DE2946003A1 - Verfahren zum kompensieren der an radioaktiven proben erhaltenen strahlungsmesswerte - Google Patents
Verfahren zum kompensieren der an radioaktiven proben erhaltenen strahlungsmesswerteInfo
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Description
Verfahren zum Kompensieren der an radioaktiven Proben erhaltenen Strahlungsmeßwerte
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kompensieren der Meßwerte
bei der Messung der Strahlung aus einer Anzahl von radioaktiven Proben
in einem Strahlungsmeßgerät, bei dem der Strahlungsdetektor von der Strahlung aus der Probe und zusätzlich auch von der Strahlung einer Anzahl
anderer Strahlungsquellen beeinflußt wird, welche sich beim Meßvorgang
an vorbestimmten Stellen in Bezug auf den Detektor befinden.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist insbesondere bei automatischen
Strahlungsmeßgeräten verwendbar.
Bei automatischen kerntechnischen Meßgeräten, z.B. Beta- und Gamrnazähler,
wird üblicherweise eines von zwei Verfahren angewendet, um zu verhindern, daß die Störstrahlung, welche an anderen Strahlungsquellen
als die Meßprobe entsteht, den Meßwert beeinflussen. Beim ersten Verfahren wird zur Verringerung der Menge einer derartigen Störs tr alilung
der Detektor und die Meßprobe mit größeren Mengen eines stark absorbierenden Materials wie Blei abgeschirmt. Es ergibt sich die Wirkung,
daß vor der Erfassung der Strahlung ein Anteil davon absorbiert und somit
die Menge der Störstrahlung verringert wird. Die benötigte Abschirmung ist stark abhängig von der Energie der emitierten Strahlung. Bei
geringen Energien ist die von einer bestimmten Dicke absorbierte Menge groß. Zur Absorption der gleichen Menge bei höheren Energien wird jedoch
eine wesentlich stärkere Abschirmung benötigt. Diese Begebenheiten sind dem Fachmann gut bekannt.Beim zweiten, alternativen Verfahren,
welches oftmals in Kombination mit dem ersten zur Anwendung kommt, wird sichergestellt, daß sich der Detektor in größerer Entfernung von
Störstrahlungsquellen befindet (derartige Quellen bestehen, ζ Β., oftmals
9440 0 3 3 G A 2 / 0 6 2 9 OHiGiNAL INSPECTED
aus anderen Proben, an denen Zählungen noch durchzuführen sind), wodurch
die Menge der im Detektor absorbierten Störstrahlung reduziert wird. Es ist oftmals der Fall, daß mit üblichen kerntechnischen Zählern,
wie sie in der Medizin und der Biologie verwendet werden, Zählmessungen
an in großer Anzahl vorhandenen Proben durchgeführt werden müssen. Wird hierbei nur ein einziger, abgeschirmter Detektor verwendet, dann
müssen die bereits gemessenen und die noch zu messenden Proben soweit wie möglich vom Detektor weg aufbewahrt werden, um die Menge an
Störstrahlung zu reduzieren.
Um Zählmessungen an in großer Anzahl vorhandenen Proben rasch durchzuführen,
sind einige übliche Zähler mit mehreren Detektoren versehen, welche nahe beieinander angeordnet werden müssen. Derartige Geräte
sind jedoch nur begrenzt einsetzbar bei Strahlung niedriger Energie, weil es bei nahe zueinander angeordneten Detektoren nicht möglich ist,
eine genügende Abschirmung vorzusehen, um zu verhindern, daß die Proben in einem Detektor das Auftreten einer Störstrahlung in einem
anderen Detektor verursachen.
Aufgabe der Erfindung ist es demgemäß, ein Verfahren zur automatischen,
kerntechnischen Strahlungsmessung vorzusehen, bei dem der Einfluß von Störstrahlungen reduzierbar ist, ohne daß größere Mengen an Abschirmmaterialien
benötigt werden, und ohne daß ein größerer Abstand zwischen dem Detektor und der Störstrahlungsquelle vorgesehen werden muß.
Die erfindungsgemäße Lösung der Aufgabe ergibt sich aus den Ansprüchen.
Anhand eines Beispiels des erfindungsgemäßen Verfahrens soll nachfolgend
eine Ausführungsform der Erfindung beschrieben werden.
Gemäß dieser Ausführunppform wird eine Anzahl von Detektoren vorgesehen,
die z.B. in zwei Reihen zu je sechs Detektoren angeordnet sind,
0 3 ü ö 4 2 / 0 6 2 9
2946-13
um die Durchführung gleichzeitiger Messungen an zwölf Proben zu gestatten.
Die von irgendeinem Detektor gemessene Strahlung ist die Summe der durch diesen Detektor erfaßten Strahlung der darin enthaltenen
Probe und der Störstrahlung der in allen anderen Detektoren enthaltenen Proben, sowie der von dem Detektor erfaßten Hintergrundstrahlung.
Diese Summe läßt sich mathematisch in Form folgender Gleichung ausdrücken:
Y (1) = T (1) + E (1) (X (1) + A (1,2) X (2) + A (1,3) X (3) + ...
+ A (1,N) X (N) + ... + A (1,12) X (12) )
in der
Y (1) die Gesamtzählrate des Detektors 1,
T (1) die Hintergrundzählrate des Detektors 1, E (1) die Zählerausbeute bei der Probe im Detektor (1),
X (N) die wahre Rate bei der Probe im Detektor (N) A (1,N) die relative Zähler ausbeute im Detektor (1) für die Probe im
Detektor (N) und
N gleich 1-12 ist.
Die Gleichungen für alle zwölf Detektoren lassen sich zusammenfassen
in Form der Matrix-Gleichung
H- H * HMH·
Es wird somit zuerst eine Messung durchgeführt, um die Elemente der
Matrix T zu definieren und danach werden zwölf Messungen durchgeführt, um die Elemente in den Matrizen E und A zu definieren.
In den ersten Detektor wird eine Probe eingebracht und mit dem Gerät
eine Messung der in diesem Detektor erfaßten Strahlungsmenge und der Störstrahlungsmenge in allen der anderen Detektoren durchgeführt. Alle
diese Strahhingsmengen werden im Speicher des Geräts gespeichert. Die
Probe wird dann in den nächsten Detektor eingebracht und die Strahlungs-
9440 ^,.n
03 j j 42/0629 GB1CH: "'' '''-"^
menge, die in dem die Probe enthaltenden Detektor erfaßt wird, sowie
auch die Strahlungsmenge in allen der anderen Detektoren registriert. Alle diese Strahlungsmengen werden auch im Speicher des Geräts gespeichert.
Dieser Vorgang wird wiederholt, bis die Probe in allen zwölf Detektoren gemessen worden ist. Der Speicher des Geräts enthält dann
zwölf Datengruppen, bestehend jeweils aus zwölf Strahlungsmeßergebnissen für die untersuchte Probe. Es ist dieser Vorgang jeweils zu wiederholen,
wenn eine mit einem verschiedenen Isotop versehene oder gekennzeichnete Probe zu messen ist. Nach dem Speichern dieser Daten berechnet
das Gerät den Bruchteil der Strahlung der bei einem Detektor registriert wird, wenn sich die Probe in einem der anderen Detektoren befindet.
Mathematisch läßt sich dies als eine Inversion der Matrizen A und E ausdrücken. Nachdem diese Berechnung beendet ist und die Werte gespeichert
sind, führt das Gerät die Zählmessungen an den noch zu messenden Proben aus und verwendet die im Speicher gespeicherten Bruchteile
um die in jedem Detektor gemessene Strahlungsmenge bezüglich der Wirkung der Störstrahlung aus den in anderen Detektoren befindlichen Proben
zu korrigieren. Es wird dann ein Endergebnis geliefert, welches von den Wirkungen der Störstrahlung im wesentlichen frei ist. Bei dieser Ausführungsform
der Erfindung ist es möglich, das Ausmaß der um jeden einzelnen Detektor benötigten Detektorabschirmung beträchtlich zu verringern
und dabei immer noch mit hochenergetischer Strahlung Zählungen durchzuführen.
Bei anderen Ausführungsformen der Erfindung ist es möglich, das Verfahren
und die Vorrichtung bzw. das Gerät in einem mit einem einzigen Detektor versehenen Gerät zu verwenden, um das Ausmaß der Detektorabschirmung
zu verringern, zB. wenn Zählmessungen an Probenbatterien,
dh. an in Gestellen aufgereihten Proben durchgeführt werden. In diesem
Fall ist es möglich, den Bruchteil der Störstrahlung dadurch zu bestimmen,
daß Zählmessungen an einer einzigen Probe in allen Positionen im Gestell durchgeführt werden, und die Menge der Störstrahlung gemessen wird,
Q440 nRlßlNAL INSPECTED
944U 0 2 : : A 2 / 0 6 2 9 original uw
2346003
die von den anderen Positionen im Gestell aus registriert wird, wenn an
einer Leerprobe Zählmessungen durchgeführt werden. Die Bruchteile der Strahlung aus Proben, an denen keine Zählmessungen durchgeführt
werden, können dann gespeichert und dazu verwendet werden, die bei jeder Probe gemessene Strahlungsmenge bezüglich der Störstrahlung aus
anderen Proben zu korrigieren. Diese Ausführungsform der Erfindung erlaubt es auch, die Entfernung zwischen den störenden Proben und dem
Detektor zu reduzieren.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung ermöglicht es, bei Geräten
in denen mehrere Detektoren zum Messen von S tr ah lungs mengen verwendet werden, die Zählerausbeuten der einzelnen Detektoren zu korrigieren,
so daß diese Detektoren alle äquivalent sind. In diesem Fall wird jeweils die Strahlung registriert und gespeichert, die von jedem der Detektoren
registriert wird, wenn sich im Detektor eine Probe befindet und sich in
den übrigen Detektoren keine Proben befinden, d.h., es wird das Glied E (1) bestimmt.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung oder eine bevorzugte Verwendung
des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, das Verfahren zur Durchführung von Messungen an Proben anzuwenden, die mit mehreren
verschiedenen Isotopen versehen bzw. bezeichnet oder markiert sind, wonach die wahre Zählrate für jedes einzelne zur Bezeichnung oder Markierung
dienende Isotop bestimmt wird.
9440
03 0 042/0629
Claims (4)
1. Verfahren zum Korrigieren der Meßwerte bei der Messung der Strahlung
aus einer Anzahl von radioaktiven Proben ein einem Strahlungsmeßgerät, bei dem der Strahlungsdetektor von der Strahlung aus der Probe oder
zusätzlich auch von der Strahlung einer Anzahl anderer Strahlungsquellen beeinflußt wird, welche sich beim Meßvorgang an vorbestimmten Stellen
in Bezug auf den Detektor befinden, dadurch gekennzeichnet,
daß zuerst das Ausmaß der Wirkung der Strahlung der Probe und der an
den bestimmten Stellen befindlichen Strahlungsquellen auf den Detektor
dadurch bestimmt wird, daß eine Vergleichs- oder Bezugsquelle bekannter
Aktivität im Detektor und an jeder der bestimmten Stellen angeordnet wird und die damit erhaltenen Meßwerte bestimmt und im Detektor gespeichert
werden, wonach der Meßwert für jede Probe unter Berücksichtigung der an den anderen Proben erhaltenen Meßwerte und des Ausmaßes
9440-Dr.J/Au 030042/062 9 ORiGIN-M- U-IS
der Wirkung auf den Detektor kompensiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
mit Detektoren, die an jeder der bestimmten Stellen vorgesehen sind, an allen Proben gleichzeitig gemessen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Proben nacheinander in einem Detektor gemessen werden, wobei sich
bei der Durchführung der Messung an einer Probe die übrigen Proben an den vorbestimmten Stellen befinden.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßwert auch unter Berücksichtigung konstanter Hintergrundstrahlung
kompensiert wird.
0 3 : : /- 2 / 0 6 2 9
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ID=20336420
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