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DE3400389A1 - Zweistrahl-interferometeranordnung insbesondere fuer fourier-transform-spektrometer - Google Patents

Zweistrahl-interferometeranordnung insbesondere fuer fourier-transform-spektrometer

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Publication number
DE3400389A1
DE3400389A1 DE19843400389 DE3400389A DE3400389A1 DE 3400389 A1 DE3400389 A1 DE 3400389A1 DE 19843400389 DE19843400389 DE 19843400389 DE 3400389 A DE3400389 A DE 3400389A DE 3400389 A1 DE3400389 A1 DE 3400389A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mirror
beam splitter
assembly
parallel
box profile
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19843400389
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus Dipl.-Ing. DDR 1156 Berlin Körner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DE19843400389 priority Critical patent/DE3400389A1/de
Publication of DE3400389A1 publication Critical patent/DE3400389A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4532Devices of compact or symmetric construction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

  • Zweistrahl-Interferometeranordnung insbesondere für
  • Eourier-Transform-Spektrometer Die Erfindung bezieht sich auf optische Zweistrahl-Interferometeranordnungen, wie sie insbesondere bei Fourier-Spektro metern angewendet werden.
  • Es sind Interferometeranordnungen bekannt /1/, Dorenwendt, Grunert: Ein zählendes Interferometer zur Bestimmung von Winkeln. Feinwerktechnik und MeBtechnik 84 (1976) 7, 5. 344, bei denen mittels eines Kösterprismas ein eintretendes Lichtbündel in zwei parallele DeilbUndel zerlegt wird.
  • Die erzeugten Teilbündel werden von zwei Dachkantspiegeln, die fest auf einem Drehtisch in jeweils gleichem Abstand von der Drehachse angeordnet sind, und wobei die Verbindungsgerade der Dachkante die Drehachse schneidet, reflektiert und dabei parallel zu sich selbst versetzt, treffen anschließend auf einen fest angeordneten Planspiegel und werden danach über die Dachkantspiegel wieder in das Kösterprisma gelenkt, wo sie zur Interferenz gelangen.
  • Eine Drehung des Tisches bewirkt eine gegenläufige Bewegung der Dachkantspiegel, aus der ein optischer Ganguntersohied resultiert.
  • Die Teilung des Lichtbündels in zwei parallele TeilbUndel wird bei anderen bekannten Interferometeranordnungen ( /2/, Davis. Larson Williams, Michel u. Connes; Infrared Fourier speotrometers for airborne and ground-based astronomy.
  • Applied Option, Vol. 19, No. 24, 15.12.1980) dadurch bewirkt, daß zwischen zwei stumpfwinklig zueinander stehenden Planspiegeln ein Strahlteiler angeordnet ist.
  • Interferometer für die Verwendung im infraroten Spektralbereich werden meist so aufgebaut, daß nur beim Strahlteiler Transmission auftritt, sonst aber nur Reflexion an verspiegelten Flächen. Das weist den Vorteil auf, daß beim Wechsel des Spektralbereiches stets nur der Strahlteiler gewechselt werden muß, z.B. beim Wechseln vom nahen Infrarot in das mittlere Infrarot.
  • Bei Verwendung eines Interferometers mit Kösterprisma müßte beim Wechsel des Spektralbereiches das SUsterprisma gewechselt werden, das bei gleicher Apertur deutlich größere Abmessungen als ein Strahlteiler aus planparallelen Platten aufweist, das außerdem aus technologisch schwer handhabbarem IR-transparentem Material, z.BD KBr für das mittlere Infrarot, gefertigt werden müßte, wobei es im fernen Infrarot keine geeigneten IR-transparenten Materialien gibt.
  • Aus diesen Gründen ist die Anwendung eines Interferometers mit Kösterprisma für den infraroten Spektralbereich nur bedringt möglich. Ein Strahlenteilerwechsel muß aus praktischen Gründen ausgeschlossen werden.
  • In der zweiten Interferometeranordnung werden die Nachteile, die sich aus der Anwendung eines Kösterprismas ergeben umgangen, indem ein Plattenstrahlteiler und zwei Planspiegel zur Erzeugung paralleler Teilbündel verwendet werden Der Strahlteiler ist starr angeordnet und die beiden Planspiegel sind je für sich justierbarO Die parallelen Teilbündel werden von verschiebbaren Cat's-eyes reflektiert.
  • Der Justierablauf zur Justierung eines derartigen Interferometers ist in /2/ detailliert beschrieben. Allein die Eliminierung des Shear-Effektes durch Justierung an den beiden Planspiegeln erfolgt als langwieriger iterativer Prozeß. Besteht die Absicht ein derart aufgebautes Interferometer mit wechselbarem Strahlteiler auszurüsten, muß bei jedem Strahlteilerwechsel dieser Prozeß wiederholt werden, wobei die in /2/ beschriebene Methode fUr Strahlteiler, die nur im infraroten Bereich arbeiten, also keine Strahlteilerschicht für das sichtbare Spektralgebiet aufweisen, nicht anwendbar ist, so daß sich die Justierung eines derartigen Interferometers als äußerst schwierig erweist.
  • Eine fehlerhafte Justierung beeinflußt auch die Lage des Interferenzbildes auf dem Detektor.
  • So ist es leicht möglich, daß das Zentrum des Ifydinger-Ring-Systems, das im allgemeinen mittels einer Abbildungsoptik auf einem Detektor am Ausgang des Interferometers entsteht, nicht mittig zum Detektor liegt. Das führt zu einer beträchtlichen Verringerung der Modulationstiefe im gemessenen Interferogramm und damit zu einer nicht akzeptablen Verringerung des signalunabhängigen Signal-Rausch-Verhältnisses, bzw. zu Gangunterschiedsfehlern im Interferogramm und damit zu Fehlern im berechneten Spektrum.
  • Aus den dargelegten Gründen empfiehlt sich auch diese Interferometeranordnung nicht als Grundlage für ein Interferometer mit weohselbarem Strahlteiler, bzw. mit einem Strahlteiler ohne Teilerschicht für das sichtbare Spektralgebiet zum Zweck der Justierung des Interferometers.
  • Ziel der Erfindung ist es, ein Interferometer aufzubauen, das bezüglich des Justierzustandes in hohem Maße stabil und für mehrere Spektralbereiche anwendbar ist.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Interferometeranordnung zu schaffen, deren Jstierzustand gegenüber Stoß- undVibrationsbelastungen und Temperaturänderungen unempfindlich und bei dem ein leichter Wechsel des Strahlteiler mögliche ist.
  • Erfindungsgemäß wird das bei einer Interferometeranordnung, bei der zwei über einen Strahlteiler und zwei plane Spiegelflächen erzeugte parallele Teilbündel auf je eine Spiegelanozdnung gelenkt werden, wobei die Spiegelanordnungen auf einem gemeinsamen Trägerkörper als Doppelreflektorbaugruppe angeordnet sind und der Trägerkörper um eine Aohse so gedreht wird, daß die Spiegelanordnungen in Richtung der erzeugten parallelen Teilbündel gegenläufig bewegt werden, daduroh erreicht, daß zur Vermeidung von Relativbewegungen zwischen den planen Spiegelflächen ein starrer Trägerkörper mit zwei fest angeordneten planen Spiegelfläohen als Winkelspiegel aufgebaut ist, wobei der Strahlteiler als austausohbare Baugruppe ausgeführt ist, die annähernd parallel zur winkelhalbierenden Ebene der Winkelspiegelbaugruppe angeordnet ist, daß die Winkelspiegelbaugruppe zur Eliminierung von Shear-Effekten durch Justierung schwenkbar ausgebildet ist, wobei ihre Schwenkaohse senkrecht zu der Ebene steht 9 die von den beiden parallelen Teilbündeln aufgespannt wird, daß die Schwenk- und Trägheit sachse der Winkelspiegelbaugruppe zusammenfallen und daß die Strahlteilerbaugruppe um eine parallel zu den parallelen Teilbündeln liegenden Achse zur Justierung kippbar angeordnet ist, Der Grundkörper für die Interferometeranordnung ist dabei erfindungsgemäß als Längskastenprofil mit einem oder mehreren Mittelstegen ausgebildet, die Doppelreflektorbaugruppe ist über zwei Wellenenden durch je eine Lagerstelle in der Oberleiste und der Unterleiste des Längskastenprofils auf einer Seite innerhalb des Längskastenprofils drehbar gelagert, der Winkelspiegel ist auf der gegenüberliegenden Seite innerhalb des Längskastenprofils angeordnet und zwischen der Reflektorbaugruppe und dem Winkelspiegel, der Strahlteiler und der Mittelsteg angeordnet sind, wobei zur Einbringung des Strahlteilers in das Längskastenprofil in die Oberleiste bzw. in die Unterleiste ein Ausbruch eingebracht wird.
  • Der besondere Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht darin, daß bei einer in sich starren Ausbildung des Winkelspiegels der Winkel zwischen zwei beliebigen Strahlen der beiden Teilbündel im Interferomet er auch bei Schwenkung des Winkelspiegels unverändert bleibt. So bleiben auch Paralleistrahlen bei Schwenkung parallel. Das bedeutet, daß es für zwei durch Strahlteilung und Reflexion am Winkelspiegel entstandene Paralleistrahlen nur eine Stellung des Winkeispiegeis geben kann, in der der Shear-Effekt eliminiert wirdo Nur die Verwendung eines in sich starren Winkelspiegels hat den Vorteil, daß das in der Detektorebene entstehende Hydinger-Ringsystem im shearfreien Zustand zum Detektor stets die gleiche Lage hat. Das ist eine notwendige Voraussetzung für einen einfachen StrahleilerwechseZ, da das Zentrum des Bydinger-Ringsystems stets auf den Detektor fallen muß.
  • Mit diesem Aufbau ist es möglich, die Optikbaugruppen außerhalb des Interferometers, z.B. die Abbildungsoptik für den Detektor und den Detektor selbst, im sichtbaren Spektralbereich zu justieren Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung besteht darin, daß Nickbewegungen, wie sie durch Stöße, Vibrationen und Temperatureffekte erzeugt werden, bezüglich des Justierzustandes des Interferometers und des optischen Gangunterschiedes ohne Auswirkungen bleiben, da durch die in sich starre Anordnung des Winkelspiegels Nickbewegungen gleichsinnig den Reflexionswinkel der Teilbündel an den planen Spiegelflæchen beeinflussen.
  • Eine durch äußere Störungen hervorgerufene Translationsbewegung des in sich starren Winkelspiegels in Richtung der parallelen Teilbündel ist bezüglich des optischen Gangunterschiedes, des Justierzustandes und des Schear-Effektes bei dieser Art der Anordnung ebenfalls ohne Wirkung.
  • Durch das in der erfinderischen Anordnung gewählte Zusammenfallen von Sohwenk- und Trägheitsachse des Winkel spiegels wird verhindert, daß durch die Beschleunigungskräfte, wie sie durch Stöße und Vibrationen entstehen, rotatorische Beschleunlgungskomponenten am in sich starren Winkeispiegel auftreten, die zu unerwünschten Shear Effekten bzw optischen Gangunterschiedsänderungen führen.
  • Ein weiterer besonderer Vorteil der erfinderischen Lösung entsteht durch die Ausführung des Grundkörpers als Längskastenprofil mit einem oder mehreren Mittelstegen zur Aufnahme der Doppelreflektorbaugruppe, des Strahlteilers und des Winkelspiegels.
