DE2127483A1 - Verfahren zur interferentiellen Messung von Langen, Winkeln, Gangunter schieden oder Geschwindigkeiten - Google Patents
Verfahren zur interferentiellen Messung von Langen, Winkeln, Gangunter schieden oder GeschwindigkeitenInfo
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Description
2127^83
Verfahren zur interferentiellen Messung von
Längen, Winkeln, Gangunterschieden oder Geschwindigkeiten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur interferentiellen
Messung von Längen, Winkeln, Gangunterschieden oder Geschwindigkeiten mit Hilfe einer Zweistrahlinterferenz-Anordnung.
Bei Zweistrahl-Interferometern, die den Anordnungen nach
Michelson, Mach-Zehnder, Sagnac oder Gitterinterferenzanordnungen
entsprechen, liefert die mit dem jeweiligen Meßvorgang verbundene Gangunterschieds- bzw. Phasenänderung
zwischen den beiden Teilstrahlenbündeln noch keine Information
über das Vorzeichen dieser Veränderungen bzw. das Vorzeichen der Änderungsgeschwindigkeit. Durch verschiedene
bekannte Verfahren und Geräte kann diese Information zusätzlich gewonnen und meßtechnisch ausgewertet werden. Den
Meßverfahren liegt die prinzipielle Erkenntnis zugrunde, daß phasenverschobene, verkettete sinusförmige Signalpaare,
wie sie aus den Interferenzerscheinungen abgeleitet werden,
ein elektrisches Drehfeld darstellen.
Die Eigenschaften der bekannten Interferometer, die solche
Drehfeldsignale liefern, sind aus verschiedenen Gründen je
nach Anwendung unbefriedigend. Bei einem Teil der Instrumente stören Lichtanteile, die aus dem Interferometer in die Laser-Lichtquelle
zurücklaufen. Bei anderen Geräten ist es nicht oder nur mit erheblichem Aufwand möglich, zur Unterteilung
der Modulationsperioden eine größere Zahl von optischen Signalen zu erzeugen, die untereinander vorgeschriebene
Phasenunterschiede haben. Bei Erzeugung von 90 phasenver-
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schobenen Drehfeldsignalen fehlten einfache Methoden zur
gleichzeitigen Gewinnung von optischen Gegentaktsignalen,
die die Arbeitspunkte der Signalverstärker stabilisieren. Außerdem war es bisher nicht möglich, ohne einen optisch
oder mechanisch aufwendigen Eingriff in zumindest einem der Teilstrahlenbündel die Interferenzphase aller Signale
um den gleichen Betrag zu verschieben und dadurch den zu messenden Effekt zu kompensieren oder zusätzlich zu den
Meßeffekten Korrekturänderungen in die AusgangsSignaIe
einzuführen.
^ Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
anzugeben, das auf möglichst viele Interferometertypen angewandt
werden kann, um diese den gestellten Meßaufgaben optimal anpassen zu können.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zur interferentid-len
Messung von Längen, Winkeln, Gangunterschieden oder Geschwindigkeiten mit Hilfe einer Zweistrahlinterferenz-Anordnung,
in deren Teilstrahlenbündel im stationären Zustand gleiche Lichtfrequenzverteilungen vorhanden sind, dadurch
gelöst, daß die beiden kohärenten Teilstrahlenbündel bei ihrer Vereinigung zueinander komplementär polarisierte
Schwingungszustände erhalten, daß die Teilstrahlenbündel
ψ durch einen ihre Polarisationszustände nicht beeinflussenden
Strahlvereiniger in die gleiche Richtung gelenkt werden,
äas
nach Vereinigung der Teilstrahlenbündel entstehende
nach Vereinigung der Teilstrahlenbündel entstehende
Strahlenbündel geometrisch oder physikalisch in zwei oder mehr Signalstrahlenbündel polarisations-optisch gleichwertig
zerlegt wird und im Falle linear komplementärer Teilstrahlenbündel in den einzelnen Signalstrahlenbündeln
der Gangunterschied zwischen den senkrecht zueinander
schwingenden Komponenten durch Einfügung polarisationsoptisch, anisotroper Bauelemente unterschiedlich groß gemacht
wird, daß jedes Signalstrahlenbündel anschließend
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durch einen linear polarisierenden Analysator zur Interferenz gebracht wird, wobei die Signalstrahlenbündel im
Falle der zirkulär komplementären Teilstrahlenbündel entweder reell oder durch vorgeschaltete optisch aktive
Substanzen virtuell in der Winkellage unterschiedlich zueinander angeordnet sind, daß mindestens zwei in der
Interferenzphase ungleich 180 gegeneinander verschobene optische Gegentaktsignale erzeugt werden, die vorzugsweise
mittels fotoelektrischer Empfänger nachgewiesen werden. Dieses Verfahren läßt sich in der Weise erweitern, daß
zusätzlich in dem nach Vereinigung der Teilstrahlenbündel entstehenden Strahlenbündel die Phasenlage der beiden
komplementär zueinander schwingenden Teilstrahlkomponenten durch Baugruppen, die einen steuerbar variablen Gangunterschied
zwischen den beiden Komponenten erzeugen, zu Meß-, Korrektur- oder Modulationszwecken verändert wird. Eine
andere vorteilhafte Ausgestaltung erfährt das Verfahren dadurch, daß durch Verwendung eines speziellen Strahlentrenners in der Inferferenzanordnung mehr als zwei kohärente
Teilstrahlenbündel erzeugt werden und jeweils zwei in einer Ebene entstehende Teilstrahlenbündel so zusammengeführt
werden, daß sie bei ihrer Vereinigung komplementär zueinander schwingende Polarisationszustände erhalten.
Zur Durchführung des Verfahrens werden durch eine der vielen bekannten Strahlteilvorrichtungen, wie neutrale oder polarisierende
Teilerspiegel, ein- oder zweidimensionale Beugungsgitter oder doppelbrechende strahlaufspaltende Bauelemente
ein oder mehrere Paare zueinander kohärenter Teilstrahlenbündel erzeugt, die an der Wiedervereinigungsstelle
komplementär zueinander polarisiert sind. Als Vereinigungsmittel kommen die gleichen Beuelemente in Frage wie für
die Strahltrennung, d.h. neutrale oder polarisierende Teilerspiegel, Beugungsgitter oder doppelbrechende Bauelemente.
Die nach der Wiedervereinigung räumlich zusammen
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in die gleiche Richtung laufenden Teilstrahlenbündel sind
noch nicht miteinander interferenzfähig. Die folgende Darstellung
des Verhaltens komplementär polarisierter kohärenter Strahlenpaare wird dadurch vereinfacht, daß als
Extremfälle nur entweder senkrecht linear zueinander schwingende vereinigte Komponenten oder links und rechts zirkulär
polariserte Komponenten betrachtet werden, Alle Zwischenzustände lassen sich bekanntlich durch das Einfügen eines
doppelbrechenden Kompensator» in den Strahlengang wahlweise
in den einen oder anderen Extremzustand genau so überführen wie.die beiden Extremfälle selber durch unter k%
ψ orientierte τ· -Platten ineinander überfuhrt werden können.
senkrßjciii^
Zunächst sei der Fall der linear^zueinander schwingenden
Komponenten dargestellt. Je nach Gang- oder Phasenunterschied der beiden zusammen laufenden miteinander kohärenten
Lichtbündel durchläuft der resultierende Polarisationszustand beider Teilwellen den gesamten Zustandsbereich zwischen
linearer Polarisation bei Phasengleichheit und °0 dazu
polarisiertem Licht bei Gegenphasigkeit und den Zwischenzuständen rechts- und linksdrehender elliptischer und zirkularer
Polarisation. Im Prinzip verhält sich ein solches Interferometer wie eine doppelbrechende Kristallplatte
t variabler Dicke, die aus einem optisch einachsigen Kristall mit den M Begrenzungsflächen parallel zur optischen Achse
geschnitten und senkrecht zu ihr durchstrahlt wird. Daher
aus,
lassen sich auf die/xTen Teilstrahlenbündeln resultierende Welle alle Meßmethoden der Kristalloptik zur Bestimmung von Gangunterschieden bzw. Gangunterschiedsänderungen an doppelbrechenden Kristallen anwenden. Mit Hilfe eines Kompensators, z.B. nach Soleil-Babinet, oder eines durch elektrische Felder gesteuerten Materials, wie in einer Pockelszelle oder Kerrzelle, können daher hinter der Vereinigungsstelle die Phasenlagen der durch einen linear polarisierenden Analysator zur Interferenz zu bringenden Teilstrahlen noch beliebig
lassen sich auf die/xTen Teilstrahlenbündeln resultierende Welle alle Meßmethoden der Kristalloptik zur Bestimmung von Gangunterschieden bzw. Gangunterschiedsänderungen an doppelbrechenden Kristallen anwenden. Mit Hilfe eines Kompensators, z.B. nach Soleil-Babinet, oder eines durch elektrische Felder gesteuerten Materials, wie in einer Pockelszelle oder Kerrzelle, können daher hinter der Vereinigungsstelle die Phasenlagen der durch einen linear polarisierenden Analysator zur Interferenz zu bringenden Teilstrahlen noch beliebig
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zur Kompensation oder Korrektur gegeneinander verschoben
werden. Trennt man die senkrecht zueinander stehenden, zueinander kohärenten Teilstrahlenbündel entweder direkt nach der
Vereinigungsstelle oder nach dem Kompensationsglied mit Hilfe eines Teilers in zwei oder mehrere Teilstrahlen auf,
wobei an den Teiler die Bedingung zu stellen ist, daß er die beiden zueinander senkrechten Polarisationskomponenten
praktisch im gleichen Verhältnis teilt, so stehen Teilstrahlenpaare zur Verfügung, die in ihrer relativen Phasenlage
zueinander durch in den Hauptschwingungsrichtungen angeordnete, zusätzliche polarisationsoptisch anisotrope
Bauelemente gegeneinander verschoben werden können. Diese zweite erfindungsgemäße Maßnahme liefert die für die Vorzeichenbestimmung
der Änderungsrichtung notwendige Drehfeldinformation.
Zur Erzwingung der Interferenz durchläuft danach jedes Teilsträienpaar
einen linear polarisierenden Analysator, der mit seiner Schwingungsriohtung unter 45 asu den beiden senkrecht
zueinander schwingenden Teilstrahlkomponenten orientiert ist. Besonders vorteilhaft ist die Verwendung von Analysatoren
mit zwei senkrecht zueinander liegenden Schwingungsrichtungen im Ausgang. Als solche Analysatoren können polarisierende
Teilerspiegel oder doppelbrechende strahlaufspaltende
Mittel, wie unter k$ zur optischen Achse geschnittene
Kristallplatten, doppelbrechende Kristallplatten, Vollaston-Prismen oder Savart-Platten, dienen. Die Interferenzphasen
an den beiden Analysatorausgängen sind bei Absorptionsfreiheit der als Analysatoren wirkenden polarisierenden
Teiler aus Energiegründen stets im Gregentakt zueinander moduliert. Hinter einem solchen Analysator über fotoelektrische
Wandler gewonnene Signalpaare sind daher durch Differenzverstärker leicht in gleichstromfreie Interferometersignale
umformbar. Es läßt sich eine beliebige Zahl von solchen gleichstromfreien Interferometersignalen er-
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zeugen, die der Zahl der aus den beiden wiedervereinigten TeilstrahlenbündeIi durch Strahlenteilung abgeleiteten
Signalbündeto. entspricht.
Analoge Verhältnisse liegen bei der Vereinigung von rechts**
und links-zirkular polarisierten Strahlungskomponenten vor. Das Verhalten eines solchen Zweistrahlinterferometers entspricht
dem Verhalten einer Substanz mit zirkularer Doppelbrechung,
deren Dicke veränderlich ist. Ein längs der optischen Achse durchstrahlter Quarzkristall kann als
Modell dienen. Je nach dem verwendeten Quarztyp wird die
ψ Schwingungsebene von linear polarisiertem Licht im Sinne
einer Rechts- oder Linksschraube gedreht. Die aus den vereinigten
zirkulären Komponenten entstehende Schwingungsform ist linear polarisiertes Licht mit umlaufendem
Schwingungsazimut. Bs lassen sich hier die Verfahren der
Kristalloptik bei zirkularer Doppelbrechung auf den Vereinigungsstrahl
anwenden. Mit Hilfe eines Drehungskompensators, der z.B. aus je einem rechts und links drehenden Quarzkristall
zusammengesetzt ist oder einer optisch aktiven Lösung besteht, in die ein Glasstab zur Dickenänderung der
Lösung eingetaucht wird, läßt sich die Schwingungsebene nachträglich genau so ändern wie mit Hilfe einer Faraday-
^ Zelle, die durch den Strom einer Magnetspule gesteuert
werden kann. Trennt man das linear schwingende Vereinigungsbündel direkt nach der Vereinigungsstelle oder nach dem
Kompensationsglied mit Hilfe eines den Schwingungszustand
nicht verändernden Teilers oder Systems von Teilern geometrisch oder physikalisch in zwei oder mehr gleichartige
Signalstrahlen auf, so kann durch Verdrehen der Hau$tschwingungsrichtungen
von in den jeweiligen Teilstrahlen angeordneten linearen Schwingungsanalysatoren gegeneinander
die Lichtmodulationephase ohne Lichtverlust genau so verändert werden wie bei gleich orientierten Analysatoren durch
den Analysatoren vorgeschaltete Schichten optisch aktiver
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Substanzen.
Diese zweite erfindungsgemäße Maßnahme liefert die Drehfeldinforraation.
Besonders vorteilhaft ist auch hier die Verwendung von AnaIysatoren mit zwei senkrecht zueinander liegenden
Schwingungsrichtungen im Ausgang entsprechend der Darstellung bei der Korabination von senkrecht zueinander
polarisierten Linearkomponenten.
In den Figuren 1 bis 10 werden verschiedene, diese Verfahren auswertende Interferometer-Bauformen gezeigt, die zur Messung
von LÄngen oder Winkeln oder zur Messung von Gangunterschieden oder Gangunterschiedsänderungen an mikro- oder makroskopischen
Objekten geeignet sind.
Fig.1 zeigt ein einfaches Laser-Längeiraeßinterferometer, bei
dem vermieden wird, daß störendes Licht in die Lichtquelle zurückkehrt. Die Lichtquelle 111, ein nur im TEM OO-Mode
schwingender Laser, erzeugt einen über den gesamten Bündelquerschnitt kohärenten Lichtstrahl, der um 45 gegenüber
der Zeichenebene linear polarisiert ist. Im Teilerwürfel 112 trennt die polarisierende Vielfachschicht 113 das einfallende
Licht in zwei gleich große, senkrecht zueinander schwingende Komponenten. Der Referenzstrahl trifft durchein
^--Plättchen 114 hindurch auf den Planspiegel 115 auf. Dort
wird er in seiner Richtung umgekehrt und läuft zur Teilerfläche 113 zurück. Bei dem zweimaligen Durchgang durch das
τ—Plättchen 114, welches mit seiner Hauptschwingungsrichtung
um 45 zu der Polarisationsrichtung des Referenzstrahls
orientiert ist, dreht sich die Schwingungsrichtung des zurücklaufenden Lichtes um 90°, so daß es vollständig durch
die Teilerfläche hindurchtreten kann. Der Meßstrahl durchläuft ein j--Plättchen 1i4a und kehrt nach Reflexion an dem
aus Objektiv mit Planspiegel in der Brennebene bestehenden "Katzenaugenreflektor11 116 Seiten- und höhenverkehrt in
sich zurück. Dieser Reflektor, der mit der Meßbewegung ge-
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koppelt ist, sorgt dafür, daß sich Kippbewegungen nicht in
Strahlkippungen auswirken. Nur Parallelversatzbewegungen verändern die Lage des zurückkehrenden Strahles. Durch den
zweimaligen Durchgang durch das τ--Plättchen 1i4a ist die
Schwingungsrichtung des Meßstrahles ebenfalls um 90 gedreht
worden, so daß der Meßstrahl nach vollständiger Reflexion an der Teilerfläche 113» mit dem Referenzstrahl
parallel laufend, wieder vereinigt wird. Durch Schrägstellen aller Störreflexe erzeugender Flächen gegenüber den
Laserstrahlen kann dafür gesorgt werden, daß keine die Laserfunktionen störenden Lichtintensitäten in den Laser
zurücklaufen. Außerdem gewinnt man mit der Anordnung nach
" der Fig.1 die Längenmeßinformation aus dem vollständigen
Lichtfluß des Lasers. Zur Vorbereitung der Gewinnung von Drehfeldsignalen wird das wiedervereinigte Strahlenbündel
geometrisch in zwei nebeneinander liegende Signalstrahlenbündel zerlegt. Um das Licht in kleinen Brennflecken zu
vereinigen, ist eine aus zwei Halblinsen 117 und 117a zusammengesetzte
Teilerlinse symmetrisch zum Strahlenbündelquer schnitt angebracht. In dem einen Signalstrahlenbündel
verzögert eine mit ihren Hauptschwingungsrichtungen parallel zu den Schwingungskomponenten des Strahlenbündels orientierte
j--Platte 118 die interferierenden Strahlenbündel zusätzlich
um 90 in der Phase. Als gemeinsamer Analysator mit jeweils
^ zwei Ausgängen dient das Wollaston-Prisma 119» welches
mit seinen Hauptschwingungsrichtungen unter k5 zu den
Schwingungskomponenten der interferierenden Strahlenbündel orientiert ist. Die Fotodioden 120, 121 erhalten im Gegentakt
zueinander moduliertes Licht, dessen Modulationsphase insgesamt um 90 gegenüber der Modulation auf den dem
zweiten Signalstrahlenbündel zugeordneten Fotodioden 122 und 123 in der Phase verschoben ist. Die Differenzverstärker
Λ2Η und 125 geben ein gleichstromfreies DrehfeiSlpSär ab,
dessen Drehfeld pro :r-Reflektorverschiebung eine Signalperiode
durchläuft. Diese Signalperioden können nach be-
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kannten Verfahren in Signalperiodenbruchteile zerlegt und die vollen Signalperioden gezählt werden. Ua die Empfindlichkeit gegen Luftschlieren zu verhindern, kann in der
Anordnung der Fig.1 der Strahlverztigerer 118 für die
90°-Phasenverschiebung auch als Kreisringplättohen ausgebildet werden, dea die geometrischen Strahlenbünde1-trennelemente entsprechend angepaßt sind.
Fig.2 zeigt eine zweite AusfUhrungsform eines Laser-Längenmeßinterferometers, welches pro jr-Verschiebung des Reflektors 216 eine volle Periode eines Drehfeldsignals liefert.
Das Licht des Lasers 211 ist linear polarisiert und zur Zeichenebene ait der Schwingungsrichtung unter U 5 orientiert.
Die Teilerschicht 213 i" polarisierenden Teiler 212 χ trennt
und vereinigt die Meß- und Referencetrahlen, die an dea
ί Spiegel 215 bxw. 215a in sich selber umgekehrt werden. Dadurch ist der kippungsuneapfindliche Reflektor 216 auch
uneapfindlich gegenüber Parallelversat«bewegu*geu. Der gesaate Strahlungsfluß des Lasers findet sich nach der Strahlvereinigung in dea senkrecht sueinander sohwingeaden Komponenten aus Referenz- und MeßstrahlenbUndeln, da durch die
T--Platten 21 k und 21 km. die Polarisationsrichtungen des
zurückkehrenden Referenz- bzw. Meßstrahlenbündels in Durchlaß- bzw. Reflexionerichtung zu der pelarisierenden Teilerfläche 213 gebracht worden sind. Durch die Linse 217 werden
vier Brennflecke erzeugt, indem zuerst durch ein Phasengitter 217a mit Balken-Aücken-Verhaltnie 1:1 und ~-Phasenverz'dgerung das wiedervereinigte Strahlenbündel in zwei
gleiche Signalstrahlenbündel, die den -1.Beugungsordnungen
des Phasengitters entsprechen, zerlegt wird. Jedes der Signaletrahlenbündel trifft auf ein ^-Plättchen 218, 218a,
die beide in den Hauptschwingungsrichtungen der Meß- und
Referenzetrahlenkomponenten orientiert sind. Dabei ist das
eine in Additionsstellung und das andere in Subtraktionsstellung, so daß der resultierende Phaeenunterschied zwischen
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den beiden Signaletrah.lenbun.deIn wiederum r- beträgt. Nach
Durchlaufen der ^--Plättchen 218 und 218a spalten die unter
k5 zur optischen Achse geschnittenen und ext den Hauptschwingungsriohtungen unter 45° zu den Hauptschwingungsrichtungen der Signalstrahlenbündel orientierten doppel
brechenden Platten 219 und 219a die SignaIetrahlenbündel
in gegentaktmodulierte Brennpunktbilder auf , die von den
Empfängern 220, 221, 222, 223 als Gegentaktsignale den
Verstärkern 224 und 225 zugeführt werden.
In Fig.3 ist ein zu einer einzigen festen Baugruppe ver-
|| einigtes Laser-Längenmeßinterferometer gezeigt. Aus der
Laser-Beleuchtungseinrichtung 311 tritt linear polarisiertes Licht aus, welches in der Zeichenebene schwingt.
Sine auf der Xintrittsflache des Interfarenzprismas 312
angeordnete r—Platte 311a beleuchtet die polarisierende
Teilerschicht 313 «it zirkulär polarisiertes! Licht. Als
Reflektor wird hier ein Tripelprisma 316 verwendet, dessen
sechs Totalreflexionen bei Min- und RUekweg duroh die Wahl
Ton Prismenbrechzahl und aufgebraaaten dielektrischen
Schichten durch den Phasensprung dafür sorgen, daB bei
der Totalreflexion das Prisma insgesasit als ^—Platte wirkt
und damit die Sohwingungsriehtung des zurücklaufenden Lichte· umkehrt. Der Vergleichsstrahl wird an einest aufgekitter ten Planspiegel 315 reflektiert. Die wiedervereinigten Meß-
und Vergleichsβtrahlenbündel werden, noch senkrecht zueinander schwingend, an der polarisationsneutralen Teilerfläche 317 in zwei Signalstrahlenbündel zerlegt. Bei der
totalreflektierenden Umlenkung an der Fläche 31 β wird
zwischen den parallel und senkrecht schwingenden Komponenten durch geeignete Ausbildung der Totalreflexion durch ¥ahl
von Brechzahl und aufgedampften dielektrischen Schichten oder zusätzliches Aufkitten einer doppelbrechenden Lamelle
der Phasenwinkel zusätzlich um 90° verschoben. Eine kleine Vinkelabweichung in den Reflexionswinkeln sorgt dafür, daß
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zwischen den beiden Signalstrahlen eine geringe Winkeldivergenz
α übrigbleibt. Diese hat zur Folge, daß zwei nebeneinanderliegende Lichtquellenbilder durch eine Linse
317a erzeugt werden. Ein Kalkspatspaltstück 319 dient
als Analysator für die beiden Signalstrahlenbündel und erzeugt damit vier Gegentaktsignale, die von den Verstärkern
324 und 325 aus den Strumen fotoelektrischer Empfänger
320-323 gewonnen werden. Je jr—Reflektorverschiebung wird
eine Drehfeldperiode durchlaufen.
In der Fig.4 wird die Anwendung des Verfahrens auf ein
vereinfacht dargestelltes Mach-Zehnder-Mikrjnointerferometer
gezeigt. Ein von einer nicht dargestellten Lichtquelle herkommendes Lichtstrahlenbündel wird an dem Polarisationsteiler 413 in zwei zueinander senkrecht schwingende kohärente
Teilstrahlenbündel zerlegt. Je nach den Erfordernissen, die durch die Mikroobjekte gegeben sind, durchlaufen die
senkrecht zueinander polarisierten Teilstrahlenbündel die
Mikr ο objektivpaare 43Ο und 4-31 1 oder es werden die beiden
Teilstrahlenbündel durch nicht dargestellte ^--Plättchen
vor den Mikroobjektiven 430, 431 in links und rechts zirkuläre
Wellen verwandelt, die nach dem Durchlaufen durch die M±x Mikroobjektive durch ein zweites, nicht dargestelltes Paar
von -τ-Plättchen wiederum in linear polarisierte Strahlenbündel
verwandelt werden, welche senkrecht zu den dargestellten Polarisationsrichtungen schwingen. Die Strahlenvereinigung
wird an der polarisierenden Teilerschicht 4i3a vorgenommen.
Die Tubuslinse 432 bildet die Objekt- bzw. die Vergleichsebene in die Bildebenen der Oku1are 433 bzw. 434 ab.
Die polarisationsneutrale Teilerschicht 417 verteilt das
Licht auf zwei Signalstrahlenbündel, in welchen die Analysator
en 419 und 419a angeordnet sind.
Um die den Okularen 434 und 433 dargebotenen Bilder entweder
für fotoelektrische Auewertung oder für Halbschattenmethoden
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1.6.1971.
in der Interferenzphase zu verschieben und damit auch die
Vorzeichenbedeutung von Interferenzstreifenauslenkungen
sichtbar zu machen, ist eine doppelbrechende phasenschiebende Platte 418 in dem einen der beiden Signalstrahlenbündel
angeordnet. In die Bildebene des Okulars kjk im
wiedervereinigten Strahlenbündel kann ein mechanischoptisch oder elektrisch-optisch wirkender Kompensator
eingesetzt werden, um Gangunterschiedsmessungen zwischen verschiedenen Objektteilen durchzuführen. Zur fotoelektrischinterferenz-mikroskopischen
Signalauswertung werden die Analysatoren 419» 4i9a ähnlich wie in den vorhergehenden
Beispielen als Analysatoren mit zwei Ausgängen ausgebildet. Zur Verschärfung von visuellen Meßvorgängen können die
Analysatoren 419 und 4i9a als Polienanalysatoren auch in
den Zwischenbildebenen der Okulare 434, 433 als jeweils
senkrecht zueinander orientierte Polienhälften mit Trennkante in der Bildmitte ausgeführt werden. Ein Halbschattenabgleich
bei Interferenzkontrast liefert einen empfindlichen Phasenindikator.
In Fig.5 wird an einem weiteren Mach-Zahnder-Aufbau gezeigt,
daß durch Ausnutzung der Vereinigung zweier Teilstrahlenbünde lpaare und anschließende Auftrennung jedes Vereinigungsteilstrahlenbündelpaares
in mehrere Signalstrahlen, die nach " gegenseitiger Phasenverschiebung analysiert werden, sich
ein vielkomponentiges fotoelektrisches Drehfeld erzeugen läßt, welches zur Verschärfung der DrehfeIdsigna!phasenmessung
dienen kann, indem man feststellt, welches der Signalpaare jeweils am nächsten zum Nulldurchgang der gleichstromfreien
Vechselstromsignale liegt.
Der Teiler'513 erzeugt als polarisierender Teiler zueinander
kohärente, senkrecht zueinander schwingende Meß- und Vergleichsstrahlenbündel. Nach Durchlaufen der Objekt- und'
Vergleichsräume, die das Objekt 530 und den !Compensations-
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1.6.1971. 2127A83
keil 531 enthalten, werden die Strahlenbündel an xm dem
polarisatiansneutralen Teiler 513a wieder vereinigt. Dadurch
entstehen zwei Vereinigungsstrahlenbündel, die den als Teiler wirkenden Phasengittern 517» 517a mit gleichen
Beugungsintensitäten für die O. und -1.Beugung«Ordnung
zugeführt werden. Die sechs SignalstrahlenbündelA durchlaufen sechs verschieden dicke doppelbrechende Platten
518a^— 51 Si's die den Meß- und Vergleichsstrahlenbündelpaaren
unterschiedliche Phasenverzögerung aufprägen. Den
phasenschiebenden Platten 518a - 518f sind als Analysatoren
um 45 gegenüber der Zeichenebene orientierte Polarisationsteiler 519a - 519f nachgeordnet. Aus jedem der polarisierenden
Teiler wird ein nicht mitdargestellter Gegentaktverstärker über zwei Fotodioden 520-531 gespeist. Die zwölf
phasenverschobenen Nulldurchgänge der sechs Signale können im Gangunterschied um^ unterschiedliche Objektzustände
digital meßbar machen.
In Fig.6 ist ein Abtaster für ein lineares oder radiales
Phasengitter gezeigt, welcher die Gitterbewegung in Drehfeldsignale umformt. Je Teilungsperiode entstehen zwei volle
Drehfeldumläufe des Signals, falls die -1.Beugungsordnung
des mit -r Phasenverschiebung und Balken-/Lücken-Verhältnis
1:1 aufgebauten Phasengitters 613 zur Interferenz gebracht
wird. Das mit linear polarisiertem Licht beleuchtete Phasengitter 613 zerlegt dieses vorzugsweise in die -1.Beugungsordnung. Die Beugungsordnungen sind zueinander kohärent und
in der Phase durch die Relativlage von Gitter und Beleuchtungsstrahlenbündel bestimmt. In bewegtem Zustand sind die
beiden Teilstrahlenbündel durch den Dopplereffekt in den Lichtfrequenzen um +Δν bzw. -UU gegenüber der Frequenz des
einfallenden Lichtes verschoben. Mit Hilfe des giit Umlenkspiegels 615 und des polarisierenden Strahlenvereinigers
613a wird das Licht aus der +1. und der -1. Beugungsordnung in die gleiche Richtung gebracht. Um den
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A 1807 1.6.1971.
Durchtritt des Lichtes aus der -1.Beugungsordnung durch den
polarisierenden Strahlenvereiniger zu ermöglichen, dreht die ^-Platte 650 die Schwingungsrichtung des Lichtes um 90°.
Die Teilung in Signalstrahlenbündel, Phasenverschiebung in
den Signalstrahlenbündeln und die Analyse durch polarisierende Teiler erfolgt wie bei den vorherbeschriebenen Fällen
mittels der Baugruppen 617-623. Unter Einsparung des
Neutralteilers 617 hätte man auch den Strahlenvereiniger 613a als Neutralteiler ausbilden können. Die dann entstehenden
beiden vereinigten Strahlenbündel hätten wiederum zur Gewinnung eines Drehfeldsignals nach Phasenverschiebung aus-
^ genttzt werden können.
Die Fig.7 zeigt die Anwendung des Verfahrens auf eine bereits
bekannte Anordnung. Die Lichtquelle 711* z.B. eine Galliumareenid-Elektrolumineszenzdiode,
beleuchtet das Beugungsgitter 713, welches mit dem Prüfling 747, dessen Verschiebung
genessen werden soll, fest verbunden ist. Ein WoHaston-Prisma
713a erzeugt zwei parallele, senkrecht zueinander
polarisierte Teilstrahlenbündel, die aus der +1. und -1.
Beugungsordnung dee Meßgitters 713 stammen. Ββκ Die ebenfalls
entstehenden nicht parallelen Teilstrahlenbündel des Wollaston-Prismas werden ungenutzt vernichtet. Ein nachge-
^ schalteter Kompensator, der aus zwei gleichorientierten doppelbrechenden Kristallkeilen 734 besteht, erlaubt die
Phasenverschiebung zwischen dem aus der -1.BeugungsOrdnung
stammenden Lichtbündel und dadurch die Einführung von Korrekturwerten in die Längenmessung. Ein nachfolgender Neutralteiler
717 führt das Licht den beiden Analysatoren 719 und
719a zu, die um 45 gegenüber der Zeichenebene mit ihren
Hauptschwingungarichtungen verdreht angeordnet sind. Die
τ—Platte 718 erzeugt die für das Drehfeld nötige 90°-Phaeenverschiebung
zwischen den beiden Gegentakteignalpaaren, die auf den Empfängern 720, 721, 722 und 723 entstehen. Die
Linsen 726-729 vereinigen die noch getrennten Bündel zur
Interferenz auf den Empfängeroberflächen.
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In Fig.8 wird als Meßglied zur I Umformung linearer Bewegungen
in optische Signale das Wollaston-Prisma 813 verwendet.
Wie in Fig.6 werden von einer Quelle 811 zwei zueinander kohärente, vor dem polarisierenden Teiler 813a zueinander
senkrecht schwingende Teilstrahlenbündel erzeugt, die mit Hilfe des Spiegels 815 in die gleiche Strahlrichtung nach
der Wiedervereinigung ixu einjustiert werden. Als Kompensator
oder Modulator ist die Pockels-Zelle 83U zur Phasenverschiebung
zwischen den Komponenten des wiedervereinigten Strahlenbündels vorgesehen. Durch Veränderung der Spannung acmxat
an den Elektroden des elektro-optischen Kristalls 83Ί» z.B.
Kupferchlorid, kann der Drehfeldwinkel des Ausgangssignal8
bei stillstehendem Wollaston-Prisma hochfrequent moduliert werden. Dadurch läßt sich z.B. die SignaLgleichheit von.
Sinus- und Cosinus-Signal mit hoher Präzision festlegen, indem das Differenzsignal von Sinus und Cosinus phasenempfindlich gegenüber der Moäulationsspannung gleichgerichtet
wird. Bei linearem Zusammenhang zwischen angelegter Spannung und der Phasenänderung zwischen den beiden Polarisationskomponenten
in der Pockels-fflLle 83^ ist es auch möglich,
die Spannung der Pockels-Zelle dadurch als Maß für Signalperiodenbruchteile zu verwenden, daß in einem geschlossenen
Regelkreis die Differenz von Sinus- zu Cosinus-Signal mit einer hohen Schleifenverstärkung der Pockels-Zelle
so zugeführt wird, daß sich das gesamte System auf kleinste Signaldifferenzen zwischen Sinus- und Cosinus-Signal
abgleicht. Die Weiterverarbeitung der Signale zwecks Erzeugung eines elektrischen Drehfeldes erfolgt in bereits
beschriebener Weise mittels der Baugruppen 817-825·
In dem Interferometer nach dem Sagnac-Typ in der Fig.9 beleuchtet
ein nicht dargestellter Laser 911 den polarisierenden Teilerspiegel 913 "it zirkulärem oder unter k$ zur
Zeichenebene linear polarisiertem Licht. Es werden zwei senkrecht zueinander schwingende und rechts bzw. links
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cP
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1*6.1971.
umlaufende Teilstrahlenbündel erzeugt, die nach Umlauf über
Reflektoren 915» 915a verlustfrei wieder aus dem Interferometer austreten, da das zuerst durchgelesene Strahlenbündel
auch nach dem Umlauf wieder durchgelassen wird,
während das zuerst reflektierte Strahlenbündel nach dem
Umlauf auch wieder reflektiert wird. Ein neutraler Teiler 917 zerlegt .das Paar der wiedervereinigten Strahlenbündel
in zwei Signalstrahlenbündel. Die als Analysatoren wirkenden
Vollaston-Prismen 919 und 919a verwandeln das Licht aus
diesen Strahlenbündeln in GegentaktsignaIe auf den Empfängern
92O-9231 nachdem die zur Drehfelderzeugung um jr
phasenverschiebende Platte 918 von dem einen Signalstrahlenbündel
durchlaufen wurde. Zur Anpassung an die Meßaufgabe können in den umlaufenden Teilstrahlenbündeln in bekannter
Weise Linsen, Lochblenden usw. angeordnet werden, um links und rechts umlaufende Strahlen als Meßvergleichsstrahlen
am Objektort auf unterschiedliche Strahlenbünde!querschnitte
zu verteilen.
Fig.10 zeigt eine Meßvorrichtung zur gleichzeitigen Längenmessung
nach zwei Koordinatenrichtungen. Eine monochromatische, zirkuläres Licht auf das Schachbrett-Kreuzgitter IOI3
einstrahlende Laser-Lichtquelle 1011 ist genau so wie das mit dem Gitter verbundene Meßobjekt nicht mehr mit dargestellt.
Wenn das Gitter ein .Schachbrett-Phasengitter mit —-Verzögerung ist, gelangen jeweils 16% der eingestrahlten
Intensität in die vier zueinander kohärenten Teilbündel der 1.Beugungsordnungen. Analog zur Anordnung in Fig.6 werden
jeweils mit diagonaler Projektion abgestrahlte Teilbündel paarweise vereinigt. Die zirkulären Teilbündel verlassen die
polarisatinnsneutralen Teilerwürfel 1017, 101?a als vier
komplementäre Signalpaare mit resultierender linearer Schwingungsrichtung.
Durch doppelbrechende Rückflächenspiegel
1050, 1050a ist dafür gesorgt, daß die Teilstrahlkomponenten
bei der Vereinigung miteinander komplementär werden. Die
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1.6.1971
polarisierenden Teilerwürfel 1019, 1019a, 1019b und 1019c
sind in ihren Schwingungsazimuten jeweils paarweise um
^5 gegeneinander verdreht, so daß die Gegentaktsignale
von Empfängern 1020a, 1021a und 1022a, 1023a sowie 1020b, 1021b und 1022b, 1023b jeweils um 90° in der Modulationsphase unterschiedlich sind. Nicht dargestellte, den fotoelektrischen
Empfängern nachgeordnete Gegentaktverstärker liefern nach Verschiebekoordinaten χ und y getrennte
gleichetromfreie Drehfeldsignale. Bei einer Bewegung nur
nach der x-Koordinate sprechen die mit b gezeichneten fotoelektrischen Empfänger an, bei einer Bewegung nur nach
der y-Koordinate werden dagegen nur die anderen vier fotoelektrischen
Empfänger erregt.
Beim in Fig.11 gezeigten Ausführungsbeispiel ist ein parallel
zur Strahleintrittsfläche gelegtes Vollaston-Prisma 1113
fest mit dem Prüfling 1147 verbunden, dessen Linearbewegung
gemessen werden soll. Das Vollaston-Prisma 1113 wird mit Licht eines Lasers 1111 beleuchtet, so daß die Aufspaltung
des Lichtes an der Keilfläche des Prismas komplementäre, zueinander kohärente linear polarisierte Teilstrahlen erzeugt. Über dem Wollaston-Prisma ist eine r—Platte 1114
unter k$ mm zu den Hauptechwingungsrichtungen orientiert
angeordnet, so daß rechts- und linkszirkular polarisierte Teilstrahlen entstehen. Mit Hilfe eines Spiegels 1115 und
eines polarisationsneutralen Teilers 1117 werden die Teilstrahlen in zwei vereinigte Teilstrahlenpaare umgelenkt.
Jeder der beiden Vereinigungsstrahlen ist durch einen
linear polarisierten, mit der Bewegung des Vollaston-Prismas umlaufenden Vektor darstellbar. Die beiden Polar/isationsteiler
1119 und 1119a sind in ihren Schwingungaazivuten um
^5 gegeneinander verdreht, so daß an den fotoelektrischen
Empfängern 1120, 1121 und 1122, 1123 zwei um 90° gegeneinander
phasenverschobene Gegentaktsignalpaare erzeugt werden,
die dann,in beschriebener Weise weiterverarbeitet werden.
20985 1/09 56
Claims (3)
1.6.1971 Patentabteilung
Ansprüche
Verfahren zur interferentiellen Messung von Längen-, Winkeln, Gangunterschieden und Geschwindigkeiten mit Hilfe
einer Zweistrahlinterferenzanordnung, in deren Teilstrahlenbündeln
im stationären Zustand gleiche Lichtfrequenzverteilungen vorhanden sind, dadurch gekennzeichnet, daß
a) die beiden kohärenten Teilstrahlenbündel bei ihrer Vereinigung zueinander komplementär polarisierte
Schwingungszustände erhalten,
b) die Teilstrahlenbündel durch einen ihre Polarisationszustände nicht beeinflussenden Strahlvereiniger in die
gleiche Richtung gelenkt werden,
c) das nach Vereinigung der Teilstrahlenbündel entstehende
Strahlenbündel geometrisch oder physikalisch in zwei oder mehr Signalstrahlenbündel polarisationsoptisch
gleichwertig zerlegt wird und im Fall linear komplementärer Teilstrahlenbündel in den einzelnen Signalstrahlenbündeln
der Gangunterschied zwischen den senkrecht zueinander schwingenden Komponenten durch
Einfügung polarisationsoptisch anisotroper Bauelemente unterschiedlich groß gemacht wird,
d) jedes Signalstrahlenbündel anschließend durch einen linear polarisierenden Analysator zur Interferenz gebracht
wird, die im Fall der zirkulär komplementären Teilstrahlenbündel entweder reell oder durch vorgeschaltete
optisch aktive Substanzen virtuell in der Winkellage unterschiedlich zueinander angeordnet sind,
e) mindestens zwei in der Interferenzphaee ungleich 180
gegeneinander verschobene optische Gegentaktsignale erzeugt werden, die vorzugsweise mittels fotoelektrischer
Empfänger nachgewiesen werden.
209851 /0956
A 1807
1.6.1971
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich in dem nach Vereinigung der Teilstrahlenbündel
entstehenden Strahlenbündel die Phasenlage der beiden komplementär zueinander schwingenden Teilstrahlkomponenten
durch Baugruppen, die einen steuerbar variablen Gangunterschied zwischen den beiden Komponenten erzeugen,
zu Meß-, Korrektur- oder Modülationszwecken verändert wird.
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß durch Verwendung eines speziellen
Strahlentrenners in der Interferenzanordnung mehr als zwei kohärente Teilstrahlenbündel erzeugt werden
und jeweils zwei in einer Ebene entstehende Teilstrahlenbündel so zusammengeführt werden, daß sie bei
ihrer Vereinigung komplementär zueinander schwingende Polarisationszustände erhalten.
209851 /0956
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Also Published As
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