DE3346891A1 - Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement - Google Patents
Fotoleitfaehiges aufzeichnungselementInfo
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- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 55
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 40
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 20
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 12
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 9
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical group [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 86
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 description 27
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 18
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 18
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- -1 for example Polymers 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 8
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 8
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 6
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 6
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical class [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 4
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 3
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 208000002173 dizziness Diseases 0.000 description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052990 silicon hydride Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical group [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 2
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 241000894007 species Species 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 2,3,4-trinitrofluoren-1-one Chemical compound C1=CC=C2C3=C([N+](=O)[O-])C([N+]([O-])=O)=C([N+]([O-])=O)C(=O)C3=CC2=C1 FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100400378 Mus musculus Marveld2 gene Proteins 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- 229910003691 SiBr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M chlorogallium Chemical compound [Ga]Cl XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000001017 electron-beam sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 229910000039 hydrogen halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012433 hydrogen halide Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001850 reproductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000013517 stratification Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
- G03G5/08228—Silicon-based comprising one or two silicon based layers at least one with varying composition
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
-
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- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
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Description
Fotoieitfähiges Aufzeichnungselement
Die Erfindung betrifft ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement, das auf elektromagnetische Wellen wie Licht,
worunter im weitesten Sinne UV-Strahlen, sichtbares
Licht, IR-Strahlen, Röntgenstrahlen und ^-Strahlen zu verstehen sind, anspricht bzw. gegenüber elektromagnetischen Wellen empfindlich ist.
Licht, IR-Strahlen, Röntgenstrahlen und ^-Strahlen zu verstehen sind, anspricht bzw. gegenüber elektromagnetischen Wellen empfindlich ist.
Fotoleitfähige Materialien, aus denen Bilderzeugungselemente
für elektrofotografische Zwecke in Festkörper-Bildaufnahmevorrichtungen bzw. -Bildabtastvorrichtungen oder
auf dem Gebiet der Bilderzeugung oder fotoleitfähige
Schichten in Manuskript-Lesevorri?htungen gebildet werden, müssen eine hohe Empfindlichkeit, ein hohes S/N-Verhältnis
bzw. einen hohen Störabstand [Fotostrom (I )/
Dunkelstrom (1^)] » Absorptions-Spektraleigenschaften, die an die elektromagnetischen Wellen, mit denen bestrahlt werden soll, angepaßt sind, ein schnelles Ansprechen auf Licht bzw. eine gute lichtelektrische Empfind-
Dunkelstrom (1^)] » Absorptions-Spektraleigenschaften, die an die elektromagnetischen Wellen, mit denen bestrahlt werden soll, angepaßt sind, ein schnelles Ansprechen auf Licht bzw. eine gute lichtelektrische Empfind-
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lichkeit und einen gewünschten Wert des Dunkelwiderstands
haben und dürfen während der Anwendung nicht gesundheitsschädlich sein. Ferner ist es bei einer Festkörper-Bildabtastvorrichtung
auch notwendig, daß das Restbild innerhalb einer vorausberechneten Zeit leicht behandelt bzw.
beseitigt werden kann. Im Fall eines Bilderzeugungselements für elektrofotografische Zwecke, das in eine für
die Anwendung in einem Büro als Büromaschine vorgesehene elektrofotografische Vorrichtung eingebaut werden soll,
ist es besonders wichtig, daß das Bilderzeugungselement nicht gesundheitsschädlich ist.
Von dem vorstehend erwähnten Gesichtspunkt aus hat amorphes Silicium (nachstehend als a-Si bezeichnet) in neuerer
Zeit als fotoleitfähiges Material Beachtung gefunden.
Beispielsweise sind aus der DE-A 27 46 967 und der DE-A 28 55 718 Anwendungen von a-Si für den Einsatz in Bilderzeugungselementen
für elektrofotografische Zwecke bekannt, und aus der DE-A 29 33 411 ist eine Anwendung
von a-Si für den Einsatz in einer Lesevorrichtung mit fotoelektrischer Wandlung bekannt.
Unter den gegenwärtigen Umständen sind jedoch bei den bekannten fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen mit
■ aus a-Si gebildeten fotoleitfähigen Schichten hinsichtlich
der Ausgewogenheit der Gesamteigenschaften, wozu elektrische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften
wie z.B. der Dunkelwiderstandswert, die Lichtempfindlichkeit und das Ansprechen auf Licht sowie Eigenschaften
bezüglich des Einflusses von Umgebungsbedingungen während der Anwendung wie die Feuchtigkeitsbeständigkeit und
ferner die Beständigkeit mit dem Ablauf der Zeit gehören, weitere Verbesserungen erforderlich.
Beispielsweise wird im Fall der Anwendung in einem Bild -
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erzeugungselement für elektrofotografische Zwecke oft
beobachtet, daß während seiner Anwendung ein Restpotential verbleibt, wenn gleichzeitig Verbesserungen hinsichtlich
der Erzielung einer höheren Lichtempfindlichkeit und eines höheren Dunkelwiderstandes angestrebt
werden. Wenn ein solches fotoleitfähiges Aufzeichnungselement über eine lange Zeit wiederholt verwendet wird,
werdenverschiedene Schwierigkeiten, beispielsweise eine
Anhäufung von Ermüdungserscheinungen durch wiederholte Anwendungen oder die sogenannte Geisterbild-Erscheinung,
wobei Restbilder erzeugt werden, hervorgerufen.
Ferner wurde bei einer Vielzahl von Versuchen, die von den Erfindern durchgeführt wurden, zwar festgestellt,
daß a-Si als Material, das die fotoleitf ähige Schicht eines Bilderzeugungselements für elektrofotografische
Zwecke bildet, im Vergleich zu bekannten anorganischen fotoleitfähigen Materialien wie z.B. Se, cdS oder ZnO
oder zu bekannten organischen fotoleitfähigen Materialien
wie z.B. Polyvinylcarbazol oder Trinitrofluorenon eine
Anzahl von Vorteilen aufweist, jedoch wurde auch festgestellt, daß bei a-Si noch Probleme gelöst werden müssen.
Wenn die fotoleitfähige Schicht eines Bilderzeugungselements
für elektrofotografische Zwecke mit einem aus einer a-Si-Monoschicht gebildeten fotoleitfähigen Material,
dem Eigenschaften gegeben worden sind, die es für die
Anwendung in einer bekannten Solarzelle geeignet machen, einer Ladungsbehandlung zur Erzeugung von elektrostatischen
Ladungsbildern unterzogen wird, ist nämlich die DunkelabSchwächung bzw. der Dunkelabfall auffällig
schnell, weshalb es schwierig ist, ein übliches elektrofotografisches
Verfahren anzuwenden. Diese Neigung ist unter einer feuchten Atmosphäre noch stärker ausgeprägt,
und zwar in manchen Fällen in einem solchen Ausmaß, daß vor der Entwicklungsbehandlung überhaupt keine Ladung
beibehalten werden kann.
