DE4100899A1

DE4100899A1 - Control system for test sequences in information processing device - uses graphic interface for test sequence definition in form of data structure and graphical display of test sequence

Info

Publication number: DE4100899A1
Application number: DE4100899A
Authority: DE
Inventors: William A Brune; Robert L Hickling; Rusell Elliott Poffenberger
Original assignee: Schlumberger Technologies Inc
Current assignee: Schlumberger Technologies Inc
Priority date: 1990-01-17
Filing date: 1991-01-15
Publication date: 1991-07-18
Also published as: FR2658933A1; JPH04218843A

Abstract

A system for controlling test sequences in information processing devices uses test sequence definition via a graphics interface. The system contains a reproduction arrangement, means of applying signals to and receiving signals from the test object, a signal processor and a test parameter definition arrangement. A test sequence can be displayed graphically on the reproduction device and defined by a data structure which can be manipulated. A controller controls the test system according to the sequence defined by the data structure. USE/ADVANTAGE - Enables test sequence inspection and influencing without inspecting or writing compter code. Logic sequence of working tests of integrated circuit for good-bad criteria in quality control.

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich generell auf eine Steuerschnittstelle für ein System zum Testen integrierter Schalt kreise. Im einzelnen bezieht sich die bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung auf eine graphische objektorientierte Computerschnittstelle für die lnspektion und Modifikation der Be triebsparameter der Gut/Schlecht-Kriterien und des logischen Flus ses von Betriebstests, die an einer integrierten Schaltung auszu führen sind.The present invention relates generally to one Control interface for an integrated circuit testing system circles. The preferred embodiment relates in detail of the present invention to a graphic object-oriented Computer interface for inspection and modification of the loading drive parameters of the good / bad criteria and the logical flow ses of operational tests to be carried out on an integrated circuit are lead.

Testsysteme für integrierte Schaltungen beruhten konven tionellerweise auf fest verdrahteten Testparametern und Testse quenzen. Zuvor wurden die Testparameter und die Testsequenz im Com putercode festgelegt. Änderungen dieser Testparameter und Testse quenzen erforderten demgemäß die Ausgabe von Computercode und Kenntnis des Computerprogramms und der Sprache, in der das Programm geschrieben war. Ein solches im Stand der Technik bekanntes System ist das S50-Testsystem für allgemeine Zwecke, hergestellt und ver trieben von Digital Test System Group der Firma Schlumberger Tech nologies. In diesem System sind alle Testsequenzen festgelegt durch ein Computerprogramm, das in Pascalsprache geschrieben ist. Ir gendwelche Änderungen in der Testsequenz erfordern demgemäß die Kenntnis der Pascalsprache und ein Umprogrammieren des Testsequenz- Computerprogramms.Test systems for integrated circuits were based on convention usually on hard-wired test parameters and test sequences quence. Previously, the test parameters and the test sequence in the Com computer code set. Changes to these test parameters and tests sequences therefore required the output of computer code and Knowledge of the computer program and the language in which the program was written. Such a system known in the prior art is the S50 general-purpose test system, manufactured and manufactured driven by Digital Test System Group from Schlumberger Tech nologies. In this system all test sequences are defined by a computer program written in Pascal language. Ir Any changes in the test sequence accordingly require the Knowledge of the Pascal language and reprogramming of the test sequence Computer program.

Zwar ist dieses System flexibel und brauchbar für das Te sten irgend eines Typs einer integrierten Schaltung, doch ist seine Verwendung begrenzt auf Programmierer, die in Pascal ausgebildet sind und Kenntnisse der Details des Testsequenz-Computerprogramms haben. Es ist demgemäß wünschenswert, eine Schnittstelle zu ent wickeln, die die allgemeine lnspektion und Modifikation von Tests für integrierte Schaltungen und Testsequenzen ermöglicht, ohne Er fordernis der Kenntnis von Computersprachen oder -programmen.This system is flexible and usable for the Te most of any type of integrated circuit, but its Use limited to programmers trained in Pascal and knowledge of the details of the test sequence computer program to have. Accordingly, it is desirable to remove an interface wrap the general inspection and modification of tests for integrated circuits and test sequences without Er requirement of knowledge of computer languages or programs.

In der Serie S700 von Board Test Systems, hergestellt und vertrieben durch die Firma Schlumberger Technologies, sind Testpa rameter und Testsequenzen ebenfalls in Computersprache program miert, und das Programm muß umgeschrieben und neu kompilliert wer den immer dann, wenn eine Änderung entweder an einem Testparameter oder der Testsequenz vorzunehmen ist. Dieses System umfaßt einen graphischen auf Bildsymbolen basierenden Testprogrammfluß-Editor, der die partielle Definition der Testsequenz und der Verzweigungs bedingungen erlaubt. Dieser Fluß-Editor erzeugt jedoch einfach Quellencode im Ansprechen auf Eingaben des Benutzers. Viele Anga ben, wie eine "Falls"-Angabe, verwendet für unter Bedingungen er folgende Verzweigungen, müssen immer noch vom Benutzer definiert und eingegeben werden.Manufactured and manufactured in the S700 series by Board Test Systems distributed by Schlumberger Technologies, are Testpa parameters and test sequences also in computer language program miert, and the program must be rewritten and compiled again whenever there is a change to either a test parameter or the test sequence is to be carried out. This system includes one graphic test program flow editor based on image symbols, which is the partial definition of the test sequence and the branching conditions allowed. However, this flow editor creates simple Source code in response to user input. Many anga ben, like a "falls" statement, used for under conditions Subsequent branches must still be defined by the user and be entered.

Ein jüngeres System, das S90 Memory Test System, herge stellt und vertrieben durch die Memory Test System Group der Firma Schlumberger Technologies, umfaßt eine auf Text basierende menü gesteuerte Schnittstelle, die eine begrenzte Fähigkeit der Modifi kation von Testparametern und Testsequenzen ohne Programmieren be sitzt. Dieses System besitzt eine auf Text basierende Menü- Schnittstelle, die einen wahlweisen "Cascaden"-Programmfluß vor sieht, speziell angepaßt für die Geschwindigkeitskategorisierung von Speicherprodukten. Typischerweise wird eine Anzahl von Gut/ Schlecht-Tests an einem integrierten Halbleiterspeicher durchge führt. Wenn die Schaltung in einem der Tests in einer primären Testsequenz versagt, kann eine alternative Testsequenz eingeleitet werden. Typischerweise entspricht diese alternative Testsequenz einem weniger strengen Satz von Anforderungen und einer langsameren Geschwindigkeitskategorisierung. Wenn der Prüfling einen der Tests in der alternativen Testsequenz nicht besteht, kann eine noch ge ringere Anforderungen stellende Serie von Tests entsprechend einer noch langsameren Geschwindigkeitskategorie eingeleitet werden. Auf diese Weise wird jeder Prüfling getestet und kategorisiert als ei ner, der entweder eine von einer linearen Serie von Tests besteht oder bei allen Serien durchfällt. Der Prüfling kann dann in ein "Fach" abgelegt werden, entsprechend der schnellsten Serie von Tests, die er bestanden hat.A more recent system, the S90 Memory Test System provided and distributed by the company's Memory Test System Group Schlumberger Technologies, includes a text-based menu controlled interface, which has a limited ability of Modifi cation of test parameters and test sequences without programming sits. This system has a text-based menu Interface that provides an optional "Cascaden" program flow sees, specially adapted for speed categorization of storage products. Typically, a number of good / Bad tests performed on an integrated semiconductor memory leads. If the circuit in one of the tests in a primary Test sequence fails, an alternative test sequence can be initiated will. This alternative test sequence typically corresponds a less stringent set of requirements and a slower one Speed categorization. If the candidate is one of the tests does not exist in the alternative test sequence, a ge stricter series of tests according to a even slower speed category. On In this way, each candidate is tested and categorized as an egg ner who either passes one of a linear series of tests or fails in all series. The candidate can then be placed in a "Tray" are filed, according to the fastest series of Tests that he passed.

Alle Testsequenzen in dem S90 System sind jedoch hin sichtlich der Sequenz festgelegt (linear), und der logische Fluß von einer nicht bestandenen Sequenz zu der nächsten Sequenz ist beschränkt auf eine feste Anzahl von Eingangspunkten, und alle Se quenzänderungen müssen ausgewählt werden aus einem begrenzten For mat in einem auf Text basierenden Menü-System. Diese beschränkte Schnittstelle erlaubt nicht die Inspektion und Modifikation der Testsequenzen in verallgemeinerter Form. Während demgemäß das S90 System brauchbar ist für das Kategorisieren von Speicherschalt kreisen nach ihrer Geschwindigkeit, ist es unbrauchbar für allge meine Testzwecke anderer Typen von integrierten Schaltkreisen. Es ist demgemäß wünschenswert, eine Schnittstelle zu entwickeln, die die allgemeine Inspektion und Modifikation von Tests für inte grierte Schaltkreise und Testsequenzen ermöglicht, ohne das Er fordernis der Kenntnis von Computersprachen oder -programmen. Im einzelnen ist es wünschenswert, eine Schnittstelle vorzusehen, die eine verallgemeinerte Inspektion und Modifikation des Flusses von Testsequenz ermöglicht, ohne die Notwendigkeit, einen Computercode zu inspizieren oder zu schreiben.However, all test sequences in the S90 system are gone visually set the sequence (linear), and the logical flow from a failed sequence to the next sequence limited to a fixed number of entry points, and all Se Sequence changes must be selected from a limited format mat in a text-based menu system. This limited Interface does not allow the inspection and modification of the Test sequences in a generalized form. Accordingly, the S90 System is useful for categorizing memory switch circling according to their speed, it is useless for general my testing purposes of other types of integrated circuits. It is accordingly desirable to develop an interface that the general inspection and modification of tests for inte Integrated circuits and test sequences possible without the Er requirement of knowledge of computer languages or programs. in the It is desirable for individuals to provide an interface that a generalized inspection and modification of the flow of Test sequence enables a computer code without the need to inspect or write.

Die erfindungsgemäß vorgesehenen Mittel zur Erreichung dieses Ziels sind in den Patentansprüchen 1 bzw. 5 definiert.The means according to the invention for achieving them This aim is defined in claims 1 and 5, respectively.

Zum besseren Verständnis der Erfindung sollen Aufbau und Wirkungsweise einer bevorzugten Ausführungsform kurz zusammengefaßt werden.For a better understanding of the invention, structure and Operation of a preferred embodiment is briefly summarized will.

Eine Computerschnittstelle wird vorgesehen für ein allge meinen Zwecken genügendes Testsystem für integrierte Schaltkreise, umfassend eine Schnittstelle und Möglichkeiten für Inspektion, De finition und Modifikation spezifischer Parameter und Gut/Schlecht- Kriterien für spezifische Kategorien von Betriebstests. Die Schnitt stelle sieht ferner eine spezialisierte, auf Bildsymbolen basie rende Programmiersprache für Inspektion, Definition und Modifika tion des logischen Flusses zwischen den Betriebstests vor. Jeder Betriebstest wird graphisch repräsentiert durch ein Bildsymbol auf einer Wiedergabeanordnung, und der logische Fluß zwischen Betrieb stests wird graphisch repräsentiert durch Linien, welche die Bild symbole verbinden. Die logische Verzweigung zwischen Betriebstests wird graphisch repräsentiert durch Vorsehen von bestimmten Gut- und Schlecht-Ausgängen von jedem Testbildsymbol. Die mit dem Gut-Aus gang verbundene Linie repräsentiert den logischen Weg, wenn der Betriebstest bestanden wurde, und die mit dem Schlecht-Ausgang verbundene Linie repräsentiert den logischen Pfad, wenn der Be triebstest nicht bestanden wurde. Modifikation des Testflusses ist vorgesehen im Ansprechen auf die Edition der graphischen Repräsen tation des Testflusses. Die Edition der graphischen Repräsentation des Testflusses erfolgt durch Verwendung eines Graphik-Cursors zum Bewegen von Bildsymbolen und zum Abtrennen oder Durchverbinden von Linien, die die Bildsymbole miteinander verbinden. Jeder Betrieb stest wird ferner repräsentiert durch entsprechende Datenobjekte in dem Testsystem, und die Sequenz dieser Betriebstests wird reprä sentiert durch Zeiger, die logisch die entsprechenden Datenobjekte verbinden. Botschaften werden ausgesandt von Instrumentarien ("Tools") hier und im folgenden wird dieser englischsprachige Aus druck beibehalten), welche die Wiedergabeschnittstelle steuern be züglich Routinen, die in dem Testsystem enthalten sind, um die Da tenobjekte zu modifizieren, damit sie Betriebstestparametern und Testsequenzen, definiert durch die graphische Schnittstelle, ent sprechen. Das Testsystem führt dann die Betriebstests in der Se quenz aus, die durch die Datenobjekte definiert ist.A computer interface is provided for a general test system for integrated circuits sufficient for my purposes, comprehensive an interface and possibilities for inspection, De definition and modification of specific parameters and good / bad Criteria for specific categories of operational tests. The cut spot also sees a specialized icon based programming language for inspection, definition and modification logical flow between operational tests. Everyone Operational test is represented graphically by an icon a display device, and the logical flow between operations is represented graphically by lines representing the image Connect symbols. The logical branch between operational tests is represented graphically by providing certain assets and Bad outputs from each test pattern symbol. The one with the good-off line connected represents the logical path if the Operational test was passed, and the one with the bad output connected line represents the logical path when the Be drive test was not passed. Modification of the test flow is provided in response to the edition of the graphic representations tation of the test flow. The edition of the graphic representation of the test flow is done by using a graphics cursor Move icons and disconnect or connect Lines that connect the symbols with each other. Any business stest is also represented by corresponding data objects in the test system, and the sequence of these operational tests is reprä sent by pointers that logically represent the corresponding data objects connect. Messages are sent out from instruments ("Tools") here and in the following is this English language Aus keep printing) that control the playback interface Regarding routines contained in the test system to the Da Modify tenobjects to include operational test parameters and Test sequences, defined by the graphic interface, ent speak. The test system then carries out the operational tests in the Se sequence defined by the data objects.

Fig. 1 ist eine Darstellung einer Arbeitsstation, ange koppelt zur Steuerung eines Testsystems für integrierte Schaltkreise. Fig. 1 is an illustration of a work station, coupled to control a test system for integrated circuits.

Fig. 2 ist eine Darstellung der Stationswiedergabeanord nung, die die "Select"-Programm- und "Control Tool"- Steuerprogrammschnittstellen graphisch wiedergibt. Fig. 2 is an illustration of the station playback arrangement graphically depicting the "Select" program and "Control Tool" control program interfaces.

Fig. 3 ist eine Darstellung der Wiedergabeanordnung, die die "Flow Tool"-Programmschnittstelle darstellt, welche graphisch die Testbildsymbole und logischen Verbindungen illustriert, welche ein ausgewähltes Testprogramm "3901" definieren. Fig. 3 is an illustration of the display assembly illustrating the "Flow Tool" program interface that graphically illustrates the test pattern symbols and logical connections that define a selected test program "3901".

Fig. 4 ist eine Darstellung der Wiedergabeanordnung, die die "Flow Tool"-Programmschnittstelle zeigt, welche gra phisch Bildsymbole und logische Verbindungen illustriert, die ein ausgewähltes kombiniertes "Leakage"-Testbildsymbol 325 definiert. FIG. 4 is an illustration of the display assembly showing the "Flow Tool" program interface graphically illustrating icons and logical connections that define a selected combined "leakage" test icon 325 .

Fig. 5 zeigt die Wiedergabeanordnung, die die "DC test tool"-Programmschnittstelle zeigt, welche graphisch spe zifische Parameter und Gut/Schlecht-Kriterien eines Gleichspannungstests illustriert. Fig. 5 shows the display device, the "DC test tool" -Programmschnittstelle shows which graphically spe-specific parameters and pass / fail criteria illustrates a DC test.

Fig. 6 ist eine Darstellung der Wiedergabeanordnung ent sprechend der "Functional Test"-Tool-Schnittstelle, welche graphisch spezifische Parameter und Gut/Schlecht-Kriterien eines Funktionstests illustriert. Fig. 6 is a representation of the display device accordingly to the "Functional Test" tool interface, which illustrates graphically specific parameters and good / bad criteria of a function test.

Fig. 7 zeigt eine "Timing Tool"-Schnittstelle, resultie rend aus dem Öffnen des "Timing Tool"-Programms. Fig. 7 shows a "Timing Tool" interface, resulting from the opening of the "Timing Tool" program.

Fig. 8 zeigt die "Levels Tool"-Schnittstelle, resultierend aus dem Öffnen des "Levels Tool"-Programms. Fig. 8 shows the "Levels Tool" interface resulting from the opening of the "Levels Tool" program.

Fig. 9 ist eine "Flow Tool"-Wiedergabe, die graphisch eine existierende Testsequenz und ein neues Testsegment il lustriert, das noch nicht logisch in Beziehung zu der existierenden Testsequenz gesetzt ist. Figure 9 is a flow tool rendering that graphically illustrates an existing test sequence and a new test segment that is not yet logically related to the existing test sequence.

Fig. 10 ist eine Illustration der Arbeitsplatzwiedergabe anordnung entsprechend den Haupt- und Segment-Menüs. Fig. 10 is an illustration of the work station display arrangement corresponding to the main and segment menus.

Fig. 11 ist eine "Flow Tool"-Wiedergabe, die graphisch eine existierende Testsequenz und ein neues Testsegment illustriert, wobei ein Eingang des neuen Testsegments lo gisch in die existierende Testsequenz integriert ist. FIG. 11 is a "flow tool" representation that graphically illustrates an existing test sequence and a new test segment, with an input of the new test segment being logically integrated into the existing test sequence.

Fig. 12 ist eine "Flow Tool"-Wiedergabe, die graphisch ein neues Testsegment illustriert, das vollständig in die existierende Testsequenz integriert ist. Figure 12 is a "Flow Tool" rendering that graphically illustrates a new test segment that is fully integrated into the existing test sequence.

Fig. 13 ist ein Blockdiagramm der Architektur eines Test systems in Übereinstimmung mit der bevorzugten Ausfüh rungsform der Erfindung. Fig. 13 is a block diagram of the architecture of a test system in accordance with the preferred exporting approximately of the invention.

Fig. 14 ist ein Blockdiagramm, das die Beziehungen zwi schen Segmentblöcken, Segmentdefs und Datenblöcken il lustriert. Figure 14 is a block diagram illustrating the relationships between segment blocks, segment defs and data blocks.

Fig. 1 illustriert die Gesamtheit der bevorzugten Ausfüh rungsform der vorliegenden Erfindung. Im einzelnen zeigt Fig. 1 eine Arbeitsstation 100, angekoppelt an ein Tastenfeld 110 und eine Maus 120 mit drei Knöpfen. Die Arbeitsstation 100 ist ferner ange koppelt an einen Testsystemcomputer 130 für integrierte Schalt kreise, der Programme und Daten enthält, welche eine Anzahl von Betriebstests definieren, die an einer integrierten Schaltung 140 auszuführen sind. Das Testsystem 130 für integrierte Schaltkreise umfaßt ferner die Tester-Hardware 135, etwa Komparatoren und Trei berstufen, die angekoppelt ist an die integrierte Schaltung 140 zum Anlegen von Signalen an die integrierte Schaltung 140 und zum Emp fang von Signalen von dieser im Ansprechen auf die Programme und Daten. Die Arbeitsstation 100 umfaßt ferner spezifische Schnitts tellen Tools, die zusammenwirken mit den Programmen und Daten des Testsystemcomputers 130 für integrierte Schaltkreise, und die eine Inspektion und Modifikation der Betriebstests und der logischen Sequenzen der Betriebstests erlauben, wie im einzelnen unten be schrieben. Fig. 1 illustrates the entirety of the preferred embodiment of the present invention. In particular, FIG. 1 shows a work station 100 coupled to a keyboard 110 and a mouse 120 with three buttons. Workstation 100 is also coupled to an integrated circuit test system computer 130 that contains programs and data that define a number of operational tests to be performed on an integrated circuit 140 . Integrated circuit test system 130 also includes tester hardware 135 , such as comparators and driver stages, coupled to integrated circuit 140 for applying signals to and receiving signals from integrated circuit 140 in response to the programs and data. Workstation 100 also includes specific interface tools that interact with the programs and data of test system computer 130 for integrated circuits, and which allow inspection and modification of the operational tests and the logical sequences of the operational tests, as described in detail below.

In der bevorzugten Ausführungsform ist die Arbeitsstation 100 ein Graphikbildschirm mit einer Auflösung von etwa 1 Million Bildpunkten. Die bevorzugte Ausführungsform verwendet eine Ar beitsstation, vertrieben von der Firma Sun Microsystems in Mountain View, Kalifornien. Diese Arbeitsstation und der Testsystemcomputer 130 für integrierte Schaltkreise laufen unter einem Unix-Betriebs system und dem X-window graphics server. Die Computerprogramme für den Testsystemcomputer 130 für integrierte Schaltkreise laufen un ter dem Unix-Betriebssystem und dem X-window graphics System, er hältlich als dem allgemeinen Gebrauch zugängliche Software von M.I.T.In the preferred embodiment, workstation 100 is a graphics screen with a resolution of approximately 1 million pixels. The preferred embodiment uses a workstation sold by Sun Microsystems of Mountain View, California. This workstation and the test system computer 130 for integrated circuits run under a Unix operating system and the X-window graphics server. The computer programs for the integrated circuit test system computer 130 run under the Unix operating system and the X-window graphics system, and are available as general-use software from MIT

Gemäß der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist ein Menü von Software tools vorgesehen, aus dem der Benutzer des Systems einen Menü-Gegenstand mit der Bezeichnung "Control Tool" durch geeignete Manipulation der Maus 120 oder des Tastenfelds 110 auswählen kann. Der "Control Tool" Menü-Gegenstand repräsentiert ein Steuerprogramm für das Testsystem 130 und wird in größeren Einzelheiten unten beschrieben.According to the preferred embodiment of the present invention, a menu of software tools is provided, from which the user of the system can select a menu item called "Control Tool" by suitable manipulation of the mouse 120 or the keyboard 110 . The "Control Tool" menu item represents a control program for test system 130 and is described in more detail below.

Select a residue program for inspection and edition

Fig. 2 ist eine Darstellung des Wiedergabegerätes mit graphischer Wiedergabe der "Select"-Programm- und "Control Tool"- Steuerprogrammschnittstellen. Das "Control Tool"-Fenster 200 er scheint an der Unterseite des Bildschirms von Fig. 2. Niederdrücken des rechten Knopfes der Maus 120, während der Cursor 205 über dem "Programm"-Feld 208 steht (bezeichnet als "rechter Knopf auf Feld 208" oder "Auswählen von Feld 208"), führt zur Wiedergabe eines "Select Tool"-Programmbildes und Schnittstelle, illustriert in Fenster 215. Die "Select Tool"-Anzeige und Schnittstelle ermöglicht die Auswahl eines spezifischen Testprogramms, wie im einzelnen un ten diskutiert. Figure 2 is an illustration of the playback device with graphical representation of the "Select" program and "Control Tool" control program interfaces. The "Control Tool" window 200 appears at the bottom of the screen of Fig. 2. Depressing the right button of the mouse 120 while the cursor 205 is over the "Program" field 208 (referred to as the "right button on field 208 "or" Select field 208 "), leads to the display of a" Select Tool "program image and interface, illustrated in window 215 . The "Select Tool" display and interface enables the selection of a specific test program, as discussed in detail below.

Bezüglich Fenster 215, gibt Zeile 220 des Fensters 215 an, daß die Quelle für das gelistete Testprogramm die Systemfestplatte ist. Die "*"-Eingabe auf der Filterzeile 225 gibt an, daß alle Testprogramme gelistet sind. (Kein Filter ist aktiv.) Die Strek kenzeile 230 zeigt an, daß es das Unix-Adreßverzeichnis ist, zu dem Zugang besteht. Regarding window 215 , line 220 of window 215 indicates that the source for the listed test program is the system hard drive. The "*" entry on filter line 225 indicates that all test programs are listed. (No filter is active.) Line 230 indicates that it is the Unix address directory to which access is available.

Das Wiedergabefeld 235 illustriert eine Roll-Liste von Testprogrammunterlagen. In dem dargestellten Beispiel war vorher das Testprogramm "3901" auf Zeile 240 ausgewählt worden. Die Aus wahl eines Testprogramms aus der Liste von Unterlagen, illustriert in Fenster 235, bewirkt, daß der Name des ausgewählten Testpro gramms in das Programmfeld 210 des "Control Tool"-Fensters 200 eingeführt wird. In dem spezifischen illustrierten Beispiel ist das Testprogramm "3901" ausgewählt worden und erscheint im Programmfeld 210. Die Schnittstelle ermöglicht nun die Inspektion und Edition des Testprogramms "3901", wie unten diskutiert.Playback field 235 illustrates a roll list of test program documents. In the example shown, test program "3901" had previously been selected on line 240 . The selection of a test program from the list of documents, illustrated in window 235 , causes the name of the selected test program to be introduced into the program field 210 of the "Control Tool" window 200 . In the specific illustrated example, test program "3901" has been selected and appears in program field 210 . The interface now enables inspection and edition of the test program "3901", as discussed below.

Open and inspect the test flow

Das Auswählen des Entstörknopfes 250 führt zur Wiedergabe einer "Flow Tool"-Anzeige und Schnittstelle, illustriert in Fig. 3, was die Inspektion und Edition des Flusses des ausgewählten Test programms ermöglicht, wie unten diskutiert.Selecting the reset button 250 results in the display of a "Flow Tool" display and interface, illustrated in FIG. 3, which enables inspection and edition of the flow of the selected test program, as discussed below.

Fig. 3 ist eine Illustration der Arbeitsplatzanzeige, die die "Flow Tool"-Schnittstelle darstellt, womit graphisch Testbild symbole und logische Verbindungen illustriert werden, die ein aus gewähltes Testprogramm definieren. Unter Bezugnahme auf Fig. 3 werden Testbildsymbole und logische Zwischenverbindungen, welche das Testprogramm "3901" definieren, im Fenster 305 wiedergegeben. Die "Flow Tool"-Wiedergabe und Schnittstelle wird verwendet für den Aufbau und die Modifikation des Flusses eines Testprogramms. Im einzelnen wird der Fluß eines Testprogramms definiert durch eine Anzahl von Betriebstestsegmenten, repräsentiert auf dem Bildschirm durch Bildsymbole und durch logische Sequenzen der Testsegmente, repräsentiert auf dem Bildschirm durch Gut/Schlecht-Ports und Li nien, welche die Bildsymbole verbinden. Figure 3 is an illustration of the workstation display that represents the "Flow Tool" interface, graphically illustrating test image symbols and logical connections that define a selected test program. Referring to FIG. 3, test pattern symbols and logical interconnections that define test program "3901" are displayed in window 305 . The "Flow Tool" playback and interface is used to set up and modify the flow of a test program. Specifically, the flow of a test program is defined by a number of operational test segments, represented on the screen by icons and by logical sequences of the test segments, represented on the screen by good / bad ports and lines connecting the icons.

Der Ausgangspunkt eines Testprogramms wird definiert durch ein nicht-operatives Bildsymbol, das als "Begin"-Bildsymbol 310 dargestellt ist. "Begin"-Bildsymbol 310 ist gleichförmig in seinem Erscheinungsbild für alle Testprogramme, um so die Identifikation des Startpunktes zu erleichtern. Das erste Betriebstestsegment in dem Testprogramm wird identifiziert durch seine Verbindung mit dem "Begin"-Bildsymbol 310 über die Verbindungsleitung 315. Im einzel nen ist ein Continuity-Bildsymbol 320 mit dem "Begin"-Bildsymbol 310 über die Leitung 315 verbunden.The starting point of a test program is defined by a non-operative icon, which is shown as "Begin" icon 310 . "Begin" icon 310 is uniform in appearance for all test programs so as to facilitate identification of the starting point. The first operational test segment in the test program is identified by its connection with the "Begin" icon 310 via the connection line 315 . In particular, a continuity icon 320 is connected to the "begin" icon 310 via line 315 .

Die Wiedergabe und Schnittstelle für den Fluß oder Ablauf des Testprogramms wird ferner definiert durch bestimmte Schnitt stellen und Wiedergabeübereinkommen. Bezüglich des "Begin"-Bild symbols 310 des Continuity-Bildsymbols 320 und der Verbindungslei tung 315 in größeren Einzelheiten ist festzustellen, daß das "Be gin"-Bildsymbol 310 ein einzelnes Quadrat aufweist, das als Port bezeichnet wird und auf seiner rechten Seite liegt. Dieses Port indiziert den normalen Ablauf von dem "Begin"-Bildsymbol 310, und die Ausführung oder der Ablauf des Testprogramms setzt sich fort, wie durch die Verbindungslinie angedeutet (grün in der bevorzugten Ausführungsform), zu einem Port auf der linken Seite des Continu ity-Bildsymbols 320, welches den Startpunkt des Continuity-Bild symbols 320 indiziert. In der bevorzugten Ausführungsform sind die Ports auf der rechten und linken Seite der Testsegmente repräsen tierenden Bildsymbole entweder blau, grün oder rot. Eingabeports sind blau und generell auf der linken Seite. Ausgangsports befinden sich generell auf der rechten Seite der Testsegmente. Es gibt zwei Typen von Ausgangsports. Grüne Ausgangsports indizieren, daß dann, wenn das diesem Bildsymbol zugeordnete Testsegment durchlaufen worden ist, die Programmausführung sich fortsetzt zu dem Testseg ment, das durch das mit diesem Ausgangsport verbundenen Bildsymbol repräsentiert wird. Rote Ausgangsports (auch generell unter den Durchlaß-Ausgangsports angeordnet oder an der Unterseite des Bild symbols) indizieren, daß dann, wenn der dem betreffenden Bildsymbol zugeordnete Test nicht bestanden worden ist, der Programmablauf fortgesetzt wird zu dem Testsegment, das durch das mit diesem Aus gangsport verbundene Bildsymbol repräsentiert wird. Ferner können mehrfach Ausgangsports definiert sein, in denen die Sequenz nach einem Betriebstest logisch sich verzweigen kann im Ergebnis eines gemessenen Ausgangswertes.The playback and interface for the flow or execution of the test program is further defined by certain interfaces and playback convention. Regarding the "Begin" icon 310 of the continuity icon 320 and the connection line 315 in greater detail, it should be noted that the "Be gin" icon 310 has a single square called the port and is on its right side . This port indicates normal flow from the "Begin" icon 310 , and execution or execution of the test program continues, as indicated by the connecting line (green in the preferred embodiment), to a port on the left side of the continuity Image symbol 320 , which indicates the starting point of the continuity image symbol 320 . In the preferred embodiment, the ports on the right and left sides of the test segments representing icons are either blue, green or red. Input ports are blue and generally on the left. Starting ports are generally on the right side of the test segments. There are two types of output ports. Green output ports indicate that when the test segment assigned to this icon has been run through, the program execution continues to the test segment represented by the icon connected to this output port. Red output ports (also generally located below the pass-through output ports or at the bottom of the picture symbol) indicate that if the test assigned to the relevant picture symbol has not been passed, the program flow is continued to the test segment which is marked by the with this off gangsport related icon is represented. Furthermore, multiple output ports can be defined, in which the sequence can logically branch after an operational test as a result of a measured output value.

Das Continuity-Bildsymbol 320 repräsentiert ein Kontinu itätstestsegment, das spezifische Gut/Schlecht-Kriterien aufweist. Wenn das Continuity-Testsegment bestanden worden ist, geht der Programmfluß weiter von Port 322 auf der rechten Seite des Conti nuity-Bildsymbols 320 zu einem Testsegment, repräsentiert durch ein mit dem Port 322 verbundenes Bildsymbol. Genauer gesagt wird, wenn das Continuity-Testsegment passiert worden ist, der Programmfluß fortgesetzt zu einem Testsegment, das durch das "Leakage"-Test bildsymbol 325 repräsentiert wird. Wenn das Continuity-Testsegment nicht bestanden wird, geht der Programmfluß von Port 330 des Con tinuity-Bildsymbols 320 zum Stop-Bildsymbol 340. Das Stop-Bildsym bol 340 ist verbunden mit dem Port 330 des Continuity-Bildsymbols 320 durch die Verbindungslinie 345. Das Stop-Bildsymbol 340 ist, ebenso wie das "Begin"-Bildsymbol 310, gleichförmig in seinem Aus sehen für alle Testprogramme, um so die Identifikation des End punktes irgend eines Programms zu erleichtern.The continuity icon 320 represents a continuity test segment that has specific good / bad criteria. When the continuity test segment is passed, program flow continues from port 322 on the right side of continuity icon 320 to a test segment represented by an icon connected to port 322 . More specifically, once the continuity test segment has been passed, program flow continues to a test segment represented by the "leakage" test icon 325 . If the continuity test segment fails, the program flow goes from port 330 of the continuity icon 320 to the stop icon 340 . The stop icon 340 is connected to the port 330 of the continuity icon 320 by the connecting line 345 . The stop icon 340 , like the "Begin" icon 310 , is uniform in appearance for all test programs so as to facilitate identification of the end point of any program.

Typischerweise enthalten Testprogramme oft mehr Testseg mente als auf einer graphischen Wiedergabe zu irgend einem Zeit punkt ohne weiteres darstellbar. Um einen Überblick über den Ablauf eines Testprogramms vorzusehen, verwendet die vorliegende Erfindung ein Konzept von Kombinationssegmenten und Kombinationsbildsymbolen. Ein Kombinationsbildsymbol ist ein Bildsymbol, das eine Anzahl lo gisch miteinander verbundener Testsegmente repräsentiert. Das "Le akage"-Testbildsymbol 325 ist ein Beispiel eines Kombinationsbild symbols, das eine Anzahl logisch miteinander verbundener Testseg mente repräsentiert, wie genauer nachfolgend diskutiert.Typically, test programs often contain more test segments than can be easily displayed on a graph at any time. In order to provide an overview of the course of a test program, the present invention uses a concept of combination segments and combination icons. A combination icon is an icon that represents a number of logically interconnected test segments. The "le akage" test icon 325 is an example of a combination icon representing a number of logically interconnected test segments, as discussed in more detail below.

Die "Flow Tool"-Wiedergabe und Schnittstelle ermöglicht das Öffnen, Inspizieren und Modifizieren eines Kombinationsbild symbols. Die Auswahl des "Leakage"-Testkombinationsbildsymbols 325 ermöglicht die Inspektion und Modifikation von Testsegmenten und Verbindungen, welche durch das "Leakage"-Testbildsymbol 325 reprä sentiert werden. Genauer gesagt, führt das Anwählen des "Leakage"- Kombinationsbildsymbols 325 zu einer Wiedergabe, wie sie in Fig. 4 dargestellt ist.The "Flow Tool" playback and interface enables the opening, inspection and modification of a combination image symbol. The selection of the "leakage" test combination icon 325 enables the inspection and modification of test segments and connections, which are represented by the "leakage" test icon 325 . More specifically, selecting the "leakage" combination icon 325 results in a display as shown in FIG. 4.

Fig. 4 ist eine Illustration einer Arbeitsplatzwiedergabe und zeigt die "Flow Tool"-Programmschnittstelle, welche graphisch Testbildsymbole und logische Verbindungen illustriert, welche das angewählte "Leakage"-Testkombinationsbildsymbol 325 definiert. In Fig. 4 zeigt das graphische Bild im Fenster 405, daß das "Leaka ge"-Kombinationsbildsymbol 325 aus zwei miteinander verbundenen Testsegmenten besteht. Im einzelnen entsprechen die Ports 350, 355 und 360 des "Leakage"-Kombinationsbildsymbols 325 gemäß Fig. 3 den Flaggen 410, 415 bzw. 420 in Fig. 4. FIG. 4 is an illustration of a work station rendering and shows the "Flow Tool" program interface, which graphically illustrates test pattern symbols and logical connections, which defines the selected "leakage" test combination symbol 325 . In Fig. 4, the graphical image in window 405 shows that the "leakage" combination icon 325 consists of two interconnected test segments. Specifically, ports 350 , 355 and 360 of the "leakage" combination icon 325 of FIG. 3 correspond to flags 410 , 415 and 420 in FIG. 4, respectively.

Das Kombinationstestbildsymbol 325 umfaßt zwei Segmente, nämlich Testsegment 425 und Testsegment 430. In dem Fall, daß beide Testsegmente entsprechend den Testbildsymbolen 425 und 430 passiert werden, geht der Programmfluß logisch weiter von Flagge 410, Ein gangsport 435 des Testbildsymbols 425, durchläuft das Testseg segment entsprechend dem Testbildsymbol 425, verläßt Testbildsymbol 425 über Port 440, gelangt in Testbildsymbol 430 über Port 445, passiert das Testsegment, repräsentiert durch das Testbildsymbol 430, und verläßt Testbildsymbol 430 durch Port 450, angekoppelt an Flagge 420. Wenn bei einem der Testsegmente ein Versagen erfolgt, geht der Programmfluß von dem Bildsymbol, welches das fehlerhafte Testsegment repräsentiert, zur Flagge 415.The combination test icon 325 includes two segments, test segment 425 and test segment 430 . In the event that both test segments corresponding to the test pattern symbols 425 and 430 are passed, the program flow continues logically from flag 410 , an input port 435 of the test pattern symbol 425 , passes through the test segment corresponding to test pattern symbol 425 , leaves test pattern symbol 425 via port 440 , enters Test image symbol 430 via port 445 , passes the test segment, represented by test image symbol 430 , and leaves test image symbol 430 through port 450 , coupled to flag 420 . If one of the test segments fails, the program flow goes from the icon representing the faulty test segment to flag 415 .

Die "Flow Tool"-Wiedergabe und Schnittstelle, dargestellt in Fig. 4, umfaßt auch eine Anzahl anderer Optionen, die in der Wiedergabefläche 455 illustriert sind. Beispielsweise führt das Anwählen des Port-Displayknopfes 460 zur Wiedergabe der vorherigen Bildschirmdarstellung. Im vorliegenden Beispiel wäre dies die Wie dergabe des Testprogramms "3901" gemäß Fig. 3.The flow tool rendering and interface shown in FIG. 4 also includes a number of other options, which are illustrated in rendering area 455 . For example, the selection of the port display button 460 leads to the reproduction of the previous screen display. In the present example, this would be the reproduction of the test program "3901" according to FIG. 3.

Die bevorzugte Ausführungsform sieht auch einen Schnitts tellenmechanismus vor, der als Kombinationsbildsymbol bezeichnet wird. Im allgemeinen sehen Kombinationssegmente einen Schnittstel lenmechanismus vor, der es dem Benutzer erlaubt, die graphischen Darstellungen einer Mehrzahl von Bildsymbolen logisch zu konden sieren, welche eine Testsequenz repräsentieren, je nach seinen Be dürfnissen. Genauer gesagt, können zwei oder mehr miteinander ver bundene Bildsymbole kombiniert werden durch eine entsprechende Be nutzereingabe und graphisch dargestellt werden als ein Kombina tionsbildsymbol. Die resultierende "Flow Tool"-Wiedergabe illust riert dann nur die Linienverbindungen zwischen dem Kombinations bildsymbol und Bildsymbolen, die nicht im Kombinationsbildsymbol enthalten sind, jedoch nicht Linien, welche die in dem Kombina tionsbildsymbol enthaltenen Bildsymbole miteinander verbinden. Die Bildsymbole und ihre Verbindungslinien, aus denen ein Kombina tionsbildsymbol aufgebaut ist, können durch Anwählen des Kombina tionsbildsymbols wiedergegeben werden. Ferner können die Elemente eines Kombinationssegments ihrerseits wieder Kombinationssegmente sein, d. h. Kombinationssegmente können ineinander verschachtelt sein. Dies ermöglicht eine große Flexibilität, indem der Benutzer die Möglichkeit hat, eine Mehrzahl von Ansichten der Testsequenz auf unterschiedlichen Pegeln bereitzustellen, wo die Verwendung von Kombinationssegmenten die graphische Wiedergabe klar zu halten ge stattet und relevant bezüglich der Bedürfnisse des Benutzers zu dem Zeitpunkt der Inspektion. The preferred embodiment also sees a cut mechanism presented, which is referred to as the combination icon becomes. In general, combination segments see an interface mechanism that allows the user to view the graphical Logically representations of a plurality of image symbols which represent a test sequence, depending on its loading needs. More specifically, two or more can be linked together bound symbols are combined by a corresponding symbol user input and graphically represented as a Kombina tion icon. The resulting "Flow Tool" playback illust Then only the line connections between the combination image icon and image icons not in the combination icon are included, but not lines, which are those in the Kombina Connect picture symbols contained with each other. The Pictograms and their connecting lines that make up a Kombina tion icon is set up by selecting the Kombina tion icon. Furthermore, the elements a combination segment in turn combination segments be d. H. Combination segments can be nested be. This allows great flexibility by the user has the ability to view multiple test sequences to provide at different levels where the use of Combination segments keep the graphical representation clear equips and relevant to the needs of the user Time of inspection.

Modification of test segment data

Typischerweise ist eine frühe Aufgabe eines Testprogramms sicherzustellen, daß das Testsystem in elektrischem Kontakt mit dem Prüfling steht. Demgemäß ist ein Kontinuitätstyp eines Gleichspan nungstests oft der erste Test, der in einem Testprogramm ausgeführt wird. Wiederum unter Bezugnahme auf Fig. 3 repräsentiert das Test bildsymbol 320 einen spezifischen Zeitpunkt eines Gleichspannungs testsegments. Die Beziehungen zwischen diesem Gleichspannungstest und den anderen Betriebstests des Testprogramms "3901" werden defi niert durch die Wiedergaben gemäß Fig. 3 und 4. Die spezifischen Parameter und Gut/Schlecht-Kriterien irgend eines Gleichspannungs tests werden etabliert durch eine "DC test tool"-Programmschnitts telle, dargestellt in Fig. 5. Spezifischerweise entsprechen die in Fig. 5 wiedergegebenen Parameter spezifisch einem Gleichspannungs testsegment, demjenigen entsprechend dem Gleichspannungstestbild symbol 320.Typically, an early task of a test program is to ensure that the test system is in electrical contact with the device under test. Accordingly, a continuity type of a DC voltage test is often the first test to be run in a test program. Again. 3, the test image represents a specific time symbol 320 a DC test segment with reference to FIG. The relationships between this DC voltage test and the other operational tests of the test program "3901" are defined by the reproductions according to FIGS . 3 and 4. The specific parameters and good / bad criteria of any DC voltage test are established by a "DC test tool" - program section adjusting, shown in FIG. 5. specifically, corresponding to reproduced in Fig. 5 parameter specifically a DC test segment, corresponding to that symbol to the DC test image 320th

Die Darstellung nach Fig. 5 resultiert aus einem Anwählen des Testbildsymbols 320 der Fig. 3. Die Linie 505 gibt an, daß dies eine Wiedergabe von "dctool" ist, geliefert von der "DC test tool"-Programmschnittstelle. Der Name des spezifischen Gleichspan nungstestsegments "Continuity", welcher angezeigt wird, erscheint in dem Gleichspannungsfeld, das auf Zeile 510 positioniert ist. Dieser Name erscheint auch auf dem entsprechenden Bildsymbol 320 in Fig. 3. (Er erscheint in abgekürzter Form infolge der gewählten Formatgröße.) Die TIME (Zeit) und DATE (Datum) Parameter in Zeile 510 geben die Zeit an, wann dieser bestimmte Test zum letzten Mal modifiziert worden ist. Das Block-Status-Feld in Zeile 515 gibt irgendwelche Änderungen der gegenwärtigen Testwerte gegenüber je nen, die auf der Festplatte gespeichert sind, an. Unmittelbar dar unter gibt es eine Anzahl von Feldern, welche die konventionellen Testoptionen bereitstellen: Testverfahren, Meßeinrichtung, Verzö gerung, Spannungsanschluß, Klemmung Hoch und Tief, Maske und Er gebnis. Diese Felder ermöglichen die Auswahl von Betriebsparametern aus einer Anzahl konventioneller Optionen bezüglich der Gleich spannungsprüfung.The illustration of FIG. 5 results from selecting the test image icon 320 of FIG. 3. The line 505 indicates that this is a reproduction of "dctool" supplied by "DC test tool" -Programmschnittstelle. The name of the specific DC test segment "Continuity" that is displayed appears in the DC field positioned on line 510 . This name also appears on the corresponding icon 320 in Fig. 3. (It appears in abbreviated form due to the format size selected.) The TIME (time) and DATE (date) parameters in line 510 indicate the time when this particular test is to be performed has been modified last time. The block status field on line 515 indicates any changes in the current test values from those stored on the hard drive. Immediately below there are a number of fields that provide the conventional test options: test method, measuring device, delay, voltage connection, high and low clamping, mask and result. These fields allow the selection of operating parameters from a number of conventional options for DC voltage testing.

Im Wiedergabebereich 520 der Fig. 5 erscheinen Spalten mit den Bezeichnungen "Pinset", "Start", "Stop" und "Ifail". Der Wie dergabebereich 520 wird verwendet um zu spezifizieren, welche vor bestimmten Sätze von Anschlußstiften des integrierten Schaltkreises in diesem Testsegment zu prüfen sind. In dem vorliegenden Beispiel wurde ein Satz von Stiften mit allen Stiften, "all pins", ausge wählt. Demgemäß wird diese Testsequenz sequentiell alle Stifte der integrierten Schaltung, die zu prüfen ist, entsprechend den fol genden Parametern testen.In the playback area 520 of Fig. 5 show columns with the terms "Pinset", "start", "stop" and "iFail". The playback area 520 is used to specify which of the integrated circuit pins to test in this test segment before certain sets of pins. In the present example, a set of "all pins" pens was selected. Accordingly, this test sequence will sequentially test all of the pins of the integrated circuit to be tested according to the following parameters.

Der Wiedergabebereich 530 umfaßt eine Schnittstellenan ordnung, die als Vertikalgleiter bezeichnet wird und verwendet wird, um den Wert einer Zwangsfunktion (Belastung) anzuzeigen und zu modifizieren, die an die zu prüfende integrierte Schaltung an gelegt wird. Dies kann entweder eine Spannung oder ein Strom sein, ausgewählt durch eine entsprechende Benutzereingabe. Die Höhe der angelegten Last an jeden Stift während des Tests wird definiert durch Niederdrücken des mittleren Knopfes der Maus, wenn der Cursor sich auf dem Gleiter 535 befindet, Vertikalverlagern des Gleiters während der Mausknopf niedergedrückt ist und Loslassen des Maus knopfes, wenn der Gleiter horizontal ausgefluchtet steht mit der gewünschten Größe. Der vertikale Gleiter gibt auch die genaue Größe innerhalb des Gleiters 535 wieder.The rendering area 530 includes an interface assembly, referred to as a vertical slider, which is used to indicate and modify the value of a constraint (load) applied to the integrated circuit under test. This can be either a voltage or a current, selected by an appropriate user input. The amount of load applied to each pin during the test is defined by depressing the middle button of the mouse when the cursor is on the slider 535 , moving the slider vertically while the mouse button is depressed, and releasing the mouse button when the slider is aligned horizontally stands with the desired size. The vertical slider also reflects the exact size within slider 535 .

Drei zusätzliche vertikale Gleiter sind zusammengruppiert. Diese umfassen High Limit (oberer Grenzwert) 540, Sense (Bereich) 550 und Low Limit (unterer Grenzwert) 560. Die durch High Limit 540 und Low Limit 560 festgesetzten Parameter etablieren die Gut/ Schlecht-Kriterien für diesen Gleichspannungstest. Wie dargestellt, ist hier kein oberer Grenzwert eingestellt worden. Dies führt zu dem, was als "single ended" (einseitig begrenzter) Test bekannt ist. Eine untere Grenzspannung von minus 1 Volt (-1 V) wird durch Low Limit 560 definiert. Wenn demgemäß die Spannung an irgend einem Stift größer ist als minus 1 Volt, wird der Test bestanden. Sense 550 illustriert das Bestanden-Band (-1 bis 0 V) in grün, und das Versagen-Band (weniger als -1 Volt und größer als 0 Volt) in rot. Ferner können aktuelle Testergebnisse, wie sie etwa an einem Durchbruchspunkt zur Verfügung stehen, in dem vertikalen Sense- Gleiter 550 wiedergegeben werden.Three additional vertical gliders are grouped together. These include High Limit 540 , Sense 550 and Low Limit 560 . The parameters set by High Limit 540 and Low Limit 560 establish the good / bad criteria for this DC voltage test. As shown, no upper limit has been set here. This leads to what is known as a "single ended" test. A lower limit voltage of minus 1 volt (-1 V) is defined by Low Limit 560 . Accordingly, if the voltage on any pin is greater than minus 1 volt, the test is passed. Sense 550 illustrates the pass band (-1 to 0 V) in green, and the fail band (less than -1 volt and greater than 0 volt) in red. Furthermore, current test results, such as are available at a breakthrough point, can be reproduced in the vertical sense slider 550 .

Das Measure-Wiedergabefeld 570 (Messung) ist eine Rolli ste, verwendet zum Anwählen bestimmter Stifte. Die aktuellen Test werte von ausgewählten Stiften werden in dem Wiedergabefeld 550 angezeigt.Measure play field 570 (measurement) is a rolli used to select certain pens. The current test values of selected pens are displayed in the display field 550 .

Das Wiedergabefeld 575, das in der oberen rechten Ecke der Fig. 5 erscheint, stellt die spezifischen Instrumente ("Tools") und Daten dar, welche irgendwelche Vorkonditionierparameter definieren, erforderlich, um einen Gleichspannungstest vollständig zu definie ren. Vorkonditionierparameter definieren die Eingangssignale, an gelegt an die zu prüfende integrierte Schaltung, bevor ein Test ausgeführt wird. Nachdem die Inspektion und Modifikation des Gleichspannungstestsegments beendet worden ist, bewirkt das Anwäh len des Namensstreifens 505 die Wiedergabe eines Abfall-Menüs, das die Auswahl einer geschlossenen Option ermöglicht. Diese geschlos sene Option ermöglicht das Schließen der "DC test tool"-Programm schnittstelle. Abschließen der DC test tool läßt die Schnittstelle zu der "Flow Tool"-Wiedergabe zurückkehren, von der ein Beispiel in Fig. 3 wiedergegeben ist.Playback field 575 , which appears in the upper right corner of FIG. 5, represents the specific tools and data that define any preconditioning parameters required to fully define a DC test. Preconditioning parameters define the input signals applied to the integrated circuit to be tested before a test is carried out. After inspection and modification of the DC test segment has been completed, selecting name strip 505 causes a drop-down menu to be displayed which allows selection of a closed option. This closed option enables the "DC test tool" program interface to be closed. Completing the DC test tool allows the interface to return to the "Flow Tool" playback, an example of which is shown in FIG. 3.

Ein anderes Testsegment wird repräsentiert durch das "Gross Function"-Testbildsymbol 365 der Fig. 3. Öffnen des Test bildsymbolds 365 führt zu der "Functional Test"-Tool-Anzeige, die in Fig. 6 wiedergegeben ist. Funktionstests, wie definiert durch das "Functional Test"-Tool, sind generell die Hauptaufgabe, die durch hochgeschwinde IC-Tester zu erfüllen sind. Das obere Wieder gabefeld 605 der "Functional Test"-Tool-Wiedergabe ermöglicht die Modifikation des Namens des Funktionstests "grossfunc 006", wieder gegeben in dem Testfeld in Zeile 610.Another test segment is represented by the "Gross Function" test icon 365 of FIG. 3. Opening the test icon 365 leads to the "Functional Test" tool display, which is shown in FIG. 6. Function tests, as defined by the "Functional Test" tool, are generally the main task to be performed by high-speed IC testers. The upper replay field 605 of the "Functional Test" tool display enables the modification of the name of the function test "grossfunc 006", again given in the test field in line 610 .

Die unteren Wiedergabebereiche 615 und 625 der "Functional Test"-Tool-Wiedergabe und Schnittstelle stellen weitere Felder be reit, welche einen Funktionstest definieren. Genauer gesagt, ist diese Testdefinition hochgradig modularisiert und kombiniert Defi nitionen und Parameter von Daten, enthalten in den Datenblöcken, die durch verschiedene Felder definiert werden. Beispielsweise werden Zeitlageparameter verwendet beim Anlegen von Eingangsstimuli über den Prüfling und für Messung von Ausgängen von dem Prüfling, definiert in dem Datenblock, der identifiziert wird in dem Feld bezeichnet mit "Timing" in Zeile 620. Das "Timing" field, "Levels" field, "Code" field und "Open Pins" field sind aktiv und können geöffnet werden, um eine graphische Wiedergabe eines bestimmten Tools bereitszustellen, das es ermöglicht, den Datenblock wieder zugeben und zu modifizieren, welcher jenen spezifischen Aspekt des Tests definiert. In ähnlicher Weise kann eine Liste von Mustern spezifiziert werden mittels des Vector-Feldes in Zeile 635. Start und Stoppunkte können definiert werden, wenn das gesamte Muster nicht auszuführen ist, und eine Maske kann definiert werden, wenn bestimmte Werte nicht abzufragen sind. Die Muster, die binäre Se quenzen für jeden Eingangs- und Ausgangsstift sind, werden defi niert durch ein Tool, das dieser Funktion zugeordnet ist, nämlich das Vector-Tool.The lower display areas 615 and 625 of the "Functional Test" tool display and interface provide further fields which define a function test. More specifically, this test definition is highly modularized and combines definitions and parameters of data contained in the data blocks defined by different fields. For example, timing parameters are used when applying input stimuli across the device under test and for measuring outputs from the device under test, defined in the data block identified in the field labeled "timing" in line 620 . The "Timing" field, "Levels" field, "Code" field and "Open Pins" field are active and can be opened to provide a graphical representation of a particular tool that enables the data block to be re-entered and modified, which defines that specific aspect of the test. Similarly, a list of patterns can be specified using the vector field in line 635 . Start and stop points can be defined if the entire pattern cannot be executed, and a mask can be defined if certain values are not to be queried. The patterns, which are binary sequences for each input and output pin, are defined by a tool that is assigned to this function, namely the vector tool.

Fig. 7 zeigt die "Timing Tool"-Schnittstelle, resultierend aus dem Öffnen des "Timing Tool"-Programms. Wie angegeben, ent sprechen die Daten dem "grossfuncTIM006"-Datenobjekt, angegeben in dem "Timing" (Zeitlage) Feld in Zeile 620 der Fig. 6. Ein oberer Bereich 710 enthält ein "Timing"-Feld in Zeile 715, das das Date nobjekt definiert entsprechend der gegenwärtigen Wiedergabe. Linie 720 enthält ein "PINDEF TABLE"-Feld, welches das Datenobjekt be nennt, das die Stifte des für die Prüfung ausgewählten Schaltkrei ses definiert. Fig. 7 shows the "Timing Tool" interface, resulting from the opening of the "Timing tool" program. As indicated, the data corresponds to the "grossfuncTIM006" data object specified in the "Timing" field in line 620 of FIG. 6. An upper area 710 contains a "Timing" field in line 715 , which contains the date nobjekt defines according to the current rendering. Line 720 contains a "PINDEF TABLE" field, which designates the data object that defines the pins of the circuit selected for the test.

Die Wiedergabefläche 720 illustriert generell ein oszil lographenähnliches Diagramm, das verschiedene Signalwellenformen definiert. Dieses Instrument ermöglicht die Modifikation der Zeit lage von Pegelübergängen durch Ziehen der Kanten der Wellenformen von einer Position zu einer anderen. Spezifisch entsprechen Über gängen, wie der Tief- nach Hoch-Übergang 725, einem aktiven Bereich einschließlich der Wiedergabe des Übergangs. Betätigen des mittle ren Mausknopfes, während der Cursor sich in diesem aktiven Bereich befindet, ermöglicht den Übergang horizontal in eine neue Position zu ziehen entsprechend einer neuen Zeit, und eine Neupositionierung bei dieser neuen Zeit erfolgt durch Loslassen des Mausknopfes.Display area 720 generally illustrates an oscilloscope-like diagram that defines various signal waveforms. This instrument allows the timing of level transitions to be modified by dragging the edges of the waveforms from one position to another. Specifically, transitions, such as the low to high transition 725 , correspond to an active area including the rendering of the transition. Pressing the middle mouse button while the cursor is in this active area allows the transition to be dragged horizontally to a new position according to a new time, and repositioning at this new time is done by releasing the mouse button.

Im rechten Abschnitt des Wiedergabefeldes 730 befinden sich zwei Druckknöpfe 735 und 740. Anwählen des Testknopfes 735 lädt unmittelbar die laufenden Bedingungen, definiert durch die "Timing Tool"-Schnittstelle in die Test Hardware, läßt den Test laufen und kehrt zurück als Gut/Schlecht-Resultat. Dies ermöglicht schnelles Testen eines Prüflings mit neuen Testparametern. Anwählen des Check-Knopfes 704 überprüft hinsichtlich Verletzungen der Te stergrenzbedingungen.In the right section of the display field 730 there are two push buttons 735 and 740 . Selecting the test button 735 immediately loads the current conditions, defined by the "Timing Tool" interface, into the test hardware, runs the test and returns as a good / bad result. This enables a test object to be tested quickly with new test parameters. Selecting the check button 704 checks for violations of the tester boundary conditions.

Die linke Spalte 745 des Wiedergabefeldes 720 mit der Be zeichnung "PINDEF" listet entweder einzelne Stifte oder Gruppen von Stiften ("pinsets") des zu prüfenden integrierten Schaltkreises. Beispielsweise repräsentieren die ersten Eingaben "a" und "b" in Spalte 745 jeweils vier Bit-Busse, definiert durch die "PinDef"- Schnittstelle.The left column 745 of the display field 720 with the designation "PINDEF" lists either individual pins or groups of pins ("pinsets") of the integrated circuit to be tested. For example, the first inputs "a" and "b" in column 745 each represent four bit buses, defined by the "PinDef" interface.

Spalte 750 ist mit "SEQUENCE NAME" bezeichnet. Die Se quence-Name-Spalte 750 enthält Namen, die von dem Benutzer zuge ordnet werden zur Definition der zugeordneten Wellenform, die rechts in dem "WAVEFORM DESCRIPTION"-Wiedergabefeld 755 horizontal dargestellt ist.Column 750 is labeled "SEQUENCE NAME". The sequence name column 750 contains names that are assigned by the user to define the assigned waveform, which is shown horizontally on the right in the "WAVEFORM DESCRIPTION" display field 755 .

Die Zeitlage und Formatierung, spezifiziert in der "Timing Tool"-Schnittstelle, wenn kombiniert mit den Sequenzen von Einern und Nullen und Pegeln, definiert durch andere Tools, definiert demgemäß die Wellenformen, die anzulegen sind oder bezüglich derer ein Test durchzuführen ist. Die Auftrennung dieser Definitionen ermöglicht deren unabhängige Veränderung. Dies ermöglicht, daß ein Satz von Zeitlageparametern durch verschiedene unterschiedliche Sätze von Pegeln verwendet werden kann oder ein Satz von Pegeln verwendet werden kann mit unterschiedlichen Sätzen von Zeitlagen.The timing and formatting specified in the "Timing Tool "interface when combined with the sequences of ones and zeros and levels defined by other tools accordingly the waveforms to be created or related to a test is to be carried out. The separation of these definitions enables their independent change. This enables a Set of timing parameters by different different ones Sets of levels can be used or a set of levels can be used with different sets of time slots.

Bezüglich des "Pindef"-Gegenstandes, mit "y" in Spalte 745 bezeichnet, ist festzuhalten, daß ihm zwei unterschiedliche Wel lenformen zugeordnet sind. Die Wellenform auf Zeile 760 illustriert ein Strobo-Signal 765. Ein Strobo-Signal entspricht der Zeit eines Tests, geführt auf Stift "y", wenn der Prüflingsausgang abgetastet wird und verglichen wird mit bestimmten Gut/Schlecht-Kriterien. In der bevorzugten Ausführungsform wird das Strobo-Signal 765 als eine schmale Zone wiedergegeben mit grün an der Oberseite und Unterseite und rot in der Mitte zur Anzeige dafür, daß es eine bestimmte Kom bination von Ausgangs-Einern und -Nullen an Stift "y" repräsen tiert. Im einzelnen sind die Gut-Kriterien hoch oder niedrig und nicht zwischen zwei definierten Größen.Regarding the "Pindef" object, labeled "y" in column 745 , it should be noted that two different wave forms are associated with it. The waveform on line 760 illustrates a strobe signal 765 . A strobe signal corresponds to the time of a test, conducted on pin "y" when the test item output is scanned and compared with certain good / bad criteria. In the preferred embodiment, strobe signal 765 is represented as a narrow zone with green at the top and bottom and red in the middle to indicate that it represents a particular combination of output ones and zeros at pin "y" animals. In detail, the good criteria are high or low and not between two defined sizes.

Die Zeitlage in der "Timing Tool"-Wiedergabe ist sämtlich definiert in Mustern von Nullen und Einern, definiert durch ein Musterinstrumentarium. Die spezifische Zeitlage jedes Null- oder Einer-Überganges wird definiert relativ zu "TO". "TO" ist der Be ginn eines Test-Vectors. Demgemäß ist das nächste "TO" das Ende des einen Test-Vectors und der Beginn des nächsten Test-Vectors. Gene rell definiert das Anlegen eines Satzes von 1-0 an einen Stift und zu irgend einer späteren Zeit Testen des Ausgangs desselben oder eines anderen Stiftes einen Test-Vector.The timing in the "Timing Tool" playback is all defined in patterns of zeros and ones, defined by a Sample instruments. The specific timing of each zero or A transition is defined relative to "TO". "TO" is the Be start of a test vector. Accordingly, the next "TO" is the end of the one test vector and the beginning of the next test vector. Genes rell defines the creation of a sentence from 1-0 to a pen and testing the output of the same at some later time another pen a test vector.

Das "Levels Tool"-Programm wird in derselben Weise eröff net wie das "Timing Tool"-Programm geöffnet worden war. Genauer gesagt, öffnet das Aktivieren des linken Knopfes, während der Cur sor sich über dem " Levels"Feld in Zeile 630 der Fig. 6 befindet, das "Levels Tool"-Programm. Fig. 8 illustriert die "Levels Tool"- Wiedergabe und Schnittstelle, resultierend vom Öffnen des "Levels Tool"-Programms. The "Levels Tool" program is opened in the same way as the "Timing Tool" program was opened. More specifically, activating the left button while the cursor is over the "Levels" field in line 630 of FIG. 6 opens the "Levels Tool" program. Figure 8 illustrates the "Levels Tool" rendering and interface resulting from opening the "Levels Tool" program.

In Fig. 8 indiziert ein "Level" (Pegel) Blockfeld in Zeile 805 das spezifische Datenobjekt, das inspiziert wird. Ein Rollwie dergabefeld 820 stellt die Sätze von Stiften dar, welche definierte Pegel haben. Anwählen eines Satzes von Stiften von Wiedergabefeld 820 bewirkt eine graphische Wiedergabe der Pegelparameter in dem Wiedergabefeld 830. Ein Satz von vertikalen Gleitern 840, 850, 860, 870 und 880 ermöglichen die Definition der Höhen von VIH (Span nungseingang Hoch), VIL (Spannungseingang Niedrig), VOH (Span nungsausgang Hoch), VOL (Spannungsausgang Niedrig) und Vref. Die Spaltenköpfe sind Sätze von Stiften und dann VIH und VIL, VOH, VOL.In Figure 8, a "level" block field in line 805 indicates the specific data object that is being inspected. A roll play field 820 represents the sets of pens that have defined levels. Selecting a set of pens from display panel 820 graphically displays the level parameters in display panel 830 . A set of 840 , 850 , 860 , 870 and 880 vertical sliders allows you to define the heights of VIH (high voltage input), VIL (low voltage input), VOH (high voltage output), VOL (low voltage output) and Vref. The column headers are sets of pins and then VIH and VIL, VOH, VOL.

Das Wiedergabefeld 890 besteht aus zwei vertikalen Glei tern, welche die programmierbare Belastung definieren. IOH (Aus gangsstrom Hoch) und IOL (Ausgangsstrom niedrig) sind laufende Pa rameter.The display panel 890 consists of two vertical slides that define the programmable load. IOH (output current high) and IOL (output current low) are running parameters.

Aus der "Timing Tool"-Wiedergabe gemäß Fig. 7 ist ent nehmbar, daß die verschiedenen "Pindef"-Gegenstände in Ausdrücken von Nullen und Einsen definiert sind. Die quantitativen Werte für diese Spannungen werden nicht von dem "Timing Tool"-Programm spe zifiziert. Statt dessen werden die tatsächlichen Spannungspegel für diese Eingangsstifte definiert durch das "Level Tool"-Programm. Jeder Eingangsstift kann zu irgend einem zeitlichen Augenblick entweder hoch oder tief gelegt werden. Demgemäß empfängt jeder de finierte Eingangsstift ein Bit funktioneller Daten von dem Test- Vector. Ein Hardware-Treiber in der Testapparatur bringt jeden Eingangsstift auf den Wert von VIH oder VIL, definiert für den be treffenden Stift und basierend auf jenen Daten.From the "Timing Tool" reproduction according to FIG. 7 it can be seen that the various "Pindef" objects are defined in terms of zeros and ones. The quantitative values for these voltages are not specified by the "Timing Tool" program. Instead, the actual voltage levels for these input pins are defined by the "Level Tool" program. Each input pin can be placed either high or low at any one time. Accordingly, each defined input pin receives a bit of functional data from the test vector. A hardware driver in the test apparatus brings each input pin to the value of VIH or VIL, defined for the pin in question and based on that data.

VOH und VOL sind die Vergleichspegel für Ausgangsstifte. Eine "1" entspricht einem Wert oberhalb VOH, eine "0" entspricht einem Wert unter VOL. Ausgangspegel werden bestimmt durch Kompara toren in der Hardware, die mit jedem der definierten Ausgangsstifte gekoppelt sind.VOH and VOL are the comparison levels for output pins. A "1" corresponds to a value above VOH, a "0" corresponds to a value below VOL. Output levels are determined by Kompara gates in the hardware with each of the defined output pins are coupled.

Modify the sequence of test segments

Zusätzlich zum Inspizieren und Modifizieren der Parameter eines existierenden Testsegments ist es auch möglich, die logische Sequenz der Testsegmente zu modifizieren. Ein Beispiel ist das Einführen eines neuen Testsegments in eine existierende Sequenz eines Testprogramms. Fig. 9 ist eine "Flow Tool"-Wiedergabe, die graphisch eine existierende Testsequenz illustriert sowie ein neues Testsegment 910, das noch nicht logisch mit der existierenden Testsequenz in Beziehung steht. Das neue Testsegment 910 wird er zeugt und in die Testsequenz eingeschaltet, wie unten beschrieben.In addition to inspecting and modifying the parameters of an existing test segment, it is also possible to modify the logical sequence of the test segments. An example is the introduction of a new test segment into an existing sequence of a test program. FIG. 9 is a flow tool rendering that graphically illustrates an existing test sequence and a new test segment 910 that is not yet logically related to the existing test sequence. The new test segment 910 is created and switched into the test sequence as described below.

Aktivieren des rechten Mausknopfes mit dem Cursor in dem "Hintergrund"-Bereich 920 der Wiedergabe führt dazu, daß ein Haupt-Menü abgebildet wird, wie in Fig. 10 dargestellt. Die erste Eingabe in dem Haupt-Menü ist "Segment". Anwählen der Segmentoption stellt ein Segment-Menü 1010 bereit. Das Segment-Menü 1010 stellt einen Satz von Auswahlen unterschiedlicher Arten von Testsegmenten dar. Die erste Wahl in Zeile 1020 ist "Functional Test" (Funk tionstest). Anwählen von "Functional Test" führt zur Darstellung eines neuen "Functional Test"-Bildsymbols 910 in der flow tool Wiedergabe gemäß Fig. 9. Zu diesem Zeitpunkt hat das Bildsymbol noch keine Verbindung mit dem Testprogramm und auch keine zugeord neten Daten, welche das Testsegment definieren. Die Gut/Schlecht- Kriterien für dieses neue Testsegment können eingegeben werden durch Anwählen des Testbildsymbolds 910, das zu der "Functional Test" Tool-Wiedergabe und Schnittstelle führt, oben beschrieben unter Bezugnahme auf Fig. 6. Das "Functional Test" Tool stellt die Schnittstelle bereit für die Definition des Betriebstests, zuge ordnet dem neu erzeugten Bildsymbol 910.Activating the right mouse button with the cursor in the "background" area 920 of the display causes a main menu to be displayed, as shown in FIG . The first entry in the main menu is "Segment". Selecting the segment option provides a segment menu 1010 . The segment menu 1010 represents a set of selections of different types of test segments. The first choice in line 1020 is "Functional Test". Selecting "Functional Test" leads to the display of a new "Functional Test" icon 910 in the flow tool display according to FIG. 9. At this point in time the icon has no connection to the test program and no associated data relating to the test segment define. The good / bad criteria for this new test segment can be entered by selecting the test icon 910 that leads to the "Functional Test" tool rendering and interface described above with reference to Fig. 6. The "Functional Test" tool provides the Interface ready for the definition of the operational test, assigned to the newly created icon 910 .

Gemäß Fig. 9 wird das "Functional Test"-Bildsymbol 910 in die Testsequenz wie folgt integriert. Port 330 des continuity Testbildsymbols 320 ist zur Zeit noch mit dem Stop Bildsymbol 340 verbunden. Betätigen des linken Knopfes auf Port 330 löst diese Verbindung und bewirkt das linke Ende der Verbindungslinie 345 mit dem Cursor mitzulaufen. Dies ermöglicht dem Benutzer, das Ende der Verbindungslinie 345, die vorher an Port 330 angeschlossen war, aufzunehmen und zu halten. Loslassen des linken Knopfes bewirkt, daß die Verbindungslinie 345 in das Stop Bildsymbol 340 "eingezo gen" wird in einer Art, die optisch ähnlich ist wie das Aufspulen des Netzkabels in einen Staubsauger.According to FIG. 9, the "functional test" -Bildsymbol 910 is integrated into the test sequence as follows. Port 330 of the continuity test symbol 320 is currently still connected to the stop symbol 340 . Pressing the left button on port 330 releases this connection and causes the left end of connection line 345 to run with the cursor. This allows the user to pick up and hold the end of connection line 345 that was previously connected to port 330 . Releasing the left button causes the connecting line 345 to be "drawn" into the stop icon 340 in a manner that is visually similar to winding the power cord into a vacuum cleaner.

Betätigen auf Port 330 des Continuity test Bildsymbols 320 bewirkt, daß von Port 330 eine neue Verbindungslinie gezogen werden kann. Diese neue Verbindungslinie ist mit einem Ende festgelegt an Port 330, und das andere Ende ist mit dem Cursor verbunden. Das Ende der Verbindungslinie am Cursor kann in die Nähe eines anderen Ports bewegt werden, etwa Port 930 des Testbildsymbols 910, und losgelassen werden. Wenn das Ende der Verbindungslinie nahe einem Port losgelassen wird, schließt es sich automatisch an und definiert einen neuen Testsequenzablauf. Im einzelnen, wenn die Gut/Schlecht-Parameter des Continuitätstests 320 nun versagen, wird anstelle des Abbruchs der Testsequenz der Funktionstest entspre chend dem Testbildsymbol 910 ausgeführt. Die neue Verbindungslinie 1110 ist in Fig. 11 dargestellt.Pressing on port 330 of the continuity test icon 320 causes a new connecting line to be drawn from port 330 . This new connection line is fixed at one end to port 330 and the other end is connected to the cursor. The end of the connecting line on the cursor can be moved near another port, such as port 930 of the test icon 910 , and released. When the end of the connection line is released near a port, it automatically joins and defines a new test sequence sequence. In particular, if the good / bad parameters of the continuity test 320 now fail, the function test is carried out in accordance with the test image symbol 910 instead of the termination of the test sequence. The new connecting line 1110 is shown in FIG. 11.

In ähnlicher Weise kann eine andere Verbindungslinie 1120 von Port 1130 des Testbildsymbols 910 mit dem Cursor zum Port 1140 des Leistungsbildsymbols 1150 in ähnlicher Weise gezogen werden durch Loslassen des cursorgesteuerten Endes der Verbindungslinie 1120 in der Nähe von Port 1140 des Leistungsbildsymbols 150.Similarly, another connection line 1120 can be dragged from port 1130 of test icon 910 to port 1140 of power icon 1150 in a similar manner by releasing the cursor-controlled end of connection line 1120 near port 1140 of power icon 150 .

Schließlich kann die Verbindung von Port 1160 des Testsegments 910 zum Port des Stop Bildsymbols 340 erfolgen.Finally, the port 1160 of the test segment 910 can be connected to the port of the stop icon 340 .

Fig. 12 illustriert das neue Testbildsymbol 910 vollstän dig angeschlossen einschließlich einer neuen Verbindungslinie 1210 zwischen Port 1160 von Testbildsymbol 910, Port 1220 von Stop Bildsymbol 340. Wenn in dieser neuen Sequenz der Continuitätstest, repräsentiert durch Bildsymbol 320, passiert wird, geht die Test sequenz weiter zu dem "Leakage"-Testsegment, repräsentiert durch "Leakage"-Bildsymbol 325. In dem Fall, daß der Continuitätstest versagt, läuft die Testsequenz zu dem Testsegment, das durch Bild symbol 910 repräsentiert wird. Falls das Testsegment, repräsentiert durch Testbildsymbol 910, passiert wird, geht die Testsequenz zu einem Leistungstestsegment, repräsentiert durch das Leistungsbild symbol 1150, und läßt das "Leakage"-Testsegment, repräsentiert durch das "Leakage"-Bildsymbol 325, ausfallen. In dem Falle, daß das durch das Testbildsymbol 910 repräsentierte Testsegment ver sagt, geht die Testsequenz weiter zum Stop Bildsymbol 340 und wird angehalten. Auf diese Weise kann eine neues Testsegment erzeugt und eingeführt werden in eine existierende Testprogrammsequenz. Alter nativ kann der Ablauf einer existierenden Testsequenz verändert werden oder eine neue Testsequenz kann erzeugt werden. Fig. 12 illustrates the new test icon 910 fully connected including a new connection line 1210 between port 1160 of test icon 910 , port 1220 of stop icon 340 . In this new sequence, when the continuity test represented by icon 320 is passed, the test sequence continues to the "leakage" test segment represented by "leakage" icon 325 . In the event that the continuity test fails, the test sequence runs to the test segment represented by symbol 910 . If the test segment, represented by test icon 910 , is passed, the test sequence goes to a performance test segment, represented by performance icon 1150 , and the "leakage" test segment, represented by "leakage" icon 325 , fails. In the event that the test segment represented by test icon 910 fails, the test sequence continues to stop icon 340 and is stopped. In this way, a new test segment can be created and introduced into an existing test program sequence. Alternatively, the sequence of an existing test sequence can be changed or a new test sequence can be created.

Other tools (instruments) and mouse conventions

In den verschiedenen Tools (Instrumentarien) werden Stifte des Prüflings mit logischen Namen, nicht mit der Stiftnummer, be zeichnet. Beispielsweise werden logische Namen, als "Pindefs" be zeichnet, von der "DC Tool"-Schnittstelle verwendet, wie im Fenster 520 der Fig. 5 illustriert. Ein "Pindef"-Programm liefert eine graphische Schnittstelle (nicht dargestellt) für die Definition von Stiftbezeichnungen mit spezifischer Referenz zu den Stiftnummern. In the various tools (instruments), pens of the device under test are identified with logical names, not with the pen number. For example, logical names, referred to as "Pindefs", are used by the "DC Tool" interface, as illustrated in window 520 of FIG. 5. A "Pindef" program provides a graphic interface (not shown) for the definition of pen names with a specific reference to the pen numbers.

Eine Drei-Knopf-Maus, verwendet zur Steuerung des Cursors, ist die Anordnung für das Hinweisen, Aufgreifen, Ziehen und An steuern. Ein rechter Mausknopf wird verwendet zum Abrufen von contextempfindlichen Menüs. Das heißt, ein Menü, spezifisch für das Objekt, auf das der Cursor hinweist, erscheint, wenn der rechte Knopf niedergedrückt wird. Zahlreiche Tools haben ein Haupt-Menü- Tool, das dann erscheint, wenn der rechte Knopf über irgendeinem nicht verwendeten Hintergrundfeld niedergedrückt wird. Der mittlere Knopf wird verwendet zum Ziehen, Bewegen und Festlegen. Dies wird dadurch realisiert, daß der Cursor auf ein zu bewegendes Objekt geführt wird, der mittlere Knopf gedrückt wird, der Cursor zu einer gewünschten Stelle geführt wird und der mittlere Knopf losgelassen wird. Der linke Knopf wird verwendet zum Aufgreifen, Ansteuern, Auswählen und Aktivieren.A three-button mouse, used to control the cursor, is the arrangement for pointing, picking up, pulling and pulling Taxes. A right mouse button is used to call up context sensitive menus. That is, a menu specific to that Object pointed to by the cursor appears when the right one Button is pressed. Many tools have a main menu Tool that appears when the right button is over any unused background field is depressed. The middle one Button is used for dragging, moving and setting. this will realized by placing the cursor on an object to be moved the middle button is pressed, the cursor to a the desired position and the middle button released becomes. The left button is used to pick up, control, Select and activate.

The test system

Die Schnittstellen-Tools (Instrumentarien) der Arbeits station 100 und die Programmierung und Daten des Testsystemcompu ters 130 umfassen ein zustandsloses objektorientiertes Testpro gramm. Jeder Betriebstest wird graphisch bei der Arbeitsstation 100 durch ein Bildsymbol repräsentiert. Die Sequenz dieser Betrieb stests wird repräsentiert durch die graphischen Verbindungen der Bildsymbole. Jeder Betriebstest wird ebenfalls repräsentiert durch entsprechende Datenobjekte in dem Testsystem, und die Sequenz die ser Betriebstests wird repräsentiert durch Zeiger, die logisch die entsprechenden Datenobjekte verbinden, wie genauer unten beschrie ben.The interface tools (instruments) of the work station 100 and the programming and data of the test system computer 130 comprise a stateless object-oriented test program. Each operational test is graphically represented at workstation 100 by an icon. The sequence of these operational tests is represented by the graphic connections of the symbols. Each operational test is also represented by corresponding data objects in the test system, and the sequence of these operational tests is represented by pointers that logically connect the corresponding data objects, as described in more detail below.

Die Architektur des Testsystemcomputers 130 ist in Fig. 13 dargestellt. Die Arbeitsstation 100 ist an das Tastenfeld 110 und die Maus 120 angekoppelt und umfaßt Schnittstellen Tools 1305, welche den Bildschirm 1310 ansteuern und ansprechen auf Eingänge an Tastenfeld 110 und Maus 120. Botschaften werden von den Schnitts tellen Tools 1305 zu Tool-Schnittstellenroutinen 1315 übertragen, enthalten im Testsystemcomputer 130 zum Modifizieren von Datenob jekten in dem Testsystem derart, daß sie den Betriebstestparametern und Testsequenzen entsprechen, definiert durch die Schnittstellen auf dem Bildschirm 1310. Botschaften werden auch ausgesandt zum Einleiten spezifischer Aktionen, etwa eine Botschaft, einen Test auszuführen, und Daten und Testsresultate können zu der Arbeits station 100 zurückgeführt werden von dem Testsystemcomputer 130 zwecks Wiedergabe. The architecture of the test system computer 130 is shown in FIG. 13. Workstation 100 is coupled to keypad 110 and mouse 120 and includes interface tools 1305 which control screen 1310 and respond to inputs on keypad 110 and mouse 120 . Messages are transmitted from the interface tools 1305 to tool interface routines 1315 , contained in the test system computer 130 for modifying data objects in the test system such that they correspond to the operational test parameters and test sequences, defined by the interfaces on the screen 1310 . Messages are also sent out to initiate specific actions, such as a message to perform a test, and data and test results can be returned to work station 100 by test system computer 130 for playback.

In der bevorzugten Ausführungsform umfassen die Interface Tools 1305 ein standard X-windows Graphikpaket und spezifische Schnittstellen Tools, wie das "Flow Tool"-Programm und andere Pro gramme, die oben beschrieben wurden. Schnittstellen Tools 1305 de finieren Bildsymbole und Bildsymbolsequenzen in Ausdrücken von be nutzerdefinierbaren Bildsymbolnamen, wie "continuity". Wenn demge mäß eine Botschaft zu einer Tool Schnittstellenroutine 1315 des Testsysemcomputers 130 im Ansprechen auf die Erzeugung, Modifika tion oder Neuanschluß eines Bildsymbols übertragen wird, erfolgt die Botschaft in Ausdrücken eines Bildsymbolnamens.In the preferred embodiment, interface tools 1305 include a standard X-windows graphics package and specific interface tools such as the "Flow Tool" program and other programs described above. Interface tools 1305 define picture symbols and picture symbol sequences in expressions of user-definable picture symbol names, such as "continuity". Accordingly, when a message is transmitted to a tool interface routine 1315 of the test system computer 130 in response to the creation, modification, or reconnection of an icon, the message is expressed in terms of an icon name.

Ebenfalls in Übereinstimmung mit der bevorzugten Ausfüh rungsform der Erfindung interpretieren die Tool Schnittstellenrou tinen 1315 Botschaften bezüglich der Bildsymbole unter Verwendung einer binären Tabelle 1320, um die Bildsymbolnamen in die Adressen entsprechender Segmentblöcke zu übersetzen, enthalten im Speicher des Testsystemcomputers 130. Tool Schnittstellenroutinen 1315 in spizieren oder modifizieren dann entsprechende Datenobjekte im An sprechen auf die Botschaften. Wenn demgemäß der Benutzer eine Li nie, welche in dem "Flow Tool"-Programm Bildsymbole miteinander verbindet, verlagert, werden die Namen der betroffenen Bildsymbole in der binären Tabelle 1320 aufgesucht, um die Adresse der zuge ordneten Segmentblöcke festzustellen. Die Tool Schnittstellenrou tinen 1315 ändern dann die entsprechenden Zeiger der neuen Sequenz zu entsprechen, definiert durch die neue Position der Verbindungs linie. Diese Datenobjekte und ihre Beziehungen zu den Schnittstel lenbildsymbolen und anderen Datenobjekten werden mehr ins Einzelne gehend unten diskutiert.Also in accordance with the preferred embodiment of the invention, the tool interface routines 1315 interpret symbols related to the symbols using a binary table 1320 to translate the symbol names into the addresses of corresponding segment blocks contained in the memory of the test system computer 130 . Tool interface routines 1315 in or then modify or modify corresponding data objects in response to the messages. Accordingly, when the user never relocates a line that connects icons in the "Flow Tool" program, the names of the affected icons in binary table 1320 are looked up to determine the address of the assigned segment blocks. The tool interface routines 1315 then change the corresponding pointers to correspond to the new sequence, defined by the new position of the connecting line. These data objects and their relationships to the interface icons and other data objects are discussed in more detail below.

Die Tool Schnittstellenroutinen 1315 interpretieren auch Befehle und führen sie aus, wie "Ausführung". Beispielsweise rufen die Tool Schnittstellenroutinen 1315 eine Ausführungsroutine auf, lokalisiert in den Testexekutionsroutinen 1325, im Ansprechen auf einen "execute" Befehl von den Schnittstellen Tools 1305, etwa durch Anwählen des "execute" Knopfes im Feld 505 der "Functional Test" Schnittstelle gemäß Fig. 6. Ferner übertragen die Tool Schnittstellenroutinen 1315 Datenbotenschaften zurück zur Arbeits station 100 für graphische Wiedergabe. Beispielsweise werden in der bevorzugten Ausführungsform Verbindungslinien weiß, um die aktuelle Testsequenz während der Ausführung eines Tests zu repräsentieren.The tool interface routines 1315 also interpret commands and execute them, such as "execution". For example, the tool interface routines 1315 call an execution routine, located in the test execution routines 1325 , in response to an "execute" command from the interface tools 1305 , for example by selecting the "execute" button in the field 505 of the "functional test" interface according to FIG. 6. Furthermore, the tool interface routines 1315 transmit data messages back to the work station 100 for graphical display. For example, in the preferred embodiment, connection lines become white to represent the current test sequence during the execution of a test.

Ferner ändern die Ränder von Bildsymbolen entsprechend ausgeführten Tests die Farbe zur Anzeige dafür, ob der Test bestanden oder nicht bestanden wurde, entsprechend den für jeden Test vorgegebenen Kri terien. Furthermore, the edges of picture symbols change accordingly Tests the color to indicate whether the test passed or not passed, according to the criteria specified for each test terien.

Jeder Betriebstest wird primär definiert durch drei dis krete Typen von Datenobjekten. Erstens ein oder mehrere Testpara meterdatenblöcke, wie Datenblock 1330, definiert Betriebsparameter jedes Betriebstests, Datenblöcke enthalten keinen ausführbaren Code oder Sequenzinformation, sondern sind vorbehalten den Daten, welche die Parameter eines bestimmten Test definieren. Typischer weise werden diese Betriebsparameter definiert, inspiziert und mo difiziert im Ansprechen auf Eingaben bei entsprechenden Tools. Beispielsweise Änderungen eines Gleichspannungstests würden aus Eingaben resultieren bei dem "DC test tool"-Programm (oben be schrieben unter Bezugnahme auf Fig. 5), Änderungen eines Funk tionstests von Eingaben bei dem "Functional Test" Tool (oben be schrieben unter Bezugnahme auf Fig. 6) und Änderungen der Zeitlage eines bestimmten Tests resultieren aus Eingaben bei dem "Timing Tool" Programm (oben beschrieben unter Bezugnahme auf Fig. 7).Each operational test is primarily defined by three discrete types of data objects. First, one or more test parameter data blocks, such as data block 1330 , define operational parameters of each operational test, data blocks do not contain executable code or sequence information, but are reserved for the data that define the parameters of a particular test. Typically, these operating parameters are defined, inspected and modified in response to inputs with the corresponding tools. For example, changes to a DC voltage test would result from inputs to the "DC test tool" program (described above with reference to FIG. 5), changes to a function test of inputs to the "Functional Test" tool (described above with reference to FIG . 6) and changes the timing of a particular test result from entries in the "timing tool" program (described above with reference to Fig. 7).

Datenblöcke können in zweierlei Weise verändert werden. Erstens kann ein unterschiedlicher Block ausgewählt werden. Bei spielsweise könnte der "Timing"-Block "grossfunctime006" ersetzt werden durch einen anderen Block durch Anwählen eines Datenblocks von der "Select Tool"-Wiedergabe und Schnittstelle, illustriert in Fig. 1. Im einzelnen stellt das Niederdrücken des rechten Knopfes, während der Cursor sich über einem Feldetikett befindet, etwa dem "Timing" Etikett 618 auf Zeile 620, ein Menü bereit zur Auswahl eines anderen Datenblocks für die Definition der Zeitlage. Alter nativ können spezifische Parameter innerhalb eines ausgewählten Datenblocks modifiziert werden durch Verwendung des entsprechenden Wiedergabe- und Schnittstellen Tools. Das Aktivieren des linken Knopfes, während der Cursor sich über einem Datenblockfeld befin det, öffnet im einzelnen das Tool entsprechend dem gewählten At tribut.Data blocks can be changed in two ways. First, a different block can be selected. For example, the "timing" block "grossfunctime006" could be replaced by another block by selecting a data block from the "Select Tool" playback and interface, illustrated in Fig. 1. In particular, pressing the right button while the Cursor is over a field label, such as "timing" label 618 on line 620 , a menu ready to select another block of data for defining the timing. Alternatively, specific parameters within a selected data block can be modified using the corresponding playback and interface tool. Activating the left button while the cursor is over a data block field opens the tool according to the selected attribute.

Ein zweiter Typ von Datenobjekt ist ein Segmentblock. Ein Beispiel Segmentblock 1335 ist in Fig. 13 dargestellt. Der dritte Typ von Datenobjekt ist ein Segment def, von dem ein Exemplar Seg ment def 1340 in Fig. 13 ist. Gemeinsam definieren Segmentblöcke und Segment defs die logischen Sequenzen von Betriebstests, die bei der Ausführung zur Verfügung stehen.A second type of data object is a segment block. An example segment block 1335 is shown in FIG. 13. The third type of data object is a segment def, an instance of which is segment def 1340 in FIG. 13. Together, segment blocks and segment defs define the logical sequences of operational tests that are available during execution.

Die Segmentblöcke und Segment defs werden näher unter Be zugnahme auf Fig. 14 erläutert. Wie dargestellt, ist der Segment block 1335 ein Datenobjekt mit einer Anzahl von Schlitzen. Bei spielsweise enthält der name slot den Namen des entsprechenden Bildsymbols auf dem Bildschirm 1310. Der type slot identifiziert den Typus des Objekts, "segment", welcher Segmentblock ist. Der alt-type slot identifiziert, auf welchen Typ von Test hingewiesen wird, beispielsweise "DC test". Andere slots identifizieren, wie alternative Sequenzen erhältlich sind (entsprechend der Anzahl von Ausgangsports auf der graphischen Wiedergabe) und die spezifische Adresse von segment def 1340, welches die Adressen von alternativen Segmentblöcken 1410 und 1420 enthält, welche die alternativen er hältlichen Betriebstests definieren nach Ausführung des Gleich spannungstests, definiert durch den Segmentblock 1325 während der Laufzeit. Im vorliegenden Beispiel entsprechen die Segmentblöcke 1325, 1410 und 1420 den Bildsymbolen 320, 425 bzw. 340 von Fig. 3 und 4. (Kombinationsbildsymbole sind primär ein Schnittstellen mechanismus der Schnittstellen Tools 1305 der Arbeitsstation 100, obwohl sie im Testsystemcomputer 130 durch entsprechende Datenob jekte repräsentiert werden.)The segment blocks and segment defs are explained in more detail with reference to FIG. 14. As shown, segment block 1335 is a data object with a number of slots. For example, the name slot contains the name of the corresponding icon on screen 1310 . The type slot identifies the type of the object, "segment", which is the segment block. The alt-type slot identifies which type of test is being referred to, for example "DC test". Other slots identify how alternative sequences are available (corresponding to the number of output ports on the graphical representation) and the specific address of segment def 1340, which contains the addresses of alternative segment blocks 1410 and 1420 , which define the alternative operational tests available after execution of the DC voltage tests defined by segment block 1325 during runtime. In the present example, the segment blocks 1325 , 1410 and 1420 correspond to the icons 320 , 425 and 340 of FIGS. 3 and 4. (Combination icons are primarily an interface mechanism of the interface tools 1305 of the workstation 100 , although they are in the test system computer 130 by corresponding data objects are represented.)

Gemäß Fig. 13 enthält der Testsystemcomputer 130 vorzugs weise Testausführungsroutinen 1325, die in der C Programmiersprache geschrieben sind. Die Testausführungsroutinen 1325 sind eine lauf zeitgestützte Bibliothek von vordefinierten Verfahren, die auf die Segmentblöcke segment defs und Datenblöcke sowie Schnittstelle ex ekutiert werden mit der Tester Hardware 135 zum Ausführen des Testablaufs, repräsentiert durch die graphische Darstellung auf dem Bildschirm im Ansprechen auf Botschaften, empfangen von den Tool Schnittstellenroutinen 1315. Beispielsweise im Ansprechen auf eine Botschaft einen Test zu "exekutieren", würden die Tool Schnitts tellenroutinen 1315 den zu exekutierenden Test identifizieren durch eine spezifische Adresse und würden die Test-Exekutionsroutinen 1325 aufrufen. Die Test-Exekutionsroutinen bilden dann eine Schnitt stelle mit den entsprechenden Segmentblöcken segment defs, Daten blöcken und der Kontrolltester-Hardware 135. Beispielsweise im An sprechen auf eine Botschaft, einen Gleichspannungstest auszuführen, lesen die Test-Exekutionsroutinen den adressierten Segmentblock, exekutieren ein Laufzeitprogemm entsprechend dem auszuführenden Gleichspannungstest, lesen die Datenblockparameter, welche den Gleichspannungstest definieren, führen Treibersignale der Tester Hardware 135 zu in Übereinstimmung mit jenen Testparametern, ver gleichen die von der Tester Hardware 135 empfangenen Resultate mit den Gut/Schlecht-Parametern im Datenblock und setzen die Sequenz logisch fort zum nächsten Segmentblock in der Testsequenz im An sprechen auf die Logik in dem zugeordneten Segment def.Referring to FIG. 13 of the test system computer 130 contains preference as test execution routines 1325, which are written in the C programming language. The test execution routines 1325 are a runtime-based library of predefined methods, which are executed on the segment blocks segment defs and data blocks and interface, with the tester hardware 135 for executing the test sequence, represented by the graphic representation on the screen in response to messages received from the tool interface routines 1315 . For example, in response to a message to "execute" a test, the tool interface routines 1315 would identify the test to be executed by a specific address and would call the test execution routines 1325 . The test execution routines then form an interface with the corresponding segment blocks segment defs, data blocks and the control tester hardware 135 . For example, in response to a message to perform a DC voltage test, the test execution routines read the addressed segment block, execute a runtime program in accordance with the DC voltage test to be performed, read the data block parameters that define the DC voltage test, and drive signals of the tester hardware 135 lead in accordance with those test parameters , compare the results received by the tester hardware 135 with the good / bad parameters in the data block and continue the sequence logically to the next segment block in the test sequence in response to the logic in the assigned segment def.

Die Tester Hardware 1340 umfaßt Treiberstufen, angekoppelt an den Prüfling für das Anlegen definierter Eingangssignale an die zu prüfende integrierte Schaltung sowie Komparatoren für das Ver gleichen von Ausgangssignalen von dem Prüfling mit programmierbaren Pegeln. Bei der Ausführung eines Tests, werden die von der Tester Hardware empfangenen Daten verglichen mit den Gut/Schlecht-Parame tern, und die Resultate werden abgespeichert in einem globalen Da tenfeld. Diese Daten werden zugänglich durch Tool Schnittstellen routinen 1315 und als Botschaft zur Arbeitsstation 100 übertragen für die Wiedergabe auf dem Bildschirm 1310.The tester hardware 1340 includes driver stages, coupled to the device under test for applying defined input signals to the integrated circuit to be tested, and comparators for comparing output signals from the device under test with programmable levels. When executing a test, the data received from the tester hardware is compared with the good / bad parameters, and the results are saved in a global data field. This data is accessible through tool interface routines 1315 and transmitted as a message to workstation 100 for display on screen 1310 .

Die Erfindung ist nicht auf die Prüfung von integrierten Schaltkreisen beschränkt, sondern kann auch Anwendung finden bei der Prüfung gedruckter Schaltungen oder anderen Typen von informa tionsverarbeitenden Geräten.The invention is not integrated into testing Circuits limited, but can also be used for testing printed circuit boards or other types of informa tion processing devices.

Claims

1. A test system for subjecting a test specimen to a logical sequence of operational tests, in which the sequence is defined by a graphical interface, which system has a display arrangement, means for applying signals to the test specimen, means for receiving signals from the test specimen Means for processing signals received from the device under test, and means for defining parameters of the operational tests, including signals to be applied to and received by the device under test, which system further comprises:
Means for the graphic representation of a sequence of operational tests on the display device,
a data structure that defines a sequence of operational tests, means for manipulating the data structure so that it corresponds to the sequence presented, and
Means for controlling the system for carrying out the operational tests in the sequence defined by the data structure.

2. A test system according to claim 1, further comprising means for modifying the graphically on the display shown sequence, in which the manipulation means the data Modify the structure so that it matches the sequence shown corresponds, and the control means the tester the modified Se to initiate the sequence.

3. A test system according to claim 1, wherein the data structure includes a number of independent data objects that are arbitrary can be switched to define a sequence of operational tests.

4. A test system according to claim 3, wherein the sequence information mation for each operational test through a discrete data object is presented.

5. A test system for subjecting a test object to a logical sequence of operational tests, the sequence being defined by a graphic interface, which system means for applying signals to the test object, means for receiving signals from the test object, means for processing signals received from the device under test, means for defining parameters of the operational tests including signals to be applied to the device under test and signals to be received from the device under test, and means for inspecting and modifying the parameters, which system further comprises a graphical interface for inspection and modifying the logical sequence of the operational tests, which interface comprises:
A graphic display device with a cursor and an input device for controlling the position of the cursor on the graphic display device,
Means for generating a graphical representation of each operation test on the display device,
a discrete data object corresponding to each operational test, which data object comprises pointers to data objects corresponding to alternative sequential operational tests,
Means for the graphic representation of the address of each company test in connection with the corresponding graphic symbol, means for the graphic connection of the symbols on the display arrangement by lines, which lines correspond to the possible sequences of the test sequence,
Data means responsive to the means for graphically connecting icons on the display to define the corresponding pointers in the data objects such that the alternative sequential operational tests defined by the data objects correspond to the possible sequences of the graphically represented test sequence, and
Test means coupled to the device under test for executing the logical sequence of operational tests from the possible test sequences in response to signals received from the device under test and the data objects.

6. A system according to claim 5, wherein the means for the graphic connection of image symbols further include means for modifying connections between icons and the the data means modify the data objects in such a way that the graphical representation.

A system according to claim 6, further comprising input means to separate lines between icons and draw new li no between picture symbols, both under cursor control.

A system according to claim 7, further comprising a number predefined operational test types, each operational test type gra phisch on the display by a common icon is shown, each operational test type also by an ent speaking class of data objects is represented, and everyone specific operational test through a single case of that class right is presented.

9. A system according to claim 5, wherein the means for generating a graphical representation further include means for Representation of groups of operational tests as a single picture symbol.