DE3900040A1

DE3900040A1 - Method for electrically testing conductor tracks for short circuits

Info

Publication number: DE3900040A1
Application number: DE3900040A
Authority: DE
Inventors: Martin Barnaba
Original assignee: Nokia Unterhaltungselektronik Deutschland GmbH
Current assignee: Nokia Deutschland GmbH
Priority date: 1989-01-03
Filing date: 1989-01-03
Publication date: 1990-07-05
Anticipated expiration: 2009-01-04
Also published as: DE3900040C2

Abstract

The testing of conductor tracks for short circuits, particularly the testing of parallel matrix-like conductor tracks mounted on substrates requires a lot of time. A method is proposed in which a first group of conductor tracks is electrically connected to one another (12, 14, 16, 18, ...) whilst the conductor tracks of another group (11, 13, 15, 17 ...) are sampled individually in succession by means of a test probe. When a short circuit is present, an indicating instrument emits a visual or audible signal. <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse, insbesondere von parallelen auf einem Substrat angebrachten Leiterbahnen, wie sie beispielsweise für Flüssigkristallanzeigen in Matrixbauweise gebraucht werden. Die Ansteuerung der Flüssigkristallanzeigen erfolgt über parallele Leiterbahnen, die matrixartig auf dem Substrat angebracht sind. Für eine einwandfreie Funktion der Anzeigeeinrichtung ist es wichtig, daß zwischen den einzelnen Leiterbahnen keine Kurzschlüsse bestehen. Vor dem Aufbau einer Flüssigkristallzelle ist daher zu prüfen, ob Kurzschlüsse zwischen Leiterbahnen vorliegen oder nicht. The invention relates to a method for electrical Checking conductor tracks for short circuits, in particular of parallel mounted on a substrate Conductor tracks, such as for Liquid crystal displays used in matrix construction will. The control of the liquid crystal displays takes place via parallel conductor tracks that are matrix-like are attached to the substrate. For a flawless Function of the display device, it is important that no short circuits between the individual conductor tracks consist. Before building a liquid crystal cell therefore to check whether there are short circuits between conductor tracks are present or not.

Üblicherweise bedient man sich dazu einer Prüfvorrichtung die aus einem Anzeigeinstrument und zwei Tastspitzen bestehen. Die Tastspitzen sind über Verbindungsleitungen mit dem Anzeigeinstrument verbunden. Anzeigeinstrument und Tastspitzen stellen einen offenen Stromkreis dar, solange zwischen den beiden Tastspitzen keine leitende Verbindung hergestellt ist. Zum Testen der Leiterbahnen auf Kurzschluß werden die beiden Tastspitzen auf ein Paar benachbarter Leiterbahnen aufgesetzt. Bei Kurzschluß zwischen den Leiterbahnen wird der offene Stromkreis geschlossen und das Anzeigeinstrument gibt ein optisches und/oder akustisches Signal ab.Usually you use one Test device from a display instrument and there are two probe tips. The probe tips are over Connection lines with the display instrument connected. Set the display instrument and probe tips an open circuit as long as between the no conductive connection established with either probe tip is. To test the conductor tracks for short circuits the two probe tips on a pair of neighboring ones Conductor tracks attached. If there is a short circuit between the Conductor tracks, the open circuit is closed and the display instrument gives an optical and / or acoustic signal.

Sind auf einem Substrat, wie dies im Falle von Flüssigkristallanzeigen durchaus der Fall sein kann, mehrere hundert Leiterbahnen angebracht, ist das paarweise Testen benachbarter Leiterbahnen sehr zeitaufwendig.Are on a substrate, as in the case of Liquid crystal displays may well be the case several hundred conductor tracks, that's it Pairwise testing of adjacent traces very much time consuming.

Aufgabe der Erfindung ist, ein Verfahren anzugeben, mit dem sich die Prüfung von Leiterbahnen erheblich schneller durchführen läßt. Gelöst wird diese Aufgabe durch ein Verfahren mit der Merkmalskombination des Hauptanspruches. In den Unteransprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.The object of the invention is a method specify with which the testing of conductor tracks can be carried out much faster. This is solved Task through a process with the combination of features of the main claim. In the subclaims are advantageous embodiments of the invention specified.

Die Vorrichtung gemäß der Erfindung hat den Vorteil, daß durch geeignete elektrische Verbindung eines Teiles der Leiterbahnen die Prüfung mit nur einer einzigen Tastspitze durchgeführt werden kann.The device according to the invention has the advantage that by suitable electrical connection of a part of the Conductor tracks the test with only one Stylus tip can be carried out.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden beschrieben und anhand der einzigen Figur näher erläutert. An embodiment of the invention is as follows described and based on the single figure explained.

Es zeigt die Figur einen Ausschnitt aus einem mit Leiterbahnen versehenen Substrat und den zur Prüfung auf Kurzschluß notwendigen Elementen.It shows the figure a section from a Conductor provided substrate and the for testing Short circuit necessary elements.

In der Figur ist mit 10 ein Substrat bezeichnet, auf dem zwei Gruppen von Leiterbahnen zu erkennen sind. Mit 12, 14, 16 und 18 sind Leiterbahnen einer ersten Gruppe von Leiterbahnen bezeichnet, mit 11, 13, 15, 17 und 19 Leiterbahnen einer zweiten Gruppe von Leiterbahnen. An den Rändern des Substrates sind die Leiterbahnen zu sogenannten Anschlußpads 20 erweitert. Die erste Gruppe von Leiterbahnen (12, 14, 16, 18) ist elektrisch über eine mit 25 bezeichnete Leitgummischiene verbunden. Die Leiterbahnen 12, 14, 16 und 18 liegen elektrisch somit auf demselben Potential. Die Leitgummischiene 25 steht über eine Verbindungsleitung 24 mit einem Anzeigeinstrument 23 in Verbindung. Das Anzeigeinstrument 23 ist über eine Verbindungsleitung 22 mit einer Tastspitze 21 verbunden.In the figure, 10 denotes a substrate on which two groups of conductor tracks can be seen. 12 , 14 , 16 and 18 denote conductor tracks of a first group of conductor tracks, 11, 13, 15, 17 and 19 conductor tracks of a second group of conductor tracks. At the edges of the substrate, the conductor tracks are expanded to so-called connection pads 20 . The first group of conductor tracks ( 12 , 14 , 16 , 18 ) is electrically connected via a conductive rubber rail labeled 25 . The conductor tracks 12 , 14 , 16 and 18 are thus electrically at the same potential. The guide rubber rail 25 is connected via a connecting line 24 to a display instrument 23 . The display instrument 23 is connected to a probe tip 21 via a connecting line 22 .

Will man prüfen, ob zwischen den Leiterbahnen der ersten Gruppe und den Leiterbahnen der zweiten Gruppe ein Kurzschluß besteht, so werden mit der Tastspitze 21 die Leiterbahnen der zweiten Gruppe (11, 13, 15 ...) der Reihe nach abgetastet. Liegt ein Kurzschluß mit einer Leiterbahn der ersten Gruppe vor, gibt das Anzeigeinstrument 23 ein Signal ab. Die Tastspitze wird dabei beispielsweise in einer mit 26 bezeichneten Richtung weiterbewegt.If you want to check whether there is a short circuit between the conductor tracks of the first group and the conductor tracks of the second group, the conductor tracks of the second group ( 11 , 13 , 15 ...) are scanned in sequence with the probe tip 21 . If there is a short circuit with a conductor track of the first group, the display instrument 23 emits a signal. The probe tip is moved for example in a direction designated by 26 .

Mit dem bisher beschriebenen Prüfverfahren werden Kurzschlüsse, die zwischen den Anschlußpads der Leiterbahnen einer Gruppe bestehen, nicht detektiert. Hierzu braucht man eine Prüfvorrichtung mit zwei Tastspitzen, die dann jeweils auf ein Paar benachbarter Leiterbahnenanschlußpads derselben Gruppe aufgesetzt werden, z.B. auf die Pads der Leiterbahnen 12 und 14 oder 14 und 16 usw. Zur Vereinfachung dieses Verfahrens ist es sinnvoll, eine Prüfvorrichtung zu verwenden, bei der die Tastspitzen nicht frei beweglich, sondern durch einen Rahmen in einem festen Abstand zueinander gehalten werden.With the test method described so far, short circuits that exist between the connection pads of the conductor tracks of a group are not detected. This requires a test device with two probe tips, which are then each placed on a pair of adjacent conductor connection pads of the same group, for example on the pads of the conductor tracks 12 and 14 or 14 and 16 , etc. To simplify this method, it is useful to use a test device, in which the probe tips are not freely movable, but are held at a fixed distance from one another by a frame.

Claims

1. Method for the electrical testing of conductor tracks for short circuits, in particular of parallel conductor tracks attached to substrates, consisting of the following steps:

- The conductor tracks of a first group of conductor tracks are connected to one another in an electrically conductive manner and to a first input of a display instrument.
- A probe tip connected to a second input of the display instrument individually scans the conductor tracks of a second group of conductor tracks.

2. The method according to claim 1, characterized in that that the conductor tracks of the first group have a Conductive rubber rails are connected to each other.

3. The method according to claim 1, characterized in that an acoustic and / or instrument emitting optical signals is used.