DE3011064A1

DE3011064A1 - Einrichtung zur feststellung der scharfeinstellung

Info

Publication number: DE3011064A1
Application number: DE19803011064
Authority: DE
Inventors: Toru Fukuhara; Ken Utagawa
Original assignee: Nippon Kogaku KK
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1979-03-22
Filing date: 1980-03-21
Publication date: 1980-10-02
Also published as: US4322616A

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung.

Beispielsweise aus der offengelegten japanischen Patentanmeldung NO. 7 323/1979 ist eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung für eine einäugige Spiegelreflexkamera bekannt, bei der aus dem Licht, das durch die Scharfeinstellplatte der einäugigen Spiegelreflexkamera verläuft, eine erste Abbildung und eine zweite Abbildung durch zwei Wiederabbildungslinsen erzeugt und die Scharfeinstellung des Objektives aus den Änderungen der Lage der ersten und zweiten Abbildung in Bezug auf zwei zur Feststellung der Bildlage dienende photoelektrische Wandler festgestellt wird, die auf den oder in der Nähe der Brennebenen der beiden Rekonstruktionslinsen angeordnet sind.

Diese bekannte Einrichtung hat jedoch die folgenden Nachteile, die unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert werden sollen. Dabei zeigt Fig. 1 eine Darstellung der Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach dem Stand der Technik. Wie sich aus Fig. 1 ergibt, wird ein Lichtstrahl, der durch ein Aufnahmeobjektiv 1 verläuft, auf die Brennebene einer Fokussierungsplatte konvergiert und dann divergiert; ein Teil des Lichtstrahls, der durch das Objektiv verläuft, wird durch zwei Bild-Rekonstruktionslinsen 3 und 3', die symmetrisch in Bezug auf. die optische Achse des Objektivs 1 angeordnet sind, konvergiert und auf den Lichtempfangsoberflächen von zwei photoelektrischen Wandlern 4 und 4' abgebildet.

Die beiden photoelektrischen Elemente 4 und 4' dienen als photoelektrische Wandler zur Feststellung der Bildlage und weisen im einzelnen eine Gruppe von photoelektrischen Elementen auf. In diesem Zusammenhang muß darauf hingewiesen werden, daß die Verteilungen der Intensitäten der Be-

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strahlung auf den Lichtempfangsoberflächen der photoelektrischen Elemente 4 und 4' für ein Objekt einander gleich sein müssen. Dies ist darauf zurückzuführen, daß die Feststellung der Scharfeinstellung durch Vergleich der photoelektrischen Ausgangssignale für den gleichen Bereich einer Abbildung (des Lichtbildes) erfolgt.

Wenn nun Lichtstrahlen auf die obere Lichtempfangsoberfläche 4a, die mittlere Lichtempfangsoberfläche 4c und. die untere Lichtempfangsoberfläche 4b des photoelektrischen Elementes 4 fallen, werden sie von diesen Lichtempfangsoberflächen durch die Rekonstruktionslinse 3 umgekehrt auf die Austrittspupille des Objektives 1 projiziert, so daß sich der aus Fig. 1 zu erkennende Strahlenverlauf ergibt. D.h. also, daß der die öffnung a₁ a₂ a_ bildende Lichtstrahl auf die obere Lichtempfangsoberfläche 4a und der die Öffnung C₁ C₂ c, bildende Lichtstrahl auf die mittlere Lichtempfangsoberfläche 4c fallen. Diese öffnungen a ₁ a₂ a^j und C₁. C₂. c., werden durch die effektive Blende bzw. Blendenzahl bzw. Blendenöffnung der Rekonstruktionslinse 3 bestimmt und haben im wesentlichen die gleiche Größe. Wenn jedoch die umgekehrte Projektion auf die untere Lichtempfangsoberfläche 4b auf die gleiche Weise wie bei den beiden oben erwähnten Lichtempfangsoberflächen durchgeführt wird, so weist der Lichtstrahl, der durch die Bildrekonstruktionslinse 3 auf die Lichtempfangsoberfläche 4b fallen sollte, eine öffnung b.. b~ b₃ auf; wenn jedoch der Pupillendurchmesser des Objektivs klein ist, wird ein Teil des Lichtstrahls am oberen Ende des Objektivs 1 abgeschnitten bzw. vignettiert, so daß nur der Lichtstrahl, der die öffnung b'.. b? ^b3 b^ildet' ^{auf die} untere Lichtempfangsoberfläche 4b fallen kann. Dies bedeutet beispielsweise folgendes: Wenn ein Objekt mit gleichmäßiger Helligkeitsverteilung gemessen wird, wird die Intensität der Bestrahlung an der unteren Lichtempfangsoberfläche 4b im Vergleich mit den Intensitäten der Bestrahlung auf der oberen Licht-

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empfangsoberfläche 4a und der mittleren Lichtempfangsoberfläche 4c reduziert. Auf der Lichtempfangsoberfläche des photoelelctrischen Elementes 4 kann also keine Verteilung der Bestrahlungsintensität erhalten werden, die der Helligkeitsverteilung des aufzunehmenden Objektes entspricht.

Dieser Effekt tritt in gleicher Weise an dem anderen photoelektrischen Element 4' auf, d.h., die Bestrahlungsintensität auf der oberen Lichtempfangsoberfläche 4^ra, auf die der Lichtstrahl auftrifft, der an dem unteren Ende des Objektivs 1 abgeschnitten bzw. vignettiert wird, wird unter die Bestrahlungsintensitäten auf der mittleren Lichtempfangsoberf lache 4'c und der unteren Lichtempfangsoberfläche 4'b verringert. Nun ist zwar die Abbildung, die auf der Lichtempfangsoberfläche 4b erzeugt wird, identisch mit der Abbildung, die auf der Lichtempfangsoberfläche 4'a erzeugt wird? die Reproduzierbarkeit der Bestrahlungs inten si tat. der Abbildung für das Objekt unterscheidet sich bzw. differiert jedoch von Bereich zu Bereich, so daß die Helligkeitsverteilungen der Abbildungen auf den photoelektrischen Elementen 4 und 4" nicht identisch werden. Dementsprechend können die photoelektrischen Äusgangssignale der photoelektrischen Elemente 4 und 4' nicht in der gewünschten Weise miteinander verglichen werden, so daß es zu Fehlern bei der Feststellung der Scharfeinstellung kommt.

Es ist deshalb ein erstes Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung vorzuschlagen, bei der die ungünstige Wirkung der Vignettierung, die sich aus der Größe des Pupillendurchmessers des Objektivs ergibt, vermieden wird, so daß sich die Scharfeinstellung sehr exakt feststellen läßt.

Es ist ein zweites Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung für eine einäugige Spiegelreflexkamera zu schaffen, bei der bei der Benutzung mehrerer Wechselobjektive in Verbindung mit der

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Kamera die ungünstige Wirkung der Vignettierung vermieden wird, die sich aus der Größe der Austrittspupillen des Objektivs ergibt, so daß sich die Scharfeinstellung sehr exakt feststellen läßt.

Die vorliegende Erfindung schlägt deshalb eine Konstruktion vor, mit der diese Ziele erreicht werden; diese Konstruktion weist eine Abschirmung auf, die im wesentlichen symmetrisch in Bezug auf die optische Achse des Objektivs einen Teil der die Abbildung erzeugenden Lichtstrahlen abschirmt, die von dem Objektiv und den beiden zur Bildrekonstruktion dienenden optischen Systemen geliefert werden, um aus dem Objektlicht, das durch das Objektiv verläuft, eine erste Abbildung bzw. eine zweite Abbildung auf zwei photoelektrischen Wandlern zu erzeugen.

Die Erfindung schafft also eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung, bei der aus dem durch ein optisches System zur Bilderzeugung verlaufenden Objektlicht eine erste Abbildung und eine zweite Abbildung durch zwei optische Systeme für die Bildrekonstruktion erzeugt werden; die Scharfeinstellung des optischen Systems für die Bilderzeugung in Bezug auf das Objekt wird aus den Lageänderungen der ersten und zweiten Abbildung in Bezug auf zwei photoelektrische Wandler festgestellt, die auf den oder in der Nähe der Brenn- bzw. Bildebenen der beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion angeordnet sind; weiterhin ist eine Abschirmung vorgesehen, um im wesentlichen symmetrisch in Bezug auf die optische Achse des optischen Systems für die Bilderzeugung einen Teil der Lichtstrahlen abzuschirmen, welche die erste und zweite, auf den beiden photoelektrischen Wandlern durch das optische System für die Bilderzeugung und die beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion erzeugten Abbildungen bilden.

Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbei-

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" 1 C —

spielen unter Bezugnahme auf die beiliegenden, schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen

Fig. 1 eine herkömmliche Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung,

Fig. 2 eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach der vorliegenden Erfindung,

Fig. 3 eine Korrektureinrichtung für die Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach der vorliegenden Erfindung, und

Fig. 4 den bei der Ausführungsform nach Fig. 3 verwendeten -Abschirmmechanismus.

Wie sich aus Fig. 2 ergibt, sind Abschirmplatten 5 und 5' von der äußeren ümfangsseite der Bildrekonstruktionslinsen

3 und 3' in Richtung auf die optische Achse des Objektivs

1 eingeschoben bzw. eingeführt. Damit verläuft der auf die Lichtempfarigsoberflache 4b des photoelektrischen Elementes

4 fallende Lichtstrahl durch eine öffnung b'.. b~ b-, und wird nicht variiert, während ein Teil der Lichtstrahlen, die auf die Lichtempfangsoberflächen 4a und 4c fallen, durch die Abschirmplatte 5 abgeschirmt wird5 diese Lichtstrahlen verlaufen dementsprechend durch die öffnungen a^/ ₁ a.j a^ bzw. c'₁ c„ c_, so daß ihre öffnungswinkel abnehmen. In ähnlicher Weise werden die Lichtstrahlen, die auf die Lichtempfangsoberflächen 4 ^!h und 4'c des photoelektrischen Elementes 4' fallen, ebenfalls abgeschirmt.

Wenn dementsprechend die Strecken, in welche die Abschirmplatten 5 und 5' in den Strahlengang der Lichtempfangsoberfläche vorstehen, so ausgelegt werden, daß beim Verlauf der Lichtstrahlen durch das Objektiv und bei ihrem Auftreffen auf die Lichtempfangsoberflächen 4a, 4c und 4'b, 4'c der Lichtstrahl, der von den Platten 5 und 5' abge-

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schirmt wird, im wesentlichen mit dem Lichtstrahl zusammenfällt, der von dem Objektiv 1 abgetrennt bzw. vignettiert wird, so werden die Strahlungsintensitäten auf den Lichtempfangsoberflächen der photoelektrischen Elemente 4 und 4' gleichmäßig. Da die Bildrekonstruktionslinsen 3 und 3' symmetrisch in Bezug auf die optische Achse des Objektivs angeordnet sind, müssen die Abschirmplatten 5 und 5' die Lichtstrahlen, die durch das Objektiv verlaufen sind und zu den Lichtempfangsoberflächen 4a, 4c und 4'b, 4'c gelangen, im wesentlichen symmetrisch abschirmen.

Die Fig. 3 und 4 zeigen spezifische Ausführungsformen eines optischen Systems zur Feststellung der Scharfeinstellung und einer Korrektureinrichtung. Die Lichtstrahlen, die aus dem Objektiv 1 ausgetreten sind, werden an einem Hauptspiegel 6 reflektiert, passieren eine Mattscheibe bzw. Einstellplatte 13 und eine Kondensorlinse 14, werden weiterhin an einem Halbspiegel 7 reflektiert und verlaufen durch die Bildrekonstruktionslinsen 3 und 3' zu den photoelektrischen Elementen 4 und 4'. Bei dieser Konstruktion wird die oben beschriebene Abschirmung auf folgende Weise erreicht: Ein Korrektursignalstift 8 ist an dem Tubus 15 des Objektivs 1 angebracht, insbesondere in den Tubus-15 eingesetzt; wenn das Objektiv 1 an ein Kameragehäuse (nicht dargestellt) angesetzt wird, wird die Stirnfläche 5a der Abschirmplatte 5 in Fig. 4 in Richtung des Pfeils gedrückt.

Wie sich aus Fig. 4 ergibt, sind die Abschirmplatten 5 und 5' durch eine Rückführfeder 12 so vorgespannt, daß sie einander nahekommen (so daß die Abschirmplatte 5 in Richtung des Uhrzeigersinns um einen Drehpunkt 9 und die Abschirmplatte 5' in Richtung gegen den Uhrzeigersinn um einen Drehpunkt 9' geschwenkt werden). Deshalb befinden sich die Abschirmplatten 5 und 5' vor der Anbringung eines

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Wechselobjektivs in einer Lage, bei der sie sich über eine relativ große Strecke in die Strahlengänge der Bildrekonstruktionslinsen 3 und 3' vorgeschoben haben.

Durch Ausüben des oben erwähnten Druckes gegen die Stirnfläche 5a zieht sich der Abschirmbereich 5b eine vorgegebene Strecke aus dem Strahlengang der Bildrekonstruktionslinse 3 zurück und die Strecke wird festgelegt, die der Abschirmbereich in den Strahlengang vorsteht. Auf diese Weise wird die erwartete Abschirmung eingestellt. Ein Stift 10 ist an der Abschirmplatte 5 angebracht, insbesondere in die Abschirmplatte 5 eingesetzt. Der Stift 10 paßt in eine Nut 11, die in der Abschirmplatte 5' vorgesehen ist. Dementsprechend wird auch die Abschirmplatte 5' um eine vorgegebene Strecke aus dem Strahlengang der Bildrekonstruktionslinse 3^f zurückgezogen, und zwar als Ergebnis davon, daß die Lage des Stiftes 10 in Abhängigkeit von der Drehung der Abschirmplatte 5 verschoben wird, so daß auch diese Abschirmplatte eine vorgegebene Strecke in den Strahlengang vorsteht und sich damit die gewünschte Abschirmung des Strahlengangs ergibt. Die Lage des Korrektursignalstiftes 8 kann entsprechend den optischen Eigenschaften bestimmt werden, beispielsweise in Abhängigkeit von der größten Blendenöffnung ("der Lichtstärke ") des Objektivs 1. Die Formen des Abschirmendbereiches 5a und der Nut 11 können selbstverständlich in Abhängigkeit von der Lage des Korrektursignalstiftes 8 und der Form des Abschirmendbereiches 5b oder der gewünschten Abschirmung festgelegt werden.

Wenn bei der erfindungsgemäßen Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung das Objektiv ausgewechselt wird, kann die Korrektur der Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung in Abhängigkeit von der Anbringung des Objektives an dem Kameragehäuse erfolgen. Dadurch werden die Bestrahlungsintensitäten auf den Lichtempfangsoberflächen der beiden photoelektrischen Elemente im wesent-

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lichen gleich, so daß die Scharfeinstellung sehr exakt ermittelt werden kann.

Nach einer bevorzugten Ausführungsform werden in Abhängigkeit von dem Pupillendurchmesser jedes Aufnahmeobjektivs die Strecken, welche die Abschirmplatten 5 und 5' in den Strahlengang vorstehen, so gering wie möglich gemacht, da dies zur Erzeugung eines großen photoelektrischen Ausgangssignals zweckmäßig ist.

Weiterhin können die Abschirmplatten 5 und 5' entsprechend geformt und längs der gebogenen Oberflächen der Eintrittsoberflächen oder der Austrittsoberflächen der Bildrekonstruktionslinsen 3 und 3' in den Strahlengang vorstehen. Außerdem können die Abschirmplatten auch auf wenigstens einer Seite mit gebogener bzw. gekrümmter Oberfläche der Eintrittsoberfläche oder der Austrittsoberfläche jeder Bildrekonstruktionslinse 3 und 3' angeordnet werden. Außerdem können die Abschirmplatten 5 und 5' durch elektrooptische Elemente ersetzt werden, die eine lichtunterbrechende Wirkung haben, um den gleichen Effekt zu erreichen; als Beispiele für solche elektrooptischen Elemente sollen Flüssigkristall-Elemente oder elektrochrome Elemente erwähnt werden.

Weiterhin ist die Abschirmung der Bildrekonstruktionslinsen nicht darauf beschränkt, sie von außen her in Bezug auf die optische Achse des Objektivs abzuschirmen, wie es oben beschrieben wurde, sondern es ist auch folgende Ausführungsform möglich: Um den Nachteil aufgrund der Aberrationen zu vermeiden, die sich aus der Verwendung solcher Abschirmungen nur auf einer Seite jeder Bildrekonstruktionslinse ergeben, ist es zweckmäßig, sogar den Bereich der Bildrekonstruktionslinsen abzuschirmen, der sich in der Nähe der optischen Achse des Objektivs befindet, und zwar symmetrisch in Bezug auf die optische Achse der Bildrekonstrukionslinsen; diese Abschirmung sollte zusätzlich zu der Abschirmung der Bildrekonstruktionslinsen von ihrer

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Außenseite her erfolgen. Dadurch werden die Bestrahlungsintensitäten auf den photoelektrischen Elementen nur gleichmäßig über die gesamten Lichtempfangsoberflachen verringert, so daß keine besonderen Probleme bei der Feststellung der Scharfeinstellung mehr auftreten.

Wenn die Bildrekonstruktionslinsen und die photoelektrischen Elemente vor der Einstellplatte angeordnet sind, nämlich in Strahlenrichtung gesehen vor dem Kameragehäuse, wie es in Fig. 3 dargestellt ist, dann kann der Abstand zwischen dem Korrektursignalelement des Objektives und der Abschirmung verringert werden; ein Zwischen(übertragungs) Mechanismus ist dann nicht mehr erforderlich, so daß die Abschirmung sehr exakt erfolgt und die gesamte Einrichtung einen sehr kompakten Aufbau erhält.

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Leerseite

Claims

A. GRÜNECKER

H. K

DRING

W. STOCKMAIR

Q Π 1 Λ ΓΊ Cn / DR-ING-AiE ICALTECH

O U I I U D H

_{K SCHUMANN}

DR RER NAT DIPL-PHYS

P. H. JAKOB

DlPL-INa

G. BEZOLD

DK HER MAT DIPL-CHEM

8 MÜNCHEN

MAXIMILIANSTRASSE-

PH 14 885

21. März 1980

NIPPON KOGAKtJ K.K.

2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo, JAPAN

Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung Patentansprüche

il Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung, bei der aus einem durch ein optisches System zur Bilderzeugung verlaufenden Objektlichtstrahl eine erste und eine zweite Abbildung durch zwei optische Systeme für die Bildrekonstruktion erzeugt und die Scharfeinstellung des optischen Systems für die Bilderzeugung in Bezug auf das Objekt aus den Lageänderungen der ersten und zweiten Abbildung in Bezug auf zwei photoelektrische Wandler festgestellt wird, die auf der oder in der Nähe der Bildebene der beiden

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optischen Systeme für die Bildrekonstruktion angeordnet sind, gekennzeichnet durch eine Abschirmung (5, 5'), die im wesentlich symmetrisch in Bezug auf die optische Achse des optischen Systems für die Bilderzeugung (1) einen Teil der Lichtstrahlen abschirmt, die die erste und zweite Abbildung erzeugen, die durch das optische System für die Bilderzeugung (1) und durch die beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion (3, 3') auf den beiden photoelektrischen Wandlern (4, 4') gebildet werden.
2. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung (5, 5') so vorgesehen ist, daß sie einen Teil der Lichtstrahlen von·der Außenseite jedes Lichtstrahls her abschirmt, der die erste und zweite Abbildung in Bezug auf die optische Achse des optischen Systems für die Bilderzeugung (1) bildet.
3. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung (5, 5') in der Nähe wenigstens einer Eintrittsoberfläche und/oder einer Austrittsoberfläche jedes optischen Systems- für die Bildrekonstruktion (3, 3') vorgesehen ist.

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4. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung Abschirmplatten (5,5') enthält, die in den Strahlengängen der Lichtstrahlen vorgesehen sind, welche die erste und zweite Abbildung erzeugen.
5. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung elektrooptische Elemente enthält, die in den Strahlengängen der die erste und zweite Abbildung erzeugenden Lichtstrahlen vorgesehen sind.
6. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung für eine einäugige Spiegelreflexkamera mit einem abnehmbaren Aufnahmeobjektiv, bei der aus einem Objektlichtstrahl, der durch eine auf der Bilderzeugungsebene des Aufnahmeobjektivs vorgesehenen Scharfeinstellplatte verläuft, eine erste Abbildung und eine zweite Abbildung durch zwei optische Systeme für die Bildrekonstruktion erzeugt und die Scharfeinstellung des Aufnahmeobjektivs in Bezug auf ein Objekt aus den Lageänderungen der ersten und zweiten Abbildung in Bezug auf zwei photoelektrische Wandler festgestellt werden, die auf den oder in der Nähe der Brennbzw. Bildebenen der beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion angeordnet sind, gekennzeichnet durch eine Abschirmung (5, 5'), die im wesentlichen symmetrisch in Bezug auf die optische Achse des Aufnahmeobjektivs (1)

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einen Teil der Lichtstrahlen abschirmt, welche die erste und zweite Abbildung erzeugen, die auf den beiden photoelektrischen Wandlern (4, 4') durch das Aufnahmeobjektiv (1) und die beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion (3, 3') abgebildet werden, und durch eine Anordnung (8, 5a) zur Verschiebung der Abschirmung (5, 5') in Abhängigkeit von der Anbringung des Aufnahmeobjektivs (1) an der Kamera.
7. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Verschiebungsanordnung eine Signaleinrichtung (8) aufweist, die an dem Aufnahmeobjektiv (1) vorgesehen ist, um die Anbringung des Aufnahmeobjektivs (1) an der Kamera auf die Abschirmung (5, 5') zu übertragen.
8. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung eine Abschirmplatte (5, 5') aufweist, die in die Strahlengänge der Lichtstrahlen eingeführt werden kann, welche die erste und zweite Abbildung bilden, und daß die Signaleinrichtung ein Signalelement aufweist, welches die Abschirmplatte (5, 5') während der Anbringung verschieben kann.
9. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Signaleinrichtung ein Signal enthält, welches den offenen Blendenwert des Aufnahmeobjektivs (1) darstellt.

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10. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden optischen Systeme für die Bildrekonstruktion (3, 3') und die Abschirmung (5, 5') räumlich auf der Objektseite in Bezug auf die Einstellplatte (13) vorgesehen sind, und daß die Abschirmung (5, 5') in der Nähe der Eintrittsoberfläche und /oder der Austrittsoberfläche der optischen Systeme für die Bildrekonstruktion (3, 3') angeordnet ist.

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