DE3701775A1 - Dickenmonitor - Google Patents
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- DE3701775A1 DE3701775A1 DE19873701775 DE3701775A DE3701775A1 DE 3701775 A1 DE3701775 A1 DE 3701775A1 DE 19873701775 DE19873701775 DE 19873701775 DE 3701775 A DE3701775 A DE 3701775A DE 3701775 A1 DE3701775 A1 DE 3701775A1
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 3
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 22
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 16
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 108010014173 Factor X Proteins 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 3
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 206010067482 No adverse event Diseases 0.000 description 1
- 229920002302 Nylon 6,6 Polymers 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004957 Zytel Substances 0.000 description 1
- 229920006102 Zytel® Polymers 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009415 formwork Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Meß- und
Positioniersysteme, die zur Verbesserung der Präzision
und Genauigkeit verwendbar sind, mit der sich die Dicke
einer Plattierschicht messen läßt.
In der Vergangenheit wurden Röntgenstrahl-Dickenmonitore
zur Messung der Dicke einer Plattierschicht, wie zum Bei
spiel einer Goldplattierschicht auf Bauteilen,verwendet.
Die US-PS 39 84 679 offenbart einen solchen Dickenmonitor.
Die allgemeine Verfahrensweise, die bei solchen Röntgen
strahl-Dickenmonitoren zur Verwendung kommt, besteht da
rin, ein Röntgenstrahlbündel kleinen Durchmessers auf
die zu messende Plattierschicht zu richten. Das auftref
fende Röntgenstrahlbündel ruft eine sekundäre Röntgenstrahl
emission hervor, die dann detektiert wird. Die Intensität
dieser sekundären Röntgenstrahlemission oder Röntgenstrahl
fluoreszenz variiert in Abhängigkeit von der Dicke der
Plattierschicht.
Bei Beschreitung dieses Wegs zur Messung der Dicke der
Plattierschicht eines sich bewegenden Anschlußstreifens,
der aus einer Anordnung voneinander beabstandeter An
schlüsse gebildet ist, entstehen zwei wesentliche Probleme.
Das erste Problem besteht darin, daß die einzelnen Anschlüs
se durch einen offenen Raum voneinander getrennt sind. Selbst
verständlich erzeugt dieser offene Raum keine sekundären
Röntgenstrahlen, die für die Plattierschicht charakteri
stisch sind, und der Zählwert der sekundären Röntgenstrah
len, die während eines Meßintervalls detektiert werden,
wird somit durch das Verhältnis zwischen der Breite der
Anschlüsse und der Breite des zwischen den Anschlüssen vor
handenen leeren Raums beeinträchtigt.
In der Vergangenheit wurde versucht, dieses Problem da
durch zu überwinden, daß man die Breite des freien Raums
zwischen benachbarten Anschlüssen auf einer periodischen
Basis mißt und man die gemessene Dicke in Abhängigkeit
von dem gespeicherten Verhältnis zwischen der Breite
der Anschlüsse und der Breite des zwischen den Anschlüssen
vorhandenen Abstands korrigiert. Es wurde jedoch festge
stellt, daß dieses Verhältnis zwischen Anschlüssen, die
mit verschiedenen Formeinrichtungen hergestellt worden
sind, und sogar zwischen Anschlüssen, die mit einer einzi
gen Formeinrichtung zu verschiedenen Zeiten hergestellt
worden sind, beträchtlich variiert. Außerdem kann dieser
Lösungsweg keinen intermittierenden Variationen bei dem
Messungs-Tastverhältnis Rechnung tragen, die zum Beispiel
durch fehlende Anschlüsse verursacht werden. Auf diese
Weise ist eine gelegentliche Messung des Verhältnisses
zwischen der Breite der Anschlüsse und der Trennung bzw.
Beabstandung zwischen benachbarten Anschlüssen nicht
vollständig zufriedenstellend.
Ein zweites wichtiges Problem bei Dickenmessungen der vor
stehend beschriebenen Art besteht in der korrekten Positio
nierung des Röntgenstrahlbündels auf den Anschlüssen. Bei
modernen Plattiervorgängen für elektrische Anschlüsse wer
den häufig Plattierschichten, wie zum Beispiel Goldschichten,
nur an gewünschten Bereichen des Anschlusses angebracht.
Wenn die Röntgenstrahl-Dickenmessung auf diesen Plattier
schichten nicht korrekt zentriert ist, ist die Dicken
messung natürlich ungenau. Da die Position der gewünschten
Messungsstelle in bezug auf den Trägerstreifen,
an dem die Anschlüsse angebracht sind, häufig nicht präzise
gesteuert ist, kann man nicht optimale Ergebnisse einfach
dadurch erzielen, daß man das Röntgenstrahlbündel in einem
vorbestimmten Abstand von dem Trägerstreifen positioniert.
Die vorliegende Erfindung schafft einen verbesserten
Röntgenstrahl-Dickenmonitor, der (1) die Dicken
messung in Abhängigkeit von dem gemessenen Verhältnis
zwischen der Breite der Anschlüsse und der Trennung zwi
schen benachbarten Anschlüssen automatisch korrigiert
und (2) das Röntgenstrahlbündel in bezug auf die An
schlüsse automatisch korrekt positioniert. Es ist jedoch
darauf hinzuweisen, daß die im folgenden beschriebenen
Systeme der vorliegenden Erfindung nicht auf die Verwen
dung bei Röntgenstrahl-Dickenmonitoren begrenzt sind,
sondern auch bei anderen Systemen Verwendung finden
können, bei denen es wichtig ist, daß man in der Lage ist,
die Breite von Elementen bzw. Bauteilen zu bestimmen.
Gemäß einem ersten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfin
dung umfaßt ein System zum Überwachen einer Anordnung von
einander beabstandeter Elemente einen Sensor, der in der
Nähe der Elemente positioniert ist und dazu ausgelegt ist,
ein Sensorsignal zu erzeugen, das in einem ersten Zustand
ist, wenn sich irgend eines der Elemente an einer ausge
wählten Stelle befindet, und das in einem zweiten Zustand
ist, wenn sich keines der Elemente an der ausgewählten
Stelle befindet. Es ist eine Einrichtung vorgesehen zum
Schaffen einer Relativbewegung zwischen dem Sensor und
den Elementen entlang einer Transportachse in einer derar
tigen Weise, daß sich mehrere Elemente nacheinander an
der ausgewählten Stelle vorbeibewegen, und es ist eine
Einrichtung vorgesehen, die auf das Sensorsignal an
spricht und zur Erzeugung eines zusätzlichen Signals aus
gelegt ist, das nach Maßgabe der parallel zu der Trans
portachse verlaufenden Breite der Elemente variiert.
Bei dem nachfolgend beschriebenen bevorzugten Ausführungs
beispiel handelt es sich bei dem zusätzlichen Signal um
ein Tastverhältnissignal, das die Proportion eines Meß
intervalls angibt, während dessen sich das Sensorsignal
in dem ersten Zustand befindet. Bei diesem Ausführungs
beispiel handelt es sich bei den voneinander beabstandeten
Elementen um Anschlüsse, und das Tastverhältnissignal wird
zum Korrigieren oder Ausgleichen einer Messung der Dicke
einer Plattierschicht auf den Anschlüssen verwendet. Auf
diese Weise ist die Dickenmessung von der Breite der
freien Räume oder Spalte zwischen einander benachbarten
Anschlüssen unabhängig gemacht. Da das Tastverhältnis
signal auf einer fortlaufenden Basis gemessen wird, be
wirken Variationen bei der Breite der Spalte zwischen
benachbarten Anschlüssen, die zum Beispiel durch Ver
schleiß von Formwerkzeugen oder Austauschen von Formwerk
zeugen verursacht werden, keine nachteilige Beeinträchti
gung der Genauigkeit der Dickenmessung.
Gemäß einem zweiten Gesichtspunkt der vorliegenden Er
findung ist ein System des Typs, das eine Einrichtung zum
Befördern einer Anordnung voneinander beabstandeter
Elemente entlang einer Transportachse aufweist, mit einer
Sensoreinrichtung zum Erzeugen eines Sensorsignals ver
sehen, das eine gemessene Breite der Elemente an einer
Erfassungsstelle bzw. einem Erfassungspunkt angibt. Es
ist eine Einrichtung vorgesehen zum Vergleich des Sensor
signals mit einem gespeicherten Signal, das eine Ziel
breite angibt, sowie zum Erzeugen eines Steuersignals an
sprechend auf den Vergleich. Es ist eine Einrichtung vor
gesehen zum Bewegen der Erfassungsstelle ansprechend auf
das Steuersignal entlang der Elemente in einer derartigen
Weise, daß die gemessene Breite zur Annäherung an die
Zielbreite veranlaßt wird, wodurch die Erfassungsstelle
automatisch an einer ersten ausgewählten Stelle an den
Elementen beibehalten wird.
Bei dem im folgenden beschriebenen bevorzugten Ausführungs
beispiel wird ein Röntgenstrahl-Dickenmonitor zusammen
mit dem Sensor bewegt, und das Röntgenstrahlbündel des
Monitors wird auf einer ausgewählten Trennung bzw. in
einem ausgewählten Abstand von dem Sensor gehalten. Diese
ausgewählte Trennung ist derart gewählt, daß das Rückkopp
lungssystem, das den Sensor auf den ausgewählten Stellen
zentriert, das Röntgenstrahlbündel automatisch korrekt
über dem zu messenden Teil des Anschlusses positioniert.
Es ist darauf hinzuweisen, daß der im folgenden verwendete
Begriff "Röntgenstrahl" im Sinne von Röntgenstrahlbündel
zu verstehen ist, dessen Strahlung in Form eines gebün
delten Strahls vorliegt.
Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Die Erfindung und Weiterbildungen der Erfindung werden
im folgenden anhand der zeichnerischen Darstellung eines
bevorzugten Ausführungsbeispiels noch näher erläutert.
Es zeigen
Fig. 1 eine schematische Ansicht von Bereichen des bevor
zugten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfin
dung;
Fig. 2 eine schematische Ansicht des Tastverhältnis-Sen
sors des Ausführungsbeispiels gemäß Fig. 1;
Fig. 3 eine Frontansicht eines Röntgenstrahl-Dickenmoni
tors, in den das bevorzugte Ausführungsbeispiel
gemäß Fig. 1 integriert ist;
Fig. 4 eine Seitenansicht entlang der Linie 4-4 der Fig. 3;
Fig. 5 eine Schnittansicht entlang der Linie 5-5 der Fig. 4;
Fig. 5A eine Schnittansicht entlang der Linie 5 A-5 A der
Fig. 5;
Fig. 6 eine Schnittansicht entlang der Linie 6-6 der Fig. 5;
Fig. 7 eine Draufsicht entlang der Linie 7-7 der Fig. 5;
Fig. 8 eine Ansicht entlang der Linie 8-8 der Fig. 7;
Fig. 9A bis 9C Blockdiagramme des Ausführungsbeispiels der
Fig. 1 bis 8;
Fig. 10A und 10B elektrische Schaltungsdiagramme eines
Dunkelzeitzählers, der in dem Ausführungsbeispiel
der Fig. 1 bis 9 beinhaltet ist;
Fig. 11A und 11B elektrische Schaltungsdiagramme eines
Gesamtzeitzählers, der in dem Ausführungsbeispiel
der Fig. 1 bis 9 beinhaltet ist; und
Fig. 12A bis 12E ein Ablaufdiagramm des Programms, das von
dem Ausführungsbeispiel der Fig. 1 bis 9 ausgeführt
wird.
Im folgenden wird nun auf die Zeichnungen Bezug genommen,
wobei Fig. 1 und 2 zur Erläuterung der allgemeinen Betriebs
prinzipien des derzeit bevorzugten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung verwendet werden und die übrigen
Figuren und Flußdiagramme anschließend daran zur ausführ
licheren Beschreibung dieses Ausführungsbeispiels verwendet
werden.
Wie in Fig. 1 und 2 schematisch dargestellt ist, ist das
derzeit bevorzugte Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung zur Verwendung in einem System ausgelegt, das
die Dicke einer Plattierschicht auf einer Anordnung von An
schlüssen 14 mißt. Die Anschlüsse 14 sind an einem Ende
an einem Trägerstreifen 12 angebracht, so daß ein Anschluß
streifen 10 gebildet ist. Jeder der Anschlüsse 14 definiert
eine Schulter 16, und an dieser Schulterstelle ändert sich
die Breite des Anschlusses 14 gemessen in Richtung der
X-Achse abrupt. Außerdem definiert jeder der Anschlüsse
14 eine Krone bzw. einen Gipfel 20, die bzw. der mit einem
Material wie zum Beispiel Gold plattiert ist. Die einzelnen
Anschlüsse 14 sind durch zwischen ihnen befindliche offene
Räume oder Spalte 18 voneinander getrennt. Bei der nach
folgenden Erläuterung bezeichnet das Symbol D die Periode
bzw. die von einer Kante eines Anschlusses zur entsprechenden
Kante eines benachbarten Anschlusses vorhandene
Beabstandung der Anschlüsse des
Anschlußstreifens 10, das Symbol W bezeichnet die Brei
te eines der Anschlüsse 14 an einer bestimmten Stelle
entlang seiner Länge, und das Symbol G bezeichnet die
Breite des Spalts 18 an dieser vorbestimmten Stelle
entlang der Länge des Anschlusses 14. In Fig. 1 sind
diese drei Symbole klar erläutert.
Das derzeit bevorzugte Ausführungsbeispiel beinhaltet einen herkömm
lichen Röntgenstrahl-Dickenmonitor 30, der einen parallelen Röntgen
strahl 36 erzeugt und die Röntgenstrahlfluoreszenz detektiert, um die
Dicke der Plattierschicht auf der Krone 20 in herkömmlicher Weise zu messen.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, beinhaltet dieses Ausführungs
beispiel einen Tastverhältnis-Sensor 90 sowie einen Schul
terauffindungs-Sensor 120. Beide dieser Sensoren 90 und
120 arbeiten nach dem in Fig. 2 dargestellten allgemeinen
Prinzip. In Fig. 2 ist der Anschlußstreifen 10 auf seiner
Kante stehend dargestellt, und einzelne Anschlüsse 14
sind im Querschnitt dargestellt. Der Tastverhältnis-Sensor
90 beinhaltet eine Lampe 93, die einen parallelen Licht
strahl über ein Lichtleiterkabel 94 auf die Anschlüsse
14 richtet. Ein Detektor 96 ist auf der entgegengesetz
ten Seite des Anschlußstreifens 10 positioniert, und der
Detektor 96 detektiert das in ein Lichtleiterkabel 98
eintretende Licht. Der Anschlußstreifen 10 ist derart
positioniert, daß sich die einzelnen Anschlüsse 14 zwi
schen den beiden Lichtleiterkabeln 94, 98 bewegen. Somit
zeigt das Ausgangssignal des Detektors 96 für jede gege
bene Zeit an, ob einer der Anschlüsse 14 zwischen den
beiden Lichtleiterkabeln 94, 98 angeordnet ist. Da sich
der Trägerstreifen 10 in der X-Richtung bewegt, wird das
von der Lampe 93 und dem Lichtleiterkabel 94 ausgesandte
Licht abwechselnd durch einen der Anschlüsse 14 an einem
Erreichen des Detektors 96 gehindert sowie in die Lage
versetzt, den Detektor 96 zu erreichen. Der Schulterauf
findungs-Sensor 120 arbeitet in ähnlicher Weise.
Der Schulterauffindungs-Sensor 120, der Tastverhältnis-
Sensor 90 sowie der Röntgenstrahl-Dickenmonitor 30 sind
alle auf einem Y-Schlitten 42 montiert, der durch einen
Y-Motor 46 in Richtung der Y-Achse bewegbar ist. Der Tast
verhältnis-Sensor 90 ist mit dem Röntgenstrahl-Dicken
monitor 30 derart ausgerichtet, daß dieselben Bereiche
der Anschlüsse 14, die durch den Tastverhältnis-Sensor
90 gemessen werden, auch unter dem Röntgenstrahl 36
hindurchlaufen und durch den Röntgenstrahl-Dickenmonitor
30 gemessen werden. Der Tastverhältnis-Sensor 90 wird
zum Messen des Verhältnisses W/D während eines Meßinter
valls verwendet. Dieses Verhältnis, das in der vorliegen
den Beschreibung manchmal als Tastverhältnis bezeichnet
wird, zeigt den Bruchteil der Zeit an, über den der Röntgen
strahl 36 mit den Kronen 20 ausgerichtet ist.
Wenn einer der Spalte 18 mit dem Röntgenstrahl 36 ausge
richtet ist, werden, wie dies vorstehend erläutert wurde,
keine sekundären Röntgenstrahlen emittiert, die für die
Plattierschicht auf der Krone 20 charakteristisch sind.
Aus diesem Grund ist die unkorrigierte Dickenmessung
um einen Faktor, der dem Tastverhältnis W/D gleich ist,
geringer als die tatsächliche Dicke der Plattierschicht.
Durch Multiplizieren der gemessenen Plattierdicke, die
durch den Röntgenstrahl-Dickenmonitor 30 festgestellt
wurde, mit dem umgekehrten Tastverhältnis W/D, läßt sich
die gemessene Plattierdicke derart korrigieren, daß die
Dickenmessung von der Breite der Spalte 18 unabhängig
ist.
Der Schulterauffindungs-Sensor 120 ist mit den Schultern
16 ausgerichtet. Das durch den Schulterauffindungs-Sensor
120 gemessene Tastverhältnis W/D ist stark abhängig von
der Position des Schulterauffindungs-Sensors 120 entlang
der Y-Achse. Wenn dieser von dem Trägerstreifen 12 weg
bewegt wird, steigt das Tastverhältnis W/D an der Schul
ter 16 abrupt an. Das im folgenden beschriebene bevorzug
te Ausführungsbeispiel beinhaltet Einrichtungen zum Ver
gleichen der mit dem Schulterauffindungs-Sensor 120 er
zielten Tastverhältnismessung mit einem vorbestimmten
Zielwert sowie zum Steuern des Y-Motors 46 in einer der
artigen Weise, daß sich das gemessene Tastverhältnis bei
dem Zielwert beibehalten läßt. Sobald die korrekte Ver
setzung zwischen dem Schulterauffindungs-Sensor 120 und
dem Röntgenstrahl 36 gewählt ist, läßt sich der Röntgen
strahl 36 korrekt über der Krone 20 positionieren, indem
man sicherstellt, daß der Schulterauffindungs-Sensor 120
korrekt über der Schulter 16 positioniert ist.
Die Versetzung zwischen der Schulter 16 und der Krone 20
variiert natürlich in Abhängigkeit von der speziellen
Ausbildung des Anschlußstreifens 10. Für jede einzelne
Ausbildung des Anschlußstreifens 10 wird diese Versetzung
bei der Herstellung jedoch präzise gesteuert. Aus diesem
Grund stellt die Schulter 16 einen ausgezeichneten Bezugs
punkt zum korrekten Positionieren des Röntgenstrahls 36
dar. Aus diesem Grund arbeitet das im folgenden beschrie
bene bevorzugte Ausführungsbeispiel automatisch, und zwar
sowohl zum Korrigieren der Dickenmessung in bezug auf
Schwankungen bei dem Spalt 18 zwischen benachbarten An
schlüssen, als auch zum Positionieren des Röntgenstrahls
in korrekter Weise auf der zu messenden Krone 20.
Nun wird auf die Fig. 3 bis 8 Bezug genommen, in denen
der mechanische Aufbau des bevorzugten Ausführungsbei
spiels der Fig. 1 und 2 ausführlicher beschrieben wird.
Wie in den Fig. 3 bis 6 gezeigt ist, beinhaltet der
Röntgenstrahl-Dickenmonitor 30 ein Außengehäuse 32. Ein
Röntgenstrahlkollimator 34 ragt aus dem Gehäuse 32 heraus,
und der Röntgenstrahl 36 tritt in der in Fig. 6 gezeigten
Weise aus dem Kollimator 34 aus. An dem Gehäuse 32 ist
ein Mikroskop 38 montiert, um es einer Bedienungsperson
zu ermöglichen, die Lage des Röntgenstrahls 36 visuell
festzustellen. Geeignete Röntgenstrahl-Dickenmonitore
sind dem Fachmann allgemein bekannt, und die Ausbildung,
der Aufbau und der Betrieb des Dickenmonitors 30 bilden
keinen Bestandteil der vorliegenden Erfindung. Ein Dicken
monitor, der sich für die Verwendung bei der vorliegenden
Erfindung geeignet erwiesen hat, ist zum Beispiel der
von der Firma Daini Seikosha Company Limited unter der
Bezeichnung Seiko Model SFT-156 vertriebene Dickenmoni
tor.
Wie in Fig. 6 gezeigt ist, beinhaltet dieses bevorzugte
Ausführungsbeispiel einen Rahmen 40, der eine Y-Achsen
führung 44 trägt. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist
die Y-Achse horizontal ausgerichtet, und zwar senkrecht
zu der Kante 22 des Trägerstreifens 12. Der Y-Schlitten
42 ist auf der Y-Führung 44 derart montiert, daß der
Y-Schlitten 42 bei der Translationsbewegung entlang der
Y-Achse geführt ist. Ein Schrittmotor 46 ist an dem
Rahmen 40 montiert, um den Y-Schlitten 42 in der Y-Füh
rung 44 zu bewegen. Der Rahmen 40 beinhaltet Seitenwände
50, wie dies in Fig. 5 gezeigt ist, die sich nach oben
um die Y-Achsenführung 44 erstreckt. Ein Paar oberer
Flansche 48 ist in der in Fig. 6 gezeigten Weise an dem
Y-Schlitten 42 montiert, um eine Gleitdichtung zwischen
dem Y-Schlitten 42 und den Seitenwänden 50 zu schaffen,
und zwar ohne eine störende Beeinträchtigung der Gleit
bewegung des Y-Schlittens 42. Ein Paar Grenzschalter
52 ist an dem Rahmen 40 montiert, um die Bewegung des
Y-Schlittens 42 zu begrenzen. Eine Strebe 54 wird ver
wendet, um die Vibration des Röntgenstrahl-Dickenmoni
tors 30 auf dem Y-Schlitten 42 auf einem Minimum zu hal
ten. Nicht gezeigte Verriegelungsschalter werden verwen
det, um sicherzustellen, daß der Röntgenstrahl abgeschal
tet wird, wo immer irgendein Teil des Gehäuses 32 oder
des Rahmens 40 entfernt wird, das Zugang zu dem Röntgen
strahl gestatten würde.
Eine Führungsrollenanordnung 60 ist an dem Rahmen 40 mon
tiert, um den Anschlußstreifen 10 bei seiner Bewegung un
ter dem Röntgenstrahl 36 zu führen. Diese Führungsrollen
anordnung 60 ist am besten in den Fig. 5, 5A und 6 zu
sehen und beinhaltet eine horizontal ausgerichtete Trage
stange 62, die drei parallele Achsen 64 trägt. Jede der
Achsen 64 trägt eine entsprechende Rolle 70 über Nadel
lager 72. Zwei voneinander beabstandete Kragen 66 sind
an jeder der Achsen 64 befestigt, um die Position der
Rollen 70 längs der Achsen 64 festzulegen. Drucklager
68 reduzieren die Reibung zwischen den Rollen 70 und
den Kragen 66 auf ein Minimum. Die beiden äußeren Rol
len 70 sind aus einem massiven Metall, wie zum Beispiel
Aluminium, gebildet. Die mittlere Rolle 70, die mit
dem Röntgenstrahlkollimator 34 ausgerichtet ist, ist
aus einem zentralen metallischen Kern 74 gebildet, der
von einer Hülse 76 umgeben ist. Die Hülse 76 ist vorzugs
weise aus einem Material mit geringer Dichte gebildet,
das die Röntgenstrahl-Fluoreszenz oder -streuung auf ein
Minimum reduziert. Bei dem vorliegenden Ausführungsbei
spiel ist die Hülse 76 aus einem Kunststoff gebildet,
wie zum Beispiel Zytel 42, bei dem es sich um eine Art
Nylon 6,6 handelt. Jede der Rollen 70 definiert einen ent
sprechenden Flansch 78 sowie eine entsprechende abge
schrägte Fläche 80. Die abgeschrägten Flächen 80 veran
lassen den Anschlußstreifen 10, sich fest gegen die
Flansche 78 zu setzen, und zwar derart, daß sich die
Kante 22 in festem Kontakt mit den Flanschen 78 befin
det. Auf diese Weise ist der Anschlußstreifen 10 in zu
verlässiger und reproduzierbarer Weise in bezug auf den
Röntgenstrahlkollimator 34 positioniert. Stellschrauben
82 werden zum in Position Halten der Kragen 66 und der
Hülse 76 verwendet. Da der Anschlußstreifen 10 in der
X-Richtung durch außerhalb des beschriebenen Ausführungs
beispiels befindliche Einrichtungen bewegt wird, kann
sich jede der Rollen 70 frei auf der ihr zugeordneten
Achse 64 drehen. Es ist darauf hinzuweisen, daß die Ver
wendung von abgeschrägten Rollen zur Beibehaltung einer
Bezugsfläche für eine akkurate Positionierung eines sich be
wegenden Streifens nicht auf die Verwendung bei Röntgen
strahl-Dickenmessungssystemen begrenzt ist. Abgeschrägte
Rollen sind auch für andere Arten von Systemen geeignet,
bei denen es erforderlich ist, eine akkurate Positionie
rung der Kante eines sich kontinuierlich bewegenden Strei
fens herzustellen.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 7 und 8 ist zu sehen, daß
der Tastverhältnis-Sensor 90 eine Gabel 92 beinhaltet. Die
Lampe 93 und das Lichtleiterkabel 94 sind auf der einen
Seite der Gabel 92 montiert, und der Detektor 96 und das
Lichtleiterkabel 98 sind auf der anderen Seite der Gabel
92 montiert. Falls es erwünscht ist, kann der Detektor
96 in einem Konstanttemperaturofen 100 plaziert werden,
um durch Temperaturschwankungen verursachte Variationen
bei der Detektorempfindlichkeit zu reduzieren. Bei dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel erzeugen die Lampe 93
und das Lichtleiterkabel 94 einen Erfassungsstrahl bzw.
Sensorstrahl mit einem Querschnittsdurchmesser von 0,02
Inch (ca. 0,05 cm), und der Abstand zwischen den frei
liegenden Enden der Lichtleiterkabel 94, 98 beträgt ca.
1/4 Inch (ca. 0,64 cm). Die Gabel 92 ist an einer Y-
Achsen-Translationsstufe 102 montiert, die durch ein
Mikrometer 103 von Hand gesteuert wird. Die Y-Achsen-
Translationsstufe 102 ist wiederum an einer Z-Achsen-
Translationsstufe 104 montiert, die über ein Mikrometer
105 ebenfalls von Hand gesteuert wird. Die Z-Achsen-
Translationsstufe 104 ist über Befestigungsplatten 106,
108 an dem Y-Schlitten bzw. Y-Achsen-Schlitten 42 mon
tiert. Die Mikrometer 103, 105 werden zum korrekten
Positionieren der Gabel 92 verwendet, und zwar derart,
daß sich der Anschlußstreifen 10 zwischen den freilie
genden Enden der beiden Lichtleiterkabel 94, 98 hindurch
bewegt; außerdem dienen die Mikrometer zum Sicherstellen,
daß der Tastverhältnis-Sensor 90 denselben Bereich des
Kontakts 20 überwacht, der auch unter dem Röntgenstrahl
36 passiert. Sobald der Tastverhältnis-Sensor 90 korrekt
positioniert ist, bleibt er an dem Y-Schlitten 42 in Aus
richtung mit dem Röntgenstrahl 36 fixiert.
Der Schulterauffindungs-Sensor 120 ist dem Tastverhältnis-
Sensor 90 in vielerlei Hinsicht ähnlich. Der Schulter
auffindungs-Sensor 120 beinhaltet eine Gabel 122, eine
Lampe 123, einen Detektor 126 sowie Lichtleiterkabel
124, 128, wobei diese Elemente den vorstehend beschrie
benen Elementen ähnlich sind. Die Gabel 122 ist an einer
Z-Achsen-Translationsstufe 130 montiert, die ein von Hand
betätigbares Mikrometer 132 beinhaltet, das sich zum Zen
trieren der Gabel 122 an dem Anschlußstreifen 10 verwen
den läßt. Die Z-Achsen-Translationsstufe 130 ist wieder
um an einer Y-Achsen-Translationsstufe 134 montiert. Die
Position der Y-Achsen-Translationsstufe 134 wird durch
ein Mikrometer 136 gesteuert, und eine Riemenscheibe 138
ist an dem äußeren Ende des Mikrometers 136 montiert. Die
Y-Achsen-Translationsstufe 134 ist über eine Befestigungs
platte 140 an der Befestigungsplatte 108 derart montiert,
daß sich die Y-Achsen-Translationsstufe 134 zusammen mit
dem Tastverhältnis-Sensor 90 und dem Röntgenstrahl-Dicken
monitor 30 auf dem Y-Schlitten 42 bewegt. Ein Schritt
motor 142 ist an der Befestigungsplatte 108 montiert,
und der Schrittmotor 142 treibt eine Antriebsriemen
scheibe 144 rotationsmäßig an. Ein verzahnter Riemen 146
verbindet die Antriebsriemenscheibe 144 und die Riemen
scheibe 138 derart, daß eine Rotation des Schrittmotors
142 eine Rotationsbewegung des Mikrometers 136 hervorruft.
Wie im folgenden noch ausführlich erläutert wird, wird der
Schrittmotor 142 gesteuert, um den in der Y-Richtung vor
handenen Abstand zwischen dem Schulterauffindungs-Sensor
120 und dem Röntgenstrahl 36 einzustellen. Grenzschalter
148 sind an der Befestigungsplatte 140 montiert, und
eine verstellbare Stellschraube 150 ist derart montiert,
daß sie sich zusammen mit der Y-Achsen-Translationsstufe
134 bewegt. Die Grenzschalter 148 wirken derart mit der
Stellschraube 150 zusammen, daß sie die Bewegungsgrenzen
der Y-Achsen-Translationsstufe 134 sowie die Nullstellung
oder Bezugsstellung für die Y-Achsen-Translationsstufe
134 definieren.
Nun wird auf die Fig. 5 und 6 Bezug genommen; dieses Aus
führungsbeispiel beinhaltet einen Norm- bzw. Standard
schlitten 160, der über eine X-Achsen-Führung 162 an dem
Rahmen 40 montiert ist. Die X-Achsen-Führung 162 ist
parallel zu der X-Achse bzw. Transportachse ausgerichtet,
entlang derer sich der Anschlußstreifen 10 bewegt. Die
Position des Normschlittens 160 in der X-Achsen-Führung
162 wird durch einen Schrittmotor 164 gesteuert. Grenz
schalter 168 definieren die Bewegungsgrenzen des Norm
schlittens 160 sowie auch die Null- bzw. Bezugsstellung
des Normschlittens 160. Der Normschlitten 160 trägt eine
Anzahl von Normeinrichtungen, die bei der Eichung des
Röntgenstrahl-Monitors 30 verwendet werden.
Bei Fig. 9, die die Fig. 9A bis 9C umfaßt, handelt
es sich um ein Blockdiagramm, in dem Funktionskomponenten
des bevorzugten Ausführungsbeispiels veranschaulicht sind.
Wie in diesen Figuren gezeigt ist, umfaßt dieses Ausfüh
rungsbeispiel einen Computer 200, wie zum Beispiel einen
Hewlett Packard HP 85-Computer. Der Computer 200 ist
mit dem Röntgenstrahl-Dickenmonitor 30 über eine her
kömmliche RS 232-Schnittstelle 202 verbunden, um es dem
Computer 200 zu ermöglichen, Dickenmessungsdaten von dem
Dickenmonitor 30 zu empfangen. Außerdem sendet der Compu
ter 200 Signale an eine Eingangs-Ausgangs-Schnittstellen
einheit 204 und empfängt Signale von dieser Eingangs-/
Ausgangs-Schnittstelleneinheit 204, bei der es sich zum
Beispiel um eine Hewlett Packard HP 8940 handelt. Diese
Schnittstelleneinheit 204 beinhaltet zwei 8-Bit-Eingangs
ports bzw. -Eingangstore 400 und 401 sowie zwei 8-Bit-
Ausgangsports bzw. -Ausgangstore 404 und 405. Das Ein
gangsport 400 wird zum Empfangen von Zählstandinforma
tion von im folgenden zu beschreibenden Zählern 222, 224
verwendet. Das Eingangsport 401 wird zum Empfangen von
Statussignalen verwendet, die den Status des Dickenmoni
tors 30 und der mehreren vorstehend beschriebenen Grenz
schalter kennzeichnen. Das Ausgangsport 400 wird zum
Steuern von zwei Ausgangsmultiplexern 216 verwendet. Die
se Multiplexer 216 dekodieren die acht parallelen Aus
gangsbits in dem Port 404 in einunddreißig binäre Aus
gangsleitungen. Eine Anzahl dieser binären Ausgangs
leitungen wird zum Steuern des Röntgenstrahl-Dickenmoni
tors über eine Tastaturschnittstelleneinheit 217 verwen
det. Das Ausgangsport 405 schließlich wird zum Abgeben
von Motorpositionsbefehlen an den Y-Motor bzw. Y-Achsen
motor 46, den Schulterauffindungsmotor 142 sowie den X-
Motor bzw. X-Achsen-Motor 164 verwendet.
Die von dem Tastverhältnis-Sensor 90 und dem Schulter
auffindungs-Sensor 120 erzeugten Sensorsignale werden
parallel zu einem Schalter 218 geleitet, der von dem
Computer 200 derart gesteuert wird, daß eines der beiden
Sensorsignale zur Verwendung bei der Steuerung des Dunkel
zeitzählers 224 verwendet wird. Sowohl der Dunkelzeit
zähler 224 als auch der Gesamtzeitzähler 222 erhalten
Taktimpulse von einem Oszillator 220. Der Gesamtzeitzähler
zählt diese Tastimpulse während eines von dem Computer 200
festgelegten Meßintervalls, und der Dunkelzeitzähler 224
zählt diese Tastimpulse nur dann, wenn das ausgewählte
Sensorsignal das Vorhandensein eines Anschlusses während
der Meßperiode anzeigt. Somit ist das Verhältnis des in
dem Dunkelzeitzähler 224 gespeicherten Zählwerts zu dem
in dem Gesamtzeitzähler 222 gespeicherten Zählwert ein
Maß für das vorstehend erläuterte Tastverhältnis W/D.
Diese Zählwerte werden über das Eingangsport 400 unter
Computersteuerung von dem Computer 200 gelesen. Eine
Stroboskoplampe 226 spricht auf das von dem Tastver
hältnis-Sensor 90 erzeugte Sensorsignal derart an, daß
die Stroboskoplampe 226 einen Lichtblitz mit den sich be
wegenden Anschlüssen synchronisiert.
Die Motorpositionsbefehle von dem Port 405 werden als
Eingänge an eine X-Motor-Karte 230 und eine Y-Motor-Karte
232 gegeben. Die X-Motor-Karte formatiert die Positions
befehle für den X-Motor 164 und überträgt diese Befehle
über einen Adapter 238 an einen Motortreiber 236, der
den Betrieb des X-Motors 164 direkt steuert. In gleich
artiger Weise formatiert die Y-Motor-Karte 232 die Po
sitionsbefehle von dem Port 405 und führt diese über
einen Schalter 234 zu einen von zwei Adaptern 238. Diese
beiden Adapter 238 steuern jeweils einen Motortreiber 236,
die mit dem Schulterauffindungsmotor 142 bzw. dem Y-Motor
46 verbunden sind. Der Schalter 234 ist mit dem Schalter
218 identisch und wird zur Reduzierung der erforderlichen
Hardware verwendet. In der Praxis werden der Y-Motor 46
und der Schulterauffindungsmotor 142 niemals gleichzeitig
betrieben, und der Schalter 234 ermöglicht es der einzi
gen Y-Motor-Karte 232, beide Motoren 142, 46 zu steuern.
Fig. 10, die die Fig. 10A und 10B umfaßt, zeigt ein de
tailliertes schematisches Diagramm des Dunkelzeitzählers
224. Wie in diesen Figuren gezeigt ist, wird das Sensor
signal von dem Detektor des ausgewählten Sensors der bei
den Sensoren 90, 120 als Eingang auf einen Verstärker 240
gegeben. Der Verstärker 240 ist mit einem variablen Wider
stand 241 verbunden, der eine variable Verstärkung für
den Verstärker 240 schafft. Eine verstärkte Beleuchtung
des ausgewählten Detektors führt dazu, daß das Ausgangs
signal des Verstärkers 240 negativer wird. Dieses Aus
gangssignal wird über einen Analogschalter 242 auf den
nicht invertierenden Eingang eines zweiten Verstärkers
244 gegeben. Ein Kondensator 246 ist zwischen diesen nicht
invertierenden Eingang des Verstärkers 244 und Erde ge
schaltet, und ein Widerstand 248 schafft einen Leckweg
an Erde für den Kondensator 246.
Das auf den nicht invertierenden Eingang des Verstärkers
244 gegebene Signal wird auch auf den nicht invertieren
den Eingang eines Komparators 250 gegeben. Der invertie
rende Eingang dieses Komparators 250 ist mit dem von dem
Verstärker 240 erzeugten Ausgangssignal verbunden. Der
Ausgang des Komparators 250 dient zur Steuerung des Ana
logschalters 242 in einer derartigen Weise, daß der Schal
ter 242 geschlossen wird, wenn das von dem Verstärker
240 erzeugte Signal negativer als das Signal ist, das
als Eingangssignal auf den nicht invertierenden Anschluß
des Verstärkers 244 gegeben wird.
In der Praxis veranlaßt dies den Kondensator 246 dazu,
den von dem Verstärker 240 erzeugten negativen Spitzen
wert zu speichern. Der Widerstand 248 schafft einen Leck
weg an Erde, um sicherzustellen, daß die Spannung über dem
Kondensator 246 das von dem Verstärker 240 in der jüngsten
Vergangenheit erzeugte negative Spitzensignal anzeigt. Das
Ausgangssignal des Verstärkers 244 wird auf ein Potentio
meter 252 gegeben, das vorzugsweise derart eingestellt ist,
daß das auf den nicht invertierenden Eingang des Komparators
254 gegebene Signal ungefähr 50% des an dem Kondensator 246
gespeicherten negativen Spitzenwerts beträgt. Das auf den
nicht invertierenden Eingang des Komparators 254 gegebene
Signal setzt die Schwelle für den Komparator 254. Der in
vertierende Eingang des Komparators 254 ist derart geschal
tet bzw. angeschlossen, daß er das von dem Verstärker 240
erzeugte Signal empfängt.
Die Elemente 240 bis 252 arbeiten derart zusammen, daß sie
eine Spitzendetektionsschaltung bilden, die die Schwelle
für den Komparator 254 auf den halben Wert des von dem Ver
stärker 240 erzeugten negativen Spitzenwerts setzt, um da
durch sicherzustellen, daß der Komparator 254 an derselben
Stelle in der durch den ausgewählten Sensor 90, 120 erzeug
ten Wellenform umschaltet, und zwar unabhängig von der mo
mentan vorherrschenden Spitzenamplitude des Sensorsignals.
Auf diese Weise ist der Betrieb des Dunkelzeitzählers 224
beträchtlich weniger empfindlich für Schwankungen bei der
Spitzenamplitude des Sensorsignals.
Das von dem Komparator 154 erzeugte Ausgangssignal wird
auf ein Gatter 256 gegeben, und der Ausgang des Gatters
256 ist mit dem Takteingang eines ersten 4-Bit-Zählers 258
verbunden. Das Gatter 256 erhält als zweiten Eingang das
Taktsignal von dem Oszillator 220 in einer derartigen Wei
se, daß der Zähler 258 nur dann getaktet wird, wenn ein
Taktimpuls von dem Oszillator 220 während einer Zeit
dauer ankommt, wenn das ausgewählte Sensorsignal anzeigt,
daß sich der entsprechende Detektor im Schatten eines An
schlusses befindet. Der Zähler 258 ist mit Zählern 260,
262 und 264 verbunden, die zur Bildung eines 16-Bit-Zäh
lers zusammenwirken. Die Ausgangssignale der Zähler 258,
260 werden als Eingänge auf eine erste 8-Bit-Halteschal
tung 266 gegeben, und die Ausgangssignale der Zähler 262,
264 werden als Eingänge auf eine zweite 8-Bit-Halteschal
tung 268 gegeben. Die Halteschaltungen 266, 268 werden
durch entsprechende Leitungen von dem Ausgangsmultiplexer
216 derart gesteuert, daß der Computer 200 die Inhalte
der Halteschaltung 266 oder der Halteschaltung 268 auf das
Eingangsport 400 geben kann. Außerdem kann der Computer
die Zähler 258 bis 264 über ein auf das Gatter 269 gege
benes Signal rücksetzen.
Fig. 11, das die Fig. 11A und 11B umfaßt, zeigt ein
detailliertes schematisches Diagramm des Gesamtzeitzählers
222 und des Oszillators 220. Wie in diesen Figuren gezeigt
ist, erzeugt der Oszillator 220 bei diesem Ausführungs
beispiel ein Taktsignal mit 6 KHz. Dieses Taktsignal
wird als Eingang auf eine Impulsformungsschaltung 270 ge
geben, die eine Reihe von Impulsen mit einer Breite von
ca. 10 Mikrosekunden erzeugt. Es sind diese geformten
Impulse, die die Taktsignale bilden, welche als Eingangs
signale auf den Dunkelzeitzähler 224 sowie auf den Takt
eingang eines Zählers 272 gegeben werden. Der Zähler 272
ist mit Zählern 274, 276 und 278 gekoppelt, um einen
16-Bit-Zähler zu bilden. Die von den Zählern 272 und 274
erzeugten Ausgangssignale werden als Eingang auf eine
erste Halteschaltung 280 gegeben, und die von den Zählern
276, 278 erzeugten Ausgangssignale werden als Eingang auf
eine zweite Halteschaltung 282 gegeben. Die Halteschal
tungen 280, 282 werden von dem Computer 200 in einer Weise
gesteuert, die der vorstehend in Verbindung mit dem
Dunkelzeitzähler 224 beschriebenen Weise entspricht, um
die jeweiligen in den Halteschaltungen befindlichen Sig
nale unter Computersteuerung auf das Eingangsport 400 zu
geben.
Der Computer erzeugt auch ein Rücksetzsignal an dem Aus
gang 6 des Ausgangsmultiplexers 216, und dieses Rücksetz
signal wird auf eine Impulsformungsschaltung 284 gegeben.
Der geformte Rücksetzimpuls wird auf den Rücksetzeingang
jedes Zählers 272 bis 278 gegeben und auf den Dunkel
zeitzähler 224 übertragen, um die Zähler 258 bis 264 zu
rückzusetzen.
Zur Durchführung einer Taktverhältnismessung stellt der
Computer sowohl die in dem Gesamtzeitzähler 222 als auch
in dem Dunkelzeitzähler 224 enthaltenen Zähler zuerst
zurück. Das geeignete Sensorsignal wird über den Schalter
218 ausgewählt, und danach wird der Takt 220 für eine
Meßperiode freigegeben. Während der Meßperiode zählt der
Gesamtzeitzähler 222 jeden der Taktimpulse und der Dunkel
zeitzähler 224 zählt jeden derjenigen Taktimpulse, die
während der Zeit auftreten, wenn der Detektor des jewei
ligen Sensors durch einen der Anschlüsse verdeckt ist
bzw. sich im Schatten eines Anschlusses befindet.
Die Fig. 12A bis 12E zeigen ein Ablaufdiagramm des von
dem Computer 200 ausgeführten Programms. Nachdem das
Programm den Dickenmonitor 30 initialisiert hat, tritt
das Programm in einen Abschnitt 300 ein, der den Dicken
monitor 30 standardisiert bzw. normt. Wie in Fig. 12A ge
zeigt ist, steuert das Programm zuerst die X- und Y-
Motoren 164, 46, um den Kollimator 34 über einer Rein
silber-Normeinrichtung zu positionieren, die auf dem
Normschlitten 160 montiert ist. Dies wird bewerkstelligt
durch Antreiben der X- und Y-Motoren in einer derartigen
Weise, daß diese ihre jeweiligen Nullstellungen einneh
men, die durch die jeweiligen Grenzschalter definiert
sind. Der Dickenmonitor wird dann in der D-Korrektur-
Betriebsweise gestartet, und das DCORR-Signal wird von
dem Dickenmonitor über die RS 232-Schnittstelle gelesen.
Ein Korrekturfaktor X wird dann nach folgender Formel
berechnet:
X = (DCORR - 1) × 10.
Der Dickenmonitor beinhaltet eine herkömmliche Einrichtung
zum Auswerten der von dem sekundären Röntgenstrahldetektor
erzeugten Spannungsimpulse sowie zum Erzeugen des Signals
DCORR als Funktion der gemessenen Spannung der Impulse.
Der Korrekturfaktor X wird zum Ausgleichen von Variationen
bei der Detektorempfindlichkeit verwendet, die in erster
Linie durch Temperaturschwankungen verursacht werden.
Der Dickenmonitor 30 tritt dann in die X-Korrektur-Betriebs
weise ein, die zum Überprüfen der Intensität des Röntgen
strahls verwendet wird. Das Programm steuert den X-Motor
164 derart, daß er den Normschlitten 160 derart bewegt,
daß ein Normteil bzw. eine Normeinrichtung, der bzw. die
eine bekannte Dicke einer Goldplattierung aufweist, in
Ausrichtung mit dem Röntgenstrahlkollimator 34 positioniert.
Der Dickenmonitor 30 wird dann gestartet, und der durch
den Dickenmonitor 30 erzielte Wert der Dickenmessung wird
mit einem bekannten Standardwert bzw. Normwert verglichen.
Falls der Meßwert nicht innerhalb von 6% des Normwerts
liegt, wird die Standardisierungsmessung wiederholt. Falls
die gemessene Dicke bei einem zweiten Durchlauf der be
kannten Dicke wiederum nicht entspricht und mehr als 6%
von dieser abweicht, wird ein Fehlerzustand angezeigt,
und der Überwachungsvorgang wird gestoppt.
Es sei nun angenommen, daß die gemessene Dicke für die
Goldnorm weniger als 6% von der bekannten Dicke abweicht;
das Programm führt dann eine Rücksetzung eines in dem
Computer 200 beinhalteten Echtzeittakts bzw. Echtzeit
gebers aus und tritt in einen Abschnitt 310 des Programms
ein, in dem der Schulterauffindungs-Sensor 120 exakt über
den Schultern 16 der Anschlüsse 14 positioniert wird. In
dem Abschnitt 310 besteht der erste Schritt darin, sicher
zustellen, daß die erforderlichen Parameter, die für den
Anschlußstreifen 10 charakteristisch sind, empfangen wor
den sind. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel bein
halten diese Parameter den nominalen Abstand zwischen der
Kante 22 des Trägerstreifens 12 und der Schulter 16,
den Abstand zwischen der Schulter 16 und der Krone 20, den
Zielwert T für das für die Schulter 16 charakteristische
Verhältnis W/D, den theoretischen Wert für das Tastver
hältnis an der Krone 20 sowie die von dem Dickenmonitor
30 zu verwendende Eichkurve. Vorzugsweise ist der Ziel
wert T so eingestellt, daß er dem Tastverhältnis des
breiteren Bereichs der Schulter multipliziert mit dem
Faktor 0,903 gleich ist.
Sobald diese Parameter empfangen worden sind, positioniert
das Programm die X-, Y- sowie die Schulterauffindungs-
Motoren auf Null und bewegt dann den Y-Motor eine vorbe
stimmte Anzahl von Schritten weiter, um den Tastverhält
nis-Sensor 90 ungefähr über der Krone 20 zu plazieren.
Diese vorbestimmte Anzahl von Schritten ist gleich der
Summe des zuvor empfangenen Abstands zwischen der Kante
22 und der Krone 20 und einer gespeicherten Nullkorrektur.
Danach wird der Schulterauffindungs-Sensor 120 über eine
Distanz bewegt, die dem Abstand zwischen der Schulter 16
und der Krone 20 gleich ist, um dadurch den Schulter
auffindungs-Sensor 120 ungefähr über der Schulter 16 zu
plazieren. Nachdem diese Bewegungen ausgeführt worden
sind, sind sowohl der Röntgenstrahl 36 als auch der Takt
verhältnis-Sensor 90 zum Abtasten der Krone 20 positio
niert, und der Schulterauffindungs-Sensor 120 ist zum
Abtasten der Schulter 16 positioniert.
Der Schalter 218 wird dann derart gesteuert, daß er den
Dunkelzeitzähler 224 dazu veranlaßt, auf den Schulterauffindungs-Sensor
120 anzusprechen, und der Gesamtzeitzähler
sowie der Dunkelzeitzähler werden zurückgesetzt.
Der Oszillator 220 wird dann gestartet und für eine Zeitdauer
von 1,5 Sekunden in Betrieb gehalten, bevor er gestoppt
wird. Der in dem Gesamtzeitzähler 222 gespeicherte
Gesamtzeit-Zählstand CT und der in dem Dunkelzeitzähler
224 gespeicherte Dunkelzeit-Zählstand CD werden dann
gelesen, und das Schulterauffindungs-Verhältnis CD/CT
wird berechnet. Falls dieses Verhältnis CD/CT kleiner
als 0,1 oder größer als 0,975 ist, zeigt das Programm
die Botschaft "Fertigungsbahn gestoppt" an und kehrt zur Messung
des Verhältnisses CD/CT zurück. Ansonsten wird das
gemessene Verhältnis CD/CT angezeigt, und ein Fehlerprozentsatz
E zwischen CD/CT und dem Zielwert T wird
nach folgender Formel berechnet:
E = (T - CD/CT) × 100 × 1/T.
Falls der Fehlerprozentsatz E innerhalb eines Bereichs von
+ oder - 5 liegt, wird der Schulterauffindungs-Sensor 120
als korrekt auf der Schulter 16 zentriert betrachtet. Falls
das Verhältnis E außerhalb dieses Bereichs liegt, berech
net das Programm die Anzahl der Schritte, die zum Bewegen
des Y-Schlittens 42 erforderlich sind, um das gemessene
Verhältnis CD/CT dem Zielwert T gleich zu machen. Bei dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel veranlaßt ein Schritt des
Y-Motors 46 den Y-Schlitten 42 zu einer Bewegung von 0,001
Inch (ca. 0,0254 mm), ein Schritt des X-Motors 146 veran
laßt den Normschlitten 160 zu einer Bewegung von 0,001
Inch (ca. 0,0254 mm), und acht Schritte des Schulterauffindungs-Motors
142 veranlassen den Schulterauffindungs-
Motor-Sensor 120 zu einer Bewegung von 0,001 Inch (ca.
0,0254 mm). Es wurde festgestellt, daß durch Bewegen des
Y-Motors 46 um eine Anzahl von Schritten von gleich
0,2×E das gemessene Verhältnis CD/CT an der Schulter
16 dazu veranlaßt wird, sich dem Zielwert T anzunähern.
Sobald der Schulterauffindungs-Sensor 120 korrekt über der
Schulter 16 positioniert ist, tritt das Programm dann in
einen Abschnitt 320 ein, in dem das Tastverhältnis an der
Krone 20 gemessen und zur Korrektur der mit dem Dicken
monitor 30 erzielten Dickenmessung verwendet wird. In
dem Abschnitt 320 wird die Meßanzeige beleuchtet. Der
Dunkelzeit- und der Gesamtzeitzähler 222, 224 werden zu
rückgesetzt, der Dickenmonitor 30 wird zur Ausführung
einer Dickenmessung in Betrieb gesetzt, und der Oszillator
220 wird gestartet. Nach einem Zeitintervall von 15
Sekunden, der typischerweise geringer ist als die von
dem Dickenmonitor 30 zur vollständigen Ausführung einer
Dickenmessung benötigte Zeit ist, wird der Oszillator
220 gestoppt. Während diesem Zeitintervall von 15 Sekun
den spricht der Dunkelzeitzähler 224 auf den Tastver
hältnis-Sensor 90 an. Die gemessene Dicke wird dann von
dem Dickenmonitor 30 gelesen, und der Gesamtzeit-Zählstand
CT sowie der Dunkelzeit-Zählstand CD werden von dem je
weiligen Zähler 222, 224 abgelesen. Das Tastverhältnis
wird dann gleich dem errechneten Verhältnis CD/CT ein
gestellt, und das Tastverhältnis wird mit einem theore
tischen Wert verglichen, der für die Krone 20 charakte
ristisch ist. Falls das gemessene Tastverhältnis um mehr
als 5% von dem theoretischen Wert abweicht, wird das
Tastverhältnis derart eingestellt, daß es dem theoreti
schen Wert entspricht, und außerdem wird eine Fehlerbot
schaft angezeigt.
Der Abschnitt 310 des Programms wird dann nochmals ausge
führt, um die Schulterposition zu überprüfen, und danach
wird der gemessene Dickenwert unter Verwendung des Tast
verhältnisses und des zuvor bestimmten Korrekturfaktors
X korrigiert. In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist
die korrigierte Dicke derart eingestellt, daß sie der
Summe aus der durch das Tastverhältnis dividierten gemes
senen Dicke und dem Korrekturfaktor X gleich ist. Da wie
vorstehend erläutert wurde, die Spalte 18 zwischen den
Kronen 20 die durch den Dickenmonitor 30 gemessene Röntgen
strahlintensität reduzieren, ist die gemessene Dicke um
einen zu dem Tastverhältnis proportionalen Faktor geringer
als die tatsächliche Dicke der Plattierschicht auf der
Krone 20. Durch Dividieren der gemessenen Dicke durch das
Tastverhältnis wird die korrigierte Dicke von der Größe
der Spalte 18 unabhängig gemacht. Die verstrichene Zeit
wird dann überprüft und, falls sie mehr als 30 Minuten
beträgt, wird wieder der Norm- bzw. Standardisierungs
programmabschnitt 300 ausgeführt. Ansonsten fährt das
Programm fort, das Schulterpositions-Tastverhältnis an
der Krone 20 sowie die Dicke in der vorstehend beschrie
benen Weise zu überwachen.
Aus der vorstehenden Beschreibung ist zu erkennen, daß
ein verbesserter Dickenmonitor beschrieben wurde, der
einen automatischen Ausgleich der Dickenmessung in bezug
auf Schwankungen bei der Geometrie der gemessenen Anschlüs
se schafft und der den Röntgenstrahl in automatischer und
zuverlässiger Weise korrekt über den Kronen positioniert.
Außerdem schafft das erfindungsgemäße System automatisch
eine Standardisierung des Dickenmonitors auf einer perio
dischen Basis, und zwar ohne daß dazu ein Eingreifen
einer Bedienungsperson erforderlich ist. All dies ist in
einem Echtzeitmonitor erzielt, der eine rasche und exakte
Überprüfung der Plattierdicke schafft, so daß Plattier
schichten, die außerhalb der Toleranz liegen, prompt erkannt und Aus
schuß sowie Verzögerungen auf ein Minimum reduziert werden.
Die vorstehende ausführliche Beschreibung beschreibt das bevorzugte Aus
führungsbeispiel in allen funktionsmäßigen Einzelleiten. Bei den übrigen
Komponenten handelt es sich um im Handel erhältliche
Standardeinrichtungen. Zum Beispiel handelt es sich bei
den Motoren und den Motortreibern dieses Ausführungsbei
spiels um SLO/SYN-Translationsmodule
des Typs STM 101, die von der Firma Superior Electric
Company of Crystal, Connecticut, hergestellt werden.
Geeignete Translationsstufen sind von der Firma Daedal
erhältlich, und die bei dem Tastverhältnis-Sensor und
dem Schulterauffindungs-Sensor verwendeten Lampen- und
Detektoranordnungen können von der Firma Scan-O-Matic
unter den Teilenummern S 58101 und P 56001 bezogen werden.
Es ist natürlich darauf hinzuweisen, daß sich bei den
vorstehend beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen
viele Veränderungen und Modifikationen vornehmen lassen.
Zum Beispiel kann die exakte Ausbildung der Einrichtung
zum Erfassen des Anschlußstreifens stark variiert werden.
Zusätzlich zu den vorstehend beschriebenen optischen Sen
soren können auch kapazitive, magnetische sowie induktive
Sensoren bei alternativen Anwendungen gut geeignet sein.
Bei Verwendung von optischen Sensoren läßt sich die
Wellenlänge des Sensorstrahls so wählen, daß sie für den
speziellen Anwendungsfall geeignet ist, und die Wellen
länge kann ultraviolette, infrarote sowie sichtbare
Sensorstrahlen beinhalten. Außerdem ist es nicht bei allen
Ausführungsbeispielen notwendig, daß der Anschlußstreifen
zwischen der Lichtquelle und dem Detektor hindurch läuft,
und in manchen Anwendungsfällen kann es zu bevorzugen
sein, den von der Lampe kommenden Sensorstrahl von dem
Anschlußstreifen weg auf den Detektor zu reflektieren.
Selbstverständlich können die vorstehend erläuterten
Lichtleiteranordnungen durch Linsensysteme oder Laser
strahlen ersetzt werden. In einigen Anwendungsfällen
kann es sogar zu bevorzugen sein, einen Röntgenstrahl
sensor zum Erfassen des Röntgenstrahls 36 zu verwenden,
um die Breite der Spalte zwischen den Anschlüssen zu
messen. Außerdem können die zur Festlegung des Tastver
hältnisses verwendeten speziellen Verhältnisse bei ande
ren Anwendungsfällen ohne weiteres variiert werden. An
statt des vorstehend erläuterten Verhältnisses W/D kann
auch das Verhältnis W/G oder D/W oder irgendein anderes
diesbezügliches Verhältnis für bestimmte Anwendungs
fälle geeigneter sein.
Die Erfindung ist nicht auf die Verwendung bei Röntgen
strahl-Dickenmeßsystemen begrenzt, sondern sie ist auch
für andere Arten von Meß- und Steuersystemen geeignet.
Zum Beispiel beeinflußt bei Plattiervorgängen das Verhält
nis zwischen der Breite W der Krone und dem Abstand D
zwischen benachbarten Kronen die Fläche des zu plattieren
den Metalls und somit verschiedene Parameter des Plattier
vorgangs. Der vorstehend beschriebene Tastverhältnis-
Sensor läßt sich in einfacher Weise für eine automatische
Steuerung eines Plattiervorgangs auslegen.
Bei Verwendung der vorliegenden Erfindung in Verbindung
mit einem Dickenmeßsystem ist es möglich, die Dickenmes
sung durch Verlängern der Meßzeit zu kompensieren, anstatt
dies durch Multiplizieren der mittels einer vorher einge
stellten Meßzeit erzielten gemessenen Dicke mit einem
Tastverhältnis-Korrekturfaktor zu tun. Bei Beschreitung
dieses alternativen Weges kann es zu bevorzugen sein,
den Tastverhältnis-Sensor zur Sicherstellung zu verwenden,
daß die Meßzeit derart torgesteuert ist, daß sie bei oder nahe
bei der in Förderrichtung vorangehenden Kante jeder Krone
beginnt.
Claims (10)
1. Dickenmonitor des Typs mit einer Einrichtung zum
Befördern einer Anordnung voneinander beabstandeter Ele
mente (14), die durch Spalte (18) voneinander getrennt
sind, entlang einer Transportachse, mit einer Einrichtung
(30) zum Erzeugen eines Strahlungsbündels, das derart
ausgerichtet ist, daß es auf die Elemente (14) bei deren
Bewegung entlang der Transportachse trifft, und mit einer
Einrichtung zum Detektieren von sekundärer Strahlung,
die von den Elementen (14) ansprechend auf das Strahlungs
bündel (36) emittiert wird, und zum Erzeugen eines De
tektionssignals ansprechend darauf,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Sensoreinrichtung (90) in der Nähe der Transport
achse positioniert ist und zur Erzeugung eines Sensor
signals ausgelegt ist, das in einem ersten Zustand ist,
wenn sich irgendeines der Elemente (14) an einer ausge
wählten Stelle entlang der Transportachse befindet, und
das in einem zweiten Zustand ist, wenn sich keines der
Elemente (14) an der ausgewählten Stelle befindet, und
daß eine auf das Sensorsignal ansprechende Einrichtung
ein korrigiertes Detektionssignal erzeugt zwecks Ausgleichs
des Detektionssignals in bezug auf die zwischen benach
barten Elementen (14) vorhandenen Spalte (18) in einer
derartigen Weise, daß das korrigierte Detektionssignal
im wesentlichen unabhängig von der Breite (G) der Spalte
(18) entlang der Transportachse ist.
2. Dickenmonitor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß es sich bei dem Strahlungsbündel (36) um ein Röntgen
strahlbündel handelt.
3. Dickenmonitor nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zum Erzeugen eines korrigierten Detek
tionssignals aufweist:
eine Einrichtung zum Messen eines Tastverhältnisfaktors, der die Proportion der Zeit angibt, während der sich das Sensorsignal während eines Meßintervalls in dem ersten Zu stand befindet, und
eine Einrichtung zum Korrigieren des Detektionssignals um den Tastverhältnisfaktor.
eine Einrichtung zum Messen eines Tastverhältnisfaktors, der die Proportion der Zeit angibt, während der sich das Sensorsignal während eines Meßintervalls in dem ersten Zu stand befindet, und
eine Einrichtung zum Korrigieren des Detektionssignals um den Tastverhältnisfaktor.
4. Dickenmonitor nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zum Messen des Tastverhältnisfaktors
aufweist:
einen Oszillator (220), der eine Reihe von Taktimpulsen erzeugt,
eine Einrichtung (222) zum Zählen der Taktimpulse während des Meßintervalls zur Bestimmung eines ersten Zählwerts,
eine Einrichtung (224) zum Zählen der Taktimpulse während des Meßintervalls, wenn sich das Sensorsignal in dem ersten Zustand befindet, zur Bestimmung eines zweiten Zählwerts, und
eine Einrichtung zum Festsetzen des Tastverhältnisfaktors als Funktion des Verhältnisses des zweiten Zählwerts zu dem ersten Zählwert.
einen Oszillator (220), der eine Reihe von Taktimpulsen erzeugt,
eine Einrichtung (222) zum Zählen der Taktimpulse während des Meßintervalls zur Bestimmung eines ersten Zählwerts,
eine Einrichtung (224) zum Zählen der Taktimpulse während des Meßintervalls, wenn sich das Sensorsignal in dem ersten Zustand befindet, zur Bestimmung eines zweiten Zählwerts, und
eine Einrichtung zum Festsetzen des Tastverhältnisfaktors als Funktion des Verhältnisses des zweiten Zählwerts zu dem ersten Zählwert.
5. Dickenmonitor nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoreinrichtung (90) eine Lichtquelleneinrichtung
(93) zum Richten eines Lichtstrahls auf die Elemente (14)
an der ausgewählten Stelle sowie eine Lichtdetektoreinrich
tung (96) zum Erfassen des Lichtstrahls in dem durch die
Elemente (14) modulierten Zustand aufweist.
6. Monitor des Typs mit einer Einrichtung zum Beför
dern einer Anordnung voneinander beabstandeter Elemente
(14) entlang einer Transportachse, und mit einer Einrich
tung (30) zum Überwachen der Elemente (14) an einer Über
wachungsstelle bei deren Bewegung entlang der Transport
achse,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Sensoreinrichtung (120) ein Sensorsignal erzeugt, das eine gemessene Breite der Elemente (14) in einer aus gewählten Richtung an einer Erfassungsstelle angibt,
daß eine Einrichtung das Sensorsignal mit einem gespeicher ten Signal vergleicht, das eine Zielbreite angibt und an sprechend auf den Vergleich ein Steuersignal erzeugt,
daß eine erste Einrichtung (130) die Erfassungsstelle an sprechend auf das Steuersignal derart entlang der Elemente (14) bewegt, daß die gemessene Breite zur Annäherung an die Zielbreite veranlaßt wird, wodurch die Erfassungs stelle automatisch an einer ersten ausgewählten Stelle (16) an den Elementen (14) gehalten wird, und
daß eine zweite Einrichtung die Überwachungsstelle derart bewegt, daß eine ausgewählte Trennung zwischen der Über wachungsstelle und der Erfassungsstelle beibehalten wird, wodurch die Überwachungsstelle automatisch an einer zwei ten ausgewählten Stelle (20) an den Elementen (14) gehal ten wird.
daß eine Sensoreinrichtung (120) ein Sensorsignal erzeugt, das eine gemessene Breite der Elemente (14) in einer aus gewählten Richtung an einer Erfassungsstelle angibt,
daß eine Einrichtung das Sensorsignal mit einem gespeicher ten Signal vergleicht, das eine Zielbreite angibt und an sprechend auf den Vergleich ein Steuersignal erzeugt,
daß eine erste Einrichtung (130) die Erfassungsstelle an sprechend auf das Steuersignal derart entlang der Elemente (14) bewegt, daß die gemessene Breite zur Annäherung an die Zielbreite veranlaßt wird, wodurch die Erfassungs stelle automatisch an einer ersten ausgewählten Stelle (16) an den Elementen (14) gehalten wird, und
daß eine zweite Einrichtung die Überwachungsstelle derart bewegt, daß eine ausgewählte Trennung zwischen der Über wachungsstelle und der Erfassungsstelle beibehalten wird, wodurch die Überwachungsstelle automatisch an einer zwei ten ausgewählten Stelle (20) an den Elementen (14) gehal ten wird.
