DE3925312A1 - Anordnung zur mikroskopischen abbildung thermischer und thermoelastischer objektstrukturen - Google Patents
Anordnung zur mikroskopischen abbildung thermischer und thermoelastischer objektstrukturenInfo
- Publication number
- DE3925312A1 DE3925312A1 DE19893925312 DE3925312A DE3925312A1 DE 3925312 A1 DE3925312 A1 DE 3925312A1 DE 19893925312 DE19893925312 DE 19893925312 DE 3925312 A DE3925312 A DE 3925312A DE 3925312 A1 DE3925312 A1 DE 3925312A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- sample
- light
- mechanical vibrations
- transducer
- specimen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
- G01N2021/1704—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids in gases
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/1702—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids
- G01N2021/1708—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with opto-acoustic detection, e.g. for gases or analysing solids with piezotransducers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/178—Methods for obtaining spatial resolution of the property being measured
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/178—Methods for obtaining spatial resolution of the property being measured
- G01N2021/1782—In-depth resolution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/103—Scanning by mechanical motion of stage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0001—Type of application of the stress
- G01N2203/0005—Repeated or cyclic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/003—Generation of the force
- G01N2203/005—Electromagnetic means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Realisierung der
photoakustischen Rastermikroskopie. Die Anordnung eignet sich
zur Materialcharakterisierung und zur zerstörungsfreien Prü
fung von Werkstücken hinsichtlich der Parameter, Wärmeleit
fähigkeit, spezifische Wärme, Dichte, thermischer Ausdehnungs
koeffizient und Elastizitätsmodul. Sie läßt sich mit Vor
teil für die Untersuchung von Schichtsystemen der Mikro- und
Optoelektronik, von Schutz-, Hartstoff-, Kontakt- und anderen
Beschichtungen sowie zur Abbildung von Poren und Rissen im
Materialinnern in der Werkstofftechnik einsetzen.
Es sind verschiedene Anordnungen bekannt, die unter Ausnutzung
des photoakustischen Effekts die mikroskopische Abbildung
thermischer und thermoelastischer Objektstrukturen anstreben.
Diese Anordnungen bestehen aus einer Lichtquelle, einer Op
tik, einer Rastereinrichtung, eine Einrichtung zur Licht
intensitätssteuerung, einer Probe, einem Detektor, einer
Signalverarbeitung und einer Bildwiedergabeeinrichtung.
Ein fokussierter, intensitätsmodulierter oder gepulster
Lichtstrahl tastet die Probe systematisch ab und erzeugt
über einige Energieumwandlungsstufen im Primäranregungs
gebiet eine veränderliche elastische Deformation der Probe.
Die einzelnen Anordnungen unterscheiden sich durch die
Beschaffenheit des Detektors dieser Deformation. In
der US-PS 42 55 971 wird ein piezoelektrischer Detektor be
schrieben, der von akustischen Volumenwellen, die sich vom
Primäranregungsgebiet her ausbreiten, zu Dickenschwingungen
angeregt wird. In der DE-PS 32 24 637 wird ein Fingerwandler
beschrieben, der als Detektor akustische Oberflächenwellen
aufnimmt, die sich um das Primäranregungsgebiet herum auf
der Probenoberfläche ausbreiten. In der US-PS 42 67 732 wird
als Detektor eine in der Schallmikroskopie gebräuchliche
akustische Linse in Gestalt eines Schalleiters mit Kugel
kalottenschliff und aufgebrachtem piezoelektrischem Wand
ler eingesetzt, in deren akustischem Brennpunkt sich das
Primäranregungsgebiet befindet. Diese Anordnungen werden
aus geometrischen Gründen nur für akustische Wellen mit
Wellenlängen von einigen Millimetern und kürzer wirksam,
d. h. für Schallfrequenzen von einigen hundert kHz an auf
wärts. In diesem Frequenzbereich ist der Wirkungsgrad des
photoaktustischen Effekts so klein, daß trotz Bestrahlung
der Probe mit Intensitäten bis an die Zerstörungsgrenze
heran Abbildungen hinreichender Qualität in Bildzeiten
nicht unter einigen Minuten erzielt werden können.
Um den Vorteil des höheren photoakustischen Wirkungsgra
des im Schallfrequenzbereich unter 1 MHz ausnutzen zu kön
nen, wurde in der US-PS 41 29 385 die Detektion von Schall
mittels Mikrophon in einem abgeschlossenen Gasraum über
der Probe beschrieben. Obwohl diese Anordnung eine hohe
Empfindlichkeit besitzt, ist sie doch mit dem Nachteil be
haftet, daß das Nutzsignal lediglich von den thermischen,
nicht aber von den thermoelastischen und elastischen Eigen
schaften der Probe abhängt und letztere deshalb mit dieser
Anordnung nicht abbildbar sind. Frequenzunabhängig ist die
in der Veröffentlichung Dewhurst, R. J.: J. Appl. Phys. 53
(1982) 4064-4071 angegebene Anordnung mit kapazitivem De
tektor der Objektdeformation. Sie besitzt außerdem den Vor
zug der Berührungsfreiheit. Nachteilig wirkt sich aber die
gegenüber der Piezodetektion geringere Empfindlichkeit, be
zogen auf gleiche Deformationsamplitude, aus. Ebenfalls be
rührungslos und frequenzunabhängig arbeiten die Anordnungen
nach der JP-PS 58-1 40 637 und der Veröffentlichung Jackson,
W. et al.: Appl. Opt. 20 (1981) 1333-1344. Zum Nachweis der
Objektdeformation benutzen beide Anordnungen neben der
Primärlichtquelle für die Erzielung des photoakustischen
Effekts eine zweite Lichtquelle, verbunden mit einer wei
teren Optik und Einrichtungen zur Lichtdetektion. In der
JP-PS 58-1 40 637 basiert der Detektor auf der Messung der
Lichtinterferenz, in der Anordnung von Jackson, W. et al.
auf der Messung der Lichtablenkung. Obwohl mit beiden An
ordnungen eine empfindliche Detektion möglich ist, wirkt
sich der relativ komplizierte optische Aufbau des Detek
torsystems negativ auf die Stabilität der Bildregistrie
rung aus. Stabil, empfindlich und für den Frequenzbereich
unter 1 MHz geeignet ist die Anordnung mit aufgeklebtem
Piezodetektor von Jackson, W., Amer, N. M.: Appl. Phys.
51 (1980) 3343-3353. Der Detektor weist die radiale De
formation der Probe nach. Da diese Anordnung nur für
spektroskopische, nicht aber für mikroskopische Zwecke
vorgesehen sind, enthält sie keine Rastereinrichtung. Der
eigentliche Nachteil der Anordnung hinsichtlich einer
zerstörungsfreien mikroskopischen photoakustischen In
spektion besteht jedoch in der starren Klebeverbindung
zwischen Probe und Detektor.
Ziel der Erfindung ist es, die Einsatzbreite von Laser
rastermikroskopen durch die Entwicklung einer Anordnung
zur schnellen zerstörungsfreien Abbildung von Strukturen
im Materialinneren auf der Basis des photoakustischen Ef
fekts zu erweitern.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung
für ein verbessertes photoakustisches Lichtrastermikroskop
zu entwickeln, das bei kurzen Bildaufnahmezeiten und weit
gehender Unempfindlichkeit gegen äußere Störungen sowie
vertretbarer Probenbelastung Abbildungen mechanischer und
thermischer Objektstrukturen auch an undurchsichtigen Ma
terialien mit mikroskopischer Auflösung liefert.
Diese Aufgabe wird durch eine Anordnung zur mikroskopischen
Abbildung thermischer und thermoelastischer Objektstruktu
ren, bestehend aus einer Quelle sichtbaren, infraroten oder
ultravioletten Lichts 1, einer Optik 2 zur Führung des
Lichtbündels und zur Erzeugung eines mikroskopischen Brenn
flecks auf der Probe 3, einer Einrichtung 4 zur Steuerung
der im jeweils bestrahlten Probenpunkt ankommenden Licht
leistung, einer Rastereinrichtung 5 a, 5 b zur Herbeiführung
einer systematischen Relativbewegung zwischen Brennfleck
und Probe, einem Aufnehmer der durch veränderliche Bestrahlung
in der Probe erzeugten mechanischen Schwingungen, Mitteln
zur elektronischen Signalverstärkung, einer Signalverarbei
tung 6 und einer Bildwiedergabeeinrichtung 7 zur bildlichen
Darstellung des von der Signalverabeitung sequentiell abge
gebenen Signals gelöst, wobei erfindungsgemäß als Aufnehmer
der mechanischen Schwingungen der Probe ein piezoelektrischer
Biegewandler 8 enthalten ist, der sich in akustischem Kon
takt mit der Probe befindet, und Probe und Biegewandler ge
meinsam auf einem schnellbeweglichen Probentisch 9 in einer
Schallisolationskammer 10 angeordnet sind.
