. Meßeinrichtung nach den Ansprüchen I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablesemarken durch ein Doveprisma in eine parallele Lage zu den Marken der Unterteilung gebracht werden.
- 4. Meßeinrichtung nach den Ansprüchen I und 2, bei der die Ablesung der Streckenmarken durch ein Mikroskop mit einem Meßokular erfolgt, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablesemarken durch gesonderte optische Mittel zu der in der Okularbildebene liegenden Unterteilung abgebildet werden.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEL840D DE866402C (de) | 1944-02-29 | 1944-02-29 | Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEL840D DE866402C (de) | 1944-02-29 | 1944-02-29 | Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE866402C true DE866402C (de) | 1953-02-09 |
Family
ID=7255104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DEL840D Expired DE866402C (de) | 1944-02-29 | 1944-02-29 | Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE866402C (de) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE928125C (de) * | 1953-05-08 | 1955-05-23 | Wenczler & Heidenhain | Optische Anordnung zum fluchtenden und anschliessenden Zusammenfuegen von Massstaeben |
| US4170828A (en) * | 1977-06-02 | 1979-10-16 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Error correction apparatus for longitudinal measuring instrument |
| US4262423A (en) | 1978-05-12 | 1981-04-21 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Error correction apparatus for a length-measuring instrument and method for generating an error correction profile |
| DE3037042A1 (de) * | 1980-10-01 | 1982-04-01 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Einrichtung zur fehlerkorrektur an positionsmesssystemen |
| DE3136981C1 (de) * | 1981-09-17 | 1983-01-13 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Fehlerkompensationseinrichtung |
| DE3201005A1 (de) * | 1982-01-15 | 1983-07-28 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Einrichtung zur fehlerkorrektur bei positionsmesssystemen |
| DE3208591A1 (de) * | 1982-03-10 | 1983-09-22 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesssystem |
| US5117376A (en) * | 1989-05-23 | 1992-05-26 | Rsf-Elektronik Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
-
1944
- 1944-02-29 DE DEL840D patent/DE866402C/de not_active Expired
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE928125C (de) * | 1953-05-08 | 1955-05-23 | Wenczler & Heidenhain | Optische Anordnung zum fluchtenden und anschliessenden Zusammenfuegen von Massstaeben |
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| US4430799A (en) * | 1981-09-17 | 1984-02-14 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Error compensation system |
| EP0075081B1 (de) * | 1981-09-17 | 1987-02-04 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Fehlerkompensationseinrichtung für Präzisionsmaschinen und Messgeräte |
| DE3201005A1 (de) * | 1982-01-15 | 1983-07-28 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Einrichtung zur fehlerkorrektur bei positionsmesssystemen |
| DE3208591A1 (de) * | 1982-03-10 | 1983-09-22 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesssystem |
| US5117376A (en) * | 1989-05-23 | 1992-05-26 | Rsf-Elektronik Gesellschaft M.B.H. | Incremental measuring system |
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