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DE2739182A1 - Steuerbarer halbleitergleichrichter mit mindestens vier schichten unterschiedlicher leitfaehigkeit - Google Patents

Steuerbarer halbleitergleichrichter mit mindestens vier schichten unterschiedlicher leitfaehigkeit

Info

Publication number
DE2739182A1
DE2739182A1 DE19772739182 DE2739182A DE2739182A1 DE 2739182 A1 DE2739182 A1 DE 2739182A1 DE 19772739182 DE19772739182 DE 19772739182 DE 2739182 A DE2739182 A DE 2739182A DE 2739182 A1 DE2739182 A1 DE 2739182A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
area
potential
emitter layer
primarily
ignited
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772739182
Other languages
English (en)
Inventor
Karl-Julius Ing Grad Finck
Marius Ing Grad Fuellmann
Dieter Dr Ing Silber
Wolfgang Ing Grad Winter
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DE19772739182 priority Critical patent/DE2739182A1/de
Publication of DE2739182A1 publication Critical patent/DE2739182A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • H10D62/17Semiconductor regions connected to electrodes not carrying current to be rectified, amplified or switched, e.g. channel regions
    • H10D62/192Base regions of thyristors
    • H10D62/206Cathode base regions of thyristors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • H10D62/13Semiconductor regions connected to electrodes carrying current to be rectified, amplified or switched, e.g. source or drain regions
    • H10D62/141Anode or cathode regions of thyristors; Collector or emitter regions of gated bipolar-mode devices, e.g. of IGBTs
    • H10D62/148Cathode regions of thyristors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F30/00Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors
    • H10F30/20Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors
    • H10F30/21Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H10F30/26Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices having potential barriers, e.g. phototransistors the devices being sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation the devices having three or more potential barriers, e.g. photothyristors
    • H10F30/263Photothyristors

Landscapes

  • Thyristors (AREA)

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf einen steuerbaren Halbleiter-
  • gleichrichter nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
  • Es ist bereits ein stromzündbarer Halbleitergleichrichter mit einer Vierschichtstruktur bekannt, bei welchem der mit der Steuerleistung beaufschlagte und primär gezündete Bereich der einen äußeren Emitterschicht mit einem Restbereich zusammenhängt (SCR-anual 1972, General Electric Comp., S. .
  • Ein derartiger Halbleitergleichrichter übernimmt den Laststrom nach der Zündung wegen der zusammenhängenden Bereiche der Emitterschicht auch noch bei sehr niedrigen Elemmenspannungen (2V), da sich die Zündung, im wesentlichen durch laterale Trägerdiffusion, vom primär gezündeten Bereich über den gesamten Halbleiterkörper ausbreitet.
  • Bei diesem Halbleitergleichrichter steht einer hohen Zündempfindlichkeit eine ebenfalls hohe du/dt-Empfindlichkeit des primär gezündeten Bereichs der Emitterschicht gegenüber; in diesem Bereich tritt bei ansteigender Vorwärts-Sperrspannung ein Störpotential auf, durch dasStörzündungen erfolgen.
  • Es ist auch bereits ein optisch zündbarer llalbleitergleich richter bekannt, bei welchem die äußere, der Strahlung ausgesetzte Emitterschicht ebenfalls aus einem primär gezündeten Bereich und einem Restbereich besteht, wobei diese Bereiche jedoch voneinander getrennt sind; die du/dt-Empfindlichkeit des primär gezündeten Bereichs ist durch eine Störpotential-Kompensation behoben, indem das Randpotential der der Emitterschicht benachbarten Steuerbasisschicht mittels einer Randelektrode abgegriffen und auf den separierten,primär gezündeten Bereich der Emitterschicht übertragen wird (IEEE Transaction on Electron Devises, Vol. ED-23, No 8, Aug. 1976, S. 899 - 904; DT-OS 25 49 563).
  • Bei diesem Halbleitergleichrichter erfolgt wegen des vom Restbereich der Emitterschicht abgetrennten primär gezündeten Bereichs bei sehr kleinen Klemmenspannungen (c2V) keine Ausbreitung der Zündung über den gesamten lialbleiterkörper, da bei derart kleinen Spannungen eine Folgezündung aber die Randelektrode nicht mehr möglich ist und auch eine Übergabe der Zündung auf denRestbereich analog dem bekannten Junction-Gate- oder Querfeldemitter-Prinzip extrem erschwert ist.
  • Der Erfindungliegt die Aufgabe zugrunde, einen steuerbaren Halbleitergleichrichter zu schaffen, der optisch - oder stromzündbar ist, der ferner bei hoher Zündempfindlichkeit unempfindlich gegen Yorwärts-Sperrströme oder Störströme aus ansteigenden Yorwärts-Sperrspannungen ist und bei dem eine sichere Zündausbreitung über den Halbleiterkörper auch bei sehr kleinen Klemmenspannungen erfolgt.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch-die im Kennzeichen der Ansprüche angegebenen Maßnahmen gelöst.
  • Derdurch die Erfindung erzielte Vorteil besteht insbesondere darin, daß ein hoch zündempfindlicher Halbleitergleichrichter mit hoher du/dt-Festigkeit erreicht ist, der auch bei sehr kleinen Kleinmenspannungen über seinen Gesamtkörper zündet, so daß keine Schwierigkeiten bei einer Parallelschaltung von mehreren solcher lalbleitergleichrichter auftreten; ferner ist eine bessere Anpassung des örtlichen Verlaufs des Kompensationspotentials in der äußeren Emitterschicht an den Verlauf des Störpotentials in der Steuerbasisschicht erreicht, so daß hohe lokale Überkompensationen vermieden sind, welche bei schnell zusammenbrechenden Vorwärts-Sperrspannungen wiederum eine Störzündung einleiten könnten.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand von in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 einen störpotentialkompensierten optisch zündbaren Halbleitergleichrichter in Draufsicht und Schnittansicht, Fig, 2 ein Potentialdiagramm zur Ausbildung nach der Fig. 1, Fig. 3 einen störpotentialkompensierten stromzündbaren Halbleitergleichrichter in Schnittansicht, Fig. 4 ein Potentialdiagramm zur Ausbildung nach der Fig. 3.
  • Der Halbleitergleichrichter 1 nach der Fig. 1 umfasst eine äußere, der Anregungsstrahlung im mittleren Bereich 51 ausgesetzte n -Emitterschicht 2, wobei dieser Bereich 51 mit dem weiteren Bereich 52 der Emitterschicht 2 verbunden ist; eine weitere p-Steuerbasisschicht 4; eine n-Hauptbasisschicht 5; eine p-Emitterschicht 6.
  • Auf der Emitterschicht 2 ist eine Kathodenelektrode 3 angeordnet, deren Potential als Bezugspotential gewählt ist; die zweite Emitterschicht 6 ist mit einer Anodenelektrode 7 versehen, die auf positivem Potential liegt.
  • Die Emitterschicht 2 weist Emitterkurzschlüsse 82i 82' in Lochform auf und ist U-förmig ausgespart, wobei diese Aussparung ein hochgezogener Teil der Steuerbasisschicht 4 einnimmt; in der mitte dieses Teil der Steuerbasisschicht 4 ist eine ebenfall U-förmige Elektrode 53 angeordnet, die über eine Leitung 55 mit einer auf dem mittleren Bereich 51 der Emitterschicht 2 angeordneten Elektrode 56 verbunden ist Wie aus derDraufsicht ersichtlich,ist der mittlere, primär gezündete Bereich 51 stegartig mit dem weiteren Bereich 52 der Emitterschicht 2 verbunden; der freie Teil des Bereichs51 57 ist von einer etwa halbmondförmigen Elektrode teilweise umgriffen, die auf einem weiteren hochgezogenen Teil der Steuerbasisschicht 4 angeordnet ist, die an dieser Stelle durch einen schmalen hochgezogenen Teil 80 der }Iauptbasisschicht 5 getrennt ist; an die Elektrode 57 ist eine Diode 14 geschaltet, die mit der Kathodenelektrode 3 verbunden ist.
  • Die Elektrode 53 wird zur Kompensation des unterhalb des primär gezündeten Bereichs 51 in der Steuerbasisschicht Q auftretenden Störpotentials foap (Fig. 2) herangezogen und diese liegt nicht mehr im Randbereich der Steuerbasisschicht 4; in der dargestellten Ausbildung dient die Elektrode 53 auch als Folgegate; bezogen auf die Störpotentiakompensation ist dies nicht unbedingt erforderlich. Die metallische Kathodenelektrode 3 kann auch auf den hochgezogenen U-förmigen Teil der Steuerbasisschicht 4 übergreifen, so daß dann eine Zündung des Halbleitergleichrichters durch Stromeinspeisung über die Elektrode 56, Leitung 55 und Elektrode 53 verhindert ist.
  • Die Höhe des ander Elektrode 56 durch den Kompensationsstrom erreichbaren Kompensationspotentials ist gegeben durch dieErsatzkapazität Ck mit den Ersatzwiderständen Rk1 und Rk2, zu denen ein weiterer Ersatzwiderstand Rk3 parallel liegt, der durch die zusammenhängenden Bereiche 51, 52 gebildet ist.
  • Der Ersatzwiderstand Rk3 ist bei den zusammenhängenden Bereichen 51, 52 relativ niedrig; durch Anbringung einer Ätzzone 81 im Bereich 51 erhält dieser eine erhöhte Querleitfähigkeit.
  • Ein bei du/dt-Belastung auftretender, durch die Kombination % 1 N 2 Ck erzeugter Strom fließt als Kompensationsstrom von der Elektrode 53 über Leitung 55, Elektrode 56, Bereich der Ätzzone 81 und Kathodenelektrode 3 ab; durch den mittels der Ätzzone 81 erhöhten Ersatzwiderstand Rk3 kann sich im Bereich 51 wegen desdurchfießenden Kompensationsstromes ein ausreichend hohes Kompensationspotential fc (Fig. 2) aufbauen.
  • Durch den schmalen hochgezogenen Bereich 80 der Hauptbasisschicht 5 ist erreicht, daß die in der Steuerbasisschicht 4 unterhalb des Bereichs 54 erzeugten optischen Ströme nur in Richtung des Einitterkurzschlusses 82' abfließen können und ein Abfließen in anderer Richtung verhindert ist.
  • Durch die Diode 14 erfolgt eine Begrenzung des unterhalb des primär gezündeten Bereichs 51 in der Steuerbasisschicht 4 auftretenden Störpotentials, so daß auch nur ein relativ kleines Kompensationspotential benötigt wird.
  • Der Halbleitergleichrichter unterscheidet sich vom bekannten optisch zündbaren und störpotentialkompensierten Halbleitergleichrichter durch die Emitterschicht 2 mit den zusammenhängenden Bereichen 51, 52, so daß die Zündausbreitung per Trägerdiffusion vom Bereich 51 zum Bereich 52 der Emitterschicht 2 ablaufen und so bei kleinen, am Halbleitergleichrichter anliegenden Klemmenspannungen ausdiffundieren kann.
  • Nachstehend wird die Wirkungsweise des Halbleitergleichrichters anhand des Diagrammes nach der Fig. 2 naher erläutert.
  • Wie ersichtlich, tritt im Störungsfall ohne Begrenzung ein relativ hohes kapazitives Störpotential #cap mit annallernd parabolischem Anstieg (Halbparabel) auf, während das Kompen sationspotential #comp relativ niedrig ist; das optische Potential #opt hat wie das Störpotential #cap nährungsweize halbparabolischen Verlauf.
  • Durch die Potentialbegrenzung fli der Diode 14 wird das Störpotential #'cap an der Elektrode 57 auf das Begrenzungspotential #lim festgelegt, welchs beispielsweise bei Verwendung einer Si-pn-Diode dei etwa 0,5 bis 0,6 V liegt.
  • Im Beispiel ist angenommen, daß das optische Potential #opt etwas größer als das Begrenzu»gspotential #lim ist, so daß das optischc Potential #opt geringfügig, jedoch nicht iLl Maximum, begrenzt wird.
  • Wenn die Diode 14 vorhanden ist fließt ein kapazitiver Strom Iq sowohl über die Reihenschaltung von Ersatzwiderstand R@2 und Diode 14 als auch über Ersatzwiderstand R zur Elektrode 3 ab, während ohne Diode 14 der Strom I allein über den Ersatzwiderstand R21 abfließen wüede, so daß sich q1 ein größeres Störpotential #can ergäbe. Der im wesentlichen zu kompensierende Teil A des Störpotentials #'cap ist also beträchtlich kleiner als das unlimitierte Störpotential #cap.
  • Die Quereitfä.higkeit der n+-Emitterschicht 2 @ ergibt den Ersatzwiderstand R131 der zu den Ersatzwiederständen Rk1 2 parallel liegt. Dadurch wird von der Elektrode 53 über die Leitung 55 zur Elektrode 56 ein Strom übertragen, der über die n+-Emitterbereiche 51, 52 zur Kathodenelektrode 3 abfließt. Dadurch entsteht innerhalb des Bereiches 51 zwischen den Elektroden 56 und 3 ein ortsabhängiges Kompensationspotential#comp, das seinen Nullpunkt an der von der Kathodenelektrode 3 überdekten Stelle des Bereiches 51 hat und das über einendurch Ätzung in seiner Schichtdicke verminderten Bereich 81 bis zur Elektrode 56 ansteigt und dann konstant bleibt.
  • Die Nullpunkte des Potentials der Steuerbasisschicht 4 liegen in den Emitterkurzschlüssen 82, insbesondcrc liegt der Nullpunkt der Störpotentiale#cap, #cap und des optischen Potentials#opt nicht notwendigerwiese an der gleichen Stelle wie das Kompensationspotential#comp.
  • Der stromzündbare Halbleitergleichrichter nach der Fig. 3 stimmt in seiner Schichtenstruktur mit dem nach der Fig. 1 überein; der Bereich 54 ist nunmehr der Zündbereich und die Elektrode 57 die Zündelektrode.
  • Der Halbleitergleichrichter wird mittels eines Steuerstromgenerators 64 gezündet, der übereine Gateleitung 83 einen Steuerstrom 1 liefert, der über die Gateelektrode 57 g in die Steuerbasisschicht 4 und über die Emitterkurzschlüsse82' abfließt entsprechend tritt an den in Reihe liegenden Ersatzwiderständen Rq1,Rq2 ein Potential Fz auf, das zurZündung im Bereich 54 der Emitterschicht 2 führt.
  • Im Fall einer du/dt-Belastung oder bei hohen Vorwärts-Sperrströmen entsteht im Zündbereich 54 ein entsprechend hohes kapazitives Störpotential flcap (Fig. 4), das aus den verteilten Ersatzkapazitäten Cq1, Cq der pn-Übergangskapazität der Schichten 4, 5 abgeleitet ist. Durch diese verteilten Ersatzkapazitäten hat das Störpotential poap einen halbparabolischen Verlauf.
  • Eine ungewollte Zündung durch dieses Störpotential #cap wirddurch die Einspeisung eines Kompensationsstromes in den Bereich51 der Emitterschicht 2 verhindert.
  • Der Kompensationsstrom wird gewonnen aus dem pn-Übergang der Schichten 4, 5 im Bereich 84, in dem eine Ersatzkapazität Ck und Ersatzwiderstände Rk1l Rk2 angedeutet sind.
  • Der in diesem pn-Übergang entstehende Strom wird zum Teil über den durch die Ersatzwiderstände Rki, Rk2 dargestellten Flächenwiderstand der Steuerbasisschicht 4 abgeführt; dergroßere Teil dieses Stromes fließt jedoch über die im Bereich 84 angeordnete Elektrode 53, Leitung 55, Elektrode 56 inden Bereich 51 der Emitterschicht 2, an deren Flächenwiderstand, dargestellt durch den Ersatzwiderstand Rk3, das Kompensationspotential#comp entsteht.
  • Dieses Kompensationspotential#comp hat, wie aus der Fig. 4 ersichtlich, im Bereich der Elektrode 56 einen unveränderten Verlauf und fällt dann überdem Flächenwiderstand (Rk3) bis zur Kante der Kathodenelektrode 3 linear ab.
  • Das Kompensationspotential#comp ist dadurch über den Bereich 51 der Emitterschicht 2 im Verlauf annähernd dem Verlaudte5törpotentials #c ap angepasst, so daß hierdurch große Über-oder Unterkompensationen vermeidbar sind.
  • Die gewollte Zündung #z erfolgt bei einer bestimmten Potentialhöhe (beispielsweise 0,7 V bei Raumtemperatur); das Störpotential Fcap darf wesentlich höhere Werte annehmen, weil durch den Kompensationsstrom der Bereich 51 der Emitterschicht 2 jeweils so weit angehoben wird, daß die verbleibende Potentiaidifferenz b über den Bereich 51 kleiner bleibt als das erforderliche Zündpotential fz.
  • Wie nicht weiter dargestellt, kann auch das Störpotential wieder durch Anwendung einer Diode begrenzt werden. Wegen der gegenüber einer optischen Zündung erforderlichen größeren Steuerleistung beim stromzündbaren Halbleitergleichrichter wirddas Zündpotential rz bei wesentlich niedrigeren Steuerbasis-Querwiderständen erreicht und daher wird auch das Störpotential Sc niedriger sein; bei extrem hohen du/dt-Belastungen müssen jedoch die Steuerbasis-Querwiderstände extrem niedrig gewählt werden, damit die du/dt-Belastung zu keiner Störzündung führt; es ist dann jedoch eine besonders große Steuerleistung erforderlich.
  • In diesem Fall ist es sinnvoll, die Steuerbasis-Querwiderstände nicht besonders niedrig auszubilden, sondern einfach eine Begrenzung des Störpotentials vorzunehmen.
  • Etwa auftretende kapazitive Störeinstreuungen in die Gateleitung 83 können durch eine leichte Überkompensation unschädlich gemacht werden. Diese Überkompensation kann erreicht werden, indem die Kombination Ck, Rk1, Rk2 im Bereich 84 und der Ersatzwiderstand Rk3 derart bemessen werden, daßdas Kompensationspotential tcomp höher ist, als comp wenn nur interne du/dt-Störströme auftreten würden. Zwecks Erhöhung desKompensationspotentials kann eine Vergrößerung der Fläche des Bereichs 84 erfolgen, so daß sich eine entsprechende Vergrößerung der Ersatzkapazität Ck ergibt oder/und dem Bereich 51 wird ein größerer Flächenwiderstand gegeben.

Claims (5)

  1. Patentansprüche Steuerbarer Haibleitergleichrichter mit mindestens vier Schichten unterschiedlicller Leitfähigkeit, wobei eine der als Elektronen- oder Löcher-Emitter ausgebildeten Außenschichten einen mittels einer Steuerleistung primär gezündeten Bereich aufweist, welcher mit dem Restbereich dieser Emitterschicht zusammenhängt, dadurch gekennzeichnet, daß in den primär gezündeten Bereich (51) der Emitterschicht (2) im Fall von du/dt-Stc,rströmen und Vorwärts-Sperrströmen ein Uus einem der pn-Übergänge des Halbleiterkörpers abgeleiteter Strom eingespeist wird, welcher durch seinen lateralen Abfluß in den Restbereich (52) der Emitterschicht (2) am Flächenwiderstand des primär gezündeten Bereichs (51) oder des Übergangs zum Restbereich (52) ein Kompensationspotential erzeugt.
  2. 2. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der primär gezündete Bereich (51) stegartig mit dem Restbereich (52) der Emitterschicht (2) verbunden ist.
  3. 3. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der primär gezündete Bereich (51) derart gestaltet ist, daß das durch den Kompensationsstrom im primär gezündeten Bereich (51) erzeugte Kompensationspotential (c ) in seinem Verlauf näherungsweise dem comp unterhalb des primär gez;indeten Bereichs (51) in der Steuerbasisschicht (4) auftretenden Störpotential (g ) entspricht.
  4. 4. Ilalbleiterglcich ichter nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das unterhalb des primär gezündeten Bereichs (51) der Emitterschicht (2) in der benachbarten Steuerbasisschicht (4) auftretende Störpotential (t ) begrenzt wird.
  5. 5. Halbleitergleichrichter nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil der Steuerbasisschicht (4) innerhalb der anliegenden Emitterschicht (2) inselförmig hochgezogen ist und daß eine direkte Verbindung (53,55,56) zwischen diesem Inselteil der Steuerbasisschicht (4) und dem primär gezündeten Bereich (51) der Emitterschicht (2) besteht.
DE19772739182 1977-08-31 1977-08-31 Steuerbarer halbleitergleichrichter mit mindestens vier schichten unterschiedlicher leitfaehigkeit Withdrawn DE2739182A1 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4366496A (en) * 1978-11-24 1982-12-28 Bbc Brown, Boveri & Company Limited Optically activatable semiconductor component

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US4366496A (en) * 1978-11-24 1982-12-28 Bbc Brown, Boveri & Company Limited Optically activatable semiconductor component

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