DE1928682A1 - Gekoppeltes Bandfilter - Google Patents
Gekoppeltes BandfilterInfo
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- DE1928682A1 DE1928682A1 DE19691928682 DE1928682A DE1928682A1 DE 1928682 A1 DE1928682 A1 DE 1928682A1 DE 19691928682 DE19691928682 DE 19691928682 DE 1928682 A DE1928682 A DE 1928682A DE 1928682 A1 DE1928682 A1 DE 1928682A1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/56—Monolithic crystal filters
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Description
Zu Anspruch 1: Zeitschrift "Proceedings of the Institute of Electrical
and Electronics Engineers", Proc.IEEE Vol.53, Juni 65, No.6, S.575-581, vgl.
insbes. S.580, Sp.2, Z.17-31, S.581. Sp.1,
Z.1-11
" "Electronics and Communications in Japan" ' Vol.48, Sept.65, N0.9, S.84-93, vgl.insbes.
S.84, Sp.1, Z.1,2, Sp.2, Z.1-8, S.90,Sp.1,
Z.13-I von unten, Sp.2, S.91
" "Electronics Letters", Vol.2, Juni 66, No.6
S.220-222
" Bell Laboratories Record", Vol.46, Febr.68, No.2, S.52-54
Zu Anspruch 3:
"Electronics and Communications in Japan" Vo.48, Sept.65, No.9, S.84-93, insbes.S.90
Sp.1, Z.13-I von unten, Sp.2, S.91
"Electronics Letters", Vol.2, Juni 66, No.6
S.220-222, insbes. S.221
"Bell Laboratories Record", Vol.46, Febr. 68, No.2, S.52-54, insbes.S.53, Sp.2
"Bell Laboratories Record", Vol.46, Febr. 68, No.2, S.52-54, insbes.S.53, Sp.2
"Electronics Letters", Vol.2, Juni 66, No.6, S.220-222, insbes. S.221, Sp.2, Z.7-3
von unten
"Bell Laboratories Record", Vol.46, Febr.
68, No.2, S.52-54, insbes. S.54, Sp.1,
Z.12-1 von unten
Zu Anspruch 4: -
Zu Anspruch 5: US-PS 3 093 758 Sp.1, Z.41-55, Sp.6, Z.6-12
Series, 1.2.63, No3. S.IOO9-IOI7, inabta.
3.1009» S.1010, Sp.1, Z.1-21, S.1017,
Sp,1, Z.12-1 von unten
"IEES Transactions on Sinica and Ultrasonics" Vol.SU-Il, Nov.1964, No.2, S.63-£8.
insbts. S.65, Sp.2, Z.4-1 ν on unten, 3.66»
Sp.2, Z.I-18
n "The Review of Scientific Instruments"
Vol.36, April 1965, No.4, S.506-510, insb.
S.506, S.507, Sp.1, Z.1-11
000828/0876
Anlage 2
zur Mitteilung über die ermittelten Druckschriften gemäß § 28 α des Patentgesetzes
betr. Patentanmeldung P
Zeitschrift "Proceedings of the Institute of
Electrical and Electronics Engineers" "Proc.IEEE", Vol.53, Juni 1965, No.6,
S.575-581, insbes. S.580, Sp.2, Z. 17-31, S.581, Sp.1, Z.1-11
n "Proceedings of the Institute of
Electrical and Electronics Engineers" Proc.IEEE, Vol.53, Okt. 1965, No.10,
S.14OO-14Q5, insbes. S. 1400, Sp.2, Z.9-1 von unten, S.1401, S.1402, Sp.1
Z.1-11, Sp.2, Z.8-1 von unten, S. 1403, Sp.1, Z.1-9
US-PS 3 388 002 Veröff. 11.Juni 1968
Zu Anspruch 6: Zeitschrift "The Review of Scientific Instrumente
Vol.36, April 1965, No.4, S.5O6-5IO,
insbe. S.510, Sp.1, Z.14-12 won unten
Zu Anspruch 7 und 8: Zeitschrift "Electronics Letters", Vol.2,
Juni 1966, No.2, S.220-222, insbes. S.221, Sp.2, Z.4-26
" Bell Laboratories Record",
Vol.46, Febr. 1968, No.2, S. 52-54, insbes. S.53, Sp.1,
Z.1-11
- - nichts ermittelt
009828/0876
DR1IIiG. F. AVUESTHOFF
DIPL. ING. G. PULS DH.B.T.PECHMANN
DR. ING. D. BEIIRKNS
8 MÜNCHEN 90
SCHWEIOEHSTBASSE 2
OJr 28 06 01
1923682
IA-36
Beschreibung zu der Patentanmeldung
CLEVITE CORPORATION 17000 St. Clair Avenue, Cleveland, Ohio, U.S.A.
betreffend "Gekoppeltes Bandfilter"
Die üblichen L- C- und Quarzfilter lassen sich, wenn sie eine hohe Flankensteilheit haben sollen, mit befriedigendem
Erfolg nur für relativ niedrige Frequenzen, d.h. für Frequenzen unterhalb etwa 100 MHz bauen. Der Erfindung liegt als Aufgabe
die Schaffung eines elektrischen Filters mit relativ breitem Durchlaßbereich und mit hoher Flankensteilheit zugrunde, das
insbesondere im Frequenzbereich zwischen 100 und 1000 MHz verwendbar ist. Ein diese Aufgabe lösendes, gekoppeltes
Bandfilter kennzeichnet sich erfindungsgemäß durch eine auf
ein Substrat aufgebrachte Schicht aus piezoelektrischem Material und durch mehrere Elektroden, welche die Oberflächen der
Schicht in verschiedenen Bereichen bedecken und von denen wenigstens einige als Eingangs- bzw. Ausgangselektroden ausgebildet
sind, wobei die so entstandenen Resonanzgebilde bzw. Resonatoren einen solchen Abstand voneinander aufweisen,
daß die charakteristischen Bandpaßdaten des Filters durch Kopplung bestimmt sind.
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Das erfindungsgemäße Filter ist ein im wesentliches zweidimensionales Wellenfilter. Zu seiner Herstellung werden
eine Schicht oder ein Film piezoelektrischen Materials auf ein Substrat aufgebracht und an voneinander getrennten Bereichen
der Schicht Eingangs- und Ausgangselektrodenpaare
angebracht. Jedes Elektrodenpaar bildet zusammen mit der Schicht und dem Substrat einen zusammengesetzten bzw. geschichteten
Resonator. Die beiden geschichteten Resonatoren sind so angeordnet, daß sich eine gewünschte mechanische Kopplung zwischen
ihnen ergibt. Das erfindungsgemäße Filter kann auch eine Anordnung aus η gekoppelten Resonatoren mit einer gemeinsamen
piezoelektrischen Schicht und mit einem gemeinsamen Substrat umfassen, wobei die Elektrodenpaare zweier Resonatoren der
Anordnung als Eingangs- bzw. Ausgangselektroden dienen.
Das erfindungsgemäße Filter kann ohne Schwierigkeiten als miniaturisiertes Bauelement hergestellt werden. Seine Bandbreite
kann im Bereich zwischen 0,1 % und 3 % der Mittenfrequenz liegen. Das erfindungsgemäße Filter besitzt eine niedrige
Einfügungsdämpfung im Durchlaßbereich, eine hohe Sperrdämpfung und weist eine scharfe Trennung zwischen den Durchlaß- und den
Sperrfrequenzen auf. Dabei kann die Mittenfrequenz ohne weiteres zwischen 100 und 1000 MHz liegen. Auch für außerhalb der angegebenen
Bereich?liegende Bandbreiten und Mittenfrequenzen ist die erfindungsgemäße Filterkonstruktion anwendbar. Jedoch gTbt
es für diese Anwendungsfälle auch andere hochwertige Filter, während innerhalb der angegebenen Bereich? hochwertig arbeitende
Filter bisher nicht bekannt sind.
Bei einer bevorzugten Ausbildungsform der Erfindung ist ein gemeinsames Substrat für mehrere Resonatoren vorgesehen,
die jeweils aus Bereichen bzw. Abschnitten einer dünnen, auf das Substrat aufgebrachten Schicht aus piezoelektrischem Materil
und entsprechenden Bereichen des Substrates bestehen. Diejenigen
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Bereiche der Schicht, die Teile der Resonatoren sind, besitzen auf der oberen und unteren Oberfläche Elektroden,
wobei eine mechanische Kopplung von Resonator zu Resonator besteht. Die Schicht kann durch Aufdampfen hergestellt sein
und ist erheblich dünner als das Substrat, z.B. beträgt ihre Dicke 1/10 der Dicke des Substrates. Die Elektroden ihrerseits
sind wiederum dünner als die Schicht, z.B. beträgt ihre Dicke 1/10 der Dicke der Schicht. Sie können durch Aufdampfen
von Metall auf ausgewählte Bereiche der Oberfläche hergestellt sein·
Die Erfindung ist mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten im folgenden anhand schematischer Zeichnungen an vorteilhaften
Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 einen Querschnitt durch eine Ausführungsform eines
geschichteten, gekoppelten Filters nach der Erfindung,
Fig. 2 einen Querschnitt durch eine andere Ausführungsform
eines gekoppelten Filters nach der Erfindung mit mehreren Resonatoren, von denen zwei als Eingangs- bzw. Ausgangswandler
dienen,
Fig. 3 das Schaltbild eines Filters in Gabelschaltung, das in bestimmter Hinsicht dem in Fig. 1 gezeigten Filter elektrisch
äquivalent ist.
Das in Fig. 1 gezeigte, gekoppelte Bandfilter 10 nach der /Erfindung besitzt nur Eingangs- und Ausgangselektroden und umfaßt
ein Substrat 12, auf welches eine Schicht 14 aus piezoelektrischem
Material aufgebracht oder aufgekittet ist. Zwischen dem Substrat
12 und der Schicht Ik ist eine Elektrode 16 angeordnet. Gegenüber
der Elektrode 16, auf der oberen Oberfläche der Schicht befindet sich eine zweite Elektrode 18.
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1923682 - k - .
Die beiden Elektroden i6 und 18 bedecken nur einen relativ
kleinen Bereich der Oberfläche des piezoelektrischen Filmes bzw. der Schicht 14·. Den Elektroden 16 und 18 entspricht ein
weiteres Paar sich gegenüberliegender Elektroden 20 und 22 auf gegenüberliegenden Bereichen der Unter- und Oberseite der
Schicht Ik. Die Elektrode 20 ist genauso wie die Elektrode 16 zwischen dem Substrat 12 und der Schicht I^ angeordnet.
Die Elektroden 16 und 20 sind in der Pig. als getrennte, nicht miteinander verbundene Elektroden dargestellt. Jedoch ist es
ohne weiteres auch möglich, auf eine Seite der Schicht bzw. des Filmes 1Ί- lediglich eine Elektrode vorzusehen, wenn das
Element eine durchgehende Masseverbindung aufweisen soll oder wenn es als dreipoliges Resonanzelement oder Filter verwendet
werden soll.
Ein Elektrodenpaar ist mit Eingangsklemmen und das andere Elektrodenpaar mit Ausgangsklemmen verbunden. Jedes der beiden
Elektrodenpaare 16, 18 und 20, 22 kann den Eingang bzw. den Ausgang darstellen. Im gezeigten Ausführungsbeispiel sind die
Elektroden 16 und 18 an Eingangsklemmen 2k und 26 angeschlossen, während dieElektroden 20 und 22 an Ausgangsklemmen 28 und 30
angeschlossen sind. Das plattenartige Substrat 12 kann eine kreisförmige, oder rechtwinkelige Gestalt haben. Auch die
Elektroden 16, 18, 20 und 22 können entweder von kreisförmiger, rechtwinkliger oder auch unregelmäßiger Gestalt sein. Zur genauen
Beeinflussung der mechanischen Kopplung sind sie jedoch vorzugsweise rechtwinklig.
Bei der Anordnung der Fig. 1 4teht die Schicht I^ aus
piezoelektrischem Material, das senkrecht zur Oberfläche der Schicht polarisiert ist, d.h. dessen piezoelektrische Achse
32 auf der Oberfläche des Substrats 12 senkrecht steht.
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" 1
Die erwähnte piezoelektrischeAchse ist bei hexagonalen
Kristallen vom Wurtzit-Typ die c-Achse. Die Achse wird mit c bei solchen Stoffen wie Cadmiumsulfid, Cadmiumselenid,
Zinkoxid, Berylliumoxid, Aluminiumnitrid, Wurtzitzinksulfid und festen Lösungen davon bezeichnet. Bei den kubischen
Kristallen der Sphalerite, z.B. im Falle von Zinksulfid und Galliumarsenid, ist die III-Achse die piezoelektrische Achse.
Bei ferroelektrischen Kristallen wird als piezoelektrische Achse normalerweise die ferroelektrische Achse bezeichnet.
Jedoch ist diese Terminologie bei ferroelektrischem Lithiumniobat und Lithiumtantalat nicht korrekt. Hier müßte vielmehr
entweder die ferroelektrische Achse Z oder die Y-Achse als piezoelektrische Achse bezeichnet werden.
Die Erfindung ist allerdings nicht auf piezoelektrische Schichten beschränkt, deren piezoelektrische Achse senkrecht
zur Oberfläche des Substrates 12 steht. Es können auch andere, später zu beschreibende Anordnungen verwendet werden.
Der Übersichtlichkeit halber sind die Elektroden l6, 18, 20 und 22 im Vergleich zur piezoelektrischen Schicht 1^
relativ dick dargestellt. Das gleiche gilt für diese Schicht in bezug auf das Substrat 12. In Wirklichkeit sind die Elektroden
erheblich dünner als die piezoelektrische Schicht und diese besitzt nur einen Bruchteil der Dicke des Substrates.
Die Schicht 1Λ wird mit gleichförmiger Dicke auf das
Substrat 12 aufgebracht, wobei sich der Bereich der Schicht über einer Elektrode nur unwesentlich über den die Elektrode
umgebenden Bereich erhebt. Der^tibersichtlichkeit halber sind
auch die Verbindungsleitungen zwischen den Elektroden und den Eingangs- und Ausgangsklemmen nur schematisch und nicht
in der Lage gezeigt, in der sie in tatsächlich ausgeführtem Element angeordnet sind. Die Leitungen 3k und J6 von den
Elektroden 16 und 20 zu den Klemmen Zk- bzw. 28 sind jedoch
vorzugsweise zusammen mit den Elektroden 16 bzw. 20 aus
009828/0876.
-6- . 1923582
einem Stück gefertigt und liegen auf der Oberfläche des Substrates
12. Die eigentliche Herstellung der Elektroden, der Zuleitungen und der Schicht I^ ist nicht Gegenstand der Erfindung.
Das z.B. plattenförmige Substrat 12 besteht vorzugsweise
aus einem Material mit hohem mechanischem Gütefaktor Q. Der Betrag und das Vorzeichen seines Temperaturkoeffizienten der
Frequenz können so gewählt sein, daß der Temperaturkoeffizient der Frequenz der piezoelektrischen Schicht I^ kompensiert wird.
Geeignete Materialien für das Substrat 12 sind Quarz und metallische Werkstoffe wie Invar und Elinvar. Unter anderem
können auch Lithiumgal-lat, Lithiumniobat, Lithiumtantalat und
Aluminiumoxid verwendet werden.
Die Elektroden 16, 18, 20 und 22 werden in bequemer Weise durch Aufdampfen eines elektrisch leitfähigen Materials, wie
Gold, Chrom oder Aluminium, erzeugt. Dazu sind zahlreiche Verfahren bekannt. Wenn die Elektroden durch Aufdampfen hergestellt
werden, wird eine Maske auf die Oberfläche des Substrates 12 oder der Schicht Ib aufgelegt, welche die Oberfläche mit Ausnahme
derjenigen Bereiche, in welchen die Elektroden und die wegführenden Zuleitungen gebildet werden sollen, bedeckt.
Die piezoelektrische Schicht 1Λ wird bevorzugt ebenfalls
durch Aufdampfen piezoelektrischen Materials auf die Oberfläche des Substrates 12 erzeugt. Materialien aus der Cadmiumsulfid,
Cadraiumselenid, Zinkoxid, Berylliumoxid, Wurtzitzinksulfid und
feste Lösungen davon umfassenden Gruppe können auf die Oberfläche
eines Substrates mit einer solchen Orientierung aufgedampft werden, daß sich entweder eine Dickendehnungs-Schwingungsforra
oder eine Scherungsschwingung ergibt. Die verwendbaren Materialien
für die Schicht I^ wurden oben nicht erschöpfend aufgeführt.
Auch die Verwendung anderer Materialien mit eventuell noch besseren Eigenschaften liegt im Rahmen der Erfindung.
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■ - 7 -
Die Schicht 14 wird vorzugsweise auf ein Substrat aus Quarz
aufgebracht.
Bei dem beschriebenen Element der Fig· I kann piezoelektrisches
Material verwendet sein, welches eine Dickendehnungs-Schwingungsform besitzt. Jedoch ist die Erfindung nicht darauf
beschränkt. Es können auch piezoelektrischeSchichten verwendet werden, welche Scherungsschwinger sind, und zwar mit
einer zur Oberfläche des Substrates parallelen oder geneigten piezoelektrischen Achse.
N.P· Poster hat in zwei Veröffentlichungen "Ultrahighfrequency,
CdS Transducers", IEEE Transactions on Sonics and Ultrasonics, Vo..SU-Il, No. 2, pp. 63-68 (1964) und "Cadmium
Sulphide Evaporated Layer Transducers", Proc. IEEE, Vol. 53, No, 10, pp 1400-1405 (I965) ein Verfahren zum Aufdampfen von
Cadmiumsulfid angegeben. In der zuletzt genannten Publikation ist die Erzeugung einer Orientierung erläutert, welche zu
einer Dickenscherungs-Schwingungsform führt. Die angegebenen Verfahren sind zur Erzeugung der in Pig. I gezeigten Schicht
14 geeignet.
. Bei einer für das Element der Fig. 1 bevorzugten Kombination wird eine Schicht aus Cadmiumsulfid auf ein Substrat in Form
eines AT-Quarzschnittes aufgedampft. Das Aufdampfen der Cadmium·*
sulfidschicht wird vorzugsweise nach dem von N.F· Foster
angegebenen Verfahren mit einer solchen Orientierung durch-· geführt, daß sich eine Dickenscherungs-Sohwingungsform ergibt.
Um optimale Temperaturstabilität zu erzielen, wird der Schnittwinkel des AT-Schnittes für das Substrat 12 vom Normalwinkel
etwas abweichend gewählt. Dann bekommt das Quarzmaterial einen kleinen positiven Temperaturkoeffizienten der Frequenz, welcher
dem größeren negativen- Temperaturkoeffizient·!! des Cadmiumsulfides
entgegenwirkt. AT-Quarζschnitte werden wegen ihrer
Temperaturstabilität und ihrer sehr günstigen mechanischen Eigenschaften besonders bevorzugt.
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Es ist bekannt, daß die Grundschwingungsform einer
Kriställscheibe durch die Orientierung der Scheibe in bezug auf die Kristallachse des Kristalls, aus der sie geschnitten
ist, bestimmt is£. Z.B. kann ein Z-O°-Schnitt des Dikaliumtartrats
(DKT) als Dickenscherungsschwinger benutzt werden. Bestimmte keramische Werkstoffe, z.B. Bleititanat-Zirkonate,
können zur Erzielung größerer Bandbreiten ebenfalls verwendet werden. Jedoch wird wegen seiner hohen Güte Q und
seines niedrigen Temperaturkoeffizienten der Frequenz der AT-Quarzschnitt bevorzugt als Substrat verwendet. Die
weitere Beschreibung bezieht sich auf diesen Schnitt.
In der oben erwähnten Publikation von Foster ist angegeben, daß Cadmiumsulfid, welches mit einem Winkel zwischen dem"
Molekülstrahl und der Ebene des Substrates aufgedampft wurde, ein Scherungsschwinger ist. Die Scherungsschwingung ist optimal,
wenn der Winkel zwischen der c-Achse der Cadmiumsulfidschicht und der Senkrechten auf. die Schicht zwischen 20 und 40° liegt,
am besten jedoch, wenn dieser Winkel ca. 30° beträgt.
Durch die einzelnen Elektrodenpaare und die ihnen zugeordneten Bereiche der piezoelektrischen Schicht 14 sowie
durch die Bereiche des Substrates unter den Elektrodenpaaren sind jeweils Resonanzelementebzw. Resonatoren gebildet. Zwischen
den den Elektrodenpaaren 16, 18 und 20, 22 zugeordneten Resonatoren können weitere solche Elemente angeordnet sein, so
daß sich ein zusammengesetztes, gekoppeltes Bandfilter mit mehreren Resonatoren ergibt, wie es in Fig. 2 gezeigt ist.
Durch die Verwendung mehrerer Resonatoren wird die Flankensteilheit des Filters erhöht. Bei dem in Fig. 2 gezeigten
Filter sind die Bereiche der Schicht, welche zu den zwischenliegenden Resonatoren gehören, YnasseJaehaftet, bzw. mit Masse
belastet· Die gegenseitigen Abstände der Schichtbereiche
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zwischen aufeinanderfolgenden Elektrodenpaaren in Fig. 2 oder zwischen den Elektrodenpaaren 16, 18 und 20, 22 in Fig. 1
werden nicht so groß gemacht, daß sie akustisch voneinander isoliert sind, sondern im Gegenteil so gewählt, daß sich eine
mechanische Kopplung von einem Elektrodenpaar zum nächsten einstellt. Die piezoelektrische Schicht 1Λ reicht vorzugsweise
Ohne Unterb rechung von einem Elektrodenpaar zum nächsten
und bedeckt vorzugsweise den größten Teil des Substrates.
Bei den erfindungsgemäßen Filtern wird eine kritische oder nahezu kritische Kopplung zwischen den Resonatoren angewendet. . ; -;
Die Auswahl meßbarer Parameter im Sinne der gewünschten Kopplung wird erleichtert, wenn man die gegenseitige Kopplung
zwischen den Resonatoren mattiematisch definiert. Es sei ein
zusammengesetztes, gekoppeltes Bandfilter betrachtet, wie
es in Fig. 1 gezeigt ist und welches zwei zusammengesetzte
bzw. geschichtete Resonatoren aufweist, die wie zuvor beschrieben hergestellt und angeordnet sind.
Zwischen den beiden Resonatoren wird es im gewissen Ausmaß immer eine mechanische, unter Umständen unmeßbar kleine
Kopplung geben. Dann existiert auch eine genau definierte, mechanische Schwingungsform der gesamten Struktur (zwei Elektrodenpaare,
die gemeinsame Schicht und das Substrat), bei welcher beide Resonatoren als Dickendehnungsschwinget (oder beide als
Dickenscherschwinger) arbeiten und wobei beide Resonatoren in bezug aufeinander in Phase schwingen. Eine solche Schwingungsform der gesamten Struktur wird die symmetrische Schwingangsform
genannt werden ( obwohl die beiden einzelnen Resonatoren durchaus in einer antisymmetrischen Schwingungsform schwingen
können) und die charakteristische Frequenz dieser Schwingungs- forra wird mit Γ_,___ bezeichnet werden.
SJfIIlUl
- 10 -
009828/0876
Außer einem entarteten Fall, der nicht auftritt, wenn,
die Resonatoren ausreichend voneinander getrennt sind, gibt es auch eine wohldefinierte Schwingungsform der gesamten
Struktur, bei welcher beide Resonatoren als Dickendehnungsschwinger
(oder beide als Dickenscherschwinger) arbeiten und bei welcher beide Resonatoren in bezug aufeinander außer Phase
schwingen. Diese Schwingungsform der gesamten Struktur wird
die antisymmetrische Schwingungsform genannt werden (obwohl
die einzelnen Resonatoren in symmetrischen Schwingungsformen schwingen können) und die charakteristische Frequenz dieser
Schwingungsform wird mit f__,__ bezeichnet werden. Die beiden
el 5 j UlIu
charakteristischen Frequenzen sind leicht meßbare Parameter,
f stimmt mit der Serienresonanzfrequenz des zweipoligen
Elementes überein, das man erhält, wenn die Klemme 26 mit der Klemme 30 und die Klemme Zk mit der Klemme 28 verbunden
wird. fasvmm stimmt mit der Serienresonanzfrequenz des zweipoligen
Elementes überein, das man erhält, wenn die-Klemme 26 mit der Klemme 28 und die Klemme Zk mit der Klemme 30
verbunden wird.