In den schnellbeweglichen Probentisch 9 kann vorteilhafter
weise ein elektronischer Vorverstärker 11 eingebaut sein.
Mit Vorteil können auf dem Lichteintrittsfenster 12 der
Schallisolationskammer 10 zwei teiltransparente Lichtdetek
toren 13 a und 13 b aufgebracht sein.
Die Anordnung kann vorteilhafterweise einen starren Proben
tisch und eine Strahlablenkeinrichtung enthalten.
Das von der Lichtquelle 1 ausgesandte und von der Optik 2
auf die Probe 3 fokussierte Licht wird durch die Einrichtung 4
zur Steuerung der Lichtleistung moduliert und löst inner
halb der Probe den photoakustischen Effekt aus, der darin
besteht, daß ein bestrahlter Probenpunkt, in dem die absor
bierte Lichtmenge zeitlichen Schwankungen unterworfen ist,
eine Quelle mechanischer Schwingungen darstellt, die sich
unter günstigen Umständen als akustische Wellen in der Pro
be ausbreiten. Amplitude und Phase der angeregten Schwin
gungen bilden das photoakustische Signal, das in komplexer
Weise vom lokalen optischen Absorptionsvermögen, von spe
zifischer Wärme, Dichte, Wärmeleitfähigkeit, thermischen
Ausdehnungskoeffizienten und Elastizitätsmodul der unter
suchten Objektstruktur abhängt.
Zweckmäßig ist der Einsatz eines Lasers als Lichtquelle 1
sowie die wahlweise Benutzung eines akustooptischen Modu
lators, einer elektrooptischen Zelle oder eines mechani
schen Zerhackers als Einrichtung 4 zur Steuerung der Licht
leistung.
Die Rastereinrichtung 5 a, 5 b z. B. in Gestalt von Strahl
scannern oder eines mechanischen x-y-Antriebssystems be
wirkt, daß das erzeugte photoakustische Signal sequentiell
für alle Punkte aus dem untersuchten Objektbereich die er
wünschte Information über die lokalen thermischen oder ther
moelastischen Probeneigenschaften liefert. Der piezoelek
trische Biegewandler 8 in Gestalt eines piezokeramischen
Bimorphs oder Unimorphs nimmt die mechanischen Schwingungen
der Probe über ein akustisches Koppelmedium auf und ver
wandelt sie in ein proportionales elektrisches Signal. Der
elektronische Vorverstärker 11 verstärkt dieses Signal.
Durch elektrische Durchführungen in der Wand der Schall
isolationskammer, die den Luftschall vom Biegewandler
fernhält, gelangt es auf den Eingang der Signalverarbei
tung 6, die der Erhöhung des Signal-Rausch-Abstandes dient
und zweckmäßig als Heterodyn-Lock-in-Verstärker ausgeführt
ist. Dabei wird das interne Oszillatorsignal des Lock-in-
Verstärkers als Referenzsignal benutzt, um die Einrichtung 4
zur Steuerung der Lichtleistung phasenrichtig anzusteuern.
Zur Darstellung der thermischen und thermoelastischen Ob
jektstruktur wird als Ausgangssignal der Signalverarbei
tung die aus dem komplexen Eingangssignal separierten
Größen Amplitude, Phase oder eine andere daraus abgeleite
te Größe auf den Eingang der Bildwiedergabeeinrichtung 7
gegeben, deren x-y-Ablenkung synchron mit der Rasterein
richtung läuft. Die für eine schnelle Bildgewinnung erfor
derliche schnelle Abtastung in Zeilenrichtung wird durch
den schnellbeweglichen Probentisch 9 realisiert, der sich
innerhalb der Schallisolationskammer 10 befindet und wegen
der notwendigerweise geringen Eigenmasse aus leichtem Ma
terial besteht und nur den Biegewandler, die Probe und den
Vorverstärker trägt. Sein schneller Antrieb 5 b ist z. B. als
elektrodynamisches Tauchspulsystem ausgeführt.
