DE68924053T2 - LSSD-Abfragepfad zur Berechnung der Wechselstrom-Chipsleistung. - Google Patents

Description

• Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf die Messung der Chipleistung und insbesondere auf die Verwendung der Daten für die durch die Schaltung eines LSSD-Abfragepfades hervorgerufene Verzögerung im Vergleich mit einem vorgegebenen Wert, um die Gesamt-Wechselstrom-Chipleistung zu bewerten.
• Die anhaltende Zunahme der Kompliziertheit und Schaltgeschwindigkeit elektronischer Schaltungen hat zahlreiche Probleme für das Messen oder Testen von Schaltungen aufgeworfen, um sicherzustellen, daß sie minimale Leistungskriterien einhalten. Insbesondere hat die Entwicklung und Benutzung von integrierten Schaltungen von ständig zunehmender Größe und Kompliziertheit zahlreiche Probleme auf dem Gebiet des Testens der Wechselstromleistung in der Arbeitsumgebung des Feldes aufgeworfen. Die mit dem Testen der Wechselstromleistung verbundenen Schwierigkeiten bringen zusätzliche Probleme in der Arbeitsumgebung des Feldes mit sich aufgrund der Kompliziertheit der Tests, der teueren und umständlichen Art des Testgerätes und der Möglichkeit, wechselstrommäßig fehlerhafte Schaltungen mit bekannten Verfahren nicht festzustellen. Für die Zwecke der Patentanmeldung bezieht sich das Testen der Wechselstromleistung auf dynamisches, zeitabhängiges Testen, im Gegensatz zu dem Testen auf ständige Gleichstrom-Fehler, was ein zeitunabhängiges Testen für Zwecke der Fehlerbestimmung darstellt.
• Typischerweise wird das Testen der Wechselstromleistung während der Herstellung und dem Testen der Schaltung unter Benutzung externer Testgeräte durchgeführt. Ein Grund dafür, warum das Testen nicht erfolgt, wenn die Schaltung in der Arbeitsumgebung des Feldes installiert wird, besteht darin, daß das externe Testgerät, das für das Testen der Wechselstromleistung benutzt wird, teuer und umständlich ist.
• Es ist bekannt, einen LSSD-Abfragepfad zu benutzen, um die Verzögerung der LSSD-Logik zu kennzeichnen. Bei diesem Verfahren wird eine Messung angewendet, bei der Taktgeber eingeschaltet werden, und ein Signal durchläuft vollständig den Abfragepfad. Für Zwecke dieser Beschreibung wird das Durchlaufen definiert als das Halten der Takteingänge einer LSSD-Selbsthalteschaltung auf einem aktiven Pegel, wobei es einem Wert, der auf den Eingang der ersten Selbsthalteschaltung in dem Abfragepfad gegeben wird, gestattet wird, den Abfragepfad mit der Schaltgeschwindigkeit der Selbsthalteschaltungen zu durchlaufen. Dieses Verfahren erlaubt es, daß ein einziges Gut\Schlecht-Ergebnis für einen Test erzielt wird, der auf einer vorgegebenen Taktgeschwindigkeit basiert. Jedoch ist dieses Verfahren in vielen Situationen nicht durchführbar, da die Eingabe der Abfrage oder die Ausgabe einer Untersuchung durch ein externes Testgerät für die Messung aufgrund von Packungsüberlegungen nicht zugänglich ist.
• Es ist auch bekannt, das Testen der Leistung durch die Benutzung von komplizierten Testmustern durchzuführen, die die Funktionslogik ansprechen, die für jedes Chip eindeutig ist. Wenn man komplizierte Testmuster benutzt, sind die Pfadlängen typischerweise kurz im Vergleich zu dem LSSD-Abfragepfad. Dies hat Messungen zur Folge, die wegen der Genauigkeit ein sehr präzises Testgerät, das hohe Kosten verursacht, erfordern, um die Meßdaten zu erhalten. Darüberhinaus waren solche früheren Versuche beim Testen nur in der Lage, für eine vorgegebene Taktgeschwindigkeit auf der Basis gut/schlecht zu testen.
• Ein anderer Lösungsweg nach dem Stand der Technik beim Testen auf gut/schlecht besteht darin, eine Taktumschaltung anzuwenden, um das Testen mit weniger teueren Testern zu ermöglichen. Jedoch treffen auch für dieses Verfahren aufgrund der Art des Testes gut/schlecht die gleichen Probleme der Unfähigkeit, unter Grenzbedingungen arbeitende Schaltungen festzustellen, und die Kosten und die Umständlichkeit der Benutzung externer Tester im Feld zu, wie das auch bei den vorher diskutierten Verfahren der Fall war.
• Das Dokument IBM TDB Vol. 29,No. 3, August 1986, Seiten 1234- 1236 beschreibt ein Verfahren zum Testen der Wechselstrom- Leistungsgrade in LSSD-Chips mit integrierter Schaltung, das die Schritte umfaßt des: a) Einstellens einer integrierten LSSD-Schaltung, die eine Anzahl von Selbsthalteschaltungen aufweist, in den Abfragemodus, in dem jede der Selbsthalteschaltungen seriell in einem Abfragepfad untergebracht ist und jede Selsthalteschaltung in dem Abfragepfad auf einen ersten gleichbleibenden Wert gesetzt wird, b) Ausbreitens eines zweiten einheitlichen Wertes in dem Abfragepfad während eines vorgegebenen Zeitabschnittes und Messens der Anzahl der Selbsthalteschaltungen in dem Abfragepfad, in welchem das zweite einheitliche Signal sich ausgebreitet hat, um einen Meßwert zu erhalten, c) Vergleichens des Meßwertes mit vorgegebenen Klassifizierungsdaten für die Wechselstromleistung. Dieses Dokument weist jedoch den Nachteil auf, daß es erstens einen externen Tester benötigt, da eine Testschaltung in dem System nicht vorgesehen ist, und zweitens eine Anzahl von Meßzyklen notwendig sind, um vertrauenswürdige und zuverlässige Testergebnisse zu erhalten.
• Als Zusammenfassung der mit dem Stand der Technik verbundenen Probleme wird üblicherweise eine Wechselstrom-Leistungsmessung in einer Herstellungs- oder Testumgebung und nicht in einer Arbeitsumgebung im Feld durchgeführt. Ein Faktor, der die Verwendung von Messungen der Wechselstrom-Chipleistung im Feld begrenzt, besteht darin, daß die Messungen generell genaues und teueres externes Testgerät erfordern. Das Transportieren solchen Gerätes im Feld ist eine höchst unerwünschte Praxis. Nachdem die Schaltungen die Herstellungs- und Testumgebung verlassen, sind wechselstrommäßig fehlerhafte Schaltungen in der Arbeitsumgebung des Feldes schwierig festzustellen.
• Darüberhinaus erfordert das Testen der Wechselstrom- Chipleistung oft detaillierte Kenntnisse des zugrundeliegenden Chipentwurfs, um sorgfältig ausgearbeitete Muster von Testdaten zu erzeugen, um die Funktionslogik jedes Chipentwurfs anzusprechen, um ein Meßergebnis zu erhalten. Muster mit Testdaten sind teuer herzustellen, da sie individuell für jeden besonderen Schaltungsentwurf geschaffen werden müssen. Außerdem erfolgt das Testen der Wechselstromleistung für eine vorgegebene Taktgeschwindigkeit auf der Basis gut/schlecht.
• Es ist ein Ziel dieser: Erfindung, das Testen und Eichen der Wechselstrom-Chipleistung zu verbessern.
• Es ist ein anderes Ziel dieser Erfindung, die Wechselstrom- Chipleistung mit einer einzigen Abfrage des LSSD-Abfragepfades zu kategorisieren.
• Es ist ein weiteres Ziel dieser Erfindung, die Wechselstrom- Chipleistung zu testen, ohne Testschaltungen außerhalb des Systems zu benötigen.
• Es ist noch ein anderes Ziel dieser Erfindung, Chips zu testen, ohne Daten für detaillierte Testmuster für jeden Chipentwurf zu erzeugen.
• Es ist noch ein weiteres Ziel dieser Erfindung, wechselstrommäßig defekte Chips nach der Installation des Chips in einer Arbeitsumgebung festzustellen, die in einer Herstellungs- und Testumgebung nicht festgestellt wurden.
• Diese und andere Ziele werden durch den Einrichtungsanspruch 1 und den Verfahrensanspruch 5 erreicht. Es wird ein System bereitgestellt, das die LSSD-Schaltung auf einem Chip benutzt, um Wechselstrom-Leistungsmeßergebnisse durch Ausbreiten eines Signals in dem LSSD-Abfragepfad zu erhalten, der gewöhnlich der längste Pfad auf dem Chip ist. Logikmittel steuern die Ausbreitung des Signals in dem LSSD-Abfragepfad während eines vorgegebenen Zeitabschnittes. Die Strecke in dem LSSD-Abfragepfad, auf der sich das Signal ausgebreitet hat, ist eine Funktion der Wechselstrom-Leistungsmerkmale des Chips. Nachdem das Ausbreiten durch die Logikmittel gestoppt wird, wird der LSSD-Abfragepfad analysiert, um zu bestimmen, wieweit sich das Signal in dem Abfragepfad ausgebreitet hat. Ein Wert, der die Strecke angibt, über die sich das Signal indem Abfragepfad ausgebreitet hat, wird als Wechselstrom-Zeitmeßangabe benutzt. Vergleichsmittel vergleichen die Wechselstrom-Zeitmeßangabe mit vorgegebenen Wechselstrom-Klassifizierungsdaten, die in dem System gespeichert sind, um die Gesamtklassifizierung des Chips als eine aus einer Anzahl möglicher Klassen für die Chipleistung zu bestimmen.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG
• Fig. 1 ist eine schematische Darstellung der Logik für das Eichen, die in der Erfindung für das Testen der Wechselstromleistung benutzt wird.
BESCHREIBUNG DES BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELES
• Vor dem Abhandeln der genauen Beschreibung der Erfindung ist das folgende ein allgemeiner Überblick über die Erfindung.
• Die hier offenbarte Erfindung macht Gebrauch von dem LSSD- Abfragepfad, der gewöhnlich bei Testverfahren nach dem Stand der Technik für das Testen auf ständige Gleichstromfehler benutzt wird, um Meßergebnisse der Wechselstrom-Chipleistung zu erzeugen. Darüberhinaus bilden gerade die LSSD-Selbsthalteschaltungen, deren Wechselstromleistung zu messen ist, einen Teil der für die Messung benutzten Einrichtung. Die Messung beginnt durch Bringen des LSSDL-Chips in den Abfragemodus, der die Selbsthalteschaltungen auf dem Chip in einem Abfragepfad anordnet, der eine serielle Konfiguration aufweist. Im Abfragemodus werden die Selbsthalteschaltungen durch drei Signale gesteuert. Zwei der Signale sind Taktsignale, von denen beide einen aktiven Pegel aufweisen müssen, damit ein Signal sich ausbreitet. Das dritte Signal ist der Wert, der ich ausbreiten soll. Der Abfragepfad wird zuerst durchlaufen durch Halten beider Taktgeber in einem aktiven Zustand und durch Einstellen eines gleichbleibenden Wertes auf der dritten Leitung. Da die Taktgeber aktiv gehalten werden, durchläuft das Signal den Abfragepfad mit der Schaltgeschwindigkeit der Schaltung. Die Taktsignale werden idealerweise für einen Zeitabschnitt aktiv gehalten, der lang genug ist, um den gesamten Abfragepfad zu durchlaufen. Nachdem der Abfragepfad durchlaufen wurde, wird eine der Taktleitungen in einen inaktiven Zustand gebracht. Es spielt keine Rolle, welche Taktleitung deaktiviert wird, um den Zweck der Erfindung zu erreichen, da der LSSD-Abfragepfad es erfordert, daß beide Taktleitungen ein hohes Potential aufweisen, damit ein Signal sich in dem Abfragepfad ausbreitet, wobei die Deaktivierung einer Taktleitung den Vorgang des Durchlaufens beendet.
• Nachdem der Vorgang des Durchlaufens beendet ist, beginnt der Meßvorgang. Der gleichbleibende Wert auf der dritten Leitung wird invertiert. Dann wird ein vorgegebener Zeitwert in die Mittel zur Taktsteuerung gebracht, die den Betrag an Zeit steuern, der für das Ausbreiten des dritten Signalwertes zugeteilt wird. Der vorgegebene Zeitwert kann in einer Reihe von Wegen erzeugt werden, die die Software-Programmierung oder eine Hardware-Implementierung einschließen. Das bevorzugte Ausführungsbeispiel benutzt Mittel zur Taktsteuerung, die hierin als Teil der Mittel zur Verknüfungssteuerung behandelt werden. Die Mittel zur Taktsteuerung sind ein binärer Abwärtszähler 130, der im Stand der Technik gut bekannt ist. Das deaktivierte Taktsignal wird aktiviert, und der Wert auf der dritten Signalleitung beginnt, den Abfragepfad zu durchlaufen. Wenn die durch den vorgegebenen Zeitwert definierte Zeitgrenze erreicht ist, halten die Mittel zur Taktsteuerung die Ausbreitung des gleichbleibenden Wertes durch den Abfragepfad an. An diesem Punkt kann die Strecke des Abfragepfades, die der Wert durchlaufen hat und die eine Funktion der Wechselstrom-Chipleistung ist, bestimmt werden. Nachdem die Strecke bestimmt wurde, die der fortgeleitete Wert in dem Abfragepfad durchlaufen hat, wird sie mit einer Tabelle vorgegebener Werte verglichen, die Kategorien der Wechselstrom-Chipleistung für diesen speziellen Chipentwurf darstellen. Die Wechselstrom-Chipleistung wird gemäß den Ergebnissen des Vergleichs kategorisiert.
• Nun, im Hinblick auf das ausführliche, bevorzugte Ausführungsbeispiel, wie es Fig. 1 erkennen läßt, sind die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung, die Vergleichsmittel 144 und die Speichermittel 142 alle als Teile des Service-Prozessors 140 dargestellt. Dies ist wahlfrei, da jede der vorhergehenden Komponenten anderswo in dem System in der Form von Hardware-Verkörperungen lokalisiert sein könnte. Außerdem könnten die Vergleichsmittel 144 und die Teile der Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung durch Software implementiert sein. Zur einfacheren Darstellung sind Teile der Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung, einschließlich der Mittel zur Taktsteuerung, die ein binärer Abwärtszähler 130 sind, und einige zusätzliche Steuer-Selbsthalteschaltungen 2, 4, 6 getrennt vom Rest der Mittel 146 zur Verknüfungssteuerung in Fig. 1 dargestellt. Die Signale, die den Vorgang der Wechselstrom-Leistungsmessung lenken, werden einschließlich des vorgegebenen Zeitwertes durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung erzeugt.
• Zur Erklärung der Funktion wird das Testen der Wechselstromleistung unter Benutzung des Meßergebnisses des LSSD-Abfragepfades dadurch erreicht, daß zuerst der Systemtaktgeber abgeschaltet wird. Nachdem der Taktgeber einmal abgeschaltet wurde, initialisiert der Service-Prozessor 140 den Abfragemodus, der das Anordnen der LSSD-Selbsthalteschaltungen in der LSSD-Schaltung in einer seriellen Kette einschließt, die als LSSD-Abfragepfad bezeichnet wird. Der Abfragemodus ist auf dem Fachgebiet der LSSD-Schaltlogik gut bekannt.
• Die Mittel zur Verknüpfungssteuerung erzeugen Wechselstrom- Zeitmeßdaten durch Steuern der Ausführung der Wechselstrom- Leistungsmessung. Die Mittel 146 zur Verknüpfungssteurung beginnen die wechselstrommessung durch Geben eines Wertes auf die Abfrage-Eingabeleitung 62, der den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu dem Zweck durchläuft, alle Selbsthaltes haltungen auf einen gleichbleibenden Wert zu setzen. Ein Durchlaufvorgang stützt sich nicht auf Taktimpulse, sondern leitet stattdessen ein Signal in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 mit einer Geschwindigkeit fort, die allein durch die Verzögerung der Schaltung bestimmt ist.
• Der Durchlaufvorgang wird durch das A-Taktsignal auf der Leitung 60 und das B-Taktsignal auf der Leitung 70 gesteuert, die von den Mitteln 146 zur Verknüfungssteuerung gesteuert werden. Das A-Taktsignal auf der Leitung 60 und das B-Taktsignal auf der Leitung 70 werden durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung gesteuert, einschließlich der Selbsthalteschaltungen 2, 4, 6 und des Zählers 130. Der Wert, der durchlaufen soll, wird durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung erzeugt und wird auf die Abfrage-Eingabeleitung 62 gegeben. Der spezielle Wert, der für die Verwendung auf der Eingabeleitung 62 ausgewählt wird, ist irrelevant. Es ist nur wichtig, daß der Wert sich während des Durchlaufvorgangs nicht ändert und daß der durch den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 in dem Meßschritt durchgelaufene Wert ein von dem Wert verschiedener ist, der in dem Durchlaufschritt benutzt wurde, so daß der Endpunkt seiner Ausbreitung gefunden werden kann.
• Nachdem der Durchlaufvorgang begonnen hat, ist ein binärer Abwärtszähler 130 vorgesehen, um eine Verzögerung zu schaffen, die die Dauer des Durchlaufvorganges bestimmt. Ein vorgegebener Zeitwert wird durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung ausgewählt und auf die Leitungen 78, 80, 82, 84 gegeben, was genügend Zeit gewährt, um den vollständigen LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu durchlaufen.
• Nachdem der Durchlaufvorgang beendet ist, wird der B-Taktgeber abgeschaltet, wenn der Zahler 130 auf eins abwärtszählt, wodurch die Ausbreitung im dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 gestoppt wird. Dann wird der Wert auf der Eingabeleitung 62 durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung geändert. Der Wert wird gegenüber dein vorherigen Wert, der sich in dem LSSD- Abfragepfad 10, 12, 14 ausgebreitet hat, geändert, so daß, wenn er sich teilweise in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 ausgebreitet hat, sein Endpunkt festgestellt werden kann. Es wird ein B-Taktimpuls vorgegebener Breite erzeugt, der den geänderten Wert des Eingabesignals auf der Leitung 62 in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 fortleitet. Die Impulsbreite wird so ausgewählt, daß der Eingabewert auf der Leitung 62 sich nicht durch den gesamten LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 ausbreitet.
• Die Impulsbreite wird durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung gemäß der Anzahl von LSSD-Selbsthalteschaltungen auf dem Chip ausgewählt. Je kürzer der Abfragepfad auf dem Chip ist, um so schmaler ist die Impulsbreite. Entsprechend ist die Impulsbreite um so größer, je länger der Abfragepfad ist. Während eine schmale Impulsbreite, die für einen kurzen Abfragepfad ausgewählt wurde, auf längeren Abfragepfaden wirken würde, erlaubt das Auswählen großer Impulsbreiten das Vornehmen genauerer Messungen. Die Benutzung des Zählers 130 ermöglicht es den Mitteln 146 zur Verknüpfungssteuerung, die Impulsbreite für den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu programmieren. Dies wiederum ermöglicht die Benutzung eines einzelnen Zählers 130 für mehrere LSSD-Schaltungen, die einen weiten Bereich von möglichen Längen der Abfragepfade aufweisen. Die Auswahl der geeigneten Impulsbreite kann in einer Reihe von Wegen implementiert werden, einschließlich einer Hardware- Implementierung oder mittels einer Programmsteuerung durch Software.
• Wenn der B-Taktimpuls durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung aktiviert wird, beginnt der neue Wert des Eingabesignals auf der Leitung 62, der gesetzt wurde, nachdem der Durchlaufvorgang beendet war, den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu durchlaufen. Wenn der B-Taktimpuls auf der Leitung 70 beendet wird, stoppt er den Durchlaufvorgang. Zu diesem Zeitpunkt hat sich die eingegebene Angabe teilweise in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 ausgebreitet. Bekannte LSSD- Verfahren können dann benutzt werden, um zu bestimmen, wie weit das Eingabesignal sich durch serielles Verschieben der Angabe in dem Abfragepfad ausgebreitet hat. Der Wert, der die Strecke definiert, über die das Eingabesignal auf der Leitung 62 sich durch den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 ausgebreitet hat, wird als Wechselstrom-Zeitmeßangabe benutzt.
• Die Vergleichsmittel 144 werden benutzt, um die Wechselstrom- Zeitmeßangabe mit den vorgegebenen Klassifizierungsdaten für die Wechselstromleistung zu vergleichen, die in dem Speichermittel 142 festgehalten werden, das eine Anzahl möglicher Wechselstrom-Chipleistungskategorien vorgibt. Die Klassifizierungsdaten für die Wechselstromleistung brauchen nur einmal geschaffen zu werden, wenn das Chip entworfen wird, und müssen danach nicht erneut geschaffen werden. Typischerweise können zehn oder mehr Kategorien benutzt werden. Für Zwecke der Erläuterung wird jedoch angenommen, daß drei Kategorien benutzt werden, die schnelle, nominale und langsame Chips repräsentieren.
• Es wird auf Fig. 1 Bezug genommen. Nachdem der LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 einmal in den Abfragemodus gebracht wurde, lassen die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung den LSSD- Abfragepfad 10, 12, 14 unter der Steuerung der drei Steuerleitungen 60, 62, 70 durchlaufen. Das Bringen einer LSSD- Schaltung in den Abfragemodus ist in der Technik gut bekannt. Der logische Zustand, der den LSSD-Abfragepfad durchlaufen soll, wird auf die Eingabeleitung 62 gegeben. Dann werden die Steuerleitungen 60, 70 wie folgt in einen aktiven Zustand gebracht: Die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung aktivieren das Signal 54 Starte Eichen und das Signal 128 Eichvorgang, diese wiederum aktivieren die Torschaltung 4, die das A-Taktsignal auf der Leitung 60 aktiviert. Da zu diesem Zeitpunkt das Signal Eichen Rücksetzen auf der Leitung 56 nicht aktiv ist, schaltet das Signal Starte Eichen die Selbsthaltoschaltung 2 ein, die das andere Eingangssignal für die Torschaltung 4 liefert. Das Steuersignal 60 für den A-Taktgeber wird durch Aktivieren des UND-Gliedes 4 gesteuert.
• Der B-Taktgeber wird aktiviert, wenn die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung das Signal Starte Zählung auf der Leitung 74 aktivieren und einen vorgegebenen Zeitwert auf die Leitungen 78, 80, 82, 84 geben, was den Zähler 130 startet. Die Selbsthalteschaltung 8, die anfänglich in ihrem inaktiven Zustand ist, wird durch das Signal Starte Zählung auf der Leitung 74 eingeschaltet, die für einen Zyklus durch den Service Prozessor 140 aktiviert wird. Das Signal Staite Zählung schaltet auch die Zählbits 0-3 auf den Leitungen 78, 80, 82, 84 durch, die durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung inä tialisiert werden, um einen Wert zu enthalten, der die Zeitdauer angibt, um den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu durchlaufen. Die Zähler-Torschaltung 48 und das Signal Starte Zählung auf der Leitung 74 aktivieren die Selbsthalteschaltung 8, die sich anfänglich im inaktiven Zustand befand, der in Kombination mit dem aktiven Signal Eichvorgang auf der Leitung 128 die Torschaltung 6 aktiviert, die den B-Taktgeber auf der Leitung 70 einschaltet. Die drei Steuerleitungen 60, 62, 70 werden während einer Dauer in den ausgewählten Zuständen gehalten, die lang genug ist, um das Ausbreiten des Eingabesignals 62 in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 zu ermöglichen.
• Der durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung ausgewählte vorbestimmte Zeitwert wird zu den Torschaltungen 16, 18, 20, 22 des Zahlers 130 gebracht und hinter der Steuerung der Takt Impulse auf den Leitungen 112, 114, 116, 118, 120, 122, 124, 126 verringert. Wie die Taktimpulse auf den Leitungen 112, 114, 116, 118, 120, 122, 124, 126 zu erzeugen sind, ist gut bekannt und kann unter anderen Quellen von dem Systemoszillator geliefert werden. Der Zähler selbst ist ein üblicher binärer 4-Bit-Abwärtszähler, der in der Technik bekannt ist. Wenn der Wert in dem Zähler gleich eins ist, wird die Schaltung 48 aktiviert, die die Selbsthalteschaltung 8 rücksetzt. Die Selbsthalteschaltung 8 ihrerseits setzt das B-Taktsignal auf Leitung 70 rück, was die Ausbreitung in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 beendet. Wenn dann der Zähler 130 auf null abwärts zählt, sperrt die Schaltung 52 den Zähler 130 und friert den Wert bei null ein, wodurch das Signal auf der Steuerleituiig 76 rückgesetzt wird, um das Ausführen des nächsten Zählvorgangs zu ermöglichen.
• An diesem Punkt ist der LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 durchlaufen worden und der Beginn der Messung der Wechselstromleistung des Abfragepfades steht unmittelbar bevor. Das A-Taktsignal auf der Leitung 60 ist zu diesem Zeitpunkt noch aktiv und das B-Taktsignal auf der Leitung 70 ist inaktiv. Als nächstes wird das Eingabesignal auf der Leitung 62 durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung auf den entgegengesetzten Wert gesetzt. Das Signal Eichvorgang auf der Leitung 128 ist zu diezem Zeipunkt noch aktiv. Der vorgegebene Zeitwert, der die Dauer der Abfrage angibt, wird durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung ausgewählt und auf die Leitungen 78, 80, 82, 84 gegeben. Die Wechselstrommessung wird durch die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung begonnen, wenn das Signal Starte Zählung auf der Leitung 74 für einen Zyklus aktiviert wird. Gleichzeitig aktiviert das Signal Starte Zählung auf der Leitung 74 die Selbsthalteschaltung 8, die die Torschaltung 6 durchschaltet. Die Torschaltung 6 aktiviert das B-Taktsignal auf der Leitung 70, was einen Durchlaufvorgang durch den LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 einleitet. Der LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14 fährt mit dem Durchlaufvorgang fort, bis er durch den Zähler 130 rückgesetzt wird, der die Selbsthalteschaltung 8 in der gleichen Weise rücksetzt wie das beim Initialisieren des LSSD- Abfragepfades 10, 12, 14 erfolgte. Wenn der B-Taktimpuls auf der Leitung 70 durch den Zähler 130 deaktiviert wird, stoppt das Eingabesignal auf der Leitung 62 die Ausbreitung in dem LSSD-Abfragepfad 10, 12, 14. Als nächstes aktivieren die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung das Signal Eichung Rücksetzen auf der Leitung 56, was den A-Taktimpuls auf der Leitung 60 abschaltet.
• Für die Zwecke der Beschreibung des bevorzugten Ausführungsbeispiels sind die Klassifizierungsdaten für die Wechselstromleistung, die für den Vergleich mit der Wechselstrom-Zeitmeßangabe benutzt werden, um die Wechselstrom-Chipleistung zu kategorisieren, in den Speichermitteln des Service-Prozessors gespeichert. Sie können jedoch an jedem leicht zugänglichen Platz gespeichert werden, der sich in dem Service- Prozessor 140, einem Systemspeichermittel oder selbst an einein entfernten Ort befinden kann. Darüberhinaus müssen die Vergleichsmittel 144 nicht in dem Service-Prozessor lokalisiert sein. Sie können auch da lokalisiert sein, wo immer es zweckdienlich ist. Z . B. kann ein entfernter Prozessor durch das Service-Personal benutzt werden, um die Wechselstrom-Chipleistung aus der Entfernung zu bewerten, wodurch für Zugriff auf das System durch hochqualifiziertes technisches Personal gesorgt wird, ohne daß dessen Anwesenheit am Aufstellungsort erforderlich ist
• Die Erfindung hat viele Vorteile einschließlich der Fähikeit, die Wechselstrom-Chipleistungsangabe in einem einzigen Durchlauf zu kategorisierein, der Fähigkeit der Ausführung ohne externes Testgerät und der Fähigkeit, die Wechselstrom- Chipleistung in einer Arbeitsumgebung im Feld zu messen sowie in Herstellungs- und Testumgebungen.
• Die Speichermittel 142, die Vergleichsmittel 144 und die Mittel 146 zur Verknüpfungssteuerung, die als Teil des Service-Prozessors 140 dargestellt sind, könnten getrennt von dem Service-Prozessor 140 in einer Reihe von Wegen als Plattenspeicher, Blasenspeicher oder selbst an einem entfernten Ort implementiert werden. Zusätzlich können andere Merkmale, wie der Vergleich, lokal oder entfernt durchgeführt werden. Einzelheiten der Schaltung können ebenfalls variieren. Z.B. kann das A-Taktsignal anstelle des B-Taktsignals benutzt werden, um die Pulsbreite zu steuern. Ebenso kann die Steuerleltung 62 für die Eingabe an jedem Punkt während des Durchlaufvorgangs aktiviert werden. Ebenso könnte die programmierbare Logik für die Taktsteuerung als Software implementiert werden. Demgemäß soll die hier beschriebene Erfindung nur beschränkt Sein wie in den folgenden Patentansprüchen angegeben.

Claims (5)

1. Einrichtung zum Testen der Wechselstrom-Leistungsgrade in LSSD-Chips mit integrierter Schaltung, wobei die Einrichtung in ein System integriert ist, das zu testende LSSD-Chips mit integrierter Schaltung aufweist, und die Einrichtung umfaßt:

eine zu testende integrierte LSSD-Schaltung, die einen LSSD-Abfragepfad (62) und Taktleitungen (60, 70) aufweist,

Mittel (146) zur Verknüpfungssteuerung, die Mittel für das Durchlaufen des Abfragepfades einschließen zum Initialisieren jeder Selbsthalteschaltung (10, 12, 14) in dem LSSD-Abfragepfad auf einen ersten gleichbleibenden Wert,

Mittel (130) zur Zeitmessung für das Abmessen eines vorgegebenen Zeitabschnittes, der durch die Mittel (146) zur Verknüfungssteuerung bereitgestellt wird,

Mittel (2, 4, 6, 8) zur Taktsteuerung, die mit den Mitteln (146) zur Verknüpfungssteuerung und den Meßmitteln (130) verbunden sind zum Aktivieren und Deaktivieren der Taktleitungen in Übereinstimmung mit dem vorgegebenen Zeitabschnitt, um Wechselstrom-Zeitmeßdaten in dem LSSD-Abfragepfad zu erzeugen, wobei die Wechselstrom-Zeitmeßdaten eine Ausbreitungsstrecke definieren, über die sich ein Abfragesignal in dem LSSD- Abfragepfad ausgebreitet hat, und die Mittel (2, 4, 6, 8) zur Taktsteuerung einen Taktimpuls (A oder B) von vorgegebener Breite zum Steuern des Betrages an Zeit erzeugen, der das Ausbreiten eines zweiten gleichbleibenden, von dem ersten gleichbleibenden Wert verschiedenen Wertes in dem LSSD-Abfragepfad zuläßt, und die Strecke, über die sich der zweite gleichbleibende Wert in dem Abfragepfad ausgebreitet hat, die Ausbreitungsstrecke definiert,

Speichermittel (142) zum Speichern von die Wechselstrom- Chipleistung klassifizierenden Daten und

Vergleichsmittel (144) zum Vergleichen der Wechselstrom- Zeitmeßdaten mit den Klassifizierungsdaten der Wechselstromleistung, wobei die integrierte Schaltung gemäß der Gesamt-Wechselstromleistung der Schaltung klassifiziert wird.

2. Einrichtung nach Anspruch 1, bei der die Mittel (146) zur Verknüpfungssteuerung weiter Mittel zum Programmieren der Breite der Taktsignale einschließen.

3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Abmessen eines vorgegebenen Zeitabschnittes einen Zähler (130) umfassen, der anfänglich durch die Mittel (146) zur Verknüpfungssteuerung auf einen vorgegebenen Wert gesetzt wird, der dann bis auf einen Endwert (0 oder 1) verringert wird, wodurch der vorgegebene Zeitabschnitt bereitgestellt wird.

4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die vorgegebenen Werte die LSSD-Pfadlängen darstellen die dem im Test befindlichen LSSD-Chip mit integrierter Schaltung innewohnen und die in der integrierten Einrichtung gespeichert sind.

5. Verfahren zum Testen der Wechselstrom-Leistungsgrade in LSSD-Chips mit integrierter Schaltung unter Benutzung der Einrichtung nach Anspruch 1, deren Selbsthalteschaltungen zuerst seriell in einen Durchlaufmodus des Abfragepfades gebracht werden,

wobei danach der Abfragepfad in den Abfragemodus gebracht wird, in dem jede Selbsthalteschaltung auf einen ersten, gleichbleibenden Wert gesetzt wird,

worauf ein zweiter gleichbleibender Wert, der von dem ersten gleichbleibenden Wert verschieden ist, sich in dem Abfragepfad während eines vorgegebenen Zeitabschnittes ausbreitet, der durch Anlegen eines Taktimpulses (A oder B) von vorgegebener Breite an jede Selbsthalteschaltung des Abfragepfades erzeugt wird, wobei die vorgegebene Impulsbreite zeitlich dem vorgegebenen Zeitabschnitt gleich ist,

worauf die Anzahl von Selbsthalteschaltungen in dem Abfragepfad bestimmt wird, die von dem zweiten gleichbleibenden Wert durchlaufen wurden, um einen Meßwert zu erhalten, z . B. eine Wechselstrom-Zeitmeßangabe, die eine Ausbreitungsstrecke definiert,

worauf der Meßwert mit vorgegebenen Klassifizierungsdaten für die Wechselstromleistung verglichen wird und

die Wechselstrom-Chipleistung der LSSD-Schaltung aufgrund des Vergleichs mit dem Meßwert kategorisiert wird.