BAD ORIGINAL
β · β · β
-9- DE 3577
Ferner können a-Si-Materialien als am Aufbau beteiligte
Atome Wasserstoffatome oder Halogenatome wie z.B. Fluoratome
oder Chloratome zur Verbesserung ihrer elektrischen und Fotoleitfähigkeitseigenschaften, Atome wie Boratome
5 oder Phosphoratome zur Regulierung des Typs der elektrischen
Leitung und andere Atome zur Verbesserung anderer Eigenschaften enthalten. In Abhängigkeit von der Art
und Weise, in der diese am Aufbau beteiligten Atome enthalten sind, können manchmal Probleme bezüglich der elektrischen
oder Fotoleitfähigkeitseigenschaften der gebildeten Schicht verursacht werden.
Besonders in der Nähe der Oberfläche oder an der Grenzfläche
zwischen den aneinander angrenzenden Schichten
, p- werden die Probleme des Verhaltens der Ladungen, das
in Abhängigkeit von der Art, den Konzentrationen und den Verteilungsprofilen der enthaltenen Atome verschiedenartig
verändert wird, oder der Stabilität der Struktur sehr wichtig, und es ist nicht selten eine Schlüsselfrage
für die Erzielung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements, das seine Funktion in der gewünschten Weise
erfüllt, ob die Regulierung dieses Abschnitts erfolgreich ist oder nicht.
Besonders bei der Herstellung eines a-Si enthaltenden lichtempfindlichen Aufzeichnungselements durch ein allgemein
bekanntes Verfahren treten in vielen Fällen Schwierigkeiten auf, beispielsweise hinsichtlich der Reproduzierbarkeit
der Bilder oder der Haltbarkeit des Aufzeichnungselements. Obwohl der Mechanismus, durch den diese
Schwierigkeiten hervorgerufen werden, bisher noch nicht geklärt ist, kann es sich bei der Unzulänglichkeit bezüglich
der Reproduziereigenschaften vermutlich um das Problem
der Fähigkeit zum Transport von Ladungen in der Nähe der Oberfläche oder an der Schichtgrenzfläche handeln,
während es sich bei der Unzulänglichkeit bezüglich der
-10- DE 3577
Haltbarkeit um ein Problem handeln kann, das durch eine
Änderung der Struktur in der Nähe der Oberfläche oder an der Schichtgrenzfläche hervorgerufen wird. Infolgedessen
kann es nicht selten besser sein, wenn die Schicht in der Nähe der Grenzfläche auf der Grundlage einer ein
wenig anderen Überlegung gestaltet wird als im Hauptteil der Schicht.
Im Hinblick auf die Lösung der vorstehend erwähnten Problerne wurden erfindungsgemäß ausgedehnte Untersuchungen
hinsichtlich der Anwendbarkeit und Brauchbarkeit von a-Si als fotoleitfähiges Material für elektrofotografische
Bilderzeugungselemente, Festkörper-Bildabtastvorrichtungen und Lesevorrichtungen usw. durchgeführt. Als
Ergebnis dieser Untersuchungen wurde nun gefunden, daß ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement mit einer fotoleitfähigen
Schicht, deren Schichtstruktur aus sogenanntem halogeniertem, amorphem Silicium oder halogenhaltigen^
hydriertem amorphem Silicium, einem amorphen Material, das Siliciumatome als Matrix und Halogenatome (X)
sowie, falls erwünscht, Wasserstoffatome (H) enthält, E nachstehend als a-Si (H, X) bezeichnet J , gebildet
ist, nicht nur für die praktische Anwendung außerordentliche gute Eigenschaften zeigt, sondern auch den bekann-
· ten fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen im wesentlichen
in jeder Hinsicht überlegen ist und insbesondere im Fall der Anwendung als fotoleitfähiges Aufzeichnungselement für elektrofotografische Zwecke besonders hervorragende
Eigenschaften hat, wenn dieses fotoleitfähige Aufzeichnungselement bei seiner Herstellung so gestaltet
wird, daß es eine besondere Struktur hat, die nachstehend beschrieben wird.
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein fotoleitfähiges Auf-Zeichnungselement
zur Verfugung zu stellen, dessen elek-
-11- DE 3577
trische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften
in konstanter Weise stabil und für alle Umgebungen geeignet sind, d.h., faktisch keine Abhängigkeit von der
Umgebung zeigen, in der das Aufzeichnungselement verwendet
wird, und das eine ausgeprägte Beständigkeit gegenüber
der Licht-Ermüdung zeigt und auch eine hervorragende Haltbarkeit hat, ohne daß eine Verschlechterungserscheinung
hervorgerufen wird, wenn es wiederholt verwendet wird, und kein oder im wesentlichen kein beobachtetes
Restpotential zeigt.
Ferner soll durch die Erfindung ein fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement mit ausgezeichneten elektrofotografischen
Eigenschaften zur Verfügung gestellt werden,
]_5 das während einer zur Erzeugung von elektrostatischen
Ladungsbildern durchgeführten Ladungsbehandlung in einem Ausmaß, das dazu ausreicht, daß mit dem fotoleitfähigen
Aufzeichnungselement im Fall seiner Anwendung als Bilderzeugungselement
für elektrofotografische Zwecke ein übliches Elektrofotografieverfahren sehr wirksam angewandt
werden kann, zum Tragen bzw. Festhalten von Ladungen
befähigt ist.
Durch die Erfindung soll auch ein fotoleitfähiges Auf-.
Zeichnungselement für elektrofotografische Zwecke zur Verfügung gestellt werden, mit dem leicht Bilder hoher
Qualität, die eine hohe Dichte, einen klaren Halbton und eine hohe Auflösung zeigen, erzeugt werden können.
Des weiteren soll durch die Erfindung ein fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement mit einer hohen Lichtempfindlichkeit,
einem hohen S/N-Verhältnis und einem guten elektrischen Kontakt zwischen den laminierten Schichten zur
Verfügung gestellt werden.
-12- DE 3577
Die Aufgabe der Erfindung wird durch ein fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement mit den im kennzeichnenden Teil
des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Die bevorzugten Ausführungsformen der erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselemente werden nachstehend
unter Bezugnahme auf die beigefugten Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1, 2, zeigen jeweils eine schematische Schnittansicht, die zur Erläuterung des Schichtaufbaus
des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
dient.
Fig. 3A zeigen jeweils eine schematische Darstellung und des Tiefenprofils der Halogenatome in der
lichtempfangenden Schicht des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselements.
Fig. 5 ist eine Zeichnung, die eine Vorrichtung
für die Herstellung des fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
durch das Glimmentladungs-Zersetzungsverfahren zeigt.
25. Fig. 6 sind grafische Darstellungen der Analysener-
bis 8
gebnisse des Tiefenprofils der Halogenatome
in den fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen
gemäß Ausführungsbeispielen der Erfindung.
Fig. 9 ist eine grafische Darstellung des Analysenergebnisses des Tiefenprofils der Halogenatome
in einem fotoleitfähigen Aufzeichnungselement gemäß einem Vergleichsbeispiel der Erfindung.
-13- DE 3577
Die Fig. 1 und 2 zeigen schematische Schnittansichten, die zur Erläuterung der Schichtstruktur einer bevorzugten
Ausführungsform des Aufbaus des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen
Aufzeichnungselements dienen.
