DE29604738U1 - Referenzelektrode - Google Patents
ReferenzelektrodeInfo
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Description
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Referenzelektrode.
Standardbezugselektrode ist die .sogenannte Wasserstoffelektrode
(Elektrode 1. Art), die für die tägliche Meßpraxis jedoch ungeeignet ist.
In der Praxis haben sich daher Elektroden 2. Art durchgesetzt, wobei die Silber/Silberchlorid- (Ag/AgCl/Elektrolyt) und die
Kalomelelektrode (Hg/Hg2Cl2/Elektrolyt) am häufigsten eingesetzt
werden. Bei Makromeßelektroden, wie z.B. der Glasmembranelektrode für die pH-Messung, besteht die Referenzelektrode aus
einem elektrolyt-gefüllten Glaskörper, in den ein mit AgCl beschichteter
Ag-Draht hineinragt. Meßlösung und Elektrolyt sind durch ein Diaphragma getrennt.
Bei der Entwicklung miniaturisierter und/oder planarer Referenzelektroden
wurden prinzipiell zwei Wege verfolgt: zum einen die Miniaturisierung der konventionellen Ag/AgCl-Elektrode
unter Verringerung des Bezugselektrolytvolumens und zum anderen die Entwicklung von Elektroden ohne flüssige Phase.
Ein Beispiel für die Miniaturisierung mit einer flüssigen Phase ist in der DE OS 43 02 323 zu finden, die eine Anordnung mit
einer Schutz- und einer Referenzelektrode in einer Substratkavität,
die mit einer wäßrigen Lösung gefüllt ist, beschreibt. Damit können die üblicherweise auftretenden Probleme der Erschöpfung
des geringen Elektrolytvolumens bei zu stark durchlässigem Diaphragma bzw. Verstopfungserscheinungen bei einem
relativ undurchlässigen Diaphragma kompensiert werden. Problematisch ist der große Herstellungsaufwand und die notwendige
äußere Beschaltung zur Aufrechterhaltung der Potentialstabilität.
Planare Referenzelektroden unter Verzicht auf ein Bezugselektrolyt
bestehen zumeist aus Silber und Silberchlorid, wobei bei diesen Ausführungsformen das Problem des Ansprechens auf im
Meßmedium enthaltene Ionen besteht, so daß eine Reproduzierbarkeit des Potentials nicht in jedem Fall gegeben ist. In
Dünnschichttechnik werden diese -Elektroden durch Aufdampfen oder Sputtern hergestellt, wobei diese Anordnungen mechanisch
oft nicht stabil sind.
Andere Entwicklungen beschäftigen sich mit der chemischen oder
elektrochemischen Halogenierung von durch verschiedene Verfahren aufgebrachte Silberschichten oder mit dickschichtstrukturierten
Elektroden, bei denen eine silberchloridhaltige Paste auf eine Silberpaste gedruckt wird. Die Nachteile dieser
Anordnungen liegen in großen Drifterscheinungen und hohen Übergangswiderständen .
In der DE OS 42 41 206 wird eine Dickschichtelektrode beschrieben,
bei der eine aus einem Polymer, Silberchlorid und einem quellfähigen süikatischen Füllstoff bestehende Deckschicht das
Ausdiffundieren der Chlorid- und das Eindiffundieren von Störionen
verhindern soll.
In der US 53 84 031 wird eine Referenzelektrode auf der Basis
Silber/Silberchlorid beschrieben, bei der die Süberchloridschicht über eine Schicht einer wasserdurchlässigen Matrix mit
der Meßlösung kontaktiert wird, wobei die Auslegung so erfolgt, daß nur ein dünner Diffusionskanal entsteht.
Der Nachteil dieser Lösungen liegt darin, daß eine zusätzliche Schicht aufgebracht werden muß oder sich die Diffusionskanäle
zusetzen können.
Der in den Schutzansprüchen 1 und 2 angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, miniaturisierbare planare Referenzelektroden
zu schaffen, die über einen langen Zeitraum ein stabiles Bezugspotential liefern und kostengünstig herstellbar
sind.
Dieses Problem wird mit den in den Schutzansprüchen 1 und 2 aufgeführten Merkmalen gelöst.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, daß als Substratmaterial ein beliebiges elektrisch
nichtleitendes Substrat verwendet wird. Auf dieses Substrat ist mittels bekannter und leicht zu realisierender Schichtaufbringungstechniken,
wie der Dickschichttechnik, eine elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht aufgebracht. Diese ist durch
den strukturierten Auftrag einer Isolationsschicht derart bedeckt, daß ein Teil der elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht
für den weiteren Aufbau zur Verfügung steht. Dieser freigebliebene Teil ist gleichzeitig über eine Schicht, die
eine schwerlösliche Metallhalogenidschicht oder eine mit einem schwerlöslichen Metallhalogenid gefüllte Polymerpaste ist, der
Träger der Matrix, die als Speichervolumina für das sich bildende Bezugselektrolyt dient.
Die Isolationsschicht schützt die als elektrische Leitungsschicht dienende elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht
vor dem Meßmedium.
Der Aufbau ist mit wenigen Schritten herstellbar und zeichnet sich durch seine einfache Realisierung aus. Die Herstellungsschritte
sind leicht beherrschbar, so daß eine kostengünstige Referenzelektrode realisierbar ist.
Die Referenzelektrode besteht ausschließlich aus Feststoffen, ist miniaturisierbar und kann mit schichterzeugenden Fertigungstechniken
hergestellt werden.
Eine wesentliche Erhöhung des Vorrates -an Bezugselektrolyt wird
Eine wesentliche Erhöhung des Vorrates -an Bezugselektrolyt wird
durch die Realisierung eines Mehrschichtaufbaus des Substrates erreicht, wobei eine Schicht die Matrix beinhaltet und somit
die Seitenwände des Depots darstellt.
Weiterhin ist der Aufbau einer potentiometrischen Meßzelle bestehend
aus einer Meßelektrode und der Referenzelektrode leicht möglich. In Abhängigkeit vom zu-detektierenden Parameter, ein
typisches Beispiel ist die Bestimmung des pH-Wertes einer Lösung, baut sich an der Meßelektrode ein parameterabhängiges und
an der Referenzelektrode ein konstantes und parameterunabhängiges Potential auf. Die Potentialdifferenz (Spannung) zwischen
beiden Elektroden wird meßtechnisch erfaßt. Dabei kann die potentiometrischen Meßzelle auf einem gemeinsamen Substrat
integriert werden.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Schutzansprüchen
3 bis 11 angegeben.
Mit den Weiterbildungen der Schutzansprüche 3 bis 5 wird die Lebensdauer der Referenzelektrode wesentlich erhöht.
Die Weiterbildungen nach den Schutzansprüchen 6 bis 9 beschreiben die Materialien der einzelnen Bestandteile der Referenzelektrode
.
Die Herstellung der Referenzelektrode erfolgt mit Hilfe von Technologien, wie sie in der elektronischen Industrie zur Anwendung
kommen. In der Weiterbildung des Schutzanspruchs 10 sind derartige Technologien aufgeführt.
Mehrere Referenzelektroden werden auf dem dielektrischen Substrat nach der Weiterbildung des Schutzanspruchs 11 plaziert.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dar- - gestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
Es zeigen:
Figur 1 den prinzipiellen Aufbau der Referenzelektrode in der Draufsicht und im Schnitt
Figur 1 den prinzipiellen Aufbau der Referenzelektrode in der Draufsicht und im Schnitt
und
Figur 2 den prinzipiellen Aufbau der Referenzelektrode mit einem Substrat im Mehrschichtaufbau in der Draufsicht und im Schnitt.
Figur 2 den prinzipiellen Aufbau der Referenzelektrode mit einem Substrat im Mehrschichtaufbau in der Draufsicht und im Schnitt.
In einem ersten Ausführungsbeispiel besteht die Referenzelektrode entsprechend der Figur 1 aus einem elektrisch nichtleitenden
Substrat 1, einer elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht 2, einer Isolierschicht 3, einer Schicht 4 und
einer Matrix 5.
Als elektrisch nichtleitendes Substrat 1 kommt ein handelsübliches
glasfaserverstärktes Epoxidharzhartgewebe FR 4 zum Einsatz. Auf diesem befindet sich eine mittels der Dickschichttechnik
aufgebrachte und ausgehärtete silbergefüllte Epoxidharzpaste als elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht 2.
Um eine möglichst niederohmige elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht
2 zu erhalten, kommen Epoxidharzpasten mit einem Anteil von 50 bis 90 % Silber zur Anwendung. Dabei sind
je nach den Einsatzbedingungen Strukturbreiten :> 200 um realisierbar.
Diese fungiert als elektrische Leitung und ist entweder von außen oder mit mindestens einem elektronischen Bauelementeanschluß
kontaktierbar. Mit dem strukturierten Auftrag und der sich anschließenden Aushärtung einer polymeren Isolationspaste
ist die Isolationsschicht 3 derart realisiert, so daß ein Abschnitt am Ende der elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht
2 frei bleibt. Dieser steht als Träger für den weiteren Aufbau zur Verfügung.
Der Abschnitt der elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht 2 ist elektrochemisch halogeniert, so daß diese vollständig
eine Silberchloridschicht aufweist. Auf dieser befindet sich die Matrix 5, die aus einer ausgehärteten mit Kaliumchlorid
gefüllten Polymerpaste besteht, wobei der Füllgrad der Matrix
je nach verwendetem Epoxidharz und angewandter Verarbeitungstechnik
zwischen 30 und 90 % liegt.
Die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht 2 als elektrische
Leitung ist durch die Isolationsschicht 3 vor dem Meßmedium derart geschützt, daß nur die gefüllte Matrix 5 mit der
Bezugslösung in Berührung kommt,- wobei vorzugsweise eine möglichst geringe Kontaktfläche zwischen Meßmedium und Matrix 5
besteht, die allerdings so groß ist, daß ein Austausch der beteiligten Ionen gewährleistet ist. Bei einer zu großen Kontaktfläche,
wird diese mittels einer gleichen Isolationsschicht 3, die eine Öffnung 6 zur Matrix 5 aufweist, eingeschränkt.
Durch diesen Kontakt bildet sich in der Matrix 5 ein Bezugselektrolyt, so daß ein Bezugspotential bis zum Verbrauch der in
der Matrix 5 enthaltenen Phase aus Kaliumchlorid konstant gehalten wird. Die Matrix 5 dient sowohl als Diaphragma als auch
als Speichervolumina für das sich bildende Bezugselektrolyt.
Ein zweites Ausführungsbeispiel ist prizpiell in der Figur 2 dargestellt. Grundlage bildet wiederum ein elektrisch nichtleitendes
Substrat la, das mit einer elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht 2 in Form einer Leiterbahn versehen ist.
Die Leiterbahn besteht aus einer in Dickschichttechnik aufgebrachten und danach ausgehärteten silbergefüllten Epoxidharzpaste
entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel. Auf diesem elektrisch nichtleitenden Substrat la befindet sich
ein zweites elektrisch nichtleitendes Substrat Ib. Beide sind luftdicht miteinander verbunden. Das zweite elektrisch nichtleitende
Substrat Ib besitzt einen Durchbruch, der so ausgebildet ist, daß ein Teil der Leiterbahn frei bleibt. Die Größe
des Durchbruches und die Dicke des zweiten elektrisch nichtleitenden Substrates Ib bestimmen das Volumen der Matrix 5 und
damit die Lebensdauer der Referenzelektrode.
Die Leiterbahn innerhalb des Durchbruches ist entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel vollständig mit einer Silberchloridschicht
überzogen.
Der gesamte Durchbruch des zweiten elektrisch nichtleitenden
Der gesamte Durchbruch des zweiten elektrisch nichtleitenden
Si
Substrates Ib ist mit der Matrix 5 ausgefüllt. Daß weitestgehend
alle darin enthaltenen Anionen zur Verfügung stehen, befindet sich ausgehend von der Leiterbahn in der Matrix 5 mindestens
ein textiler Faden 7. Dieser endet an der Oberfläche der Matrix 5. Damit entstehen in dieser Diffusionskanäle, in
denen die Anionen, die sich in der Nähe des ersten elektrisch nichtleitenden Substrates la befinden, an die Oberfläche wandern
können. Um diesen Effekt zu erhöhen, ist der textile Faden 7 in der Matrix 5 schraubenförmig verlegt. Auf den Oberflächen
des zweiten Substrates Ib und der Matrix 5 ist eine Isolationsschicht
3 angeordnet. Diese besteht aus einer Epoxidharzpaste und besitzt eine Öffnung 6, so daß ein Teil der Oberfläche der
Matrix 5 offenbleibt. In der Öffnung 6 endet der in der Matrix 5 integrierte textile Faden 7.
Die Leiterbahn ist auf dem ersten elektrisch nichtleitenden Substrat la so aufgebracht, daß diese durch das zweite elektrisch
nichtleitende Substrat Ib mindestens an einer Seite nicht bedeckt und damit von außen elektrisch kontaktierbar ist.
Der Abstand zwischen der Kontaktfläche der Leiterbahn und der Öffnung 6 bestimmt die Eintauchtiefe der Referenzelektrode.
In weiteren Ausführungsbeispielen besteht das elektrisch nichtleitende
Substrat 1 aus Aluminiumoxidkeramik. Die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht 2 ist durch Dünnschichttechniken
auf dem elektrisch nichtleitenden Substrat 1 realisiert. Die Schicht 4 ist entweder durch additivem Auftrag, z.B. mit
einer mit Silberchlorid gefüllten Dickschichtpaste, oder in einem Dünnschichtprozeß, oder durch eine chemische oder elektrochemische
Behandlung der elektrisch leitfähigen Metallisierungsschicht 2 selbst ausgebildet.
Claims (11)
1. Referenzelektrode, dadurch gekennzeichnet, daß eine elektrisch leitf.ähige Metallisierungsschicht (2), die vorzugsweise
als elektrische Leiterbahn ausgebildet ist, auf einem elektrisch nichtleitenden Substrat (1) angeordnet ist, daß sich auf
einem Bereich dieser elektrisch -leitfähigen Metallisierungsschicht (2) ein Schichtaufbau der Folge einer Schicht (4), die
entweder eine elektrochemisch aufgebrachte schwerlösliche Metallhalogenidschicht oder eine mit einem schwerlöslichen
Metallhalogenid gefüllte, ausgehärtete Polymerpastenschicht ist und wobei diese die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht
(2) auf diesem Bereich vollständig bedeckt, und einer Matrix (5) befindet, daß die elektrisch leitfähige Metallisierungschicht
(2) bis auf eine Öffnung (6) zur Matrix (5) hin mit einer Isolationsschicht (3) bedeckt ist, daß die Matrix (5)
Anionen des Metallhalogenide der Schicht (4) enthält, die sich vorzugsweise in einer oder einer weiteren ausgehärteten Polymerpaste
befinden und daß die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht (2) mindestens an einer außerhalb der Isolationsschicht
(3) liegenden Stelle von außen elektrisch kontaktierbar ist.
2. Referenzelektrode insbesondere nach Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei flächenförmige elektrisch
nichtleitende Substrate {la) und (Ib) übereinander angeordnet
und luftdicht fest miteinander verbunden sind, daß das erste elektrisch nichtleitende Substrat (la) auf der dem elektrisch
nichtleitenden Substrat (Ib) zugewandten Seite eine elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht (2), die vorzugsweise
als elektrische Leiterbahn ausgebildet ist, aufweist, daß das zweite elektrisch nichtleitende Substrat (Ib) einen Durchbruch
derart besitzt, daß zum einen das zweite elektrisch nichtleitende Substrat (Ib) vorzugsweise den Durchbruch als
Seitenwand oder Seitenwände vollständig umschließt, daß zum anderen die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht (2)
nicht vollständig bedeckt ist und daß zum weiteren diese mindestens
innerhalb des Durchbruchs mit einer Schicht (4), die entweder eine elektrochemisch aufgebrachte schwerlösliche
Metallhalogenidschicht oder eine mit einem schwerlöslichen Metallhalogenid gefüllte, ausgehärtete Polymerpastenschicht
ist, versehen ist, daß diese die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht (2) vollständig'bedeckt, daß der Durchbruch mit
einer Matrix (5) vorzugsweise bis zum Oberflächenniveau des zweiten elektrisch nichtleitenden Substrates (Ib) gefüllt ist,
daß auf den Oberflächen des zweiten elektrisch nichtleitenden Substrates (Ib) und der Matrix (5) bis auf eine Öffnung (6) zur
Matrix (5) hin eine Isolationsschicht (3) angeordnet ist, daß die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht (2) zumindest
an einer Seite des ersten elektrisch nichtleitenden Substrates (la) frei zugänglich ist und daß die Matrix (5) Anionen des
Metallhalogenids der Schicht (4) enthält, die sich vorzugsweise in einer oder einer weiteren ausgehärteten Polymerpaste befinden.
3. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß sich in der Matrix (5) mindestens ein Gewebestück befindet.
4. Referenzelektrode nach Schutzanspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gewebestück ein vorzugsweise in der Matrix (5) von der schwerlöslichen Metallhalogenidschicht (4) zur
Oberfläche der Matrix (5) verlaufender und in der Öffnung (6) der Isolationsschicht endender textiler Faden (6) ist.
5. Referenzelektrode nach Schutzanspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gewebestück ein vorzugsweise in der Matrix (5) schraubenförmig eingelagerter und an der Oberfläche der
Matrix (5) in der Öffnung (6) der Isolationsschicht (3) endender textiler Faden (7) ist.
&bgr;. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das elektrisch nichtleitende Substrat (1) oder die elektrisch nichtleitenden Substrate (la) und (Ib)
aus einem Leiterplattenbasismaterial vorzugsweise eines glasfaserverstärkten Epoxidharzhartgewebes besteht oder bestehen.
7. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht
(2) aus einer ausgehärteten metallgefüllten weiteren Polymerpaste besteht.
8. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Metallhalogenid der Schicht (4] Silberchlorid ist.
9. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Matrix (5) vorzugsweise aus einer
mit _> 30 Gewichts-% Kaliumchlorid gefüllten ausgehärteten polymeren
Paste besteht.
10. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrisch leitfähige Metallisierungsschicht
(2), die Schicht (4), die Matrix (5) und die Isolationsschicht (3) in Dick- und/oder Dünnschichttechnik auf das
elektrisch nichtleitende Substrat (1) oder (la) aufgebracht sind.
11. Referenzelektrode nach den Schutzansprüchen 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß mindestens eine Referenzelektrode auf dem elektrisch nichtleitenden Substrat (1) oder (la) angeordnet
ist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE29604738U DE29604738U1 (de) | 1996-03-14 | 1996-03-14 | Referenzelektrode |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| DE29604738U1 true DE29604738U1 (de) | 1996-05-23 |
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ID=8021066
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE29604738U1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114502952A (zh) * | 2019-10-10 | 2022-05-13 | 国立大学法人香川大学 | 维管束汁液测量传感器 |
-
1996
- 1996-03-14 DE DE29604738U patent/DE29604738U1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114502952A (zh) * | 2019-10-10 | 2022-05-13 | 国立大学法人香川大学 | 维管束汁液测量传感器 |
| US12216076B2 (en) | 2019-10-10 | 2025-02-04 | National University Corporation Kagawa University | Vascular sap measurement sensor |
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