DE2721891A1 - Stabiles zweikanalspektrometer mit einzelfilter - Google Patents
Stabiles zweikanalspektrometer mit einzelfilterInfo
- Publication number
- DE2721891A1 DE2721891A1 DE19772721891 DE2721891A DE2721891A1 DE 2721891 A1 DE2721891 A1 DE 2721891A1 DE 19772721891 DE19772721891 DE 19772721891 DE 2721891 A DE2721891 A DE 2721891A DE 2721891 A1 DE2721891 A1 DE 2721891A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- filter
- interference filter
- scattered
- reflected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
StabilesZweikanalspektrometer mit Einzelfilter
Der Erfindung betrifft spektrometrische Instrumente, sie bezieht sich insbesondere auf Instrumente zur gleichzeitigen Betrachtung
mehrerer Spektralbereiche des von einem Medium gestreuten oder emittierten Lichtes, um Eigenschaften des Mediums zu überprüfen.
Die Prinzipien der Erfindung und einige ihrer wünschenswerten Eigenschaften lassen sich in Verbindung mit Raman-Temperaturmessungen
in heißen gasförmigen Medien, wie z.B. einer Flamme, erläutern, für die der Erfindungsgegenstand verwendet wird.
Wenn ein Lichtstrahl durch eine Flamme hindurchtritt, wechselwirkt
ein Teil des Lichts mit molekularen Teilchen in der Flamme und wird aus dem Strahl abgelenkt. Eines der Strahlablenkungsprozesse
wird allgemein als Raman-Streuung bezeichnet, wobei der
709848/0998
Begriff "Streuung" einen Reemissionsprozeß kennzeichnet, der
sofort einsetzt. Dieser Prozeß stellt einen Austausch einer beträchtlichen Energiemenge zwischen dem Photon des gestreuten
Lichts und den Streumolekülen dar, wodurch das gestreute Licht wesentlichen Verschiebungen in der Wellenlänge unterliegt. Die
resultierenden Banden des gestreuten Lichts sind für das spezielle
Streumolekül charakteristisch. Die Intensität jeder Bande ist proportional zur Anzahl der Moleküle in dem speziellen Ursprungszustand,
der zu dieser Bande führt; d.h. die Intensität einer Raman-Streulinie ist direkt proportional zur numerischen
Dichte der entsprechenden Moleküle und ist unabhängig von der numerischen Dichte anderer Moleküle. Die Raman-Streuung kann
daher verwendet werden, um eine direkte Information über die Zusammensetzung und die erregten Zustandsdichten der Moleküle
in einem System zu erhalten.
Für Gase im thermischen Gleichgewicht hängt das Raman-Spektrum sowohl von der Dichte als auch der Temperatur ab. Die Temperaturabhängigkeit
ist unabhängig von der Dichte und in geeigneten Spektralbereichen ausreichend stark, um empfindliche Temperaturmessungen
von Tiefstemperaturen bis zu Verbrennungstemperaturen zu ermöglichen. Die spektralen Auflösungskanäle müssen jedoch
bezüglich einander stabil sein, und auf Grund der Schwäche der Raman-Streuung muß jedes beliebige verwendete Instrument zur
Spektralauflösung einen sehr hohen Lichtdurchgang ermöglichen. Diese Anforderungen werden durch die kompakte, nicht störan fällige,
stabile und wirksame Vorrichtung gemäß der Erfindung erfüllt.
Teraperaturmessungen aus Raman-Spektren lassen sich dadurch durchführen,
daß das Intensitätsverhältnis zweier deutlicher Raman-Linien oder zweier benachbarter Spektralbanden längs des Raman-Spektrums
erzeugt werden. Die beiden Intensitäten werden gleichzeitig gemessen, es läßt sich eine hohe zeitliche Auflösung erzielen,
und es sind Realzeit-Messungen möglich. Da die Raman-
709848/0998
Messungen auf zwei benachbarte schmale Banden begrenzt werden können, werden sie im wesentlichen gleichartig von Störeffekten
beeinflusst, die sich herausheben, wenn das Intensitätsverhältnis gebildet wird. Eine hierin beschriebene Ausführungsform der Erfindung
betrifft die Bestimmung von Flammentemperatur, wobei das Verhältnis der Streuintensitäten z.B. in der Grundschwingsungsbande
und der Bande des ersten oberen Zustandes der schwingenden Raman-Streuung eines molekularen Stoffes in der Flamme gebildet
wird.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine einfache, störunanfällige,
stabile und wirksame Vorrichtung zur Messung der Intensitäten zweier oder mehrerer Spektralbanden des Lichts zu schaffen.
Aufgabe der Erfindung ist es ferner, eine kompakte Zweikanal-Flammentemperaturmeßvorrichtung
mit einem Einzelfilter zu schaffen, die auf schwingende (vibrational) Raman-Streuung des Laser-Lichts
anspricht.
Aufgabe der Erfindung ist es ferner, ein vereinfachtes Verfahren
und eine vereinfachte Vorrichtung anzugeben, um in Realzeitmessungen das Verhältnis der Grundschwingungsbande und der Bande
des ersten oberen Zustandes der schwingenden Raman-Streuung des Laser-Lichts von einem molekularen Stoff in einer Flamme zu bestimmen.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung überwacht
ein stabiles Zwelkanalspektrometer das von einem Medium abgege bene Licht, wobei es eine Eigenschaft des Mediums bestimmt.
Das Spektrometer enthält Einrichtungen, um das von dem Medium herrührende Licht zu kollimieren, und ferner Einrichtungen, um
das kollimierte Licht in zwei Strahlen aufzuteilen. Beide Strah len werden unter einem unterschiedlichen Winkel durch dasselbe
Interferenzfilter geleitet, wobei die Winkel so gewählt sind, daß die entsprechende Durchlaßbande des Filters mit einem der
beiden zu beobachtenden Banden übereinstimmt. Es lassen sich
709848/0998
geteilten optische Nachweiseinrichtungen in Form eines einzelnenVoptischen
Detektors verwenden, wobei die beiden vom Filter
getrennte herrührenden Strahlen je auf eine Wahrnehmungsstelle des
Detektors auftreffen. Vorgesehen sind auf den Detektor ansprechende
Einrichtungen, die eine Anzeige des Verhältnisses der Lichtintensität auf beiden Wahrnehmungsstellen des Detektors
liefern.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird ein Verfahren zur Bestimmung der Flammentemperatur angegeben,
bei dem aus einem Laser stammendes Licht an einer Flamme gestreut wird. Dieses Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß
ein kleiner Teil des gestreuten Lichts kollimiert wirdflaß das
kollimierte Licht in zwei Strahlen aufgespalten wird, daß beide Strahlen gemeinsam durch ein Interferenzfilter unter unterschiedlichen
Winkeln hindurchlaufen, daß die Winkel derart gewählt sind, daß die jeweils entsprechende Durchlaßbande des
Filters mit je einem der beiden Streubanden zusammenfällt, die
beobachtet werden sollen. Das Intensitätsverhältnis der zwei von dem Einzelfilter herrührenden Strahlen wird gemessen und erzeugt
eine Anzeige der Flammentemperatur.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung an Hand der Zeichnung näher erläutert.
In den Figuren zeigen :
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Flammenbestrahl-
und Streulicht-Nachweisanordnung gemäß der Erfindung;
Fig. 2 eine graphische Darstellung der Temperaturabhängigkeit der schwingenden Raman-Streuung des Stickstoffs, das
bei einer Wellenlänge von 4880 Angström erregt ist;
Fig. 3 eine schematische Darstellung der Lichtnachweisvorrichtung
gemäß einer ersten Ausführungsform der
709848/0998
Erfindung;
Fig. 4 eine schematische Darstellung der Lichtnachweisvorrichtung
gemäß einer zweiten Ausbildungsform der Erfindung; und
Fig. 5 eine graphische Darstellung der Lichttransmission durch die in den Vorrichtungen gemäß Fig. 3 und 4
verwendeten Interferenzfilter für einen Bereich des Lichteinfallswinkels, mit dem das Licht auf die Filter
auftrifft.
In Figur 1 ist eine Quelle 10 eines hoch monochromatischen Lichts, wie z.B. ein Laser, längs einer Achse 13 ausgerichtet
und bestrahlt einen Teil einer Flamme 11. Eine Lichtnachweisvorrichtung 12 ist auf die Flamme gerichtet und liegt typischerweise
außerhalb der Achse des durch den Laser 10 erzeugten Strahls. Das durch die Gasmoleküle in der Flamme gestreute
Licht wird auf den Eingang der optischen Nachweisvorrichtung mittels optischer Fokuseiereinrichtungen 14, die z.B. als Linse
dargestellt sind, fokussiert.
Figur 2 zeigt eine Spektralverteilung der schwingenden Raman-Streuung
der Stickstoffmoleküle, die durch ein Licht mit einer Wellenlänge von 4880 Angström erregt sind. Diese Kurven wurden
von M. Lapp in dem Beitrag "Flame Temperatures From Vibrational
Raman Scattering" in der Veröffentlichung Laser Raman Gas Diagnostics* herausgegeben von M. Lapp und CM. Penney, S. 107
bis 122 (Plenum Press, 1974) aufgestellt. Die Apparatur nach Figur 1, bei der der Laser 10 Licht mit einer Wellenlänge von
4880 Angström emittiert, kann daher verwendet werden, um Flammentemperaturen
dadurch zu bestimmen, daß das Verhältnis der Streuintensitäten der Grundschwingungsbande und der Bande des
ersten oberen Zustandes der schwingenden Raman-Streuung der Stickstoffmoleküle der Flamme gemessen wird. Diese Banden können
im gestreuten Licht separiert werden, so daß deren Inten-
709848/0998
sitätsverhältnis durch Verwendung eines Gitterspektrometers oder eines Interferenzfilter bestimmt werden kann, wobei
letzteres deshalb wünschenswerter ist, da Interferenzfilter bei vorgegebenen Kosten mehr Licht sammeln können, weniger
störanfällig sind und einfach aufzubauen sind. Es ist ferner wünschenswert, die Grundschwingsbande und die Bande des ersten
oberen Zustande gleichzeitig zu beobachten, um äquivalente Daten zu erhalten, und um eine Zeitauflösung in der Größenordnung
einer Mikrosekunde oder besser zu erhalten, wobei an Stelle des Lasers 10 ein gepulster Laser verwendet wird.
In der in Figur 3 dargestellten Ausfuhrungsform der Lichtnachweisvorrichtung
wird das in einem kleinen Bereich einer Flamme (typischerweise ein Bereich mit zylindrischem Volumen von etwa
1 mm Länge und 0,1 mm Durchmesser) gestreute monochromatische Licht aufgesammelt und in der in Figur 1 dargestellten Weise
auf einen Schlitz 20 fokussiert. Das durch den Schlitz hindurchlaufende Licht wird durch die Linse 21 kollimiert und auf ein
Biprisma 22 geleitet (es handelt sich bevorzugt um ein Fresnel-Biprisma,
um die mögliche Empfindlichkeit gegenüber räumlichen Schwankungen zu verringern). Das Biprisma bricht die Strahlen
des einfallenden Lichtes in zwei Strahlenbündel auf. Die beiden vom Biprisma abgehenden Strahlenbündel treffen auf einem Interferenzfilter
23 auf.
Die Einfallwinkel der beiden auf das Filter 23 gerichtete Strahlenbündel
werden durch geeignete Orientierung des Filters um seine Neigungsachse 28 so ausgewählt, daß die entsprechenden Durchlaßbanden
des Filters mit den beiden betreffenden Raman-Streubanden zusammenfallen, die beobachtet werden sollen. Da das Verhältnis
der Streuintensitäten in der Grundschwingungsbande und der Bande des ersten oberen Zustande der Raman-Schwingungsstreuung
gesucht ist, wobei die Streuung durch Stickstoffgas erzeugt
wird, sind die Durchlaßbanden bevorzugt um 5506 Angström und 5496 Angström herum angeordnet, wobei jede Bandbreite z.B. ungefähr
5 Angström beträgt.
709848/0998
Nach dem Austritt aus dem Filter 23 werden die Strahlenbündel
räumlich dadurch voneinander getrennt, daß sie durch eine Linse 24 auf getrennte Wahrnehmungsbereiche 25 refokussiert werden.
Diese Bereiche können zwei separate Wahrnehmungsbereiche eines einzigen zusammengesetzten Detektors, wie z.B. einer geteilten
Photodiode (split photodiode) der zur Positionwahrneh mung verwendeten Bauart sein, es können Vielkathoden-Photovervielfacher, oder ein optischer Vielkanaldetektor sein, so
z.B. der sogenannte Optical Multichannel Analyzer, der von der Princeton Applied Research Corporation, Princeton, New Jersey,
unter dem Handelsnamen OMA verkauft wird. Die Verwendung eines einzigen Detektors kann die relative Stabilität zwischen zwei
beliebigen Nachweiskanälen erhöhen.
Die Ausgangssignale der Nachweiskanäle 25» die der Intensität des von dem betreffenden Kanals wahrgenommenen Lichtstrahls entsprechen,
werden einem Verhältnis-Nachweiskreis 26 zugeführt, der ein Ausgangssignal erzeugt, dessen Amplitude proportional
zum Verhältnis der anliegenden Eingangsignale ist. Das Ausgangs
signal des Verhältnis-Nachweiskreises 26 wird einer Anzeigevor richtung 27, z.B. einem Voltmeter, zugeführt, das eine Sichtan
zeige der Amplitude dieses Ausgangssignals abgibt.
In Betrieb entspricht der von einem der Kanäle des Photodetek tors 25 wahrgenommene Lichtstrahl der Fundamentalbande des ge
streuten Lichts, während der von dem anderen Kanal des Photo detektors wahrgenommene Strahl der Bande des ersten oberen Zustands
des gestreuten Lichts entspricht. Die Ausgangssignale des Photodetektors 25 kennzeichnen daher die Amplituden dieser
beiden Lichtstrahlen, und die Anzeigevorrichtung 27 erzeugt da her eine Anzeige des Intensitätsverhältnisses der beiden Banden
des gestreuten Lichts. Da dieses Verhältnis ein Maß für die Temperatur der Moleküle darstellt, die das Laser-Licht streuen,
ist die durch die Anzeigevorrichtung 27 erzeugte Anzeige proportional zu dieser Temperatur. Auf diese Weise lässt sich daher
die Temperatur eines Punktes innerhalb der Flamme von fern
709848/0998
AS
bestimmen.
Eine genaue Orientierung des Interferenzfilters 23 bezüglich der einfallenden Lichtstrahlen ist für das erfogreiche Arbeiten
der in Figur 3 dargestellten Vorrichtung kritisch. Wenn der Winkel zwischen einem Lichtstrahl und der Normalen eines
Interferenzfilters von null an erhöht wird, bewegt sich der Durchlaßbereich des Filters nach kürzeren Wellenlängen hin.
Dieses Verhalten ist graphisch in Figur 5 dargestellt. Wie ferner in Figur 5 dargestellt ist, bleibt die Gestalt des Durch laßbereichs
oder der Durchlaßbande nahezu konstant bei kleinen Winkeln 0 zwischen einem auf einem Interferenzfilter, wie dem
Filter 23 nach Figur 3, einfallenden Lichtstrahl und der normalen Richtung zu diesem Filter (d.h. wenn 0 kleiner als etwa
20° ist). Die Mitten-Wellenlänge läßt sich für jeden beliebigen Winkel 0 ausdrücken als :
λ(40 = X0 [1 - (Sin 2GS)/η2]
wobei 40 die Mitten-Wellenlänge für normalen Lichteinfall (d.h.,
für 0=0) darstellt, und wobei η der effektive Brechungsindex der Filterschichten (typischer Wert 1,45) ist. Die obige Gleichung
kann zur Berechnung der Winkel 0 verwendet werden, die z.B. Durchlaßbereiche bei 5506 und 5496 Angström liefern, wobei diese
Winkel der Grundschwingungsbande und der Bande des ersten oberen Zustande des mit 4880 Angström erregten Stickstoffs entsprechen.
Die resultierenden Winkel sind in Tabelle I dargestellt.
709848/0998
272Ί89Ί
Winkelabhängigkeit des Durchlaßbereichs des Interferenzfilters für η = 1,45
| (Angström) | 0 (5506 Angström) |
0 (5496 Angström) |
0 |
| 5506 5509 ο 59 5515.97 5545.91 |
0° 3° 5° 10° |
5.011° 5.842° 7.081° 11.198° |
5.011° 2.842° 2.081° 1.198° |
Dieser oben stehenden Tabelle läßt sich entnehmen, daß die Kollimation des gestreuten Lichts in der Größenordnung von 0,3°
bis 1° in einer Ebene senkrecht zur Neigungsachse 28 dee Filters 23 sein muß. D.h., in der zur Schwenkachse 28 des Filters senkrechten
Ebene müssen die auf das Filter auftreffenden Lichtstrahlen zu einem winkel kollimiert sein, der wesentlich kleiner als
Λ 0 ist, damit die durch Unvollkommenheit der Kollimation vorhandene
Ausbreitung der Durchlaßbereiche kleiner als die Separation zwischen den Durchlaßbereichen ist. Die Länge des Schlitzes
20 (normal zur Ebene, in der Figur 3 dargestellt ist) ist größer als dessen Breite, wodurch eine Kollimation in der durch den
Schlitz verlaufenden und die Neigungsachse des Filters einschliessenden
Ebene ungefähr 2° sein kann. Diese Kollimationswinkel ( die den Divergenzwinkel zwischen den am breitesten beabstandeten
Strahlen in den auf das Interferenzfilter gerichteten Strahlenbündel darstellen) lassen sich mit dem in Figur 3 dargestellten
Aufbau leicht realisieren, und die durch den Aufbau erforderlichen Winkelgrößen eignen sich für eine kompakte und störunanfällige
Anordnung.
709848/0998
Figur 4 zeigt eine zweite bevorzugte erfindungsgemäße Ausführungsform, bei der Mehrfachreflexionen verwendet werden, um einen
zweiten Lichtstrahl zu erzeugen, der ursprünglich von der ersten Oberfläche des Interferenzfilters reflektiert wurde, das durch
den ersten kollimierten Lichtstrahl angestrahlt wurde. Insbesondere wird, wie in der Ausführungsform nach Figur 3» das von einem
schmalen Bereich in einer Flamme gestreute monochromatische Licht (typischerweise besitzt der Bereich wiederum ein zylindrisches
Volumen von etwa 1 mm Länge und 0,1 mm Durchmesser) gesammelt und gemäß der in Figur 1 dargestellten Weise auf einem Spalt 30
fokussiert. Das durch den Schlitz hindurchtretende Licht wird durch die Linse 31 kollimiert und auf ein Interferenzfilter 32
geleitet. Das Filter 32 ist um seine Neigungsachse 36 so orientiert, daß der Einfallswinkel des kollimierten Lichtstrahls vom
Schlitz 30 mit dem Winkel übereinstimmt, der erforderlich ist, damit Licht derjenigen Wellenlänge durch das Filter hindurchtreten kann, die der Bande des ersten oberen Zustande der Raman-Streuung entspricht. Dieses Licht wird nach dem Austritt aus dem
Filter durch eine Linse 33 auf einem der Kanäle eines Aufspalt-Photodetektors 25 in einer Weise refokussiert, die der bei der
Vorrichtung nach Figur 3 geschilderten Weise ähnlich ist.
Da das Licht vom Schlitz 30 mit einem von der normalen Richtung
leicht abweichenden Einfallswinkel auf das Filter 32 auftrifft,
reflektiert die vom gestreuten Licht bestrahlte erste Oberfläche des Filters 32 das Licht zurück durch die Kollimationslinse 31
mit einer Winkelabweichung gegenüber dem durch den Schlitz 30 hindurchtretenden gestreuten Licht. Dieser reflektierte Strahl
wird auf einen ersten Reflektor, z.B. einen Spiegel 34 geleitet,
der das Licht auf einen zweiten Reflektor, z.B. einen Spiegel reflektiert, von wo der Lichtstrahl zurück durch die Kollimationslinse 31 auf das Interferenzfilter 32 reflektiert wird. Der Einfallswinkel dieses reflektierten Lichtstrahls auf das Filter 32
ist so gewählt, daß er mit dem Winkel übereinstimmt, der erforderlich ist, damit Licht mit einer der Grundschwingungsbande der
709848/0998
-Vi-
Raman-Streuung entsprechenden Wellenlänge durch das Filter 32 hindurchtritt. Das vom Filter 32 austretende Licht in der Grundschwingungsbande
der Raman-Streuung wird durch die Linse 33 auf den zweiten Kanal des Aufspalt-Photodetektors 25 refokussiert.
Wie in der Anordnung nach Figur 3 wird ein Ausgangssignal von jedem der Kanäle des Photodetektors 25 einem Verhältnis-Nachweiskreis
26 zugeführt, und die Anzeigeeinrichtung 27 liefert eine Ausgangsanzeige, die in Temperaturwerten der zu Überwachenden
Flamme geeicht sein kann. Es sei bermerkt, daß die Vorrichtung nach Figur 4 eine etwas kleinere Stabilität besitzen kann, dagegen
jedoch eine höhere Ausbeute als die Vorrichtung nach Figur 3 besitzt. Die Winkelabhängigkeit des Interferenzfilters 32 in
Figur 4 ergibt sich wie diejenige des Interferenzfilters 23 der Figur 3 aus obenstehender Tabelle I. Wie bei der Vorrichtung nach
Figur 3 muß die durch die Linse 31 erfolgende Kolllmation des gestreuten
Lichts in der Größenordnung von 0,3° bis 1° in der Ebene senkrecht zur Neigungsachse 36 des Filters, und ungefähr 2° in
derjenigen Ebene sein, die mit der Neigungsachse des Filters und der Longitudinalachse des Schlitzes 30 zusammenfällt.
Figur 5 zeigt, wie schon erwähnt, die Auswirkung einer Änderung des Einfallswinkels des auf ein Filter, z.B. auf das Filter 32
nach Figur 4, einfallenden Lichts als Ergebnis der Filterneigung. Während also das Filter geneigt wird, um den Einfallswinkel 0
von null Grad gegen 45 Grad zu erhöhen, nimmt die Durchlässigkeit des Filters ab, und die Selektivität des Filters nimmt auf Grund
der mit wachsendem Einfallswinkel wachsenden Bandbreite des Durchlaßbereichs des Filters ab. Während der Einfallswinkel zunimmt,
nimmt darüberhinaus die Mitten-Wellenlänge des Durchlaßbereiche des Filters ab, so daß bei kleineren Einfallswinkeln die Grundschwingungsbande
der Raman-Streuung durch das Filter hindurchtreten kann, während bei größeren Einfallswinkeln die Bande des
ersten oberen Zustande der Raman-Streuung durch das Filter hindurchlaufen kann. Die Verwendung zweier gleichzeitiger Strahlen,
die durch das Interferenzfilter in der Vorrichtung entweder nach Figur 3 oder Figur 4 hindurchtreten kann, gestattet folglich
709848/0998
eine gleichzeitige Bestimmung der Lichtintensität in der Grundschwingungsbande und der Bande des ersten oberen Zustande der
Raman-Schwingungsstreuung, wobei das Verhältnis dieser Werte verwendet wird, um Realzeit-Temperaturdaten zu erhalten.
Vorstehend wurde ein Zweikanalspektrometer mit Einzelfilter beschrieben, das auf Laserlicht anspricht, das von einem Medium
gestreut oder reflektiert wird, wobei das Spektrometer ein einfaches, störunanfälliges, stabiles und wirksames Instrument zur
Messung des Intensitatsverhältnisses zweier Strahlen monochromatischen Lichts darstellt, die zwei verschiedene Wellenlängen
besitzen. Die Vorrichtung ermöglicht eine Realzeitmessung eines Verhältnisses der Grundschwingungsbande und der Bande des ersten
oberen Zustande der Raman-Schwingungsstreuung des Laserlichts eines molekularen Stoffes in einer Flamme.
Es sei bemerkt, daß sich das spektrometrische Instrument der vorliegenden Erfindung auch für Messungen an Medien verwenden läßt,
die nicht als molekularer Stoff in einer Flamme vorliegen, bei denen jedoch eine physikalische Größe des Mediums eine charakteristische Änderung in den überwachten Spektren hervorruft. So
lassen sich z.B. auf die hier beschriebene Weise Temperaturmessungen der Atmosphäre vornehmen, wobei diese Messungen auf der
Rotations-Ramanstreuung und nicht so sehr auf der Schwingungs-Ramanstreuung basieren. Allgemeiner lassen sich auch Farbrer -gleiche durch Überwachung des von einem Medium herrührenden
Lichte durchführen.
Obwohl lediglich gewisse bevorzugte Merkmale der Erfindung in Verbindung mit den Figuren beschrieben wurden, sind viele Abwandlungen und abgewandelte Ausführungsformen für den Fachmann möglich.
709848/0998
-W-Le e rs e 11 e
Claims (7)
- AnsprücheSpektrometer zur gleichzeitigen Messung der Lichtintensität in zwei Spektralkanälen,
gekennzeichnet durch, ein Interferenzfilter (23> 32);Einrichtungen (22; 32, 3^, 35) zur Aufteilung von überwachtem Licht in zwei kollimierte Strahlen, wobei jeder Stranl in einer getrennten Richtung gegen das Filter (23; 32) derart gelenkt wird, daß der Einfallswinkel jedes Strahles auf das Filter (23;, 32) mit dem Einfallswinkel übereinstimmt, der für den Durchgang durch das Filter (23; 32) von einem getrennten Wellenlängenband erforderlich ist, das beobachtet werden soll;optische Nachweiseinrichtung (25), die auf jeden getrennten und aus dem Filter (23> 32) austretenden Strahl ansprechen, und
Einrichtungen (26, 27), die auf die NachweiseinrichtungenORIGINAL INSPECTED 709848/0998(25) ansprechen und eine Anzeige über die Intensitäten der aus dem Filter (23, 32) austretenden Strahlen liefern. - 2. Spektrometer nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 34, 35) zur Aufteilung des kollimierten, Überwachten Lichts in zwei Strahlenbündel ein Fresnel-Biprisma (22) enthalten, das in den Pfad des Überwachten Lichts eingefügt ist, - 3. Spektrometer nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 34, 35) zur Aufteilung des kollimierten, Überwachten Lichts in zwei Strahlen Reflektoreinrichtungen (34, 35) enthalten, die in dem Pfad des von dem Interferenzfilter (32) reflektierten Licht angeordnet sind und das vom Interferenzfilter (32) reflektierte Licht zurück zu dem Interferenzfilter (32) unter einem vorgegebenen Winkel bezüglich des direkten Pfads des gegen das Interferenzfilter (32) laufenden überwachten Lichts leiten. - 4. Spektrometer nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Reflexionseinrichtungen (34, 35) einen ersten Reflektor (34) und einen zweiten Reflektor (35) enthalten, daß der erste Reflektor in dem Pfad des vom Interferenz filter (32) reflektierten Licht angeordnet ist und das vom Interferenzfilter (32) reflektierte Licht auf den zweiten Reflektor (35) leitet, daß der zweite Reflektor das auf ihn auffallende Licht zurück zum Interferenz filter (32) unter einem vorgegebenen Winkel bezüglich des direkten Pfads des gegen das Interferenzfilter (32) einfallenden, überwachten Lichts leitet. - 5. Vorrichtung zur Bestimmung der Temperatur eines gasförmigen709848/0998Mediums in einer Raman-Temperatursonde, wobei Licht eines Lasers durch das gasförmige Medium gestreut wird, gekennzeichnet durch:ein Interferenzfilter (23; 32);Einrichtungen (22; 32, 3^, 35) zur Aufteilung des von dem gasförmigen Medium gestreuten Lichts in zwei kollimierte Strahlenbündel, wobei jedes der Strahlenbündel derart geleitet wird, daß er unter unterschiedlichen Winkeln durch das Filter (23; 32) hindurchtritt, wobei Jeder der Winkel so gewählt ist, daß das entsprechende Durchlaßband des Filters mit je einem der beiden zu beobachtenden Streu banden zusammenfällt;optische Nachweiseinrichtungen (25), die gleichzeitig auf die beiden getrennten, und vom Filter (23, 32) herrührenden Strahlenbündel ansprechen, undEinrichtungen (26, 27), die auf die Nachweiseinrichtungen (25) ansprechen und eine Anzeige des Intensitätsverhältnisses der von dem Filter (23; 32) herrührenden Strahlenbündel liefern.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Nachweiseinrichtungen (25) einen einzigen geteilten optischen Detektor (25) enthalten, daß die beiden vom Filter (23; 32) herrührenden Strahlenbündel auf Je einen separaten Wahrnehmungsbereich des Detektors (25) auftreffen, und daß die auf die Nachweiseinrichtungen (25) ansprechenden Einrichtungen (26, 27) das Verhältnis der Lichtintensität von jeder Nachweisstelle des Detektors (25) anzeigt. - 7. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 34, 35) zur Aufteilung des70 3 848/0998— Ίgestreuten Lichts in zwei kollimierte Strahlenbündel ein Fresnel-Biprisma (22) enthalten, das im Pfad des vom gasförmigen Medium gestreuten Lichts angeordnet ist.8. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 34, 35) zur Aufteilung des gestreuten Lichts in zwei kollimierte Strahlen Reflektoreinrichtungen (34, 35) enthalten, die in dem Pfad des vom Interferenzfilter (32) reflektierten Lichts angeordnet sind und das vom Interferenzfilter (32) reflek tierte Licht unter einem vorgegebenen Winkel zurück zum Interferenzfilter leiten, wobei der Winkel bezüglich des direkten Pfads des vom gasförmigen Medium gestreuten, und auf das Filter zueilenden Lichts vorgegeben ist.9. Vorrichtung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die Reflektoreinrichtungen (34, 35) einen ersten Spiegel (34) und einen zweiten Spiegel (35) enthalten, daß der erste Spiegel (34) in dem Pfad des vom Interferenzfilter (32) reflektierten Lichts angeordnet ist und das vom Interferenzfilter reflektierte Licht auf den zweiten Spiegel (35) leitet, daß der zweite Spiegel (35) das auf ihn auffallende Licht zurück zum Interferenzfilter (32) unter einem Winkel leitet, der bezüglich des direkten Pfads des vom gasförmigen Medium gestreuten, und auf das Filter zueilenden Lichts vorgegeben ist.10. Vorrichtung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 34, 35) zur Aufteilung des gestreuten Lichts in zwei kollimierte Strahlen ein Fresnel-Biprisma (22) enthalten, das in dem Pfad des vom gasförmigen Medium gestreuten Lichts angeordnet ist.70J348/099811. Vorrichtung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen (22; 32, 3h, 35) zur Aufteilung des gestreuten Lichts in zwei kollimierte Strahlen Reflektoreinrichtungen (3^, 35) enthalten, die in dem Pfad des vom Interferenzfilter (32) reflektierten Lichts angeordnet sind und das vom Interferenzfilter (32) reflektierte Licht unter einem vorgegebenen Winkel zurück zum Interferenzfilter leiten, wobei der Winkel bezüglich des direkten Pfads des durch das gasför mige Medium gestreuten, und auf das Filter zulaufenden Lichts vorgegeben ist.12. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Nachweiseinrichtungen (25) einen optischen Vielkanaldetektor (25) enthalten, daß die beiden vom Filter (23; 32) herrührenden Strahlenbündel auf separate Wahrnehmungsstellen des Detektors (25) auftreffen, und daß die Einrichtungen (26, 27), die auf die Nachweiseinrichtungen (25) ansprechen, eine Anzeige des Verhältnisses der Lichtintensität auf irgendeinem Paar der Wahrnehmungsstellen des Detektors (25) erzeugen.13. Vorrichtung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Nachweiseinrichtungen (25) einen Vielkathoden-Photovervielfacher enthalten, daß die beiden vom Filter (23; 32) herrührenden Strahlenbündel je auf eine separate Wahrnehmungsstelle des Photovervielfachers (25) auftreffen, und daß die Einrichtungen (26, 27), die auf die Nachweiseinrichtungen (25) ansprechen, das Verhältnis der Lichtintensität von irgendeinem Paar der Wahrnehmungsstellen des Photovervielfachers (25) anzeigen.7 >■■ ■ S /♦ B / ü 9 9 814. Verfahren zur Messung der Lichtintensität in zwei Spektralbanden,dadurch gekennzeichnet, daß ein Interferenzfilter mit vorgegebenem Durchlaßbereich derart orientiert wird, daß Licht in einer der beiden Spektralbanden durch das Filter hindurchtritt und das Licht der anderen der beiden Spektralbanden von dem Filter reflektiert wird, und daß das vom Filter reflektierte Licht unter einem derartigen Winkel zurück zum Filter reflektiert wird, daß der Durchlaßbereich des Filters mit der anderen der Spektralbanden zusammenfällt.15« Verfahren zur Bestimmung der Intensität zweier Spektralbanden von einfallendem Licht, dadurch gekennzeichnet, daß das einfallende Licht in zwei kollimierte Strahlen aufgespalten wird, und daß jeder der beiden Strahlenbündel jeweils unter einem bezüglich eines Interferenzfilters verschiedenen Winkel durch das Interferenzfilter geleitet wird.16. Verfahren zur Bestimmung der Temperatur eines gasförmigen Mediums, bei dem monochromatisches Licht durch das gasförmige Medium eine Raman-Streuung erfährt, gekennzeichnet durchdie Kollimation eines Teils des vom gasförmigen Medium gestreuten Lichts,das Aufspalten des kollimierten Lichts in zwei Strahlen,das Lenken der beiden Strahlen derart, daß sie gemeinsam durch ein Interferenzfilter unter verschiedenen Winkeln hindurchtreten, wobei die Winkel derart gewählt sind, daß der entsprechende Durchlaßbereich des Filters jeweils mit jedem der beiden zu beobachtenden Streubanden7i 'ι £ υ / 0 9 9 8X72189zusammenfällt, unddas Messen des Intensitatsverhältnisses der beiden vom Filter herkommenden Strahlen, um eine Anzeige über die Temperatur des gasförmigen Mediums zu erlangen.17. Verfahren zur Bestimmung der Temperatur eines gasförmigen Mediums, bei dem monochromatisches Licht am gasförmigen Medium eine Raman-Streuung erfährt, gekennzeichnet durchdie Kollimation eines Teils des vom gasförmigen Medium gestreuten Lichts,das Ausrichten eines Interferenzfilters mit einem vorgegebenen Durchlaßbereich, derart, daß das kollimierte, gestreute Licht in einem Spektralbereich durch das Filter hindurchtritt und in einem zweiten Spektralbereich vom Filter reflektiert wird,das Reflektieren des vom Filter reflektierten Lichts zurück zu dem Filter unter einem derartigen Winkel, daß der Durchlaßbereich des Filters mit dem zweiten Spektralbereich oder Spektralbande zusammenfällt, unddas Messen des Intensitätsverhältnisses zwischen ersten und zweiten Spektralbereichen, die vom Filter austreten, um eine Anzeige über die Temperatur des gasförmigen Mediums zu erlangen.7 L . y /♦ 8 / 0 9 9 8
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/687,558 US4081215A (en) | 1976-05-18 | 1976-05-18 | Stable two-channel, single-filter spectrometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2721891A1 true DE2721891A1 (de) | 1977-12-01 |
Family
ID=24760885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19772721891 Withdrawn DE2721891A1 (de) | 1976-05-18 | 1977-05-14 | Stabiles zweikanalspektrometer mit einzelfilter |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4081215A (de) |
| JP (1) | JPS6049847B2 (de) |
| DE (1) | DE2721891A1 (de) |
| FR (1) | FR2352290A1 (de) |
| GB (1) | GB1583992A (de) |
| IT (1) | IT1085547B (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0520463A1 (de) * | 1991-06-28 | 1992-12-30 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Hochauflösendes Spektroskopsystem |
| DE19945640A1 (de) * | 1999-09-23 | 2001-04-05 | Abb Research Ltd | Verfahren und Vorrichtung zur Gastemperaturmessung mit laserinduzierter Weissglut-Pyrometrie |
Families Citing this family (48)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4183669A (en) * | 1977-09-06 | 1980-01-15 | Laser Precision Corporartion | Dual beam Fourier spectrometer |
| US4142417A (en) * | 1978-04-28 | 1979-03-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior | Multichannel infrared pyrometer |
| US4437772A (en) | 1979-09-10 | 1984-03-20 | Samulski Thaddeus V | Luminescent decay time techniques for temperature measurement |
| US4417822A (en) * | 1981-01-28 | 1983-11-29 | Exxon Research And Engineering Company | Laser radiometer |
| US4395126A (en) * | 1981-03-12 | 1983-07-26 | Miles Laboratories, Inc. | Apparatus for reflectance measurement of fluorescent radiation and composite useful therein |
| US4462699A (en) * | 1981-09-10 | 1984-07-31 | Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Fiber coupler temperature transducer |
| US4435093A (en) | 1981-12-08 | 1984-03-06 | Bethlehem Steel Corporation | Pyrometer with sighting window cleanliness monitor |
| DE3208737A1 (de) * | 1982-03-11 | 1983-09-22 | Drägerwerk AG, 2400 Lübeck | Optisches mehrstrahl-gasmessgeraet |
| JPS5910834A (ja) * | 1982-07-09 | 1984-01-20 | Hitachi Ltd | レ−ザ・ラマン・マイクロプロ−ブ |
| GB2134251B (en) * | 1982-12-24 | 1986-09-17 | Rolls Royce | Optical radiation pyrometer |
| CA1218866A (en) * | 1984-04-24 | 1987-03-10 | John M. Lucas | Tuyere pyrometer |
| JPS60179830U (ja) * | 1984-05-08 | 1985-11-29 | 横河電機株式会社 | 多色放射温度計 |
| GB8520827D0 (en) * | 1985-08-20 | 1985-09-25 | York Ventures & Special Optica | Fibre-optic sensing devices |
| GB2181830B (en) * | 1985-10-18 | 1990-02-07 | Central Electr Generat Board | Temperature measurement |
| DE3709065A1 (de) * | 1987-03-19 | 1988-09-29 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und einrichtung zur beruehrungsfreien messung der temperaturverteilung in einem messvolumen |
| EP0283047A3 (de) * | 1987-03-19 | 1991-02-06 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Einrichtung zur berührungsfreien Gewinnung von Daten zur ortsaufgelösten Bestimmung der Dichte und Temperatur in einem Messvolumen |
| US5510894A (en) * | 1988-12-22 | 1996-04-23 | Renishaw Plc | Spectroscopic apparatus and methods |
| GB8830039D0 (en) * | 1988-12-22 | 1989-02-15 | Renishaw Plc | Raman microscope |
| US5442438A (en) * | 1988-12-22 | 1995-08-15 | Renishaw Plc | Spectroscopic apparatus and methods |
| US4959244A (en) * | 1989-03-27 | 1990-09-25 | General Electric Company | Temperature measurement and control for photohermal processes |
| US5835200A (en) * | 1990-04-24 | 1998-11-10 | Gersan Establishment | Method and apparatus for examining an object |
| US5139334A (en) * | 1990-09-17 | 1992-08-18 | Boston Advanced Technologies, Inc. | Hydrocarbon analysis based on low resolution raman spectral analysis |
| US5319435A (en) * | 1991-09-04 | 1994-06-07 | Melle Serge M | Method and apparatus for measuring the wavelength of spectrally narrow optical signals |
| US5317379A (en) * | 1992-02-11 | 1994-05-31 | Rosemount Analytical Inc. | Chemical species optical analyzer with multiple fiber channels |
| US5251004A (en) * | 1992-03-13 | 1993-10-05 | Pdt Systems, Inc. | Integrating sphere power meter |
| US5263776A (en) * | 1992-09-25 | 1993-11-23 | International Business Machines Corporation | Multi-wavelength optical thermometry |
| US5296711A (en) * | 1992-11-05 | 1994-03-22 | Atlantic Richfield Company | Technique for the remote detection of sea slicks |
| US5348396A (en) * | 1992-11-20 | 1994-09-20 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method and apparatus for optical temperature measurement |
| GB9309030D0 (en) * | 1993-04-30 | 1993-06-16 | Renishaw Transducer Syst | Raman analysis apparatus |
| GB9508427D0 (en) * | 1995-04-26 | 1995-06-14 | Electrotech Equipments Ltd | Temperature sensing methods and apparatus |
| GB9511490D0 (en) * | 1995-06-07 | 1995-08-02 | Renishaw Plc | Raman microscope |
| US5709473A (en) * | 1996-05-13 | 1998-01-20 | General Motors Corporation | Temperature sensor |
| US5900942A (en) * | 1997-09-26 | 1999-05-04 | The United States Of America As Represented By Administrator Of National Aeronautics And Space Administration | Multi spectral imaging system |
| US6174081B1 (en) * | 1998-01-30 | 2001-01-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Specular reflection optical bandgap thermometry |
| US6947802B2 (en) * | 2000-04-10 | 2005-09-20 | Hypertherm, Inc. | Centralized control architecture for a laser materials processing system |
| US7186947B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-03-06 | Hypertherm, Inc. | Process monitor for laser and plasma materials processing of materials |
| DE102004053659B3 (de) * | 2004-11-03 | 2006-04-13 | My Optical Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Erfassung von thermischen Eigenschaften einer Objektoberfläche |
| EP1936338B1 (de) * | 2006-12-18 | 2009-11-25 | X-Rite Europe GmbH | Spektraler fotoelektrischer Messwandler mit optischem Ablenkelement |
| EP1936337B1 (de) * | 2006-12-21 | 2010-06-02 | X-Rite Europe GmbH | Farbmesskopf und damit ausgestattete Abtastvorrichtung |
| DE502006008891D1 (de) * | 2006-12-21 | 2011-03-24 | X Rite Europe Gmbh | Abtastvorrichtung mit elektronischer Abstandsregelung und ohne Abstandsmessfühler |
| US8179526B2 (en) | 2007-01-25 | 2012-05-15 | Renishaw Plc | Spectroscopic apparatus with dispersive device for collecting sample data in synchronism with relative movement of a focus |
| GB2447497A (en) * | 2007-03-15 | 2008-09-17 | Council Cent Lab Res Councils | Illumination of diffusely scattering media |
| GB0708582D0 (en) | 2007-05-03 | 2007-06-13 | Renishaw Plc | Spectroscope apparatus and methods |
| US8752362B2 (en) * | 2009-01-15 | 2014-06-17 | General Electric Company | Optical flame holding and flashback detection |
| US20110232296A1 (en) * | 2010-03-24 | 2011-09-29 | General Electric Company | Optical fuel nozzle flashback detector |
| JP7158004B2 (ja) * | 2018-08-31 | 2022-10-21 | 株式会社四国総合研究所 | ガス濃度測定装置およびガス濃度連続測定方法 |
| DE102020202824A1 (de) | 2020-03-05 | 2021-09-09 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Sensorvorrichtung unter verwendung der winkelabhängigkeit eines dichroitischen filters |
| CN114062345B (zh) * | 2021-11-01 | 2022-11-15 | 北京科技大学 | 一种原位测量材料在极端条件下相变或氧化烧蚀产物成分的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1472144A1 (de) * | 1964-09-15 | 1969-06-04 | Ici Ltd | Spektralphotometer |
| US3929398A (en) * | 1971-08-18 | 1975-12-30 | Harry E Bates | High speed optical wavelength detection system |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2941444A (en) * | 1955-08-08 | 1960-06-21 | Gen Mills Inc | Absorption spectrometry apparatus |
| US3909132A (en) * | 1974-06-11 | 1975-09-30 | Allied Chem | Spectroscopic temperature measurement |
| US3986775A (en) * | 1974-12-26 | 1976-10-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Remote measurement of fluid temperature by raman scattered radiation |
-
1976
- 1976-05-18 US US05/687,558 patent/US4081215A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-05-14 DE DE19772721891 patent/DE2721891A1/de not_active Withdrawn
- 1977-05-16 GB GB20406/77A patent/GB1583992A/en not_active Expired
- 1977-05-17 IT IT23650/77A patent/IT1085547B/it active
- 1977-05-17 FR FR7715038A patent/FR2352290A1/fr active Granted
- 1977-05-18 JP JP52056489A patent/JPS6049847B2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1472144A1 (de) * | 1964-09-15 | 1969-06-04 | Ici Ltd | Spektralphotometer |
| US3929398A (en) * | 1971-08-18 | 1975-12-30 | Harry E Bates | High speed optical wavelength detection system |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Kohlrausch, "Praktische Physik", Bd. 1, 22. Aufl., 1968, Teubner, Stuttgart, S. 509,510,511,522,523 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0520463A1 (de) * | 1991-06-28 | 1992-12-30 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Hochauflösendes Spektroskopsystem |
| DE19945640A1 (de) * | 1999-09-23 | 2001-04-05 | Abb Research Ltd | Verfahren und Vorrichtung zur Gastemperaturmessung mit laserinduzierter Weissglut-Pyrometrie |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52152780A (en) | 1977-12-19 |
| US4081215A (en) | 1978-03-28 |
| IT1085547B (it) | 1985-05-28 |
| FR2352290B1 (de) | 1982-12-10 |
| GB1583992A (en) | 1981-02-04 |
| FR2352290A1 (fr) | 1977-12-16 |
| JPS6049847B2 (ja) | 1985-11-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2721891A1 (de) | Stabiles zweikanalspektrometer mit einzelfilter | |
| EP0834066B1 (de) | Verfahren und einrichtung zum nachweis physikalischer, chemischer, biologischer oder biochemischer reaktionen und wechselwirkungen | |
| DE69636862T2 (de) | Vorrichtung zur Messung von Raman-Streulicht | |
| DE60133002T2 (de) | Spektrophotometer mit mehreren weglängen | |
| DE2935716A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke eines films durch ausnutzung von infrarot-interferenzerscheinungen | |
| DE19912500A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn | |
| DE2552541A1 (de) | Gleichzeitige durchlaessigkeit periodischer spektralkomponenten durch vielfach interferometrische geraete | |
| CH618266A5 (en) | Spectrophotometer. | |
| DE4231214A1 (de) | Photothermischer Sensor | |
| EP0227766B1 (de) | Verfahren zur selektivitätsverbesserung spektrometrischer messungen, sowie vorrichtung zur durchführung des verfahrens | |
| DE3724852A1 (de) | Absorptionsphotometer | |
| DE19639939A1 (de) | Optische Spektralmeßvorrichtung | |
| DE69201917T2 (de) | Hochauflösendes Spektroskopsystem. | |
| DE3938142C2 (de) | ||
| EP0427943B1 (de) | Faseroptischer Sensor zum Nachweis von photothermischen Effekten | |
| DE3541165A1 (de) | Vorrichtung zur kontinuierlichen bestimmung von konzentrationsaenderungen in stoffgemischen | |
| EP4133258B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen frequenzabhängiger brechungsindizes | |
| DE19811150C2 (de) | Dünnschichtchromatographiegerät | |
| DE2744168C3 (de) | Magnetooptisches Spektralphotometer | |
| DE2948590A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur gasanalyse | |
| DE19817843A1 (de) | Verfahren zum Ableiten sonnenangeregten Fluoreszenzlichts aus Strahldichtemessungen und Einrichtung zum Durchführen des Verfahrens | |
| EP1135707A2 (de) | Anordnung und verfahren zur überwachung der performance von dwdm mehrwellenlängensystemen | |
| DE69318632T2 (de) | Einrichtung zur Messung von Teilchen | |
| EP1249698A1 (de) | Reflektometeranordnung und Verfahren zur Bestimmung des Reflexionsvermögens eines Messobjekts | |
| DE102006018287B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur spektralanalytischen Bewertung von Materialien oder Objekten in einem Material- oder Objektstrom |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8130 | Withdrawal |