Das fotoleitfähige Aufzeichnungselement 100 ist aus
einer lichtempfangenden Schicht 103 aufgebaut, die im
wesentlichen aus a-SiX(H) besteht, Fotoleitfähigkeit zeigt und auf einem Substrat 101 für ein fotoleitfähiges
XO Aufzeichnungselement gebildet ist, wie es in Fig. 1
gezeigt wird, oder über eine untere Schicht 102 auf einem solchen Substrat gebildet ist, wie es in Fig.
2 gezeigt wird. Die in der lichtempfangenden Schicht 103 enthaltenen Halogenatome nehmen ein Tiefenprofil
an, das in der zu der Substratoberfläche parallelen
Richtung gleichmäßig ist, jedoch nimmt ihre Konzentration in der Dickenrichtung der lichtempfangenden Schicht von der Substratseite aus in Richtung auf die äußere Oberflächenseite zu, wie es als typisches Beispiel in Fig. 3A gezeigt wird.
Richtung gleichmäßig ist, jedoch nimmt ihre Konzentration in der Dickenrichtung der lichtempfangenden Schicht von der Substratseite aus in Richtung auf die äußere Oberflächenseite zu, wie es als typisches Beispiel in Fig. 3A gezeigt wird.
Die Halogenatome, die in der lichtempfangenden Schicht 103 enthalten sind, müssen, wie vorstehend beschrieben
wurde, in dieser Schicht an der Oberflächenseite eine
25- größere Konzentration haben als die Halogenatome in
dem inneren Teil der lichtempfangenden Schicht, und die Konzentration der Halogenatome in der lichtempfangenden
Schicht kann von der Substratseite aus bis zu dem inneren Teil Null betragen, wie es in Fig. 3B gezeigt
wird. Andererseits kann der Abschnitt mit der maximalen Halogenkonzentration in der lichtempfangenden Schicht
entweder nur eine einzelne Stelle der Oberfläche bilden oder auch einen bestimmten Bereich in der Richtung
der Schichtdicke umfassen. Ferner macht es keinen wesentliehen Unterschied, ob die Halogenatomkonzentration
der Schichtdicke umfassen. Ferner macht es keinen wesentliehen Unterschied, ob die Halogenatomkonzentration
W 0 » ·
-14- DE 3577
kontinuierlich oder stufenweise geändert wird, um die
Halogenatomkonzentration in Richtung auf die Oberfläche zu erhöhen, und es ist eine Frage der geeigneten Wahl,
die von der Ausgewogenheit zwischen der für das Bilderzeugungselement
erforderlichen Funktion und den Einrichtungen für die Herstellung des fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
abhängt, welche Art des Tiefenprofils vorgesehen werden sollte.
Als Ursache dafür, daß das erfindungsgemäße fotoleitfähige
Aufzeichnungselement, das eine lichtempfangende
Schicht aufweist, die so gebildet ist, daß die Halogenatomkonzentration auf diese Weise in Richtung auf die äußere Oberfläche zunimmt, bezüglich der Reproduzierbarkeit der Bilder hervorragend ist und eine ausgezeichnete Haltbarkeit zeigt, wenn es als lichtempfindliches Aufzeichnungselement für elektrofotografische Zwecke verwendet wird, kann die Struktur der lichtempfangenden Schicht vermutet werden, in der die Konzentration der Halogenatome in der Nähe der Oberfläche der lichtempfangenden Schicht, d.h., an der Stelle in der lichtempfangenden Schicht, die während der Fertigung und der Anwendung am meisten für Strukturänderungen anfällig ist, erhöht ist, so daß die Halogenatome selbst bei relativ höheren Temperaturen nicht leicht von Siliciumatomen abgespalten werden können und stabil sind.
Schicht aufweist, die so gebildet ist, daß die Halogenatomkonzentration auf diese Weise in Richtung auf die äußere Oberfläche zunimmt, bezüglich der Reproduzierbarkeit der Bilder hervorragend ist und eine ausgezeichnete Haltbarkeit zeigt, wenn es als lichtempfindliches Aufzeichnungselement für elektrofotografische Zwecke verwendet wird, kann die Struktur der lichtempfangenden Schicht vermutet werden, in der die Konzentration der Halogenatome in der Nähe der Oberfläche der lichtempfangenden Schicht, d.h., an der Stelle in der lichtempfangenden Schicht, die während der Fertigung und der Anwendung am meisten für Strukturänderungen anfällig ist, erhöht ist, so daß die Halogenatome selbst bei relativ höheren Temperaturen nicht leicht von Siliciumatomen abgespalten werden können und stabil sind.
Als geeignete Beispiele für die Halogenatome (X), die im Rahmen der Erfindung in der lichtempfangenden Schicht
enthalten sein sollen, können Fluor, Chlor, Brom und Jod erwähnt werden, wobei Chlor und vor allem Fluor
besonders bevorzugt werden. Natürlich können in dieser Schicht auch Wasserstoffatome (H) enthalten sein.
Die Konzentration der Halogenatome in der lichtempfangenden Schicht 103 kann in dem Teil der lichtempfangenden
BAD ORIGINAL
• * ft ft
-15- DE 3577
Schicht mit der maximalen Konzentration, nämlich an der äußeren Oberflächenseite der lichtempfangenden
Schicht, geeigneterweise 0,01 bis 40 Atom-%, vorzugsweise 0,5 bis 30 Atom-% und insbesondere 1 bis 10 Atom-% betragen.
Schicht, geeigneterweise 0,01 bis 40 Atom-%, vorzugsweise 0,5 bis 30 Atom-% und insbesondere 1 bis 10 Atom-% betragen.
Als von Siliciumatomen, Wasserstoffatomen und Halogenatomen,
die in der lichtempfangenden Schicht 103 enthalten sind, verschiedene Bestandteile können Atome der Gruppe
III des Periodensystems wie z.B. Bor oder Gallium oder Atome der Gruppe V wie z.B. Stickstoff, Phosphor oder
Arsen als Bestandteile für die Regulierung der Breite des verbotenen Bandes oder Fermi-Niveaus und ferner
Sauerstoffatome, Kohlenstoffatome, Germaniumatome und
andere entweder einzeln oder in einer geeigneten Kombination davon enthalten sein.
Die untere Schicht 102 ist vorgesehen, um die Haftung zwischen der lichtempfangenden Schicht und dem Substrat
__ zu verbessern oder um die Fähigkeit zum Empfangen von
Ladungen zu regulieren, und sie kann als Monoschicht
oder als Mehrfachschicht aus amorphem, mikrokristallinem
oder polykristallinem Material ^nachstehend als a-Si(H,
X), mikro-Si(H,X) bzw. poly-Si(H,X) bezeichnet] , das
X), mikro-Si(H,X) bzw. poly-Si(H,X) bezeichnet] , das
2P- ein a-SiX(H) oder Siliciumatome als Matrix und in Abhängigkeit
von dem Zweck Atome der Gruppe III des Periodensystems, Atome der Gruppe V des Periodensystems, Sauerstoff-,
Kohlenstoffatome, Germaniumatome usw. und mindestens
eine aus Wasserstoffatomen und Halogenatomen ausge-
QQ wählte Atomart enthält, gebildet werden.
Ferner kann auf der lichtempfangenden Schicht 103 eine
obere Schicht 104, wie sie in Fig. 4 gezeigt wird, als zur Verhinderung einer Ladungsinjektion dienende Schicht
oder als Schutzschicht vorgesehen werden, wobei die do
obere Schicht aus einem eine große Menge von Kohlenstoffatomen,,
-16- DE 3577
Stickstoffatomen, Sauerstoffatomen usw. enthaltenden
amorphen Silicium oder aus einer organischen Substanz mit hohem elektrischem Widerstand besteht.
Das im Rahmen der Erfindung einzusetzende Substrat kann entweder elektrizitätsleitend oder dielektrisch sein.
Als elektrizitätsleitende Materialien können Metalle wie z.B. NiCr, rostfreier Stahl, Al, Cr, Mo, Au, Nb,
Ta, V, Ti, Pt und Pd oder deren Legierungen erwähnt werden.
Als dielektrische Substrate können Üblicherweise Folien
oder Platten aus Kunstharz, wozu beispielsweise Polyester, Polyethylen, Polycarbonat, Celluloseacetat, PoIypropylen,
Polyvinylchlorid, Polyvinylidenchlorid, Polystyrol und Polyamid gehören, Gläser, keramische Stoffe,
Papiere und andere Materialien eingesetzt werden. Diese dielektrischen Substrate sollten vorzugsweise mindestens
eine Oberfläche haben, die einer Behandlung unterzogen worden ist, durch die sie elektrizitätsleitend gemacht
wurde, und andere Schichten werden geeigneterweise auf der Seite des Substrats vorgesehen, die durch eine solche
Behandlung elektrizitätsleitend gemacht worden ist.
. Ein Glas kann beispielsweise elektrizitätsleitend gemacht werden, indem auf dem Glas eine Dünnschicht aus NiCr,
Al, Cr, Mo, Au, Ir, Nb, Ta, V, Ti, Pt, In2O3, SnO3 oder
23 3
ITO (In 0Q + SnO5) gebildet wird. Alternativ kann
die Oberfläche einer Kunstharzfolie wie einer Polyester- QQ folie durch Vakuumbedampfung, Elektronenstrahl-Abscheidung
oder Zerstäubung eines Metalls wie z.B. NiCr, Al, Ag, Pb, Zn, Ni1 Au, Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V, Ti oder Pt
oder durch Laminieren eines solchen Metalls auf die Oberfläche elektrizitätsleitend gemacht werden.
BAD
-17- DE 3577
Das Substrat kann in irgendeiner Form ausgebildet werden, die in gewünschter Weise festgelegt werden kann. Wenn
das in Fig. 1 gezeigte fotoleitfähige Aufzeichnungselement
100 beispielsweise als Bilderzeugungselement für g elektrofotografische Zwecke eingesetzt werden soll ,
kann es für die Verwendung in einem kontinuierlichen,
mit hoher Geschwindigkeit durchgeführten Kopierverfahren geeigneterweise in Form eines endlosen Bandes oder eines
Zylinders gestaltet werden. Das Substrat kann eine Dicke
-^q haben, die in geeigneter Weise so festgelegt wird, daß
ein gewünschtes fotoleitfähiges Aufzeichnungselement
gebildet werden kann. Wenn das fotoleitfähige Aufzeichnungselement
flexibel sein muß, wird das Substrat mit der Einschränkung, daß es die Funktion eines Substrats
■^5 gut ausüben können muß, so dünn wie möglich hergestellt.
In einem solchen Fall hat das Substrat jedoch unter Berücksichtigung seiner Herstellung und Handhabung sowie
seiner mechanischen Festigkeit vorzugsweise eine Dicke von 10 um oder eine größere Dicke.
Im Rahmen der Erfindung kann eine aus a-SiX(H) bestehende lichtempfangende Schicht durch ein Vakuumbedarnpfungsverfahren
unter Anwendung der Entladungserscheinung, z.B. durch das Glimmentladungsverfahren, das Zerstäubungs-
2g. verfahren oder das Ionenplattierverfahren, gebildet
werden. Das grundlegende Verfahren für die Bildung der aus a-SiX(H) bestehenden lichtempfangenden Schicht durch
das Glimmentladungsverfahren besteht beispielsweise
darin, daß ein gasförmiges Ausgangsmaterial für die
OQ Zuführung von Si, das dazu geeignet ist, Siliciumatome
(Si) zuzuführen, zusammen mit einem gasförmigen Ausgangsmaterial für die Einführung von Halogenatomen (X) und,
falls erwünscht, Wasserstoffatomen (H) in eine Abscheidungskammer,
die im Inneren auf einen verminderten Druck gebracht werden kann, eingeleitet und in der Abschei-
-18- DE 3577
dungskammer eine Glimmentladung angeregt wird, wodurch
auf der Oberfläche eines Substrats, das in eine vorher festgelegte Lage gebracht wurde, eine a-SiX(M) enthaltende
Schicht gebildet wird. Alternativ kann für die Bildung durch das Zerstäubungsverfahren ein Gas für die Einführung
von Halogenatoamen (X) und, falls dies gewünscht wird, Wasserstoffatomen (H) in die Abscheidungskammer
für die Zerstäubung eingeleitet werden, wenn ein aus Si gebildetes Target in einer Atmosphäre eines Inertgases
wie z.B. Ar oder He oder einer Gasmischung auf Basis dieser Gase zerstäubt wird.
Als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Zuführung von Si, das im Rahmen'der Erfindung einzusetzen ist, können
gasförmige oder vergasbare Siliciumhydride (Silane) wie z.B. SiH4, Si3H6, Si3H8 und Si4H10 und andere als
wirksame Materialien erwähnt werden. SiH und Si_Hfi
werden im Hinblick auf ihre einfache Handhabung während der Schichtbildung und auf den Wirkungsgrad bezüglich
der Zuführung von Si besonders bevorzugt.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien für die Einführung von Halogenatomen, die im Rahmen der Erfindung
einzusetzen sind,' können eine Vielzahl von Halogenverbin-
25- düngen, beispielsweise gasförmige Halogene, Halogenide,
Interhalogenverbindungen oder gasförmige oder vergasbare Halogenverbindungen wie z.B. mit Halogenen substituierte
Silanderivate, erwähnt werden. Ferner können auch gasförmige oder vergasbare, Halogenatome enthaltende Silicium-
QQ verbindungen, die als am Aufbau beteiligte Atome SiIiciumatome
und Halogenatome enthalten, als im Rahmen der Erfindung wirksame Ausgangsmaterialien für die Einführung
von Halogenatomen erwähnt werden.
Als typische Beispiele von Halogenverbindungen, die 35
im Rahmen der Erfindung vorzugsweise eingesetzt werden,
"O
-19- DE 3577
können gasförmige Halogene wie z.B. Fluor, Chlor, Brom oder Jod und Interhalogenverbindungen wie z.B. BrF,
ClF, ClF3, BrF5, BrF3, IF3, IF7, ICl und IBr erwähnt
werden.
Als Halogenatome enthaltende Siliciumverbindungen, d.h. als mit Halogenatomen substituierte Silanderivate, können
vorzugsweise Siliciumhalogenide wie z.B. SiF4,
SiCl. oder SiBr. eingesetzt werden.
Im Rahmen der Erfindung können in die lichtempfangende
Schicht Wasserstoffatome eingeführt werden, indem in
eine Abscheidungskammer ein Gas, das hauptsächlich aus Hp oder Siliciurnhydrid wie z.B. SiH4I S:i-2H6' Si3H8
oder Si H1n besteht, eingeleitet und darin eine Entladung
4 10
angeregt wird.
Wenn die Halogenatome enthaltende lichtempfangende
Schicht durch das Glimmentladungsverfahren gebildet werden soll, besteht die grundlegende Verfahrensweise
Schicht durch das Glimmentladungsverfahren gebildet werden soll, besteht die grundlegende Verfahrensweise
darin, daß ein gasförmiges Siliciumhydrid als gasförmiges
Ausgangsmaterial für die Zuführung von Si und ein Gas für die Einführung von Halogenatomen, wie sie vorstehend
erwähnt wurden, oder eine, gasförmige, Halogenatome enthaltende Siliciumverbindung und ein Gas wie z.B. Ar,
Hp oder He in einem vorausberechneten Mischungsverhältnis
und mit vorausberechneten Gasdurchflußgeschwindigkeiten in eine Abscheidungskammer für die Bildung der lichtempfangenden
Schicht eingeleitet werden und in der Abscheidungskammer eine Glimmentladung angeregt wird, um eine
30
Plasmaatmosphäre aus diesen Gasen zu bilden, wodurch
die lichtempfangende Schicht auf einem gewünschten Substrat
gebildet werden kann. Die einzelnen Gase sind nicht auf die vorstehend erwähnten Kombinationen beschränkt
und können nicht nur als einzelne Spezies, 35
-20- DE 3577
sondern auch in Form einer Mischung von mehr als einer Spezies in gewünschten Verhältnissen eingesetzt werden.
Für die Bildung der a-SiX(H) enthaltenden lichtempfangenden
Schicht durch das reaktive Zerstäubungsverfahren oder das Ionenplattierverfahren kann beispielsweise
im Fall des Zerstäubungsverfahrens ein Si-haltiges Target verwendet werden, und dieses Target wird in einer bestimmten
Gasplasmaatmosphäre zerstäubt. Alternativ wird im Fall des Ionenplattierverfahrens ein polykristallines
Silicium oder Einkristall-Silicium als Verdampfungsquelle in ein Aufdampfungsschiffchen hineingebracht, und
die Verdampfungsquelle wird durch Erhitzen mittels des
Widerstandsheizverfahrens oder des Elektronenstrahlverfahrens
verdampft, um ein fliegendes, verdampftes Produkt herzustellen, dem ein Durchtritt durch eine bestimmte
Gasplasmaatmosphäre ermöglicht wird.
Sowohl beim Zerstäubungs- als auch beim Ionenplattierverfahren können in die gebildete Schicht Halogenatome
eingeführt werden, indem ein Gas wie die vorstehend erwähnte Halogenidverbindung oder Halogenatome enthaltende
Siliciumverbindung in eine Abscheidungskammer für die Zerstäubung eingeleitet und eine Plasmaatmosphäre
■ aus diesem Gas gebildet wird.
Ferner kann für die Einführung von Wasserstoffatomen
zusammen mit Halogenatomen ein gasförmiges Ausgangsmaterial für die Einführung von Wasserstoffatomen, beispielsweise
H oder Silane, wie sie vorstehend erwähnt wurden, in die Abscheidungskammer eingeleitet werden, und darin
kann eine Plasmaatmospshäre aus diesem Gas gebildet werden.
Als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Einführung
-21 DE 3577
von Ilalogenatomen in die lichtempfangende Schicht können
die vorstehend erwähnten Halogenverbindungen oder Halogenatome
enthaltenden Siliciumverbindungen in wirksamer Weise eingesetzt werden. Ferner ist es auch möglich,
als wirksames Ausgangsmaterial für die Bildung der lichtempfangenden Schicht eine gasförmige oder vergasbare
Substanz wie z.B. einen Halogenwasserstoff, z.B. HF, HCl, HBr oder HI, oder ein halogensubstituiertes SiIiciumhydrid
wie z.B. SiH2F3, SiH2I3, SiH2Cl2, SiHCl3,
SiH0Br oder SiHBr_ einzusetzen.
Diese Halogenide, die Wasserstoffatome enthalten und
gleichzeitig mit der Einführung von Halogenatomen Wasserstoff atome als sehr wirksamen Bestandteil für die Regulierung
der elektrischen oder fotoelektrischen Eigenschaften der Schicht während der Bildung der lichtempfangenden
Schicht einführen können, können infolgedessen im Rahmen der Erfindung vorzugsweise als Ausgangsmaterial
für die Einführung von Halogenatomen eingesetzt werden.
Andererseits kann beispielsweise im Fall des reaktiven Zerstäubungsverfahrens ein Si-Target verwendet werden,
und Hp-Gas, ggf. zusammen mit einem Gas für die Einführung von Halogenatomen, kann, auch einschließlich von
Inertgasen wie z.B. He oder Ar, in die Abseheidungskammer
·
eingeleitet werden, um eine Plasmaatmosphäre zu bilden, in der das vorstehend erwähnte Si-Target zerstäubt wird,
wodurch auf dem Substrat die aus a-SiX(H) bestehende lichtempfangende Schicht gebildet werden kann.
Ferner können auch Gase wie z.B. BnH- eingeleitet werden,
um gleichzeitig eine Dotierung mit Fremdstoffen durchzuführen.
Um die Mengen der Halogenatome (X), die in der lichtemp-
fangenden Schicht enthalten sind, und der ggf. zugegebe-
-22- DE 3577
nen Wasserstoffatome (H) zu regulieren, kann beispielsweise
eine oder mehr als eine Art der folgenden Faktoren reguliert werden: Die Substrattemperatur, die Mengen
der in das Abscheidungsvorrichtungssystem einzuleitenden
Ausgangsmaterialien für den Einbau von Halogenatomen (X) oder Wasserstoffatomen (H) und die Entladungsleistung
.
Um in der lichtempfangenden Schicht und der unteren Schicht einen Schichtbereich zu bilden, der von Siliciumatomen,
Halogenatomen und Wasserstoffatomen verschiedene, zusätzliche Atome enthält, kann das Ausgangsmaterial
für die Einführung solcher zusätzlichen Atome, zusammen mit dem vorstehend erwähnten Ausgangsmaterial für die
Bildung der lichtempfangenden Schicht während der Bildung einer lichtempfangenden Schicht durch das Glimmentladungsverfahren
oder das reaktive Zerstäubungsverfahren eingesetzt werden, während die in die gebildete Schicht
hineingegebene Menge reguliert wird.
Wenn für die Bildung der zusätzliche Atome enthaltenden Schicht, die die lichtempfangende Schicht bildet, das
Glimmentladungsverfahren angewandt wird, können die gasförmigen Ausgangsmaterialien für die Bildung dieses
Schichtbereichs gebildet werden, indem zu dem Material, das in geeigneter Weise aus den vorstehend erwähnten
Ausgangsmaterialien für die Bildung der lichtempfangenden Schicht ausgewählt wurde, ein Ausgangsmaterial für die
Einführung von zusätzlichen Atomen gegeben wird. Als ein solches Ausgangsmaterial für die Einführung zusätzlicher
Atome können die meisten gasförmigen Substanzen oder die meisten vergasbaren Substanzen in vergaster
Form, die als am Aufbau beteiligte Atome mindestens die zusätzlichen Atome enthalten, eingesetzt werden.
• Φ β · * *. 9
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Als Ausgangsmaterial für die Einführung zusätzlicher Atome, das im Rahmen der Erfindung in wirksamer Weise
eingesetzt werden kann, können ΒρΗ_, BH, B-Hq, BH,
B6H10, GaCl3, AlCl3, BF3, BCl3, BBr3 und BI3 usw.
als Material für die Einführung von Atomen der Gruppe III des Periodensystems, PH3, P2 H4' AsH3' SbH3 und BiH3
usw. als Material für die Einführung von Atomen der Gruppe V, NO, Np0 und 0? usw. als Material für die Ein-
" führung von Sauerstoffatomen, CH4, C3H4, C3H8 und C4H10
usw. als Material für die Einführung von Kohlenstoffatomen und NH , N , N2H4 und NF3 usw. als Material für die
Einführung von Stickstoffatomen erwähnt werden, wobei
diese Ausgangsmaterialien die hauptsächlichen Ausgangs-,c
materialien darstellen.
Im Rahmen der Erfindung können als verdünnendes Gas, das bei der Bildung der lichtempfangenden Schicht durch
das Glimmentladungs- oder das Zerstäubungsverfahren
einzusetzen ist, vorzugsweise Edelgase wie z.B. He, Me oder Ar eingesetzt werden.
Als nächstes wird ein Beispiel des Verfahrens zur Herstellung des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeich-25.
nungselements durch das Glimmentladungs-Zersetzungsverfahren
oder das Zerstäubungsverfahren beschrieben.
Fig. 5 zeigt eine Vorrichtung für die Herstellung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements.
30
30
In Gasbomben 1102 bis 1106 sind luftdicht abgeschlossene,
gasförmige Ausgangsmaterialien für die Bildung der orfindungsgemäßen
fotoleitfähigen Aufzeichnungselemente enthalten.
Beispielsweise ist 1102 eine Bombe, die SiH-Gas (Reinheit: 99,99 %) enthält, ist 1103 eine Bombe,
*. ■- W · * · tf tf M
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die mit H? verdünntes B-Hg-Gas (Reinheit: 99,99 %\ nachstehend
kurz als "BOH_/H " bezeichnet) enthält, ist
1104 eine Bombe, die NO-Gas (Reinheit: 99,99 % ) enthält, ist 1105 eine Bombe, die CH.-Gas (Reinheit: 99,99 %)
enthält, und ist 1106 eine Bombe, die SiF.-Gas (Reinheit:
99,99 %) enthält. Außer diesen Bomben können, obwohl dies in Fig. 5 nicht gezeigt wird, auch weitere Bomben
mit gewünschten Gasspezies bereitgestellt werden, falls
sie erforderlich sind.
10
10
Um diese Gase in eine Reaktionskammer 1101 hineinströmen zu lassen, wird zuerst ein Hauptventil 1134 geöffnet,
um die Reaktionskammer 1101 und die Gas-Rohrleitungen zu evakuieren, nachdem bestätigt worden ist, daß Ventile
1122 bis 1125 der Gasbomben 1102 bis 1105 und ein Belüftungsventil 1135 geschlossen und Einströmventile 1112
bis 1115, Ausströmventile 1117 bis 1120 und ein Hilfsventil 1132 geöffnet sind. Als nächster Schritt werden
das Hilfsventil 1132 und die Ausströmventile 1117 bis
1120 geschlossen, wenn der an einer Vakuummeßvorrichtung 1136 abgelesene Druck 6,7 nbar erreicht hat.
Nachstehend wird ein Beispiel für die Bildung einer lichtempfangenden Schicht auf einem zylindrischen Substrat
1137 erläutert. SiH.-Gas aus der Gasbombe 1102 und SiF.-Gas aus der Gasbombe 1106 werden in Durchflußreguliervorrichtungen
1107 bzw. 1111 hineinströmen gelassen, indem zuerst die Ventile 1122 und 1126 so geöffnet
werden, daß die Drücke an Auslaßmanometern 1127 und 30
1131 jeweils auf einen Wert von 0,98 bar einreguliert werden, und indem dann die Einströmventile 1112 und
1116 allmählich geöffnet, werden. Dann werden die Ausströmventile 1117 und 1121 und die Hilfsventile 1132
ot- und 1133 allmählich geöffnet, um die einzelnen Gase
35
in die Reaktionskammer 1101 hineinströmen zu lassen.
β· 9 ·
# ■
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Die Ausströmventile 1117 und 1121 werden so reguliert,
daß das Durchflußgeschwindigkeitsverhältnis von SiH.-Gas und SiF.-Gas einen gewünschten Wert hat, und auch die
Öffnung des Hauptventils 1134 wird reguliert, während die Ablesung an der Vakuummeßvorrichtung 1136 beobachtet
wird, und zwar so, daß der Druck in der Reaktionskammer einen gewünschten Wert erreicht. Nachdem bestätigt worden
ist, daß die Temperatur des zylindrischen Substrats 1137 durch eine Heizvorrichtung 1138 auf 50 bis 400°C
eingestellt wurde, wird eine Stromquelle 1140 auf eine gewünschte Leistung eingestellt, um in der Reaktionskammer
1101 eine Glimmentladung anzuregen. Gleichzeitig
wird die Konzentration der Halogenatome in der gebildeten Schicht reguliert, indem ein Arbeitsgang durchgeführt
wird, bei dem die Einstellung der Ventile 1117 und 1121 allmählich verändert wird, um das Durchflußgeschwindigkeitsverhältnis
von SiH.-Gas und SiF^-Gas gemäß einer vorher entworfenen Kurve der Änderungsgeschwindigkeit
zu verändern, was durch manuellen Betrieb oder mittels eines Motors mit Außenantrieb durchgeführt werden kann.
Als nächster Schritt wird manchmal des weiteren die Bildung einer oberen Schicht auf der lichtempfangenden
Schicht durchgeführt. Dieser Arbeitsgang ist im wesentlichen der gleiche wie der vorstehend beschriebene Arbeits-25
gang. Natürlich werden alle Ausströmventile mit Ausnahme der Ausströmventile, die für die bei der Bildung der
einzelnen Schichten notwendigen Gase benötigt werden, geschlossen, und um zu verhindern, daß bei der Bildung
der vorhergehenden Schicht eingesetzte Gase in der Reak-30
tionskammer 1101 und in den Rohrleitungen von den Ausströmventilen
1117 bis 1120 zu der Reaktionskammer 1101 verbleiben, kann ein Verfahren durchgeführt werden,
bei dem das System einmal bis zur Erzielung eines hohen
Vakuums evakuiert wird, indem die Ausströmventile 1117 35
bis 1120 geschlossen werden und das Hilfsventil 1132
-26- DE 3577
bei vollständiger Öffnung des Hauptventils 1134 geöffnet wird, falls dies erwünscht ist.
In dem vorstehend beschriebenen Fall ist die Regulierung der Halogenatomkonzentration durchgeführt worden, indem
die Durchflußgeschwindigkeiten der gasförmigen Ausgangsmaterialien reguliert wurden, jedoch kann eine solche
Regulierung auch durchgeführt werden, indem die Entladungsleistung oder die Substrattemperatur oder beide
in Kombination reguliert werden.
Während der Schichtbildung kann das zylindrische Substrat 1137 mittels eines Motors 1139 mit einer konstanten
Geschwindigkeit gedreht werden, um die Schichtbildung gleichmäßig zu machen.
Die Erfindung wird durch die nachstehenden Beispiele näher erläutert.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung für die Herstellung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements wurde auf einem zylindrischen Substrat aus
25. Aluminium durch das vorstehend im einzelnen beschriebene
Glimmentladungsverfahren gemäß den in Tabelle 1 gezeigten Herstellungsbedingungen eine lichtempfangende Schicht
gebildet. Von dem erhaltenen zylindrischen Aufzeichnungselement wurde ein Teil abgeschnitten, und unter Anwendung
der Sekundärionen-Massenspektroskopie (SIMS) wurden die Konzentrationen der Fluoratome und Wasserstoffatome
quantitativ bestimmt, wobei als Ergebnis die in Fig. 6 gezeigten Tiefenprofile erhalten wurden. Der restliche
Teil des zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselements
wurde zur Bildbewertung in eine elektrofotogra-
BAD ORIGINAL
-27- DE 3577
fische Vorrichtung eingesetzt. Die Bildbewertung wurde durchgeführt, indem unter einer normalen Umgebung Bilder
in einer Gesamtzahl von 200 000 Blatt erzeugt wurden, und jeweils eine Probe pro 10 000 Blatt wurde im Hinblick
darauf bewertet, ob sie bezüglich der Dichte, der Auflösung, der Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung
und der Bildfehler der einzelnen Bilder gute oder
schlechte Eigenschaften hatte. Als Ergebnis wurde bestätigt, daß jede Gruppe von Proben Bilder mit sehr hoher -.Q Qualität aufwies.
schlechte Eigenschaften hatte. Als Ergebnis wurde bestätigt, daß jede Gruppe von Proben Bilder mit sehr hoher -.Q Qualität aufwies.
Dann wurde dieses zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselement
in einem elektrischen Ofen 2 h lang auf 300°C erwärmt und wieder in dieselbe elektrofoto-η
ρ- grafische Vorrichtung eingesetzt, um eine Bilderzeugung
durchzuführen. Es wurde überhaupt keine Änderung beobachtet.
Ferner wurde dieses zylindrische lichtempfindliche
Aufzeichnungselement in einen Belichtungsbehälter hineingebracht, an dessen Wandoberfläche Halogenlampen
P0 angebracht waren,- mit denen eine gleichmäßige Belichtung
des zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungsele-
2 ments durchgeführt werden konnte, und eine 200 mW/cm
entsprechende Belichtung wurde 24 h lang kontinuierlich durchgeführt. Nach der Abkühlung wurde wieder eine Bilderzeugung
durchgeführt, und auch in diesem Fall wur-
de überhaupt keine Änderung beobachtet.
Durch die vorstehend beschriebenen Versuche wurde bestätigt, daß dieses zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselement
unter Bedingungen, die viel strenger waren
als die Umgebungsbedingungen bei der praktischen Verwendung, eine ausreichende Haltbarkeit hatte, wodurch bewiesen
wurde, daß das Verhalten der am Aufbau beteiligten Atome innerhalb der lichtempfangenden Schicht, das gegenüber
der äußeren Umgebung relativ empfindlich ist,
ohne das Auftreten von Nebenwirkungen verbessert werden
ohne das Auftreten von Nebenwirkungen verbessert werden
OoHUOvJ I
-28- DE 3577
konnte, indem die Konzentration der Halogenatome insbesondere
an der Oberfläche der lichtempfangenden Schicht, wo die Änderungen eines solchen Verhaltens sehr leicht
auftreten, erhöht wurde.
.
Ein zylindrisches lichtempfindliches Aufzeichnungselement
wurde auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, jedoch wurde das Tiefenprofil der Halogenatome
verändert. Einzelheiten über die Herstellungsbedingungen werden in den Tabellen 2 und 3 gezeigt. Die Analyse
der Konzentrationen der am Aufbau beteiligten Atome, die Bildbewertung und die Haltbarkeitsversuche wurden
bei diesem zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselement
auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1 beschrieben durchgeführt. Als Ergebnis wurden die in
Fig. 7 und Fig. 8 gezeigten Tiefenprofile der Halogenatome und Wasserstoffatome erhalten. Bei dem Bildbewertungs-
und dem Haltbarkeitsversuch wurden gute Ergebnisse erhalten, die den Ergebnissen von Beispiel 1 gleichwertig
waren.
Auf Abscheidungsfilmen, die durch das gleiche Verfahren
wie im Beispiel 1 beschrieben hergestellt worden waren, wurde kontinuierlich unter Beibehaltung des Vakuums
unter den in Tabelle 4 bzw. Tabelle 5 gezeigten Herstellungsbedingungen jeweils eine obere Schicht gebildet.
Als Ergebnis des Bildbewertungs- und des Haltbarkeitsversuchs, die ähnlich wie in Beispiel 1 durchgeführt
wurden, wurde festgestellt, daß das hohe Qualitätsniveau
beibehalten werden konnte, ohne daß überhaupt eine Beeintrachtigung
der Bildqualität eintrat.
BAD ORIGINAL
• «
-29- DE 3577
Vergleichsbeispiel 1
Beispiel 1 wurde zur Herstellung eines zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselements wiederholt,
jedoch wurde das Tiefenprofil der Halogenatome in der in Fig. 9 gezeigten Weise so verändert, daß der Gehalt
der Halogenatome in dem Abschnitt der äußeren Oberfläche der lichtempfangenden Schicht vermindert war. Unter
Anwendung dieses zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungsel'ements
wurde die gleiche Bewertung in der gleichen Weise wie in Beispiel 1 durchgeführt. Als Ergebnis
wurde festgestellt, daß die am Anfang erzeugten Bilder und die unter einer veränderten Umgebung durch
eine Kopiervorrichtung erzeugten Bilder den Bildern von Beispiel 1 gleichwertig waren, jedoch wurden sowohl
nach dem Tempern bei hoher Temperatur als auch nach der Belichtung eine Potentialverminderung und ein verstärktes
Auftreten von Bildfehlern beobachtet, d.h., daß nur Materialien erhalten wurden, deren Haltbarkeit
im Fall der Erhöhung der Anzahl der erzeugten Bilder
auf die für die praktische Anwendung gebräuchliche Größenordnung von 1 000 000 Blatt bei ihrer Anwendung zweifelhaft
ist.
-30-Tabelle
DE 3577
| \Bedingungen | Gasförmi ge Aus gangsma terialien |
Durchflußge schwindig- keit der Gase „ ;Norm-cm / min) |
Entladungs leistung . (W) |
Absehe idungs- dauer (min) |
| Reihenfolge^ der SchichtA bildung \ |
SiF4 SiH4 NO |
150 150 300 3 |
200 | 10 |
| 1 | SiF4 SiH4 Ar SiF4 |
150 150 150 150 -* 250 |
200 | 250 |
| 2 | SiH4 Ar H2 |
150 150 0 -^ 100 |
200 | 30 |
| 3 |
BAD ORIGINAL
-31-
DE 3577
| ϊ Bedingungen | Gasförmige Ausgangs- materia lien |
Burchfluß- geschwi n- digkeit der Gase ,-. (Norm-cm / min) |
Entladungs leistung (V/) |
Absehe i dungs- |
| Reihenfolge\ der Schicht-4 bildung I |
SiH4 ■ B2H6/H2 NO |
300
300 9 |
250 | dauer umn) |
| 1 | SiH4 | 300 | 250 | 6 |
| 2 | SiH4 SiF4 Ar |
300
300 0-^1000 |
250 | 170 |
| 3 | 20 |
| Bedingungen | Gasförmige Ausgangs- materia lien |
Durchflußge schwindig- keit der Gase 3 (Norm-cm Z -min) |
Entladungs- leistung (W) |
Abseheidungs- dauer (min) |
| Reihenfolge der Schicht! bildung 1 |
SiH4
He NO B2H6ZH2 |
200 400 2,6 5,3 |
250 | 260 |
| 1 |
SiH4
SiCl4 NO B2H6ZH2 |
10Q-f 200
0-^400 2,6 -? 0 5,3 |
250 | 30 |
| 2 |
BAD ORIGINAL
DE 3577
| \Bedingungen | Gasförmige Ausgangs- inateria- lien |
Durchflußge- schwindig- keit der Gase 3 (Norm-cm / min) |
Entin'lungs- leistung (W) |
Abr,cl ioi'-iur ι,',ö dauer (:nin) |
| Reihenfolge! der Schicht^ bildung | |
SiH4 CH4 |
10 300 |
250 | 6/5 |
| — ■" \ obere Schicht |
| \ Bedingungen | Gasrömiige Ausgangs- materia lien 1 |
Durchfluß- geschwi n- digkeit der Gase 3 (Norm-cm / min) |
Entladungs leistung (W) |
Absehe idi:n£s- dauer (min) |
| Reihenfolge\ ,der Schicht-! bildung I |
SiH4 CH4 CF4 |
10 300 30 |
250 | 6,5 |
| obere Schicht |
BAD ORIGINAL
- Leerseite -
Claims (25)
- Patentansprüche['^r' ; ^'Fptoleitfähiges Aufzeichnungselement, gekennzeichnet durch ein Substrat und eine auf dem Substrat vorgesehene lichtempfangende Schicht, die Fotoleitfähigkeit zeigt und Siliciumatome als Matrix und mindestens Halogenatome als an ihrem Aufbau beteiligte Atome enthält, wobei die lichtempfangende Schicht bezüglich der Schichtdickenrichtung ein derartiges Tiefenprofil aufweist, daß die Konzentration der darin enthaltenen Halogenatome von der Substratseite aus in . Richtung auf die Oberfläcnenseite des fotoleitfähigen Aufzeich-25 nungselements zunimmt.
- 2. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konzentration der Halogenatome in der lichtempfangenden Schicht von der Substratseite aus bis zu dem mittleren Abschnitt der lichtempfangenden Schicht Null ist.
- 3. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abschnitt mit der maximalen Halogenatomkonzentration in der lichtempfangenden Schicht eine einzelne Stelle der Oberfläche ist.B/22Dresdner Bank (München) KIo. 3939 844Bayer. Vereinsbank (München) Kto. 508 941Postscheck (München) Kto. 670-43-804-2- DE 3577
- 4. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abschnitt mit der maximalen Halogenatomkonzentration in der lichtempfangenden Schicht einen Dickenbereich umfaßt.
- 5. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halogenatomkonzentration in der lichtempfangenden Schicht kontinuierlich ansteigt.
- 6. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Halogenatomkonzentration in der lichtempfangenden Schicht stufenweise ansteigt.
- 7. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Wasserstoffatome enthalten sind.
- 8. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Konzentration der Halogenatome in der lichtempfangenden Schicht in dem Abschnitt der Schicht mit der maximalen Halogenatomkonzentration innerhalb des Bereichs von 0,01 bis 40 ■ Atom-% liegt.
- 9. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.
- 10. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.-3- DE 3577
- 11. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Wasserstoffatome und Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.
- 12. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Wasserstoffatome und Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 13. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht mindestens eine aus Sauerstoffatomen, Kohlenstoffatomen und Germaniumatomen ausgewählte Atomart enthalten ist.
- 14. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht ferner entweder Atome der Gruppe III oder Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 15. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht mindestens eine aus Sauerstoffatomen, . Kohlenstoffatomen und Germaniumatomen ausgewählte Atomart enthalten ist.
- 16. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ferner zwischenQQ dem Substrat und der lichtempfangenden Schicht eine untere Schicht vorgesehen ist, die aus einem amorphen, mikrokristallinen oder polykristallinen Material besteht, das Siliciumatome als Matrix und mindestens eine aus Wasserstoffatomen und Halogenatomen ausgewählte Atomarton enthält.-4- DE 3577
- 17. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.
- 18. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 19. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht mindestens eine aus Sauerstoffatomen, Kohlenstoffatomen und Germaniumatomen ausgewählte Atomart enthalten ist.
- 20. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht ferner entweder Atome der Gruppe III oder Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 21. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ferner auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die Siliciumatome als Matrix und mindestens eine aus Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen ausgewählte Atomart enthält.
- 22. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ferner auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die aus einem in hohem Maße dielektrischen organischen Material besteht.BAD ORIGINAL-5- DE 3577■*·
- 23. Fotoleitf ähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß ferner auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die Siiiciumatome als Matrix und mindestens eine aus Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen ausgewählte Atomart enthält.
- 24. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß ferner auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die aus einem in hohem Maße dielektrischen organischen Material besteht.
- ***
15
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ID=16890069
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| Country | Link |
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| US (1) | US4529679A (de) |
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| DE3201081C2 (de) | ||
| DE3152399C2 (de) | ||
| DE3151146C2 (de) | ||
| DE3247526A1 (de) | Fotoleitfaehiges element | |
| DE3415620C2 (de) | ||
| DE3248369A1 (de) | Fotoleitfaehiges element | |
| DE3200376C2 (de) | ||
| DE3242611C2 (de) | ||
| DE3309627C2 (de) | ||
| DE3346043C2 (de) | ||
| DE3308165C2 (de) | ||
| DE3412267C2 (de) | ||
| DE3241351C2 (de) | ||
| DE3447687C2 (de) | ||
| DE3440336A1 (de) | Fotoleitfaehiges aufzeichnungsmaterial | |
| DE3416982A1 (de) | Photoleitfaehiges aufzeichnungselement | |
| DE3414099C2 (de) | ||
| DE3401083C2 (de) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition |