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DE2654020A1 - Mess- und/oder ueberwachungseinrichtung fuer spaltaenderungen - Google Patents

Mess- und/oder ueberwachungseinrichtung fuer spaltaenderungen

Info

Publication number
DE2654020A1
DE2654020A1 DE19762654020 DE2654020A DE2654020A1 DE 2654020 A1 DE2654020 A1 DE 2654020A1 DE 19762654020 DE19762654020 DE 19762654020 DE 2654020 A DE2654020 A DE 2654020A DE 2654020 A1 DE2654020 A1 DE 2654020A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
detector
gap
component
light beam
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19762654020
Other languages
English (en)
Inventor
Rainer Dipl Phys Berthold
Conrad Dipl Phys Dr Re Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BBC BROWN BOVERI and CIE
BBC Brown Boveri AG Germany
Original Assignee
BBC BROWN BOVERI and CIE
Brown Boveri und Cie AG Germany
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BBC BROWN BOVERI and CIE, Brown Boveri und Cie AG Germany filed Critical BBC BROWN BOVERI and CIE
Priority to DE19762654020 priority Critical patent/DE2654020A1/de
Publication of DE2654020A1 publication Critical patent/DE2654020A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Meß- und/oder Überwachungseinrichtung für Spaltänderungen.
  • Die Erfindung betrifft eine Meß- und/oder Überwachungseinrichtung für Spaltänderungen zwischen zwei Bauselementen, insbesondere zwischen feststehenden und bewegten Bauelementen von Maschinen.
  • Es ist bekannt, die Spaltweite zwischen Bauelementen mit Hilfe von induktiven Meßverfahren zu bestimmen. Hierzu wird eine elektrische Spule in die Nähe des Meßobjektes gebracht, wobei sich infolge der magnetischen Verkoppelung von Spule und Meßobjekt die Impedanz der Spule in Abhängigkeit von der Entfernung ändert. Die Impedanz der Spule ist somit ein Maß für die Entfernung und somit der Spaltweite. Bei dieser Art von Messung oder Überwachung können inhomogene Materialzusammensetzungen und Querbewegungen des meßobjektes sowie elektrische Fremdfelder das Meßergebnis ganz erheblich verfälschen.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Meß- und/ oder Überwachungseinrichtung der eingangs genannten Art mit einfachem Aufbau anzugeben, die unabhängig von äußeren Einflüssen, wie Erschütterungen, inhomogene Materialzusammensetzungen, Querbewegungen und Störfeldern, arbeitet, d.h.
  • die bei preisgünstigem Aufbau sicher arbeitet. Zudem soll die Einrichtung den betrieblichen Anfolderungen, wie sie überwaöhung bßwO Spaltmessung zwischen feststehenden und umlaufenden Teilen von elektrischen Maschinen auftreten, gewachsen sowie für die nachträgliche Ausrüstung solcher Naschinen geeignet sein.
  • Gemäß der Erfindung besteht die Lösung dieser Aufgabe darin> daß ein Lichtstrahlenbündel vom ersten auf das zweite Bauelement gerichtet und am zweiten Bauelement wenigstens ein lichtempfindlicher DEtektor angeordnet ist, wobei Lichtstrahlen--bündel und Detektor so aufeinander abgestimmt sind, daß sich im Falle einer Änderung des Spaltes eine Belichtungsänderugn des Detektors ergibt Die Erzeugung eines Lichtstrahlenbündels ist einfach. Es ist selbst durch Eerschütterungen und magnetische und/oder elektrische Felder nicht beeinflußbar. Sein Abwandern bei Spaltveränderungen ist mit Hilfe eines lichtempfindlichen Detektors und eines nachgeschalteten Alarm-und/oder Anzeigegerätes leicht erfaßbar. Da die einzelnen Bauteile, wie Lichtquelle für die Erzeugung des Lichtstrahlenbündels und/oder Detektor verhältnismäßig klein sind, lassen sich auch bereits bestehende Maschinen ohne große Umstände mit der erfindungsgemäßen Meß- und/oder Überwachungseinrichtung ausrüsten. Unter dem Begriff "Licht" im Sinne der vorliegenden Erfindung soll auch unsichtbare elektromagnetische oder Kernstrahlung verstanden sein. Entsprechendes gilt auch für die Lichtempfindlichkeit der Detektoren.
  • Damit sich bei Spaltänderungen ein ausreichend großes Wandern des Lichtflecks auf dem zweiten Bauelement ergibt, ist es vorgroßen teilhaft, wenn das Licht strahlenbündel unter einem möglichst/ spitzen Winkel zu den Kräften bzw. Kraftkomponenten verläuft, die eine Verkleinerung oder Vergrößerung des Spaltes bewirken.
  • Soll lediglich eine vorgegebene Spaltweite überwacht werden, so bewährte es sich, wenn das Lichtstrahlenbündel im Querschnitt etwa punktförmig ausgebildet und der Detektor an einer, bei vorgegebener Spaltbreite vom Lichtstrahlbündel getroffenen Stelle angeordnet ist Im Falle von Spaltänderungen wandert das Lichtstrahlenbündel vom Detektor weg, dieser ist somit unbelichtet und löst über die nachgeschlateten Geräte ein entsprechendes optisches und/oder akustisches Signal aus Es wäre selbstverständlich auch möglich, das Lichtstrahlenbündel bei der vorgegebenen Spaltbreite derart neben den Detektor zu richten, daß dieser erst bei Spaltveränderungen belichtet wird. Die erstgenannte Ausbildungsform hat jedoch den Vorteil der Selbsüberwachung, d.h. jegliche Art von Belichtungsaunterbrechung wird angezeigt.
  • Um nun auch die Größe von Spaltänderungen erfassen zu können, empfiehlt es sich, mehrere, bei Spaltänderungen vom Lichtstrahlenbündel überstrichene Detektoren anzuordnen Hierdurch ist zwar nur eine stufenweise Änderun erfaßbar, dafür jedoch der Gesamtaufbau der Meßeinrichtung recht einfach.
  • Vorzugsweise wird man hierbei die Detektoren so anordnen, daß sowohl Spaltvergrößerungen als auch Spaltverkleinerungen erfaßt werden. Sind die Detektoren sehr eng nebeneinander angeordnet, so sind die erfaßbaren Stufen von Änderungen der Spaltweite sehr klein. Sehr eng nebeneinanderliegende Detektoren weisen Photodioden-Arrays oder Fototransistorzeilen auf, so daß man insbesondere diese Art von Detektoren verwenden wird.
  • Ist eine stufenlose Messung der Änderung der Spaltweite erforderlich, so ist es vorteilhaft, eine bei Spaltänderungen vom Lichtstrahlenbündel überstrichene Schottky-Barrier-Photodiode als Detektor zu verwendens Diese Dioden geben nämlich ein Signal abs das von der Position des vom Lichtstrahlenbündel ausgelösten Lichtflecks abhängig ist.
  • Eine andere bevorzugte Weiterbildung zur stufenlosen Messung von Spaltänderungen kann darin bestehen, daß der Öffnungswinkel des Lichtstrahlenbündels erweitert ist und der Detektor eine lichtempfindliche Flache aufweist und derart angeordnet ist, daß sich der belichtete Bereich des Detektors im Falle einer Spaltänderung kontinuierlich veränderte Hierbei ist es günstig, wenn der Detektor aus einem länglichen Halbleiterphotoelement besteht und der vom Lichtstrahlenbündel | gebildete vorzugsweise runde Lichtfleck eine Breite bzw. einen Durchmesser aufweist, der wenigstens gleich der Breite des Hall7leiterphotoelements ist Eine besonders bevorzugte Ausführungsform der Erfindung kann darin bestehen, daß am zweiten Bauelement eine lichtquelle und am ersten Bauelement ein Reflektor angeordnet ist zur Umlenkung des von der Lichtquelle ausgehenden Strahlenbündels in Richtung au.f den Detektor. Hierdurch ergibt sich ein besonders einfacher Meßaufbau für die Messung von Spaltänderungen| zwischen einem feststehenden und einem bewegten bzw. umlaufenden Bauelement, Denn sowohl Lichtquelle als auch Detektor sind in diesem Falle vorzugsweise am feststehenden Bauelement angeordnet, wogegen das bewegte oder umlaufende Bauelement lediglich mit einem Reflektor auszurüsten ist.
  • Ist die erfindungsgemäße Einrichtung fEr die Messung bzw.
  • Überwachung von Spaltänderungen zwischen umlaufenden und feststehenden Bauelementen vorgesehen so besteht eine andere Ausgestaltung der Erfindung darin daß die Lichtquelle bzw. das Lichtstrahlenbündel und der bzwe die Detektoren etwa in einer | die Rotationsachse des bewegten ersten Bauelementes enthaltenden Ebene angeordnet sind.
  • Bei beengten axialen Bauverhältnissen ist es jedoch basser, wenn die Lichtquelle bzw. das Lichtstrahlenbündel und der Detektor bzw. die Detektoren etwa in einer zur Rotationsachse quer, vorzugsweise etwa senkrecht verlaufenden Ebene angeordnet sind.
  • Weitere Vorteile und Vorzäge der Erfindung gehen aus der folgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen im Zusammenhang mit den schematischen Zeichnungen hervor. Hierbei zeigen: Fig. 1 einen Schnitt durch zwei gegenüberliegende Bauelemente, wobei das Lichtstrahlenbündel von einem Bauelement ausgeht und das andere Bauelement mit dem lichtempfindlichen Detektor ausgerüstet ist> Fig. 2 den Gegenstand der Figur 1 mit drei Detektor zur | stufenweisen Messung von Spaltänderungen, Fig. 3 den Gegenstand der Figur 1 mit einem als längliches | Halbleiterphotoelement ausgebildeten Detektor zur kontinuierlichen Messung von Spaltänderungen, Fig. 4 eine Draufsicht aus das Halbleiterphotoelement der Figur 3 mit eingekeichneten, durch das lichtstrahlen bündel verursachten Lichtflecken, Fig. 5 einen Schnitt durch ein umlaufendes und ein feststehendes Bauelement, wobei lichtquelle und Detektor auf der einen der Reflektor auf der anderen Seite des Spaltes angeordnet sind Fig. 6 eine Ausführungsvariante des Gegenstandes der Figur 5 mit drei Detektoren zur stufenweisen Erfassung von Spaltänderungen, Fig. 7 eine Ausführungsvariante des Gegenstandes der Figur 5 zur stufenlosen Erfassung von Spaltänderungen, Fig. 8 eine Draufsicht auf den Detektor der Figur 7, Fig. 9 eine Ausführungsvariante entsprechend Figur 5 mit einem an einer Schulter angeordneten Reflektor und Fig. 10 den Querschnitt durch konzentrische, ineinander angeordnete Bauelemente mit quer zur Längsachse angeordneter Überwachungseinrichtung.
  • Gleiche Teile sind in den einzelnen Figuren mit den gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet.
  • In Fig. 1 ist ein erstes Bauelement 10 und ein zweites Bau-,element 12 im Scinitt angedeutet, die mit gleichbleibendem Abstand voneinander verlaufen und daher durch einen Spalt 14 voneinander getrennt sind. Am ersten Bauelement 10 ist eine lichtquelle 16, vorzugsweise versenkte angeordnet, deren Lichtauslaß bzw. Lichtstrahlenbündel 18 auf den lichtempfindlichen Detektor 20 gerichtet ist. Die Lichtquelle besteht vorzugsweise aus einer leuchtdiode und der Detektor aus einer Photodiode. Die Leuchtdiode wird hierbei über eine Leitung 22 mit Strom versorgt, der Detektor 20 ist über eine Meßleitung 24i mit einem Meßgerät 26 verbunden. Das von der Lichtquelle ausgesandte Lichtstrahlenbündel 18 ist im Querschnitt etwa punktförmig und der lichtempfindliche Teil des Detektors 20 auf diesen Querschnitt abgestimmt. Die Lichtquelle kann auch drahtlos mit Energie versorgt werden, z.B. über einen induktiven Sender und einen der Lichtquelle zugeordneten entsprechenden Empfänger. Dies ist hauptsächlich bei bewegtem Bauelement 10 vorteilhaft. Auch ist es vorteilhaft, das von der Lichtquelle ausgesandte Strahlenbündel zu modulieren und das Meßgerät zur Erfassung von modulierten Signalen auszurüsten. Hierdurch wird nämlich dre Einfluß von Fremdlicht ausgeschaltet.
  • Die Kraft, welche lediglich eine Annäherung oder Entfernung der Bauelemente 10 und 12 bewirken würde, wirkt in Richtung der strichpunkierteen Linie 28. Zu dieser Linie ist das Lichtstrahlenbündel 18 mit einem möglichst großen spitzen Wirbel °t auf den Detektor 20 ausgerichtet, so daß bereits kleine Spaltänderungen ein starkes Wandern des vom Lichtstrahlenbündel verursachten Lichtflecks bewirken.
  • Bei normaler, vorgegebener Breite des Spaltes 14 (ausgezogen dargestellte Spaltbegrenzung) wird der Detektor 20 vom Lichtstrahlenbündel 18 belichtet und dieser Betriebzustand vom Meßgerät 26 angezeigt. Bewegt sich das Bauelement 10 vom Bauelement 12 weg in di.e gestrichelt dargestellte Stellung so verläßt das Lichtstrahlenbündel 18 den Detektor 2Os dieser ist unbelichtet und löst eine entsprechende Anzeige am Meßgerät 26 aus. Bei einer Annäherung der Bauelemente 10, 12 erfolgt in entsprechender Weise eine Abwandrung des Lichtstrahlenbündels 18 auf die andere Seite des Detektors 20, so daß dieser Zustand vom Meßgerät 26 ebenfalls erfaßt wird.
  • Das Ausführungsbeispiel gemäß Figur 2 entspricht weitgehend dem gemäß Figur 1. Der Unterschied besteht lediglich darin, daß insgesamt drei Detektoren 20, 30, 40 nebeneinander angeordnet und an das Meßgerät 26 angeschlossen sind. Bei eimer Spaltänderung verläßt das Lichtstrahlenbündel den mittleren Detektor 20, den es bei normaler vorgegebener Spaltweite belichtet, und trifft, je nac.h Richtung der Spaltänderung auf den Detektor 30 oder 40. Das Abwandern des Lichtstrahlenbündels 18 wird vom Meßgerät 26 angezeigt das hierzu drei Meßsysteme aufweist. Die Einrichtung gemäß Figur 2 gestattet somit das stufenweise Erfassen von Spaltänderungen. Die Größe dieser Stufen ist abhängig vom Abstand der Detektoren 20, 30, 40 und ist bei eng nebeneinanderliegenden Detektoren am ge ringsten. Eng nebeneinanderliegende Detektoren weisen z.Be Photodioden Arrays oder Fototransistorzeilen auf, so daß diese für den: vorliegenden Fall sehr geeignet sind.
  • In Figur 3 ist eine Einrichtung zur stufenlosen Erfassung einer Spaltänderung dargestellt. Hierzu ist die Lichtquelle 15 für die Aussendung eines Lichtstrahlenbündels 38 mit erweitern tem Öffnungswinkel (3 ausgebildet und der Detektor 50 weist eine lichtemPfindliche längliche Fläche 52 aus einem Halbleiter wie Selen oder Silizium, auf0 Bei dieser Art von Detektoren ist der abgegebene Strom abhängig von der Intensität mit der der Detektor belichtet wird.
  • Wie aus Figur 3 ersichtlich, belichtet das Lichtstrahlenbündel 38 bei normaler vorgegebener Breite das Spaltes 14 den Bereich 32 des Detektors 500 Die Intensität wird vom Meßgerät 26 an- | gezeigt Verbreitert sich der Spalt in die gestrichelt .geseichw nete Stellung so wird jetzt vom Lichtstrahlenbündel 38 der Bereich 34 belichtet und angezeigt. Da sich die Intensität an dem belichteten Bereich in Abhängigkeit von der Weite des Spaltes 14 stufenlos ändert, ist mit einer Meßeinrichtung gemäß Figur 3 eine kontinuierliche Anzeige oder Messung einer Änderung des Spaltes 14 möglich, denn die Intensität nimmt mit dem Quadrat der Entfernung abO In Figur 4 ist der Detektor 50 in Draufsicht dargestellt9 ferner ist der vom Lichtstrahlenbündel 38 verursachte Lichtfleck 54 eingezeichnet, der im vorliegenden Fall kreisförmig ist, jedoch auch andere Formen, z.B0 quadratische aufweisen kann. Der Detektor 50 ist hierbei, wie aus Figur 4 ersichtlich, schmal und länglich ausgebildet. Der Lichtfleck 54, der bei normaler Breite des Spaltes 14 auf dem Detektor erscheint (Fig. 4 rechts) muß in seiner Größe so auf die lichtempfindliche Fläche 52 abgestimmt sein, daß bei einer Spaltvergrößerung, die eine Vergrößerung des Lichtflecks 54 bewirkt (Fig. 4 links), sich die Intensität verringert, mit welcher der Detektor 50 belich tet wird. Diese Verringerung der Intensität wird dadurch erreicht, daß, wie aus Figur 4 ersichtlich, nur ein kleiner Teil des Lichtflecks 54 auf den Detektor 50 trifft, wogegen bei normaler Breite des Spaltes ein größerer Teil des Lichtfelcks 54 auf den Detektor trifft (Fig. 4 rechts).
  • Im Ausführungsbeispiel gemäß Figur 5 läuft das erste Bauelement 10 um und zwar um die Rotationsachse 42. Das zweite Bauelement 12 ist feststehend und durch den Spalt 14 vom ersten Bauelement10 getrennt. Ein solcher Fall tritt auf zwischen Stator und Rotor von elektrischen Maschinen. Die Lichtquelle 16 und Der Detektor 20 sind am feststehendem, zweiten Bauelement 12, das hier dem Stator entspricht, vorzugsweise versenkt befestigt, wogegen das umlaufende erste Bauelement 10, welches dem Rotor entspricht, mit einem vorzugsweise versenkten Reflektor 36 ausgerüstet ist. Dieser Reflektor besteht aus einem spiegelnden Metallstück. Ebensogut ist es selbstverständlich möglich eine dünne spiegelnde Schicht auf der Oberfläche des ersten Bauelementes 10 aufzubringen. Wie aus Figur 5 ersichtlich, wird das von der Lichtquelle16 ausgesandte Strahlenbündel 44 unter einem solchen Winkel auf den Reflektor 36 gerichtet, daß das reflektierte Lichtstrahlenbündel 18 auf den Detektor 20 trifft. Bei einem Abwandern des ersten Bauelementes 10, also bei einer Verbreiterung des Spaltes 14 in die gestrichelt dargestellte Lage, wandert das reflektierte Lichtstrahlenbündel 18 vom Detektor 20 ab und eine entsprechende Anzeige erfolgt entsprechend dem Ausführungsbeispiel gemäß Figur 1 im Meßgerät 26.
  • Die Ausführungsformen gemäß Figur 5 bis 10 eignen sich besonders für die Überwachung des Spaltes zwischen Rotor und Stator elektrischer Maschinen. Da hierbei sowohl Lichtquelle als auch Detektor am feststehenden zweiten Bauelement 12 befestigt sind, ist der Aufbau der Meßeinrichtung vereinfacht und diese läßt sich auch leicht an bereits bestehenden Maschinen nachträglich anbringen.
  • Figur 6 zeigt eine Abwandlung des Ausführungsbeispiels gemäß Figur 5 mit drei Detektoren 20, 30, 40 zur stufenweisen Elnfas sung von Änderungen des Spaltes 14, wobei Lichtquelle 16 und Detektoren 20, 30 40 am feststehenden zweiten Bauelement 12 und ein entsprechender Reflektor 36 am ersten umlaufenden Bauelement 10 befestigt sind. Die Wirkungsweise dieser Anordnung entspricht der des Ausführungsbeispiels gemäß Figur 2.
  • Der Unterschied besteht lediglich darin, daß das Lichtstrahlenbündel 18 durch Reflexion des Strahlenbündels 44 am Reflektor 36 gebildet wurde.
  • Im Ausfb.hrungsbeispiel gemäß der Figur 7 läuft das erste Bauelement 10 ebenfalls um die Rotationsachse 42 um,wogenen das zweite, durch den Spalt 14 abgetrennte Bauelement 12 feststeht.l An diesem feststehenden, zweiten Bauelement 12 sind die Twcht t quelle 16 und der Detektor 50, der eine lichtempfindliche längliche Fläche aufweist, angeordnet. Das von der Lichtquelle 16 mit erweitertem Öffnungswinkel ß ausgehende Strahlenbündel 44 wird an dem im ersten Bauelement 10 eingesetzten Reflektor 36 zurückgeworfen und belichtet,den Bereich 32 des Detektors 50 genau wie beim Ausführungsbeispiel gemäß Figur 3. Bei einem Abwandern des ersten Bauelements 10 in. die gestrichelt gezeichnete Stellung wird der Bereich. 34 belichtet und die Belichtungsänderung im Meßgerät 26 als Spaltänderung angezeigt. Der Detektor 50 gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Figur 7 kann entsprechend dem Detektor gemäß Ausführurigsbeispiel entsprechend Figur 3 ausgebildet sein und auf Intensitätsänderungen ansprechen. Dementsprechend gelten die Erläuterungen zu Figur 3 auch hierO Anstelle eines Halbleiterphotoelementes kann hier - wie auch im Beispiel nach Figur 3 - eine Schott: Barrier-Photodiode oder ein Photodioden-Array Verwendung finden. Die beiden letztgenannten haben gegenüber dem Halb leiterphotoelement den Vorteil, daß sie nicht auf Intensitätsschwankungen, sondern auf die Lage des Lichtstr&nlenbündels ansprechen Figur 8 zeigt ene Ansicht des Detektors 50 der Figur 7. Der Detektor ist hier entsprechend den Ausführungen zu Figur 4 aufgebaut und die Intensität J1 bei engem Spalt 14 ist auch hier größer als die Intensität J2 des Lichtfelcks 54 bei großem Spalt.
  • In den Ausführungsbeispielen gemäß den Figuren 5 bis 10 muß die Länge bzw. Breite des Reflektors 36 in Richtung der Rotationsachse 42 so bemessen sein, daß jeweils die gewünschte Reflexion des Strahlenbündels 44 erfolgen kann, und daß betriebsbedingte axiale Verschiebungen der Bauelemente den Strahlengang nicht unterbrechen können.
  • In Figur 9 ist der Reflektor 36 an einer zur Umlaufachse 42 geneigt verlaufenden Schulter des umlaufenden ersten Bauelementes 10 befestigt. In diesem Falle kannr wie aus der Figur ersichtlich, das Strahlenbündel 44 senkrecht vom zweiten Bauelement 12 ausgehend auf den Reflektor 36 gerichtet sein.
  • In den Ausführungsbeispielen gemäß den Figuren 5 bis 9 liegen Lichtquelle, Reflektor und Detektor in einer Ebene, die auch die Rotationsachse 42 des umlaufenden Bauelementes beinhaltet.
  • Wie jedoch aus Figur 10 ersichtlich, die einen Querschnitt durch ein umlaufendes Bauelement 10, z.B. Rotor, und ein feststehendes Bauelement 12, z.B. Stator, zeigt, ist es auch möglich, die Meßeinrichtung in einer Ebene quer zu der sich hier als Punkt abbildenden Rotationsachse 42 anzuordnen. Auch hier beeinflussen Änderungen des Spaltes 14 die Richtung des reflektierten Lichtstrahlenbündels 18 und somit die Anzeige des Meßgerätes 26.
  • Wie insbesondere aus Figur 10 ersichtlich, ergibt ein in peripherer Richtung kurzer Reflektor 36 beim Umlauf des ersten Bauelementes 10 jeweils nur eine kurze Belichtung des Detektors 20, deren Frequenz zusätzlich zu einer Drehzahlüberwachung benutzt werden kann. Will man jedoch eine kontinuierliche Belichtung des Detektors 20 erreichen, so ist er erforderlichs den Reflektor 36 als ein da-s umlaufende erste Bau element 10 umschlingendes Band auszubilden.
  • Die erfindungsgemäße Einrichtung soll hauptsächlich zur Über wachung der Weite des Spaltes zwischen Stator und Rotor von elektrischen Maschinen Verwendung finden.
  • L e e r s e i t e

Claims (12)

  1. Patentansprüche 1. Meß- und/oder Überwachungseinrichtung für Spaltänderungen zwischen zwei Bauelementen, insbesondere zwischen feststehenden und bewegten Bauelementen von Maschinen, dadurch gekennzeichnet, daß ein Lichtstrahlenbündel (18, 38) vom ers-ten (10) avf das zweite Bauelement (12) gerichtet und am zweiten Bauelement wenigstens ein lichtempfindlicher Detektor (20, 30, 40, 50) angeordnet ist, wobei Lichtstrahlenbündel (18, 38) und Detektor so aufeinander abgestimmt sind, daß sich im Falle einer Änderung des Spaltes (14) eine Belichtungsänderung des Detektors (20, 30, 40, 50) ergibt.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtstrahlenbündel (18, 38) unter einem möglichst großen spitzen Winkel ( ) zur Richtung (28) von den Kräften bzw0 Kraftkomponenten verläuft, welche eine Verkleinerung oder Vergrößerung des Spaltes (14) bewirken.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtstrahlenbündel (18) im Querschnitt etwa punktförmig ausgebildet und der Detektor (209 an eine bei vorgegebener Breite des Spaltes (14) vom Lichtstrahlbündel (18) getroffenen Stelle angeordnet ist.
    (Fig. 1, 5)
  4. 4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere, bei Spaltänderungen vom Lichtstrahlenbündel (18) überstrichene Detektoren (20, 30, 40) vorgesehen sind. (Fig. 2, 6)
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoren (20, 30, 40) aus einem Photodioden-Array oder aus einer Phototransistor-Zeile bestehen.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine bei Spaltänderungen vom Lichtstrahlenbündel überstrichene Schottky-Barrier-Photodiode als Detektor vorrgesehen ist.
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Öffnungswinkel (ß) des Lichtstrahlenbündels (38) erweitert ist und der Detektor (50) eine lichtempfind- | liche Fläche aufweist und derart angeordnet ist, daß sich der belichtete Bereich des Detektors (so) im Falle einer Spaltänderung kontinuierlich verändert (Fig. 3, 7)
  8. 8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor (50) aus einem länglichen Halbleiterphotoelement besteht und der vom Lichtstrahlenbündel (38) gebildete vorzugsweise rinde Lichtfleck (54) eine Breite bzw. einen Durchmesser aufweist, der wenigstens gleich der Breite (b) des Halbleiterphotoelements ist.
    (Fig. 3,4, 7, 8)
  9. 9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß am zweiten Bauelement (12) eine Lichtquelle (16) und am ersten Bauelement (10) ein Reflektor (36) angeordnet ist zur Umlenkung des von der Lichtquelle (16) ausgehenden Strahlenbündels (44) in Richtung auf den Detektor (20, 30, 40, so). (Fig. 5 bis 10)
  10. 10. Einrichtung nach Anspruch 9 mit bewegten und feststeherden Bauelementen, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Bauelement (12) feststehend ist.
  11. 11. Für die Messung bzw. Überwachung von Änderungen des Spaltes zwischen umlaufenden und feststehenden Bauelementen vorgesehene Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (16); bzw. das Lichtstrahlenbündel (18) und der bzw. die Detektoren (20, 30, 4Ö, 50) etwa in einer die Rotationsachse (42) des bewegten ersten Bauelementes (io) enthaltenden Ebene angeordnet sind. (Fig. 5 bis 9 )
  12. 12. Für die Messung bzw. Überwachung von Spaltänderungen zwischen umlaufenden und feststehenden Bauelementen vorgesehene Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (16) bzw.
    das Lichtstrahlenbündel (18) und der Detektor bzw. die Detektoren (20, 30 40, 50) in einer zur Rotationsachse (42) quer, vorzugsweise etwa senkrecht verlaufenden Ebene angeordnet sind. (Fig. 10)
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