  • Die Optikkomponenten sind mechanisch auf kürzestem Weg miteinander verbunden Das Längskastenprofil mit den Mittelstegen ist sehr biege- und torsionssteif, so daß eine hohe Lagestabilität der optischen Komponenten bei relativ geringer Masse erreicht wird.
  • Die Symmetrie des Profils bewirkt, daß wechselnde Umgebungstemperatur von relativ geringem Einfluß auf empfindliche Relativlagenänderungen ist Die Ober- und Unterleiste des Längskastenprofils dienen zur Aufnahme d.er Lagerstellen der Doppelreflektorbaugruppe zur direkten Montage auf eine Spektrometerplatte bzw. zum Montieren von Justierelementen und des Antriebes für die Doppelreflektorbaugruppe. Das Einbringen des Strahlteilers durch den Ausbruch in der Ober- bzwO Unterleiste ist einfach durchführbar und gestattet ein sohnelles Wechseln des Strahlteilers.
  • Insgesamt ergibt sich durch die Wahl des Längskastenprofils eine konstruktiv einfache, hochstabile und zweckmäßige Anordnung.
  • Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Dazu zeigt die Figur eine schematische Anordnung der Interferometerbaugruppe.
  • Wie in der Figur dargestellt, trifft das Lichtbündel A, das durch eine Lichtquelle erzeugt wird, auf einen Strahteiler 1. Der Strahlteiler 1 ist zwischen zwei planen Spiegeiflächen 2 und 3 angeordnetsdie zu einem Winkel-Spiegel 4 gehören.
  • Der Strahlteiler 1 ist austauschbar und steht annähernd parallel zur winkelhalbierenden Ebene der Spiegeiflächen 2 und 3 . Durch die Teilung des Lichtbündels A am Strahlteiler 1 und einer anschließenden Reflexion an den Spiegelflächen 2 und 3 wird das Lichtbündel A in zwei parallele Teilbündel B und C zerlegt. Diese parallelen Teilbündel B und C treffen anschließend auf je einen 90°-Dachkantspielgel 5 und 6.
  • Die Dachkantspiegel 5 und 6 sind Bestandteil einer gemeinsamen Doppelreflektorbaugruppe 7, die mit zwei zueinander flucht enden Wellenenden 8 und 9 bzw. mit einer durch gehenden Welle starr verbunden ist. Die Wellenenden 8 und 9 bzw. die durchgehende Welle befindet sioh drehbar gelagert mittig zwischen den Dachkantspiegeln 5 und 6 Die Lagerstellen 10 und 11 der Wellenenden 8 und 9 bzw.
  • der durchgehenden Welle befinden sich fluchtend in der Oberlei ste 14 und Unterleiste 15.
  • Eine Rotationsbewegung zur Erzeugung eines optischen Gangunterschiedes wird durch einen geeigneten Antrieb an einem Wellenende 8 oder 9 oder an der durchgehenden Welle erzeugt.
  • Die von den 90°-Dachkantspeigeln 5 und 6 reflektierten Teilbündel 3 und. C bleiben stets parallel und treffen auf den Strahlteiler 1 , wo sie rekombinieren.
  • Die interferierenden Bündel B' und C' verlassen das Interferometer ausgangsseitg, während die interferierenden Bündel B" und C" das Interferometer über die Eingangsseite verlassen.
  • Der optische Gangunterschied x wird durch Drehung der Doppelreflektorbaugruppe 7 um den Winkel # erzenugt, der sich über den Abstand der Dachkante D zu 2 2 D sind errechnet. Es ist # = 0, wenn die parallelen Teilbndel B und C senkrecht auf die Verbindungslinie der Dach kanten treffen.
  • Die optischen Komponenten des Interferometers, der Win kelspiegel 4, Strahlteiler 1 und Doppelreflektorbaugruppe 7 befinden sich in den freien bfungen eines Längskastenprofils 12 mit einem Mittelsteg 13. Die parallelen Teilbündel B und C breiten sich parallel zur Oberleiste 14 und Unterleiste 15 des Längskastenprofils 12 aus, wobei der Mittelsteg 13 zwischen ihnen liegt. Die Ober- und die Unterleiste 14 und 15 dienen zur direkten Montage auf eine Spektrometerplatte bzw. zum Montieren von Junstierelementen und des Antriebes für die Doppelreflektorbaugruppe 7.
  • Der Strahlteiler 1 wird mit Fassung durch einen Aus bruch 14 in der Oberleiste 14 bzw. Unterleiste 15 eingesteckt.

Claims (2)

  1. Erfindungsanspruch: Zweistrahl-Interferometeranordnung bei der zwei Ueber einen Strahlteiler und zwei plane Spiegelflächen erzeugte parallele Teilbündel auf je eine Spiegelanordnung gelenkt werden, wobei die Spiegelanordnungen auf einem gemeinsamen Trägerkörper als Doppelreflektorbaugruppe angeordnet sind, und der Trägerkörper um eine Aohse so gedreht wird, daß die Spiegelanordnungen eine gegenläufige Bewegung in Richtung der erzeugten parallesen TeilbAndel erfahren, gekennzeichnet dadurch, daß zur Vermeidung von Relativbewegungen zwischen den planen Spiegelfläohen ein in sich starrer Trägerkörper mit zwei fest angeordneten planen Spiegelfläohen als Winkeispiegel aufgebaut ist, wobei der Strahlteiler als austauschbare Baugruppe ausgeführt ist, die annähernd parallel zur winkelhalbierenden Ebene der Winkelspiegelbaugruppe angeordnet ist, daß die Winkelspiegelbaugruppe zur ßliminierung von Shear-Effekten schwenkbar ausgebildet ist, wobei seine Schwenkachse senkrecht zu der Ebene steht, die von den beiden parallelen Teilbündeln aufgespannt wird, daß die Schwenk- und Trägheitsachse der Winkelspiegelbaugruppe zusammenfallen, und daß der Strahlteiler um eine parallel zu den parallelen Teilbündeln liegende Achse zur Justierung des Interferometers kippbar angeordnet ist.
  2. 2. Grundkörper für eine Zweistrahl-Interferometeranordnung gemäß Punkt 1, gekennzeichnet daduroh, daß der Grundkörper als Längskastenprofil (12) mit einem oder mehreren Mittelstegen (13) ausgebildet ist, daß die Doppelreflektorbaugruppe (7) über zwei Wellenenden (8) und (9) durch je eine Lagerstelle (10) und (11) in der Oberleiste (14) und der Unterleiste (15) des Längskastenprofils (12) auf eine Seite innerhalb des Längskastenprofils (12) drehbar gelagert ist, daß der Winkelspiegel (4) auf der gegenüberliegenden Seite innerhalb des Längskasten profils (12) angeordnet ist, und daß zwischen der Doppelreflektorbaugruppe (7) und dem Winkelspiegel (4) der Strahlteiler (i) und der Mittelsteg (13) angeordnet sind, wobei zur Einbringung des Strahlteilers (1) in das Längskastenprofil (12) in die Oberleiste (14) bzw4 in die Unterleiste (15) ein Ausbruch (16) eingebracht ist.
DE19843400389 1984-01-07 1984-01-07 Zweistrahl-interferometeranordnung insbesondere fuer fourier-transform-spektrometer Withdrawn DE3400389A1 (de)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6369951B1 (en) 1999-02-26 2002-04-09 Robert Bosch Gmbh Beam splitter assembly and interferometer having a beam splitter assembly
DE10216340A1 (de) * 2002-04-13 2003-10-23 Bran & Luebbe Stosskompensationsvorrichtung für linear oder quasilinear geführte Massen
CN101871816A (zh) * 2010-06-03 2010-10-27 北京航空航天大学 模块化分体式Sagnac干涉仪
EP2997883A1 (de) 2014-09-17 2016-03-23 Universität Stuttgart Verfahren und Anordnung zur optischen Absorptionsmessung

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