DE69209163T2 - Plasmaunterstützte Diamantherstellung - Google Patents
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- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 27
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 52
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 47
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 31
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 150000001722 carbon compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 7
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 2
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 claims 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 abstract 1
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 60
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 11
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- -1 carbon ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 3
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N Hydrogen atom Chemical compound [H] YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006091 Macor Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000259 microwave plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
- C23C16/27—Diamond only
- C23C16/274—Diamond only using microwave discharges
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B22—CASTING; POWDER METALLURGY
- B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
- B22F7/00—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression
- B22F7/02—Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite layers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/511—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Composite Materials (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
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Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf die Herstellung künstlicher Diamanten und anderer keramischer Materialien mit Hilfe der plasmaunterstutzten Gasphasenabscheidung nach dem chemischen Verfahren (CVD).
- Diamanten werden schon seit etwa drei Jahrzehnten synthetisch hergestellt. Zu diesem Zweck wird eine Kohlenstoffquelle wie z.B. Graphit einem Druck von mehr als 50 Kilobar und einer Temperatur von über 1.200ºC bei gleichzeitiger Anwesenheit eines Katalysatormetalls wie Nickel, Kobalt oder Eisen ausgesetzt. In letzter Zeit werden Diamanten häufiger aus der Gasphase synthetisiert. Diese Methode ist als Gasphasenabscheidung nach dem chemischen Verfahren (CVD) bekannt, die so hergestellten Diamanten werden als CVD-Diamanten bezeichnet. Dieses Verfahren beinhaltet im wesentlichen die Darstellung einer Mischung aus Wasserstoffgas und einer geeigneten gasförmigen Kohlenstoffverbindung wie z.B. Kohlenwasserstoff. Durch eine ausreichend hohe Energiezufuhr in dieses Gas wird der Wasserstoff in atomaren Wasserstoff und das Gas in aktive Kohlenstoffionen, Atome oder CH-Radikale dissoziiert, wobei diese aktiven Arten sich auf dem Substrat abscheiden und einen Diamantüberzug bilden. Die Dissozuerung der Gase kann durch unterschiedliche Methoden bewirkt werden.
- Eines dieser Verfahren besteht in der Verwendung eines heißen Filaments zum Dissozueren der in unmittelbarer Nähe des Filaments befindlichen Gase. Eine zweite, ebenfalls sehr verbreitete Methode ist das sogenannte plasmaunterstützte Verfahren. Der Wasserstoff und die gasförmige Kohlenstoffverbindung treten in ein Plasma ein, das mit Hilfe von Mikrowellen, Hochfrequenz oder Gleichstrom erzeugt wird, und werden dort zu ihrem aktiven Zustand angeregt. In diesem Zustand setzten sie sich auf einem Substrat ab, das durch das Plasma erhitzt wird. Beim mikrowellenplasmaunterstützten CVD-Verfahren wurden bislang Wellenleiter zur Erzeugung des Plasmas im Innern einer Reaktionskammer benutzt, die sich innerhalb des Wellenleiters befand. Das starke elektrische Feld, das innerhalb der Grenzen des Wellenleiters bzw. des Wellenleiter-Hohlraums erzeugt wird, reicht aus, um die unter geringem Druck in der Reaktionskammer eingeschlossenen Gase zu ionisieren. Das so erzeugte Plasma scheidet dann eine Diamantschicht auf einem innerhalb des Plasmas oder direkt daneben positionierten Substrat ab.
- Ein Nachteil der Verwendung von Wellenleitern zur Bildung eines Plasmas besteht darin, daß die Größe des Plasmas durch die Abmessungen des Wellenleiter-Hohlraums definiert wird. Eine räumliche Vergrößerung des Plasmas kann nicht einfach durch die Vergrößerung des Wellenleiters bewerkstelligt werden, da ohne eine proportionale Vergrößerung der Wellenlänge der Mikrowelle eine Mehrfachwellenausbreitung einsetzt. Das Ergebnis ist dann eine ineffiziente Plasmaerzeugung.
- Da das Plasma innerhalb der im Wellenleiter verlaufenden elektrischen Feldlinien eingeschlossen ist, ist die Lage des Plasmas innerhalb der Reaktionskammer festgelegt. Daraus ergeben sich zusätzliche Probleme. Zum einen unterbricht das Einsetzen eines Substrats in den Wellenleiter die elektrischen Feldlinien in einer nicht vorhersehbaren Weise, abhängig im einzelnen von der Art und der Geometrie des Substrats. Zum anderen kann das Plasma die Wände der Reaktionskammer berühren, die sich zwangsläufig innerhalb der Grenzen des Wellenleiters befindet. Dies kann zu einer Kontaminierung der Diamantabscheidung auf dem Substrat führen.
- US-A-4.434.188, auf dem die Oberbegriffe der Nebenansprüche basieren, offenbart eine Methode und eine Vorrichtung zum Synthetisieren von Diamanten unter Verwendung einer Mikrowellenquelle zum Erzeugen des Plasmas über einem Substrat. Das Plasma wird in einem Gas erzeugt, das aus Wasserstoffgas und zusätzlich einem Kohlenwasserstoff besteht.
- Nach einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Methode zur Bildung eines Plasmas beschrieben, das die Herstellung von Diamanten mit Hilfe der Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren unterstützt. Diese Methode beinhaltet die folgenden Schritte:
- (i) Bereitstellen einer Reaktionskammer;
- (ii) Positionieren eines Substrats innerhalb der Reaktions kammer;
- (iii) Erzeugen einer Mikrowellenstrahlung in einer extern angeordneten Quelle; und
- (iv) Injektion einer Mischung einer gasförmigen Kohlenstoffverbindung und eines aktiven Gases in die Reaktionskammer, wobei das besagte aktive Gas aus einer Gruppe gewählt wird, der Wasserstoff und Sauerstoff angehören,
- gekennzeichnet dadurch, daß die Mikrowellen in Form eines Strahlenbündels erzeugt werden, weiterhin gekennzeichnet durch folgende Schritte:
- (v) Verwendung einer Fokussiervorrichtung zum Fokussieren der Mikrowellenstrahlung auf einen Brennpunkt in unmittelbarer Nähe des Substrats zum Bilden eines Plasmas innerhalb der Reaktionskammer im Bereich des Substrats; und
- (vi) Scannen des Plasmas über das Substrat durch Justieren der Position des Substrats und der Fokussiervorrichtung relativ zueinander, so daß eine Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren auf dem Substrat erfolgen kann.
- In einer vorteilhaften Ausgestaltung beinhaltet dieses Verfahren die Fokussierung des Mikrowellenstrahls auf einen beugungsbegrenzten Fleck derart, daß ein örtlich definiertes Plasma entsteht. Das Abscheiden des Diamanten auf dem Substrat erfolgt durch Scannen des Plasmas über die Oberfläche des Substrats, wobei der beugungsbegrenzte Fleck einen Durchmesser hat, der etwa der Hälfte der Wellenlänge der einfallenden Mikrowelle hat.
- In einer vorteilhaften Ausgestaltung beinhaltet diese Methode die Bereitstellung von mindestens zwei externen Mikrowellenstrahlungsquellen unterschiedlicher Frequenzen, wobei beide Mikrowellenstrahlungsquellen auf mindestens einen Brennpunkt fokussiert werden müssen, damit ein Plasma innerhalb der Reaktionskammer entsteht. Die beiden unterschiedlichen Frequenzen müssen so gewählt werden, daß sie spezielle Arten innerhalb des Plasmas anregen.
- Der Mikrowellenstrahl wird vorzugsweise in mindestens zwei unterschiedlichen Richtungen mit unterschiedlichen Verhältnissen polarisiert, um das Plasma feinabzustimmen.
- Die Form des Plasmas ist bevorzugt unabhängig von der Form der Reaktionskammer, aber abhängig von der Geometrie und der Positionierung der Fokussiervorrichtung.
- Nach einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Vorrichtung zur Erzeugung eines Plasmas für die Unterstützung der Herstellung synthetischer Diamanten dargestellt, wobei diese Vorrichtung zusammen mit einer externen Mikrowellenstrahlungsquelle eingesetzt wird;
- ebenfalls Vorrichtungen zum Injizieren einer Mischung aus einer gasförmigen Kohlenstoffverbindung und einem aktiven Gas aus einer Gruppe, zu der auch Wasserstoff und Sauerstoff gehören, und wobei aus dieser Mischung ein Plasma gebildet wird;
- wobei in der praktischen Anwendung ein Substrat in der Reaktionskammer positioniert wird und das Plasma so beeinflußt wird, daß sich durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren Diamanten auf dem Substrat abscheiden;
- gekennzeichnet dadurch, daß die Vorrichtung weiterhin Fokussiervorrichtungen beinhalten, die außerhalb der Reaktionskammer positioniert sind und einen aus der besagten externen Quelle stammenden Mikrowellenstrahl auf einen Punkt innerhalb der Reaktionskammer fokussieren, in dem das Plasma gebildet werden soll, so daß die Form des Plasmas unabhängig von der Form der Reaktionskammer, aber abhängig von der Geometrie und der Positionierung der Fokussiervorrichtungen ist; und
- wobei die Fokussiervorrichtungen und das Substrat relativ zueinander so einstellbar sind, daß das Plasma im Fokusbereich über das Substrat gescannt werden kann.
- Vorzugsweise beinhaltet die externe Strahlungsquelle mindestens zwei Mikrowellengeneratoren, um Mikrowellen unterschiedlicher Frequenzen zum Anregen unterschiedlicher Arten innerhalb des Plasmas erzeugen zu können.
- Die Fokussiervorrichtungen können aus mindestens einem Reflektor mit einer konkaven Reflexionsfläche bestehen, die so dimensioniert ist, daß sie mindestens dem Vierfachen der Wellenlänge der Mikrowellenstrahlung entspricht.
- Die Fokussiervorrichtungen können in einer spezifischeren Ausführung einen ersten und einen zweiten Parabolreflektor beinhalten, wobei der erste Reflektor so angeordnet ist, daß er ein Mikrowellenstrahlungsbündel von einem ersten Mikrowellengenerator erhält und diesen Strahl auf einen zweiten Reflektor überträgt, der diese Strahlen fokussiert.
- Die Vorrichtung zum Einleiten des ausgesuchten Gases kann aus einer Vakuumpumpe zum Evakuieren der Reaktionskammer, einem mit der Reaktionskammer verbundenen Kompressor zum Einleiten des Gases in die Kammer und einem Ventil zum Steuern des Zustroms des Gases in die Reaktionskammer bestehen.
- Die Erfindung ist nicht auf die Synthetisierung von Diamanten durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren beschränkt. Zahlreiche andere keramische Materialien können bei Verwendung einer geeigneten Gasmischung abgeschieden werden, z.B. Si, GaS, InP, ZnS, ZnSe, GeC, SiC und kubisches Bornitrid. Das Plasma kann ebenfalls zum Ätzen oder zur Modifizierung von Materialoberflächen eingesetzt werden. So kann es z.B. zum Entfernen von Oxidschichten vor dem Löten oder zum Rückfluß von Lötmitteln eingesetzt werden.
- Im Sinne der vorliegenden Beschreibung wird unter Mikrowellenstrahlung eine Strahlung mit einem möglichen Frequenzbereich von 300 MHz bis 1.000 GHz verstanden, vorzugsweise zwischen 433 MHz und 94 GHz, und optimal zwischen 2 GHz und 3 GHz.
- Zum besseren Verständnis der Erfindung folgt nun nachstehend eine beispielhafte Beschreibung unter Verweis der als Anhang beigefügten Zeichnungen:
- FIGUR 1 zeigt eine stark schematisierte Ansicht einer ersten Ausgestaltung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Bildung eines Plasmas;
- FIGUREN 2 bis 5 zeigen schematisierte Ansichten weiterer Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Bildung eines Plasmas unter Verwendung unterschiedlicher Fokussiervorrichtungen, und
- FIGUREN 6 und 7 zeigen schematisierte Ansichten einer Experimentalanordnung zur Erzeugung eines geeigneten Plasmas.
- Wie in FIG. 1 dargestellt, steuert ein Mikrowellengenerator (10) einen Hornstrahler (12) über einen geeigneten Wellenleiter (14) an. Der Hornstrahler wird so positioniert, daß er ein Strahlenbündel (16) von Mikrowellen auf einen ersten parabolförmigen Reflektor (18) abstrahlt. Der Reflektor (18) ist von der Geometrie seiner reflektierenden Oberfläche her so ausgelegt, daß das einfallende Strahlenbündel (16) als planparallele Wellenfront (20) in den freien Raum abgestrahlt wird. Aufgefangen wird dieser planparallele Wellenzug (20) durch einen zweiten Reflektor (22), der eine im wesentlichen parabelförmige reflektierende Oberfläche hat und den planparallelen Wellenzug (20) in einen konvergierenden sphärischen Wellenzug (24) umwandelt. Dieser konvergierende sphärische Wellenzug (24) bündelt sich in einem Fokus (26), der sich innerhalb einer Reaktionskammer (28) befindet. Bei dieser Reaktionskammer kann es sich z.B. um eine glockenförmige Kammer handeln, die eine Plasmabildungszone (29) definiert.
- In Bereich des Mittelpunkts der Reaktionskammer (28) befindet sich ein geeignetes Substrat (30) wie z.B. Siliciumcarbid, Molybdän, Silikon oder eventuell auch ein Diamantkeim. Aus der Zeichnung geht hervor, daß das Substrat (30) direkt unterhalb des Fokus (26) positioniert ist.
- Ein kohlenstoffhaltiges Gas wird mit Wasserstoff, Sauerstoff, Argon, Hehum, Neon, Wasserdampf oder einer zweckmäßigen Kombination dieser Gase kombiniert und über eine Rohrleitung (31) mit einem Druck zwischen 13,3 und 333 × 10³ Pa in die Reaktionskammer (28) injiziert, bevorzugt mit einem Druck zwischen 5,33 × 10³ bis 26,7 × 10³ Pa. Wenn genügend Leistung, d.h. mehr als 1 Wcm&supmin;³, innerhalb des Fokus (26) konzentriert wird, entsteht dort in den Niederduckgasen innerhalb der Reaktionskammer (28) ein Plasma (32). Wie schematisch in der Abbildung dargestellt, konzentriert sich das Plasma (32) im Fokus (26) des zweiten Reflektors (24). Das Substrat wird durch die heißen Plasmagase auf eine Temperatur zwischen 400 K und 1.500 K aufgeheizt. Im allgemeinen wird ein Temperaturbereich von 900 K erreicht. Das Abscheiden von Diamanten (33) auf dem Substrat (30) erfolgt in einer ähnlichen Weise, wie es in dem an Kamo erteilten US-Patent 4434188 beschrieben wird.
- Im Gegensatz zu den Reaktionskammern der bisherigen Bauart, die durch die Größe des Wellenleiter-Hohlraums, in dem sie sich befinden, begrenzt sind, wird die Größe der Reaktionskammer (28) nicht durch die Wellenleiterabmessungen eingeschränkt. Das Substrat (30) kann deshalb in ausreichendem Abstand von den Wänden der Reaktionskammer und anderen Kontaminierungsquellen positioniert werden. Da es keine Knoten innerhalb der Reaktionskammer gibt, hat das Einset zen eines Substrats nur geringe oder gar keine Auswirkungen auf die Position der Plasmaentladung (32). Genauso haben Natur und Geometrie des Substrats (30) nur einen vernachlässigbaren Effekt auf die Plasmaentladung (32).
- Unter Verweis auf Figur 2 wird jetzt eine weitere Ausgestaltung beschrieben, wobei eine Linse (34) den zweiten Reflektor (22) der Figur 1 als Fokussiervorrichtung für die Mikrowellenstrahlung ersetzt. In Figur 3 ersetzt eine einfache bikonvexe Linse (36) sowohl den ersten Reflektor (18) als auch den zweiten Reflektor (22). Bei der Linse kann es sich um eine dielektrische Linse, eine Metallplattenlinse oder eine Fresnelsche Stufenlinse handeln. Bei der in Figur 4 gezeigten Anordnung wird ein einfacher Reflektor (38) anstelle der Linse (36) verwendet. In Figur 5 wird mit Hilfe einer Linse (40) das Mikrowellenstrahlenbündel parallel gerichtet und durch einen Reflektor (42) wieder fokussiert. Hierbei ist zu bemerken, daß unterschiedliche Kombinationen von Linsen und Reflektoren benutzt werden können, um die Mikrowellenstrahlenbündel zu fokussieren. Diese Strahlung kann kontinuierlich, gepulst, moduliert oder polarisiert oder in Kombination dieser Eigenschaften vorliegen. So kann z.B. ein Ellipsoid mit einer reflektierenden Innenfläche verwendet werden, wobei sich die Mikrowellenquelle und das Plasma an den jeweiligen Brennpunkten innerhalb des Ellipsoids befinden.
- Ein Vorteil der verschiedenen eingesetzten Fokussiersysteme besteht darin, daß auf diese Weise unterschiedlich geformte Plasmen dadurch erzeugt werden können, daß man die Profile der Fokussierlinsen oder des Reflektors verändert. So läßt sich z.B. ein im wesentlichen kugelförmiges Plasma erzeugen, wenn ein Reflektor mit einer parabolförmigen Reflexionsfläche verwendet wird. Es kann auch eine bikonvexe Linse verwendet werden, um ein Plasma dieser kugelförmigen Form zu erhalten. Eine linear-längliche Plasmaform läßt sich durch eine parabolförmige Reflexionsfläche in Form eines Teilschnitts aus einem parabolischen Zylinder oder durch eine kugelförmige Reflexionsfläche darstellen. Weitere Plasmaformen sowie weitere Plasmadichteprofile können durch geringfügige Veränderungen der optischen Komponenten erzielt werden.
- Es ist ebenfalls möglich, Größe und Position des Plasmas durch Einstellen der Brennweite der Fokussieroptik und durch Verschieben der letzten Fokussiereinrichtung entlang oder um die mittlere Symmetrieachse zu verändern.
- Das Scannen des Plasmas in drei Richtungen kann ebenfalls durch Verschieben der letzten Fokussieroptik oder des Substrats in geeigneter Weise innerhalb der Reaktionskammer erfolgen. Dreidimensionale Flächen können mit Diamanten beschichtet werden, indem das Plasma einfach über die gesamte Oberfläche des Substrats gescannt wird.
- Es können auch unterschiedliche Hornstrahler benutzt werden, um den ersten Reflektor oder die erste Linse anzustrahlen. Auf diese Weise können mindestens zwei unterschiedliche Frequenzen innerhalb des Plasmas gekoppelt werden; dies könnte sich z.B. als vorteilhaft bei der Anregung spezifischer Arten innerhalb des Plasmas erweisen. In ähnlicher Weise könnten zwei Polarisationsrichtungen mit unterschiedlichen Verhältnissen kombiniert werden, um eine weitere Feinabstimmung der Plasmaentladung zu erreichen.
- In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung können sehr hohe Mikrowellenfrequenzen auf einen extrem kleinen beugungsbegrenzten Fleck fokussiert werden, der einen Durchmesser entsprechend der Hälfte der Wellenlänge der einfallenden Mikrowellenstrahlung hat. Auf diese Weise lassen sich kleinste, räumlich eng begrenzte Plasmen erzeugen. Diese Plasmen können dann über die Substratfläche in einer weiter oben in dieser Beschreibung dargestellten Weise gescannt werden, damit Diamanten auf das Substrat "geschrieben" werden können.
- Um Kanteneffekte zu minimieren und eine effiziente Anstrahlung der optischen Komponenten zu gewährleisten, muß die Mikrowellenoptik in einer gewissen Mindestgröße ausgeführt werden; d.h. sie muß mindestens viermal und bevorzugt zehnmal so groß sein wie die Wellenlänge der Mikrowellenstrahlung. Potentiell gefährliche Strahlung kann dadurch unschädlich gemacht werden, indem man die Optik entweder in eine Metallabschirmung setzt oder sie mit einem geeigneten absorbierenden Material umgibt.
- Die Reaktionskammer (28) muß entweder komplett transparent sein oder könnte alternativ mit einem transparenten Fenster (44) in Form eines Dielektrikums ausgestattet werden, damit die Mikrowellenstrahlung durchgelassen wird. Eine weitere Möglichkeit besteht darin, die Reaktionskammer so groß auszulegen, daß sowohl die Fokussiervorrichtung als auch das Substrat darin Platz finden. Bevorzugte Materialien für die gesamte Reaktionskammer oder für das Fenster (44) sind geschmolzene Silica, Quarz, Zirkonium, Aluminiumoxid, Pyrex, PTFE, Macor , Silicaglas oder Polystyrol. Diese Materialien könnten reflexionshemmend ausgestattet werden, damit die oberflächenbedingten Reflexionsverluste auf ein Mindestmaß beschränkt werden. Die Materialien können ebenfalls durch eine geeignete transparente Flüssigkeit wie cyclohexan gekühlt werden.
- Ein Prototyp des Systems wurde im Freien aufgebaut und besteht aus einem Mikrowellengenerator, einer Vorrichtung von Reflektoren zum Fokussieren der Mikrowellen und einer Reaktionskammer in Form einer Quarzvakuumglocke. Ein Plasma mit einem Durchmesser von einigen Zentimetern räumlicher Ausdehnung wurde erfolgreich mit Hilfe eines Mikrowellengenerators mit einer Leistung von nur 800 Watt erzeugt.
- Wie in Figur 6 gezeigt, besteht die Anordnung u.a. aus einem Paar versetzter Parabolreflektoren (44) und (46), die aus Holzleisten und einem zwischen die Leisten gespannten Maschendraht bestehen. Mit Hilfe parabolförmiger Schablonen wurde die Formgenauigkeit der Reflektoren (44) und (46) auf ± 2 mm (ein Sechzigstel der Wellenlänge) geprüft, dies entspricht den typischerweise zulässigen Toleranzen. Der Verlust durch die Maschen wurde mit -20 dB (1 %) kalkuliert. Die Reflektoren hatten jeweils ein Querschnittsmaß von 1,5 m, das sind zwölf Wellenlängen. Die Brennweite jedes Reflektors betrug ebenfalls 1,5 m. Ein Hornstrahler (48) mit 10 dB Strahlbreiten von 42º in der E-Ebene und 59º in der H-Ebene wurde direkt hinter dem Fokus (50) des Reflektors (44) positioniert. Der Azimutwinkel des Reflektors betrug etwa 56º, der Höhenwinkel des Reflektors betrug 44º, woraus sich eine relativ gute Abstimmung zwischen dem Hornstrahler (48) und dem Reflektor (44) ergab, wenn der Hornstrahler mit vertikaler E-Ebene montiert wurde.
- Der zweite Parabolreflektor (46) wurde so positioniert, daß sich sein Brennpunkt (52) etwa 2 Meter entfernt vom Brennpunkt (50) des Reflektors (44) befand. Ein Magnetron (54) mit einer Betriebsfrequenz von 2,45 GHz und einer Ausgangsleistung von etwa 1,6 kW steuert den Hornstrahler (48) an. Die Spitzenleistungsdichte der Hornstrahleröffnung wurde auf 54 kWm&supmin;² berechnet. Bei einer Entfernung von 1,5 m, die der Entfernung zwischen der Öffnung des Horns (48) und dem Reflektor (44) entspricht, fiel die Leistungsdichte auf einen kalkulierten Wert von 3,15 kWm&supmin;² ab. Auf Basis der Anordnung der Reflektoren (44) und (46) wurde berechnet, daß der größte Teil der Mikrowellenstrahlung, die vom Reflektor (44) zurückgeworfen wird, vom Reflektor (46) eingefangen wird.
- Der Reflektor (44) wurde auf einem festen Gestell montiert, während der Reflektor (46) auf einem schienengebundenen Schlitten befestigt wurde. Ein Hornstrahler (56) und ein Leistungsmesser (58) wurden neben dem Fokus (52) des verfahrbaren Reflektors (46) positioniert, und das Magnetron (54) wurde durch einen Kleinstleistungsübertrager ersetzt. Die endgültigen Positionen der Reflektoren (44) und (46) sind in Figur 6 dargestellt, wobei die entsprechenden Brennpunkte (50) und (52) der Reflektoren einen Abstand von 2,08 m zueinander haben. Der gemessene Verlust zwischen den Reflektoren (44) und (46) betrug etwa 2,7 dB. Dieser Wert war höher als erwartet und wahrscheinlich zurückzuführen auf Streuverluste an den Kanten der Reflektoren (44) und (46) sowie auf einen Maschenverlust, der größer ausfiel als berechnet. Das Horn (48) wurde sodann an das Magnetron (54) angeschlossen, das wassergekühlt war und von einer externen Stromquelle gespeist wurde. Das Horn (56) wurde entfernt, und der Feldbereich des Fokus (52) wurde anhand einer an einem dünnen Bindfaden aufgehängten Neonröhre aufgespürt. Die Neonröhre sprach in einem Bereich mit einem Durchmesser zwischen 5 und 8 cm an. Die Position der maximalen Leistung wurde ebenfalls festgestellt mit Hilfe eines absorbierenden Schaumstoffblocks, der mit wärmeempfindlichem Papier umwickelt war.
- Eine Anordnung vergleichbar mit der in Figur 6 beschriebenen Anordnung wurde sodann aufgebaut, wobei das Horn (56) durch die Quarzvakuumglocke (62) ersetzt wurde. Diese Glocke (62) wurde auf eine verfahrbare Plattform (64) montiert, und ein dünner Drahtdipol (66) mit einem Durchmesser von etwa 1,5 mm und 60 mm Länge wurde auf ein Stück verlustarmen Schaumstoffs (68) innerhalb der Quarzglocke (62) gesetzt. Die Quarzglocke (62) wurde sodann mit Hilfe der Vakuumpumpe (70) über die Leitung (72) evakuiert, bis der Luftdruck auf 13,3 Pa abgefallen war. Ein Manometer (74) zeigte die Luftdruckreduzierung in der Leitung (72) an, und ein Ventil (76) wurde geschlossen, sobald das Erreichen des gewünschten Luftdrucks auf dem Manometer (77) angezeigt wurde. Danach wurde ein Ventil (78) geöffnet, und über die Leitung (82) strömte Argon von einer Argonquelle (80) in die Quarzglocke (62). Sobald der Druck innerhalb der Quarzglocke (62) 133 Pa erreichte, wurde das Ventil (76) geöffnet und die Pumpe (70) wurde in Betrieb genommen, um den Luftdruck in der Quarzglocke wieder auf 13,3 Pa zu bringen. Danach wurde die Quarzglocke hermetisch verschlossen und das Magnetron (54) aktiviert, das einen fokussierten Mikrowellenstrahl in den Bereich des Dipols (66) aussandte, so daß sich dort ein Plasma mit einem Durchmesser zwischen 5 und 8 cm bildete.
- Das Argon wurde danach durch eine Mischung aus H&sub2;- und CH&sub4;- Gas mit einem Volumenverhältnis von 100 : 1 ersetzt. Diese Gasmischung wurde kontinuierlich mit einer Geschwindigkeit von 200 scc/Min durch die Quarzglocke geschickt. Ein ca. 5 mm² großes Substrat aus Siliconcarbid ersetzte den Schaumstoff (68) und den Dipol (66). Der Druck innerhalb der Quarzglocke wurde auf 5,33 × 10³ Pa gehalten, und es wurde das Magnetron eingeschaltet, so daß sich in unmittelbarer Nähe des Substrats ein Plasma bildete. Dieses Plasma erhitzte das Substrat auf eine Temperatur von 1170 K, die durch Kühlung gehalten wurde. Das Ergebnis war die Bildung einer Diamantschicht auf dem Substrat durch Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren mit einer Wachstumsrate von 1 um pro Stunde.
Claims (12)
1. Methode zur Bildung eines Plasmas (32), das die
Herstellung von Diamanten mit Hilfe der
Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren unterstützt, bestehend
aus den folgenden Schritten:
(i) Bereitstellen einer Reaktionskammer (28);
(ii) Positionieren eines Substrats (30) innerhalb der
Reaktions kammer;
(iii) Erzeugen einer Mikrowellenstrahlung in einer
extern angeordneten Quelle (10); und
(iv) Einführen einer Mischung einer gasförmigen
Kohlenstoffverbindung und eines aktiven Gases in die
Reaktionskammer (28), wobei das besagte aktive
Gas aus einer Gruppe gewählt wird, der
Wasserstoff und Sauerstoff angehören,
dadurch gekennzeichnet, daß die Mikrowellen
in Form eines Strahlenbündels (16) erzeugt werden,
weiterhin gekennzeichnet durch folgende Schritte:
(v) Verwendung von Fokussiervorrichtungen (18, 22;
34; 36; 38; 40, 42) zum Fokussieren der
Mikrowellenstrahlung auf einen Brennpunkt (26) in
unmittelbarer Nähe des Substrats zum Bilden eines
Plasmas (32) innerhalb der Reaktionskammer im
Bereich des Substrats; und
(vi) Scannen des Plasmas (32) über das Substrat (30)
durch Justieren der Position des Substrats (30)
und der Fokussiervorrichtung relativ zueinander,
so daß eine Gasphasenabscheidung von Diamanten
(33) nach chemischem Verfahren auf dem Substrat
erfolgen kann.
2. Verfahren nach Anspruch 1 mit Fokussierung des
Mikrowellenstrahls (16) auf einen beugungsbegrenzten Fleck
(26) derart, daß ein örtlich festliegendes Plasma (32)
entsteht, wobei das Abscheiden des Diamanten (33) auf
dem Substrat (30) durch Scannen des Plasmas über die
Oberfläche des Substrats erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der beugungsbegrenzte
Fleck einen Durchmesser hat, der etwa der Hälfte der
Wellenlänge der einfallenden Mikrowelle hat.
4. Verfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei
die Bereitstellung von mindestens zwei externen
Mikrowellenstrahlungsquellen (10, 54) unterschiedlicher
Frequenzen eingeschlossen ist, wobei beide
Mikrowellenstrahlungsquellen auf mindestens einen Brennpunkt (26)
fokussiert werden müssen, damit ein Plasma (32)
innerhalb der Reaktionskammer entsteht, wobei die beiden
unterschiedlichen Frequenzen so gewählt werden müssen,
daß sie spezielle Arten innerhalb des Plasmas anregen.
5. Verfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei
der Mikrowellenstrahl (16) vorzugsweise in mindestens
zwei unterschiedlichen Richtungen mit unterschiedlichen
Verhältnissen polarisiert wird, um das Plasma
feinabzustimmen.
6. Verfahren nach einem der vorgenannten Ansprüche, wobei
die Form des Plasmas (32) unabhängig von der Form der
Reaktionskammer, aber abhängig von der Geometrie und
der Positionierung der Fokussiervorrichtungen (18, 22;
34; 26; 40, 42) ist.
7. Vorrichtung für die Bildung eines Plasmas zur
Unterstützung der synthetischen Herstellung von Diamanten in
Verbindung mit der Verwendung eines externen
Mikrowellengenerators, wobei besagte Vorrichtung besteht
aus:
einer Reaktionskammer (28), die über mindestens
eine Sektion (44) besteht, die für
Mikrowellenstrahlen durchlässig ist; und
Vorrichtungen (78, 82) zum Injizieren einer
Mischung aus gasförmigen Kohlenstoffverbindungen
und einem aktiven Gas, das aus einer Gruppe gewählt
wird, zu der auch Wasserstoff und Sauerstoff
gehören, und das zur Plasmabildung eingesetzt wird;
wobei in der praktischen Anwendung ein Substrat (30) in
der Reaktionskammer positioniert wird und das Plasma so
beeinflußt wird, daß sich durch Gasphasenabscheidung
nach chemischem Verfahren Diamanten (33) auf dem
Substrat (30) abscheiden;
dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
weiterhin Fokussiervorrichtungen (18, 22; 34; 36; 38;
40; 42) beinhaltet, die außerhalb der Reaktionskammer
positioniert sind und einen aus der besagten externen
Quelle stammenden Mikrowellenstrahl (16) auf einen
Punkt (29) innerhalb der Reaktionskammer fokussieren,
in dem das Plasma gebildet werden soll, so daß die Form
des Plasmas unabhängig von der Form der
Reaktionskammer, aber abhängig von der Geometrie und der
Positionierung der Fokussiervorrichtung ist; und
wobei die Fokussiervorrichtungen und das Substrat
relativ zueinander so einstellbar sind, daß das Plasma im
Fokusbereich (29) über das Substrat (30) gescannt
werden kann.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, wobei die externe
Strahlungsquelle mindestens zwei Mikrowellengeneratoren (10,
54) aufweist, um Mikrowellen unterschiedlicher Frequen
zen zum Anregen unterschiedlicher Arten innerhalb des
Plasmas erzeugen zu können.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 oder 8, wobei
die Fokussiervorrichtungen aus mindestens einem
Reflektor (18, 22, 44, 46) mit einer konkaven
Reflexionsfläche bestehen, die so dimensioniert ist, daß sie
mindestens dem Vierfachen der Wellenlänge der
Mikrowellenstrahlung entspricht.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8, wobei die
Fokussiervorrichtungen einen ersten und einen zweiten
Parabolreflektor (18, 44; 22, 46) beinhalten, und wobei der
erste Reflektor (18, 44) so angeordnet ist, daß er ein
Mikrowellenstrahlungsbündel (16) von einem ersten
Mikrowellengenerator (10) erhält und diesen Strahl (20)
auf einen zweiten Reflektor (22, 46) überträgt, der
diese Strahlen fokussiert, wobei der erste
Parabolreflektor (22, 46) und das Substrat (30) relativ
zueinander in ihrer Position verstellbar sind, so daß ein
Scannen des Plasmas (32) über das Substrat erfolgen
kann.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, wobei
die Vorrichtung zum Einleiten des ausgesuchten Gases
aus einer Vakuumpumpe (70) zum Evakuieren der
Reaktionskammer, einem mit der Reaktionskammer verbundenen
Kompressor zum Injizieren des Gases (80) in die Kammer
und einem Ventil (78) zum Steuern des Zustroms des
Gases in die Reaktionskammer besteht.
12. Methode zur Herstellung von Diamantüberzügen durch
Gasphasenabscheidung nach chemischem Verfahren, wobei
diese Methode die Erzeugung eines Plasmas durch eine
der in Ansprüchen 1 bis 6 beschriebenen Methoden oder
durch eine Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis
11 erfolgt.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB919114014A GB9114014D0 (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Plasma assisted diamond synthesis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE69209163D1 DE69209163D1 (de) | 1996-04-25 |
| DE69209163T2 true DE69209163T2 (de) | 1996-08-01 |
Family
ID=10697507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE69209163T Expired - Fee Related DE69209163T2 (de) | 1991-06-28 | 1992-06-29 | Plasmaunterstützte Diamantherstellung |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0520832B1 (de) |
| JP (1) | JPH05239656A (de) |
| KR (1) | KR930000181A (de) |
| AT (1) | ATE135752T1 (de) |
| AU (1) | AU1862392A (de) |
| CA (1) | CA2072455A1 (de) |
| DE (1) | DE69209163T2 (de) |
| GB (1) | GB9114014D0 (de) |
| TW (1) | TW262626B (de) |
| ZA (1) | ZA924765B (de) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5328550A (en) * | 1992-10-02 | 1994-07-12 | At&T Bell Laboratories | Thinning a diamond body by means of molten rare-earth-containing alloys |
| DE10156615B4 (de) * | 2001-11-17 | 2004-10-07 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Einrichtung zur Erzeugung eines örtlich variierbaren Elektron-Zyklotron-Resonanz-Mikrowellen-Niederdruckplasmas |
| US6845734B2 (en) | 2002-04-11 | 2005-01-25 | Micron Technology, Inc. | Deposition apparatuses configured for utilizing phased microwave radiation |
| RU2215061C1 (ru) | 2002-09-30 | 2003-10-27 | Институт прикладной физики РАН | Высокоскоростной способ осаждения алмазных пленок из газовой фазы в плазме свч-разряда и плазменный реактор для его реализации |
| US8555921B2 (en) | 2002-12-18 | 2013-10-15 | Vapor Technologies Inc. | Faucet component with coating |
| US7866343B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Masco Corporation Of Indiana | Faucet |
| US6904935B2 (en) | 2002-12-18 | 2005-06-14 | Masco Corporation Of Indiana | Valve component with multiple surface layers |
| US7866342B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Vapor Technologies, Inc. | Valve component for faucet |
| US8220489B2 (en) | 2002-12-18 | 2012-07-17 | Vapor Technologies Inc. | Faucet with wear-resistant valve component |
| US20070026205A1 (en) | 2005-08-01 | 2007-02-01 | Vapor Technologies Inc. | Article having patterned decorative coating |
| RU2357001C2 (ru) * | 2007-07-25 | 2009-05-27 | Ооо "Твинн" | Способ получения изделий из поликристаллического алмаза |
| DE102008035917B4 (de) * | 2008-08-01 | 2010-06-17 | Eads Deutschland Gmbh | Blitzschutz von Radomen und Sende-/Empfangsvorrichtungen |
| CN113373425B (zh) * | 2020-03-10 | 2022-06-10 | 宏硕系统股份有限公司 | 人造钻石生产装置及其微波发射模块 |
| US11155915B1 (en) | 2020-04-13 | 2021-10-26 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond production device and microwave transmitting module thereof |
| JP7074795B2 (ja) * | 2020-04-21 | 2022-05-24 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 合成ダイヤモンドの製造装置及びこれに用いられるマイクロ波発射モジュール |
| US12084759B2 (en) | 2022-01-07 | 2024-09-10 | Wave Power Technology Inc. | Artificial diamond plasma production device |
| JP7250969B1 (ja) * | 2022-02-08 | 2023-04-03 | 宏碩系統股▲フン▼有限公司 | 人工ダイヤモンドプラズマ生成機器 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4434188A (en) * | 1981-12-17 | 1984-02-28 | National Institute For Researches In Inorganic Materials | Method for synthesizing diamond |
| AU560521B2 (en) * | 1982-10-18 | 1987-04-09 | Energy Conversion Devices Inc. | Layered amorphous semiconductor alloys |
-
1991
- 1991-06-28 GB GB919114014A patent/GB9114014D0/en active Pending
-
1992
- 1992-06-26 AU AU18623/92A patent/AU1862392A/en not_active Abandoned
- 1992-06-26 CA CA002072455A patent/CA2072455A1/en not_active Abandoned
- 1992-06-26 ZA ZA924765A patent/ZA924765B/xx unknown
- 1992-06-27 KR KR1019920011419A patent/KR930000181A/ko not_active Withdrawn
- 1992-06-29 JP JP4210619A patent/JPH05239656A/ja active Pending
- 1992-06-29 DE DE69209163T patent/DE69209163T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-29 EP EP92305950A patent/EP0520832B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-06-29 AT AT92305950T patent/ATE135752T1/de not_active IP Right Cessation
- 1992-07-10 TW TW081105485A patent/TW262626B/zh active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69209163D1 (de) | 1996-04-25 |
| AU1862392A (en) | 1993-01-07 |
| EP0520832A1 (de) | 1992-12-30 |
| ATE135752T1 (de) | 1996-04-15 |
| CA2072455A1 (en) | 1992-12-29 |
| TW262626B (de) | 1995-11-11 |
| EP0520832B1 (de) | 1996-03-20 |
| GB9114014D0 (en) | 1991-08-14 |
| ZA924765B (en) | 1993-03-31 |
| KR930000181A (ko) | 1993-01-15 |
| JPH05239656A (ja) | 1993-09-17 |
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