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DE602008001397D1 - Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit - Google Patents

Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit

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Publication number
DE602008001397D1
DE602008001397D1 DE602008001397T DE602008001397T DE602008001397D1 DE 602008001397 D1 DE602008001397 D1 DE 602008001397D1 DE 602008001397 T DE602008001397 T DE 602008001397T DE 602008001397 T DE602008001397 T DE 602008001397T DE 602008001397 D1 DE602008001397 D1 DE 602008001397D1
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DE
Germany
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program
surface quality
measuring surface
measuring
quality
Prior art date
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Active
Application number
DE602008001397T
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Noda
Hiromi Deguchi
Naoya Kikuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
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Active legal-status Critical Current
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
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    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
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