DE3346043A1 - Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement - Google Patents
Fotoleitfaehiges aufzeichnungselementInfo
- Publication number
- DE3346043A1 DE3346043A1 DE19833346043 DE3346043A DE3346043A1 DE 3346043 A1 DE3346043 A1 DE 3346043A1 DE 19833346043 DE19833346043 DE 19833346043 DE 3346043 A DE3346043 A DE 3346043A DE 3346043 A1 DE3346043 A1 DE 3346043A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- atoms
- recording element
- photoconductive recording
- element according
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 142
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 50
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 38
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 25
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 9
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 9
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 claims description 7
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 4
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical group [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 2
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 claims 1
- 239000013080 microcrystalline material Substances 0.000 claims 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 description 26
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 25
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 16
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 12
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- -1 Polyethylene Polymers 0.000 description 5
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical class [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 5
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 4
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 3
- 229910052990 silicon hydride Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 230000036541 health Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 241000894007 species Species 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 2,3,4-trinitrofluoren-1-one Chemical compound C1=CC=C2C3=C([N+](=O)[O-])C([N+]([O-])=O)=C([N+]([O-])=O)C(=O)C3=CC2=C1 FKNIDKXOANSRCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100495845 Caenorhabditis elegans cht-1 gene Proteins 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- 241000589614 Pseudomonas stutzeri Species 0.000 description 1
- 229910003691 SiBr Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008284 Si—F Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M chlorogallium Chemical compound [Ga]Cl XOYLJNJLGBYDTH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000039 hydrogen halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012433 hydrogen halide Substances 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical group 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002835 noble gases Chemical class 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000001850 reproductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000013517 stratification Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
- G03G5/08228—Silicon-based comprising one or two silicon based layers at least one with varying composition
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Description
Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement
Die Erfindung betrifft ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement,
das auf elektromagnetische Wellen wie Licht, worunter im weitesten Sinne UV-Strahlen, sichtbares
Licht, IR-Strahlen, Röntgenstrahlen und ^-Strahlen
zu verstehen sind, anspricht bzw. gegenüber elektromagnetischen Wellen empfindlich ist.
Fotoleitfähige Materialien, aus denen Bilderzeugungselemente für elektrofotografische Zwecke in Festkörper-Bildaufnahmevorrichtungen
bzw. -Bildabtastvurrichtungen
oder auf dem Gebiet der Bilderzeugung oder fotoleitfähige
Schichten in Manuskript-Lesevorrichtungen gebildet werden,, müssen eine hohe Empfindlichkeit, ein hohes
S/N-Verhältnis bzw. einen hohen Störabstand £ Fotostrom
(I )/Dunkelstrom (I ,)J , Spektraleigenschaften, die an die elektromagnetischen Wellen, mit denen bestrahlt
werden soll, angepaßt sind, ein schnelles Ansprechen auf Licht bzw. eine gute lichtelektrische Empfindlichkeit
B/13
BAD
μ , ψ m « A *
- 7 - DE 3545
und einen gewünschten Wert des Dunkelwiderstands haben
und dürfen während der Anwendung nicht gesundheitsschädlich sein. Ferner ist es bei einer Festkörper-Bildabtastvorrichtung
auch notwendig, daß das Restbild innerhalb einer vorausberechneten Zeit leicht behandelt bzw.
beseitigt werden kann. Im Fall eines Bilderzeugungselements für elektrofotografische Zwecke, das in eine
für die Anwendung in einem Büro als Büromaschine vorgesehene elektrofotografische Vorrichtung eingebaut werden
soll, ist es besonders wichtig, daß das Bilderzeugungselement nicht gesundheitsschädlich ist.
Von dem vorstehend erwähnten Gesichtspunkt aus hat amorphes Silicium (nachstehend als a-Si bezeichnet)
in neuerer Zeit als fotoleitfähiges Material Beachtung gefunden. Beispielsweise sind aus der DE-A 2 746 967
und der DE-A 2 855 718 Anwendungen von a-Si für den Einsatz in Bilderzeugungselementen für elektrofotografische
Zwecke bekannt, und aus der DE-A 2 933 411 ist eine Anwendung von a-Si für den Einsatz in einer Lesevorrichtung
für einen fotoelektrischen Wandler bekannt.
Bei den bekannten fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen
mit aus a-Si gebildeten fotoleitfähigen Schichten sind jedoch hinsichtlich der Ausgewogenheit der Gesamteigenschaften,
wozu elektrische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften wie z* B. der Dunkelwiderstandswert,
die Lichtempfindlichkeit und das Ansprechen auf Licht sowie Eigenschaften bezüglich des Einflusses von Umgebungsbedingungen
während der Anwendung wie die Feuchtigkeitsbeständigkeit und ferner die Beständigkeit mit dem Ablauf
der Zeit gehören, weitere Verbesserungen erforderlich.
Beispielsweise wird im Fall der Anwendung in einem Bilderzeugungselement für elektrofotografische Zwecke
oft beobachtet, daß während seiner Anwendung ein Rest-
BAD ORIGINAL
- 8 - DE 3545
potential verbleibt, wenn gleichzeitig Verbesserungen hinsichtlich der Erzielung einer höheren Lichtempfindlichkeit
und eines höheren Dunkelwiderstandes angestrebt werden. Wenn ein solches fotoleitfähiges Aufzeichnungselement
über eine lange Zeit wiederholt verwendet wird, werden verschiedene Schwierigkeiten, beispielsweise
eine Anhäufung von Ermüdungserscheinungen durch wiederholte Anwendungen oder die sogenannte Geisterbild-Erscheinung,
wobei Restbilder erzeugt werden, hervorgerufen.
Ferner wurde bei einer Vielzahl von Versuchen, die von den Erfindern durchgeführt wurden, zwar festgestellt,
daß a-Si als Material, das die fotoleitfähige Schicht eines Bilderzeugungselements für elektrofotografische
Zwecke bildet, im Vergleich zu bekannten anorganischen fotoleitfähigen Materialien wie z. B.
Se, CdS oder ZnO oder zu bekannten organischen fotoleitfähigen Materialien wie z. B. Polyvinylcarbazol oder
Trinitrofluorenon eine Anzahl von Vorteilen aufweist,
jedoch wurde auch festgestellt, daß bei a-Si noch Probleme gelöst werden müssen. Wenn die fotoleitfähige
Schicht eines Bilderzeugungselements für elektrofotografische Zwecke mit einem aus einer a-Si-Monoschicht
gebildeten fotoleitfähigen Element, dem Eigenschaften gegeben worden sind, die es für die Anwendung in einer
bekannten Solarzelle geeignet machen, einer Ladungsbehandlung zur Erzeugung von elektrostatischen Ladungsbildern
unterzogen wird, ist nämlich die Dunkelabschwächung bzw. der Dunkelabfall auffällig schnell, weshalb es
schwierig ist, ein übliches elektrofotografisches Verfahren
anzuwenden. Diese Neigung ist unter einer feuchten Atmosphäre noch stärker ausgeprägt, und zwar in manchen
Fällen in einem solchen Ausmaß, daß vor der Entwicklungszeit überhaupt keine Ladung beibehalten werden kann.
- 9 - DE 3545
Ferner können a-Si-Materialien als am Aufbau beteiligte
Atome Wasserstoffatome oder Halogenatome wie z. B.
Fluoratome oder Chloratome zur Verbesserung ihrer elektrischen und Fotoleitfähigkeitseigenschaften, Atome
wie Boratome oder Phosphoratome zur Regulierung des Typs der elektrischen Leitung und andere Atome zur
Verbesserung anderer Eigenschaften enthalten. In Abhängigkeit
von der Art und Weise, in der diese am Aufbau beteiligten Atome enthalten sind, können manchmal Prob-1^
lerne bezüglich der elektrischen oder Fotoleitfähigkeitseigenschaften der gebildeten Schicht verursacht werden.
Besonders in der Nähe der Oberfläche oder an der Grenzfläche zwischen den aneinander angrenzenden Schichten
werden die Probleme des Verhaltens der Ladungen, das in Abhängigkeit von der Art, den Gehalten und den Verteilungsprofilen
der enthaltenen Atome verschiedenartig verändert wird, oder der Stabilität der Struktur sehr
wichtig, und es ist nicht selten eine Schlüsselfrage für
^O die Erzielung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements,
das seine Funktion in der gewünschten Weise erfüllt, ob die Regulierung dieses Abschnitts erfolgreich
ist oder nicht.
Besonders bei der Herstellung eines a-Si enthaltenden lichtempfindlichen Aufzeichnungselements durch . ein
allgemein bekanntes Verfahren treten in vielen Fällen Schwierigkeiten auf, beispielsweise hinsichtlich der
Reproduzierbarkeit der Bilder oder der Haltbarkeit 30
des Aufzeichnungselements. Obwohl der Mechanismus,
durch den diese Schwierigkeiten hervorgerufen werden, bisher noch nicht geklärt ist, kann es sich bei der
Unzulänglichkeit bezüglich der Reproduziereigenschaften
vermutlich um das Problem der Fähigkeit zum Transport 35
von Ladungen in der Nähe der Oberfläche oder an der
BAD ORIGINAL
- 10 - DE 3545
* Schichtgrenzfläche handeln, während es sich bei der
Unzulänglichkeit bezüglich der Haltbarkeit um ein Problem handeln kann, das durch eine Änderung der Struktur
in der Nähe der Oberfläche oder an der Schichtgrenz-
in der Nähe der Oberfläche oder an der Schichtgrenz-
fläche hervorgerufen wird. Infolgedessen kann es nicht selten besser sein, wenn die Schicht in der Nähe der
Grenzfläche auf der Grundlage einer ein wenig anderen Überlegung gestaltet wird als im Hauptteil der Schicht.
im Hinblick auf die Lösung der vorstehend erwähnten
Probleme wurden erfindungsgemäß ausgedehnte Untersuchungen hinsichtlich der Anwendbarkeit und Brauchbarkeit
von a-Si als fotoleitfähiges Material für elektrofotografische Bilderzeugungselemente, Festkörper-Bildabtastvorrichtungen
und Lesevorrichtungen usw. durchgeführt. Als Ergebnis dieser Untersuchungen wurde nun gefunden,
daß ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement mit einer fotoleitfähigen Schicht, deren Schichtstruktur eine
Fotoleitfähigkeit zeigende lichtempfangende Schicht aufweist, die aus sogenanntem hydriertem, amorphem
Silicium oder halogenhaltigen), hydriertem amorphem Silicium, einem amorphen Material, das in einer Matrix
von Siliciumatomen, insbesondere von a-Si, mindestens eine aus Wasserstoffatomen (H) und Halogenatomen (X)
ausgewählte Atomart enthält, ^nachstehend als a-Si(H,X) bezeichnet^ gebildet ist, nicht nur für die praktische
Anwendung außerordentlich gute Eigenschaften zeigt, sondern auch den bekannten fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen im wesentlichen in jeder Hinsicht überlegen
ist und insbesondere im Fall der Anwendung als fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement für elektrofotografische Zwecke besonders hervorragende Eigenschaften hat, wenn
dieses fotoleitfähige Aufzeichnungselement bei seiner
Herstellung so gestaltet wird, daß es eine besondere
35 Struktur hat, die nachstehend beschrieben wird.
BAD ORIGINAL
- 11 - DE 3545
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement
zur Verfügung zu stellen, dessen elektrische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften
in konstanter Weise stabil und für alle Umgebungen geeignet sind, d. h. , faktisch keine Abhängigkeit von
der Umgebung zeigen, in der das Aufzeichnungselement
verwendet wird, und das eine ausgeprägte Beständigkeit gegenüber der Licht-Ermüdung zeigt, ohne daß eine Verschlechterungserscheinung
hervorgerufen wird, wenn es wiederholt verwendet wird, und kein oder im wesentlichen
kein beobachtetes Restpotential zeigt.
Ferner soll durch die Erfindung ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement mit ausgezeichneten elektrofotografischen
Eigenschaften zur Verfügung gestellt werden, das während einer zur Erzeugung von elektrostatischen
Ladungsbildern durchgeführten Ladungsbehandlung in einem Ausmaß, das dazu ausreicht, daß mit dem fotoleitfähigen
Aufzeichnungselement im Fall deiner Anwendung als Bilderzeugungselement für elektrofotografische
Zwecke ein übliches Elektrofotografieverfahren sehr wirksam angewandt werden kann, zum Tragen bzw. Festhalten
von Ladungen befähigt ist.
Durch die Erfindung ^oll auch ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement
für elektrofotografische Zwecke zur Verfugung gestellt werden, mit dem leicht Bilder hoher
Qualität, die eine hohe Dichte, einen klaren Halbton und eine hohe Auflösung zeigen, erzeugt werden können.
Des weiteren soll durch die Erfindung ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement mit einer hohen Lichtempfindlichkeit,
einem hohen S/N-Verhältnis und einem guten elektrischen Kontakt zwischen den laminierten
Schichten zur Verfügung gestellt werden.
Die Aufgabe der Erfindung wird durch ein fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement mit den im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Die bevorzugten Ausführungsformen der erfindungsgemäßen
fotoleitfähigen Aufzeichnungselemente werden nachstehend
unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert.
Die Fig. 1, 2 und 4 zeigen jeweils eine schematische
Schnittansicht, die zur Erläuterung einer Ausführungsform des Aufbaus des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
dient.
Fig. 3 ist eine schematische Abbildung des Tiefenprofils der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht
des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselements.
Fig. 5 ist eine Zeichnung, die eine Vorrichtung für die Herstellung des fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
durch das Glimmentladungs-Zersetzungsverfahren zeigt.
Die Fig. 6 bis 10 sind graphische Darstellungen der Analysenergebnisse des Tiefenprofils der Wasserstoffatome
in fotoleitfähigen Aufzeichnungselementen gemäß Beispielen der Erfindung.
Fig. 11 ist eine graphische Darstellung des Analysenergebnisses des Tiefenprofils der Wasserstoffatome
in der Oberflächenschicht eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
gemäß einem Beispiel der Erfindung.
BAD ORIGINAL
S· · 4
I ft * ι
- 13 - DE 3545
Fig. 12 ist eine graphische Darstellung des Analysenergebnisses des Tiefenprofils der Wasserstoffatome in
einem fotoleitfähigen Aufzeichnungselement gemäß einem
Vergleichsbeispiel.
5
5
Fig. 13 ist eine graphische Darstellung des Ergebnisses eines Wiederholungsversuchs, der nach Beendigung aller
Versuche mit derselben Probe wie in Fig. 12 durchgeführt wurde.
Fig. 1 zeigt eine schematische Schnittansicht, die zur Erläuterung des Schichtaufbaus einer bevorzugten
Ausführungsform des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselement dient.
Das fotoleitfähige Aufzeichnungselement 100 ist aus einer lichtempfangenden Schicht 103 aufgebaut, die
aus a-Si(H,X) oder im wesentlichen aus a-Si(H,X) besteht, Fotoleitfähigkeit zeigt und auf einem Träger 101 für
ein fotoleitfähiges Aufzeichnungselement gebildet ist, wie es in Fig. 1 gezeigt wird, oder über eine dazwischen
befindliche untere Schicht 102 auf einem solchen Träger gebildet ist, wie es in Fig. 2 gezeigt wird. Die in
der liehtempfangenden Schicht enthaltenen Wasserstoffatome sind mit einem Tiefenprofil verteilt, das in
der zu der Trägeroberfläche parallelen Richtung gleichmäßig ist, jedoch nimmt ihr Gehalt in der Richtung
der Schichtdicke der liehtempfangenden Schicht auf beide Enden dieser Schicht hin ab, wie es in Fig. 3
30 gezeigt wird.
Die Wasserstoffatome, die in der liehtempfangenden Schicht
103 enthalten sind, müssen, wie vorstehend beschrieben wurde, in dem inneren Teil der lichtempfanwenden Schicht
einen größeren Gehalt haben als an den beiden Enden, und die Gehalte an den beiden Enden können in Abhän-
BAD ORIGINAL
- 14 - DE 3545
gigkeit von dem Material, das mit der lichtempfanwenden
Schicht in Berührung gebracht wird, einander gleich oder verschieden sein. Andererseits kann der Abschnitt
in dem inneren Teil der lichtempfangenden Schicht, der den Höchstwert des Wasserstoffatorngehalts aufweist,
einen bestimmten Bereich in der Dickenrichtung umfassen oder nur eine einzelne Stelle in der Dickenrichtung
bilden. Ferner macht es keinen wesentlichen Unterschied, ob der Wasserstoffatomgehalt kontinuierlich oder stufenweise
geändert wird, um den Gehalt der Wasserstoffatome in Richtung auf die Endabschnitte zu vermindern, und
es ist eine Frage der geeigneten Wahl, die von der Ausgewogenheit zwischen der für das Bilderzeugungselement
erforderlichen Funktion und den Einrichtungen für die Herstellung des fotoleitfähigen Aufzeichnungselement
abhängt, welche Art des Tiefenprofils vorgesehen werden
sollte.
Als Ursache dafür, daß das erfindungsgemäße fotoleitfähige Aufzeichnungselement, das eine lichtempfangende
Schicht aufweist, die so gebildet ist, daß der Wasserstoffgehalt auf diese Weise in Richtung auf ihre beiden
Enden abnimmt, bezüglich der Reproduzierbarkeit der Bilder hervorragend ist und eine ausgezeichnete Haltbarkeit
zeigt, wenn es als lichtempfindliches Aufzeichnungselement für elektrofotografische Zwecke verwendet wird,
kann die Struktur der lichtempfangenden Schicht vermutet werden, in der der Gehalt der Wasserstoffatome,
die leicht bei relativ niedrigeren Temperaturen von Siliciumatomen abgespalten werden, in der Nähe der
Oberfläche oder an der Grenzfläche zwischen der lichtempfangenden Schicht und der unteren Schicht oder dem
Träger, d. h., an den Stellen in der lichtempfangenden
Schicht, die während der Fertigung und der Anwendung am meisten für Strukturänderungen anfällig sind, vermindert
ist.
BAD ORiGiWAL
-15- DE 3545
* Der Gehalt der Wasserstoff atome in der lichternpf anwenden
Schicht 103 kann in dem Schichtabschnitt mit dem Höchstwert, nämlich im mittleren Teil der 1Lchtempfangenden
Schicht, vorzugsweise 0,1 bis 40 Atom-% und insbesondere 1 bis 30 Atom-% betragen, während er in dem Abschnitt
mit dem Mindestwert, nämlich an den Enden der lichtempfangenden Schicht, vorzugsweise 0,05 bis 30 Atom-%
und insbesondere 0,3 bis 20 Atom-% betragen kann. Die Differenz zwischen dem Abschnitt mit dem Höchstwert
und dem Abschnitt mit dem Mindestwert kann vorzugsweise 0,01 bis 35 Atom-% und insbesondere 0,1 bis 25 Atom-%
betragen.
Als von Siliciumatomen, Wasserstoffatomen und Halogenatomen,
die in der lichtempfangenden Schicht 103 enthalten sind, verschiedene Bestandteile können Atome der
Gruppe III des Periodensystems wie z. B. Bor oder
Gallium, Atome der Gruppe V wie z. B. Stickstoff, Phosphor oder Arsen als Bestandteile für die Regulierung der Breite des verbotenen Bandes oder Fermi-Niveaus und ferner Sauerstoffatome, Kohlenstoffatome, Germaniumatome und andere entweder einzeln oder in einer geeigneten Kombination davon enthalten sein.
Gallium, Atome der Gruppe V wie z. B. Stickstoff, Phosphor oder Arsen als Bestandteile für die Regulierung der Breite des verbotenen Bandes oder Fermi-Niveaus und ferner Sauerstoffatome, Kohlenstoffatome, Germaniumatome und andere entweder einzeln oder in einer geeigneten Kombination davon enthalten sein.
Die untere Schicht 102 ist vorgesehen, um die Haftung zwischen der lichtempfangenden Schicht und dem Träger
zu verbessern oder um die Fähigkeit zum Behindern von Ladungen zu regulieren, und sie kann als Monoschicht
oder als Mehrfachschicht einer a-Si(H,X)-Schicht oder mikrokristallinen Si(H,X)-Schicht, die in Abhängigkeit
von dem Zweck Atome der Gruppe III, Atome der Gruppe V, Sauerstoffatome, Kohlenstoffatome, Germaniumatome
usw. enthält, gebildet werden. Wenn die untere Schicht 102 aus einer a-Si(H,X)-Schicht besteht, ist es auch
ähnlich wie im Fall der vorstehend erwähnten licht-
BAD ORIGINAL
- 16 - DE 3545
empfangenden Schicht erwünscht, daß der Wasserstoffatomgehalt
innerhalb der unteren Schicht in Richtung auf die Schichtgrenzfläche zwischen der lichternpfangenden
Schicht und der unteren Schicht vermindert wird.
5
5
Ferner kann auf der lichtempfangenden Schicht 103 eine obere Schicht, wie sie in Fig. 4 gezeigt wird, als
zur Verhinderung einer Ladungsinjektion dienende Schicht oder als Schutzschicht vorgesehen werden, wobei die
obere Schicht aus einem eine große Menge von Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen, Sauerstoffatomen usw. enthaltenden
amorphen Silicium besteht oder eine organische Substanz mit hohem Widerstand enthält. Auch im Fall
der oberen Schicht wird diese Schicht geeigneterweise so gebildet, daß der Wasserstoffgehalt innerhalb dieser
Schicht in Richtung auf die Grenzfläche zwischen der lichtempfangenden Schicht und der oberen Schicht und
in Richtung auf die Oberfläche der oberen Schicht abnimmt.
Der im Rahmen- der Erfindung einzusetzende Träger kann entweder elektrizitätsleitend oder isolierend sein.
Als elektrizitätsleitendes Material können Metalle wie z. B. NiCr, rostfreier Stahl, Al, Cr, Mo, Au, Nb,
Ta, V, Ti, Pt und Pd oder deren Legierungen erwähnt werden.
Als isolierende Träger können üblicherweise Folien oder Platten aus Kunstharzen, wozu beispielsweise PoIyester,
Polyethylen, Polycarbonat, Celluloseacetat, Polypropylen, Polyvinylchlorid, Polyvinylidenchlorid,
Polystyrol und Polyamid gehören, Gläser, keramische Stoffe, Papiere und andere Materialien eingesetzt werden.
Diese isolierenden Träger sollten vorzugsweise mindestens eine Oberfläche haben, die einer Behandlung unterzogen
worden ist, durch die sie elektrizitätsleitend gemacht
- 17 - DE 3545
wurde, und andere Schichten werden geeigneterweise
auf der Seite des Trägers vorgesehen, die durch eine solche Behandlung elektrizitätslei tend gemacht worden
ist.
5
5
Ein Glas kann beispielsweise elektrizitätsleitend gemacht
werden, indem auf dem Glas eine Dünnschicht aus NiCr,
Al, Cr, Mo, Au, Ir, Nb, Ta, V, Ti, Pt, In3O3, SnO
oder ITO (Jh2O3 + SnO2) gebildet wird. Alternativ
kann die Oberfläche einer Kunstharzfolie wie z. B. einer Polyesterfolie durch Vakuumbedampfung, Elektronenstrahl-Abscheidung
oder Zerstäubung eines Metalls wie z. B. NiCr, Al, Ag, Pb, Zn, Ni, Au, Cr, Mo, Ir, Nb,
Ta, V, Ti oder Pt oder durch Laminieren eines solchen
Metalls auf die Oberfläche elektrizitätsleitend gemacht werden. Der Träger kann in irgendeiner Form ausgebildet
werden, die in gewünschter Weise festgelegt werden kann. Wenn das in Fig. 1 gezeigte fotoleitfähige Aufzeichnungselement
100 beispielsweise als Bilderzeugungselement für elektrofotografische Zwecke eingesetzt
werden soll , kann es für die Verwendung in einem kontinuierlichen, mit hoher Geschwindigkeit durchgeführten
Kopierverfahren geeigneterweise in Form eines endlosen Bandes oder eines Zylinders gestaltet werden. Der
Träger kann eine Dicke haben, die in geeigneter Weise so festgelegt wird, daß ein gewünschtes fotoleitfähiges
Aufzeichnungselement gebildet werden kann. Wenn das fotoleitfähige Aufzeichnungselement flexibel sein muß,
wird der Träger mit der Einschränkung, daß er die Funktion eines Trägers ausüben können muß, so dünn wie
möglich hergestellt. In einem solchen Fall hat der Träger jedoch unter Berücksichtigung seiner Herstellung
und Handhabung sowie seiner mechanischen Festigkeit vorzugsweise eine Dicke von 10 pm oder eine größere
35 Dicke.
BAD ORIGINAL
- 18 - DE 3545
Im Rahmen der Erfindung kann eine aus a-Si(H,X) bestehende lichtempfangende Schicht durch ein Vakuumbedampfungsverfahren
unter Anwendung der Entladungserscheinung, z. B. durch das Ölimmentladungsverfahren, das Zerstäubungsverfahren
oder das Ionenplattierverfahren, gebildet werden. Das grundlegende Verfahren für die Bildung
der aus a-Si(H,X) gestehenden lichternpfangenden Schicht
durch das Glimmentladungsverfahren besteht beispielsweise darin, daß ein gasförmiges Ausgangsmaterial für die
Zuführung von Si, das dazu geeignet ist, Siliciumatome
(Si) zuzuführen, zusammen mit einem gasförmigen Ausgangsmaterial für die Einführung von Wasserstoffatomen (H)
und, falls erwünscht, Halogenatomen (X) in eine Abscheidungskammer,
die im Inneren auf einen verminderten Druck gebracht werden kann, eingeleitet und in der
Abscheidungskammer eine Glimmentladung angeregt wird, wodurch auf der Oberfläche eines Trägers, der in eine
vorher festgelegte Lage gebracht wurde, eine aus a-Si (H,X) bestehende Schicht gebildet wird. Alternativ
kann für die Bildung durch das Zerstäubungsverfahren ein Gas für die Einführung von Wasserstoff atomen (H)
und, falls dies gewünscht wird, Halogenatomen (X) in die Abscheidungskammer für die Zerstäubung eingeleitet
werden, wenn ein aus Si gebildetes Target in einer Atmosphäre eines Inertgases wie z. B. Ar oder He oder
einer Gasmischung auf Basis dieser Gase zerstäubt wird.
Als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Zuführung von Si, das im Rahmen der Erfindung einzusetzen ist,
können gasförmige oder vergasbare Siliciumhydride (Silane)
wie z. B. SiH4, Si2H6, Si3II8 und Si4H10 und andere
als wirksame Materialien erwähnt werden. SiH4 und Si?Hfi
werden im Hinblick auf ihre einfache Handhabung während der Schichtbildung und auf den Wirkungsgrad bezüglich
35 der Zuführung von Si besonders bevorzugt.
BAD ORIGINAL
- 19 - DE 3545
Im Rahmen der Erfindung können in die Ii chteinp fangende
Schicht Wasserstoffatome eingeführt werden, indem in eine Abscheidungskammer ein Gas, das hauptsächlich
aus H„ oder Siliciumhydrid wie z. B. SiH., SipHg, Si3HQ
5 oder Si4H1n besteht, eingeleitet und darin eine Entladung
angeregt wird.
Als wirksame gasförmige Ausgangsmaterialien für die Einführung von Halogenatomen, die im Rahmen der Erfindung
einzusetzen sind, können eine Vielzahl von Halogenverbindungen, beispielsweise gasförmige Halogene, Halogenide,
Interhalogenverbindungen oder gasförmige oder vergasbare Halogenverbindungen wie z. B. mit Halogenen
substituierte Silanderivate erwähnt werden. Ferner können auch gasförmige oder vergasbare, Halogenatome
enthaltende Siliciumverbindungen, die als am Aufbau beteiligte Atome Siliciumatome und Halogenatome enthalten,
als im Rahmen der Erfindung wirksame Ausgangsmaterialien für die Einführung von Halogenatomen erwähnt
20 werden.
Als typische Beispiele von Halogenverbindungen, die im Rahmen der Erfindung vorzugsweise eingesetzt werden,
können gasförmige Halogene wie z. B. Fluor, Chlor, Brom oder Jod und Interhalogenverbindungen wie z. B.
BrF, ClF, ClF3, BrF5, BrF3, JF3, JF7, JCl und JBr erwähnt
werden.
Als Halogenatome enthaltende Siliciumverbindungen, d. h., als mit Halogenen substituierte Silanderivate,
können vorzugsweise Siliciumhalogenide wie z. B. SiF4, Si-F,., SiCl4 oder SiBr eingesetzt werden.
Wenn die Wasserstoffatome enthaltende lichtempfangende Schicht durch das Glimmentladungsverfahren gebildet
BAD ORIGINAL
- 20 - DE 3545
werden soll, besteht die grundlegende Verfahrensweise
darin, daß ein gasförmiges Siliciumhydrid als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Zuführung von Si und ein Gas
wie z. B. Ar, H ' oder He in einem vorausberechneten Mischungsverhältnis und mit vorausberechneten Gasdurchflußgeschwindigkeiten
in eine Abscheidungskammer für die Bildung der lichtempfangenden Schicht eingeleitet
werden und in der Abscheidungskammer eine Glimmentladung
angeregt wird, was zu einer Plasrnaatmosphäre dieser
Gas führt, wodurch die lichtempfangende Schicht auf einem gewünschten Träger gebildet' werden kann. Zur
Einführung von Halogenatomen kann für die Schichtbildung ferner eine gasförmige, Halogenatome enthaltende SiIiciumverbindung
in einer vorausberechneten Menge mit diesen Gasen vermischt werden. Die jeweiligen Gase
können nicht nur als einzelne Spezies, sondern auch in Form einer Mischung von mehr als einer Spezies eingesetzt
werden.
Für die Bildung der a-Si(H.X) enthaltenden lichtempfangenden
Schicht durch das Zerstäubungs- oder das Ionenplattierverfahren kann beispielsweise im Fall des Zerstäubungsverfahrens
ein Si-haltiges Target verwendet werden, und dieses Target wird in einer bestimmten
Gasplasmaatmosphäre zerstäubt. Alternativ wird im Fall des Ionenplattierverfahrens ein polykristallines Silicium
oder Einkristall-Silicium als Verdampfungsquelle in
ein Aufdampfungsschiffchen hineingebracht, und die
Verdampfungsquelle wird durch Erhitzen mittels des V/iderstandsheizverfahrens oder des Elektronenstrahlverfahrens
verdampft, um ein fliegendes, verdampftes Produkt herzustellen, dem ein Durchtritt durch eine bestimmte
Gasplasmaatmosphäre ermöglicht wird.
BAD ORIGINAL
- 21 - DE 3545
Sowohl beim Zerstäubung^- als auch beim Iunenplattierverfahren
können in die gebildete Schicht Wasserstoffatome eingeführt werden, indem ein Gas wie v.. B. H,, oder
die vorstehend erwähnten Silane in die Abseheidungükammer
eingeleitet und eine Plasmaatmosphäre aus diesem Gas gebildet wird.
Ferner können für die Einführung von Halogenatomen als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Einführung
von Halogenatomen die vorstehend erwähnten Halogenidverbindungen oder Halogenatome enthaltenden Siliciumverbindungen
in Form eines Gases in die Abscheidungskammer eingeleitet werden, und darin kann eine Plasmaatmosphäre
aus diesem Gas gebildet werden. Als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Einführung von Halogenatomen können
die vorstehend erwähnten Halogenverbindungen oder Halogene ~ enthaltenden Siliciumverbindungen in wirksamer Weise
eingesetzt werden. Ferner ist es auch möglich, als wirksames Ausgangsmaterial für die Bildung der licht-
empfangenden Schicht eine gasförmige oder vergasbare Substanz wie z. B. einen Halogenwasserstoff, ζ. Β.
HF, HCl, HBr oder HJ, oder ein halogensubstituiertes Siliciumhydrid wie z. B. SiH2F3, SiH3J2, SiH3Cl2, SiHCl3,
SiH0Br0 oder SiHBr„ einzusetzen.
Diese Halogenide, die Wasserstoffatome enthalten und
während der Bildung der lichtempfangenden Schicht gleichzeitig mit der Einführung von Halogenatomen in die
Schicht Wasserstoffatome, die für die Regulierung der
elektrischen oder fotoelektrischen Eigenschaften sehr wirksam sind, einführen können, können im Rahmen der
Erfindung vorzugsweise als Ausgangsmaterial für die Einführung von Halogenatomen eingesetzt werden.
BAD ORIGINAL
- 22 - DE 3545
^ Andererseits kann beispielsweise im Fall des reaktiven
Zerstäubungsverfahrens ein Si-Target verwendet werden, und Hp-Gas, ggf. zusammen mit einem Gas für die Einfuhrung
von Halogenatomen, kann, auch einschließlich von Inertgasen wie z. B. He oder Ar, in die Abscheidungskarnmer
eingeleitet werden, um eine Plasmaatmusphä're zu bilden, in der das vorstehend erwähnte Si-Target
zerstäubt wird, wodurch auf dem Träger die aus a-Si(H,X) bestehende lichtempfangende Schicht gebildet werden
kann.
Ferner können zum Dotieren mit Fremdstoffen Gase wie z. B. BH in.die Abscheidungskammer eingeleitet werden.
Um die Mengen der Wasserstoffatome (H) und Halogenatome (X), die, falls erwünscht, in die lichtempfangende
Schicht hineinzugeben sind, zu regulieren, kann beispielsweise mindestens eine Art der folgenden Faktoren
reguliert werden: Die Trägertemperatur und/oder die Mengen der Ausgangsmaterialien für den Einbau von Wasserstoffatomen
(H) oder Halogenatomen (X), die in das Abscheidungsvorrichtungssystem einzuleiten sind, oder
die Entladungsleistung.
Um in der lichtempfangenden Schicht und der unteren Schicht einen Schichtbereich zu bilden, der von Siliciumatomen,
Wasserstoffatomen und Halogenatomen verschiedene, zusätzliche Atome enthält, kann das Ausgangsmaterial
für die Einführung solcher zusätzlichen Atome zusammen mit dem vorstehend erwähnten Ausgangsmaterial für die
Bildung der lichtempfangenden Schicht während der Bildunp, einer lichtempfangenden Schicht durch das Glimmentladungsverfahren
oder das reaktive Zerstäubungsverfahren eingesetzt werden, während die in die gebildete Schicht
35 hineingegebene Menge reguliert wird.
BAD ORIGINAL
- 23 - DE 3545
Wenn für die Bildung der zusätzliche Atome enthaltenden Schicht, die die lichtempfangende Schicht bildet, das
Glimmentladungsverfahren angewandt wird, können die Ausgangsmaterialien für die zur Bildung dieses Schichtbereichs
dienenden Rohgase gebildet werden, indem zu dem Material, das in geeigneter Weise aus den vorstehend
erwähnten Ausgangsmaterialien für die Bildung der lichtempfangenden Schicht ausgewählt wurde, ein Ausgangsmaterial
für die Einführung von zusätzlichen Atomen gegeben wird. Als ein solches Ausgangsmaterial für die Einführung
zusätzlicher Atome können die meisten gasförmigen oder vergasbaren Substanzen in vergaster Form, die als am
Aufbau beteiligte Atome mindestens die zusätzlichen Atome enthalten, eingesetzt werden.
Als Ausgangsmaterial für die Einführung zusätzlicher Atome, das im Rahmen der Erfindung in wirksamer Weise
eingesetzt werden kann, können hauptsächlich B?H6'
GaCl3 und BF3 als Material für die Einführung von Atomen
der Gruppe III, PH3 und AsH3 usw. als Material für
die Einführung von Atomen der Gruppe V, NO, NpO und
Op usw. als Material für die Einführung von Sauerstoffatomen,
CH4, CpHg, C3H8, C4H10 und C3H4 usw. als Material
für die Einführung von Kohlenstoffatomen und NH3 und N- usw. als Material für die Einführung von Stickstoffatomen
erwähnt werden.
Im Rahmen der Erfindung können als verdünnendes Gas, das bei der Bildung der lichtempfangenden Schicht durch
das Glimmentladungs- oder das Zerstäubungsverfahren einzusetzen ist, vorzugsweise Edelgase wie z. B. He,
Ne oder Ar eingesetzt werden.
Als nächstes wird ein Beispiel des Verfahrens zur Herstellung des erfindungsgemäßen fotoleitfähigen Aufzeich-
- 24 - DE 3545
nungselements durch das Glimmentladungs-Zersetzungsverfahren
beschrieben.
Fig. 5 zeigt eine Vorrichtung für die Herstellung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements.
In Gasbomben 1102 bis 1106, die in Fig.. 5
gezeigt werden, sind luftdicht abgeschlossene, gasförmige Ausgangsmaterialien für die Bildung der erfindungs-
IQ gemäßen fotoleitfähigen Aufzeichnungselemente enthalten.
Beispielsweise ist 1102 eine Bombe, die SiH.-Gas (Reinheit: 99,99 %) enthält, ist 1103 eine Bombe, die mit
H- verdünntes BpH6-GaS (Reinheit: 99,99 %; nachstehend
kurz als "BOHC/H_" bezeichnet) enthält, ist 1104 eine
Bombe, die NO-Gas (Reinheit: 99,99 %) enthält, ist 1105 eine Bombe, die CH.-Gas (Reinheit: 99,99 %) enthält,
und ist 1106 eine Bombe, die SiF4-GaS (Reinheit: 99,99 %)
enthält. Außer diesen Bomben können, obwohl dies in Fig. 5 nicht gezeigt wird, auch weitere Bomben
mit gewünschten Gasspezies bereitgestellt werden, falls
sie erforderlich sind.
Um diese Gase in eine Reaktionskammer 1101 hineinströmen zu lassen, wird zuerst ein Hauptventil 1134 geöffnet,
um die Reaktionskammer 1101 und die Gas-Rohrleitungen
zu evakuieren, nachdem bestätigt worden ist, daß Ventile 1122 bis 1125 der Gasbomben 1102 bis 1105 und ein Belüftungsventil
1135 geschlossen und Einströmventile 1112 bis 1115, Ausströmventile 1117 bis 1120 und ein Hilfsventil
1132 geöffnet sind. Als nächster Schritt werden das Hilfsventil 1132 und die Ausströmventile 1117 bis
1120 geschlossen, wenn der an einer Vakuummeßvorrichtung 1136 abgelesene Druck 6,7 nbar erreicht hat.
BAD ORIGINAL
- 25 - DE 3545
Nachstehend wird ein Beispiel für die Bildung einer lichtempfindlichen Schicht des Schichtlaminattyps auf
einem zylindrischen Substrat 1137 erläutert. SiHL-Gas
aus der Gasbombe 1102, B_HC/H„-Gas aus der Gasbombe
c. D ά
1103 und NO-Gas aus der Gasbombe 1104 werden in die Reaktionskammer 1101 hineinströmen gelassen, indem
die Ventile 1122, 1123 und 1124 so geöffnet werden, daß die Drücke an Auslaßmanometern 1127, 1128 und 1129
jeweils auf einen Wert von 0,98 bar einreguliert werden, und indem die Einströmventile 1112, 1113 und 1114 geöffnet
werden und Durchflußreguliervorrichtungen 1107, . 1108 und 1109 und das Hilfsventil 1132 allmählich geöffnet
werden. Die Ausströmventile 1117, 1118 und 1119 werden so reguliert, daß das Durchflußgeschwindigkeits-Verhältnis
von SiH.-, BpH-/H?- und NO-Gas einen gewünschten
Wert hat, und auch die Öffnung des Hauptventils 1134 wird reguliert, während die Ablesung an der Vakuummeßvorrichtung
1136 beobachtet wird, und zwar so, daß der Druck in der Reaktionskammer einen gewünschten
Wert erreicht. Nachdem bestätigt worden ist, daß die Temperatur des zylindrischen Substrats 1137 durch eine
Heizvorrichtung 1138 auf 50 bis 4000C eingestellt wurde,
wird eine Stromquelle 1140 auf eine gewünschte Leistung eingestellt, um in der Reaktionskammer 1101 eine Glimm-
25 entladung anzuregen.
Gleichzeitig werden die Entladungsleistung, die Substrattemperatur
oder andere Faktoren so reguliert, daß das vorher entworfene Profil des Wasserstoffgehalts erhalten
werden kann, und die Ventile 1118 und 1119 werden in dem Sinne betätigt, daß die entsprechende, gewünschte
Änderung der Plasmabedingungen erhalten und auf diese Weise eine untere Schicht gebildet wird, während die
Durchflußgeschwindigkeit der zugegebenen Gase entspre-
35 chend verändert wird.
BAD ORlGiNAL
- 26 - DE 3545
Als nächster Schritt werden die Bildung der lichtempfangenden Schicht und manchmal zusätzlich die Bildung
der oberen Schicht auf der lichtempfangenden Schicht durchgeführt. Der Wasserstoffatomgehalt kann ähnlich
wie bei der Bildung der vorstehend beschriebenen unteren Schicht reguliert werden, und die erforderlichen Ventile
und Regulierteile werden gleichzeitig mit der Regulierung der Entladungsleistung und der Substrattemperatur betätigt,
falls dies erwünscht ist.
Natürlich werden alle Ausströmventile mit Ausnahme der Ausströmventile, die für die bei der Bildung der
einzelnen Schichten notwendigen Gase benötigt werden, geschlossen, und um zu verhindern, daß bei der Bildung
der vorhergehenden Schicht eingesetzte Gase in der Reaktionskammer 1101 und in den Rohrleitungen von den
Ausströmventile 1117 bis 1120 zu der Reaktionskammer
1101 verbleiben, kann ein Verfahren durchgeführt werden, bei dem das System einmal bis zur Erzielung eines hohen
Vakuums evakuiert wird, indem die Ausströmventile 1117 bis 1120 geschlossen werden und das Hilfsventil 1132
bei vollständiger Öffnung des Hauptventils 1134 geöffnet wird, falls dies erwünscht ist.
Während der Schichtbildung kann das zylindrische Substrat
1137 mittels eines Motors 1139 mit einer konstanten Geschwindigkeit gedreht werden, um die Schichtbildung
gleichmäßig zu machen.
Das erfindungsgemäße fotoleitfähige Aufzeichnungselement,
das so gestaltet ist, daß es den vorstehend beschriebenen Schichtaufbau hat, kann alle Probleme, die vorstehend
erwähnt wurden, überwinden und hervorragende elektrische, optische und Fotoleitfähigkeitseigenschaften sowie
gute Eigenschaften gegenüber dem Einfluß von Umgebungs-
- 27 - DE 3545
1 bedingungen bei der Anwendung zeigen.
Besonders im Fall seiner Anwendung als Bilderzeugungselement für elektrofotografische Zwecke ist es hervorragend
zum Festhalten von Ladung befähigt, ohne daß die Bilderzeugung überhaupt durch ein Restpotential
beeinflußt wird, sind seine elektrischen Eigenschaften stabil mit einer hohen Empfindlichkeit und zeigt es
ein hohes S/N-Verhältnis sowie eine ausgezeichnete Beständigkeit gegenüber der Licht-Ermüdung und hervorragende
Eigenschaften bei der wiederholten Anwendung, wodurch es möglich ist, in stabiler Weise und wiederholt
sichtbare Bilder mit hoher Qualität, die eine hohe Dichte, einen klaren Halbton und eine hohe Auflösung
15 haben, zu erhalten.
Die Erfindung wird durch die nachstehenden Beispiele näher erläutert.
20 Beispiel 1
Mittels der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung für die Herstellung eines fotoleitfähigen Aufzeichnungselements
wurden auf einem zylindrischen Träger aus Aluminium durch das vorstehend erwähnte Glimmentladungsverfahren aufeinanderfolgend eine untere Schicht und eine lichtempfangende Schicht gebildet. Die Herstellungsbedingungen für die einzelnen Schichten werden in Tabelle 1 gezeigt. Von dem erhaltenen zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselement wurde ein Teil abgeschnitten, und unter Anwendung eines Sekundärionen-Massenspektrometers wurde eine quantitative Bestimmung des Wasserstoffgehalts in der Richtung der Schichtdicke durchgeführt, wobei als Ergebnis das in Fig. 6 gezeigte Tiefenprofil erhalten wurde. Ferner wurde der restliche Teil
wurden auf einem zylindrischen Träger aus Aluminium durch das vorstehend erwähnte Glimmentladungsverfahren aufeinanderfolgend eine untere Schicht und eine lichtempfangende Schicht gebildet. Die Herstellungsbedingungen für die einzelnen Schichten werden in Tabelle 1 gezeigt. Von dem erhaltenen zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselement wurde ein Teil abgeschnitten, und unter Anwendung eines Sekundärionen-Massenspektrometers wurde eine quantitative Bestimmung des Wasserstoffgehalts in der Richtung der Schichtdicke durchgeführt, wobei als Ergebnis das in Fig. 6 gezeigte Tiefenprofil erhalten wurde. Ferner wurde der restliche Teil
BAD ORIGINAL
33A6043
- 28 - DE 3545
des zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselernents
zur Bildbewertung in eine elektrofotografische Vorrichtung eingesetzt. Die Bildbewertung wurde durchgeführt,
indem unter einer normalen Umgebung Bilder in einer Gesamtzahl von 200.000 Blatt erzeugt wurden,
und jeweils eine Probe pro 10.000 Blatt wurde im Hinblick darauf bewertet, ob sie bezüglich der Dichte, der Auflösung,
der Reproduzierbarkeit der Helligkeitsabstufung und der Bildfehler usw. gute oder schlechte Eigenschaften
hatte. Als Ergebnis wurde bestätigt, daß jede Probe ein Bild mit sehr hoher Qualität aufwies.
Dann wurde dieses zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselement
in einem elektrischen Ofen 2 h lang
!5 auf 3000C erwärmt und nach dem Abkühlen wieder in die
elektrofotografische Vorrichtung eingesetzt, worauf wieder eine Bilderzeugung durchgeführt wurde. Als Ergebnis
wurde überhaupt keine Änderung beobachtet. Ferner wurde dieses zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselement
danach in einen Belichtungsversuchsbehälter hineingebracht, in dem an der Wandoberfläche
Halogenlampen angebracht waren und eine gleichmäßige Bestrahlung eines zylindrischen lichtempfindlichen
Aufzeichnungselements durchgeführt werden konnte, und
2
eine 200 mW/cm entsprechende Belichtung wurde 24 h lang kontinuierlich durchgeführt. Nach der Abkühlung wurde die Bilderzeugung wieder durchgeführt, jedoch wurde auch in diesem Fall überhaupt keine Änderung beobachtet.
eine 200 mW/cm entsprechende Belichtung wurde 24 h lang kontinuierlich durchgeführt. Nach der Abkühlung wurde die Bilderzeugung wieder durchgeführt, jedoch wurde auch in diesem Fall überhaupt keine Änderung beobachtet.
Durch die vorstehend beschriebenen Versuche wurde bestätigt, daß dieses zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselement
unter Bedingungen haltbar ist, die viel strenger sind als die Umgebungsbedingungen bei der
praktischen Verwendung. Auf diese Weise würde experimentell bestätigt, daß eine Verbesserung ohne eine damit
BAD
- 29 - DE 3545
verbundene Nebenwirkung erzielt werden kann, indem das Verhalten der Wasserstoffatome innerhalb der lichtempfangenden
Schicht, die gegenüber der äußeren Umgebung relativ empfindlich ist, insbesondere dadurch beherrscht
wird, daß der Gehalt der Wasserstoffatome an der Schichtgrenzfläche,
wo leicht eine Änderung dieses Gehalts auftritt, vermindert wird.
Ein zylindrisches lichtempfindliches Aufzeichnungselement
wurde durch das gleiche Verfahren wie in Beispiel 1 hergestellt, jedoch wurde die lichtempfangende Schicht
direkt auf einem zylindrischen Träger aus Aluminium vorgesehen. Die Einzelheiten über die Herstellungsbedingungen
werden in Tabelle 1 gezeigt. Mit diesem zylindrischen lichtempfindlichen Aufzeichnungselement wurden
genau die gleiche Analyse des Wasserstoffatomgehalts und der gleiche Bildbewertungs- und Haltbarkeitsversuch
durchgeführt. Als Ergebnis wurde das in Fig. 7 gezeigte Tiefenprofil der Wasserstoffatome erhalten, und die
Ergebnisse des Bildbewertungs- und Haltbarkeitsversuchs
waren genauso gut wie in Beispiel 1.
25 Beispiele 3 bis 5
Zylindrische lichtempfindliche Aufzeichnungselemente
wurden hergestellt, indem das Verfahren von Beispiel 1 wiederholt wurde, wobei die Tiefenprofile der Wasserstoffatome
jedoch in der in den Fig. 8 bis 10 gezeigten Weise verändert wurden, und auf die gleiche Weise bewertet.
Als Ergebnis wurde in jedem Fall festgestellt, daß die gleiche hohe Bildqualität wie in Beispiel 1
beibehalten werden konnte.
BAD ORIGINAL
DE 3545
1
Beispiele 6 bis 10
Auf die einzelnen Abscheidungsfilme die durch die gleichen Verfahren wie in den Beispielen
1 bis 5 hergestellt worden waren, wurden unter den in Tabelle 1 gezeigten Herstellungsbedingungen kontinuierlich
obere Schichten laminiert, während das Vakuum beibehalten wurde. Das Analysen^rgebnis des Tiefenprofils
der Wasserstoffatome in den erhaltenen oberen Schichten wird in Fig. 11 gezeigt. Als Ergebnis der Bildbewertung,
die ähnlich wie in Beispiel 1 durchgeführt wurde, wurde festgestellt, daß das hohe Qualitätsniveau beibehalten
werden konnte, ohne daß überhaupt eine Beeinträchtigung der Bildqualität eintrat.
Ein zylindrisches lichtempfindliches Aufzeichnungselement
wurde durch das gleiche Verfahren wie in Beispiel 1 hergestellt, jedoch wurde die Art des Tiefenprofils
der Wasserstoff atome in der in Fig. 12 gezeigten Weise so verändert, daß der Gehalt der Wasserstoffatome am
Oberflächenabschnitt der lichtempfangenden Schicht erhöht wurde. Als dieses zylindrische lichtempfindliche
Aufzeichnungselement ähnlich wie in Beispiel 1 bewertet wurde, wurden sowohl hinsichtlich der gewünschten Bilder
als auch hinsichtlich des Einflusses von Änderungen der Umgebungsbedingungen auf die Bilder in einer Kopiervorrichtung
Ergebnisse erhalten, die den Ergebnissen in Beispiel 1 im wesentlichen gleichwertig waren. Sowohl
beim Tempern bei hoher Temperatur als auch bei der Belichtung wurden jedoch eine Potentialverminderung
und ein verstärktes Auftreten von Bildfehlern beobachtet, und infolgedessen wurde das Ergebnis erhalten, daß
ein Material gebildet wurde, dessen Haltbarkeit im Fall der Erhöhung der Anzahl der erzeugten Bilder auf
BAD ORIGINAL
- 31 - DE 3545
die für die praktische Anwendung gebräuchliche Größenordnung
von 1.000.000 Blatt zweifelhaft ist.
Nachdem alle Versuche mit diesem zylindrischen lichtempfindlichen
Aufzeichnungselement beendet waren, wurde
wieder eine Analyse des Wasserstoffatomgehalts durchgeführt,
wobei die in Fig. 13 gezeigten Ergebnisse erhalten wurden. Aus diesen Ergebnissen sind Änderungen ersichtlich,
die die Tatsache bestätigen, daß die vorstehend erwähnte Verschlechterung mit dem Entweichen oder der
Diffusion von Wasserstoffatomen in Verbindung steht.
BAD
| ω ω cn o |
Untere Schicht |
to cn |
13,56 | to ο Tabelle |
1 | Li chtempfangende Schi cht |
1 | - | H-* H-* cn ο |
6 | cn | : 20 : 600 |
π-· | I ω no I |
| Beispiel Nr. | SiH4 : H2 : B2H6 : NO : |
SiH4 : 300 H2 : 1200 |
2 | - 10 | ^0,15-^0,05 | |||||||||
| Schicht | 0,1 - 0 | 0,02 -> 0,1 -> 0, | Li chtempfangende Schicht |
Obere Schi cht |
- 0,3 -* 0,12 | |||||||||
| Verwendete Gase und deren Durch f1ußgeschwin- digkeit (Norm-cm3/s) |
's) 1'2 ' | 150 600 0,45 |
0,4 — 1 ,5 - 0, | 02 | SiH4 : 300 B2H6 : 0,03 NO : 10,2 |
SiH4 CH4 |
200,0 nm | |||||||
| Entladungs- leistung (W/cm2) |
3 Mm | ,03 | 22 Mm | 4 | 0,01 ·*■ 0,15 -»■ 0,01 | 0,03- | ||||||||
| Schichtbildungs- geschwi ndi gkei t(nm |
1,07 ■* | * 0,4 | 1 ,52 -* 1 ,60 -* 1 , | 0 , 3 -*· 1 ,8 -*■ 0 , 3 | 0,1 -* | |||||||||
| Schichtdicke | 250 | 250 | 52 | 25 Mm | ||||||||||
| Druck während der Reaktion (mbar) |
1 ,04 | 13,56 | 0,39 -* 0,43 -+ 0,39 | 0,53 | ||||||||||
| ZyIindertemperatur (0C) |
250 | 250 | ||||||||||||
| Entladungs frequenz (MHz) |
13,56 | 13,56 | ||||||||||||
CjO CO
Zl
- Leerseite -
Claims (28)
- PatentansprücheQFotoleitfähiges Aufzeichnungselement, gekenndurch einen Träger und eine auf dem Träger vorgesehene lichtempfangende Schicht, die Fotoleitfähigkeit zeigt und Siliciumatome als Matrix und mindestens Wasserstoffatome als an ihrem Aufbau beteiligte Atome 20 enthält, wobei die lichtempfangende Schicht einen
Schichtbereich mit einem derartigen Tiefenprofil aufweist, daß der Gehalt der darin enthaltenen Wasserstoffatome in der Richtung der Schichtdicke auf beide Enden dieser Schicht hin abnimmt.25 30 - 2. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gehalte der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht an den beiden Enden gleich sind.
- 3. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gehalte der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht an den beiden Enden verschieden sind»35B/13Dresdner Bank iMi."-h«nl Kto. 3939- Postsrheck [Munchonl KIo. 670-43-804- 2 - DE 3545
- 4. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Tiefenprofil der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht einen Höchstwert hat.
- 5. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Abschnitt mit dem Höchstwert einen Bereich umfaßt.
- 6. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Tiefenprofil der Wasserstoffatome auf die beiden Endabschnitte hin unter kontinuierlicher Änderung abnimmt.
- 7. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Tiefenprofil der Wasserstoffatome auf die beiden Endabschnitte hin unter stufenweiser Änderung abnimmt.
- 8. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Tiefenprofil der Wasserstoffatome auf die beiden Endabschnitte hin unter kontinuierlicher Änderung in einer Richtung und unter stufenweiser Änderung in der anderen Richtung25 abnimmt.
- 9. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt der Wasserstoffatome 'in der lichtempfangenden Schicht in dem Abschnitt mit dem Höchstwert innerhalb des Bereichs von 0,1 bis 40 Atom-% liegt.
- 10. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht in dem Abschnitt mit dem Mindestwert innerhalb desϋβ en33Α60Α3- 3 - DE 35451 Bereichs von 0,05 bis 30 Atom-% liegt.
- 11. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenz im Wasserstoffatomgehalt in der lichtempfangenden Schicht zwischen dem Abschnitt mit dem Höchstwert und dem Abschnitt mit dem Mindestwert innerhalb des Bereichs von 0,01 bis 35 Atom-% liegt.
- 12. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Gehalt der Wasserstoffatome in der lichtempfangenden Schicht in dem Abschnitt mit dem Höchstwert 0,1 bis 40 Atom-% und in dem Abschnitt mit dem Mindestwert 0,05 bis 30 Atom-% und die Differenz im Wasserstoffatomgehalt zwischen dem Abschnitt mit dem Höchstwert und dem Abschnitt mit dem Mindestwert 0,01 bis 35 Atom-% beträgt.
- 13. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Halogenatome enthalten sind.
- 14. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.
- 15. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 16. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Halogenatome und Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.- 4 - DE 3545
- 17. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Halogenatome und Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 18, Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nachAnspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Träger und der lichtempfangenden Schicht eine untere Schicht vorgesehen ist, die aus einem amorphen oder IQ einem mikrokristallinen Material besteht, das Siliciumatome als Matrix und mindestens eine aus Wasserstoffatomen und Halogenatomen ausgewählte Atomart als am Aufbau beteiligte Atome enthält.j5
- 19. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die untere Schicht ferner mindestens eine aus Sauerstoffatomen, Kohlenstoffatomen und Germaniumatomen ausgewählte Atomart enthält.
- 20. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nachAnspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht Atome der Gruppe III des Periodensystems enthalten sind.
- 21. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nachAnspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß in der unteren Schicht Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.
- 22. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nachAnspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß in der lichtempfangenden Schicht Atome der Gruppe III und Atome der Gruppe V des Periodensystems enthalten sind.- 5 - DFJ 3545
- 23, Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die Siliciumatome als Matrix und mindestens eine aus Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen ausgewählte Atomart als am Aufbau beteiligte Atome enthält.
- 24. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die Siliciumatome als Matrix und eine organische Substanz mit hohem Widerstand als Bestandteil enthält.
- 25. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf der licht-, empfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die ein organisches Material mit hohem elektrischen Widerstand enthält.
- 26. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die Siliciumatome als Matrix und mindestens eine aus Kohlenstoffatomen, Stickstoffatomen und Sauerstoffatomen ausgewählte Atomart enthält.
- 27. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß auf der lichtempfangenden Schicht eine obere Schicht vorgesehen ist, die ein organisches Material mit hohem elektrischen Widerstand enthält.
- 28. Fotoleitfähiges Aufzeichnungselement nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die untere Schicht ferner entweder Atome der Gruppe III oder Atome der Gruppe V des Periodensystems enthält.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57222095A JPS59113447A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 電子写真用光導電部材 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3346043A1 true DE3346043A1 (de) | 1984-06-20 |
| DE3346043C2 DE3346043C2 (de) | 1987-07-23 |
Family
ID=16777050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19833346043 Granted DE3346043A1 (de) | 1982-12-20 | 1983-12-20 | Fotoleitfaehiges aufzeichnungselement |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4555465A (de) |
| JP (1) | JPS59113447A (de) |
| DE (1) | DE3346043A1 (de) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62170968A (ja) * | 1986-01-23 | 1987-07-28 | Hitachi Ltd | アモルフアスシリコン電子写真感光体およびその製造方法 |
| JPH07122756B2 (ja) * | 1986-10-14 | 1995-12-25 | ミノルタ株式会社 | 感光体とその製造方法 |
| JPH07122757B2 (ja) * | 1986-10-14 | 1995-12-25 | ミノルタ株式会社 | 感光体とその製造方法 |
| JPH0727268B2 (ja) * | 1986-10-14 | 1995-03-29 | ミノルタ株式会社 | 感光体とその製造方法 |
| DE69326878T2 (de) * | 1992-12-14 | 2000-04-27 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Lichtempfindliches Element mit einer mehrschichtigen Schicht mit erhöhter Wasserstoff oder/und Halogenatom Konzentration im Grenzflächenbereich benachbarter Schichten |
| JP4171428B2 (ja) * | 2003-03-20 | 2008-10-22 | 三洋電機株式会社 | 光起電力装置 |
| JP5777419B2 (ja) * | 2010-06-28 | 2015-09-09 | キヤノン株式会社 | 電子写真感光体および電子写真装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3211081A1 (de) * | 1981-03-25 | 1982-11-18 | Kawamura, Takao, Sakai, Osaka | Lichtempfindliches element |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2095030B (en) * | 1981-01-08 | 1985-06-12 | Canon Kk | Photoconductive member |
| US4423133A (en) * | 1981-11-17 | 1983-12-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoconductive member of amorphous silicon |
-
1982
- 1982-12-20 JP JP57222095A patent/JPS59113447A/ja active Granted
-
1983
- 1983-12-16 US US06/561,991 patent/US4555465A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-12-20 DE DE19833346043 patent/DE3346043A1/de active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3211081A1 (de) * | 1981-03-25 | 1982-11-18 | Kawamura, Takao, Sakai, Osaka | Lichtempfindliches element |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0213297B2 (de) | 1990-04-03 |
| DE3346043C2 (de) | 1987-07-23 |
| JPS59113447A (ja) | 1984-06-30 |
| US4555465A (en) | 1985-11-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3136141C2 (de) | ||
| DE3243928C2 (de) | Fotoleitfähiges Element | |
| DE3116798C2 (de) | ||
| DE3215151C2 (de) | ||
| DE3201146C2 (de) | ||
| DE3346891C2 (de) | ||
| DE3201081C2 (de) | ||
| DE3415620C2 (de) | ||
| DE3143764A1 (de) | Photoleitfaehiges element | |
| DE3433473C2 (de) | ||
| DE3200376C2 (de) | ||
| DE3433507C2 (de) | ||
| DE3309627C2 (de) | ||
| DE3242611C2 (de) | ||
| DE3346043C2 (de) | ||
| DE3309219C2 (de) | ||
| DE3308165C2 (de) | ||
| DE3447687C2 (de) | ||
| DE3412267C2 (de) | ||
| DE3241351C2 (de) | ||
| DE3414099C2 (de) | ||
| DE3307573C2 (de) | ||
| DE3401083C2 (de) | ||
| DE3339969C2 (de) | ||
| DE3430923C2 (de) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition |