[go: up one dir, main page]

DE2920531A1 - Einrichtung zur dimensionsmessung von eigenleuchtendem messgeraet - Google Patents

Einrichtung zur dimensionsmessung von eigenleuchtendem messgeraet

Info

Publication number
DE2920531A1
DE2920531A1 DE2920531A DE2920531A DE2920531A1 DE 2920531 A1 DE2920531 A1 DE 2920531A1 DE 2920531 A DE2920531 A DE 2920531A DE 2920531 A DE2920531 A DE 2920531A DE 2920531 A1 DE2920531 A1 DE 2920531A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
goods
optical axis
self
diodes
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2920531A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2920531B2 (de
Inventor
Volker Dr Ing Riech
Dietrich Dipl Ing Sorgenicht
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EXATEST Messtechnik GmbH
Original Assignee
EXATEST Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EXATEST Messtechnik GmbH filed Critical EXATEST Messtechnik GmbH
Priority to DE19792920531 priority Critical patent/DE2920531B2/de
Priority to GB8016486A priority patent/GB2052734B/en
Priority to US06/152,008 priority patent/US4381152A/en
Publication of DE2920531A1 publication Critical patent/DE2920531A1/de
Publication of DE2920531B2 publication Critical patent/DE2920531B2/de
Priority to GB08226299A priority patent/GB2116702B/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Pik
DIFL.-IXG. H. MARSCH 4000 ȟsseldohf2Q2Q53
DIFL.-IXG. K, SFARIÄ'G imdmiajmhmiamb ai £ ^ Α IOSTFACII HO208 P AT B Λ' TΛ Λ' \ VA LTE telefon' <oai» 072340
47/31
Beschreibung zum Patenfcgesuch
der Firma Exatest Meßtechnik GmbH., 5090 Leverkusen 3
bet^fend:
"Einrichtung zur Diroenionsmessung von eigenleuchtendera Meßgut"
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Dimensionsmessung von eigenleuchtendeia Meßgut/ insbesondere Walzgut, mit einer Kamera mit selbstabtastender Diodenzeile, wobei die Diodenzeile von einer Seite her abtastbar ist.
Eine derartige Einrichtung ist beispielsweise in der DE-OS 2 140 939 beschrieben, nach der das Meßgut mit einer Lichtquelle für paralleles Licht hinterleuchtet wird, während das Meßgut selbst durch die Optik der Kamera auf die Fotodioden zeile abgebildet wird. Bei Verwendung einer Hinterleuchtung besteht jedoch das Problem, daß eigenleuchtes Meßgut, etwa glühendes Walzgut, selbst Licht aussendet und somit zu Fremdlicht führt, das die Messung beeinträchtigen kann. Außerdem kann das Vorhandensein von Zunder oder dergleichen auf der Walzgutoberfläcbe zu Problemen hinsichtlich der Bestimmung dar rückwärtigen Kante des Meßgutes (in bezug auf die Abtastrichtung für die Diodenzeile) führen, so daß eine aufwendige Elektronik notwendig wird, die entscheidet, ob tatsächlich die Rückkante des Meßgutes vorliegt»
030049/0091

Claims (5)

  1. Exatest Meßtechnik GmbH
    5090 Leverkusen 3
    Patentansprüche
    Einrichtung zur Dimens- jnsmessung von eigenleuchtendem Meßgut, insbesondere Walzgut, mit einer Kamera mit selbstabtastender Diodenzeile, wobei die Diodenzeile von einer Seite her abtastbar ist- dadurch gekennzeichnet, daß zwei Diodenzeilen (2) symmetrisch zu einer optischen Achse (3) von einer Kamera (1) oder von zwei auf gegenüberliegenden Seiten des Meßgutes (4) angeordneten Kameras (1, 1') senkrecht zu den für die Kessuug zu verwendenden Kanten (6) des Meßgutes
    (4) angeordnet und jeweils von dem von der optischen Achse
    (3) abgewandten Ende abtastbar sind.
  2. 2) Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Amplitudensollwert der Videosignale vorgebbar ist, der mit dem Amplitudenistwert der Videosignale einer Diodenzeile (2) vergleichbar ist, wobei aus dem Vergleichswert die Belich tungszeit für beide Diodenzeilen (2) bestimmbar ist.
  3. 3) Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf jeder Seite des Meßguteö (4) eine Kamera (1, 11) mit gemeinsamer optischer Achse (3) und jeweils zwei symmetrisch
    sehen sind.
    — 2 —
    0300A9/0Q91
  4. 4) Einrichtung nach Anspruch. 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daS zwei Kameras (1, 1 ') mit jeweils zwei symmetrisch zur optischen Achse (3) jeder Kamera (1, I1) angeordneten Diodenz.eilen (2) mit rechtwinklig zueinander angeordneten optischen Achsen (3) vorgesehen sind.
  5. 5) Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet/ oaß vier Eamer^e (I7 I1) vorgesehen sind, wobei jeweils zwei Kameras (T, "') eine gemeinsame optische Achse (3) und jeweils eine Diodenzeile (2) aufweisen, wobei die Diodenzeiien (2) der beiden Kameras (T, T') mit gemeinsamer optischer Achse (3) symmetrisch auf jeweils einer Seite der optischen Achse (3) angeordnet sind, während die beiden optischen Achsen (3) senkrecht aufeinander stehen.
    030049/0091
DE19792920531 1979-05-21 1979-05-21 Einrichtung zur Dimensionsmessung von eigenleuchtendem Meßgut Withdrawn DE2920531B2 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792920531 DE2920531B2 (de) 1979-05-21 1979-05-21 Einrichtung zur Dimensionsmessung von eigenleuchtendem Meßgut
GB8016486A GB2052734B (en) 1979-05-21 1980-05-19 Position and dimension measuring apparaus
US06/152,008 US4381152A (en) 1979-05-21 1980-05-20 Dimension measuring apparatus
GB08226299A GB2116702B (en) 1979-05-21 1982-09-13 Edge position measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19792920531 DE2920531B2 (de) 1979-05-21 1979-05-21 Einrichtung zur Dimensionsmessung von eigenleuchtendem Meßgut

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2920531A1 true DE2920531A1 (de) 1980-12-04
DE2920531B2 DE2920531B2 (de) 1981-04-16

Family

ID=6071309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19792920531 Withdrawn DE2920531B2 (de) 1979-05-21 1979-05-21 Einrichtung zur Dimensionsmessung von eigenleuchtendem Meßgut

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2920531B2 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2940262A1 (de) * 1979-10-04 1981-04-09 Dipl.-Ing. Karl 7500 Karlsruhe Armbruster Verfahren zum optischen abtasten von objekten in zwei orthogonalen richtungen mittels einer elektronischen kamera
DE3231001A1 (de) * 1982-08-20 1984-03-15 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Verfahren zur feststellung der dicke des knets eines werkstoffs vor einem paar von walzen
EP0319533A4 (en) * 1986-08-13 1991-09-11 The Broken Hill Proprietary Company Limited Determining a dimension of an article

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3151384A1 (de) * 1981-12-24 1983-07-07 Thyssen AG vorm. August Thyssen-Hütte, 4100 Duisburg Verfahren zum messen der breite, insbesondere des kopfes, von selbstleuchtendem walzgut und verfahren zum schopfen des kopfes von selbstleuchtendem walzgut
EP0474620A1 (de) * 1990-08-10 1992-03-11 BÖHLER Gesellschaft m.b.H. Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von wärmestrahlenden Körpern

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2104893A1 (de) * 1971-02-03 1972-08-17 Licentia Gmbh Vorrichtung zum Abtasten von Kanten bewegter Gegenstände
DE2127751A1 (de) * 1971-06-04 1972-12-14 Exatest Messtechnik Gmbh Verfahren zur Ermittlung des Durchmessers eines runden Drahtes, Stabes oder Rohres mittels fotoelektrischer Abtastung
DE2140939A1 (de) * 1971-08-16 1973-03-01 Kabel Metallwerke Ghh Verfahren zur bestimmung des durchmessers bzw. der hoehe oder breite eines langgestreckten koerpers
DE1548209B2 (de) * 1966-06-29 1973-08-09 Exatest Meßtechnik GmbH, 5090 Le verkusen Vorrichtung zur beruehrungslosen querschnittsmessung von durchlaufendem draht-, band- oder profilfoermigem messgut
DE2330415A1 (de) * 1972-07-03 1974-01-24 Fagersta Ab Verfahren zum beruehrungslosen messen eines bewegten gegenstandes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE2232252A1 (de) * 1972-06-30 1974-01-31 Fagersta Ab Verfahren zum beruehrungslosen messen einer abmessung eines sich bewegenden gegenstandes
DE2516756A1 (de) * 1975-04-16 1976-10-28 Betr Forsch Inst Angew Forsch Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer flaechenabmessung in einer ebene
DE2819395B1 (de) * 1978-05-03 1979-05-03 Hoesch Werke Ag Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Breite von Walzerzeugnissen

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1548209B2 (de) * 1966-06-29 1973-08-09 Exatest Meßtechnik GmbH, 5090 Le verkusen Vorrichtung zur beruehrungslosen querschnittsmessung von durchlaufendem draht-, band- oder profilfoermigem messgut
DE2104893A1 (de) * 1971-02-03 1972-08-17 Licentia Gmbh Vorrichtung zum Abtasten von Kanten bewegter Gegenstände
DE2127751A1 (de) * 1971-06-04 1972-12-14 Exatest Messtechnik Gmbh Verfahren zur Ermittlung des Durchmessers eines runden Drahtes, Stabes oder Rohres mittels fotoelektrischer Abtastung
DE2127751C3 (de) * 1971-06-04 1974-08-01 Exatest Messtechnik Gmbh, 5090 Leverkusen Verfahren und Anordnung zur Ermittlung des Durchmessers eines Gegenstandes runder Querschnittsform mittels periodischer fotoelektrischer Abtastung
DE2140939A1 (de) * 1971-08-16 1973-03-01 Kabel Metallwerke Ghh Verfahren zur bestimmung des durchmessers bzw. der hoehe oder breite eines langgestreckten koerpers
DE2232252A1 (de) * 1972-06-30 1974-01-31 Fagersta Ab Verfahren zum beruehrungslosen messen einer abmessung eines sich bewegenden gegenstandes
DE2330415A1 (de) * 1972-07-03 1974-01-24 Fagersta Ab Verfahren zum beruehrungslosen messen eines bewegten gegenstandes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE2516756A1 (de) * 1975-04-16 1976-10-28 Betr Forsch Inst Angew Forsch Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer flaechenabmessung in einer ebene
DE2819395B1 (de) * 1978-05-03 1979-05-03 Hoesch Werke Ag Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Breite von Walzerzeugnissen

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Z: "Stahl und Eisen", 1977, Nr. 19, S. 927-932 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2940262A1 (de) * 1979-10-04 1981-04-09 Dipl.-Ing. Karl 7500 Karlsruhe Armbruster Verfahren zum optischen abtasten von objekten in zwei orthogonalen richtungen mittels einer elektronischen kamera
DE3231001A1 (de) * 1982-08-20 1984-03-15 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Verfahren zur feststellung der dicke des knets eines werkstoffs vor einem paar von walzen
EP0319533A4 (en) * 1986-08-13 1991-09-11 The Broken Hill Proprietary Company Limited Determining a dimension of an article

Also Published As

Publication number Publication date
DE2920531B2 (de) 1981-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4410078B4 (de) Optische Positionserfassungseinheit und optische Koordinateneingabeeinheit
DE2746368A1 (de) Elektronisches bandmass
DE2521618B1 (de) Vorrichtung zum Messen oder Einstellen von zweidimensionalen Lagekoordinaten
DE3734561A1 (de) Dehnungsmessverfahren
CH643060A5 (de) Verfahren zur bestimmung des durchmessers oder des querschnittes eines faden- oder drahtfoermigen koerpers, vorrichtung zur ausfuehrung des verfahrens, sowie anwendung des verfahrens.
DE69921549T2 (de) Ablesevorrichtung für hochauflösenden optischen Kodierer
DE3850715T2 (de) Vereinfachte Kalibrierung für eine Entfernungsinformationserwerbungsvorrichtung.
DE1930111B2 (de) Optische Vorrichtung zum Messen der Bewegung von gegeneinander bewegten Teilen
DE69513385T2 (de) Verfahren und Gerät zur Korrektur der Ausgangssignalen mehreren Photodetektoren
EP0023643B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur photoelektrischen berührungslosen Messung von Dehnungsabläufen
DE2059106C3 (de) Verfahren und Hilfsvorrichtung zum selbsttätigen Messen von Strichbreiten oder Kantenabständen kleiner Objekte
DE3878021T2 (de) Synchrone optische abtastvorrichtung.
DE2920531A1 (de) Einrichtung zur dimensionsmessung von eigenleuchtendem messgeraet
WO1991004460A1 (de) Vorrichtung zur absoluten zweidimensionalen positionsmessung
EP0279944B1 (de) Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
DE69316822T2 (de) Prüfungsvorrichtung für Bandbreitefehler
DE4308456C2 (de) Vorrichtung zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper
DE3311945C2 (de) Vorrichtung zur berührungslosen Messung von Winkeln
DE69116636T2 (de) Optischer Fühler
DE3208447A1 (de) Farbmodulierter faseroptischer wandler
DE1279944B (de) Messteilung
DE2637844A1 (de) Verfahren und anordnung zur getrennten auswertung von bildinhalten nach zwei koordinatenrichtungen der bewegung
DE2443791A1 (de) Vorrichtung zur bestimmung mindestens einer koordinate der lage eines punktes
DE3413605A1 (de) Optisches verfahren zur messung des profils von oberflaechen mit oertlich stark schwankendem reflexionsfaktor
DE2733285C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
8263 Opposition against grant of a patent
8227 New person/name/address of the applicant

Free format text: FAG KUGELFISCHER GEORG SCHAEFER KGAA, 8720 SCHWEINFURT, DE

8230 Patent withdrawn