Die beiden Lichtdetektoren 13 a und 13 b auf dem Lichtein
trittsfenster 12 der Schallisolationskammer messen zwei
verschiedene Linearkombinationen von eingestrahlter Licht
leistung und an der Probe reflektierter und/oder diffus ge
streuter Lichtleistung. Die elektronische Regelung 14 ver
arbeitet die Signale der Lichtdetektoren 13 a und 13 b und
regelt über die Leistungsstufe 15 die mittlere auf der
Probe ankommende Lichtleistung so nach, daß im jeweils be
strahlten Probenpunkt die absorbierte Lichtleistung unab
hängig vom lokalen Absorptionsvermögen gemäß einem vorge
gebenen Sollwert konstantgehalten wird.
Der Wirkungsgrad des photoakustischen Effekts ist mit ty
pischen Werten von 10-10 extrem gering, wobei eine umge
kehrte Proportionalität zur Modulationsfrequenz beobachtet
wird. Um in hinreichend kurzer Zeit ein photoakustisches
Bild mikroskopischer Auflösung zu erzielen, sind daher fol
gende Voraussetzungen nötig:
Die in dem durch die Optik erzeugten mikroskopischen Brenn
fleck konzentrierte Lichtleistung soll möglichst groß sein,
ohne daß jedoch bereits einer Zerstörung der Probe in Form
von Verdampfung, Aufschmelzen, Ablösung, Zersetzung o. ä.
eintritt.
Die Modulationsfrequenz des Lichts soll einerseits möglichst
niedrig sein, um einen relativ hohen photoakustischen Wir
kungsgrad zu erzielen, andererseits aber hinreichend groß
sein, damit während der Verweildauer des Brennflecks in
jedem Probenpunkt des untersuchten Bereichs mindestens eine
volle Modulationsperiode durchlaufen wird.
Das Nutzsignal ist mit einem hinreichend großem Rausch- und
Störgeräuschabstand bei möglichst hoher Bandbreite zu ge
winnen. Für mindestens eine der zwei Richtungen des Bild
rasters muß ein schneller Bewegungsmechanismus vorhanden
sein.
Die erfindungsgemäße Anordnung erfüllt diese Voraussetzungen,
weil die in der Probe bei feinfokussierter Bestrahlung be
vorzugt angeregten Biegeschwingungen bei guter akustischer
Kopplung z. B. mittels Wasser oder Fett sehr effizient auf
den Biegewandler übertragen werden, dieser Biegewandler
bei Abmessungen von einigen mm Durchmesser und einigen
Zehntel mm Dicke Eigenfrequenzen im Bereich von ca. 1 kHz
bis ca. 100 kHz aufweist, durch die Schallisolationskam
mer die unerwünschte Einkopplung von Störgeräuschen durch
Luftschall wesentlich gemindert wird, durch die Leichtbau
weise und straffe Aufhängung des Probentisches dessen me
chanische Eigenfrequenzen zwischen 50 und 100 Hz einge
stellt werden, wodurch einerseits eine hinreichend schnelle
Abtastung in Zeilenrichtung erfolgen kann, andererseits
ein genügend großer Abstand zur Eigenfrequenz des Biege
wandlers gegeben ist. Durch die Anordnung des elekroni
schen Vorverstärkers auf dem Probentisch erfolgt eine
vollkommen abgeschirmte unbewegliche elektrische Verbin
dung des Vorverstärkereingangs mit den Elektroden des
Biegewandlers, wodurch der Vorverstärkereingang frei von
elektrischen Einstreuungen und Schwankungen der Leitungs
kapazität ist und durch die Anordnung der zwei Lichtde
tektoren zur Messung von eingestrahlter und reflektierter
Lichtleistung wenige mm über der Probe die Messung über
fast den gesamten Halbraum über der Probe erfolgt, womit
das Ziel dieser Messung, nämlich die Kostanthaltung der
absorbierten Lichtleistung unabhängig vom lokalen Absorp
tionsvermögen, mit größtmöglicher Präzision eingehalten
wird, wodurch es ermöglicht wird, über den gesamten unter
suchten Probenbereich hinweg mit der maximal zulässigen
eingestrahlten Lichtleistung unterhalb der Zerstörungs
schwelle zu arbeiten.
Die beschriebene Anordnung weist gegenüber den bekannten
Anordnungen den Vorteil der höheren Nachweisempfindlich
keit des photoakustischen Signals auf und zwar 1 pm
Schwingungsamplitude bei 1 kHz Bandbreite. Infolge des
größeren Rausch- und Störsignalabstandes können Abbildungen
thermischer und thermoplastischer Objektstrukturen in
verkürzter Zeit, z. B. in 10 s bei 100 × 100 Bildpunkte mit
einem Signal-Rausch-Verhältnis von 100 : 1 erzielt werden.
Von Vorteil ist weiterhin, daß die Probe dabei weder bis
über ihre Zerstörungsgrenze hinaus belastet noch durch die
Art der Ankopplung an den Detektor einer Beschädigung aus
gesetzt wird.
In der Zeichnung ist die erfindungsgemäße An
ordnung dargestellt.
Als Lichtquelle 1 dient ein He-Ne-Laser mit einer Ausgangs
leistung von 50 mW. Den Grundaufbau der Optik 2 bildet ein
Auflichtmikroskop, das mit einem LD-Objektiv mit den Werten
16x/0,20 ∞ /2-A versehen ist. Es erzeugt im Abstand von
16 mm vor seiner Lichtaustrittsfläche einen Brennfleck von
2 µm Durchmesser auf der Probe 3. Um die Objektivaper
tur voll auszuleuchten, befindet sich als Teil der Optik
zwischen Laser und Auflichtmikroskop ein Strahlaufweitungs
system mit 3facher Aufweitung. Die Einrichtung 4 zur Licht
intensitätssteuerung wird durch einen akustooptischen Mo
dulator realisiert, hinter dem eine Blende angeordnet ist.
Der akustooptische Modulator wird durch eine Leistungs
stufe 15 mit einer amplitudenmodulierten HF-Spannung ver
sorgt. Die Frequenz dieser Modulation kann frei gewählt
werden. Sie muß im empfindlichen Bereich des Biegewandlers 8
liegen und kann zur Erzielung der maximalen Signalhöhe auf
die Grundresonanz des Biegewandlers abgestimmt werden. Die
Amplitude der Modulation wird von der Regelung 14 einge
stellt. Den Ausgang des akustooptischen Modulators ver
lassen im Zweistrahlfall der ungebeugte Strahl und ein
Strahl der ersten Beugungsordnung. Von der Blende wird nur
der gebeugte Strahl durchgelassen, da nur dieser voll
durchmoduliert ist und deshalb die Probe nicht unnötig
durch einen Gleichanteil der Lichtleistung belastet wird.
Außerdem ist bei linearer Aussteuerung der Mittelwert der
gebeugten Lichtleistung der elektrischen Modulationsam
plitude am akustooptischen Modulator direkt proportional.
Die Rastereinrichtung 5 besteht aus einem langsamen An
trieb 5 a und einem schnellen Antrieb 5 b. Der langsame An
trieb 5 a sitzt als schrittmotorgetriebener eindimensiona
ler Translationstisch auf der parallel zur optischen Achse
des Objektivs beweglichen Schwalbenschwanzführung des Auf
lichtmikroskops. Auf dem Translationstisch ist die Schall
isolationskammer 10 befestigt, die aus einem Aluminiumge
häuse mit elektrischen Durchführungen, mechanischen Ver
schraubungen zum Spannen der Aufhängung des Probentischs 9
und einer Befestigung für einen Lautsprechermagneten als
Teil des schnellen Antriebs 5 b besteht. Fernerhin enthält
die Schallisolationskammer das Lichteintrittsfenster 12,
dessen Abmessungen so ausgelegt sind, daß seine mechanische
Eigenresonanz mit 50 kHz weit oberhalb der Resonanz des
Biegewandlers liegt, wobei die Glasdicke den für den Kor
rektionszustand des LD-Objektivs erforderlichen Wert von
2 mm einhält. Zur vollständigen Abschirmung des äußeren
Luftschalls sind alle Öffnungen dicht verschlossen, das
zum Probenwechsel abnehmbare Oberteil der Schallisolations
kammer, in dem sich auch das Lichteintrittsfenster befin
det, ist mit Dichtflächen versehen. Der schnelle Antrieb 5 b
wird durch eine Tauchspule realisiert, die an dem aus Lei
terplattenmaterial bestehenden Probentisch 9 befestigt ist
und die je nach Stärke und Richtung des erregenden Strom
flusses mehr oder weniger in den Spalt des Lautsprecher
magneten hineingezogen wird. Die erforderliche Gegenkraft
wird von 3 Saiten aufgebracht, an denen der Probentisch
elastisch aufgehängt ist, wobei je nach Saitenspannung
Eigenfrequenzen des Tisches oberhalb 50 Hz einstellbar sind.
Zur Positionsmeldung sind am Lautsprechermagneten weitere
Elektroden befestigt, die gemeinsam mit einem Abschnitt des
Leiterplattenmaterials des Probentisches den Kondensator
eines kapazitiven Wegaufnehmers 16 bilden. Auf dem Proben
tisch befestigt ist eine Halterung, in der der Biegewand
ler eingespannt ist. Die Halterung ist für verschiedene
Wandlerdurchmesser ausgelegt, so daß es möglich ist, Biege
wandler mit Resonanzfrequenzen zwischen 3 kHz und 50 kHz
einzusetzen. Als Biegewandler kommen unimorphe oder bimorphe
piezokeramische Wandler zur Anwendung. Die Probe 3 liegt
auf dem Biegewandler auf. Sie wird nicht starr mit dem Wand
ler verschraubt oder verspannt und auch nicht fest aufge
klebt, sondern nur durch ein Koppelmedium wie Wasser, Fett
oder Öl mit dem Wandler akustisch verbunden. Sie wird le
diglich durch einen Teil der Halterung des Biegewandlers
gegen seitliches Verrutschen beim schnellen Rastern ge
sichert. Auf der dem Biegewandler abgewandten Seite des
Probentischs befindet sich der Vorverstärker des vom Bie
gewandler abgenommenen Signals. Die Bauelemente des Vor
verstärkers sind entspechend ihrer Verschaltung direkt
auf dem den Probentisch bildenen Leiterplattenmaterial
aufgelötet. Die elektrischen Verbindungen sind so ausge
legt, daß die der Probe zugewandte Elektrode des Biege
wandlers, die Halterung des Biegewandlers und das Gehäuse
des Vorverstärkers eine geschlossene elektrische Abschir
mung bilden, die den Nutzsignalpfad von der inneren Elek
trode des Biegewandlers zum Vorverstärkereingang umgibt.
Das Ausgangssignal des Vorverstärkers wird an den Signal
eingang eines Heterodyn-Lock-in-Verstärkers gelegt, von
dessen Oszillatorausgang die Frequenz zur Ansteuerung des
akustooptischen Modulators abgenommen wird. Der Ausgang
des Lock-in-Verstärkers ist mit dem Signaleingang eines
Bildwiedergabegerätes verbunden, dessen schnelle Ablenk
richtung vom Signal des Wegaufnehmers gesteuert wird und
dessen langsame Ablenkrichtung synchron mit dem schritt
motorgesteuerten langsamen Antrieb 5 a läuft.
Entsprechend der mechanischen Eigenfrequenz des Probenti
sches kann die Bildwiedergabe on-line mit Zeilenfrequenzen
bis zu 100 Hz erfolgen, da für die Signalaufnahme sowohl
Hin- als auch Rückweg des Tischlaufs bei sinusförmiger An
steuerung genutzt werden können, in den Umkehrpunkten
wird dabei zweckmäßigerweise dunkelgetestet.
Auf dem Lichteintrittsfenster der Schallisolationskammer
befinden sich zwei Lichtdetektoren in Gestalt von Halblei
terphotodioden mit Zinnoxidelektroden, ausgeführt als teil
transparente Beschichtung. Der Abstand zur Probe beträgt
ca. 2 mm. Bei einem Durchmesser der empfindlichen Fläche
der Lichtdetektoren von 10 mm wird von beiden nahezu das
gesamte reflektierte und diffus an der Probenoberfläche
gestreute Licht gemessen. Ebenso wird das Primärlicht, das
die Lichtdetektoren durchsetzt und auf die Probe trifft,
ohne weitere Verluste an anderen Grenzflächen gemessen.
Die Signale der beiden Lichtdetektoren werden von der Re
gelung 14 erfaßt und zur Konstanthaltung der von der Probe
absorbierten Lichtleistung benutzt, indem das Ausgangssi
gnal der Regelung die Modulationsamplitude des akustoopti
schen Modulators auf die erforderliche Höhe einstellt.
Mit der beschriebenen Anordnung wird bei einer Laseraus
gangsleistung von 50 mW und der Laserwellenlänge von 633 nm,
einer Modulationfrequenz von 5 kHz und einer Amplitude
der auf die Probe auftreffenden Lichtleistung von 8 mW im
Biegewandler ein Signal von 100 µV erzielt, wobei bei
einer Detektionsbandbreite von 1 kHz ein Signal-Rausch-Ver
hältnis von 100 : 1 erreicht wird. Damit läßt sich unter Aus
nutzung der mechanisch zulässigen Zeilenfrequenz ein hin
reichend rauschfreies Bild von 100 × 100 Bildpunkten in
ca. 10 s aufnehmen und on-line darstellen.
Claims (4)
1. Anordnung zur mikroskopischen Abbildung thermischer und
thermoelastischer Objektstrukturen, bestehend aus einer
Quelle sichtbaren, infraroten oder ultravioletten Lichts
(1), einer Optik (2) zur Führung des Lichtbündels und
zur Erzeugung eines mikroskopischen Brennflecks auf der
Probe (3), einer Einrichtung (4) zur Steuerung der im
jeweils bestrahlten Probenpunkt ankommenden Lichtlei
stung, einer Rastereinrichtung (5 a, 5 b) zur Herbeifüh
rung einer systematischen Relativbewegung zwischen Brenn
fleck und Probe, einem Aufnehmer der durch veränderliche
Bestrahlung in der Probe erzeugten mechanischen Schwin
gungen, Mitteln zur elektronischen Signalverstärkung,
einer Signalverarbeitung (6) und einer Bildwiedergabe
einrichtung (7) zur bildlichen Darstellung des von der
Signalverarbeitung sequentiell abgegebenen Signals, ge
kennzeichnet dadurch, daß als Aufnehmer der mechanischen
Schwingungen der Probe ein piezoelektrischer Biegewand
ler (8) enthalten ist, der sich in akustischem Kontakt
mit der Probe befindet, und daß Probe und Biegewandler
gemeinsam auf einem schnellbeweglichen Probentisch (9)
in einer Schallisolationskammer (10) angeordnet sind.
2. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß
in den schnellbeweglichen Probentisch (9) ein Vorver
stärker (11) eingebaut ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß
auf dem Lichteintrittsfenster (12) der Schallisolations
kammer (10) zwei teiltransparente Lichtdektoren (13 a,
13 b) aufgebracht sind.
4. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß
ein starrer Probentisch und eine Strahlablenkeinrichtung
enthalten sind.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD32038488A DD275926A1 (de) | 1988-10-03 | 1988-10-03 | Anordnung zur mikroskopischen abbildung thermischer und thermoelastischer objektstrukturen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3925312A1 true DE3925312A1 (de) | 1990-04-05 |
Family
ID=5602889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19893925312 Withdrawn DE3925312A1 (de) | 1988-10-03 | 1989-07-31 | Anordnung zur mikroskopischen abbildung thermischer und thermoelastischer objektstrukturen |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| DD (1) | DD275926A1 (de) |
| DE (1) | DE3925312A1 (de) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4203272A1 (de) * | 1992-02-05 | 1993-08-12 | Busse Gerd Prof Dr Rer Nat | Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung |
| WO1999058957A1 (en) * | 1998-05-12 | 1999-11-18 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| US6102857A (en) * | 1996-10-04 | 2000-08-15 | Optosonics, Inc. | Photoacoustic breast scanner |
| US6216025B1 (en) | 1999-02-02 | 2001-04-10 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic computed tomography scanner |
| US6490470B1 (en) | 2001-06-19 | 2002-12-03 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| WO2010053615A3 (en) * | 2008-08-11 | 2010-07-15 | Ut-Battelle, Llc. | Reverse photoacoustic standoff spectroscopy |
| US7961313B2 (en) | 2008-08-11 | 2011-06-14 | Ut-Battelle, Llc | Photoacoustic point spectroscopy |
| US8080796B1 (en) | 2010-06-30 | 2011-12-20 | Ut-Battelle, Llc | Standoff spectroscopy using a conditioned target |
| US8194246B2 (en) | 2008-08-11 | 2012-06-05 | UT-Battellle, LLC | Photoacoustic microcantilevers |
| US8448261B2 (en) | 2010-03-17 | 2013-05-21 | University Of Tennessee Research Foundation | Mode synthesizing atomic force microscopy and mode-synthesizing sensing |
-
1988
- 1988-10-03 DD DD32038488A patent/DD275926A1/de not_active IP Right Cessation
-
1989
- 1989-07-31 DE DE19893925312 patent/DE3925312A1/de not_active Withdrawn
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4203272A1 (de) * | 1992-02-05 | 1993-08-12 | Busse Gerd Prof Dr Rer Nat | Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung |
| US6102857A (en) * | 1996-10-04 | 2000-08-15 | Optosonics, Inc. | Photoacoustic breast scanner |
| US6292682B1 (en) | 1996-10-04 | 2001-09-18 | Optosonics, Inc. | Photoacoustic breast scanner |
| WO1999058957A1 (en) * | 1998-05-12 | 1999-11-18 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| US6104942A (en) * | 1998-05-12 | 2000-08-15 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| US6216025B1 (en) | 1999-02-02 | 2001-04-10 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic computed tomography scanner |
| US6490470B1 (en) | 2001-06-19 | 2002-12-03 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| US6633774B2 (en) | 2001-06-19 | 2003-10-14 | Optosonics, Inc. | Thermoacoustic tissue scanner |
| WO2010053615A3 (en) * | 2008-08-11 | 2010-07-15 | Ut-Battelle, Llc. | Reverse photoacoustic standoff spectroscopy |
| US7924423B2 (en) | 2008-08-11 | 2011-04-12 | Ut-Battelle, Llc | Reverse photoacoustic standoff spectroscopy |
| US7961313B2 (en) | 2008-08-11 | 2011-06-14 | Ut-Battelle, Llc | Photoacoustic point spectroscopy |
| US8194246B2 (en) | 2008-08-11 | 2012-06-05 | UT-Battellle, LLC | Photoacoustic microcantilevers |
| US8448261B2 (en) | 2010-03-17 | 2013-05-21 | University Of Tennessee Research Foundation | Mode synthesizing atomic force microscopy and mode-synthesizing sensing |
| US8789211B2 (en) | 2010-03-17 | 2014-07-22 | Ut-Battelle, Llc | Mode-synthesizing atomic force microscopy and mode-synthesizing sensing |
| US8080796B1 (en) | 2010-06-30 | 2011-12-20 | Ut-Battelle, Llc | Standoff spectroscopy using a conditioned target |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD275926A1 (de) | 1990-02-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0012262B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur akustischen Prüfung eines mikroskopisch kleinen Teils eines Objekts | |
| EP0058710B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen photo-thermischen untersuchung von oberflächennahen und inneren strukturen eines festen körpers | |
| DE69521355T2 (de) | Optisches Nahfeld- und Atomkraft-Rastermikroskop | |
| DE2732855C2 (de) | Ultraschallgenerator | |
| DE69427316T2 (de) | Verfahren zur Positionierung einer elektronischen Sonde einer Spannungsmesseinrichtung | |
| DE2903072A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur oberflaechenpruefung | |
| Wilson | Imaging properties and applications of scanning optical microscopes | |
| WO1995003531A1 (de) | Akustisches mikroskop | |
| EP0618439A1 (de) | Bildgebender optischer Aufbau zur Untersuchung stark streuenden Medien | |
| EP0618441A2 (de) | Vorrichtung zur lateral aufgelösten Untersuchung einer lateral heterogenen ultradünnen Objektschicht | |
| CN113008849B (zh) | 紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置 | |
| DE3925312A1 (de) | Anordnung zur mikroskopischen abbildung thermischer und thermoelastischer objektstrukturen | |
| JPH1082956A (ja) | 走査型レーザー顕微鏡を用いた測定方法及び装置 | |
| CN114858314B (zh) | 一种基于nv色心的金刚石应力测量系统及方法 | |
| DE2554898C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur akustischen Abbildung | |
| DE4015893C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung der inneren Struktur eines absorptionsfähigen Prüflings | |
| CN105866061A (zh) | 太赫兹波时域信息的异脉冲探测装置及异脉冲探测方法 | |
| US4694699A (en) | Acoustic microscopy | |
| Hamilton et al. | Scanning optical microscopy by objective lens scanning | |
| DE69418821T2 (de) | Kombiniertes Nahfeld- und Atomkraftrastermikroskop | |
| US5260562A (en) | High-resolution light microscope using coherent light reflected from a target to modulate the power output from a laser | |
| EP0995085B1 (de) | Ultraschallmikroskop | |
| DE69937237T2 (de) | Verfahren und gerät für ultraschall-laseruntersuchungen | |
| DE3224637C2 (de) | Opto-akustisches Licht-Raster-Mikroskop | |
| DE19755866C1 (de) | Nichtinvasiver photoakustischer Sensorkopf zur tiefenaufgelösten Messung von Analyten |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: CARL ZEISS JENA GMBH, O-6900 JENA, DE |
|
| 8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |