DE2340547B2 - Schaltungsanordnung zum testen logischer schaltungen - Google Patents
Schaltungsanordnung zum testen logischer schaltungenInfo
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Description
Viele komplexe elektrische Schaltungen enthalten logische Komponenten, die auf Eingangsspannungen
mit unterschiedlichen Pegeln und Wellenformen ansprecher müssen.
Beispielsweise müssen logische Elemente oft die Fähigkeit besitzen, mit unterschiedlichen Impulsfrequenzen
zu arbeiten und eine befriedigende Betriebscharakteristik auch dann noch zu zeigen, wenn die
angelegten Impulse Form- und Pegelabweichungen
aufweisen. Üblicherweise ist eine Vielzahl solcher logischer Komponenten auf einer einzelnen gedruckten
Sch; ltungsplatine zusammengefaßt und bildet so den Teil eines komplexen Systems. Wünschenswert ist es
alle diese Komponenten automatisch auf ihr dynami sches und statisches Verhalten auf einem einzigen
Prüfstand untersuchen zu können, ohne die Platinen zu
mehreren Prüfständen transportieren zu müssen, welche jeweils nur einen beschränkten Test durchführen
können. Mit der vorliegenden Erfindung wird ein vollständiger logischer Test durch Erzeugung und
Untersuchung digitaler Folgen ermöglicht.
U τι einen vollständigen Test logischer Schaltungen
zu ermöglichen, muß jede Testvorrichtung die Möglichkeit Dieten.den verschiedenen Punkten und Anschlüssen
eine- logischen Schaltung Signale nicht nur in Form unterschiedlicher digitaler Parallelworte, sondern auch
in Farm unterschiedlicher Serienworte bzw. Bitfolgen mit eventuell unterschiedlicher Eingabegeschwindigkeit
der Worte zuzuführen. Diese Möglichkeit bietet jedoch kein; der bekannten Testvorrichtungen.
Die Erzeugung digitaler Bitfolgen bzw. von Worten zur Beaufschlagung einer zu testenden Schaltung ist
bekannt. Alle bekannten Systeme bedienen sich in dem Umfang, in dem sie automatisiert sind, der Kapazität
eines Computers zur Erzeugung der anzulegenden Worte. Dabei wird jedoch das Testen der elektronischen
Schaltung stark behindert durch die Kapazität und Geschwindigkeit des diese Operationen kontrollierenden
digitalen Computers. Ein digitales Wort kann daher nicht schneller erzeugt oder verarbeitet werden,
als dies die Zykluszeit des Computers zuläßt. Wenn beispielsweise ein digitales Wort auf dem Eingabe-Ausj;abebus
des Computers erzeugt wird, um an die zu testende Schaltung angelegt zu werden, muß der
Computer auf die Antwort der zu testenden Schaltung warten, bevor er eine Untersuchung der Signale
durchführen kann. Außerdem können digitale Worte an die Schaltung nicht schneller angelegt werden, als die
Zug! iffszeit zum Gedächtnis des Computers beträgt. Als Ergebnis dieser Beschränkungen ergibt sich, daß
Hoeiifrequenzschaltungen mit kurzer Ansprechzeit nichi geprüft werden können, wenn ihre Arbeitsfrequenz
wesentlich höher (d. h. schneller) ist als die Zugr iffszeit des Computers. Außerdem ist bei einer
erzeugung der digitalen Worte durch den Computer
ielbst die Geschwindigkeit der Worterzeugung durch iie Zykluszeit des Computers bestimmt.
Ein zweiter Nachteil der aus dem Stande der Technik bekannten Vorrichtungen ist deren Unvermögen, die
Signalspannungspegel zu verändern, bzw. solche Veränderungen festzustellen. Wenn beispielsweise ein Computer
allein, ohne externe Zusatzgeräte, zur Erzeugung des digitalen Signals benutzt wird, kann ein empfangenes
oder erzeigtes Signal außerhalb der vom Computer ι ο tolerierten Signalpegel liegen. Dem Stand der Technik
fehlt außerdem die Möglichkeit der Erzeugung aufeinanderfolgender paralleler Worte und überhaupt die
Vielseitigkeit, die bisher stets gefordert, aber nur stückweise erreicht wurde durch Aufteilen eines Tests
und die Gewinnung von Einzelergebnissen in einer Vielzahl von Einzeltests.
Eine Zwischenspeicherung des Testprogramms zwischen einem Rechner und einer Testvorrichtung ist
bekannt. So weist beispielsweise eine bekannte Testvorrichtung (IBM Technical Disclosure Bulletin Nr.4,
September 1970, Seiten 906-908) eine Anzahl von Spannungsquellen auf, die so programmiert sind, daß sie
bestimmte Spannungen bzw. Ströme an die zu testende Schaltung lietern. Die Programmierung erfolgt durch 2s
ein Schieberegister, in das vom Rechner gelieferte Informationen bzw. Wörter in paralleler Form eingespeichert
werden, worauf diese in ihrer Reihenfolge, also seriell, ausgelesen werden. In dem Schieberegt .ter
sind also keine Testbitfolgen gespeichert. Auch liefert dieser Stand der Technik keinen Hinweis auf die
Verarbeitung solcher Testbitfolgen.
Ähnliches gilt für eine weitere bekannte Schaltung (Electronic Design 17, August 16,1969, Seiten 196 - 201),
bei der ebenfalls ein Zwischenspeicher zwischen einem Rechner und den Elementen einer Testvorrichtung
vorgesehen ist, wodurch vermieden wird, daß der Rechner während der Wartezeit für die Testinformationen
angeschlossen bleiben muß. Darüber hinaus soll aber mit der Erfindung folgende Aufgabe gelöst
werden:
Die Testvorrichtung der eingangs geschilderten Art soll so ausgebildet werden, daß allen Testpunkten bzw.
Testanschlüssen des Testlings unterschiedliche Testbitfolgen mit gegebenenfalls unterschiedlicher Eingabegeschwindigkeit
zugeführt werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale gelöst. Weiterbildungen
der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Im Gegensatz zu den bekannten Schaltungsanordnungen erfolgt also zwischen dem Rechner und dem
Testling nicht nur eine Zwischenspeicherung, sondern ist für jeden Testanschluß ein Schieberegister, ein
Taktgeber, eine Vergleichsstufe und ein Schalter vorgesehen, der abwechselnd so betätigt wird, daß
einmal die Testbitfolgen aus dem Schieberegister an den betreffenden Testpunkt abgegeben werden, worauf
dann die von dem Testling zurückgelieferten Daten nach Umschalten des Schalters in die Vergleichsstufe (,u
gelangen und dort mit den im Schieberegister eingespeicherten Werten verglichen werden. Damn
kann erheblich an Rechen:cit eingespart werden, da für die durchzuführenden Tests die Daten sowohl parallel
als auch seriell an den Testling gegeben werden können, bs
Die einzelnen Testanschlüsse einer logischen Schaltung können völlig unabhängig voneinander aus den von dem
in die einzelnen Schieberegister eingespeicherten Testdaten versorgt werden, während der Rechner
schon wieder eine vom Testprogramm unabhängige andere Operation ausführt Ist der Rechner wieder frei,
so kann dann anschließend der Inhalt der einzelnen Fehlerregister abgefragt werden.
Nachfolgend wird an Hand der Figuren ein Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert Es
zeigt
F i g. 1 das Blockschaltbild einer beispielsweisen computerkontrollierten Testvorrichtung,
Fig.2 das Blockschaltbild eines beispielsweisen digitalen Wortgenerator-Empfängers,
Fig.3 den detaillierten Schaltplan der signalerzeugenden
Elemente in F i g. 2,
F ν g. 4 den Schaltplan der den Signalpegel kontrollierenden Teile in F i g. 3 und
F i g. 5 den Schaltplan der Daten- und Kontrollogik aus F i g. 2.
Beschreibung eines bevorzugten
Ausführungsbeispieles
Ausführungsbeispieles
F i g. 1 zeigt eine computerkontrollierte Testvorrichtung, von der eine zu testende Schaltung 10 auf die
korrekte Funktion ihrer logischen Elemente untersucht werden soll. Eine typische zu testende Schaltung besteht
aus einer gedruckten Schaltungsplatine, auf der 10, 100 oder 1000 elektronische Bauelemente angeordnet sind
und die beispielsweise 100 Anschlußpunkte aufweist, an denen Signale eingespeist oder entnommen werden
können. Die Anschlußpunkte sind zu einem Stecker an einer Seite der Schaltung herausgeführt, welcher in den
(nicht dargestellten) Teststecker der Testvorrichtung eingeführt wird.
Die Steuerung der Funktionen der in F i g. 1 dargestellten Testvorrichtungen erfolgt durch einen
modernen digitalen Kleincomputer 12. Vom Computer erzeugte Signale erschienen auf einem Ein-Ausgabebus
12a. Sie dienen in der Vorrichtung gemäß Fig. 1 zur Steuerung der verschiedenen Vorrichtungen, die für
einen speziellen Funktionstest benötigt werden. Zu diesen Vorrichtungen gehören verschiedene Signalgeneratoren,
Voltmeter und Netzgeräte. Dargestellt sind allerdings nur die Vorrichtungen, die von der
Erfindung betroffen werden.
In üblicher Weise erscheinen Steuer- und Datensignale
auf dem Ein-Ausgabebus in Form von Informations-Bytes. Jeweils acht parallele Bits, welche ein Byte
darstellen, erscheinen auf parallelen Leitungen des Ein-Ausgabebusses und dienen zur automatischen
Kontrolle der Testfunktionen.
Die Kommunikation des Computers mit den peripheren Vorrichtungen, also auch mit dem digitalen
Wortgenerator-Empfänger, erfolgt über Vorrichtungssteuerungen 14a, 146,14c und Hd. Diese erhalten, wenn
sie adressiert s'nd, Informationen von dem Ein-Ausgabebus
und können selbst Pufferstufen zur zeitweiligen Speicherung von Informationen enthalten, die eine
Steuerfunktion für die periphere Vorrichtung darstellen, s~>
daß — wenn die Vorrichtungssteuerung einmal Daten von dem Computer erhalten hat — sie
anschließend in ihrem Betrieb fortfährt, obwohl sie nicht länger adressiert ist und nicht langer Daten vom
Computer erhält. Zum Beispiel kann das programmierbare Netzteil 15 auf eine Ausgangsspannung von
3,5 Volt eingestellt und dann so vorbereitet werden, daß es auf einen späteren Befehl hin, ohne Anweisung vom
Computer arbeitet. Diese Programmierung bleibt dann erhalten. Verschiedene Vorrichtungssteuerungen sind
bekannt und brauchen hier nicht näher erläutert werden. Sie sind abhängig von der von dem zugehörigen
Computer gelieferten Datenform und von dessen Möglichkeiten.
Der digitale Wortgenerator-Empfänger 16 erzeugt nach Erhalt von Instruktionen von dem Computer über
seine Vorrichtungssteuerung 14c Digital-Worte, deren digitale Bitfolge zuvor durch den Bedienungsmann
festgelegt wurde. Diese digitale Bitfolge kann entweder gleichzeitig in Form eines parallelen Wortes oder als
Folge an jeden Anschluß oder Testpunkt der zu testenden Schaltung angelegt werden. Die Eingabe an
die zu testende Schaltung erfolgt über die Schaltvorrichtung 17. Die Signale von dem Wortgenerator-Empfänger
16 können auch direkt an die Anschlüsse der zu testenden Vorrichtung gelegt werden.
Die dicken Pfeile 19 und 20 in Fig. 1 verbinden den Wortgenerator-Empfänger 16 und die r.u testende
Schaltung 10 mit der Schaltvorrichtung 17 und stellen Busleitungen dar, die beispielsweise so viele Leiter
umfassen, wie Testpunkte vorhanden sind. Die Schaltvorrichtung wird von der Vorrichtungssteuerung 14a
gesteuert, die, wenn sie adressiert ist, die Schaltvorrichtung 17 veranlaßt, die richtigen Verbindungen zwischen
dem Wortgenerator-Empfänger 16 und der zu testenden Schaltung 10 herzustellen.
Der Wortgenerator-Empfänger 16 erhiilt variable Spannungen von dem programmierbaren Netzteil 15,
durch die die Amplitudenpegel der an die zu testende Schaltung anzulegenden Signale und die Signalpegel,
die in den empfangenen Signalen zulässig sind, festgelegt werden. Impulssignale von einem programmierbaren
Signalgenerator 22, der eine bestimmte Beziehung zu der Vorrichtung 16 hat, werden außerdem
zugeführt. Insbesondere erzeugt der Generator 22 Impulssignale, die die Geschwindigkeit bestimmen, mit
der digitale Bitfolgen an die zu testende Schaltung angelegt werden, und die die Geschwindigkeit bestimmen,
mit der Antworten der zu testenden Schaltung auf solche Signale gelesen oder gespeichert werden.
Der Wortgeneratorteil des Wortgenerator-Empfän gers 16 erhält also gemäß der Erfindung variable
Spannungspegel von dem programmierbaren Netzteil 15 und Signale mit Clock- bzw. Taktfunktion von dem
programmierbaren Signalgenerator 22 und legt gespeicherte, von einem Bedienungsprogramm festgelegte
Bitfolgen an die zu testende Schaltung an. Ähnlich prüft der Empfangsteil des Wortgenerator-Empfängers 16
die empfangenen digitalen Bitfolgen auf Richtigkeit und Pegeltoleranz durch Vergleich mit der gespeicherten so
Bitfolge. Die genauere Beschreibung dieser Funktionen wird im folgenden gegeben.
F i g. 2 zeigt in einem Blockschaltbild die wesentlichen Elemente des digitalen Wortgenerator-Empfängers 16.
der in Zusammenarbeit mit dem programmierbaren Signalgenerator 22, der Schaltvorrichtung 17 und der zu
testenden Schaltung 10 arbeitet, zur Erzeugung einer Bitfolge, welche an einen Testpunkt oder an einen
Anschluß angelegt wird, und zum Empfang und zur Untersuchung einer von einem Testpunkt empfangenen 6c
digitalen Bitfolge. Wie schon erwähnt besitzt die Vorrichtung sowohl die Möglichkeit der Erzeugung von
Bitfolgen als auch die Möglichkeit, Bitfolgen zu empfangen und mit an anderen Testpunkten der
Schaltung eingegebenen Bitfolgen zu vergleichen. In der r.s
folgenden Beschreibung ist die Vorrichtung und das Verfahren für einen einzigen Testpunkt der zu
testenden Schaltung beschrieben. Jedoch finden dieselben Grundsätze und Verfahren auch bei den anderen
Testpunkten Anwendung. Wenn beispielsweise eine Bitfolge an 100 verschiedene Anschlüsse einer zu
testenden Schaltung angelegt werden soll, oder wenn Daten von bestimmten Anschlüssen empfangen werden
sollen, so existieren 100 Generator- und Empfängerkanäle gemäß F i g. 2 im gesamten digitalen Wortgenerator-Empfänger.
Wie aus F i g. 2 ersichtlich, erzeugt die Vorrichtung 16 nach Erhalt eines Computerbefehles von der Kontrollvorrichtung
14c Daten und Steuersignale in der Abteilung 24 (im einzelnen aus F i g. 5 ersichtlich),
welche Steuer- und Taktsignale von dem programmierbaren Signalgenerator 22 erhält. Diese Taktsignale
bestehen im wesentlichen aus Clockimpulsen zum Schieben von Daten durch ein Register 25 und zum
Registrieren von Daten in einem Fehlerregister 27. wenn die Vorrichtung 16 sich im Empfangsbetrieb
befindet. Das Register 25 speichert Daten, d. h. eine bestimmte Bitfolge, welche entweder (a) eine Bitfolge
darstellt, die an einen Testpunkt angelegt werden soll oder (b) eine Bitfolge, deren Empfang von einem
Testpunkt der zu testenden Schaltung erwartet wird Diese Bitfolge ist von einem Bedienungsmann erstellt
worden, wird der Vorrichtung 16 durch den Computer eingegeben und wird dort bis zum Gebrauch auf einen
Computerbefehl hin gespeichert.
Zunächst sei der Fall angenommen, daß der Wortgenerator-Empfänger 16 als digitaler Wortgenerator
arbeitet. Dann gelangen Daten aus dem Register 25 über einen logischen Schalter 28 zu einem Pegelübersetzer
30, der die Amplitude des Ausgangssignales regelt, und von dort zu einem Begrenzer-Treiber 31, der das
Signal zum Anlegen an den Testpunkt herstellt. Ein Schalter 33 mit Relais K1 und K 2 verbindet den
Ausgangsleiter 35 entweder mit dem Generatorkanal (der soeben beschrieben wurde), wenn das Relais K 1
anzieht, oder mit dem Empfangskanal, wenn das Relais K 2 anzieht.
Die Amplitudenhöhen des Ausgangssignals werden f ingestellt durch eine Pegelschalteinheit 36, die in F i g. 4
näher erläutert wird.
Bei dem Empfangsbetrieb gelangen Signale auf dem Leiter 35 zu einem Abschwächer-Puffer 38 und von dort
zu einem Spannungskomparator 39, der feststellt, ob die
Amplitude des ankommenden Signals innerhalb durch eine Empfangspegelschalteinheit 40 vorgewählter
Toleranzgrenzen liegt
Wenn zunächst das empfangene Signal innerhalb dieser Toleranzgrenzen liegt werden passende Signale
einem logischen Komparator 42 zugeführt Hier wird der Ausgang des Spannungskomparators 39 auf
logische Übereinstimmung direkt mit dem Ausgang des Registers 25 verglichen, da der logische Schalter 28 den
Ausgang des örtlichen Registers 25 in dieser Betriebsart mit dem logischen Komparator verbindet
Der logische Komparator 42 macht einen Bit zu Bit-Vergleich der empfangenen digitalen Bitfolge mit
der erwarteten Bitfolge (also dem Sollsignal), das vorher im Register 25 gespeichert wurde. Der Ausgang des
logischen Komparators42 liefert folglich eine Fehleranzeige, die falls vorhanden, im Register 27 gespeichert
wird
Als Zusammenfassung der Arbeitsweise gemäß Fig. 2 wird das Register 25 mit Daten geladen. Diese
Daten stellen entweder die an Testpunkte der zu testenden Schaltung anzulegenden Daten dar oder
Daten, die als Antwort von einem Testpunkt erwartet
werden. Gewünschte Amplitudenpegel des erzeugten Signals bzw. des erwarteten Signals werden durch die
Pegelschalteinheiten 36 und 40 vorgegeben. Beim Generatorbetrieb der Vorrichtung ist das Relais K 1
geschlossen und die digitale Bitfolge wird an die zu testende Schaltung angelegt. Beim Empfangsbetrieb ist
das Relais K 2 geschlossen und Signale am Ausgang der zu testenden Schaltung werden an den Empfangskanal
der Vorrichtung gelegt, wo der Spannungskompaiator 39 und der logische Komparator 42 die Überprüfung des
empfangenen Signals durchführen. Wenn diese Signalvergleiche eine Fehleranzeige ergeben, wird diese
Anzeige im Register 27 gespeichert und kann aus diesem zu einem geeigneten späteren Zeitpunkt im
Rahmen einer Fehleranalyse ausgelesen werden.
Bestimmte Vorteile der Erfindung ergeben sich schon jetzt. Zunächst ist die Schaltung gemäß F i g. 2 geeignet,
einen vollständigen Test der zu testenden digitalen Schaltung zu ermöglichen. Sie kann das Fehlen oder
Vorhandensein eines digitalen Signals zu einer bestimmten Zeit untersuchen. Sie kann gewünschte Spannungspegel erzeugen oder untersuchen und kann eine
unbestimmte Vielzahl von digitalen Worten durch Auswahl von im Datenregister gespeicherten Daten
erzeugen. Ebenso wesentlich ist die Eigenschaft der erfindungsgemäßen Schaltung, daß sie unabhängig von
dem Computer, nachdem Daten in das Register eingegeben sinJ. Daten aus dem Register mit jeder
gewünschten Geschwindigkeit ausgehen kann, abhängig nur von den Eigenschaften der zu testenden
Schaltung und der Testschaltung selbst. Sie ist unabhängig von der Zugriffszeit des Computers und
arbeitet generell wesentlich schneller als der Computer. Durch dasselbe Merkmal wird im Falle einer ungewöhnlich
langsam arbeitenden zu testenden Schaltung, wenn also eine große Verzögerungszeit besteht zwischen der
Eingabe eines TesUigna'es in die zu testende Schaltung
und der Ausgabe des Antwortsignales aus der zu testenden Schaltung, nicht unnötig wertvolle Computerzeit
beim Warten auf die Antwort verbraucht. Zudem wird beim Empfangsbetrieb eine automatische Untersuchung
des empfangenen Signals durchgeführt und werden Fehler zum Auslesen im Rahmen einer
Fehleranalyse zu beliebigem späteren Zeitpunkt gespeichert.
Anhand von F i g. 3 bis 5 soll das Vorstehende näher erläutert werden.
Zur Bestimmung eines bestimmten Testpunktes, an dem eine Bitfolge eingespeist oder von dem eine
Bitfolge empfangen werden soll, wird von dem Computer 12 eine Adresse erzeugt Diese Adresse wird
in einer Steuerschaltung (Fig.5) aufbereitet und schaltet beide Eingangsleitungen des Al (A = Adresse)
Gatters 50 ein zur selben Zeit zu der ein Signal an ein
Gatter 51 gegeben wird, so daß dieses einen der beiden
Flip-Flops 54, 55 schaltet Wenn die Vorrichtung im Generatorbetrieb arbeitet erscheint ein Signal am
Eingang des Rip-Flops 54. wodurch dessen Ausgang geschaltet und die Spule 56 des Relais K 1 aktiviert wird.
Das Ausgangssignal des Flip-Flops 54 gelangt außer dem an die Gatter Ll (L=Laden) und Sl (S= Schieben) der Steuerschaltungsteile 57Λ und 57B. welche
Steuerzubehör zum Register 25 darstellen.
Wenn die Vorrichtung im Empfangsbetrieb arbeitet liegt statt dessen der Ausgang des Flip Flops 55 hoch
und es gelangt dieses Signa! an die Und-Gatter L 3, S 2
und Lb, von denen das Letztere in dem Steuerschal-57c liegt, und an das Und Gatter Al (R= Empfang). Der Generator-Flip-Flop 54 wird durch einen Befehl DRIVE OUTPUT (Generatorbetrieb)
eingeschaltet, während der Empfänger-Flip-Flop 55 durch einen Befehl RECElVE OUTPUT(Empfangsbetrieb)
eingeschaltet wird. In beiden Fällen ist jedoch nur ein bestimmter Testpunkt adressiert (Gatter A 1 bis A 4
auf logisch »1«).
Wie schon erwähnt, wird das Register 25 mit einer Bitfolge geladen, die im Generatorbetrieb der Vorrichtung
an einen Testpunkt angelegt werden soll, während es im Empfangsbetrieb mit Daten geladen ist, die als
Antwort erwartet werden. In beiden Fällen ist es erforderlich, daß die größte Anzahl von Bits, die in einer
Folge an einen Testpunkt angelegt oder von einem Testpunkt empfangen werden soll, vorher bekannt ist.
Wenn diese größtmögliche Bitzahl kleiner ist als die Kapazität des Schieberegisters 25, müssen die Daten um
einige Stellen durch das Schieberegister transportiert werden, und zwar um so viele Stellen, wie die
größtmögliche Bitfolge kleiner ist als die Stellenzahl des Schieberegisters 25.
Daten werden auf die folgende Weise in das Register 25 eingeschrieben bzw. gespeichert. Während des
Einschreibens der Computerdaten in dieses Register, erscheinen diese Daten auf der Eingangsleitung 25a des
Registers. Außerdem erscheint ein Signal auf der Registersteuerleitung 25b, wodurch das Register so
betrieben wird, daß es auf der Leitung 25a ankommende Bits annimmt, aber auf der Leitung 25c von seinem
(^-Ausgang her zurückkommende Daten ignoriert. Während des normalen Betriebes des Registers beim
Betrieb'der Vorrichtung erscheint kein Befehl auf der
Leitung 25b, so daß über die Leitung 25c vom Ausgang her rückzirkulierende Signale erneut in den Eingang
3; eingegeben werden.
Wenn Informationsbits an einem der beiden Eingänge des Registers erscheinen, so müssen sie Bit für Bit durch
die einzelnen Registerstufen hindurchgeschoben werden, so daß sie in richtiger Reihenfolge am Ausgang des
Registers erscheinen. Während des Einlesens der Daten in das Register liegen Ladeclockimpulse vom Eingang
58 am Gatter L 1. Da die SET- und die ADDRESS-Leitungen hoch liegen, ergibt dies eine logische Aktivierung
des Oder-Gatters L 4 und des Inverters L 5, so daß Ladeclockimpulse mit der Folgefrequenz an den
Eingang des Registers 25 gelangen. Wenn der Einschreibvorgang abgeschlossen ist, ist es notwendig,
die Daten im Register so weit nach vorn zu schieben, bis das vorderste Bit an der vordersten Stelle im Register
steht. Dies erfolgt durch den Befehl FILL DRIVER (Fülle Generator), der vom Eingang 59 an das Gatter
L 2 gelangt Dieses Kommando besteht aus Ladeclockimpulsen, welche weiterlaufen bis die Daten um die
gewünschte Anzahl von Stellen weitergeschoben sind.
Während dieser Zeit liegt auf der Leitung 25a keine
Information, so daß nur Nullen hinter der eingeschriebenen Information nachgefüllt werden.
Die Daten werden aus dem Register 25 durch einen geeigneten Befehl ausgegeben, auf den hin Schtebeim
pulse am Eingang 63 und am Schiebegatter Sl erscheinen. Die Gatter S1 bis S3 werden offengehalten,
da die SET-Leitung und die ADDRESS-Leitung hochliegen, wenn dieser bestimmte Testpunkt adressier»
ist
6?. Wenn die Vorrichtung im Generatorbetrieb arbeitet
liegen durch den programmierbaren Signalgenerator 22 angeregte Impulse am Eingang 63 und erscheinen
demzufolge auf der Leitung 65. Dadurch werden
mcnmo
gespeicherte Daten aus dem Register 25 herausgeschoben, und zwar jeweils ein Bit aufgrund eines
Schiebeimpulses. Jeder Impuls gelangt auf den Eingang des logischen Flip-Flops 28. Dieser Flip-Flop arbeitet
derart, daß er bei einem logischen 1 am Eingang ein logisches 1 am Ausgang erzeugt. 3ei 0 am Eingang
erzeugt er entsprechend 0 am Ausgang.
Demzufolge arbeitet der Flip-Flop 28 so, daß er an seinem Ausgang die letzte am Schluß der Schiebeimpulse
an ihn gelangte Information festhält. Der Ausgang des Flip-Flops 28 ändert sich daher nicht, während
Impulse ständig durch die Ladeclockimpulse (nicht die Schiebeclockimpulse) vom Ausgang des Registers 25
auf seinen Eingang zurückgeführt werden. Für alle praktisch vorkommenden Fälle sieht daher die zu
testende Schaltung (wenigstens in einem statischen Testzustand) eine Wiederholung der gewünschten
Bitfolge ohne irgendwelche Lücken.
Daten am Ausgang des Flip-Flops 28 erscheinen an einem der Eingänge des Und-Gatters D\ (D=Unve
= Generatorbetrieb). Wenn ein Generatorausgabebefehl DRIVE OUTPUT erfolgt ist, ist auch der andere
Eingang dieses Gatters aktiviert und der letzte Ausgabcimpuls vom Register 25 liegt am Gatterausfang.
Dieser Impuls läuft zum Pegelübersetzer 30 für den bestimmten Testpunk;
Der Betrieb des digitalen Wortgenerator-Empfängers als Prüfvorrichtung im Empfangsbetrieb ist ähnlich.
In diesem Falle sind die erwarteten Daten im Register
25 gespeichert. Empfangene Daten erscheinen beim Empfangsbetrieb an dem logischen Komparator 42 in
Form eines zweier möglicher Signale, welche eine Pegelanforderung erfüllt haben. Wenn ein ankommender
Pegel gesucht wird, der niedriger ist als eine vorgeschriebene Maximalspannung, so erzeugt ein
ankommendes Signal, das die Bedingung für den unteren Pegel erfüllt, ein 1 auf der V,-Leitung zum
Und-Galier LGC2 (LGC= Logikkornparator) des
Komparators 42. Ähnlich erscheint ein 1 auf der Leitung V»zum Gatter LGC1, wenn ein empfangenes Signal die
Anforderungen für einen minimalen oberen Spannungspegel erfüllt.
Fehler werden wie folgt untersucht und gespeichert. Der Wortgenerator-Empfänger 16 befindet sich im
Empfangsbetrieb, der Ausgang des das Empfangsstellsignal SET RECEIVER liefernden Flip-Flops 55 liegt
hoch und alle Eingangsgatter 1.3, 52, L 6 und R 1 sind
effen zum Empfang von Strobeimpulsen (abgeleitet von den Schiebeimpuilsen) zum Schieben von Daten durch
das Register 27. Daten (invertiert) gelangen vom Register 25 auf due anderen Eingänge der Gatter LGC1
und LGC 2 des logischen Komparators 42. Wenn bei gleichzeitigem Vorhandensein eines Strobeimpulses die
auf einer der Leitungen Vn und V/ ankommenden
Signale nicht identisch sind mit den erwarteten Signalen, wird ein Fehlerimpuls auf der Komparatorausgangsleitung 68 erzeugt.
Jeder Fehler, also ein Fehlerimpuls auf der Ausgangs
leitung 68. wird in das Register 27 eingelesen und stellt gleichzeitig den Flip-Flop 70. Wenn dieser Flip-Flop
eine Fehleranzeige erhalten hat, bleibt sein Ausgang Q aktiv und erzeugt ein Fehleranzeigesignal am Ausgang
eines FehlergatteTS 73.
Ankommende Daten können relativ zeitliche Verschiebungen gegenüber der Taktzeit der angelegten
Signale aufweisen. Daher werden die Schiebeimpulse. die die Daten aus dem Speicherregister 25 auslesen, um
eine gewisse Zeit verzögert, um die Verzögerungszeit bis zur Ankunft der empfangenen Impulse am Ausgang
des logischen Komparators 43 auszugleichen. Zu diesem Zweck werden verzögerte Schiebeimpulse an den
Eingang 75 zum Und-Gatter 52 des Steuerschaltungsteiles 57f>
gelegt. Die Clockimpulse auf der Leitung 65 sind daher zeitlich etwas gegenüber den Schiebeimpulsen
verzögert, welche anderen Kanälen der Vorrichtung 16, die im Generatorbetrieb arbeiten, zugeführt werden.
Wenn Daten in das Fehlerregister eingelesen, d. h.
ίο geladen werden, ist es wichtig, daß Fehlerbits nicht
unnötig angezeigt werden. Es kann manchmal vorkommen, daß beispielsweise das ankommende Signal
gegenüber dem ausgegebenen Signal um eine beträchtliche Zeit verzögert ist. Es ist daher wünschenswert, daß
das Signal am Ausgang des logischen Komparators 42 dann untersucht wird, wenn ein Signal von der zu
testenden Schallung tatsächlich erwartet werden kann Strobeimpulse, welche an das Gatter R1 bei 77
eingespeist werden, sind demgemäß in ihrer Phasenver Schiebung variabel und können mit Hilfe einer variablen
Verzögerungsleitung, welche dem programmierbaren Signalgenerator 22 zugeordnet ist, über einen wesentlichen
Bereich verschoben werden. Das Gatter R 1 ist nur im Empfangsbetrieb der Vorrichtung offen und liefert
dann Strobeimpulse auf seiner Ausgangsleitung 79.
Zum Auslesen des Inhalts des Registers 27 ist es notwendig, die Fehlerfolge vorwärts zu schieben, so daG
alle erzeugten Fehlerbits in der richtigen Reihenfolge im Register erscheinen. Dies wird ähnlich durchgeführt wie
das Laden von Informationen in das Register 25. Beim Register 27 erfolgt das Laden jedoch durch Anlegen von
Clockimpulsen an die Eingangsleitung 80 zum Und-Gat terZ.6.
Der Ausgang des Fehlerregisters 27 erscheint auf dei
Leitung 82, so daß Fehler in beliebiger Bitposition aü:
dem Register 27 ausgelesen werden können, wenn au einen geeigneten Befehl hin Leseclockimpulse an die
Eingangsleitung 83 gelangen, die zum Und-Gatter L mi
führt.
Hier muß bemerkt werden, daß beim Generatorbe trieb der Vorrichtung Schiebeimpulse am Eingang 6;
des Steuerschaltungsteiles 576 nur so lange erscheinen bis die maximale Anzahl von Bits durchgeschoben ist
Danach erscheinen Impulse beispielsweise auf de
Eingangsleitung 59, so daß die Daten im Register 2i weiter umlaufen, während der letzte ausgegeben«
Impuls im Flip-Flop 28 gespeichert bleibt. Bein Empfangsbetrieb der Vorrichtung werden Daten zun
Ausgang des Registers 25 geschoben und außerden
durch das Fehlerregister 27 zur Vorbereitung de Aufnahme einer neuen Impulsfolge durch Anlegen voi
Impulsen an die Leitung 80. Da das Gatter L 7 nur durcl die Adreßleitung und durch die Leseimpulse betätig
wird, kann das Fehlerregister ausgelesen werden, auc
wenn die Vorrichtung weder im Empfangsbetrieb nocl
im Generatorbetrieb arbeitet.
Fig.4 zeigt die elektronische Schaltung für dei
an den Testpunkt oder falls keine Schahvorrichtung 1
benutzt wird, direkt an den Anschluß der zu testende
Zunächst seien die Schaltungsteile betrachtet di während des Generatorbetriebes benötigt werden. Di
digitale Bitfolge, die auf der Leitung 66 (siehe Fig.3)
erzeugt wird, gelangt in den Pegelübersetzer 30. der einen sogenannten Pegelschieber (level shifter) aufweist.
Diese Vorrichtung erzeugt den unteren logischen Pegel entsprechend der variablen Spannung Vo, die an
den Steuerpegeleingang 90 des Pegelübersetzers angelegt ist. Der Ausgang 91 des Pegelübersetzers führt
zu dem Begrenzer-Treiber 31, der den oberen logischen Pegel Vi anhand einer Spannung festlegt, die ihm von
der programmierbaren Spannungsquelle über die Steuerleitung 93 zugeführt wird. Die beiden Schaltungsteile
30 und 31 arbeiten in Verbindung miteinander und liefern daher die unteren und oberen Signalpegel für die
digitale Bitfolge, die an die geschlossenen Kontakte des Relais K1 gelangen, wenn die Vorrichtung im
Generatorbetrieb arbeitet.
Wie F i g. 4 weiterhin zeigt, gelangen beim Empfangsbetrieb die empfangenen Signale von der Leitung 35
durch die geschlossenen Kontakte des Relais K 2 und durch die Abschwächerschaltung 95 zum Pufferverstärker
97. Der Abschwächer 95 gewährleistet, daß ankommende Signalpegel bis zu größter Höhe die von
der Testschaltung ohne Sicherheitsgefahr verarbeitbare Höhe nicht überschreiten. Das Ausgangssignal des
Puffers durchläuft einen weiteren einstellbaren Abschwächer 98 und gelangt sodann zu den zwei
entgegengesetzt polarisierten Eingängen der Komparatorverstärker 99 und 100. Jeder dieser Verstärker ist
derart betreibbar, daß er den Eingangspegel mit einem festen Pegel Vul und Vu vergleicht, welche von dem
programmierbaren Netzteil 15 (siehe F i g. 1 und 2) geliefert werden. Wie schon erläutert, produziert der
Komparatorverstärker 99 ein Signal Vh so lange, wie
eine vom Abschwächer 98 ankommende Signalfolge eine der Schwellenspannung V;;/ proportionale Spannung
übersteigt. Ebenso erzeugt der Komparatorverstärker 100 ein Ausgangssignal V;., wenn das vom
Abschwächer 98 kommende Signal niedriger ist als ein zur programmierbaren Spannung VLL proportionaler
Pegel. In allen normalerweise vorkommenden Fällen kann ersichtlich nur einer der beiden Verstärker 99 und
100 zu einer bestimmten Zeit ein 1 am Ausgang produzieren.
Daten- und Steuerlogik
Fig. 5 zeigt die wesentlichen Betriebselemente der
DPicn- und Steuerlogik 24, von welcher die verschiedenen
Impuls- und Steuerfunktionen für den Wortgenerator-Empfänger erhalten werden. Alle schematisch
dargestellten Schaltungen können als Teile einer mit der Vorrichtungssteuerung verbundenen Unter-Steuereinheit aufgefaßt werden, die hier aus Gründen der
Vereinfachung nicht dargestellt ist Zur Erläuterung sei hier jedoch ausgeführt daß die Signale, die die
Darstellung ruf der linken Seite erreichen bzw. verlassen (ausgenommen die Signale, die von dem
programmierbaren Signalgenerator kommen) auf dem Ein-Ausgabebus des Computers stehen. Dieser Bus
besteht im Falle des »Interdata 4« aus einer Anzahl von Leitungen (beispielsweise acht Leitungen), durch die
Daten an die peripheren Vorrichtungen gegeben werden, die an den Computer angeschlossen sind, und
durch die außerdem Signale von den peripheren Vorrichtungen zum Computer geliefert werden. Der
Computer erzeugt natürlich außerdem Befehle, die auf separaten Befehlsleitungen oder auf Datenleitungen
erscheinen und anschließend in den Vornchtungssteue runden dekodiert werden, so daß gesonderte Signale
zum Betrieb der peripheren Vorrichtungen erzeugt werden. Zur Erläuterung der Arbeitsweise der vorliegenden
Erfindung sei angenommen, daß Daten in den digitalen Wortgenerator-Empfänger auf Datenzuliefers
leitungen (D,4L = data available lines) eingespeist
werden und diesen auf Datenempfangsleitungen (D/?L = data receive lines) verlassen, wobei die ersteren
Leitungen Daten vom Computer empfangen und die letzteren Daten an den Computer liefern, wenn diese
ίο verlangt werden. Schließlich sei angenommen, daß der
Computer Befehle über separate Befehlsleitungen ausgibt und daß diese durch die Vorrichtungssteuerungen
dekodiert werden, um spezielle Befehle zu erhalten zur Ausführung von Funktionen wie Übermittlung und
Empfang von Daten und Beginn bestimmter Operationen.
Wie aus Fig.5 ersichtlich, werden alle internen
Befehle des Wortgenerator-Empfängers in dem Befehlsdekoder 105 erzeugt, der Befehle des Computers
von der nicht dargestellten Vorrichtungssteuerung erhält, solange die Befehlsleitung CMDO hoch liegt.
Ankommende Daten auf dem ZML-Datenbus 106 gelangen dann in den Dekoder 105 in Form digital
kodierter Befehle. Hierauf gibt der Dekoder an seinem Ausgang verschiedene interne Befehle aus. Diese lauten
wie folgt: READ (lies), WRITE (schreibe), RESET (ruckstell). FILL (fülle), CYCLE (umlaufe), OCDRIVER
(drive output command = Befehl für Generatorbetrieb), OC/?EC£/V£/? (receive output command = Befehl für
Empfängerbetrieb), SET INDEX REGISTER (setze Indexregister), CLEAR ERROR (lösche Fehler) und
ST,4/?r(starte).
Wie dargestellt gehen die meisten dieser internen Befehle zur Steuerlogik 108. Die Befehle OCRECR und
OC DRVR ebenso wie der Befehl CLEAR ERROR erscheinen auf den Leitungen 109, 110 und 111 und
werden in F i g. 3 dargestellten Elementen zugeführt.
Adreßdaten, die zur Bezeichnung der Generator- und
Empfängerkanäle benötigt werden, die aktiv werden,
d. h. die mit bestimmten Anschlüssen der zu testenden
Schaltung verbunden werden sollen, erscheinen auch auf dem DAL-Bus 106, wenn die ankommende
DAOLeitung 113 zu den Adreßspeichern 115 aktiviert
ist. Wenn dies erfolgt wird die Adresse für den speziellen adressierten Anschluß- oder Testpunkt der zu
testenden Schaltung gespeichert (»latched in«), bis sie von neuen Daten übergelesen wird. Adreßinformation
wird außerdem bestimmt durch den Adreßdekoder 116
der eine Hauptgruppenadreßabteilung 116a und eine Untergruppenabteilung 1166 enthält. Fur die praktische
Anwendung bedeutet das, daß die Gruppenadresse eine von acht Schaltungsplatinen bezeichnet auf der jeweil:
Generator- und Empfängerkanäle für 16 Testpunkte angeordnet sind und daß die Untergruppenadresse der
einzelnen Testpunkt bezeichnet Adreßdatenieitunger 117 und 118. ausgehend vom Ausgang des Adreßdeko
ders 116 versorgen daher die Schaltungsplatinen unc enthalten solche Leitungen wie beispielsweise die
Leitungen 117a und 118a, die die Adreßgatter 50 ii
Die Steuerlogik 108 erzeugt ebenfalls drei Signale, di<
direkt zur Steuerung verschiedener Funktionen de Generator- und Empfängerkanäle benötigt werder
Diese Signale sind das Ä£S£T(rückstell-Signal auf de Leitung 120, das WRITE (schreibe)- oder FJLi
(fülle)-Signal auf der Leitung 2Sb und das ENABLi
{einschalte) oder RESET (rücksteu>SignaI auf de
Leitung 121 zum Gatter 51 (F i g. 3). Das letztere Signa
wird erzeugt, damit die Flip-Flops 34 und 55 mit diesem
Signal bei gleichzeitiger Adressierung gesetzt oder rückgestellt werden können.
Zusätzlich zur Erzeugung von Schaltsignalen für die Generator- und Empfängerkanäle erzeugt die Steuerlogik
108 Schaltsignale für eine Ladeclocktonteuerung 125. Diese Signale sind: WRITE CONTROL, FILL
CONTROL CYCLE CONTROL und INDEX REG. CONTROL Die Ladeclocktorsteuerung 125 hat die
wichtige Funktion der Steuerung eines steuerbaren Clockgenerators bzw. Taktgenerators 126. Dieser läuft
mit einer Festfrequenz von 2MHz und liefert auswählend steuerbare Clockimpulse auf der Leitung
128 zu allen Generator- und Empfängerkanälen über Leitungen 58,59,80 und 83 (F i g. 3). Die Clocktorsteuerung
125 besorgt die Start/Stoppsteuerung des steuerbaren Clockgenerators 126 über eine Leitung 129.
Während der Ausführung eines WRITE-, FILL- oder CrCLF-Befehls ist daher der Clockgenerator 126 durch
ein Steuersignal auf der Leitung 129 aufgesteuert, und die Clocktorsteuerung 125 schaltet die Ladclockimpuise
auf einen der Ausgänge 130 bis 132. Ladeclockimpulse gehen entsprechend zu den verschiedenen Schaltungsplatinen über die zugehörigen Leitungen, je nachdem,
welche der Ausgangsleitungen 130,131 und 132 aktiv ist.
Es wurde schon erläutert, daß, wenn die Anzahl der in das Register 25 eingelesenen Bits kleiner ist als die
Kapazität des Registers, es notwendig ist, diese Daten im Register vorwärts zu schieben, so daß, wenn der
START-Befehl ausgegeben ist, Daten aus allen den
adressierten Testpunkten zugehörigen Registern gleichzeitig und synchron ausgegeben werden. Wenn das
Register 25 beispielsweise eine Kapazität von 1024 besitzt und nur 32 Bits (4 Bytes) in dieses Register
eingegeben werden, so müssen diese 32 Bits um 992 Stellen vorwärts geschoben werden. Dies wird erreicht,
wie schon erwähnt, durch Anlegen von Impulsen vom Ausgang 132 der Clocktorsteuerung auf die LD CLK +
FILL DRV (ladeclock + generatorfüll)-Leitung 59 (F i g. 3). In diesem besonderen Falle müssen 992
Impulse abgegeben werden, um den Datenblock im Register nach vorn zu schieben.
In ähnlicher Weise werden im Register 27 gespeicherte Fchlerdaten nach vorn zum Ausgang geschoben. Dies
wird erreicht durch Anlegen von Ladeclockimpulsen an die LD CLK + FILL RECR (ladeclock + empfängerfüll)-Leitung
80 (F i g. 3).
Der steuerbare Clockgenerator 126 fährt fort.
Impulse auf der Leitung 126 zu erzeugen (welche dann
auf den Ausgängen 130 bis 132 erscheinen), bis er den Befehl zum Stopp erhält durch ein geeignetes Signal auf
der Leitung 129, das von der Clocktorsteuerung 125 erzeugt wird.
In Fig.5 sind die FILL- und CYCLE-Befehle als
getrennte Befehle dargestellt. Ein f/LL-Befehl erscheint,
wenn vor der Ausgabe der Signale aus dem Wortgenerator-Empfänger Daten von ihrer anfänglichen
Position im Register 25 zu der vordersten Position geschoben werden sollen. Wenn jedoch Daten eingegeben
sind und das Register gefüllt ist. zirkulieren die Daten zurück und kommen wieder in ihre ursprüngliche
Position. Um diese Daten wieder nach vorn zu schieben, muß dasselbe Bit-Schema wiederholt werden, ein
CYCLE-Befehl wird gegeben. Dies ergibt einen LD CLK- + F/LL-Be(eh\ auf der Ausgangsleitung 132 der f>5
Clocktorsteuerung 125, genauso wie im Falle eines F/LL-Befehls. Der Unterschied ist der, daß in diesem
-alle keine Daten von der Leitung 25b in das Register gelangen.
Nach dem anfänglichen Laden des Registers erscheint ein WRlTE-BefeM, nachdem zuvor eine
Byte-Zahl von den vom DAL-Bus 106 gelieferten Daten im Befehlsdekoder gespeichert wurde.
Eine andere Bytezahl kann für den Empfangsbetrieb der Vorrichtung benutzt werden, wenn dies erforderlich
ist Diese Zahlen sagen dem digitalen Wortgenerator-Empfänger, welche maximale Anzahl von Bytes (und
daher welche maximale Anzahl von Bits) in die Register im Empfangsbetrieb bzw. im Generatorbatrieb eingelesen
werden sollen. Die Erzeugung des WRITE CONTROL-Signals bewirkt daher, daß der steuerbare
Clockgenerator 126 eingeschaltet wird und Impulse
entsprechend der gespeicherten Bytezahl erzeugt. Die Bytezahl wird durch den WRITE CONTROL-Befthl
außerdem der Clocktorsteuerung 125 zugeführt.
Während des Schreibens (WRITE) von Daten stellen alle Daten auf dem Computer-D/4L-Bus Bitfolgen dar,
die in das Register 25 einzuschreiben sind, und es erscheint für jedes Byte ankommender Information ein
Signal auf der DAOLeitung 113. Dieses DAO-Signal
wird außerdem der Clocksteuervorrichtung 125 zugeleitet, um die Byu zahl zu verringern. Für jedes Byte der
ankommenden Daten während eines HWTf-Befehls
schaltet die Clocktorsteuerung 125 den steuerbaren Clockgenerator 126 acht Impulse lang ein.
Um die Position des in das Register 25 eingeschriebenen Datenblockes auffinden zu können, sind zwei
Indexregister 135 und 136 vorgesehen, jedes dieser Register besitzt ebenso viele Stufen wie das. Register 25
und enthält ein bewegliches Merkerbit, das an der Stelle des Indexregisters steht, die die Position des vordersten
Bits des Datenblockes im Register 25 anzeigt. Wenn das Register 25 im Generatorbetrieb benutzt wird, so wird
das Merkerbit im Indexregister 135 gesetzt. Wenn sich die Vorrichtung im Empfangsbetrieb befindet, zeigt das
Merkerbit im Indexregister 136 die Datenposition an.
Während des ursprünglichen Schreibens, von Information
in das örtliche Register 25 wird ein INDEX REG. CONTROL-BdtYA dem steuerbaren Clockgenerator
126 zugeführt und öffnet die Torsteuerung, so daß Clockimpulse auf der Leitung 130 erscheinen. Die
Ladeclockimpulse werden auch auf die Indexregister 135 und 136 gegeben, um die Merkerbits in diesen
Registern um soviel weiter zu schieben, wie dies der Anzahl erzeugter Ladeclockimpulse entspricht, so daß
die Merkerbits die Stellung des vordersten Bits im jeweiligen örtlichen Register 25 anzeigen. Die Merker
bits werden in das Indexregister von einer Indexregistersteuerung 138 eingegeben, welche ein einzelnes Bit
in die hinterste Position des Registers setzt. Dies erfolgt bei Erhalt des Befehls SET INDEX REG^ der auf der
Leitung 140 vom Befehlsdekoder 105 ankommt.
Während der FILL- und CVCZ-E-Abläufe werden die
Merkerbits in den Indexregistern 135, 136 durch Clockimpulse vorwärts geschoben. Die Register stellen
fest, wann der Merkerbit die vorderste Position erreicht hat und erzeugen dann einen S7W-Befehl auf der
Leitung 141 zur Indexregistersteuerung 138. Diese erzeugt ein Signal auf der Leitung 143 zwischen der
Indexregistersteuerung 138 und der Clocktorsteuerung 125. Durch diesen Befehl werden die Clockimpulse
während des F/LL-Betriebes und des CYCLE-Betriebes
gestoppt.
SAZ/FT-lmpulse, die eine variable Folgefrequenz
besitzen und die von dem programmierbaren Signalgenerator herkommen, gelangen zu einem START/
STOP-Steuergatter 150. Diese Impulse werden außerdem
auf eine programmierbare Verzögerungsleitung 151 gegeben, die auch zum programmierbaren Signalgenerator gehören kann und Schiebeimpulse DELAY
CLOCK (verzögerte Clockimpulse) auf die Leitung 153 abgibt. In derselben Weise werden STAOfif-lmpulse
auf der Leitung 155 dem 57XÄr/57OASteuergatter
150 zugeführt Wenn der digitale Computer dem Wortgenerator-Empfänger den Start befiehlt, wird das
Start/Stop-Steuergatter 150 geöffnet und erlaubt den
verzögerten Schiebeimpulsen (SHIFT CLOCK und DELAY CLOCK) und den Strobeimpulsen in der
bestimmten Frequenz den Zugang zu den Leitungen 63, 75 und 77.
Im Register 27 gespeicherte Fehlerdaten werden durch Schiebeimpulse des steuerbaren Clockgenerators
126 ausgeschoben. Um dies zu ermöglichen, wird der ÄE4Z>Befehl benutzt, um die Torsteuerung 125 zu
öffnen. Wenn der Computer dann Daten abfragt, erzeugt ein Signal auf der DÄO-Leitung 145 einen
START-Befehl, der über die Leitung 129 zu dem steuerbaren Clockgenerator 126 läuft. Dann werden
Daten in einer Länge entsprechend der Zahl von Informationsbits, die ursprünglich im Register 25
standen, ausgelesen. Der ÄEAD-Befehl macht also
ebenfalls Gebrauch von der Datenbytezahl. Es werden jedesmal acht Bits ausgelesen, wenn die DRO- Leitung
hoch liegt.
Daten auf dem DAL-Bus erreichen den digitalen
Wortgenerator-Empfänger durch einen Serien/Parallel- und Parallel/Serien-Konverter 160, der die ankommenden
parallelen Datenbytes in Serienform umwandelt zur Übertragung auf das Register 25 über die Leitung 60,
wie dargestellt. Daten werden diesem Konverter entnommen über den DÄL-Bus, der Daten entnimmt,
die vom Fehlerregister in Serienform zum Konverter 160 gelangen und von diesem in paralleler Form
ausgegeben werden. Die Daten von jedem der Fehlerregister gelangen in einen Multiplexer 162.
Gruppen- und Untergruppenadreßinformationen von dem Adreßdekoder 116 öffnen einen Signalweg von
einem bestimmten der ankommenden Leiter 82, so daß die auf diesem Leiter ankommenden Daten zum
Konvertei- 160 überführt werden. Die Daten werden daher jeweils nur von einzelnen Kanälen oder
Anschlußklemmen in den Konverter eingelesen.
Da jedes Mal, wenn die DÄO-Leitung hoch liegt, ein
Byte bzw. acht Ladeclockimpulse zum Fehlerregister gelangen, kommen Datenimpulse vom Fehlerregister in
den Konverter in Gruppen zu acht Bit Die DRO-Leitung
bleibt hoch über einen Zeitraum, der größer ist als notwendig, um diese acht Bits zu sammeln. Wenn das
DÄO-Signal abfällt, wird die Information gleichzeitig
über den DÄL-Bus auf den Computer übertrager.
In Fällen, in denen lange FILL- oder CVCLf-Zeiten
erforderlich sind, also beispielsweise wenn nur wenige Daten in das Register 25 geladen werden, kann es
passieren, daß der Wortgenerator-Empfänger den
nächsten Computerbefehl noch nicht annehmen kann.
Daher darf, solange Ladeclockimpulse bzw. Schiebeclockimpulse erzeugt und benutzt werden, und somit ein
Vorgang in der Vorrichtung abläuft, kein neuer
Computerbefehl vor Ausführung des alten Befehls
erzeugt werden. Zu diesem Zweck wird ein BUSY (beschäftigt)-Signal am steuerbaren Clockgenerator 126
und am Start/Stop-Steuergatter 150 erzeugt, solange diese Einheiten Impulse ausgeben. Nach Unterbrechung
dieses Signals kann der Computer wieder mit der Vorrichtung 16 Signale austauschen.
Das Ausführungsbeispiel kann in vielen Punkten auch anders ausgeführt sein. Beispielsweise lassen sich viele
Funktionen, die im dargestellten Beispiel in bestimmten Vorrichtungen ausgeführt werden, auch in anderen
Vorrichtungen ausführen. So gibt es mehrere Möglichkeiten der Steuerung des Clockgenerators um eine
Anzahl von Impulsen zu erzeugen, die der maximalen Bytezahl entspricht. Außerdem können die Steuerschaltungen
anders aufgebaut sein, wenn andere Computer oder andere Datenformate benutzt werden.
Ein anderes Beispiel einer möglichen anderen Ausführungsform betrifft den Spannungskomparator
gemäß F i g. 4. Obwohl es vorteilhaft ist, zunächst die Signale VH und VL zum Gebrauch im logischer
Komparator zu erzeugen, kann dieselbe Funktion auch erreicht werden durch Pegeleinstellung des Ausgangssignals
des Registers 25.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Schaltungsanordnung zum Testen logischer Schaltungen mit Hilfe eines Digitalrechners, der
Testbitfolgen und Steuerbefehle abgibt, die zur Pufferung in einem Schieberegister gespeichert und
von einem Taktgeber ausgelesen werden, dessen Frequenz von der Frequenz des Rechners unabhängig
ist, dadurch gekennzeichnet, daß für jeden Testpunkt der logischen Schaltung (17) ein mit
dem Rechner (12) verbundenes Schieberegister (25) und ein zugehöriger Taktgeber (22) vorgesehen sind,
daß ein logischer Vergleicher (42) vorgesehen ist, der die von dem Testpunkt als Antwort auf die
Testhitfolgen abgegebenen Bitfolgen empfängt, und daß ferner ein den Ausgang des Schieberegisters
wahlweise mit dem Testpunkt oder mit dem logischen Vergleicher verbindender Schalter (33)
vorgesehen ist, wobei der logische Vergleicher eine Fehleranzeige abgibt, wenn die vom Schieberegister
abgegebene Bitfolge nicht mit der von der zu testenden Schaltung ankommenden Biifolge übereinstimmt.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Speicherung der Fehleranzeiger!
ein Fehlerregister (27) vorgesehen ist, das mit einer Geschwindigkeit geladen wird, die der
Geschwindigkeit entspricht, mit der die Bits aus dem Schieberegister zum logischen Vergleicher (42)
gelangen.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Verzögerungseinrichtung
(151) vorgesehen ist, die die Taktgeberimpulse für die Abgabe der Bit-Folge aus dem
Schieberegister (25) (und zum Laden des Fehler-Registers) zu den Taktgeberimpulsen für die Abgabe
der Testbitfolge an die zu testende Schaltung (10) zeitlich verzögert.
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüehe
1 bis 3, wobei der Inhalt des Schieberegisters zirkulieren kynn, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Flip-Flop (28) zwischen dem Ausgang des Schieberegisters (25) und dem Ausgang der Testvorrichtung
vorgesehen ist.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Schalter aus den Flip-Flop
(28) besteht.
b. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Pegelübersetzerschaltung (30), die an den Ausgang
des Schieberegisters (25) angeschlossen ist und mit der der Spannungspegel der an die zu testende
Schaltung (10) gelangenden Testbitfolge einstellbar ist.
7. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen dem
logischen Vergleicher (42) vorgeschalteten Pegeivergleichcr (39). der nur dann ein Signal an den
logischen Vergleicher abgibt, wenn der Pegel der ankommenden Bits innerhalb vorgegebener Grenzen
liegt.
8. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Indexregister (135/136) mit einer der Kapazität des Schieberegisters (25) entsprechenden Kapazität
vorgesehen ist, wobei ein Merker-Bit im Indexregister an der der Stelle des vordersten Bits einer
Bitfolge im Schieberegister entsprechenden Stelle steht und mit Hilfe dessen die Verschiebung der
Bitfolge im Schieberegister (25) steuerbar ist.
9. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur parallelen Abgabe von Test-Bits an die zu testende
Schaltung mehrere Ausgänge sowie eine Adressierungseinrichtung (115/116) vorgesehen ist, die die
Schieberegister (25) pro Ausgang unabhängig ν oneinander in Betrieb setzt.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US00300536A US3832535A (en) | 1972-10-25 | 1972-10-25 | Digital word generating and receiving apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2340547A1 DE2340547A1 (de) | 1974-05-09 |
| DE2340547B2 true DE2340547B2 (de) | 1977-06-02 |
Family
ID=23159511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19732340547 Withdrawn DE2340547B2 (de) | 1972-10-25 | 1973-08-10 | Schaltungsanordnung zum testen logischer schaltungen |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3832535A (de) |
| JP (1) | JPS5318368B2 (de) |
| BE (1) | BE806456A (de) |
| CA (1) | CA999051A (de) |
| DE (1) | DE2340547B2 (de) |
| ES (1) | ES419952A1 (de) |
| FR (1) | FR2219573B3 (de) |
| GB (1) | GB1445470A (de) |
| NL (1) | NL7314600A (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0006168A1 (de) * | 1978-06-19 | 1980-01-09 | International Business Machines Corporation | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen logischer Schaltungen bestimmter Funktion |
Families Citing this family (57)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2246023B1 (de) * | 1973-09-05 | 1976-10-01 | Honeywell Bull Soc Ind | |
| US3924109A (en) * | 1974-07-22 | 1975-12-02 | Technology Marketing Inc | Automatic circuit card testing system |
| US3976864A (en) * | 1974-09-03 | 1976-08-24 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for testing digital circuits |
| FR2289967A1 (fr) * | 1974-10-28 | 1976-05-28 | Honeywell Bull Soc Ind | Dispositif de test et diagnostic d'un appareil peripherique d'une unite de traitement de donnees |
| US4034195A (en) * | 1975-01-22 | 1977-07-05 | Phillips Petroleum Company | Test apparatus and method |
| US3976940A (en) * | 1975-02-25 | 1976-08-24 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Testing circuit |
| US4058767A (en) * | 1975-04-29 | 1977-11-15 | International Business Machines Corporation | Apparatus and process for testing AC performance of LSI components |
| US4102491A (en) * | 1975-12-23 | 1978-07-25 | Instrumentation Engineering, Inc. | Variable function digital word generating, receiving and monitoring device |
| JPS5352029A (en) * | 1976-10-22 | 1978-05-12 | Fujitsu Ltd | Arithmetic circuit unit |
| US4099668A (en) * | 1976-10-29 | 1978-07-11 | Westinghouse Electric Corp. | Monitoring circuit |
| MX4130E (es) * | 1977-05-20 | 1982-01-04 | Amdahl Corp | Mejoras en sistema de procesamiento de datos y escrutinio de informacion utilizando sumas de comprobacion |
| US4241416A (en) * | 1977-07-01 | 1980-12-23 | Systron-Donner Corporation | Monitoring apparatus for processor controlled equipment |
| US4125763A (en) * | 1977-07-15 | 1978-11-14 | Fluke Trendar Corporation | Automatic tester for microprocessor board |
| US4122995A (en) * | 1977-08-02 | 1978-10-31 | Burroughs Corporation | Asynchronous digital circuit testing system |
| US4168527A (en) * | 1978-02-17 | 1979-09-18 | Winkler Dean A | Analog and digital circuit tester |
| US4216539A (en) * | 1978-05-05 | 1980-08-05 | Zehntel, Inc. | In-circuit digital tester |
| GB2029032B (en) | 1978-08-25 | 1982-12-22 | Racal Automation Ltd | Circuit testing apparatus |
| US4212075A (en) * | 1978-10-10 | 1980-07-08 | Usm Corporation | Electrical component testing system for component insertion machine |
| US4236246A (en) * | 1978-11-03 | 1980-11-25 | Genrad, Inc. | Method of and apparatus for testing electronic circuit assemblies and the like |
| US4222514A (en) * | 1978-11-30 | 1980-09-16 | Sperry Corporation | Digital tester |
| US4271472A (en) * | 1979-05-18 | 1981-06-02 | Honeywell Information Systems Inc. | Wire wrap operator check system |
| US4277831A (en) * | 1979-05-18 | 1981-07-07 | Honeywell Information Systems Inc. | Computer aided wire wrap operator check system |
| JPS5618766A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-21 | Fujitsu Ltd | Testing apparatus for logic circuit |
| US4285059A (en) * | 1979-12-10 | 1981-08-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Circuit for test of ultra high speed digital arithmetic units |
| US4290137A (en) * | 1979-12-26 | 1981-09-15 | Honeywell Information Systems Inc. | Apparatus and method of testing CML circuits |
| US4389710A (en) * | 1981-01-12 | 1983-06-21 | Goodyear Aerospace Corporation | Braking system test circuit |
| FR2498849B1 (fr) * | 1981-01-26 | 1986-04-25 | Commissariat Energie Atomique | Generateur de signaux logiques combines |
| US4439858A (en) * | 1981-05-28 | 1984-03-27 | Zehntel, Inc. | Digital in-circuit tester |
| US4451918A (en) * | 1981-10-09 | 1984-05-29 | Teradyne, Inc. | Test signal reloader |
| US4450560A (en) * | 1981-10-09 | 1984-05-22 | Teradyne, Inc. | Tester for LSI devices and memory devices |
| US4507576A (en) * | 1982-10-28 | 1985-03-26 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for synthesizing a drive signal for active IC testing including slew rate adjustment |
| FR2543709B1 (fr) * | 1983-03-30 | 1985-08-09 | Centre Nat Rech Scient | Appareil programmable pour la generation de sequences numeriques en vue du test de circuits digitaux |
| US4570262A (en) * | 1983-06-22 | 1986-02-11 | The Boeing Company | Programmable universal logic driver |
| US4760377A (en) * | 1983-11-25 | 1988-07-26 | Giordano Associates, Inc. | Decompaction of stored data in automatic test systems |
| US4656632A (en) * | 1983-11-25 | 1987-04-07 | Giordano Associates, Inc. | System for automatic testing of circuits and systems |
| US4641085A (en) * | 1984-01-09 | 1987-02-03 | Hewlett-Packard Company | Vector network analyzer with integral processor |
| US4937827A (en) * | 1985-03-01 | 1990-06-26 | Mentor Graphics Corporation | Circuit verification accessory |
| US4744084A (en) * | 1986-02-27 | 1988-05-10 | Mentor Graphics Corporation | Hardware modeling system and method for simulating portions of electrical circuits |
| US4841456A (en) * | 1986-09-09 | 1989-06-20 | The Boeing Company | Test system and method using artificial intelligence control |
| FR2605112B1 (fr) * | 1986-10-10 | 1989-04-07 | Thomson Csf | Dispositif et procede de generation de vecteurs de test et procede de test pour circuit integre |
| FR2605744A1 (fr) * | 1986-10-22 | 1988-04-29 | Gacha Roger | Nouveau verificateur automatique de composants electroniques (resistances, condensateurs, diodes) a installer sur un sequenceur; le verificateur et le sequenceur etant pilotes par micro-ordinateur et automate programmable industriel, grace a un logiciel de commande |
| US4799220A (en) * | 1987-02-19 | 1989-01-17 | Grumman Aerospace Corporation | Dynamic system for testing an equipment |
| US4814638A (en) * | 1987-06-08 | 1989-03-21 | Grumman Aerospace Corporation | High speed digital driver with selectable level shifter |
| US4791312A (en) * | 1987-06-08 | 1988-12-13 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable level shifting interface device |
| DE3719497A1 (de) * | 1987-06-11 | 1988-12-29 | Bosch Gmbh Robert | System zur pruefung von digitalen schaltungen |
| US4862067A (en) * | 1987-06-24 | 1989-08-29 | Schlumberger Technologies, Inc. | Method and apparatus for in-circuit testing of electronic devices |
| US5047708A (en) * | 1988-12-23 | 1991-09-10 | Kondner Jr Robert L | Apparatus for testing circuit boards |
| US5369593A (en) * | 1989-05-31 | 1994-11-29 | Synopsys Inc. | System for and method of connecting a hardware modeling element to a hardware modeling system |
| US5353243A (en) * | 1989-05-31 | 1994-10-04 | Synopsys Inc. | Hardware modeling system and method of use |
| JPH03194800A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-26 | Ando Electric Co Ltd | リアルタイムアドレス切換回路 |
| US5414713A (en) * | 1990-02-05 | 1995-05-09 | Synthesis Research, Inc. | Apparatus for testing digital electronic channels |
| US6101457A (en) * | 1992-10-29 | 2000-08-08 | Texas Instruments Incorporated | Test access port |
| US5831918A (en) * | 1994-02-14 | 1998-11-03 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode |
| US6587978B1 (en) | 1994-02-14 | 2003-07-01 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for varying a pulse width of an internal control signal during a test mode |
| US5673295A (en) * | 1995-04-13 | 1997-09-30 | Synopsis, Incorporated | Method and apparatus for generating and synchronizing a plurality of digital signals |
| US5991214A (en) * | 1996-06-14 | 1999-11-23 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode |
| US7062697B2 (en) * | 2000-12-07 | 2006-06-13 | Youngtek Electronics Corporation | Pre-stored digital word generator |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3546582A (en) * | 1968-01-15 | 1970-12-08 | Ibm | Computer controlled test system for performing functional tests on monolithic devices |
| US3581074A (en) * | 1968-02-19 | 1971-05-25 | Burroughs Corp | Automatic checkout apparatus |
-
1972
- 1972-10-25 US US00300536A patent/US3832535A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-08-10 DE DE19732340547 patent/DE2340547B2/de not_active Withdrawn
- 1973-10-23 GB GB4937773A patent/GB1445470A/en not_active Expired
- 1973-10-24 CA CA184,176A patent/CA999051A/en not_active Expired
- 1973-10-24 NL NL7314600A patent/NL7314600A/xx not_active Application Discontinuation
- 1973-10-24 FR FR7337941A patent/FR2219573B3/fr not_active Expired
- 1973-10-24 BE BE137015A patent/BE806456A/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-10-25 ES ES419952A patent/ES419952A1/es not_active Expired
- 1973-10-25 JP JP12035373A patent/JPS5318368B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0006168A1 (de) * | 1978-06-19 | 1980-01-09 | International Business Machines Corporation | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen logischer Schaltungen bestimmter Funktion |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB1445470A (en) | 1976-08-11 |
| JPS49135539A (de) | 1974-12-27 |
| FR2219573B3 (de) | 1976-09-17 |
| ES419952A1 (es) | 1976-04-16 |
| FR2219573A1 (de) | 1974-09-20 |
| JPS5318368B2 (de) | 1978-06-14 |
| BE806456A (fr) | 1974-02-15 |
| NL7314600A (de) | 1974-04-29 |
| US3832535A (en) | 1974-08-27 |
| DE2340547A1 (de) | 1974-05-09 |
| CA999051A (en) | 1976-10-26 |
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