DE4314324C1

DE4314324C1 - Collision-free test operation of analog and pref. digital circuits

Info

Publication number: DE4314324C1
Application number: DE19934314324
Authority: DE
Inventors: Reinhold Dipl Ing Leitschuh; Rudolf Dipl Ing Hauptmann
Original assignee: Siemens AG; Siemens Corp
Current assignee: Airbus Defence and Space GmbH
Priority date: 1993-04-30
Filing date: 1993-04-30
Publication date: 1994-07-28
Anticipated expiration: 2013-05-01

Abstract

The device under test (P) is connected with automatic test equipment (ATE) via a bidirectional data line (DL). Stimulus data are transmitted to the device from the test equipment, and response data are stored in the memory of the latter.Both sets of data are propagated at finite speed so that periods of transmission and reception can succeed each other at intervals of e.g 20 ns, with suitable choice of the repetition frequency and/or line length.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.The invention relates to a method according to the preamble of claim 1.

Beim Testen von analogen und vorzugsweise digitalen Schaltun gen, z. B. im Rahmen von Bauteil- und Modultestvorhaben, kommt es unter Umständen auf der die automatische Testeinrichtung und den Prüfling verbindenden Datenleitung zu einer Überlage rung von Datensignalen. Von der Testeinrichtung werden soge nannte Stimulidaten zum Prüfling übertragen, dessen Antwort daten auf der gleichen Datenleitung zur Testeinrichtung ge langen. Wenn aufgrund einer gewählten Betriebsfunktion des Prüflings nach einer Sendeperiode des Prüflings eine Empfangs periode folgt, überlagern sich die Antwortdaten des Prüflings und die Stimulidaten der Testeinrichtung. Hierdurch kann es zu einer Kollision der Stimuli- und der Antwortdaten an der Pin-Elektronik der Ausgangssignaltreiberschaltung der Test einrichtung kommen.When testing analog and preferably digital circuits gene, e.g. B. comes as part of component and module test projects it may be on the automatic test facility and data line connecting the test subject to a blanket tion of data signals. From the test facility, so-called called stimulant data to the test subject, whose answer data on the same data line to the test device long. If due to a selected operating function of the DUT received a reception after a DUT broadcast period period follows, the respondent's response data overlap and the stimulant data of the test device. This can to a collision of the stimulus and response data on the Pin electronics of the output signal driver circuit the test furnishing come.

Es ist bekannt, eine oder mehrere Perioden zwischen Sende- und Empfangszyklus auszutasten, wodurch jedoch diese zuvor beschriebene Betriebsfunktion nicht überprüft werden kann.It is known that one or more periods between transmission and blanking the receive cycle, but doing so beforehand described operating function can not be checked.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem Verfahren der eingangs genannten Art eine Kollision von Antwort- und Stimulidaten zu verhindern, ohne daß Sende- und Empfangszy klen ausgelassen werden müssen.The invention has for its object in a method a collision of response and To prevent stimulants without sending and receiving cycles must be left out.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Patentan spruch 1 angegebenen Verfahrensschritte gelöst.This object is achieved by the in patent Proceed 1 specified process steps solved.

Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels beschrieben. In the following the invention based on one in the drawing illustrated embodiment described.

Dabei zeigenShow

Fig. 1 eine automatische Testeinrichtung mit einem Prüfling, und Fig. 1 is an automatic test device with a test specimen, and

Fig. 2 bis 5 verschiedene Kombinationen von Antwort- und Sti mulidaten auf einer Datenleitung. Fig. 2 to 5 different combinations of response and Sti mulidaten on a data line.

In Fig. 1 ist eine Anordnung zum Testen eines Prüflings P dar gestellt, wie sie dem erfindungsgemäßen Verfahren zugrunde liegt. Die Anordnung enthält eine automatische Testeinrich tung ATE, die eine Ausgangssignaltreiberschaltung AT auf weist. Die automatische Testeinrichtung ATE ist beispielswei se durch ein IC-Verifikationstestsystem realisiert.In Fig. 1, an arrangement for testing a test object P is shown, as it is the basis of the inventive method. The arrangement includes an automatic test device ATE, which has an output signal driver circuit AT. The automatic test device ATE is implemented, for example, by an IC verification test system.

Die Testeinrichtung ATE bzw. die Ausgangssignaltreiberschal tung AT ist über eine bidirektionale Datenleitung DL mit dem Prüfling P verbunden. Der Prüfling P kann durch ein Modul, ein Bauteil, oder durch ein oder mehrere bestückte Leiter platten realisiert sein.The test device ATE or the output signal driver scarf device AT is connected via a bidirectional data line DL Test object P connected. The device under test P can be a component, or by one or more assembled conductors plates can be realized.

In den Fig. 2 bis 5 ist der Datenstrom auf der Datenleitung DL in Bezug zur Zeitachse t (eingeteilt in Nanosekunden) und zur Leitungslänge (eingeteilt in Meter) der Datenleitung DL dar gestellt. Von der Testeinrichtung ATE werden Stimulidaten SD an den Prüfling P übertragen. Vom Prüfling P werden daraufhin Antwortdaten AD an die Testeinrichtung ATE übertragen und dort abgespeichert.In Figs. 2 to 5 of the data stream on the data line DL with respect to the time axis t (divided in nanoseconds) and the line length (divided in meters) of the data line DL is provided. Stimulus data SD are transmitted from the test device ATE to the test object P. Response data AD are then transmitted from the test object P to the test device ATE and stored there.

Die Daten AD, SD werden jeweils während eines Zustandes "Senden" auf der Zeitachse t vom Prüfling P bzw. von der Testeinrichtung ATE abgegeben und während eines Zustandes "Empfangen" von der Testeinrichtung ATE bzw. dem Prüfling P empfangen. Die Daten AD, SD werden mit einer endlichen Ge schwindigkeit durch die die Datenleitung DL bildenden Verbin dungskabel transportiert. Die Zeitdifferenz zwischen dem Ab senden und dem Empfangen der Daten AD, SD wird als Phasen laufzeit bezeichnet. Die Phasenlaufzeit bestimmt bei einer vorgegebenen Länge der Datenleitung DL die Winkel α in Fig. 2. Die Zeitachse t ist in fortlaufend numerierte Perioden einge teilt. Eine Periode hat eine Zeitdauer von beispielsweise 20 Nanosekunden (Fig. 4 15 Nanosekunden).The data AD, SD are each output by the test object P or by the test device ATE during a “send” state on the time axis t and received by the test device ATE or the test object P during a “receive” state. The data AD, SD are transported at a finite speed through the connecting cable forming the data line DL. The time difference between sending and receiving the data AD, SD is called the phase runtime. For a given length of the data line DL, the phase delay determines the angle α in FIG. 2. The time axis t is divided into consecutively numbered periods. A period has a duration of, for example, 20 nanoseconds ( FIG. 4 15 nanoseconds).

Aufgrund einer gewählten Betriebsfunktion des Prüflings P folgen periodisch Sende- und Empfangsperioden aufeinander. Der Prüfling P ist beispielsweise während der Periode 1 im Zustand "Senden" und während der folgenden Periode 2 im Zu stand "Empfangen" (siehe Fig. 2). Der Zustand "Senden" der Testeinrichtung ATE ist dabei immer derart gewählt, daß die Stimulidaten SD erst nach dem Zustand "Senden" des Prüf lings P an diesem eintreffen. Die hierzu benötigte Zeitdiffe renz kann an der Testeinrichtung ATE vorgewählt werden. Durch die Wiederholfrequenz der Sende- und Empfangsperioden ist die Dauer dieser Perioden festgelegt.Due to a selected operating function of the test object P, transmission and reception periods follow one another periodically. The device under test P is, for example, during the period 1 in the "send" state and during the following period 2 in the "receive" state (see FIG. 2). The "send" state of the test device ATE is always selected such that the stimulant data SD only arrive at the test object P after the "send" state. The time difference required for this can be preselected on the ATE test facility. The duration of these periods is determined by the repetition frequency of the transmission and reception periods.

Bei hohen Wiederholfrequenzen in dieser Betriebsfunktion, beispielsweise im 50 MHz-Betrieb (siehe Fig. 2), können sich die Antwortdaten AD des Prüflings P mit den Stimulidaten SD der Testeinrichtung ATE überlagern, da mit der gleichen Wie derholfrequenz die Testdaten (d. h. die Testvektoren) als Sti mulidaten SD an den Prüfling P übertragen werden. Es kann hierdurch zu einer Treiberkollision an der Ausgangssignal treiberschaltung AT der Testeinrichtung ATE kommen, wodurch diese Treiberschaltung AT zerstört werden kann.At high repetition frequencies in this operating function, for example in 50 MHz operation (see FIG. 2), the response data AD of the test object P can overlap with the stimulant data SD of the test device ATE since the test data (ie the test vectors) has the same repetition frequency. as Sti mulidaten SD to the device under test P. This can lead to a driver collision at the output signal driver circuit AT of the test device ATE, whereby this driver circuit AT can be destroyed.

Bei einer möglichen Ausführungsform nach Fig. 1 beträgt die effektive Länge der Datenleitung DL 2,15 Meter (siehe auch Fig. 2) von der Pin-Elektronik der Testeinrichtung ATE bis zur Schnittstelle am Prüfling P. Unter der Annahme einer Phasen geschwindigkeit von 14,3 cm/ns für die in der Datenleitung DL verwendeten Koaxialleitungen errechnet sich eine Phasenlauf zeit von ca. 15 Nanosekunden. In a possible embodiment according to FIG. 1, the effective length of the data line DL is 2.15 meters (see also FIG. 2) from the pin electronics of the test device ATE to the interface on the test object P. Assuming a phase speed of 14, 3 cm / ns for the coaxial lines used in the data line DL, a phase transit time of approximately 15 nanoseconds is calculated.

