DE3930269A1 - Verfahren und anordnung zum testen von mikrorechnergesteuerten baugruppen und geraeten - Google Patents
Verfahren und anordnung zum testen von mikrorechnergesteuerten baugruppen und geraetenInfo
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Description
Das Anwendungsgebiet der Erfindung ist die Datenkompression
von Programmsequenzen oder Datenströmen für Aufgaben in
Test, Diagnose und Fehlertoleranz insbesondere in mikro
rechnergesteuerten Baugruppen und Geräten zur Testzeit
reduzierung und zur Erhöhung der Fehlererkennungswahr
scheinlichkeit bzw. Zuverlässigkeit.
In (Voelkel, Lutz; Pliquett, Jürgen: Signaturanalyse. Akade
mie-Verlag Berlin 1988) wird das gegenwärtige Wissen auf
diesem Fachgebiet zusammengefaßt.
Es sind Realisierungen der Signaturanalyse z. B. DD-WP
01 53 943 und DE-OS G01R31/28 25 38 651 für die manuell oder
maschinell geführte Fehlerlokalisierung auf Leiterplatten
bekannt. Weiterhin sind sogenannte Watchdog-Timer-
Schaltungen zur Programmüberwachung insbesondere zur
Verhinderung von Deadlocks bekannt z. B. DE-OS 32 32 513A1,
32 07 633. Diese Verfahren sind zu einer umfassenden on-line-
Rechnerdiagnose ungeeignet.
In DD-WP 2 34 510 wird eine Anordnung zum Testen und Isolieren
defekter Rechnerknoten beschrieben, die I/O-Befehl-gesteuert
mit einem parallelverarbeitenden Signaturregister versehen
ist. Nachteilig für die Schaltkreisinstrumentierung ist, daß
die Schaltung zu aufwendig zu instrumentieren und zu steuern
ist, daß keine programmgesteuerte Installation der
Festsignaturen möglich ist und daß die Anordnung bezüglich
der Schaltkreisintegration Nachteile in der Verarbeitungs
geschwindigkeit aufweist.
Von der 32-Bit-CPU 80 386 von Intel ist bekannt, daß paral
lele Signaturregister unterschiedlicher Breite einen block
weise partitionierten Start-up-test unterstützen. Das Ver
fahren ist nicht für On-line-tests geeignet. Es ist nicht
für den Anwender nutzbar, nur auf CPU-start-up-test
beschränkt und nicht fehlerunabhängig von der CPU:
Ziel der Erfindung ist eine
- - Hohe Fehlererkennungswahrscheinlichkeit bei geringem bzw. vorgegebenem Schaltungsaufwand zur Schaltkreisintegration
- - Gewährleistung einer maximalen Taktfrequenz
- - Schaltkreisinstrumentierung
- - geringer Platzbedarf
- - geringe Kosten
- - Universelle Anwendbarkeit
- - Eigenfehlersicherheit
Aufgabe der Erfindung ist es ein Verfahren und eine Schal
tungsanordnung zur parallelen Datenkompression insbesondere
für Mikrorechner zu schaffen, die besser als bekannte Ver
fahren und Anordnungen unter Vermeidung von Sollsignatur-
RAMs zur Schaltkreisintegration, zur schnelleren Verarbei
tung, zur Erhöhung der Fehlererkennungswahrscheinlichkeit
und zur Reduzierung des Schaltungsaufwandes geeignet ist.
Dabei wird eine Folge parallel anliegender (Daten)-Vektoren,
deren Auswahl durch Steuersignale oder deren Kombinationen
selektiert wird, zwischen einem START- und einem STOP-Befehl
zu einer Signatur komprimiert.
Zwecks Einsparung des Sollsignatur-RAM wird erfindungsgemäß
die Reduzierung auf unterschiedliche fehlersichere Festsoll
signaturen vorgenommen und ein CORR-Befehl eingeführt, so
daß aus einer aktuellen Istsignatur nach dem STOP-Befehl
mittels einem Korrekturbefehl CORR eine korrigierte
Istsignatur berechnet wird.
Diese wird aus dem Korrekturvektor des Befehls CORR
entsprechend dem Gleichungssystem eines parallelverarbeiten
den vollständig steuerbaren und beobachtbaren linear rückge
koppelten Schieberegisters und seinem aktuellen Zustandsvek
tor gebildet.
Der COMP-Befehl bewirkt den Vergleich der korrigierten Ist
signatur mit der Festsollsignatur zur GUT-Schlecht-Prüfung.
Der Korrekturvektor wird aus der direkt an einem Gutexemplar
oder aus der programmtechnisch ermittelten Istsignatur und
der Festsollsignatur und dem Gleichungssystem des parallel
verarbeitenden linear rückgekoppelten Schieberegisters
berechnet und installiert.
Außerdem dient der CORR-Befehl zur programmierten Überfüh
rung eines Signaturvektors auf einen Folgevektor zwecks
Überspringen bekannter im Intaktfall reproduzierbarer Pro
grammsequenzen bezüglich Signaturverarbeitung.
Die Instrumentierung des Verfahrens erfolgt unter Verwendung
von bidirektionalen Verstärkern, Eingabespeicher, Signatur
speicher, Festsignaturspeichern, Signaturkomparatoren,
Timern, Anzeigesteuerung, Signatur- und Statusanzeige und
einer testobjektabhängigen Adaptierschaltung, über die die
Anordnung an das Testobjekt z. B. uP oder Bus angeschaltet
ist.
Die Anordnung wird dabei so realisiert, daß ein a-Bit-Daten
vektor des Testobjektes über mindestens einen bidirektiona
len Treiber und mindestens einen Eingabespeicher an eine l-
bit-Signaturverarbeitungslogik geschaltet sind deren
Ausgänge mit dem l-bit-Signaturspeicher verbunden sind.
Der nichtnegierte l-Bit-Signaturvektor wird auf mindestens
einen bidirektionalen Treiber, auf die l-Bit-Signaturverar
beitungslogik als Zustandsinformation und auf einen ersten
l-Bit-Signaturkomparator und der negierte l-Bit-Signaturvek
tor wird auf eine Anzeigesteuerung und einen zweiten l-Bit-
Signaturkomparator geschaltet, so daß die Signaturspeicher
bezogen auf den a-Bit-Datenvektor vollständig steuerbar und
vollständig beobachtbar sind.
Es ist erforderlich, daß durch die Vergleichssteuersignale
getrennt wählbare fehlersichere Festsollsignaturen steuerbar
sind, die von einem ersten Festsignaturspeicher nichtnegiert
an den ersten l-Bit-Signaturkomparator und von einem zweiten
Festsignaturspeicher negiert an den zweiten l-Bit-Signatur
komparator geschaltet sind.
Weiterhin werden die Ausgänge der beiden l-Bit-Signaturkom
paratoren getrennt auf eine Auswerteschaltung gegeben, die
unabhängig je zwei Retrigger- und Interruptsignale zur dop
pelten Weiterverarbeitung und/oder zum Anschluß zweier unab
hängiger Timer liefern, wobei beide Signalpaare durch den
Vergleich mit unterschiedlichen Festsollsignaturen erzeugt
werden.
Aus der Rückmeldung der Signale wird ein nichtnegiertes
Inhibitsignal und ein negiertes Inhibitsignal zur redundan
ten Summenfehlermeldung geschaltet.
Die testobjektabhängige Adaptierschaltung liefert die rele
vanten Signale vom Testobjekt, einen Adreßvektor, einen
Steuersignalvektor und ein Clock-Signal an eine Befehlsdeko
dierung und Ablaufsteuerung, die daraus mindestens ein Rich
tungssteuersignal, ein Eingabespeicherfreigabesignal sowie
die Steuersignale für Taktung und Korrektur das Signatur
taktfreigabesignal und das Signaturspeicherresetsignal an
den l-Bit-Signaturspeicher und die Vergleichssteuersignale
an die Festsignaturspeicher und die Auswerteschaltung schal
tet.
Eine spezielle Anzeigesteuerung organisiert den pinminimalen
Anschluß einer Signatur- und Statusanzeige.
Die beiden Ausgangssignale der 1-Bit-Signaturkomparatoren
erzeugen über zwei unabhängige UND-Kombinationen mit je
einem der beiden Vergleichssteuersignale je ein Retrigger
signal.
Die Signale steuern über zwei unabhängige INT-Setzlogiken
einschließlich der jeweiligen Fehlerzeitsignale die Setzsig
nale der beiden Interruptspeicher, deren Ausgänge als Inter
ruptsignale weitergegeben und auf die Setzeingänge der bei
den Fehlerspeicher geschaltet sind, an deren Ausgänge unter
Einbeziehung der Zeitfehlersignale über eine ODER-
Verknüpfung das nichtnegierte Inhibitsignal und in UND-
Verknüpfung das negierte Inhibitsignal erzeugen.
Beide Interruptspeicher werden durch das Signaturspeicherre
setsignal und die Fehlerspeicher durch das jeweilige Retrig
gersignal rückgesetzt.
Von dem ersten Fehlerspeicher wird ein Verriegelungssignal
an die UND-Kombination des zweiten Retriggersignals geschal
tet.
Ein Teil der Ausgangssignale des a-Bit-Eingabespeichers ist
auf den Auswahlmaskenspeicher geschaltet, dessen Ausgangs
signale und der Steuersignalvektor auf die Auswahlschaltung
verschaltet sind und deren Ausgang gemeinsam mit dem Ausgang
des Start/Stop-Speichers über ein UND-Gatter auf ein ODER-
Gatter geführt ist.
Auf dieses ODER-Gatter ist auch ein Korrektursignal geschal
tet, dessen Ausgang das Signaturtaktfreigabesignal erzeugt.
Zur wahlweisen über Befehlsdekoder programmgesteuerten oder
direkt signalgesteuerten Anwendung ist das Signaturspeicher
resetsignal eine ODER-Verknüpfung des Resetbefehlssignals
und des Resetsignals.
Das Setzsignal des Start/Stop-Speichers ist eine ODER-Ver
knüpfung des Startsignals und des Resetsignals, dessen Rück
setzsignal wiederum eine ODER-Verknüpfung des Stoppsignals
und des Haltesignals ist.
In der Anordnung zur Außenbeschaltung werden die beiden
Ausgangssignale der Timer als unabhängige Reaktionssignale
auf das Testobjekt geschaltet, wodurch Restartversuche bei
Grundtestfehlern und Diagnoseprogrammstarts bei Gesamttest
fehlern differenzierbar sind.
Um Datenvektorbreiten a<l zu verarbeiten, wird die Kaska
dierung mehrerer Anordnungen vorgenommen.
Dazu werden die Anordnungen parallel geschaltet, so daß der
a-Bit-Datenvektor auf die Anordnungen aufgeteilt wird und
daß die Adreß- und Steuervektoren gemeinsam angesteuert
werden.
Die zwei Retriggersignale aller Schaltkreise werden getrennt
auf zwei UND-Gatter zur Bildung der beiden Summenretrigger
signale geschaltet und die zwei Interruptsignale aller
Schaltkreise werden getrennt auf zwei ODER-Gatter zur Bil
dung der beiden Summeninterruptsignale geschaltet.
Es zeigt:
Fig. 1 die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung
Fig. 2 eine Befehls- und Ablaufsteuerung
Fig. 3 eine Auswerteschaltung
Die Erfindung dient der parallelen Datenkompression auf den
Gebieten Test, Diagnose und Fehlertoleranz sowohl in einzel
nen Rechnerknoten als auch in Mehrrechnersystemen.
Sie dient der Überwachung der korrekten Arbeitsweise von
Prozessoren.
Die Anordnung ist diskret aufbaubar oder in einen Schalt
kreis (z. B. als Hardwared agnoseoverhead) integrierbar. Die
im Ausführungsbeispiel beschriebene Schaltungsanordnung wur
de in ihrem Umfang für die Implementierung in einem CMOS-
Gate-Array-Schaltkreis U5200 ausgelegt. Dabei wurde der in
Fig. 1 gestrichelt umrahmte Teil der Schaltungsanordnung in
einem Schaltkreis untergebracht. Die anderen Schaltungsteile
wie die testaobjektabhängige Adaptierschaltung 2, Signatur-
und Statusanzeige 18 sowie die beiden Timer 16/17 werden
entsprechend Einsatzfall mit diskreten Standardbausteinen
realisiert. Dieser Signaturschaltkreis ist einem I/O-Bau
stein vergleichbar. Er wird neben einer CPU oder an einem
Rechnerbus eingesetzt und kann über Befehle eines Programms
und/oder zur unabhängigen Datenkompression über Signale
gesteuert werden.
Der Signaturschaltkreis dient:
- - zum Testen und überwachen selbsttestender Rechnerknoten
- - Überwachen der Selbstdiagnosephase d. h. ihres zyklischen Auftretens - Zykluszeitüberwachung
- - Auswerten in der Selbsttestphase bei Reduzierung der Testzeit
- - Isolierung defekter Rechnerknoten, insbesondere in dezen tralen Mehrrechnersystemen
- - Rekonfigurierbarkeit des Rechnerknotens bei Teilausfällen
- - nach festgelegtem Schema
- - erlernbar
- - fehlertolerante Taskbearbeitung
- - Nutzbarkeit der Schaltung durch das Anwenderprogramm
- - Selbstdiagnose-Anzeige für die Selbstdiagnose nach dem Herstellungsprozeß bzw. beim Service
Der Signaturschaltkreis vereinigt folgende Vorteile:
- - Erhöhung der Fehlererkennungswahrscheinlichkeit
- - Flexible Fehlertoleranz mit höherer Zuverlässigkeit
- - Verkürzung der Test- und Diagnosezeit
- - Verringerung der Fehlerfortpflanzung in Mehrrechner systemen
- - Vereinheitlichung der Prüfverfahren (Herstellung-Anwendung)
- - Einfache Implementierbarkeit
Der Signaturschaltkreis läßt sich durch folgende Befehle
steuern:
Die Befehle ermöglichen, daß eine Folge parallel anliegender
(Daten)-Vektoren, deren Auswahl durch Steuersignale oder
deren Kombinationen selektiert wird, zwischen einem START-
und einem STOP-Befehl zu einer Signatur komprimiert werden.
Zwecks Einsparung des Sollsignatur-RAM wird erfindungsgemäß
die Reduzierung auf unterschiedliche fehlersichere Festsoll
signaturen vorgenommen und ein CORR-Befehl eingeführt, so
daß die aktuelle Istsignatur nach dem STOP-Befehl mittels
CORR-Befehl und Korrekturvektor zur korrigierten Istsignatur
überführt wird.
Das erfolgt entsprechend dem Gleichungssystem eines paral
lelverarbeitenden vollständig steuerbaren und beobachtbaren
linear rückgekoppelten Schieberegisters.
Der COMP-Befehl bewirkt den Vergleich der korrigierten Ist
signatur mit der Festsollsignatur zur GUT-Schlecht-Prüfung.
Mit den Befehlen werden folgende allgemeine Funktionen
realisiert:
- - Steuerung der Datenkompression (Signaturverarbeitung)
- - Auslesen der Signatur aus dem Signaturregister
- - Initialisieren des Signaturregisters
- - Fehlersicheres Rückladen einer Signatur in das Signatur register
Mit diesen Funktionen ist eine flexible Anwendung z. B. zur
Tasküberwachung, für verschachtelte unterbrechbare Tasks
oder für ein unterbrechbares Selbsttestprogramm möglich.
Dazu muß ein Signatur-Stack eingerichtet werden, in den die
ausgelesenen Signaturen der unterbrochenen Tasks abgelegt
und nach Wiederaufnahme der Task von dort zurück in das
Signaturregister geladen werden. Dieser Vorgang kann als
Routine erfolgen. Die Selbsttestüberwachung bleibt hardware
mäßig unabhängig.
Werden die Daten in die Signaturbildung einbezogen, so kann
die Istsignatur nur mit einer Sollsignatur verglichen wer
den, die nicht nur mit identischem Programm, sondern auch
mit identischen Daten gelaufen ist. Das Programm kann aber
zu einer anderen Zeit und an einem anderen Ort (Mehrrechner
system) gelaufen sein.
Dieser Fall ist insbesondere bei Selbsttestprogrammen gege
ben.
Das hier beschriebene Verfahren arbeitet mit Korrekturvekto
ren und verschiedenen festen Sollsignaturen. Dabei ist für
jede ausgliederbare Funktion nur ein Korrekturvektor erfor
derlich. Dieses Verfahren bietet sowohl vom Implementie
rungsaufwand als auch von der Flexibilität die besten Vor
aussetzungen zur aufwandsreduzierten Hardwareinstrumentie
rung.
Dazu sind Signaturregister erforderlich, die sich von jedem
beliebigen Zustand mit einem Datenwort in jeden beliebigen
anderen Zustand überführen lassen. Das Signaturregister muß
ein paralleles l-Bit-Signaturregister und muß vollständig
beobachtbar und steuerbar sein. Im Beispiel ist eine Daten
busbreite a=16 und ein l=22 Signaturspeicher realisiert.
Da eine zweischrittige Steuerung und Beobachtung bei ein
schrittiger paralleler Signaturtaktung vorgesehen war, hätte
l<=32 sein können. Durch die erfindungsgemäße Schaltungre
duzierung war bei dem vorgegebenen Schaltkreis eine maximale
Anordnung von l=22 realisierbar.
Für die 22-Bit-Signaturverarbeitungslogik wurde nachfolgen
des Polynom gewählt:
PQ(x) = x²² + x¹ + 1 irreduzibel und prim
(nach Peterson)
PR(x) = x²² + x²¹ + 1 (inverses Polynom)
Damit ergibt sich:
Gleichungssystem F1 zur parallelen, m=22schrittigen Signaturberechnung in einem Takt nach dem o. g. Polynom
Gleichungssystem F1 zur parallelen, m=22schrittigen Signaturberechnung in einem Takt nach dem o. g. Polynom
d = Datenvektor
y′ = neuer Signaturvektor
y = alter Signaturvektor
y′ = neuer Signaturvektor
y = alter Signaturvektor
Bezogen auf die Registerlänge l=22 ist die Fehlererkennungs
wahrscheinlichkeit im Beispiel:
P SIG - = 1 - 2-22 = 0. 999 999 8
Die erfindungsgemäße Schaltung wurde mit dem Befehl CORR
ausgerüstet, der eine einfache Signaturmodifizierung zuläßt.
Dieser I/O-Befehl dient im Generatormodus zur programmierten
getakteten Steuerung. Im Signaturmodus bewirkt er eine Tak
tung des Registers mit Dateneingabe, wodurch eine gezielte
Korrektur der Istsignatur erreicht wird. Der Befehl CORR ist
nur nach dem Befehl STOP (kein zustandsabhängige Taktung)
anzuwenden.
Der CORR-Befehl ist kein einfacher Ladevorgang, sondern eine
gezielte Signaturtaktung mit vorgebbarem Datenvektor. Eine
Korrektur setzt die Kenntnis des vorangegangenen Zustands
vektors und des Gleichungssystems F2 voraus. Dieser Befehl
ist dadurch aber auch zum fehlersicheren Rückladen eines
Zustandsvektors unter den genannten Voraussetzungen
anwendbar.
Der CORR-Befehl dient zur fehlersicheren Ausführung dreier
Funktionen:
- - Programminstallation von Sollsignaturen unter der Bedin gung eines Satzes fixer Festsollsignaturen
- - Fehlersicheres Rückspeichern oder Laden des Signatur registers
- - Überführen einer Istsignatur in eine Zielsignatur zum Überspringen ausgliederbarer Programmteile
Beispiel zur Programminstallation von Sollsignaturen unter
der Bedingung eines Satzes fixer Festsollsignaturen.
Organisation des Diagnoseprogramms:
(C) = Korrekturvektor.
Der Korrekturvektor wird aus der direkt an einem Gutexemplar
oder aus der programmtechnisch ermittelten Istsignatur und
der Festsollsignatur und dem Gleichungssystem des PSR
berechnet und installiert.
Berechnung des Korrekturvektors:
Berechnung des Korrekturvektors:
Korrekturvektor = F2 (Festsollsignatur Reale Sollsignatur)
Korrektur:
Korr. Istsignatur = F1 (Istsignatur Korrekturvektor)
Vergleich:
Für die Berechnung des Korrekturvektors gilt folgendes
Gleichungssystem F2:
d = Korrekturvektor
y′ = Zielsignatur
y = Ausgangssignatur
y′ = Zielsignatur
y = Ausgangssignatur
Der variable installierbare Wert für die flexible, u. U.
erlernbare, Anpassung ist der Korrekturvektor, der zur vor
gegebenen Festsollsignatur des Gesamttests führt. Ein erneu
ter korrigierter Ablauf muß wieder Übereinstimmung zwischen
Ist- und Festsollsignatur bringen. Jeder Ablauf ist durch
Einfügen einer Korrektursignatur auf die Festsollsignatur
rückführbar.
Für verschiedene Aufgabenkomplexe (z. B. Grund- u. Gesamttest)
erweisen sich unterschiedliche Festsollsignaturen als vor
teilhaft. Im Realisierungsbeispiel sind je zwei unterschied
liche Grundtestsignaturen und zwei unterschiedliche Gesamt
testsignaturen beim Signaturvergleich adressierbar.
Außerdem dient der CORR-Befehl zur programmierten Überfüh
rung eines Signaturvektors auf einen Folgevektor zwecks
Überspringen bekannter im Intaktfall reproduzierbarer Pro
grammsequenzen bezüglich Signaturverarbeitung.
Soll zur Korrektur des Testprogramms nach Teilausfällen der
Testteil i ausgegliedert werden, so wird dieser mittels
seines Korrekturvektors i bezüglich Signaturbildung über
sprungen, d. h. die Endsignatur des vorangegangenen Testteils
i-1 wird durch den Korrekturvektor i auf die Endsignatur des
abgeschalteten Testteils i überführt.
Dadurch muß der Rechnerknoten nicht 2 n mögliche Sollsignatu
ren für alle Fehlermustervarianten der n ausgliederbaren
Teilfunktionen kennen, sondern lediglich n Korrekturvekto
ren.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung ist in Fig. 1 darge
stellt.
Der anliegende Datenvektor D wird aufgefächert auf l=22 Bit
über einen 16-Bit bidirektionalen Treiber 3 und 16-Bit Ein
gabespeicher 5 sowie 6-Bit bidirektionalen Treiber 4 und 6-
Bit Eingabespeicher 6 an eine 22-Bit Signaturverarbeitungs
logik 7 geschaltet, deren Ausgänge mit dem 22-Bit Signatur
speicher 8 verbunden sind.
Die getrennte Richtungssteuerung der bidirektionalen Treiber
3 und 4 durch die Richtungssteuersignale RD 1 und RD 2
ermöglicht die vollständige Beobachtung des 22-Bit Signatur
speicher 8 durch einen 16-Bit Mikroprozessor ohne zusätzli
chen Hardwareaufwand.
In den Eingabespeichern 3/4 werden mit jedem Takt die anste
henden Daten gepuffert. Im Anwendungsbeispiel handelt es
sich um eine völlig synchron arbeitende sequentielle Schal
tung, d. h. alle Flipflops werden durch den Takt C ange
steuert.
Die 22-Bit Signaturverarbeitungslogik 7, die mittels einfa
cher Antivalenzschaltungen das mit F1 bezeichnete Gleich
ungssystem realisiert, berechnet aus dem gepufferten Einga
bevektor und dem im 22-Bit Signaturspeicher 8 gespeicherten
nichtnegierten Signaturvektor SV den neuen Eingabevektor für
den Signaturspeicher 8. Gesteuert wird der Signaturspeicher
8 durch die Signale CLR und SGE. Das Signaturspeicherreset
signal CLR dient der Initialisierung des 22-Bit Signatur
speichers 8. Im beschriebenen Anwendungsbeispiel setzt ein
aktives Signal CLR den 22-Bit Signaturspeicher 8 auf Null.
Liegt an den Eingängen des 22-Bit Signaturspeichers ein
gültiger Signatureingabevektor an, d. h. der Eingabepuffer
3/4 enthält einen für die Datenkompression gültigen
Datenvektor, so wird gesteuert durch das Signaturtaktfreiga
besignal SGE der berechnete Signaturvektor in den 22-Bit
Signaturspeicher 8 übernommen.
Die Ausgänge des 22-Bit Signaturspeichers 8 werden zwecks
Signaturauswertung auf zwei 22-Bit Signaturkomparatoren
13/14, der nichtnegierte Signaturvektor SV an den 22-Bit
Signaturkomparator 14 und der negierte Signaturvektor NSV
auf den 22-Bit Signaturkomperator 13, geschaltet. Der dop
pelte Signaturvergleich dient der Erhöhung der Eigenfehler
sicherheit der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung. Erfin
dungsgemäß beschränkt sich der Signaturvergleich auf einen
Vergleich mit Festsollsignaturen, da sich wie bereits
beschrieben bei vollständiger Steuerbarkeit der Schaltungs
anordnung jede aktuelle Signatur programmtechnisch durch
Ausführung des CORR-Befehls gezielt und fehlersicher mittels
zuvor bestimmtem Korrekturvektor auf die Sollsignatur verän
dern läßt.
Gesteuert durch die Signale CMP 1 bzw. CMP 2 können zwei ver
schiedene Festsollsignaturen (255555H bzw. 1AAAAAH) für den
Signaturvergleich ausgewählt werden, wobei der Festsignatur
speicher 11 für den Vergleich mit dem negierten Signaturvek
tor NSV jeweils die negierte Festsollsignatur zur Verfügung
stellt. Beide Festsignaturspeicher 11/12 und Signaturkompa
ratoren 13/14 sind voneinander unabhängig realisiert. Wei
terhin werden die Ausgänge der beiden 22-Bit Signaturkompa
ratoren getrennt auf eine Auswerteschaltung 15 geschaltet.
Der Aufbau der Auswerteschaltung 15 ist in Fig. 3 darge
stellt.
Die beiden Ausgangssignale der 22-Bit Signaturkomparatoren
13/14 erzeugen über je zwei unabhängige UND-Kombinationen
getort durch je eines der beiden Vergleichssteuersignale
CMP 1 bzw. CMP 2 im Gutfall (d. h. Gleichheit von Ist- und
Sollsignatur) die Retriggersignale RTG 1 bzw. RTG 2, wobei die
Generierung des Retriggersignals RTG 2 zusätzlich voraus
setzt, daß der Fehlerspeicher 33 nicht gesetzt ist.
Im Fehlerfall bewirken die negierten Signaturkomparatoraus
gangssignale getort mit den Vergleichssteuersignalen CMP 1
bzw. 2 über die zwei unabhängigen INT-Setzlogiken 31 bzw. 32
das Setzen der Interruptspeicher 34 bzw. 36, deren Ausgänge
einerseits als Interruptsignale IN 1 bzw. 2 herausgeführt
und andererseits auf die Setzeingänge der Fehlerspeicher 33
bzw. 35 geschaltet sind. Die Auswertung der Signaturkompara
tor-ausgänge (Retriggersignale im Gutfall bzw. Setzen der
Fehler- und INT-Speicher im Fehlerfall) erfolgt grundsätz
lich nur während der Aktivierung der Vergleichssteuersignale
CMP 1/2.
Weitere INT-Speicher- und daraus folgend Fehlerspeichersetz
bedingungen, die aber unabhängig von den Vergleichssteuer
signalen CMP 1/2 wirken, sind die externen Zeitfehlersignale
TE 1 und TE 2. Diese können wie in Fig. 1 dargestellt die
Ausgänge der beiden unabhängigen Timer 16/17 sein, bzw.
andere relevante Fehlersignale.
Für die Initialisierung bzw. Fehlerquittierung können die
INT-Speicher 34 und 36 durch das Signaturspeicherresetsignal
CLR rückgesetzt werden, während die Fehlerspeicher 33 und 35
nur durch erfolgreiche Vergleichsauswertung (Generierung der
Retriggersignale RTG 1/2) quittiert (rückgesetzt) werden kön
nen.
Die Torung der Zeitfehlersignale TE 1/2 durch die negierten
Ausgänge der Fehlerspeicher 33/35 bedingt, daß auch statisch
anliegende Zeitfehlersignale TE 1/2 nur ein einmaliges Setzen
der INT-Speicher 34/36 bis zur Fehlerquittierung der Fehler
speicher 33/35 bewirken.
Neben den bereits erwähnten Signalen werden durch die Aus
werteschaltung 15 die Summenfehlersignale INH und NINH unab
hängig voneinander generiert, wobei das nichtnegierte Inhi
bitsignal INH durch die ODER-Verknüpfung der Ausgänge der
beiden Fehlerspeicher 33/35 und der Zeitfehlersignale
TE 1/2/TE 2 sowie das negierte Inhibitsignal NINH durch UND-
Verknüpfung der negierten Ausgänge der Fehlerspeicher 33/35
und negierten Zeitfehlersignale TE 1/TE 2 gebildet werden.
Alle Signale für die Steuerung des 16-Bit bidirektionalen
Treibers 3 (gesteuert durch das Signal RD 1), des 6-Bit
bidirektionalen Treibers 4 (RD 2), des 16-Bit Eingabepuffers
5 (INE), des 22-Bit Signaturspeichers 8 (CLR, SGE), der Fest
signaturspeicher 11/12 (CMP 1, CMP 2) und der Auswerteschal
tung 15 (CMP 1, CMP 2, CLR) werden durch die Befehlsdekodierung
und Ablaufsteuerung generiert. Fig. 2 zeigt die ent
sprechende Schaltungsanordnung für die Generierung der Steu
ersignale.
Die Steuerung und Beobachtung der erfindungsgemäßen Schal
tungsanordnung erfolgt durch I/O-Zugriff des Testobjekts 1
auf die Adressen der Befehlsdekodierung und Ablaufsteuerung.
Für die Adressierung der in Tab. dargestellten Befehle
werden 3 Adreßsignale und ein durch die testobjektabhängige
Adaptierschaltung 2 zur Verfügung zu stellendes Chip-Select-
Signal CS benötigt.
Der Steuersignalvektor S besteht im Anwendungsbeispiel aus
vier Steuersignalen, wobei die Signale WR/T 0 (für Schreibzu
griff) und RD/T 1 (Lesezugriff) einerseits für die Generie
rung der Steuerfunktionen der Schaltungsanordnung benutzt
werden und andererseits zur Generierung des Signaturfreiga
besignals zugelassen werden können. Zwei weitere Daten
transfersteuersignale sind die Signale T 2 und T 3.
Über das Auswahlmaskenregister 22 und die Auswahlschaltung
23 erfolgt die Selekktierung entsprechender Steuersignale für
die Datenkompression.
Der Befehlsdekoder dekodiert aus dem anliegenden Adreßvektor
(3-Bit Adresse+Chip-Selekt-Signal) und der aktiven Steuer
leitung das entsprechende Befehlssignal. Die Adreßzuordnung
für das Anwendungsbeispiel zeigt die oben angeführte
Tabelle.
Der Befehl RESI dient der programmtechnischen Initialisie
rung der Schaltungsanordnung. Das durch diesen Befehl gene
rierte Signaturspeicherresetsignal CLR löscht den 22-Bit
Signaturspeicher 8 und wirkt gleichzeitig als Rücksetzsignal
an den INT-Speichern 32 und 34 der Auswerteschaltung 15.
Gewöhnlich beginnt jeder Testlauf mit der Ausführung dieses
Befehls. Erfolgt der Aufruf des Tests beispielsweise durch
Fehlerinterrupt, so bedeutet das Rücksetzen der INT-Speicher
34/36 gleichzeitig eine Interruptquittierung und die Inter
ruptanforderung wird zurückgenommen.
Das Startsignal START setzt den START/STOP-Speicher 24. Der
Ausgang des START/STOP-Speicher 24 gibt über ein UND-Gatter
den Ausgang der Auswahlschaltung 23 frei und ermöglicht
somit, daß jedes selektierte Steuersignal beim Datentransfer
ein Signaturtaktfreigabesignal BGE generiert und damit eine
Signaturverarbeitung vollzieht.
Mit Aktivierung des Stoppsignals STOP wird der START/STOP-
Speicher 24 rückgesetzt und damit der Ausgang der Auswahl
schaltung 23 über das UND-Gatter gesperrt. Jeder weitere
Datentransfer auch der selektierten Steuerleitungen bewirkt
keine weitere Signaturverarbeitung.
Der SELECT-Befehl gestattet das Schreiben einer 4-Bit Maske
in den Auswahlmaskenspeicher 22. Mit der Generierung des
Auswahlfreigabesignal SEL wird der untere Teil des Datenvek
tors, abgegriffen an den Ausgängen des 16-Bit bidirektionalen
Treiber 3, in den Auswahlmaskenspeicher übernommen. Die
Zuordnung im Ausführungsbeispiel ist, daß das Datenbit D 0
die Steuerleitung WR/T 0, D 1 die Steuerleitung RD/T 1, D 2 die
Steuerleitung T 2 und das Datenbit D 3 die Steuerleitung T 3
selektiert. Ein 1-Wert des entsprechenden Datenbits bedeu
tet, daß die Steuerleitung ausgewählt ist. Enthält die ent
sprechende Speicherzelle des Maskenspeichers eine 0, so wird
der durch diese Steuerleitung gesteuerte Datentransfer nicht
überwacht.
Nach Ausführung des STOP-Befehls wird die Signaturbildung
gestoppt und im 22-Bit Signaturspeicher 8 steht die ermit
telte Istsignatur. Erfindungsgemäß wird nun eine Korrektur
der Istsignatur derart durchgeführt, daß mit einem gemäß
Gleichungssystem F2 berechneten Korrekturvektor durch eine
nochmalige Signaturbildung die Istsignatur auf eine
gewünschte Festsollsignatur überführt wird. Wurde innerhalb
der START-STOP-Sequenz die richtige Istsignatur ermittelt,
so führt auch die Korrektur mit dem berechneten Korrektur
vektor auf die entsprechende Festsollsignatur. Im Fehlerfall
führt auch die Korrektur auf eine von der Festsollsignatur
verschiedene Signatur.
Die vollständige Steuerbarkeit erfordert, daß jeder belie
bige Korrekturvektor realisierbar sein muß. Die erfin
dungsgemäße Schaltungsanordnung gestattet, daß für a<l (hier
konkret a=16 und l=22) die genannte Forderung nach vollstän
diger Steuerbarkeit erfüllt wird. Im Ausführungsbeispiel
erfolgt die Ausführung der Korrektur mittels zweier Zugriffe
(CORR 1 und CORR 2). Durch CORR 1 werden die unteren 16 Bit des
Korrekturvektors in den 16-Bit Eingabepuffer übernommen und
gleichzeitig der CORR 1-Speicher 25 gesetzt. Durch den
negierten Ausgang des CORR 1-Speichers 25, das Eingabespei
cherfreigabesignals INE, das inaktiv wird, wird ein Über
schreiben des 16-Bit Eingabespeichers 5 verhindert. Die
anschließende Ausführung des CORR 2-Befehls bewirkt, daß die
oberen 6 Bit des Korrekturvektors nur in den 6-Bit Eingabe
speicher 6 übernommen werden. Damit steht der vollständige
22-Bit Korrekturvektor für die Berechnung durch die Signa
turverarbeitungslogik 7 an. Das Signaturtaktfreigabesignal
SGE wird generiert, das eine Übernahme der berechneten (kor
rigierten) Signatur in den Signaturspeicher 8 bewirkt.
Gleichzeitig wird durch SGE der CORR 1-Speicher 25 rückge
setzt (Freigabe des 16-Bit Eingabespeichers).
Die Korrektur kann nicht nur für die Überführung auf die
Festsollsignaturen genutzt werden, sondern mit der Korrektur
ist es möglich, den Signaturspeicher ausgehend von jedem
beliebigen Signaturinhalt auf jede andere gewünschte Signa
tur zu überführen. Eine sehr praktische Anwendung dafür ist
die Nutzung zum Überspringen von Testsequenzen für eine
variable Testgestaltung (z. B. Anwendung bei Diagnoseprogram
men, Ausgliederung defekter Baugruppen, Rekonfiguration).
Die Auswertung des Signaturvergleichs (korrigierte Istsigna
tur=Festsollsignatur?) wird durch die Befehle CMP 1 und CMP 2
gesteuert. Wie bereits dargestellt wurde, werden durch die
Vergleichssteuersignale CMP 1 und CMP 2 einerseits die für den
Vergleich benötigten Festsollsignaturen der Festsignatur
speicher 11/12 ausgewählt und andererseits die Generierung
der entsprechenden Retrigger- bzw. Fehlersignale gesteu
ert (CMP 1→RTG 1 bzw. INT 1, Fehlerspeicher 33; CMP 2→RTG 2
bzw. INT 2, Fehlerspeicher 35). Durch die Rückführung des
negativen Ausganges des Fehlerspeichers 33 als Torbedingung
für die Generierung des Retriggersignals RTG 2 ergibt sich
eine Abhängigkeit zwischen beiden Vergleichsauswerteverfah
ren. Ein vorangegangener Fehler in der Vergleichsauswertung,
gesteuert mit dem Vergleichssteuersignal CMP 1 bzw. durch
Zeitfehlersignal TE 1, bringt automatisch eine Blockierung
des Retriggersignals RTG 2. Das bedeutet beispielsweise, daß
ein erfolgreicher Testlauf 1 (Grundtest), abgeschlossen durch
den Vergleichssteuerbefehl CMP 1, Voraussetzung für einen
erfolgreichen Testlauf 2 (Gesamttest), abgeschlossen durch
den Vergleichssteuerbefehl CMP 2, sein muß.
Die Beobachtung des 22-Bit Signaturspeichers erfolgt durch
Lesezugriff (gesteuert durch die Steuerleitung RD/T 1). Um
mit einem 16-Bit Mikroprozessor den 22-Bit Signaturvektor SV
einzulesen, werden für einen vollständigen Beobachtungs
zyklus 2 Zugriffe (RD 1, RD 2) benötigt. Das aus dem Adreßvek
tor A und dem Lesesteuersignal RD/T 1 generierte Richtungs
steuersignal RD 1 schaltet den 16-Bit bidirektionalen Treiber
3 um und legt die unteren 16 Bits des 22-Bit Signaturspei
chers 8 auf den externen Datenbus. Das dekodierte Rich
tungssteuersignal RD 2 schaltet die oberen 6 Bits des 22-Bit
Signaturspeichers 8 über den 6-Bit Treiber 4 durch.
Die Steuerung der Signaturverarbeitung erfolgt durch das
Signaturtaktfreigabesignal SGE. Wesentlich für die Anwendung
von Signaturverfahren ist die Verarbeitung der zu komprimie
renden Daten in einem datenstabilen Moment, um die eindeu
tige Reproduzierbarkeit zu gewährleisten. Charakteristisch
für die Datenübertragung in Mikrorechnersystemen ist, daß
die garantiert stabile Phase der zu übertragenden Daten
gekennzeichnet ist durch eine bestimmte Taktflanke des Pro
zessortaktes und einer darauffolgenden Inaktivflanke des
Datentransfersteuersignals. Dieser Übergang des Steuersig
nals zeigt an, daß entweder der Prozessor mit der vorange
gangenen Taktflanke die Daten übernommen hat und die Pere
pherie die Daten abschalten muß, oder aber, daß bei einem
Schreibvorgang vom Prozessor die Daten abgeschaltet werden.
Die hier beschriebene Schaltungsanordnung beruht auf dem
Prinzip, daß mit jedem Takt der Datenvektor in den Eingabe
speichern 3, 4 gespeichert wird. Die Datenübernahmeflanke der
Speicher muß mit der Datenübernahmeflanke des Mikroprozes
sors übereinstimmen. Wird die selektierte Steuerleitung
aktiv und ist der START/STOP-Speicher 24 gesetzt, so wird
taktsynchron der Signaturtaktsynchronisierungsspeicher 26
gesetzt. Mit der Inaktivflanke des Steuersignals wird durch
die UND-Verknüpfung des negierten Signaturtaktsynchronisie
rungsspeichersetzsignals und des Ausganges des Signaturtakt
synchronisierungsspeichers 26 das Signaturtaktfreigabesignal
SGE generiert, das eine taktsynchrone Übernahme des mittels
des in den Eingabespeichern 5/6 enthaltenen Datenvektors
berechneten Signaturvektors in den 22-Bit Signaturspeicher 8
freigibt. Gleichzeitig bildet das SGE-Signal die Rücksetz
bedingung für den Signaturtaktsynchronisierungsspeicher 26.
Damit ist eine einmalige Signaturverarbeitung des zu kompri
mierenden Datenvektors erfolgt.
Ein analoger Funktionsablauf ergibt sich bei der Ausführung
des CORR 2-Befehls, mit dem Unterschied, daß nicht das selek
tierte und durch den START/STOP-Speicher 24 freigegebene
Steuersignal, sondern das aus der Adresse des CORR 2-Befehls
und der Schreibsteuerleitung dekodierte Korrektursignal
CORR 2 den oben beschriebenen Vorgang generiert.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung mit
tels Eingabespeicher gegenüber asynchronen Signaturverfah
ren, bei denen die Übernahme des berechneten Signaturvektors
durch die Inaktivflanke des Datentransfersteuersignals
gesteuert wird, besteht darin, daß
- - die Signaturschaltung ohne zusätzlichen Hardwareaufwand auch für a<l vollständig steuerbar ist und
- - die zeitlichen Anforderungen an die stabile Phase der zu komprimierenden Daten nur noch von der Set-Up-Zeit der Speicherübernahme, aber nicht mehr zusätzlich noch von der Verarbeitungsgeschwindigkeit der Signaturverarbeitungslogik bestimmt wird.
Daneben ist eine Steuerung der Anordnung mittels der Signale
RESET und HALT möglich. Aufgrund der ODER-Verknüpfung des
Resetsignals RESET und Startsignal START zum Setzsignal des
START/STOP-Speichers 24 bzw. des Haltsignals HALT mit dem
Stoppsignal STOP zum Rücksetzsignal des START/STOP-Speichers
24 ergibt sich mittels der Signale RESET und HALT die glei
che Steuermöglichkeit wie durch die Steuerbefehle START und
STOP. Gleichzeitig bewirkt das Resetsignal RESET am Setzein
gang des Auswahlmaskenregisters 22, daß alle Steuersignale
freigegeben werden und die ODER-Verknüpfung von Resetsignal
RESET und dem Resetbefehlssignal RESI zum Signaturspeicher
resetsignal CLR auch die Initialisierung der Signaturschal
tung. Mittels der Signale RESET und HALT lassen sich somit
beliebige, auch nicht prozessorgesteuerte, Testsequenzen
einbeziehen. Beispiele einer günstigen Anwendung dieser
Steuermöglichkeit wären Start-Up-Tests nach dem CPU-Reset-
Signal oder die Nutzung der Schaltungsanordnung für Baugrup
peninbetriebnahme, Testung und Fehlersuche. Nach der Akti
vierung des Haltesignals HALT wird die Überwachungsfunktion
gestoppt und der 22-Bit Signaturspeicher 8 enthält die
ermittelte Signatur als Fehlersyndrom für die getestete
Datensequenz.
Sehr vorteilhaft ist für diese Anwendungsfälle die Aus
rüstung der Schaltungsanordnung mit einer Anzeigesteuerung
10, die den günstigen Anschluß einer Signatur- und Statusan
zeige 18 gestattet. Die Anzeigesteuerung 10 ermöglicht die
sequentielle Ausgabe des Signaturspeicherinhaltes und wich
tige Statusinformationen, wie z. B. des Ausganges des
START/STOP-Speichers 24, des Inhaltes des Auswahlmaskenspei
chers 22 sowie der beiden Ausgänge der Signaturkomparatoren
13/14, über eine begrenzte Anzahl von Ausgabeleitungen. Die
Herausführung der Ausgänge der Komparatoren ist für die
Implementierung in einem integrierten Schaltkreis von
besonderer Bedeutung. Die richtige Funktion der redundant
angeordneten beiden Signaturkomparatoren 13/14 ist damit
vorteilhaft über die extern abgreifbaren Ausgangssignale der
Anzeigesteuerung 10 testbar.
Ein den Anwendungsbereich erweiterndes Merkmal ist die
Kaskadierbarkeit der Schaltungsanordnung.
Liegt bereits eine konkrete Schaltungsanordnung (als inte
grierter Baustein) vor, mit beispielsweise a=16 und l=22,
und es sollen größere Datenbreiten komprimiert werden,
z. B. 32-Bit Datenvektoren, so kann die Datenüberwachung durch
Kaskadierung mehrerer Anordnungen erfolgen.
Für beispielsweise 32-Bit Datenbreiten werden zwei Schalt
kreise an die testobjektabhängige Adaptierschaltung 2 derart
parallel geschaltet, daß der 32-Bit Datenvektor aufgeteilt
wird in zwei 16-Bit Datenvektoren, aber der Adreß- und
Steuervektor, sowie das Taktsignal auf beide gemeinsam ver
schaltet werden. Die unteren 16 Bit des Datenvektors werden
durch den ersten Signaturschaltkreis und die oberen mittels
eines zweiten überwacht. Da beide Schaltkreise in ihren
Steuersignalen, dem Adreßvektor und dem Taktsignal gemeinsam
angesteuert werden, wird eine synchrone Funktionsabarbeitung
gewährleistet.
Die zwei Retriggersignale (RTG 1/2) beider Schaltkreise wer
den getrennt auf zwei UND-Gatter zur Bildung der beiden
Summentriggersignale und die zwei Interruptsignale (INT 1/2)
auf zwei ODER-Gatter zur Bildung der beiden Summeninter
ruptsignale verschaltet.
Die Ansteuerung der beiden externen Timer erfolgt mittels
der Summensignale. Die Timerausgänge können als Zeitfehler
signale auf beide Schaltkreise zurückgeführt werden.
Aufstellung der verwendeten Bezugszeichen
1 Testobjekt (Mikroprozessor)
2 Testobjektabhängige Adaptierschaltung
3 a-Bit bidirektionaler Treiber
4 (l-a)-Bit bidirektionaler Treiber
5 a-Bit-Eingabespeicher
6 (l-a)-Bit Eingabespeicher
7 l-Bit-Signaturverarbeitungslogik
8 l-Bit-Signaturspeicher
9 Befehlsdekodierung und Ablaufsteuerung
10 Anzeigesteuerung
11 Festsignaturspeicher 1
12 Festsignaturspeicher 2
13 l-Bit-Signaturkomparator 1
14 l-Bit-Signaturkomparator 2
15 Auswerteschaltung
16 Timer 1
17 Timer 2
18 Signatur- und Statusanzeige
21 Befehlsdekoder
22 Auswahlmaskenspeicher
23 Auswahlschaltung
24 START/STOP-Speicher
25 CORR 1-Speicher
26 Signaturtaktsynchronisierungsspeicher
31 INT-Setzlogik 1
32 INT-Setzlogik 2
33 Fehler-Speicher 1
34 INT-Speicher 1
35 Fehler-Speicher 2
36 INT-Speicher 2
RESET Resetsignal
HALT Haltsignal
A Adreßvektor
C Clock-Signal
S Steuersignalvektor
D a-Bit-Datenvektor
SV nichtnegierter l-Bit-Signaturvektor
NSV negierter l-Bit-Signaturvektor
RTG 1/2 Retriggersignal 1/2
INT 1/2 Interruptsignal 1/2
TE 1/2 Zeitfehlersignal 1/2
INH nichtnegiertes Inhibitsignal
NINH negiertes Inhibitsignal
RD 1/2 Richtungssteuersignal 1/2
INE Eingabespeicherfreigabesignal
CMP 1/2 Vergleichssteuersignal 1/2
SGE Signaturtaktfreigabesignal
CLR Signaturspeicherresetsignal
CORR 1/2 Korrektursignal 1/2
START Startsignal
STOP Stoppsignal
RESI Resetbefehlssignal
SEL Auswahlfreigabesignal
2 Testobjektabhängige Adaptierschaltung
3 a-Bit bidirektionaler Treiber
4 (l-a)-Bit bidirektionaler Treiber
5 a-Bit-Eingabespeicher
6 (l-a)-Bit Eingabespeicher
7 l-Bit-Signaturverarbeitungslogik
8 l-Bit-Signaturspeicher
9 Befehlsdekodierung und Ablaufsteuerung
10 Anzeigesteuerung
11 Festsignaturspeicher 1
12 Festsignaturspeicher 2
13 l-Bit-Signaturkomparator 1
14 l-Bit-Signaturkomparator 2
15 Auswerteschaltung
16 Timer 1
17 Timer 2
18 Signatur- und Statusanzeige
21 Befehlsdekoder
22 Auswahlmaskenspeicher
23 Auswahlschaltung
24 START/STOP-Speicher
25 CORR 1-Speicher
26 Signaturtaktsynchronisierungsspeicher
31 INT-Setzlogik 1
32 INT-Setzlogik 2
33 Fehler-Speicher 1
34 INT-Speicher 1
35 Fehler-Speicher 2
36 INT-Speicher 2
RESET Resetsignal
HALT Haltsignal
A Adreßvektor
C Clock-Signal
S Steuersignalvektor
D a-Bit-Datenvektor
SV nichtnegierter l-Bit-Signaturvektor
NSV negierter l-Bit-Signaturvektor
RTG 1/2 Retriggersignal 1/2
INT 1/2 Interruptsignal 1/2
TE 1/2 Zeitfehlersignal 1/2
INH nichtnegiertes Inhibitsignal
NINH negiertes Inhibitsignal
RD 1/2 Richtungssteuersignal 1/2
INE Eingabespeicherfreigabesignal
CMP 1/2 Vergleichssteuersignal 1/2
SGE Signaturtaktfreigabesignal
CLR Signaturspeicherresetsignal
CORR 1/2 Korrektursignal 1/2
START Startsignal
STOP Stoppsignal
RESI Resetbefehlssignal
SEL Auswahlfreigabesignal
Claims (7)
1. Verfahren zum Testen von mikrorechnergesteuerten Baugrup
pen und Geräten, wobei eine Folge parallel anliegender
(Daten)-Vektoren, deren Auswahl durch Steuersignale oder
deren Kombinationen selektiert wird, zwischen einem START-
und einem STOP-Befehl zu einer Signatur komprimiert wird,
dadurch gekennzeichnet, daß aus einer aktuellen Istsignatur
nach dem STOP-Befehl eine korrigierte Istsignatur erzeugt
wird, wobei diese aus dem Korrekturvektor eines Korrektur
befehls CORR entsprechend dem Gleichungssystem eines
parallelverarbeitenden vollständig steuerbaren und
beobachtbaren linear rückgekoppelten Schieberegisters
gebildet wird und daß der Vergleichsbefehl COMP den
Vergleich der korrigierten Istsignatur mit der Festsoll
signatur zur GUT-Schlecht-Prüfung bewirkt und daß der
Korrekturvektor aus der direkt an einem Gutexemplar oder
programmtechnisch ermittelten Istsignatur und der Festsoll
signatur und dem Gleichungssystem des parallelverarbeitenden
linear rückgekoppelten Schieberegisters berechnet und
installiert wird und daß der CORR-Befehl die programmierte
Überführung eines Signaturvektors auf einen Folgevektor zum
Überspringen bekannter im Intaktfall reproduzierbarer
Programmsequenzen bezüglich Signaturverarbeitung erlaubt.
2. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1
zum Testen von mikrorechnergesteuerten Baugruppen und Gerä
ten unter Verwendung von bidirektionalen Verstärkern, Einga
bespeicher, Signaturspeicher, Signaturkomparatoren, Timern,
Anzeigesteuerung und einer testobjektabhängigen Adaptier
schaltung über die die Anordnung an das Testobjekt z. B. uP
oder Bus angeschaltet ist, dadurch gekennzeichnet, daß ein
a-Bit Datenvektor (D) des Testobjektes (1) über mindestens
einen bidirektionalen Treiber (3, 4) und mindestens einen
Eingabespeicher (5, 6) an eine l-bit-Signaturverarbeitungs
logik (7) geschaltet sind, deren Ausgänge mit dem l-Bit-
Signaturspeicher (8) verbunden sind und daß sein nicht
negierter l-Bit-Signaturvektor (SV) auf mindestens einen
bidirektionalen Treiber (3, 4), auf die l-Bit-Signaturverar
beitungslogik (7) als Zustandsinformation und auf den ersten
l-Bit-Signaturkomparator (14) und daß sein negierter l-Bit-
Signaturvektor (NSV) auf eine Anzeigesteuerung (10) und
einen zweiten l-Bit-Signaturkomparator (13) geschaltet sind,
daß die Signaturspeicher (8) bezogen auf den a-Bit
Datenvektor (D) vollständig steuerbar und vollständig
beobachtbar sind, daß durch die Vergleichssteuersignale
(CMP 1/2) getrennt wählbare fehlersichere Festsollsignaturen
steuerbar sind, die von einem ersten Festsignaturspeicher
(12) nichtnegiert an den ersten l-Bit-Signaturkomparator
(14) und von einem zweiten Festsignaturspeicher (11) negiert
an den zweiten l-Bit-Signaturkomparator (13) geschaltet sind
und daß die Ausgänge der beiden l-Bit-Signaturkomparatoren
getrennt auf eine Auswerteschaltung (15) gegeben werden, die
unabhängig je zwei Retrigger-(RTG 1/2) und Interruptsignale
(INT 1/2) zur doppelten Weiterverarbeitung und/oder zum
Anschluß zweier unabhängiger Timer (16, 17) liefern, wobei
beide Signalpaare durch den Vergleich mit unterschiedlichen
Festsollsignaturen erzeugt werden, und daß aus deren
Rückmeldung ein nichtnegiertes Inhibitsignal (INH) und ein
negiertes Inhibitsignal (NINH) zur redundanten Summenfehler
meldung geschaltet wird, daß die testobjektabhängige
Adaptierschaltung (2) abgeleitet vom Testobjekt (1) einen
Adreßvektor (A), einen Steuersignalvektor (S), ein Clock-
Signal (C) an eine Befehlsdekodierung und Ablaufsteuerung
(9) schaltet, die daraus mindestens ein Richtungssteuer
signal (RD 1/2), ein Eingabespeicherfreigabesignal (INE)
sowie die Steuersignale für Taktung und Korrektur das
Signaturtaktfreigabesignal (SGE) und das Signaturspeicher
resetsignal (CLR) an den l-Bit-Signaturspeicher (8) und die
Vergleichssteuersignale (CMP 1/2) an die Festsignaturspeicher
(11, 12) und die Auswerteschaltung (15) schaltet und daß eine
Anzeigesteuerung (10) den minimalen Anschluß einer Signatur-
und Statusanzeige (18) erlaubt.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
beiden Ausgangssignale der l-Bit-Signaturkomparatoren
(13, 14) über zwei unabhängige UND-Kombinationen mit je einem
der beiden Vergleichssteuersignale (CMP 1/2) je ein Retrig
gersignal (RTG 1/2) erzeugen, und daß die Signale über zwei
unabhängige INT-Setzlogiken (31, 32) einschließlich der
jeweiligen Fehlerzeitsignale (TE 1/2) die Setzsignale zweier
Interruptspeicher (34, 36) steuern, deren Ausgänge als
Interruptsignale (INT 1/2 weitergegeben und auf die Setzein
gänge zweier Fehlerspeicher (33, 35) geschaltet sind, deren
Ausgänge unter Einbeziehung der Zeitfehlersignale (TE 1, TE 2)
über eine ODER-Verknüpfung das nichtnegierte Inhibitsignal
(INH) und in UND-Verknüpfung das negierte Inhibitsignal
(NINH) erzeugen, und daß beide Interruptspeicher (34, 36)
durch das Signaturspeicherresetsignal (CLR) und die Fehler
speicher (33, 35) durch das jeweilige Retriggersignal
(RTG 1/2) rückgesetzt werden, und daß vom ersten Fehlerspei
cher (33) ein Verriegelungssignal an die UND-Kombination des
zweiten Retriggersignals (RTG 2) geschaltet ist.
4. Anordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Teil der Ausgangssignale des a-Bit bidirektionalen
Treibers (3) auf einen Auswahlmaskenspeicher (22) und daß
dessen Ausgangssignale und der Steuersignalvektor (S) auf
eine Auswahlschaltung (23) verschaltet sind, deren Ausgang
gemeinsam mit dem Ausgang eines START/STOP-Speichers (24)
über ein UND-Gatter auf ein ODER-Gatter auf das auch ein
Korrektursignal (CORR 2) geschaltet ist und dessen Ausgang
das Signaturtaktfreigabesignal erzeugt, geführt ist.
5. Anordnung nach Anspruch 2, 3 oder 4, dadurch
gekennzeichnet, daß zur wahlweisen über Befehlsdekoder (21)
programmgesteuerten oder direkt signalgesteuerten Anwendung
das Signaturspeicherresetsignal (CLR) eine ODER-Verknüpfung
des Resetbefehlssignals (RESI) und des Resetsignals (RESET)
ist, daß das Setzsignal des START/STOP-Speichers (24) eine
ODER-Verknüpfung des Startsignals (START) und des
Resetsignals (RESET) und daß dessen Rücksetzsignal eine
ODER-Verknüpfung des Stopsignals (STOP) und des Haltsignals.
6. Anordnung zur Außenbeschaltung der Anordnung nach
Anspruch 2, 3, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
beiden Ausgangssignale der Timer (16, 17) als unabhängige
Reaktionssignale auf das Testobjekt (1) geschaltet werden.
7. Anordnung zur Kaskadierung mehrerer Anordnungen nach
Anspruch 2 bis 6 um Datenvektorbreiten a<l zu verarbeiten,
dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnungen parallel ange
ordnet sind, daß der a-Bit Datenvektor (D) auf die Anordnun
gen aufgeteilt wird und daß die Adreß- (A) und Steuervekto
ren (S) gemeinsam angesteuert werden, daß die zwei
Retriggersignale (RTG 1/2) aller Anordnungen getrennt auf
zwei UND-Gatter zur Bildung der beiden Summenretriggersig
nale geschaltet sind, daß die zwei Interruptsignale (INT 1/2)
aller Schaltkreise getrennt auf zwei ODER-Gatter zur Bildung
der beiden Summeninterruptsignale geschaltet sind.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD31988188A DD275546A1 (de) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | Verfahren und anordnung zum testen von mikrorechnergesteuerten baugruppen und geraeten |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3930269A1 true DE3930269A1 (de) | 1990-03-22 |
Family
ID=5602487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19893930269 Withdrawn DE3930269A1 (de) | 1988-09-16 | 1989-09-11 | Verfahren und anordnung zum testen von mikrorechnergesteuerten baugruppen und geraeten |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DD (1) | DD275546A1 (de) |
| DE (1) | DE3930269A1 (de) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2538651A1 (de) * | 1974-09-03 | 1976-03-11 | Hewlett Packard Co | Verfahren und vorrichtung zum testen digitaler schaltungen |
| DD153943A1 (de) * | 1980-10-31 | 1982-02-10 | Andreas Stopp | Anordnung zur fehlererkennung in elektronischen schaltungen |
| US4320509A (en) * | 1979-10-19 | 1982-03-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | LSI Circuit logic structure including data compression circuitry |
| DE3232513A1 (de) * | 1981-09-14 | 1983-03-24 | United Technologies Corp., 06101 Hartford, Conn. | Ueberwachungszeitgeberschaltung |
| DE3207633A1 (de) * | 1982-02-26 | 1983-09-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung zur ueberwachung eines mikroprozessors |
| EP0131349A1 (de) * | 1983-06-13 | 1985-01-16 | Hewlett-Packard Company | Prüfschaltung unter Verwendung der Datenkompression und abgeleiteter Vektoren-Form |
| DD234510A1 (de) * | 1985-02-07 | 1986-04-02 | Berlin Treptow Veb K | Anordnung zum testen und zur isolierung defekter rechnerknoten |
-
1988
- 1988-09-16 DD DD31988188A patent/DD275546A1/de not_active IP Right Cessation
-
1989
- 1989-09-11 DE DE19893930269 patent/DE3930269A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2538651A1 (de) * | 1974-09-03 | 1976-03-11 | Hewlett Packard Co | Verfahren und vorrichtung zum testen digitaler schaltungen |
| US4320509A (en) * | 1979-10-19 | 1982-03-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | LSI Circuit logic structure including data compression circuitry |
| DD153943A1 (de) * | 1980-10-31 | 1982-02-10 | Andreas Stopp | Anordnung zur fehlererkennung in elektronischen schaltungen |
| DE3232513A1 (de) * | 1981-09-14 | 1983-03-24 | United Technologies Corp., 06101 Hartford, Conn. | Ueberwachungszeitgeberschaltung |
| DE3207633A1 (de) * | 1982-02-26 | 1983-09-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung zur ueberwachung eines mikroprozessors |
| EP0131349A1 (de) * | 1983-06-13 | 1985-01-16 | Hewlett-Packard Company | Prüfschaltung unter Verwendung der Datenkompression und abgeleiteter Vektoren-Form |
| DD234510A1 (de) * | 1985-02-07 | 1986-04-02 | Berlin Treptow Veb K | Anordnung zum testen und zur isolierung defekter rechnerknoten |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| VOELKEL, Lutz, PLIQUETT, Jürgen: Signaturanalyse, Akademie-Verlag Berlin, 1988 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD275546A1 (de) | 1990-01-24 |
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