DE838624C - Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektrivitaet von Verstaerkern - Google Patents
Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektrivitaet von VerstaerkernInfo
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- DE838624C DE838624C DEO330A DEO0000330A DE838624C DE 838624 C DE838624 C DE 838624C DE O330 A DEO330 A DE O330A DE O0000330 A DEO0000330 A DE O0000330A DE 838624 C DE838624 C DE 838624C
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
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Description
- Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektivität von Verstärkern 1)ie l-rtitidung betrittt ein X-"erfahren und eine .lnordnung zur -Messung der Selektivität von Verstärkern und bezweckt die einfache und schnelle Durchfiiltrung derartiger Messungen.
- Unter der Selektivität von Verstärkern. wie sie speziell Rundfunkempfänger und Empfänger der achrichtentechnik darstellen, versteht man das Verhältnis zwischen der Eingangsspannung, die der Resonanz des abgestimmten Verstärkers entspricht, und der für eine gleich große Ausgangsspannung erforderlichen Eingangsspannung in einem gegebenen Frequenzabstand vom Resonanzpunkt. In der Rundfunktechnik wird vorzugsweise ein Abstand von 9 kHz gewählt. Der \Vert der Selektivität von Überlagerungsempfängern ist ein wesentliches Merkmal der Güte solcher Geräte. Die Messung der Selektivit # it ist jedoch umständlich, da jeweils drei Einzelwerte, nämlich der am Ort der Resonanzfrequenz und die im Frequenzabstand von mindestens ± 9 kHz, bestimmt werden müssen. Die Messung der Werte hei ± 9 kHz ist erforderlich, da die Durchlaßkurven der Resonanzkreise selten symmetrisch sind. Die Tatsache, daß auch der Resonanzpunkt in einem flachen Gebiet der Kurve liegen kann, deren Flanken steil sind, ist der Grund dafür, daß das 'Mittel aus dem Wert genommen wird, der bei ± 9 kHz gefunden wird.
- Demgegenüber gestattet die Erfindung eine einfache und schnelle Messung von Selektivitätswerten bei Verstärkern. Das erfindungsgemäße Verfahren zur Messung der Selektivität von Verstärkern ist dadurch gekennzeichnet, daß auf den zu messenden Verstärker nacheinander drei regelbare Spannungen gegeben werden, von denen eine die Spannung der Resonanzfrequenz darstellt und die beiden anderen in ihrer Frequenz um einen der Selektivitätsmessung entsprechenden Frequenzabstand von der Resonanzfrequenz verschieden sind, daß ferner die beiden oberhalb und unterhalb der Resonanzfrequenz liegenden Spannungen derart eingestellt werden, daß im Ausgang des zu messenden Verstärkers diese beiden Spannungen die gleiche Größe wie die Resonanzfrequenzspannung haben und daß schließlich an einem im Eingang des zu messenden Verstärkers liegenden, die Summe der beiden Spannungen messenden Spannungsmesser direkt der Selektivitätswert abgelesen wird.
- Das erfindungsgemäße Verfahren sei an Hand der Abb. i, die eine schematische Anordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens beispielsweise darstellt, erläutert. Hierin stellt i einen Generator dar, der auf die Resonanzfrequenz, bei Ülrerlagerungsempfängern z. B. 47o kHz, abgestimmt und mit Tonfrequenz von beispielsweise 8oo Hz und 30°/o moduliert wird. Die Ausgangsspannung dieses Generators ist regelbar und wird mit einem Röhrenvoltmeter 9 gemessen. 2 und 3 sind Generatoren, die um ± g kHz von der Resonanzfrequenz verschiedene Frequenzen liefern. Ihre Spannung ist gleichfalls regelbar und wird einem gemeinsamen Röhrenvoltmeter 4 zugeführt, das die Summe leider Spannungen mißt. Durch einen Schalter 5, der beispielsweise als Relais oder elektronischer Schalter ausgebildet ist, werden an das Meßobjekt 6 nacheinander die drei Meßfrequenzen gelegt. Am Aufgang des Meßobjektes liegt ein Altlenkplattensystem io einer Kathodenstrahlröhre. Synchron mit dem Schalter 5 schaltet der Schalter 8 an die beigeordneten Zeitplatten i i eine geeignete Gleichspannung 7. Hierdurch entsteht auf dem Schirm der Kathodenstrahlröhre das in All>. 2 dargestellte Bild. Die Ablenkung A entspricht der Resonanzfrequenz -1- 9 kHz, die Ablenkung B der Resonanzfrequenz und die AblenkungC der Resonanzfrequenz -9kHz. Geschieht die Umschaltung schnell genug, so entsteht der Eindruck eines stehenden Bildes. Dieser Eindruck kann in an sich bekannter Weise durch die Anwendung von Braunschen Röhren mit nachleuchtenden Schirmen in vollkommener Weise erzielt werden. Werden nun durch die Spannungsregler an den Generatoren i, 2 und 3 die Spannungen derart eingestellt, daß die Ablenkspannungen A, B und C gleich groß sind, dann muß, wenn das Röhrenvoltmeter 9 die Spannung von i anzeigt und das Röhrenvoltmeter 4 diesem entsprechend geeicht ist, das Röhrenvoltmeter 4 die Selektivität direkt anzeigen. Um den tatsächlich ermittelten Wert der Selektivität des gemessenen Verstärkers direkt ablesen zu können, wird das Röhrenvoltmeter 4 derart geeicht, daß es die Hälfte der Summe der Spannungen der Generatoren 2 und 3 anzeigt.
