DE746944C

DE746944C - Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Beimengungen

Info

Publication number: DE746944C
Application number: DEI68892D
Authority: DE
Inventors: Edgar Woyrsch
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1941-02-16
Filing date: 1941-02-16
Publication date: 1944-08-30

Description

Zur Abgrenzung des Anmeldungsgegenstandes vom Stand der Technik ist im Erteilungsverfahren folgende Druckshrift im Betracht gezogen aordell: deutsche Patentschrift...... Nr. 676 893.

Claims

Verfahren und Einrichtung zur Bestimmung von Beimengungen Durch das Hauptpatent 700 653 ist ein Verfahren zur Bestimung von Beimengungen durch Leitfähigkeitsüberwachung geschützt. nach welchem der durch den Einfluß der Beimengung im hochfrequenten Kondensatorfeld geänderte Höchstwert der Resonanzspannung nach Aufhebung der durch die Beimegung erzeugten Kapazitätsänderung gemessen wird.

Es zeigte sich, daß es vorteilhaft sein kann, die Resonanzspannung des Meßkreises nicht durch kapazitiv sondern durch induktive Beeinflussung herbeizuführen und zu messen.

Die Spule des Meßkreises bzw, eine zusätzliche Spule muß dann veränderlich gestaltet sein, derart, 4aß durch ihre änderung die durch das Gut im Meßkondensator beeinflußte Spannunbg wiederum auf den Resonanzpunkt eingestellt wird.

An Stelle einer veränderlichen Spule kann auch eine Elektronenröhre treten, die bei Anwendung geeigneter Mittel kapazitiv oder induktiv wirken kann.

Die genannten Mittel zur Herbeiführung der Ressonanzspannung haben den Vorteil. konstruktive Maßnahmen zur Herbeiführung einer selbsttätigen Resonanzabgleichung zu erleichtern. So kann z. B. durch die Drehung einer Spule eine induktive oder kapazitive Änderung der Schwingungskreiswerte herbeigeführt werden.

In der Abb. I der Zeichnung ist links der Sender I gezeichnet. Der Meßkreiß 3 besteht aus der veränderlichen Spule 4, dem Meßkondensator 5, dem festen Kondensator 6 und einem Ausgleichkondensator 6'. Der Resonanzabgleich des Meßkreises kann sowohl durch Veränderung der Spule 4 als auch durch Veränderung des Ausgleichkondensators 6' erfolgen.

Abb. 2 zeigt eine Anordnung mit einer festen Spule 4 und einer zusätzlichen verän-:lerlichen Spule '.

Abb. 3 zeigt eine Anordnung, in der eine Elektronenröhre den Meßkreiß induktiv beeinflußt, Abb. 4 eine solche mit kapazitiver Beeinflussung.

Abb. 5 zeigt, wie die genannten Mittel zur Einstellung der Resonanzspannung konstruktive Maßnahmen zur Herbeiführung einer selbsttätigen Resonanzabgleichung erleichtern.

Durch induktive Beeinflussung wird eine im Spulenfeld der Spule 4 des Meßkreises angeordnete Drehspule 7 durch ihre Drehbewegung bei Verstimmung des Meßkreises gegen den Erregerkreis einen Ausgleichkondensator 6' oder eine Ausgleichinduktivität 4' so beeinflussen, daß selbsttätig der Resonanzabgleich mit dem Erregerkreis wiederhergestellt wird. Die genannte Drehspule kann aber auch im Spulenfeld der Erregerkreisspule 2 angeordnet sein.

P A T E N T A N S P R Ü C H E : I. Verfahren zur Bestimmung von Beimengungen durch Leitfähigkeitsüberwachung nach Patent 700 653, dadurch gekennzeichnet, daß der durch den Einfluß der Beimengung im hochfrequenten Kondensatorfeld geminderte Höchstwert der Resonanzspannung durch induktive Mittel eingestellt und gemessen wird.
2. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der durch den Einfluß der Beimengung im hochfrequenten kondensatorfeld geänderte Höchstwert der Resonanzspannung durch eine induktiv oder kapazitiv wirkende Elektronenröhre herbeigeführt und gemessen wird.
3. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch I und 2, gekennzeichnet durch Mittel zur selbsttätigen Herbeiführung der Resonanzspannung.