DE3900035A1 - Device for electrically testing conductor tracks for short circuits - Google Patents
Device for electrically testing conductor tracks for short circuitsInfo
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse, insbesondere von auf Substraten angebrachten parallelen Leiterbahnen, wie sie beispielsweise für Flüssigkristallanzeigen gebraucht werden. Die Ansteuerung erfolgt über die Leiterbahnen, die parallel auf dem Substrat angebracht sind. Für eine einwandfreie Funktion der Anzeigeeinrichtung ist es wichtig, daß zwischen den einzelnen Leiterbahnen keine Kurzschlüsse bestehen. Vor dem Aufbau einer Flüssigkristallanzeige ist daher zu prüfen, ob Kurzschlüsse zwischen Leiterbahnen vorliegen oder nicht. The invention relates to a device for electrical Checking conductor tracks for short circuits, in particular of parallel conductor tracks attached to substrates, as for example for liquid crystal displays to be needed. The control takes place via the Conductor tracks attached in parallel on the substrate are. For the proper functioning of the It is important that the display device between the there are no short circuits on individual conductor tracks. In front the construction of a liquid crystal display is therefore too Check whether there are short circuits between the conductor tracks or not.
Üblicherweise benutzt man dazu eine Prüfvorrichtung, die aus zwei frei beweglichen Tastspitzen besteht. Die beiden Tastspitzen sind über Kabel mit einem optischen oder akustischen Anzeigegerät verbunden. Die Tastspitzen werden auf benachbarte Leiterbahnen aufgesetzt. Besteht zwischen diesen Leiterbahnen ein Kurzschluß, gibt das Anzeigegerät ein Signal ab. Auf Substraten, die man zur Herstellung von Flüssigkristallanzeigen braucht, befinden sich mehrere hundert Leiterbahnen nebeneinander. Die bisher benutzte Prüfeinrichtung hat den Nachteil, daß die frei beweglichen Tastspitzen für je zwei benachbarte Leiterbahnen neu justiert werden müssen. Die Prüfung aller Leiterbahnen kostet somit sehr viel Zeit.A test device is usually used for this purpose consists of two freely movable probe tips. The Both probe tips are connected via cables with an optical one or acoustic display device. The probe tips are placed on adjacent conductor tracks. Consists there is a short circuit between these conductor tracks Display signal. On substrates that are used for Manufacture of liquid crystal displays there are several hundred conductor tracks side by side. The test facility used so far has the disadvantage that the freely movable probe tips for two adjacent conductor tracks are readjusted have to. Checking all conductor tracks is very expensive much time.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung anzugeben, mit der die oben beschriebene Prüfung von Leiterbahnen erheblich schneller durchgeführt werden kann. Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Vorrichtung mit der Merkmalskombination des Hauptanspruches. Die Unteransprüche enthalten vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung.The object of the invention is a device with which the test of Conductor tracks can be carried out much faster can. This task is solved by a device with the combination of features of the main claim. The Subclaims contain advantageous refinements and developments of the invention.
Die Vorrichtung gemäß der Erfindung hat den Vorteil, daß die beiden Tastspitzen nicht frei beweglich sind, sondern durch einen Rahmen in einem festen Abstand zueinander gehalten werden. Ein weiterer Vorteil liegt darin, daß dieser Abstand den jeweiligen Anforderungen entsprechend veränderbar ist.The device according to the invention has the advantage that the two probe tips are not freely movable, but by a frame at a fixed distance are held to each other. Another advantage lies in that this distance meets the respective requirements is changeable accordingly.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden beschrieben und anhand der Fig. 1 und 2 näher erläutert. Es zeigen. Embodiments of the invention are described below and explained in more detail with reference to FIGS. 1 and 2. Show it.
Fig. 1 einen Ausschnitt aus einem Substrat mit Leiterbahnen, Tastspitzen und geometrischen Abmessungen, Fig. 1 shows a section of a substrate having conductive traces, probe tips and geometric dimensions,
Fig. 2 einen Rahmen mit Verschiebevorrichtungen und Tastspitzen. Fig. 2 shows a frame with displacement devices and probe tips.
In Fig. 1 ist mit 10 ein Substrat bezeichnet, auf dem sich mit 11, 12 und 13 bezeichnete Leiterbahnen befinden. Die Breite einer Leiterbahn wird mit d bezeichnet. Der Abstand zwischen je zwei Leiterbahnen ist mit l bezeichnet. Um zu prüfen, ob zwischen zwei benachbarten Leiterbahnen Kurzschlüsse bestehen, werden zwei Tastspitzen benutzt, die hier mit 14 und 15 bezeichnet sind. Die Tastspitzen sind über Verbindungsleitungen 17 mit einem Anzeigeinstrument 18 verbunden. Die dargestellte Vorrichtung arbeitet wie folgt:.In Fig. 1, 10 denotes a substrate, on which there are 11, 12 and 13 designated conductor tracks. The width of a conductor track is denoted by d . The distance between two conductor tracks is designated by l. In order to check whether there are short circuits between two adjacent conductor tracks, two probe tips are used, which are designated here with 14 and 15 . The probe tips are connected to a display instrument 18 via connecting lines 17 . The device shown works as follows:
Die über die Verbindungsleitungen 17 mit dem Anzeigeinstrument 18 verbundenen Tastspitzen 14 und 15 stellen einen aufgeschnittenen Stromkreis dar. Bestehen zwischen zwei benachbarten Leiterbahnen, z.B. zwischen den beiden Leiterbahnen 11 und 12 keine Kurzschlüsse, bleibt der eben genannte Stromkreis offen. Das Anzeigeinstrument 18 gibt kein Signal ab. Liegt jedoch zwischen den beiden Leiterbahnen 11 und 12 ein Kurzschluß vor, wird der Stromkreis geschlossen und das Anzeigeinstrument gibt ein Signal ab.The probe tips 14 and 15 connected to the display instrument 18 via the connecting lines 17 represent a cut circuit. If there are no short circuits between two adjacent conductor tracks, for example between the two conductor tracks 11 and 12, the circuit just mentioned remains open. The display instrument 18 does not emit a signal. However, if there is a short circuit between the two conductor tracks 11 and 12 , the circuit is closed and the display instrument emits a signal.
Für die Funktion der Vorrichtung ist die Wahl des wirksamen Abstandes a zwischen den beiden Tastspitzen 14 und 15 von entscheidender Bedeutung. Unter dem wirksamen Abstand a zwischen den beiden Tastspitzen 14 und 15 soll die Projektion des tatsächlichen Abstandes der Tastspitzen auf eine gedachte, senkrecht zu den Leiterbahnen verlaufende Linie verstanden werden. Wenn eine gedachte Verbindungslinie zwischen den Tastspitzen mit der senkrecht zu den Leiterbahnen verlaufenden Linie einen Winkel α einschließt, und wenn der tatsächliche Abstand zwischen den Tastspitzen c ist, dann gilt für den wirksamen Abstand a : a =c ×Cosα.The choice of the effective distance a between the two probe tips 14 and 15 is of crucial importance for the function of the device. The effective distance a between the two probe tips 14 and 15 should be understood to mean the projection of the actual distance of the probe tips onto an imaginary line running perpendicular to the conductor tracks. If an imaginary connection line between the probe tips forms an angle α with the line perpendicular to the conductor tracks, and if the actual distance between the probe tips is c , then the effective distance a applies : a = c × cos α .
Im folgenden wird ausschließlich vom wirksamen Abstand a die Rede sein.Only the effective distance a will be discussed in the following.
Beim Testen von Leiterbahnen wird ein hier nicht näher bezeichneter Tastkopf, der die beiden Tastspitzen 14 und 15 hält, in einer mit 16 bezeichneten Richtung fortbewegt. Dabei muß sichergestellt werden, daß die beiden Tastspitzen 14 und 15 nie gleichzeitg eine einzige Leiterbahn, beispielsweise die Leiterbahn 12, berühren. In diesem Fall würde das Anzeigeinstrument 18 einen Fehler anzeigen, obwohl kein Kurzschluß vorliegt.When testing conductor tracks, a probe, which is not described here in more detail and which holds the two probe tips 14 and 15 , is moved in a direction denoted by 16 . It must be ensured that the two probe tips 14 and 15 never simultaneously touch a single conductor track, for example the conductor track 12 . In this case, the display instrument 18 would indicate an error even though there is no short circuit.
Dabei sind zwei Fälle denkbar:Two cases are possible:
-
1. Die Breite einer Leiterbahn d ist größer als der
Abstand zwischen zwei Leiterbahnen l. In diesem Fall
ist es zweckmäßig, den wirksamen Abstand a in
folgenden Grenzen zu wählen:
d <a <2d +l.1. The width of a conductor track d is greater than the distance between two conductor tracks l . In this case, it is advisable to choose the effective distance a within the following limits:
d < a <2 d + l . -
2. Die Breite einer Leiterbahn d ist kleiner als der
Abstand zwischen zwei Leiterbahnen l. In diesem Fall
ist es günstig, den wirksamen Abstand a in folgenden
Grenzen zu wählen:
l <a <2d +l.2. The width of a conductor track d is smaller than the distance between two conductor tracks l . In this case, it is advantageous to choose the effective distance a within the following limits:
l < a <2 d + l .
Eine weitere Möglichkeit, die auf jeden Fall eine
Fehlmessung ausschließt, besteht in folgender Wahl des
wirksamen Abstandes a:
d +l <a < 2d +l.Another possibility, which in any case excludes a wrong measurement, consists in the following choice of the effective distance a:
d + l < a <2 d + l .
In Fig. 2 ist mit 20 ein Rahmen bezeichnet, der eine Verschiebeeinrichtung 22 trägt. An der Verschiebeeinrichtung 22 sind die beiden Tastspitzen 14 und 15 befestigt. Wenigstens eine der beiden Tastpsitzen ist federnd ausgelegt. Der Abstand zwischen den beiden Tastspitzen 14 und 15 wird mit Hilfe einer Justierschraube 21 den durch die Geometrie der Leiterbahnen vorgegebenen Bedingungen angepaßt. Der Rahmen 20 befindet sich dabei in einem hier nicht näher bezeichneten Tastkopf.In Fig. 2 denotes a frame 20 supporting a displacement device 22. The two probe tips 14 and 15 are attached to the displacement device 22 . At least one of the two probe tips is spring-loaded. The distance between the two probe tips 14 and 15 is adjusted with the aid of an adjusting screw 21 to the conditions given by the geometry of the conductor tracks. The frame 20 is located in a probe, not shown here.
Claims (7)
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19893900035 DE3900035A1 (en) | 1989-01-03 | 1989-01-03 | Device for electrically testing conductor tracks for short circuits |
| AU62935/90A AU638746B2 (en) | 1989-01-03 | 1990-08-30 | Electrically heated nozzle for injection moulding machines, hot runner moulds or the like |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19893900035 DE3900035A1 (en) | 1989-01-03 | 1989-01-03 | Device for electrically testing conductor tracks for short circuits |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3900035A1 true DE3900035A1 (en) | 1990-07-05 |
Family
ID=6371524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19893900035 Withdrawn DE3900035A1 (en) | 1989-01-03 | 1989-01-03 | Device for electrically testing conductor tracks for short circuits |
Country Status (2)
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|---|---|
| AU (1) | AU638746B2 (en) |
| DE (1) | DE3900035A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19700505A1 (en) * | 1997-01-09 | 1998-07-16 | Atg Test Systems Gmbh | Process for testing printed circuit boards |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3767056A (en) * | 1971-08-06 | 1973-10-23 | A 1 Eng | Injection molding filter |
-
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- 1989-01-03 DE DE19893900035 patent/DE3900035A1/en not_active Withdrawn
-
1990
- 1990-08-30 AU AU62935/90A patent/AU638746B2/en not_active Ceased
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19700505A1 (en) * | 1997-01-09 | 1998-07-16 | Atg Test Systems Gmbh | Process for testing printed circuit boards |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU638746B2 (en) | 1993-07-08 |
| AU6293590A (en) | 1991-05-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: NOKIA (DEUTSCHLAND) GMBH, 7530 PFORZHEIM, DE |
|
| 8141 | Disposal/no request for examination |