- Ist beispielsweise die Selektivität i : ioo, so wird das Röhrenvoltmeter 9 auf die Spannung .i eingestellt, und bei gleich großer Amplitude A, B und C muß die Summe der Spannungen der Generatoren 2 und 3 die Spannung Zoo ergeben, wobei das Röhrenvoltmeter 4denhalben Wert, also ioo, anzeigt.
- Um die Größe der Amplituden A, B und C bequem auf den gleichen Wert einstellen zu können, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, eine entsprechende Einteilung auf dem Schirm der Kathodenstrahlröhre anzubringen, wie dies in Abb. 2 gestrichelt angedeutet ist. Das erfindungsgemäße Verfahren besitzt gegenüber den bisher üblichen Verfahren zur Messung der Selektivität von Verstärkern den besonderen Vorteil der einfachen und schnellen Ermittlung der Selektivitätswerte von Verstärkern.
Claims (6)
- PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Messung der Selektivität von Verstärkern, dadurch gekennzeichnet, daß auf den zu messenden Verstärker nacheinander drei regelbare Spannungen (A, B, C) gegeben werden, von denen eine (B) die Spannung der Resonanzfrequenz darstellt und die beiden anderen (A, C) in ihrer Frequenz um einen der Selektivitätsmessung entsprechenden Frequenzabstand- von der Resonanzfrequenz verschieden sind, daß- die beiden oberhalb und unterhalb der Resonanzfrequenz liegenden Spannungen (A, C) derart eingestellt werden, daß im Ausgang des zu messenden Verstärkers diese beiden Spannungen (A, C) die gleiche Größe wie die Resonanzfrequenzspannung (B) haben und daß an einem im Eingang des zu messenden Verstärkers liegenden, die Summe der beiden Spannungen (A, C) messenden Spannungsmesser (4) direkt der Selektivitätswert abgelesen wiM.
- 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die regelbaren Spannungen von drei Generatoren (i, 2, 3) durch einen vorzugsweise automatischen Schalter (5) nacheinander auf den zu messenden Verstärker geschaltet und im Ausgangskreis des letzteren mittels einer Kathodenstrahlröhre angezeigt werden, derart, daß jeder Spannung gleichzeitig mittels eines synchron betätigten zweiten Schalters (8) eine andere Ablenkgerade zugeordnet wird.
- 3. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Spannungsmesser (9) die Ausgangsspannung ' des mit der Resonanzfrequenz schwingenden Generators (i) und ein zweiter Spannungsmesser (,4) den hallten Wert der Summe der Ausgangsspannungen der übriger' Generatoren (2, 3) und damit bei gleichen Amplituden der an der Kathodenstrahlröhre angezeigten Spannungen der drei Generatoren (i, 2, 3) direkt die Selektivität anzeigt, wenn die Spannung des Generators (i) gleich i angenommen wird.
- 4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Spannungsmesser Röhrenvoltmeter benutzt werden.
- 5. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch: gekennzeichnet, daß als Schalter ein Relais oder elektronischer Schalter benutzt wird.
- 6. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Schalter ein mechanischer Schalter benutzt wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEO330A DE838624C (de) | 1950-03-03 | 1950-03-03 | Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektrivitaet von Verstaerkern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEO330A DE838624C (de) | 1950-03-03 | 1950-03-03 | Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektrivitaet von Verstaerkern |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE838624C true DE838624C (de) | 1952-05-12 |
Family
ID=7349124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DEO330A Expired DE838624C (de) | 1950-03-03 | 1950-03-03 | Verfahren und Anordnung zur Messung der Selektrivitaet von Verstaerkern |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE838624C (de) |
-
1950
- 1950-03-03 DE DEO330A patent/DE838624C/de not_active Expired
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