DE550300T1 - Kompakter optischer hochaufloesender sensor fuer das messen dreidimensionaler formen. - Google Patents
Kompakter optischer hochaufloesender sensor fuer das messen dreidimensionaler formen.Info
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1. Optischer Sensor für dreidimensionale Formen, welcher einen Laser
aufweist, der ein ebenes, flaches Strahlenbündel (4) erzeugt, das die
Oberfläche eines Objekts (2) auf eine Weise beleuchtet, um auf diesem eine einfallende, krummlinige Leuchtspur (5) zu erzeugen, welche durch
mindestens eine Videokamera analysiert wird, die eine in numerische Daten umgewandelte, Pixel koordinaten repräsentierende Information erzeugt,
gekennzeichnet durch einen Lichtkasten (100), der, in einem Gehäuse
oberhalb des zu analysierenden Objekts in einer geringen Distanz von diesem angeordnet, enthält:
- den besagten Laser (110), der ein geradliniges, gerichtetes
Strahlenbündel erzeugt,
- optische Mittel (120) zum Umwandeln des geradlinigen Strahlenbündels
in ein ebenes, flaches Strahlenbündel und
- Mittel zum Erweitern der optischen Erstreckung des Strahlenbündels
(140), die zwei ebene, fixierte Spiegel (142, 143) enthalten, die sich gegenüberliegend in einer Weise angeordnet
sind, um eine Mehrzahl von Reflexionen zwischen einem Eintrittsort (141) und einem Austrittsort (144) des Strahlenbündels
zu erzeugen,
auf eine Weise, um den geringen körperlichen Abstand zwischen dem Gehäuse
und dem Objekt durch einen optischen, virtuellen Abstand zu kompensieren und um somit wechselseitigerweise die Tiefe des Arbeitsfeldes
(7) des ebenen, flachen Strahlenbündels am Ausgang des Gehäuses auszudehnen. /
2. Sensor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß an den Eintritts- und Austrittsorten (141,
144) optische Mittel zum Regeln des Einfallswinkels des Strahlenbün-
dels vorgesehen sind, um auf diese Weise die Anzahl der Reflexionen
zwischen den zwei sich gegenüberliegenden Spiegeln einstellen zu können.
3. Sensor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Mittel (120) zum Umwandeln
des gradlinigen Strahlenbündels in ein ebenes, flaches Strahlenbündel
statische Mittel sind.
4. Sensor nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch mindestens einen, an den Lichtkasten angrenzenden
Detektorblock (200) und durch ein photoelektrisches Bildanalysegerät
(232) und durch ein Objektiv formende Mittel (231), die vor dem Bildanalysegerät
angeordnet sind.
5. Sensor nach Anspruch 4,
gekennzeichnet durch Mittel zum relativen Verschwenken des Bildanalysegerätes
in bezug auf die das Objektiv formenden Mittel.
6. Sensor nach Anspruch 4,
gekennzeichnet durch einen elektronischen Schaltkreis für die Gewinnung
von die Position der Leuchtspur des Laser-Strahlenbündels repräsentierender
Information aus jeder Bildzeile, die von dem Bildanalysegerät geliefert wird, umfassend:
- eine Integrator-Stufe (241), die am Eingang ein elektrisches, die Intensität des empfangenden Lichts repräsentierendes Signal empfängt,
welches als Funktion des betrachteten Ortes auf der analysierten Zeile variiert und am Ausgang ein ansteigendes Signal bereitstellt,
welches die empfangene angehäufte Lichtenergie repräsentiert,
- eine Teilungs-Stufe (242), die am Eingang das von der Integrator-Stufe
gelieferte Energiesignal empfängt,
- einer Verzögerungs-Stufe (243), die am Eingang das von der Integrator-Stufe gelieferte Energiesignal empfängt, und
- eine Komparator-Stufe (244), die über jeden ihrer Eingänge
die jeweiligen Ausgangssignale von der Teilungs-Stufe und der Verzögerungs-Stufe
empfängt, wobei die Abweichung dieser Komparator-Stufe während der Abtastung der Bildzeile den Ort der Mitte der Spur des
Laser-Strahlenbündels definiert.
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|---|---|---|---|---|
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| GB9515311D0 (en) | 1995-07-26 | 1995-09-20 | 3D Scanners Ltd | Stripe scanners and methods of scanning |
| US6044170A (en) * | 1996-03-21 | 2000-03-28 | Real-Time Geometry Corporation | System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation |
| US5870220A (en) * | 1996-07-12 | 1999-02-09 | Real-Time Geometry Corporation | Portable 3-D scanning system and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation |
| US5912768A (en) * | 1996-12-31 | 1999-06-15 | Cognex Corporation | Depth-from-defocus optical apparatus with invariance to surface reflectance properties |
| US6025905A (en) * | 1996-12-31 | 2000-02-15 | Cognex Corporation | System for obtaining a uniform illumination reflectance image during periodic structured illumination |
| US5878152A (en) * | 1997-05-21 | 1999-03-02 | Cognex Corporation | Depth from focal gradient analysis using object texture removal by albedo normalization |
| US6219461B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-04-17 | Cognex Corporation | Determining a depth |
| US6148120A (en) * | 1997-10-30 | 2000-11-14 | Cognex Corporation | Warping of focal images to correct correspondence error |
| US6094269A (en) * | 1997-12-31 | 2000-07-25 | Metroptic Technologies, Ltd. | Apparatus and method for optically measuring an object surface contour |
| FR2777441B1 (fr) | 1998-04-21 | 2000-09-15 | Kreon Ind | Systeme de releve d'une forme tridimensionnelle, notamment d'une voute plantaire, et procede de realisation d'une chaussure ou d'une semelle orthopedique mettant en oeuvre le systeme |
| WO1999058930A1 (en) | 1998-05-14 | 1999-11-18 | Metacreations Corporation | Structured-light, triangulation-based three-dimensional digitizer |
| IT1304910B1 (it) * | 1998-10-14 | 2001-04-05 | Giovanni Fattori | Macchina chiodatrice |
| US6297488B1 (en) | 1999-04-29 | 2001-10-02 | National Research Council Of Canada | Position sensitive light spot detector |
| DE19941028A1 (de) * | 1999-08-28 | 2001-04-05 | Willing Gmbh Dr Ing | Beleuchtungsvorrichtung mit blattförmiger Lichtverteilung zur Oberflächeninspektion |
| JP2001094841A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Asahi Optical Co Ltd | アオリ撮影機能を有するデジタルスチルカメラ |
| US7065242B2 (en) | 2000-03-28 | 2006-06-20 | Viewpoint Corporation | System and method of three-dimensional image capture and modeling |
| CA2327894A1 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-07 | Clearview Geophysics Inc. | Method and system for complete 3d object and area digitizing |
| WO2003012371A1 (en) | 2001-08-01 | 2003-02-13 | National Research Council Of Canada | System and method of light spot position and color detection |
| US6973734B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-12-13 | Faro Technologies, Inc. | Method for providing sensory feedback to the operator of a portable measurement machine |
| US7246030B2 (en) * | 2002-02-14 | 2007-07-17 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
| USRE42082E1 (en) | 2002-02-14 | 2011-02-01 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine |
| US7519493B2 (en) * | 2002-02-14 | 2009-04-14 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
| US7881896B2 (en) | 2002-02-14 | 2011-02-01 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
| EP1474650B1 (de) * | 2002-02-14 | 2007-06-27 | Faro Technologies Inc. | Ein gelenkarm für eine tragbare koordinatenmessmaschine |
| US6957496B2 (en) | 2002-02-14 | 2005-10-25 | Faro Technologies, Inc. | Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine |
| US6952882B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-10-11 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine |
| US7073271B2 (en) * | 2002-02-14 | 2006-07-11 | Faro Technologies Inc. | Portable coordinate measurement machine |
| IL154345A0 (en) * | 2003-02-06 | 2003-09-17 | Fitracks Ltd | Method and apparatus for determining the three-dimensional shape and dimensions of an object |
| US7257248B2 (en) * | 2003-03-27 | 2007-08-14 | General Electric Company | Non-contact measurement system and method |
| EA010956B1 (ru) * | 2004-09-07 | 2008-12-30 | Петромодел Эхф | Устройство и способ анализа размера, формы и угловатости, а также состава минералов и частиц горных пород |
| AR052910A1 (es) | 2005-02-17 | 2007-04-11 | Syngenta Participations Ag | Aparato y metodo para contar y medir la frecuencia de semillas |
| CN1296676C (zh) * | 2005-03-17 | 2007-01-24 | 上海交通大学 | 同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器 |
| US7908757B2 (en) | 2008-10-16 | 2011-03-22 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulating measuring arm with laser scanner |
| CN101619967B (zh) * | 2009-08-07 | 2012-07-04 | 上海建工股份有限公司 | 建筑工程中格构柱垂直度的实时测量和监控系统 |
| US8112896B2 (en) | 2009-11-06 | 2012-02-14 | Hexagon Metrology Ab | Articulated arm |
| IT1397220B1 (it) * | 2009-12-29 | 2013-01-04 | Associazione La Nostra Famiglia I R C C S E Medea | Sistema per scansioni tridimensionali |
| TWI490077B (zh) * | 2012-11-30 | 2015-07-01 | Ind Tech Res Inst | 校準裝置及多軸機械之補償方法 |
| WO2015072016A1 (ja) * | 2013-11-15 | 2015-05-21 | 株式会社島津製作所 | 表面形状測定装置 |
| EP3194884B1 (de) | 2014-09-19 | 2023-11-01 | Hexagon Metrology, Inc | Multimodale tragbare koordinatenmessmaschine |
| EP3710778A1 (de) | 2017-11-13 | 2020-09-23 | Hexagon Metrology, Inc | Thermische verwaltung einer optischen abtastvorrichtung |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2961918A (en) * | 1958-10-22 | 1960-11-29 | Francis H Nadig | High speed campera |
| US3506334A (en) * | 1966-02-17 | 1970-04-14 | Zenith Radio Corp | Phased array-type beam scanning |
| US3498693A (en) * | 1967-01-24 | 1970-03-03 | Zenith Radio Corp | Radiation translating devices |
| JPS6079204A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 外径測定装置 |
| US4815842A (en) * | 1986-05-29 | 1989-03-28 | Acton Research Corporation | Spectrograph for evaluating contamination of optical components in space |
| US5027424A (en) * | 1986-08-29 | 1991-06-25 | Asahi Kogaku Kogyo K.K. | Image reader |
| FR2627047B1 (fr) * | 1988-02-09 | 1990-07-27 | Vision 3D | Procede de numerisation de la surface d'un objet tridimensionnel et appareil de releve en vue de sa mise en oeuvre |
| GB8826224D0 (en) * | 1988-11-09 | 1988-12-14 | Gersan Anstalt | Sensing shape of object |
| US4979815A (en) * | 1989-02-17 | 1990-12-25 | Tsikos Constantine J | Laser range imaging system based on projective geometry |
| US5270560A (en) * | 1989-05-26 | 1993-12-14 | Ann F. Koo | Method and apparatus for measuring workpiece surface topography |
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