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DE60126191T2 - CMOS Bustreiber - Google Patents

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DE60126191T2
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circuit
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Gerd Rombach
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Texas Instruments Deutschland GmbH
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Texas Instruments Deutschland GmbH
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00315Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf eine CMOS-Bustreiberschaltung mit einer Eingangsstufe aus zwei komplementären MOS-Transistoren, deren Source-Drain-Strecken in Serie zwischen einer Versorgungsspannungsklemme und einer Masseklemme liegen und deren verbundene Gate-Anschlüsse den Schaltungseingang bilden, sowie einer Ausgangsstufe aus zwei komplementären MOS-Transistoren, deren Source-Drain-Strecken ebenfalls in Serie zwischen der Versorgungsspannungsklemme und der Masseklemme liegen, wobei der Gate-Anschluss des einen MOS-Transistors der Ausgangsstufe mit dem Verbindungspunkt der Source-Drain-Strecken der MOS-Transistoren der Eingangsstufe verbunden ist, während der Gate-Anschluss des anderen MOS-Transistors der Ausgangsstufe über einen Negator mit dem Schaltungseingang in Verbindung steht und der Verbindungspunkt der Source-Drain-Strecken der beiden MOS-Transistoren der Ausgangsstufe den Schaltungsausgang bildet.
  • Es ist üblich, in integrierten Schaltungen vorhandene Schaltungseinheiten oder auch integrierte Schaltungen insgesamt über einen Bus miteinander zu verbinden, wobei als Kopplungsstufen zwischen den Schaltungseinheiten und dem Bus jeweils eine Treiberschaltung verwendet wird. In modernen integrierten Schaltungen sind diese Treiberschaltungen als CMOS-Treiberschaltungen ausgeführt, in denen sowohl die Eingangsstufe als auch die Ausgangsstufe aus zwei in Serie geschalteten, komplementären MOS-Transistoren besteht. Dies bedeutet, dass in der Ausgangsstufe die Source-Drain-Strecke eines PMOS-Transistors und die Source-Drain-Strecke eines NMOS-Transistors in Serie zwischen einer Versorgungsspannungsklemme und einer Masseklemme liegen, wobei die Verbindung der beiden Source-Drain-Strecken den Schaltungsausgang bildet. Da mit dem Bus verschiedenartige Treiberschaltungen verbunden sind, kann es in der Praxis vorkommen, dass am Schaltungsausgang eines Bustreibers eine Spannung auftritt, die höher als die Versorgungsspannung eines solchen Bustreibers ist. Dies tritt insbesondere dann ein, wenn Schaltungseinheiten mehrerer integrierter Schaltungsbausteine oder integrierter Schaltungen mit einem Bus verbunden werden, die für verschieden hohe Versorgungsspannungen ausgelegt sind. So kann es vorkommen, dass ein Treiber an den Bus ein Signal anlegt, dessen Spannungswert höher als die Versorgungsspannung eines anderen, ebenfalls mit dem Bus verbundenen Treibers ist. Ein für Mischspannungskreise geeigneter CMOS-Bustreiber ist in Martin B. C.: „Tips for straddling the 3 V to 5 V fence", Electronic Design, Band 42, Nr. 7, 04.04.94 beschrieben.
  • In integrierten Schaltungen ist der PMOS-Transistor der Ausgangsstufe in der Regel ein Transistor vom Anreicherungstyp, bei dem die Gate-Spannung stets die höchste in der Schaltung vorhandene Spannung sein muss, damit dieser Transistor gesperrt werden kann. Wenn nun aber der Fall eintritt, dass dem Drain-Anschluss dieses Transistors vom Bus her eine Spannung zugeführt wird, die höher als die Versorgungsspannung des Treibers ist, dann steht eine Spannung zur Verfügung, die durch Anlegen an den Gate-Anschluss den PMOS-Transistor sperren kann. Der in diesem Fall eintretende leitende Zustand des PMOS-Transistors könnte sogar zu dessen Zerstörung führen.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine CMOS-Bustreiberschaltung der eingangs angegebenen Art zu schaffen, die mit geringem Schaltungsaufwand gegen den Fall geschützt ist, dass dem Schaltungsausgang eine Spannung zuführt wird, die höher als die zur Verfügung stehende Versorgungsspannung ist.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass zwischen den Schaltungsausgang und den Gate-Anschluss eines MOS-Transistors der Ausgangsstufe die Gate-Source-Strecke eines weiteren MOS-Transistors vom gleichen Leitungstyp liegt, dessen Gate-Anschluss mit der Versorgungsspannungsklemme verbunden ist, dass in die Verbindung der Source-Drain-Strecken der MOS-Transistoren der Eingangsstufe eine Diode so eingefügt ist, dass das Fließen eines Stromes in Richtung zu dem mit der Versorgungsspannungsklemme verbundenen MOS-Transistor der Eingangsstufe blockiert wird, wobei ihre Katode mit dem Gate-Anschluss des einen MOS-Transistors der Ausgangsstufe verbunden ist, und dass ein Sperrschaltungsteil vorgesehen ist, der die Ausgangsstufe in einen hochohmigen Zustand versetzt, wenn der Treiberschaltung kein Freigabesignal zur Busansteuerung zugeführt wird.
  • Die Erfindung wird nun anhand der Zeichnung erläutert, deren einzige Figur ein Schaltbild der erfindungsgemäßen CMOS-Bustreiberschaltung zeigt.
  • Die in der Zeichnung dargestellte Bustreiberschaltung 10 enthält eine Eingangsstufe mit einem PMOS-Transistor P1 und einem NMOS-Transistor N1. Die Gate-Anschlüsse dieser beiden Transistoren sind miteinander verbunden und bilden einen Schaltungseingang 12 der Bustreiberschaltung 10. Die Source-Drain-Strecken der beiden Transistoren sind unter Zwischenschaltung einer Diode D in Serie zwischen eine Versorgungsspannungsklemme 14 und eine Masseklemme 16 eingefügt. Die Diode D ist dabei so zwischen die beiden Source-Drain-Strecken eingefügt, dass ein Stromfluss in Richtung zum PMOS-Transistor P1 verhindert wird.
  • Die Bustreiberschaltung 10 enthält ferner eine Ausgangsstufe mit einem PMOS-Transistor P2 und einem NMOS-Transistor N2, deren Source-Drain-Strecken zwischen der Versorgungsspannungsklemme 14 und der Masseklemme 16 in Serie geschaltet sind. Der Verbindungspunkt der beiden Source-Drain-Strecken bildet den Schaltungsausgang 18 der Bustreiberschaltung 10. Der Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 ist mit dem Verbindungspunkt zwischen dem Drain-Anschluss des NMOS-Transistors N1 und der Katode der Diode verbunden.
  • Zwischen dem Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 und dem Schaltungsausgang 18 liegt die Source-Drain-Strecke eines weiteren PMOS-Transistors P3, dessen Gate-Anschluss mit der Versorgungsspannungsklemme 14 verbunden ist. Die Source-Drain-Strecke eines weiteren PMOS-Transistors P4 liegt parallel zur Diode D, wobei der Gate-Anschluss dieses PMOS-Transistors P4 mit dem Schaltungsausgang 18 verbunden ist.
  • Parallel zur Source-Drain-Strecke des PMOS-Transistors P1 liegt die Source-Drain-Strecke eines weiteren PMOS-Transistors P5, dessen Gate-Anschluss mit dem Gate-Anschluss eines NMOS-Transistors N3 verbunden ist, dessen Source-Drain-Strecke zwischen dem Source-Anschluss des NMOS-Transistors N1 und Masse liegt. Die verbundenen Gate-Anschlüsse des PMOS-Transistors P5 und des NMOS-Transistors N3 sind über einen Negator N mit einem Eingang einer NOR-Schaltung NOR verbunden, deren anderer Eingang mit dem Schaltungseingang 12 verbunden ist. Der Ausgang der NOR-Schaltung NOR ist mit dem Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N2 verbunden. Außerdem sind die verbundenen Gate-Anschlüsse des PMOS-Transistors P5 und des NMOS-Transistors N3 mit einem Freigabeeingang EN verbunden.
