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DE3644007A1 - IC detector system for computer tomographs and method and device for the manufacture thereof - Google Patents

IC detector system for computer tomographs and method and device for the manufacture thereof

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Publication number
DE3644007A1
DE3644007A1 DE19863644007 DE3644007A DE3644007A1 DE 3644007 A1 DE3644007 A1 DE 3644007A1 DE 19863644007 DE19863644007 DE 19863644007 DE 3644007 A DE3644007 A DE 3644007A DE 3644007 A1 DE3644007 A1 DE 3644007A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
detector
side parts
plates
station
sheets
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19863644007
Other languages
German (de)
Inventor
Peter Boehm
Holger Iglberger
Horst Engelmann
Karl Brunner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE19863644007 priority Critical patent/DE3644007A1/en
Publication of DE3644007A1 publication Critical patent/DE3644007A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2921Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
    • G01T1/2935Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using ionisation detectors

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  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Gas detector systems for computer tomographs consists of individual detector cells which form a ring segment-like array, the detector cells being bounded by plates, which are aligned radially to the focus, between continuous side parts. For accurately aligning the plates, the carrying side parts have previously been correspondingly slotted. According to the invention, the side parts (11) are constructed to be smooth without slottings and are provided with a layer (12) of curable adhesive and the individual detector plates (14, 15) are fixed in location by the layer (12) of the adhesive. During the manufacturing process thereof, it is essential that the detector plates (14, 15) are first placed side by side by alternating nesting with wedges of appropriate geometry and are accurately aligned and then the plate/wedge packet is joined to the side parts (11). For this purpose, the associated manufacturing device essentially consists of a separate nesting station (31) for nesting the detector plates (14, 15) and a bonding station (32) for preparing the side parts (11), which is followed by a subsequent assembly station (33) for joining the detector plates (14, 15) to the side parts (11) and a welding station (34) for providing the voltage-conducting plates (15) with contacts. The stations (31-34) can be integrated into a flexible manufacturing cell. <IMAGE>

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein IC-Detektorsystem für Computertomographen gemäß dem Oberbegriff des Patentanspru­ ches 1. Daneben bezieht sich die Erfindung auch auf das Ver­ fahren zur Fertigung derartiger IC-Detektorsysteme gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 5 und auf eine zugehörige Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 13.The invention relates to an IC detector system for Computer tomographs according to the preamble of claim ches 1. In addition, the invention also relates to the Ver drive to manufacture such IC detector systems according to Preamble of claim 5 and an associated one Device according to the preamble of claim 13.

Kernstück von Computertomographen ist das Detektorsystem für Röntgenstrahlung: Dieses befindet sich üblicherweise auf dem der Strahlungsquelle gegenüberliegenden Teil des Gerätes und bildet insbesondere bei sogenannten Fächerstrahlgeräten ein Ringsegment mit beispielsweise 1100 Einzelelementen. Die Ab­ bildungseigenschaften des Computertomographen hängen maßgeb­ lich von der Qualität des Detektorsystems ab.The heart of computer tomographs is the detector system for X-rays: This is usually on the part of the device opposite the radiation source and forms a so-called fan jet device Ring segment with, for example, 1100 individual elements. The Ab Educational characteristics of the computed tomograph depend significantly depends on the quality of the detector system.

In Fächerstrahlgeräten werden bisher zwei unterschiedliche Detektortypen verwendet, nämlich Gasdetektoren aus Edelgas- Hochdruck-Ionisationskammern und Halbleiterdetektoren aus Szintillationskristallen, die mit lichtempfindlichen Halb­ leitern kombiniert sind.So far, two different types have been used in fan jet devices Detector types used, namely gas detectors made of noble gas High pressure ionization chambers and semiconductor detectors Scintillation crystals made with photosensitive half conductors are combined.

Gasdetektorsysteme bestehen im einzelnen aus einem Druckge­ fäß, in dessen Inneren die einzelnen Plattenelektroden an­ gebracht sind. Als Gasfüllung wird vorzugsweise Xenon mit einem Druck von 10 bis 20 bar verwendet. Die Kammerlänge in Strahlrichtung beträgt etwa 6 cm. Das Detektorsystem wird mit einer Betriebsspannung von beispielsweise 500 Volt betrieben. Halbleiterdetektorsysteme werden dagegen aus einzelnen Detek­ torelementen zusammengesetzt, die aus gekapselten und auf lichtempfindliche Dioden auf gekitteten Szintillationskristallen von etwa 5 mm Dicke bestehen. Diese Einzelelemente werden auf einer Leiterplatte montiert. Eine spezielle Betriebsspannung wird dabei nicht benötigt.Gas detector systems consist in particular of a Druckge inside the individual plate electrodes are brought. Xenon is preferably used as the gas filling a pressure of 10 to 20 bar. The chamber length in Beam direction is about 6 cm. The detector system comes with an operating voltage of 500 volts, for example. Semiconductor detector systems, on the other hand, are made up of individual detec  gate elements composed of encapsulated and on photosensitive diodes on cemented scintillation crystals about 5 mm thick. These individual elements are on mounted on a circuit board. A special operating voltage is not required.

Bei beiden Systemen ist es für eine hinreichende Bildqualität zwingend erforderlich, daß die einzelnen Detektorelemente, d.h. entweder die Bleche oder aber die Halbleiterkristalle exakt auf den Brennpunkt des Systems ausgerichtet sind. Dies bereitet in der Praxis bei der Herstellung derartiger Detek­ toren erhebliche Probleme. Entsprechend den Qualitätsanforde­ rungen müssen weiterhin speziell bei den Halbleiter-Detektor­ systemen eine große Anzahl von Halbleiterbauelementen während der Fertigung aussortiert werden, die das System in seine Kosten wesentlich beeinflussen. Demgegenüber ist ein Gasdetek­ tor wesentlich kostengünstiger. Allerdings hängt speziell hier die Bildqualität ganz wesentlich von der mechanischen Ausrichtung der einzelnen Bleche ab, was für die Herstellung derartiger Systeme sicher beherrscht werden muß.With both systems it is for a sufficient picture quality mandatory that the individual detector elements, i.e. either the sheets or the semiconductor crystals are precisely aligned to the focal point of the system. This prepares in practice in the manufacture of such detec significant problems. According to the quality requirements must continue to be especially with the semiconductor detector systems a large number of semiconductor devices during of the manufacturing that the system is in its Influence costs significantly. In contrast there is a gas detector gate much cheaper. However, it depends specifically here the image quality is very different from the mechanical one Alignment of the individual sheets, what for the manufacture such systems must be mastered safely.

Vom Stand der Technik ist es bekannt, zur Herstellung von Gasdetektoren entsprechend ausgebildete Seitenteile in vorge­ gebener Teilung zu schlitzen, in diese Schlitze die Bleche einzustecken und durch nachträgliches Einbringen eines Kle­ bers die Bleche in ihrer Lage zu stabilisieren. Dabei müssen die Schlitze der Seitenteile in ihren Abmessungen so dimen­ sioniert werden, daß die Fertigungstoleranzen der Schlitze sowie der Bleche die Schlitzbreite bestimmen. Im Ergebnis wird dadurch die Ausrichtung der Bleche zum Fokus des Systems von vielen Eventualitäten abhängig.It is known from the prior art for the production of Gas detectors appropriately trained side parts in pre to split the sheet into these slots insert and by inserting a Kle bers to stabilize the position of the sheets. Doing so so dimension the slots of the side parts in their dimensions be sioned that the manufacturing tolerances of the slots as well as the sheet metal determine the slot width. As a result the orientation of the sheets becomes the focus of the system dependent on many eventualities.

Aufgabe der Erfindung ist es demgegenüber, ein IC-Detektor­ system für Computertomographen zu schaffen, bei dem Toleranzen bei der Lage der Detektorbleche weitgehend ausgeschaltet sind. Daneben soll ein Verfahren sowie die zugehörige Vorrichtung zur Herstellung derartiger Detektorsysteme angegeben werden.In contrast, the object of the invention is an IC detector system for computed tomography to create tolerances are largely switched off in the position of the detector plates.  In addition, a method and the associated device be specified for the production of such detector systems.

Die Aufgabe ist bezüglich des Detektorsystems erfindungsge­ mäß durch die Gesamtheit der Merkmale des Patentanspruches 1 gelöst. Ein Verfahren zur Fertigung derartiger Detektor­ systeme ist im Patentanspruch 5 und die zugehörige Vorrichtung im Patentanspruch 13 angegeben. Vorteilhafte Weiterbildungen des Detektorsystems, des Fertigungsverfahrens sowie der zuge­ hörigen Vorrichtung sind in den diesbezüglichen Unteransprüchen angeben.The task is fiction, ge regarding the detector system according to the entirety of the features of claim 1 solved. A method of manufacturing such a detector systems is in claim 5 and the associated device specified in claim 13. Advantageous further training the detector system, the manufacturing process and the associated hearing device are in the related subclaims specify.

Die Erfindung geht von der Überlegung aus, daß die Ausrich­ tung zum Fokus und eine konstante Kammerbreite bei einem Gasdetektor die Qualitätsmerkmale sind, die Bilder ohne Verzerrungen gewährleisten. Der Erfindung lag die Erkenntnis zugrunde, daß diese Punkte bereits bei der Herstellung be­ rücksichtigt werden müssen und die einzelnen Blechabstände durch Keile der gewünschten Teilung bestimmt werden können. Durch abwechselndes Aneinanderreihen, d.h. Schachteln von Keilen und Blechen, sind bei entsprechender Schachteleinrich­ tung alle auftretenden Fehler bereits bei der Herstellung kompensierbar. Dies kann dadurch erreicht werden, daß bei der Schachteleinrichtung die einzelnen Kammern durch entsprechen­ de Keile definiert sind und jedes Blech in seiner absoluten Lage und seiner Ausrichtung zum Fokus gemessen wird, wozu sich an einem Meßarm zwei voneinander unabhängige Meßsysteme befinden. Damit kann jedes Blech sofort nach seiner Ein­ bringung auf Genauigkeit untersucht werden.The invention is based on the consideration that the alignment focus and a constant chamber width at one Gas detector are the quality features, the pictures without Ensure distortion. The invention was based on the knowledge based on the fact that these points are already in the manufacture must be taken into account and the individual sheet spacings can be determined by wedges of the desired division. By alternating rows, i.e. Boxes of Wedges and sheets are provided with the appropriate box set-up all errors that occur during production compensable. This can be achieved in that Nesting device to match the individual chambers de wedges are defined and each sheet in its absolute Location and its orientation to the focus is measured for what two independent measuring systems on one measuring arm are located. This means that every sheet can be turned on immediately after bring to be examined for accuracy.

Nach dem Fertigschachteln des Detektors kann ein Abschlußkeil gesetzt werden, der das Blech/Keil-Paket zusammenhält. In einer Klebestation werden die mit Kleber beschichteten Sei­ tenteile definiert an die Keile angedrückt und können in dieser definierten Lage aushärten. Anschließend werden die Keile gezogen und durch Kontaktieren jedes zweiten Bleches an eine 500 Volt-Leitung der Detektor fertiggestellt.After the detector has been nested, a wedge can be used be placed, which holds the sheet / wedge package together. In the adhesive-coated screen becomes a gluing station tent parts defined pressed on the wedges and can in harden in this defined position. Then the  Wedges pulled and by contacting every other sheet to a 500 volt line the detector was completed.

Wesentlich ist bei dem erfindungsgemäßen Detektorsystem, daß die Seitenteile ohne Schlitzungen glatt ausgebildet und mit einem aushärtbaren Kleber beschichtet sind und daß die ein­ zelnen Detektorbleche seitlich durch den aushärtbaren Kleber in definierter Lage fixiert werden. Bei der Herstellung wird durch zusätzliches Tempern erreicht, daß alle Kleberbestand­ teile total vernetzt sind und ein nachträgliches Ausgasen im Tomographiergerät eingebauten Zustand nicht mehr auftreten kann.It is essential in the detector system according to the invention that the side parts without slits and smooth are coated with a curable adhesive and that the one individual detector plates on the side due to the hardenable adhesive be fixed in a defined position. During the manufacturing process achieved by additional annealing that all glue stock parts are totally networked and a subsequent outgassing in Tomography device installed condition no longer occur can.

Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Figurenbeschreibung von Ausführungs­ beispielen. Es zeigen jeweils in schematischer Darstellung:Further details and advantages of the invention emerge from the following figure description of execution examples. Each shows in a schematic representation:

Fig. 1 ein IC-Detektorsystem im Seitenriß, Fig. 1 shows an IC-detector system in side elevation,

Fig. 2 ein speziell erfindungsgemäßes Detektorsystem in zu Fig. 1 senkrechter Schnittrichtung, woraus wesentliche Merkmale der Erfindung erkennbar sind, Fig. 2 shows a detector system according to the invention specifically in to Fig. 1 a vertical sectional direction, from which essential features of the invention will be apparent,

Fig. 3 ein Flußdiagramm zur Fertigung der erfindungsgemäßen Detektoren, Fig. 3 is a flowchart for the manufacture of the detectors according to the invention,

Fig. 4 eine Gesamtdarstellung der Stapelstation, Fig. 4 is an overall view of the stacking station,

Fig. 5 und Fig. 6 zwei senkrechte Schnitte durch die Schach­ teleinrichtung der Stapelstation mit den zugehörigen Meß­ mitteln, Fig. 5 and 6 are two vertical sections through the chess Fig. Teleinrichtung the stacking station to the associated measurement means,

Fig. 7 eine Darstellung der zusätzlichen Kontrolleinrichtung am Ende des Meßarms und Fig. 7 shows the additional control device at the end of the measuring arm and

Fig. 8 eine Schnittdarstellung der Montagestation. Fig. 8 is a sectional view of the assembly station.

In den Figuren sind identische Teile mit den gleichen Bezugs­ zeichen und sich entsprechende Teile mit analogen Bezugszei­ chen versehen. Die Figuren werden teilweise zusammen be­ schrieben, um insbesondere das spezifische Herstellungsver­ fahren für die Detektorsysteme zu erläutern.In the figures, identical parts have the same reference characters and corresponding parts with analog reference numbers Chen provided. The figures are partly together wrote to in particular the specific manufacturing ver drive to explain for the detector systems.

In Fig. 1 ist ein Gasdetektorsystem 1 dargestellt, das Ver­ wendung bei einem Fächerstrahl-Computertomographiegerät finden kann. Der Gasdetektor ist in etwa kreisringsegmentför­ mig mit Ausrichtung auf einen Fokus F ausgebildet und reali­ siert physikalisch das Prinzip einer Ionisationskammer (Ionisation Chamber), wobei beispielsweise 1100 Einzelein­ heiten vorhanden sind.In Fig. 1, a gas detector system 1 is shown, which can be used in a fan beam computed tomography device. The gas detector is approximately circular segment-shaped with a focus on F and physically realizes the principle of an ionization chamber (ionization chamber), for example 1100 individual units are present.

Das IC-Detektorsystem 1 besteht im einzelnen aus einem Druck­ gefäß 2, das in der Papierebene von (in Fig. 1 nicht erkennba­ ren) Seitenteilen 3 begrenzt ist und eine Anzahl von Detektor­ blechen 4 und 5 aufweist. An jedem zweiten Detektorblech liegt dabei eine Versorgungsspannung von beispielsweise 500 Volt einer Spannungsquelle 7, so daß eine Meßzelle begrenzt wird, wobei die dazwischen liegenden Detektorbleche 4 als Meßsonden dienen. Die Meßsignale werden jeweils über Verstärker 8 erfaßt und Bildsignalverarbeitungseinheiten zugeführt.The IC detector system 1 consists in detail of a pressure vessel 2 , which is limited in the paper plane by (not recognizable in FIG. 1) side parts 3 and has a number of detector plates 4 and 5 . At every second detector plate there is a supply voltage of, for example, 500 volts from a voltage source 7 , so that a measuring cell is limited, the detector plates 4 lying in between serving as measuring probes. The measurement signals are each acquired via amplifiers 8 and fed to image signal processing units.

Wesentliche Merkmale eines guten IC-Detektors sind eine exakte Ausrichtung der Bleche 4, 5 zum Fokus F und eine konstante Kammerbreite der einzelnen Detektorzellen. Beim Stand der Technik werden dazu die Seitenteile in einer vorgegebenen Teilung geschlitzt, die Bleche in diese Schlitze eingeschoben und durch nachträgliches Einbringen eines Klebers in ihrer Lage stabilisiert. Da Fertigungstoleranzen der Bleche einer­ seits und der Schlitze andererseits berücksichtigt werden müssen, ist eine exakte Ausrichtung der Bleche zum Fokus nicht immer gewährleistet. Essential characteristics of a good IC detector are an exact alignment of the sheets 4 , 5 to the focus F and a constant chamber width of the individual detector cells. In the prior art, the side parts are slotted in a predetermined division, the metal sheets are pushed into these slits and their position is stabilized by subsequently adding an adhesive. Since manufacturing tolerances of the sheets on the one hand and the slots on the other must be taken into account, an exact alignment of the sheets to the focus is not always guaranteed.

Aus Fig. 2 ist ersichtlich, daß Seitenteile 11 mit einer Schicht 12 versehen sind, in die Detektorbleche 14 und 15 ein­ tauchen, ohne die Seitenteile 11 selbst zu berühren. Wird für die Schicht 12 ein aushärtbarer Kleber verwendet, so lassen sich bei einem derartigen Aufbau die Bleche 14, 15 zunächst in eine korrekte Position zum Fokuspunkt F bringen. Anschlie­ ßend werden die mit der Klebeschicht 12 versehenen Seiten­ teile 11, bei denen der Kleber noch nicht ausgehärtet ist, definiert auf die Bleche aufgedrückt, so daß sich in den Schichten 12 jeweils Einbettnuten 13 bilden, die nicht bis zu den Seitenteilen 11 durchgehen. Durch Vernetzen des Klebers in dieser Lage werden die Bleche 14, 15 fixiert, so daß nun­ mehr ein Detektorsystem 10 mit definiert ausgerichteten Ein­ zelblechen 14 und 15 geschaffen ist.From Fig. 2 it can be seen that side parts 11 are provided with a layer 12 , in the detector plates 14 and 15 dip without touching the side parts 11 themselves. If a curable adhesive is used for the layer 12 , the sheets 14 , 15 can first be brought into a correct position with respect to the focal point F in such a construction. Subsequently be ßend which is provided with the adhesive layer 12 side parts 11, in which the adhesive has not yet cured, defined on the sheets pressed, so that each form in the layers 12 Einbettnuten 13 that do not go through to the side members. 11 By networking the adhesive in this position, the sheets 14 , 15 are fixed so that more of a detector system 10 with defined aligned individual sheets 14 and 15 is now created.

Als Material für die Klebeschicht 12 kann beispielsweise Epoxidharz, das bei Verarbeitung hochviskose Eigenschaften hat, gewählt werden. Der Kunststoff ist auf das Material der Seitenteile 11 abgestimmt, die beispielsweise aus glasfaser­ verstärktem Epoxidharz (GFK) bestehen. Die Detektorbleche sind in bekannter Weise ausgebildet und bestehen beispiels­ weise aus Molybdän.Epoxy resin, for example, which has highly viscous properties when processed, can be selected as the material for the adhesive layer 12 . The plastic is matched to the material of the side parts 11 , which consist, for example, of glass fiber reinforced epoxy resin (GRP). The detector plates are designed in a known manner and consist, for example, of molybdenum.

Ein Detektorsystem gemäß Fig. 2 läßt sich definiert her­ stellen: Zunächst werden die einzelnen Bleche 14, 15 durch abwechselndes Schachteln mit Keilen entsprechender Geometrie (aus Fig. 2 nicht erkennbar) aufeinandergestapelt. Dabei kann die korrekte Lage jedes einzelnen Bleches unmittelbar beim Schachteln automatisch geprüft werden. Ist eine vorge­ gebene Anzahl von Blechen und Keilen aneinandergereiht, wird der gesamte Stapel durch einen Abschlußkeil fixiert. In die­ ser fixierten Lage werden dann die Bleche 14, 15 mit den Seitenteilen 11 verklebt und anschließend die Keile heraus­ gezogen. A detector system according to FIG. 2 can be produced in a defined manner: First, the individual sheets 14 , 15 are stacked on top of one another by alternating nesting with wedges of corresponding geometry (not recognizable from FIG. 2). The correct position of each individual sheet can be checked automatically when nesting. Is a pre-specified number of sheets and wedges strung together, the entire stack is fixed by an end wedge. In this fixed position, the sheets 14 , 15 are then glued to the side parts 11 and then the wedges are pulled out.

Aus Fig. 3 ist der schematische Aufbau einer Anlage zur Fer­ tigung des beschriebenen Detektorsystems mit den zugehörigen Verfahrensablauf schematisch dargestellt: Er besteht im wesent­ lichen aus einer Schachtelstation 31 und einer Klebestation 32 der eine Montagestation 33 sowie eine Schweißstation 34 nach­ geordnet sind. In der Schachtelstation 31, die weiter unten anhand der Fig. 4 bis 7 noch im einzelnen beschrieben wird, erfolgt das Aufeinanderreihen der Detektorbleche 14 und 15 unter Nachbildung der Fokuslage. Parallel dazu werden in der Klebestation 32 die Seitenteile 11 vorbereitet, wobei in der Montagestation 33 das Zusammenfügen von gestapelten Blechen 14, 15 und den Seitenteilen 11 erfolgt. Verfahrensmäßig wer­ den dazu einerseits die Bleche verklebt und anschließend an die fixierten Bleche die entsprechenden Kontaktleitungen an­ geschweißt. Vor dem Einbau des Systems in einen Computertomo­ graphen wird der Detektor zusätzlich getempert. Dadurch wird erreicht, daß alle Kleberbestandteile vollkommen vernetzt sind und ein nachträgliches Ausgasen im eingebauten Zustand nicht auftreten kann.From Fig. 3, the schematic structure of a system for manufac turing of the detector system described with the associated process flow is shown schematically: It consists essentially of a nesting station 31 and an adhesive station 32 which are arranged an assembly station 33 and a welding station 34 . In the nesting station 31 , which will be described in more detail below with reference to FIGS. 4 to 7, the detector sheets 14 and 15 are lined up in succession, with the focus position being simulated. In parallel, the side parts 11 are prepared in the gluing station 32, the stacking sheets 14 , 15 and the side parts 11 being joined together in the assembly station 33 . In terms of procedure, who glued the sheets on the one hand and then welded the corresponding contact lines to the fixed sheets. Before the system is installed in a computer tomograph, the detector is additionally annealed. This ensures that all adhesive components are completely cross-linked and that subsequent outgassing cannot occur when installed.

Bei dem beschriebenen Herstellungsverfahren ist wesentlich, daß zunächst die Lage der Detektorbleche 14, 15 "in situ" nachgebildet wird und daß während der Fertigungsschritte Toleranzen in den Blechen 14, 15, insbesondere variierende Dicken und/oder Winkligkeiten, kompensiert werden können. Damit wird ausgeschlossen, daß sich Toleranzabweichungen zu größeren Fehlern aufsummieren und Linearitätsfehler entstehen können. Es kann vielmehr beim Erkennen von eventuellen Tole­ ranzabweichungen unmittelbar dafür Sorge getragen werden, daß die Abweichungen ausgeglichen werden und damit derartige Fehler erst gar nicht entstehen. Dafür muß die Station 31 für das Stapeln der Bleche in spezifischer Weise ausgebaut sein.In the described manufacturing process is essential that first the position of the detector plates 14, 15 is replicated "in situ" and that can be compensated for during the manufacturing steps tolerances in the plates 14, 15, in particular varying thicknesses and / or Winkligkeiten. This rules out the fact that tolerance deviations add up to larger errors and linearity errors can occur. Rather, it can be taken immediately upon detection of possible tolerance deviations that the deviations are compensated for and so that such errors do not arise at all. For this, the station 31 for stacking the sheets must be expanded in a specific manner.

In Fig. 4 ist der eigentlichen Schachteleinrichtung 50, die in Schräglage mit 15°-Abweichung von der vertikalen angeordnet ist und anhand Fig. 5 und Fig. 6 im einzelnen beschrieben wird, eine Arbeitsplattform 40 mit Hubbühne zugeordnet, auf der Vorratsbehälter 41, und 42 für die unterschiedlichen Detek­ torbleche 14 und 15 einerseits sowie ein Vorratsbehälter 43 für Keile vorgegebener Geometrie andererseits in geeigneter Weise angeordnet sind. Von den Behältern 41 und 42 wird je­ weils ein Raster I mit Spalten I bis III und Zeilen a bis f gebildet, die jeweils drei bzw. sechs nach unterschiedlichen Kriterien klassifizierte Vorratsteile aufnehmen können. Bei­ spielsweise sind drei Dicken und sechs Winkeligkeiten der Detektorbleche 14 und 15 vorgegeben, so daß sich insgesamt jeweils 18 unterschiedliche Blechtypen ergeben können. Mit­ tels eines der Schachteleinheit 50 zugeordneten Rechners mit Display 45 wird beim Stapeln nach Ausmessen der Fokuslage jeweils angegeben und an den der Fächermatrix zugeordneten Leuchtdioden angezeigt, welches Einzelteil für den nächsten Stapelvorgang benötigt wird. Die Bedienperson erhält dadurch exakte Anweisungen für den weiteren Fertigungsvorgang. Glei­ chermaßen kann bei einer automatisierten Fertigung ein Industrieroboter bzw. ein Handhabungssystem entsprechend gesteuert werden.In FIG. 4, the actual box 50, which is arranged in an oblique position at 15 ° deviation from the vertical and with reference to Figure 6. 5 and Fig. Is described in detail, 40 associated with a work platform with lifting platform to the reservoir 41, and 42 for the different detector sheets 14 and 15 on the one hand and a reservoir 43 for wedges of predetermined geometry on the other hand are arranged in a suitable manner. A grid I with columns I to III and rows a to f is formed in each case from the containers 41 and 42 , each of which can hold three or six stock parts classified according to different criteria. In example, three thicknesses and six angularities of the detector plates 14 and 15 are predetermined, so that a total of 18 different sheet types can result. With the aid of a computer with display 45 assigned to the box unit 50 , when stacking after measuring the focus position, it is indicated and the light-emitting diodes assigned to the fan matrix indicate which individual part is required for the next stacking process. This gives the operator precise instructions for the further manufacturing process. Likewise, an industrial robot or a handling system can be controlled accordingly in automated production.

Aus Fig. 5 und Fig. 6 ist ersichtlich, daß die Schachtelein­ richtung 50 derart gestaltet ist, daß beim Schachteln die Bleche 14, 15 mit jeweils dazwischenliegenden Keilen in ihrer absoluten Lage durch einen im Fokusmaß entsprechen­ den Abstand befindlichen Meßkopf gemessen werden. Dazu be­ steht die Schachteleinrichtung im wesentlichen aus einem Gerüst 51 mit einem Lagerteil 52, einem Mittelteil 53 und einem Schachtelteil 54, wobei im Lagerteil 51 ein Drehlager 55 für einen Meßarm 60 vorhanden ist. Das Drehlager 55 be­ steht aus einem Bolzen 56 in einer Halterung 57 und einer Innenwelle 58, welche in den Meßarm 60 eingreifen. Dadurch ist der Meßarm 60 um das Drehlager 55 schwenkbar. Mittels einer Hubeinrichtung 65 im vorderen Teil 54 des Gerüstes 51 ist der Schwenkarm 60 in seiner Lage veränderbar und auf eine genaue Höhenposition einstellbar. Die Hubeinrichtung besteht dabei im wesentlichen aus einer Spindel 66 mit zugehörigem Gestänge 67 und wird von einem Motor 68 aktiviert.From Fig. 5 and Fig. 6 it can be seen that the Schachtelein device 50 is designed such that the sheets 14 , 15 are measured with their interposed wedges in their absolute position by nesting in accordance with the distance between a measuring head located in the box. For this purpose, the box device consists essentially of a frame 51 with a bearing part 52 , a central part 53 and a box part 54 , with a pivot bearing 55 for a measuring arm 60 being present in the bearing part 51 . The pivot bearing 55 be consists of a bolt 56 in a holder 57 and an inner shaft 58 which engage in the measuring arm 60 . As a result, the measuring arm 60 can be pivoted about the pivot bearing 55 . The position of the swivel arm 60 can be changed and adjusted to a precise height position by means of a lifting device 65 in the front part 54 of the frame 51 . The lifting device consists essentially of a spindle 66 with associated linkage 67 and is activated by a motor 68 .

Auf dem Meßarm 60 ist im Abstand des Schachtelradius ein erstes Meßsystem 70 angebracht, mit dem die Ausrichtung eines einzelnen Bleches 14 bzw. 15 zum Fokus F geprüft werden kann. Das Meßsystem 70 ist beispielsweise als induktive Meßein­ richtung ausgebildet.A first measuring system 70 is mounted on the measuring arm 60 at a distance from the box radius, with which the alignment of an individual sheet 14 or 15 to the focus F can be checked. The measuring system 70 is designed for example as an inductive Meßein direction.

Am Ende des Meßarmes 60 befindet sich ein zweites Meß­ system 75 zur Messung des Teilungsmaßes für die Nachbildung des Detektors. Das Meßsystem 75 ist vorteilhafterweise als optisch/elektronische Meßeinrichtung ausgebildet und weist als Meßkopf eine sogenannte Exe 76 auf, von der ein Meßband 77 anvisiert wird.At the end of the measuring arm 60 there is a second measuring system 75 for measuring the pitch for the simulation of the detector. The measuring system 75 is advantageously designed as an optical / electronic measuring device and has a so-called Exe 76 as measuring head, from which a measuring tape 77 is aimed.

Beide Meßsysteme 70 und 75 liefern elektrische Signale zur Auswertung im Rechner und Anzeige auf dem Display 45. Zu­ sätzlich kann am Meßarm 60 eine visuelle Kontrolleinrichtung 80 angebracht werden, auf die anhand von Fig. 7 näher einge­ gangen wird.Both measuring systems 70 and 75 supply electrical signals for evaluation in the computer and display on the display 45 . In addition, a visual control device 80 can be attached to the measuring arm 60, which will be discussed in more detail with reference to FIG. 7.

In das Schachtelteil 54 des Gerüstes 51 läßt sich ein Schach­ teleinsatz 100 zur Aufnahme von Detektorblechen 14 bzw. 15 und entsprechender Keile einlegen, das mit Endteilen 101 und 102 und einem entsprechend ausgebildeten Blecheinsatz 103 exakt den Kreisringsektor des zu fertigenden Detektorsystems nachbildet. Am Schachtelteil 53 sind zur exakten Fixierung Halterungs- bzw. Justagemittel 104 bis 106 vorhanden.In the box part 54 of the frame 51 , a chess tel insert 100 for receiving detector sheets 14 and 15 and corresponding wedges can be inserted, which exactly reproduces the circular ring sector of the detector system to be manufactured with end parts 101 and 102 and a suitably designed sheet insert 103 . Bracket or adjustment means 104 to 106 are provided on the box part 53 for exact fixing.

Aus Fig. 5 ist der Meßarm 60 in einer Anfangsposition erkenn­ bar. Im Verlauf des Schachtelns wird der Meßarm 60 über die Hubeinrichtung 65 schrittweise nach oben geschwenkt, wobei entsprechende Arbeitspositionen gestrichelt angedeutet sind. Mit dem Meßarm 60 und den zugehörigen Meßeinrichtungen 70 bzw. 75 kann jedes Detektorblech 15 bzw. 16 sofort nach sei­ ner Einbringung auf eine genaue Position überprüft werden. In Abhängigkeit von den Meßwerten lassen sich durch Auswahl nachfolgender Bleche mit entsprechend vorgegebener Dicke und/oder Winkligkeit durch Toleranzabweichungen auftretende Fehler sofort bei der Fertigung kompensieren. In jedem Fall wird das Entstehen von Summationsfehlern verhindert.From Fig. 5 of the measuring arm 60 is recognizable in an initial position bar. In the course of the nesting, the measuring arm 60 is gradually pivoted upwards via the lifting device 65 , with corresponding working positions being indicated by dashed lines. With the measuring arm 60 and the associated measuring devices 70 and 75 , each detector plate 15 or 16 can be checked for an exact position immediately after its introduction. Depending on the measured values, errors that occur during production can be compensated for immediately by selecting subsequent sheets with a correspondingly specified thickness and / or angularity due to tolerance deviations. In any case, the occurrence of summation errors is prevented.

Während die Meßsysteme 70 bzw. 75 gemäß Fig. 6 elektronisch arbeiten, ist durch die Bedienungsperson auch eine unmittel­ bare visuelle Kontrolle des Schachtelergebnisses möglich. Da­ für ist eine zusätzliche Kontrolleinrichtung 80 vorhanden: Gemäß Fig. 7 besteht diese Kontrolleinrichtung 80 im wesent­ lichen aus einem Schlitten 81, der auf dem Meßarm 60 ver­ schiebbar ist, an dem über ein Winkelstück 82 ein Meßmikro­ skop 85 angebracht ist.While the measuring systems 70 and 75 work electronically according to FIG. 6, an immediate visual check of the nesting result is also possible by the operator. There is an additional control device 80 for : According to FIG. 7, this control device 80 consists essentially of a slide 81 which can be pushed on the measuring arm 60 , to which a measuring microscope 85 is attached via an angle piece 82 .

Mit der beschriebenen Schachteleinrichtung erfolgt nunmehr das Schachteln der Detektorbleche 14, 15 mit bisher nicht erreichbarer Genauigkeit: Nach dem Fertigschachteln wird ein Abschlußkeil gesetzt, so daß das gesamte Blech/Keil-Paket zu­ sammengehalten wird. Der Schachtelsatz 100 kann dann mit dem Blech/Keil-Paket entnommen werden, wobei die Lage der Bleche 14 bzw. 15 nicht verändert wird.With the described box device, the detector plates 14 , 15 are now nested with a level of accuracy not previously achievable: after the finished nesting, an end wedge is placed so that the entire plate / wedge package is held together. The box set 100 can then be removed with the sheet / wedge package, the position of the sheets 14 and 15 not being changed.

In der separaten Klebestation 32 werden parallel dazu die Seitenteile 11 vorbereitet und mit einer Klebstoffschicht versehen. Dazu sind entsprechende Dosierungsmittel vorhanden, mit denen eine Schicht vorbestimmter Stärke auf die Seiten­ teile aufgetragen werden kann. In der Praxis werden dazu sogenannte Rakel verwendet, wobei die Schichtdicke ständig kontrolliert wird. Anschließend werden die so vorbereiteten Seitenteile 11 in die Motagestation 33 gebracht.In the separate adhesive station 32 , the side parts 11 are prepared in parallel and provided with an adhesive layer. For this purpose, appropriate dosing agents are available with which a layer of predetermined thickness can be applied to the side parts. In practice, so-called squeegees are used for this purpose, the layer thickness being checked continuously. The side parts 11 prepared in this way are then brought into the motor station 33 .

Die Montagestation 33 besteht gemäß Fig. 8 im wesentlichen aus einem Gestell 90, das Halterungsmittel für den Schach­ teleinsatz 100 einerseits und für die Seitenteile 11 ande­ rerseits aufweist. Dabei kommt es darauf an, diese Halte­ rungsmittel mit Justageeinrichtungen derart auszubilden, daß der Schachteleinsatz 100 mit Blech/Keil-Paket, der in der Stapeleinrichtung 50 definiert geschachtelt wurde, nicht ver­ ändert wird und daß die Seitenteile 11 demgegenüber vonein­ ander unabhängig relativ verschoben werden können. Das Ge­ stell 90 besteht dazu im einzelnen aus zwei in Säulen 91 geführten horizontalen Platten 92 und 93, die gegeneinander höhenverschiebbar sind und jeweils ein Seitenteil 11 in definierter Lage tragen. Dazwischen ist der Schachteleinsatz 100 mit dem Blech-/Keil-Paket mittels seitlicher Schieber 110 als Festklemmeinheit gehaltert.The assembly station 33 is shown in FIG. 8 has walls hand, consists essentially of a frame 90, the support means for the chess teleinsatz 100 on the one hand and for the side parts 11. It is important to design these holding means with adjustment devices in such a way that the box insert 100 with sheet / wedge package, which has been nested in the stacking device 50 , is not changed ver and that the side parts 11, in contrast, are relatively displaced independently of each other can. The Ge stell 90 consists in detail of two guided in columns 91 horizontal plates 92 and 93 , which are mutually height-adjustable and each carry a side part 11 in a defined position. In between, the box insert 100 with the sheet / wedge package is held by means of side slides 110 as a clamping unit.

Zur Montage wird zunächst die obere Platte 92 mit einem ersten Seitenteil 11 auf das Blech-/Keil-Paket abgesenkt und mittels einer mechanischen Preßvorrichtung aus Schraubzwinge 94 und Gegendruckplatte 95 soweit angedrückt, bis die Bleche 14 bzw. 15 im der Kleber eine definierte Eintauchtiefe erreicht ha­ ben. Es wird so lange gewartet, bis die Teile vernetzt sind. Anschließend wird ein zweites beschichtetes Seitenteil 11 von außen auf der unteren Platte 93 in die korrekte Position eingeschoben und mittels einer Hubvorrichtung 96, beispiels­ weise mit vorgegebener schiefer Ebene, auf definierte Höhe angehoben und von unten solange an das Blech-/Keil-Paket ge­ drückt, bis der Kleber und die Teile vernetzt sind. Dabei läßt sich jeweils durch entsprechenden Verfahrweg erreichen, daß die Detektorbleche 14 bzw. 15 bis in definierte Tiefe in den Kleber eintauchen und die Seitenteile 11 nicht berühren. Es werden in der Schicht 12 jeweils Eintauchnuten 13 ge­ bildet.For assembly, the upper plate 92 is first lowered onto the sheet / wedge package with a first side part 11 and pressed so far by means of a mechanical pressing device comprising a screw clamp 94 and a counterpressure plate 95 until the sheets 14 or 15 in the adhesive reach a defined immersion depth to have. The system waits until the parts are networked. Subsequently, a second coated side part 11 is inserted from the outside on the lower plate 93 into the correct position and raised to a defined height by means of a lifting device 96 , for example with a predetermined inclined plane, and pressed against the sheet metal / wedge package from below until the adhesive and the parts are cross-linked. It can be achieved in each case by a corresponding travel path that the detector plates 14 and 15 are immersed in the adhesive to a defined depth and do not touch the side parts 11 . There are each immersion grooves 13 in the layer 12 ge.

Sind die Detektorbleche 14 bzw. 15 fixiert und der Kleber ausreichend vernetzt, werden die dazwischenliegenden Keile entfernt. Anschließend werden die Mittelfahnen der 500 V-Bleche geschränkt und mit einem durchgehenden Nickelband kontaktiert. Zum Schluß werden an den Seitenteilen Distanz­ klötze aus GFK-Material geklebt, um die Spannkräfte der Positionsschrauben aufnehmen zu können.If the detector plates 14 and 15 are fixed and the adhesive is sufficiently cross-linked, the wedges in between are removed. The center flags of the 500 V sheets are then set and contacted with a continuous nickel strip. Finally, spacers made of GRP material are glued to the side parts to absorb the clamping forces of the position screws.

Vor der endgültigen Fertigstellung des Gasdetektors und Ein­ bringung in ein gasdichtes Gehäuse mit Gasfüllung wird das Detektorgerüst noch einmal getempert. Dadurch wird gewähr­ leistet, daß alle Kleberbestandteile vollkommen vernetzt sind. Ein unerwünschtes nachträgliches Ausgasen des Detek­ tionssystems wird damit also ausgeschlossen.Before the final completion of the gas detector and on It will be placed in a gas-tight housing with gas filling Detector framework annealed again. This ensures ensures that all adhesive components are fully cross-linked are. An undesired subsequent outgassing of the Detek tion system is therefore excluded.

Die beschriebene Fertigungsvorrichtung aus Stapelstation 31, Klebestation 32, Montagestation 33 und Schweißstation 34 bildet eine komplettre Fertigungszelle, mit der im Rahmen einer flexiblen Automatisierung Detektorsysteme unterschied­ licher Geometrie herstellbar sind. Die mit dieser Vorrichtung gefertigten IC-Detektorsysteme zeichnen sich durch eine hohe Genauigkeit aus. Sie haben sich im Einsatz bei Computertomo­ graphen, die ohne aufwendige Halbleiterdetektoren arbeiten, bewährt.The described manufacturing device from stacking station 31 , gluing station 32 , assembly station 33 and welding station 34 forms a complete manufacturing cell with which detector systems of different geometry can be manufactured within the framework of flexible automation. The IC detector systems manufactured with this device are characterized by high accuracy. They have proven themselves in use with computer tomography, which work without complex semiconductor detectors.

Claims (25)

1. IC-Detektorsystem für Computertomographen, das aus ein­ zelnen Detektorzellen besteht, die ein ringsegmentartiges Array bilden, wobei die Detektorzellen von radial zum Fokus ausge­ richteten Blechen zwischen durchgehenden Seitenteilen begrenzt werden , dadurch gekennzeichnet, daß die Seitenteile (11) ohne Schlitzungen glatt ausgebildet und mit einer Schicht (12) von aushärtbaren Klebstoff versehen sind und daß die einzelnen Detektorbleche (14, 15) seitlich durch die Schicht (12) des Klebers fixiert werden.1. IC detector system for computer tomographs, which consists of a single detector cells that form a ring segment-like array, the detector cells are limited by radially out of focus sheets between continuous side parts, characterized in that the side parts ( 11 ) formed smooth without slits and are provided with a layer ( 12 ) of curable adhesive and that the individual detector plates ( 14 , 15 ) are fixed laterally through the layer ( 12 ) of the adhesive. 2. IC-Detektorsystem nach Anspruch 1 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Detektorbleche (14, 15) endseitig in der Klebstoffschicht (12) eingebettet sind und die Seitenteile (11) nicht berühren.2. IC detector system according to claim 1, characterized in that the detector plates ( 14 , 15 ) are embedded in the end of the adhesive layer ( 12 ) and do not touch the side parts ( 11 ). 3. IC-Detektorsystem nach Anspruch 1 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Schicht (12) des aushärt­ baren Klebstoffes aus Epoxidharz, das bei Verarbeitung hoch­ viskose Eigenschaften hat, besteht.3. IC detector system according to claim 1, characterized in that the layer ( 12 ) of the curable adhesive made of epoxy resin, which has highly viscous properties when processed. 4. IC-Detektorsystem nach Anspruch 1 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Seitenteile (11) aus glas­ faserverstärktem Epoxidharz bestehen.4. IC detector system according to claim 1, characterized in that the side parts ( 11 ) consist of glass fiber reinforced epoxy. 5. Verfahren zur Herstellung eines IC-Detektorsystems gemäß Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 4, bei dem Detektor­ bleche in vorbestimmter Lage radial zum Fokussystem zwischen zwei Seitenteilen fixiert werden, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
  • a) Die Bleche werden durch abwechselndes Schachteln mit Keilen vorgegebener Geometrie aneinandergereiht,
  • b) die korrekte Lage jedes einzelnen Bleches wird unmittelbar beim Schachteln geprüft und das nächste Blech definiert aus­ gewählt,
  • c) der gesamte Stapel wird durch wenigstens einen Abschlußkeil fixiert,
  • d) in dieser fixierten Lage werden die Bleche mit den Seiten­ teilen verklebt,
  • e) anschließend werden die Keile herausgezogen.
5. A method for producing an IC detector system according to claim 1 or one of claims 2 to 4, in which the detector sheets are fixed in a predetermined position radially to the focus system between two side parts, characterized by the following method steps:
  • a) The sheets are lined up by alternating nesting with wedges of predetermined geometry,
  • b) the correct position of each individual sheet is checked immediately during nesting and the next sheet defined is selected,
  • c) the entire stack is fixed by at least one end wedge,
  • d) in this fixed position, the sheets are glued to the sides,
  • e) the wedges are then pulled out.
6. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß bei den Verfahrensschritten a) und b) Dicke und/oder Winkligkeit jedes Bleches berücksichtigt werden, um Summations- bzw. Linearitätsfehler zu kompensieren.6. The method according to claim 5, characterized records that in process steps a) and b) Thickness and / or angularity of each sheet are taken into account, to compensate for summation or linearity errors. 7. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, bei Verfahrensschritt b) zusätzlich eine nachgeschaltete visuelle Kontrolle mit einem Mikroskop erfolgt.7. The method according to claim 5, characterized records, in process step b) an additional downstream visual control with a microscope. 8. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Seitenteile vor dem Verkleben mit hochviskosen Epoxidharz als Kleber beschichtet werden.8. The method according to claim 5, characterized records that the side parts before gluing with highly viscous epoxy resin can be coated as an adhesive. 9. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Bezugspotential führenden Bleche nach dem Verkleben kontaktiert werden, wogegen die Meßbleche alternierend mit Anschlußstiften oben oder unten gewählt wurden.9. The method according to claim 5, characterized records that the reference potential leading sheets be contacted after gluing, whereas the measuring plates alternately with connecting pins above or below. 10. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß nach Verfahrensschritt e) das Detektor­ system getempert wird, um eine vollständige Vernetzung zu er­ reichen. 10. The method according to claim 5, characterized records that after step e) the detector system is annealed to complete networking pass.   11. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß bei den Verfahrensschritten d) und e) das gesamte geschachtelte Blech-/Keilpaket in Montagestellung gehalten, daß zunächst das obere mit Kleber beschichtete Seiten­ teil definiert angedrückt wird, daß nach Ablauf einer vorgege­ benen Vernetzungszeit anschließend das untere mit Kleber be­ schichtete Seitenteil definiert aufgedrückt wird und daß nach Ablauf einer weiteren vorgegebenen Vernetzungszeit die Keile gezogen werden.11. The method according to claim 5, characterized records that in process steps d) and e) the entire nested sheet / wedge package in the assembly position held that first the upper side coated with glue Partly defined is pressed that after a given The next curing time is the lower one with adhesive layered side part is defined and that after The wedges expire after a further specified networking time to be pulled. 12. Verfahren nach Anspruch 5 , dadurch gekenn­ zeichnet, daß wiederverwendbare Keile eingesetzt wer­ den, die aus verschleißarmen Material in Endmaßqualität, vor­ zugsweise aus Stahl, bestehen.12. The method according to claim 5, characterized records that reusable wedges are used who those made of low-wear material in gauge block quality preferably made of steel. 13. Vorrichtung zur Herstellung von IC-Detektorsystemen gemäß Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 4, unter Anwendung eines Verfahrens gemäß Anspruch 5 oder einem der Ansprüche 7 bis 12 , gekennzeichnet durch eine Stapelstation (31) für die Bleche (14, 15) und eine davon getrennte separate Klebestation (32) für die Seitenteile (11), den sich eine gemeinsame Montagestation (33) zum Verbinden von Blechen (14, 15) und Seitenteilen (11) sowie eine Schweißstation (34) zum Kontaktieren der Bezugspotential führenden Bleche anschließt.13. Device for producing IC detector systems according to claim 1 or one of claims 2 to 4, using a method according to claim 5 or one of claims 7 to 12, characterized by a stacking station ( 31 ) for the sheets ( 14 , 15 ) and a separate adhesive station ( 32 ) for the side parts ( 11 ), a common assembly station ( 33 ) for connecting sheets ( 14 , 15 ) and side parts ( 11 ) and a welding station ( 34 ) for contacting the reference potential-carrying sheets connects. 14. Vorrichtung nach Anspruch 13 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Stapelstation eine Schach­ teleinrichtung (50) für das Ausrichten der Detektorbleche (14, 15) in radialer Richtung zu einem vorbestimmten Punkt (F) auf­ weist, der ein erstes Meßsystem (70) zur Überprüfung der Aus­ richtung jedes einzelnen Detektorbleches (14, 15) zum Fokus (F) und ein zweites Meßsystem (75) zum Messen der Position der Detektorbleche (14, 15) zugeordnet ist. 14. The apparatus according to claim 13, characterized in that the stacking station has a chess teleinrichtung ( 50 ) for aligning the detector plates ( 14 , 15 ) in the radial direction to a predetermined point ( F ), which has a first measuring system ( 70 ) for checking the direction of each individual detector plate ( 14 , 15 ) to focus ( F ) and a second measuring system ( 75 ) for measuring the position of the detector plates ( 14 , 15 ) is assigned. 15. Vorrichtung nach Anspruch 14 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß das erste und das zweite Meß­ system an einem gemeinsamen Meßarm (60) angebracht sind, der um ein Drehlager (55) als Fokuspunkt des Detektorsystems (10) verschwenkbar ist.15. The apparatus according to claim 14, characterized in that the first and the second measuring system are attached to a common measuring arm ( 60 ) which is pivotable about a pivot bearing ( 55 ) as the focal point of the detector system ( 10 ). 16. Vorrichtung nach Anspruch 15 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß sich das erste Meßsystem (70) zur Überprüfung der Blechausrichtung am Meßarm (60) im Ab­ stand des Schachtelradius befindet.16. The apparatus according to claim 15, characterized in that the first measuring system ( 70 ) for checking the sheet alignment on the measuring arm ( 60 ) was in the Ab of the box radius. 17. Vorrichtung nach Anspruch 13 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß sich das zweite Meßsystem (75) zur Messung der absoluten Lage jedes einzelnen Detektorbleches (14, 15) am Ende des Meßarmes (60) befindet.17. The apparatus according to claim 13, characterized in that the second measuring system ( 75 ) for measuring the absolute position of each individual detector plate ( 14 , 15 ) is located at the end of the measuring arm ( 60 ). 18. Vorrichtung nach Anspruch 15 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß auf dem Meßarm (60) zusätzlich ein Mikroskop (80) auf einem Schlitten (81) als visuelles Kontrollsystem verschiebbar angeordnet werden kann.18. The apparatus according to claim 15, characterized in that on the measuring arm ( 60 ) in addition, a microscope ( 80 ) on a carriage ( 81 ) can be slidably arranged as a visual control system. 19. Vorrichtung nach Anspruch 15 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß der um das Drehlager (55) schwenkbare Meßarm (60) mittels eines Spindelantriebs (66, 67) mit zugehörigem Motor (68) verschiebbar ist.19. The apparatus according to claim 15, characterized in that the pivoting about the pivot bearing ( 55 ) measuring arm ( 60 ) by means of a spindle drive ( 66 , 67 ) with an associated motor ( 68 ) is displaceable. 20. Vorrichtung nach Anspruch 13 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Schachteleinrichtung (50) der Stapelstation (31) Justagemittel zum reproduzierbaren Einsetzen eines Schachteleinsatzes (100) aufweist.20. The apparatus according to claim 13, characterized in that the box device ( 50 ) of the stacking station ( 31 ) has adjustment means for reproducibly inserting a box insert ( 100 ). 21. Vorrichtung nach Anspruch 20 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Schachteleinrichtung (50) Vorratseinrichtungen für Detektorbleche (14, 15) einerseits und Keile andererseits zugeordnet sind, wobei insbesondere die Detektorbleche (14, 15), nach Dicke und/oder Winkeligkeit klassifiziert, rechnergesteuert entnehmbar sind.21. The apparatus according to claim 20, characterized in that the box device ( 50 ) storage devices for detector plates ( 14 , 15 ) on the one hand and wedges on the other hand are assigned, in particular the detector plates ( 14 , 15 ), classified according to thickness and / or angularity, can be removed under computer control. 22. Vorrichtung nach Anspruch 13 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Klebestation (32) Justage­ mittel für die Seitenteile (11) aufweist.22. The apparatus according to claim 13, characterized in that the adhesive station ( 32 ) has adjustment means for the side parts ( 11 ). 23. Vorrichtung nach Anspruch 22 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Klebestation (32) Dosie­ rungsmittel für das gleichmäßige Aufbringen einer Klebstoff­ schicht vorbestimmter Dicke aufweist.23. The device according to claim 22, characterized in that the adhesive station ( 32 ) Dosie approximately for the uniform application of an adhesive layer of predetermined thickness. 24. Vorrichtung nach Anspruch 13 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Montagestation (33) aus einem Gestell (90) besteht, das Halterungsmittel (91-94) für Seitenteile (11) einerseits und den Schachteleinsatz (100) andererseits aufweist.24. The device according to claim 13, characterized in that the assembly station ( 33 ) consists of a frame ( 90 ), the holding means ( 91-94 ) for side parts ( 11 ) on the one hand and the box insert ( 100 ) on the other. 25. Vorrichtung nach Anspruch 22 , dadurch ge­ kennzeichnet, daß im Gestell (90) Verstell­ mittel zur Relativverschiebung der Seitenteile (11) und Schachteleinsatz (100) vorhanden sind.25. The device according to claim 22, characterized in that in the frame ( 90 ) adjusting means for the relative displacement of the side parts ( 11 ) and box insert ( 100 ) are available.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE2940380A1 (en) * 1979-10-05 1981-04-23 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Radiation survey detector for computer tomography - has electrode plates supported on distance plates to ensure accurate location on base plate
DE3248184A1 (en) * 1982-11-02 1984-05-03 Yokogawa Hokushin Electric Corp., Musashino, Tokio/Tokyo X-RAY RADIATION DETECTOR AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

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