Bei den periodisch aufeinanderfolgenden Sende- und Empfangs perioden von Testeinrichtung ATE und Prüfling P kommt es in diesem Fall zu einem Konflikt an der Testeinrichtung ATE, an der gleichzeitig empfangene und zu sendende Daten AD, SD an liegen (siehe Fig. 2).In the case of the periodically consecutive transmission and reception periods of the test device ATE and test object P, there is a conflict in the test device ATE in this case, at which data AD, SD received and to be transmitted are present (see FIG. 2).

Dieser Zustand kann bei der im Ausführungsbeispiel verwende ten Testeinrichtung ATE gemäß Fig. 3 dadurch verhindert wer den, daß zwei Perioden zwischen einem Zustand "Senden" und einem Zustand "Empfangen" beim Prüfling P ausgetastet werden. Hierdurch kann - wie eingangs schon erwähnt - die gewählte Betriebsfunktion mit aufeinanderfolgenden Sende- und Emp fangsperioden nicht getestet werden.This state can be prevented in the test device used in the exemplary embodiment ATE shown in FIG. 3 who the that two periods between a state "send" and a state "receive" are blanked at the test object P. As a result, as previously mentioned, the selected operating function cannot be tested with successive transmission and reception periods.

Es werden entweder die Leitungslänge der Daten leitung DL oder die Wiederholfrequenz bei der gewählten Be triebsart des Prüflings P mit aufeinanderfolgenden Sende- und Empfangsperioden derart verändert, daß an der Testeinrich tung ATE empfangene Antwortdaten AD erst nach dem Zustand "Senden" der Testeinrichtung ATE eintreffen (siehe Fig. 4 und 5).Either the line length of the data line DL or the repetition frequency in the selected operating mode of the test object P are changed with successive transmission and reception periods such that response data AD received at the test device ATE only arrive after the state "transmission" of the test device ATE ( see Figs. 4 and 5).

In Fig. 4 wurde, verglichen mit Fig. 2, die Leitungslänge der Datenleitung DL beibehalten, und die Wiederholfrequenz auf 65 MHz erhöht, so daß sich eine Periodendauer von ca. 15 Nanose kunden ergibt. Da sich jetzt der Prüfling P und die Testein richtung ATE gleichzeitig im Zustand "Senden" befinden, tref fen die Antwortdaten AD von Prüfling P mit einer Phasenlauf zeit von 15 Sekunden erst nach der Sendeperiode von ebenfalls 15 Sekunden an der Testeinrichtung ATE ein.In Fig. 4, compared to Fig. 2, the line length of the data line DL was maintained, and the repetition frequency increased to 65 MHz, so that there is a period of about 15 nanos customers. Since the device under test P and the test device ATE are in the "transmit" state at the same time, the response data AD from the device under test P arrive at the test device ATE with a phase delay time of 15 seconds only after the transmission period of also 15 seconds.

In Fig. 5 wurde, verglichen mit Fig. 2, die Wiederholfrequenz beibehalten, und die Leitungslänge der Datenleitung DL auf 2,80 Meter erhöht. Da sich jetzt der Prüfling P und die Test einrichtung ATE wiederum gleichzeitig im Zustand "Senden" be finden, treffen die Antwortdaten AD vom Prüfling P mit einer Phasenlaufzeit von 20 Nanosekunden erst nach der Sendeperiode von ebenfalls 20 Nanosekunden an der Testeinrichtung ATE ein.In FIG. 5, the repetition frequency was maintained compared to FIG. 2, and the line length of the data line DL was increased to 2.80 meters. Since the device under test P and the test device ATE are again in the "transmit" state at the same time, the response data AD from the device under test P with a phase delay of 20 nanoseconds only arrive at the test device ATE after the transmission period of likewise 20 nanoseconds.

Es wird also jeweils die durch die Wiederholfre quenz vorgegebene Periodendauer des Zustandes "Senden" am Prüfling P in Übereinstimmung gebracht mit der durch die Lei tungslänge der Datenleitung DL vorgegebenen Phasenlaufzeit vom Prüfling P zur Testeinrichtung ATE, so daß die Antwortda ten AD erst nach dem Zustand "Senden" der Testeinrichtung ATE an dieser eintreffen.So it becomes the repetitive frequency frequency specified period of the "Send" state on Test piece P brought into line with that by the Lei tion length of the data line DL predetermined phase delay from the test object P to the test device ATE, so that the answer da ten AD only after the state "send" of the test device ATE arrive at this.

Claims

Method for collision-free test operation of a test object (P) which is connected to an automatic test device (ATE) via a data line (DL),
and which periodically sends successive response data (AD) to the test device (ATE) at a repetition frequency and receives stimulant data (SD) therefrom,
characterized,
that the repetition frequency and / or the line length of the Da tenleitung (DL) are selected such that the transmission time of the device under test (P) is brought into agreement with the phase delay in the data line (DL).