  • Die Wirkungsweise der Bustreiberschaltung 10, wie sie in der Zeichnung dargestellt ist, wird zunächst für den Fall beschrieben, dass am Freigabeeingang EN ein Signal mit dem hohen Binärwert "H" anliegt und dass an dem mit dem Schaltungsausgang 18 verbundenen Bus keine Spannung auftritt, die höher als die an der Versorgungsspannungsklemme 14 anliegende Versorgungsspannung der Bustreiberschaltung ist. Durch das "H"-Signal am Freigabeeingang EN wird der PMOS-Transistor P5 gesperrt und der NMOS-Transistor N3 in den leitenden Zustand versetzt. Über den Negator N wird dem einen Eingang der NOR-Schaltung ein Signal mit dem Binärwert "L" zugeführt. Es wird angenommen, dass an die Ausgangsstufe der Schaltung und damit an den Schaltungsausgang 18 ein Signal mit dem niedrigen Binärwert "L" angelegt werden soll. Da die Bustreiberschaltung keine invertierende Wirkung hat, bedeutet dies, dass dies dadurch erreicht wird, dass an den Schaltungseingang 12 ebenfalls ein Signal mit dem niedrigen Binärwert "L" angelegt wird. Dies hat zur Folge, dass der PMOS-Transistor P1 eingeschaltet wird, während der NMOS-Transistor N1 gesperrt wird. Am Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 tritt daher eine hohe Spannung auf, die diesen Transistor sperrt. Über die NOR-Schaltung NOR gelangt an den Gate-Anschluss des NMOS-Transistors N2 ein Signal mit hohem Spannungswert, das diesen Transistor in den leitenden Zustand versetzt. Am Schaltungsausgang 18 tritt daher wie gewünscht das Signal mit dem niedrigen Signalwert L auf, das somit an den Bus angelegt wird. Der niedrige Signalwert am Schaltungsausgang 18 hat zur Folge, dass der PMOS-Transistor P3, dessen Gate-Anschluss an der Versorgungsspannung liegt, gesperrt wird, während der PMOS-Transistor P4 in den leitenden Zustand versetzt wird. Aufgrund des leitenden Zustands des PMOS-Transistors P4 ist die Diode D kurzgeschlossen und damit unwirksam.
  • Für den Fall, dass am Schaltungsausgang 18 ein Signal mit dem hohen Binärwert "H" erzeugt und an den Bus angelegt werden soll, muss auch dem Schaltungseingang 12 ein solches Signal "H" zugeführt werden. Die Transistoren P1, P2, P4, N1 und N2 in der Treiberschaltung kehren ihre Zustände um. Die mit der NOR-Schaltung einen Sperrschaltungsteil bildenden Transistoren P5, N3 ändern ihren Zustand nicht, da am Freigabeeingang EN weiterhin das "H"-Signal anliegt. Auch der PMOS-Transistor P3 bleibt gesperrt, da sein Gate-Anschluss an die höchste in der Schaltung vorkommende Spannung, nämlich die Versorgungsspannung, gelegt ist.
  • Nun wird der Fall betrachtet, dass die Treiberschaltung durch ein "L"-Signal am Freigabeeingang EN deaktiviert wird und dass über den Bus von einer anderen Treiberschaltung an den Schaltungsausgang 18 eine Spannung gelangt, die höher als die Versorgungsspannung an der Versorgungsspannungsklemme ist. Das "L"-Signal am Freigabeeingang EN hat zur Folge, dass die NMOS-Transistoren N2 und N3 gesperrt werden. Wie oben erwähnt wurde, muss der PMOS-Transistor P2 immer in den zum NMOS-Transistor N2 entgegengesetzten Zustand versetzt werden, wenn am Schaltungsausgang 18 das Signal mit dem hohen Binärwert "H" oder das Signal mit dem niedrigen Binärwert "L" auftritt, also auch dann, wenn die vom Bus kommende Spannung höher als die Versorgungsspannung ist. Der PMOS-Transistor P2 kann nur dann zuverlässig gesperrt werden, wenn sein Gate-Anschluss an die höchste vorkommende Spannung gelegt wird, im Normalfall also an die Spannung an der Versorgungsspannungsklemme 14. Wenn dann die Spannung am Schaltungsausgang 18 einen höheren Wert als die Versorgungsspannung annimmt, ist es normalerweise nicht mehr möglich, den PMOS-Transistor P2 dadurch zu sperren, dass sein Gate-Anschluss an die Versorgungsspannung gelegt wird. Der PMOS-Transistor P3 sorgt in der dargestellten Bustreiberschaltung jedoch dafür, dass in diesem Fall die höhere Spannung am Schaltungsausgang 18 an den Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 gelegt wird, so dass dieser dadurch zuverlässig in den gesperrten Zustand versetzt wird. Der PMOS-Transistor P3 geht nämlich durch die höhere Spannung am Schaltungsausgang 18 in den leitenden Zustand über, so dass diese Ausgangsspannung über die Source-Drain-Strecke an den Gate-Anschluss des PMOS-Transistors P2 gelangt.
  • Da, wie schon erwähnt, aufgrund des "L"-Signals am Freigabeeingang EN die NMOS-Transistoren N2 und N3 bereits gesperrt sind, fließt vom Schaltungsausgang 18 über den PMOS-Transistor P3 und den NMOS-Transistor N1 weder zur Masseklemme 16 noch zur Versorgungsspannungsklemme 14 Strom, da dies einerseits durch den gesperrten NMOS-Transistor N3 und andererseits durch die Diode D verhindert wird. Der Schaltungsausgang 18 ist somit gegenüber dem Bus hochohmig, so dass kein Strom vom Bus her in die Treiberschaltung fließen kann. Da sich der PMOS-Transistor P3 dabei in leitendem Zustand befindet, wird der PMOS-Transistor P2 in der Ausgangsschaltungsstufe zuverlässig gesperrt, so dass er nicht durch einen vom Schaltungausgang 18 zur Versorgungsspannungsklemme 14 fließenden Strom zerstört werden kann.
  • Ohne den PMOS-Transistor P4 würde die Diode D die Bustreiberschaltung im Normalfall, also dann, wenn am Schaltungsausgang 18 keine Spannung mit höherem Wert als die Versorgungsspannung auftritt, nachteilig beeinflussen. Die Durchlassspannung der Diode, die gleich oder größer als die Schwellenspannung des PMOS-Transistors P2 ist, würde ein vollständiges Sperren dieses PMOS-Transistors verhindern, wenn am Schaltungsausgang 18 ein Signal mit dem Binärwert "L" abgegeben werden soll. Gerade bei neuen Prozessen bei der Herstellung von integrierten Schaltungen nehmen die Schwellenspannungen der Feldeffekttransistoren aber immer kleinere Werte an, während die Durchlassspannung der Dioden konstant bleibt, so dass dies zu einem ernsten Problem wird. Da die Diode im genannten Fall jedoch durch den PMOS-Transistor P4 überbrückt wird, so dass ihre Durchlassspannung keine Auswirkung haben kann, kann der PMOS-Transistor P2 sicher schnell in den gesperrten Zustand versetzt werden.
  • In der beschriebenen Bustreiberschaltung wird zuverlässig unter allen Umständen verhindert, dass ein Strom von der Versorgungsspannungsklemme 14 über den PMOS-Transistor P2 und den NMOS-Transistor N2 nach Masse fließt. Dies gilt auch für den kritischen Fall, wenn die Spannung am Schaltungsausgang 18 höher als die Versorgungsspannung wird. Das Kurzschließen der Diode D mit Hilfe des PMOS-Transistors P4 sorgt in diesem Fall dafür, dass der Übergang in den Sperrzustand sehr schnell erfolgen kann. Für die Schaltvorgänge kann der volle Versorgungsspannungsbereich ausgenutzt werden, was besonders dann vorteilhaft ist, wenn der Versorgungsspannungsbereich kleine Werte annimmt.

Claims (3)

  1. CMOS-Bustreiberschaltung mit einer Eingangsstufe aus zwei komplementären MOS-Transistoren (P1, N1), deren Source-Drain-Strecken in Serie zwischen einer Versorgungsspannungsklemme (14) und einer Masseklemme (16) liegen und deren verbundene Gate-Anschlüsse den Schaltungseingang (12) bilden, sowie einer Ausgangsstufe aus zwei komplementären MOS-Transistoren (P2, N2), deren Source-Drain-Strecken ebenfalls in Serie zwischen der Versorgungsspannungsklemme (14) und der Masseklemme (16) liegen, wobei der Gate-Anschluss des einen MOS-Transistors der Ausgangsstufe mit dem Verbindungspunkt der Source-Drain-Strecken der MOS-Transistoren der Eingangsstufe verbunden ist, während der Gate-Anschluss des anderen MOS-Transistors der Ausgangsstufe über eine NOR-Schaltung (NOR) mit dem Schaltungseingang in Verbindung steht und der Verbindungspunkt der Source-Drain-Strecken der beiden MOS-Transistoren der Ausgangsstufe den Schaltungsausgang (18) bildet, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen den Schaltungsausgang (18) und den Gate-Anschluss eines MOS-Transistors (P2) der Ausgangsstufe die Gate-Source-Strecke eines weiteren MOS-Transistors (P3) vom gleichen Leitungstyp liegt, dessen Gate-Anschluss mit der Versorgungsspannungsklemme (14) verbunden ist, dass in die Verbindung der Source-Drain-Strecken der MOS-Transistoren der Eingangsstufe eine Diode (D) so eingefügt ist, dass das Fließen eines Stromes in Richtung zu dem mit der Versorgungsspannungsklemme (14) verbundenen MOS-Transistor (P1) der Eingangsstufe blockiert wird, wobei ihre Katode mit dem Gate-Anschluss des einen MOS-Transistors (P2) der Ausgangsstufe verbunden ist, und dass ein Sperrschaltungsteil (N3, P5, NOR) vorgesehen ist, der die Ausgangsstufe (P2, N2) in einen hochohmigen Zustand versetzt, wenn der Treiberschaltung kein Freigabeeingangssignal (EN) zur Busansteuerung zugeführt wird.