7. Monitor nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Überwachungseinrichtung (30) eine Einrichtung zum
Richten eines Röntgenstrahlbündels (36) auf die Überwachungs
stelle aufweist zwecks Messung eines Dickenparameters der
voneinander beabstandeten Elemente, daß das Strahlenbündel
(36) derart ausgerichtet ist, daß es auf aufeinander fol
gende Elemente (14) an der zweiten ausgewählten Stelle (20)
entlang der Längsabmessung der Elemente (14) bei deren
Bewegung entlang der Transportachse trifft, und daß die
Überwachungseinrichtung (30) eine Einrichtung zum Detek
tieren von sekundären Röntgenstrahlen aufweist, die an
sprechend auf das Röntgenstrahlbündel von den Elementen
(14) emittiert werden.
8. Monitor nach Anspruch 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoreinrichtung (120) und die Überwachungsein
richtung (30) in einem Schlitten (42) montiert sind, der
zur Ausführung einer Bewegung parallel zur Längsabmessung
geführt ist und sich nahe bei der Transportachse befindet,
daß die Überwachungseinrichtung (30) derart an dem Schlit
ten (42) montiert ist, daß eine ausgewählte Trennung
entlang der Längsabmessung zwischen der ersten und der
zweiten ausgewählten Stelle (16, 20) beibehalten ist, und
daß der Schlitten (42) ansprechend auf das Steuersignal
derart bewegt wird, daß die gemessene Breite zur Annähe
rung an die Zielbreite veranlaßt wird, wodurch die erste
und die zweite ausgewählte Stelle (16, 20) automatisch
an entsprechenden vorbestimmten Stellen an den Ele
menten (14) gehalten werden.
9. Monitor nach Anspruch 7 oder 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Überwachungseinrichtung (30) außerdem aufweist:
eine Einrichtung zum periodischen und automatischen Aus richten des Röntgenstrahlbündels (36) bei einem Röntgenstrahl standard in einem Standardisiervorgang zur Erzielung eines gemessenen Dickenwerts,
eine Einrichtung zum Speichern eines Standardwerts,
eine Einrichtung zum automatischen Vergleichen des gemesse nen Dickenwerts mit dem Standardwert während des Standardi siervorgangs sowie zum Erzeugen eines Vergleichssignals, das das Vergleichsergebnis angibt, und
eine Einrichtung zum Anzeigen eines Fehlerzustands in dem Fall, daß das Vergleichssignal eine übermäßige Diskrepanz zwischen dem gemessenen Dickenwert und dem Standardwert anzeigt.
eine Einrichtung zum periodischen und automatischen Aus richten des Röntgenstrahlbündels (36) bei einem Röntgenstrahl standard in einem Standardisiervorgang zur Erzielung eines gemessenen Dickenwerts,
eine Einrichtung zum Speichern eines Standardwerts,
eine Einrichtung zum automatischen Vergleichen des gemesse nen Dickenwerts mit dem Standardwert während des Standardi siervorgangs sowie zum Erzeugen eines Vergleichssignals, das das Vergleichsergebnis angibt, und
eine Einrichtung zum Anzeigen eines Fehlerzustands in dem Fall, daß das Vergleichssignal eine übermäßige Diskrepanz zwischen dem gemessenen Dickenwert und dem Standardwert anzeigt.
10. Monitor des Typs mit einer Einrichtung zum Beför
dern eines kontinuierlichen Streifenelements entlang einer
Transportachse und mit einer Einrichtung (30) zum Über
wachen des Streifenelements an einer Überwachungsstelle
bei dessen Bewegung entlang der Transportachse,
dadurch gekennzeichnet,
daß entlang der Transportachse eine Rolleneinrichtung (70) posi
tioniert ist, die zum Positionieren einer Kante des Streifen
elements an einer exakten Stelle in bezug auf die Über
wachungseinrichtung (30) ausgelegt ist, und daß die Rollen
einrichtung (70) wenigstens eine Rolle beinhaltet, die eine
abgeschrägte Fläche (80) und einen Flansch (78) an dem
obersten Rand der abgeschrägten Fläche (80) aufweist, wo
durch die Kante des Streifenelements dazu veranlaßt wird,
sich fest anliegend gegen den Flansch (78) zu setzen und
dadurch eine zuverlässige und reproduzierbare Bezugsfläche
für die Überwachungseinrichtung (30) geschaffen ist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/821,645 US4777610A (en) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | Thickness monitor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3701775A1 true DE3701775A1 (de) | 1987-07-30 |
| DE3701775C2 DE3701775C2 (de) | 1994-09-01 |
Family
ID=25233937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3701775A Expired - Fee Related DE3701775C2 (de) | 1986-01-23 | 1987-01-22 | Dickenmonitor |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4777610A (de) |
| JP (1) | JPH0643888B2 (de) |
| DE (1) | DE3701775C2 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10048398B4 (de) * | 1999-10-01 | 2006-09-21 | Rigaku Industrial Corp., Takatsuki | Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und Genauigkeit |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4928257A (en) * | 1988-01-25 | 1990-05-22 | Bethlehem Steel Corporation | Method and apparatus for monitoring the thickness profile of a strip |
| US4980846A (en) * | 1988-04-07 | 1990-12-25 | Impact Systems, Inc. | Process and apparatus for controlling on-line a parameter of a moving sheet |
| US4935679A (en) * | 1988-08-01 | 1990-06-19 | Deaton Chris D | Electro mechanical interface for automating analytical instruments |
| IT1244020B (it) * | 1990-11-21 | 1994-06-28 | Pirelli Prod Diversificati | Procedimento ed apparecchiatura per verificare la configurazione geometrica di elementi dentati di trasmissione. |
| WO2006017782A1 (en) | 2004-08-05 | 2006-02-16 | Acton Reserch Corporation | A self-referencing instrument and method thereof for measuring electromagnetic properties |
| CN102200434B (zh) * | 2011-04-02 | 2012-10-10 | 清华大学 | 一种板带材的厚度凸度检测装置 |
| US9946240B2 (en) * | 2015-01-30 | 2018-04-17 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Apparatus to communicatively couple three-wire field devices to controllers in a process control system |
| US11845569B2 (en) | 2020-09-18 | 2023-12-19 | Lockheed Martin Corporation | Eddie-bolt inspection tool |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3390769A (en) * | 1966-11-23 | 1968-07-02 | Continental Can Co | X-ray thickness gauging and classifying apparatus |
| US3984679A (en) * | 1975-02-18 | 1976-10-05 | Gte Laboratories Incorporated | Coating thickness monitor for multiple layers |
| DE2804454A1 (de) * | 1977-02-03 | 1978-08-24 | Sangamo Weston | Verfahren zur eichung einer einrichtung zum messen der dicke eines materials |
| DE2913879C2 (de) * | 1979-04-06 | 1982-10-28 | Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen | Verfahren zur Regelung der Dicke von laufenden Meßgutbahnen |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1001644A (en) * | 1910-10-04 | 1911-08-29 | Tresham F Hutchings | Combination pulley, funnel, and stripping-jack. |
| USRE22178E (en) * | 1935-09-28 | 1942-09-15 | Manufacture of raton and the like | |
| US3333753A (en) * | 1965-06-17 | 1967-08-01 | Ampex | Helical scan magnetic tape apparatus with a squeeze film bearing |
| JPS50153667A (de) * | 1974-05-31 | 1975-12-10 | ||
| US4017897A (en) * | 1975-09-17 | 1977-04-12 | Eastman Kodak Company | Magnetic tape guide having a tapered roller and an adjustable contoured edge |
| US4063820A (en) * | 1975-11-10 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Apparatus for measuring a dimension of an object |
| US4192612A (en) * | 1976-01-09 | 1980-03-11 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for contact-free thickness measurement |
| US4162528A (en) * | 1976-05-18 | 1979-07-24 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses |
| US4264202A (en) * | 1979-09-04 | 1981-04-28 | Automation Systems, Inc. | Pin receptacle inspection apparatus and method |
| DE3127340C2 (de) * | 1980-07-17 | 1985-01-31 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Führungsrolle für ein Bandbewegungssystem eines magnetischen Aufnahme- und Wiedergabegeräts |
| US4393313A (en) * | 1981-04-29 | 1983-07-12 | Binks Industries, Inc. | Width detector system |
| US4553217A (en) * | 1981-07-08 | 1985-11-12 | Ball Corporation | Glassware gauging system |
| US4510577A (en) * | 1982-02-18 | 1985-04-09 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Non-contact radiation thickness gauge |
-
1986
- 1986-01-23 US US06/821,645 patent/US4777610A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-01-22 DE DE3701775A patent/DE3701775C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-01-23 JP JP62013913A patent/JPH0643888B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3390769A (en) * | 1966-11-23 | 1968-07-02 | Continental Can Co | X-ray thickness gauging and classifying apparatus |
| US3984679A (en) * | 1975-02-18 | 1976-10-05 | Gte Laboratories Incorporated | Coating thickness monitor for multiple layers |
| DE2804454A1 (de) * | 1977-02-03 | 1978-08-24 | Sangamo Weston | Verfahren zur eichung einer einrichtung zum messen der dicke eines materials |
| DE2913879C2 (de) * | 1979-04-06 | 1982-10-28 | Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen | Verfahren zur Regelung der Dicke von laufenden Meßgutbahnen |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10048398B4 (de) * | 1999-10-01 | 2006-09-21 | Rigaku Industrial Corp., Takatsuki | Kontinuierlich abtastender Röntgenanalysator mit verbesserter Verfügbarkeit und Genauigkeit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3701775C2 (de) | 1994-09-01 |
| US4777610A (en) | 1988-10-11 |
| JPH0643888B2 (ja) | 1994-06-08 |
| JPS63187104A (ja) | 1988-08-02 |
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