Dann läßt sich die gegenseitige Kopplung K der Resonatoren
durch folgenden Ausdruck definieren:
f f
aeyra eym
K -
"Vf χ f *
I asym sym
Die Kopplung bzw. der Kopplungsfaktor K ist eine Funkfcion,
der elastischen Eigenschaften und der Abmessungen der Elektroden, der Schicht und des Substrates sowie der elektromechanischen
Kopplung der Schicht. Bei gegebenen Elektroden-, Schicht- und Substrat-Werkstoffen läßt sich der Kopplungsfaktor
K durch Veränderung der Dlmennionierung der Elektroden,
der Schicht und des Substrates beeinflussen/
- 11 ■ i) 09 il >
a / 0 U 7 ti" BAD ORIGINAL
Insbesondere nimmt die gegenseitige Kopplung der Resonatoren mit zunehmenden Elektrodenabmessungen, und zwar sowohl der
Quer- wie auch der Dickenabmessungen, und mitzunehmendem Abstand zwischen den Resonatoren zu. Die exakte matiematischeBeziehung
zwischen K und den K beeinflussenden Parametern ist sehr komplex und wird hier quantitativ nicht angegeben, da sie nur.
mit einer komplizierten theoretischen Analyse zu erhalten ist. Es ist jedoch bekannt, daß bei großen gegenseitigen Resonatorabständen
in der Größenordnung der Querabmessung der Resonatoren oder darüber K ungefähr exponentiell mit wachsendem Resonatorabstand
abnimmt.
Die prozentuale Bandbreite eines zusammengesetzten gekoppelten
Bandfilters ist der gegenseitigen Kopplung zwischen den Resonatoren nahezu direkt proportional. Also kann diegegeneeitige
Kopplung für eine gewünschte Bandbreite innerhalb der durch elektromechanische Kopplung zwischen den Resonatoren gesetzten
Grenzen festgelegt werden. Das Material für die Elektroden, die Schicht und das Substrat und die Abmessungen müssen so gewählt
werden, daß sich diese Kopplung ergibt.
Der Abstand zwischen den Resonatoren ist nicht das einzige
Kriterium bei der Wahl der Parameter zur Erzielung der gewünschten
Kopplung.
Aus der obigen Beschreibung des gekoppelten Bandfilters
könnte geschlossen werden, daß der Abstand zwischen den Resonatoren des zusammengesetzten, gekoppelten Filters im Vergleich
zum Abstand zwischen Resonatoren anderer vorgeschlagener Bauelemente klein ist. Dies stimmt jedoch nicht ganz. Es kann
sich z.B. für ein gekoppeltes Bandfilter mit kleiner Bandbreite herausstellen, daß der Abstand zwischen den Resonatoren genauso
groß wie oder größer als der Abstand zwischen Resonatoren eins
anderen, vorgeschlagenen Bauelementes ist, bei dem der Abstand
bo gewählt worden v/ar, daß eine Kopplung vermieden wurde. Des-
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halb lassen sich die beiden Bauelemente nicht einfach anhand
des Abstandes zwischen den Resonatoren noch anhand der gegenseitigen Kopplung zwischen zwei Resonatoren unterscheiden.
' Die Unterscheidung zwischen den beiden Bauelementen liegt
vielmehr in der kritischen Natur des Resonatorabstandes beim zusammengesetzten, gekoppelten Bandfilter. Bei dem in einem
älteren Vorschlag beschriebenen Bauelement führt eine geringe Änderung des Abstandes der Resonatoren zu keinr?r Änderung der
charakteristischen Daten dieses Bauelement^ä^^im hier beschriebenen,
zusammengesetzten, gekoppelten Bandfilter eine kleine Änderung des AbStandes zwischen den Resonatoren eine
unmittelbare Änderung der Bandbreite des Elementes zur Folge hat. .
Es geht dabei um die Frage der kritischen Kopplung. Ein zusammengesetztes, gekoppeltes Bandfilter mit geeignetem Abschluß
ist ein nahezu kritisch gekoppeltes Element in der üblichen Bedeutung der kritischen Kopplung. Eine Verkleinerung oder
Vergrößerung der gegenseitigen Kopplung der Resonatoren eines zusammengesetzten, gekoppelten Bandfilters mit geeigneter Abschluß
impedanz führt zu einem unterkritisch bzw. überkritisch gekoppelten Element. Jedoch kann, in Abhängigkeit von den
gewünschten Filterdaten^ein richtig abgeschlossenes, gekoppeltes
Bandfilter leicht· über- oder unterkritisch gekoppelt sein.
Das einfachste Bandfilter umfaßt zwei identische Elektrodenpaare,
die auf einem gemeinsamen piezoelektrischen Substrat, z.B. einem AT-Quarz-Schnitt, zwei identische Resonatoren bilden.
Die beiden Resonatoren sind gekoppelt, so daß der eine, elektrisch
mit seiner Resonanzfrequenz angesteuerte Resonator den anderen Resonator anregt und dadurch ein elektrisches Ausgangssignal
an den Elektroden des zweiten Resonators erzeugt. Steuert man
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- - 13 ■ -
dagegen einen der Resonatoren mit einer von der Resonanzfrequenz abweichenden Frequenz elektrisch an, wird keiner
der Resonatoren angeregt und daher auch kein elektrisches Ausgangs signal an den Elektroden des zweiten Resonators erzeugt.
Bei einem solchen gekoppelten Bandfilter existieren zwei ausgeprägte Schwingungsformen mit unterschiedlichen
Resonanzfrequenzen, welche beide im Durchlaßbereich liegen. Da die Flankensteilheit und die Selektivität des Filters
stark von der Anzahl der Resonanzfrequenzen des Filters abhängen, ist das erfindungsgemäße gekoppelte Bandfilter von
Natur aus ein selektiveres Filter als ein in einem älteren Vorschlag beschriebenes transformierendes Dünnschichtfilter.
Im allgemeinen besitzt ein gekoppeltes Bandfilter, welches eine Anordnung von η Resonatoren, die nicht notwendigerweise
alle identisch sind, umfaßt, η verschiedene Schwingungsformen (typischerweise, aber nicht notwendigerweise) mit verschiedenen
Resonanzfrequenzen, die sämtlich im Durchlaßbereich des Filters liegen. Je mehr verschiedene Schwingungsformen das gekoppelte
Bandfilter besitzt, desto selektiver kann es sein. Das transformierende Dünnschichtfilter hingegen hat nur eine Schwingungsform und deshalb auch nur eine Resonanzfrequenz.
Ein gekoppeltes Bandfilter kann als eine Anordnung aus piezoelektrischen Resonatoren betrachtet werden, bei welcher
zwischen einigen Resonatoren eine paarweise dopplung existiert.
Diese Betrachtungsweise führt zu einer Darstellung des Elementes als Ketten-Netzwerk.
Ein gekoppeltes Bandfilter kann auch als piezoelektrischer Resonator mit einer Vielzahl zueinander unharmonischer
Schwingungsformen betrachtet werden, wobei die einzelnen Schwingungsformen unabhängig von jedem der beiden Elektroden-
009828/087 6
paare aus angeregt werden können. r;β Piltercharakteristik
steht in direkter Beziehung zur charakteristischen Frequenz, der elektromechanischen Kopplung (an jedem Elektrodenpaar)
und der relativen Phasenlage (zwischen Elektrodenpaaren) der einzelnen Schwingungsformen. Diese Betrachtungsweise führt
zur Darstellung des Elementes als Kreuzglied oder als ein Glied in Gabelschaltung.
Kennzeichnenderweise stimmen die charakteristischen Frequenzen der beiden Schwingungsformen eines gekoppelten
Bandfilters mit zwei Resonatoren nahezu mit den Grenzfrequenzen des Durchlaßbereiches überein. Der Abstand zwischen den
charakteristischen Frequenzen und daher auch die Filterbandbreite ist eine Funktion der Kopplung zwischen den Resonatoren.
Diese ist wiederum eine Funktion der Abmessungen der Resonatorelektroden, der Dicke der piezoelektrischen Substanz, des
Abstandes zwischen den Resonatoren und der Eigenschaften der Elektroden, des Substrates und der piezoelektrischen Schicht.
Wird der Abstand zwischen den Resonatoren verkleinert, nehmen Kopplung und Bandbreite zu. Sie nehmen ab, wenn die Dicke der
Elektroden erhöht wird. Bei einem gekoppelten Bandfilter mit mehreren Resonatoren ist die Beziehung zwischen der Bandbreite
einerseits und den Abmessungen der Elektroden und des Substrates und den Abständen zwischen den Resonatoren andererseits im Prinzip
die gleiche (allerdings geringfügig komplexer) wie bei Elementen mit zwei Resonatoren.
Das gekoppelte Quarzfilter läßt sich am besten mit einem Quarzfilter in Gabelschaltung vergleichen. Ein solches Filter
in Brücken-^F-Schaltung mit einem übertrager und zwei getrennten
Resonatoren ist in Fig. 3 gezeigt. Ein Quarzfilter in Gabelschaltung war nach dem bisherigen Stand der Technik am besten als schmalbandiges
Filter mit hoher Sperrdämpfung und mit Mittenfrequenzen im Bereich von 10 bis 100 MHz geeignet. Das gekoppelte Bandfilter
und das Filter in Gabelschaltung sind einander elektrisch äquivalent.
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Beide sind einem vollen Kreuzglied-Filter elektrisch äquivalent*
Das Kreuzglied-Filter weist doppelt so viele Resonatoren wie ein elektrisch äquivalentes Filter in Gabelschaltung auf und
ist dahernur von historischem Interesse.
Theoretisch läßt sich mit allen drei Filtern schließlich eine unendlich hohe Sperrdämpfung erzielen. In der Praxis ist
die Sperr dämpfung natürlich auf einen endlichen Wert beschränkt. Bei dem in Fig. 3 dargestellten Filter wird die Sperrdämpfung
unendlich, wenn die beiden Hälften des Übertragers genau identisch wären, wenn die beiden Resonatoren verlustfrei arbeiten würden
und wenn die statischen Kapazitäten der beiden Resonatoren gleich
nach waren. Beim gekoppelten Bandfilter läßt sich der Theorie eine
unendlich hohe Sperrdämpfung durch Vernachlässigung derVerluste des Resonators und durch die Annahme fehlender Streukapazitäten
zwischen den Eingangs- und den Ausgangsklemmen erzielen. In der Praxis ist dieendgültige Sperrdämpfung beim gekoppelten
Bandfilter beträchtlich höher als beim äquivalenten Filter in Gabelschaltung, da es einfacher ist, Streukapazitäten
zwischen Eingang und Ausgang, z.B. durch eine entsprechende Abschirmung, herabzusetzen!als die beiden Übertragerhälften
und die statischen Kapazitäten der beiden Resonatoren jeweils genau gleich zu machen.
Das gekoppelte Bandfilter weist außerdem eine kleinere Einfügungsdämpfung im Durchlaßbereich als das äquivalente
Filter in Gabelschaltung auf, da die Verluste im Übertrager des zuletzt genannten Filters erheblich größer als die Ver- ·
luste in den piezoelektrischen Resonatoren beider Filter sind. Da die Übertrager außerdem im Vergleich zu Quarzresonatoren
recht groß sind, läßt sich das gekoppelte Bandfilter in einem kleineren Gehäuse als das.äquivalente Filter in Gabelschaltung
unterbringen. Gegenüber einfach gekoppelten Filtern besitzt das erfindungsgemäße gekoppelte Bandfilter den Vorteil, daß
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es für erheblich höhere Frequenzen einsetzbar ist.
Da die Materialien für die Schicht und das Substrat frei gewählt werden, können, lassen sich Materialien mit entgegengesetzten
Temperaturkoeffizienten aussuchen, die ungefähr so temperaturstabil wie bei einfachen Quarz-Bandfiltern und erheblich
besser als bei Filtern'aus anderen piezoelektrischen Materialien außer Quarz sind.
Bei einem Vergleich zwischen dem zusammengesetzten und dem einfachen Resonator erkennt man, daß die Eingangs- und
Ausgangswandler des zusammengesetzten Elementes im Bereich zwischen 100 und 1000 MHz eine größere elektromechanische
Kopplung als die Eingangs- und Aus gangs wandler des einfachen
Elementes haben können· Daraus folgt direkt, daß sich im angegebenen
Frequenzbereich mit einem zusammengesetzten, gekoppelten
Bandfilter höhere Bandbreiten als mit einem einfachen, gekoppelten
Bandfilter erzielen lassen.
Die größere elektromechanische Kopplung k rührt daher, daß bei einem einfachen, im Oberwellenbereich schwingenden
Element die elektromechanische Kopplung um den Faktor l/n
reduziert ist, wobei η die Ordnungszahl der betreffenden Oberwelle ist. Bei einem zusammengesetzten Element ist die Kopplung
k um ungefähr den.Faktor l/VE reduziert, wobei η sogewählt ist,
daß dieaktive Schichtdicke in der Nähe der halben akustischen Wellenlänge liegt. Der kleinere Reduktionsfaktor rührt daher,
daß die dielektrische Energie lediglich in der aktiven Schicht gespeichert ist, wo keine Auslöschung stattfindet.Bei. einem
AT-Quarzschnitt für eine Grundschwingiing ,von 30 MHz ist deshalb
die wirksame elektromechanische Kopplung k bei 270 MHz nur gleich 0,01. Bei einem zusammengesetzten Cadmiumsulfid-Quarz-Element
(S eher schwinger mit einem Winkel von 39° zwischen der GdS-Z-Achse
und der Normalen auf die Platte) 1st das wirksame k bei 270 MHz
•ungefähr gleich 0f06f wobei die Frequenz der Grundschwingung
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ebenfalls 3Θ MHz beträgt und die CdS-Schicht ungefähr eine
halbe Wellenlänge bei 270 MHz dick ist.
Das zusammengesetzte, gekoppelte Bandfilter besitzt auch
gegenüber einem Filter in Gabelschaltung mit zusammengesetzten Resonatoren Vorteile. Aus den oben angegebenen Gründen muß
das zusammengesetzte, gekoppelte Bandfilter eine niedrigere Einfügungsdämpfung im Durchlaßbereich, eine höhere Sperrdämpfung,
geringere Masse und kleineres Volumen als das Filter in Gabelschaltung mit zusammengesetzten Resonatoren haben.
Der in einem älteren Vorschlag beschriebene Sesonator ist ein piezoelektrischer Resonator mit einem gegenüber anderen
piezoelektrischen Resonatoren außerordentlich großen Para- t
meterbereich. Er besitzt außerdem weitere Vorteile gegenüber anderen Resonanzgebilden, insbesondere im Frequenzbereich
zwischen 100 und 1000 MHz. Abgestimmte LG-Schaltungen haben ■
hohe Verluste. Leitungsstutzen und Hohlleiterkammern^sind
groß, Quarzresonatoren, welche im Qber-vfellenbereich -betrieben
'werden müssen, um nicht zuviel an mechanischer1 Festigkeit zu
haben kleine d^n^ri-»^* -;?■'■>
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BAD ORiGIWAL
Z.B. wird bei einer Kombination aus piezoelektrischer Schicht
und Quarz die höhere piezoelektrische Kopplung, welche bei .Elementen mit Schichten guter piezoelektrischer Eigenschaften
möglich ist, gegen den höheren mechanischen Gütefaktor des Quarzes eingetauscht. Prinzipeil kann jedoch eine Schicht
einen ebenso hohen mechanischen Gütefaktor wie Quarz haben. Ein anderes wesentliches Merkmal piezoelektrischer Resonatoren
ist die Abhängigkeit der Resonanzfrequenz von der Temperatur.
Es ist möglich, ein Substrat und eine piezoelektrische Schicht zu kombinieren, bei denen sich diß Abhängigkeit der Frequenz
von der Temperatur praktisch kompensiert, so daß die Resonanzfrequenz des zusammengesetzten Elementes praktisch temperaturunabhängig
ist. , " ·
Das einfachste zusammengesetzte, gekoppelte Bandfilter
nach der Erfindung, das in Fig. 1 gezeigt ist, umfaßt zwei identische zusammengesetzte Resonatoren, welche sich auf
einem gemeinsamen Substrat befinden und mechanisch gekoppelt sind. DieElektroden des einen Resonators sind dieEingangsanschlüsse
des Filters und die Elektroden des anderen Resonators sind dieAusgangsanschlüsse. In seiner allgemeinsten Form umfaßt
ein zusammengesetztes, gekoppeltes Bandfilter, wie es in Fig. 2 gezeigt ist, eine Anordnung aus η zusammengesetzten
Resonatoren, die nicht notwendigerweise identisch sein müssen,
auf einem gemeinsamen Substrat, wobei das Filter jnT~_
verschiedene, ausgeprägte Schwingungsformen besitzt.
Di© in den Fig. 1 und 2 gezeigten Filter nach der Erfindung
sind mit den bisher erhältlichen Filtern nicht vergleichbar;,
da es sehr wenig befriedigende Bandpaßfilter für den
Frequenzbereich zwischen 100 und 100Θ MHs glbto !»eitungskreisfilfe©F
ιιηϋ, Sopfkreisfllfeep sinö. groß,, IuC»Filter siM ebenfalls
gp©ßa h&bsn Moli© ferlttsto uad dal als hoote-jeptig© Filter keinesfalls
teaneiibsi?; Kit iMzmuMQ $.©p ziimwä®iiRQ&&v%t(2-fi Eesöiia
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BAD ORIGINAL
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gibt es keine piezoelektrischen Resonatoren, die für Bandpaßfilter
mit einer Mittenfrequenz oberhalb 150 MHz brauchbar
sind.
Ein Filter in Gabelschaltung wäre einem zusammengesetzten,
gekoppelten Bandfilter theoretisch äquivalent. Jedoch besitzt das zusammengesetzte, gekoppelte Filter eine niedrigere
Einfügungsdämpfung im Durchlaßbereich und eine höhere Sperrdämpfung
als das theoretisch äquivalente Filter, bedingt durch die erreichbaren Kenndaten des Differentialübertragers im letzteren.
Das zusammengesetzte, gekoppelte Filter kann im wesentlichen nach dem gleichen Verfahren wie das in dem bereits
genannten älteren Vorschlag beschriebene transformierende
Dünnschichtfilter hergestellt werden. Das Element kann entweder als Dickendehnungsschwinger oder als Dickenscherschwinger
arbeiten. Es lassen sich mehrere "dünne Schichten anwenden. Jeder einzelne Resonator kann eine Anzahl untereinander verbundener
Elektroden genauso wie das bereits erwähnte Dünn-Sichtfilter umfassen. Die einzelnen Resonatoren können entweder
längs einerGeraden oder im rechtwinkligen Muster angeordnet sein. Die Elektroden der einzelnen Resonatoren, ausgenommen
die Eingangs- und Ausgangsresonatoren, können beliebig geerdet oder nichtgeerdet sein· Tatsächlich erfordern die zwischen»
lietenden Resonatoren überhaupt keine Elektroden.
Wie bereits zuvor erwähnt, gibt es bei einem gekoppelten Bandbilter mit η Resonatoren (einfach oder zusammengesetzt),
deren Abstand zur Vermeidung entarteter Fälle ausreichend groß, ist, η verschiedene Schwingungsformen© Diefolgende
Beschreibung der η Schwingungsformen eines Filters mit 21
Resonatoren ist auf gekoppelte Bandfilter mit eines» lineares
Anordnung der Resonatoren beschränkt·
Bei beiden Söhwingungsfornie?! eimer
mit zwei Resonatoren schwingen diese eavwie*· ty *$* ι c ίο:
dicken Dehnungsform oder beide in e-in®^ Cc * ο Γ the v"n ^
QQ9828:/08le - ' ■" ;■■-'■ '/
OBiGiNAL-IMSPECTEO
form. Bei der Schwingüngsform 'der gesamten Struktur mit der
niedrigeren charakteristischen Frequenz schwingen die Resonatoren in Phase. Bei der Schwingungsform der gesamten
Struktur mit der höheren charakteristischen Frequenz schwingen die Resonatoren außer Phase zueinander. Beide Schwingungsformen der Struktur sind von den Anschlüssen jedes Resonators
aus elektrisch anregbar, wobei der jeweils andere Resonator kurzgeschlossen wird. .
Bei den drei Sehwingungsforraen eines gekoppelten Filters
mit drei Resonatorennschwingen alle drei Resonatoren entweder in einer Dicken-dehnungsform oder in einer Dicken
-scherungsfornu Bei de'r Schwingungsform der gesamten Struktur
mit Q.er niedrigsten charakteristischen Frequenz schwingen-
die Resonatoren in Phase® Bei der Schwingungsform der gesamten
Struktur mit der höchsten charakteristischen Frequenz schwingen jeweils paarweise benachbarte Resonatoren außer
Phase zueinanderfl so daß die Endresonatoren gegenseitig
Ia-Phase sindo Bei der dritten Setalngungsform s , deren
charakteristische Frequens ungefähr1 das geometrische Mittel
aus" der höchsten nnä niedrigsten charakteristischen Frecpess
Ist„ schwingen jeweils die Saäresösatopea und dl© beiden
Hälften des mlttl©p©a Eesonatofe Ia ImEMg μ.ιΪφΙώβιΑθϊ' aisi©'^
Pliasec BoI der nledrlgsteia nnä b©I deF höoäatem. .sha^akta^isti^
¥τ·'ΒφΛθιΐζ schwingen also öle BaAPOsesiatoFQia lsi Ffeas©-, ~β'ΦΙ$?(ΖΏ£,
sie bsi der mittleren cha^akfeeFlstlselisü Preoueiss aiiß©? Sliaae
se?τλI:-.;'-io AlCb ·~τ>βί ScliwIngiiBgsfopfflea sln.fi. 7.021 &jsa @iofei;rl£?e:r.::.
äneoTi^.c' ^en jeä?s Endresona'co^s &m Qm?%gh&Pd ^^bsi cliL;-ar·."
^ v^'.. ^escna^-rea lairz_g@seiiloss®a siisclo
i.. . er:i"-:-l2i schwingen hot &.®n si Söhiilagiciagsfc·:1;·:: .-.-'.;·, ■_■:'......l;
/:..: -..--: ;Γ j. en -Band f I-lvfe@rs Mit s
KS^agss©!KaIi3g©i' uSqf allo
EqI üsp SiSkiiiliignagsföia eis;?
Endresonatoren in Phase, bei der Schwingungsform mit der nächst höheren charakteristischen Frequenz außer Phase,
bei der Schwingungsform mit der nächst höheren charakteristischen
Frequenz wiederum in Phase usw. Alle η Schwingungsförmen lassen sich von jeder Endelektrode aus elektrisch anregen,
wobei die anderen Resonatoren kurz geschlossen sind.
Patentansprüche 6965
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Claims (8)
- P A f E F I A S S P E Ü C H EGekoppeltes Bandfilter, gekennzeichnet durch eine auf ein Substrat (12) aufgebrachte Schicht (14) aus piezoelektrischem Material und. mehrere Elektroden (16, 18, 20, 22), welche die Oberflächen der Schicht in verschiedenen Bereichen bedecken und von denen wenigstens einige als Eingangs- bzw. Ausgangselektroden ausgebildet sind, wobei die so entstandenen Resonanzgebilde bzw. Resonatoren einen solchen Abstand voneinander aufweisen, dass die charakteristischen Bandpassdaten des Filters durch Kopplung bestimmt sind. ·
- 2. Bandfilter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die piezoelektrische Schicht (14) in zwei Bereichen mit jeweils einem Paar sich einander gegenüberliegender, durch die Schicht getrennter Elektroden (16, 1-8; 20, 22) versehen ist, von denen das Paar im einen Bereich als •Eingangs- und das Paar im anderen Bereich als Ausgangselektroden dient.
- 3. Bandfilter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , dass weitere Bereiche der piezoelektrischen Schicht zwischen dem Eingangselektrodenpaar (16, 18) und dem Ausgangselektrodenpaar (20, 22) zur Bildung von Resonatoren massebehaftet sind (Pig. 2).
- 4· Bandfilter nach Anspruch 1; 2 oder 31 dadurch g e kennzeichnet , * dass die Dicke der piezoelektrischen Schicht (14) etwa 1/10 der Dicke des Substrates (12)und die Dicke der Elektroden (16, 18, 20, 22) etwa 1/10 der Dicke der Schicht beträgt.0 09 8 28/08 7 691.
- 5· Bandfilter nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet , dass die piezoelektrische Schicht (14) aus aufgedampftem piezoelektrischem Material besteht, das aus der Kadiumsulfid, Kadiumselenid, Zinkoxid, Berylliumoxid, Wurtzit-Zinksulfid, Wurtzit-Aluminiumnitrid, Lithiumniobat, Lithiumtantalat sowie feste Lösungen davon umfassenden Stoffgruppe ausgewählt ist.
- 6. Bandfilter nach einem der Ansprüche 1 Ms 5, dadurch gekennzeichnet , dass das Substrat (12) aus einem Material besteht, das aus der Quarz, Lithiumgallat, Lithiumniobat, Lithiumtantalat, Aluminiumoxid sowie Invar und Elinvar umfassenden Stoff gruppe ausgewählt ist.
- 7. Bandfilter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch .ge ke η η ze i chne t , dass die charakteristischen Frequenzen für eine kritische Kopplung zwischen den Elektroden (16, 18 ; 20, 22) gewählt sind.
- 8. Bandfilter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet , dass die charakteristischen Frequenzen für eine leicht über - oder unterkritische Kopplung zwischen den Elektroden (16, 18, 20, 22) bei geeignetem Filterabschluss gewählt sind.
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