  2. CMOS-Bustreiberschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Sperrschaltungsteil einen MOS-Transistor (P5) parallel zum MOS-Transistor (P1) des gleichen Leitungstyps in der Eingangsstufe, einen weiteren MOS-Transistor (N3) vom entgegengesetzten Leitungstyp zwischen den beiden MOS-Transistoren der Eingangsstufe und den Massenklemmen (16) und eine NOR-Schaltung (NOR) enthält, wobei der eine Eingang der NOR-Schaltung (NOR) mit dem Schaltungseingang (12) verbunden ist, der andere Eingang mit dem Ausgang des Negators (N) verbunden ist und der Ausgang der NOR-Schaltung (NOR) mit dem Gate-Anschluss des anderen MOS-Transistors (N2) verbunden ist, und wobei die Gate-Anschlüsse der MOS-Transistoren (P5, N3) sowie der Eingang des Negators (N) mit einem Freigabeeingang (EN) verbunden sind.
  3. CMOS-Bustreiberschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass parallel zu der Diode (D) die Source-Drain-Strecke eines MOS-Transistors (P4) liegt, dessen Gate-Anschluss mit dem Schaltungsausgang (18) verbunden ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4625897A1 (de) 2024-03-28 2025-10-01 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und system zur elektrischen übertragung von symbolen

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE20120516U1 (de) * 2001-12-19 2003-04-30 Johnson Controls GmbH, 51399 Burscheid Belüftungssystem für ein Polsterteil
US7332935B2 (en) * 2006-06-21 2008-02-19 Standard Microsystems Corporation Driver with variable output voltage and current
US20090237126A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Gate driver for switching power mosfet

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5338978A (en) * 1993-02-10 1994-08-16 National Semiconductor Corporation Full swing power down buffer circuit with multiple power supply isolation
US5600267A (en) * 1994-06-24 1997-02-04 Cypress Semiconductor Corporation Apparatus for a programmable CML to CMOS translator for power/speed adjustment
US5966026A (en) * 1995-02-14 1999-10-12 Advanced Micro Devices, Inc. Output buffer with improved tolerance to overvoltage
US5576635A (en) * 1995-02-14 1996-11-19 Advanced Micro Devices, Inc. Output buffer with improved tolerance to overvoltage
DE69521598T2 (de) * 1995-03-31 2002-07-11 Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno, Catania CMOS Ausgangspuffer mit drei Zuständen
DE19602456C1 (de) * 1996-01-24 1997-04-10 Texas Instruments Deutschland BiCMOS/CMOS-Schaltung
JP3340906B2 (ja) * 1996-03-13 2002-11-05 株式会社 沖マイクロデザイン 出力回路
US5892377A (en) * 1996-03-25 1999-04-06 Intel Corporation Method and apparatus for reducing leakage currents in an I/O buffer
US5952848A (en) * 1997-03-14 1999-09-14 Lucent Technologies Inc. High-voltage tolerant input buffer in low-voltage technology
US5926056A (en) * 1998-01-12 1999-07-20 Lucent Technologies Inc. Voltage tolerant output buffer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4625897A1 (de) 2024-03-28 2025-10-01 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und system zur elektrischen übertragung von symbolen
WO2025201678A1 (de) 2024-03-28 2025-10-02 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und system zur elektrischen übertragung von symbolen

Also Published As

Publication number Publication date
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US20020024101A1 (en) 2002-02-28
EP1168624A3 (de) 2003-09-03
DE60126191D1 (de) 2007-03-15
DE10031837C1 (de) 2001-06-13
EP1168624A2 (de) 2002-01-02
US6411125B1 (en) 2002-06-25

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